千分表座

三丰数显千分尺特性：?达到IP65防护标准，能够用于各种环境，如暴露在切割油等环境下使用，（使用后需要进行防腐处理）。?具有测量数据输出功能，带有防水连接电缆。?所有塑料元件均由防油材料制成。?±1um增量误差（用于测量范围在75MM/3″以下的型号）?自动电源开/关功能。?带有检验证书*。（用于测量范围在5MM/2″以下的型号）*此型号不能用于获得效准证书。三丰数显千分尺技术参数：显示：液晶显示功能：原点设置、调零、数据保持、自动电源开/关、英制/公制转换（仅限英制/公制）、SPC数据输出。电池寿命：正常使用情况下约为1.2年。尘/水防护等级：达到IP65防护标准zui大响应速度：无极限警告：底电压、计算错误工作温度：0℃至40℃型号测量范围解析度293-2810-25mm1μm293-24125-50mm1μm293-24250-75mm1μm293-24375-100mm2μm三丰数显千分尺选件：05CZA662，带有数据开关的SPC电缆（1M）05CZA663，带有数据开关的SPC电缆（2M）

1)用途和构造 　　螺旋测微器（又叫千分尺）是比游标卡尺更精密的测量长度的工具，用它测长度可以准确到0.01mm，测量范围为几个厘米。 　　螺旋测微器的构造如图所示。螺旋测微器的小砧的固定刻度固定在框架上、旋钮、微调旋钮和可动刻度、测微螺杆连在一起，通过精密螺纹套在固定刻度上。 (2)原理和使用 　　螺旋测微器是依据螺旋放大的原理制成的，即螺杆在螺母中旋转一周，螺杆便沿着旋转轴线方向前进或后退一个螺距的距离。因此，沿轴线方向移动的微小距离，就能用圆周上的读数表示出来。螺旋测微器的精密螺纹的螺距是0.5mm，可动刻度有50个等分刻度，可动刻度旋转一周，测微螺杆可前进或后退0.5mm，因此旋转每个小分度，相当于测微螺杆前进或后退这0.5/50=0.01mm。可见，可动刻度每一小分度表示0.01mm，所以以螺旋测微器可准确到0.01mm。由于还能再估读一位，可读到毫米的千分位，故又名千分尺。 　　测量时，当小砧和测微螺杆并拢时，可动刻度的零点若恰好与固定刻度的零点重合，旋出测微螺杆，并使小丰和测微螺杆的面正好接触待测长度的两端，那么测微螺杆向右移动的距离就是所测的长度。这个距离的整毫米数由固定刻度上读出，小数部分则由可动刻度读出。 (3)使用螺旋测微器应注意以下几点： 　　①测量时，在测微螺杆快靠近被测物体时应停止使用旋钮，而改用微调旋钮，避免产生过大的压力，既可使测量结果精确，又能保护螺旋测微器。 　　②在读数时，要注意固定刻度尺上表示半毫米的刻线是否已经露出。 　　③读数时，千分位有一位估读数字，不能随便扔掉，即使固定刻度的零点正好与可动刻度的某一刻度线对齐，千分位上也应读取为&ldquo 0&rdquo 。 　　④当小砧和测微螺杆并拢时，可动刻度的零点与固定刻度的零点不相重合，将出现零误差，应加以修正，即在最后测长度的读数上去掉零误差的数值。

三珠工作台用于检定或者校准立式光学计和扭簧比较仪时使用。直径为30毫米。三珠工作台立式光学件上用的，检定量块的，放在量块下面，有三个钢珠，三点决定一个平面。三珠工作台,三球工作台是配合校验台一起使用的一个小工作平台,由三个活动小钢球组成,测量小产品时更方便更精准。还可以配合比较仪校验台使用， 比较仪校验台是扭簧比较仪、杠杆齿轮式比较仪专用校验装置，主要用于该类仪表的示值检定，稳定性测试，如果配备附件后还可检定千分表和百分表。

BDQ型引伸计标定器，是一种纯机械式的简易位移测微仪器。依据JJG762－2007引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。 技术精度指标 1、测量引伸计标距范围Lmax ≥100㎜ 2、上下模拟试样同轴度 ≤φ0.1mm 3、分辨率 0.001㎜ 4、示值误差 校准范围不超过1/3mm绝对误差 ±0.001mm 校准范围超过1/3mm相对误差 ±0.3％

SKCH-1（A）精密测厚仪是一种结构简单、价格低廉、高精度的测量装置，主要用于各类材料厚度的精密测量，也可用于其它物品的高度与厚度测量。主要特点1、采用精密花岗岩工作平台，精度等级为“00”级。2、千分表精度等级为一级。技术参数测量精度：0.001mm产品规格尺寸：200mm×150mm×320mm

