校正仪

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校正仪相关的厂商

  • 深圳拟基多友精密仪器有限公司。华南区售后服务中心。成立:1997(自销产品售后维修、升级、改装、设计、校正等服务。)深圳拟基多友精密仪器有限公司成立:2007年(销售及对外开展量具、仪器仪表、修理、升级、校正等有偿服务。) 我司为日本Nititoyo株式会社中国华南区/华东区的销售及售后维修服务中心,公司维修总面积1000多平方米,有一批高素质的专业技术人员进行专业的技术服务,配备了先进的仪器设备及先进的技术,可满足各种国产、进口量仪的维修、校正、升级、改造等服务,欢迎来我社参观指导!
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  • 维鸿精密仪器有限公司是一家台湾专业从事三坐标测量仪、二次元影像测量仪、自动化检测设备的研发与设计、生产与服务、销售与售后相结合的高科技生产企业。 公司总部位于台湾高雄, 成立于1995年,是全国认证基金会(TAF,Taiwan Accreditation Foundation)依据ISO/IEC 17025:2005认可的校正实验室,并取得国际实验室认证联盟相互承认协议授权(室验室编号:2691). 2004年广东东莞维鸿公司成立,2007年江苏昆山维鸿公司成立,2012年台湾通过TAF认证校正实验室,2017年东莞维鸿通过国家高新科技企业认证。? 我们有着二十年的专业测量经验以及台湾专业技术水准,始终坚持以客户为本,信用为先,用专业的技术优势及规范化的服务,用心为客户提供专业的尺寸测量与检测方案
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  • 深圳市安达仪器仪表有限公司主要经营各大品牌仪器仪表,适用于各大工厂和教育部门等使用,如PCB线路板厂,五金电镀厂,塑胶厂,五金首饰厂,半导体厂,玻璃厂等。我们拥有专业的服务团队,销售,安装,培训,售后服务,修理一条龙服务,使你买得放心,用得安心,无后顾之忧。一、测厚仪德国宏德X射线测厚仪,主要有型号:Compact eco , Compact 5 , Maxxi 4 , Maxxi 5,maxxi 5 pin等,配备DELL/联想电脑系统,HP打印机。韩国Micro Pioneer XRF-2000 X射线测厚仪,主要有型号:XRF-2000PCB,XRF-2000H,XRF-2000F等,配备DELL/联想电脑系统,HP打印机。俄罗斯孔铜测厚仪ITM-52(配备EP-30/EP-25/EP-20探头,探头连接线,校正器,标准片)手提式,经济实惠又方便美国进口KOCOUR品牌电解/库仑测厚仪(电位差测试仪)(model6000)及电解测试液和标准片美国进口START品牌铜箔测厚仪(SM6000)日本进口KETT品牌涂层测厚仪(LZ-990,;LE/LH/LZ-370等等型号涂层测厚仪)美国进口UPA品牌β射线涂镀层测厚仪(MP-700(已停产,服务仍在继续);MP-900(带霍尔效应功能)CMS(手持式);磁感应/电涡流涂层测厚仪(D-1500;D-3000;D-3000 PLUS);孔铜测厚仪/面铜测厚仪(CD-8);及各种涂镀层测厚仪标准片 二、水处理设备日本共立(KYORITSU)水质测试包/快速测试仪/污水测试包,各种元素齐全,如Cu离子,Fe离子,COD,PO4,NO3,NH4,Zn等。方便快捷,简单易学.一学即会。单项目水质计(DIGITAL PACK TEST )型号:DPM-简易水质测定组-铅 型号:SPK-Pb美国禾威(WALCHEM)水处理控制器:镀镍自动添加药水控制器(型号 WNI310 WNI410 WNI420) 镀铜/蚀铜自动添加药水控制器(型号 WCU310 WCU410 WCU420) PH/ORP传讯器 / 监控器备有W-130,W-230 ,WPH310 ,WPH320,WPH410,WPH420 电导率自动添加药水控制器WEC310,WEC410 锅炉水处理控制器。