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深度表

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深度表相关的论坛

  • 光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法

    [b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】:1[/font]【作者】:[font=sans-serif][/font][font=Arial][font=Archivo, &][size=16px][b]侯晶1,2王洪祥1王储1王景贺1朱本温1[/b][/size][/font][/font][font=sans-serif][/font][/b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][b][b][/b][/b][/font][font=&]【题名】:[b][b][b][font=&][size=30px][b][b]光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法[/b][/b][/size][/font][/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:[/font][font=Arial][size=12px]CNKI[/size][/font][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][color=#545454][b]【链接】:[url=https://kns-cnki-net-443.webvpn.xnai.edu.cn/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CJFD&dbname=CJFDLAST2018&filename=HEBX201807004&uniplatform=NZKPT&v=Ea5aJALKB3g_fiNv2APpnkEseIaTI7Z48qNsA5LkYAhwQ1rbRTyJg9Yc4DQ2Eht2]光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法 - 中国知网 (xnai.edu.cn)[/url][/b][/color][/font]

  • 【讨论】关于“采样深度对目标信号的影响”

    在一篇文献中看到有一段话——“在常规等离子分析条件下,采样深度代表的是工作线圈到采样锥的距离,一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化,同时保证减少其他离子(氧化物及二价离子)的形成和影响”。 请问各位,其中的“一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化”这句话是否正确? 个人觉得元素在等离子火焰中离子化程度跟本身的电离能和工作线圈上加的功率有关,和采样深度貌似没有什么关系吧?

  • 电泳新技术对电荷异构体大规模分离制备并深度表征-论文分享

    蛋白质的翻译后修饰常常会影响蛋白质的结构和功能,反映在生物制药工业上,会对药品的安全性和有效性产生重大影响。翻译后修饰常常表现为电荷变异体,因此电荷异构体的分析成为了质量控制的一个关键项。目前常见的电荷异构体分析方法为IEF/cIEF或iCIEF,可以鉴别生物药,对生物药的纯度进行分析,测定电荷异构体的等电点以及各种异构体的分布。但是,等电聚焦或者毛细管等电聚焦存在很多短板,最明显的就是无法大规模制备异构体。美国基因泰克公司的科学家曾经用一种叫做自由流电泳的工具,高分辨率高通量大规模对单抗的电荷异构体进行分离制备,并结合各种分析手段,对每一个异构体进行了深度表征。现分享论文如下,欢迎大家讨论!

  • 振动光谱与深度学习

    深度学习是一种先进的机器学习方法,具有很好的学习复杂关系的能力,可以直接从大规模原始数据集构建预测模型。随着人工智能的快速发展,以卷积神经网络(CNN)为代表的深度学习在皮肤癌的分类,变异发现和基因分型,人类血细胞计数等方面取得了巨大的成功。对于振动光谱数据,Acquarelli等人使用CNN来识别重要的光谱区域。Chen等应用CNN建立近红外(NIR)光谱定量分析模型。Lu等人开发了基于CNN的模型来识别混合物拉曼光谱的成分。

  • 【分享】趋肤深度-----------趋肤效应

    在 ICP 中 高频感应电流基于磁力线的作用而使电流在导体中分布是不均匀的,绝大部分电流流经导体的外圈,其趋肤深度就是电流值下降至其表面最大电流值的1/e(36.8%)时距表面层的距离. 其趋肤深度S=1/根号PIfμδf-----高频电源的频率(Hz) μ------磁导率(H/cm) 对气体μ=1δ----气体电导率(S/cm)由以上公式可以看出频率增高则趋附层变薄即环形电流中心孔径增大 ,因此较高的电源频率有利形成等离子体中心通道