量程：0-25mm精度：0.01mm

0-25× 0.001mm0-500× 0.001mm

量程：0-25mm精度：0.001mm

CRD谐振腔安装座CRD光学提供了可选择的镜座，以便于在腔隙光谱学中使用。这些反射镜支架被设计成通过2.75°的法兰连接到标准真空硬件上。CRD反射镜被固定在大直径O形环内的支架上，这允许在保持气体密封的同时对镜片进行角度调节。黄铜垫圈安装在镜片的背面上，并提供三个对准螺钉（80 TPI）的球尖的接触点。有两个版本的镜座。一个接受0.8×（2-cm）直径的反射镜，另一个接受直径为1×（2.54厘米）的反射镜。可翻转的版本有一个直径为1英寸的管子焊接在法兰上，这允许吹扫气体通过镜面前面的小孔进入支架。（可拆卸的支架通常用于含气雾剂流的应用）。石英涂层版本也可用于我们的石英涂层样品电池。可选压电驱动千分尺使CW CRD操作。压电致动器通过100 TPI丝杠和15微米压电行程（0～150 V）提供4毫米粗行程。专为实验室和OEM应用设计精密、紧凑、使用方便全球光学科学家使用15多年来，我们一直是CRD镜座的世界ling先者。产品订购信息：项目型号0.8″Standard Mirror Mounts902-00081″Standard Mirror Mounts902-00100.8″PurgeableMirror Mounts902-80081.0″PurgeableMirror Mounts902-80100.8″Quartz-Coated Mirror Mounts902-90081″Quartz-Coated Mirror Mounts902-9010

Gilder SEM载网英国Gilder制造，又称finder grids载网。外径3.05mm，厚度18微米。你需要将载网上的样本定位时，这种坐标载网恰好满足你的要求。我们这里向您介绍常用的两种型号，SEMF2和SEMF3型。Type SEMF2：普通载网上呈菱形分布57个小方块，每个小方块分别以1-57数字标识，一目了然。每个区域又被细分为4份，这样整个载网上就有228块被定位了的区域。Overall Diameter:10 mmOverall Thickness:~50 μmMaterial:Copper, Nickel or GoldType SEMF3：普通载网上分出25个区域，用数字、字母标识坐标。通过载网圆周非对称特性标记整个载网坐标方向。Overall Diameter:10 mmOverall Thickness:~50 μmMaterial:Copper, Nickel or Gold货号产品名称规格80102-CuSEMF2,Copper坐标铜网10/vial80102-NiSEMF2,Nickel坐标镍网10/vial80102-AuSEMF2,Gold坐标金网5/vial80103-CuSEMF3,Copper坐标铜网10/vial80103-NiSEMF3,Nickel坐标镍网10/vial80103-AuSEMF3,Gold坐标金网5/vial

