超声波测厚的几个小方法一、超声波测厚方法 1、一般测量方法:(以HCH-2000C型超声波测厚仪为例) (1)在一点处用探头进行两次测厚,在两次测量中探头的分割面要互为90°,取较小值为被测工件厚度值。(2)30mm多点测量法:当测量值不稳定时,以一个测定点为中心,在直径约φ30mm的圆内进行多次测量,取最小值为被测工件厚度值。 2、精确测量法:在规定的测量点周围增加测量数目,厚度变化用等厚线表示。 3、连续测量法:用单点测量法沿指定路线连续测量,间隔不大于5mm。 4、网格测量法:在指定区域划上网格,按点测厚记录。此方法在尿素高压设备、不锈钢衬里腐蚀监测中广泛使用。 二、超声波测厚示值失真原因分析:超声波测厚在实际应用中,尤其是在役设备的监测中,如果出现示值失真,偏离实际厚度的现象,结果造成管线(设备)隐患存在,就是依据错误的数据更换了管件,造成大量材料浪费。根据我公司几年来超声波测厚的跟踪使用情况,将示值失真现象及原因分析如下: 1、无示值显示或示值闪烁不稳原因分析:这种现象在现场设备和管道检测中时常出现,经过大量现象和数据分析,归纳原因如下: (1)工件表面粗糙度过大,造成探头与接触面耦合效果差,反射回波低,甚至无法接收到回波信号。在役设备、管道大部分是表面锈蚀,耦合效果极差。 (2)工件曲率半径太小,尤其是小径管测厚时,因常用探头表面为平面,与曲面接触为点接触或线接触,声强透射率低(耦合不好)。 (3)检测面与底面不平行,声波遇到底面产生散射,探头无法接受到底波信号。 (4)铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大,超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减,被散射的超声波沿着复杂的路径传播,有可能使回波湮没,造成不显示。 (5)探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂,长期使用会使其表面粗糙度嶒加,导致灵敏度下降,从而造成不显示或闪烁。 (6)被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑,造成声波衰减,导致读数无规则变化,在极端情况下甚至无读数。 2、示值过大或过小原因分析 在实际检测工作中,经常碰到测厚仪示值与设计值(或预期值)相比,明显偏大或偏小,原因分析如下: (1)被测物体(如管道)内有沉积物,当沉积物与工件声阻抗相差不大时,测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。(2)当材料内部存在缺陷(如夹杂、夹层等)时,显示值约为公称厚度的70%(此时要用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测)。 (3)温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低,有试验数据表明,热态材料每增加100°C,声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。 (4)层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的,因超声波无法穿透未经耦合的空间,而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备),测厚时要特别注意,测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。 (5)耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气,使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当,将造成误差或耦合标志闪烁,无法测量。实际使用中由于耦合剂使用过多,造成探头离开工件时,仪器示值为耦合剂层厚度值。 (6)声速选择错误。测量工件前,根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正仪器后(常用试块为钢)又去测量另一种材料时,将产生错误的结果。 (7)应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在,固体材料的应力状况对声速有一定的影响,当应力方向与传播方向一致时,若应力为压应力,则应力作用使工件弹性增加,声速加快;反之,若应力为拉应力,则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时,波动过程中质点振动轨迹受应力干扰,波的传播方向产生偏离。根据资料表明,一般应力增加,声速缓慢增加。 (8)金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层,虽与基体材料结合紧密,无名显界面,但声速在两种物质中的传播速度是不同的,从而造成误差,且随覆盖物厚度不同,误差大小也不同。三、超声波测厚示值失真的预防措施及注意事项:由以上产生示值失真的原因分析,在现场检测中就应采取相应措施,进行事前积极预防,避免造成事故隐患或不必要的浪费。为此,根据几年来的跟踪检测经验,归纳总结如下几点,作为预防超声测厚示值失真的预防措施。 1、正确选用测厚探头 (1)测曲面工件时,采用曲面探头护套或选用小管径专用探头(φ6mm),可较精确的测量管道等曲面材料。(2)对 于 晶 粒 粗 大 的 铸 件 和 奥 氏 体 不 锈 钢 等,应 选 用 频 率 较 低 的 粗 晶 专 用 探 头(2.5MHz). (3)测高温工件时,应选用高温专用探头(300-600°C),切勿使用普通探头。 (4)探头表面有划伤时,可选用500#砂纸打磨,使其平滑并保证平行度。如仍不稳定,则考虑更换探头。 2、对被检物表面进行处理。通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理,降低粗糙度,同时也可以将氧化物及油漆层去掉,露出金属光泽,使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。 3、正确识别材料,选择合适声速。在测量前一定要查清被测物是哪种材料,正确预置声速。对于高温工件,根据实际温度,按修正后的声速预置或按常温测量后,将厚度值予以修正。此步很关键,现场检测中经常因忽视这方面的影响而出错。 4、正确使用耦合剂。首先根据使用情况选择合适的种类,当使用在光滑材料表面时,可以使用低粘度的耦合剂;当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时,应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次,耦合剂应适量使用,涂抹均匀,一般应将耦合剂涂在被测材料的表面,但当测量温度较高时,耦合剂应涂在探头上。 5、特殊情况的处理 (1)检测时发现数值明显偏离预期值,应用超声波探伤仪进行辅助判断。当发现背面有腐蚀凹坑时,这个区域测量就得十分小心,可选择变换分割面角度作多次测量。 (2)当测量复合外形的工件(如管子弯头处)时,可采用〔一、1、(1)〕介绍的方法,选较小的数据作为该工件在测量点处的厚度。 (3)被测工件的另一表面必须与被测面平行,否则得不到满意的超声响应,将引起测量误差或根本无读数显示。 (4)对于层叠材料、复合材料以及内部结构特异的,常见的应用超声反射原理测量厚度的仪器就不适用。
紫外分光光度计测薄膜的厚度nm级的,仪器是岛津UV3101,配有积分球,软件是老的,现在不能适WIN95以上的,求助有没有更新的软件
如何估测纳米级切片厚度
有没有能测铝和铜的硬度计啊,材料厚度0.2mm,如题,布氏洛氏肯定是不行了
ICP光谱 铁基粉测Cu,Ni,Mo我向某测试中心送铁基粉末测Cu,Ni,Mo,可测试中心的人说铁基的不好测,测了之后要清洗矩管,他拒绝了我的测试请求,我不明白为什么,难道测其他的就不清洗吗?
想调研既能测镀层元素含量又能测镀层厚的X-荧光光谱仪,请推荐推荐。
想訊問關于測定陽極氧化膜厚度測定的儀器,國家標准法里有用分光速顯微鏡測定,不知道那家儀器好,請各位提供意見,謝謝!
