测微计

400系列产品可测大量不同类型的工件。可通过硬度计侧面的选力旋钮轻易地选择试验力，而无需更换砝码。仅需将选力旋钮旋至所需力值的位置，即可选择10gf-2kgf的所有常用力值。400系列测试范围广，在传统显微硬度计中极为突出。高准确性、灵活性与纯技术效率是400 系列产品的代名词。所有型号均配有一个自动转塔，全自动4工位转塔，用于显微维氏或宏观维氏、努氏测试，可选2个或3个物镜，所有物镜均可用于测量及观察。1个或2个压头工位(维氏和努氏)。400A系列产品特性自动转塔模拟显微镜自动载荷控制X-Y工作台，分辨率0.01mm内置式高速打印机第二光学/视频通道400A系列产品可以选择各种配置，载荷范围从10gf/0.098N到2kgf/19.6N。标准四工位自动转塔，可配置两个压头或三个物镜来确保最大的灵活性。400A系列产品具有一个模拟目镜（15x放大率），设计巧妙的测微计可以很容易地测量压痕对角线长度。将测微计上读取的数值键入到用户界面。维氏或努氏硬度的自动计算结果将在屏幕上直接显示出来。400D系列产品特性自动转塔高分辨率数字显微镜，数值传输转换成其它硬度标尺自动载荷控制统计与转换0.01mm分辨率X-Y工作台内置式高速打印机第二光学/视频通道作为标准400系列的可选方案，400D系列产品配备一个数字显微镜，拥有更强大的功能和更高的读数分辨率。对角线测量结果自动传输至CPU系统，并计算成实际的维氏或努氏硬度值。400D系列产品的显示功能更加先进。系统实时显示统计值，并可转换为洛氏、布氏、里氏或极限抗拉强度。423D是该系列产品中的顶端型号，是目前市场上进的传统显微维氏测试系统之一。

便携式现场显微镜PSM-5和PSM-10是适用于野外现场作业的便携式显微镜。PSM-5可以提供400倍的放大倍数，PSM-10更可高达600倍。两种显微镜都十分适用于对用TransPol-5和MoviPol-5制备后的表面进行检测。建议使用复型进行更详细的实验室分析。该显微镜可以用于对复型进行预检测。电池－为LED灯供电强劲的LED灯由电池供电因此无需外置电源。两种型号的显微镜都配有10倍的目镜和10倍的物镜，即可提供100倍的放大倍数。物镜两种显微镜均可以安装20倍和40倍的物镜。通过60倍的物镜可以达到极限放大值，但是该物镜只适用于PSM-10。数码相机可以选装高清数码相机对现场结果进行抓拍。测量目镜和平板测微计为了校对测量，可以任意选装测量目镜和平板测微计。磁性十字工作台磁性十字工作台特别适用于对管具等的检查。启用磁性夹具之后，显微镜可以很容易的与铁质工件相接。该选项只适用于PSM-10。用于弧形表面的三脚底座当显微镜用于弧形表面时，PSM-10可以将标准的低三角底座更换为高三角底座。铝制装运箱显微镜、照相机和连接配件均配有铝制装运箱。 详情请下载产品手册或联系司特尔。或登录官网

EVG610 BA 键合对准系统 用于晶圆到晶圆对准的手动键合对准系统，适用于学校和工业研究。 一、简介EVG610键合对准系统专为晶圆与晶圆对准设计，晶圆尺寸zui大可达150 mm。EV Group键合对准系统提供手动高精度带有底部显微镜的校准台。EVG的键合对准系统的精度能满足MEMS生产和3D集成应用等新兴领域中苛刻的对准要求。 二、特征 zui适用于EVG501和EVG510键合系统 晶圆和基板尺寸可达150/200 mm 手动高精度对准 手动底侧显微镜 基于Windows系统的用户界面 完美的多用户概念（无限数量的用户帐户，各种访问权限，不同的用户界面语言） 桌面系统设计，占地面积zui小 支持IR对准过程 研发和试生产线的zui低的拥有成本（TCO） 三、技术参数1.基本配置：台式机架：可选隔振模式：被动 2.对准方式：背部对住精度：±2μm 3 σ透射对准精度：±1μm 3 σ红外对准：可选 3.对准台：高精度测微计：手动可选：机械测微计楔形补偿：自动技术/销售热线：021-38613675邮箱：xppu@dymek.com

产品介绍A601-2型平台安装式倾角计采用了我们先进的测微计调节设计，用于高精度的倾角测量。它配有内置的测微计调平支腿，便于安装在任何水平面上。A601-2还包括两个可切换的增益和两个低通滤波器的设置开关。由于使用了以绝对重力方向为基准的电解液传感器，A601-2具有超高的分辨力，高达25 nrad，且几乎没有长期漂移。输出为稳定的±8V直流电压（±16V差分）。A601-2坚固、可靠、极其精确，是火山监测、高精度岩土工程、桥梁挠度监测、精密计量、雷达平台调平和高准确度倾角监测等应用的选择。技术规格

显微维氏硬度计HV-1000U●HV-1000U显微维氏硬度计，在机械、光学、光源上采用独特精密设计，使压痕成像更清晰，测量更精确。读取测微计刻度手动输入 压痕对角线长度，即可自动计算出硬度值并显示在屏幕上。在屏幕上能显示试验方法、试验力、压痕长度、保荷时间、转换标尺，数据结果可通过打印机输出。可选配努氏压头进行努氏硬度测量，也可选配CCD图像自动测量系统。●产品机身部分由浇铸工艺一次成型，并经过了长时间的时效处理。相对于拼板工艺，长期使用形变量极小，并可有效适应各种恶劣的环境；● 汽车烤漆，漆质档次高，抗划伤能力强，使用多年依然光亮如新；● 侧摇升降系统极大的提高测试稳定性以及精度，测试完成后不用再次对焦；● 高级光学工程师设计的光学系统不仅图像清晰，还可作为简单的显微镜使用，亮度可调，视觉舒服，长时间操作不容易疲劳；● 可选配CCD图像处理系统以及视频测量装置；●配置了蓝牙模组，蓝牙打印机，可选配蓝牙PC接收器实现无线打印和无线数据传输；●精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美国ASTM E384。● 应用范围:1、黑色金属、有色金属、IC薄片，表面涂层、层压金属；2、玻璃、陶瓷、玛瑙、宝石、薄塑料等；3、碳化层和淬火层的深度及梯度的硬度测试；4、可选配努氏压头进行努氏硬度测量，也可选配CCD图像自动测量系统。HV-1000U显微维氏硬度计技术参数:名称技术参数测量范围5-5000HV试验力牛顿（N）0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807克力（gf）10、25、50、100、200、300、500、1000光学测量系统物镜（N）10x,40x总放大倍数100x，400x测量范围200μm分度值0.025μmXY坐标试台尺寸行程分度值100x100mm25x25mm0.01mm电源AC220V/50Hz；外形尺寸530*290*490mm试样允许最大高度120mm重量40Kg压头中心至机壁距离110mmHV-1000 附件箱标配:标配数量XY座标试台、细轴试台、薄片试台、小平口钳试台各1个大V型块、小V型块金刚石四棱锥压头各1个金刚石四棱锥压头1只（附主机）标准显微硬度块2块

HY-774B海棉压缩永久变形装置橡胶永久压缩歪度测试器Constant deflection compression set tester压缩永久变形量定义：指试样的初始厚度与在规定时间、规定温度下压缩后，经过规定恢复时间的试样最终厚度差异。差异的大小与初始厚度有关。 原理：用夹具将海绵压陷至原始厚度的50%等指定压缩量，放置将温度调至70度等的恒温箱内，待至22个小时等规定时间之后从中取出压缩器，将试样从压缩器中取出放置30min后，用专用微孔材料测微计测量厚度，计算其变形量符合标准： GB/T6669、ISO1856方法A（ASTM D3574，JIS K6400-7）等产品技术规格：试样要求：长50mm×宽50mm×D25mm压缩器：两层，能放八块样品压缩比度：50％（环形限制器厚度：12.25mm） 75％（环形限制器厚度：18.75mm） 90％（环形限制器厚度：22. 5mm）恒温箱温度范围：RT+10～ 250℃±2.5%恒温箱计时范围：0～9999分钟（带定时等待功能）恒温箱内箱尺寸：450×350×450恒温箱外型尺寸：750×470×700产品配置：八工位标准主机一台12.25mm、18.75mm、22. 5mm标准限制器各八个（可选配其它指定限制环）开口扳手一把恒温箱一台选配：泡沫塑料测微计等测厚装置产品说明书一份，“CNAS”实验室国际认可校准报告书一份

KHVS-5MT触摸屏数显自动转塔维氏硬度计摘要：KHVS-5MT触摸屏数显自动转塔维氏硬度计，采用8寸触摸屏和高速ARM处理器，显示直观，人机互动友好，操作简便；运算速度快，数据库巨量存储，数据自动修正，并提供数据折线报表。产品介绍：1、机身使用优质铸铁一次浇铸成型，配合以汽车烤漆处理工艺，外形圆润美观；2、配置了自动转塔功能，高分辨率的测量和观察物镜，结合内置长度编码器的高清数字测微目镜，实现了压痕对角线的一键测量，消除人为操作干扰与读数误差；3、便捷操作系统，可自动进行全硬度标尺的单位转换；4、可设置硬度值的最大值和最小值，当测试值超过设定范围时，发出报警音；5、具有软件硬度值修正功能，可以在一定范围内直接对硬度值进行修正；6、具有数据库功能，对试验数据自动进行分组保存，每组可保存10个数据，可以保存2000个以上数据；7、具有硬度值曲线显示功能，直观显示硬度值的变化；8、可选配CCD图像处理系统，另可选配努氏压头进行努氏硬度测量；9、配置无线蓝牙打印机，并可通过RS232、USB接口输出数据；10、精度符合GB/T4340.2-2018 ISO6507-2 和美国ASTME384。应用范围：1、黑色金属、有色金属、IC薄片，表面涂层、层压金属；2、玻璃、陶瓷、玛瑙、宝石、薄塑料等；3、碳化层和淬火层的深度及梯度的硬度测试；4、适用于平行平面和微小零件及超薄零件的精密维氏测量。技术参数：型号KHVS-5MT测量范围5-5000HV试验力加荷方式砝码加荷HVS-5AT0.3、0.5、1.0、2.0、3.0、5.0kgf数据输入方式自动转塔方式自动试件允许最大高度220mm压头中心到机壁离130mm镜头倍率HVS-5AT10×，40×放大倍率100×，400×最小步距0.025μm0.1μm硬度分辨率0.1HV电源AC 220V，50Hz外形尺寸610*250*750mm重量80kg 附件标准配置：测微计1个大平试台1个小平试台1个V型试台1个金刚石维氏压头1个标准维氏硬度块3块蓝牙打印机1个

这台BDC Labs开发的心脏瓣膜疲劳试验机在全球范围内提供了接近临床环境的人工心脏瓣膜疲劳测试平台VDT-3600i型心脏瓣膜疲劳试验机根据ISO 5840的要求，对经导管植入或外科手术植入主动脉瓣、二尖瓣和肺动脉瓣进行疲劳耐久性能加速测试评估。此系统包含6组完全独立的测试站，每站由独立电磁电机驱动，从而可以对每个站的位移和频率进行独立控制。VDT-3600i型心脏瓣膜疲劳试验机通过经久耐用的RB-5型电机驱动，将液体推送流经测试瓣膜，从而模拟体内临床环境下的瓣膜开闭动作，加速测试频率最高可达50 Hz。模块化设计满足最大工作弹性VDT-3600i 可针对用户的不同应用及预算提供多种不同配置，基于其模块化的设计理念，用户可以采用1站、2站或更多测试单元的组合配置，来满足用户实验室测试能力的要求。此外，初次购买时，用户还可选择6站基座但只带有一个或更多测试单元，当后续测试需求增加时可以在现场非常方便地升级为更多测试单元直至6站完整测试平台。VDT-3600i是高频测试专业实验室的最佳选择！ 超高精度和准确性，带来临床信心的最大化VDT-3600i是业内唯一带有高准确度调节装置 – 高精度螺旋测微计的心脏瓣膜疲劳试验机，每个测试站都带有基于螺旋测微计调节的节流阀，用于独立精确调节瓣膜的加载压力，使其完全符合ISO 5840的要求。VDT-3600i的主要工作特点* 可同时测试不同尺寸规格的多个瓣膜，最多可同时测试6个样品* 模块化设计允许用户只采购有限的测试单元而非全部6组测试单元* RB-5&trade 驱动系统可在加速测试频率下提供增强的加载性能* 无波纹管设计消除了波纹管带来的腐蚀和污染问题* 每站独立的螺旋测微计式节流调节阀允许用户针对每个阀进行独立的流体动力学加载控制* 每个测试单元都包含1个流入及1个流出液体压力传感器* 每个测试模组的流体循环系统可以独立于整个系统，如果一个或更多的假体失效，不影响系统继续对剩余 的瓣膜样品进行测试* StaysTM VDT 软件包提供了连续实时监控和数据记录功能，可以连续记录系统参数，并可针对每个测试站 设置报警和安全变量，标准配置带有电子邮件报警功能* ISOCounAccuracy 软件功能包可在用户设定测试条件下预估实际循环测试次数

HVS-50A数显自动转塔维氏硬度计● HVS-50A数显自动转塔小负荷维氏硬度计，在机械、光学、光源上采用独特精密设计，使压痕成像更清晰，测量更精确。采用彩色液晶显示屏，高速32位微处理器控制系统，充分实现人机对话及自动化操作。具有较高的测试精度，操作简单、灵敏度高、使用方便，示值稳定等特点。 采用电子闭环控制施加试验力；完全实现了试验力的自动施加、保持、卸除、硬度值直接显示等功能。结构模块化设计，开机即用，无需安装砝码。● 产品机身部分由浇铸工艺一次成型，并经过了长时间的时效处理。相对于拼板工艺，长期使用形变量极小，并可有效适应各种恶劣的环境；● 汽车烤漆，漆质档次高，抗划伤能力强，使用多年依然光亮如新；● 配置了自动转塔，操作员可轻松自由切换高低倍物镜对试样进行观察和测量，避免人为操作习惯对光学物镜、压头和试验力系统的损伤；● 高级光学工程师设计的光学系统不仅图像清晰，还可作为简单的显微镜使用，亮度可调，视觉舒服，长时间操作不容易疲劳；● 采用高分辨率的测量和观察物镜，结合内置了长度编码器的高清数字测量目镜，实现了压痕对角线长度的一键测量，摆脱了读取过程中手动输入的误差和烦恼；● 可选配CCD图像处理系统以及视频测量装置；● 配置蓝牙模组，蓝牙打印机，可选配蓝牙PC接收器实现无线打印和无线数据传输；● 精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美国ASTM E384。● 应用范围:1、黑色金属、有色金属、IC薄片，表面涂层、层压金属；2、玻璃、陶瓷、玛瑙、宝石、薄塑料等；3、碳化层和淬火层的深度及梯度的硬度测试,4、适用于平行平面和微小零件及超薄零件的精密维氏测量。HVS-50A数显自动转塔维氏硬度计技术参数:名称HVS-50A数显自动转塔维氏硬度计 测量范围5-5000HV试验力牛顿（N）9.807、19.614、24.518、49.035、98.07、196.14、294.21、490.35克力（gf）1、2,、2.5、5,、10、20,、30、50光学测量系统物镜（N）10x,20x总放大倍数100x，200x测量范围400μm分度值0.1μm电源AC220V/50Hz；外形尺寸620*330*640mm试样允许最大高度200mm重量70Kg压头中心至机壁距离130mmHVS-50A数显自动转塔维氏硬度计附件箱标配:标配数量数显测微计、大平试台、小平试台各1只金刚石四棱锥压头1只（附主机）标准显微硬度块2块