  • 插入深度如何影响影响热电偶温度传感器

    热电偶是最常用的测温器件之一,它直接测量温度,并把温度信号转换成热电动势信号,通过电气仪表转换成被测介质的温度。因为热电偶温度传感器具有测量范围宽、精度高以及响应时间快等优点,所以得到广泛的使用。本篇文章主要探讨插入深度对热电偶温度传感器的影响。 热电偶测温点的选择是最重要的。测温点的位置,对于生产工艺过程而言,一定要具有典型性、代表性,否则将失去测量与控制的意义。热电偶插入被测场所时,沿着传感器的长度方向将产生热流。当环境温度低时就会有热损失。致使热电偶温度传感器与被测对象的温度不一致而产生测温误差。总之,由热传导而引起的误差,与插入深度有关。而插入深度又与保护管材质有关。金属保护管因其导热性能好,其插入深度应该深一些,陶瓷材料绝热性能好,可插入浅一些。对于工程测温,其插入深度还与测量对象是静止或流动等状态有关,如流动的液体或高速气流温度的测量,将不受上述限制,插入深度可以浅一些,具体数值应由实验确定。

  • 【求助】用SEM测量样品中小孔的深度?

    请问高手:如何用SEM测量出样品中小孔的深度?大约是30微米左右。 是把样品倾斜在样品座上,假定倾斜角为120度,用实际看到孔的最深处与样品表面之间的距离乘以60度角的余弦吗?

  • 【资料】X射线分析深度与样品厚度

    【资料】X射线分析深度与样品厚度

    前段时间看到有版友提到X射线分析深度与样品厚度的问题,在此,我查阅了一些资料,现在给大家分享一下。X射线分析深度与样品厚度 X射线在物质中的穿透深度与波长有关。波长越短,穿透深度越大。波长相同时,物质的平均原子序数越小(轻元素含量高),穿透深度越大。换句话说,样品所发射的荧光X射线的波长越短,及样品中的轻元素含量越高,则获得的试样深部的信息就越多。也就意味着,荧光X射线的波长越长,所得到的样品表面附近的信息就越多,或仅包含表面附近的信息。也因此,元素越轻越易受到样品表面的影响。 测定短波长X射线时,或者分析主成分为轻元素的样品时,如果样品的厚度不够,即使测定组成相同的样品,X射线强度也会因样品厚度不同而变化。图10.6是Ni箔样品中Ni的荧光X射线强度与试样厚度的关系曲线。在组成不变的情况下,X射线强度不再随样品厚度增加而变化时的厚度称为无限厚。除了薄膜分析之外,易受样品厚度影响的典型分析实例是树脂中重金属元素的分析。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201724_290037_1601823_3.jpg 图10.6 样品厚度与X射线强度的关系 在分析树脂中Cd时,X射线强度随样品厚度而变化。将粒状树脂标准样品经热压后制成2 mm厚的圆片,作为Cd分析的校准样品。使用相同的样品,通过改变样品厚度或样品加入量,测定Cd的X射线强度。结果表明,即使是同一样品,因厚度或加入量的不同,测定强度也会发生很大变化。表10.2是以2mm厚的圆片校准,得到的不同厚度样品的定量结果。因此,在某些类型的样品分析中,因样品厚度不同所造成的分析误差是相当大的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201732_290041_1601823_3.jpg 由于被测样品或元素(谱线)是否受样品厚度影响对样品制备方法及测定条件的研究确定有很大影响,要进行高精度分析,就应事先对此进行检查。

