液晶面板高精度应力分布测量系统

光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量，反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005度，分辨率0.00125度；■ 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作；■ 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展：测量光栅衍射效率

TFT液晶面板经常会在出厂前用点灯检查来判断优劣,但是当将货交给客户后,随着时间会出现残影,亮度不均匀,Mura等不良现象,尽管一般认为其中一些不良现象是由于TFT元件和驱动电路引起的,但是经研究发现这些不良的发生也受到面板内杂质离子浓度的影响.杂质离子不仅会在面板制造过程中混入,而且随着时间的推移会从面板的外围材料中混入液晶层内.尤其是在高温,高湿度,紫外线等环境下使用会加速杂质离子的产生.其次,作为显示缺陷的另一个原因,也可能受到面板内DC偏压的影响,这是由面板驱动引起的.LCM-3型测试仪是由我司和日本SHARP共同研发,可以在短时间内测出TFT液晶面板内的杂质离子和内部DC电压.

产品简介 为满足企业客户客户质量控制需求，Instec提供适用大至55英寸面板的冷热平板，用于对真实面板进行检测。冷热平板采用接触式加热，加热迅速，温度精度和均匀性有保证。设备使用方便，足以取代笨重、操作有风险性、步骤复杂的大型温控腔。功能特点 可编程控温，配有InstecAPP控制软件匹配ALCT液晶参数测试仪，超低电噪音与漏电流适用大至55英寸的面板根据用户需求定制样品电测试用夹具可选光学观察窗可选循环降温设备，将样品快速降至常温*可做定制或改动，详询上海恒商

仪器简介：LCOS (Liquid-Crystal-on-Silicon) MicrodisplaysLCOS (Liquid Crystal on Silicon) is a reflective microdisplay technology based on a Silicon backplane. The electronic circuits controling the liquid crystals are fabricated on a silicon chip, which is coated with a highly reflective surface. This results a very high fill factor (image is less pixilated) because the circuitry is behind the pixel (compared with transmissive LC, electronics surround the pixels) and does not create an obstruction in the light path (&ldquo screen door&rdquo effect). Using standard CMOS processes, microdisplays with extremely small pixels, high fill factor (pixel aperture ratio) and low fabrication costs can be created. LCOS microdisplay technology can compete and in some cases even outperform all other display technologies with respect to resolution, size, ease of use, quality and price. HOLOEYE Systems´ s OEM LCOS microdisplay service includes basic implementation assistance and performance specification for specialized applications. HOLOEYE Systems offers modification of driver parameters for customer specific requirements resulting in low-cost intelligent driver boards ready for mass production. This positions HOLOEYE Systems to be a key-supplier accross numerous markets and to be the very first company to market a &ldquo complete solution&rdquo to the end-user, whether they are in the defense, medical or aerospace industry. Even the highly cost-sensitive automotive industry is able to develop HUD systems based on high resolution HDTV LCOS microdisplay technology. 技术参数：LCOS Microdisplays offered by HOLOEYE Systems: Microdisplay size from 0.55&rdquo to 0.72&rdquo Resolution from 1280x768 (WXGA) to 1920x1080(HDTV) Frame rate from 60 Hz to 180 Hz Digital drive schemes Monochrome and Color-Field-Sequential LCOS microdisplays Amplitude and Phase modulating LCOS microdisplays主要特点：LCOS is highly scalable and can create very small pixels, also well suited for laser projection (since a laser is already polarized and requires the smallest possible display) LCOS via HSI is cost effective and readily available for niche markets HSI offers an open technology platform to allow LCOS to adapt to various applications LCOS can modulate amplitude, polarization and phase