PSI-4型测定仪使用说明书 一、仪器简介及应用范围PSI-4系列为第四代透过法粒度测定仪，是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板，不需要复杂计算，测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“张瑞福法”，该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准：GB11107-89和国际标准：ISO10070-91，荣获国家发明奖。PSI-4A型带快速计算板，无须复杂计算，可直接读出粒径值，使用操作非常方便。PSI-4B型带有游标卡尺，可精确测量粉末床的厚度及水柱高度，大大提高了测量范围和精度。 二、技术性能PSI-4APSI-4B仪器设计精度0.010.01粒度测量精度0.030.02粒度测量范围Dk0.1~100μm0.02~120μmDv0.02~1μm0.002~0.5μm比表面积测量Sk0.06~60(m2/g)0.05~300(m2/g)Sv6~300(m2/g)12~3000(m2/g)Sw2~150(m2/g)0.2~1.5×103(m2/g)注：Dk为包络比表面粒度，也称粘性流透过粒度；Dv为全比表面粒度；Sw为质量全比表面积 Sk为粉末包络比表面积； Sv为粉末全比表面积，也称粉末吸附全比表面积。工作环境： 干燥，无腐蚀，温度25±12℃，相对湿度＜80%电 源： 220ACV，50Hz，20W外型尺寸： 755×400×260 mm3净 重： 12 kg三、工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下，气体透过粉末压缩床，气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时，就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。仪器的气流及测压系统如(图一)。 空气由微型气泵(14)加压送入系统，泄气阀(1)和水柱稳压器(13)将过量的空气排入大气，垂直压力计(12)测量供气系统的压力。调节泄气阀开度和水柱稳压器的液面高度将供气压力稳定在500mm水柱。稳压后的少量的空气经干燥器后进入试样管，由U型压力计测得空气出试样管后、进精密阀前的压力。空气*后经精密阀排入大气。在上述系统中，对于一定量的粉末，按国标GB11107-89即可求得粒度值： Dk=aL … … … … … … … … … （1） 又：ΔP=50-2H … … … … … … … … … … … … … … … … … （2） … … … … … … … … … … … … … … … … （3） … … … … … … … … … … … … … … … … … … （4） 可得：Dk=5.34L… … … … … … （5）上列式中：m为粉末的质量（克）；ρe为粉末物质的物性密度或有效密度；εp定义为粉末床的孔隙度；α定义为试样的下料系数，是粉末质量与密度的比值；Δp是空气透过粉末床试样的压力降（厘米水柱）；H为U型压力计单根水柱上升高度值（厘米），U型压力计是精密等径管制成，真实的压力值应为2H厘米水柱；L为试样（粉末床）厚度，单位为（厘米）；a为仪器常数5.34，具有量纲（厘米）1.5，计算所得Dk值单位为（微米）。 A、B两种型号具有完全相同的气流系统。不同之处在于粉末床及水柱高度的测量方法。PSI-4A型如（图二）所示：中间的齿轮齿杆（8）的作用是压缩粉末床和测量压力计中水柱高度。四个腰圆型孔用来观察稳压系统的工作情况：左下孔观察水柱稳压器工作时的气泡冒出情况，以3-8（个/秒）的气泡冒出速率为宜。左上孔观察水柱稳压器的水位。右下孔观察垂直压力计的初始值，右上孔观察开泵后垂直压力计的水柱高度值，二者之差才是供气压力真实值。仪器正面的快速计算板上图形意义如下：横坐标表示的是试样的孔隙度值，纵坐标是公制的长度单位，可度量压力计的水柱高度和粉末床的厚度。中间互不相交的曲线簇是不同孔隙度和不同压力时的等粒度线，图形下部和等粒度线相交的粗黑线是试样（粉末床）厚度线L0，它的横坐标值是α=1时不同厚度粉末床对应的孔隙度值，计算板可左右移动。PSI-4B型外型见（图三）。与A型相比，少了快速计算板，多了游标卡尺。这样能更精确的测量试样（粉末床）的厚度值和压力计水柱高度。 四、仪器的调试与校准 仪器使用前必须进行调试和校准，两种型号基本相同，主要有三项： 1、U型压力计的校准 PSI-4A型：调节升降齿杆的旋钮，使齿杆上的指针与计算板的水平坐标基线平齐，此时U型压力计的基准水平面应与齿杆上的指针座平面平齐如（图四）所示。如不平齐，可先调节水位微调阀（图二-13）；如仍调节不到位，则须对U型压力计进行加水（当U型压力计的基准水平面低于指针座平面时）或放水的操作（当U型压力计的基准水平面高于指针座平面时）。加水操作：全部松开微调阀，将水加入加水小漏斗（图一-5），再松开流量计加水阀（图一-4，图二-11），慢慢放水入U型管，当U型管压力计的基准水平面接近指针座平面时，关闭加水阀。放水操作：松开加水阀（图二-11），用注射器吸出小漏斗内多余的水，直至U型压力计的基准水平面略低于齿杆上的指针座平面平面，关闭加水阀。最后调节微调阀，即可使U型压力计的基准水平面与齿杆上的指针座平面平齐。