  • 【分享】欧盟各方对深度减排意见不一

    据法新社报道,在工业和成员国的压力下,欧盟委员会在上周三的一次新闻发布会上表示,将对30%的深度减排目标实施降温处理。  “目前条件成熟吗?现在实施深度减排目标有意义吗?答案将是否定的。”欧盟气候行动委员会的康妮赫泽高(Connie Hedegaard)在发布一篇期待已久的气候报告时说道。  而就在上周二,德国、法国和其他国家就已经对该报告的观点表示反对,他们认为欧盟应该考虑单方面提高之前承诺的20%减排目标到30%的深度减排目标,而这一深度减排目标目前已达成了共识。  而欧盟态度的改变是该报告最后的少数更改中最明显的。  “该报告的目的不是决定现在是否提高至30%的减排目标,这主要是因为目前还没有明确确定相关的条件。”而最终报告中的这句话却没有出现在法新社之前看到的报告文本中。  在赫泽高的新闻发布会上,她表示,提高减排目标是“欧盟领导人在正确的时间和条件下做出的政治决策。但是,现在还不是时候。”  已经复苏的欧洲钢铁工业对赫泽高的言论表示欢迎,欧洲钢铁工业协会称赞说:“这样我们又回到了现实。”目前,欧洲正在努力从经济危机中得以快速复苏。  德国经济部长海那布吕德勒(Rainer Bruederle)和法国工业部长克里斯汀艾斯特鲁斯(Christian Estrosi)在上周二已经做出明确表示。  “我们已经就委员会的提案提出了我们的顾虑。” 艾斯特鲁斯说。  “如果其他主要经济体做出相同的承诺,欧盟将会采取30%的减排目标。” 艾斯特鲁斯补充道。  欧盟曾公布了有条件实施30%减排目标的相关内容,但是却无利于其他主要工业化国家,这点在去年年底的哥本哈根大会上十分明显。目前,欧盟仅同意了到2020年减少1990年20%的减排目标。  欧盟气候行动委员会希望欧盟各国政府首脑在6月17日的峰会上考虑他们的提议,而且在他们的报告中强调了“早点行动比晚点行动的优势所在”。  提高减排目标将“提升欧洲的长远竞争力,这样才能在全球快速发展的低碳技术市场中保有强大的地位”,委员会说。  委员会在其报告中估计,提高减排目标的总成本大约为810亿欧元(约1000亿美元),比之前的20%减排目标的总成本超出110亿欧元。  环境组织绿色和平称,欧盟预测的数据表示深度减排不仅仅会比原来预想的成本要低,而且还会对环境和经济带来好处。“我认为目前重要的是,我们确实有事实在手,而且不应受到业界散布恐慌的影响。”绿色和平的新闻发言人对法新社说。  英国是欧盟的重要国家,而且英国赞成实施深度减排目标。  “全球气候变化是全世界共同面对的最大挑战。因此,我们将推动欧盟通过提高深度减排目标来展示全球领导能力。”英国国务气候变化大臣克里斯胡恩(Chris Huhne)说。  赫泽高警告说,欧盟正在逐渐丢失新型绿色技术发展的优势,而美国和中国却在快速发展。(

  • 剖析 - 趋肤深度和趋肤效应

    剖析 - 趋肤深度和趋肤效应

    [img=,520,299]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/05/201905061107301780_6432_3859729_3.jpg!w520x299.jpg[/img]当导体中有交流电或者交变电磁场时,导体内部的电流分布不均匀,电流集中在导体的“皮肤”部分,也就是说电流集中在导体外表的薄层,越靠近导体表面,电流密度越大,导体内部实际上电流较小。结果使导体的电阻增加,使它的损耗功率也增加。这一现象称为趋肤效应(skin effect)趋肤效应,是在任何射频频率下操作导体或半导体,或者说,事实上除直流之外的所有应用中都需要了解的一种重要现象。然而,趋肤效应和趋肤深度的话题却鲜被触及。 本质上,“趋肤效应”一词用于描述电流在导体内的分布方式随频率及材料特性的变化。据观察,信号频率越高,导体内的电荷分布越趋向于导体表面近处。无论是单纯线缆、同轴电缆、微带还是天线导体,所有导体中均存在这一现象。 趋肤效应导致导体的射频电阻性损耗,但仅发生于其内有正在传播的射频能量的电流流动的导体中。在波导、同轴电缆/连接器及天线中,趋肤效应通常发生于传输线内壁的外表面。在某些微带线和带状线结构中,情况较为复杂,这是因为承载电流的导体为与电介质的接触的内表面,而非电镀外表面。一般而言,由于导体表面处的电阻更大,因此趋肤深度越小,射频损耗越大。在数个参数已知的情况下,可以计算出电流在导体内的分布情况。 趋肤深度是指电荷在导体内传播时大多数电荷所在的厚度。由于趋肤深度是频率以及导体电阻率和磁导率相互作用的结果,因此不同导体材料的射频损耗随频率变化的特征不同。例如,铜的电阻率为1.678μΩ/cm,相对磁导率为0.999991;金的电阻率为2.24μΩ/cm,相对磁导率为1;镍的电阻率为6.84μΩ/cm,相对磁导率为600。铜、金、镍在1GHz下的趋肤深度分别为2.06μm、2.38μm及0.170μm。因此,镍的射频损耗最严重,而铜和金的射频损耗要小得多。 从趋肤现象中可得出一些有趣的结论:首先,导体的磁导率可极大地影响材料的射频损耗;其次,在很高的频率下,大多数电荷仅在表面附近的薄层内传播,因此在这些频率下,即使采用非常薄的导体,也不会影响插入损耗性能。 然而,导体的射频损耗并不完全由频率、相对磁导率和电阻率决定,其表面状况对射频损耗也具有非常大的影响。对于在表面附近传播的电流而言,一个极其粗糙和不平整的表面相当于增加了其传播路径的长度,因此此类表面将导致更大的电阻性损耗。这便是薄膜射频和高精度毫米波应用将表面粗糙度视作一个主要考虑因素的原因。与此相反,在所有宽带应用中,随频率的增高,导体或传输线的插入损耗和衰减度反而越来越低。如需了解更多内容请关注嘉兆科技嘉兆公司拥有40年测试测量行业经验,专业的销售、技术、服务团队,在众多领域都非常出色,包括:通用微波/射频测试、无线通信测试、数据采集记录与分析、振动与噪声分析、电磁兼容测试、汽车安全测试、精密可编程测量电源、微波/射频元器件、传感器等,并分别在深圳、北京、上海、武汉、西安、沈阳、珠海、成都设有全资分公司、生产工厂、办事处。

