米表

HT-YB-I 玉米表型检测系统 1.1 简介玉米表型检测系统 可一键检测分析玉米凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、玉米株高、茎秆节间距和基粗叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和玉米千粒重等高通量表型参数。仪器可广泛用于各农科院、高校、育种公司、种子站的玉米表型研究！对遗传育种研究、突变株筛选、植物形态建模、生长研究等方面起到重要作用。1.1 参数1、活体原位非破坏性测量：玉米表型检测系统支持非破坏性测量玉米植株，一键分析可测 量叶片的多种参数：整体参数：凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角 投影面积、株高；局部关键参数：茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角。可实现植株非破坏性的测量，便于对玉米各生育时期进行动态研究。2、高通量快速测量：拍摄后 10 s 内同时生成整体和局部的株型特征参数，显著提高了玉米株型分析效率；生成 excel 文件，减少数据处理的时间。可高通量快速测量玉米植株株型和 产量性状数据，助力科研效率提升。3、图片效果展示：拍照分析后即可左右滑动查看图像和数据，图像展示原图、二值化图和 玉米骨架图。4、数据表格展示：使用一张表展示测量数据，支持多组实验数据和图片导出 excel 表格，并可转发至其他应用软件或者导出至电脑端，保存后的数据可永久保存至云端。5、拍照识别自动去杂质：成像清晰，数粒准确。6、数粒速度快：1000 粒以下种子识别只需 1 秒。7、数粒范围广：种子范围能测 10 粒以上，8000 粒以下的种子。8、 自动换成千粒重：可通过识别的种子粒数，输入重量，可自动换算出千粒重。9、高度不固定：不限制用户拍照的高度，操作简单，使用方便。10、自动高度识别：自动识别结果中显示识别的株高和穗位高数据，手动录入作物其它数据（如品种、生育期等）完善作物信息。11、比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。12、智能修正：触摸屏幕可进行修正，使结果更精准，可达 100%。13、数据查看：数据查看多样化，拍照分析后即可查看结果，也可在历史记录中查看数据报 表。14、数据导出和共享：支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出 Excel 格式，并可分享至微信、QQ 或者钉钉，便于多应用方式查看数据。1.2 玉米表型检测系统 适用范围：1、玉米株型适用于室内盆栽的玉米2、玉米株高适用于大田玉米株高测量3、千粒重适用于室内考种测量1.3 测量误差：1、株高测量范围：300-5000mm 精度： ±0.5%2、株型测量范围：0-1.8m，株高准确度： ±1%，角度参数精度：3%，其他参数准确度： ±5%3、数粒精度误差： ±2%，修正后可达 100%

1 HT-YB-I玉米表型检测仪1.1 简介玉米表型检测仪可一键检测分析玉米凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、玉米株高、茎秆节间距和基粗叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和玉米千粒重等高通量表型参数。仪器可广泛用于各农科院、高校、育种公司、种子站的玉米表型研究！对遗传育种研究、突变株筛选、植物形态建模、生长研究等方面起到重要作用。1.2 适用范围1、玉米株型适用于室内盆栽的玉米2、玉米株高适用于大田玉米株高测量3、千粒重适用于室内考种测量1.3 测量误差1、株高测量范围: 300-3800mm 精度: 0.5%2、玉米株型:测量范围:0-1.8m，株高准确度: 1%，角度参数精度: 3%，其他参数准确度:5%3、数粒精度误差: 2%，修正后可达100%1.4 硬件配置1、手机支架: 用于手机固定拍摄2、背景布: 黑色磨砂布面3、背光板: 超薄发光板4、数据采集器: 超大彩色屏手机5、玉米株高测量杆: 移动测量式标定杆

通讯数字压力表，是我公司新推出的微功耗智能产品。它采用了先进微功耗器件以及独具特色的软件处理技术，可真实地连续测量压力数值。内置LI电池可24小时连续工作3年以上；它采用大屏幕段码宽视角液晶显示窗，读数十分醒目、直观。该产品出厂前，经过了高低温老化、应力老化和温度补偿等工艺，即使在 (0 ～ 50)℃ 范围、一年时间内、99% 置信概率的苛刻条件下，也能够确保产品的准确度。它主要用于校验压力（差压）变送器、精密压力表、一般压力表、血压计等其它压力仪器仪表，也可广泛用于需要精密测量压力的场合等。它是指针式精密压力表的更新换代产品。

v Keysight B2912B 精密型源表模块（SMU）是一款 2 通道台式 SMU，外形紧凑，经济高效，能够同时输出和测量电压和电流。它能够以高准确度轻松测量电流与电压（I/V）。 4 象限输出和测量功能可以轻松执行 I/V 测量，无需配置多台仪器v 测量功能：● 配置支持双通道设置● 最小电源分辨率：10 fA / 100 nV，最小测量分辨率：10 fA / 100 nV● 最大输出：210 V，3 A 直流 / 10.5 A 脉冲● 任意波形生成和数字化功能，间隔 10 μsv 主要特性：● 即具有测量功能，还具有 4 象限综合电源功能● 4.3 英寸彩色显示屏支持图形和数字显示模式● 应用软件让您可以轻松使用免费附送的 PC 版仪器控件● 具有高吞吐量，SCPI 命令支持传统 SMU 的命令集

