接收头

以色列创业公司Consumer Physics最近风光无限，因为他们的产品SCiO在Kickstarter上成功众筹了276万美元，支持者达到了12,958名。从2014年年初到现在，SCiO在Kickstarter上成功众筹的项目中排名第四(按照众筹金额，前三位分别为：Pono Music、The Music、The Dash)。SCiO在Kickstarter上成功众筹的项目中排名第四　　SCiO的形状就像我们日常使用的U盘，它通过蓝牙4.0和与智能手机连接。使用SCiO时，只需在离物体10毫米左右的位置轻轻一扫，就能在配对的智能手机上马上看到物质组成的分析结果了。扫描后，数据会上传至云端，算法也会实时处理数据。　　也就是说，未来你去酒吧，用SCiO扫一扫就可以知道有没有人在你的酒中下药，去水果店买水果的时候就可以知道哪只瓜更甜，你还可以在喝牛奶之前了解它所含的热量。Consumer Physics两位联合创始人Dror Sharon(左)与Damian Goldring(右)　　其实SCiO取得如此轰动的效果并非因为它的技术很牛，它可以扫描、分析任何物质，全都依赖产品上的微型光谱仪，这项技术已经存在了100多年了，SCiO只是让它使用起来更便利，价格更易于接受。SCiO还未完成众筹的时候，我就对它做了报道，很多粉丝问我，SCiO和传统的光谱仪相比，测试的精度会不会存在较高的误差，Consumer Physics的CEO Dror Sharon近期接受我的专访时说道，在让SCiO转变成消费级的产品的时候必须对一些东西做了权衡，但是测试所得的数据还是与传统光谱仪差不多的。使用SCiO时，只需在离物体10毫米左右的位置轻轻一扫，就能在配对的智能手机上马上看到物质组成的分析结果了　　Consumer Physics的团队希望SCiO让整个世界会更透明一些，为了早点达到这个目标，他们正在忙碌，将产品尽快送到Kickstarter的铁杆粉丝的手中，他们还在建立数据库，完善功能和开发包。Consumer Physics的媒介负责人Yael Hezroni告诉我：&ldquo 你知道吗，我们团队都快疯掉了，每天我们收到成千上万封邮件和各种电话，但是我们还是要尽量给到每个人非常个性化的答复&rdquo 。　　Yael牵线，我通过邮件专访了Dror。让我感到惊讶的是Dror与联合创始人Damian Goldring早在20年前就开始酝酿如何让用户更好地了解周围的物理世界。Dror告诉我，20年前就开始考虑与Damian合开一家公司开发一款手持、可以告诉你你周围的物理世界这样的产品。在漫长的20年中，这个想法变来变去，但是核心一直不曾变过。　　&ldquo 开始的时候，我们遇到了很多的问题和挑战：什么样的技术最能帮助我们达到目标?怎样把产品做小，价格更亲民?我们能验证这个想法的可行性吗?我们应该从何处开始做?还有很多很多问题&hellip &hellip &rdquo 　　最终，Dror制定了一个计划，来解决遇到的每个挑战。但他们专注解决两个问题：　　要证明他们是可以制作一个个头小、低成本的光谱仪。　　证明用了这个特别的光谱仪，他们可以创造出一些有趣、有意义的功能。　　SCiO原型机的诞生仰仗了Consumer Physics公司的超级天才团队，他们可以同时处理很多棘手的问题-这是一个小个头、低成本的光谱仪，它的基本功能都是围绕食物展开的。这个过程包括复杂的光学和工程设计，控制部件的电路和电子设计，实时信号处理，短波设计和服务器-用户系统的建立，还有设计一些功能，比如，建立数据库、改善分析算法、生产能力、检测系统质量还有其他一大堆问题要解决。Dror的团队已经开发了几代SCiO的原型机，目前已经开始量产　　Dror的团队已经开发了几代SCiO的原型机，目前已经开始量产。Dror向我介绍，他们正在打响十二分精神，努力提升产量。虽然过程非常熬人，但是Dror还是觉得值得的!&ldquo 团队中的每个人都有机会与他人合作去解决极为复杂的问题，作为团队中的一员，能够不断突破创造出这样创新的产品是非常让人感到非常兴奋的事情了&rdquo ，Dror说。未来Dror期望SCiO有更多的使用场景，接下来他们会给到900个开发者机在他们的平台上开发app的机会。　　&ldquo 但是长期，我希望SCiO的传感技术可以嵌入每一步智能手机、可穿戴设备或者其他的联网设备，我们收集的数据越多，那些不确定性就越少，我们的产品对于用户来说价值就会更大&rdquo ，Dror最后告诉我。　　除了Dror，我还与Consumer Physics的系统和项目经理Omer Keilaf交流了很多，他和Consumer Physics的联合创始人Damian Goldring是校友，是他主动前线让我认识Yael的。从Dror的回答，我感到他并没有因为繁忙有一丝敷衍。Omer也是一个效率极高的人，他总是能够在我发出邮件后，10几分钟给到回复，还努力帮我从中协调。他与Yael都非常期待我的文章，都很想知道中国记者是怎么看他们的。　　总之，对于我来说整个过程是让人兴奋的，也让我感到到了以色列人的高效与责任心。　　采访Dror Sharon之后，我也陷入了思考之中，SCiO从想法到量产，这个过程的难度和遇到的挑战可想而知，为什么他们就可以同时处理那么多硬件创业过程中各种难易不等、琐碎的事情呢?为什么国内很多团队都死在过程中，不能像他们那样做成这件事呢?　　看了联合创始人Damian Goldring的简历，我明白了一点。Damian除了是电光材料和纳米光子学的专家，拥有以色列特拉维夫大学电光材料和纳米光子学的博士学位，还在以色列空军服过役，这是很典型的以色列风格的人生轨迹，他们在军队里被训练要同时可以处理很多极为棘手的事情。

由英国Cobalt公司举办的“世界首届透射拉曼国际医药研讨会”，是世界首届关于透射拉曼在药物定量分析领域应的专题研讨会，吸引了来自全球医药企业瞩目。近日，英国Cobalt公司首次公开了英国Actavis，比利时Janssen和美国Bristol-Myers Squibb三位专家的Presentation视频。英国阿特维斯Dr Julien Villaumié - R&D Senior Scientist，分享如何使用TRS100进行制剂的含量均匀度分析，并获得英国药监部门审批的过程。Obtaining regulatory approval for QC batch release by transmission Raman: Bulk assay, uniformity and identificationDr Julien Villaumié – R&D Senior Scientist, Actavis, UK比利时杨森Dr Tom van den Kerkhof – Senior Scientist，分享TRS100用于CU分析及多晶定量的方法。Transmission Raman Spectroscopy for CU and Polymorphic Content Determination - Strategy and Approach of J&JDr Tom van den Kerkhof – Senior Scientist, Janssen, Belgium美国百时美施贵宝Dr Gary McGeorge – Senior Principal Scientist，分享使用TRS100进行多层包衣药片的定量分析的研究。Quantitative analysis of pharmaceutical bilayer tablets using transmission Raman spectroscopyDr Gary McGeorge – Senior Principal Scientist, Bristol-Myers Squibb, USA点击“阅读原文”观看Seminar视频https://www.cobaltlight.com/trs100seminar关于Seminar“世界首届透射拉曼国际医药研讨会”，是英国Cobalt公司举办的，世界首届关于透射拉曼在药物定量分析领域应用的专题研讨会，于2015年12月3日圆满落幕。该Seminar吸引了70多位制药企业专家代表共聚牛津大学凯瑟琳学院，其中Actavis，Bristol-Myers Squibb, Janssen, GSK and AbbVie等制药公司在报告中分享了Coablt TRS100透射拉曼光谱仪的使用经验。英国药监局Medicines & Healthcare Products Regulatory Agency的专家Dr Abigail Moran - Senior Pharmaceutical Assessor，从产品监管方面、方法申请与审批等方面与大家分享观点。Cobalt TRS100 透射拉曼光谱仪——用于片剂、胶囊和粉剂等样品的定量分析Cobalt的 TRS100透射拉曼系统是新一代的实时、非破坏性、成分均一性测试系统。操作简单，TRS100的自动分析技术代替了固体制剂费力的液相检测方法，可以快速、*的完成片剂、胶囊、粉剂和其它剂型的定量分析而无需样品制备。将完整的片剂或胶囊置于样品盘上，用透射拉曼系统扫描，每个样品的扫描可在1s或者更短时间内完成。特点 Features分析快速 1sFast Analysis on tablets, capsules and powders定量分析Robust Quantitative Analysis无需耗材No Consumables应用 ApplicationsQC 定量分析（CU）Quantitative Analysis in QC labR&D 药物发现/配方研究/拉曼分析Drug Discovery, Formulation Development, General Spectroscopy tool in R&D生产过程控制，药品实时/在线检测Real-time Release Testing, In-process Checking in Manufacturing Process晶型分析Polymorphism, Development of amorphous API formulations Atability Testing上海凯来实验设备有限公司为英国Cobalt公司产品在中国及香港地区总代理关于凯来上海凯来实验设备有限公司成立于2004年，主要经营进口实验室仪器，总部位于上海张江高科，目前在北京，广州，成都，杭州，南京，青岛等地设有办事处。凯来最值得骄傲的地方，是拥有一支专业、年轻、充满活力的团队，员工都具备扎实的专业基础，认真负责的态度。我们的关注点不仅在于销售，更在于提供完善的售后服务与解决方案。凯来致力于成为一个专业、灵活、周到的生命科学和化学分析实验室仪器供应商，以快捷的业务模式为客户提供性能卓越、质量可靠、价格合理的产品和服务。更多信息请登录凯来官方网站：www.chemlabcorp.com扫一扫，关注凯来官方微信：SHChemLab

据报道，国际原子能机构日前发布了日本福岛核污染水处置综合评估报告。生态环境部（国家核安全局）相关负责人就此事回答记者提问。问：近日，国际原子能机构发布了日本福岛核污染水处置综合评估报告，您怎么看？答：外交部发言人已经代表中国政府表明了态度，这份报告未能充分反映所有参加评估工作各方专家的意见，有关结论未能获得各方专家一致认可。日方在排海的正当性、净化装置的可靠性、监测方案的完善性等方面还存在诸多问题。日方应正视各方正当合理关切，切实以科学、安全、透明的方式处置核污染水，并尽快建立一套包括日本邻国等利益攸关方参与的长期国际监测机制。问：针对日本福岛核污染水排海有关辐射监测安排，生态环境部从专业角度怎样评价？答：日方当前的监测安排还存在以下问题：一是核污染水排放前的监测有延迟，无法第一时间判断排放是否合格，由此可能导致不达标的核污染水直接排入海洋。二是核污染水混合后监测可能造成不合理稀释，日方将10罐核污染水混合后取样监测，可能造成高浓度的核污染水被低浓度的核污染水稀释成达标的核污染水。三是应有公开透明的长期国际监测，日本福岛核污染水排海关乎全球海洋环境和公众健康，应接受利益攸关方参与的公开透明的国际监测监督，而不应仅仅安排日方主导下的“摆样”式的监测。问：针对日本福岛核污染水排海，我国海洋辐射环境监测的安排是怎样的？答：我部高度重视日本福岛核污染水排海问题。2021年、2022年先后组织开展了我国管辖海域海洋辐射环境监测，摸清了目前相关海域海洋辐射环境的本底情况。针对日本福岛核污染水排海后的海洋辐射环境监测，我部已经作出部署，如果发现异常将及时预警，切实维护我国家利益和人民健康。问：网传我国核电厂氚排放是日本福岛核污染水氚排放的6.5倍，事实如何？答：事实上，日本福岛核污染水和世界各国核电厂正常运行液态流出物有本质区别。一是来源不同，二是放射性核素种类不同，三是处理难度不同。日本福岛核污染水来自于事故后注入熔融损毁堆芯的冷却水以及渗入反应堆的地下水和雨水，包含熔融堆芯中存在的各种放射性核素，处理难度大。相比之下，核电厂正常运行产生的废水主要来源于工艺排水、地面排水等，含有少量裂变核素，严格遵守国际通行标准，采用最佳可行技术处理、经严格监测达标后有组织排放，排放量远低于规定的控制值。要高度警惕这种“恶人先告状”、企图混淆视听、蒙混过关的图谋。我们反对的是日本福岛核污染水排海，从来没有反对核电厂正常运行排放。日本福岛核污染水有关误导宣传代替不了事实真相，方案设计代替不了工程实践，口头承诺代替不了真实结果，精心包装的方案掩盖不了企图转嫁危害的图谋，有限的选择性抽查代替不了长期公正的国际监督。

