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发射管

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发射管相关的仪器

  • 日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面,向所有用户提供高画质图像-- 日立高新技术公司(以下简称:日立高新)8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000",搭载了全新的用户界面和"EM Wizard",无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。 扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升,以及用户群体的不断扩大,使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且,由于观察对象的样品的不断多样化,对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求,通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升,对于用户来说,再也不用去讨论该用什么条件进行观察,只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外,使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件,按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说,它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来;对使用经验丰富的客户来说,开放了丰富的可设置选项,会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。 另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独一无二的。不但可大幅提高做样速度,更使视野再现性得到大大提高。并且,为了能适应各种分析的需求,最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等,都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis",9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014",9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*:肖特基式场发射电子显微镜:高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。 肖特基式场发射电子显微镜"SU5000" "EM Wizard"画面样式【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV(*1)、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式(*2)放大倍率底片倍率:10~600000倍、显示倍率:18~1000000倍5轴马达台X:0~100mm、Y:0~50mm、Z:3~65mm、T:-20~90°、R:360° *1:减速模式是选配项 *2:低真空模式是选配项 2014年,日立高新技术公司(以下简称:日立高新) 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。
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  • ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体,如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试,对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布,而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED通常分辨率要求不高,可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高,可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统;宽波长范围(UV~IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统
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  • 地下水修复发射器 400-860-5168转1377
    703型Waterloo地下水修复发射器1.8英寸, 3.8英寸和5.8英寸Waterloo地下水修复发射器 Waterloo地下水修复发射器是一种简单低成本的设备, 它设计用来受控并且统一的释放氧气或者其他生物提高调整剂, 从而促进和维持原位污染地下水生物降解所需的微生物的生长。 使用专利的技术*使得可以通过加压的硅有机树脂或者LDPE(低密度聚乙烯)管来稳定而又直接的将氧气扩散到一个地下蓄水层中. 氧气持续而稳定的释放到管中, 这就创建了一个非常理想的浓度梯度, 驱动着这个被动系统, 不会因为形成气泡而溢出过剩氧量。 发射器非常适合于需氧的BTEX和MTBE生物降解. 扩散过程为增强需氧生物降解提供了即时的分子氧生物利用率, 因此不会发生损失调整气体的情况. Waterloo地下水修复发射器还能促进需要的无机反应(pH调整, 水解等)。 简单的多功能系统 Waterloo地下水修复发射器可以适配2英寸, 4英寸和6英寸(50毫米, 100毫米和150毫米)的井. 它们可以安装在开放井中, 或者使用沙袋永久性的安装在钻井或者沟渠中. 51英寸(130厘米)长的Waterloo地下水修复发射器可以单独的或者以叠加到另一个发射器顶端的方式来安装, 以便确保完全覆盖污染羽状物. 它们还可以在水平应用中使用. 因为无需最小液压压头, 发射器在水下任何深度都有效. 