4285A精密LCR表Agilent4285A-鹏庆电子 安捷伦Agilent 4285A 电桥名称：安捷伦Agilent 4285A 电桥频率：频率范围为75 kHz至30 MHz，以100 Hz步进基本精度：0.1%基本精度测量时间：高速测量：30 ms/测量更多特性：恒定的电压（V）或电流（I）测试信号电平带有42841A的10 A直流偏置表格扫描测量能力4285A精密LCR表是用于进行元件和材料测量的精密、可靠、高速的解决方案。针对要求苛刻的射频元件测试，4285A 提供了从75 kHz至30 MHz更高的测试频率范围。无论是研发、制造、质量保证或输入信号检查，4285A都能满足您对LCR表的测试和测量要求。备注： 本公司十年专业销售、租赁、维修、回收二手仪器，公司货源广阔，绝大部分直接从国外引进，成色新，价格低，资金雄厚，库存充足，售前严格，售后快捷是我们的特点：致力于为客户提供更专业，方便，快捷的人性化服务是我们的宗旨；勇于创新，敢于探索是我们的优势；凡在我司购买的仪器免费送较准服务一年！-鹏庆电子

中图仪器NS系列纳米级表面测量台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器，可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。NS系列纳米级表面测量台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。磁吸针实物外观图（330μm量程）NS系列纳米级表面测量台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位。典型应用部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器NS200探针纳米级表面测量台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。NS200探针纳米级表面测量台阶仪通常使用2μm半径的金刚石针尖来测量这些小特征。一个精密的xy载物台联合扫描轴R和转台θ，在测针下移动样品，测针中的垂直位移被转换为与特征尺寸相对应的电信号。然后将这些电信号转换为数字格式，在其中它们可以显示在计算机屏幕上并进行操作以确定有关基材的各种分析信息。可以微调扫描长度和扫描速度，以增加或减少分析时间和分辨率。此外，测力可调以适应硬质或软质材料表面。结构主要组成部分1、测量系统（1）单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。（2）线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。（3）传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台 （1）精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台，可以对样品的位置以及角度进行调节，三维位置均可以调节，利于样品调整。（2）超高直线度导轨，有效避免运动中的细微抖动，提高扫描精度，真是反映工件微小形貌。3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机，即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上，使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响，使实验数据更加准确。NS200探针纳米级表面测量台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。磁吸针实物外观图（330μm量程）应用场景介绍部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

碳纳米管和石墨烯性能表征系统随着纳米技术的不断发展，碳纳米管和石墨烯的性能越来越受到科研人员的关注。然而，对于碳纳米管和石墨烯性能表征一直是困扰碳纳米管和石墨烯技术研究和应用的主要障碍。目前，碳纳米管和石墨烯测量方法是光谱测量技术。相对其他测量方法，该技术主要有以下的优点： 1、较高灵敏度，即使碳纳米管和石墨烯的含量很低也能测量。2、较高测量精度，对碳纳米管的（n,m）分辨率很高3、对待测样品要求低，可直接分析含较多杂质的样品。4、测量设备相对简单，准备待测样品非常容易。 5、数据处理简单，测量结果无需考虑背景减除。对于碳纳米管和石墨烯的表征，虽然光谱测量技术有很大的优点，但是测量过程还是有些问题，如获取数据速度太慢，测量灵敏度不是很高，手工处理数据非常繁琐且容易出错等等。著名的碳纳米管专家美国莱斯大学的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授针对这些问题开发了碳纳米管专用的测量系统NS3，使得NS3系统成为碳纳米管和石墨烯专用测量系统，可对碳纳米管和石墨烯进行吸收、荧光和拉曼光谱测量。Nano Spectralyzer (NS3)系统NS3上的测量结果：碳纳米管的近红外发射光谱 应用领域：1. 测量碳纳米管（n,m）分布2. 监测碳纳米管和石墨烯品质的稳定性3. 测量化学反应和物理作用的动态过程主要特点：1. 高度集成化，体积小巧2. 操作简单，使用方便3. 仅需要很少的样品4. 高测量灵敏度和测量速度5. 简单的操作界面，全自动测量和数据分析6. 同时测量样品近红外波长的吸收和发射光谱7. 采用电制冷材料冷却近红外光谱探头，无需使用液氮主要技术指标：荧光光谱测量：可见区发射谱探测范围： 400-900nm近红外发射谱探测范围： 900-1600nm可选近红外发射谱探测范围： -2000nm吸收谱测量：紫外吸收谱探测范围： 210-450nm可见吸收谱探测范围： 400-900nm红外吸收谱探测范围： 900-1600nm可选红外发射谱探测范围： -2000nm 拉曼光谱测量：拉曼光谱探测范围： 150-3000cm-1激发光源波长： 532和/或671nm