  • 【转帖】先进的污水深度处理技术——纤维转盘滤池

    今天,在“2008水业高级技术论坛”上,大家热论当今先进的污水处理技术。无论是MBBR还是活性砂过滤技术的介绍,都结合实际生产的案例为我们带来了精神盛宴,此外,来自浦华控股有限公司的黄鹏飞对纤维转盘滤池的介绍也同样精彩。纤维转盘滤池目前主要有包括地表水净化、中水回用以及污水处理厂一级A标准的改造在内的三个使用方向。通过黄鹏飞的介绍,我们了解到,纤维转盘滤池的运行状态包括:过滤、反冲洗和排泥三个状态。其中,过滤在整个过程中持续进行;而反冲洗则根据液位变化,由PLC自动控制,瞬时只有池内单盘1%的面积被反冲洗;对于排泥过程也同样是由PLC控制,进行自动排泥。通过从过滤介质、过滤面的方向、系统组成、反洗过程、功能、工作方式等方面与砂滤的对比,我们得出,纤维转盘滤池在污水深度处理上具有出水水质好,水质和水量稳定,过滤连续;耐冲击负荷强,适应性强;设备简单紧凑,附属设备少,整个过滤系统的投资低,设备闲置律低,总装机功率低(驱动电机0.55-0.75KW,反冲洗泵2.2KW)等优点。会上,黄鹏飞还根据在国内各地污水处理厂的实例向大家形象地介绍了纤维转盘滤池在实际中的应用。我们看到了纤维转盘滤池在污水深度处理领域发挥的重要作用。污水深度处理在当今的水处理领域有着相当明朗的发展前景,我们相信会有更多像纤维转盘滤池一样的污水深度处理技术为我国的污水深度处理事业做出贡献。

  • 【转帖】可促进深度睡眠的蛋白质

    可促进深度睡眠的蛋白质6月22日,日本研究人员宣布,他们发现了一种可促进深度睡眠的新型蛋白质。这一研究成果已经刊登在美国《睡眠》杂志网络版上。日本自然科学研究机构生理学研究所科研人员22日发表公告说,他们发现的这种新型蛋白质名为“神经肽B”。迄今为止,安眠药都是通过抑制整个脑神经的活动来促进睡眠,而“神经肽B”只对能促进睡眠的神经发挥作用,因此有望用其开发出只需少量服用就能提高睡眠质量的安眠药。公告说,研究人员2002年就发现人脑存在“神经肽B”,但是一直没有弄清其具体功能。今年,研究人员在一次实验中向老鼠头部注射“神经肽B”,发现夜行性的老鼠在进入深夜后依然保持睡眠状态。而且,他们利用仪器观察睡眠中老鼠的脑电波和肌肉状态时发现,老鼠的大脑和身体都处于休息状态,属于深度睡眠。他们因此认定“神经肽B”具有促进深度睡眠的作用。

  • 【实战宝典】如何确定土壤采样的深度?