PSI-4B型：U型压力计的基准水平面应与游标卡尺游标左卡脚上水平面平齐如（图五）。具体方法与PSI-4A型相同。 2、气源压力的校准与调节：供气压力应始终保持在500±0.5mm水柱。将水柱稳压器加水至规定高度，记下垂直压力计的初始刻度值（图三-15）。将空试样管接入气流系统如（图二-14）、（图三-14）并夹紧。开气泵，垂直压力计水位上升，调节泄气阀（图二-2），使压力计水柱上升500毫米，即达到（500毫米+初始值），并维持此高度至测试结束。测试过程中，如有变动，随时调节泄气阀，保持气源压力的稳定。 3、精密阀的校准：将标准管代替试样管进行测试，气流稳定后，U型压力计的读数应与标准管上标定的数值一致：若不一致，旋转调节精密阀（图二-10），使U型压力计的读数与标准管上标定的数值一致，稳定三分钟不变即可关泵停止。五、使用与操作步骤PSI-4B型 1、仪器的准备：对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项，即U型压力计水平基准校准和供气压力校准两项。第3项只作定期的检查（一个星期左右一次，或视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。2、试样的制备：在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。称取粉末的数量时，应考虑下料系数α，以求得较高的测试精度。α取值的原则是：使测量时U型压力计的水柱高度落在满量程的1/3~2/3内，粉末越粗，α值应越大；粉末越细，α值应越小。当Dk=1~20微米范围，α可取值为1~2；当Dk=20~120微米范围，α可取值为2~5，此时滤纸应用针钻孔5~6个消除滤纸阻力；当Dk=0.5~1微米范围，α可取值为0.5~1；当Dk小于0.5微米时，α可取值为0.5~0.03。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，用游标卡尺测出粉末床的厚度L，由此算出试样的孔隙度。… … … … … … … … （6） 3、测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧（图三-14），开气泵，通气3分钟，稳定后，利用游标测量出U型压力计的水柱上升量H。4、计算：将已知的α、εp、H和L值代入公式（5），即可求得Dk；粉末粘性流比表面积为（微米）-1，或（米2/厘米3）。 停泵开泵重新读一次，测量数据，两数相对误差小于3%，就是本次测试的最终结果。若大于3%，再重新测样，在此孔隙度下或接近此孔隙度值，测出试样的Dk值，最后，三数据平均值为试样结果。 若试样Dk小于0.4微米，通常应计算β值，和δ值。 … … … … … … … … … … … … … … （7） … … … … … … … … … … （8） 也可从β值查δ-β曲线（图六）得到δ，则Dv，Sv为 Dv=Dk/δ… … … … … … … … … … … … … … … （9） Sv==… … … … … … … … … … … （10）注意：三次测量应给粉末床加不同压力，以得到三种不同孔隙度下测得的粒度值。三值比较起伏应不超过3%。报告结果时，应指明测量时的孔隙度。Dv是纳米级粉末所须粒度。PSI-4A型 1、仪器的准备：同B型。对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项。第3项只作定期的检查（视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。 2、试样的制备：下料系数α取1，即m=ρe。在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，移动计算板，找到试样高度线L0上与齿杆上的指针针尖等高的点并对准，该点的横坐标值即为粉末床的孔隙度εp。计算板保持不动。3、 测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧如（图二-14），开气泵，通气三分钟，待U型压力计读数稳定，调节齿杆，使指针座平面与U型压力计水面平齐，此时齿杆指针所指的粒度值即为Dk。4、 α≠1时的测量：当粉末粒度Dk≥20或≤1微米，改变粉末的下料系数（取α≠1）可提高测量的精度。此时，可采用与PSI-4B型相同的计算法测量。α取值的原则亦同。利用升降齿杆测出粉末床的厚度和水柱高度，代入公式（3）、（4）、（5）即可得出Dk。 粉末粘性流比表面积为：（微米）-1，或（米2/厘米3）。六、仪器的维护与保养1、仪器内使用的水必须是蒸馏水。2、经常保持仪器清洁，注意不要让粉末进入系统中。 3、经常检查橡皮管是否有老化、开裂导致的漏气。如有应及时更换。4、精密阀校准后，一般不准再动。如果不小心碰动，应重新校准。5、橡皮和玻璃管道内的水柱中不能夹带气泡。 6、仪器干燥剂的检查与更换：仪器出厂时以装好变色硅胶干燥剂在气路中，正常状态硅胶为兰色，受潮时变为粉红色。硅胶变红后，将其从管道中取出，换上干燥硅胶，管道不得泄漏溢气。原硅胶可在120℃~130℃干燥2~3小时脱去已吸附的水分后，可反复多次使用。 附注：仪器附件箱装有：试样管一只，多孔塞两只，毛刷一把，多孔塞提推杆一条，漏斗一个，橡皮坐一个，快速滤纸一盒，标准管一支，金属勺子一把，注射器一只，软管一根。

