表面探头

我们用的设备是JEOL，JSM-IT100。但是背散射探头坏了，现在客户反应我们的二次电子探头拍不出第三方（BSE）的效果- -。实际就是PC塑胶件表面的空洞，二次电子由于边缘放电效应导致边缘发光。客户反应BSE探头立体感更强（实际上SE探头更强...但是毕竟客户投诉）需要我们更换。我们想知道JEOL的REF探头（二次电子探头探测背散射电子）能否代替BSE探头？此时图像的明暗是导电性的强弱还是原子的相对原子质量大小影响？dalao们有REF的介绍吗？最好是和BSE的对比，感谢！

[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=374]超声波测厚仪[/url]可以测量金属材质、管道、压力容器、板材（钢板、铝板）、塑料、铁管、PVC管、玻璃等其他特殊材料的厚度；也可以测量工件表面油漆层等带涂层的材料；广泛应用于制作业、金属加工业、化工业、商检业等检测领域。　　超声波测厚仪探头如果以构造来分类可以分为直探头、斜探头、带曲率探头、聚焦探头和表面波探头。　　下面小编来讲一下，超声波测厚仪探头如何维护　　1.探头不能投掷、跌落以及使用猛力拉扯。　　2.使用的时候，探头的两根电缆线插入和拔出的时候应手握电缆线的金属部分，防止探头断线。　　3.现场工作俄时候，探头应尽量避免在粗糙不平的表面上磨动，仪延长探头的使用寿命。　　4.探头使用完之后，应及时擦去探头上的耦合剂，保持探头的清洁.　　相关阅读：超声波测厚仪如何保养　　一、使用超声波测厚仪时应小心轻放，避免碰撞。　　二、仪器每次使用完毕后，应将仪器主机和探头擦干净，放入仪器箱内保存。　　三、仪器长期不使用时，须将电池取出。　　四、若仪器出现故障无法使用时，则需要返回原厂进行维修。　　五、试块的清洁

这探头放入水里应该多深呀？越深越好，还是在表面？

做扫描电镜时，样品室里在样品正上方的那个东西是什么，是探头吗？有没有图片可以让俺们看看，是啥材料做的？为什么做扫描时要保证样品表面和它正上方的那个东西有一个距离，这个距离怎么定？要是不断缩小这个距离会有什么结果？刚入门，请多指教。

我们买了个溶解氧仪器，据说最先进的是探头，是欧美大牌探头，终身免维护，几乎不用什么酸洗什么的，前面的膜也不用更换，不行就需要换新的探头。据说探头寿命有三年。也许是中国人的消费习惯问题，总喜欢坏了修修还能用。这个探头的理念就是不行了就换新的，不搞局部维修，换个膜，充个液什么的，方便是真的，利索也是真的。不知您喜欢这样的，还是能换膜，能换液的探头？

在实验室中，为了控制标准大气条件的温湿度环境一般都会安装温湿度监控仪，而该设备上其主要作用的还是上面的温湿度传感器探头，作为设备保养的主要部位，探头部位往往是容易忽视的部分，为了保证探头的正常使用，下面可以做好如下工作：1.注意使用环境1.1避免阳光直射：如果将探头放到阳光下对导致温度读数上升，而影响温湿度传感器的准确性，故可以将探头放到角落或者阴凉处。1.2避免放在通风口或者排风口处：通风口和排风口的气流可能会干扰温湿度传感器的读数。传感器放置在通风口或排风口附近可能会导致温度和湿度读数不准确。因此，应将传感器放置在远离通风口和排风口的位置，以避免气流的影响。1.3注意传感器的高度：环境温湿度可能会受到高度的影响，因此根据需要，实验室应将传感器放到与检测区域相对应的高度位置上，以获得准确的结果。2.保养方法2.1安装保护壳：使用适合的保护壳可以防止其受到物理损坏或污染。2.2定期清洁和维护：实验室可以使用柔软的布或者棉签轻轻擦拭探头表面，除去积累的灰尘和污垢。总之传感器探头的维护保养和使用直接关系到实验室检测的数据准确性，实验室应提高该部件的保养意识。