AMI-300 系列全自动程序升温化学吸附仪AMI-300化学吸附分析仪是新一代全自动程序升温化学吸附仪，可执行动态程序升温催化剂表征实验（TPR,TPO,TPD,脉冲化学吸附等）；测定金属分散度、相对活性、吸附强度，测试时间仅为传统容积法的1/3。根据您的需要，可使用标配TCD检测器进行气体分析，或者与质谱仪或其他检测器 ( FID, FTIR, GC 等) 。产品特点：多路进气 可选配四个高精度质量流量控制器(MFC)， 扩展至12个进气口。温度范围 实验温度可至1200℃，全范围升温速率均可达1-50℃/min,可选低温组件温度可低至-130℃峰扩散小 1/16英寸316不锈钢管线，保证较小的死体积，有利千提高信号 响应速率， 减少峰的扩散。内置饱和蒸汽发生器 用于产生带有饱和液体蒸汽的气体，饱和蒸蒸汽发生器的温度可控。样品装卸方便 灵活可移动的贝壳式加热炉多种规格的样品管，适用于不同样品尺寸、剂量满足用户的测试需求分析时间短 自动控制的空气冷却组件使得降温更迅速，有效缩短实验时间多路控温 可自由切换加热炉或样品床层的温度来控制仪器测试时的升温速率，并实时记录加热炉和样品床层的温度用于数据分析安全系数高 提供多方位温度检测，超温保护系统，TCD流量监控防干烧系统，前置应急开关等选项都提供更优的安全选择。 测量精确 配置4灯丝高精度热导池检测器（TCD ) , 以及不同量程的定量环（Loop)。定量可选择自动或者手动脉，以最大限度的满足灵敏性和兼容性灵活的用户操作界面 基于Windows操作系统软件，程序设置实验过程，控制仪器功能和数据处理。操作自有、全自动测试 全自动运行实验，电脑自 动采集和储存数据。高级用户模式下仪器设置窗口完全开放，实现用户高度自由化操作。可连接质谱（MS）或气体检测器 支持外接多种检测器，提供串联&并联连接方式，可将质谱（MS）数据采集嵌入AMI软件中，实现同一文件导出TCD&MS数据无蒸汽凝结和吸附滞留 仪器内所有管线和阀均可控温，以防止蒸汽的凝结和吸附滞留现象无需另购气体混合器 内置气体混合器，可提供忍任意、均一混合气体。该气体混合器也适用于全自动多点BET比表面积分析化学通用性和高灵敏性 可根据不同实验需求选择合适的密封材料和TCD灯丝性能参数：型号AMI-300典型样品0.1-1.0克温度范围室温°C——1200°C低温选件-130°C——1200°C升温速率1°C/min——50°C/min标准操作压力（TPX units)大气压 可选压力范围（高压）30bar/100bar气体输入口（低压）4路载气，4路处理气，2路混气气体流速5——50cm3/min（标准模式）样品管类型（低压）石英U型管，泡形管，直壁管样品管类型（高压）316不锈钢反应管TCD检测器两种材料可选（钨；金/钨）管路材质316不锈钢，1/6英寸密封圈可选Viton,Buna-N,Kalrez等尺寸宽56cm 高60cm 深61cm重量55Kg电源220—240V，50/60Hz典型应用：研究催化剂的表面活性位及数量、强度 、活性 、稳定性 、选择性和失活对于工业反应过程非常重要。在催化、化学品和石化行业、比如精细化学品、燃料、肥料、尾气排放控制器、电池、燃料电池和储能材料的研制过程中，表面活性 对材料起着至关重要的作用。多相催化剂也广泛应用于催化裂解和重整反应，加氢反应（加氢脱硫，加氢脱氮，加氢脱氧，加氢脱金属），选择性氧化和还原反应，汽车尾气污染治理、烃的异构化、费托工艺、水煤气变换以及其他许多重要的工业反应。

*弹性元件式精密压力表和真空表压力弹性元件式精密压力表和真空表检定规程 JJG 49(-0.1~60) MPaU=0.13 %FS*弹性元件式一般压力表、压力真空表和真空表压力弹性元件式一般压力表、 压力真空表和真空表检定规程 JJG 52(-0.1~60) MPaU=0.4%FS

内容简介： 该款高精度数字压力表采用了55x55mm超大尺寸液晶屏，采用主屏和副屏的分频显示，在显示实时压力的同时，可以同时显示现场温度、压zui 大值、压力zui 小值等参考数据。 产品功能强大，预设了10种常见的压力单位可供选择，压力采集速率可调，电池电量显示，产品同时配备了USB外供电和电池双供电模式。 本产品采用三节5号电池供电，采用了超低功耗设计，可续航超过3600小时。 产品采用了高精度ADC和高速微处理器，全数字化设计，产品精度高，稳定性好，产品美观。产品应用 ◇ 机械电子行业 ◇ 仪器仪表配套 ◇ 压力实验室 ◇ 工程机械自动化 ◇ 替代指针精密压力表，可做标准压力表，用于校验压力变送器及普通压力表 技术特点：☆ 5位数字显示,主副屏双屏设计☆ 可同时显示实时压力及当前温度/极值☆ 5号电池供电,续航超过3600小时☆ 超高精度设计,0.05级/0.1级可选☆ 10种单位可选:MPa/kPa/psi/BAR/Pa mBAR/mmHg/mH 2 O/Torr/kgf/cm2☆ 采样速率可调☆ 定时自动关机功能☆ RS485信号输出 参数指标： 微压量程：（1...2.5...25）kPa低压量程：（40...60...250）kPa中压量程：（0.4...0.6...4）MPa高压量程：（6...10...25）MPa超高压量程：（40...60...160）MPa复合量程：（-2.5~2.5...5...-100~1000）kPa绝压量程：（0~10...25...1000）kPa差压量程：（0~1...1.6）MPa精度等级：0.05% 0.1% 输出信号：RS485温度显示精度:0.1℃温度精度：优于0.5℃使用温度：-10~50℃补偿温度：0~40℃供电电压：3节5号电池或USB供电电池寿命：连续工作3600小时采样速率：1-10次/秒可设表盘直径：105mm接口螺纹：M20*1.5 G1/4或其他标准螺纹产品材质：304不锈钢测量介质：油、水、气等无腐蚀介质存储条件：温度（-20~60℃）湿度（0~95%RH）产品认证：CE认证 Ex认证产品重量：260g产品附件：便携式塑盒、标准电源线、橡胶保护套防护等级：IP50(IP54+保护套)

中图仪器NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪用于测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。工作原理测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能 1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。 性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。在太阳能光伏行业的应用台阶仪通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB 空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

