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光学计
仪器信息网光学计专题为您提供2024年最新光学计价格报价、厂家品牌的相关信息， 包括光学计参数、型号等，不管是国产，还是进口品牌的光学计您都可以在这里找到。 除此之外，仪器信息网还免费为您整合光学计相关的耗材配件、试剂标物，还有光学计相关的最新资讯、资料，以及光学计相关的解决方案。
光学计相关的方案
UV-1100紫外可见分光光度计测材料的光学带隙
UV-1100紫外可见分光光度计测材料的光学带隙UV-1100紫外可见分光光度计测材料的光学带隙UV-1100紫外可见分光光度计测材料的光学带隙
光学法车载道路积尘快速测定仪
用途用于连续测量道路积尘负荷。2、 工作原理采用光学法测量车轮扬起来的颗粒物的浓度，乘以换算系数，得到实时的道路积尘负荷。3、 主要配置车体改装、车载测量系统控制器、GPS定位装置、无线通讯装置、车信息通讯装置、光散射法颗粒物浓度测试仪、光学法抽气气路等
Hakuto 离子刻蚀机 10IBE 刻蚀衍射光学元件提高均匀度
衍射光学元件因其独特的光学性能在多个高技术领域中得到广泛应用。随着技术的发展，对衍射光学元件的制造工艺提出了更高的要求。Hakuto 10IBE 离子刻蚀机的应用，为实现高精度和高均匀性的光学元件制造提供了新的解决方案。
上海伯东 Hakuto 离子蚀刻机 10IBE 用于提升碳化硅微光学元件的品质
某光学元件制造商为了优化碳化硅微光学元件, 降低碳化硅微光学元件表面粗糙度, 采用 Hakuto 离子蚀刻机 10IBE 对其进行优化.1. 经过 Hakuto 离子蚀刻机 10IBE 对碳化硅微纳结构进行刻蚀, 以调控结构的线宽和深度, 使结构表面粗糙度由约106nm降低到11.8nm.2. 碳化硅菲涅尔波带片展现出良好的聚焦和成像效果.
三维光学轮廓仪在光学领域的解决方案
光学元件在各个领域都有广泛应用，对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度，从而用于优化加工方法，保证最终元器件的性能指标，是光学元件加工领域的关键问题之一。光学元件的加工精度包括表面质量和面型精度，这些参数会影响其对光信号的传播，进而影响最终器件的性能。此外，各种新型光学元件也需要检测其表面轮廓，比如非球面，衍射光学元件，微透镜阵列等。除了最终光学元件的加工精度以外，各种光学元件加工工艺也需要检测中间过程的三维形貌以保证最终产品的精度，包括注塑、模压的模具，光学图案转印时的掩膜版，刻蚀过程的图案深度、宽度等。
氦质谱检漏仪光学镀膜机检漏
光学镀膜是指在光学零件表面上镀上一层或多层金属 (或介质) 薄膜的工艺过程. 在光学零件表面镀膜的目的是为了达到减少或增加光的反射, 分束, 分色, 滤光, 偏振等要求. 镜片镀膜是其中的一种应用, 通过对镜片的镀膜, 可以实现镜片的防水, 防油, 防静电, 防紫外线, 防蓝光等功能. 其中减反射镀膜是镜片镀膜的基础. 反射率降低了自然透光率就会提升, 镜片也就变得更加通透.