【作者按】形貌衬度、Z衬度、晶粒取向衬度、二次电子衬度、边缘效应、电位衬度等是形成扫描电镜表面形貌像的几个重要衬度信息。对这些衬度信息的接收离不开探头。本文将就扫描电镜两种主要探头的构造、工作原理及其接收的样品信息进行详细探讨。[b][size=18px][color=#00b0f0]一、二次电子探头[/color][/size][/b]目前教科书的观点认为：二次电子探头接收的样品表面信息主要是二次电子。真实情况是否如此呢？[color=#00b0f0][b]1.1二次电子图像所拥有的特性[/b][/color]A) 二次电子能量很低（低于50ev），从样品表面溢出的深度浅，在样品中的扩散范围小。适合用于表现样品表面形貌像的极细小细节（小于10nm）。[align=center][img=1.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/3edeb286-6abb-4bf7-8b3a-008c9ab1551f.jpg[/img][/align]B)二次电子能量低，在样品表面的溢出量容易受到静电场（荷电）的影响，出现图像局部或全部异常变亮、磨平、变暗并伴随图像畸变的现象，即样品图像的荷电现象。[align=center][img=2.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/fb564107-ab21-4b67-9812-18699dec50be.jpg[/img][/align]C)二次电子的产额受平面斜率影响较大，边缘处产额最高，形成所谓的二次电子衬度及边缘效应。这些衬度信息会形成信息的假象，也有助于分辨某些特殊的样品信息。[align=center][img=3.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/51c0d3a0-49ba-412e-96ee-f789a068425d.jpg[/img][/align]D) 二次电子图像的Z衬度一般表现较差。[align=center][img=4.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/9d2c7e97-f6a9-4de1-b054-9b8e5101f0f5.jpg[/img][/align][color=#00b0f0][b]1.2二次电子探头的组成及工作原理[/b][/color]二次电子能量弱（低于50ev），要想获取二次电子信息就必须采用高灵敏探头。利用敏感度极强的荧光材料接收弱信号，再以光电倍增管对弱信号做百万倍的放大，将能量极弱的二次电子信息转化为能被电子线路处理的电子信息。这种设计是目前解决这一难题的最佳方案。二次电子探头的基本构造正是以这个思路为基础来设计。[b]1.2.1 Everhart-Thornley探测器的结构组成[/b]由金属网收集极、闪烁体、光导管、光电倍增管和前置放大电路组成的探测器被称为Everhart-Thornley探测器。一直以来都是各厂家用于接收二次电子的主流探测器。[align=center][img=5.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/2f6dd144-afab-427d-99c2-96f6565bc641.jpg[/img][/align][b]1.2.2 Everhart-Thornley探测器的工作原理[/b]位于探头最前端的收集极是由金属网构成，其上加有200V的正偏压以捕获更多的二次电子。进入收集极的二次电子由加载在闪烁体金属铝膜上的10KV电压加速在闪烁体上产生一定数量的光子。由闪烁体产生的光子经过光导管的全反射进入光电倍增管阴极，在阴极上转换成电子。这些电子由打拿极的不断倍增，经阳极输出高增益低噪音的电信号。该信号由紧贴阳极的前置放大器放大后，从探测器输出。探测器本身无法将到达探测器的高能量背散射电子从低能量的二次电子中分离，但通过改变收集极偏压可以将低能量的二次电子给阻绝在探头外面。其接收的信息特性完全取决于到达探头的信息组成，如果信息中二次电子含量大则图像偏向于二次电子的图像特性，如果背散射电子含量大则结果偏向于背散射电子的图像特性。将探头的收集极变成负偏压，则我们可以获得偏向于背散射电子的图像。但是图像信号衰减较多，图像质量较差。[b][color=#00b0f0]1.3二次电子探头的位置与成像特性[/color][/b]高分辨场发射扫描电镜中，二次电子探头（ET探头）往往被置于仪器的两个位置：镜筒及样品仓。虽然各电镜厂家探头的具体位置有差异，但其结构是基本一致。探头位置不同，获取的图像性质差异也非常大。下面就以日立冷场电镜S-4800二次电子探头的位置设计为例来加以说明。[b]1.3.1 S-4800二次电子探头的位置设计[/b]在冷场扫描电镜S-4800中标配了两个二次电子探头。这两个探头的结构和性能完全一致，仅仅在电镜中安装的位置有所差异。一个位于样品仓，另一个位于物镜的上方。如下图所示：[align=center][img=6.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/6b4fc92d-a161-48eb-938a-cdc27b8be3a5.jpg[/img][/align][b]1.3.2 上、下探头的工作过程及获取图像的特性[/b][color=#00b0f0]1.3.2.1上探头接收的样品信息[/color]扫描电镜EXB系统的结构是在物镜磁场（B）上方正对着上探头设计一个电场（E）。该电场的作用是将物镜磁场吸上来的背散射电子、二次电子混合信息中能量较弱的二次电子分离出来，推向上探头。这个过程如同碾米机进行米、糠分离时吹风机的作用一样。故上探头获取信息是较为纯正的二次电子。背散射电子也可以通过位于物镜内的电极板转换成二次电子被上探头接收，通过调节电极板上加载的电压来选择到达上探头的信息特性。这种间接接收的背散射电子有其一定的特点，但损耗大，大部分情况下信号量不足。下面组图为上探头接收的四种信息特性。[align=center][img=7.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/312e9fc9-364e-47b7-aa0f-f4a6759f8a69.jpg[/img][/align][align=center][img=8.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/6ccf7e3c-4ea6-4df7-a35f-702c3461675e.jpg[/img][/align][color=#00b0f0]1.3.2.2上探头的工作过程[/color]高能电子束轰击样品产生各种电子信息被物镜磁场吸收送往物镜上方。工作距离越小被物镜俘获的样品电子信息越多，其中二次电子和背散射电子是呈现扫描电镜表面形貌信息的主要信号源，将被拿出来单独讨论。二次电子和背散射电子混合信息被物镜磁场送到位于物镜上方的电场，能量弱的二次电子受电场影响从混合信息中被分离出来并推送到位于物镜上方的上探头，背散射电子由于能量较强，电场对其影响较小，将穿过电场轰击位于电场上方的电极板，产生间接二次电子也会被上探头接收到，但其含量较小不是主要信息。位于物镜中的电极板通过调整加载电压来选择进入物镜的信息类型。低角度（LA）背散射电子可由电极板转换成二次电子被上探头接收，形成所谓间接的LA背散射电子像。电极板加载+50V电压，将吸收低角度的二次电子和背散射电子，抑制低角度电子信息进入镜筒（U）。电极板加载0V，将由其转化成二次电子的低角度背散射电子和低角度二次电子信息都送入镜筒。上探头接收的是各种角度二次电子和低角度背散射电子的混合信息。其混合比例将随着电极板电压的降低，背散射信息逐渐增多（U，LA0）。-150V时，二次电子被全部压制，此时上探头接收到的是纯的低角度背散射电子所激发的二次电子信息（U，LA100）。位于镜筒内的能量过滤器，会将二次电子以及低角度背散射电子所形成的二次电子给抑制，此时上探头或顶探头接收的是高角度背散射电子信息（U，HA）。图像特性：Z衬度充分，其他都不足。由于高角度背散射电子产额少，对样品及束流的要求都较高。目前在束流较低的冷场扫描电镜中取消这个功能，只在束流较高的regulus8200系列冷场电镜中保留顶探头设计。但适用的样品并不多。[align=center][img=9.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/54aea59e-1225-4703-a62d-324fa54bf35c.jpg[/img][/align][color=#00b0f0]1.3.2.3下探头的位置及其图像特性[/color] 下探头位于场发射扫描电镜样品仓位置。示意图如下：[align=center][img=11.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/17380253-5429-4944-af61-5caa22457c69.jpg[/img][/align]下探头位于样品仓中，因此也称样品仓探头。它与样品之间没有任何阻碍物，激发出来的样品信息可以不受影响的到达该探头。下探头本身不能对到达探头的背散射电子信号加以甄别，其图像特性取决于到达探头的信息特征。二次电子居多，就偏向二次电子的图像特性；背散射电子居多，则偏向于背散射电子的图像特性。 样品仓探头接收的样品信息以低角度信息为主，背散射电子含量占主导。对样品信息的接收效果取决于探头与样品之间形成的固体角，样品的位置十分关键，存在一个最佳工作距离。各厂家的最佳工作距离各不相同，日立电镜是15mm。下探头位于样品的侧向，图像特性：形貌衬度好，立体感强；荷电影响小；Z衬度好；细节易受信号扩散影响，高倍清晰度不足，10纳米以下细节很难分辨。不同厂家的样品仓探头位置不同，因此最佳工作距离以及探头、电子束、样品之间的夹角都会略有不同。形成的图像在空间感及高分辨能力上存在差异。样品仓真空度也是样品仓探头分辨力的主要影响因素之一。日立冷场扫描电镜下探头的成像实例：[align=center][img=12.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/b5917c9d-9e59-41fb-82c6-4c3fd3475cab.jpg[/img][/align][align=center][img=13.