仪器简介：LCOS (Liquid-Crystal-on-Silicon) MicrodisplaysLCOS (Liquid Crystal on Silicon) is a reflective microdisplay technology based on a Silicon backplane. The electronic circuits controling the liquid crystals are fabricated on a silicon chip, which is coated with a highly reflective surface. This results a very high fill factor (image is less pixilated) because the circuitry is behind the pixel (compared with transmissive LC, electronics surround the pixels) and does not create an obstruction in the light path (&ldquo screen door&rdquo effect). Using standard CMOS processes, microdisplays with extremely small pixels, high fill factor (pixel aperture ratio) and low fabrication costs can be created. LCOS microdisplay technology can compete and in some cases even outperform all other display technologies with respect to resolution, size, ease of use, quality and price. HOLOEYE Systems´ s OEM LCOS microdisplay service includes basic implementation assistance and performance specification for specialized applications. HOLOEYE Systems offers modification of driver parameters for customer specific requirements resulting in low-cost intelligent driver boards ready for mass production. This positions HOLOEYE Systems to be a key-supplier accross numerous markets and to be the very first company to market a &ldquo complete solution&rdquo to the end-user, whether they are in the defense, medical or aerospace industry. Even the highly cost-sensitive automotive industry is able to develop HUD systems based on high resolution HDTV LCOS microdisplay technology. 技术参数：LCOS Microdisplays offered by HOLOEYE Systems: Microdisplay size from 0.55&rdquo to 0.72&rdquo Resolution from 1280x768 (WXGA) to 1920x1080(HDTV) Frame rate from 60 Hz to 180 Hz Digital drive schemes Monochrome and Color-Field-Sequential LCOS microdisplays Amplitude and Phase modulating LCOS microdisplays主要特点：LCOS is highly scalable and can create very small pixels, also well suited for laser projection (since a laser is already polarized and requires the smallest possible display) LCOS via HSI is cost effective and readily available for niche markets HSI offers an open technology platform to allow LCOS to adapt to various applications LCOS can modulate amplitude, polarization and phase