Moku:Go轻松助力校园无线电接收实验的教学Moku:Go将10几种实验室仪器结合在一个高性能设备中，具有2个模拟输入、2个模拟输出、16个数字I/O和可选的集成电源。 一． 介绍本实验的目的是介绍调幅无线电接收器的基本原理，并演示使用锁相放大器的基本原理。你将使用Moku:Go的锁定放大器、数字滤波器、频谱分析仪和集成电源来设计和优化AM无线电接收器。调幅(AM)无线电，虽然在很大程度上被调频(FM)无线电所取代，但它仍然是通过无线电波传输信息中非常有用的一种方法。本实验设计并实现一个调幅无线电接收器。可以学习到如何找到本地AM无线电频率，并使用锁定放大器实现无线电接收器。图1显示了使用频谱分析仪在澳大利亚堪培拉接收到的AM无线电信号。图1 堪培拉地区频谱分析仪的例子 扫码查看产品详情二． 背景2.1 调幅广播在调幅收音机中，信号的振幅是经过调制的；与调幅收音机相比，调频收音机的信号频率是经过调制的。这种差异可以从图2中看出，在调幅调制波形中，波的振幅明显变化，而在调频调制波形中，正弦波的频率随时间变化。两种类型的无线电传输都有优点和缺点。商业调幅广播电台工作在535kHz至1605kHz的范围内，因此与调频广播相比，其覆盖范围通常更大在88-108 MHz范围，但它更容易受到噪声的影响，与基于音乐的广播节目相比，更适合谈话广播。图2 使用Moku:Go上的波形发生器的调幅波形和调频波形示例。 AM收音机通过使用正弦载波工作，该载波由消息信号(音频信号)调制；正在发送的信息就是这个音频。在这种类型的调制中，载波的振幅被信息信号被改变(因此称为AM)。特定无线电台的调制信号在频域中可以清楚地被视为尖峰(例如图1)，尽管在时域中通常很难看到。Moku:Go的FIR滤波器生成器可以帮助我们在无线电台周围设置一个窄带通滤波器，去除电台以外的几乎所有信号。图3给出了一个例子，FIR滤波器生成器挑选出一个大约600 kHz的AM无线电台。蓝色轨迹中可以清楚地看到用语音信号调制的AM载波。红色的轨迹(天线输入)表明，如果没有窄带通，就不可能接收这个或任何其他电台；事实上，该信号完全由截图所在办公室的可调光LED照明的~25 kHz开关控制。 图3 FIR滤波器生成器将AM广播电台(蓝色轨迹)与背景信号(红色)隔离开来。 为了接收和收听消息信号，无线电接收器需要接收特定的AM无线电频率并对其进行解调，以从消息信号中分离出载波信号。简单AM无线电接收器的框图如图4所示。图4 调幅无线电接收器框图接收器通过使用无线电天线检测无线电波来工作；然而，这种信号通常相对较弱，因此需要一个RF放大器来增强信号，以便进一步处理。由于天线将捕捉所有可能的频率，因此需要一个调谐器来找到所需的特定频率。 图5 LC电路原理图示例 2.2 模拟解调模拟解调调谐器通常由一个LC(电感电容)电路组成，如图5所示。根据所用的电感和电容，电路将在特定频率下谐振。高于和低于该谐振频率的所有其他频率将被阻挡。消息信号可以被整流为仅给出DC信号，并通过二极管和旁路电容器从载波中解调。该信息信号然后可以被放大并发送到扬声器、耳机等。2.3 锁定放大器锁定放大器是一种功能强大的器件，可以从噪声背景中分离出调制信号，在我们的情况下，是从一系列信号中分离出特定的AM信号。这意味着锁定放大器可以作为无线电接收器，因为它包含无线电接收器的几个关键部件。Moku:Go的锁定放大器能够通过使用相敏检波器(PSD)解调调制信号，例如无线电波。它使用与载波信号频率相同的正弦参考信号。它可以跟踪参考信号的任何变化，因此能够跟踪频率漂移。PSD将两个信号相乘或“混合”在一起，产生两个信号的和项和差项。所需频率和参考信号由相同的频率组成，因此频率之间的差异为零。因此，所需的无线电波信号被设置为DC。混合信号然后通过低通滤波器发送，该低通滤波器去除调制信号的交流分量。这仅留下与信号幅度成比例的DC信号，在这里，信号然后可以使用直流放大器放大。输出幅度可以从通过混频器和低通滤波器发送的信号中找到。这些可以在直角坐标或极坐标中找到。振幅R可以通过坐标之间的转换得到，其中 。对于AM信号，只需要振幅或R(在极坐标中)；信号的相位可以忽略。三． 实验前练习找到并详细列出你所在地区的AM电台列表。你觉得什么信号会最强？为什么？实验装置成分：○ Moku:Go [2x]○ 天线○ 扬声器○ 低噪声放大器(可选)1○ 鳄鱼夹○ 实验室程序3.1 第一部分确保您拥有最新版本的在地址：Moku: desktop app2将磁性电源适配器插入每个Moku:去等待前面的LED变成绿色。这些最初的步骤将解决Moku:Go #1的配置问题。将天线连接到Moku:Go的输入1，如图6和图7所示。图6 第一部分照片Moku:去设置 1、常用的30分贝LNA。如需完整的物料清单，请联系我们。2、Moku:Go可以通过三种不同的方式连接到笔记本电脑:以太网、USB-C和Wi-Fi。请参考Moku:Go Quick StartGuide 如何连接你的Moku:去你的电脑。一旦连接，Moku:Go将出现在Windows或MacOS应用程序的设备选择屏幕上。图7 Moku：go:设置第1部分 双击频谱分析仪。找到调幅范围，并随意平均频谱，以改善图表。找到最主要的调幅无线电信号频率，你可以通过添加一个跟踪光标来完成。信号应在小于2 MHz的范围内。频谱分析仪和设置配置的示例如图8所示。 图8 如何配置频谱分析仪 ○ 将您的扬声器连接到Moku:Go #1的输出1。○ 返回仪器选择屏幕，双击锁定放大器。打开示波器部分，确保可以看到A和b。○ 将探针A添加到输入1(天线)○ 将探头B添加到输出1(扬声器)在图9中可以看到锁定放大器仪器页面的一个例子。 图9 锁定放大器解调AM广播电台的示例。上面(红色)的轨迹是天线信号，下面(蓝色)的轨迹是音频。 改变本地振荡器到你最主要的调幅信号的频率。首先将低通滤波器设置为12kHz。根据需要改变极性和增益。您可能需要改变低通滤波器和增益，以改善信号并产生尽可能清晰的声音。小心不要让信号饱和。图10给出了堪培拉地区各种变量的设置示例。 图10 堪培拉地区锁定放大器设置示例。 3.2 第二部分在第2部分中，我们将使用第二个Moku:Go作为数字滤波器来进一步增强接收到的无线电信号。将扬声器连接电缆移至Moku:Go #2的输出2。将一根电缆从Moku:Go #1的输出1连接到Moku:Go #2的输入2。这种设置可以在图11和图12中看到。 图11 Moku的照片:去设置第2部分 图12 Moku：go:设置第2部分 返回主屏幕，双击Moku:Go #2的图标。双击数字滤波器框。数字滤波器盒界面如图13所示。 图13 数字滤波器盒用户界面 将探针A添加到输入2，将探针B添加到输出2。首先，将滤波器改为贝塞尔带通滤波器，并根据需要改变增益。改变频率，仅隔离信息信号，即音乐或声音，从而尝试去除低频噪音。试着瞄准音乐和声音产生的频率。图14给出了堪培拉地区的数字滤波器盒变量。 图14 堪培拉地区的数字滤波器盒示例 3.2 第3部分将低噪声放大器连接在天线和Moku:Go #1的输入1之间。为低噪声放大器供电，将鳄鱼夹连接到电源连接和Moku:Go #1的背面。设置如图15所示。图15 Moku的框图:设置第3部分 确保它连接到PPSU2或类似的12 V电源。单击 打开电源，并将电压设置为12 V。电源弹出窗口可能如图16所示。 图16 PPSU的例子 根据需要改变数字滤波器盒和锁定放大器的变量，以产生尽可能清晰的信号。尝试改变你所在区域的其他AM信号，你能通过改变锁定放大器和数字滤波器盒中的变量来优化你的音质吗？3.3.1 摘要本实验探索在Moku:Go上使用锁定放大器作为AM无线电接收器。锁定放大器是一个强大的工具，帮助学生了解如何从嘈杂的背景中解调信号。此外，学生还能够学习如何利用许多其他工具进一步提高信号清晰度。在Moku: App中，通过截屏或文件共享可以轻松发布和报告结果。您可以通过点击屏幕顶部的云图标来完成此操作。Moku的好处:Go面向教育工作者和实验室助理有效利用实验室空间和时间易于实现一致的仪器配置专注于电子设备而非仪器设置最大限度地利用实验室助教的时间个人实验室，个人学习通过屏幕截图简化评估和评级对于学生来说各个实验室按照自己的节奏加强理解和保留便携式，选择实验室工作的速度、地点和时间，无论是在家里、在校园实验室，甚至是在熟悉的Windows或macOS笔记本电脑环境中进行远程协作，同时使用专业级仪器。3.3.2 Moku:Go演示模式您可以在Liquid Instruments网站下载适用于macOS和Windows的Moku:Go应用程序。演示模式操作不需要任何硬件，并提供了使用Moku:Go的一个很好的概述。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是目前国内知名光电产品专业代理商，也是近年来发展迅速的光电产品代理企业。除了拥有一批专业技术销售工程师之外，还有拥有一支强大技术支持队伍。我们的技术支持团队可以为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等工作。秉承诚信、高效、创新、共赢的核心价值观，昊量光电坚持以诚信为基石，凭借高效的运营机制和勇于创新的探索精神为我们的客户与与合作伙伴不断创造价值，实现各方共赢！

中国食品药品检定研究院2015年专项仪器购置项目第一批配套资金已经落实，并且开始进行招标。据悉，该项目拟采购70套分析仪器，其中包括6套PCR、5套气相色谱、10套液相色谱、4套质谱等，采购预算共计4468.4万元。据招标公告显示，本次采购产品全部允许进口产品投标。项目基本信息如下：　　一、项目编号：15CNIC-025701-13　　二、项目名称：中国食品药品检定研究院2015年专项仪器购置项目第一批　　三、招标内容：包号品目采购设备品目分项控制预算（元）数量(台/套)是否接受进口产品投标0101基因扩增仪13000001接受02基因扩增仪103微滴式数字PCR10201荧光定量基因扩增仪13500001接受02荧光定量基因扩增仪103荧光定量基因扩增仪10301倒置荧光显微镜8000001接受02荧光显微镜10401水份测定仪9440001接受02水份测定仪103水份测定仪104纯水仪10501流式细胞分选仪29300001接受02流式细胞仪10601气相色谱仪10400002接受0701气相色谱仪1080000102气相色谱仪20801液相色谱仪17500001接受02液相色谱仪103液相色谱仪104液相色谱仪配件105液相色谱仪配件10901液相色谱仪12600001接受02液相色谱仪11001液相色谱仪19800001接受02液相色谱仪41101高速离心机15000001接受02生物安全型高速冷冻离心机103超速冷冻离心机11201厌氧培养箱4500001接受02人工气候箱103真空干燥箱11301自动移液工作站5700001接受02电动移液工作站11401紫外可见分光光度计3500001接受02超微量分光光度计21501荧光化学发光分析仪10200001接受02微孔板型发光检测仪11601飞行时间质谱仪23000001接受1701高分辨磁式气质联用仪40000001接受1801复合型串联质谱仪28200001接受1901液质联用仪25000001接受2001高通量流式液流循环系统9800001接受2101小动物活体成像仪17000001接受2201血管支架测试仪20600001接受02凝胶成像分析系统12301离子色谱仪10200001接受02凝胶电泳系统12401脉冲电泳仪10700001接受02生物分子成像仪12501三重四级杆气相色谱质谱联用仪18500001接受02样品破碎系统12601冻干机9000001接受02喷雾干燥仪12701真菌毒素浓缩器10200001接受02水分灰分分析仪103血液分析仪12801红外光谱分析仪7700001接受02气流分析仪103主动模拟肺12901病理冷冻切片染色封片系统12700001接受02细胞分选仪13001多点接种仪7300001接受02菌落计数器103薄层色谱点样仪13101全自动微孔板包被洗板系统8700001接受02流感血凝素含量扫描分析系统103原子吸收分光光度计13201全自动旋光仪5000001接受02γ能谱仪1　　简要技术参数：包号品目号采购设备品目简要技术参数0101基因扩增仪最大升降温速率：4℃/秒02基因扩增仪温度梯度精确性:± 0.2℃；03微滴式数字PCR能对DNA与RNA分子（无需进行逆转录）进行直接的绝对定量。适用于Taqman探针方法进行数字PCR检测，并且支持染料法Evagreen油包水数字PCR检测，无需Rox校正；0201荧光定量基因扩增仪运行时间：支持快速模式，快速模式完成一个PCR反应小于35分钟。02荧光定量基因扩增仪升降温速率：5.0℃/秒以上03荧光定量基因扩增仪温度准确性≤0.2℃0301倒置荧光显微镜显微镜整个为U型光路设计，方便连接各种光学配件。提供两个底部分光端口，CCD接口：左侧分光端口：100%的光分出，右侧分光端口：100%的光分出02荧光显微镜光学系统：无限远校正光学系统，反差色差双重校正系统，保证显微图像的真实性；0401水份测定仪最大滴定速度不小于2.24mg/min02水份测定仪检测极限:0.1ug03水份测定仪可运行温度梯度并找出最佳分析温度04纯水仪颗粒(＞0.22μm)＜1p/ml0501流式细胞分选仪检测参数：7色荧光和前向散射光、侧向散射光，其中488nm激光配5个荧光探测器，633nm激光配2个荧光探测器。02流式细胞仪荧光检测灵敏须达到：FITC＜100MESF，PE＜30MESF0601气相色谱仪具备一个进样口支持液体和顶空进样两种方式，无需硬件拆卸0701气相色谱仪升温速率：不小于± 250℃/min02气相色谱仪保留时间重现性： 0.0008min p=" " 0801液相色谱仪流速精密度： 0.070%rsd p=" " 02液相色谱仪流速准确度：± 1%或10μL/min03液相色谱仪进样精度： 0.25%RSD04液相色谱仪配件洗脱液流速范围：0.2–5.0mL/min05液相色谱仪配件池体积：≥6uL，最大程度减小由于扩散导致的峰形拖尾，或者分离度的下降。0901液相色谱仪进样精度：≤0.5%RSD02液相色谱仪进样精度： 0.3%rsd p=" " 1001液相色谱仪流速精密度： 0.05%RSD（1ml/min）02液相色谱仪最高操作压力不小于600bar1101高速离心机最大离心力≥65000× g02生物安全型高速冷冻离心机最大容量6× 1000ml转速控制精度≤10rpm微机控制03超速冷冻离心机最大离心力：800,000g1201厌氧培养箱控制精度≤0.3° C02人工气候箱加热制冷方式：半导体加热制冷03真空干燥箱加热方式：隔板加热，每块隔板具有独立的温度传感器1301自动移液工作站加样通道数量至少2个，且无需更换不同量程的移液枪02电动移液工作站用量程范围在10-300ul时，精度为± 2%、精确度≤1.5%或0.75ul，最小增量为0.5ul1401紫外可见分光光度计检测样品量:0.3–2.5μl02超微量分光光度计检测下限：2ng/ul(dsDNA) 检测上限：15,000ng/ul（dsDNA）1501荧光化学发光分析仪荧光激发光源≥2个，光源类型为高能LED光源，光源寿命≥20000小时。02微孔板型发光检测仪线性范围： 9个数量级1601飞行时间质谱仪微生物数据库包括超过2200种微生物（均需经过CFDA认证），不少于360个属，大于5600个菌株，至少10万张蛋白指纹图谱；1701高分辨磁式气质联用仪无需人工参与，即可实现液体和顶空进样针的自动切换功能1801复合型串联质谱仪电喷雾离子源ESI（重复5次进样CV 3%，低中高三种流速方式不分流200 120:1（不设噪音预值条件下测得）1901液质联用仪正、负离子采集切换速率 20ms，一次进样完成正、负离子的同时定量分析2001高通量流式液流循环系统液流动力系统：具备完整的液流驱动动力系统，可执行提供空气压力和真空状态；为高速流式分选提供高通量液流，使得分析速度最大可达10万个细胞/秒，分选速度最大可达7万个细胞/秒。2101小动物活体成像仪采用背照射、背部薄化的科学一级CCD，CCD采用电制冷方式，工作温度可达到绝对-90℃，温度可视化；2201血管支架测试仪有效工作频率大于40赫兹，即满载运行时所有模拟血管径向应变范围大于5%02凝胶成像分析系统信噪比：≥56dB2301离子色谱仪梯度产生方式：四元梯度02凝胶电泳系统半干电泳体系，采用缓冲液条替代大量的缓冲液，也有缓冲液槽用于传统的缓冲体系2401脉冲电泳仪分离范围：100bp-10MB；最佳线性分离范围：50kb-700kb。02生物分子成像仪芯片分辨率不小于8.3M像素2501三重四级杆气相色谱质谱联用仪温度稳定性:＜0.01?C/1?C环境变化02样品破碎系统频率：3–30Hz(180–1800次震动/分钟)，以1Hz递进2601冻干机不低于双3/4hp的无氟制冷系统，可使冷阱温度低至-84℃02喷雾干燥仪最大空气流量：35－40m3/h2701真菌毒素浓缩器真空泵：电压220V；发动机?HP；噪音: 70dB；最大压力4-4.5Bar,最高真空度可达-85kPa,空载流量可达1.5M3/h02水分灰分分析仪一体化设计，含内置天平、加热装置（含坩埚）03血液分析仪量检测网织红细胞：可全自动定量检测网织红细胞，并可进行质控2801红外光谱分析仪波长测量范围:900-1700nm02气流分析仪高流量：量程-200~+300.0L/min；精度± 2%或± 0.075L/min；分辨率0.001lpm03主动模拟肺气道压力：不确定度 1%2901病理冷冻切片染色封片系统紫外线表面消毒：可在任何时间和任何温度下进行02细胞分选仪一次分选最多可支持样品细胞数1093001多点接种仪一步式清洗，马达驱动接种针移动，提供敏感和可重复性控制。具有强力清洗功能：采用无污染的清洁系统，无需外加特别的清洁系统或方法就可以有效地除去难以清除的革兰氏阳性芽孢。02菌落计数器菌落计数时间：≦1秒/平皿03薄层色谱点样仪点样重现性：RSD优于1.0%3101全自动微孔板包被洗板系统配备96道洗针头及384洗针头，96洗板头兼容96孔和384孔板；384洗板头同时清洗384孔板的所有孔02流感血凝素含量扫描分析系统设备具有自动检测疫苗血凝素单向免疫扩散试验结果的功能03原子吸收分光光度计波长范围175-900nm3201全自动旋光仪准确度：全量程旋光度优于0.002° 02γ能谱仪测量波长：不少于三波长,436nm,546nm,589nm（可扩展不少于8个波长）　　交货地点：买方指定地点。　　交货期:2015年11月至2016年6月(具体时间由买方提前通知)。　　具体产品技术参数见招标文件第七部分。　　本项目按包公布分项控制预算。若投标人报价高于此分项控制预算，其投标将被作为无效投标处理。　　四、投标人资质要求：　　1.依照《中华人民共和国政府采购法》相关要求，投标人参加本次采购活动应当具备下列条件 　　a)　具有独立承担民事责任的能力 　　b)　具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度 　　c)　具有履行合同所必需的设备和专业技术能力 　　d)　有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录 　　e)　参加招投标活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录 　　2.投标人应具有投标产品制造厂商或合法经销商(提供制造厂商授权)针对本项目出具的授权书(第1～5、7～15、22～32包适用) 　　3.投标人应具有投标产品制造商针对所投产品型号的唯一授权书(第6、16～21包适用) 　　4.投标人应具有投标产品制造厂商或经制造厂商授权具有服务能力的经销商针对本项目提供的售后服务承诺。　　五、招标文件发售时间、地点和办法：　　1.本项目招标文件采用网上审批下载方式发放，不向投标人提供纸质招标文件。　　2.有意向的投标人应先在CNIC招标文件发售系统http://bid.kclh.cn:8010/home/index.aspx免费注册，注册完成后凭登陆账号浏览招标公告。如需购买，按照网上操作流程进行购买。技术支持电话：010-88316651、88316654、88316072。　　3.选择网银或电汇(不接受个人汇款)支付方式购买招标文件的投标人在标书款支付成功后，即可下载招标文件 选择现金、支票方式购买招标文件的投标人须前往北京市西城区西直门外大街6号中仪大厦620室现场交款，完成交款手续后，即可下载招标文件。工作时间(支付方式：现金、支票)：每天(周六、日及法定节假日除外)上午9：00-11：00、下午2：00-4：00。招标文件发售联系人：周子涵、潘百慧、苏红 电话：010-88316651、88316654、88316072。完成上述现场交款手续的投标人随后需登陆CNIC招标文件发售系统http://bid.kclh.cn:8010/home/index.aspx，在网上下载招标文件。标书款发票在开标时领取。　　4.本项目每包招标文件售价为800元，售后不退。　　5.招标文件发售时间：2015年6月8日至2015年6月19日。　　六、接受投标时间、投标截止时间及开标时间：　　1.接受投标时间：2015年6月30日上午9：00前(北京时间)。　　2.投标截止时间：2015年6月30日上午9：00整(北京时间)。逾期或未按招标文件规定进行封装的投标文件将不被接受。　　3.开标时间：2015年6月30日上午9：00整(北京时间)。　　七、投标地点及开标地点：　　北京市西城区西直门外大街6号中仪大厦十层第一会议室(如有变动，另行通知)。届时欢迎投标企业的法定代表人或其授权的投标人代表出席项目开标会议。　　八、招标公告发布媒介：中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn) 　　九、其他要求：　　1.本次招标、投标、评标和合同授予均以包为单位，投标人必须就整个包进行响应，不完整的投标将被拒绝。　　2.本次招标不接受联合体投标。　　3.本次招标不接受备选方案及选择性投标。　　4.投标人购买招标文件后不参加投标的，请早于开标前5个日历日以书面形式通知招标代理机构。若该项目因不足三家而导致废标，未予书面通知的单位将被取消重新参加该项目投标的资格。　　5.本项目招标文件解释权归中国仪器进出口(集团)公司所有。　　九、采购人信息　　地址：天坛西里2号　电话：010-67095991　　十、招标代理机构信息　　公司地址：北京市西直门外大街6号，中仪大厦620室　邮政编码：100044　　联系人：潘百慧、周子涵、苏红　　电　　话：010-88316654、88316651、88316072　　传　　真：010-88316655　　开户银行及账号：　　开户银行：中国银行股份有限公司北京西城支行　　行号：104100004499　帐号：335057595948