备有WBL300/310、WBL400/410、WCM300及WCM400/410。 Web Master ONE在线分析过程控制器 WEL探头电极等相关耗材配件 三、金相设备正置显微镜,倒置显微镜,配DELL/联想电脑系统,图像处理软件,进口CCD摄像头。美国EXTEC研磨抛光机(单盘,双盘),切割机美国EXTEC消耗品:抛光绒布,胶膜,砂纸,抛光膏,凝胶套件,切割液,切割碟等。 四、其它美国OMEGA SMD500,SMD600离子污染测试仪,(离子交换柱,校正液,LCD显示屏)。辐射表-美国进口Seintl(S.E.)品牌辐射测量表(MC1K,monitor4,inspector等)美国进口CalMetics品牌测厚仪标准片/校正片,标准片检定(含证书有效期一年).工业放大镜(台式,夹台式,落地式,折叠式,方形/圆形镜片)美国DICKSON温湿度记录仪/记录纸/记录笔美国进口Kwik-chek品牌孔径规(10A,20AM,30AM,40AM)美国KOCOUR品牌离心机,离心管,用于测定硫酸根离子美国ECI品牌电镀添加剂分析仪(QL-5E和QL-10E) 我们的服务宗旨是:客户至上,服务与质量并在,一起共创双赢.安达欢迎您来电咨询!
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校正仪相关的仪器

  • 高性能影像校正光谱仪 OmniEvo&ldquo 谱王&rdquo OmniEvo光谱仪是卓立汉光最新推出的将自有的&ldquo 谱王&rdquo 系列(Omni-&lambda 180i)影像校正光栅光谱仪与英国Andor公司的iVac制冷型CCD进行整合的新一代高性能光谱仪产品,充分发挥了&ldquo 谱王&rdquo 系列产品顶尖的光学分光性能以及iVac制冷型CCD优良的弱光探测性能,具有极高的性价比,是进行荧光、拉曼光谱实验的最佳选择之一。成熟的光学设计能力 OmniEvo高性能光谱仪的光学设计,均采用经典的C-T结构,并结合公司多年的研发经验加以改进,在光学分辨率、通光效率和杂散光抑制等各项关键指标上达到完美的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-&lambda 180i型影像校正光谱仪,更是国内首款运用影像校正设计和调校技术的光栅光谱仪,其性能达到了国际一流水平。全进口光栅 OmniEvo光谱仪完全采用进口光栅(Newport公司生产),高质量的光栅确保了仪器的光谱性能指标。高灵敏的弱光探测能力OmniEvo高性能光谱仪选用了Andor公司的科研级、制冷型CCD作为光谱探测器件,在400-1000nm范围内进行了响应度优化,最高的量子效率达到60%;芯片的制冷温度达到了-60℃,使得其读出噪声仅为6.2e/count,因而能够满足大部分的弱光光谱探测应用。另有制冷温度更低至-100℃的背感光CCD可选,噪声更低,峰值量子效率高达80%以上;还提供适用于900-1700nm范围内使用的制冷型线阵InGaAs探测器,可用于近红外波段的光谱信号探测。 灵活的光输入结构选择OmniEvo高性能光谱仪采用的是标准的狭缝入口,开口宽度可在0.01-3mm之间灵活自由选择;通过可以选配光纤作为光输入附件,既可用于单点测量,也可以选择多通道光纤用于多点同时测量。
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  • 专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。最近,该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪,进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时,该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置,可以以后加配球差校正进行升级。