数字精密压力表大量采用表面贴装技术与单片机设计，采用高速24位A/D转换器，压力传感器、ARM等进口硬件和本公司传感器线性、温度修正技术，使校验仪具有高精度、高线性、温度漂移和零点漂移小等特性，长期稳定性可与国外同类产品相媲美。数字精密压力是一种单量程、微功耗，采用FNT模式的5位LCD的液晶显示器的精密压力表。产品生产过程中经过高低温老化、温度补偿，严格按军品的设计要求，替代指针式压力表或用于校验精密压力表、一般压力表、压力变送器、压力传感器、压力开关、血压计等压力仪表。技术特点n 军用级部件质量、传感器线性和温度修正技术及高低温和应力老化试验三方面结合，保证仪表可靠性和长期稳定性n 多种单位选择kPa，hPa，Pa，MPa，psi，mbar，bar，mmHg，循环切换n 校验仪采用两点校准法按键进行压力参数二次数字校验n 数据存储、压力峰值记录、超压报警功等n 出与ACPS-2012计管一体化软件系统联机自动进行数据采集，数据处理、存储检定记录、查询及打印记录和证书等（选购）n 军用级部件质量、传感器线性和温度修正技术及高低温和应力老化试验三方面结合，保证仪表可靠性和长期稳定性n 微功耗，2节锂电供电可连续需工作100小时n RS232/USB接口可选技术参数n 测量范围：－100kPa～0～5kPa～250MPa 任选n 准确度：±0.02%F.S、±0.05% F.S、±0.1% F.S、±0.2% F.S、±0.5% F.Sn 电源: 四节5号电池n 外型尺寸：120mm×42mm×150mmn 重 量： 500克

粉状洗涤剂 表面活性剂表观密度测试仪,体积称量法密度仪Powder detergent surfactant apparent density testerGB 13173 ISO1064 Apparent Density Tester标准: GB/T 13173-2009 ISO1064：1974 standard: GB/T 13173-2009 ISO1064: 1974原理：在规定条件下，将试样从一个具有规定形状的漏斗中漏下，装满一个已知容积的受容器后，测定此粉体的质量。principle: Under specified conditions, the sample is leaked from a funnel with a specified shape, and after filling a receiving container with a known volume, the quality of the powder is measured.概述： 适用于自由流动的粉体,当使用合适的漏斗时,也适用于有结块趋势的粉体.若粉体中带有团块,则只有当这团块易于松散,且有不致使粉体的颗粒破碎的情况下,本设备才是适用的Overview: It is suitable for free-flowing powders. When using a suitable funnel, it is also suitable for powders with a tendency to agglomerate. If there are clumps in the powder, only if the clumps are easy to loosen and do not cause the powder This equipment is suitable when the particles are broken 粉体的表观密度可用占有一定体积的粉体质量,或一定质量粉体所占的体积来评价。在这两种形式中,都包括把分内铜原容器转移到测量容器这一过程。由于产品易碎,其流动性或结块性,其粒子的几何形状的变化,加之测定时,由于倾注至测量容器而造成的不可避免的压缩,硬质一般所测得的表观不同于产品在原容器或包装中的密度.所以,测定的结果仅是一个与所用方法有关的惯用值.The apparent density of powder can be evaluated by the mass of powder occupying a certain volume, or the volume occupied by a certain mass of powder. In both forms, the process of transferring the original copper container to the measuring container is included. Due to the fragility of the product, its fluidity or agglomeration, the change in the geometric shape of its particles, and the inevitable compression caused by pouring into the measuring container during the measurement, the appearance of the hardness is generally different from that of the product. The density in the original container or packaging. Therefore, the measured result is only a customary value related to the method used. 技术要求：1、整体个漏斗材料为不锈钢制作,确保粉体所接触的表面是光滑的,且不允许产生静电2、测定自由流动粉体时,漏斗下口径40mm,上口径108mm,高度130mm3、测定有结块趋势的粉体时, 漏斗下口径60mm,上口径112mm,高度100mm4、受料器容积：500ML±0.5ML,取样量：510-550ML5、支架,能使漏斗和受料器对应定位6、漏斗出口自带截止板/挡板,方便放置粉末skills requirement:1. The overall material of the funnel is made of stainless steel to ensure that the surface contacted by the powder is smooth and does not allow static electricity.2. When measuring free-flowing powder, the lower diameter of the funnel is 40mm, the upper diameter is 108mm, and the height is 130mm.3. When measuring powders with a tendency to agglomerate, the lower diameter of the funnel is 60mm, the upper diameter is 112mm, and the height is 100mm.4. Volume of receiver: 500ML±0.5ML, sampling volume: 510-550ML5. The bracket can position the funnel and the receiver correspondingly6. The exit of the funnel comes with a cut-off plate/baffle for easy powder placement 测试步骤:1. 将漏斗放到支架上面,称量过的容器放在下地板的位置。2. 用截止板遮住漏斗的下口,将试样倒入漏斗,直至其上边缘,然后迅速移去截止板,让漏斗中的粉末随即流入收料器并完全溢出3. 用不锈钢尺子沿着受料器的上口边缘,小心地粉体刮平,然后去称重m2.天平精度到0.01g4. 根据计算公式密度=(M2-M1)/V算出粉体的表观密度Test steps:1. Place the funnel on the support, and place the weighed container on the lower floor.2. Cover the lower opening of the funnel with a shut-off plate, pour the sample into the funnel until its upper edge, and then quickly remove the shut-off plate, let the powder in the funnel immediately flow into the receiver and overflow completely3. Use a stainless steel ruler along the edge of the upper mouth of the receiver, carefully scrape the powder, and then weigh the m2. The accuracy of the balance is 0.01g4. Calculate the apparent density of the powder according to the calculation formula density=(M2-M1)/V