    【实战宝典】如何确定土壤采样的深度?

    [font=宋体]发帖人:金水楼台先得月[/font][font=宋体]链接:[/font][u][font=宋体][color=#0000ff][font=Times New Roman]https://bbs.instrument.com.cn/topic/73555112[/font][/color][/font][/u][font=黑体]问题描述:[/font][font=宋体]土壤污染一般存在分层的,采样和检测选取哪一层土壤最合理?如何确定土壤样品的采样深度?[/font][font=黑体]解答:[/font][font=宋体]根据土壤样品的采集目的、调查区域和环境状况等因素,需采集不同深度的土壤样品,大致可分为分层样(含表层样)或土壤剖面样。[/font][font=宋体][font=宋体]分层采样在土壤环境监测中应用较多。一般农田土壤环境监测采用采集表层样的方法,主要采集耕作层土壤,普通农作物耕种地采集[/font][font=Times New Roman]0~20 cm[/font][font=宋体],果林农作物种植地采集[/font][font=Times New Roman]0~60 cm[/font][font=宋体]。污染事故监测土壤环境质量需按照污染类型采集不同土层样品:针对固体污染物抛洒污染型污染事故监测,打扫后采集表层[/font][font=Times New Roman]5 cm[/font][font=宋体]土壤样品;爆炸型污染事故的爆炸中心采集分层样品,周围采集[/font][font=Times New Roman]0~20 cm[/font][font=宋体]表层土。建设项目土壤环境监测采样需分取表层样([/font][font=Times New Roman]0~20 cm[/font][font=宋体])、中层样([/font][font=Times New Roman]20~60 cm[/font][font=宋体])及深层样([/font][font=Times New Roman]60~100 cm[/font][font=宋体])。城市土壤样品的采集主要采集两层:上层土壤([/font][font=Times New Roman]0~30 cm[/font][font=宋体])及下层土壤([/font][font=Times New Roman]30~60 cm[/font][font=宋体])。[/font][/font][font=宋体][font=宋体]土壤剖面样品采集主要用于研究土壤各层物理、化学性状及污染物和元素迁移转化规律,一般用于土壤背景值的调查、土壤普查工作及科学研究。土壤剖面的规格一般为:长[/font][font=Times New Roman]1.5 m[/font][font=宋体],宽[/font][font=Times New Roman]0.8 m[/font][font=宋体],深[/font][font=Times New Roman]1.2 m[/font][font=宋体],深度视土壤情况取[/font][font=Times New Roman]1.5~2.0 m[/font][font=宋体],表土和底土分两侧放置,挖掘土壤剖面要使观察面向阳(如图[/font][font=Times New Roman]1-1[/font][font=宋体]),土层根据实际发育情况而定,按照土壤发育层次采样,自下而上粗层采集中部位置土壤。[/font][/font][img=,551,382]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303202111085020_3012_3389662_3.jpg!w551x382.jpg[/img]

  • 采样深度的选择

    采样深度的选择

    timstoicpms版友写的:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/11/201211240658_406725_2166779_3.jpg最近从书中看到的:冷等离子体分析条件(Rf功率600~900w)下,采样深度要大一些(约13mm),这是因为此时炬管能量较小,样品需要在等离子体内驻留更长的时间,以实现完全离子化。而且多本书中也写到冷等离子体的工作参数:Rf 600~900w,采样深度10~20mm。timstoicpms写到采样深度减小(即炬管口更靠近样品锥),灵敏度增高,二价离子的产率也增大。如果与书上写的对应起来,样品在等离子体内驻留的时间应该更短,离子化更不完全,怎么会灵敏度更高呢?可是http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/11/201211240713_406726_2166779_3.jpg与安捷伦推荐的Rf功率1550w,Smpl Depth 5.0 mm对应起来是有这样的关系:Rf大,采样深度也大;另我也有做过增大采样深度,CeO/Ce氧化物产率的确会减小,也即离子化更完全了。timstoicpms写的与书中写的怎么我都对应不起来啊,感觉有点矛盾了?到底有如何理解这个采样深度与灵敏度,氧化物产率,二价离子的产率的关系啊,谢谢