岩相精密切割&研磨一体机METCUT-10GEO性能：◆ METCUT-10GEO是一款先进的台式岩相薄片切割/磨削系统，一机两功能◆ 切割室和研磨室分列两侧，防护罩上翻盖，各种操作动作所需的空间极限设计，便利性和安全性高◆ 金刚石切割片和金刚石杯形砂轮同轴，提高了样品切割、研磨的准确度和平行性◆ 独立真空系统，分别接入切割室和研磨室的真空卡盘，由其安全地控制着载玻片样品的切割和研磨 ◆ 大、小真空卡盘各一对，兼容所有标准载玻片尺寸◆ 切割的厚度定位和研磨的减薄均由测微计控制◆ Y轴纵向切割，手轮进给操作；Y轴纵向研磨，手柄前后移动，使用者制备样品的自由度大◆ 触摸屏控制水、气和电机，操作简单而安全◆ 透明防护罩+LED照明，使操作过程清晰可视◆ 外置清洗水管，便于清洁维护◆ 防护罩联锁装置、急停开关等，充分保证安全◆ 适用于各种样品的重新切片和减薄，如，岩石和矿物、混凝土、水泥、陶瓷、骨骼和牙齿等岩相精密切割&研磨一体机METCUT-10GEO技术参数： 电源 220V，单相，50Hz 电机功率 1Hp(750W) 控制 触摸屏控制 切割能力 60mm 减薄能力 70μm，30µ m 金刚石切割片直径 10in(254mm) 金刚石杯形砂轮直径 10in(250mm) 轴心孔径 1.25in(31.75mm) 切割片/砂轮转速 100-3000rpm/min，增量1rpm/min 切割平台（W×D） 150×170mm T型槽 8mm 真空卡盘兼容载玻片 27×46mm，2×3in 操作方式 切割：X轴（横向）测微计旋钮定位，行程20mm，进给精度0.005mm 切割：Y轴（纵向）手动切割，行程224mm 研磨：Y轴（纵向）手动研磨，数字测微计控制，进给精度0.001m 真空系统 独立真空系统，0.75Hp(550W)，8.5CFM，15Micron 进水、出水、气路 进水管（OD.）8mm；出水管（ID.）32mm；气路管（OD.）12mm 薄片粘结台 8个压簧，带加热台，温度0-300℃，温控数显，（选配） 安全系统 仓门安全联锁；除非作业停止，否则无法打开仓门；醒目的急停开关 尺寸（W×D×H） 主机1100×680×450mm，真空泵400×400×460mm 重量 主机130kg，真空泵28.5kg订货信息：产品编号 产品描述 50 07 岩相精密切割&研磨一体机 METCUT-10GEO 50 07-MB 薄片粘结台 METBOND GEO CD-10-03 金刚石切割片，10in（254mm），厚度1.1mm CD-10-70CW 金刚石杯形砂轮，10in（250mm），70µ m，金属粘结 CD-10-30CW 金刚石杯形砂轮，10in（250mm），30µ m，树脂粘结 MGS-144 载玻片，27×46mm，144片/盒 MMA-1 热熔胶，22×178mm，1根/盒 CS-01 磨石，100×12.5×12.5mm，1块/盒

同轴狭缝 OMXF12B 产品特点：材质：6061-T6 铝合金 产品介绍：OMTOOLS同轴狭缝 OMXF12B用于30 mm笼式系统,利用测微计精密调节狭缝宽度,狭缝由两个A2钢质叶片组成。该狭缝位于SM05螺纹通孔中心，且它的宽度可用内置的测微计调节。该机构的独特设计为精密测微计的调节和狭缝宽度上的相应变化提供了1对1的对应关系，实际狭缝宽度范围从完全关闭至6.0 mm宽，其中测微计每转提供0.5 mm的调节。在完全关闭的位置，两个叶片相接触。然而，叶片上的缺陷和叶片的平行度可能造成存在宽度最大25 μm的间距。调节狭缝宽度时，狭缝的敞开口位于SM05螺纹孔径中心。该狭缝安装在一个外壳内，外壳还有四个φ6通孔，φ6通孔侧面采用M3紧定螺丝固定，用来安装夹紧?6 mm同轴笼杆，兼容30mm笼式系统。底部带M4螺纹孔适用于安装光学接杆。 型号中心孔螺纹规格狭缝最大宽度调节精度OMXF12BSM05内螺纹6.0mm0.5mm/转

自21世纪以来，由半导体微电子技术引发的微纳米加工时代依赖于微纳米尺度的功能结构与器件，实现功能结构微纳米化的基础是微纳米加工技术。台式Maskaligner对准光刻机打破了市面上传统激光直写设备高昂价格壁垒，是现阶段市面上低价的高品质对准光刻机；无需预热长寿命冷LED光源，低散度和高均匀性，内置同轴全高清校准数字显微镜，高品质电子晶圆压力和间隙控制，基于测微计的XYR晶圆对准台，多个物镜头灵活切换使用。

规格：货号CS-5000CNCCS-H5000CNCX1 轴测量范围200mm分辨力0.00625μm长度基准激光全息测微计驱动速度CNC型最大40mm/s操纵杆0 - 40mm/s测量速度0.02 - 0.2mm/s (表面粗糙度), 0.02 - 2mm/s (形状/轮廓)测量方向向前/ 向后直线度(使用标准测针)(0.1+0.0015L)μm L: 驱动长度 (mm)(0.05+0.0003L)μm L: 驱动长度 (mm)(使用二倍长型测针)(0.2+0.0015L)μm L: 驱动长度 (mm)(0.1+0.0015L)μm L: 驱动长度 (mm)精度(20oC)±(0.3+0.002L)μm L: 驱动长度 (mm)±(0.16+0.001L)μm L: 驱动长度 (mm)Z1 轴 (检出器)测量范围(使用标准测针)12mm12μm(使用二倍长型测针)24mm24μm分辨力(使用标准测针)0.004 μm0.001μm(使用二倍长型测针)0.008μm0.002μm测针针尖垂直运动弧形移动长度基准激光全息测微计精度(20oC)(20oC) ±(0.3+|0.02H|)μm H: 测量高度 (mm)±(0.07+|0.02H|)μm H: 测量高度 (mm)测力(使用标准测针)4mN(固定)(使用二倍长型测针)0.75mN(固定)跟踪角度向上: 60o, 向下: 60o, (根据表面粗糙度)测针针尖形状标准测针针尖角度: 40o, 针尖半径: 5μm, 金刚石针尖标准球头测针球头针尖半径: 0.25mm, 蓝宝石 2倍测针2倍测针针尖角度: 40o, 针尖半径: 5μm, 金刚石针尖2倍测针-针尖角度: 60o, 针尖半径: 2μm, 金刚石针尖 2倍球头测针2倍球头测针球头针尖半径: 0.25mm, 蓝宝石测针方向向下Z2 轴 (立柱)行程范围Z2 轴 (立柱, S 型)300mmZ2 轴 (立柱, H 型)500mm-分辨力0.05μm长度基准反射型线性编码器驱动速度CNC型最大200mm/s操纵杆0 - 50mm/s基座尺寸 (W×D)750×600mm基座材料花岗岩注:虽然天然石材测量桌的外观各有不同，但材料的稳定性是值得信赖的。

MultiPrep™ 系统适用于高精密（金相，SEM，TEM，AFM等）样品的半自动准备加工。主要性能包括平行抛光，精确角度抛光，定点抛光或几种方式结合抛光；它解决了操作者之间的不一致性，提供可重复的结果，而不管他们的技能如何； MultiPrep 无须手持样品，保证只有样品面与研磨剂接触。 双测微计（倾斜度和摆动度）允许相对于研磨盘进行精确的样品倾斜度调整；精密的Z-轴指示器保证在整个研磨/抛光过程中维持预定义的几何方向。 数字指示器可以量化材料的去除率，可以实时监测或进行预先设定的无人操作。可变速的旋转和振荡，能够最大限度地提高整个研磨/抛光盘的使用和减少手工制样。可调负荷控制，扩大了其从小样品（易碎样品）到大样品的全方位处理能力。 常见的应用包括并联电路层级，横截面，楔角抛光等

介电常数介质损耗测量方法1、范围本标准规定了在15Hz?300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、湿度，在特殊情况下也与电场强度有关。有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。 2、规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的zui新版本。凡是不注日期的引用文件，其zui新版本适用于本标准。IEC60247:1978 液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 3、术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1相对电容率relative permittivityε r电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； ……………………………（1）式中；εr——相对电容率 Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；Co——真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为： ……………………………（2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm3.2介质损耗角dielectric loss angleδ由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。3.3介质损耗因数1） dielectric dissipation factortanδ损耗角δ的正切。3.4[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexε''r该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。3.5复相对电容率 complex relative permittivityεr由相对电容率和损耗指数结合而得到的：式中：εr——复相对电容率；ε''r——损耗指数；ε'r、εr——相对电容率；tanδ——介质损耗因数。注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 并联等值电路 串联等值电路 式中：Cs——串联电容；Rs——串联电阻； 1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。CP——并联电容；RP——并联电阻。虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。 4、电气绝缘材料的性能和用途4.1电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；用作电容器介质。4.2影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。4.2.1频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。4.2.2温度损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。4.2.3湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的。注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。4.2.4电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。 5、试样和电极5.1固体绝缘材料5.1.1试样的几何形状测定材料的电容率和介质损耗因数，zui好采用板状试样，也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时，大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高度，zui好是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容zui好取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF，5.1.2电极系统5.1.2.1加到试样上的电极电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。.5.1.2.2试样上不加电极表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插入电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。下面两种型式的电极装置特别合适.5.1.2.2.1空气填充测微计电极当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。5.1.2.2.2流体排出法在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去。试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。5.1.2.3边缘效应为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。此外，在一个合适的频率和温度下，边缘电容可采用有保护环和无保护环的（比较）测量来获得，用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足精度要求。5.1.3构成电极的材料5.1.3.1金属箔电极用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度大为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。5.1.3.2烧熔金属电极烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，zui好采用金。5.1.3.3喷镀金属电极锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它们不穿透非常小的孔眼。5.1.3.4阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。5.1.3.5汞电极和其他液体金属电极把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。5.1.3.6导电漆无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂上银漆后不能马上进行试验，通常要求12h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响。要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。5.1.3.7石墨一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5.1.4电极的选择5.1.4.1板状试样考虑下面两点很重要：a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：……………………………（12）式中：△εr——相对电容率的偏差；εr——相对电容率；h——试样厚度； Ah——试样厚度的偏差。若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时 ……………………………（13）式中：△εr、εr、h同式（12）。εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3?10之间的材料，能给出zui高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是zui好的。5.1.4.2管状试样对管状试样而言，合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成，外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞，沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。大直径的管状或圆筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极，为了保证电极和试样之间的良好接触，需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。5.2液体绝缘材料5.2.1试验池的设计对于低介质损耗因数的待测液体，电极系统重要的特点是：容易清洗、再装配（必要时）和灌注液体时不移动电极的相对位置。此外还应注意：液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电极材料，温度易于控制，端点和接线能适当地屏蔽；支撑电极的绝缘支架应不浸沉在液体中，还有，试验池不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量精度。满足上述要求的试验池见图2?图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘，图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，1EC 60247:1978对此已详细叙述。由于有些液体如氯化物，其介质损耗因数与电极材料有明显的关系，不锈钢电极不总是合适的。有时，用铝和杜拉铝制成的电极能得到比较稳定的结果。5.2.2试验池的准备应用一种或几种合适的溶剂来清洗试验池，或用不含有不稳定化合物的溶剂多次清洗。可以通过化学试验方法检查其纯度，或通过一个已知的低电容率和介质损耗因数的液体试样测量的结果来确定。3试验池试验几种类型的绝缘液体时，若单独使用溶剂不能去除污物，可用一种柔和的擦净剂和水来清洁试验池的表面。若使用一系列溶剂清洗时则后要用大沸点低于100°C的分析级的石油醚来再次清洗，或者用任一种对一个已知低电容率和介质损耗因数的液体测量能给出正确值的溶剂来清洗，并且这种溶剂在化学性质上与被试液体应是相似的。推荐使用下述方法进行清洗。试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用瑢剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干30min。待试验池的各部件冷却到室温，再重新装配起来。池内应注人一些待试的液体，停几分钟后，倒出此液体再重新倒人待试液体，此时绝缘支架不应被液体弄湿。在上述各步骤中，各部件可用干净的钩针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效的内表面不与手接触。注1:在同种质量油的常规试验中，上面所说的淸洗步骤可以代之为在每一次试验后用没有残留纸屑的干纸简单地擦擦试验池。注2:采用溶剂时，有些溶剂特别是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的，所以要注意防火及毒性对人体的影响，此外，氧化物溶剂受光作用会分解。5.2.3试验池的校正当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数'。“电极常数”C。的确定按式（14）: ……………………………（14）式中：Cc——电极常数；Co——空气中电极装置的电容；Cn——充有校正液体时电极装置的电容；εn——校正液体的相对电容率。从C。和Cc的差值可求得校正电容Cg并按照公式来计算液体未知相对电容率εx。式中：Cg——校正电容；Co——空气中电极装置的电容；Cc——电极常数|Cx——电极装置充有被试液体时的电容；εx——液体的相对电容率。假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同温度下测定的，则可求得zui高精度的εx值。采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。 6、测置方法的选择测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种：零点指示法和谐振法。6.1零点指示法适用于频率不超过50MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥（也就是互感耦合比例臂电桥）和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。6.2谐振法适用于10kHz?几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。 7、试验步骤7.1试样的制备试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。应地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。7.2条件处理条件处理应按相关规范规定进行。7.3测量电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。在1MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统（见图1所示），当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。 8、结果8.1相对电容率εr试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C'x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为： ……………………………（17）式中：εr——相对电容率；C'x——没有保护电极时试样的电容；Ce——边缘电容 Co——法向极间电容；Co和Ce能从表1计算得来。必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。测微计电极间或不接触电极间被测试样的相对电容率可按表2、表3中相应的公式计算得来。8.2介质损耗因数tanδ介质损耗因数tanδ按照所用的测量装置给定的公式，根据测出的数值来计算。8.3精度要求在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%，介质损耗因数的精度为±（5%±0.0005）。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介质损耗因数的实测精度；所用电极装置引起的这些量的校正精度；极间法向真空电容的计算精度（见表1）。在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分乏几。如果试样厚度的测量能到±0.005mm，则对平均厚度为1.6mm的试样，其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到±0.1%的精度，但它是以平方的形式引人误差的，综合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.0003，数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的±0.00005介质损耗因数的范围通常是0.0001?0.1，但也可扩展到0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时，有可能检测出0.00002的介质损耗因数。1?5的相对电容率可测到其真值的±2%，该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制，也受到测微计电极系统误差的限制。 9、试验报告试验报告中应给出下列相关内容：绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；试样条件处理的方法和处理时间；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；测量仪器；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的电压；施加的频率；相对电容率εr（平均值）；介质损耗因数tanδ（平均值）；试验日期；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。表1 真空电容的计算和边缘校正（1）极间法向电容（单位：皮法和厘米）（2）边缘电容的校正（单位：皮法和厘米）（3）1.有保护环的圆盘状电极 2.没有保护环的圆盘状电极a）电极直径=试样直径 b）上下电极相等，但比试样小 其中：ε1 是试样相对电容率的近似值，并且a≤h表1（续）（1）极间法向电容（单位：皮法和厘米）（2）边缘电容的校正（单位：皮法和厘米）（3）c）电极直径=试样直径 其中：ε1 是试样相对电容率的近似值，并且a≤h3.有保护环的圆柱形电极 4.没有保护环的圆柱形电极 其中：ε1 是试样相对电容率的近似值试样的相对电容率：其中：C'x——电极之间被测的电容；In——自然对数；Ig——常用对数。表2 试样电容的计算——接触式测微计电极试样电容注符号定义’1.并联一个标准电容器来替代试样电容CP——试样的并联电容△C——取去试样后，为恢复平衡时的标准电容器的电容增量Cr——在距离为r时，测微计电极的标定电容Cs——取去试样后，恢复平衡，测微计电极间距为s时的标定电容Cor，Coh——测微计电极之间试样所占据的，间距分别为r或h的空气电容。可用表1中的公式1来计算r——试样与所加电极的厚度h——试样厚度相对电容率: CP=△C+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容CP=Cs-Cr+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。3.并联一个标准电容器来替代试样电容当试样与电极的直径同样大小时，仅存在一个微小的误差（因电极边缘电场畸变引起0.2%?0.5%的误差），因而可以避免空气电容的两次计算。CP=△C+Coh试样直径等于测微计电极直径，施于试样上的电极的厚度为零。表3电容率和介质损耗因数的计算——不接触电极相对电容率（1）介质损耗因数（2）符号意义（3）1.测微计电极（在空气中） 若ho 调到一个新值h'o，而△C=0时 tanδx= tanδc +Mεr△tanδ △C——试样插人时电容的改变量（电容增加时为+号）C1——装有试样时的电容C1——仅有流体时的电容，其值为εr&bull CoCo——所考虑的区域上的真空电容，其值为εo&bull A/h0A——试样一个面的面积，用 厘米2表示（试验的面积大于等于电极面积时）ε1——在试验温度下的流体相对电容率（对空气而言εr ＝1. 00)ε0——电气常数用皮法/厘米表示△tanδ——试样插入时，损耗因数的增加量tanδc——装有试样时的损耗因数tanδx试样的损耗因数的计算值d0——内电极的外直径 d1——试样的内直径 d2试样的外直径d3——外电极的内直径 h0——平行平板间距h——试样的平均厚度M——h0 /h—1lg――常用对数注；在二流体法的公式中，脚注1和2分别表示种和第二种流体。2. 平板电极——流体排出法 tanδx= tanδc +Mεr△tanδ 当试样的损耗因数小于1时，可以用下列公式: 3. 圆柱形电极——流体排出法（用于tanδ小于0.1时） 4. 二流体法——平板电极（用于tanδx小于0. 1时） 1——测微计头；6——微调电容器；2——连接可调电极（B)的金属波纹管；7——接检测器；3——放试样的空间（试样电容器M1；8——接到电路上；4——固定电极（A）；9——可调电极（B）。5——测微计头；图1 用于固体介质测量的测微计——电容器装置单位为毫米 1——内电极；1——把柄；2——外电极；5——棚硅酸盐或石英垫圈；3——保护环；6——硼硅酸盐或石英垫圈。图2 液体测量的三电极试验池示例 注满试验池所需的液体量大约15mL1——温度计插孔；2——绝缘子；3——过剩液体溢流的两个出口。图3 测量液体的两电极试验池示例 1——温度计插孔；2——1mm厚的金属板；3——石英玻璃；4——1mm或2mm的间隙；5——温度计插孔图4 液体测量的平板两电极试验池