作为“破案高手”的手机互联型红外热像仪，不仅能清晰地显示物体的红外热图，并能实现快速的数字视频传输，操作方式更具人性化和智能化，具备非常强的作业机动性，适合在测温目标分布广泛的野外、大型建筑等场合进行热像拍摄、温度测量与分析。那么，什么是手机热像仪？工作原理是怎么样的？作用有哪些？又是如何赋能专业人士及相关领域的？本文对这些问题一一解答，以飨读者。红外辐射在物理学中，凡是高于绝对零度(0K，即-273.15℃)的物质都可以产生红外线(以及其他类型的电磁波)，现代物理学称之为黑体辐射(热辐射)红外谱段波长在0.76-1000μm之间，其中0.76-3.0μm为反射红外波段，3-18μm为发射红外波段。中红外、远红外和超远红外是产生热感的原因，所以又称热红外。手机热像仪手机热像仪是一种将红外探测与图像融合的技术，通过手机镜头捕捉物体发出的红外辐射能量并转换为视频信号。然后由软件系统对这些数据进行分析，再利用图像处理软件将这些信息还原成肉眼所见的图像。工作原理使用光电设备来检测和测量辐射并在辐射与表面温度之间建立相互联系。所有高于绝对零度(-273°C)的物体都会发出红外辐射。热像仪利用红外探测器和光学成像物镜接受被测目标的红外辐射能量分布图形，反映到红外探测器的光敏元件上，从而获得红外热像图，这种热像图与物体表面的热分布场相对应。热像仪分类按探测原理分：光子探测型（利用光子在半导体材料上产生的电效应进行成像）和热探测型（利用探测元件吸收入射的红外辐射能量而引起温升进行成像）按工作温度分：制冷式（探测器中集成了一个低温制冷器给探测器降温）和非制冷式（不需要低温制冷，采用的探测器通常是以微测辐射热计为基础）按运动方式分：机械扫描型（一维的线状分布的焦平面，在这些焦平面上的感光器件成像）和凝视成像型（二维的平面分布的焦平面，让焦平面上的感光元器件发生光电反应成像）按是否测温分：测温型（可以直接从热图像上读出物体表面任意点的温度数值，有效距离较短）和非测温型（只能观察到物体表面热辐射的差异，有效距离比较长）仪器特点• 非接触测量设备，可以使设备本身的温度场不受干扰。• 所显示出的图像非常直观，能帮助快速找出发热的问题所在。• 成像的反应速度较快，通常不超过1秒，效率较高。• 检测隐蔽性很好，而且能够实现非接触的检测不识别，还不受电磁干扰，能近距离跟踪热目标。局限因素• 红外热成像仪靠温度的差别来成像，如果所测物体的温差不是很大的话，那么成像的对比度会比较低，分辨细节能力变差。• 有一定的穿透性，但穿透性不强，无法透过墙体，也无法对玻璃等透明障碍物后面物体的温度进行探测。检测方法和依据表面温度判断法：参考GB763-90《交流高压电器在长期工作时的发热》的有关规定A 危急热缺陷(Ⅰ):电气设备表面温度超过90°C，或温升超过75°C或相对温差(温差)超过55°CB 严重热缺陷(ll):电气设备表面温度超过75°C，或温升超过65°C或相对温差(温差)超过50°C。C 一般热缺陷(lll):电气设备表面温度超过60°C，或温升超过30°C或相对温差(温差)超过25°C。D 热隐患(W):电气设备表面温度超过50°C，或相对温差《温差)超过20°C。相对温差判断法A 温差:用同一检测仪器相继测得的不同被测物或同一被测物不同部位之间的温度差。B 相对温差:两个相应测点之间的温差与其中较热点的温升之比的百分数。设备管理• 危急缺陷:设备发生了直接威胁安全运行并需立即处理的缺陷。• 严重缺陷:对人身或设备有严重威胁，暂时尚能坚持运行但需进行处理的缺陷。• 一般缺陷:指性质一般，情况较轻，对安全运行影响不大，可列入月度计划检修处理的缺陷。• 热隐患:视现场情况跟踪监视或安排处理。• 电流致热的设备测量温升小于10°C时，只记录在案，不必确定故障性质。

一直以来由于红外热成像仪可以将肉眼不可见的物体表面温度变成能直接看到的热图像所以，红外热像仪广泛应用于电子或机械设备等潜伏性热隐患的检测那么，红外热像仪的镜头藏着什么奥秘？是如何将温度转换成热图像的呢？下面，小菲带你来揭秘~红外热像仪镜头是由锗类等物质或其他在红外光谱中吸收率和反射率低的材料制成的。但是为什么要使用这些特殊的成分而不是像玻璃这样更普通的物质呢？红外热像仪的工作方式与普通可见光相机不同。普通相机的功能或多或少与人眼相同，接收可见光谱中的辐射并将其转换为图像。但是，红外热像仪是利用热量（即红外线或热辐射）而不是可见光拍摄图像。红外辐射的表现与可见光差别较大。所以，红外热像仪的镜头需要用不同于普通相机的材料制成。在可见光世界中，一种特定材料的性质可能与它在红外世界中的性质无关。例如，玻璃在可见光谱中对辐射极为透明，但在红外世界中，长波红外（8-14uM），玻璃是完全不透明的：反之亦然， 锗是一种类似于硅的半金属元素，在可见光世界中是完全不透明的：但是在红外世界中却是透射率很高的物质：正因如此，FLIR红外热像仪的镜头是由锗或其他在红外光谱中是近乎透明的材料制成的。为了方便将热辐射转变成热图像所以红外热像仪的镜头是由锗类物质构成

世界最小的红外触发测头海克斯康M&h IRP40.50　　小型-精密-优质，为紧凑空间提供　　应医疗技术、电子、牙科行业及其他领域的需求，越来越多的制造商开始应用迷你型加工中心，用于加工具有复杂几何形状和微小形位公差的复杂工件。但是，在机床加工过程中，囿于机床Z轴和刀具库的空间太小而无法安装机床触发测头，导致这些微小零部件的在机测量往往无法实施。直径仅为25mm和长度仅为44.2mm(不含刀柄和测针)的IRP40.50红外触发测头，适用于任何小型加工中心，它为机床Z轴方向留下了充足的安全空间，该款测头不仅仅具有高精度优势，还充分考虑到微小特征所能承受的低触测力局限，其触发力仅为0.7N(XY)。　　HDR(高数据速率)红外线传输　　即使是小小的IRP40.50，也采用了已被实践证明的HDR红外传输技术。该技术确保屏蔽干扰信号，只处理本系统内的信号，由此保证了可靠快速的红外传输。　　可靠的激活　　M&h IPR40.50凭借测头与接收器之间的双向信号激活，该过程采用单独的信号代码，就像机械方式一样的安全。同时，也能确保测头在被储存到刀具库时能够及时关闭。　　经济节能型　　IPR40.50迷你测头采用了m&h新开发的电子技术，这使得IPR 40.50具有更低的能耗，电池更换的时间延长，这不但减少了维护工作量，还节省电池费用，在降低用户费用的同时还保护了我们的地球环境。

简仁山 作　　“五一”节前，南方日报记者走访广州部分超市，发现不少“绿色食品”、“无公害农产品”销售火爆。这些经过认证的农产品价格相比普通农产品贵上一倍。记者随机购买了一些“无公害农产品”，呈送第三方检测机构进行检测，不料遭遇推托。　　购买送检过程全公证　　记者在广州市华润万家天河公园店观察到，散装销售的西兰花每公斤7元，番茄每公斤9元，而透明袋包装的“无公害”西兰花每公斤19元，“无公害”番茄每公斤18元。尽管价格高出一倍，在专柜购买“无公害”标示农产品的市民仍络绎不绝。　　日前，南方日报记者在华润万家五羊新城店选取了部分标有“无公害农产品”标示的农产品，呈送第三方检测机构进行检测。南方公证处人员对采购、送检过程进行全程公证。记者将购买到的样品送至广州京诚检测技术有限公司，委托其检测产品是否符合无公害食品标准。这批样品主要包括东升牌青圆椒、油麦菜、生菜、绿色荷豆及圣迪乐村牌鸡蛋等。　　东升牌4种蔬菜包装上均有“无公害农产品”的标识。圣迪乐村牌鸡蛋的包装上注明“绿色食品级安全绿色蛋”。京诚检测人员表示，将依据相关标准对样品进行乐果、敌敌畏、氯氰菊酯、氰戊菊酯等农药残留成分以及铅、镉、汞、铬、无机砷等重金属成分的检测。　　送检物重金属未超标　　在该检测机构一周后出具的检验报告显示，虽然所有产品都合格，但4种蔬菜样品均检测出铅、镉、铬等重金属成分，但均在相关标准允许范围内。　　“在现实自然环境和技术条件下，要生产出完全不受有害物质污染的商品蔬菜很难。无公害蔬菜实际上是指将蔬菜中某些有害物质控制在标准允许的范围内。”京诚检测人员向记者表示，送检蔬菜样品并不违反“无公害农产品”的标准。　　官方机构不接受个人送检　　记者此次送检过程可谓一波三折。起初，记者联系了广东省和广州市多个职能部门下属的官方检测机构，但相关机构都表示，其只接受政府部门的委托检测，不接个人业务。　　记者又联系部分外资、本土的第三方检测机构，其中一家机构表示可以接单。谁料第二天当记者再度联系该机构时，其业务人员又声称，刚刚请示该机构领导，由于“最近业务比较繁忙”，无法接单。　　“很多送检产品的生产企业是大客户，搞不好会惹来麻烦，影响未来的合作。”广东国家级检测中心有关负责人私下透露说，在去年底发生个人送检白酒塑化剂事件后，检测机构行业就形成了默契，不接受个人送检，尤其是食品类敏感产品的个人送检业务。　　5种样品检测费5000元　　如果消费者想要证明最终检测报告是某公司的产品，还需要对购买、送检过程进行公证。多家公证机构表示不受理以个人名义的委托公证业务。最终，记者只能以报社“非企业法人”的名义进行公证，并提供报社营业执照和法人代表的身份证明等一系列文件。　　相关费用也不便宜。记者此次送检5种样品合计价格约200多元，但每个样品的重金属成分检测费就要120元，农药残留成分检测费用则为每项200元，合计费用约5000元左右，而公证费1500元左右。　　检测门槛和成本过高，是导致民众维权处于被动的重要原因。据广州京诚检测技术有限公司相关负责人介绍，其收费标准在行业内尚处于中下游水平。　　小贴士　　认证农产品哪种更安全　　据调查，目前广州市面上销售的认证农产品主要为“无公害农产品”、“绿色食品”、“有机食品”3种。　　“无公害农产品”是指产地环境和生产过程符合国家相关标准，有毒有害物质残留量控制在安全质量允许范围内，安全质量指标符合《无公害农产品(食品)标准》的产品。　　“绿色食品”是指该产品拥有经过中国绿色食品发展中心的“绿色食品”质量证明商标。绿色食品在生产过程中允许使用农药和化肥，但对化学物质成分和用量的规定通常比无公害标准严格。　　“有机食品”指根据国际有机农业生产要求和相应的标准生产加工的、并通过独立的有机食品认证机构认证的农副产品。其要求有机蔬菜在其生产加工过程中绝对禁止使用农药、化肥、除草剂、合成色素、激素等人工合成物质。