JC2000X系列大平台接触角测量仪的详细资料：JC2000X系列大平台接触角测量仪简介 JC2000X系列大平台接触角测量仪是一个庞大的家族，有很多的子型号，上海中晨生产的JC2000X系列大平台接触角测量仪的共同特点就是大尺寸的样品平台。比如生产线上对52寸液晶屏进行洁净度测试、属于成品整体测试不可切割，就需要用到1200*900mm大平台。 由于是大平台的接触角测量仪，不仅结构尺寸要符合用户要求、还需要对应的超大物距光学系统，几乎每台都是定制，正如龙生九子各有不同，参见以下：JC2000X系列大平台接触角测量仪家族部分成员JC2000X1型接触角测量仪：400*400mm 航空铝制样品平台，测量一条边。JC2000X1B型接触角测量仪：300*200mm 航空铝制样品平台，360°旋转平台，测量每点，手动蠕动泵进样。JC2000X1E型接触角测量仪：300*200mm 航空铝制样品平台，360°旋转平台，测量每点，手动蠕动泵进样。JC2000X3型接触角测量仪：400*450mm 航空铝制样品平台，测量一条边，具有电动平台和自动蠕动泵进样系统。JC2000X4型接触角测量仪：1200*900mm 铝制样品平台，四面环形导轨，手动或电动小车，手动蠕动泵进样系统，测量四条边。 JC2000X1型/JC2000X3型接触角测量仪 JC2000X1B型接触角测量仪 JC2000X2E型接触角测量仪JC2000X6型绝缘子接触角测量仪：直径400mm 钢制样品平台，360°水平旋转平台，360°垂直旋转平台，直径30-65mm三脚夹头，焦距300mm定焦光学镜头。专门用于电力行业绝缘子接触角测量，其测量方式和夹具已经申请国家专利。JC2000X6E型全自动接触角测量仪：450*400mm 航空铝制防尘框架结构及样品平台，三维自动移动梁，自动加样装置，7°直立光学系统，软件7°接触角自动补偿。该系统是具有自动定位、自动加样、自动测量等功能的全自动测量仪。JC2000X8型全自动接触角测量仪：1600*1200mm航空铝制防尘框架结构及浮法玻璃样品平台，三维自动移动梁，自动加样装置，7°直立光学系统，软件7°接触角自动补偿。该系统具有自动定位、自动加样、自动测量等功能的全自动测量仪。 JC2000X4型接触角测量仪 JC2000X6型绝缘子接触角测量仪 JC2000X6E型接触角测量仪（因实际尺寸按用户要求定制，以上仪器图片仅供参考）JC2000X系列大平台接触角测量仪软件功能强大，除了视频采集和自动装置的控制之外，还具有如下功能：1、量高法测量水平或凹凸面接触角。2、量角法测量接触角。3、影像分析法自动测量接触角。 4、加样时自动快存（高速摄影）。5、自由沿走间隔时间连续拍摄。6、二液法，三液法计算固体表面能。7、数据库管理。JC2000X系列大平台接触角测量仪含税运价格：RMB 67800~600000（不含配套电脑，含仪器主机、实验操作软件、标配组件、大陆地区主要城市免费上门安装调试培训、一年保修服务，软件终身免费升级）。具体询价时请用户提供两点要求：a、平台尺寸（样品的长宽高）；b、平台中需要测试的点（要求测试平台中部分点或边比要求测试平台中所有的点价格便宜）。JC2000X系列大平台接触角测量仪配套电脑：JC2000X系列大平台接触角测量仪，必须有配套电脑方能使用，如选择由供方提供配套电脑，需向供方另付4000元/台，品牌电脑原厂三年上门保修。如用户自配或利用原有电脑，要求一个USB2.0接口，台式机、一体机、笔记本均可。上海中晨简介 上海中晨数字技术设备有限公司获2019年度国家科技进步二等奖。公司依托国内高校和科研单位，广泛采用国内外有关专家的新科技成果，着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。本公司产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校和科研院所，而且还包括苹果、3M、西部数据WD、富士康、三星电子、日月光、HOYA光学、友达光电、飞利浦、LG化学等一大批跨国企业，以及中石油、中石化、中海油、华为、比亚迪、宁德时代、京东方、隆基股份、欣旺达、德赛电池、合力泰、长电科技、华天科技、天合光能、长信科技、OPPO、VIVO、宁夏东方、水晶光电、彩虹控股、威远生化等上市公司，及国内的海关、防疫检验、质量监督检验所、博物馆、医疗机构等政府事业单位，产品远销美国、日本、韩国、巴西、马来西亚、泰国、印度、印度尼西亚、新加坡、智利和我国香港、澳门、台湾地区等。 公司研发和生产接触角测量、表界面张力测量、Zeta电位测量、LB膜界面测量、单纤维测量、束纤维测量、织物测量、显微测量、试验机定制等八大系列60多种专业仪器，拥有其软、硬件自主知识产权，能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利。 中晨的注册商标“powereach”意为“力量源于每个人”，体现了上海中晨“以人为本、员工和用户是公司很大的财富”的核心价值观和企业文化。