产品名称：介电常数测试仪产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器GB/T1409—2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法anddielectricdissipationfatorofelectricalinsulatingmaterials（IEC60250:1969，MOD）中华人民共和国质量监督检验检疫总局GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法本标准规定了在15Hz?300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的zui新版本。凡是不注日期的引用文件，其zui新版本适用于本标准。3、术语和定义3.1ε r … … … … … … … … … … … （1）εr——相对电容率 Co——真空中电容器的电极电容。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。 … … … … … … … … … … … （2）3.2δ3.3tanδ3.4ε' ' r3.5εrεr——复相对电容率；ε' r、εr——相对电容率；注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 Cs——串联电容；1）有些用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。RP——并联电阻。串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。4、电气绝缘材料的性能和用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电容器介质。下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。4.2.2温度4.2.3湿度注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数值的大小和位置也随此而变。5、试样和电极5.1.1试样的几何形状在测定电容率需要较高精度时，的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，zui好是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。5.1.2电极系统电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。5.1.2.2试样上不加电极平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。5.1.2.2.1空气填充测微计电极5.1.2.2.2流体排出法试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。5.1.3构成电极的材料用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，zui好采用金。锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它们不穿透非常小的孔眼。假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。5.1.3.6导电漆要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5.1.4.1板状试样a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。… … … … … … … … … … … （12）△εr——相对电容率的偏差；h——试样厚度； 若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时式中：εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。5.1.4.2管状试样高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。5.2.1试验池的设计满足上述要求的试验池见图2?图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘，图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，1EC 60247:1978对此已详细叙述。5.2.2试验池的准备试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用瑢剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干30min。在上述各步骤中，各部件可用干净的钩针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效的内表面不与手接触。注2:采用溶剂时，有些溶剂特别是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的，所以要注意防火及毒性对人体的影响，此外，氧化物溶剂受光作用会分解。当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数' 。 … … … … … … … … … … … （14）Cc——电极常数；Cn——充有校正液体时电极装置的电容；从C。和Cc的差值可求得校正电容Cg并按照公式式中：Co——空气中电极装置的电容；Cx——电极装置充有被试液体时的电容；假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同温度下测定的，则可求得zui高精度的εx值。6、测置方法的选择6.1零点指示法适用于频率不超过50MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥（也就是互感耦合比例臂电桥）和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。 7.1试样的制备应精确地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。条件处理应按相关规范规定进行。电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。8、结果试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C' x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为：式中：C' x——没有保护电极时试样的电容；Co——法向极间电容；必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。8.2介质损耗因数tanδ8.3精度要求在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。9、试验报告绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的频率；介质损耗因数tanδ（平均值）；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。（1）（单位：皮法和厘米）边缘电容的校正（3） a）电极直径=试样直径 b）上下电极相等，但比试样小 表1（续）极间法向电容（2）（单位：皮法和厘米）c）电极直径=试样直径 其中：ε1 是试样相对电容率的近似值，并且a≤h 试样的相对电容率：C' x——电极之间被测的电容；Ig——常用对数。试样电容符号定义’CP——试样的并联电容Cr——在距离为r时，测微计电极的标定电容h——试样厚度CP=△C+Cor2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。当试样与电极的直径同样大小时，仅存在一个微小的误差（因电极边缘电场畸变引起0.2%?0.5%的误差），因而可以避免空气电容的两次计算。试样直径等于测微计电极直径，施于试样上的电极的厚度为零。相对电容率介质损耗因数符号意义1.测微计电极（在空气中）若ho 调到一个新值h' o，而△C=0时tanδx= tanδc +Mεr△tanδ C1——装有试样时的电容Co——所考虑的区域上的真空电容，其值为εo?A/h0ε1——在试验温度下的流体相对电容率（对空气而言εr ＝1. 00)△tanδ——试样插入时，损耗因数的增加量tanδx试样的损耗因数的计算值d3——外电极的内直径 h0——平行平板间距M——h0 /h—1注；在二流体法的公式中，脚注1和2分别表示种和第二种流体。 3. 圆柱形电极——流体排出法（用于tanδ小于0.1时） 6——微调电容器；7——接检测器；8——接到电路上；9——可调电极（B）。图1 用于固体介质测量的测微计——电容器装置 1——把柄；5——棚硅酸盐或石英垫圈；6——硼硅酸盐或石英垫圈。 1——温度计插孔；3——过剩液体溢流的两个出口。 2——1mm厚的金属板；4——1mm或2mm的间隙；span "="" style="margin: 0px padding: 0px line-height: initial "5——温度计插孔

GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法1、范围本标准规定了在15Hz?300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、湿度，在特殊情况下也与电场强度有关。有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。2、规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。IEC60247:1978 液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量3、术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1相对电容率relative permittivityε r电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； ……………………………（1）式中；εr——相对电容率 Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；Co——真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的精确度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为：……………………………（2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm3.2介质损耗角dielectric loss angleδ由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。3.3介质损耗因数1） dielectric dissipation factortanδ损耗角δ的正切。3.4[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexε''r该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。3.5复相对电容率 complex relative permittivityεr由相对电容率和损耗指数结合而得到的：式中：εr——复相对电容率；ε''r——损耗指数；ε'r、εr——相对电容率；tanδ——介质损耗因数。注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。并联等值电路 串联等值电路 式中：Cs——串联电容；Rs——串联电阻；1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。CP——并联电容；RP——并联电阻。虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。串联元件与并联元件之间，成立下列关系：式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。4、电气绝缘材料的性能和用途4.1电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；用作电容器介质。4.2影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。4.2.1频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。4.2.2温度损耗指数在一个频率下可以出现一个zui大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数zui大值位置。4.2.3湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。4.2.4电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数zui大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。5、试样和电极5.1固体绝缘材料5.1.1试样的几何形状测定材料的电容率和介质损耗因数，采用板状试样，也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时，zui大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。*点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF，5.1.2电极系统5.1.2.1加到试样上的电极电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。.5.1.2.2试样上不加电极表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插入电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。下面两种型式的电极装置特别合适.5.1.2.2.1空气填充测微计电极当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。5.1.2.2.2流体排出法在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去。试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。5.1.2.3边缘效应为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。此外，在一个合适的频率和温度下，边缘电容可采用有保护环和无保护环的（比较）测量来获得，用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足精度要求。5.1.3构成电极的材料5.1.3.1金属箔电极用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度zui大为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。5.1.3.2烧熔金属电极烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，采用金。5.1.3.3喷镀金属电极锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它们不穿透非常小的孔眼。5.1.3.4阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。5.1.3.5汞电极和其他液体金属电极把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。5.1.3.6导电漆无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂上银漆后不能马上进行试验，通常要求12h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响。要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。5.1.3.7石墨一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5.1.4电极的选择5.1.4.1板状试样考虑下面两点很重要：a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：……………………………（12）式中：△εr——相对电容率的偏差；εr——相对电容率；h——试样厚度； Ah——试样厚度的偏差。若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时 ……………………………（13）式中：△εr、εr、h同式（12）。εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3?10之间的材料，能给出zui高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是的。5.1.4.2管状试样对管状试样而言，合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成，外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞，沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。大直径的管状或圆筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极，为了保证电极和试样之间的良好接触，需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，较方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。5.2液体绝缘材料5.2.1试验池的设计对于低介质损耗因数的待测液体，电极系统重要的特点是：容易清洗、再装配（必要时）和灌注液体时不移动电极的相对位置。此外还应注意：液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电极材料，温度易于控制，端点和接线能适当地屏蔽；支撑电极的绝缘支架应不浸沉在液体中，还有，试验池不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量精度。满足上述要求的试验池见图2?图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘，图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，1EC 60247:1978对此已详细叙述。由于有些液体如氯化物，其介质损耗因数与电极材料有明显的关系，不锈钢电极不总是合适的。有时，用铝和杜拉铝制成的电极能得到比较稳定的结果。5.2.2试验池的准备应用一种或几种合适的溶剂来清洗试验池，或用不含有不稳定化合物的溶剂多次清洗。可以通过化学试验方法检查其纯度，或通过一个已知的低电容率和介质损耗因数的液体试样测量的结果来确定。3试验池试验几种类型的绝缘液体时，若单独使用溶剂不能去除污物，可用一种柔和的擦净剂和水来清洁试验池的表面。若使用一系列溶剂清洗时则后要用zui大沸点低于100°C的分析级的石油醚来再次清洗，或者用任一种对一个已知低电容率和介质损耗因数的液体测量能给出正确值的溶剂来清洗，并且这种溶剂在化学性质上与被试液体应是相似的。推荐使用下述方法进行清洗。试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用瑢剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干30min。待试验池的各部件冷却到室温，再重新装配起来。池内应注人一些待试的液体，停几分钟后，倒出此液体再重新倒人待试液体，此时绝缘支架不应被液体弄湿。在上述各步骤中，各部件可用干净的钩针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效的内表面不与手接触。注1:在同种质量油的常规试验中，上面所说的淸洗步骤可以代之为在每一次试验后用没有残留纸屑的干纸简单地擦擦试验池。注2:采用溶剂时，有些溶剂特别是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的，所以要注意防火及毒性对人体的影响，此外，氧化物溶剂受光作用会分解。5.2.3试验池的校正当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数'。“电极常数”C。的确定按式（14）: ……………………………（14）式中：Cc——电极常数；Co——空气中电极装置的电容；Cn——充有校正液体时电极装置的电容；εn——校正液体的相对电容率。从C。和Cc的差值可求得校正电容Cg ……………………………（15）……………………………（16）并按照公式来计算液体未知相对电容率εx。式中：Cg——校正电容；Co——空气中电极装置的电容；Cc——电极常数|Cx——电极装置充有被试液体时的电容；εx——液体的相对电容率。假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同温度下测定的，则可求得zui高精度的εx值。采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。6、测置方法的选择测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种：零点指示法和谐振法。6.1零点指示法适用于频率不超过50MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥（也就是互感耦合比例臂电桥）和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。6.2谐振法适用于10kHz?几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。7、试验步骤7.1试样的制备试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。应精确地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。7.2条件处理条件处理应按相关规范规定进行。7.3测量电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。在1MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统（见图1所示），当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。8、结果8.1相对电容率εr试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C'x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为： ……………………………（17）式中：εr——相对电容率；C'x——没有保护电极时试样的电容；Ce——边缘电容 Co——法向极间电容；Co和Ce能从表1计算得来。必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。测微计电极间或不接触电极间被测试样的相对电容率可按表2、表3中相应的公式计算得来。8.2介质损耗因数tanδ介质损耗因数tanδ按照所用的测量装置给定的公式，根据测出的数值来计算。8.3精度要求在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%，介质损耗因数的精度为±（5%±0.0005）。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介质损耗因数的实测精度；所用电极装置引起的这些量的校正精度；极间法向真空电容的计算精度（见表1）。在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分乏几。如果试样厚度的测量能精确到±0.005mm，则对平均厚度为1.6mm的试样，其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到±0.1%的精度，但它是以平方的形式引人误差的，综合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.0003，数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的±0.00005介质损耗因数的范围通常是0.0001?0.1，但也可扩展到0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时，有可能检测出0.00002的介质损耗因数。1?5的相对电容率可测到其真值的±2%，该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制，也受到测微计电极系统误差的限制。9、试验报告试验报告中应给出下列相关内容：绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；试样条件处理的方法和处理时间；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；测量仪器；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的电压；施加的频率；相对电容率εr（平均值）；介质损耗因数tanδ（平均值）；试验日期；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。表1 真空电容的计算和边缘校正 试样的相对电容率：其中：C'x——电极之间被测的电容；In——自然对数；Ig——常用对数。表2 试样电容的计算——接触式测微计电极试样电容注符号定义’1.并联一个标准电容器来替代试样电容CP——试样的并联电容△C——取去试样后，为恢复平衡时的标准电容器的电容增量Cr——在距离为r时，测微计电极的标定电容Cs——取去试样后，恢复平衡，测微计电极间距为s时的标定电容Cor，Coh——测微计电极之间试样所占据的，间距分别为r或h的空气电容。可用表1中的公式1来计算r——试样与所加电极的厚度h——试样厚度相对电容率: CP=△C+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容CP=Cs-Cr+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。3.并联一个标准电容器来替代试样电容当试样与电极的直径同样大小时，仅存在一个微小的误差（因电极边缘电场畸变引起0.2%?0.5%的误差），因而可以避免空气电容的两次计算。CP=△C+Coh试样直径等于测微计电极直径，施于试样上的电极的厚度为零。表3电容率和介质损耗因数的计算——不接触电极 1——测微计头；6——微调电容器；2——连接可调电极（B)的金属波纹管；7——接检测器；3——放试样的空间（试样电容器M1；8——接到电路上；4——固定电极（A）；9——可调电极（B）。5——测微计头；图1 用于固体介质测量的测微计——电容器装置单位为毫米 1——内电极；1——把柄；2——外电极；5——棚硅酸盐或石英垫圈；3——保护环；6——硼硅酸盐或石英垫圈。图2 液体测量的三电极试验池示例 注满试验池所需的液体量大约15mL1——温度计插孔；2——绝缘子；3——过剩液体溢流的两个出口。图3 测量液体的两电极试验池示例 1——温度计插孔；2——1mm厚的金属板；3——石英玻璃；4——1mm或2mm的间隙；5——温度计插孔图4 液体测量的平板两电极试验池