目前国内有色铝板材加工行业所使用测厚仪主要分为两大类: (1)接触式测厚仪;(2)非接触式测厚仪 : X射线式与γ射线式(同位素) 一、 接触式测厚仪与非接触式测厚仪的比较1、 接触式测厚仪精度:其静态精度较高<±0.1%。静态测量时测厚误差可在1um以内,但动态精度确受许多使用条件的限制。 (1) 虽然接触式测厚仪设计有三维空间随动系统。能够调节测厚元件(金刚石测头)与被测带材的垂直度,但对于微小的角度变化仍不能消除,实际校验也不易找出。 (2) 接触式测厚仪直接接触带材,断带时往往会冲撞仪器,尤其是较厚带材(5mm以上),易使仪器C形框架变形,造成测厚误差。 (3)接触式测厚仪测头接触薄带时,如轧制高精度0.06mm电容器带时,往往会产生一道划痕。曾因该情况引起质量争议。若采用减小测头压力的办法,将影响了测量的精度。 (3) 测量线变动影响接触式测厚仪的精度。接触式测厚仪的下测量头在静态整定时,略高于测量辊400um,测量线高低是靠气缸来保证的。如气压波动,将影响测量线,使下测量头微微脱离带材下表面时,如差1~50um,此误差是很难用肉眼发现,这样也会带来测量误差。由此可见,环境条件对接触式测厚仪的动态精度影响较大,且不易被维护人员发觉,处理也较难。(5)维护工作繁重,所需维护人员多,且备件消耗量大,维护工作约为非接触式测厚仪的10倍,备件费约为非接触式的10~20倍。2、非接触式测厚仪(1)非接触式测厚仪的主要特点是不直接接触带材,可以进行不同深度的多点测量,(剖面测量)受现场外部环境影响较小,虽然静态精度略低于接触式,主要是材质变化的修正问题,在采用了微机数据处理后能够实现准确补偿,达到高精度。(2)接触式测厚仪对板型要求非常高,否则对测量精度及测量设备造成极其严重的后果。而非接触性测厚仪在测量过程中对测量精度及设备则不会造成任何影响。(3)另一优势是不产生产品划伤,备件耗量少,维修简便经济。二、非接触式测厚仪的原理及比较; X射线式与γ射线式[/fon
鲎试剂分类及选购-内毒素检测新手必看显色基质鲎试剂、凝胶法鲎试剂、特异性鲎试剂、动态浊度法鲎试剂、比色法鲎试剂、显色法鲎试剂、动态显色法鲎试剂、浊度法鲎试剂 、动态比浊法鲎试剂、弃G因子鲎试剂、终点显色法鲎试剂...。如果你是一位刚准备做细菌内毒素检测的实验人员,看到有这么多种鲎试剂,是不是有个疑问:“这么多种鲎试剂,我该怎么选择呢?”别急,不要被这么多名字吓到了,以下为您详细分类介绍;首先,知道什么是鲎试剂。鲎试剂是从栖生于海洋的节肢动物“鲎”的兰色血液中提取变形细胞溶解物,经低温冷冻干燥而成的生物试剂,专用于细菌内毒素检测。按原料来源分:全世界有5个种属的鲎,其中仅有中国鲎(又名三刺鲎)Tachypleus tridentatus Leach和美洲鲎Limulus polyphemus Linnaeus可制造鲎试剂,对应生产出来的鲎试剂分别为中国鲎鲎试剂(Tachypleus Amebocyte Lysate),缩写为TAL;美洲鲎鲎试剂(Limulus Amebocyte Lysate),缩写为LAL。TAL与LAL有相同的功效。按方法分:中国药典2005年版中收录了2种细菌内毒素检查法,即凝胶法和光度测定法,后者包括浊度法和显色基质法。供试品检测时,可使用其中任何一种方法进行试验。当测定结果有争议时,除另有规定外,以凝胶法结果为准。05年中国药典附录细菌内毒素检查法详见http://www.houshiji.com/newslist.asp?newsid=135&sort=2凝胶法系通过鲎试剂与内毒素产生凝集反应的原理来定性检测或半定量内毒素的方法。凝胶法鲎试剂常见规格为0.1ml/支或0.5ml/支或者更大装量,使用时应加无热原水(细菌内毒素检查用水)复溶后使用。2005年版药典中凝胶法鲎试剂结果的判断:保温60分钟±2分钟后观察结果。部分商家所说的半小时出结果的快速凝胶法鲎试剂是没有依据的,没到时间就观察结果可能导致假阴性。特异性鲎试剂(又叫弃G因子鲎试剂)是凝胶法鲎试剂的一种,细菌内毒素及β-葡聚糖均能与鲎试剂发生凝聚反应。特异性鲎试剂就是屏蔽β-葡聚糖引起的鲎试剂凝聚反应,使鲎试剂仅与内毒素起反应。一般中草药注射液成份复杂,干扰因素较多,常含有β-葡聚糖或内毒素类似物。用特异性鲎试剂能减少或消除假阳性反应。(应做对比及干扰试验)。光度测定法分为浊度法和显色基质法,这2种方法都是定量检测内毒素的。浊度法系利用检测鲎试剂与内毒素反应过程过程中的浊度变化而测定内毒素含量的方法。根据检测原理,可分为终点浊度法和动态浊度法。终点浊度法未见与商品化产品,不再赘述。动态浊度(比浊)法是检测反应混合物的浊度到达某一预先设定的吸光度所需要的反应时间,或是检测浊度增加速度的方法。显色基质法系利用鲎试剂与内毒素反应过程中产生的凝固酶使特定底物显色释放出的呈色团的多少而测定内毒素含量的方法,因使用分光光度计或酶标仪器,又称为比色法。根据检测原理,分为终点显色法和动态显色法。国内已有显色基质鲎试剂盒(终点法),早期有上海伊华以鲎三肽为原料做成的鲎试剂盒,厦门鲎试剂厂于2005推出以鲎四肽为原料的鲎试剂盒,也有少量国外产品,但到货周期长,价格远高于国产试剂。