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/decfd495-8ec1-490e-b6e8-c6735f4f5ad9.jpg[/img][/align][color=#00b0f0]1.3.2.4上、下探头的图像特性对比实例[/color]上、下探头结构一致，仅仅由于安装位置不同导致其成像特性也不一样，充分掌握这些差异将有利于你选择正确的测试条件。下面将通过几组对照图来加以阐述：[align=center][img=14.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/c911ae27-5aac-4936-a791-5f3f37126870.jpg[/img][/align][align=center][img=15.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/7388deb2-be2f-472d-9c96-52b873fb089c.jpg[/img][/align][align=center][img=16.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/169e28be-1208-4ae4-ace5-96820e80cb8b.jpg[/img][/align]从以上各组对照图可以清晰看到，上探头二次电子信息特征极为强烈，而下探头偏重背散射信息。这些特点使得该两种探头获得的样品信息差异较大，各自都有适合的样品及所表现的样品信息。在各自适用的范围内对方都无可替代。根据个人多年的测试经验，下探头获取的样品信息虽然在10纳米细节观察上有所欠缺，但获取的信息更为充分。本着初始图像以信息量是否充分为主的原则，15mm工作距离选用下探头测试，常常被用做扫描电镜测试时的初始条件。以该条件下获取的形貌像为参考，依据样品的信息需求以及对上、下探头成像特性的正确认识，再做进一步调整。[b][size=18px][color=#00b0f0]二、背散射电子探头[/color][/size]2.1背散射电子的图像特性[/b]高能电子束受样品原子核及核外电子云的库仑势影响，发生弹性和非弹性散射后溢出样品表面，形成样品背散射电子。其特点是：能量大（与入射电子相当），产额受样品原子序数、密度以及晶体材料的晶体结构及晶粒取向影响较大，是形成样品Z衬度和晶粒取向衬度信息的主要信号源。背散射电子按信号溢出角分为高角度和低角度两种类型。高角度背散射电子的Z衬度更为明显，但整体产额很低，仅在束流较大的场发射扫描电镜上配置了接收该信息的探头。探头位于镜筒中物镜的正上方（或称T），适用样品并不多。扫描电镜日常采集的主要是低角度背散射电子。高角度背散射电子相较于低角度背散射电子，Z衬度更为明显，但其产额较低。由于该信息最佳接收位置在样品正上方，探头、样品以及入射电子束在一条线上，故空间形貌较差。低角度背散射电子Z衬度略弱，但产额大，形貌像更好。要充分接收低角度背散射电子信息，探头需要与样品形成一定角度。相对于高角度背散射电子，低角度背散射电子形成的图像空间感好，表面形态及细节信息较充分，但Z衬度略差，不如高角度背散射电子明显。以下是分别以二次电子和高、低角度背散射电子为主所形成的形貌像比较。[align=center][img=17.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/cf857ded-2b46-4cfa-b30e-df25d2f6cbcb.jpg[/img][/align][align=center][b]碳复合金颗粒的二次电子、高角度背散射电子、低角度背散射电子对照 [/b] [/align][b]2.2背散射电子探头的构造及工作原理[/b]环形半导体背散射电子探头是最经典的背散射电子探头。该探头采用环状硅基材料做成，构造形式是半导体面垒肖特基结二极管或p-n结二极管，如下图：[align=center][img=18.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/c6983a61-7f15-42c3-849e-c0b3f78c0f4f.jpg[/img][/align][align=center][b]图片节选自《微分析物理及其应用》 丁泽军[/b][/align] 背散射电子在硅基探测器中激发大量的电子-空穴对。同样加速电压下，电子-空穴对的产量和背散射电子强度形成一定的对应关系。并由此形成对应的电信号，经处理后在显示器形成样品的背散射电子图像（Z衬度像或晶粒取向衬度像）。 硅基材料形成电子-空穴对，需要信号激发源有一定的能量（肖特基结对5KV以下电子有大增益，P-N结对10KV电子才有大增益），能量较小的二次电子很难在该探头上产生信息，故探头形成的图像带有强烈的背散射电子图像特性。为了获取低能量的背散射电子信息，背散射电子探头改用YAG晶体或在探头上做一层薄膜如FEI的CBS，这些改变都对探头获取低能量背散射电子有利，形成的图像细节更丰富。但探头灵敏了，干扰也会增多，Z衬度也会减弱。[align=center][img=19.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/a6b2de85-8984-486a-8940-122ff5311cf1.jpg[/img][/align][b]2.3各种探头接收背散射电子信息的结果对比[/b]传统硅基P- N结背散射电子探头对加速电压的要求高（10KV以上），它获取的背散射电子信息不易受低能量信息的干扰。Z衬度分明，荷电影响极小，但图像的细节呆板，表面细节信息缺失严重，较高倍时图像的清晰度差。钨灯丝扫描电镜，电子枪本征亮度差，要获得高质量形貌像所需的电子束发射亮度，加速电压必须在10KV以上。P-N结背散射电子探头正好与其互相匹配，故被广泛使用。场发射扫描电镜本征亮度大，低加速电压下进行高分辨形貌像测试是常态，P-N结背散射电子探头与其匹配度差。而CBS和YAG探头的功能和样品仓探头比起来Z衬度优势并不明显，二次电子的接收效果又不如，个人认为完全可以用样品仓探头来完美的替代背散射电子探头。如前所述，二次电子探头也能接收大量背散射电子。它所获取的图像性质取决于到达探头的信息组成，如果背散射电子信息居多，它就偏向背散射电子的图像特征，二次电子居多就偏向二次电子图像特征。二次电子探头适合在不同加速电压（几百伏到30KV）下获取背散射电子图像。低加速电压有利于取得是浅表层信息；高加速电压有利于取得较深层信息。探头的适用范围越广，测试条件的选择越充分，获取的样品信息越完整。[align=center][img=20.png"onclick ="upload(this)]https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/de1afe4f-f593-4e4e-88d0-92b7ec8a573e.jpg[/img][/align]背散射探头通过电子-空穴对的转移来传递信息，运行速度较二次电子探头（光电转换）慢很多。在进行聚焦、像散、对中操作时，图像对操作的反应滞后严重，须在慢速下调整。整个操作麻烦，精确的高倍调整更为困难。背散射电子探头往往置于样品与物镜之间，推进推出操作麻烦且易引发探头和样品间碰撞，对探头造成损伤。对该位置的占有，也会给后期分析设备安装带来麻烦。随着能谱仪、EBSD性能的突飞猛进，背散射电子探头对成分及结构组成分析的作用大大衰减，且成本不低，信息量少，使用率低。个人观点：背散射探头连鸡肋都算不上，基本可以抛弃。[b][size=18px][color=#00b0f0]结束语[/color][/size][/b]探头是扫描电镜获取样品表面形貌信息的关键部件。其性能高低对形成样品高质量、高分辨的表面形貌像至关重要。探头主要有两大类：二次电子探头、背散射电子探头。传统的观点认为：二次电子探头主要用来接收样品的二次电子信息，背散射电子探头接收的是背散射电子信息。实践经验告诉我们这个观点并不正确。二次电子探头的图像性质取决于到达探头的信息组成。到达探头的信息以背散射电子信息为主则图像倾向背散射电子图像特性，二次电子信息为主则是二次电子的图像特性。高分辨场发射扫描电镜常规设计有两个二次电子探头，分别位于样品仓和镜筒内部。不同位置的探头获取样品表面形貌信息的组成差异很大。镜筒内探头获取的基本都是二次电子信息，样品仓探头则是以背散射电子为主的混合信息。改变工作距离对探头获取样品信息的影响极大，工作距离越小越有利于上探头获取样品的二次电子信息，大工作距离有利于样品仓探头获取样品的混合信息。工作距离对样品仓探头接收样品信息的影响并不是越大越好，而是有一个最佳工作位置。最佳工作位置设计的越合理，你获取的样品信息也就会越丰富。传统的半导体背散射电子探头由于需要较大的激发能，故能量较弱的二次电子很难在探头上产生信号，该探头获取的背散射电子图像较为纯净。早期的硅基P-N结半导体背散射探头激发能要求较高（10KV）所以它形成的图像呆板，细节分辨差，表面信息少，但Z衬度强烈，不易受荷电影响。高加速电压对充分获取样品表面信息不利，为了提高探头获取表面信息的能力，出现许多低电压背散射探头（CBS\YAG）。但个人认为：低电压背散射电子探头的成像效果不如样品仓探头来的细腻，设计合理的样品仓探头完全可以替代背散射探头的功能。要掌握好仪器设备，对各功能部件的充分认识是基础。希望通过本文，能和大家一起对扫描电镜的信息接收系统有个重新认识。对探头以及工作距离的正确选择必定会为你带来更为丰富的样品信息。[b]参考书籍：[/b]《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日 华南理工出版社《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月 中科大出版社《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月 人民出版社《显微传》 章效峰 2015年10月 清华大学出版社日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍 高敞 2013年6月