激光驱动光源（LDLS）用于光学系统标定
Energetiq Technology的激光驱动光源（LDLS™）技术是光学元件测试和校准应用的理想选择。本应用说明将描述为什么美国宇航局戈达德太空飞行中心的科学家选择EQ-400 LDLS来校准高光谱望远镜上的探测器，该望远镜将用于观测我们星球的海洋。
量子光学成像解决方案
量子光学成像级分析作为量子科学的主要组成部分，一直是科学研究的热点之一。与量子光学成像相关的科研工作包括冷原子成像及量子关联成像。
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号（总第 51 卷，第二期）上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数（使用光学镀膜的逆向工程）对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数，重校监测系统，改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征，对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而，基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号（总第 51 卷，第二期）上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数（使用光学镀膜的逆向工程）对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数，重校监测系统，改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征，对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而，基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
多自由度可调节光学标准平面镜
多自由度可调节光学标准平面镜是专业为大型光学镜片调整设计的电动万向式镜架,可满足最大0.62米反射镜安装调整,非常适合天文光学和大型高功率激光实验系统使用。
利用OAMII执行流变光学测试
流变光学是指将光学技术应用于变形系统的结构、取向和压力测量。光学测量可以是对流变力学测试的一个重要的补充，因为他们可以帮助理解表现在聚合物和胶体材料上的机制控制的流动性能。光学分析模块OAMII采用偏振测定或测量光的偏振，以确定在主体流动和变形材料的折射率的各向异性。与流变仪相反，光学方法不需要接触材料，且可以专注于极小体积的材料的测试。
智能手机镜头中光学元件透过率的测定
刚刚发布的华为P30手机因后置拍照评分高登上 DXO榜首，随后三星发微博表示不服，并称其S10+手机拍照总分高。可见，手机/数码相机以及摄像机中光学元件的微型化和先进性已取得重大进展。但是要获得还原度高的图像，就需要精确评估镜头中微透镜和滤光片的光学特性。日立UH4150不仅拥有独特的光学系统，大型的样品室，还可以进行专属定制，是测量相机中光学元件的理想工具。
采用Vescent D2-125可重构伺服器激光控制器稳定光学频率梳的产生
Vescent Photonics提供一系列的激光器、激光器驱动及激光器控制电子器件。近年来，采用Vescent电子器件进行光学频率梳的产生与稳定，是很多客户所感兴趣的。 构建光学频率梳的关键一步就是稳定梳齿间隔，加州大学的高级研究员Dr. Shu-wei Huang采用Vescent D2-125可重构伺服器稳定了频率梳的梳齿间隔，其光学频率梳基于微腔激光器。
布鲁克三维光学轮廓仪在光学领域的一些应用
光学元件在各个领域都有广泛应用，对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度，从而用于优化加工方法，保证最终元器件的性能指标，是光学元件加工领域的关键问题之一。
隔振光学平台实现精密光学的稳定基础
在当今的科技领域，光学平台扮演着至关重要的角色。它们在各种科学研究与应用中，如物理、化学、生物医学以及人工智能等，都发挥着举足轻重的作用。本文将简单带您了解光学平台的魅力以及其在实际应用中的作用。
采用化疗可咯和多模光学成像方法研究光子激发诱导线粒体损伤
采用LaVision公司独有的，快门宽度最小可达50皮秒的增强型CCD相机，通过化疗可咯和多模光学成像方法对光子激发诱导线粒体损伤机理进行了研究。
采用配有最新全能型测量附件的 Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计对薄膜进行光学表征
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号（总第 51 卷，第二期）上。 精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数（使用光学镀膜的逆向工程）对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数，重校监测系统，改善对各层的厚度控制。 通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征，对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而，基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
采用千赫兹重频多模激光泵浦光学参量振荡器构成的CH平面激光诱导荧光成像系统性能