Instec来自液晶先驱院校美国科罗拉多大学的精密温控装置与液晶检测设备" _ue_custom_node_="true"温控装置标准方案 方案适用对象说明液晶盒热台液晶盒用于电测试冷热台+加电支架液晶盒用于电测试、光电测试冷热平板真实面板可支持55英寸真实面板测试罐温控液晶测试罐专用于ALCT-HR1有关其他定制方案，请联系 上海恒商 " _ue_custom_node_="true"冷热平板 为满足企业客户客户质量控制需求，Instec提供适用可到55英寸面板的冷热平板，用于对真实面板进行检测。冷热平板采用接触式加热，加热迅速，温度精度和均匀性有保证。设备使用方便，足以取代笨重、操作有风险性、步骤复杂的大型温控腔。 " _ue_custom_node_="true"冷热台+液晶盒加电支架 冷热台和液晶加电支架在液晶盒的有效电场位置开设有透光孔，可作为液晶盒光电测试的温控装置使用，也可用于液晶盒的纯电测试。设备可搭配 ALCT-EO1 / ALCT-EO1S使用，其冷热台部分也可作为普通的冷热台和显微镜等设备搭配使用。冷热台部分推荐使用HCS402冷热台。此型号为样品上下双面加热设计，样品的垂直温度均匀性好，适用液晶盒这种厚度较大，主要材质又是玻璃，导热性差的样品。 " _ue_custom_node_="true"液晶盒热台 液晶盒热台用于液晶盒样品的纯电测试。基于帕尔贴温控器，可实现正温和负温范围的温度控制，并支持在负温时向腔内吹扫干燥气体，防止液晶盒表面结霜，影响测量。设备使用翻盖+锁扣设计，装取样品很方便。同时使用弹窗触针进行电极接引，电接触性能好。设备支持Instec的S型、SG型、IPS型液晶盒，并对 SG型的保护电机做了接引。 " _ue_custom_node_="true"液晶测试罐温控装置 Instec 为 ALCT-HR1 液晶电阻率测试仪的液晶测试容器专门设计了温控装置，可实现液晶电阻率的温度依赖测试。详情请联系 上海恒商。 欲咨询产品请访问本公司官网联系我们 本公司为美国Instec中国区总代理、瑞典FLCE(FLC Electronics)中国区代理，不经过中间商直接与原厂接触，能提供优惠的价格。

用途：大尺寸液晶面板组装完成后进行通电老化检 查特点• 槽内安装有轨道，老化台车整体推入方式，操作方便。• 适用于32～50英寸液晶面板。• 台车与本体供电采用集电极，安全可靠。• 采用滑门设计，台车可快速搬入搬出。• 换气速度可调。• 可容纳台车数量可根据顾客要求定制。• 在安全方面，配置了自动过升防止、过升防止器、送风机过热保护、台车到达检测开关、过电流漏电保护断路器等安全装置。技术规格品名 液晶屏老化箱 C3-002 使用温度范围40～60℃ 温度调节精度±0.5℃（at 60℃） 温度分布精度 ±5℃（at 60℃） 最高温度到达时间 30分以内（室温→60℃） 运转功能定值运转、瞬时停电运转恢复功能 LCD尺寸32～50英寸 抽屉数量顾客指定 电源 3相 AC380V

ST112斯迈耐特高精度称重测力数据采集模块（附带显示操作面板）特点与用途/Features & Applications* 用于需要将测力信号转换为数字通讯信号，数字通讯接口可选择RS485或RS232* 控制器供电电源采用DC24V供电，压宽±5V，更加安全稳定应用场景：应用于安装空间有限且不需要带显示的称重测力场合，高速稳定处理传感器的信号，给PLC、HMI、PC进行通讯，相较于模拟量信号更加稳定，精度更高。且适用于料灌称重，检测称重，包装设备，锂电池注液机设备等称重设备；手机耳机孔、充电孔的拔插力设备，手机按键、屏幕、电池的压力测试等3C测试设备；新能源锂电池的化成机压力测试，涂布机张力测试；机床压力测试，桥梁的应力测试等。参数Specifications技术指标/Technique分辨率Readability1/90000输出线性Output linear＜0.002%综合精度Comprehensive accuracy优于0.01% A/D转换速度A/D Conversion speed≤1600次/秒接受灵敏度Accept sensor-3.6~+3.6 m V/V 输入负载Input load1～4只350Ω传感器输出规格Output specification±10V / 4～20mA满量程温度漂移Temp.effect on output≤10ppm /℃零点温度漂移Temp.effect on zero≤10μV /℃激励电压Excitation voltage5VDC电源供给Power supply24±5VDC整机功耗Power waste≤5W工作温度范围Operation temp range-20～70℃单件重量Weight approx.0.5kg材料MaterialAluminum ally（铝合金）防护等级IP ClassIP65