[font=宋体][font=宋体]（[/font][font=Times New Roman]1[/font][font=宋体]）对于非侵入式检测，探头可安装在搅拌机、管道或输送机上，根据光谱信号强度调节与产品所保持的距离并固定，以保证光谱信号的稳定、准确。[/font][/font][font=宋体][font=宋体]（[/font][font=Times New Roman]2[/font][font=宋体]）对于侵入式检测，探头安装处应确保样品与采集位点充分接触，避免空气对信号采集的干扰。[/font][/font][font=宋体][font=宋体]（[/font][font=Times New Roman]3[/font][font=宋体]）对于非均匀体系的检测，应采用多探头均匀分布的原则，保证所采集光谱数据的代表性。[/font][/font][font=宋体][font=宋体]（[/font][font=Times New Roman]4[/font][font=宋体]）探头应安装在振动小、温湿度稳定处，以尽量避免外界因素对光谱信号的干扰。[/font][/font]

水质——溶解氧的测定——电化学探头法 ( 水质 溶解氧的测定电化学探头法GB11913—89Water quality-Determination of dissolvedoxygen—Electrochemical probe method本标准等同采用国际标准ISO 5814—1984《水质——溶解氧的测定——电化学探头法》。1 主题内容与适用范围1.1 主题内容本标准规定了采用一种用透气薄膜将水样与电化学电池隔开的电极来测定水中溶解氧的方法。根据所采用探头的不同类型，可测定氧的浓度(mg／L)，或氧的饱和百分率(％溶解氧)，或者二者皆可测定。本方法可测定水中饱和百分率为0％至100％的溶解氧。可是，大多数仪器能测定高于100％的过饱和值。本方法不但可以用于实验室内的测定，还可用于现场测定和溶解氧的连续监测。本方法适于测定色度高及混浊的水，还适于测定含铁及能与碘作用的物质的水，所有上述物质会干扰用碘量法的测定。一些气体和蒸气象氯。二氧化硫、硫化氢、胺、氨、二氧化碳、溴和碘能扩散并通过薄膜，如果上述物质存在，会影响被测电流而产生干扰。样品中存在其他物质，会因引起薄膜阻塞、薄膜损坏或电极被腐蚀而干扰被测电流。这些物质包括溶剂、油类、硫化物、碳酸盐和藻类。1.2 适用范围本方法适用于天然水、污水和盐水，如果用于测定海水或港湾水这类盐水，应对含盐量进行校对。2 原理本方法所采用的探头由一小室构成，室内有两个金属电极并充有电解质，用选择性薄膜将小室封闭住。实际上水和可溶解物质离子不能透过这层膜，但氧和一定数量的其他气体及亲水性物质可透过这层薄膜。将这种探头浸入水中进行溶解氧测定。因原电池作用或外加电压使电极间产生电位差。由于这种电位差，使金属离子在阳极进入溶液，而透过膜的氧在阴极还原。由此所产生的电流直接与通过膜与电解质液层的氧的传递速度成正比，因而该电流与给定温度下水样中氧的分压成正比。因为膜的渗透性明显地随温度而变化，所以必须进行温度补偿。可采用数学方法(使用计算图表、计算机程序)；也可使用调节装置；或者利用在电极回路中安装热敏元件加以补偿。某些仪器还可对不同温度下氧的溶解度的变化进行补偿。3 试剂在分析过程中，仅使用公认的分析纯试剂和蒸馏水或纯度相当的水。3.1 无水亚硫酸钠(Na2SO3)或七水合亚硫酸钠(Na2SO37H2O)。3.2 二价钴盐，例如六水合氯化钴(Ⅱ)(CoCl26H2O)。4 仪器4.1 测量仪器。由以下部件组成4.1.1 测量探头。原电池型(例如铅／银)或极谱型(例如银、金)，如果需要，探头上附有温度灵敏补偿装置。4.1.2 仪表，刻度直接显示溶解氧的浓度，和(或)氧的饱和百分率或电流的微安数。4.2 温度计，刻度分度为0.5℃。4.3 气压表刻度分度为10Pa。5 步骤使用测量仪器时，应遵照制造厂的说明书。5.1 测量技术和注意事项5.1.1 不得用手接触摸膜的活性表面。5.1.2 在更换电解质和膜之后，或当膜干燥时，都要使膜湿润，只有在读数稳定后，才能进行校准。需要的时间取决于电解质中溶解氧消耗所需要的时间。5.1.3 当将探头浸入作品中时，应保证没有空气泡截留在膜上。5.1.4 作品接触探头的膜时，应保持一定的流速，以防止与膜接触的瞬间将该部位样品中的溶解氧耗尽，而出现虚假的读数。应保证样品的流速不至使读数发生波动，在这方面要参照仪器制造厂家的说明。5.1.5 对于分散样品，测定容器应能密封以隔绝空气并带有搅拌器(例如电磁搅拌棒)。将样品充满容器至溢流，密闭后进行测量。调整搅拌速度使读数达到平衡后保持稳定，并不得夹带空气。对流动样品，例如河道，要检验是否可保证有足够的流速。如不够，则需在水样中往复移动探头，或者取出分散样品按上段叙述的方法测定。5.2 校准核准步骤在5.2.1至5.2.3中叙述，但必须参照仪器制造厂家的说明书。5.2.1 调节调整仪器的电零点，有些仪器有补偿零点，则不必调整。5.2.2 检验零点检验零点(必要时尚需调整零点)时，可将探头浸入每升已加入1g亚硫酸钠(3.1)和约1mg钴盐(Ⅱ)(3.2)的蒸馏水中。10min内应得到稳定读数。注：新式仪器只需2～3min。5.2.3 接近饱和值的校准在一定温度下，向水中曝气，使水中的氧的含量达到饱和或接近饱和。在这个温度下保持15min再测定溶解氧的浓度，例如用碘量法测定。5.2.4 调整仪器将探头浸没在瓶内，瓶中完全充满按上述步骤制备并标定好的样品。让探头在搅拌的溶液中稳定10min以后。如果必要，调节仪器读数至样品已知的氧浓度。当仪器不能再校准，或仪器响应变得不稳定或较低时(见厂家说明书)，应更换电解质或(和)膜。注：①如过去的经验已给出空气饱和样品需要的曝气时间和空气流速，则可查表A1和表A3来代替碘量法测定。②许多仪器可在空气中校准。5.3 测定按照厂家说明书对待测水进行测定。在探头浸入样品后，使探头停留足够的时间，使探头与待测水温一致并使读数稳定。由于所用仪器型号不同及对结果的要求不同，必要时要检验水温和大气压力。6 结果的表示6.1 溶解氧的浓度(mg／L)溶解氧的浓度以每升中氧的毫克数表示，取值到小数点后第一位。在测量样品时的温度不同于校准仪器时的温度，应对仪器读数给予相应校正。有些仪器可以自动进行补偿。该校正考虑到了在两种不同温度下，氧溶解度的差值。例:校准温度 25℃25℃溶解度 8.3mg／L测量时的温度 10℃仪器读数 7mg／L10℃时溶解度 11.3mg／L注：上例中以mg／L表示的Cm和Cc值可根据对应的温度由表A1中“Cs”栏中查得。6.2 作为温度和压力函数的溶解氧浓度表互和表2给出了溶解氧浓度的理论值。表1给出了在标准大气压力下做为温度函数的值。表2则给出作为温度和压力两项函数的值。6.3 盐水样品经过校正的溶解氧浓度氧在水中溶解度随盐含量的增加而减少，在实际应用中，当含盐量(以总盐表示)在35g／L以下时可合理地认为上述关系呈线性。表1给出每1g／L含盐量在校正时减去校正值。即△Cs。所以，当水中含盐量为ng／L时，水中氧的溶解度等于纯水中相应的溶解度减去n△Cs。6.4 以饱和百分率表示的溶解浓度这是以mg／L表示的实际溶解氧浓度，必要时需经过温度校正，除以表A1和表A3给出的理论值而得出的百分率：Cs(测定值)------------×100%Cs(理论值)7 试验报告试验报告包括下列资料：a.参考本国家标准；b.测定结果及其表示方法；c.采样和检测时的水温；d.采样和检测时的大气压力；e.水中含盐量；f. 所用仪器的型号；g.测定期间可能注意到的特殊细节；h.本国家标准中没有规定的或考虑可任选的操作细节。

