具体要求如下:进口设备 1.可测量各种底材:铝、铁、钢、塑料、木材、混凝土、玻璃等表面上的涂层厚度 2.配有50倍带照灯的显微镜 3.配有特制切割刀具,可精确制作样板上的V型槽 4.附有三个切割刀刃,分别是1倍、2倍和10刀刃,最大涂层厚度依次是1250um、500um、75um,精度依次是±6um、±3um、±0.6um 5.可符合标准ASTM D 4138,DIN 50986,BS 3900,ISO 2808 6.随机配有三个切割刀刃,一支纤维笔,仪器携带箱,灯泡和电池请联系:0757-22333012 26233339 覃生 E-mail:fangming.x@163.com
1 概述HH-HD03/18型 纸张/纸板厚度测定仪 是根据接触测量法原理,广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量。仪器主要技术参数符合以下标准:《GB/T 451.3 纸和纸板厚度的测定法》、《GB/T 6547 瓦楞纸板厚度的测定法》等国家和行业标准。2 主要技术特性2.1 主要技术参数参 数 项 目HH-HD03型 纸张厚度测定仪HH-HD18型 纸板厚度测定仪测量范围(0~3)mm,分度值0.01mm(0~18)mm,分度值0.01mm接触压力(100±10)kPa(20±0.5)kPa接触面积(200±5)mm2(1000±20)mm2测量面平行度误差≤0.005mm≤0.035mm外型尺寸(长×宽×高)175mm×125mm×260mm170mm×130mm×330mm质量约5.5 kg约6.5 kg3 操作步骤3.1 拆箱与安装3.1.1 打开包装箱,取出仪器及随机技术文件。3.1.2 将仪器置放在水平的工作台面上并擦净,要求台面平整,高度适中(便于读数)。3.2 测试前准备3.2.1 按GB/T 6547规定采取并处理试样。3.2.2 从表盒中取出计量表,安装在仪器主体上,并进行置零操作,方法为:A 旋松锁紧螺钉,装入计量表;B 上下调整计量表位置,使读数约为0.45mm;C 旋紧锁紧螺钉,注意松紧适度(过松则计量表位置不稳定,过紧则影响计量表测杆运动灵活性);D 左手拇指按下拨杆,抬起测量头;E 缓慢放松拨杆,下落测量头,至与量砧接触,松开左手拇指;F 检查读数是否为零,如不为零,则按计量表上的置零键,使其为零;G 反复起落三次测量头,至零位稳定。3.3 测试3.3.1 按下拨杆抬起测量头。3.3.2 将被测试样放在测量头与量砧之间。3.3.3 缓慢放松拨杆,使测量头均匀下落至与试样接触,松手。3.3.4 读取计量表示值。3.3.5 按下拨杆,抬起测量头,取出试样。3.3.6 重复以上步骤,进行下一次测试。4 维护保养4.1 各滑动、转动部位应经常加油润滑。4.2 测量头与量砧的测量面应防止锈蚀,使用完毕应用洁净汽油擦拭干净;长期不用时活动部位应涂防锈脂,从计量表左上方电池安装孔处拆下电池,延长电池使用寿命。4.3 坚持周期检定,保证仪器良好技术状态(检定周期一般不超过一年)。4.4 为保证测量结果的准确性,当计量表不符要求时,应停止使用,修理后经计量检定合格方可再用。
看了一些文献,说制样不同厚度的测定数据有差异?大家谈谈自己的体会吧
镀锌板锌层厚度的测定,辉光光谱与测厚仪哪个好用?
红外定量分析中,如何测定ATR池子的厚度?
实验室需要对射频连接器的镀层厚度测量,镀层材料分析及三元合金含量测定,基材铜含量测定(黄铜57%~60%左右,青铜93%左右),[color=#DC143C]连接器总含铜量测定[/color],另外需测rohs。X荧光光谱能量分析仪就可以了吗?如果南京哪家能提供测试,可以长期合作。
请教红外高手,告诉我如何用红外测定薄膜厚度?好像有人这样做。
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=101472]GB/T 5753-2008 钢丝绳芯输送带 总厚度和覆盖层厚度的测定方法[/url]
EDX-720怎么测定镀层厚度?