中图仪器SuperViewW纳米深度光学3D表面轮廓显微仪基于白光干涉原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。工作原理SuperViewW纳米深度光学3D表面轮廓显微仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。测量原理照明光束经半反半透分光镜分成两束光，分别投射到样品表面和参考镜表面。从两个表面反射的两束光再次通过分光镜后合成一束光，并由成像系统在CCD相机感光面形成两个叠加的像。由于两束光相互干涉，在CCD相机感光面会观察到明暗相间的干涉条纹。干涉条纹的亮度取决于两束光的光程差，根据白光干涉条纹明暗度以及干涉条文出现的位置解析出被测样品的相对高度。 SuperViewW纳米深度光学3D表面轮廓显微仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例： 部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。台阶仪工作原理当触针沿被测表面轻轻滑过时，由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时还沿峰谷作上下运动。触针的运动情况就反映了表面轮廓的情况。结构主要组成部分1、测量系统（1）单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。（2）线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。（3）传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台（1）精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台，可以对样品的位置以及角度进行调节，三维位置均可以调节，利于样品调整。（2）超高直线度导轨，有效避免运动中的细微抖动，提高扫描精度，真是反映工件微小形貌。3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机，即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上，使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响，使实验数据更加准确。NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。 磁吸针实物外观图（330μm量程）应用场景介绍

中图仪器SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪利用光学干涉原理，具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出； 10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。 SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。结果组成1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；6、微电子表面分析和MEMS表征。主要应用领域1、用于太阳能电池测量；2、用于半导体晶圆测量；3、用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量； 4、用于机械部件的计量；5、用于塑料，金属和其他复合型材料工件的测量。应用领域案例部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

在材料生产检测领域中，纳米材料表征共聚焦显微镜用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。它基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000纳米材料表征共聚焦显微镜在陶瓷、金属、半导体、芯片等材料科学及生产检测领域中具有广泛的应用。应用领域 对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能； 6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。VT6000纳米材料表征共聚焦显微镜显微成像主要采用3D捕获的成像技术，使其具有较高的三维图像分辨率。横向分辨率更高，所展示的图像形态细节更清晰更微细，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

西安市高精密仪表厂差压密度计差压式密度计： 差压式密度计是根据已知液位的压力和密度成正比的原理制造的，目前市场上的差压式密度计均采用电容式压力传感器，为了提高精度我厂生产的差压密度计均采用单晶硅压力传感器，差压密度计的理论可达0.05%，远远高于行业平均水平。差压密度计特点：1. 一体化两线制变送器，无活动部件2. 侧壁式安装方便特殊工况3. 4位半数字液晶显示4. 两线制密度仪表5. 数字化输出控制6. 在线远程重新校验7. 适用于流动和静止的液体8. 接液部分全不锈钢或其他材质，卫生耐腐蚀9. 本安防爆差压密度计参数：输出信号两线制 4-20mA 带HART供电电源24VDC就地显示4位半数字或5位母液晶显示仪表精度0.1%（20℃时）重复精度0.2%防爆性能防爆放水密封外壳，本质安全型防爆温度范围环境：-40~85℃；过程：-20~150℃贮存：-40~100℃；数显：-10~60℃启动时间电源接通后5秒启动静压范围7Mpa湿度范围0~100%RH电气接口M20*1.5过程连接法兰连接或快装卡盘（卫生性）接液材质316L不锈钢；HC22；PTFE等（可根据实际工况定制）安装形式垂直安装或罐体侧装介质流向自下而上或静态测量防护等级IP65外壳材质铝合金差压密度计的型号与规格：XY-901 插入式密度计 适合从顶端插入式安装（罐体）XY-902 测装式密度计 适合管壁安装，或较大管道安装XY-903 管道式安装，直接夹装在2个管道之间 注意：我们会提高安装设计图纸，需要此类产品的可以和我们的销售工程师联系获取更多建议

高精密计量级数字压力表 产品描述 计量级数字压力表简介： GJM-120计量专用高精度数字压力表是专门为高要求压力计量设计的高精度，高稳定性数字压力表。该数字压力表采用了石英谐振传感器，其稳定性和压力不确定度均明显高于国内其他压力计量仪表，可真正替代活塞式压力计作为压力基准的新一代数字压力表，该数字压力表为国内最新技术。 产品应用：1. 用于校验压力（差压）变送器、精密压力表、普通压力表2. 用于高精度压力测量 产品技术指标： 1. 压力范围：-0.1~0MPa 0~250MPa(内任选)2. 精度范围：0.1级，0.05级，0.02级3. 供电方式：可充电电池供电4. 螺纹接口：M20*1.55. 隔离技术：信号全隔离技术，抗电磁和射频干扰技术6. 零点：零点自动生成，无需校准。7. 进度显示：直观显示压力百分比棒形图8. 封装形式：传感器悬浮封装，真实反应传感器信号，可消除传感器应力影响。特点：1. 采用进口传感器（通用 凯乐 等国际著名传感器制造商）。2. 铸铝壳体外带防爆玻璃，安全可靠。3. 整机温度补偿，保证计量的准确性4. 液压 气压 水压通用5. 进口锂电池，充放电可达1万次6. 量程宽泛，可根据客户量程定制。7. 可附带485通讯，实时采集压力，作为自动化校准系统的压力基准使用。量程：型号量程范围量程范围 GJM-120正常表压（0~70）MPa（0~2000）kPa（0~60）MPa（0~1600）kPa（0~40）MPa（0~1000）kPa（0~35）MPa（0~700）kPa（0~25）MPa（0~600）kPa（0~20）MPa（0~400）kPa（0~16）MPa（0~350）kPa（0~10）MPa（0~250）kPa（0~7）MPa（0~200）kPa（0~6）MPa（0~160）kPa（0~4）MPa（0~100）kPa（0~3.5）MPa（-100~0）kPa（0~2.5）MPa GJM-120复合量程（-70~70）kPa（-100~600）kPa（-100~100）kPa（-100~700）kPa（-100~160）kPa（-100~900）kPa（-100-~200）kPa（-100~1000）kPa（--100~250）kPa（-100~1600）kPa（-100~300）kPa（-100~2500）kPa（-100~400）kPa GJM-120微压表压（0~70）kPa（-70~0）kPa（0~60）kPa（-60~0）kPa（0~50）kPa（-50~0）kPa（0~40）kPa（-40~0）kPa（0~35）kPa（-35~0）kPa（0~25）kPa（-25~0）kPa（0~16）kPa（-16~0）kPa（0~10）kPa（-10~0）kPa（0~7）kPa（-7~0）kPa（0~6）kPa（-6~0）kPa（0~4）kPa（-4~0）kPa（0~3.5）kPa（-3.5~0）kPa（0~2.5）kPa（-2.5~0）kPa GJM-120绝压（0~70）MPa.a（0~2000）kPa.a（0~60）MPa.a（0~1600）kPa.a（0~40）MPa.a（0~1000）kPa.a（0~35）MPa.a（0~700）kPa.a（0~25）MPa.a（0~600）kPa.a（0~20）MPa.a（0~400）kPa.a（0~16）MPa.a（0~350）kPa.a（0~10）MPa.a（0~250）kPa.a（0~7）MPa.a（0~200）kPa.a（0~6）MPa.a（0~160）kPa.a（0~4）MPa.a（0~100）kPa.a（0~3.5）MPa.a（0~110）kPa.a（0~2.5）MPa.a定制 注：此表为计量级数字压力表，不仅追求高精度，更加注意的是温度稳定性（温飘）和时间稳定性（时飘）。

