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工业硅

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工业硅相关的方案

  • 解决方案|ICP法测定工业硅中的金属元素
    ICP法是一种常用的元素分析方法，具有高灵敏度、高分辨率和高精度等优点，广泛应用于各种元素的定量分析。在测定工业硅中的金属元素方面，ICP法同样展现出其独特的优势。本文建立了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)法测定工业硅中的金属元素的方法，可供相关人员参考。
  • X射线荧光光谱法测定工业硅中杂质元素
    本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。
  • X荧光能谱法同时测定工业硅中铁铝钙
    铁合金产品中工业硅的用途很广，既可用于特钢的脱氧剂，也可用于铝合金的添加剂。根据产品用途各异，可以采用不同的分析方法，而通过X荧光能谱法分析工业硅尚未见报导。本文在对分析过程中样品制备﹑采谱条件﹑谱处理方式﹑分析技术等各个环节做了大量试验的基础上，通过X荧光粉末压片方式分析工业硅中Fe﹑Al﹑Ca等元素。结果表明，Thermo Scientific的ARL Quant'XX荧光能谱法具有快速准确高效的特点，完全可以得到满意的分析结果。
  • XRF在工业硅成分分析中的应用
    工业硅行业的上游为化工原料制造业，主要包括硅块、热电、还原剂、石油焦等，下游产品主要分为多晶硅、有机硅和铝合金等，终端应用主要为电子器件、日化产品、光伏、半导体、汽车制造、房地产等领域。工业硅在我国经济社会发展中具有特殊的地位，是新能源、新材料产业发展不可或缺的重要材料，展现了广阔的应用前景。
  • 工业制造行业解决方案-非金属材料-工业硅应用篇
    岛津利用丰富的仪器产品线，从主、杂质元素测试、粒度分布、形貌和粗糙度等方面应对工业硅性能测试，其中涉及ICP-OES、ICP-MS、EDX、XRF、SALDSPM 等多机种仪器测定。为了满足客户需求和行业发展趋势，岛津公司推出了《工业制造行业解决方案-非金属材料_工业硅应用篇》。
  • ICP-AES法检测工业硅中杂质元素钠
    本方法采用HF和HNO3(6:2) 微波消解工业硅样品，用ICP-AES 法同时测定工业硅中的钠等八种杂质元素。该方法快速简便、准确率高、精密度好，对产品质量控制及检验杂质元素含量，具有可操作性和很好地应用价值。
    厂商： 岛津
  • ICP-AES法检测工业硅八种杂质元素
    本方法采用HF和HNO3(6:2) 微波消解工业硅样品，用ICP-AES 法同时测定工业硅中的Cu、Mn、Fe、Ni、Ti、Al、P和B等八种杂质元素。该方法快速简便、准确率高、精密度好，对产品质量控制及检验杂质元素含量，具有可操作性和很好地应用价值。
    厂商： 岛津
  • ICP-OES测定工业硅中杂质元素的含量
    本文参考GB/T 14849.4-2014《工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》，采用湿法消解工业硅粉样品，利用岛津电感耦合等离子体发射光谱仪ICPE-9820测定了样品中杂质元素的含量。分析结果表明，各元素的方法检出限为0.004 mg/kg ~ 6 mg/kg；仪器精密度优良，RSD值小于1.30%（n=6）；样品加标回收率为96.0%~110%。该方法灵敏度高，精密度优良，适用于工业硅粉中杂质元素含量的测定。
  • ICP-AES法检测工业硅中杂质元素钙
    本方法采用HF和HNO3(6:2) 微波消解工业硅样品，用ICP-AES 法同时测定工业硅中的铁等八种杂质元素。该方法快速简便、准确率高、精密度好，对产品质量控制及检验杂质元素含量，具有可操作性和很好地应用价值。
    厂商： 岛津
  • ICP-AES法检测工业硅中杂质元素铁
    本方法采用HF和HNO3(6:2) 微波消解工业硅样品，用ICP-AES 法同时测定工业硅中的铁等八种杂质元素。该方法快速简便、准确率高、精密度好，对产品质量控制及检验杂质元素含量，具有可操作性和很好地应用价值。
    厂商： 岛津
  • 电位滴定法测定工业硅酸钠中氧化钠和二氧化硅的含量
    硅酸钠俗称泡花碱，是一种水溶性硅酸盐，其水溶液俗称水玻璃，是一种矿黏合剂。工业硅酸钠分为固体工业硅酸钠和液体工业硅酸钠，固体硅酸钠主要用于制造液体硅酸钠，液体硅酸钠主要用于化工原料、填充料、粘结剂、助剂、防腐剂等。因此其品质等级对应用起到了决定作用，如何高效快速的检测其含量指标是生产厂家非常关心的问题。该方案依据GB/T 4209-2008 工业硅酸钠的检测方法，使用T960全自动电位滴定仪进行检测，多模块加液，避免了更换滴定液的繁琐步骤，耗时少，且避免了人工判断终点带来的主观误差，是检测其含量的优先选择。
  • 赛默飞元素分析：硅中铁检测(能散型XRF)
