校正器

现在球差电镜的用户已经有很多了，谁能给介绍一下球差校正器的结构和工作原理呀？物镜球差校正器和聚光镜球差校正器的安装位置和结构是不是一样的？

【题名】：酸度计中增设电极斜率校正器的效果【全文链接】: https://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-FXYQ198401022.htm

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是不是在分析时可以同时进行两中方法的校正[em53] [em53]

拉力试验机校正程序　　一﹑校正项目：力量值、行程　　二﹑校正器具：标准砝码、电子秒表及标准直钢尺　　三﹑校正周期：一年　　四﹑校正步骤：以下解说为厂内自校方式。　　1.电子拉力试验机力量值校正：　　1.1将显示器归零，取标准重量砝码轻挂于上夹具连接头，记录显示力量值，并计算与标准重量砝码之差，误差应不超出±1%。　　1.2单位转换：1kgf=9.80665牛顿

想了解四级-八级球差矫正器的工作原理，哪位有比较详细介绍的资料，包括结构图，光路图及相对应的说明，能否提供给我？十分感激

一直以来认为国内并没有成功商品化交变磁场调制反塞曼效应背景校正（简称交流塞曼）技术，近日上网一搜，才发现自己严重Out了。早在2009年，上海光谱的SP-3880AA就已经把交流塞曼和直流塞曼（直流磁场激励反塞曼效应背景校正）共冶一炉，居然在一台机子上实现了！一个感觉——震撼。如果再看这型仪器的其他配置，更觉震撼：开关型直流化石墨炉电源、横向加热石墨炉、固体进样技术、etc。呵呵，我不相信横向加热石墨炉，因为这一项和仪器的其他部分不匹配。但其他几项，就算拿到国际上，也算先进了。不说其他，单论这交直流塞曼合体。我们知道，恒定磁场反塞曼效应背景校正（恒磁塞曼，以区别于直流塞曼）要使用塞曼分裂的p成分（即偏振方向平行于磁场的成分）作为总吸收信号的测量光束，而对于部分反常塞曼效应的原子吸收谱线，其p成分内部因为磁致分裂较大，导致分析谱线峰值下降，从而损失相对灵敏度。Cu、Au、Ag、Cr、As等元素的灵敏线不幸都落在这个部分中。因此，从相对灵敏度来说，恒磁塞曼不如交流塞曼，后者虽然也存在同样的问题，但一来相对灵敏度损失不太大（因为不使用p成分），二来还可以通过调节磁场强度来解决。恒磁塞曼使用永久磁铁，自然也就无法调节磁场。所以，用直流电磁铁来激励一个强度可调的直流磁场，就成为一种顺理成章的思路，这就是直流塞曼技术。直流塞曼的光路结构完全和恒磁塞曼相同，但磁场却与交流塞曼匹配。如果用交变信号激励磁场，在磁场最大时让s成分（偏振方向垂直于）输出，而在零磁场时让p成分输出，那么就实现另一种形式的交流塞曼，磁场调制和信号测量的同步方法实际上很简单，此处不叙。和经典的交流塞曼系统相比，只是在零磁场时用p成分代替s成分而已，而这二者是完全等价的。换句话说，交直流塞曼本来就可以合体的！为何过去没有人意识到这一点呢？我想应该是没有人认为有交流塞曼还需要直流塞曼吧。如果用两个光电检测器同时测定p成分和s成分，直流塞曼在处理高速背景方面无疑占有优势，这也就是二者合体的意义。不过，这需要有双检测器为前提。SP-3880AA并没有说明这一点，表明这型仪器没有使用双检测器，所以其交直流塞曼合体的意义并不太大。不过，这是一型真正的商品化交流塞曼原子吸收系统，仅就此而言，填补国内空白是可以自称的。顺便指出，双检测器并非增加一个PMT那么简单，要求两个PMT性能上严格匹配，并且对光路要求很严格，所以会增加成本。SP3880AA有如此的技术，但除了频频获奖外，并没有吸引多少眼球。我曾在本坛中从2008年搜到2011年，竟然没有一篇帖子谈论上海光谱的这型仪器。个中原因恐怕只有上海光谱自己知道了。其实据我所知，交流塞曼，甚至纵向交流塞曼在国内早有人研制出来了，但一到产品阶段就卡壳，无法进行下去。我国的仪器产业，固然在理论水平方面落后于国外，但更主要的原因是先进制造能力，当然还有市场能力的缺乏。但愿这种看法是错误的。