哪位朋友有铝箔试验方法 第7部分:铝箔厚度的测定 称量法,望上传一份,不胜感激
求助各位达人:本人新手,从未用过SEM,在一篇文献中看到可以用SEM 对陶瓷的釉层断面进行扫描,从而能够测定釉层的厚度。但是却没有提及如何做的?我想要测定一个陶瓷杯子或者盘子的釉层厚度,不知该如何处理啊? (我自己预先处理,然后拿给别人检测)或者是如果不用扫描电镜的话,用别的显微镜也可以,请各位高手指点一下。谢谢!
我现在接到一个样品,就是在黄铜表面上先镀上一层镍,约3-5微米厚,然后再镀上一层锡,约8-10微米。我截了一个截面镶嵌,抛光后放在SEM下观察,外层的锡和镍的图像反差较大,能测量锡的厚度。但是镍和基体黄铜的图像反差不明显,无法分辨界限,也就不能测量其厚度。我尝试用了SE、BSE及二者的混合像,均不行。SEM:Quanta 200 ESEM。
前段时间看到有版友提到X射线分析深度与样品厚度的问题,在此,我查阅了一些资料,现在给大家分享一下。X射线分析深度与样品厚度 X射线在物质中的穿透深度与波长有关。波长越短,穿透深度越大。波长相同时,物质的平均原子序数越小(轻元素含量高),穿透深度越大。换句话说,样品所发射的荧光X射线的波长越短,及样品中的轻元素含量越高,则获得的试样深部的信息就越多。也就意味着,荧光X射线的波长越长,所得到的样品表面附近的信息就越多,或仅包含表面附近的信息。也因此,元素越轻越易受到样品表面的影响。 测定短波长X射线时,或者分析主成分为轻元素的样品时,如果样品的厚度不够,即使测定组成相同的样品,X射线强度也会因样品厚度不同而变化。图10.6是Ni箔样品中Ni的荧光X射线强度与试样厚度的关系曲线。在组成不变的情况下,X射线强度不再随样品厚度增加而变化时的厚度称为无限厚。除了薄膜分析之外,易受样品厚度影响的典型分析实例是树脂中重金属元素的分析。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201724_290037_1601823_3.jpg 图10.6 样品厚度与X射线强度的关系 在分析树脂中Cd时,X射线强度随样品厚度而变化。将粒状树脂标准样品经热压后制成2 mm厚的圆片,作为Cd分析的校准样品。使用相同的样品,通过改变样品厚度或样品加入量,测定Cd的X射线强度。结果表明,即使是同一样品,因厚度或加入量的不同,测定强度也会发生很大变化。表10.2是以2mm厚的圆片校准,得到的不同厚度样品的定量结果。因此,在某些类型的样品分析中,因样品厚度不同所造成的分析误差是相当大的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201732_290041_1601823_3.jpg 由于被测样品或元素(谱线)是否受样品厚度影响对样品制备方法及测定条件的研究确定有很大影响,要进行高精度分析,就应事先对此进行检查。
求助GB/T13452.2-2008标准 色漆和清漆漆膜厚度的测定
GB/T25414-2010 棉花种植地膜厚度限值及测定谢谢
本人使用日本精工仪器测量铁基材料上磷镍镀层与通过做切片用电子显微镜测量的结果相差0.5um,是通过纯镍标准片建立工作曲线的,只测定了镍的的厚度为2.5um,通过SME拍照厚度为3.1um,想请教我能用什么方法把这个磷镍镀层的尺寸测得与实际尺寸接近,如果用XRF测试其修正参数应怎样确认,谢谢!
请问各位大侠:硅片的厚度和总厚度变化用千分尺测量外,现在比较主流的测试仪器是什么啊??谢谢了!