英国真尚有_激光测径仪|直径测量仪|数字测微计|ZM10X激光测径仪|直径测量仪ZM10X 是激光幕帘原理的测微计、千分尺，能低成本实现大量程外径轮廓测量，有多种型号，能达到0.3μm线性度，10KHZ采样频率。单个ZM10X独立最大可测98mm的物体直径，通过多传感器协同工作可测直径高达500mm（可根据实际情况，低成本定制更大外径型号）。ZM10X激光幕帘测径仪为检测物体外径提供了非常方便的测量方式。主要特点：1. 测量范围从 5 到 100 mm2 高达 ±0.3 μm 的精度3. 高达 10 000 Hz 的采样率4. RS232/RS485/以太网+4...20 mA/0...10V5. 自带远心镜头6. 传感器相互同步（主从）：用于多轴测量任务7. 可提供用于传感器参数化的软件8. 免费SDK及实例9. 有双轴、三轴和多轴可选10. 气刀窗口保护激光测径仪|直径测量仪ZM10X可用于非接触式测量和检查物体边缘的直径、间隙、位移/位置。技术规格：ZM10x-ZM100-25ZM100-50ZM100-75ZM100-100ZM105-5ZM105-10ZM105-25ZM105-50ZM105-75ZM105-100Measurement range, mm255075100±1х5±3х10±5х25±7x50±9x75±10x100Minimum size of the object, mm0,511,520,05(0,1)0,1(0,2)0,25(0,5)0,5(1)0,75(1,5)1(2)Accuracy* , um±5±10±15±20±0,3±0,5±1±2±3±5Measurement frequency, Hz50050050050050020002000200020002000Light sourceLEDLaser safety class1 (IEC60825-1)Synchronization input2,4 – 5 V (CMOS, TTL)Logic outputthree outputs, NPN: 100 mA max 40 V maxPower supply, V24 (9… 36)Power consumption, W1,5...2Housing materiaaluminumWeight (without cable), gram600200026004000700700700160032004500Output interfacedigitalRS232 (max. 921,6 kbit/s) or RS485 (max. 921,6 kbit/s) or Ethernet & (RS32 or RS485)analog* typical data obtained when a knife edge was used to interrupt the beam and distance between transmitter and receiver is equal of two measurement range

HY-774B海棉压缩永久变形装置橡胶永久压缩歪度测试器Constant deflection compression set tester压缩永久变形量定义：指试样的初始厚度与在规定时间、规定温度下压缩后，经过规定恢复时间的试样最终厚度差异。差异的大小与初始厚度有关。 原理：用夹具将海绵压陷至原始厚度的50%等指定压缩量，放置将温度调至70度等的恒温箱内，待至22个小时等规定时间之后从中取出压缩器，将试样从压缩器中取出放置30min后，用专用微孔材料测微计测量厚度，计算其变形量符合标准： GB/T6669、ISO1856方法A（ASTM D3574，JIS K6400-7）等产品技术规格：试样要求：长50mm×宽50mm×D25mm压缩器：两层，能放八块样品压缩比度：50％（环形限制器厚度：12.25mm） 75％（环形限制器厚度：18.75mm） 90％（环形限制器厚度：22. 5mm）恒温箱温度范围：RT+10～ 250℃±2.5%恒温箱计时范围：0～9999分钟（带定时等待功能）恒温箱内箱尺寸：450×350×450恒温箱外型尺寸：750×470×700产品配置：八工位标准主机一台12.25mm、18.75mm、22. 5mm标准限制器各八个（可选配其它指定限制环）开口扳手一把恒温箱一台选配：泡沫塑料测微计等测厚装置产品说明书一份，“CNAS”实验室国际认可校准报告书一份

KMJ-100低速精密切割机 KMJ-100是一款经济节约型的低速精密切割机，特别适合切割小的、软的、脆的、异形的金属材料、复合材料、塑料、电子元器件、生物材料、陶瓷、水泥、岩矿等材料，也常用于薄片样品制备。 该机采用砝码块负荷重力进给直切，切割完成后自动停止。采用千分尺装置，可调整试样切割的厚薄，做到精密切割。采用触摸屏控制，清晰，人性化，切割砂轮转速可控。为避免在切割中因过热而烧伤试样，该机内置可移动的冷却液槽，在切割过程中金刚石切割片转动带出冷却水，使切割片和试样材料得到冷却，切割后的试样表面光亮、平整，无烧伤。 该设备具有机身精巧，占用空间小，操作使用和维护保养方便等特点。技术参数名称规格输入电源单相AC220V，50Hz电机功率300W 切割深度25mm切割片规格Φ100×0.3×Φ12.7mm切割片转速50〜 1000rpm 切割方式重力进给砍式切割配重加载0-450g测微计行程0-15mm定位准确度0.01mm操作方式触摸屏设备尺寸335×330×365mm重量30KG

高频介电常数测试仪10K-70MHZ液体置换方法——当浸泡介质为一种液体，同时没有使用保护时，应平行板系统结构，以使得绝缘高电位板可以在两个平行低电位或接地板之间平行和等距离进行固定，其中接地板用试验池的相对内壁设计成容纳液体。该结构使得电极系统基本为自我屏蔽，但是通常要求双份试验样本。液体的精确温度测量必须作出规定（9,10）。试验池应为镀黄铜和金结构。高电位电极应可以移动来进行清洗。面必须接近为光学平面，同时尽可能平行。在≤1MHz频率下测量用合适液体池见试验方法D1531的图4所示。该试验池的尺寸变化是有必要的，以提供用于不同厚度或尺寸的薄板样本测试，但是这种变化应不能让充满标准液体的试验池电容降低到小于100pF.。在1~约50MHz频率下进行测量时，试验池尺寸必须大大地减小，同时导线必须尽可能短且直。当在50MHz频率下进行测量时，带液体的试验池电容应不超过30或40pF。受保护平行板电极优点是单个样本可以进行*准确地测量。另外液体电容率的先前知识不作要求，因此其可以直接测量得出（11）。如果试验池结构带一个测微计电极，厚度差异很大的样本可以进行*准确地测量，因为电极可以调节至某一只比样本厚度稍微大一点的间距。如果液体电容率接近样本电容率，样本厚度测定误差影响可以降至小。在测量极其薄的膜层时，使用一种接近匹配液体和一种微米试验池，则将允许获得很高的准确度。高频介电常数测试仪10K-70MHZ两终端和三终端测量——两终端和三终端测量选择通常是在精度和便利性之间作出一个选择。在电介质样本上使用一个保护电极时，则几乎可排除边缘和接地电容的影响，如6.2的解释。规定采用一个保护终端，则可排除电路元件引入的一些误差。在另一方面，补充的电流元件和护罩通常要求提供相当多的保护终端到测量设备上，这可能增加好几倍的调节次数来获得要求的后结果。电阻比值臂电容桥用保护电路很少被用于1MHz以上的频率。电导比值臂桥提供了一个保护终端，而不要求额外的电路或调节。平行T形网络和共振电路不提供保护电路。在偏转方法中，可以仅仅通过额外护罩来提供一个保护。一个两终端测微计电极系统的使用提供了许多三终端测量的优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，但是可能增加观测或平衡调节的次数。其使用也可以排除在较高频率下连接导线的串联电感和电阻导致的误差，其可以在整个频率范围内使用，直至几百兆赫兹。当使用一个保护时，存在耗散因子测量值将小于真实值的可能性。这可能是由于在测量电路保护点和保护电极之间的任何点位置的保护电路的电阻导致的。这还可能来自高接触电阻，导线电阻，或者来自保护电极自身的高电阻。在场合，耗散因子将显示为负值。当没有保护的耗散因子高于由于表面泄漏导致的标准值时，该情况可能存在。电容耦合到测量电极以及电阻耦合连接到保护点的任何点可成为困难的来源。常见保护电阻产生一个与ChClRg成比例的等效负值耗散因子，其中Ch和Cl为电极保护电容，Rg为保护电阻（14）。8.4 液体置换方法——液体置换方法使用时可以采用三终端或自屏蔽两终端试验池。采用三终端试验池，可能直接测定所用液体的电容率。自屏蔽两终端试验池提供了三终端试验池的许多优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，同时还可以与没有规定一个保护的测量电路一起使用。如果其配有一个完整的测微计电极，在较高频率下连接导线的串联电导电容的影响将可以排除。8.5 精度——8.1所列方法精密考虑了电容率测定精度为±1%，而耗散因子测定精度为±(5%+0.0005)。这些精度取决于至少三个因素：电容和耗散因子观测的精度，所用电极布置导致的这些参量的修正值的精度以及电极之间真空静电容计算的精度。在好的条件以及较低频率下，电容测量可具有±(0.1%+0.02pF)的精度，而耗散因子可具有±(2%+0.00005)的精度。在较高频率下，当电容达到±(0.5%+0.1pF)，耗散因子达到±(2%+0.0002)时，这些极限值可能增大。配有一个保护电极的电介质样本测量只具有电容误差和电极之间真空静电容计算的误差。受保护电极和保护电极之间间隙太宽导致的误差将通常为几十个百分比，同时修正值可以计算为几个百分比。当平均厚度为2mm时，样本厚度测量误差可为几十个百分比，此时假设可以测量至±0.005mm。圆形样本直径可以测量至具有±0.1%的精度，但是输入作为平方值。将这些误差合并，电极之间真空静电容可以测量至具有±0.5%的精度。与电极之间静电容不同的是，采用测微计电极进行测量的带接触式电极的样本不需要进行修正，假如样本直径足够小于测微计电极直径的话。当两终端样本以任何其它方式进行测量时，边缘电容计算和接地电容测定将涉及相当大的误差，因为每一种误差都可能为2~40%的样本电容。采用目前的这些电容知识，在计算边缘电容时，可能的误差为10%，而在评估接地电容时，其可能的误差为25%。因此涉及的总误差范围可为几十分之一的1%到10%或者更大。然而，当没有电极接地时，接地电容误差降至小（6.1）。采用测微计电极，0.03阶的耗散因子可以测量精确到±0.0003的真实值，而0.0002阶的耗散因子可以测量精确到±0.00005的真实值。耗散因子范围通常为0.0001到0.1，但是其也可以超过0.1。在10~20MHz的频率下，可以推测0.0002阶的耗散因子。从2到5的电容率值可以测定精确到±2%。该精度受到电极之间真空静电容计算要求测量精度以及测微计电极系统误差的限制。高频介电常数测试仪10K-70MHZ测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量精确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量精确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过精确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。 液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前*干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染。高频介电常数测试仪10K-70MHZ测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量精确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量精确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过精确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。10.1.3 液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。10.1.4 清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前*干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染。高频介电常数测试仪10K-70MHZl 信号源: DDS数字合成信号，频率范围10KHZ-70MHZ；l 信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数；l Q值测量范围：1～1000；l Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；l 电感测量范围：1nH～8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；l 电容直接测量范围：1pF～2.5uF；l 主电容调节范围：30～540pF；l 准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%； l 合格指示预置功能范围：5～1000；l 环境温度：0℃～+40℃；l 消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz；2) 测试夹具：S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：l 数显式微杆；l 平板电容器；l 极片尺寸： 38mm/50mm(二选一)；l 极片间距可调范围：≥15mm；l 夹具插头间距：25mm±0.01mm；l 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）；