特点 高分辨率扫描透射电子显微镜成像HAADF-STEM图像0.136nm,FFT图像0.105nm(高分辨率镜头(*))HAADF-STEM图像0.144nm(标准镜头)明场扫描透射电子显微镜图像0.204nm(w/o球差校正仪)高速,高灵敏度能谱分析:探针电流× 10倍元素面分布更迅速及时低浓度元素检测操作简化自动图像对中功能从样品制备到观察分析实现无缝连接样品杆与日立聚焦离子束系统兼容配有各种选购件可执行各种评估和分析操作同时获取和显示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布(*) 和DF/EELS面分布(*)图像。低剂量功能(*)(有效降低样品的损伤和污染)高精度放大校准和测量(*)实时衍射单元(*)(同时观察暗场-扫描透射电子显微镜图像和衍射图案)采用三维微型柱旋转样品杆(360度旋转)(*),具有自动倾斜图像获取功能。ELV-3000即时元素面分布系统(*)(同时获取暗场-扫描透射电子显微镜图像)(*) 选购件技术指标HD-2700球差校正扫描式透射电子显微镜项目描述图像分辨率w/o球差校正仪保证 0.204nm(当放大倍数为4,000,000时)w球差校正仪保证 0.144 nm(当放大倍数为7,000,000时)(标准镜头)保证 0.136nm(HAADF图像)保证0.105 nm(通过FFT)(当放大倍数为7,000,000时)(高分辨率镜头(*))放大倍数100倍 至 10,000,000倍加速电压200 kV, 120 kV (*)成像信号明场扫描透射电子显微镜:相衬图像(TE图像)暗场扫描透射电子显微镜:原子序数衬度图像(Z衬度图像)二次电子图像(SE图像)电子衍射(*)特征X射线分析和面分布(能谱分析)(*)电子能量损失谱分析和面分布(EV3000)(*)电子光学系统电子源肖特基发射电子源冷场致发射器(*)照明透镜系统2-段聚光镜镜头球差校正仪(*)六极镜头设计扫描线圈2-段式电磁感应线圈原子序数衬度收集角控制投影镜设计电磁图像位移± 1 &mu m试片镜台样品移动X/Y轴 = ± 1 mm, Z轴 = ± 0.4 mm样品倾斜单轴-倾斜样品杆:± 30° (标准镜头), ± 18° (高分辨率镜头(*))真空系统 3个离子泵,1个TMP极限真空10-8 Pa(电子枪), 10-5 Pa(样品室)图像显示个人电脑/操作系统PC/AT兼容, Windows XP监视器19-inch液晶显示器面板图像帧尺寸640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素扫描速度快扫,慢扫(0.5至320秒/帧)自动数据显示记录序号,加速电压,下标尺,日期,时间 (*) 选购件
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  • 日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000,具有高稳定冷场发射电子枪,自动球差校正器,可一键操作实现自动球差校正,HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃;可配置EDS双探头,固体角最大可达2.0sr;具备TEM、STEM,SEM和电子衍射等多种图像观测模式;镜筒和样品台经过了重新设计,显著提升了仪器的性能和稳定性......HF5000将是材料学、生命科学、半导体制造、石油煤炭等研究领域的可靠助手。特点:  1、高度自动化球差校正,尽量减少人员介入,适用于繁忙的分析测试中心或设备平台   2、三位一体呈现(TEM、STEM、SEM),内部结构成像和表面结构成像可同时进行同时获取   3、EDS超大球面角,无窗口探头。可实现快速,高灵敏度化学成分分析   4、前瞻性平台总体设计,为性能扩增预留选项,例如可扩增为气体环境电镜。参数配置:
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校正仪相关的资讯

  • 小菲课堂|导致热像仪卡顿,非均匀性校正该如何选择?