动态比色法与终点比色基本原理差不多。国产暂无动态比色法,相信很快就会面市。如果您是药厂、医院、医疗器械厂商等单位的实验人员,仅需要检测样品的内毒素限量,则应选择凝胶法鲎试剂,通过确定内毒素限值及最大有效稀释倍数,做样品的干扰试验从而确定使用的鲎试剂的灵敏度。如果您需要定量测定样品中内毒素含量则应选择显色基质鲎试剂或动态浊度法鲎试剂。动态浊度法鲎试剂一般需要配备专用的动态浊度仪或带有特定软件的酶标仪,比较适合样品量较多的用户(。显色基质鲎试剂用酶标仪或分光光度计检测。是样品数较少(少于200-300个),设备比较简陋的用户。如果已有内毒素检测专用酶标仪,则可选择显色基质鲎试剂盒或动态浊度法鲎试剂。简单的说,鲎试剂就2种:定性和定量,定性就选凝胶法(特殊产品用特异性鲎试剂)。定量就是显色法鲎试剂盒或动态浊度法鲎试剂(根据已有仪器定)。如果有动态比色法鲎试剂那就多一种选择(当然要看成本)。相信通过以上介绍您对鲎试剂已经有一定了解,聪明的你一定知道如何去选择鲎试剂了吧!特别说明:由于环境污染等原因,鲎的数量在不断减少。台湾澎湖海洋生物研究中心黄丁士副研究员正在做养殖鲎的研究,他培育出12000尾刚孵化的“一龄鲎”, 60天后有250尾脱壳成“二龄鲎”,仅有少部分“二龄鲎”再经历2周成为“三龄鲎”。“二龄鲎”到“三龄鲎”的阶段存活率只有5%,人工繁殖技术上一直未能突破“三龄鲎”的瓶頸而停滯。日本也曾经划出鲎保护区,专门用来进行人工养殖鲎,但经过多年实验以失败告终。鲎的产卵量很大,但是能活到成年的比例很小。一只鲎必需脱壳15到16次,需要15年达到成年,只有成年鲎才可以采血,因此人工养殖鲎基本上不太可能。部分酒家所谓的人工养殖大多是将成年鲎圈养起来。部分保护动物是可以经营利用的,前提是,被经营利用的必须是这些野生动物经人工养殖繁殖的后代。 因此所有酒家经营的鲎都是非法的。目前日本等国由于鲎的数量减少不得不进口美洲鲎及中国鲎原料来生产鲎试剂。因此,请看到此文的朋友不要吃鲎,也请转告您身边的亲朋好友保护它。
[b]一、 概述 [/b]自从上世纪60年代激光产生以后,其高方向性和高亮度的优越性就一直吸引着人们不断探索它在各方面的应用,其中,工业生产中的非接触、在线测量是非常重要的应用领域,它可以完成许多用接触式测量手段无法完成的检测任务。普通的光学测量在大地测绘、建筑工程方面有悠久的应用历史,其中距离测量的方法就是利用基本的三角几何学。在上世纪80年代末90年代初,人们开始激光与三角测量的原理相结合,形成了激光三角测距器。它的优点是精度高,不受被测物的材料、质地、型状、反射率的限制。从白色到黑色,从金属到陶瓷、塑料都可以测量。[b]二、 激光三角测量的原理[/b]激光三角测量法是人们将激光与三角测量的原理相结合的产物,其原理如下图示:[img=,520,354]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151451_01_2318341_3.gif[/img]它是将激光作光源,用线阵CCD作光电转换器,用玻璃透镜将被测物上的光斑聚焦成点,再成像到线阵CCD上,线阵CCD上的光电信号再移到计算机处理,从而得到距离信号。这就是激光三角测量的基本原理。[b]三、 第一代激光三角测厚仪的原理[/b]有了激光三角位移传感器,就为激光测厚仪垫定基础,其设计原理如下图所示,[img=,479,373]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151452_01_2318341_3.jpg[/img][b][color=#333333]第一代激光测厚仪原理[/color][/b]从上图可得:厚度为:[img=,97,22]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151519_01_2318341_3.jpg[/img][b][img=,12,23]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][/b]公式中,[b]t[/b]表示厚度,[b]z[/b]是上下两个测头间的距离,[b]x[/b]是上测头到被测物上表面的距离,[b]y[/b]是下测头到被测物下表面的距离,只要[b]z[/b]是恒定的,则,上下测头测量出[b]x,y,[/b]就可以通过上面的公式算出厚度[b]t[/b],这样,用两个激光位移传感器就可以做出测厚仪。