四川双利合谱科技有限公司是一家集光学、精密机械、电子、计算机技术于一体的高科技企业，由北京卓立汉光仪器有限公司和合利科技发展有限公司共同合资成立。结合双方近10年在推扫式高光谱系统以及LCTF(可调液晶滤光片)高光谱系统的国际领先技术实力，为广大客户提供全面的高光谱系统解决方案。目前国内已经成功在农业遥感、工业分选、刑侦物证鉴定、机载、考古、食品检测等领域处于高光谱应用的领先地位。在庆祝双利合谱公司成立三周年之际，为了让来自不同领域的学者能更好地了解和应用高光谱技术，双利合谱即日起开始着手接收客户的高光谱测试服务。 目前双利合谱主要接收高光谱测试服务的产品有显微高光谱成像（400-1000nm）、室内暗箱高光谱成像（400-1000nm、900-1700nm、1000-2500nm）、户外便携式高光谱成像（400-1000nm、900-1700nm）、户外无人机高光谱成像（400-1000nm）。详情请联系我们的销售人员！

p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "【作者按】形貌衬度、Z衬度、晶粒取向衬度、二次电子衬度、边缘效应、电位衬度等是形成扫描电镜表面形貌像的几个重要衬度信息。对这些衬度信息的接收离不开探头。本文将就扫描电镜两种主要探头的构造、工作原理及其接收的样品信息进行详细探讨。/span/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-size: 18px color: rgb(0, 176, 240) "一、二次电子探头/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "目前教科书的观点认为：二次电子探头接收的样品表面信息主要是二次电子。真实情况是否如此呢？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong1.1二次电子图像所拥有的特性/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "A) 二次电子能量很低（低于50ev），从样品表面溢出的深度浅，在样品中的扩散范围小。适合用于表现样品表面形貌像的极细小细节（小于10nm）。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/3edeb286-6abb-4bf7-8b3a-008c9ab1551f.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "B)二次电子能量低，在样品表面的溢出量容易受到静电场（荷电）的影响，出现图像局部或全部异常变亮、磨平、变暗并伴随图像畸变的现象，即样品图像的荷电现象。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/fb564107-ab21-4b67-9812-18699dec50be.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "C)二次电子的产额受平面斜率影响较大，边缘处产额最高，形成所谓的二次电子衬度及边缘效应。这些衬度信息会形成信息的假象，也有助于分辨某些特殊的样品信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 0em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/51c0d3a0-49ba-412e-96ee-f789a068425d.jpg" title="3.png" alt="3.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "D) 二次电子图像的Z衬度一般表现较差。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/9d2c7e97-f6a9-4de1-b054-9b8e5101f0f5.jpg" title="4.png" alt="4.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong1.2二次电子探头的组成及工作原理/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子能量弱（低于50ev），要想获取二次电子信息就必须采用高灵敏探头。利用敏感度极强的荧光材料接收弱信号，再以光电倍增管对弱信号做百万倍的放大，将能量极弱的二次电子信息转化为能被电子线路处理的电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这种设计是目前解决这一难题的最佳方案。二次电子探头的基本构造正是以这个思路为基础来设计。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.1 Everhart-Thornley探测器的结构组成/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "由金属网收集极、闪烁体、光导管、光电倍增管和前置放大电路组成的探测器被称为Everhart-Thornley探测器。一直以来都是各厂家用于接收二次电子的主流探测器。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/2f6dd144-afab-427d-99c2-96f6565bc641.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.2 Everhart-Thornley探测器的工作原理/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "位于探头最前端的收集极是由金属网构成，其上加有200V的正偏压以捕获更多的二次电子。进入收集极的二次电子由加载在闪烁体金属铝膜上的10KV电压加速在闪烁体上产生一定数量的光子。由闪烁体产生的光子经过光导管的全反射进入光电倍增管阴极，在阴极上转换成电子。这些电子由打拿极的不断倍增，经阳极输出高增益低噪音的电信号。该信号由紧贴阳极的前置放大器放大后，从探测器输出。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "探测器本身无法将到达探测器的高能量背散射电子从低能量的二次电子中分离，但通过改变收集极偏压可以将低能量的二次电子给阻绝在探头外面。其接收的信息特性完全取决于到达探头的信息组成，如果信息中二次电子含量大则图像偏向于二次电子的图像特性，如果背散射电子含量大则结果偏向于背散射电子的图像特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "将探头的收集极变成负偏压，则我们可以获得偏向于背散射电子的图像。但是图像信号衰减较多，图像质量较差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3二次电子探头的位置与成像特性/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高分辨场发射扫描电镜中，二次电子探头（ET探头）往往被置于仪器的两个位置：镜筒及样品仓。虽然各电镜厂家探头的具体位置有差异，但其结构是基本一致。探头位置不同，获取的图像性质差异也非常大。下面就以日立冷场电镜S-4800二次电子探头的位置设计为例来加以说明。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.3.1 S-4800二次电子探头的位置设计/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "在冷场扫描电镜S-4800中标配了两个二次电子探头。这两个探头的结构和性能完全一致，仅仅在电镜中安装的位置有所差异。一个位于样品仓，另一个位于物镜的上方。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如下图所示：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/6b4fc92d-a161-48eb-938a-cdc27b8be3a5.jpg" title="6.png" alt="6.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.3.2 上、下探头的工作过程及获取图像的特性/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3.2.1上探头接收的样品信息/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "扫描电镜EXB系统的结构是在物镜磁场（B）上方正对着上探头设计一个电场（E）。该电场的作用是将物镜磁场吸上来的背散射电子、二次电子混合信息中能量较弱的二次电子分离出来，推向上探头。这个过程如同碾米机进行米、糠分离时吹风机的作用一样。故上探头获取信息是较为纯正的二次电子。背散射电子也可以通过位于物镜内的电极板转换成二次电子被上探头接收，通过调节电极板上加载的电压来选择到达上探头的信息特性。这种间接接收的背散射电子有其一定的特点，但损耗大，大部分情况下信号量不足。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面组图为上探头接收的四种信息特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " /pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/312e9fc9-364e-47b7-aa0f-f4a6759f8a69.jpg" title="7.png" alt="7.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/6ccf7e3c-4ea6-4df7-a35f-702c3461675e.jpg" title="8.png" alt="8.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3.2.2上探头的工作过程/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高能电子束轰击样品产生各种电子信息被物镜磁场吸收送往物镜上方。工作距离越小被物镜俘获的样品电子信息越多，其中二次电子和背散射电子是呈现扫描电镜表面形貌信息的主要信号源，将被拿出来单独讨论。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子混合信息被物镜磁场送到位于物镜上方的电场，能量弱的二次电子受电场影响从混合信息中被分离出来并推送到位于物镜上方的上探头，背散射电子由于能量较强，电场对其影响较小，将穿过电场轰击位于电场上方的电极板，产生间接二次电子也会被上探头接收到，但其含量较小不是主要信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "位于物镜中的电极板通过调整加载电压来选择进入物镜的信息类型。低角度（LA）背散射电子可由电极板转换成二次电子被上探头接收，形成所谓间接的LA背散射电子像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电极板加载+50V电压，将吸收低角度的二次电子和背散射电子，抑制低角度电子信息进入镜筒（U）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电极板加载0V，将由其转化成二次电子的低角度背散射电子和低角度二次电子信息都送入镜筒。上探头接收的是各种角度二次电子和低角度背散射电子的混合信息。其混合比例将随着电极板电压的降低，背散射信息逐渐增多（U，LA0）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "-150V时，二次电子被全部压制，此时上探头接收到的是纯的低角度背散射电子所激发的二次电子信息（U，LA100）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "位于镜筒内的能量过滤器，会将二次电子以及低角度背散射电子所形成的二次电子给抑制，此时上探头或顶探头接收的是高角度背散射电子信息（U，HA）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "图像特性：Z衬度充分，其他都不足。由于高角度背散射电子产额少，对样品及束流的要求都较高。目前在束流较低的冷场扫描电镜中取消这个功能，只在束流较高的regulus8200系列冷场电镜中保留顶探头设计。但适用的样品并不多。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/54aea59e-1225-4703-a62d-324fa54bf35c.jpg" title="9.png" alt="9.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3.2.3下探头的位置及其图像特性/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 下探头位于场发射扫描电镜样品仓位置。示意图如下：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/17380253-5429-4944-af61-5caa22457c69.jpg" title="11.png" alt="11.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下探头位于样品仓中，因此也称样品仓探头。它与样品之间没有任何阻碍物，激发出来的样品信息可以不受影响的到达该探头。下探头本身不能对到达探头的背散射电子信号加以甄别，其图像特性取决于到达探头的信息特征。二次电子居多，就偏向二次电子的图像特性；背散射电子居多，则偏向于背散射电子的图像特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 样品仓探头接收的样品信息以低角度信息为主，背散射电子含量占主导。对样品信息的接收效果取决于探头与样品之间形成的固体角，样品的位置十分关键，存在一个最佳工作距离。各厂家的最佳工作距离各不相同，日立电镜是15mm。下探头位于样品的侧向，图像特性：形貌衬度好，立体感强；荷电影响小；Z衬度好；细节易受信号扩散影响，高倍清晰度不足，10纳米以下细节很难分辨。 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "不同厂家的样品仓探头位置不同，因此最佳工作距离以及探头、电子束、样品之间的夹角都会略有不同。形成的图像在空间感及高分辨能力上存在差异。样品仓真空度也是样品仓探头分辨力的主要影响因素之一。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "日立冷场扫描电镜下探头的成像实例：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/b5917c9d-9e59-41fb-82c6-4c3fd3475cab.jpg" title="12.png" alt="12.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/decfd495-8ec1-490e-b6e8-c6735f4f5ad9.jpg" title="13.png" alt="13.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3.2.4上、下探头的图像特性对比实例/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上、下探头结构一致，仅仅由于安装位置不同导致其成像特性也不一样，充分掌握这些差异将有利于你选择正确的测试条件。下面将通过几组对照图来加以阐述：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/c911ae27-5aac-4936-a791-5f3f37126870.jpg" title="14.png" alt="14.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/7388deb2-be2f-472d-9c96-52b873fb089c.jpg" title="15.png" alt="15.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/169e28be-1208-4ae4-ace5-96820e80cb8b.jpg" title="16.png" alt="16.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从以上各组对照图可以清晰看到，上探头二次电子信息特征极为强烈，而下探头偏重背散射信息。这些特点使得该两种探头获得的样品信息差异较大，各自都有适合的样品及所表现的样品信息。在各自适用的范围内对方都无可替代。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "根据个人多年的测试经验，下探头获取的样品信息虽然在10纳米细节观察上有所欠缺，但获取的信息更为充分。本着初始图像以信息量是否充分为主的原则，15mm工作距离选用下探头测试，常常被用做扫描电镜测试时的初始条件。以该条件下获取的形貌像为参考，依据样品的信息需求以及对上、下探头成像特性的正确认识，再做进一步调整。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-size: 18px color: rgb(0, 176, 240) "二、背散射电子探头/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.1背散射电子的图像特性/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高能电子束受样品原子核及核外电子云的库仑势影响，发生弹性和非弹性散射后溢出样品表面，形成样品背散射电子。其特点是：能量大（与入射电子相当），产额受样品原子序数、密度以及晶体材料的晶体结构及晶粒取向影响较大，是形成样品Z衬度和晶粒取向衬度信息的主要信号源。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子按信号溢出角分为高角度和低角度两种类型。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高角度背散射电子的Z衬度更为明显，但整体产额很低，仅在束流较大的场发射扫描电镜上配置了接收该信息的探头。探头位于镜筒中物镜的正上方（或称T），适用样品并不多。扫描电镜日常采集的主要是低角度背散射电子。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高角度背散射电子相较于低角度背散射电子，Z衬度更为明显，但其产额较低。由于该信息最佳接收位置在样品正上方，探头、样品以及入射电子束在一条线上，故空间形貌较差。低角度背散射电子Z衬度略弱，但产额大，形貌像更好。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "要充分接收低角度背散射电子信息，探头需要与样品形成一定角度。相对于高角度背散射电子，低角度背散射电子形成的图像空间感好，表面形态及细节信息较充分，但Z衬度略差，不如高角度背散射电子明显。以下是分别以二次电子和高、低角度背散射电子为主所形成的形貌像比较。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/cf857ded-2b46-4cfa-b30e-df25d2f6cbcb.jpg" title="17.png" alt="17.png"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong style="text-align: center text-indent: 0em "碳复合金颗粒的二次电子、高角度背散射电子、低角度背散射电子对照 /strongspan style="text-align: center text-indent: 0em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.2背散射电子探头的构造及工作原理/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "环形半导体背散射电子探头是最经典的背散射电子探头。该探头采用环状硅基材料做成，构造形式是半导体面垒肖特基结二极管或p-n结二极管，如下图：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/c6983a61-7f15-42c3-849e-c0b3f78c0f4f.jpg" title="18.png" alt="18.png"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong图片节选自《微分析物理及其应用》 丁泽军/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 背散射电子在硅基探测器中激发大量的电子-空穴对。同样加速电压下，电子-空穴对的产量和背散射电子强度形成一定的对应关系。并由此形成对应的电信号，经处理后在显示器形成样品的背散射电子图像（Z衬度像或晶粒取向衬度像）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 硅基材料形成电子-空穴对，需要信号激发源有一定的能量（肖特基结对5KV以下电子有大增益，P-N结对10KV电子才有大增益），能量较小的二次电子很难在该探头上产生信息，故探头形成的图像带有强烈的背散射电子图像特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "为了获取低能量的背散射电子信息，背散射电子探头改用YAG晶体或在探头上做一层薄膜如FEI的CBS，这些改变都对探头获取低能量背散射电子有利，形成的图像细节更丰富。但探头灵敏了，干扰也会增多，Z衬度也会减弱。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/a6b2de85-8984-486a-8940-122ff5311cf1.jpg" title="19.png" alt="19.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="text-indent: 2em "2.3各种探头接收背散射电子信息的结果对比/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统硅基P- N结背散射电子探头对加速电压的要求高（10KV以上），它获取的背散射电子信息不易受低能量信息的干扰。Z衬度分明，荷电影响极小，但图像的细节呆板，表面细节信息缺失严重，较高倍时图像的清晰度差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "钨灯丝扫描电镜，电子枪本征亮度差，要获得高质量形貌像所需的电子束发射亮度，加速电压必须在10KV以上。P-N结背散射电子探头正好与其互相匹配，故被广泛使用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "场发射扫描电镜本征亮度大，低加速电压下进行高分辨形貌像测试是常态，P-N结背散射电子探头与其匹配度差。而CBS和YAG探头的功能和样品仓探头比起来Z衬度优势并不明显，二次电子的接收效果又不如，个人认为完全可以用样品仓探头来完美的替代背散射电子探头。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如前所述，二次电子探头也能接收大量背散射电子。它所获取的图像性质取决于到达探头的信息组成，如果背散射电子信息居多，它就偏向背散射电子的图像特征，二次电子居多就偏向二次电子图像特征。二次电子探头适合在不同加速电压（几百伏到30KV）下获取背散射电子图像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "低加速电压有利于取得是浅表层信息；高加速电压有利于取得较深层信息。探头的适用范围越广，测试条件的选择越充分，获取的样品信息越完整。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/de1afe4f-f593-4e4e-88d0-92b7ec8a573e.jpg" title="20.png" alt="20.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射探头通过电子-空穴对的转移来传递信息，运行速度较二次电子探头（光电转换）慢很多。在进行聚焦、像散、对中操作时，图像对操作的反应滞后严重，须在慢速下调整。整个操作麻烦，精确的高倍调整更为困难。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子探头往往置于样品与物镜之间，推进推出操作麻烦且易引发探头和样品间碰撞，对探头造成损伤。对该位置的占有，也会给后期分析设备安装带来麻烦。随着能谱仪、EBSD性能的突飞猛进，背散射电子探头对成分及结构组成分析的作用大大衰减，且成本不低，信息量少，使用率低。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "个人观点：背散射探头连鸡肋都算不上，基本可以抛弃。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px "strong结束语/strong/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "探头是扫描电镜获取样品表面形貌信息的关键部件。其性能高低对形成样品高质量、高分辨的表面形貌像至关重要。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "探头主要有两大类：二次电子探头、背散射电子探头。传统的观点认为：二次电子探头主要用来接收样品的二次电子信息，背散射电子探头接收的是背散射电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "实践经验告诉我们这个观点并不正确。二次电子探头的图像性质取决于到达探头的信息组成。到达探头的信息以背散射电子信息为主则图像倾向背散射电子图像特性，二次电子信息为主则是二次电子的图像特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高分辨场发射扫描电镜常规设计有两个二次电子探头，分别位于样品仓和镜筒内部。不同位置的探头获取样品表面形貌信息的组成差异很大。镜筒内探头获取的基本都是二次电子信息，样品仓探头则是以背散射电子为主的混合信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "改变工作距离对探头获取样品信息的影响极大，工作距离越小越有利于上探头获取样品的二次电子信息，大工作距离有利于样品仓探头获取样品的混合信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "工作距离对样品仓探头接收样品信息的影响并不是越大越好，而是有一个最佳工作位置。最佳工作位置设计的越合理，你获取的样品信息也就会越丰富。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统的半导体背散射电子探头由于需要较大的激发能，故能量较弱的二次电子很难在探头上产生信号，该探头获取的背散射电子图像较为纯净。早期的硅基P-N结半导体背散射探头激发能要求较高（10KV）所以它形成的图像呆板，细节分辨差，表面信息少，但Z衬度强烈，不易受荷电影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高加速电压对充分获取样品表面信息不利，为了提高探头获取表面信息的能力，出现许多低电压背散射探头（CBS\YAG）。但个人认为：低电压背散射电子探头的成像效果不如样品仓探头来的细腻，设计合理的样品仓探头完全可以替代背散射探头的功能。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "要掌握好仪器设备，对各功能部件的充分认识是基础。希望通过本文，能和大家一起对扫描电镜的信息接收系统有个重新认识。对探头以及工作距离的正确选择必定会为你带来更为丰富的样品信息。span style="text-indent: 2em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong参考书籍：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日 span style="text-indent: 2em "华南理工出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月 span style="text-indent: 2em "中科大出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月 span style="text-indent: 2em "人民出版社 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《显微传》 章效峰 2015年10月 span style="text-indent: 2em "清华大学出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍span style="text-indent: 2em " 高敞 2013年6月/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong作者简介：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 75px height: 115px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/741ca864-f2b8-4fc3-b062-2b0d766c5a7b.jpg" title="扫描电镜的探头新解-林中清.jpg" alt="扫描电镜的探头新解-林中清.jpg" width="75" height="115" border="0" vspace="0"/林中清，87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong延伸阅读：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong/strong/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200218/522167.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问（下）——安徽大学林中清32载经验谈（5）/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200114/520618.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈（4）/span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "strong/strong/span/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191224/519513.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈（3）/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191126/517778.shtml" target="_self" style="text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜放大倍数和分辨率背后的陷阱——安徽大学林中清32载经验谈（2）/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191029/515692.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈/span/a/p