    在小伙伴们使用热像仪的过程中,一定会发现在进行热图像拍摄时,有时会卡顿并且热像仪会发出咔嚓的声音,这时候没必要惊慌,它这是在进行非均匀性校正(NUC),为什么会这样呢,小菲来为你详细解答下~执行非均匀性校正可产生更高质量的图像非均匀性校正(NUC)是针对场景和环境变化时发生的微小探测器漂移进行调整。一般情况下,热像仪自身的热量会干扰其温度读数,为了提高精度,热像仪会测量自身光学器件的红外辐射,然后根据这些读数来调整图像。NUC为每个像素调整增益和偏移,生成更高质量、更精确的图像。在NUC过程中,热像仪快门落在光学和探测器之间,发出咔哒声,瞬间冻结图像流。快门作为一个平面参考源,用于检测器校准自身和热稳定。这种情况在非制冷红外热像仪中经常发生,但在制冷红外热像仪中也会偶尔发生,它也被称为FFC(平场校正)。1热像仪进行NUC的时间在初始启动时,热像仪会频繁地执行NUC。随着热像仪升温并达到稳定的工作温度,NUC将变得不那么频繁。虽然您可以在开机后约20秒获得热成像图,但大多数热像仪需要至少20分钟的预热时间,在稳定的环境下,测量精度。热像仪将自动执行一个NUC,但您也可以在测量重要温度或拍摄关键图像之前手动使用NUC功能。这将有助于确保准确性。2控制NUC的发生如上所述,NUC对于提高温度读数非常重要,如果没有NUC,你就有可能得到不稳定的温度读数。在大多数手持红外热像仪上NUC不能被禁用,但在大多数自动化和科学设备上,NUC可以从自动模式设置为手动模式。这将使您可以通过软件或硬件信号精确控制热像仪执行NUC的时间。3执行NUC的关键以手动控制FLIR A35和A65中的非均匀性校正(NUC)为例,在执行时考虑两个因素:当热像仪执行NUC时,禁止其他所有命令这样操作是因为NUC需要使用来自传感器的原始视频输出来计算每像素偏移校正。为了正确计算偏移量,所有命令必须在其操作期间被阻止,否则计算可能会受到影响,并且可以正确加载NUC查找表。如何控制NUC的长短在高增益运营模式时,热像仪的核心加热或冷却到大约0℃、40℃或65°C时,需要“长NUC”操作。例如,如果核心动力在-10°C下通电,然后加热到+10°C,则需要长NUC。“长NUC”(~0.5 s)操作比正常的“短NUC”(~0.4 s)操作大约长0.1 s,并允许核心自动加载适合当前工作温度量程的校准项。此外,在高增益和低增益模式之间切换时,必须执行长NUC,以便加载增益开关完成所需的新校准项。主机系统不需要监控上述条件,因为核心有一组NUC标志,将识别何时需要长或短NUC,除非热像仪处于手动NUC模式,在后一种情况下,将按照上面的描述发送一个长NUC命令。对于非均匀性校正(NUC)菲粉们还有哪些疑问呢?留言给小菲将详细为您解答哦~
  • 显示屏色彩管理与校正解决方案
    显示屏在当今社会扮演着至关重要的角色,触及游戏、办公、影视娱乐、零售业、交通出行等多个领域。屏幕的性能标准因应用而异,展现出广泛的多样性。这种多样性不仅体现在技术规格和视觉效果上,还反映了不同制造商和用户群体对于色彩精确度与一致性的独特需求。在这个基础上,探索各行各业的显示屏色彩测量与管理解决方案成为一项挑战,但也为技术创新和应用优化提供了广阔的空间。了解和应对这些需求,意味着能够提供定制化的色彩管理方案,以适应不同领域对视觉表现和色彩准确性的具体要求。一、电子价签的应用在现代零售环境中,电子价签正在逐渐取代传统的纸质标签,为商家提供了便捷的库存管理和产品信息更新方式。顾客也能通过扫描价签上的二维码,迅速获取商品的详细信息。