    铁合金产品中工业硅的用途很广，既可用于特钢的脱氧剂，也可用于铝合金的添加剂。根据产品用途各异，可以采用不同的分析方法，而通过X荧光能谱法分析工业硅尚未见报导。本文在对分析过程中样品制备﹑采谱条件﹑谱处理方式﹑分析技术等各个环节做了大量试验的基础上，通过X荧光粉末压片方式分析工业硅中Fe﹑Al﹑Ca等元素。结果表明，Thermo Scientific的ARL Quant'XX荧光能谱法具有快速准确高效的特点，完全可以得到满意的分析结果。
  • 微波消解硅粉
    硅粉（Microsilica 或 Silica Fume），也叫微硅粉，又叫硅灰，是工业电炉在高温熔炼工业硅及硅铁的过程中，随废气逸出的烟尘经特殊的捕集装置收集处理而成。是工业电炉在高温熔炼工业硅及硅铁的过程中，随废气逸出的烟尘经特殊的捕集装置收集处理而成。在逸出的烟尘中，SiO2含量约占烟尘总量的90%，颗粒度非常小，平均粒度几乎是纳米级别，故称为硅粉。为了检测硅粉中的重金属含量，可采用微波消解的方法对其进行前处理，本方法消解迅速，酸用量少，酸雾污染小，有利于AAS、ICP等对痕量重金属元素的准确快速测定。
  • 微波消解硅粉
    硅粉又叫硅灰，是工业电炉在高温熔炼工业硅及硅铁的过程中，随废气逸出来的烟尘经特殊的捕集装置收集处理而成。硅粉是一种高效的活性掺合料，能够显著提高混凝土的强度、抗渗性，抗冻性和耐久性。如今硅粉混凝土的特性日渐得到人们的重视，硅粉混凝土被广泛应用到水利水电工程、建筑工程、公路工程和桥梁工程等。通过微波消解方法对硅粉进行前处理，有利于后续对样品中痕量元素含量的快速准确测定。
  • X射线荧光粉末压片法测定多晶硅中杂质元素
    本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。
  • 微波消解硅粉
    硅粉又叫硅灰，是工业电炉在高温熔炼工业硅及硅铁的过程中，随废气逸出来的烟尘经特殊的捕集装置收集处理而成。硅粉是一种高效的活性掺合料，能够显著提高混凝土的强度、抗渗性，抗冻性和耐久性。如今硅粉混凝土的特性日渐得到人们的重视，硅粉混凝土被广泛应用到水利水电工程、建筑工程、公路工程和桥梁工程等。通过微波消解方法对硅粉进行前处理，有利于后续对样品中痕量元素含量的快速准确测定。
  • 微波消解硅粉
    硅粉（Microsilica 或 Silica Fume），也叫微硅粉、硅灰，是工业电炉在高温熔炼工业硅及硅铁的过程中，随废气逸出的烟尘经特殊的捕集装置收集处理而成。在逸出的烟尘中，SiO2含量约占烟尘总量的90%，颗粒度非常小，平均粒度几乎是纳米级别，故称为硅粉。为了检测硅粉中的重金属含量，可采用微波消解的方法对其进行前处理，本方法消解迅速，酸用量少，酸雾污染小，有利于AAS、ICP等对痕量重金属元素的准确快速测定。
  • X射线荧光光谱法测定碳质材料中杂质元素
    本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。
  • 工业制硅的化工工艺流程
    纯净的硅(Si)是从自然界中的石英矿石(主要成分二氧化硅)中提取出来的,分3步反应。欢迎留言或来电咨询，说明是在仪器网看到，谢谢
  • X射线荧光光谱法测定硅石中杂质元素
    本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片制样方法，测定了硅石中主要杂质元素。结果表明，Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好，相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下，满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。
  • 案例 | 工业制造商用Sievers在线TOC分析仪改进废水处理工艺、提高排放合规性
    一家工业制造商用Sievers在线型总有机碳（TOC）分析仪改进了废水处理工艺，提高了废水排放合规性。该工厂监测多处废水水质，监测点从废水进水池，到均化池、分流池、处理池，最后到出水池。全面的监测加强了工厂对废水处理工艺的掌控，提高了排放合规性，同时使工厂对工艺的多变性有了深入了解。流进废水的TOC范围是1500-2500 ppm，流出废水的TOC通常是5-6 ppm，因此工厂亟需Sievers分析仪这样的强有力监测工具来同时测量高浓度和低浓度废水，并得到可靠的测量数据。此外，Sievers分析仪团队还提供无与伦比的技术支持，极大缩短了工厂停机时间，使工厂操作人员能够专注于工艺优化。快速、准确的监测结果使操作人员能够迅速做出基于数据的决策，避免排放处罚，改进工艺。
  • 微波消解轮硅砂
    硅砂，又名二氧化硅或石英砂。是以石英为主要矿物成分、粒径在 0.020mm-3.350mm 的耐火颗粒物。硅砂是一种坚硬、耐磨、化学性能稳定的硅酸盐矿物，其主要矿物成分是SiO2 ，颜色呈乳白色、淡黄、褐色及灰色，硅砂有较高的耐火性能，是重要的工业矿物原料。广泛用于玻璃、铸造、陶瓷及耐火材料、冶金、建筑、化工、塑料、橡胶、磨料等工业。我们选择一种硅砂样品，通过微波消解进行前处理，探索最适合的消解参数，有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