X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度大,结果就高,而其他元素则基本没有影响。
自动密度测定仪使用注意事项及保养1、使用前注意事项:1)密度测试仪在使用前及移动位置后,请进行重量校正。2、使用时注意事项:1)含有静电的测量物,请勿直接放入密度测试仪上测量,否则会影响测量结果。 2)操作时,需小心轻放,并将测量物放置在测量台的中央位置。3)请勿使用尖利之物品,直接碰触按键。4)每次测量前,按ZERO键归零,可避免产生测量误差。3、特别注意事项:1)避免机器受到撞击和摔落。2)请勿自行拆卸仪器。3)请勿使用有机溶剂擦拭机器。4)避免灰尘和水渗到机器内部5)请勿超载使用。6)如长时间不使用,请将电源拔除,将恒温槽的水排空。密度测定仪的国产生产厂家北京得利特的就符合。他们主要产品仪器有闪点测定仪,运动粘度测定仪,微量水分测定仪,颗粒计数器,酸值测定仪、界面张力测定仪、石油密度测定仪,自然点测定仪,空气释放值测定仪、馏程测定仪等多种润滑油分析仪器、燃料油分析仪器、绝缘油分析仪器,水质分析检测仪器、气体检测仪器。
我们要测铝板的厚度,但是工程师说要称重法测定比较准确,我们实验室人认为千分尺测量准确。所谓的称重法应用在铝箔是比较好。(比如每个合金型号都有其密度,通过密度算厚度)我们实验室一致认为千分尺准确,可是上面工程师认为称重法准确http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09501.gif
一、磁吸力原理测厚仪利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度,这个距离就是覆层的厚度,所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形,所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢,拉簧,标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后,有一个弹簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大,当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲,依不同的型号又不同的量程与适应场合。 在一个约350º角度内可用刻度表示0~100µm;0~1000µm;0~5mm等的覆层厚度,精度可达5%以上,能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准,价格也较低,很适合车间作现场质量控制。 二、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的,覆层愈厚,磁通愈小。由于是电子仪器,校准容易,可以实多种功能,扩大量程,提高精度,由于测试条件可降低许多,故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后,仪器自动输出测试电流,磁通的大小影响到感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示,精度和重复性都不好,后来发展了数字显示式,电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关,稳频等最新技术,多种获专利的产品相继问世,精度有了很大的提高,达到1%,分辨率达到0.1µm,磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯,线圈电流的频率不高,以降低涡流效应的影响,测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化,可以辨识不同的测头,配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。 一台仪器能配合多种测头,也可以用同一台仪器。可以说,适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。利用电磁原理研制的测厚仪,原则上适用所有非导磁覆层测量,一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的,则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业,利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。