当连接在封隔器和/或循环泵时, 作用半径也会增加. Waterloo地下水修复发射器独特的扩散技术允许使用任何化学物当作调整剂来治理受到污染的地下水. PVC框架容纳了监测或者采样设备以便在补救过程中观察地下水状况. 工作原理 Waterloo地下水修复发射器由盘绕在一个PVC骨架上的硅有机树脂或者聚乙烯管组成. 当液体被引入管中时, 一个浓度梯度便在管和地下水之间建立. 发射器工作原理是菲克扩散定律, 扩散会一直发生, 直至管内外的化学物浓度有了平衡. 使用发射器技术, 氧气(或其他调整剂)被持续地补充, 因为地下水持续地流经发射器, 所以平衡永远不会发生. 这便导致从发射器到地下水有持续的扩散. 当气体被应用于发射器时, 施加压力的增量和扩散到地下水的气体增量之间有一个正相关, 然而扩散是调整剂被添加到地下水的唯一的机制. 安装如果一种增强气体被用于补救, 可以使用小型或中型尺寸的高压气筒. 根据需要的增强气体的量来选择发射器管并设置气压. 单个高压气筒可以为多个串联的发射器提供气源.发射器管内的气体补充可以通过定期的清洗来实现(1-2周一次) 或者在系统的末端使用针形放泄阀来缓慢而恒定的补给. 1、确定目标 用驱动点剖面器来为使用发射器绘制/描绘的污染羽状物的加强生物降解, 确定最有效的区域, 2、确定数量 - 使用多级系统来精确的描绘污染物的面积和运动 - 使用离散监测系统更精确的聚焦补救策略 - 监测修复效果3、解决问题 使用Waterloo地下水修复发射器为受污染的地下水受控的释放氧气(或其他调整剂) – 不起泡。示意图显示了使用Waterloo地下水修复发射器的分段羽状物补救, 使用放在斜坡下面的CMT地下水连续监测系统或Waterloo多水位地下水监测系统的横切来监测. 应用 为BTEX和MTBE的需氧生物降解释放氧气 为溶剂的厌氧还原去氯释放氢气 为当作示踪物而引入溶解的SF6, 氩等 为调整pH值而释放二氧化碳 释放轻质烷烃以促进MTBE的新陈代谢生物降解 羽状物迁移屏障, 首要补救设备或者抛光优点 低成本 为恒定的微生物活性稳定的释放补救剂 易于安装和卸载 最少的维护和操作 没有因为起泡而造成调整剂损耗 没有引入或造成有害物质 无泥浆混入, 处理或注入 无需电子设备
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  • 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们
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  • 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们
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  • 阴极发射体 400-860-5168转2831
    阴极发射体 Kimball Physics设计和制造各种高性能电子发射器,以满足客户的各种需求。这些发射器专为高亮度、长寿命或坚固的可靠性而设计,用于Kimball Physics电子枪以及我们客户的高性能仪器和工具。阴极/发射器既有标准产品,也有定制设计,应用包括电子显微镜、光刻、X射线生成、自由电子激光器、电子加速器等。阴极发射体阴极类型: 阴极发射体基座类型:● 六硼化镧(LaB6)高亮度单晶 ● 带有Kovar或钼引脚的高公差陶瓷 LaB6高亮度单晶——标准和保护环 ● 标准陶瓷AEI底座 LaB6用于电子显微镜-适用于大多数系统 ● Compact Kimball Physics CB-104基座● 圆盘阴极 ● 各种显微镜底座 钽(Ta)标准耐火圆盘 ● 阴极也可以安装在客户提供的底座上 用于低温操作的氧化钡(BaO)涂层圆盘 钇(Y2O3)涂层铱盘,可承受较差的真空度阴极发射体选型参考表* electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI, Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6★★★ 更多电镜方面产品信息,比如,磁透镜、真空腔等,可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • 半球发射率测定仪 400-860-5168转4338
    半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体(黑体)的辐射出射度的比值,体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率,适合太阳能电池组件,建筑隔热涂料,热控涂层等材料开发,工厂热能有效利用和节能设计。PM-E2半球发射率测定仪测量原理PM-E2半球发射率测量举例PM-E2半球发射率测定仪技术规格系统组成仪器包含积分球测量单元,光源,数据显示的操作单元。校正低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).测定方法 半球发射率εH半球发射率测定范围 0.05~0.95检测器波长范围 0.6~42μm(300K理论黑体总放射能量的95%)测定的不确定性 半球发射率值±0.03测定时间 1~3分基准样品 低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)高半球发射率εH=0.85@293K(Sheldahl制)电源 DC12V1A尺寸规格 操作部分:W145×D82×H32 (mm)测定部分:W125×D60×高74 (mm)重量 操作部分:约200g测定部分:约700g储存环境 温度:10~45℃湿度:50%RH附件 使用手册CD(驱动程序)USB数据线 (Type A-Type B)电源线