采用千赫兹重频多模激光泵浦光学参量振荡器构成的平面激光诱导荧光成像系统对燃烧火焰中的CH自由基的浓度的空间分布进行了测量。测量CH自由基所需的431nm波长处的单脉冲输出能量达到了6mJ。
5塑料材料的光学特征检测
塑料是一种高度透明的、耐用的光材料。塑料材料的光学性能，主要通过透射率特性、颜色和透明度来评价，并使用专业仪器分光光度计测量透射光谱和反射光谱。这些测量不仅提供光学信息，这些光学信息也可以反映这些材料的紫外线和红外线的防护水平。本文使用 日立UH4150型分光光度计检测不同的塑料材料的透过率光谱。UH4150是测试光学材料方面的专家级仪器，具有平行光束，低偏振等性能，可以提供适合不同应用领域检测的检测器和附件。在线PDF阅读
光学操控解决方案
光学操控指的是使用外加光源对生物学样本（尤其是活细胞）进行照射，通过光源与生物、化学分子间的特定相互作用，实现相应的功能。与活细胞相关的光学操控主要有：FRAPP，FRET，光活化，光转换，光遗传学，光学解笼，光学消融，DNA损伤。
等效350米光学望远镜的长基线光学干涉成像
长基线光学干涉仪是地面观测站在高分辨率、可见光和红外波长下研究宇宙的仪器。干涉仪的工作原理与传统成像望远镜是不同的。星光用一些小望远镜捕捉到，这些望远镜之间的间距可达几百米。每个望远镜的输出都是一个直径约10cm的准直光束。这些光束被中继到集中实验室，尺寸缩小直径约1cm，然后与来自其它望远镜光束结合在探测上形成干涉条纹，通过对多对组合光束的条纹图形分析，可以重建被观察目标的图像。
凯戈纳斯：近场光学显微镜与传统光学显微镜的对比介绍
近场探测原理，悬臂式光纤探针等．介绍光纤探针的制作方法，科学界把探针与样品之间的距离小于几十纳米的范围称为近场，而大于这个距离的范围叫做远场。显然，STM、AFM 等利用探针在样品表面的扫描的方法属于近场探测，而对于光学显微镜、电子显微镜等远离样品表面进行观测的方法称为远场方法。
安捷伦Cary 5000紫外可见近红外光度计和积分球附件测定太阳能电池的光学性能
紫外可见近红外分光光度计是表征太阳能电池各组件和电池的光学性能（反射率和透射率）必不可少的工具。本文介绍了应用高性能的光度计Cary 5000配备积分球附件快速测试电池表面的反射率，并且采用小光斑附件缩小照射到样品上的光斑尺寸，直接对电池表面电极之间的微小面积进行测试，得到了高分辨率、低噪声的高质量光谱图，比较了几种情况下电池表面反射率的变化。
建筑玻璃中光学性能检测方案(紫外分光光度计)
早期人民对玻璃的要求紧是透光、平整和外观质量好。随着能源及环境政策的不断深入落实，节能建筑、绿色建筑、环境友好性建筑等概念日益得到了人们的认可，并迅速发展起来。这些类型的建筑都对玻璃提出了越来越多的光学热工性能指标的要求，那么对于玻璃加工的企业来说，对于产品质量的把控也要需要符合相应的指标要求。《 JC/T 536-94 吸热玻璃》规定了测量可见光透射比及透射颜色均匀性，其中可见光透射比按GB 2680-94规定测量。本文依据GB 2680-94标准对不同样本进行了检测，并依据JC/T 536-94的规定来判断是否符合其光学性能要求。
采用配有最新全能型测量附件的 Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计对薄膜进行光学表征
我们研究了将多角度光谱应用到薄膜的光学表征和多层镀膜逆向工程上。UMA 作为安捷伦的新型先进分光光度附件（安装在 Agilent Cary 5000 UV-Vis NIR 分光光度计上），可以提供多角度、s 偏振态和 p 偏振态下的反射率和透射率数据。验证了测量数据的准确性，并证实了从紫外到近红外的宽光谱范围内，在入射角最高达到 40° 的情况下，所有的测量数据均具有很好的准确性。与传统的光谱分析相比，多角度光谱光度测定为研究人员提供了更多的实验信息。我们的研究表明，新的 UMA 分光光度计附件可以为各种光学镀层的表征及逆向工程问题的解决提供实验信息。
折弯机测试手机薄膜抗裂性光学性能变化
本实验旨在利用折弯机测试手机薄膜性能。选取不同材质、厚度和品牌的手机薄膜样品，通过设定不同折弯角度、速度等实验条件，进行折弯实验。实验步骤包括样品准备、实验前性能测试、折弯实验、实验后性能测试及数据分析。对样品进行厚度测量、光学性能测试和微观观察，对比不同样品在折弯前后的性能变化，分析折弯参数对手机薄膜性能的影响，最终形成实验报告，为手机薄膜质量控制提供依据。
利用光学显微镜研究多金属氧簇复合物超分子自组装形貌
本文采用光学显微镜研究了多金属氧簇复合物超分子组装的形貌结构，通过光学显微镜详细表征复合物在溶液中聚集形貌，检测改变组装微环境导致聚集形貌的转变，光学显微镜是复合物组装结构可逆调控表征的有效手段。
与 ISO 9050、EN410、JIS R3106等先进国际标准接轨的玻璃光学性能测量方案
目前国内外建筑玻璃行业目前测量使用的玻璃光学性能的计算软件主要有Optic5 、Window 5及美国PerkinElmer公司的ASSP Software（包括建筑玻璃、防护玻璃、色度、雾度等模块）等。本文介绍了PE 针对材料的光学性能研究的UV/IR分析解决方案。
涂层光学晶片的自动分光光度空间分析
前言频繁且经济有效的光谱表征对于开发具有竞争力的光学薄膜涂层非常重要。完全自动化且无人值守的光谱测量有助于降低每次分析的成本、提高分析效率，还有助于扩展质保程序。在生产过程中，满负荷运转的沉积室中常会涂覆大面积、通常呈圆形的衬底晶片。高效的光学表征工具必须能够在晶片被切割之前从用户指定的晶片表面的特征点获得准确且有意义的信息。
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