三丰量具，现货 质优价廉 17806282711

结构：该设备包含一个具有一根垂直柱的200px厚的硬质氧化铝合金板。技术指标：基座725px *625px *20px高度500px安装表球轴承坐标表0~25mm *0.01mm螺纹千分尺（其他可供预定）带有旋转工作台H=14mm真空切片适配器样品的最大高度为14mm（不含适配器）净重4.5kg

主要特征：由于下降速度的控制可高度重复针头的接触条件，可在控制器上单独控制针尖压力。运动针制导系统使用精密红宝石球探针和抛光碳化钨实心针，具有精确的圆角针间距精度±0.01mm，无侧隙。探针在原位制导设备中进行更改和改变，不用担心乱序或者精度值下降，或在指导单位下完成探针的更换。千分尺控制片位移来测定余斜面片的电阻率梯度和连接点钢铰链式盖板，在测量过程中消除光电干扰。速度控制：空气阻尼器控制探针下降速度，从而保证了每次探针测量的接触条件相同。弹簧是用于升降杆，倾向于降低针头。该阻尼器与杆相连接，导致杆被活塞延缓升降速度。技术指标探针材质碳化钨，Φ=0.5mm，L=26mm，450夹角，针尖曲率R=25μm（大到500μm）探针间距1.00mm，1.27mm，1.59mm，公差±0.01mm行程4mm针尖绝缘电阻500V时，2*105Ω针尖压力0~100g（通过特别的张力计可调）待测样品薄片，Φ≤76mm安装表球轴承坐标表0~25mm*0.01mm螺纹千分尺（其他可供预定）带有旋转工作台Φ=76mm，H=14mm真空切片适配器包装尺寸480mm*320mm*320mm（H）净重7kg毛重9kg

三坐标加长杆和三坐标测头合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

农药残留类三唑类分子印迹固相萃取柱目前，通用 QuEChERS 方法只能应用于基质中 15 种三唑类农药的提取净化，对于存在基质增强效应的一些基质，必须联用 GPC 才能消除；而采用分子印迹柱可实现 20 种三唑类农药的分离、净化、富集，且不需要复杂过程。 检测项目：三唑酮、氟菌唑、多效唑、三唑醇、烯效唑、环丙唑醇、腈菌唑、糠菌唑、氟环唑、四氟醚唑、戊唑醇、苄氯三唑醇、腈苯唑、联苯三唑醇、己唑醇、叶菌唑、戊菌唑、烯唑醇、丙环唑、苯醚甲环唑。 适用样品：粮谷类、水果、蔬菜、坚果、茶叶、人参、三七（干）、啤酒花等。检测结果：葡萄基质中的 21 种三唑农药进行添加回收实验，除氟喹唑、亚胺唑回收率过低外，其余 19 种农药回收率均在 60.6% ～ 121.5% 之间，RSD 为 1.1% ～ 19.3%。

