厚薄表

请问：对钢尺 厚薄规 卷尺进行校准应该使用哪种器具？请各路大虾赐教！

如何判断电热水器里的水垢厚薄？

对于厚薄不同的织物在同时做日晒试验时，有特殊的处理要求吗？比如对薄产品垫高。

现在客户要求内校报告也须提供测量不确定度评估，以前我没有做过，现在想从常见的长度类仪器开始做，不知道那位有卡尺和厚薄规(厚度仪)不确定度评估实例，能否发一份给我？非常感谢！[em54] email:pwindy.98@163.comor pengxz@nienyi.com.tw

色谱柱膜的厚薄的选择更多基于什么方面的考虑？如果看分离效果，一般更多是注重柱涂层种类，柱长和内径。越细或越长的分离效果越好，找对了种类分离效果也能大大改善。如果是?看载荷，一般更多是注重内径。越粗的越能承受更大载荷。?长度都比不上粗柱效果好。剩下这个膜厚实在是鸡肋，它的作用似乎很有限，论改善分离效果不如柱长，论提高载荷不如内径。唯一能想到的作用就是做薄了耐受温度高点，能更好的适应一些极端色谱条件。所以，一般情况对膜厚的选择没有那么刻意。不知道我的观点是否正确？在此抛砖引玉，请大神来点评。

平常测试时，发现样品表面不平整，激发光漏光会导致Cr元素测试值严重偏低，基本在0.6%左右不知道还有没其它情况是有这种影响的呢（最近测试304时，样品不漏光，但测试后背面发黑，测出来的Ni结果去到8.4--8.5左右，客户就有意见。领导就说可能是样品击穿了，背面也发黑了，导致结果偏高。）这个真的会有影响的吗？？？？？？？我拿个Ni8.3的标样去打，也有8.2的啊！！！

如题，是否涂层厚的对分离比较好？

金属表面在各种热处理、机械加工、运输及保管过程中，不可避免地会被氧化，产生一层厚薄不均的氧化层。同时，也容易受到各种油类污染和吸附一些其他的杂质。 　　油污及某些吸附物，较薄的氧化层可先后用溶剂清洗、化学处理和机械处理，或直接用化学处理。对于严重氧化的金属表面，氧化层较厚，就不能直接用溶剂清洗和化学处理，而最好先进行机械处理。　　通常经过处理后的金属表面具有高度活性，更容易再度受到灰尘、湿气等的污染。为此，处理后的金属表面应尽可能快地进行胶接。 　　经不同处理后的金属保管期如下： 　　（1）湿法喷砂处理的铝合金，72h ； 　　（2）铬酸-硫酸处理的铝合金，6h ； 　　（3）阳极化处理的铝合金，30天； 　　（4）硫酸处理的不锈钢，20天； 　　（5）喷砂处理的钢，4h ； 　　（6）湿法喷砂处理的黄铜，8h 。