[size=16px] 土壤紧实度测定仪行业应用 土壤紧实度测定仪是一种用于测量土壤的紧实度或密度的仪器,它在土壤科学和土壤工程领域具有广泛的应用。以下是一些土壤紧实度测定仪在不同行业中的应用: 农业和农田管理:农业领域使用土壤紧实度测定仪来评估土壤的紧实度和季节性变化。这有助于农民和土地管理者更好地管理土壤,优化种植和灌溉计划,以提高农作物产量。 土壤改良:在土壤改良项目中,测定土壤紧实度是至关重要的。通过测量土壤的紧实度,工程师和专业人员可以确定需要添加多少改良剂(如有机物质、石灰、石膏等)来改善土壤的物理性质,使其更适合特定的用途。 土壤工程:土壤紧实度测定仪在土壤工程中用于评估土壤的工程特性。这对于基础设计、道路和建筑物的施工以及土壤稳定性评估至关重要。 环境研究:土壤紧实度测定仪用于环境研究,以了解不同地区的土壤条件,包括受到污染的土壤。这有助于监测土壤的质量和环境影响。 地球科学:地质学家和地球科学研究人员使用土壤紧实度测定仪来研究土壤的形成和演化,以更好地理解地球的历史和地质过程。 建筑工程:在建筑工程中,土壤紧实度的知识对于基础设计和施工至关重要。测定土壤的紧实度有助于确保建筑物的稳定性和安全性。 水资源管理:土壤紧实度测定仪可用于评估土壤的渗透性,从而影响水资源管理决策,如雨水渗透、地下水充实和洪水管理。 总之,土壤紧实度测定仪在各种领域中都发挥着关键作用,有助于更好地理解和管理土壤的物理性质,从而影响农业、土壤工程、环境保护和基础设施建设等领域的决策和实践。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310261056074605_4947_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/size]
[align=center][b]电感耦合等离子光谱仪在金箔厚度检测中的应用[/b][/align][align=left][b] [/b]金箔是由各种不同成色的黄金经过十几道工序锤锻而成的厚度仅0.1微米左右的薄片,其用途十分广泛,涉及到佛教、古典园林、高级建筑、医药保健以及文化事业等各个领域。金箔是中华民族传统的工艺品,源于东晋,成熟于[url=https://baike.baidu.com/item/%E5%8D%97%E6%9C%9D]南朝[/url],流行于宋、齐、梁、陈,[url=https://baike.baidu.com/item/%E5%8D%97%E4%BA%AC]南京[/url]是中国金箔的发源地,如今南京也是世界最大的金箔生产中心。南京金箔锻制技艺作为非物质文化遗产的一个部分,是一项在全球范围内处于重要地位的手工技艺,南京出产的金箔产品在世界上更是享有盛名。[/align]金箔最大的特点就是薄如蝉翼,所以金箔的厚度是该产品的一项重要技术指标,但金箔产品厚度一般在0.1微米左右,很难直接测量其厚度。金箔根据其金含量可以分为99金箔(金含量为99%)、98金箔、96金箔、92金箔、77金箔和74金箔等。QB/T 1734-2008《金箔》标准中对其厚度的测量引用了QB/T 1135《首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法》和QB/T 1133《首饰金覆盖层厚度的测定方法 化学法》两种方法,但是这两种方法都是测量的纯金层厚度,并不是金箔产品的厚度,金箔金含量越低,这两种方法所测得的厚度与金箔产品的实际厚度相差越大。而目前市场上广大金箔厂家和消费者更关心的是金箔的产品的厚度而不是金箔纯金层的厚度,广大金箔生产厂家对产品厚度的控制也都是基于经验,缺乏精密的测量方法。我们采用电感耦合等离子光谱仪对各种金箔产品进行成分测试,根据各组分的含量和密度,计算出金箔的综合密度,并使用游标卡尺准确测量金箔长度和宽度,使用精密天平称量金箔质量,从而计算出金箔准确厚度。我们通过大量的实验数据积累,并向南京各金箔厂家请教咨询,确定了金箔主要组成成分为金、银、铜、铁四种元素,具体计算公式如下:1ρ[b][sub]金箔[/sub]=[/b][u] [/u] Au%/ρ[sub]Au[/sub]+ Ag%/ρ[sub]Ag[/sub]+ Cu%/ρ[sub]Cu[/sub]+ Fe%/ρ[sub]F[/sub][sub]e[/sub]10[sup]6[/sup]×G/10h=──────────────── ρ[b][sub]金箔[/sub][/b]×L[sub]1[/sub]×L[sub]2[/sub]L[sub]1[/sub]-----金箔的长度(mm)L[sub]2[/sub]-----金箔的宽度(mm)ρ------密度(g/cm[sup]3[/sup])G -----10张金箔的重量(g)h------金箔的厚度(μm)该方法通过对金箔产品主要化学组份的精密测定,根据各组成元素的百分比测算出金箔产品的密度,从而精确计算金箔产品厚度,方法灵敏度与准确度高,适宜未来作为行业内相应产品检测的仲裁方法,研发成果极具推广于相应的金箔生产厂家及质检机构,作为有效的品控手段,解决金箔企业困扰的统一的质量控制标准建立问题,为南京金箔锻制技艺这一非物质文化遗产的健康发展助力护航!