[b]四、 第一代激光三角测厚仪的误差分析[/b]1、上面的厚度公式中我们假设z是恒定的,则,在静止状态下系统误差就是上下测头的测量误差,我们令其表达式为:[img=,82,21]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151523_01_2318341_3.jpg[/img]2、实际上,在高精度测量时,z并不是恒定的,因为,上下测头是装在U形支架上,而随着温度的变化,U形支架是会变形的,扫描宽度越宽其变形量就越大,所以,其在静止状态下的误差表达式应为:[img=,109,22]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151523_02_2318341_3.jpg[/img],见下图示,当温度变化时。1)假若U形支架的上臂向上变形一微米,下臂向下变形一微米,则,[img=,109,22]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151524_01_2318341_3.jpg[/img]2)假若U形支架的上臂向下变形一微米,下臂向上变形一微米,则,[img=,109,22]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151524_02_2318341_3.jpg[/img]3)假若U形支架的上臂向上变形一微米,下臂向上变形一微米,则,[img=,109,22]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151524_03_2318341_3.jpg[/img]4)假若U形支架的上臂向下变形一微米,下臂向上变形一微米,则,[img=,109,22]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151525_01_2318341_3.jpg[/img]5) 假若U形支架的上下臂向其它方向变形,则,误差比较复杂。[img=,502,356]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151500_01_2318341_3.jpg[/img]1、 上面分析是假设静止状态时的测量误差表达,而实际上激光测厚仪是要求能做到在线,动态扫描测量的,我们再来分析动态测量时的误差情况。我们知道,线阵测头的输出值是一段时间的测量结果的平均值。在动态测厚过程中,激光焦点在被测物表面扫描,由于激光散斑的原因,表面反射光强存在剧烈的起伏,导致一些采样点的信号强度过低,成为无效数据而[b][color=red]剔除[/color][/b],若单测头每次平均需m个数据,之间会剔除n个数据,则需要增加测n个数据,总数据量为m+n个,这可形象地用下图表示。[img=,224,164]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151501_01_2318341_3.jpg[/img][img=,210,135]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151501_02_2318341_3.jpg[/img]由于上下表面的数据是独立的,因此,上下表面数据序列中被剔除的数据也是独立的(见上图中的一个箭头表示一个剔除数据)。如果物体不动或高度不变,则剔除数据的位置没有什么影响,但当物体抖动量较大时,被剔除数据的位置对平均值的影响将立刻显现出来,例如当表面上升时(下图)[img=,265,178]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151504_01_2318341_3.jpg[/img][img=,265,178]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151506_01_2318341_3.jpg[/img]剔除数据的位置靠前则m个数据的平均值偏大,反之则偏小。由于上下两个测头内部对剔除数据的操作是独立的,无法进行协调,因此,物体抖动必然导致厚度测量结果的较大起伏!