产品名称：介电常数测试仪介绍产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器 ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1 本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。1　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。2　 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, 3　 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, 2.介电常数测试仪引用文件2.1 ASTM标准：4D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）53.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1）3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3)式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻，Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状）耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)8.介电常数测试仪装置选择和电容和交流损耗测量方法8.1 频率范围——电容和交流损耗测量方法可分成三种：零值法，共振法和偏转法。任何特殊场合的某一方法选择将主要取决于工作频率。当频率范围为从小于1Hz直到几兆赫兹时，可以使用许多形式的电阻或电感比值臂电容桥。当频率低于1Hz时，要求采用特殊的方法和仪器。在500kHz~30MHz的较高频率下，可使用平行T形网络，因为它们采用了共振电路的一些特征。而当频率从500kHz到几百兆赫兹时，可使用共振法。偏转法只能在从25到60Hz的电源线频率下使用，使用时采用商用指示仪表，此时可以很容易获得要求的较高电压。8.2 直接和替代方法——在任何直接法中，电容和交流损耗值采用该方法所用所有电路元件形式来表示，因此受到所有误差的影响。通过替代方法可以获得更加大的精度，在此方法中可采用连接和断开的未知电容器进行读数。在这些不能改变的电路元件中的误差通常可以排除；然而，仍然保留了连接误差（注4）。8.3 两终端和三终端测量——两终端和三终端测量选择通常是在精度和便利性之间作出一个选择。在电介质样本上使用一个保护电极时，则几乎可排除边缘和接地电容的影响，如6.2的解释。规定采用一个保护终端，则可排除电路元件引入的一些误差。在另一方面，补充的电流元件和护罩通常要求提供相当多的保护终端到测量设备上，这可能增加好几倍的调节次数来获得要求的较后结果。电阻比值臂电容桥用保护电路很少被用于1MHz以上的频率。电导比值臂桥提供了一个保护终端，而不要求额外的电路或调节。平行T形网络和共振电路不提供保护电路。在偏转方法中，可以仅仅通过额外护罩来提供一个保护。一个两终端测微计电极系统的使用提供了许多三终端测量的优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，但是可能增加观测或平衡调节的次数。其使用也可以排除在较高频率下连接导线的串联电感和电阻导致的误差，其可以在整个频率范围内使用，直至几百兆赫兹。当使用一个保护时，存在耗散因子测量值将小于真实值的可能性。这可能是由于在测量电路保护点和保护电极之间的任何点位置的保护电路的电阻导致的。这还可能来自高接触电阻，导线电阻，或者来自保护电极自身的高电阻。在极端场合，耗散因子将显示为负值。当没有保护的耗散因子高于由于表面泄漏导致的标准值时，该情况较可能存在。电容耦合到测量电极以及电阻耦合连接到保护点的任何点可成为困难的来源。常见保护电阻产生一个与ChClRg成比例的等效负值耗散因子，其中Ch和Cl为电极保护电容，Rg为保护电阻（14）。8.4 液体置换方法——液体置换方法使用时可以采用三终端或自屏蔽两终端试验池。采用三终端试验池，可能直接测定所用液体的电容率。自屏蔽两终端试验池提供了三终端试验池的许多优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，同时还可以与没有规定一个保护的测量电路一起使用。如果其配有一个完整的测微计电极，在较高频率下连接导线的串联电导电容的影响将可以排除。8.5 精度——8.1所列方法精密考虑了电容率测定精度为±1%，而耗散因子测定精度为±(5% 0.0005)。这些精度取决于至少三个因素：电容和耗散因子观测的精度，所用电极布置导致的这些参量的修正值的精度以及电极之间真空静电容计算的精度。在较好的条件以及较低频率下，电容测量可具有±(0.1% 0.02pF)的精度，而耗散因子可具有±(2% 0.00005)的精度。在较高频率下，当电容达到±(0.5% 0.1pF)，耗散因子达到±(2% 0.0002)时，这些极限值可能增大。配有一个保护电极的电介质样本测量只具有电容误差和电极之间真空静电容计算的误差。受保护电极和保护电极之间间隙太宽导致的误差将通常为几十个百分比，同时修正值可以计算为几个百分比。当平均厚度为2mm时，样本厚度测量误差可为几十个百分比，此时假设可以测量至±0.005mm。圆形样本直径可以测量至具有±0.1%的精度，但是输入作为平方值。将这些误差合并，电极之间真空静电容可以测量至具有±0.5%的精度。与电极之间静电容不同的是，采用测微计电极进行测量的带接触式电极的样本不需要进行修正，假如样本直径足够小于测微计电极直径的话。当两终端样本以任何其它方式进行测量时，边缘电容计算和接地电容测定将涉及相当大的误差，因为每一种误差都可能为2~40%的样本电容。采用目前的这些电容知识，在计算边缘电容时，可能的误差为10%，而在评估接地电容时，其可能的误差为25%。因此涉及的总误差范围可为几十分之一的1%到10%或者更大。然而，当没有电极接地时，接地电容误差降至较小（6.1）。采用测微计电极，0.03阶的耗散因子可以测量准确到±0.0003的真实值，而0.0002阶的耗散因子可以测量准确到±0.00005的真实值。耗散因子范围通常为0.0001到0.1，但是其也可以超过0.1。在10~20MHz的频率下，可以推测0.0002阶的耗散因子。从2到5的电容率值可以测定准确到±2%。该精度受到电极之间真空静电容计算要求测量精度以及测微计电极系统误差的限制。9.介电常数测试仪抽样9.1 抽样说明见材料规范。10.介电常数测试仪程序10.1 样本制备10.1.1 概述——裁剪或模压试验样本至一个合适的形状和厚度，以能按照材料规范进行测试或者按照要求的测量精度，试验方法，和将执行的测量频率来进行测试。按照被测材料要求的标准方法来测量厚度。如果某一特殊材料没有标准，然后按照试验方法D374测量厚度。实际测量点应在材料电极覆盖区域上均匀分布。然后合适的测量电极应用到样本上（第7章）（除非将使用液体置换方法），尺寸和数量选择主要取决于是否将执行三终端或两终端测量，如果执行后者的两终端测量，是否将使用一个测微计电极系统（7.3）。样本电极材料选择将取决于应用的便利性和是否样本必须在高温和高相对湿度下进行调节（第7章）。优选通过一个移动显微镜来获得电极尺寸（如果电极不等效，则是指较小的电极），或者通过刻度为0.25mm的钢尺和一个允许放大至读数准确到0.05mm的放大镜来进行测量。在几个点上测量圆形电极的直径，或者矩形电极的尺寸，以获得一个平均值。10.1.2 测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量准确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的较大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量准确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将优选通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过准确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。10.1.3 液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，优选样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。10.1.4 清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前彻底干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染。10.2 测量——将带附着电极的试验样本放入一个合适的测量试验池中，然后采用具有要求灵敏度和精度的方法来测量样本的电容和直流损耗。对于日常工作，当较高精度不作要求时，或当样本终端都不用接地时，则没有必要将固体样本放入一个试验池中。102.1 警告——本试验执行期间，致命电压是一种潜在的危险。所有试验装置及电连接到其上的所有相关设备需进行适当的设计和安装以便能安全运行，这是非常重要的。试验期间个人可能接触的所有导电连接进行牢固接地。在执行任何试验时，提供方式来对试验期间处于高电压的所有零件进行接地，或者对试验期间获得一个感应电荷而具有电位的所有零件进行接地，或者对甚至在电压源断开之后还保持带电荷而具有电位的所有零件进行接地。认真指导所有操作者，以使得其能采用正确的程序来安全执行试验。当执行高电压试验时，特别是在压缩气体或在油中测试时，在击穿时释放的能量可能足够导致试验箱发生火灾，爆炸，或者破裂。设计试验设备，试验箱和试验样本，以使得这类情况的发生可能性降至较小，同时排除人身伤害的可能性。如果存在火灾风险，则需配置灭火设备。注2：将样本连接到测量电路所用的方法是非常重要的，特别是对于两终端测量。对于平行替代测量，试验方法D150先前推荐的临界间距连接方法可导致0.5pF的负误差。当两终端样本作为一个保护在一个试验池中进行测量时，可产生一个类似的误差。因为目前已知没有方法能用于评估该误差，当必须避免该数值的误差时，必须使用一种替代方法，也就是说，使用测微计电极，液体浸泡池，或者带受保护导线的三终端样本。注3：为获得电容和耗散因子而执行的测量细节说明以及由于测量电路而执行的任何必要的修正细节说明见商用设备提供的说明书所述。以下章节拟用于提供所需的补充说明。10.2.2 固定电极——准确地调节板间距至一个适合被测样本的值。特别对于低损耗材料，板间距和样本厚度应使得样本将占据不少于大约80%的电极间隙。对于在空气中的试验，不建议板间距小于大约0.1mm。当电极间距没有调节到一个合适值时，必须制备具有合适厚度的样本。测量试验池的电容和耗散因子，然后嵌入样本，同时使得样本位于测微计电极的电极或试验池之间的中心位置。重复测量。为获得较大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。记录试验温度。10.2.3 测微计电极——测微计电极常与那些接触样本或其附着电极的电极一起使用。为执行一次测量，首先将样本夹紧在测微计电极之间，然后平衡或调整测量用网络。接着取出样本，重新设置电极，通过移动测微计电极使得更近地靠在一起，使得电路或桥臂中的总电容重新恢复至其原始值。10.2.4 液体置换方法——当使用单种液体时，充满试验池中，然后测量电容和耗散因子。小心插入样本（或组合样本，如果使用了两个样本池），然后将其置于中心位置。重复测量。为获得较大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。从液体中迅速地取出样本，以防止发生膨胀，然后在继续测试另一样本之前重新充满试验池至适当的液位。结果计算公式见表2给出。试验方法D1531详细描述了采用了本方法测量聚乙烯的应用。当受保护试验池为耐震结构时，按照准确温度控制条款，例如试验方法D1531中方法B的建议，则可通过在两种液体中测量样本来获得更大的精度。本方法也排除了已知样本尺寸的需要。该程序与以前的程序相同，除了使用两种不同电容率的流体之外（12,13,18）。使用空气作为靠前种流体是很方便的，因为这能避免测量期间清洗样本的必要性。受保护试验池的使用能允许测定所用液体或流体电容率测定。当采用一种或两种流体方法时，可能获得较大的精度，此时一种液体的电容率较接近匹配样本的电容率。注4：当采用两种流体方法时，可由任一组读数获得耗散因子（其中采用具有较高Kf'的那组数据可获得较准确的耗散因子）。10.3电容率，耗散因子和损耗指数的计算——对于在某一给定频率下测量的样本，所用测量电路将给出电容值，交流损耗值（用Q表示），耗散因子，或串联或并联电阻。当由观测电容值计算得出电容率时，这些值必须转换为并联电容，如果不是如此来表示，则使用公式5。当使用测微计电极时，表3给出的公式可用于计算样本的电容。对于不同的电极系统，表2给出的公式可用于计算电容率和耗散因子。当使用平行替代方法时，耗散因子读数必须乘以总电路电容与样本或试验池电容的比值。Q和串联或并联电阻也要求由观测值计算得出。电容率为：Kx'=Cp/Cv　　　　　　　　　（11）　　　　平坦平行板和共轴圆柱的真空电容表达（6.4）见表1给出。当交流损耗采用串联电阻或并联电阻或电导来表示时，使用公式3和4给出的关系式来计算耗散因子（见3.1.2.1）。损耗指数等于耗散因子和电容率的乘积（见3.4）。10.4 修正——将样本连接到测量电路所用的导线具有电导和电阻，在高频率下，它们能较大测量的电容和耗散因子。当测量中已包括额外电容时，例如边缘电容和接地电容，这些电容在两终端测量时可产生电位，此时观测并联电容将增大，同时观测耗散因子将减小。这些影响的修正值在附录X1和表1中给出。11.介电常数测试仪报告11.1 报告以下信息：11.1.1 描述被测试的材料，也就是指名称，等级，颜色，制造商和其它相关数据，11.1.2 试验样本形状和尺寸，11.1.3 电极和测量池的类型和尺寸，11.1.4 样本调节，和试验条件，11.1.5 测量方法和测量电路，11.1.6 施加电压，有效电压梯度和频率，11.1.7 并联电容值，耗散因子值或功率因子值，电容率值，损耗指数值以及评估的精度值。12.介电常数测试仪精度和偏差12.1 精度——本规范提出的任一种试验方法的精度相关说明都不可能制定，因为精度受到被测材料和测量所用装置选择的影响。对于特定材料，鼓励这些试验方法用户探寻适用于特定材料的标准精度说明（也可见第8章）。12.2 偏差——任一种或所有这些试验方法未能制定偏差相关的说明。13.介电常数测试仪关键字13.1 直流损耗；电容；并联，串联，边缘现象，杂散；电导；接触式电极；电介质；介电常数；耗散因子；电绝缘材料；电极；液体置换；频率；边缘现象电容；受保护电极；Hz；损耗角；损耗因子；损耗正切值；非接触式电极；电容率；相位角；缺相角；功率因子；Q；品质因子；电抗；并联，串联；相对电容率；电阻；平行，串联；tan(Δ)；厚度其它产品型号名称符合标准LJC-50KV5万伏电压击穿试验仪GB/T1408-2006、ASTM D149LST-121体积表面电阻率测试仪GB/T1410-2006、ASTM D257-99LJD-B介电常数介质损耗测试仪GB/T1409-2006QYH-96塑料球压痕硬度测试仪GB/T3398-2008M-200橡胶塑料摩擦磨损试验机GB/T3960-1983XRW-300HA热变形维卡温度测定仪GB/T8802-2001XNR-400A熔体流动速率测定仪GB/T3682-2000CZF-5水平垂直燃烧试验仪GBGB/T5169.16-2002、ANSI/UL94JF-3氧指数测定仪GB/T2406.2-2009 GB/T 2406.1-2008DJC-1型单根电线电缆垂直燃烧试验机GB/T18380.11-2008LDQ-2漏电起痕试验仪UL746A、ASTMD3638-92PMSC-3塑料泡沫水平垂直燃烧试验仪GB/T8333-2008QCS-2汽车内饰材料燃烧试验仪GB8410-2006XGB-10B管材静液压试验机GB/T6111、GB/T15560WZY-240wan能制样机GB/T1043