一﹑校正项目：力量值、行程　　　　二﹑校正器具：标准砝码、电子秒表及标准直钢尺　　　　三﹑校正周期：一年　　　　四﹑校正步骤：　　　　1、力值校正：　　　　1.1单位转换：1kgf=9.80665牛顿　　　　1.2在电脑或控制面板中操作所有数据归零，取标准砝码轻挂于上夹具连接头，记录显示力值，并计算与标准砝码之差，误差应不超出该试验机规定误差值。　　　　注意：材料试验机校正方法；拉力机校正方法；拉力试验机校正方法　　　　1、对测试值有质疑时，需上述校正。　　　　2、原则上力值校正应由试验机厂家客服部或国家认可的计量单位执行,如用户自行调校而造成质量问题一般厂家不予负责。材料试验机校正方法；拉力机校正方法；拉力试验机校正方法　　　　2、测试速度校正：　　　　2.1启动上海湘杰试验机的同时利用软件秒表开始计时一分钟，计时停止，试验机自己停止。根据秒表的时间，记录下夹具行程值即为每分钟之速率(mm/min)，观察下夹具行程值与直钢尺之差，适当调整速度设定，再次启动上海湘杰试验机以测得正确之数值，并计算下夹具行程误差值，应不超出规定误差。材料试验机校正方法；拉力机校正方法；拉力试验机校正方法　　　　2.2首先记录试验机下夹具位置，在软件上设置校正速度。同时使用标准直钢尺测量下夹具行程。

电极系数(斜率)是离子选择性电极的一个重要技术指标，它反映了离子选择性电极本身将被测离子活度转化为为响应的电位的能力，在Nernst公式小就是RT／ZF项，是以每单位px的电动势增量表示。 任何一种离子选择性电极，在实际应用时，电极系数的大小是由以下因素决定的： (1)在Nernst公式的RT/ZF项中．R＝8．31441焦耳／克分子度，为气体常数，F＝96487库仑/克分子，为法拉第常数，所以在允许的线性测量范围内，S的大小取决于溶液的温度T(273+t)和离子的电荷数Z。 (2)离子选择性电极材料的电位——活度反应性。 (3)测量的方法和测量的条件。如各种干扰物质的多少、液的总离子强度的大小、PH值范围等。 (4)所使用的测量仪器的输入阻抗高低等。 (5)离子选择性电极的引出线与屏蔽线之间的绝缘电阻的高低等。