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  • ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪产品介绍: ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪是公司经多年技术积累而开发的电感耦合等离子体发射光谱仪,用于测定各种物质(可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等)中的微量、痕量金属元素或非金属元素的含量,自动化程度高、操作简便、稳定可靠。 ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪广泛应用于稀土、地质、冶金、化工、环保、临床医药、石油制品、半导体、食品、生物样品、刑事科学、农业研究等各个领域。工作环境:内容 适应范围贮存运输温度 15℃-25℃贮存运输相对湿度 ≤70%大气压 86-106 kPa电源适应能力 220±10v 50-60MHz工作湿度 ≤70%工作温度 15℃-30℃ 技术指标:固态电源技术指标电路类型:电感反馈式自激振荡电路,同轴电缆输出,匹配调谐,功率反馈闭环自动控制工作频率:27.12MHz±0.05%频率稳定性:<0.1%输出功率:800W—1200W输出功率稳定性:<0.3%电磁场泄漏辐射强度:距机箱30cm处电场强度E:<2V/m 进样系统技术指标输出工作线圈内径25mm矩管,三同心型,外径20mm的石英矩管同轴型喷雾器外径6mm双筒形雾室外径34mm 氩气流量计规格和载气压力表规格1.等离子气流量计(100-1000)L/h (1.6-16L/min)2.辅助气流量计(10-100)L/h (0.16-1.66L/min)3.载气流量计(10-100)L/h (0.16-1.66L/min)4.载气稳压阀(0-0.4MPa)5.冷却循环水:水温20-25℃ 流量5L/min 水压0.1MPa 单色器技术指标光路:Czerny-Turner焦距:1000mm光栅规格:离子刻蚀全息光栅,刻线密度3600线/mm(可选用刻线密度2400线/mm)线色散率倒数:0.26nm/mm分辨率:≤0.007nm(3600刻线). ≤0.015nm(2400刻线)扫描波长范围:3600线/mm扫描波长范围:190—500nm 2400线/mm扫描波长范围:190—800nm步进电机驱动最小步距:0.0006 nm出射狭缝:12μm入射狭缝:10μm 光电转换器技术指标光电倍增管规格:R293或R298光电倍增管负高压:0-1000V稳定性<0.05% 整机技术指标:扫描波长范围:195nm~500nm(3600L/mm光栅)195nm~800nm(2400L/mm 光栅)重复性:(即短期稳定度)相对标准偏差RSD≤1.5%稳定性:相对标准偏差RSD≤2%
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  • SAMOS声发射系统 400-860-5168转3568
    产品简介:名称:SAMOS声发射系统品牌/产地:美国型号:应用:SAMOS系统是第三代全数字化系统,其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板,在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。 详细介绍:SAMOS系统是PAC公司第三代全数字化系统,其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板,在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。是PAC公司目前集成化更高、价格更低的系统,更适用压力容器检测等工程应用。 SAMOS(PCI-8)系统的主要特性:l 每一PCI-8卡具有8个声发射通道;l PCI总线提供声发射数据与PC机的传输速度可达132MB/S;l 每通道4个高通,4个低通模拟滤波器,可通过软件进行控制来组成13个率波段;l 输入电压范围:±10伏;l 每通道自动带有平方器以获取真实能量及RMS信号;l 16位A/D精度,3MHz采样率;l 每个PCI-8卡的2个外参数的输入更新速度可达10000个数据/S;l 并行的FPGA处理器和ASIC IC新片可提供非常高的性能和更低的成本;l 硬件实现的AE特征采集提供高速传输下的高速特征采集及实时分析;l 实时/同步声发射特征抽取及波形采集/分析;l 方便使用的SMB连接头;l 1KHz-400KHz的带宽;l 内置的波形处理功能、DMA技术及PCI总线结构可较大限度的实时采集/处理及传输所有通道的AE参数及波形数据以满足高水平声发射应用的要求;l 数字信号处理器可达到高精度和可信度的要求;l 可提供Labview/C++驱动开发程序。 咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(安赛斯)工作人员。
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  • 技术介绍:系统采用双传感器设计,可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量;原理用途:物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以,通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节,同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量,以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点:1. 扫描尺寸:700mm;2. 适配石墨盘:大部分商用石墨盘;3. 扫描分辨率:径向分辨率0.05mm,角度分辨率0.1°,用户可自定义;4. 扫描时间:10 分钟(465mm 尺寸的石墨盘,以径向1mm,角度0.1°测量);5. 测量光点尺寸:2mm6. 光源波长:940nm 或660nm(可选);7. 镜漫反射率分辨率:±0.005;镜漫反射率准确度:±0.01;发射率分辨率:±0.01;发射率准确度:±0.02;8. 系统为离线测量设备,便于石墨盘的装卸。软件操作简单,专为操作员及工程师设计;
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  • 声发射系统主机 400-860-5168转3568