然而,随着电子价签的普及,显示技术的色彩准确性和价签外壳颜色的一致性成为了重要考虑因素,尤其是在维护品牌形象和消费者体验的一致性方面。为了有效管理和控制色彩的一致性,采取以下措施至关重要:利用i1 Pro3高精度色彩测量工具及其配套软件,评估显示屏在不同颜色反射下的色彩饱和度,以及在亮度和色调方面的显示准确性。这种方法不仅帮助确保显示内容的视觉效果符合预期,也为优化用户体验提供了基础。采用Ci6x系列便携式色差仪测量电子价签外壳的色差(ΔE)数据,以准确分析和判断外壳的颜色偏差及其一致性。这一步骤对于保证产品外观质量和增强品牌识别度至关重要。通过这些专业的色彩管理工具和方法,商家可以有效地解决显示屏色彩不准确和价签外壳颜色不一致的问题,从而确保产品信息的准确传达和品牌形象的统一性。二、大尺寸高精度拼接屏应用在现代视觉展示领域,大尺寸高精度拼接屏广泛应用于多样化的场景中,随着技术的进步,这些拼接屏的边框越发微小,色彩呈现能力显著提升。尽管如此,保持各个组成单元在非工作状态下的色彩一致性依旧是一项挑战。观察从特定角度可见,即便是同一大屏,不同小屏组件展示的颜色差异明显,有的显色较深,有的则较浅,这些视觉差异影响了整体的观看体验。为了有效地管理和控制这些色彩差异,以下步骤是关键:利用高精度色彩测量工具,如eXact或Ci6x系列设备,来详细采集每个拼接屏单元的色彩数据。这一过程能精确识别各单元间的色差。根据测量得到的色差数据,将拼接屏单元按照色差大小进行系统性排序和安装,确保色差较小的单元相邻排列。这样的安排促使相邻屏幕之间的色彩差异最小化,整体色彩表现呈现出更加均匀和连贯的视觉效果。通过采用这些精细的色彩管理策略,可以大幅提升大尺寸高精度拼接屏的视觉一致性,从而优化整体观赏体验,满足高端显示需求。三、手机屏幕的应用在当代生活中,手机已成为人们日常使用频率最高的电子设备之一,随着消费者对视觉体验要求的提高,手机屏幕的色彩展现成为了一个重要的关注点。特别是在手机处于息屏或关机状态时,黑色显示的一致性尤为关键,这不仅关系到视觉效果,还影响到用户对品牌的整体印象。为了确保手机屏幕黑色显示的一致性以及在使用过程中的显色效果,以下色彩管理策略是必不可少的:反射测量:采用高端色彩测量仪器,如Ci7x00系列台式分光光度仪或Ci6x系列便携式分光光度仪,进行手机显示屏的颜色数据和反射率的准确测量。通过这些精确的数据,可以有效地进行色差管理,确保每一块生产出来的手机屏幕在色彩上的一致性。透射测量:推荐使用Ci7800或Ci7600台式分光光度仪,对手机触摸屏的透光率和雾度进行专业测试与分析。这种测量不仅有助于评估屏幕材料的质量,也是优化显示效果和提升用户体验的关键环节。通过上述色彩管理方法,可以在手机研发阶段就确保屏幕的色彩表现和质量达到高标准,从而满足消费者对高品质视觉体验的期待。四、专业显示器/笔记本终端客户对于专业设计师和摄影师而言,使用的显示器或笔记本电脑在色彩的准确性和一致性上有着极高的要求。他们常面临的挑战包括图像和视频的色彩无法真实还原或存在严重的色偏问题,以及难以评估所使用的显示设备是否达到了专业颜色标准。为确保色彩的准确管理和控制,以下方法是至关重要的:色彩校正解决方案:采用i1 Pro3色彩管理工具,这款集硬件与软件为一体的校色解决方案能够精确测量并校正显示设备的关键色彩参数,如白点、Gamma曲线、对比度和RGB色彩平衡。通过这一过程,可以建立精确的ICC色彩特性曲线,并将其加载至Windows或MAC操作系统,从而实现对显示设备的精准校正。后校正评估:在完成校正过程后,再次利用i1 Pro3等高精度测量工具对已校正的显示设备进行色彩精准度和色彩均匀性的综合评估。