薄膜介电常数介质损耗因数测试仪液体置换方法——当浸泡介质为一种液体，同时没有使用保护时，应平行板系统结构，以使得绝缘高电位板可以在两个平行低电位或接地板之间平行和等距离进行固定，其中接地板用试验池的相对内壁设计成容纳液体。该结构使得电极系统基本为自我屏蔽，但是通常要求双份试验样本。液体的精确温度测量必须作出规定（9,10）。试验池应为镀黄铜和金结构。高电位电极应可以移动来进行清洗。面必须接近为光学平面，同时尽可能平行。在≤1MHz频率下测量用合适液体池见试验方法D1531的图4所示。该试验池的尺寸变化是有必要的，以提供用于不同厚度或尺寸的薄板样本测试，但是这种变化应不能让充满标准液体的试验池电容降低到小于100pF.。在1~约50MHz频率下进行测量时，试验池尺寸必须大大地减小，同时导线必须尽可能短且直。当在50MHz频率下进行测量时，带液体的试验池电容应不超过30或40pF。受保护平行板电极优点是单个样本可以进行*准确地测量。另外液体电容率的先前知识不作要求，因此其可以直接测量得出（11）。如果试验池结构带一个测微计电极，厚度差异很大的样本可以进行*准确地测量，因为电极可以调节至某一只比样本厚度稍微大一点的间距。如果液体电容率接近样本电容率，样本厚度测定误差影响可以降至小。在测量极其薄的膜层时，使用一种接近匹配液体和一种微米试验池，则将允许获得很高的准确度 如果在两种已知电容率的液体上进行足够的测量，则排除了样本厚度和电极间距测定的必要性（12,13,18）。本方法对任何频率范围都不作限制；然而，限制液体浸泡方法用于液体耗散因子小于0.01（对于低损耗样本，小于0.0001）的频率场合。当使用两种液体方法时，在样本相同样本进行测量是非常重要的，因为厚度将不总是在所有点都是相同的。为确保相同区域被测试两次，同时帮助薄膜的搬运，样本固定架是非常方便的。固定架可为一个V形件，其将能滑入电极池中的沟槽中。同时也有必要控制温度小为0.1℃。这可以通过配备带冷却线圈的试验池来达到效果（13）。装置选择和电容和交流损耗测量方法 频率范围——电容和交流损耗测量方法可分成三种：零值法，共振法和偏转法。任何特殊场合的某一方法选择将主要取决于工作频率。当频率范围为从小于1Hz直到几兆赫兹时，可以使用许多形式的电阻或电感比值臂电容桥。当频率低于1Hz时，要求采用特殊的方法和仪器。在500kHz~30MHz的较高频率下，可使用平行T形网络，因为它们采用了共振电路的一些特征。而当频率从500kHz到几百兆赫兹时，可使用共振法。偏转法只能在从25到60Hz的电源线频率下使用，使用时采用商用指示仪表，此时可以很容易获得要求的较高电压。 直接和替代方法——在任何直接法中，电容和交流损耗值采用该方法所用所有电路元件形式来表示，因此受到所有误差的影响。通过替代方法可以获得更加大的精度，在此方法中可采用连接和断开的未知电容器进行读数。在这些不能改变的电路元件中的误差通常可以排除；然而，仍然保留了连接误差（注4）。两终端和三终端测量——两终端和三终端测量选择通常是在精度和便利性之间作出一个选择。在电介质样本上使用一个保护电极时，则几乎可排除边缘和接地电容的影响，如6.2的解释。规定采用一个保护终端，则可排除电路元件引入的一些误差。在另一方面，补充的电流元件和护罩通常要求提供相当多的保护终端到测量设备上，这可能增加好几倍的调节次数来获得要求的后结果。电阻比值臂电容桥用保护电路很少被用于1MHz以上的频率。电导比值臂桥提供了一个保护终端，而不要求额外的电路或调节。平行T形网络和共振电路不提供保护电路。在偏转方法中，可以仅仅通过额外护罩来提供一个保护。一个两终端测微计电极系统的使用提供了许多三终端测量的优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，但是可能增加观测或平衡调节的次数。其使用也可以排除在较高频率下连接导线的串联电感和电阻导致的误差，其可以在整个频率范围内使用，直至几百兆赫兹。当使用一个保护时，存在耗散因子测量值将小于真实值的可能性。这可能是由于在测量电路保护点和保护电极之间的任何点位置的保护电路的电阻导致的。这还可能来自高接触电阻，导线电阻，或者来自保护电极自身的高电阻。在场合，耗散因子将显示为负值。当没有保护的耗散因子高于由于表面泄漏导致的标准值时，该情况可能存在。电容耦合到测量电极以及电阻耦合连接到保护点的任何点可成为困难的来源。常见保护电阻产生一个与ChClRg成比例的等效负值耗散因子，其中Ch和Cl为电极保护电容，Rg为保护电阻（14）。液体置换方法——液体置换方法使用时可以采用三终端或自屏蔽两终端试验池。采用三终端试验池，可能直接测定所用液体的电容率。自屏蔽两终端试验池提供了三终端试验池的许多优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，同时还可以与没有规定一个保护的测量电路一起使用。如果其配有一个完整的测微计电极，在较高频率下连接导线的串联电导电容的影响将可以排除。 精度——8.1所列方法精密考虑了电容率测定精度为±1%，而耗散因子测定精度为±(5%+0.0005)。这些精度取决于至少三个因素：电容和耗散因子观测的精度，所用电极布置导致的这些参量的修正值的精度以及电极之间真空静电容计算的精度。在好的条件以及较低频率下，电容测量可具有±(0.1%+0.02pF)的精度，而耗散因子可具有±(2%+0.00005)的精度。在较高频率下，当电容达到±(0.5%+0.1pF)，耗散因子达到±(2%+0.0002)时，这些极限值可能增大。配有一个保护电极的电介质样本测量只具有电容误差和电极之间真空静电容计算的误差。受保护电极和保护电极之间间隙太宽导致的误差将通常为几十个百分比，同时修正值可以计算为几个百分比。当平均厚度为2mm时，样本厚度测量误差可为几十个百分比，此时假设可以测量至±0.005mm。圆形样本直径可以测量至具有±0.1%的精度，但是输入作为平方值。将这些误差合并，电极之间真空静电容可以测量至具有±0.5%的精度。与电极之间静电容不同的是，采用测微计电极进行测量的带接触式电极的样本不需要进行修正，假如样本直径足够小于测微计电极直径的话。当两终端样本以任何其它方式进行测量时，边缘电容计算和接地电容测定将涉及相当大的误差，因为每一种误差都可能为2~40%的样本电容。采用目前的这些电容知识，在计算边缘电容时，可能的误差为10%，而在评估接地电容时，其可能的误差为25%。因此涉及的总误差范围可为几十分之一的1%到10%或者更大。然而，当没有电极接地时，接地电容误差降至小（6.1）。采用测微计电极，0.03阶的耗散因子可以测量精确到±0.0003的真实值，而0.0002阶的耗散因子可以测量精确到±0.00005的真实值。耗散因子范围通常为0.0001到0.1，但是其也可以超过0.1。在10~20MHz的频率下，可以推测0.0002阶的耗散因子。从2到5的电容率值可以测定精确到±2%。该精度受到电极之间真空静电容计算要求测量精度以及测微计电极系统误差的限制。抽样抽样说明见材料规范。薄膜介电常数介质损耗因数测试仪程序样本制备概述——裁剪或模压试验样本至一个合适的形状和厚度，以能按照材料规范进行测试或者按照要求的测量精度，试验方法，和将执行的测量频率来进行测试。按照被测材料要求的标准方法来测量厚度。如果某一特殊材料没有标准，然后按照试验方法D374测量厚度。实际测量点应在材料电极覆盖区域上均匀分布。然后合适的测量电极应用到样本上（第7章）（除非将使用液体置换方法），尺寸和数量选择主要取决于是否将执行三终端或两终端测量，如果执行后者的两终端测量，是否将使用一个测微计电极系统（7.3）。样本电极材料选择将取决于应用的便利性和是否样本必须在高温和高相对湿度下进行调节（第7章）。通过一个移动显微镜来获得电极尺寸（如果电极不等效，则是指较小的电极），或者通过刻度为0.25mm的钢尺和一个允许放大至读数精确到0.05mm的放大镜来进行测量。在几个点上测量圆形电极的直径，或者矩形电极的尺寸，以获得一个平均值。测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量精确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量精确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过精确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。 清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前*干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染测量——将带附着电极的试验样本放入一个合适的测量试验池中，然后采用具有要求灵敏度和精度的方法来测量样本的电容和直流损耗。对于日常工作，当高精度不作要求时，或当样本终端都不用接地时，则没有必要将固体样本放入一个试验池中。 警告——本试验执行期间，致命电压是一种潜在的危险。所有试验装置及电连接到其上的所有相关设备需进行适当的设计和安装以便能安全运行，这是非常重要的。试验期间个人可能接触的所有导电连接进行牢固接地。在执行任何试验时，提供方式来对试验期间处于高电压的所有零件进行接地，或者对试验期间获得一个感应电荷而具有电位的所有零件进行接地，或者对甚至在电压源断开之后还保持带电荷而具有电位的所有零件进行接地。认真指导所有操作者，以使得其能采用正确的程序来安全执行试验。当执行高电压试验时，特别是在压缩气体或在油中测试时，在击穿时释放的能量可能足够导致试验箱发生火灾，爆炸，或者破裂。设计试验设备，试验箱和试验样本，以使得这类情况的发生可能性降至小，同时排除人身伤害的可能性。如果存在火灾风险，则需配置灭火设备。注2：将样本连接到测量电路所用的方法是非常重要的，特别是对于两终端测量。对于平行替代测量，试验方法D150先前*的临界间距连接方法可导致0.5pF的负误差。当两终端样本作为一个保护在一个试验池中进行测量时，可产生一个类似的误差。因为目前已知没有方法能用于评估该误差，当必须避免该数值的误差时，必须使用一种替代方法，也就是说，使用测微计电极，液体浸泡池，或者带受保护导线的三终端样本。注3：为获得电容和耗散因子而执行的测量细节说明以及由于测量电路而执行的任何必要的修正细节说明见商用设备提供的说明书所述。以下章节拟用于提供所需的补充说明。固定电极——精确地调节板间距至一个适合被测样本的值。特别对于低损耗材料，板间距和样本厚度应使得样本将占据不少于大约80%的电极间隙。对于在空气中的试验，不建议板间距小于大约0.1mm。当电极间距没有调节到一个合适值时，必须制备具有合适厚度的样本。测量试验池的电容和耗散因子，然后嵌入样本，同时使得样本位于测微计电极的电极或试验池之间的中心位置。重复测量。为获得大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。记录试验温度。测微计电极——测微计电极常与那些接触样本或其附着电极的电极一起使用。为执行一次测量，首先将样本夹紧在测微计电极之间，然后平衡或调整测量用网络。接着取出样本，重新设置电极，通过移动测微计电极使得更近地靠在一起，使得电路或桥臂中的总电容重新恢复至其原始值。 液体置换方法——当使用单种液体时，充满试验池中，然后测量电容和耗散因子。小心插入样本（或组合样本，如果使用了两个样本池），然后将其置于中心位置。重复测量。为获得大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。从液体中迅速地取出样本，以防止发生膨胀，然后在继续测试另一样本之前重新充满试验池至适当的液位。结果计算公式见表2给出。试验方法D1531详细描述了采用了本方法测量聚乙烯的应用。当受保护试验池为耐震结构时，按照精确温度控制条款，例如试验方法D1531中方法B的建议，则可通过在两种液体中测量样本来获得更大的精度。本方法也排除了已知样本尺寸的需要。该程序与以前的程序相同，除了使用两种不同电容率的流体之外（12,13,18）。使用空气作为*种流体是很方便的，因为这能避免测量期间清洗样本的必要性。受保护试验池的使用能允许测定所用液体或流体电容率测定。当采用一种或两种流体方法时，可能获得大的精度，此时一种液体的电容率较接近匹配样本的电容率。注4：当采用两种流体方法时，可由任一组读数获得耗散因子（其中采用具有较高Kf'的那组数据可获得较精确的耗散因子）。薄膜介电常数介质损耗因数测试仪电容率，耗散因子和损耗指数的计算——对于在某一给定频率下测量的样本，所用测量电路将给出电容值，交流损耗值（用Q表示），耗散因子，或串联或并联电阻。当由观测电容值计算得出电容率时，这些值必须转换为并联电容，如果不是如此来表示，则使用公式5。当使用测微计电极时，表3给出的公式可用于计算样本的电容。对于不同的电极系统，表2给出的公式可用于计算电容率和耗散因子。当使用平行替代方法时，耗散因子读数必须乘以总电路电容与样本或试验池电容的比值。Q和串联或并联电阻也要求由观测值计算得出。电容率为：Kx'=Cp/Cv （11） 平坦平行板和共轴圆柱的真空电容表达（6.4）见表1给出。当交流损耗采用串联电阻或并联电阻或电导来表示时，使用公式3和4给出的关系式来计算耗散因子（见3.1.2.1）。损耗指数等于耗散因子和电容率的乘积（见3.4）。10.4 修正——将样本连接到测量电路所用的导线具有电导和电阻，在高频率下，它们能大测量的电容和耗散因子。当测量中已包括额外电容时，例如边缘电容和接地电容，这些电容在两终端测量时可产生电位，此时观测并联电容将增大，同时观测耗散因子将减小。这些影响的修正值在附录X1和表1中给出。薄膜介电常数介质损耗因数测试仪报告11.1 报告以下信息：11.1.1 描述被测试的材料，也就是指名称，等级，颜色，制造商和其它相关数据，11.1.2 试验样本形状和尺寸，11.1.3 电极和测量池的类型和尺寸，11.1.4 样本调节，和试验条件，11.1.5 测量方法和测量电路，11.1.6 施加电压，有效电压梯度和频率，11.1.7 并联电容值，耗散因子值或功率因子值，电容率值，损耗指数值以及评估的精度值。精度和偏差精度——本规范提出的任一种试验方法的精度相关说明都不可能制定，因为精度受到被测材料和测量所用装置选择的影响。对于特定材料，鼓励这些试验方法用户探寻适用于特定材料的标准精度说明（也可见第8章）。 偏差——任一种或所有这些试验方法未能制定偏差相关的说明。关键字 直流损耗；电容；并联，串联，边缘现象，杂散；电导；接触式电极；电介质；介电常数；耗散因子；电绝缘材料；电极；液体置换；频率；边缘现象电容；受保护电极；Hz；损耗角；损耗因子；损耗正切值；非接触式电极；电容率；相位角；缺相角；功率因子；Q；品质因子；电抗；并联，串联；相对电容率；电阻；平行，串联；tan(Δ)；厚度表3 电容计算—测微计电极并联电容符号定义Cp=C'-Cr+CvrC'=在电极重置间距处的测微计电极的校准电容，Cv=由表2计算得出的，在测微计电极之间被样本占据区域的真空电容，Cr=在间距r处的测微计电极的校准电容，r=样本和附着电极的厚度。样本真实厚度和面积必须用于计算电容率。当样本具有与电极相同的直径，通过使用以下程序和公式，可以避免边缘真空电容的双重计算，计算只具有小误差（由于在电极边缘的边缘现象导致的误差，值为0.2~0.5%）。Cp=C'-Cv+CvtCv=在间距t处的测微计电极的校准电容，Cvt=在样本区域的真空电容，t=样本厚度。 附录（非强制性信息）X1.串联电感和电阻和杂散电容的计算X1.1 由于导线电感导致的电容增加和由于导线电阻导致的耗散因子增加按下式计算：式中：Cp=被测量电容器的真实电容，Ls=导线的串联电感，Rs=导线的串联电阻，ω=2π×频率，Hz。注X1.1：对于所用导线，可以由物理尺寸非常小的电容器测量值来计算得出L和R，电容器在测量设备终端和导线很远的末端上进行测量。C是指终端处测量的电容，△C是指两个电容读数的差值，而R为由测量值C和D计算得出的数值。X1.2 当要求这些导线尽可能短时，则难于在1MHz下将其电感和电阻降低到0.1μH和0.05Ω以下。高频率电阻随着频率的平方根而增大。因此当频率大于1MHz时，这些修正变得越来越重要。当测量中已包括额外电容时，例如边缘电容Ce和接地电容Cg，这可能在两终端测量中产生，观测的并联电容将增大，同时观测的耗散因子也将减小。这些观测参量的下标为m，则按下式可计算得出修正值：X1.3 耗散因子表达式假设额外电容没有损耗。这对于接地电容来说是基本真实的，除非在低频率下，同时当电极延伸到样本边缘时，边缘电容也基本无损耗，因为几乎所有的通量线都是在空气中。电容率和损耗指数按下式进行计算：4 当有一个或两个电极小于电极时，边缘电容具有两部分。穿过环境电介质的通量线相关的的电容具有一个耗散因子，对于各项同性材料，该耗散因子与电介质主体的耗散因子相同。穿过空气的、通量线相关的电容没有损耗，因此不可能分隔电容，通常惯例是将测量的耗散因子视为真实的耗散因子。保护电极的有效面积受保护电极在测量电极和保护电极之间具有一个间隙。该间隙具有明确的尺寸来定义间隙面积。受保护电极有效面积大于其实际面积。在多数受保护电极系统中，增加值大约为50%的保护间隙面积。为获得某一采用受保护电极的电极系统的有效面积，通过空气间隙宽度来增大以下每一个尺寸，同时在公式中使用这些增大后的尺寸来计算面积：（a）圆形测量电极的直径，（b）矩形测量电极的每个尺寸，（c）圆柱形测量电极的长度。 在那些间隙宽度g与电极间隔距离t（大约为该样本的厚度）的比值适当的场合，受保护电极尺寸的增大值小于间隙宽度，该数量值识别为保护间隙修正值。保护间隙修正值符号为：2δ。 保护间隙修正值符号受到保护间隙宽度g；电极间隔距离t（该值大约为该样本的厚度）；受保护测量电极厚度a；高电压和低电压电极之间介质电容率1/K'；和间隙中介质电容率Kg'的影响。有效因子为：X2.1.4.1 比值g/tX2.1.4.2 比值a/gX2.1.4.3 比值K'/Kg'X2.2 对于某些K'/Kg'和a/g比值，2δ/g计算的完整公式见公式X2.1-X2.3所示。X2.3 在计算有效电极面积之前，保护间隙分数加上整体电极尺寸则得B=1-2δ/g。考虑X2.1.2（16）中的（b）和（c），B可以依据公式X2.4的经验公式计算得出。A为比值a/g的函数。当a/g=0（薄电极）时，A=1。当a/g为1或大于1（厚电极）时，A接近极限值0.8106（准确为8/π2）。从图X2.1可得出的A的中间值。X2.4 当g/t≤10时，从公式X2.2得出的lnB与从公式X2.1得出的lnB的比值非常接近1.23。因此，通过写入公式X2.4，可以排除评估公式X2.2的必要性，如公式X2.5所示。X2.5 由公式X2.5计算的B值将不同于准确值，两者差值大为0.01。对于0.25mm保护间隙，该大误差将产生一个0.0025mm的电极直径或电极尺寸误差。而对于25mm电极，这将产生一个0.02%的面积误差。式中.电容率和损耗特征的影响因素频率绝缘材料能在整个电磁波频谱上使用，这些频谱包括从直流电到至少3×1010Hz的无线电频率。仅存在非常少数的材料，如聚苯乙烯，聚乙烯，熔融二氧化硅，它们的电容率和损耗指数在该频率范围内是近似恒定的。有必要在材料将采用的频率下测量电容率和损耗指数，同时有必要在放置时的几个合适频率下测量电容率和损耗指数，如果该材料将在某个频率范围使用的话 当材料存在电介质极化时，则可导致电容率和损耗指数随着频率的变化。两种重要的极化是由于极性分子导致的偶极极化，以及材料不均匀性导致的界面极化。图X3.1显示了电容率和损耗指数随着频率的变化（17）。在高频率下开始，此时电容率通过一种原子或电子的极化来进行测定，每次成功的极化，不管是偶极极化还是界面极化，都促进电容率结果在零频率时具有大值。每一次极化都提供了一个大的损耗指数和耗散因子。在损耗指数为大值时的频率成为该极化的松弛频率。它也是电容率以大速率大的频率以及发生一半的该极化变化的频率。这些极化影响相关的知识将常常有助于确定应在哪个频率下执行测量。X3.1.3 自由离子或电子导致的电介质的任何直流电导不会对电容率产生直接影响，但将产生一个耗散因子，该耗散因子随着频率发生相反得变化，同时在零频率时变得无限大（图X3.1的虚线）。X3.2 温度X3.2.1 温度对某*缘材料的主要电学影响是将增大其极化时的松弛频率。它们随着温度以一定速率成倍大，该速率使得当温度在6~50℃范围内增大时，可导致松弛频率出现十倍的增大。在较低频率下的电容率的温度系数将总是为正值，除了许多原子和电子极化导致电容率温度系数为负值的事实之外。然而在高频率下，温度系数将为负值，在某些中间频率时可变为零，而在偶极或截面极化的松弛频率下该温度系数为负值。X3.2.2 损耗指数和耗散因子的温度系数可为正值或负值，这取决于松弛频率的测量关系式。当频率高于松弛频率时，该值为正值，而对于较低频率，该值为负值。因为界面极化的松弛频率通常低于1Hz，损耗指数和耗散因子的相应温度系数将在所有通用测量频率下为正值。因为某一电介质的直流电导通常随着温度的倒数减小而成倍增大，由此导致损耗指数和耗散因子值将以一种类似的方式增大，同时将产生一个较大的正值温度系数。X3.3 电压X3.3.1 所有电介质极化，除了界面极化几乎与存在的电位梯度无关，直到该梯度值达到在材料空隙或材料表面上发生电离，或者发生击穿的数值。在界面极化中，自由离子数量可能随着电压而增大，同时可能改变极化和其松弛频率的大小。直流电导也会受到类似的影响。X3.4 湿度X3.4.1 湿度对某*缘材料的主要电学影响是将*得增加其界面极化的大小，因此增大其电容率，损耗指数和其直流电导。这些湿度影响是由水吸入材料体积，以及在材料表面形成离子化水膜而导致的。后者在几分钟之内形成，然而前者可能需要几天，有时甚至是几个月来达到平衡，特别是对于较厚和相对不透水材料（15）。X3.5 水浸泡X3.5.1 水浸泡对某*缘材料的影响近似为*相对湿度暴露的影响。水被吸入材料体积中，通常其吸水速率大于*相对湿度下的吸水速率。然而，当终达到平衡时，在两种条件下的吸水的总量基本是相同的。如果材料存在水溶性物质，水浸泡下的滤出将显著快于在*相对湿度且不冷凝前提下的滤出。如果浸泡所用水不纯，其杂质可能进入材料中。当材料去除水进行测量时，与在*相对湿度且不冷凝前提下产生的效果相比，其表面形成的水膜将变得更厚，同时导电性更好，同时这将要求一些时间来达到平衡。X3.6 气候X3.6.1 气候作为一种自然现象，其包括温度和湿度改变，降雨，飓风，大气杂质和太阳紫外线和热量的影响。在这些条件下，某*缘材料表面可能发生*性变化，如物理上的粗糙化和裂解，化学上的更多易溶成分的损失以及表面沉积的盐，酸和其它杂质的反应。表面上形成的任何水膜将变得更厚和更容易导电，同时水将更容易渗入材料体积中。X3.7 损失X3.7.1 在电压和温度的工作条件下，由于吸收湿分，材料表面物理变化，材料成分化学变化，以及材料表面和内部空隙表面的电离影响，某*缘材料可能损失电学强度。通常来说，材料电容率和耗散因子将增大，同时它们的增大值将随着测量频率降低而变得更大。在充分理解X3.1-X3.6列出的影响之后，任何电学性能的观测变化，特别是耗散因子，可作为损失的一种度量方式，也就是指电介质强度减小的一种度量方式。X3.8 调节X3.8.1 许多绝缘材料的电学特征取决于温度，湿度和水浸泡性，正如以上章节所述，因此通常有必要规定某一样本的过去历史以及其与这些因素相关的试验条件。除非将在室温（20-30℃）下执行测量，同时未规定相对湿度，样本应按规程D618进行调节。所选程序应能接近匹配工作条件。当数据要求包含宽范围的温度和相对湿度时，将有必要使用中间值，同时可调节至平衡。X3.8.2 保持规定相对湿度的方法见规程D5032和E104所述。X3.8.3 部件调节规范见规范E197所述。备注：Polarizations：极化；Interfacial：界面；Dipole：偶极Permittivity：电容率；Loss index：损耗指数；Log Frequency：对数频率图X3.1 典型极化（17）典型测量电路的电路图显示的简化电路和方程式仅作为一般参考信息。完整的图形，方程式和所用测量方法应参阅某一特定设备附带的说明书。 备注：GUARD：保护方程式Cx=(R1/R2)CsDx=ωR1C1平衡方法在位置M采用S1来改变C1和R2，以使得探测器D获得小的偏转。通过改变CF和RF在位置G采用S1来重复操作。重复以上程序直到当S1转换到M或G时探测器显示没有变化达到平衡。注1：该电桥类型对在电源频率下的高电压测量特别有用，因为几乎所有的施加电压显示穿过标准电容器Cs和样本Cx。平衡电路和探测器的接地电位都非常接近。图X4.1 高电压西林电桥方程式Cx=(R1/R2)CsDx=ωR1C1平衡方法设置R1和R2的比值（范围），然后改变Cs和C1，以获得平衡。图X4.2 低电压西林电桥，直接法方程式Cx=△Cs△Cs=Cs'-CsDx=(Cs'/△Cs)△C1ωR1△C1=C1-C1'平衡方法改变C1和Cs，可以连接或不连接样本，以获得平衡。不接地导线的未知断开的初始平衡所用符号都是基本符号。图X4.3 低电压西林电桥，平行替代法方程式Cx=(L1/L2)CsGx=(L1/L2)GsDx=(Gs/ω Cs)平衡方法设置L1和L2的比值（范围），然后改变Cs和Gs，以获得平衡。图X4.4 电感比值臂（变压器）电路方程式Cx=Cs'-Cs=△CsGx=(R5ω2C1C2/Cs)(C4-C4')=△GxDx=Gx/ωCx=△Gx/ωCs平衡方法没有连接的平衡，以及带未知连接的重新平衡，采用Cs和C4。初始平衡所用符号都是基本符号。图X4.5 平行T形网络，平行替代法