基于最先进的数字技术和最新国际无线电干扰测量接收机的技术要求，PMM公司率先推出前瞻性的快速测量接收机PMM9010F，本接收机内置多种检波器并行运行，改变以往长时间的QP、AV测试方式，智能化测量系统数十秒内可以完成测试并且生成多种格式报告。而且接收机本身内置前置放大器、限幅器、衰减器、信号源、锂电池，整机重量仅有2kg左右，极大的方便了现场测试和特殊移动式测量，接收机本身附带存储设备，随机附带操作系统，终身免费升级维护，此款接收机在行业内具有突破性的发展，打破了传统接收机的落后技术。

我们如何在25秒内完成认证级EMI传导全频段测试 &mdash &mdash 当今速度最快的认证级EMI测量接收机发布暨技术研讨会！ 这次新发布的接收机有两个主要特点：速度非常快：25秒完成扫描！（9KHz～30MHz，准峰值检波器1秒驻留时间）本底噪声非常低：低达 -30dBuV在25秒内完成9K～30MHz认证级EMI测试扫描！我们如何做到？从最初的模拟式接收机，到后来的数字式接收机。电磁兼容的EMI测试经历了质的飞跃。今天我们再次迎来跨越式的发展，第二代数字式接收机面世：FFT时域分析测量接收机&mdash &mdash 9010F！将离散傅立叶变换功能引入全数字式接收机，一次采集多点频率，信号一经采集，即被进行16次FFT分析。确保了信号分析的时效性，即我们所说的&ldquo 实时分析&rdquo ；也确保了结果的准确性。基于这台时域分析测量接收机的补充，我们可为用户提供更为完善的EMI测试解决方案。例如，一些EUT不能支持长时间满负荷运转，使用9010F组成的测试系统，您只需要不到30秒即可完成全兼容测试。9010F还可扩展频率下线至10Hz，满足军品测试的需求。此次技术研讨会，我们系统集成的团队将携带由9010F组成的测量系统到现场，来自意大利的Michele Zingarelli博士与您深入探讨测量技术原理的同时，为您做现场测试/演示。技术研讨会时间及地点安排如下： 6月11日12日14日15日 18日20日21日北京西安成都重庆 武汉长沙杭州 北京信测科技诚挚的邀请您，会议免费。请将《回执单》回传或发至邮箱。 全国服务热线：400-890-9010 传真：010-8482 9240 电邮：info@xutec.cn 网页：www.xutec.cn北京信测科技有限公司 Beijing XUTEC Technology Co.,Ltd.

用于纳米级表面形貌测量的光学显微测头李强，任冬梅，兰一兵，李华丰，万宇（航空工业北京长城计量测试技术研究所 计量与校准技术重点实验室，北京 100095）　　摘 要：为了满足纳米级表面形貌样板的高精度非接触测量需求，研制了一种高分辨力光学显微测头。以激光全息单元为光源和信号拾取器件，利用差动光斑尺寸变化探测原理，建立了微位移测量系统，结合光学显微成像系统，形成了高分辨力光学显微测头。将该测头应用于纳米三维测量机，对台阶高度样板和一维线间隔样板进行了测量实验。结果表明：该光学显微测头结合纳米三维测量机可实现纳米级表面形貌样板的可溯源测量，具有扫描速度快、测量分辨力高、结构紧凑和非接触测量等优点，对解决纳米级表面形貌测量难题具有重要实用价值。　　关键词：纳米测量；激光全息单元；位移；光学显微测头；纳米级表面形貌0　引言　　随着超精密加工技术的发展和各种微纳结构的广泛应用，纳米三坐标测量机等精密测量仪器受到了重点关注。国内外一些研究机构研究开发了纳米测量机，并开展微纳结构测量［1-4］。作为一个高精度开放型测量平台，纳米测量机可以兼容各种不同原理的接触式测头和非接触式测头［5-6］。测头作为纳米测量机的核心部件之一，在实现微纳结构几何参数的高精度测量中发挥着重要作用。原子力显微镜等高分辨力测头的出现，使得纳米测量机能够实现复杂微纳结构的高精度测量［7-8］，但由于其测量速度较慢，对测量环境要求很高，不适用于大范围快速测量。而光学测头从原理上可以提高扫描测量速度，同时作为一种非接触式测头，还可以避免损伤样品表面，因此，在微纳米表面形貌测量中有其独特优势。在光学测头研制中，激光聚焦法受到国内外研究者的青睐，德国SIOS公司生产的纳米测量机就包含一种基于光学像散原理的激光聚焦式光学测头，国内也有一些大学和研究机构开展了此方面的研究［9-11］。这些测头主要基于像散和差动光斑尺寸变化检测原理进行离焦检测［12-13］。在CD和DVD播放器系统中常用的激光全息单元已应用于微位移测量［14-15］，其在纳米测量机光学测头的研制中也具有较好的实用价值。针对纳米级表面形貌的测量需求，本文研制了一种基于激光全息单元的高分辨力光学显微测头，应用于自主研制的纳米三维测量机，可实现被测样品的快速瞄准和测量。1　激光全息单元的工作原理　　激光全息单元是由半导体激光器（LD）、全息光学元件（HOE）、光电探测器（PD）和信号处理电路集成的一个元件，最早应用于CD和DVD播放器系统中，用来读取光盘信息并实时检测光盘的焦点误差，其工作原理如图1所示。LD发出激光束，在出射光窗口处有一个透明塑料部件，其内表面为直线条纹光栅，外表面为曲线条纹全息光栅，两组光栅相互交叉，外表面光栅用于产生焦点误差信号。LD发出的激光束在光盘表面反射回来后，经全息光栅产生的±1级衍射光，分别回到两组光电探测器P1~P5和P2~P10上。当光盘上下移动时，左右两组光电探测器上光斑面积变化相反，根据这种现象产生焦点误差信号。这种测量方式称为差动光斑尺寸变化探测，焦点误差信号可以表示为　　根据焦点误差信号，即可判断光盘离焦量。图1　激光全息单元　　根据上述原理，本文设计了高分辨力光学显微测头的激光全息测量系统。2　光学显微测头设计与实现　　光学显微测头由激光全息测量系统和光学显微成像系统两部分组成，前者用于实现被测样品微小位移的测量，后者用于对测量过程进行监测，以实现被测样品表面结构的非接触瞄准与测量。　　2.1　激光全息测量系统设计　　光学显微测头的光学系统如图2所示，其中，激光全息测量系统由激光全息单元、透镜1、分光镜1和显微物镜组成。测量时，由激光全息单元中的半导体激光器发出的光束经过透镜1变为平行光束，该光束被分光镜1反射后，通过显微物镜汇聚在被测件表面。从被测件表面反射回来的光束反向通过显微物镜，一小部分光透过分光镜1用于观察，大部分光被分光镜1反射，通过透镜1，汇聚到激光全息单元上，被全息单元内部集成的光电探测器接收。这样，就将被测样品表面瞄准点的位置信息转换为电信号。在光学显微测头设计中选用的激光全息单元为松下HUL7001，激光波长为790 nm。图2　光学显微测头光学系统示意图　　当被测样品表面位于光学显微测头的聚焦面时，反射光沿原路返回激光全息单元，全息单元内两组光电探测器接收到的光斑尺寸相等，焦点误差信号为零。当样品表面偏离显微物镜聚焦面时，由样品表面反射回来的光束传播路径会发生变化，进入激光全息单元的反射光在两组光电探测器上的分布随之发生变化，引起激光全息单元焦点误差信号的变化。当被测样品在显微物镜焦点以内时，焦点误差信号小于零，而当被测样品在显微物镜焦点以外时，焦点误差信号大于零。因此，利用在聚焦面附近激光全息单元输出电压与样品位移量的单调对应关系，通过测量激光全息单元的输出电压，即可求得样品的位移量。　　2.2　显微物镜参数的选择　　在激光全息测量系统中，显微物镜是一个重要的光学元件，其光学参数直接关系着光学显微测头的分辨力。首先，显微物镜的焦距直接影响测头纵向分辨力，在激光全息单元、透镜1和显微物镜之间的位置关系保持不变的情况下，对于同样的样品位移量，显微物镜的焦距越小，样品上被测点经过显微物镜和透镜1所成像的位移越大，所引起激光全息单元中光电探测器的输出信号变化量也越大，即测量系统纵向分辨力越高。另外，显微物镜的数值孔径对测头的分辨力也有影响，在光波长一定的情况下，显微物镜的数值孔径越大，其景深越小，测头纵向分辨力越高。同时，显微物镜数值孔径越大，激光束会聚的光斑越小，系统横向分辨力也越高。综合考虑测头分辨力和工作距离等因素，在光学显微测头设计中选用大恒光电GCO-2133长工作距物镜，其放大倍数为40，数值孔径为0.6，工作距离为3.33 mm。　　2.3　定焦显微测头的实现　　除激光全息测量系统外，光学显微测头还包括一个光学显微成像系统，该系统由光源、显微物镜、透镜2、透镜3、分光镜1、分光镜2和CCD相机组成。光源将被测样品表面均匀照明，被测样品通过显微物镜、分光镜1、透镜2和分光镜2，成像在CCD相机接收面上。为了避免光源发热对测量系统的影响，采用光纤传输光束将照明光引入显微成像系统。通过CCD相机不仅可以观察到被测样品表面的形貌，而且也可以观察到来自激光全息单元的光束在样品表面的聚焦情况。　　根据图2所示原理，通过光学元件选购、机械加工和信号放大电路设计，制作了光学显微测头，如图3所示。从结构上看，该测头具有体积小、集成度高的优点。将该测头安装在纳米测量机上，编制相应的测量软件，可用于被测样品的快速瞄准和高分辨力非接触测量。图3　光学显微测头结构3　测量实验与结果分析　　为了检验光学显微测头的功能，将该测头安装在纳米三维测量机上，使显微物镜的光轴沿测量机的Z轴方向，对其输出信号的电压与被测样品的离焦量之间的关系进行了标定，并用其对台阶高度样板和一维线间隔样板进行了测量［16］。所用纳米三维测量机在25 mm×25 mm×5 mm的测量范围内，空间分辨力可达0.1 nm。实验在（20±0.5）℃的控温实验室环境下进行。　　3.1　测头输出电压与位移关系的建立　　为了获得光学显微测头的输出电压与被测表面位移（离焦量）的关系，将被测样板放置在纳米三维测量机的工作台上，用精密位移台带动被测样板沿测量光轴方向移动，通过纳米测量机采集位移数据，同时记录测头输出电压信号。图4所示为被测样板在测头聚焦面附近由远及近朝测头方向移动时测头输出电压与样品位移的关系。图4　测头电压与位移的关系　　由图4可以看出，光学显微测头的输出电压与被测样品位移的关系呈S形曲线，与第1节中所述的通过差动光斑尺寸变化测量离焦量的原理相吻合。当被测样板远离光学显微测头的聚焦面时，电压信号近似常数。当被测样板接近测头的聚焦面时，电压开始增大，到达最大值后逐渐减小；当样板经过测头聚焦面时，电压经过初始电压值，可认为是测量的零点；当样品继续移动离开聚焦面时，电压继续减小，到达最小值时，电压又逐渐增大，回到稳定值。在电压的峰谷值之间，曲线上有一段线性较好的区域，在测量中选择这段区域作为测头的工作区，对这段曲线进行拟合，可以得到测头电压与样板位移的关系。在图4中所示的3 μm工作区内，电压与位移的关系为　　式中：U为激光全息单元输出电压；∆d为偏离聚焦面的距离。　　3.2　台阶高度测量试验　　在对光学显微测头的电压-位移关系进行标定后，用安装光学显微测头的纳米三维测量机对台阶高度样板进行了测量。　　在测量过程中，将一块硅基SHS-1 μm台阶高度样板放置在纳米三维测量机的工作台上，首先调整样板位置，通过CCD图像观察样板，使被测台阶的边缘垂直于工作台的X轴移动方向，样板表面位于光学显微测头的聚焦面，此时测量光束汇聚在被测样板表面，如图5所示。然后，用工作台带动样板沿X方向移动，使测量光束扫过样板上的台阶，同时记录光学显微测头的输出信号。最后，对测量数据进行处理，计算台阶高度。图5　被测样板表面图像　　台阶高度样板的测量结果如图6所示，根据检定规程［17］对测量结果进行处理，得到被测样板的台阶高度为1.005 μm。与此样板的校准结果1.012 μm相比，测量结果符合性较好，其微小偏差反映了由测量时温度变化、干涉仪非线性和样板不均匀等因素引入的测量误差。图6　台阶样板测量结果　　3.3　一维线间隔测量试验　　在测量一维线间隔样板的过程中，将一块硅基LPS-2 μm一维线间隔样板放置在纳米测量机的工作台上，使测量线沿X轴方向，样板表面位于光学显微测头的聚焦面。然后，用工作台带动样板沿X方向移动，使测量光束扫过线间隔样板上的刻线，同时记录纳米测量机的位移测量结果和光学显微测头的输出信号。最后，对测量数据进行处理，测量结果如图7所示。　　根据检定规程［17］对一维线间隔测量结果进行处理，得到被测样板的刻线间距为2.004 μm，与此样板的校准结果2.002 μm相比，一致性较好。　　3.4　分析与讨论　　由光学显微测头输出电压与被测表面位移关系标定实验的结果可以看出：利用在测头聚焦面附近测头输出电压与样品位移量的单调对应关系，通过测量测头的输出电压变化，即可求得样品的位移量。在图4所示曲线中，取电压-位移曲线上测头聚焦面附近的3 μm位移范围作为工作区，对应的电压变化范围约为0.628 V。根据对电压测量分辨力和噪声影响的分析，在有效量程内测头的分辨力可以达到纳米量级。　　台阶高度样板和一维线间隔样板测量实验的结果表明：光学显微测头可以应用于纳米三维测量机，实现微纳米表面形貌样板的快速定位和微小位移测量。通过用纳米测量机的激光干涉仪对光学显微测头的位移进行校准，可将测头的位移测量结果溯源到稳频激光的波长。实验过程也证明：光学显微测头具有扫描速度快、测量分辨力高和抗干扰能力强等优点，适用于纳米表面形貌的非接触测量。4　结论　　本文介绍了一种用于纳米级表面形貌测量的高分辨力光学显微测头。在测头设计中，采用激光全息单元作为位移测量系统的主要元件，根据差动光斑尺寸变化原理实现微位移测量，结合光学显微系统，形成了结构紧凑、集测量和观察功能于一体的高分辨力光学显微测头。将该测头安装在纳米三维测量机上，对台阶高度样板和一维线间隔样板进行了测量实验，结果表明：该光学显微测头可实现预期的测量功能，位移测量分辨力可达到纳米量级。下一步将通过多种微纳米样板测量实验，进一步考察和完善测头的结构和性能，使其更好地适合纳米三维测量机，应用于微纳结构几何参数的非接触测量。作者简介李强，（1976-），男，高级工程 师，主要从事纳米测量技术研究，在微纳米表面形貌参数测量与校准、微纳尺度材料力学特征参数测量与校准、复杂微结构测量与评价等领域具有丰富经验。