前两天我打算在数字温度表的传感器探头处镀聚四氟乙烯,以防止金属打火,但没找到合适的地方镀,最近我听说数字温度表的传感器有陶瓷探头的,不知是否适用于微波炉,请各位高人指教

超声波测厚仪是测厚仪的一种，属于基础物性仪器之一。超声波测厚仪利用超声波测量原理，可以快速、精准测量多种材料厚度及声速的高精度测厚仪，适用于测量钢铁、各种金属、玻璃、ABS、塑料、PVC，球墨铸铁等材质的厚度测量。[img]https://mp.toutiao.com/mp/agw/article_material/open_image/get?code=NDY3NWI3ODE5OWJkMjBlNzVlYmEwYWM4YzFjNWQ1YmUsMTY1MTY1MjAyOTkyMg==[/img]超声波测厚仪在使用过程中，有可能出现不能识别探头，或者探头识别错误的问题。出现这些类似的问题应该怎么办？今天小编来教你！[b]【故障情况一】无法测量数据[/b]1、查看被测物体厚度是否超出仪器测量范围（测量范围见下图的技术参数）2、查看探头与仪器是否接触良好3、如果接触良好，请更换探头后重试4、恢复出厂设置后重试（上述操作后仍然无法测量，请联系我们）[img]https://mp.toutiao.com/mp/agw/article_material/open_image/get?code=NjI0YjMyMGY1Y2I3ODZiYjk2YmI2NmMyMDM2YmFlYzYsMTY1MTY1MjAyOTkyMg==[/img][b]【情况二】无法开机[/b]1、查看电池安放是否正确2、查看电池是否电量用尽（上述操作后仍然无法测量，请联系我们）[b]【情况三】测量精度下降[/b]1、重新进行探头自识别操作2、重新进行材料声速校准[b]【情况四】不能识别探头或探头识别错误[/b]1、重新插接探头连接电缆后再次进行探头识别2、将探头接触面污垢和耦合剂擦拭干净3、恢复出厂设置后重新进行探头识别[img]https://mp.toutiao.com/mp/agw/article_material/open_image/get?code=ZmZmNzYyODU3OGE3NGZlMDFjZWU3NDcyM2VhMGUzOGIsMTY1MTY1MjAyOTkyMg==[/img]英徕铂超声波测厚仪属于精密的物性检测仪器，在使用时应该如何维护保养呢？1、主机和探头不能接触强酸和强碱等化学物质2、请不要用尖锐物体刻画显示屏3、插拔探头时，请捏住金属部位插拔，不要直接拉扯探头线4、探头表面切勿在粗糙物体表面刮擦5、请定期清除仪器、探头、校准片污垢6、在长时间不使用情况下，请取出电池，避免电池漏液会损坏仪器[img]https://mp.toutiao.com/mp/agw/article_material/open_image/get?code=YWYyZTVmZWMyZjI3MjgwOWE1NTVjOGY0OWViMTY5YWMsMTY1MTY1MjAyOTkyMg==[/img]【英徕铂】英徕铂ENLAB，物性检测仪器品牌，为国内市场提供数百种物性检测仪器，为科研工作者提供检测仪器解决方案与服务。