型号 732.31, 733.31, 732.51, 733.51差压表适用于过程工业，全金属介质腔应用适用于非高粘度或不易结晶的侵蚀性气体和液体介质以及侵蚀性环境监测泵和控制泵监测过滤器密封罐内的液位测量功能特性差压测量范围：0 … 1.6 kPa高工作压力（静压），高达4 MPa高过压安全，高达4 MPa73x.31：表壳安全等级为“S3”，符合EN 837标准全焊接测量腔描述这些差压表由高度耐腐蚀的不锈钢制成，全金属、全焊接的测量腔可确保长期密封性（没有弹性密封件）。这些差压表不仅采用全金属结构，并且具备紧密结合的压力测量隔膜，实现了高过载安全性。由于该压力表为不锈钢材质且结构坚固耐用，非常适用于化学和加工工程领域。此外，该型号压力表支持适用于气体或液体介质，适用于侵蚀性环境。可选的低温版本允许温度降低至-70°C（-94°F）。该产品的安全版采用安全玻璃，测量系统、表盘和防爆背板之间设有挡板。在发生故障时，操作人员在前部受到保护，因为介质或组件只能通过外壳的后部弹出。仪表的测量范围为0 ... 1.6 kPa至0 ... 2.5 MPa，可满足广泛的应用要求。

西安高精密仪表厂高精度音叉密度计音叉密度计特点：音叉密度计是根据不同介质中频率不同，根据频率和密度之间关系，测量出频率的变化，从而检测密度的变化，目前市场上的音叉密度计均采用频率自动追踪技术，此技术实现较为容易，但频率变化小，理论精度低，不能满足高精度测量场合的需求，西安市高精密仪表厂音叉式密度计采用创新技术，从根源上解决了频率变化小的问题，增加频率的变化范围，保证了较高精度。音叉密度计参数：测量范围：0–2g/cm3 (0 – 2000 kg/m3)测量精度：± 0.001 g /cc (± 1 kg/m3)操作温度范围 ：-50℃ ~ +120℃最大工作压力：20Mpa流体粘度范围 ：0 – 20000 cP内置温度传感器： PT1000接液材质：不锈钢，哈氏合金 C22，锰合金 400,钛合金等叉体涂层：标准型，PTFE 或电解抛光供电电源：20 – 28 VDC，35 – 45 mA模拟信号输出：4 – 20 mA输出精度(20℃)：读数的± 0.1%或± 0.05% FS输出重复性(-40 ~ +85℃)过程连接：法兰连接 型号与规格：GM-801 法兰式音叉密度计（默认法兰DN50）GM-802 卫生型音叉密度计(默认DN50卫生卡套)GM-803 分体式音叉密度计（默认螺纹G1 1/2）选型事项：音叉密度计订货前需和销售支持联系，核实现场情况，音叉密度计对现场要求比较高，符合音叉密度计的使用要求才能保证较高精度。 网址：

西安高精密仪表厂高精度台式数字压力表产品简介： 为了解决多量程压力计量需频繁更换数字表的问题，我公司特研发了台式数字压力表和台式数字压力校验仪。台式数字压力表采用主机加模块的形式，一台主机即可接不同的压力模块，实现了压力范围的全覆盖，经济实用。 产品参数： 量程：-100Kpa~100Mpa 绝压 表压 密封表压精度: 0.05% 0.02%电流测量：0-24mA 精度 0.05% 0.02% （G-81）电压测量：0-10V 精度0.05% 0.02% （G-81）激励电压：直流24V±2% （G-81）供电：外供220V 产品特点： 超大7寸触摸屏显示，按键均为触摸屏，方便实用。附带峰值计量功能和压力转换功能。附带泄露测试，方便仪表测漏和测试。可选配内置电池，无需插电即可使用方便便捷。高精度压力模块，显示可达7位可自定义切换单位，方便特殊单位的显示问题自动识别不同压力模块，无需设置型号与规格：G-81 带电流测量（给压力变送器供电并测返回电流或者电压）测量压力开关的通断 泄露测试G-80 不带其他额外功能，只能显示压力，测泄露压力选型：主机不带模块，根据实际情况选择压力模块，压力模块和台式压力校验仪共同组成系统网址：