p　　2017年度国家自然科学基金项目(以下简称科学基金项目)申请集中接收期间，国家自然科学基金依托单位(以下简称依托单位)共提交各类项目申请190871项，因逾期申请、缺少电子版申请书等原因不予接收的项目申请31项，实际接收项目申请190840项，有关统计数据见表1。/pp style="text-align: center "表1 2017年度科学基金项目申请情况统计/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/7155c2bf-0d5e-44c5-88f1-f5dcc725a00a.jpg" title="1.jpg"//pp　　* 2017年部分重大项目在集中接收期接收。/pp　　strong1 按项目类型统计/strong/pp　　2017年项目申请量与2016年同期相比增加17997项，增幅为10.41%，其中7类项目增幅在10.0%以上。面上项目申请量增加6243项，增幅8.43% 重点项目增加230项，增幅8.27% 青年科学基金项目增加7796项，增幅11.07% 地区科学基金项目增加1779项，增幅12.57% 优秀青年科学基金项目增加454项，增幅10.29% 国家杰出青年科学基金项目增加251项，增幅10.32% 海外及港澳学者合作研究基金增加25项，增幅6.48% 国际(地区)合作研究与交流项目申请量增加150项，增幅17.65% 国家重大科研仪器研制项目(自由申请)增加2项，增幅为0.34%。此外，部分联合基金项目、重大项目和重大研究计划项目也在集中接收期接收。其中联合基金项目申请3303项，重大项目申请30项，重大研究计划申请208项。有关统计数据见表2。/pp style="text-align: center "表2 2017年度科学基金项目申请同比增长情况统计*/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/66d4ebde-85e7-4bdd-854d-9732384ec50f.jpg" title="2.jpg"//pp　　* 2017年度部分联合基金项目、重大研究计划项目和重大项目在集中接收期接收。/pp　　strong2 按项目管理部门统计/strong/pp　　2017年度各项目管理部门的项目申请量均有不同程度的增长，其中医学科学部的项目数量和增幅均最为显著。有关统计数据见表3。/pp style="text-align: center "表3 2017年度科学基金项目申请情况统计/pp style="text-align: center "(按项目管理部门)/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/68777201-af40-4d20-a40d-3af33df33328.jpg" title="3.jpg"//pp　　strong3 按依托单位隶属关系统计/strong/pp　　截至2017年5月5日，教育部、工交农医国防以及地方省市自治区等所属依托单位的申请量较去年同期均有不同程度增加，增幅分别为9.69%、1.17%和14.80%。中国科学院申请量较去年同期略有下降，降幅为0.38%。地方省市自治区所属依托单位的申请量仍居榜首，共计申请99927项，占总申请量的52.36%，继2016年度后占比再次超过50%。有关统计数据见表4。/pp style="text-align: center "表4 2017年度科学基金项目申请情况统计/pp style="text-align: center "(按依托单位隶属关系)/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/5e6cc321-1711-4aba-b397-fcedb364dfca.jpg" title="4.jpg"//pp　　strong4 按依托单位统计/strong/pp　　2017年度共有2395个依托单位申请项目，比2016年度增加109个。其中申请量在200项(含)以上的依托单位有239个，同比增加27个 申请量超过1000项的依托单位有24个，同比增加1个。申请量排序前20位的全部为高等学校，其申请量占全部申请量的19.94%，排序前100位的依托单位申请量占全部申请量的46.66%。申请量排序前20位的依托单位中，部分依托单位增幅较大，其增量主要来自于医学相关学科。有关统计数据见表5。/pp style="text-align: center "表5 2017年度科学基金项目申请量前20名依托单位申报情况统计/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/4a4a0893-83f7-4592-baa2-7af7cb131958.jpg" title="5.jpg"//p

6月3日上午，中国地质大学(武汉)&ldquo 大型多接收杯等离子体质谱仪(Nu Plasma 1700)&rdquo 通过校内专家组验收。专家组由副校长唐辉明，地质过程与矿产资源国家重点实验室、地球科学学院、监察处、资产与实验室设备处负责人及相关专家组成。　　专家组在听取仪器负责人李明博士对仪器购置，安装调试，性能检测及试运行等基本情况的汇报后，到现场考察了仪器运行环境，查看了相关运行记录，对相关问题进行了质询。经过充分讨论，专家组一致认为：仪器采购过程符合学校相关规定，仪器各项性能指标与标书及技术协议一致，厂商在货物检验通过后进行了相关的安装调试及培训，仪器验收相关资料齐全、管理制度上墙、安全卫生及环保措施到位，技术管理人员综合素质高，仪器运行记录规范，实验室环境良好，符合验收条件，同意通过验收。　　据了解，此次购置的&ldquo 大型多接收杯等离子体质谱仪&rdquo ，价值930.5万元，是目前中国地质大学(武汉)价值最高、重量最大的仪器设备，是固体地球科学最具潜力和最为重要的科学仪器之一。多接收杯等离子体质谱仪综合了等离子体的高电离温度和磁式多接收质量分析器的优势 测试数据精确度和准确度高 使高电离能的元素(如W、Hf、Th、Cu、Zn)的高精度同位素分析成为现实，极大地开拓了同位素年代学和地球化学的研究领域。该设备将广泛应用于地质矿产、土壤、生态环境、材料等领域，极大地提升中国地质大学(武汉)科研平台水平，促进中国地质大学(武汉)地球科学及相关学科的创新性科学研究和人才培养。

由我国研制的世界首台兆瓦级高温超导感应加热装置，日前在黑龙江正式投用。该装置可以利用加热新技术，对大尺寸金属工件快速高效加热，节能减排，带动企业高质量发展。这台兆瓦级高温超导感应加热装置正在处理一块重达500多公斤的铝锭。过去，温度从20℃加热到403℃，至少需要9个小时。现在，通过应用这个装置，只需十分钟就可以完成。据了解，高温超导感应加热装置是利用了超导体在低温下可实现稳定的零电阻超导态的特性，不仅可以用于铝、铜等非铁磁性有色金属型材挤压、锻压，还能用于熔炼、高端合金热处理等。与原来普遍采用的电阻炉相比，这套装置能将传统工频感应炉的能效转化率提升一倍，节能50%，碳排放减少一半以上。

位于重庆市两江新区的超大分布孔径雷达高分辨率深空域主动观测设施，也就是中国复眼，近日完成一期工程的安装调试和开机观测工作，成功拍摄出世界首张基于分布式雷达的三维成像月面图。据了解，超大分布孔径雷达类似于很多小天线合成一个大天线，虽然单一雷达功率有限，但是由于雷达和雷达之间的功率叠加，因此可以实现超远程探测功能。据介绍，与中国天眼不同的是，中国复眼可以自己发射电磁波，并能接收回波，从而对太阳系内的小行星和类地行星进行观测。中国复眼项目由北京理工大学重庆创新中心牵头建设，一期工程通过实现对月的高分辨率成像观测，验证了大系统分布式的工作模式，为后续的二期和三期工程奠定了基础。计划三期工程建成后，由上百台雷达组成的大科学装置探测距离能达到1.5亿公里，实现我国在深空探测雷达领域保持50年的领先优势。

8月10日，卫生部新闻发言人邓海华(右二)在回答记者的提问　　据中国卫生部12日的最新消息，应湖北省要求，卫生部正在直接调查婴儿性早熟个案。卫生部已委托有关技术机构对湖北省从患儿家中和市场上采集的相关奶粉样品进行检测。同时，卫生部已请中国疾病预防控制中心牵头，成立由内分泌、儿科、妇幼、食品安全等领域9名专家组成的专家组，会同有关地方，对婴儿性早熟个案进行专题研究。　　近日，有媒体报道湖北发现3名女婴有“性早熟”特征，3名婴儿都食用过同一种奶粉，家长怀疑是奶粉中的雌激素导致婴儿异常。 8月10日卫生部表示，已责成湖北省食品安全监管领导小组办公室尽快核查并妥善处理。很快，卫生部又明确表示已直接介入调查。　　此外，一些消费者反映，在将疑有问题的奶粉进行送检时，遭遇“送检无门”，检验机构不接受个人送检。对此，卫生部有关负责人指出，根据食品安全法的规定，协会组织、消费者可以委托食品检验机构对疑有问题的食品进行检验，但应选择法律规定的有资质的检验机构。　　这位负责人同时表示，由于种种原因，现实中的确存在检验机构不接受个人送检的情况。比如有些检验机构不具备送检项目的检测资质或能力 一些机构担心样品的来源，担心有目的不纯的送检 还有一些机构怕承担法律责任，不想介入纠纷等。　　这位负责人说，消费者如果怀疑食品有问题，可以向卫生部门举报，卫生部门接到举报应组织进行检验。　　【各地情况】　　洛阳十余儿童查出早熟特征 均长期食用圣元奶粉　　儿保科的何荣大夫告诉我们，这几天来检查是否出现性早熟特征的孩子明显增多，仅9日、10日两天就有20余个。这些孩子的家长说，其子女均长期食用圣元奶粉。在这20多个孩子中，一半以上有乳房发育情况。　　湖南一女婴现性早熟体征 曾喝12罐圣元牛奶　　株洲市醴陵市建设西路的漆女士反映，其4个月大的小孩喝了3个月的圣元牛奶后，与武汉三女婴相似，出现了乳房大、外阴充血等症状，医生称已出现早熟体征。　　郑州出现圣元婴儿性早熟 湖北抽检涉事奶粉　　郑大三附院儿保科，有6个家长带着自己的宝宝来检查，这些孩子都吃圣元奶粉。 “确实有3个不到一岁的女婴的乳房开始发育。”王伟博士说，但不能确定就是奶粉惹的祸。 　　广东4名宝宝“性早熟” 平时都喝圣元奶粉　　广州三名宝宝做了脊柱、盆腔B超等检查，发现盆骨等发育在正常范围内，但乳房确实有小硬块，诊断为典型单纯乳房早发育。无独有偶，佛山一宝宝也出现了类似症状。　　北京一女婴被诊断为性早熟 曾饮圣元奶粉半个月　　有家长反映一岁大的女婴被诊断为性早熟，此前该女婴已饮用圣元奶粉半个月。

1月9日电，科技部部长万钢9日表示，科研项目和资金管理改革是科技管理改革的重要突破口，今年将简化项目管理流程，并完善信息公开制度，接受社会监督。　　记者从当日在京召开的全国科技工作会议上获悉，2013年国家科研项目和资金管理改革迈出了新步伐。科技部会同财政部研究起草了《关于改进加强中央财政科研项目和资金管理的若干意见》，制定了《国家科技计划及专项资金后补助管理规定》。科技部还会同中组部等9家单位开展了改进&ldquo 科研项目评审、人才评价、机构评估&rdquo 工作，经初步梳理整合，&ldquo 三评&rdquo 项目压缩28%，评审机制进一步完善。　　万钢指出，目前科技管理方式与快速增长的科研资金和日益复杂的科技创新活动还不相适应，面向科学研究、技术开发和创新活动的分类管理机制尚未真正建立，科技管理的效率和质量需要进一步提升。他透露，今年科技工作的一项重点任务就是要落实科研项目和资金管理改革意见，统筹规划、分类指导，重大项目要突出国家目标、基础前沿项目要突出创新导向、公益性项目要聚焦重大需求、市场导向类项目要突出企业主体。　　此外，还将完善信用管理制度，建立倒查机制。将查实的严重不良信用记录者记入黑名单并进行相应处理 健全经费巡视检查机制和过程监管，建立责任倒查机制，根据出现的问题倒查项目管理部门相关人员，查实后依据相关规定严肃处理。

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关于实验室移液器吸头，你一定要知道的——梅特勒-托利多RAININ移液器吸头小贴士 1.使用合适的吸头：为确保更好的准确性和精度，建议移液量在吸头的35％-100％量程范围内。 2.吸头的安装：对于大多数品牌的移液器，特别是多道移液器，安装吸头并非易事：为追求良好的密封性，需要将移液套柄插入吸头后，左右转动或前后摇动用力上紧。也有人会用移液器反复撞击吸头来上紧，但这样操作会导致吸头变形而影响精度，严重的则会损坏移液器，所以应当避免出现这样的操作。RAININ（瑞宁）的多道移液器没有O型环，配合有前挡点的吸头，只需轻压一下即可达致理想密封，实在是多道移液器使用者的福音。 3.吸头浸入角度和深度：吸头浸入角度控制在倾斜20度之内，保持竖直为佳；吸头浸入深度建议如下所示：移液器规格 吸头浸入深度2μL和10 μL 1 mm20μL和100 μL 2-3 mm200μL和1000 μL 3-6 mm5000 μL和10 mL 6-10 mm 4.吸头润洗：对常温样品，吸头润洗有助于提高准确性；但是对于高温或低温样品，吸头润洗反而降低操作准确性，请使用者特别注意。 5.吸液速度：移液操作应保持平顺、合适的吸液速度；过快的吸液速度容易造成样品进入套柄，带来活塞和密封圈的损伤以及样品的交叉污染。 专家建议： 1、移液时保持正确的姿势；不要时刻紧握移液器，使用带指钩的移液器帮助缓解手部疲劳；有可能的话经常换手操作。2、定期检查移液器的密封状况，一旦发现密封老化或出现漏液，须及时更换密封圈。3、每年对移液器进行1-2次校正（视使用频率而定）。4、绝大多数移液器，在使用前和使用一段时间后，要给活塞涂上一层润滑油以保持密封性；而对于RAININ常规量程的移液器，不涂润滑油也同样拥有理想的密封性。

最新出炉！杰青415、优青630项！8月24日最新消息，国家自然科学基金委员会发布了《关于2023年国家自然科学基金集中接收申请项目评审结果的通告》。关于2023年国家自然科学基金集中接收申请项目评审结果的通告2023年国家自然科学基金项目申请集中接收期间，国家自然科学基金委员会（以下简称自然科学基金委）共接收项目申请304333项，经初审和复审后共受理303329项。根据《国家自然科学基金条例》、国家自然科学基金相关项目管理办法和专家评审意见，经自然科学基金委委务会议审批，资助面上项目20321项、重点项目751项、重点国际（地区）合作研究项目74项、青年科学基金项目22879项、优秀青年科学基金项目630项、优秀青年科学基金项目（港澳）25项、国家杰出青年科学基金项目415项、创新研究群体项目43项、地区科学基金项目3538项和外国学者研究基金项目109项（包括外国优秀青年学者研究基金项目50项、外国资深学者研究基金项目59项）。集中接收期间接收的其他类型项目正在评审或审批过程中。依托单位科学基金管理人员和申请人可于8月24日以后登录科学基金网络信息系统（https://grants.nsfc.gov.cn）查询相关申请项目评审结果。自然科学基金委将于8月24日至25日使用report@pro.nsfc.gov.cn电子邮箱向申请人发送申请项目批准资助通知、不予资助通知以及专家评审意见。随后，将向相关依托单位寄发纸质项目资助结果通知，并附资助项目清单和不予资助项目清单。未获资助的申请人如对不予资助决定有异议，可向自然科学基金委提出不予资助项目复审申请，相关注意事项详见附件。欢迎各依托单位和科研人员对国家自然科学基金项目评审工作提出意见和建议。附件：2023年国家自然科学基金不予资助项目复审工作注意事项国家自然科学基金委员会2023年8月22日 附件2023年国家自然科学基金不予资助项目复审工作注意事项按照《国家自然科学基金项目复审管理办法》（以下简称《办法》，详见自然科学基金委官方网站首页“政策法规”栏目）规定，申请人如对不予资助决定有异议，可向自然科学基金委提出不予资助项目复审申请。相关注意事项如下。一、提出复审申请1．不予资助项目复审申请接收工作自8月24日开始，9月13日16时截止。2．不予资助项目复审申请人登录科学基金网络信息系统（以下简称信息系统，https://grants.nsfc.gov.cn），在线填写不予资助项目复审申请表。登录用户名和密码如有遗忘，可向本单位科研管理部门索取。3．不予资助项目复审申请人打印1份复审申请表，确认纸质与电子复审申请表内容一致，并在纸质复审申请表上签字后，以快递方式寄送（以邮戳日期为准）相关科学部综合与战略规划处。二、受理复审申请自然科学基金委各科学部负责受理复审申请。请注意，具有《办法》第八条所列以下情形之一的复审申请将不予受理：（一）非项目申请人提出复审申请的；（二）提交复审申请的时间超过规定截止日期的；（三）复审申请内容或者手续不全的；（四）对评审专家的评审意见等学术判断有不同意见的。对不予受理的复审申请，由科学部告知复审申请人不予受理决定和原因。三、审查复审申请1．自然科学基金委各科学部负责受理和审查复审申请，审查依据是《办法》、国家自然科学基金相关类型项目管理办法和《2023年度国家自然科学基金项目指南》。2．自然科学基金委相关科学部将在11月1日前，将复审审查结果书面通知申请人。3．依托单位科研管理部门可通过信息系统随时查看本单位复审申请人复审申请的提交情况与处理结果。非集中接收期受理项目的不予资助复审工作参照上述程序进行。