探头是怎样工作的　　示波器探头不仅仅是把测试信号判定以示波器输入端的一段导线，而且是测量系统的重要组成部分。探头有很多种类型号各有其没的特性，以适应各种不同的专门工作的击破要，其中一类称为有源探头，探头内包含有源电子元件可以提供放大能力，不含有源元件的探头称为无源探头，其中只包含无源元件如电阻和电容。这种探头通常对输入信号进行衰减。　　我们将首先集中讨论通用无源探头，说明共主要技术指标以及探头对被测电路和被测信号的影响，接着简单介绍几种专用探头及其附近。屏蔽　　探头的一个重要任务是确保只有希望观测的信号才在示波器上出现，如果我们仅仅使用一面导线来代替探头，那到它的作用就好象是一根天线，可以从无线电台、荧光灯，电机、50或60Hz的电源的交流声甚至当地业余无线电爱好者那里接收到很多不希望的干扰信号，其些这类噪声甚至还能抽向注入到被测电路中去所以我们首先需要的是屏蔽的电缆，示波器探头的屏蔽电缆通过们于探头尖端的接地线和被测电路连接，从而保证了很好的屏蔽。探头带宽　　和示波器一们，探头也具有其允许的有限带宽。如果我们使用一台100MHz的示波器和一个100MHz的探头，那么它们组合起来的响应就小于100MHz，探头的电容和示波器的输入电容相加，这就减小了系统的带宽，加大了显示的上升时间tr见第一章1.3节上升时间。使用1.3节的公式　　tr(ns)=350/BW(MHz)　　如果示波器和探头各自均为100MHz带宽，其上升时间均为tr=3.5ns 。则有效系统上升时间就由下式给出：　　trsystem=sqr(t2rscope+t2rprobe)　　=sqr(3.52+3.52)ns　　=sqr(24.5)2ns　　=4.95ns　　根据4.95ns的系统上升时间求得，系统带宽为350/4.95MHz=70.7MHz。　　Fluke公司给所有示波器配备的探头都能使示波器保证在探头尖端获得规定的示波器带宽，从上述的计算可以看出，视觉要求探头本射的带宽要比示波器的带宽宽得多。负载效应　　当我们进行测量时，我们常常以为测得的电压和电路中未连入示波器时是完全一样的。　　实际上，每个探头都有其输入阻抗，输入阻抗包含了电阻、电容和电感分量。由于探头引入的额外负载，所以连入探头后就会影响被测电路我以当我们分析测量结果时必须考虑探头的特性以及测试电路的阻抗。　　有些探头里没有串联的电阻，这类探头主要就由一段电缆和一个测试头构成，因此，在其工作频率范围或有用带宽之内，探头对信号没有衰减作用。这类探头称为1：1或X1探头。由于这类探头在测试点处将其自身的电容（包括电缆的电容）与示波器的输入阻抗连在了一起，所以这种探头具有负载效应。见图42。图42 探头的等效电路　　当信号频率啬时，探头的容性负载效应京戏得更加显著。由于电缆的类型和长度的不同以及探头本身构造等原因，1：1探头的输入电容通常可以从大约35pF到100pF以上，这等于给被测电路施加了一个低阻抗菌素负载，具有47pF输入电容1：1探头在20MHz之下的电抗仅为169W，这就使得这个探头在此频率无法使用。衰减式探头减小了负载效应　　我们可以在探头中增加一个和示波器输入阻抗相串联的阻抗，用这种办法就可以减小探头的负载效应。然而，这就意味着输入电压不能完全加到示波器的输入端，因为我们现在已经引入了一个分压器。　　图43给出了一处简化的探头等效电路，Rp和Rs构成了一个10：1的分压器，Rs为示波器的输入阻抗。调节补偿电容C补偿使得探头和示波器械相匹配，视觉保证了在探头的尖端获得正确的频率响应曲线，宋一来就使得这种探头的频率响应比1：1探头频率响应要宽得多。图43　10：1探头电路图　　示波器的标准输入电阻为1MΩ。这就要求在探头中串联9MΩ的电阻，使得在低频时探头尖端的输入阻抗为10MΩ。探头补偿　　一个实际的10：1探头具有几个可调的电容和电阻以便在很宽的频率范围内获得正确的频率响应，这些可调元件的大多数都是在制造探头时由工厂调好的。只有一个微调电容留给用户去调节。这个电容称为低频补偿电容，应当通过调节这个电容使得探头和与相配用的示波器匹配，使用示波器前面板上的信号输出可以很容易地进行这项调节工作，示波器的这个输出端标有"探头调节"、"校准器""CAL"或者"探头校准"等标志，并能送出一个方波输出电压。方波中包含很多频率分量。当所有这些分量都以正确的幅度送至示波器时，就能在示流器屏幕上再现方波信号。图44示出探头欠补偿，正确补偿和过补偿的影响。图44　在2kHz方波和1MHz正弦波之下观察不同探头补偿情况的影响。　　可以看出，在较高的的频率下探头过补偿和欠补偿和欠被偿情况下1MHz正弦波的幅度是很不准确的。　　所以在使用的衰减探头之前一定不要忘记检查探头的补偿情况。由于一台示波器的不同输入通道的输入电容可能有小的差异，所以您应当按照示波器上要使用的通道来进行探头补偿调整工作。最大输入电压　　多数通用10：1探头的构造使这些探头适合于最大输入电压为峰值400V或500V的情况下使用，所以这些探头可以用于信号电平高达数百伏的广泛的应用场合，对于需要测量更高电压的场面合，我们推荐使用电压额定值更高的100：1探头。探头读出　　现代示波器探头都装有编码系统，使得示波器能够识别与它相连年的探头类型。 从而使示波器能够高速垂直偏转指示值及所有幅度测量结果以避免发生泥淆。而如果使用不带这种识别系统的探头，则用户就不得不自己为所有波形显示和测量结果重新定樯以便反映出探头的衰减量。接地引线电感　　图45说明探头的接地引线电感如何与探头及示波器的输入电容形成串联谐振电路。而探头的输入电阻则在谐振电路中引入阻尼。图45　带有接地引线电感的探头等效电路　　像其它谐振电路一亲，如果在探头上加入阶跃电压则此谐振电路也会发生振铃现象，过大的接地引线电感还会使示波器显示的上升时间变差，图46显示出使用不同长度的接地引线时，连至示波器的快速上升沿脉冲的显示波形。图46　接地引线对脉冲响应的影响　　从图中我们可以清楚的看到接地引线电感对测量结果的影响，所以一定要使探头的接地引线尽可能的短，特别是在测高频和快速上升沿的信号时尤应注意。安全接地　　为保证电气上的安全，多数示波器都通过电源线与安全地线相连。被测信号有可能和地线具有相同的参考电位，但并非必然如此，因此在连接探头的地线时，一定要注意不要因此而把被测系统的某一部分短路。另一方面，既使被测系统和示波器的地线具有相同的参考电位，这也并不意味着可以用安全地线来作信号返回通路，这是由于安全地线连接走线很长，具有很大的引线电感，因此不适合作信号返回通路。这时一定要用探头的接地引线来作为信号的参考地线。4.2 探头类型　　我们已经研究了10：1和1：1两种探头，此外还有多种其它类型的通用探头。可切换式探头　　这种探头将10：1探头和1：1探头容为一体，使用起来非常方便，在一般情况下最好使用10：1档，因为在这一档探头对被测电路的负载效应小，而且频带宽。而1：1档则可在测量低频低电平信号时使用。衰减器探头　　另一种常用的衰减器探头为100：1探头，其输入电容较低，典型值为2.5pF，输入电阻为20MW，探头的额定电压值很高，典型值为4KV。因此这种探头适合于在测量高压变换器等电压很高的场合使用。FET探头　　这是一种可在高频下使用的有源探头，其使用频率可达650MHz。其输入电容可低达1.4pF，因此特别适合于在具有很高源阻抗的电路中测量快速瞬变，或者其它要求探头负载效应最小的场合。由于采用有源设计方案，所以FET探头也可用于1：1的情况，仍具有极低的输入电容。电流探头　　顾名思义，使用这种探头时示波器上显示的是导体中的电流而不是其上的电压。在这种探头的头上装有一个电流感应变压器，使用时只要把探头卡到电缆导线上而无需切断电路，探头获得的信号首先变换成电压，再经过比例变换后送到示波器的端，这时示波器显示的单位为A/格或mA/格。探头的频率范围可达70MHz以上。　　使用电流探头以后，具有数学处理能力的示波器就可以通过将电压波形和电流波形相乘来进行功率的测量，详细情况见2.3节。隔离放大器　　隔离放大器虽然不是一般意义下的探头，但我们可以把它看成是一种用来把示波器测量点和地电位隔离开来的特殊类?quot;探头"。这种"探头"之所以必要是因为，除非使用电源隔离变压器或者电池来为示波器供电，不然的话，示波器的输入参考地线总是在地电位，采用隔离放大器还使我们能够测量叠加于很大的共模电压之上的小信号（见图47）。隔离放大器的输入单元整个由塑料构成。并由电池供电，以保证安全。隔离放大器大都应用在电力和控制系统等领域。图47 具有共模电压的电路带有命令开关的探头　　在探头方面的一项最新改进是针对使用探头进行大量测试工作的用户。在PM3094和PM3394A系列的示波器中，Fluke公司采用了一项称为探头命令开关的新技术，为此在探头体上装了一个小开关，使用空虚开关可以启动预选的功能，如启动自动设置，或者从设置存储器中选择另一组设置参数，在组合示波器中命令开送还可以用来启动"接触、保持和测量"功能