这一步骤不仅确保了校正结果的有效性,还能为用户提供详细的检测报告,展示校正前后的色彩表现差异。通过上述专业的色彩管理和校正流程,专业用户可以确信他们的显示设备在色彩还原和表现上达到了行业标准,有效提升了工作效率和创作质量。这种方法不仅适用于新设备的初次校正,也适合作为定期维护的一部分,以保持设备性能的持续优化。五、关于爱色丽“爱色丽彩通 ”总部位于美国密歇根州,成立于1958年。作为全球知名的色彩趋势、科学和技术公司,爱色丽彩通提供服务和解决方案,帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。如果您需要更多信息,请关注官方微信公众号:爱色丽彩通
  • 浊度和天然有机物(NOM)的校正
    概述YSI EXO NitraLED™ 传感器利用光学吸收的基本原理检测硝酸盐。所有光学技术都必须应对浊度干扰,浊度干扰是由悬浮粒子引起的光散射引起的。由于有机物也会吸收光,依靠紫外光范围进行测量的传感器会受到天然有机物(NOM)的吸收的干扰。本文描述NitraLED传感器的工作原理同时,重点介绍应用于传感器内的原始信号的NOM和浊度校正。EXO NitraLED传感器的基本结构该传感器配有一个主LED ,发出波长为235nm光检查水样。以各种形态存在的氮都会吸收波长为235nm的光,NitraLED传感器无法区分这些不同形态的氮。比如,亚硝酸盐也会吸收。然而,在自然水域中,硝酸盐通常是氮最普遍的形态。在传感器内,NOM由发射275nm光的发光二极管检测。像其他在235nm吸收NOx的物种一样,NOM不是水中唯一能吸收波长为275nm的光的物质。但是在一定范围内,尤其是在用户提供的环境输入,275nm的LED可以方便对原位测量进行NOM校正。校正的效果取决于NOM的性质。浊度通过利用EXO浊度传感器来处理,该传感器须始终与NitraLED传感器搭配使用。经验丰富的EXO用户已经知道,浊度传感器的工作原理是光的散射,这不同于吸光度。下文描述了EXO浊度传感器如何协助校正浊度衰减。硝酸盐是以硝酸盐氮为单位来测量。因此,在使用化学表达式的地方都使用 NO3-N形式。这是因为传感器是在工厂用NO3-N标准进行校准的,且用户校准用的校准标准也是从YSI购买的NO3-N。由于衰减效应已在传感器中得到仔细处理,标准液中的任何微粒或不规则现象都会影响校准质量从而影响测量的准确性,因此YSI标准是唯一已知不会发生这种效应的标准。其他标准液也适用于NitraLED,但这些风险应该注意。吸光度原理EXO NitraLED传感器利用吸光度原理计算硝酸盐浓度。吸光度以吸光度的单位AU来测量,遵循比尔定律:其中,A表示以AU为单位的吸光度,它是透过样品的光强,而Io是来自传感器的光强根据传感器记录的235纳米处的总吸光度,NitraLED传感器计算硝酸盐的吸光度非常简单的公式如下:在275nm波长处,用一个类似的简化方程来确定干扰的影响:利用比尔定律测量235nm波长的吸光度,然后减去由浊度引起的衰减值(已转换为 AU 单位)以及减去275nm波长下估算NOM吸光度。然后将这样计算得出的ANO3-N用于回归方程,此方程是基于工厂线性化和两点用户校准。此回归定义了吸光度和硝酸盐浓度之间的关系。在此回归的计算过程中,校准过程中使用的硝酸盐标准没有任何颗粒物或有机化合物的产生的吸光度,这一点至关重要。如前述,这也正是建议采购YSI标准液的原因之一。在KOR软件中如何进行校正软件允许EXO NitraLED用户校准和执行校正,以优化其特定测量地点的传感器,该过程涉及三个重要步骤:1、输入一个通过独立测量确定现场采集样品的硝酸盐值2、通过以下任一种方式校正浊度:a.