S-22表面粗糙度比较仪S-22 Microfinish Comparator S-22表面粗糙度比较仪　本产品可用于五金机械，家电设备，产线建设等相关行业　　品 牌：GAR　　型 号：S-22(多款型号供选)　　比较仪质量 比较仪尺寸 比较仪价格 基本描述　　GAR S-22 22型表面粗糙度比较仪（符合AS9000标准） 　　GAR22样品2至500微英寸范围表面粗糙度计 　　本项目规范 　　零件号S-22 　　品牌名称GAR 　　不锈钢材质 　　项目数量1 　　UNSPSC代码41110000。　　S-22传统加工MICROFINISH比较器的形状为矩形（2“x53/8”），是实际加工表面的耐腐蚀电铸镍复合物。 　　共有二十二个复制的机加工表面光洁度样品，其中包括六种不同的加工工艺：研磨，研磨，布兰德尔地面，形状翻转，铣削和成型-范围从2到500微英寸。 　　S-22MICROFINISHCOMPARATOR采用人造革外壳，提供工程数据和说明。 　　S-22也有公制，带有千分尺。　　比较仪质量 比较仪尺寸 比较仪价格 术语　　类型： 　　标本是原始edm' ed表面的电铸复制品。 　　材料： 　　这种微细比较器表面粗糙度标尺由镍制成。它不会腐蚀。 　　外观： 　　每个样品都具有转向金属材料的表面粗糙度特征。 　　表面粗糙度：表示 　　由工具边缘的切割作用，机床的进给和磨粒产生的细微间隔的表面不规则性。 　　统一性和准确性： 　　原始母版和电铸复制品制作母版均匀分布检查。进行足够的测量以确定代表性的平均值。列出的评级是这些读数的平均值。 　　LAY： 　　这是指定主要表面不规则方向的术语。 　　FLAWS： 　　这些是不规则的，可能会频繁出现。它们不是典型的转弯表面。 22个复制的机加工表面光洁度试样，包括六种不同的机加工工艺示例：搭接、研磨、硬研磨、成形车削、铣削和成型-范围为2至500微英寸。S-22微精比较仪表面粗糙度标尺由双电铸工艺制成，其中镍电沉积以提供复杂细节的**再现。GAR电铸公司可提供用于产生表面粗糙度标尺的相同电铸工艺，以满足您的产品需求。 该比例中使用的表面是**加工表面的复制品，测量单位为微英寸（百万英寸-0.000001”）。刻在每个表面旁边的数字是与平均表面的平均偏差，以微英寸表示。 将MICROFINISH比较仪表面粗糙度标尺放在工件旁边。滑动标尺，使具有所需表面粗糙度的矩形与正在检查的工件相邻。通过在每个表面上以与工具标记成直角绘制指甲尖进行比较。如果饰面相同，则指甲接触的感觉必须相同。 S-22微精比较仪表面粗糙度量表为工业界提供了已建立的平面粗糙度样本，用于视觉和触觉比较。当需要具有典型机加工表面外观的产品时，它用于指定和控制表面粗糙度。 S-22微精比较仪表面粗糙度标尺提供了一种经济的工具，允许在与线性测量相同的基础上指定粗糙度。呈现的表面是多年研究和工程的结果。有关该主题的详细信息现已发布在美国国家标准协会（ANSI）规范中，标题为：“表面纹理、表面粗糙度、波纹度和铺层”。ANSI/ASME B46.1 S-22常规加工微精比较仪为矩形（2“x 5 3/8”），是实际加工表面的耐腐蚀电铸镍复制品。 共有22个复制的加工表面光洁度试样，包括六种不同的加工工艺：研磨、研磨、硬研磨、成形车削、铣削和成型，范围为2至500微英寸。 S-22微精比较仪装在人造革箱中，附有工程数据和说明。 S-22也有公制和千分尺名称。 类型： 试样是原始电火花加工表面的电铸复制品。 材料： 该微精比较仪表面粗糙度标尺由镍制成。它不会腐蚀。 外观： 每个试样具有车削金属材料的表面粗糙度特征。 表面粗糙度： 指由刀具边缘的切削作用、机床进给和磨粒产生的精细间隔表面不规则。 一致性和准确性： 已按均匀分布的间隔检查原始母版和电铸副本生产母版。进行了充分的测量以确定代表性平均值。列出的额定值是这些读数的平均值。 铺设： 这是指主要表面不规则的方向。 缺陷： 这些是可能频繁出现的不规则情况。它们不是典型的回转面。 SCRATA粗糙度样块,SCRATA Comparators对比板铸钢表面SCRATA图谱SCRATA粗糙度对比试块ASTM A802粗糙度对比试块SCRATA比较器目视比较仪检测表面粗糙度SCRATA比较仪铸体表面粗糙度对比试块CTI粗糙度对比板钢和铁铸件表面质量检测仪铸造表面粗糙度对比板砂型铸件铸造表面对比板 Comparators for the definition of surface quality of steel castings 英国铸钢研究及贸易协会(STEEL CASTINGS RESEARCH AND TRADE ASSOCIATION 缩写为：SCRATA)更名为英国CTI铸造协会(CTI，Castings Technology Intemational) 一个铸件的粗糙度程度取决于制造工序（铸造、打磨、精加工等）。所用的铸造材料（型砂、涂料等）、铸造设备和浇铸合金。铸件表面如无加工表面均匀的环状，就很难用机械仪器、光学仪器或传统的气动仪器来评估它的粗糙度，因而在这种情况下，采用显示比较器是合适的选择。 但考虑到铸造或其它精加工方法做出的毛坯表面的不均匀性，比较器的规格应相对增大（等于或大于15000mm2），以便检验更可靠，给出重复而适当的结果。 Steel Castings Research and Trade Association(48片）：SCRATA比较器（1988年出版），用于确定铸钢件的表面质量，SCRATA显示比较器的规格为100mm×150mm （其比较面积大致为15000mm2~15500mm2）。 SCRATA样板 ASTM A802 粗糙度对比试块 SCRATA图谱 适用于ASTM A802/A802M – 95 (2006)钢铸件表面目测验收标准规程的31个样块如下： Surface Roughness (A) 表面粗糙度(A) Surface Inclusions (B) 表面夹杂(B) Gas Porosity (C) 气孔(C) Laps and Cold Shuts (D) 皱褶和冷隔(D) Scabs (E) 铸疤(E) Chaplets (F) 型芯撑(F) Surface Finish – Thermal Dressing (G) 表面处理 - 热抛光(G) Surface Finish – Mechanical Dressing (H) 表面处理 - 机械抛光(H) Welds (J) 焊缝(J) Hot Tears 热裂纹 Mechanical Dressing - Chipping 机械抛光 - 切削样块数量样板分类ABCDEFGHJ热裂纹切削ASTM A802311-41,2,4,51-41,2,53,51,31,2,3,51,3,4,51,2,3,5--48个的样板集适用于 ISO 11971:2008 钢和铁铸件 – 表面质量的外观检验；BS EN 1370:1997 铸造 – 目视比较仪检查表面粗糙度； BS EN 12454:1998 砂型铸件铸造表面缺陷的目视检查。（如果已有ASTM A802样块集，可以购买17块的升级样块集）样块数量样块分类ABCDEFGHJ热裂纹切削全套481-51-51-51-51-51-51-51-51-51-21升级样块集175353,41,2,42,4,54241-21第3组有14个样块，基于BS 7900:1998 精密钢铸件表面特征的检验规范，适用于采用精密铸造工艺制造的铸钢件采购 Resin Shell Process (V) 树脂壳法(V) Lost Polystyrene Process (W) 聚苯乙烯消失模铸造(W) Shaw Process (X) 萧氏精密造模法(X) Lost Wax Process (Y) 失蜡法(Y) Fettled Surfaces (Z) 修整铸件(Z)样块数量样板分类VWXYZ精密铸造样块集141-31-31-31-21-3 1. Full Set (48 comparators + A4 book) (咨询价格021-51082920) 全套 (48个样块)2. ASTM A802 set (31 comparators + A5book) ASTM A802样块集 (31个样块)3. Upgrade set (17 comparators + A4book) 升级样块集’ (17个样块)4. Precision castings (14 comparators and a copy of BS 7900:1998) 精密铸造’ (14个样块和BS 7900:标准文本一份)