testo风速仪的探头选择　　testo风速仪流速测量范围可以分为三个区段：低速：0至5m/s；中速：5至40m/s；高速：40至100m/s。风速仪的热敏式探头用于0至5m/s的精确测量；风速仪的转轮式探头测量5至40m/s的流速效果最理想；而利用皮托管则可在高速范围内得到最佳结果。正确选择testo风速仪的流速探头的一个附加标准是温度，通常testo风速仪的热敏式传感器的使用温度约达+-70C。特制风速仪的转轮探头可达350C。皮托管用于+350C以上。具体细节如下：　　1、testo风速仪的热敏式探头的工作原理是基于冷冲击气流带走热元件上的热量，借助一个调节开关，保持温度恒定，则调节电流和流速成正比关系。当在湍流中使用热敏式探头时，来自各个方向的气流同时冲击热元件，从而会影响到测量结果的准确性。在湍流中测量时，热敏式风速仪流速传感器的示值往往高于转轮式探头。以上现象可以在管道测量过程中观察到。根据管理管道紊流的不同设计，甚至在低速时也会出现。因此，风速仪测量过程应在管道的直线部分进行。直线部分的起点应至少在测量点前10×D（D=管道直径，单位为CM）外；终点至少在测量点后4×D处。流体截面不得有任何遮挡。（棱角，重悬，物等）　　2、testo风速仪的转轮式探头　　testo风速仪的转轮式探头的工作原理是基于把转动转换成电信号，先经过一个临近感应开头，对转轮的转动进行“计数”并产生一个脉冲系列，再经检测仪转换处理，即可得到转速值。testo风速仪的大口径探头（60mm,100mm）适合于测量中、小流速的紊流（如在管道出口）。风速仪的小口径探头更适于测量管道横截面大于探险头横截面貌一新100倍以上的气流

高温探头GT-12 可测量工件的最高温度为480度，配合超声波测厚仪DT-600即可测量高温工件厚度。在高温工件测量中应该主要的事项有以下几点：　　1、使用DT-600[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=374]超声波测厚仪[/url]高温 测厚探头GT-12必须确切知道被测材料温度不高于探头测定最高温度，由于一般压电陶瓷的居里温度仅480(进口材料可达到500℃以下)实际使用中，压电陶瓷承受温度还应远低于居里温度，因此只有通过间歇工作缩短热传导时间和改善散热条件，才能实现高温测厚，否则压电陶瓷会因退极化失去压电效应。　　2、耦合剂(高温黄油脂)在探头检测面涂复0.5mm厚度然后与热材料表面接触并压紧，当显示出稳定读数后立即脱离热材料，接触工件的时间越短越好，应在5秒内完成。温度越高，动作应越迅速，温度较低，也不允许超过10秒，每二次测量间隔时间以三分钟为宜，温度越高，间隔时间宜适当加长，温度较低，也不允许间隔时间少于一分钟。使用人员应根据热材料的具体情况利用缩短接触时间减少传导，并延长二次检测间歇时间达到充分散热，这将会延长高温探头的使用寿命。　　3、由于材料受热后传声速度将会减慢，所以设置声速时，应考虑材料受热声速减慢系数或按常温声速设置，将测出结果除以该系数，该系数为：125℃为0.99 225℃为0.98 325℃为0.97 425℃为0.96 525℃为0.95 例如有一材料常温时声速为5900m。实测厚度为100mm。受热到225℃时，测厚读数为98mm，这是可把声速设置在在5900XO.98=5782m位置，或声速不变将测出98mm，除0.98亦可。

正确的探头选择会扩展和增强仪器的性能,而错误的探头选择往往会降低你的系统性能。对探头特性的深思熟虑会帮助保证你的仪器性能满足你的应用要求。虽然对合适的探头主要考虑是它的负载影响和信号逼真度的传送。但物理参数例如:探头尺寸大小、电缆长度和与被测装置互相连接的适配器对你测量的成功可能更重要。在高频段正确使用探头也是很重要的。 许多信号源都有一个接地参考点(OV),用无源的或有源的单端探头都能很好地工作。如果信号源的参考点不是OV,就应使用差分测量法,否则会发生短路现象,损坏仪器。 不要把示波器与地隔离开而浮置起来。用单端探头做差分测量是很危险的。通常示波器的输入端与地之间接有10pF或15pF电容,也有少数大型示波器在输入端与地之间接有100pF的电容,若用它做差分测量,由于存在不平衡的容性负载,使信号扭曲。 量无零点参考信号时,用差分探头能解决这些问题,用两个探头分别接在示波器的两个通道上,设置示波器显示出两者相减的结果,此两探头应选用匹配好的一对,所谓匹配好实际上是指两探头的电缆要一样长,即对信号的延迟要一样,其输入电容、电阻和衰减也一样。用微调电容可以减小两者的差别。 多信号源都有一个接地参考点(OV),用无源的或有源的单端探头都能很好地工作。如果信号源的参考点不是OV,就应使用差分测量法,否则会发生短路现象,损坏仪器。 以上信息由Agitek整理，希望对大家有所帮助。