为回答[b]l_a_lakers[/b]版友上次提的问题（我想请问还有关于塞曼校正及氘灯扣背景的操作及原理扫盲帖），这期的扫肓贴推出背景校正技术，此贴为总结和拼凑所得，仅对于原理方面的阐述，水平有限，请版友们指正，也欢迎各版友提问题，征集扫盲贴主题，PE[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]的版主和专家歇诚为你们解答，当然水平有限，希望能对你们有所帮忙，大家互相学习交流，壮大PE[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]版面。背景校正技术 AAS仪中已有氘灯和碘钨灯连续光源背景校正、塞曼效应背景校正和空心阴极灯强脉冲自吸背景校正等方法。其中塞曼效应校正背景还衍生出几种不同的磁场调制与排列方式。以下介绍各种背景方法要点。 连续光源背景校正：这是现代AAS仪中应用最广泛的一种AAS仪器背景校正方法，尤其在FAAS中，它占有相当重要地位。其原理为：用待测元素HCL的辐射作样品光束，测量总的吸收信号，用连续光源（多用是氘灯）的辐射作参比光束，在同一波长下测量吸收值。对连续背景，它对HCL和连续光源辐射有相同的吸收，待测原子对连续光源也有吸收，但由于元素分析线很窄，不到通带宽度的1%，故可以忽略，连续光源所测值可视为纯背景吸收，光辐射交替通过原子化器，两次所测吸光值相减使背景得到校正。在实际使用时，要求精心调配使氘灯连续光源和HCL锐线光源强度匹配，并尽可能使光斑重合一致。近年，Jena公司通过设计氘空心阴极灯的几何形状和成象光学部件，使两种辐射光束穿过完全相同的吸收体积，有效地避免了因双灯源的采用，而带来的光学平衡问题。由于氘灯 在长波范围（大于350.0nm）内能量较低，要与碘钨灯配合适用。该法应用波段有限制，有时还产生背景校正过度或不足。如果共存物的原子对通过单色器的连续辐射产生吸收，会出现补偿过度现象。连续光源背景校对FAAS较好，对GFAAS效应不佳。 自吸效应背景校正：自吸效应背景校正法，又称S-H法，其原理：以低电流脉冲供电。空心阴极灯发射锐线光谱，测的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收的总吸光度，以短时高电流脉冲供电发射线产生自吸效应，辐射能量由于自吸变宽而几种与原波长的两侧。不为原子蒸气所吸收，所测为背景吸收值。将两值相减得到校正后的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]值。这种方法是简单和成本低，能校正某些结构背景与原子谱线重叠干扰，无光能损失，可以进行全波长校正但许多元素不能产生自吸，两种脉冲电流下HCL谱线宽度有差别，校正不够精确，有些元素如Al、Ca、Sr、Ba、V 等其灵敏度降低，检出限变差，强脉冲电流影响HCL的寿命，该法仅适用于FAAS法。对GFAAS法效果不明显，基本上作为其他校正法的补充。 塞曼效应背景校正：这种背景校正的基础是：吸收线在磁场作用下，产生分裂成平行磁场 π组分和垂直于磁场α+、α-组分。偏振组分α+、α-有中心波长位移，若频移足够大时，不为待测物所吸收，测量的只是背景吸收，若恒定磁场调制方式，π组分和背景吸收所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总吸收值。若是交变磁场调制方式，当磁场关闭时，吸收相不发生分裂。所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总值。将两种测定值相减（即[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收总值减去背景吸收值）可以使背景得到校正。目前商品仪器有两大类：恒定磁场（固定磁场）和交变磁场，可配置于光源上或原子化器。近年来，以配置在GFAAS较多，火焰应用较少。恒定磁场往往塞曼效应谱线分裂不完整，而降低测量的准确性 。 同时仪器灵敏度往往低于正常AAS的一半。永久磁长期使用会退磁。若采用旋转偏振器，会出现某种程度不平衡，使背景校正能力下降，由于上述缺陷，仪器公司采用横向交流交变磁场吸收线调制法。但如果交变磁场强度不够，工作曲线出现反转。最近有公司开发纵向交流交变磁场，省略可偏振元件，使分析动态范围大大拓宽。从仪器使用考虑，选择应用横向交流塞曼效应较好，这种系统具有最佳双光束性能，背景校正能力高而准确，线性和灵敏度于常规AAS相类似，检出限比连续光源背景校正器好。分析（工作）曲线反转问题较少。能全波段背景校正。近来有仪器公司推出了3-磁场塞曼效应背景校正技术，该模式除高磁和零磁场之外，还有第三个中间磁场强度，可根据被测浓度要求，通过软件选择最佳中间磁场强度可使动态范围扩展10倍。 此外，还有组合式扣背景，指的是采用以上两种以上的扣背景技术。如PE[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]仪器，其火焰法用的是氘灯扣背景，石墨炉用的是塞曼扣背景。自吸效应扣背景比较少见。 欢迎版友们补充、指正。你们的支持，是我们努力的动力，谢谢！