DiTeSt是一套独特的仪器，用于测定几十公里范围内分布的应变和/或温度。 它是一套功能强大的诊断仪器，用来识别和定位潜在问题。接上一根光纤，测量一次，它就能监测数千个位置的局部应变和温度。其固有的高稳定性和自参考工作原理使其适合在线或离线方式长期监测大型结构。DiTeSt 是一套基于激光的测量系统，采用了传感光纤内的光学散射测量原理：受激布里渊散射。它可以使用专用光纤和光缆作为传感元件进行测量。受激布里渊散射是光纤材料的一种固有物理特性，它提供了有关传感光纤实际经历的应变和温度分布的信息。DiTeST在BOTDA模式下有4个通道，可快速准确地测量长达60公里的应变和温度。多根光纤可以通过集成的光缆转接器自动连接到仪器。该系统包括一台工业计算机和内置硬盘，在连接方面具有极大的通用性。集成软件用户友好，可通过使用自配置向导轻松设置参数。该系统可以在交互或自动模式运行，根据预定程序来采集数据。与SMARTEC DiView软件兼容，实现自动数据管理和可视化。 主要特点 • 精细的空间分辨率：1米 • 可延长的距离，最远可达60公里 • 长期稳定性 • 自动监测 • 便携式 • 容易设置 • 远程控制 • 自我诊断 应用 • 高精度的分布式温度和应变测量 • 完整性监测 • 边坡稳定性监测 • 大坝/堤坝变形监测 • 沉降/ 落水洞定位 • 隧道监测 • 裂缝探测 • 压力管道监测

FSM薄膜应力与晶圆翘曲度测量仪薄膜应力测量仪广泛应用于半导体行业薄膜应力的量测。在硅晶圆或者其他材料基底上附着薄膜，由于衬底与薄膜的物理常数不同，将会产生应力而导致衬底基板形变。由均匀附着的薄膜引起的形变表现为基板翘曲，因此，可依据翘曲（曲率半径）的变化量来计算应力。薄膜应力仪用下述方法测量附着表面上的薄膜引起的基底曲率半径的变化量。由于是根据在基板上扫描的激光反射角度进行计算，因此，通过测量薄膜附着前后的曲率半径变化，计算其差值，求出曲率半径变化量，用斯托尼公式，依据基板曲率半径计算薄膜应力S。FSM薄膜应力测量仪的特点:1）自动切换双波段激光具有专利的自动激光切换扫描技术.当样品反射率不好时，系统会自动切换到不同波长的另外一只激光进行扫描。这使客户可以测量包括Nitride，Polyimides, Low K，High K,金属等几乎所有的薄膜而不会遇到无法测量的问题。FSM500加热到500℃进行应力测量，可在加热循环过程中进行薄膜的热稳定性计算2）2-D & 3-D Map配备有马达驱动的可旋转载片台，可以快速生成2-D&3D Map图帮助用户可以看到整片晶圆的曲率和应力变化分布，并准确反映出工艺和均匀性有问题的区域。3）薄膜厚度可以整合介电材料薄膜的厚度测量功能，使设备变成一台可以在研发和生产环境下灵活使用强大的设备。产品优势&bull 薄膜整体应力与晶圆翘曲测试&bull 半导体/LED/太阳能/数据存储/液晶面板产业&bull 适用于多种晶圆,基板尺寸&bull 桌上型/站立式&bull 手动/自动/半自动&bull 500℃&bull 快速&非接触激光扫描&bull 适用生产和研发使用&bull 全球销售及客户支持产品应用&bull 新工艺的测试或新生产设备的校准 。化学气相沉积镀膜工艺（CVD), 物理气相沉积镀膜工艺(PVD)&bull 工艺的质量控制&bull 故障诊断&bull 新技术的研究与开发&bull 半导体新工艺的研究与开发&bull 半导体晶圆薄膜生产: 氮化物, 氧化物, 硅化物, 金属, 低介电常数材料等&bull 晶圆碗型翘曲: 晶圆工艺检查或晶圆生产原料检查&bull 其他的集成电路工艺: 平板显示器 微机电系统