仪器简介：简易设计和宽把柄易于单手操作，在工厂和工地可现场检验。即使你带着厚厚的工作手套，这种比重计也易于把持和操作，仅2.5cm的宽度，即使在一个狭小的空间内也可以工作，此仪表具有一个吸管式泵，用于可控的流量控制，无风箱和球泡结构避免裂开和泄露。取样时，只需轻轻摁一下顶端的控制杆。在大型液晶显示屏上观看密度、比重、百分比浓度和样品温度。再次摁下控制杆放出样品。通过按钮可存储1024个读数，可永久储存参考温度以及硫酸条件下的浓度，包括百分比白利糖度，百分比酒精强度标准，波美比重，Plato，API重力，比重等。耐用的仪表外壳和可选的红外打印机单独订购，手提箱随机配备。技术参数：比重范围：0~3 g/cm3或SGU比重分辨率：0.01 g/cm3或SGU尺寸：14.0*13.6*2.5cm样品体积：2mL温度范围：0~40摄氏度温度分辨率：0.1摄氏度1.5VAA电池红外接口输出

1 HT-YB-I玉米表型检测仪1.1 简介玉米表型检测仪可一键检测分析玉米凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、玉米株高、茎秆节间距和基粗叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和玉米千粒重等高通量表型参数。仪器可广泛用于各农科院、高校、育种公司、种子站的玉米表型研究！对遗传育种研究、突变株筛选、植物形态建模、生长研究等方面起到重要作用。1.2 适用范围1、玉米株型适用于室内盆栽的玉米2、玉米株高适用于大田玉米株高测量3、千粒重适用于室内考种测量1.3 测量误差1、株高测量范围: 300-3800mm 精度: 0.5%2、玉米株型:测量范围:0-1.8m，株高准确度: 1%，角度参数精度: 3%，其他参数准确度:5%3、数粒精度误差: 2%，修正后可达100%1.4 硬件配置1、手机支架: 用于手机固定拍摄2、背景布: 黑色磨砂布面3、背光板: 超薄发光板4、数据采集器: 超大彩色屏手机5、玉米株高测量杆: 移动测量式标定杆

FT-105表观密度测定仪 FT-105表观密度测定仪升级后增加如下功能：本品除配置定位角之外，配置调节平衡之水平仪装置，减少外部环境对测量结果的影响；漏斗和量杯有定位装置，从而保证漏斗和量杯的中心在一条直线上；并装配高度测量尺于支架上，有利于调节漏斗高度测量. FT-105表观密度测定仪该仪器主要用于从规定的漏斗中留出塑料松散物料的表观密度的测定，用于聚氯乙稀树脂表观密度的测定FT-105表观密度测定仪是化工行业以及塑料异型材厂原料进厂质量检验理想的测试仪器。产品符合GB/T3402、GB/T1636等标准要求。FT-105表观密度测定仪技术参数：选购一：A型漏斗要求主要组成部分：底座、支撑架、漏斗、插板、受料筒受料筒容积：100ml±0.5ml 直径45mm取样量： 110ml-120ml漏斗角度为：40度，孔径为33mm可满足K-6721(1966)之要求 选购二：B型漏斗要求漏斗角度：20度；漏斗上口径为91mm；出料口内径：10mm，不锈钢材质，配有出口控制阀门和挡板；漏斗与量杯高度可以调节，量杯口径为：45mm；容积：100ml±0.5ml，不锈钢材质取样量： 110ml-120ml该仪器主要用于从规定的漏斗中流出塑料松散物料的表观密度测定，是化工行业以及塑料异型材厂原料进厂质量检测的理想测试仪器。产品符合GB/T3402、GB/T1636 GB/T20022-2005 GB/T13173-2008 和1636-79标准的要求。表观密度测定仪本方法适用于测量粉料模塑料的表观密度，即单位体积中的质量，为模塑料的包装，模具型腔和挤出螺杆的设计提供参数。符合GB/T 3402、GB 1636的标准。 表观密度测定仪1、试样：按产品标准规定抽取试样。2、试验仪器：（1）天平：感量0.1克（2）表面观度测定仪（3）量筒式量杯：100毫升 注:具体参数请和我们保持联系，还有相关配套之产品,配置：钢尺；毛刷、底座、支撑架、漏斗、插板、受料筒、说明书、合格证、保修卡等。瑞柯仪器公司还可以提供粉末粉体测试相关解决方案1、操作方法 a、打开包装箱，取出测定仪，按装箱单清点零部件。 b、将测定仪放置在稳固的工作台上。 c、用插板插住不锈钢漏斗下部出口，并在漏斗下面放好受料器，与漏斗同轴。 d、用量筒量取样品110ML-120ML，缓慢地放入漏斗中。 e、迅速抽去插板，让样品全部自然漏下（装满样品的受料器不得受震动）。 f、用直尺刮去受料器口上多余的样品，然后放在药物天平上称量，精确至0.2g(已测样品不得重复测定)。