声级计俗称为噪声计是噪声测量中最基本的仪器。声级计一般由电容式传声器、前置放大器、衰减器、放大器、频率计权网络以及有效值指示表头等组成。声级计的工作原理是：由传声器将声音转换成电信号，再由前置放大器变换阻抗，使传声器与衰减器匹配。放大器将输出信号加到计权网络，对信号进行频率计权(或外接滤波器)，然后再经衰减器及放大器将信号放大到一定的幅值，送到有效值检波器(或外按电平记录仪)，在指示表头上给出噪声声级的数值。 声级计中的频率计权网络有A、B、C三种标准计权网络。A网络是模拟人耳对等响曲线中40方纯音的响应，它的曲线形状与340方的等响曲线相反，从而使电信号的中、低频段有较大的衰减。B网络是模拟人耳对70方纯音的响应，它使电信号的低频段有一定的衰减。C网络是模拟人耳对100方纯音的响应，在整个声频范围内有近乎平直的响应。 声级计经过频率计权网络测得的声压级称为声级，根据所使用的计权网不同，分别称为A声级、B声级和C声级，单位记作dB(A)、dB(B)和dB(C)。 目前，测量噪声用的声级计，表头响应按灵敏度可分为四种： (1)“慢"。表头时间常数为1000 ms，—般用于测量稳态噪声，测 得的数值为有效值。 (2)"快"。表头时间常数为125ms，一般用于测量波动较大的不稳态噪声和交通运输噪声等。快档接近人耳对声音的反应。 (3)“脉冲或脉冲保持"。表针上升时间为35ms，用于测量持续时间较长的脉冲噪声，如冲床、按锤等，测得的数值为最大有效值。 (4)“峰值保持"。表针上升时间小于20ms．用于测量持续时间很短的脉冲声，如枪、炮和爆炸声，测得的数值是峰值．即最大值。测距仪测高仪激光投线仪流量计GPS测厚仪水准仪平板仪波形记录仪测试夹具电压电流记录器资料集录器图形记录仪流量积算仪表 声级计可以外接滤波器和记录仪，对噪声做频谱分析。国产的ND2型精密声级计内装了一个倍频页程滤波器，便于携带到现场和作频谱分析。过程校准仪温度校准仪压力校准仪回路校准仪校正缓冲液钳表校正器示波器校准器噪音计校正器电流校正器多功能校正器湿度校正仪ph校正器 声级计按精度可分为精密声级计和普通声级计。精密声级计的测量误差约为土1dB，普通声级计约为土3dB。声级计按用途可分为两类：一类用于测量稳态噪声，一类则用于测量不稳态噪声和脉冲噪声。 积分式声级计是用来测量一段时间内不稳态噪声的等效声级的。噪声剂量计也是一种积分式声级计，主要用来测量噪声暴露量。 脉冲式声级计是用于测量脉冲噪声的，这种声级计符合人耳对脉冲声的响应及人耳对脉冲声反应的平均时间。