使用软件中提供的默认浊度系数b.通过测量现场的原始(未过滤的水样)和过滤后的水样的吸光度来估计浊度衰减3、根据过滤后的现场样本,使用滑动条来优化输出,以校正NOM。首先,在进行现场特定校正之前,必须校准EXO NitraLED和浊度传感器。在校正过程中,必须从测量现场收集抓取的样本。样品的硝酸盐浓度(单位为mg/L)应通过独立方法测定,例如EXO离子选择性电极(ISE)或台式光度计。而浊度的测定,最简单的方法是使用软件的默认浊度系数。在特定地点的校正可能有好处,然而,这将由用户决定。在这种情况下,NitraLED传感器将用于比较水样品采集时的测量值,以及样品使用0.45微米过滤器过滤后的测量值。最后一步,使用滑动条来优化过滤水中的传感器输出,从而进行NOM校正。校正浊度衰减浊度对吸光度的测量有显著影响,因为它可以使从LED到探测器的路径上光发生散射。颗粒的数量、大小和形状都可能影响光的衰减程度。如下图1所示,235nm波长光的吸光度和浊度FNU之间的关系呈现较好线性。但是,这一关系的斜率因不同的浊度来源而变化。NitraLED传感器内默认的吸光度校正程序是以高岭土为基础(如图所示)。之所以选择它,是因为它非常接近YSI所处理的所有样品的平均值。图1中的一些样品(迈阿密河和独木舟俱乐部)实际上是从天然水体中采集的,而其他样品(膨润土、Arizona 试验粉尘、硅藻土、高岭土和 Elliot 粉砂壤土)是购买的。已确认所购标准液中的样品不含硝酸盐,当存在硝酸盐时,对现场样品进行了校正。该图所示仅显示235nm波长下的相关性,但在275nm波长,观察到高岭土存在类似线性。当用户在Kor软件中选择默认浊度系数时,高岭土和吸光度之间的关系将应用于传感器内的原始信号。在广泛测试的基础上,使用一组平均高岭土干扰校正系数;图 1 没有描述所有进行的高岭土测试。相反,用户可以选择做特定地点校正。例如,图1表明,在较高的FNU时,样品之间的差异越大。如果用户在较高的FNU水域使用,可能会发现这些差异对于他们的研究目标是不可接受的。例如,一个位置的浊度是120FNU,由光学工具(分光光度计、NitraLED 等)测量的吸光度为0.19AU。则特定地点浊度的方程斜率为0.00158 AU/FNU。相比之下,高岭土的斜率为0.0028AU/FNU。因此,我们可以看到,根据沉淀物类型,默认的吸光度校正值和特定地点的校正值之间差异会对NitraLED的硝酸盐计算有显著影响当使用特定站点校正,NitraLED会在内部建立新的浊度回归方程,它将覆盖处理传感器中原始信号使用的默认关系。在特定地点校正过程中,分别收集水样过滤前,和使用0.45µm 过滤器对样品进行过滤后的吸光度值。这种预期差异值应该(以AU表示)是由过滤器去除的颗粒所引起的(即浊度)。在EXO用户手册(K版本及以上)中描述了这种方法。请注意,在进行浊度测量的同时,NitraLED也使用275nm LED进行测量,就可以方便地确定每个波长相应的吸光度,并从每个传感器测量的总吸光度中减去。我们现在可以缩小NOM和硝酸盐的吸光度。上一节的方程变为:NOM在275nm波长的吸光度现在是已知的,但该数值不等于NOM在235 nm 波长的吸光度,该吸光度如下所述确定。NOM 校正NOM从275nm波长校正到235nm波长处的吸光度,大致适用于测定废水中硝酸盐的标准方法1 . NOM校正系数等于以下:NitraLED传感器有一个内部编程默认的NOM系数,但为了实现最精确的计算,还是建议进行特定站点的校正。