    产品简介:名称:声发射系统主机品牌/产地:美国型号:应用:通用性的PCI插槽式系统,提供较大的整机性能,方便的一机多系统,增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡,用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统;用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 详细介绍: 通用性的PCI插槽式系统,提供较大的整机性能,方便的一机多系统,增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡,用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统;用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 天候在线监测系统SH-II(SHM) 4通道无线系统1284 USB总线专用声发射仪 单机较大通道(112通道)机箱SAMOS-112 核电专用机柜LPMS 两通道掌上系统 咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(安赛斯)工作人员。
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  • 光电子发射光谱 400-860-5168转3281
    专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统,用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点:1, 大气环境下使用2, 功能:光电子发射光谱+开尔文探针3, 测试能级:费米能级,导带底能量,价带顶能量,HOMO-LUMO,禁带宽度,功函数等4, 局域态密度 (Local Density of States, LDOS)5, 3分钟得到:费米能级,功函数,局域态密度6, 非接触无损测试,测试安装简单,操作容易7, 低能量的光子激发8, 提供校准用的标样9, 手动和全自动操作,稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪:样品由氮气保护,相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源,能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据:绝对功函数 HOMO : highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长,用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护,相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到: 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线
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  • 产品说明 垂直腔面发射激光器阵列芯片(SLD)是边发射半导体光源。垂直腔面发射激光器阵列芯片(SLD)的独特特性是与输出激光二极管(LD)类似的高输出功率和低光束发散度,但具有更宽的光谱和低相干性,类似于发光二极管(LED)。超辐射发光二极管(SLD)在几何形状上与激光器类似,但是没有内置的LD反射机制用于受激发射以实现激光。与LD相比,超辐射发光二极管(SLD)操作的主要区别是:有源区内的增益更高,电流密度更高,光子的不均匀性和载流子密度分布更强。超辐射发光二极管(SLD)具有与LED相似的结构特征,通过降低刻面的反射率来抑制激光作用。超辐射发光二极管(SLD)本质上是高度优化的LED。虽然超发光二极管(SLD)像低电流水平的LED一样工作,但是它们的输出功率在高电流下也是超线性地增加。产品特点: 中心波长:750-1640nm 典型3dB带宽:10-110nm 典型输出功率:0.2-45mW 典型波纹:0.1-1dB产品参数: 中心波长(nm)光谱宽度(nm)输出功率(W)孔距(um)数组大小(um)型号9051035122 x 1222440 x 2430IPVSC09019401035122 x 1222440 x 2430IPVSC0902
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  • EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪,可在3-35微米范围内测试半球反射率测试(总半球反射率),提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能,光谱范围250~2500纳米,主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um(并不限定于过滤器,窗等)测量精度(镜面反射和漫样品)-灰色样本满量程的± 1%- ± 3%满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5%或更好样品类型任何样品,包括金属箔,绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面:&ge 0.4英寸(1厘米)直径- 凹面: &ge 6.5英寸(16.5厘米)直径-凸面:&ge 1英寸(2.5厘米)直径 样品温度房间温度,环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率(300K)-半球发射率(300K)读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围(反射率)0.00~1.00尺寸光学头:直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位:4.5× 7.75× 7英寸便携包:12.5× 17× 11英寸重量光学头:5磅,控制和显示单元:4磅,携带箱:11磅保1年部件和人工