详细信息一.产品简介ZT550系列数字精密压力表是我公司按照国家最新标准研制生产的高精度智能压力测量仪表。它主要由压力传感器及信号处理单元组成。压力传感器采用进口传感器；信号处理单元采用低功耗处理器及段码式汉字液晶显示屏组成。测量及校准操作简单，方便易用。采用24-BitADC转换器，精度高。内置大容量可充电锂聚合物电池，在充满电的情况下可连续工作10天，待机状态可连续使用1年。具有便携性、高稳定性、易操作和智能化程度高等特点。内置时钟日历温度芯片，实时显示工作时间及环境温度。具有RS232接口，连接我公司专用的RS232电缆线，可与电脑进行数据传输（此时将缩短仪器工作时间）。可选配电脑软件，方便地进行数据存储、报表打印等工作。ZT550系列精密数字压力表主要用于校验一般压力表、精密压力表、压力（差压）变送器、血压计等其它压力仪器仪表，可广泛用于需要精密测量压力的场合等。是指针式精密压力表的更新换代产品。二.产品功能1.可作为压力标准器校验一般压力表、精密压力表、压力（差压）变送器、血压计等压力仪器仪表；2.显示压力百分比、实时时钟、环境温度、采样速率可调等辅助功能。三.选型表型号量程准确度等级ZT550B-N100KZT550C-N100K（-100～0）kPa0.05，0.1ZT550E-N60P-60P（-60～60）Pa1.6ZT550D-N250P-250P（-250～250）Pa0.5ZT550C-N1K-1K（-1～1）kPa0.1

BMY-I表观密度测定仪功能、适用范围：该测定仪主要用于从规定的漏斗中流出塑料松散物料的表观密度测定，是化工行业以及塑料异型材厂原料进厂质量检验的理想测试仪器。测定仪由底座、支承架、漏斗、插板、受料器组成，受料器容积100mL±0.5mL。执行标准：GB/T3402。配置：1）主机一台2）受料器一个3）插板一个 BMY-II表观密度测定仪功能、适用范围：该测定仪主要用于从规定的漏斗中流出塑料松散物料的表观密度测定，是化工行业以及塑料异型材厂原料进厂质量检验的理想测试仪器。测定仪由底座、支承架、漏斗、插板、受料器组成，受料器容积100mL±0.5mL。执行标准：GB1636。配置：1）主机一台2）受料器一个3）插板一个 BMY-III表观密度测定仪功能、适用范围：该测定仪主要用于从规定的漏斗中流出塑料松散物料的表观密度测定，是化工行业以及塑料异型材厂原料进厂质量检验理想的测试仪器。测定仪由底座、支承架、漏斗、插板、受料器组成，受料器容积100mL±0.5mL。执行标准：GB/T3402及GB1636。配置 ：1） 主机一台2） 受料器一个3） 插板一个4） 漏斗二个

西安市高精密仪表厂电动压力源 电动压力源采用进口电动加压泵，传压介质为油，升压快，可远距离传压。它结构简单、可靠性高、操作维护方便、不易泄漏。四位液晶显示，压力调节范围特大，升降压平稳。主要用于校验压力（差压）变送器、精密压力表、普通压力表。 特点电动造压，省力；便携式，可在实验室和野外现场校验压力仪表；液压泵采用了先进的密封技术，压力可达60 MPa以上，长期使用无渗漏；液压泵无噪声，；四位液晶显示，分辨率高 技术指标压力输出：（0～60）MPa；压力接口：M20×1.5螺纹连接, 可配非标接头；外形尺寸：380×320×320mm；重 量：约10kg 型号与规格G-60 -100-0KPaG-61 0-6MPaG-62 0-60MPa

玉米表型检测系统概述：TPY-BX-1玉米表型检测系统是研究玉米表型参数中的产量相关性状参数的检测工具，可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标，广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的玉米研究。玉米育种研究中，玉米表型参数和玉米产量、品质、抗逆性等密切相关，进而获取这些参数也显得尤为重要，因此我们推出了玉米表型检测系统。这些高通量表型参数为玉米品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。功能特点：1、活体原位非破坏性测量：非破坏性测量玉米植株，一键分析可测量叶片的多种参数：整体参数：凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高；局部关键参数：茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角。可实现植株非破坏性的测量，便于对玉米各生育时期进行动态研究。2、高通量快速测量：拍摄后10 s内同时生成整体和局部的株型特征参数，显著提高了玉米株型分析效率；生成excel文件，减少数据处理的时间。可高通量快速测量玉米植株株型和产量性状数据，助力科研效率提升。3、图片效果展示：拍照分析后即可左右滑动查看图像和数据，图像展示原图、二值化图和玉米骨架图。4、数据表格展示：使用一张表展示测量数据，支持多组实验数据和图片导出excel表格，并可转发至其他应用软件或者导出至电脑端，保存后的数据可永久保存至云端。5、拍照识别自动去杂质：成像清晰，数粒准确。6、数粒速度快：1000粒以下种子识别只需1秒。7、数粒范围广：种子范围能测10粒以上，8000粒以下的种子。8、自动换成千粒重：可通过识别的种子粒数，输入重量，可自动换算出千粒重。9、高度不固定：不限制用户拍照的高度，操作简单，使用方便。10、自动高度识别：自动识别结果中显示识别的株高和穗位高数据，手动录入作物其它数据（如品种、生育期等）完善作物信息。11、比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。12、智能修正：触摸屏幕可进行修正，使结果更精准，可达100%。13、数据查看：数据查看多样化，拍照分析后即可查看结果，也可在历史记录中查看数据报表。14、数据导出和共享：支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出Excel格式，并可分享至微信、QQ或者钉钉，便于多应用方式查看数据。技术参数：适用范围：1、玉米株型适用于室内盆栽的玉米2、玉米株高适用于大田玉米株高测量3、千粒重适用于室内考种测量测量误差：1、株高（0～5100mm（0-1700mm需对照测量杆手动输入））2、玉米株型：测量范围：0-1.8m，株高准确度：±1%，角度参数精度：3%，其他参数准确度：±5%3、数粒精度误差：±2‰，修正后可达100%数据分析硬件配置：1、手机支架：用于手机固定拍摄2、背景布：黑色磨砂布面3、背光板：超薄发光板4、数据采集器：超大彩色屏手机5、玉米株高测量杆：移动测量式标定杆