[b][color=#000099]我正想向版主专家请教[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]的背景校正，无意中在一论坛上看到如下的介绍，现转来至此，请这里的版主专家审一下，对吗？全吗？[/color][/b]背景的产生具有波长、时间和温度特性。背景校正装置有氘灯校正背景、塞曼效应校正背景、自吸收校正背景等3 种。[color=#ff0000]　[b]　一、氘灯背景校正装置[/b][/color]　　氘灯背景校正装置就是一只氘灯及其相应的电源。氘灯安装在侧光路上，需要背景校正时，将它移入测量光路，或者通过一块半透半反镜将氘灯的光引入测量光路。　　切光器或半透半反镜可使锐线光源与氘灯连续光源交替进入原子化器。锐线光源测定的吸光度值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收的总吸光度。连续光源所测吸光度为背景吸收，因为在使用连续光源时，被测元素的共振线吸收相对于总人射光强度是可以忽略不计的。因此连续光源的吸光度值即为背景吸收。将锐线光源吸光度值减去连续光源吸光度值，即为校正背景后的被测元素的吸光度值。　　氘灯校正法灵敏度高，应用广泛。非常适合火焰校正，在火焰和石墨炉共用的机型中，采用氘灯校正法是最折衷的方法，虽然在石墨炉中氘灯校正法不及塞曼效应背景校正理想，但在火焰分析中由于火焰产生的粒子造成光散塞曼效应射而使塞曼效应无法正常地进行磁场分裂，氘灯校正法在火焰分析中比塞曼效应校正法优越的多。　[color=#ff0000][b]　二、塞曼效应校正背景[/b][/color]　　塞曼效应校正背景是基于谱线在磁场中发生分裂和分裂组分偏振特性的一种校正背景的方法。塞曼效应背景校正器由固定或可变磁场和起偏器、检偏器组成。当仅使用石墨炉进行原子化时，最理想是利用塞曼效应进行背景校正。塞曼效应分为正常塞曼和反常塞曼效应：[b]　　a、正常塞曼效应背景校正[/b]　　光的方向与磁场方向垂直，在强磁场作用下，[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]线分裂为π和δ+组分：π平行于磁场方向，波长不变 δ+组分垂直于磁场方向，波长分别向长波与短波移动。这两个分量之间的主要差别是π分量只能吸收与磁场平行的偏振光，而δ+分量只能吸收与磁场垂直的偏振光，而且很弱。引起的分子完全等同地吸收平行与垂直的偏振光。即δ+组分为背景吸收，π组分为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]。　　在原子化器上加一电磁铁，电磁铁仅原子化阶段被激磁，偏振器是固定不变的，它只让垂直于磁场方向的偏振光通过原子化器，去掉平行于磁场方向的偏振光。在零磁场时，吸收线不发生分裂，测得的是被测元素的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收的总吸光度值。激磁时测得的仅为背景吸收的吸光度值，两次测定吸光度之差，就是校正了背景吸收后被测元素的净吸光度值。　　正常塞曼的缺点是在光路中加有偏振器，去掉平行于磁场方向的偏振光，使光的能量损失了一半，大大降低了检测的灵敏度。[b]　　b、反常塞曼效应背景校正[/b]　　光的方向与磁场方向水平，当光通过在原子化器上加一电磁铁，在强磁场作用下，抑制了π组分([url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url])的产生，只产生δ+组分(背景吸收)。在不通电无磁场存在下，空心阴极灯的共振线通过石墨炉，测得待测元素和背景吸收的总和。通电后在强磁场存在下，产生反常塞曼效应，此时只有共振线分裂后产生的δ+组分通过石墨炉，其不被基态[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]，仅测得背景吸收。通过两次吸光度之差，即可进行背景校正。反常塞曼由于光路中没有偏振器，光的能量较正常塞曼多50%，检测灵敏度较正常塞曼高。　　塞曼效应使用同一光源进行测量，是非常理想的校正方法，它要求光能集中同方向地通过电磁场中线进行分裂，但在火焰分析中，由于火焰中的固体颗粒对锐性光源产生多种散射、光偏离，燃烧时粒子互相碰撞等因素产生许多不可预见因素，造成光谱线分裂紊乱，在火焰中的应用极不理想。并且，塞曼效应的检测灵敏度低于氘灯校正法。[color=#ff0000][b]　　三、自吸收背景校正[/b][/color]　　当空心阴极灯在高电流工作时，其阴极发射的锐线光会被灯内产生的原子云基态[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]，是发射的锐线光谱变宽，吸收度下降，灵敏度液下降。这种自吸现象无法避免。因此，可首先在空心阴极灯低电流下工作，使锐线光通过原子化器，测得待测元素和背景吸收的总和。然后使它在高电流下工作，通过原子化器，测得相当于背景的吸收。将两次测的吸光度相减，就可扣除背景的影响。优点是使用同一光源，不足是加速空心阴极灯的老化，其寿命只有正常的1/3。

在附件中，近期希望建一个实验室，需要很多仪器，不过希望是一个好一点的厂家，价格合理的。希望大家给点建议了。谢谢！　　　　　　　　　　　监测仪器列表1、PM10 采样器；2、多孔玻板吸收管；3、双球玻璃管（内装三氧化铬－砂子）；4、分光光度计（测量SO2、NOx）；5、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分光光度计（带石墨炉和背景校正器）；6、空气乙炔火焰原子化器；7、各种空心阴极灯（需要测量金属铅，镉，砷，汞，铜，六价铬）；8、氟离子选择性电极；9、232饱和甘汞电极；10、各种土壤消解仪器（你们可以提供一些信息）；11、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url]（测量六六六和滴滴涕）；