本人感觉如今国内的玻璃器皿质量在下降，厚薄不均，形状不一。各位感觉如何？

薄层色谱法是常用的微量分析方法，广泛应用中草药研究和日常检验，但常出现斑点异常现象给结果判断带来困难，应注意避免和克服。一、拖尾现象拖尾现象在薄层色谱中较为常见，结果使斑点间界限模糊，结果难以判断。1、产生原因及克服方法（1）点样过量在薄层色谱过程中化合物在薄层板上进行吸附———解吸附的移动过程中，任何一类吸附剂，它们的负载化合物的能力是有一定限度的，因点样过量而超载后，过剩的化合物被抛在后面，形成拖尾现象。（2）重复点样样点虽在同一垂直线而样点圆心未重合，致使样点呈近椭圆形，也是形成拖尾现象的又一原因，为避免以上异常现象，应选择合适的点样量和复点样过程中，样点圆心应重合。2、边缘效应边缘铲应是样品在层析时，薄层板两边的斑点比中间斑点移动快，并向两边偏斜。其原因是用混合溶剂展开过程中，其中极性较弱和沸点较低的溶剂在薄层板两边沿处较易挥发，使薄层板上展开剂的比例不一致，极性发生变化，而出现边缘效应。为避免上述现象的出现：增加层板缸中溶剂蒸气浓度，在层析缸内壁贴上浸湿展开剂的滤纸或选择内径和长度适宜的层析缸进行层析。选择适宜的单一溶剂代替混合溶剂。采用共沸溶剂代替一般混合溶剂。3、S形及波形斑点S形斑点是指含多种成分的样品层析时，斑点不是顺次分布于原点至展开前沿的垂直线上，而是呈s形分布于垂直线两侧。波形斑点是指某些含多种成分的样品液，顺次点于同一起始线上，展开后，这些成分相同的斑点不呈直线状平行于起始线，而是呈波浪形。产生原因为薄层板厚薄不匀。为避免上述现象的出现应选用厚薄均匀的薄层板。4、念珠状斑点念珠状斑点是指化合物斑点之间距离小，相互连接呈念珠状。产生原因及克服方法：样品中成分过多，在一定长度的薄层板上，排布不开，彼此重叠。可适当增加层析板长度，使斑点距离加大或采用双向层析，使所含成分向两个方向展开可以避免念珠状斑点的出现。多次点样时，点样中心不重合，形成复斑。应以适当浓度供试液一次点样，若多次点样，点样中心必须重合。5、展开后斑点RF值不稳定斑点RF值与文献规定不符或重复操作RF值时大时小。主要原因为：层析温度不稳定，在采用混合溶剂展开时，由于温度不稳定使展开剂的比例发生变化。薄层厚薄不匀。吸附剂溶剂质量差异。根据以上原因在层析过程中除选择质量较好的吸附剂与溶剂外，同批或同一品种应选择同厂、同批号的吸附剂和溶剂，层析时室温差控制在5℃之间，制板时吸附剂颗粒应选择直径颗粒制板，板材平整，薄层厚薄均匀。

中药切片机使用方法　　　　1、调节:调节时先松开固紧铜柱螺母,其次转动螺母与铜柱上的厚薄方向调节,厚薄调妥后,必须把螺母与铜柱拧紧。如果刀盘与刀片平行,切勿开机。刀盘必须低于刀片,才可开机截切。调节最厚约3mm,薄则无级调变。　　　　2、更换刀片:用六角把手插入该机侧面孔位。转动可以调盘方向再换刀,换刀时松掉刀片的二只六角螺丝,插入刀片更换即可。中药切片机注意事项　　　　1、刀盆常擦油,以免粘垢,如出现药片留尾与细碎片时,这显示软化不妥或刀片不锐利,必须更换或磨刀。调得太薄,尚不好截切。　　　　2、切片如甜云、生地、元参、天麻等粘性药物,表面带水截切。本厂是专业制造多功能EF系列制丸机、AB系列中小型切片机及CD系列粉碎机。产品具有：噪音低、功效高、价廉物美、使用安全等特点。具有装饰柜台大方美观的作用，是适应药店、医院、药材加工场、化工、科研等单位使用。

镁合金离子减薄后观察，表面有一层黑色衬度，移动视场时黑色的东西还会动，影响观察和拍摄。大家知道这层黑色在电子束照射下还会动的东西是什么吗？看到有人说这层黑色的东西是表面很薄的一层氧化层。 我是做完了离子减薄马上放到电镜里的，如果氧化这么快有什么好方法可以保证样品不氧化呢？谢谢！

我是做金属表面改性的，我们认为金属表面生成了一种化合物的纳米级薄层。为了研究薄层厚度，想询问关于原子力显微镜和纳米划痕仪的具体情况。望告知，谢谢

塞尺又称测微片或厚薄规，是用于检验间隙的测量器具之一， 横截面为直角三角形,在斜边上有刻度,利用锐角正弦直接将短边的长度表示在斜边上,这样就可以直接读出缝的大小了。 　　塞尺使用前必须先清除塞尺和工件上的污垢与灰尘。使用时可用一片或数片重叠插入间隙，以稍感拖滞为宜。测量时动作要轻，不允许硬插。也不允许测量温度较高的零件。