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  • 太赫兹发射器 (碰撞雪崩渡越时间二极管)TeraSense公司简介: TeraSense是一家俄罗斯的太赫兹设备生产商,主要产品包括:低成本、便携式亚太赫兹成像相机、太赫兹发射源和超快探测器等。TeraSense拥有一支强大的技术团队,包括20多位富有经验的科学家和工程师。他们中的大多数都拥有微波和太赫兹研究领域的博士学位,代表了俄罗斯物理学家的年轻一代。科学组已经取得了多项研究成果,并且在国际同行业评审期刊上发表了超过300篇论文。太赫兹发射器产品描述: TeraSense系列太赫兹源(IMPATT diode,碰撞雪崩渡越时间二极管),是一种硅双漂移二极管,过渡区域0.6um,安装在铜散热器上。双偏移二极管的分层:重掺杂(p +)层,适度掺杂(p-)层,适度掺杂(n-)层和重掺杂(n +)层。(p +)和(n+)层允许欧姆电触点接触到外部电路。设备依靠负电阻产生和维持振荡。 Terasense现在提供雪崩渡越二极管的升级版本。升级后的雪崩渡越二极管配备防护隔离器,大大提高了输出功率的稳定性。你可以根据需要,选择带有严格固定的喇叭天线的雪崩渡越二极管,或带有WR -法兰的雪崩渡越二极管。优化频率为100 GHz时,雪崩渡越二极管的典型输出功率可以达到100mW。太赫兹发射器产品特点: 可用频率: 100 GHz ,140 GHz 大功率输出 (80 mW,30mW) 稳定性高 线宽缩小至1 MHz 工作电流: 150 – 180 mA 价格低廉 结构紧凑,体积小,易于集成 太赫兹发射器规格参数:型号IMPATT diode @ 100 GHz IMPATT diode @ 140 GHz 频率最佳频率:100 GHz最佳频率:140 GHz隔离器带有防护隔离器带有防护隔离器调制方式TTL 调制 (1us rise/fall time)TTL 调制 (1us rise/fall time)输出功率高功率 (80 mW 输出功率)高功率 (30 mW 输出功率)输出方式圆锥喇叭天线 (固定)或 法兰类型 (WR-8 或 WR-10)圆锥喇叭天线 (固定) 或 法兰类型 (WR-6)功耗输入功率 2W 电源外部电源 (24 V) 确保输入电流稳定线宽典型的线宽可以缩小至1 MHz太赫兹发射器使用图例: TeraSense 太赫兹发射器(IMPATT diode)
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  • 简介Online 5100 MP多参数重金属在线分析仪使用发射光谱来分析溶液中的元素含量。高温状态下,处于基态的原子或离子跃迁到激发态,处于激发态的原子回到基态时又发射出不同波长的光,发射谱线的波长与特定元素有关,而谱线的强度与浓度有关,Online 5100 MP就是基于这一原理进行分析的。功能特点 ▲ 原子发射光谱原理,方法成熟▲ 分析元素包括金属和非金属▲ 多元素同时分析,可扩展应用,多达70多种元素▲ 宽线性范围:ppb~ppm▲ 宽波长范围:176nm~780nm▲ 检测限低:与实验室ICP-AES相当▲ 耐盐高:可耐受高达3%TDS▲ 工业电脑控制,人性化操作界面▲ CCD固态检测器:可同时进行背景及干扰校正▲ 低运行成本:从空气中提取氮气,不使用昂贵气体▲ 安全:无需易燃或氧化气体,消除安全隐患▲ 快速:只需数分钟即可分析多个元素▲ 整体式矩管:省略了矩管调整和气体管路的繁琐连接▲ 氮气等离子体:温度控制在5000K技术参数 分析元素:用户选择 (多达70多种元素可选)测量原理:原子发射光谱准 确 度:优于±2% (标准样品)重 复 性:优于2%线 性:优于0.9999分析时间:约1min/单元素(不含预处理)仪器校准:自动电 源:220V±10% VAC,50±1Hz预 处 理:根据用户情况配置
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  • 2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为: 1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受; 2) 四级聚光镜设计:为了最大程度发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制; 3)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS; 4)皮米样品台控制:标配的压电陶瓷控制样品台,可以在原子尺度上获得精准的移动; 5)全自动装样测角台(SPECPORTER):样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现,彰显其便利性及安全性; 6)成熟的冷场发射技术:将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上,可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析; 7)双超级能谱设计:可安装双超级能谱,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度; 8)节能减排:启用省电模式耗电量降低80%。
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  • 产品概述:DPR500是世界上第一台单双通道可选的计算机控制超声脉冲发射接收器,具有两个独立的通道,用户可以选择单通道也可以选择双通道,可以选择两个通道不同的带宽进行组合。DPR500采用远程脉冲前置放大结构,可大大减少探头和发射器之间因电缆长度而产生的损耗。广泛应用于超声显微镜、超声探伤、超声测厚、探头特性测量、材料特性测量等诸多领域。技术特点:◇ 两个独立的通道,可任意可选购单通道或双通道;◇ 50MHz、300MHz、500MHz带宽可选,各通道任意组合;◇ 远程脉冲发射器,前置结构,降低噪声;◇ 72/80dB增益低噪音接收器;◇ 脉冲回波模式(Pulse-Echo)、穿透模式(Through Transmission);◇ 可通过计算机自行开发相关应用。
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  • ICP3600型全自动发射光谱仪是由射频发生器、试样引入系统、扫描分光器、光电转换、计算控制系统和分析操作软件组成。它的分析过程是:射频发生器产生的高频功率通过感应工作线圈加到三同心石英炬管上,在石英炬管的外层通入氩气并引入电火花使之电离形成氩等离子体,这种氩等离子体的温度可达6000K~8000K。待测水溶液试样通过喷雾器形成的气溶胶进入石英炬管中心通道,受到高温激发后,以光的形式放出特征谱线,通过透镜进入扫描分光器,分光器将待测元素的特征谱线光强,准确定位于出口狭缝处,光电倍增管将该谱线光强转变成光电流,再经电路处理和模数变换后,进入计算机进行数据处理,最后由打印机打出分析结果。由于仪器的稳定性好,测量范围宽,检出限低,因此广泛地应用于稀土分析、环境保护、水质检测、合金材料、建筑材料、医药卫生等科学领域作元素定量分析。