低速精密金相切割机METCUT-5性能：◆ METCUT-5是一款经济节约型的低速精密切割机，切割片直径3in-5in◆ 低速运行的刀片使所有类型的材料的切割变得更容易◆ 重力进给直切，可重复◆ 样品损伤小是该机型的特点◆ 操作简单、方便◆ 应急开关醒目，随时关机，防止误操作◆ 先进的触摸屏，清晰，人性化◆ 透明防护罩，可拆卸使用◆ 内置可移动的冷却液槽◆ 切断自动停机的限位开关实现无人值守切割◆ 法兰、夹具多样，满足各种材料切割◆ 手动磨刀，更灵活、方便◆ 机身精巧，占用空间小◆ 防锈铝材结构，经久耐用◆ 特别适合切割小的、软的、脆的、异形的金属材料、复合材料、塑料、电子元器件、 生物材料、陶瓷、水泥、岩矿等材料，也常用于薄片样品制备◆ 适用于电路板及大样品的切割平台（选配）切割电路板及大样品的切割平台低速精密金相切割机METCUT-5技术参数： 电源 220V，单相，50Hz 电机功率 100W 切割能力 30mm 切割片直径 3in-5in(76mm-127mm)，选配切割平台则6in(152mm) 轴心孔径 0.5in(12.7mm) 切割片转速 60-600rpm/min，可调，无级变速 切割方式 重力进给直切 配重加载 0-450g 测微计进给 0-25mm 定位精确度 0.01mm 切割平台（W×D） 395×345mm 冷却液槽 内置可移动的冷却液槽 显示屏 触摸屏 尺寸（W×D×H） 387×333×365mm 重量 28kg订货信息：产品编号产品描述50 01低速精密切割机METCUT-550 01-P切割平台Platform for table sawGR 0400单鞍夹具GR 0401双鞍夹具（用于棒材和管材样品）GR 0403用于异形样品的夹具GR 0431用于夹持5mm-20mm样品的水滴状夹具GR 0433用于夹持圆形和镶嵌的样品的夹具，30mmGR 0434用于夹持圆形和镶嵌的样品的夹具，40mmCW-4配重CF-138法兰 1.38in(35mm)CF-250法兰 2.5in(64mm)CS-1磨石

一款性能优秀的低速切割机，适用于那些不能禁受高速切割的小型精密样品，TechCut 4在切割样品期间，重力进料切割系统通过调整重力或平衡向下力以用于切割。切割液从储液池通过旋转的锯片应用到产品上。 可选配3至6英寸锯片，最大切割厚度为2英寸。特点:l 触摸式开关控制所有功能 l 锯片速度通过LED屏显示，范围：10-500RPM（10 RPM增量）l 锯片规格：3“(76.2mm)-6“(152.4mm)，0.5“（12.7mm）轴径l 最大切割能力：2“（51mm）厚度l 2微米增量的精密样品测微计，范围最大为1.5“（38mm）l 宽阔的工作台l 弹簧式修整棒可以在切割的时候修整样品 l 0.06马力（45W）电机l 可拆卸的冷却液容器l 自动制动器，到达指定切割深度，自动停止l 滑行式重力系统，可负载0-300克样品及人性化的飞溅保护罩l 可滑动的样品捕捉筛漏，能有效的防止断片掉入冷却液容器l 高精密制造，铝与不锈钢的机身结构，耐腐蚀度高，使用寿命长l 尺寸：13“宽x 15”深x 13“高（330 X 381 X 330毫米）l 重量：36磅（16公斤） l 美国设计制造 编号 规格5-5200 TechCut 4™ 主机，100-240V 编号图片描述5-5005供? 1.5" 直径镶嵌样使用的泪滴状夹具5-5010供? 1" 直径镶嵌样使用的V型块夹具5-5015骨状夹具5-5020供V型和平面型使用的单鞍钳5-5025 27 x 47 mm 玻片/薄片真空型夹具5-5030 不规则形状样品夹具5-5035供V型和平面型使用的双鞍钳5-5040 转体附件（配合其他夹具用于切角）5-5045 ? 2.5" (63 mm) 法兰5-5050两个150g重量块

新升级的美国Allied精密研磨抛光机 MultiPrep™ 高精密研磨系统，采用7寸LCD触摸屏完成所有操作，研磨系统精度能够达到1um，适用于高精密（金相，SEM，TEM，AFM等）样品的前处理 Allied精密研磨抛光机 MultiPrep™ 系统适用于高精密（金相，SEM，TEM，AFM等）样品的半自动准备加工。主要性能包括平行抛光，精确角度抛光，定点抛光或几种方式结合抛光；它解决了操作者之间的不一致性，提供可重复的结果，而不管他们的技能如何； MultiPrep 无须手持样品，保证只有样品面与研磨剂接触。 双测微计（倾斜度和摆动度）允许相对于研磨盘进行精确的样品倾斜度调整；精密的Z-轴指示器保证在整个研磨/抛光过程中维持预定义的几何方向。 数字指示器可以量化材料的去除率，可以实时监测或进行预先设定的无人操作。可变速的旋转和振荡，能够最大限度地提高整个研磨/抛光盘的使用和减少手工制样。可调负荷控制，扩大了其从小样品（易碎样品）到大样品的全方位处理能力。 常见的应用包括并联电路层级，横截面，楔角抛光等特征MultiPrep定位头特点：前数字指示器显示实时的材料去除率（样品的行程），1微米分辨率精确主轴设计保证样品垂直于研磨盘，使之同时旋转双轴测微计控制样品角坐标设置（斜度和摆度），+10°/-2.5°幅度， 0.02° 增量。后置的数字指示器显示垂直位置（静态），具有归零功能，1微米分辨率6倍速样品自动摆动齿轮传动主轴应用于要求较高的转动力矩，如较大或封装的样品凸轮锁紧钳无需其他辅助工具，方便用户重新设置工作夹具8倍速样品自动旋转样品调整范围：0-600克（100克增量）美国ALLIED设计制造研磨/抛光机特点：研磨盘速度范围：5-350 RPM（5转速增量）数字计时器和转速表7“LCD触摸屏，带键盘输入控制所有功能顺时针/逆时针研磨盘旋转可选的AD-5 ™ 自动操作流体分配器调节阀电子控制冷却液0.5 HP（375 W），高扭矩马达稳定的RIM，铝和不锈钢结构腐蚀/耐冲击盖一年保修符合欧盟CE标准由美国Allied设计制造 项目＃描述15-2200MultiPrep™ 精密抛光系统，用于8”研磨盘，100-240 V 50/60 Hz 1相包括：飞溅环和压板盖，刻度盘指示器校准套件，夹具/附件存储盒Dims: 15" W x 26" D x 20" H (381 x 660 x 508 mm)Weight: 95 lb. (43 kg)15-2200-TEM带O型环驱动的MultiPrep™ 系统，用于8”研磨盘，100-240 V 50/60 Hz 1相 - 专为透射电子显微镜而设计样品制备精致材料研磨抛光包括：飞溅环和压板盖，刻度指示器校准套件，夹具/附件存储盒Dims: 22" W x 26" D x 21" H (560 x 660 x 535 mm)Weight: 125 lb. (57 kg) 产品附件注：夹具/磁性研磨盘，设备及配件单独出售。请从下面附件列表中选择，以保证一个完整的系统配置的报价。项目＃配件图片描述15-1005用于 #15-1010, #15-1010-RE, #15-1013上的凸轮锁连接器15-1010含有3.1mm可拆卸扫描电镜样件的横截面扁板15-1010-RE用于#15-1005, #69-50000, #69-41000, #69-41005上的含有基准线的横截面扁板15-1013含有5.3 mm宽 x 3.5 mm深的耐热玻璃插件的TEM楔形/FIB 上用减薄夹具15-1014TEM楔形/FIB 夹具和4个 #69-40015耐热玻璃插件15-1018含有 0.5” 直径x 0.4” 高的耐热玻璃插件的SIMS/TEM 上用减薄夹具15-10202.25" 直径不锈钢平行抛光夹具15-1020-803" 直径不锈钢平行抛光夹具15-1020-1004" 直径不锈钢平行抛光夹具15-1025可镶嵌40 mm大小件的泪滴状夹具15-1035重量块套件包含：1个200克 和1个100克桶形重量块,1个200克1个100克和1个 50克 槽形重量块及1个固定杆15-10452.00" 宽 x 1.00" 高 x 0.75" 深 袋形多功能夹具15-104645°对角线方向, 2.00" 宽 x 1.00" 高 x 0.80" 深 袋形多功能夹具15-10471.00" 宽 x 0.40" 高 x 0.45" 深 袋形多功能夹具15-104845° 对角线方向, 1.00" 宽 x 0.40" 高 x 0.45" 深 袋形多功能夹具15-1050有0.63" 宽 x 0.10" 高x 0.25" 深的袋形 夹式横截面扁板15-1051对角线方向夹式横截面扁板120-30015含花岗岩底座的数显指示器测量系统10-10058“英寸（203毫米）铝研磨盘10-1005M8“英寸（203毫米）磁性研磨盘5-8100研磨盘、砂纸、抛光布储物柜，最大可放置12”大小5-8105铝制托盘/架子