1、月饼表面出现塌斜、坍塌、露酥、凹缩、跑糖、青墙、拔腰，包装袋内有水蒸气凝结，需慎重购买。2、凡有色泽不正、暗淡发污、焦煳黑渣、霉变菌斑者，切勿购买。3、国标要求：无夹生、无异味、馅料拌和均匀、饼皮厚薄。4、均匀、无可见杂质。不得使用回收馅料。5、预包装月饼应标明月饼名称、配料清单、净含量、生产日期、保质期。6、为避免过度包装，国标规定：包装成本不超过月饼出厂价的25%。

蝉鸣一夏，却蛰伏了好几个四季；昙花一现，却等待了整个白昼。真正厉害的人，都懂得厚积薄发，表面如湖水般宁静致远，内心却似大海般波澜壮阔。只有具备了足够的实力，才能将大放异彩的机会牢牢抓住。 美好一天从“厚积薄发”开始！

做土壤里的重金属时，要用电热板将土壤酸化，用聚四氟乙烯坩埚，坩埚底的厚薄直接关系到酸化的时间，想买一些薄底的坩埚，有厂家与牌子吗？

近来，固体粉末压片法作红外测试，压的片没有问题，透明，厚薄较均匀，在得到的谱图上没有红外吸收的部分总出现波纹，而不是平滑的直线，不知什么原因？怎么解决？

LS117光密度仪是一款便携式的设备，能够同时显示被测物体的透过率及OD值两个参数。这对于直径大于10mm的小样品来说，非常的好用。另一款LS152真空镀膜在线测厚仪主要应用于卷绕式真空镀膜机，膜需要从仪器的探测器和光源发射点之间穿过，通过测算测物体的透过率值，然后换算成光密度，用来判断膜镀层的厚薄均匀度。专门用于在线检测。 某知名品牌手机，研发了一款新手机，为了好看，有一圈金色的镀膜层，他们需要确认镀膜层的厚薄，每一个机壳因为真空镀的位置不同，怕镀得不均匀，仔细对比的话颜色会有差异性。他们认为可能根据OD值能推断出镀层的厚薄，于是带来样品。这个手机壳体被测物因为镀层是附着在黑色的PE材料上面，是完全不透光的。还因为它的异形，小于1mm的圆柱体，这个样品没有办法使用以透过率为基础的光学仪器测试。基于林上科技定期的培训，业务人员针对被测物提供专业的测试意见，使用台阶分析仪或者光密度仪器。 笔者也仔细比对过客户OK 的样品，样品与样品之间的差异非常小，要肉眼仔细的分辨（光密度仪可以很好的分辨）。如果做成每一台手机，如果不非常非常仔细的比对，压根就不会有人注意到这个细节的不同，不得不折服于他们精益求精的精神。强烈的为这些产品工程师点一个赞。