本人用的是帕纳科荧光，我认为漂移校正就是对仪器状态先后两个时间段的校正，比如，修理前和修理后。但是最近遇到一个维修专家解释，漂移校正是对曲线的校正，而仪器校正需要单独建立一个程序，大家谈谈各自的看法吧？

各位： 请问如何判定哪些仪器设备是需要校正的哪些是不需要校正的？是根据何种依据来规定的？当然这些仪器设备包括：自制的设备夹具、客户提供的仪器设备、还有就是本分司购买的。主要是对本公司PIE部自制的设备夹具不知哪些是需要校正的哪些是不需要校正的。谢谢帮助~~~交流~~

[size=3][font=宋体]我接触过的[/font][/size][size=3][font=Arial]AAS[/font][/size][size=3][font=宋体]背景校正技术有[/font][/size][size=3][font=宋体]氘灯连续光源背景校正和塞曼效应背景校正。[/font][/size][size=3][/size][size=3][font=Times New Roman]1[/font][/size][size=3][font=宋体]、[/font][/size][size=3][font=宋体]连续光源背景校正：[/font][/size][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][size=3][font=宋体]这是现代[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]AAS[/font][/size][size=3][font=宋体]仪中应用最广泛的一种[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]AAS[/font][/size][size=3][font=宋体]仪器背景校正方法，主要应用于火焰法的背景校正，它占有相当重要地位。[/font][/size][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][size=3][font=宋体]原理：用待测元素[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]HCL[/font][/size][size=3][font=宋体]的辐射作样品光束，测量总的吸收信号，用连续光源（多用是氘灯）的辐射作参比光束，在同一波长下测量吸收值。对连续背景，它对[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]HCL[/font][/size][size=3][font=宋体]和连续光源辐射有相同的吸收，待测原子对连续光源也有吸收，但由于元素分析线很窄，不到通带宽度的[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]1%[/font][/size][size=3][font=宋体]，故可以忽略，连续光源所测值可视为纯背景吸收，光辐射交替通过原子化器，两次所测吸光值相减使背景得到校正。[/font][/size][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][size=3][font=宋体]在实际使用时，要求精心调配使氘灯连续光源和[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]HCL[/font][/size][size=3][font=宋体]锐线光源强度匹配，并尽可能使光斑重合一致。[/font][/size][size=3][font=宋体][/font][/size][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]由于氘灯[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]在长波范围（大于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]350.0nm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）内能量较低，要与碘钨灯配合适用。该法应用波段有限制，有时还产生背景校正过度或不足。如果共存物的原子对通过单色器的连续辐射产生吸收，会出现补偿过度现象。连续光源背景校对[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]火焰法[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]较好，对石墨炉效应不佳。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]2[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]塞曼效应背景校正：[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]主要运用于石墨炉的背景校正。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]原理：吸收线在磁场作用下，产生分裂成平行磁场[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]π[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]组分和垂直于磁场[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]α[sup]+[/sup]、α[sup]-[/sup]组分。偏振组分α[sup]+[/sup]、α[sup]-[/sup]有中心波长位移，若频移足够大时，不为待测物所吸收，测量的只是背景吸收，若恒定磁场调制方式，π组分和背景吸收所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总吸收值。若是交变磁场调制方式，当磁场关闭时，吸收相不发生分裂。所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总值。将两种测定值相减（即[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收总值减去背景吸收值）可以使背景得到校正。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]缺陷：恒定磁场往往塞曼效应谱线分裂不完整，而降低测量的准确性 。 同时仪器灵敏度往往低于正常AAS的一半。永久磁长期使用会退磁。若采用旋转偏振器，会出现某种程度不平衡，使背景校正能力下降，由于上述缺陷，仪器公司采用横向交流交变磁场吸收线调制法。但如果交变磁场强度不够，工作曲线出现反转。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]进展：有公司开发纵向交流交变磁场，省略可偏振元件，使分析动态范围大大拓宽。从仪器使用考虑，选择应用横向交流塞曼效应较好，这种系统具有最佳双光束性能，背景校正能力高而准确，线性和灵敏度于常规AAS相类似，检出限比连续光源背景校正器好。分析（工作）曲线反转问题较少。能全波段背景校正。近来有仪器公司推出了3-磁场塞曼效应背景校正技术，该模式除高磁和零磁场之外，还有第三个中间磁场强度，可根据被测浓度要求，通过软件选择最佳中间磁场强度可使动态范围扩展10倍。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]综上所述，我们是否可以归纳为：氘灯连续光源背景校正是相对扣背景，塞曼效应背景校正是绝对扣背景？换言之，氘灯扣背景是在同一波长下扣的，氘灯是连续光源，元素灯是锐线单波长光源；塞曼扣背景是将光裂分为两个方向，一个方向是元素光，另一个方向是背景光。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]假如果真塞曼扣背景是完全扣除，那么我们是否可以不必理会背景峰形是怎么样的，不管背景峰是正峰还是倒峰，只要保证同支溶液两次检测时其背景扣除大致一样就行？[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体][/font][/size][/color][size=3][font=Times New Roman] 请版友们各发已见，谢谢！[/font][/size]