三坐标检测室除湿机 除湿机企业新闻资讯报道：在实验室，检测室以及计量室等环境中，进行合理的湿度控制是必不可少的！否则，不适宜的湿度环境对其室内环境中的精密仪器设备的正常运行是非常不利的，往往会导致精密仪器设备失灵，测出的数据不准等问题。比如，环境湿度对三座标检测仪器的正常使用以用使用寿命有很大的影响。一般情况下，三坐标测量机对其存放或使用环境的湿度要求控制在45%-60%RH是最为适宜的；如果控制不当，室内湿度过大了，则容易造成仪器的电子元器件的短路和氧化生锈；那么，此时就需要配备相应的正岛ZD-890C三坐标检测室除湿机及ZD系列空气除湿机降低室内湿度；使室内湿度始终控制以上所要求的最适宜的范围之内。正岛ZD-890C三坐标检测室除湿机及ZD系列空气除湿机具有智能湿度恒定控制系统,用户可根据生产的需要，自动控制除湿机的工作及停机，通过自动控制实现最有效的除湿效果，降低整机运行成本。正岛ZD-890C三坐标检测室除湿机适用面积60-90平方米左右,除湿量为90公斤/天,广泛的适用于家具的存放，以及印刷，造纸行业的车间和储存！还有地下工程、档案室、图书馆、工厂车间、仓库、计算机房等。备注：该系列产品可与环境试验设备以及环境监测仪器等温湿度相关仪器设备配套使用，也可作为其中的一个核心配件！欢迎您来电咨询三坐标检测室除湿机的详细信息！工业用除湿机的种类有很多,不同品牌的工业用除湿机价格及应用范围也会有细微的差别,而我们将会为您提供优质的产品和全方位的售后服务。正岛ZD-890C三坐标检测室除湿机技术参数：型 号ZD-890C控制方式湿度智能设定除 湿 量90升/天 (3.75公斤/小时)智能保护三分钟延时 压缩机启动适用面积60 ～ 100m 2(2.8m / 层高)自动检测有无故障 一目了然电 源220V~50Hz排水方式塑胶软管 连续排水输入功率1500w过 滤 网活性碳滤网循环风量1125 m3适用温度5-38℃体积(宽深高)480X430X970 mm设备重量50 kg查看更多三坐标检测室除湿机的详细信息尽在：正岛电器正岛ZD-890C三坐标检测室除湿机及ZD系列空气除湿机产品六大核心配置优势：优势一：【整机内结构精巧】优势二：【高效节能压缩机】优势三：【配套内螺纹铜管】优势四：【大风量高效风机】优势五：【微电脑自动控制】优势六：【配多重安全保护】您可能还对以下内容感兴趣...1. 工业抽湿机(ZD-8138C)2. 工业干燥机(ZD-8166C)3.车间除湿机(ZD－890C)4. 仓库抽湿机(ZD-8168C)5. 仓库除湿机(ZD-8240C)工业用除湿机厂家记者核心提示：梅雨季节时雨水多湿度大，最潮湿时空气湿度可达85%RH以上，在实验室，检测室以及计量室等环境中，湿度会因此而超标，这对精密仪器设备的正常运行和使用来说显然是非常不利的，而使用正岛ZD-890C三坐标检测室除湿机及ZD系列空气除湿机后可有效的去除空气中的水分，防止空气湿度过大，从而避免以上问题的发生。以上关于三坐标检测室除湿机的最新相关新闻资讯是正岛电器为大家提供的！您可以在这里更详细地了解三坐标检测室除湿机的最新相关信息：三坐标测量机使用环境技术要求：序号项目技术要求1三坐标测量机正常工作温度20±2℃2三坐标测量机检定温度要求20±1℃3三坐标温度梯度0.5℃/h2℃/24h0.5℃/m4三坐标测量机湿度要求相对湿度45%-60%气源湿度5三坐标振动要求振动频率≤10Hz时，振幅≤1μm10Hz振动频率30Hz时，振幅≤3μm6三坐标测量机清洁度洁净、无尘7三坐标供气流量要求160L/min8三次元测量机供气压力要求6-10bar9三坐标测量机气源质量要求固体颗粒：直径≤15μm，浓度≤10mg/m3；含油量：5mg/m3；含水量：6g/m3；10三次元测量机电源要求AC220V，50Hz，1KVA11三坐标安装环境配套要求具备独立可靠的接地系统，接地电阻小于4Ω