基体是陶瓷,陶瓷上有层钼和锰的氧化物层,厚度10UM--50多UM,外层是镍层,厚度是1-10UM,请问用什么仪器可以测两层或多层厚度,暂时我了解了X荧光测厚仪,换有别的仪器可以测量吗
[align=center][size=16px]酶标仪测量微丸包衣膜[/size][size=16px]厚度[/size][/align][font='宋体'][size=16px][color=#000000]确定指示剂,具有紫外吸收的物质;[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]将指示剂按设定质量比加[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]入微丸[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]的包衣混合物中;[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]将含有指示剂的包衣混合物进行包衣;[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]配制指示剂的标准溶液,并配制各个浓度的指示剂溶液,[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]将酶标[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]仪调到指示剂对应的吸收波长处,测量各个浓度的指示剂溶液的吸光度,建立吸光度[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]-[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]浓度标准曲线;[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]取包衣后的微丸,将其溶解于设定体积的液体中后,过滤,利用酶标仪在相应的吸收波长处测量溶液的吸光度,以确定溶液中指示剂的浓度,以计算包衣膜的厚度。[/color][/size][/font][font='宋体'][size=16px][color=#000000]该种方法能够精确快速地测定微丸包衣的厚度。[/color][/size][/font]
[font=&]请教各位老师,电线电缆的绝缘厚度为什么要求第一次测量要从最薄处进行?投影仪下确定好含最薄点的6个点位之后,跟第一次测哪个点的顺序有关吗?GB 2951.11-2008的标准中对绝缘和护套厚度的测量要求为什么特意进行了区分?8.2.4条款里面,护套的厚度测试要求就是“在任何情况下,应有一次测量在护套最薄处进行”,8.1.4条款里面,绝缘的厚度测量要求就是“在任何情况下,第一次测量应在绝缘最薄处进行”。谢谢!PS:在其它板块发了没有老师回复,所以在这里也求助一下,如果有熟悉线缆测试的老师麻烦指点指点,谢谢![/font]
在si片上镀一层纳米碳膜,碳膜表面光洁如镜面,采用椭偏仪测量薄膜的厚度,测量时选择基底材料为si,将k设为0(透明薄膜,不知是否准确或透明薄膜如何定义?),根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921),采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量,测量得到的结果还行,基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确?1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜?2.采用同一n值测量厚度是否合适?希望高手指点,谢谢!
如题.我用辉光GDS-750A光谱仪做了一个镀锌QDP的厚度.仪器给我计算出了交点的厚度,我现在想知道X左边的FE向ZN的渗透厚度和交点后面的ZN向FE的渗透厚度,如何才定义积分区间,计算的公式是什么.如果本身曲线没有的元素如Mg等.我用仪器现有的曲线采用那个方法可以代替Mg的测定,是ZN基的吗.我是直接在镀锌板上测定还是需要他们单独送固体的镀液测定呢?我想知道如何把图表的ZN 曲线向上下平移?在那里可以设置该参数.能做到吗?自己做溅射率的朋友,主要是JY的同志,该工作开展的难度大吗?你们厚度的时候是自己做曲线?如果你是其他的仪器.请介绍你的方法和心得.我现在很不熟悉,公式不知道怎么编辑.希望你们给我点经验.谢谢.
请教个问题:在做水分测定仪不确定度时,用天平和水分仪校准证书上的重复性数据如何得到其对应的相对标准不确定度?例如:水分测定仪:重复性(100微克) 2.7%,天平:重复性1.5e ,e=0.1mg;也就是校准证书上的重复性数据如何应用在不确定度计算中?是A类还是B类?先谢谢了
厚度的测量方法有多种,总体上分为非接触式与接触式,非接触式包括射线,涡流,超声波,红外等多种类型,接触式行业中也称为机械式测厚,分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途:适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 在选择厚度测厚仪这样的机械设备时,往往都通过比较做出选择,知名品牌也是参考的一点,但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家,在国内来说,他们做的是相当不错的,自主研发生产,质量高,进一步确保了高精度,高效率,高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align] 厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。 超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。 厚度测量仪哪个品牌比较好?不同类型的测厚仪,对应不一样的行业,适用范围也有所不同,那么大家在选购测厚仪时,就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们,欢迎来电大成精密公司来咨询。