这种误差的统计估计如下:由上图可知,两个测头的数据错位范围为(-n,+n),处于各种错位情形的概率均等,则由概率论知,均方差为[img=,30,45]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151526_01_2318341_3.jpg[/img]个数据,若物体移动速度为V,单次采样时间为T,则造成的上下两测头的厚度测量的概率误差为[img=,78,45]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151527_01_2318341_3.jpg[/img],例如,若v=10mm/s, T=10ms, n=2, 则e=0.115mm!若上下测头组合仪取p个数平均,则厚度误差均方差下降为[img=,88,49]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151527_02_2318341_3.jpg[/img],若p=20,则e=0.026mm!对于高精度测量仍然是无法容忍的!由于激光散斑是无法消除的,因此,被测物速度越大,误差越大,因此原理上,上下独立测头不适宜抖动物体的测厚![b]一、 结论[/b]从上面的分析,我们可以知道:用激光位移传感器构成的测厚仪存在着原理上的缺陷,其误差的产生都是随机的,所以,无法进行补偿,故,在高精度测量时不能满足测量要求。[b]二、 第二代激光测厚系统原理简介[/b]第二代激光三角测厚仪是重新设计发展而来,它克服了第一代由于U形支架变形、振动等导致测量精度不高,由于采用二个光电转换部件导致工作不同步而导致上下两测头的测量点不重合,及由此导致测量精度不高,测量精度不稳定等不足。第二代激光测厚仪从测量原理上做了重新设计,不再采用两个位移传感器分别测量上下测头到被测物的上下表面的距离来算出厚度,而是直接测量被测物的厚度,避免了U形支架变形、振动等导致测量误差,大大提高了测量精度,而且不怕振动,并且安装使用更简单,工作更稳定,测量精度更高(+/-0.0015mm),它无环境污染,对人无伤害,对被测物无污染无接触,同时第二代激光三角测厚仪有完整的数据输出接口,这为涂布机的日后闭环自动控制打下了基础,详见原理图[img=,619,391]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708151508_01_2318341_3.jpg[/img] [b][img=,195,20]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img] [color=#333333]第二代激光测厚仪原理[/color][/b]上述原理图的工作原理:上下二个激光器将激光束分别打在被测物的上下表面,形成二个光斑,无衍射光学系统将这二光斑成像到面阵CCD或DSP等光电转换部件上,则,这二个光斑在面阵CCD或DSP等光电转换部件上的光斑的像之间的距离就是被测物厚度的映射,通过图像处理技术就能算出被测物的厚度。[b] [/b]从上面的原理图可知,U形支架上安装的不是激光位移测头,而是激光器,仅作为光源用,上下激光器照射到被测物的上下表面形成上下二个光斑,将这两个光斑通过一个无衍射光学系统成像到面阵CCD上,则,这二个光斑之间的距离就是被测物的厚度,这样直接测量的是被测物的厚度,这就避免了由于U形支架的变形和上下测头的测量误差还有抖动等因素的影响,第二代系统只有一个误差,就是无衍射光学系统的测量误差,而这个误差不是随机产生的,是可以补偿的,同时我们的单镜头面阵ccd测厚仪,由于是上下光斑同时测量,若出现上下任一光斑太暗,则该组上下光斑数据作废,保证了用于厚度数据的上下光斑的一一对应性!从原理上避免了第一代测厚仪的多项误差。故,第二代激光测厚系统比第一代激光测厚系统有无比优异性能。
请问测COD用哈希DRB200或连华的消解器消解后,用722光度计测可以么?这样的误差会不会很大?还是必须要用同一个牌子的光度计测?亲们帮帮忙,没办法老板不肯掏钱。。。
请问用ECD检测器测666DDT时,进样几分钟SPL1的压力就会下降,最后检测就自动停了,这是什么原因啊?后
我公司现在打算对LED中的管芯背胶厚度进行管控,可是找了几家卖仪器的都只能测涂层厚度(固化后的)和镀层厚度都属于固体测试厚度类别的。而我现在需要测试的是管芯后面涂敷的液体导电胶,此导电胶没有进行固化之前的厚度数据。管芯背胶的厚度大约2μm-4μm之间,测试的时候被测物体为液体。现在我想使用湿膜厚度计测试,请推荐一下符合该测试范围的仪器谢谢!