新升级的美国ALLIED MultiPrep高精密研磨系统，采用7寸LCD触摸屏完成所有操作，研磨系统精度能够达到1um，适用于高精密（金相，SEM，TEM，AFM等）样品的前处理 MultiPrep™ 系统适用于高精密（金相，SEM，TEM，AFM等）样品的半自动准备加工。主要性能包括平行抛光，精确角度抛光，定点抛光或几种方式结合抛光；它解决了操作者之间的不一致性，提供可重复的结果，而不管他们的技能如何； MultiPrep 无须手持样品，保证只有样品面与研磨剂接触。 双测微计（倾斜度和摆动度）允许相对于研磨盘进行精确的样品倾斜度调整；精密的Z-轴指示器保证在整个研磨/抛光过程中维持预定义的几何方向。 数字指示器可以量化材料的去除率，可以实时监测或进行预先设定的无人操作。可变速的旋转和振荡，能够最大限度地提高整个研磨/抛光盘的使用和减少手工制样。可调负荷控制，扩大了其从小样品（易碎样品）到大样品的全方位处理能力。 常见的应用包括并联电路层级，横截面，楔角抛光等特征MultiPrep定位头特点：前数字指示器显示实时的材料去除率（样品的行程），1微米分辨率精确主轴设计保证样品垂直于研磨盘，使之同时旋转双轴测微计控制样品角坐标设置（斜度和摆度），+10°/-2.5°幅度， 0.02° 增量。后置的数字指示器显示垂直位置（静态），具有归零功能，1微米分辨率6倍速样品自动摆动齿轮传动主轴应用于要求较高的转动力矩，如较大或封装的样品凸轮锁紧钳无需其他辅助工具，方便用户重新设置工作夹具8倍速样品自动旋转样品调整范围：0-600克（100克增量）美国ALLIED设计制造研磨/抛光机特点：研磨盘速度范围：5-350 RPM（5转速增量）数字计时器和转速表7“LCD触摸屏，带键盘输入控制所有功能顺时针/逆时针研磨盘旋转可选的AD-5 ™ 自动操作流体分配器调节阀电子控制冷却液0.5 HP（375 W），高扭矩马达稳定的RIM，铝和不锈钢结构腐蚀/耐冲击盖一年保修符合欧盟CE标准由美国Allied设计制造项目＃描述15-2200MultiPrep™ 精密抛光系统，用于8”研磨盘，100-240 V 50/60 Hz 1相包括：飞溅环和压板盖，刻度盘指示器校准套件，夹具/附件存储盒Dims: 15" W x 26" D x 20" H (381 x 660 x 508 mm)Weight: 95 lb. (43 kg)15-2200-TEM带O型环驱动的MultiPrep™ 系统，用于8”研磨盘，100-240 V 50/60 Hz 1相 - 专为透射电子显微镜而设计样品制备精致材料研磨抛光包括：飞溅环和压板盖，刻度指示器校准套件，夹具/附件存储盒Dims: 22" W x 26" D x 21" H (560 x 660 x 535 mm)Weight: 125 lb. (57 kg)产品附件注：夹具/磁性研磨盘，设备及配件单独出售。请从下面附件列表中选择，以保证一个完整的系统配置的报价。项目＃配件图片描述15-1005用于 #15-1010, #15-1010-RE, #15-1013上的凸轮锁连接器15-1010含有3.1mm可拆卸扫描电镜样件的横截面扁板15-1010-RE用于#15-1005, #69-50000, #69-41000, #69-41005上的含有基准线的横截面扁板15-1013含有5.3 mm宽 x 3.5 mm深的耐热玻璃插件的TEM楔形/FIB 上用减薄夹具15-1014TEM楔形/FIB 夹具和4个 #69-40015耐热玻璃插件15-1018含有 0.5” 直径x 0.4” 高的耐热玻璃插件的SIMS/TEM 上用减薄夹具15-10202.25" 直径不锈钢平行抛光夹具15-1020-803" 直径不锈钢平行抛光夹具15-1020-1004" 直径不锈钢平行抛光夹具15-1025可镶嵌40 mm大小件的泪滴状夹具15-1035重量块套件包含：1个200克 和1个100克桶形重量块,1个200克1个100克和1个 50克 槽形重量块及1个固定杆15-10452.00" 宽 x 1.00" 高 x 0.75" 深 袋形多功能夹具15-104645°对角线方向, 2.00" 宽 x 1.00" 高 x 0.80" 深 袋形多功能夹具15-10471.00" 宽 x 0.40" 高 x 0.45" 深 袋形多功能夹具15-104845° 对角线方向, 1.00" 宽 x 0.40" 高 x 0.45" 深 袋形多功能夹具15-1050有0.63" 宽 x 0.10" 高x 0.25" 深的袋形 夹式横截面扁板15-1051对角线方向夹式横截面扁板120-30015含花岗岩底座的数显指示器测量系统10-10058“英寸（203毫米）铝研磨盘10-1005M8“英寸（203毫米）磁性研磨盘5-8100研磨盘、砂纸、抛光布储物柜，最大可放置12”大小5-8105铝制托盘/架子

卷封厚度仪STG 系列消除不同操作人员间用卷边测微计测量卷边厚度的人为误差。卷边厚度仪的测量数据客观，可重复性好，确保卷边质量趋势分析的可靠性。无需软件支持！卷边厚度仪设计灵活，适用于多种罐型。与卷边测微仪一样，卷边厚度仪在埋头壁上与罐子直径重合的某个点进行测量。该仪器可以单独使用，也可以通过数据线连接电脑，将测量数据发送到 Visionary QC，或其它的数据采集软件。应用● 饮料罐卷封厚度尺寸检测● 食品罐卷封厚度尺寸检测● 塑铝复合罐卷封厚度尺寸检测● 气雾罐卷封厚度尺寸检测技术参数范围 : 0-4.0 mm标配分辨率 : 0.0005 in (0.01mm)适用罐径 : 50-305mm最高分辨率 : 0.0001 in (0.001mm)

KHVS-1000XY /EOS100B半自动显微维氏硬度计测量系统技术参数 一、概述KHVS-1000XY/EOS100B半自动显微维氏硬度测量系统，集成了光学成像、机械位移、电子控制、数字成像、图像分析、计算机处理等多种专业技术，通过计算机主机实现对显微维氏硬度计和自动载物台的控制，并将硬度压痕数字化成像在计算机屏幕上，再通过自动读数、手动读数等手段，准确测量金属及部分非金属材料及各种膜层、镀层的显微硬度、硬化层深度、膜层厚度、两点间距等。，自动截取清晰的视频帧，更新为“当前图像"。还可对多个试样进行全景扫描，然后在全景图上做17种路径规划自由设定，最后完成连打连测。报告内容、格式可灵活设定，自动生成word与excel文档。所有结果、压痕图像、自定义信息列表、用户Logo，都可以设置生成到图文报告。这一系统，改变了传统硬度的测试方式，实现了全自动、高精度、高重复性的硬度测试，是材料分析的重要设备。二、设备介绍：● KHVS-1000XY数显自动转塔显微维氏硬度计，通过液晶屏显示结果，并可显示与设置测试标尺、试验力、压头类型、保荷时间、换算单位等 ● 采用8寸触摸屏和高速ARM处理器，显示直观，人机互动友好，操作简便；运算速度快，数据库巨量存储，数据自动修正，并提供数据折线报表；● 机身使用铸铁一次浇铸成型，配合以汽车烤漆处理工艺，外形圆润美观；● 蜗轮蜗杆升降系统较好地提高测试稳定性以及测试精度，测试完成后无需再次对焦；● 配置了自动转塔功能，高清测量和观察-双物镜组合，结合内置长度编码器的高清测微目镜，实现了压痕对角线的一键测量，较好地减少了人为操作干扰与读数误差；● 便捷数控系统，可自动进行全硬度标尺的单位转换；● 可设置硬度值的大小值，当测试值超过设定范围时，发出蜂鸣音；● 具有软件硬度值修正功能，可以在一定范围内直接对硬度值进行修正；● 具有数据库功能，对试验数据自动进行分组保存，每组可保存10个数据，可以保存2000个以上数据；● 具有硬度值曲线显示功能，直观显示硬度值的变化；● CCD图像处理系统，另可选配努氏压头，进行努氏硬度测量；● 配置无线蓝牙打印机，并可通过RS232、USB接口输出数据；● 精度符合GB/T4340.2-2018 ISO6507-2 和美国ASTM E384。三、技术参数●维氏标尺： HV0.01, HV0.025, HV0.05, HV0.1, HV0.2, HV0.3, HV0.5, HV1●试验力：0.09807、0.2542、0.4903、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807N （10、25、50、100、200、300、500、1000gf）●试验力选择：通过转动试验力变换手轮进行试验力选择，当前试验力显示在屏幕上●加载控制：自动（加载/保荷/卸载）●保荷时间1—99秒（1秒为增量）●测试模式：HV/HK●硬度值 ：硬度范围5-5000HV,通过测微计上测量所得数据，将数据输入到硬度计即可得到相应硬度值。示值误差3-5%HV。●试件高度：180mm，压痕中心至机壁距离130mm●光学测量系统物镜：10×（观察），40×（测量）总放大倍数：100×（观察），400×（测量）测量范围： 200μm分度值： 0.025μm●X-Y自动载物台台面尺寸：130X120毫米行程：45X45毫米步距：小于1微米(0.001MM)（或2微米，可选）重复定位：小于3微米移动速度：可调；控制方式：手动控制、电动控制、计算机控制；●光源：12V/20W●光源亮度：PWM调光●节能模式：10分钟不用后自动进入待机模式●电源：220V, 50Hz●整机功耗：100W●总尺寸：500×330×560mm●重量：36kg四、功能简介1.菱形压痕图像自动识别能力强。2.主界面各个功能区可以任意拖动，形成个性化的布局风格。4.兼容努氏(HK)硬度的计量，可以对努氏压痕进行自动识别。5.自动测量之外，还配有三种手动测量：四点测量、对角测量和四边测量。6.二种标定方式：硬度块标定、光学标定。7.标准硬度块标定支持多次标定取平均。8.不同分辨率、不同物镜、不同载荷时，软件将自动选择标定系数。9.硬度测量时根据不同硬度值自动选择标定系数。10.手动测量时，具有放大镜功能，方便找到压痕顶点位置。11.提供压头/镜头偏移校准功能，消除压头和镜头之间机械偏差，修正系统整体误差，从而提高硬度检测结果的准确性。12.支持多种视频采集设备，分辨率：130万、200万、300万、500万的数码摄像头；在计算机上显示压痕视频，可抓拍、存储图像。13.测量硬化层路径序列时，有多种灵活初始化设定模式，自动保存并导入前次路径序列；测量路径，亦可任意另存，以备重新载入。14.测量结果按路径序列排列，生成相应的硬化层深度值及硬度变化曲线图。15.提供距离测量和角度测量功能，并可将多组距离和角度同时显示视频或图像上。16.内置各标准硬度值转换工具，参照GB、DIN、ISO、ASTM等标准，可实现：维氏HV、努氏HK；洛氏： HRC、HRA、HRB、HRD等；表面洛氏：HR15N、HR30N、HR15T等；布氏 ：HBS、HBW 等硬度值间的互相转换，可选择任意换算单位列入结果表。17.报告内容、格式可灵活设定，自动生成word与excel文档。所有结果、压痕图像、自定义信息列表、用户Logo，都可以设置生成到图文报告。18.可以设定密码和管理权限：普通操作员只能按照设定好的设置进行硬度的测量。19.软件能够自动保存用户的习惯性设置，下次启动的时候保持上次关闭时的状态。20.软件提供：中文版、英文版、德语版、西班牙版、俄语版(可选)。21.硬度计转塔自动控制功能。22.路径规划功能，17种路径规划自由设定。23.区域模式&连打连测功能，对于同一视野内可能存在多个压痕，可选择区域模式，每次测量时仅考虑设定范围内的压痕。连打连测时开启区域模式，能避免同一视野内存在多个压痕导致测试中断的情况。24.曲面修正功能，符合ASTME384标准表一、表二，提供球、杆等曲面件测试修正需求。25.努氏自动识别与测量时，可以输入压头角度修正，ASTM E384-11，Sec.10.7.2.1。26.维氏、努氏测量结果，对不符合ASTM E384标准的可疑形状压痕，引入了有效性报警功能。27.多试样全景扫描功能，可对多个试样进行全景扫描，然后在全景图上做路径规划，最后完成连打连测。28.扫描区域自由设定功能，对于不规则试样可按外形设定扫描区域，缩小扫描区域，提高工作效率。29.CHD硬化层测试功能，可根据需要设置停止条件，当测试满足条件后提前中断测试进程，此功能的初衷是为了在CHD测试达到硬化层极限后节省时间。30.标定采用了误差与重复度评估，以保证标定合格。31.自动亮度功能，可以将样品的表面自动调整到好的状态，合适的亮度能将压痕与周围更好地区分开，帮助更准确地识别压痕顶点。32.自动对焦功能，远程对焦；高速对焦（3~5s）；自动截取清晰的视频帧，更新为“当前图像"。33.间隔生成测试点，可得到更详细更精确的试样硬度分布情况。34.内置预定义齿状模板，可以极大地节约对于复杂耗时的测试点的设置时间，特别像齿状侧翼测量点的设置。所有标准预设如HK30和HK0.5能在一个设备中实现。相应的报告也会存储起来。35.断裂韧性，系统让用户在测量正常硬度压痕后继续测量裂纹大小（通过鼠标点击裂纹的左右上下端）从而计算出断裂韧性。