2012年3月，奥地利安东帕公司成功收购德国Petrotest集团 （现为Petrotest GmbH, A Company of Anton Paar）以后，经过一年与代理商的业务转型过渡，现在安东帕中国已经全面接手Petrotest产品在中国区的所有业务。并于2013年1月1日起终止对前代理商德祥科技有限公司在大中华区的授权协议。 奥地利安东帕有限公司（ANTON PAAR GMBH）是一家以研制工业及科研专用之高品质测量和分析仪器为主导的企业，在测量技术方面的多个领域处于世界领先地位。公司成立于1922年，总部位于奥地利格拉茨，至今已有八十余年的历史。用户包括全球最大的软饮料、啤酒公司以及食品、石油化工企业等。 Petrotest公司是有着悠久历史的家族企业。在1873年由Berthold Pensky独自创办(注：宾斯基-马丁闭口闪点仪发明人之一)。这家公司成为以宾斯基-马丁方法测试石油产品闪点著称的仪器公司，其客户是遍布全球的石油精炼，生物燃料，汽车、沥青、化工、饮料、食品行业等行业。 Petrotest集团的产品对安东帕的产品线而言是完美的补充。两家公司对现有技术的结合将产生积极的协同作用并更有利开发中新型的测量仪器。我们的战略目标很明确：为石油领域实验室的用户提供更为全面的测量仪器，我们要成为更多行业用户首选的合作伙伴。 目前Petrotest公司产品涵盖闪点测试、馏程测定、燃料油检测（胶质、氧化 安定性测定、蒸汽压测定、铜片腐蚀等），润滑油测定（抗乳化性能、泡沫特性、防锈测定、摩擦磨损等），沥青测定（软化点、延度、脆点、针入度等），针、锥 入度测定等。依托于安东帕公司精湛的制造工艺，以及一贯的研发投入，Petrotest公司将会在今后为行业客户提供更优质的产品和服务。拳头产品简介：安东帕petrotest全自动闭口、开口闪点测定仪宾斯基马丁闭口闪点方法的创始人，拥有140年历史，久经考验的各类闪点测定仪安东帕Petrotest全自动常压蒸馏馏程测定仪宾斯基马丁闭口闪点方法的创始人，拥有140年历史，欧洲最著名的石化测试仪器制造商之一，精确、可靠、稳定、耐用的常压蒸馏馏程测定仪Petrotest产品将为安东帕公司在中国市场的迅猛发展添砖加瓦，并致力于提供更全面完整的行业解决方案。安东帕对petrotest的前景寄予厚望，并将在2013年为中国客户创造更有专业水准的服务，取得更卓越的成就。

又一全国高值医用耗材集采启动！7月10日，江西医保局发布《关于糖代谢等生化类检测试剂拟集采品种的公示》，江西省拟牵头开展糖代谢等生化类检测试剂集中带量采购，初步遴选出32个品种，公示时间截至7月16日。这是国家医保局集采提质扩面相关文件下发后，2024年首个全国性的体外诊断试剂集采项目。此前，福建牵头开展血管组织闭合用结扎夹联盟采购已经开始。5月14日，国家医保局发布《关于加强区域协同做好2024年医药集中采购提质扩面的通知(医保办发〔2024〕8号)》。这个被业界称为“8号文件”的通知指出，按照“一品一策”的原则，适时开展新批次国家组织高值医用耗材集采。其中明确：江西牵头开展生化类体外诊断试剂联盟采购、安徽牵头开展肿瘤标志物等体外诊断试剂联盟采购、广东牵头开展超声刀头联盟采购、浙江牵头开展乳房旋切针联盟采购、福建牵头开展血管组织闭合用结扎夹联盟采购、河南牵头开展冠脉切割球囊等联盟采购、河北牵头开展血管介入等耗材联盟采购，项目均被列为国家医保局重点指导项目。此前，福建牵头开展血管组织闭合用结扎夹联盟采购已经启动。根据江西发布的公告，目前已经初步遴选出32个品种并进行公示，涉及糖代谢、离子微量元素、血脂和脂蛋白、肝功类、胰腺类、肾功类6个类别。7月14日，北京中医药大学卫生健康法治研究与创新转化中心主任邓勇接受人民日报健康客户端记者采访时介绍，国家医保局在集采品种选择上加强统筹协调，加大扩围力度，减少国家和地方集采品种间交叉重叠，做到国家和地方互为补充，体现了集采工作提质扩面的决心，患者的医疗费用负担将进一步减轻。

项目编号：ZUPC-GK-HW-2022018G项目名称：多接收电感耦合等离子体质谱仪预算金额：800.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：800.0000000 万元（人民币）采购需求：多接收电感耦合等离子体质谱仪 一套，详见标书文件。合同履行期限：合同签订后8个月内。本项目( 不接受 )联合体投标。

7 月 1 日消息，据台媒《工商时报》报道，台积电将在 2024~2025 年接收超 60 台 EUV 光刻机，而其今明两年在 EUV 光刻机上的投入将超 4000 亿新台币（IT之家备注：当前约 896.61 亿元人民币）。报道表示，ASML 的 EUV 光刻机目前供应紧张，从下单到交付的整体周期已达 16~20 个月。台积电今明两年将分别下达约 30 和 35 台的 EUV 光刻机订单，这些订单中的大部分将从 2026 年开始交付。台媒援引供应链消息指出，ASML 对 2025 年产能的规划是 20 台 High-NA EUV 光刻机、90 台 EUV 光刻机和 600 台 DUV 光刻机。 ASML 目前最先进的 0.33NA EUV 光刻机 NXE:3800E根据台积电官方路线图，其目前已规划的最先进工艺 16A 将于 2026 年量产，仍采用传统 0.33NA EUV 光刻机。换句话说，台积电暂未考虑在量产制程中导入 High-NA。虽然 ASML 方面已确认将在 2024 年内向台积电交付 High-NA EUV 光刻机，但这一机台仅用于制程开发目的。台媒也表示，台积电暂无在 2025~2026 年引入量产用 High-NA EUV 光刻机的规划。

中国科学院地质与地球物理研究所多接收等离子体质谱仪采购项目中标公告　　招标编号：OITC-G12032167　　采购人名称：中国科学院地质与地球物理研究所　　采购代理机构全称：东方国际招标有限责任公司　　采购项目名称：中国科学院地质与地球物理研究所多接收等离子体质谱仪采购项目　　定标日期：2012年5月22日　　招标公告日期：2012年6月11日　　公告信息如下：　　第1包 多接收等离子体质谱仪 1套　　中标供应商名称：赛默飞世尔科技(中国)有限公司　　中标金额：71万欧元　　评标委员会成员名单：戴琳、蒋秀高、孙家跃、李振声、谭明　　本项目联系人：窦志超　　联系电话：010-68725599-8447　　感谢各供应商对本项目的积极参与，未获中标的供应商请于即日起5个工作日内到我公司办理保证金退回事宜。　　东方国际招标有限责任公司　　2012年6月11日

中国第39次南极科学考察期间，中国科学院紫金山天文台牵头完成了南极内陆太赫兹天文试观测和通信收发等实验。紫金山天文台科考队员已乘坐极地考察船离开南极中山站，返航回国。中国南极昆仑站所在的冰穹A是独一无二的地面太赫兹天文观测优良台址，也是具有重要战略意义的科学考察地。中国第39次南极科学考察队于2022年10月先后随“雪龙2”号和“雪龙”号极地考察船从上海出发赴南极，并在时隔三年后再次派遣内陆队赴昆仑站、泰山站考察。紫金山天文台科研人员参加了此次南极内陆科学考察，携带一套我国自主研发的南极太赫兹探测实验系统，包括太赫兹超导接收机、太赫兹信号源、低温制冷机和小型高精度天线等自主研制的关键核心设备。科研人员分别在昆仑站和泰山站开展了太赫兹天文试观测和通信收发演示实验，首次实现我国自主研制太赫兹探测设备在南极内陆极端环境下的成功运行，并精确测定冰穹A地区0.5THz观测窗口大气透过率，进一步完善了前期太赫兹天文台址测量结果，对未来南极内陆太赫兹天文观测具有指导意义。本次实验还首次实现南极内陆地区公里级0.5THz频段太赫兹信号收发实验，为今后在南极深入开展下一代通信技术研究和实验验证奠定了基础。本次实验由紫金山天文台和中国极地研究中心联合组织实施。实验设备由紫金山天文台牵头，中国科学院理化所、中国电科集团54所、中国工程物理研究院和上海师范大学“史生才院士工作站”联合研制。相关工作得到国家自然科学基金委和中国科学院的支持，以及中国第39次南极科学考察内陆队的通力协作。2022年10月31日，紫金山天文台科考队员乘坐极地考察船启航