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  • 紫外阴极发射光源是一种深紫外光源,其通过利用电子束来进行发光,以此实现产品的“零汞”。该产品亮度的峰值波长是紫外LED的8倍左右,另外,其尺寸小巧紧凑,内涵一个内置电源,因此它可被安装到任何一种仪器中进行使用。特征:尺寸小巧,结构紧凑高亮度:约在紫外LED的8倍(310nm)不含汞使用寿命长:可保证5000小时的工作时间不需要额外进行电源和外壳的设计应用:荧光分析紫外固化环境分析材料的抗性评估详细参数 光谱波长分布发射分布外形尺寸(单位:mm)
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  • 产品概述:DPR300是一款计算机控制的超声脉冲发射接收器,具有极低的噪声接收响应和高性能的脉冲发射控制功能。连接超声探头和示波器使用,广泛应用于超声探伤、超声测厚、探头特性测量、材料特性测量等诸多领域。技术特点:◇ 35MHz带宽(60MHz可选);◇ 极低的噪声(49 µ Vp-p input referred @ 35 MHz BW);◇ 可调脉冲幅度高达475V(900V可选);◇ 16档阻尼值设定;◇ 可选的高低通滤波器(高低各6个);◇ 可选的脉冲阻抗和脉冲能量;◇ 80dB接收增益范围;◇ 操作模式:计算机控制、手动控制、计算机+手动◇ 可通过计算机自行开发相关应用。
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  • 发射率测量仪 400-860-5168转6159
    1. 测量原理:定向半球反射(DHR) , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段,3-5卩m & 8-12pm3. 重复性:< 0.014. 便携式设计:良好的人体工程学外形设计,操作手感好5.彩色触摸屏:汉字界面、触摸操作、一目了然,一键测量,操作简便6.数据存储:Micro SD卡,最大2048条记录,分8组,TXT文件格式,方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪,是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术,以及人体工程学设计技术,新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比(DHR)测量原理,完成双波段 (3-5um和8-12um)发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计,集公司多项技术积累,吸收国际先进产品的技术与特点,具有携带方便、 操作简单、等优点,测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等,是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商:西安立鼎光电科技有限公司 生产商:西安中川光电科技有限公司联系方式:029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射(DHR), 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡(8Gbyte),最大2048条记录,分8组数据下载Data Download下载操作后,2048条记录,分8个TXT文件格式,保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池,18V3AH,持续工作时间>3小时,可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm(测量头)重量Weight2.3Kg(测量头)整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm(包装箱含电池、充电器、标准片等)整体重量Total Weight6.4Kg(包装箱含电池、充电器、标准片等)销售商:西安立鼎光电科技有限公司 生产商:西安中川光电科技有限公司 联系方式:029-818700902\
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  • 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们
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  • D and S AERD半球发射率测定仪Emissometer可快速测量各种固体表面的发射率。 半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。 原理: 加热探测器内的热电堆,使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系,通过比较高、低发射率标准板与试板表面温差的大小,得出试板的发射率。ASTM C1371-15(2022) Standard Test Method for Determination of Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers.(便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定)。GB/T 25261-2018 建筑用反射隔热涂料(半球发射率)。GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。GJB 2502.3-2015 航天器热控涂层试验方法 第3部分: 发射率测试(辐射计法(方法2031))。HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。JG/T 235-2014 建筑反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。JG/T 375-2012 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料(半球发射率的测定)。JC/T 1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 主要特点:1. 发射率数字显示,从0.01~1.00,重复性±0.01。2. 测量时间短(约15秒)。3. 低价格,且操作容易。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 技术参数: 检测器部份:测定波长: 3~30μm。 重复性: ±0.01发射度単位。 输出: 约2.5mV。 响应时间: 约10秒。 电源: AC100~240V。 主机部份:精度: 显示値±0.3%。 环境温度: -10?40℃。 尺寸: 80(W)x152(D)X51(H)mm。 电源: DC9V。 重量: 约370克。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557