超声波测厚仪超声波测厚仪示值的因素（1）工件表面粗糙度过大，造成探头与接触面耦合效果差，反射回波低，甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀，耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理，降低粗糙度，同时也可以将氧化物及油漆层去掉，露出金属光泽，使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。（2）工件曲率半径太小，尤其是小径管测厚时，因常用探头表面为平面，与曲面接触为点接触或线接触，声强透射率低（耦合不好）。可选用小管径专用探头（6mm ）,能较精确的测量管道等曲面材料。（3）检测面与底面不平行，声波遇到底面产生散射，探头无法接受到底波信号。（4）铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大，超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减，被散射的超声波沿着复杂的路径传播，有可能使回波湮没，造成不显示。可选用频率较低的粗晶专用探头（2.5MHz）。（5）探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂，长期使用会使其表面粗糙度增加，导致灵敏度下降，从而造成显示不正确。可选用500#砂纸打磨，使其平滑并保证平行度。如仍不稳定，则考虑更换探头。（6）被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑，造成声波衰减，导致读数无规则变化，在极端情况下甚至无读数。（7）被测物体（如管道）内有沉积物，当沉积物与工件声阻抗相差不大时，测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。 （8）当材料内部存在缺陷（如夹杂、夹层等）时，显示值约为公称厚度的70%，此时可用超声波探伤仪或者带波形显示的测厚仪（比如美国dakota公司的MVX、PVX或者CMX等）进一步进行缺陷检测。（9）温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低，有试验数据表明，热态材料每增加100°C，声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。应选用高温专用探头和高温耦合剂（300－600°C），切勿使用普通探头。（10）层叠材料、复合（非均质）材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合（非均质）材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备（像尿素高压设备），测厚时要特别注意，测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。 （11）耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。因根据使用情况选择合适的种类，当使用在光滑材料表面时，可以使用低粘度的耦合剂；当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时，应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次，耦合剂应适量使用，涂抹均匀，一般应将耦合剂涂在被测材料的表面，但当测量温度较高时，耦合剂应涂在探头上。 （12）声速选择错误。测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正仪器后（常用试块为钢）又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。要求在测量前一定要正确识别材料，选择合适声速。（13）应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。 （14）金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层，虽与基体材料结合紧密，无名显界面，但声速在两种物质中的传播速度是不同的，从而造成误差，且随覆盖物厚度不同，误差大小也不同。

做试验在导电玻璃表面做TiO2膜，膜的厚度在10个微米左右，可以用一些进口的台阶仪来测试，无奈都得30几万人民币，有没有别的仪器可以实现这个功能，要求精度高一些的。如果哪位大侠有这方面的仪器信息也请联系我，谢谢，chenrk@sohu.com

在si片上镀一层纳米碳膜，碳膜表面光洁如镜面，采用椭偏仪测量薄膜的厚度，测量时选择基底材料为si，将k设为0（透明薄膜，不知是否准确或透明薄膜如何定义？），根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921），采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量，测量得到的结果还行，基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确？1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜？2.采用同一n值测量厚度是否合适？希望高手指点，谢谢！

大家好，我有一个大约一微米厚的薄膜，现在想测试XRD， 表征薄膜的取向特征，但是我发现试样太薄了，怎么测都没有信号出现呀。想请教大家有没有什么好的解决办法。谢谢啦。

我公司偶尔有球铁零件样,在白口化时,我是用780℃,保温一段时间(试样厚薄不同),用水急冷,但有时效果很差,请教各位高手,如何处理

摘要: 借助于不同的色散公式， 运用改进的单纯形法拟合分光光度计测得的透过率光谱曲线， 来获得薄膜的光学常数和厚度。用科契公式分别对电子束蒸发的T i O 2和反应磁控溅射的S i3 N 4，以及用德鲁特公式对电子束蒸发制备的I T O薄膜进行了测试， 结果表明测得的光学常数和厚度， 与已知的光学常数以及台阶仪测得的结果具有很好的一致性。这种方法不仅简便， 而且不需要输人任何初始值， 具有全局优化的能力， 对厚度较薄的薄膜也可行。采用不同的色散公式可以获得各种不同薄膜的光学常数和厚度， 这在光学薄膜、 微电子和微光机电系统中具有实际的应用价值。

电热板消解土壤样品时，用哪个牌子的坩埚？坩埚底的厚薄直接关系到酸化的时间，问一下各位都用哪个牌子的坩埚？酸化时间为多长时间？检测方法是GB/T17140-1997土壤质量铅镉的测定

刚接触红外，知道红外可以定性和定量，我想知道红外定量的原理是什么啊？是根据某一波数下的吸光值么？如果是这样的话，我的疑惑是，每次压片的厚薄程度都不能控制一样，那对结果不是会有影响么？ 寻高手指导！谢谢！！！

标准要求是用热敷法：把样品敷于微热的溴化钾片上，操作起来并不容易，溴化钾片受热易裂，样品厚薄也不好控制。用甲苯溶解后挥发溶剂后测定。今天有老师建议用锉刀锉出细粉压片测定。这三种方法你用的哪一种？