你们的GCMS和ICP是请哪一家机构来校正检定的，还有其它的一些要用到的精密仪器和玻璃仪器是请哪一家来校正的。是不是有国家强制检定的这一说法，具体是什么意思？请问要怎么样才能有资质对自己实验室的一些仪器简单校正的资格，比如容量瓶，移液管，电子天平。要考什么试，或者拿个什么证吗？？

热分析仪器买来以后，是不是都要用标样进行温度校正和灵敏度校正啊，如果不校正，对结果有什么影响啊？

电子天平的校正？是否要天天进行仪器设备的校正（比如[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]）要多长时间进行校正，怎样进行校正

在日常的分析中，我们发现好多测试人员只会测试，根本不会校正仪器？大家可以讨论讨论小仪器如何校正，比如pH计和电导率仪等仪器设备。

校正的定义：校正错别字，校正时间，校正仪器。改正稿件或物体中不正确的内容和性能质量。包括对稿件的事实、观点、语法、修辞、 逻辑等各方面的差错的校正，目的是要消灭一切错误信息，使稿件事实准确、观点正确、文字通顺，客观公正、真实生动地反映现实的变动。仪器校正从校准形式地点可分为仪器内校与仪器外校 仪器外校：指在将仪器外送给检测校准中心进行仪器的检测与校正。 仪器内校：指在请检测校准中心安排专业的计量检测校准人员进行仪器外的检测与校正。

石墨炉的优点是：试样原子化效率高，不被稀释，原子在吸收区域平均停留时间长，灵敏度比火焰法高。石墨炉加热后，由于有大量碳存在，还原气氛强；石墨炉的温度可调，如有低温蒸发干扰元素，可以在原子化温度前分馏除去。样品用量少，并且可以直接固体进样。原子化温度可以自由调节，因此可以根据元素的原子化温度不同，选择控制温度。石墨炉的缺点是：装置复杂。样品基体蒸发时，可能造成较大的分子吸收，石墨管本身的氧化也会产生分子吸收，石墨管等固体粒子还会使光散射，背景吸收大，要使用背景校正器校正。管壁能辐射较强的连续光，噪声大。因为石墨管本身的温度不均匀，所以要严格控制加入样品的位置，否则测定重现性不好，精度差。

最近在做计量认证，可很多仪器都需要标样校正，而说的都是标样自备，想问下各仪器的校正标样是什么？最想了解的是XRF和GPC！如果很全的话就更好了！xian谢谢！

安捷伦ICP检测器多久校正一次，或者在什么情况下校正？

武汉有做仪器校正检测的可以联系一下我，现在有一批设备需要检测，有做校正的厂家请联系我。

哪位大大能告诉我双检测器校正是什么？我们用的是PE的ELan DRCII,一般什么时候要做这种校正

好久没来，大家好。我的仪器是varian的ICP-OES，是全谱直读的，前几天作波长校正，喷5ppm的Mn标样后仪器自动校正，这个校正结果应该有什么指标反应的吧。如：什么范围之内就是合格或是不合格，可仪器上没什么直接的表现，就是校正完毕。不知大家是怎么做的。[em27]

ICP-OES仪器校正氮和铝没通过，是怎么回事，对检测结果有多大影响,有知道的吗，谢谢