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  • 珀金埃尔默Optima 8000等离子体发射光谱仪继续延续 PerkinElmer 在 ICP 技术方面的卓越成就和*地位,秉承一贯的设计,提供分辨率和线性动态范围。更重要的是,8x00 系统的稳定性和检出限是以往任何ICP 仪器都无法企及的。基于可靠的 Optima 平台设计,在业界*的 Windows 7 兼容 WinLab32 软件的控制下,8x00 系列将令您对 ICP-OES 刮目相看。 该系列的超凡性能是通过优化进样系统、增强等离子稳定性、简化方法建立和大大降低操作成本的新技术实现的。珀金埃尔默Optima 8000等离子体发射光谱仪革新技术 - 令人瞩目的成就eNeb 进样系统高效、稳定的进样系统。通过不断地形成大小*的液滴,eNeb 选件可令 Optima 提供很好的稳定性和无可比拟的检出限,非常适用于环境和药物制剂实验室。平板等离子体技术RF 发生器采用免维护的等离子体感应板,替代传统的螺旋负载线圈。无需冷却,氩耗降低,操作成本大大降低。PlasmaCam 观测相机通过提供连续等离子观测,该彩色内置相机简化方法建立过程,使远程诊断功能成为可能,以大程度增加正常运行时间。 非常适用于有关食品/产品安全和地球化学的高输出合约实验室。
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  • 410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的,可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm,红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数,通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射,通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用,可现场测量,操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接,该仪器可作为一个手持单元操作,一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样,并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内,测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围:从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作,内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比,漫反射比,和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段:335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段:1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面测量时间10秒/次;90秒预热光源VIS:钨灯,IR:铬铝钴合金测量探头模块化设计,测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg,含电池
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  • 产品描述FA233W无线发射接收器是专为电力,港口,厂矿等环境及大型机械设备研制的,实现风速风向数据的无线传输。系统稳定性高、抗干扰能力强,安装使用简便。 配合 FA 系列传感器和显示器,能实现无线发射或者接收功能。 采用加强型 ZIGBEE 无线技术,传输距离远。 采用 2.4G DSSS 直序扩频技术,抗干扰能力强。 具备中继功能,可扩展传输距离。技术参数工作电压 18V-30V DC工作电流 100mA通讯方式 RS485(9600bps)/Zigbee网络结构 星形网络天线规格 胶棒天线 2.4G 频段 5DB 增益驻波1.5 SMA 公头接口发射功率 25dbm无线频率 2.4G ISM 免费频段无线速率 固定 250K传输距离 2000m工作温度 -40 C ~ +70 C参考重量 1.0 kg外观颜色 黑色 RAL9005
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  • X射线发射谱(XAFS) 400-860-5168转6028