  • 【求助】迷茫:腐蚀深度与腐蚀电流密度间的转换

    [em06] 请问:公式V深(mm/年)=3.27A*icorr*10-1/(nρ) 可以实现腐蚀深度与腐蚀电流密度间的转换。如果是单纯的金属,A,n ,ρ比较好确定。如果是在金属表面渗镀一层陶瓷涂层TiN,或者是单纯的石墨板,在知道icorr 后。要想转换为V深.这个A,n ,ρ是怎样确定的呢?尤其是石墨板?(在一些论文中,确实有作者用这个公式,由icorr计算过石墨板,渗陶瓷涂层的金属的腐蚀深度V深。而且好象比较快)希望得到解答,感激不尽

  • 【求助】EDS测试深度的问题

    刚学EDS时间不长,关于EDS测试深度,现在有些不理解。(EDS是否有这样一个概念?我现在不敢确定,因为根据得出的结果,来分析,似乎这样才能解释得通)EDS是测材料表层下面几um的元素分布,还是精确测量材料表层的元素分布?假定一个材料表面有一很薄的相,现在想要测这个相的元素组成,那么是不是说EDS出来的结果有可能是测的这个薄相下面基体的元素分布,而不是想要测的这个表面的这个薄相?这就导致出来的结果是不可信的? 是错误的?EDS Mapping得到的结果是(1)测量表面的元素分布的信息;(2)距表面一定um距离的那一层下表层的元素分布信息;(3)距表面一定um距离的那一层下表层直至样品表面,这一um厚度内的元素分布信息?究竟哪个是对的?不十分理解是不是通过mapping得到的信息是样品表层一直到表层以下一定um那一层,这一薄薄的整个体的信息,就上面的描述, 假定表面的薄相被打透的话,是不是这一表面薄相与打到的下面的基体的元素结果的叠加?如果是这样的话,为什么我得到的结果,好像差不都是下面基体的元素信息?是表面那层薄相很薄,得到的信息少吗?还是它里面的某元素占整个体的元素比较小?还是因为它原子序数小?,还是因为其它的?由于是刚学不久,所以问题或许可能很幼稚?希望能得到大牛们的解答,多谢。

  • XPS的深度分析

    对XPS了解的很少,看了文献中XPS的深度分析,可以给出深度和元素含量的关系,前几天我送样测了一个聚合物的,只给出了溅射时间和元素含量,分析测试的老师说,不知道溅射的深度,我一点也不懂,请高手给予赐教。

  • 【求助】迷茫:腐蚀深度与腐蚀电流密度间的转换

    [em06] 请问:公式V深(mm/年)=3.27A*icorr*10-1/(nρ) 可以实现腐蚀深度与腐蚀电流密度间的转换。如果是单纯的金属,A,n ,ρ比较好确定。如果是在金属表面渗镀一层陶瓷涂层TiN,或者是单纯的石墨板,在知道icorr 后。要想转换为V深.这个A,n ,ρ是怎样确定的呢?尤其是石墨板?(在一些论文中,确实有作者用这个公式,由icorr计算过石墨板,渗陶瓷涂层的金属的腐蚀深度V深。) 希望得到解答,感激不尽

  • 【讨论】扫描电镜的发射深度是多大?

    各位老师请赐教:一直有个问题不清楚:扫描电镜到底能看到样品多深?镀金厚度一般是多少? 书上是这样说:扫描电子像就是二次电子像,二次电子的发射深度为样品表面几纳米到几十纳米的区域 而镀金厚度又说是要10纳米左右,真不知正常看扫描电镜的镀金厚度到底是多少?而扫描电镜到底能看到样品多深?(指正常加速电压15~20KV)

  • 【求助】采样深度???

    在操作仪器时,有个参数是,采样深度。我到现在还没有明白这个到底是指的什么,调节它会起到什么作用,希望大家能给个说法啊?

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