在特定站点的校正过程中,可使用滑动条对上述比率进行微调。当这个数字被调整时,传感器的输出被调整,并且对NOM系数进行调整 ,直到输出值等于已知的硝酸盐浓度。回顾一下,硝酸盐浓度是使用独立测量方法测得。一旦确定了NOM系数,在235纳米波长下的NOM吸光度将根据上述等式的重新排列来确定:在235纳米处计算出的NOM在下面的等式中用于确定由硝酸盐测量的吸光度,该吸光度归因于硝酸盐: 计算出硝酸盐的吸光度后,然后,将其插入两点校准过程中存储在传感器中的回归方程中,从而确定被测样品中硝酸盐的最终估计浓度。传感器计算的上述说明描述了硝酸盐值的计算方法,但现场特定校正的程序没有充分定义。有关如何执行特定场地校正程序的完整说明,请参考EXO用户手册。

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校正仪相关的耗材

  • GERBER牛奶冰点仪 校正液A、校正液B、校正液C
    冰点仪所用校正液,包括校正液A:-0.000℃,-0.400℃,-0.408℃,校正液B:-0.557℃,-0.600℃,质控液:-0.512℃,以及冰点仪运行所需冷却液,检测样品瓶(小试管)等 。
  • 影像仪校正标定玻璃板 其他配件
    校正片玻璃/影像测量仪专用校正片/二次元校正片|标定板|测微尺 专业用于测量仪器在测量的时候进行标准化校准,仪器校准后方可测量,得到准确的数值,对于PCB,五金电镀,2次元,3次元,显微镜,贴片机等测量,定位仪器起到很重要的作用。专业用于测量仪器在测量的时候进行标准化校准。即仪器测量工件前对仪器进行校对,以此标准片作为标准样品,根据距离对应关系,来得到标准数值。仪器校准后方可进行测量,得到准确数值。对于PCB,五金电镀,二次元,三次元,显微镜,贴片机等测量,定位仪器起到很重要的作用。 特点:准确的标定,校验仪器的精度。规格:50mm*50mm、63mm*63mm(可订做)
  • 牛奶冰点测定仪校准液/校正液B 7166
    牛奶冰点测定仪校准液/校正液B 7166 主要用于给牛奶冰点仪进行B液校准。德国Funke Gerber牛奶冰点测定仪,进口Funke Gerber牛奶冰点测定仪,一、牛奶冰点仪的构成冷却循环系统(针对仪器的循环)检测探头(玻璃温度探头)检测系统牛奶冰点测定仪校准液/校正液B 7166货号: 7165 牛奶冰点仪校正液A(0.000℃),250ml / 瓶货号: 7167 样品管(规格:2.0mL), 50支/盒货号: 7169 冷冻液 500ml / 瓶二、牛奶冰点仪测定仪的原理冰点仪是用来准确检测牛奶中加水的情况,由于牛奶中溶解了脂肪、蛋白质等各种成份,所以冰点比水低,正常牛奶冰点平均为-0.530℃,而水的冰点是0℃,牛奶中若加水,则整个样品的冰点则上升,正常情况下掺水1%,混合样品的冰点大约升高0.0053℃,当掺水100%时,温度升高时0.530℃,这时仪器显示出的冰点温度为0℃,而显示掺水就是100%。冰点仪就是利用温度探头把混合样品的冰点的温度测出来,利用仪器内部的计算公式把牛奶样品中掺水的百分比得出来的。三、技术规格检测速度:40个样品/小时,1.5分钟/次 测量范围:0.000℃~-1.500℃检样量:2.0-2.5ml(2.2ml) 精确度:0.0001℃结果报告:冰点曲线、冰点值、掺水百分比、时间、日期牛奶冰点测定仪校准液/校正液B 7166长期现货供应
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