微量物证提取盒，含10个玻璃瓶（不含样品座）， 12个空白标签

微量物证提取盒，含10个玻璃瓶（不含样品座）， 12个空白标签

坐标普通碳支持膜的载网是带标记的，方便您找到需要观察的样品。F1坐标载网和F2坐标载网是不同规格标记（F1坐标网见图1，F2坐标网见图2）。图1 F1坐标图2 F2坐标 碳膜为两层支持膜结构，可以采用不同规格的载网做载体。从空间结构来讲，从下到上依次为载网，方华膜和碳膜，如下图它是在一层有机方华膜上再覆盖一层碳膜。由于碳层具有较强的导电以及导热性，弥补了无碳方华膜的荷电效应以及热效应，增强了膜整体的稳定性，适合大多数纳米材料和生物样品的一般形貌观察。普通碳支持膜是针对常规检测20-50nm尺度样品的理想产品，是初次使用或筛查样品的最基本选择。如下图是纳米材料和生物样品在中低倍下的TEM照片，图像清晰，背底影响较小。支持膜的厚度，由对样品提供的承载强度和自身产生的背底干扰共同决定。如果膜厚度大，对样品的承载能力强，但会导致背底噪音增强；如果膜厚度小，图像质量高，但容易引起支持膜破裂。膜总厚度：10-20 nm产品编号产品名称规格/数量间距肋宽孔径BZ10021F1b100目F1坐标碳支持膜50枚/盒25040210BZ10021F1a100目F1坐标碳支持膜100枚/盒25040210

单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm，方格间距10μm，线宽1.9μm，通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线，用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成，深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书，但需支付额外费用。保证的准确度为11％。标样由英国NPL实验室（National Physical Laboratory）用激光干涉测量法测定。

单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm，方格间距10μm，线宽1.9μm，通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线，用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成，深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书，但需支付额外费用。保证的准确度为10％。标样由英国NPL实验室（National Physical Laboratory）用激光干涉测量法测定。

单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm，方格间距10μm，线宽1.9μm，通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线，用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成，深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。单晶硅标样,随标样提供校准证书，但需支付额外费用。保证的准确度为7％。标样由英国NPL实验室（National Physical Laboratory）用激光干涉测量法测定。

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单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm，方格间距10μm，线宽1.9μm，通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线，用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成，深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。单晶硅标样随标样提供校准证书，但需支付额外费用。保证的准确度为9％。标样由英国NPL实验室（National Physical Laboratory）用激光干涉测量法测定。

单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm，方格间距10μm，线宽1.9μm，通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线，用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成，深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。单晶硅标样,随标样提供校准证书，但需支付额外费用。保证的准确度为6％。标样由英国NPL实验室（National Physical Laboratory）用激光干涉测量法测定。

单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm，方格间距10μm，线宽1.9μm，通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线，用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成，深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。单晶硅标样,随标样提供校准证书，但需支付额外费用。保证的准确度为3％。标样由英国NPL实验室（National Physical Laboratory）用激光干涉测量法测定。

单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm，方格间距10μm，线宽1.9μm，通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线，用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成，深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。单晶硅标样,随标样提供校准证书，但需支付额外费用。保证的准确度为8％。标样由英国NPL实验室（National Physical Laboratory）用激光干涉测量法测定。