    硬X射线发射谱(X-ray Emission Spectroscopy, XES)是一种重要的分析技术,主要用于研究材料的电子结构和化学性质。硬X射线具有较高的能量,能够深入样品内部,使XES成为探测材料深层信息的强有力工具。XES的主要应用领域包括: 化学状态分析:XES能够提供关于样品中元素化学状态的直接信息,如氧化态和配位环境,这对于理解材料的化学性质和反应机制至关重要。材料科学:在新材料的开发和研究中,XES被用来分析材料的电子结构、能带结构和价带信息,这些信息对于优化材料的电学和光学性能非常重要。催化剂研究:XES技术能够在原子级别上探测催化剂的活性位点及其电子环境,为设计更高效的催化剂提供了可能。环境科学:通过分析环境样品(如土壤、水体和大气颗粒)中污染物的化学状态,XES有助于理解污染物的来源、迁移和转化过程。能源材料研究:在研究电池、燃料电池和太阳能材料的电子结构和工作机制时,XES提供了关键的电子层面信息,对优化这些能源转换和存储设备的性能具有重要意义。生物医学领域:XES用于研究生物分子(如蛋白质和酶)中金属离子的配位环境,这对于理解生物分子的功能和设计药物具有重要作用。地球科学:在地球和行星科学研究中,XES可以分析矿物和岩石样本,揭示其成分和形成过程中的环境条件。 硬X射线发射谱(XES)技术因其提供的独特的元素和化学状态信息,在科学研究和工业应用中发挥着越来越重要的作用,特别是在无法直接使用其他技术探测样品深层或微量元素的情况下。随着测量技术的进步,XES预计将在未来在更多领域中找到应用。仪器原理仪器参数探测能量范围:5~15 keV可测3d元素K边、5d过渡金属L边、以及锕系元素L边荧光峰;电子空穴效率:≥1×1011;能量分辨率:≤1.5 eV@Cu Ka;检测限:≤0.1%wt;重复性:重复扫描能量偏移50meV;氦气腔体,减少X射线空气吸收;高纯度Si或者Ge晶体单色器,保证全能区能量分辨率;配置原位池系统,可以设计各种模块化的原位测试系统,高温低温、多相催化、电催化等各种原位测试系统集成,可实现模块化切换;包含数据处理系统,采集过程中发射谱数据自动输出,无需额外切换。参考数据
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  • 1.1 概述ISAE本安防爆声波(声发射)系统由多个ISAE声发射数据采集模块(以下简称ISAE模块)和电脑组成。其中ISAE模块(包括内置前放的传感器)符合GB3836.4-2010 本安防爆标准,通过国家防爆设备质量监督检验中心的认证,获得防爆合格证(影印件见后),可以放在有防爆要求的危险区(Ex ib IIA T3 Gb)使用。适用于有防爆要求的封闭环境中的储油罐底声发射检测等的声发射检测应用。 1.2 主要性能特点ISAE模块可放置在危险区使用,免除信号布线内置前放的声发射传感器程控滤波器高速高精度AD实时声发射信号波形采集嵌入式FPGA与ARM技术实时声发射参数提取和实时分析报警大容量SD 卡实时存储波形数据,声发射参数和声发射报警参数。存储卡可随时更换各采集器之间采用同步线实现数据的时间同步采集器具备操作显示界面,可直接操作仪器采集过程,并显示状态可实时设置幅度门限可以将多个单通道模块级联,组成多通道声发射系统,最大可组成16通道的声发射系统ISAE模块存储的数据可上传至电脑标准清诚公司波形数据格式及功能,数据可用清诚公司的声发射信号分析处理软件进行定位、相关图、波形分析等进一步深度分析,也可将数据转换成Excel、文本格式采用MATLAB等软件进行分析显示。多通道同步数据可由上位机事后生成参数,并实现事件时差定位1.3 技术参数防爆标志:Ex ib IIA T3 Gb采样频率/精度:2MHz/16bit采样长度:可调噪声/动态范围:30dB/70dB (0dB=1uv)信号频率:3KHz~500KHz输入范围:±100mv(100dB)数据通讯:以太网或者内存卡电池续航能力:不小于3小时(仪器连续工作)供电方式:锂离子电池供电电池标称电压:7.2V电池标称容量:3400mA电池最大持续放电电流:420mA存储容量:64G SD 卡环境温度:0℃~﹢40℃防护等级:IP541.4 接口介绍1.4.1 以太网接口在安全区可以通过以太网接口连接PC机,用于导出SD卡中的存储的AD采样数据。以及参数设置功能。1.4.2 传感器接口用于连接本安型传感器,传感器参数Ui=7.5V,Ii=300mA,Pi=0.56W,Ci=39uF,Li=0mH。传感器信号与电源线同线。1.4.3数据采集,分析处理与存储传感器的模拟信号经过滤波电路后,进入AD采集芯片,进行数据转换,转换后的声发射信号数字波形数据在FPGA和ARM单片机中进行数字滤波处理,声发射撞击参数提取和声发射报警参数生成。声发射数字波形、声发射撞击参数、声发射报警参数实时存储到SD卡。检测完成后,在安全区连接12V充电接口,充电的同时拷贝SD卡的数据到电脑中。1.4.4 485接口485接口连接同类型其他模块,用于危险区使用的不同模块之间的对时通信。接口连接器为9针,其中仅1、2脚使用,用于对时接口连接,其他为空点。对时接口需在危险区使用前,预先确认好接线,并锁紧,然后方可上电。防爆参数设定为Uo=6.2V,Io =62mA,Co=985uF,Lo =50mH;Ui=6.2V,Ii =62mA,Ci=15uF,Li =0。1.4.5. 充电接口用于安全区为电池充电使用,充电电流限定值与锂电池放电电流限定值相同,为420mA。1.5 电源供电介绍整机由电池供电,电池最大电压为8.4V,标称电压为7.2V,电池经过电压转换,输出两路电压,3.3V和5V。1.6 ISAE模块配置清单序号名称单位数量备注1采集主机个1配套1个充电器与1根天线2传感器 LS 5VDC个1内置前放:26db响应频率:15Hz-70kHz中心频率:35kHz3信号线条1标配2米4RJ45网线条1标配1.5米5标定工具套17说明书本18合格证张19保修卡张110上位机软件U盘只1
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  • ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计,内置积分球、红外光源、微型控制处理器等,采用电池供电、触摸屏显示,具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时,只需将仪器对准物体表面,扣动扳机后,自动进行反射率测量,测量完成后,会在显示屏上显示测量结果,同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内,可供用户后续处理和分析数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角,6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段:1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面测量时间10秒/次;90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计,测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg,含电池
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