原料检测的时候,有一批原料塑化剂超标了。供应商打电话过来,就此事件和我进行沟通,其结果不令人满意,现在把大致沟通过程讲一讲。首先我讲了我这边的检测方法,前处理过程:称取一定量原料(粉末),溶剂溶剂后,定容,上机检测。对方觉得这个方法有问题,觉得这样检测出来的结果是百分比,是用的面积归一化法,理由是全部出峰了。还问我有无原料峰。我说是外标法,选择离子扫描,怎么会出现原料峰呢。对方的处理是用溶剂溶解,再用正己烷萃取,定容,最后上机。其结果经过一系列换算(具体换算过程没听清)。交谈过程中,对方语气不善,我也弄得火气,争争吵吵的,没有有效的沟通。样品直接溶解上机检测,不比溶解后再萃取更好吗?溶解后上机,怎么成了百分比含量?标准品就是这样操作的啊。两人讲不到一起,只能挂电话。事后回想整个通话过程,因为争执,没有很好的有理有据反击她的话。但一想,估计讲了,她也听不进。这也让我想起上次另一个原料塑化剂超标的事情。我这边检测超标后,为了保险起见,公司又送外检了。结果外检报告竟然说是合格的。和第三方检测人员沟通后,对方决定按照我说的方法重新检测,最后检测结果确实超标了。和这次这个一接通,就否定这,否定那不同,双方沟通后,要想一想自己的检测方法是否更科学、合理,然后再改进。我不敢说我的方法绝对正确,对方一定得按我的方法来,但起码先了解清楚,求证后再下结论吧。有什么不对的地方,大家都改进就好。不知道其他版友有无遇到类似问题,原料检测不合格,和供应商沟通过程中,对方全盘否定,无法有效沟通的情况。
最近收到Linasyau来信(检测草甘膦):“我依据《日本厚生省食品中残留农药兽药饲料添加剂检测方法》上面的方法去做,没有做出来,请问有什么需要注意的地方吗?标样衍生和流动相的ph值有什么需要注意的地方呢?”关于检测草甘膦,我没有什么经验。因此在这里设立一个专题讨论,希望有经验的朋友来帮帮忙。另外,有些朋友也反映:依据《日本厚生省食品中残留农药兽药饲料添加剂检测方法》上面的方法去做,有些项目检不出来。大家有碰到类似问题的,也欢迎来讨论。也许《日本厚生省食品中残留农药兽药饲料添加剂检测方法》中有些细节没透露或者具体的实验条件不尽相同,造成实验的失败。希望有经验的朋友来这里传授传授心得体会。
一般 水样,你们检测完了,都要存放几天后,才可以处理掉
请问怎么测一个厚度只有2mm的发光玻璃的量子效率啊?急。。。。。。请高人指点谢谢
测Pb,Cd不加基体改进剂,空白(纯水)信号正常在0.01A以下,加了基体改进剂磷酸二氢铵后空白信号达0.04以上,曲线做不出来
酚试剂法测室内空气甲醛最后一个浓度老是偏低是什么情况,来前辈指导下
[em28] 如主題, 按IEC方法只能 知道'含有,不含有'.但有的客人要求1000PPM 用點測法時又知道樣品含有Cr(VI)時,找廠商要鍍層密度',厚度,表面積'又無法提供與SGS確認,他們也因技術原因未用酸脫法測試.請指點,如何處理?急!!!
一、对于基体为铁的镀(如镀锌、镍、铬)、涂(如塑粉、油漆)层,其膜厚检测目前有几种方法?原理各是什么?哪种测量精度最高?二、我们目前用电磁式测厚仪测锌层,为何总感觉测试数据波动很大?总感觉测试数据不可靠,请问这种设备的测试精底到底有多少?
[em09] 各位高手,大家好!我很想只到用用X射线荧光分析如何测涂膜的厚度?镀锌板底材,涂膜厚度理论值1um,怎样来测这个膜实际的厚度?谢谢大家!
大家知不知道,目前内毒素检测用的鲎试剂都暂停供货了,能买到的都是未经标定的,据说是中检所那边的问题,恢复供应要一个月之久,哪位版友知道具体情况啊?
5750法分光光度计法测水中甲醛,加入显色剂后产生沉淀,为什么?王不吝赐教
根据国标《GBT 5750.9-2006 生活饮用水标准检验方法 农药指标》测水中的草甘膦和呋喃丹,用柱后衍生法,需要用到邻苯二甲醛(OPA)和2-巯基乙醇做衍生试剂,不知道这两种试剂在哪里能买到呀,问了几家卖试剂的,都没有,这两种是不是不属于常规试剂啊,有谁知道哪能买到呢,试剂的规格还有大概价格是多少呀,急用,多谢了!
我们用722紫外分光光度计测循环水的总磷的吸收度 请问测样品时有空白和样品 是不是应该先用空白校正T=100% 然后校正A=0 然后测样品的吸收度 还是先用纯化水校正T=100% 然后空白校正A=0 然后测样品的吸收度 还是直接用空白校正A=0然后测样品的吸收度
请教:X射线能测多厚的样品,即,能将多深范围内的信息反映出来,谢谢!