p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "strong【作者按】/strong前文【a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200616/551389.shtml" target="_self"strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜工作距离与探头的选择（上）/span/strong/a】我们通过实例展示并探讨了：工作距离与探头的不同组合与样品表面形貌像的分辨力之间存在怎样的关系，列表对比了不同工作距离和探头组合的优缺点。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "本文将进一步以实例来展现并探讨，正确的工作距离和探头的选择，将会对扫描电镜的测试结果和状态的维持产生怎样的影响。给大家在进行扫描电镜测试工作时，对于工作距离及探头的选择，提供一定参考。/span/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-family: 宋体, SimSun color: rgb(0, 176, 80) font-size: 18px "一、工作距离和探头的选择与表面形貌像的形成/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "如前面一再强调，形成扫描电镜表面形貌像的基础在于反映表面形貌高低差异的形貌衬度。形成形貌衬度的因素，取决于探头对样品信号的接收角度，而形成这个接收角度的主要因素，依据样品特性及信息需求的不同分为两个层面。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "第一个层面：低倍，观察的样品表面形貌起伏较大（大于20纳米）。要表达这类信息，需要相应的形貌衬度也较大。只有在探头、样品和电子束之间存在一定角度，所形成的形貌衬度才能充分展现这种位置上的差异。strong此时样品仓探头（L）将作为接收样品信息的主体/strong。不同的形貌衬度，要求这三者之间形成的最佳接收角不同，需要进行不停的调整。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "实际操作时，由于探头和电子束中轴位置是固定的，因此这个角度的改变就落实在样品位置的调整上。工作距离和样品台倾斜角的改变是进行这个角度大范围调整的唯二之法。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "第二个层面：高倍，观察区域缩小，样品表面起伏减弱，形貌高低位置的差异也将削弱，样品电子信息的溢出角度所形成的形貌衬度足以呈现样品表面高分辨形貌特征。因观察的细节小，小于10纳米，信息扩散对这些细节的干扰将左右最终结果。用小工作距离、镜筒内探头来获取充分的二次电子信息是最佳方案，此时形成高分辨表面形貌像的关键点在于strong镜筒内探头（U）能否充分获取样品的低角度电子信息/strong。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "在扫描电镜的实际测试过程中，所要获取的样品表面形貌信息，绝大部分都落实在第一个层面中。因此充分利用样品仓探头来形成样品的表面形貌像，就应当成为日常测试工作的主要选择。以此为基础，依据样品所表现出的特性及所需获取的样品信息，来改变测试条件，将会使得测试工作真真做到有的放矢，获取的样品信息也更充分。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "十分可惜，由于认识上的偏差，对工作距离和探头的选择思路往往与此背道而驰。将小工作距离做为获取高分辨像的唯一途径，进而推广为常规测试条件，这容易形成样品信息不充分、假象多、压缩样品操作空间、增加镜筒污染和样品损伤几率的结果。这些事例都将在本文中给予充分的体现。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "要使表面形貌像含有充足的样品信息，关键是如何调控样品仓探头（L）和镜筒内探头（U）对样品信息的获取。而这个调控工作的关键点又在于工作距离的选择/span/strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下面将以工作距离的改变为主轴，从表面形貌像的信息量、样品荷电的应对、磁性材料的观察这几个方面来探讨不同的工作距离和探头选择究竟能带来怎样的测试结果。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1 工作距离的改变与表面形貌像的获取/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "利用扫描电镜对样品的表面形貌进行观察，其过程和我们对日常事物的观察并无不同。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "要充分观察一个物体，在这个物体与眼睛离开一定距离时，获取的信息最多。太远，无法分辨；太近，虽然看的细致，但往往只能观察到局部，获取的信息精细但贫乏。即所谓鼠目寸光，可明察秋毫，也容易以偏概全、以点代面。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "获取一个物体信息的过程都始于全貌观察。由整体到局部、远观到近考。近考是以远观为基础，而物体的大部分信息都是在一定距离下从各种不同角度去观察来获得。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "对于扫描电镜来说也是如此：探头如同人的眼睛，工作距离就如同物体所处的观察位置。大量的样品信息都应当在一个特定的工作距离上，从侧面（样品仓探头）和顶部（镜筒内探头）来获取。少量的细节信息（strong 10nm/strong）需要靠近样品，用镜筒内探头，小工作距离来观察。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "这个特定的工作距离各电镜厂家都不相同，个人认为日立冷场扫描电镜是15mm。下面将从各种不同工作距离获取的信息对比开始，用实例来展示各种工作距离和探头组合的优劣，同时分享我在测试时对其选择的流程，供大家参考。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.1图像的清晰度和辨析度/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "清晰度：是指影像上各细部纹理及其边界的清晰程度。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "辨析度：是指影像上各细部纹理及其边界的分辨程度。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "瑞利判据：一个爱里斑中心与另一个爱里斑的第一级暗环重合时, 刚好能分辨出是两个像。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "依据瑞利判据，图像辨析度要求的是图像足够清晰而并不追求绝对清晰。在获取扫描电镜图像时常常发现，图像的高清晰并不一定带来高分辨。许多高清晰的图像其细节分辨并不好，而某些图像虽然清晰度较差，但并不影响对微小的细节信息进行分辨。辨析度高才能带来高分辨能力，这种情况在对不同放大倍率和采用不同测试条件获取的表面形貌像进行对比时会经常出现，前面有充分的实例给予展示。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 193px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/74932b14-2635-4e9f-9673-707661babbbf.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１.png" width="395" height="193" border="0" vspace="0"//pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 186px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/3d61fa9f-335d-4a6c-bbbf-6fdb80bff7c4.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２.png" width="395" height="186" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "关于扫描电镜图像的清晰度与辨析度，以后还有专文探讨。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.2样品仓探头的最佳工作距离/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "各电镜厂家的样品仓探头位置设计不同，因此它们的最佳工作距离也不相同，日立冷场电镜在15mm。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "如上篇的实例所示：样品仓探头在工作距离小于8mm时接收到的样品信息较少，小于4mm基本接收不到样品信息。大于8mm接收到的样品信息逐渐增多，15mm达到最佳的成像效果，大于15mm接收效果及图像立体感缓慢减弱。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 236px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/b4abd10c-402d-4db3-825b-afe30e288b80.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择３.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择３.png" width="395" height="236" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "依据样品仓探头对样品信息的接收效果，可将工作距离大于8mm称“大工作距离”，小于4mm称为“小工作距离”。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "小工作距离下，对样品信息的接收局限在镜筒内探头，接收到的样品信息较为单调。虽有利于在高倍时呈现小于10nm的样品细节信息，但不利于全面获取样品的表面信息。故将样品至于样品仓探头的最佳工作距离就十分必要。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头位置设计的越合理，利用探头组合来改变表面形貌像中SE2:BSE的比值和信息接收角度的范围就越大，同时样品的可操控范围也越大。这将使得图像中的各种衬度信息更能得到充分的展现，形貌像的信息内容也越多。 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下面将从图像的分辨能力、信息量、倍率变化范围以及样品操控等几个方面来对比大、小工作距离测试的优劣。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "A）大工作距离与图像细节的分辨能力/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "对于图像细节分辨力，目前在认识上存在一种简单的单调思维方式。所谓简单的单调思维方式就是用部分代替整体。如某测试条件在高倍时对极细小的细节拥有非常好的测试效果，就想当然的认为在低倍时也会拥有非常好的测试结果。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "实际情况往往并非如此，高倍有好的细节分辨力，不代表这个测试条件就一定能在低倍获得良好的结果。这在上篇有充分的展示，本文将再以一个实例来介入该问题的探讨。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "二氧化硅介孔样品。选择小工作距离、镜筒探头这组测试条件有利于对孔道信息的展现。但是否在低倍观察二氧化硅颗粒的整体信息时，也有同样的表现？请看以下这一组图片：/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 546px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6242e319-3fc5-4cfa-9265-f8cab4995494.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择４.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择４.png" width="395" height="546" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "上述实例可以看到，图像分辨力的主要影响因素是动态变化的。随着样品特性以及信息需求的变化，形成形貌像的主导因素也会发生改变。因此测试条件也应随之变更，否则将无法获得充分的样品信息和图像的高分辨力。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "不少样品表面形貌细节的高分辨观察并不需要用小工作距离来进行。在大工作距离下就可以获取非常优异的高分辨像，且高分辨像的空间伸展更加充分。如下图： /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "/span/pp style="text-align: center "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 264px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6a4a204e-120c-43f4-83ce-37a47487776c.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择５.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择５.png" width="395" height="264" border="0" vspace="0"/span style="font-family: 宋体, SimSun text-align: justify text-indent: 2em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "仪器性能优异，即便是介孔样品的介孔信息，在大工作距离下采用镜筒内探头或混合探头，该信息也并非无法观察。但因上探头的接收效果变差，图像整体清晰度及信号量有所减弱，但介孔却可被明确分辨，且能保证一定的图像质量。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 539px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/17ae15f9-81ab-4e92-8e5c-5b4df1f6d027.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择６_看图王.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择６_看图王.png" width="395" height="539" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "B）大工作距离获取的图像，空间信息更充分/span/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 301px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/bc5317f4-233a-496d-95ba-0fb5e2424ad9.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择７.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择７.png" width="395" height="301" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "高分子膜和二氧化硅小球，左图采用大工作距离，下探头从侧向接收样品信息，图像的形貌衬度充分，空间立体感强烈，信息更丰富。右图小工作距离，只能是镜筒内探头从顶部接收样品信息，形貌衬度薄弱。图像如同被压扁，空间信息贫乏，整体分辨力不足。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "C）大工作距离有较大的倍率变化空间/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "采用大工作距离测试，获得图像的倍率变化空间大。有利于在原位从低倍到高倍进行倍率的大范围改变，获取样品的信息更全面，形成的样品信息系统性更为优异。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 336px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/2a84df37-7a41-498a-af58-38005c84c34c.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择８.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择８.png" width="395" height="336" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "小工作距离的起始倍率较高，对低倍获取样品的全貌有所限制，特别是应对那些体积较大的样品。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "D）大工作距离有利于样品做大范围移动/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "工作距离越大样品的可移动范围也越大，越有利于我们从多个侧面来对样品进行观察。特别是对空间差异较小的样品，大角度的倾斜，可改变探头获取样品信息的角度，将有利于充分展现样品的空间形态，减少误判。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 212px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6b060682-9fe3-4a92-bcd3-caad054258a4.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择９.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择９.png" width="395" height="212" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "以上多个实例，充分展示大工作距离测试所带来的强大优势，下面将对大工作距离、样品仓探头组合做重点探究。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.3大工作距离、样品仓探头组合的测试优势/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头在大工作距离测试时，如同从侧上方观察样品，获取的样品表面形貌衬度要远大于从样品顶部采用镜筒内探头所获取的结果。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "形成表面形貌像的优点：空间信息丰富，立体感强，样品信息更充分，可减少假象的形成，低倍时图像的分辨能力强，Z衬度更优异，受荷电影响极小。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/0adc0222-c481-4f28-b16b-2c48174c697e.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１０.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１０.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/f57a85d1-c7fd-4ee6-9c89-080d03abda74.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１１.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１１.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头（下探头）获取的图像形态对工作距离、样品倾斜角度、加速电压的改变都比较敏感，这为充分获取样品信息提供足够的保障，可以多维度展现样品的形貌特征。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "A）工作距离的改变对下、上探头接收样品信息的影响/span/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/90c24635-fbff-4738-8b75-e7266d0ce577.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１２.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１２.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/a76b631c-75f0-4fe5-8b91-d4cb2b251d97.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１３.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１３.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "B）样品倾斜对下、上探头接收样品信息的影响/span/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/7a00753c-32a0-4541-9a54-31ebcb1df725.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１４.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１４.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/041513de-536d-41ce-9892-254c4612bbe9.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１５.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１５.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/85154b75-b112-4a41-b918-0adf46978691.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１６.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１６.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "C）加速电压的变化对上、下探头接收样品信息的影响/span/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/2c486494-f5cf-49e0-8105-9654120bd323.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１７.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１７.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.4 大工作距离、样品仓探头组合的测试劣势/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下探头位于样品侧上方，直接面对的是低角度电子信息。低角度位置上分布的主要是背散射电子，故以下探头为主形成的表面形貌像，容易受背散射电子在样品中扩散的影响。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "结果是：高倍图像的清晰度不足，十纳米以下的细节容易被掩盖，随着镜筒内探头被添加进来，此现象所改善。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头对以二次电子为主导的电位衬度及二次电子衬度信息的展现较差。具体实例如下：/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/23d449e2-83bf-48f6-83fe-1848a196b968.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１８.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１８.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/45799b39-6caa-4e64-afc4-ad88cad42370.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１９.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１９.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.5大工作距离测试有利于材料的缺陷分析/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "通过对以上大工作距离下各种探头组合的优、缺点展示可见：无论哪种组合都有局限，很难用一种条件包打天下。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "大工作距离条件下，可轻松切换上、下探头，对比不同探头获取的不同样品讯息，可得到单一探头组合所无法展现的异常现像，这将有利于对材料进行缺陷分析。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "如：在大工作距离条件下，切换上、下探头，获取样品表面的电位衬度不同。通过对比因不同的电位衬度所展现的图像形态差异，可以得到样品表面局部被污染或氧化的信息。下面是两个我遇到的非常成功案列。/span/pp style="text-align:center"span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/d203ac91-933a-4634-bc34-aba2b70f6678.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２０.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２０.png"//span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.2工作距离和探头的选择与样品荷电的应对/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品荷电现象指的是：样品中由于电荷累积形成荷电场，该荷电场对样品表面信息的正常溢出产生影响，在形貌像上叠加形成异常亮、异常暗或细节磨平的现象。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 不同能量的电子信息受到荷电场的影响程度也会不一样。能量弱小的二次电子极容易被荷电场所影响，使得由其为主形成的表面形貌像上，荷电现象显得较为严重。如果减少二次电子的含量，表面形貌像上的荷电现象将会减轻。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "采用混合探头进行测试时，加大工作距离可减少形貌像中二次电子信息的含量，有效改善荷电的影响。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " /span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/98dc7be3-89b7-4746-b791-20c77add4ded.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２１.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２１.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " /spanbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下探头接收的主要是背散射电子。应对样品荷电，大工作距离下单选下探头常常是一个极其有效的方法。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/ee2e6d7a-1c62-4111-8aa3-a7b13975e33b.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２２.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２２.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品的荷电现象及应对方式，后面将有专文加以探讨。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.3磁性样品的观察/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "物质的磁性来自核外轨道电子自旋。因此严格来说，所有物质都带有一定磁性，都可被称为：磁性材料。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "原子核外都是成对电子，电子之间的磁矩相互抵消，所以无论物质进不进入磁场都对外不显露磁性，称“反磁性”。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "原子核外有不成对电子，不成对电子在热扰动影响下杂乱排列，形成原子或分子间磁矩相互抵消。进入磁场后，不成对电子受磁场作用克服热扰动的影响，按磁场方向有序排列，对外表现出磁性。取消外加磁场，不成对电子在热扰动影响下又进入杂乱排列状态，显现的磁性消失，这就是“顺磁性”。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "将不成对电子换成“磁畴”，所谓“磁畴”指的是多个同方向电子的集合，这类物质进入磁场后表现出的磁性非常强。外加磁场达到一定值，撤除磁场，热扰动无法使磁畴恢复无序状态，形成极强的磁滞现象。这就是“铁磁性”。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "高分辨扫描电镜为了使镜筒内探头获取更多的样品表面电子信息，物镜磁场对样品仓做一定量的泄露，称“半内透镜物镜”设计。这种类型的物镜，当具有“顺磁”或“铁磁”等性质的样品靠近时，会被物镜的漏磁磁化并吸入物镜，污染镜筒并干扰磁透镜的磁场。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "采用大工作距离观察，在样品远离物镜达到一定值以后，这种影响将会减弱直至消失，镜筒也很难被其污染。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "顺磁及铁磁性物质的表面细节都比较粗大，用样品仓探头在大工作距离条件下获取的表面信息往往更优异也更充分。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "如果扫描电镜在大工作距离上有强大的成像能力，可轻松获取高质量的几十万倍高分辨形貌像，则对这些材料的表面形貌测试将不会受到任何限制。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "关于物质的磁性及磁性物质的区分，以及在扫描电镜测试时该如何应对，这些都将在下一篇经验谈中有详细探讨。/span/pp style="text-align:center"strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/de374333-8a9e-44df-a56b-15ef53770d09.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２３.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２３.png"//span/strong/pp style="text-align:center"strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/257f0ab6-4546-4706-a3b8-b2ce7ba015a4.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２４.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２４.png"//span/strong/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) "二、大、小工作距离对样品热损伤的影响/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "大工作距离，电子束的离散度较大，会使得电子束能量也发生较大程度的离散，对样品的热损伤也会减少。应对容易被热损伤的样品，采用大工作距离测试也是重要方式之一。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6d474a4f-8cd6-424b-bc86-8378e70bd334.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２５.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２５.png"//ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) "三、大工作距离与仪器状态的维持/span/h1pbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "没有好的仪器状态，仪器调整的再优异都无济于事。要保持良好的仪器状态，维持样品仓、镜筒环境的真空是基础。由于清洁镜筒极为困难，故对其环境的维持也最为关键。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "镜筒污染除了物质的磁性质，还来自以下两个方面：/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1. 样品中含有的各种挥发物。因此扫描电镜测试对样品的要求是：样品尺寸尽可能的小，固定样品所用的胶体尽可能少，样品表面尽可能地处理干净、干燥。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "2. 电子束从样品表面轰击出来的各种极性或非极性物质，这类物质在镜筒表面的吸附性超强。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "减少镜筒污染，控制样品是一方面，更关键的是将样品远离物镜。样品靠镜筒越近，进入镜筒的污染物会成倍增加，更不用说那些所谓的磁性物质。无论那种类型物镜，长期在小工作距离下测试，仪器状态都无法得到保证。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "本人的S-4800使用十几年了，测试量很饱满，长期坚持大工作距离测试，同时对样品严格控制，因此从09年仪器安装至今，灯丝未更换、仪器也从未做过专门的大保养，但却一直都能保持极佳的工作状态。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下面以一组拍摄于2019年，用各种低电压、大工作距等较差的测试条件，拍摄的碳球高分辨图像来结束本章节。 /span/pp style="text-align:center"strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/36ce59dc-a082-44a5-88fa-d060a32c294f.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２６.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２６.png"//strong/pp style="text-align:center"strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/844c4116-35ce-491a-8fab-009e54f4e3d4.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２７.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２７.png"//strong/pp style="text-align:center"strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/b8494443-4a3c-451c-bbbf-da813c4e2337.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２８.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２８.png"//strong/pp style="text-align:center"strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/e4c326c7-d26c-464f-b986-51f56c1082f7.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２９.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２９.png"//strong/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) "四、结束语/span/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头和镜筒内探头是从不同角度来获取样品信息。它们获取样品信息的侧重点不同，所适合应对的样品及展现的样品信息特征也不一样。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "镜筒内探头获取的样品信息以二次电子为主，对尺寸小于20nm的样品细节影响小，故图像清晰度高，二次电子衬度及边缘效应充分，电位衬度明显。但由于是从顶部通过物镜来获取样品信息，形貌衬度不足，使得其对于较粗大的样品细节（20nm以上）信息获取效果不佳，荷电应对能力差。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头获取的样品信息是背散射电子和二次电子的混合信息，背散射电子为主导。由于背散射电子的影响，高倍图像清晰度不足，对20nm以下的样品细节分辨影响较大，几纳米的样品细节几乎无法分辨。但该探头从样品的侧上方获取样品信息，形貌衬度及Z衬度充足。对低倍下观察表面起伏较大的细节信息（大于20nm）有极其明显的优势。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "改变工作距离的主要目地就是为了调控样品仓探头和镜筒内探头对样品表面信息的接收，形成最佳的效果。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "工作距离越小，越有利于镜筒内探头对样品信息的获取。过小的工作距离，样品仓探头接收不到样品信息，整个表面形貌像的特征都由镜筒内探头来决定。有利于展现10纳米以下的细节，但低倍时图像效果差，信息类型较为单一。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "大工作距离有利于样品仓探头对样品表面信息的接收，同时也能兼顾镜筒内探头接收样品信息。两个探头信息的合理组合，将使获取的形貌像内容更加充实。各种衬度信息的组合越合理，获取的样品信息越丰富，形貌分析的手段更多样，形成的表面形貌假象也越少。大工作距离测试的缺点是镜筒探头接收效果不佳，10纳米以下细节质量退化较严重。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "加大工作距离会使得电子束的离散度增加，从而降低样品热损伤的程度。但对图像清晰度有影响，超过一定值（过度）也会影响到图像细节分辨。该影响也会遵循适度性的原则，不同样品、不同的形貌细节，影响程度不同。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "在工作距离与探头的选择中，工作距离的选择是基础。只有工作距离合适了，探头的作用才能发挥出来。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "扫描电镜的每次测试都会有一个初始工作距离的选择，个人认为这个值应满足以下条件：1. 样品信息尽可能丰富，能为后续调整指明方向；2. 样品的操作空间尽可能大，使得样品能够充分移动；3. 图像的信息尽可能多，使得后续调整更容易；4. 尽可能兼顾样品分析；5. 离物镜尽可能远，保护镜筒，远离样品磁性及污染物的影响。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "对日立的冷场扫描电镜来说这个工作距离应该是15mm。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "加速电压、束流、工作距离、探头这四个测试条件的正确选择是获取高质量扫描电镜测试结果的基础。在工作距离和探头的选择上，目前存在的曲解极其严重，不利于充分获取样品信息。希望本文能给大家提供一个全新的视野。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "参考书籍：/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "《扫描电镜与能谱仪分析技术》 张大同 2009年2月1日 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "华南理工出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "中科大出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "人民出版社 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "《显微传》 章效峰 2015年10月 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "清华大学出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "北京天美高新科学仪器有限公司 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "高敞 2013年6月/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 85px height: 131px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/4d9b5e9c-3ce3-4651-9e2d-ceb0eb6b94de.jpg" title="林中清.jpg" alt="林中清.jpg" width="85" height="131" border="0" vspace="0"/作者简介：/span/strongspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "林中清，1987年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /spanstrongspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " /span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "延伸阅读：/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "strongspan style="color: rgb(0, 176, 240) font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200616/551389.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "易轻忽之肯綮：扫描电镜工作距离与探头的选择（上）——安徽大学林中清32载经验谈（9）/a/span/strong/span/p