新安装的气体检测探头却出现乱码，电源直流24V，正常，传感器故障？不可能，刚安装的，怎么就坏了呢，最后看说明书原来探头和监控主机是配套的，由监控主机单独为探头提供电源，而目前为探头提供电源的是二次显示仪表的输出电源，经分析是由于二次显示仪表虽电压为直流24V，但其输出功率不够，因此导致探头供电不足而引起乱码。重新单独为探头供电后，故障恢复。

前段时间听老师说反相探头不能做酸性体系（例如氘盐酸，氘硫酸）样品，梯度自动匀不上场，我们在用正相探头做酸性体系（例如氘盐酸）时倒是可以匀上场，但就是自动matching时差的很远，而且有时 wobble曲线会跑出界面，请教反相探头不能做酸性体系（例如氘盐酸，氘硫酸）吗？可以做碱性体系吗？例如NaOD

听说购买Bruker仪器时，标准配置中提供的CP-MASS探头对测I1/2的元素灵敏度不如另外一种探头，想知道那种探头叫什么名字？

利用毛细现象检查材料表面缺陷的一种无损检验方法。20世纪初，最早利用具有渗透能力的煤油检查机车零件的裂缝。到40年代初期美国斯威策 (R.C.Switzer)发明了荧光渗透液。这种渗透液在第二次世界大战期间，大量用于检查 飞机轻合金零件，渗透探伤便成为主要的无损检测手段之一，获得广泛应用。 　　渗透探伤包括荧光法和着色法。荧光法是将含有荧光物质的渗透液涂敷在被探伤件表面，通过毛细作用渗入表面缺陷中，然后清洗去表面的渗透液，将缺陷中的渗透液保留下来，进行显象。典型的显象方法是将均匀的白色粉末撒在被探伤件表面，将渗透液从缺陷处吸出并扩展到表面。这时，在暗处用紫外线灯照射表面，缺陷处发出明亮的荧光。 着色法与荧光法相似，只是渗透液内不含荧光物质，而含着色染料，使渗透液鲜明可见，可在白光或日光下检查。一般情况下，荧光法的灵敏度高于着色法。这两种方法都包括渗透、清洗、显象和检查四个基本步骤。 　　根据从被探伤件上清洗渗透液的方法，渗透探伤的荧光法和着色法又可分别分为水洗型、后乳化型和溶剂去除型三种。 渗透探伤 　　渗透探伤操作简单,不需要复杂设备,费用低廉，缺陷显示直观，具有相当高的灵敏度,能发现宽度1微米以下的缺陷。这种方法由于检验对象不受材料组织结构和化学成分的限制，因而广泛应用于黑色和有色金属锻件、铸件、焊接件、机加工件以及陶瓷、玻璃、塑料等表面缺陷的检查。它能检查出裂纹、冷隔、夹杂、疏松、折叠、气孔等缺陷；但对于结构疏松的粉末冶金零件及其他多孔性材料不适用。图1为用着色法发现的壳体上的热应力裂纹;图2为用荧光法发现的焊缝裂纹。 着色渗透探伤是无损检测技术中最简便而又有效的一种常用检测用段，它对危及金属、非金属材料制件寿命和压力容器安全的危险缺陷——如焊接裂缝、疲劳裂缝、应力腐蚀裂缝、磨削裂缝、淬火裂缝等表面开口性缺陷的检测具有显示灵敏、结论迅速、重复性和直观性好的独特优点。这些优点使得着色渗透探伤在机械、冶金、石油、化工、铁路、交通、造船、矿山、建筑、航空、航天、发电、受压容器以及国防工业部门质量保证体系中发挥越来越大的作用。　　着色渗透探伤剂可完全用水去除，因而检测成本低，特别适用于原材料及大型构件较粗糙表面的探伤。其探伤灵敏度最低可达到2级(中级)，考虑到用户对被检测表面在预洗的需要，型产品，仍可允许在无水源环境下使用，用本型清洗剂作去除剂用。本产品适用于化工、造船、铁路、石油、重型机械、冶金、军工、压力容器等部门对表面较粗糙、探伤灵敏度要求为2级的铸锻、板、棒等金属原材料、大型零件及结构的渗透探伤。 使用方法： 1、清洗：用清洗剂将被检工件表面的污物(氧化皮、铁锈、油脂等)完全清洗干净； 2、渗透：放置5-10分钟待工件和试块表面干燥后,施加渗透剂,喷嘴应距工件和试块表面 20-30mm,渗 透时间应根据使用说明,一般为5-15分钟,这期间应保持探伤面被渗透剂充分湿润.； 3、清洗：用清洗剂或水(水压≤1.5kg/cm2)将工件表面的渗透剂擦洗干净; 4、显像：将显像剂充分摇匀后，对被检工件保持距离300mm处均匀喷涂，喷涂显像剂后，片刻即　　可观察缺陷；； 5、检查完毕，用清洗剂或水擦洗去除显像剂； 6、按工艺要求将工件处理保存。

大家好，我公司想求购氧探头，可以测到几个PPM，用于手套箱氧含量的测试。之前我公司手套箱用的是原装进口氧探头，可精确到0.1PPM。现在进口氧探头使用年限已久被腐蚀。由于进口氧探头较贵，上级主管让我联系国产氧探头生产厂家。探头要求能测到几个PPM，但不需要精确到0.1PPM。在这里向大家求教相关采购信息，非常感谢！！

微量探头和低温探头是一个概念吗？如果不是的话，区别在哪呢？

Varian Mercury－Plus 400已四核探头，想做B、Sn、Si等杂核，需要再买探头吗？

可燃气体检测仪探头安装高度1、可燃气体检测仪探头选点应选择阀门、管道接口、出气口或易泄漏处附近方圆1米的范围内， 尽可能靠近，但不要影响其它设备操作，同时尽量避免高温、高湿环境。探头用于大面积气体检测时可采用10～12平方米一个探头布置，也可达到检测报警效果。探头安装方式可采用房顶吊装、墙壁安装或抱管安装，应确保安装牢固可靠，同时应考虑便于维护、标定。可燃气体检测仪探头安装高度2、检测氢气、天然气、城市煤气等比重小于空气的气体时，采用距屋顶1米左右安装；检测液化石油气等比重大于空气的气体时，采用距地面1.5～2米左右安装。探头布线应采用三芯屏蔽电缆，单根线径大于1平方毫米，接线时屏蔽层必须接地。