我要测钢铁工件上镍基或钴基的镀层厚度,大概几个毫米,要求至少毫米级精度,请各位帮帮忙哈 实在很急!谢谢啦~~~
超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确丈量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理丈量。按此原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确丈量,也可以对出产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受侵蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。 使用技巧: 1、一般丈量方法: (1)在一点处用探头进行两次测厚,在两次丈量中探头的分割面要互为90°,取较小值为被测工件厚度值。 (2)30mm 多点丈量法:当丈量值不不乱时,以一个测定点为中央,在直径约为30mm的圆内进行多次丈量,取最小值为被测工件厚度值。 2、精确丈量法:在划定的丈量点附近增加丈量数量,厚度变化用等厚线表示。 3、连续丈量法:用单点丈量法沿指定路线连续丈量,距离不大于5mm。 4、网格丈量法:在指定区域划上网格,按点测厚记实。此方法在高压设备、不锈钢衬里侵蚀监测中广泛使用。 5、影响超声波测厚仪示值的因素: (1)工件表面粗拙渡过大,造成探头与接触面耦合效果差,反射回波低,甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀,耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理,降低粗拙度,同时也可以将氧化物及油漆层去掉,露出金属光泽,使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。 (2)工件曲率半径太小,尤其是小径管测厚时,因常用探头表面为平面,与曲面接触为点接触或线接触,声强透射率低(耦合不好)。可选用小管径专用探头(6mm),能较精确的丈量管道等曲面材料。 (3)检测面与底面不平行,声波碰到底面产生散射,探头无法接受到底波信号。 (4)铸件、奥氏体钢因组织不平均或晶粒粗大,超声波在其中穿过期产生严峻的散射衰减,被散射的超声波沿着复杂的路径传播,有可能使回波湮没,造成不显示。可选用频率较低的粗晶专用探头(2.5MHz)。 (5)探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂,长期使用会使其表面粗拙度增加,导致敏捷度下降,从而造成显示不准确。可选用500#砂纸打磨,使其平滑并保证平行度。如仍不不乱,则考虑更换探头。 (6)被测物背面有大量侵蚀坑。因为被测物另一面有锈斑、侵蚀凹坑,造成声波衰减,导致读数无规则变化,在极端情况下甚至无读数。 (7)被测物体(如管道)内有沉积物,当沉积物与工件声阻抗相差不大时,测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。 (8)当材料内部存在缺陷(如夹杂、夹层等)时,显示值约为公称厚度的70%,此时可用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测。 (9)温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低,有试验数据表明,热态材料每增加100°C,声速下降1%。对于高温在役设备经常遇到这种情况。应选用高温专用探头(300-600°C),切勿使用普通探头。 (10)层叠材料、复合(非均质)材料。要丈量未经耦合的层叠材料是不可能的,因超声波无法穿透未经耦合的空间,而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备),测厚时要特别留意,测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。 (12)耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气,使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。假如选择种类或使用方法不当,将造成误差或耦合标志闪烁,无法丈量。因根据使用情况选择合适的种类,当使用在光滑材料表面时,可以使用低粘度的耦合剂;当使用在粗拙表面、垂直表面及顶表面时,应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次,耦合剂应适量使用,涂抹平均,一般应将耦合剂涂在被测材料的表面,但当丈量温度较高时,耦合剂应涂在探头上。 (13)声速选择错误。丈量工件前,根据材料种类预置其声速或根据尺度块反测出声速。当用一种材料校正仪器后(常用试块为钢)又去丈量另一种材料时,将产生错误的结果。要求在丈量前一定要准确识别材料,选择合适声速。 (14)应力的影响。在役设备、管道大部门有应力存在,固体材料的应力状况对声速有一定的影响,当应力方向与传播方向一致时,若应力为压应力,则应力作用使工件弹性增加,声速加快;反之,若应力为拉应力,则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时,波动过程中质点振动轨迹受应力干扰,波的传播方向产生偏离。根据资料表明,一般应力增加,声速缓慢增加。 (15)金属表面氧化物或油漆笼盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层,虽与基体材料结合紧密,无名显界面,但声速在两种物质中的传播速度是不同的,从而造成误差,且随笼盖物厚度不同,误差大小也不同。
在做蔬菜中氨基甲酸酯类农药的检测,用的是岛津LC-20A,检测器用的是RF-20A荧光检测器(氙灯)。因为随时都可能有样品要做,所以仪器基本是不关的。最近十个农药峰的峰高已经从开始的平均15.0mv降至平均1.0mv,峰面积也降的很厉害(峰型正常)。看了一下检测器的使用时间也超过了限定的2000h,所以就更换了检测灯。原以为更换了检测灯以后峰高和峰面积都会回到初始值,但这几天走样下来发现还是老样子,峰高也没升多少,维持在平均1.5mv左右(峰型正常)。 哪位朋友能解答一下到底是什么原因呢,导致峰高和峰面积值下降的原因是不是由检测灯的使用时间增长引起的?如果是的话那为什么换了灯以后峰高和峰面积值没有回到初始值?还有跟色谱柱没有换是否也有关系呢?