  • 微波消解轮硅砂
    硅砂，又名二氧化硅或石英砂。是以石英为主要矿物成分、粒径在 0.020mm-3.350mm 的耐火颗粒物。硅砂是一种坚硬、耐磨、化学性能稳定的硅酸盐矿物，其主要矿物成分是SiO2 ，颜色呈乳白色、淡黄、褐色及灰色，硅砂有较高的耐火性能，是重要的工业矿物原料。广泛用于玻璃、铸造、陶瓷及耐火材料、冶金、建筑、化工、塑料、橡胶、磨料等工业。我们选择一种硅砂样品，通过微波消解进行前处理，探索最适合的消解参数，有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
  • 微波消解锰硅
    随着经济的快速发展，汽车、建筑、房地产等市场的持续扩张，对钢铁的需求量也随之不断增大。锰硅合金常用作还原剂生产中低碳锰铁，同时也是炼钢常用的复合脱氧剂，几乎所有的钢种都需要采用锰来脱氧。硅锰合金是由锰、硅、铁及少量碳和其它元素组成的合金，其中锰和硅与氧的亲和力较强，使锰硅合金成为钢铁工业不可缺少的复合脱氧剂和合金加入剂，因此对锰硅合金中元素的分析尤为重要，我们采用微波消解作为前处理的的方法，实现了对锰硅合金的快速消解，有利于对锰硅合金中元素的检测。
  • 微波消解锰硅
    随着经济的快速发展，汽车、建筑、房地产等市场的持续扩张，对钢铁的需求量也随之不断增大。锰硅合金常用作还原剂生产中低碳锰铁，同时也是炼钢常用的复合脱氧剂，几乎所有的钢种都需要采用锰来脱氧。硅锰合金是由锰、硅、铁及少量碳和其它元素组成的合金，其中锰和硅与氧的亲和力较强，使锰硅合金成为钢铁工业不可缺少的复合脱氧剂和合金加入剂，因此对锰硅合金中元素的分析尤为重要，我们采用微波消解作为前处理的的方法，实现了对锰硅合金的快速消解，有利于对锰硅合金中元素的检测。
  • 微波消解有机硅
    有机硅，即有机硅化合物，是指含有Si-O键、且至少有一个有机基是直接与硅原子相连的化合物，习惯上也常把那些通过氧、硫、氮等使有机基与硅原子相连接的化合物也当作有机硅化合物。其中，以硅氧键（-Si-0-Si-）为骨架组成的聚硅氧烷，是有机硅化合物中为数最多，研究最深、应用最广的一类，约占总用量的90%以上。有机硅是化工新材料产业的重要组成部分，是国务院提出的七大战略性新兴产业发展所需的重要基础材料，具有许多其它化工材料无可替代的作用，是名副其实的“工业维生素”和“科技催化剂”。我们选取一种有机硅样品，采用微波消解作为前处理方法，选择一种可将其完全溶解的方案，有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
  • 微波消解有机硅
    有机硅，即有机硅化合物，是指含有Si-O键、且至少有一个有机基是直接与硅原子相连的化合物，习惯上也常把那些通过氧、硫、氮等使有机基与硅原子相连接的化合物也当作有机硅化合物。其中，以硅氧键（-Si-0-Si-）为骨架组成的聚硅氧烷，是有机硅化合物中为数最多，研究最深、应用最广的一类，约占总用量的90%以上。有机硅是化工新材料产业的重要组成部分，是国务院提出的七大战略性新兴产业发展所需的重要基础材料，具有许多其它化工材料无可替代的作用，是名副其实的“工业维生素”和“科技催化剂”。我们选取一种有机硅样品，采用微波消解作为前处理方法，选择一种可将其完全溶解的方案，有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
  • Prodigy DC Arc直流电弧光谱仪测定硅合金中的痕量元素
    硅合金是一种高光泽和高熔点的蓝色金属，其熔点为1414℃。硅是地壳中第二常见的元素，但自由态的硅元素很少在自然界中找到。由于其电阻性和相对高的热传导性能，硅被广泛应用。高纯硅被广泛应用于太阳能工业，例如被制成硅晶片，太阳能电池和硅基半导体。作为合金，硅铁合金占世界上硅制品的绝大多数，被用于钢铁工业。硅同样用于改善铝的硬度和抗磨性，使其可用于钢铁生产。 这篇文章的数据是为了证明Teledyne Leeman Labs Prodigy直流电弧光谱仪测定高纯硅合金中的痕量元素的能力。
  • ICP-5000测定硅材料中金属元素Ti
    硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Ti等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
  • ICP-5000测定硅材料中元素P
    硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中P等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
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