LC-TEC高速光开关（FOS）利用向列型液晶的光学双折射效应，通过改变加载到液晶上的电压来控制液晶面板的透射率，以实现对入射光的快速开关状态切换。和传统的机械式光开关相比，液晶型光开关工作时完全没有运动的部件，彻底避免了振动的影响。 ? 快速开关? 高对比度? 结构紧凑? 波长从可见光到近红外? 液晶面板圆形和方形可选? 液晶表面镀有增透膜，提高了光利用率， 同时减少了波前畸变 应用方向：l 3D成像l 相机曝光l 显微显示l 金属焊接l 人眼防护l 工业自动化 性能参数型号开状态光透射率对比度关时间开时间FOS40%1800:1130us30ms@24VX-FOS(G2)39%1800:150us1.5ms@14VX-FOS(G2)-CE30.5%12000:150us1.5ms@14VPolarSpeed-S38%300:130us30us@24V

150AT应力双折射测量系统所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 应力双折射测量仪所属品牌：美国Hinds Instruments公司 产品简介150AT全自动应力双折射测量系统 全自动应力双折射测量系统 150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量，也可用作诸如玻璃面板，透镜，晶体，单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况，便于操作和日常监测。 150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择设置，使得测量更有针对性（高精度/大范围相位延迟量），系统有着很高的测量速度的同时也具有极高的测量分辨能力（1 mm grid spacing ），150AT应力双折射系统也提供倾斜位移平台等设计来帮助客户完成一些非常规扫描/测量需求。 产品特点自动X/Y位移平台扫描二维/三维图形/参数表格显示样品应力分布测量结果台式整机设计组装灵活位移平台设计，满足个性化定制需求强大数据拟合分析功能和友好用户界面 参数高精度测量系统选项大范围相位延迟量测量选项相位延迟量范围:0.005 to 120+ nm0.005 to 300+ nm相位延迟量测量分辨率/ 重复精度1, 2, 3:0.001 nm / ± 0.008 nm0.01 nm / ± 0.015 nm角度测量分辨率 / 重复精度1:0.01o / ± 0.05°0.01o / ± 0.07°测量速率 / 时间4:up to 100 pps / sample size dependent尺寸:910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D)光源波长5:Various (632.8 nm standard)测量光斑6:Between 1 mm and 3 mm native (can be as low as 50 μm)内置测量调制频率:PEMLabsTM Photoelastic Modulator 50 kHz or 50/60 kHz解调分析技术:Hinds Instruments SignalocTM Lock-in Amplifier or Wave Form Capture Card测量单位:nm (retardation), ° (angle)1 Typical performance at 5 nm retardation2 Up to 0.8 nm, 1% thereafter3 Up to 1.5 nm, 1% thereafter4 Maximum data collection speed. Sample XY scan time dependent on stage movement parameters.5 Custom wavelengths available6Spot sizes of less that 1 mm native require optional high resolution detector module 选项: * Additional Polarization Parameters * 超高速扫描选项 * 光谱扫描测量和RGB测量 * 客户定制内置波长选项（紫外/红外） * 手动/自动倾斜位移平台装置 * 定制样品平台加持谁记 * 定制化显示界面 (UI or DLL) * 应力计算评估软件 相关产品 光弹调制器

风冷一体式的高精度冷水机，长寿耐用、操作简单。可应用于ICP、AAS、电镜、分析仪器、真空设备、激光设备、机床设备、注塑设备等产品。产品特点 Product Features控温精度±0.1℃采用液晶面板，操作简单，温度、流量、压力数据可视、故障信息简单易懂采用不锈钢水泵，流量大，扬程高，噪音低，寿命长根据客户设备配备多种规格进出水接头，方便与客户设备对接

SM 足底应力仪利用压力感应平板采集足底应 力数据，既可测量静态受力，又可持续记录动态走 路或跑步的压力变化，提供详细的步态周期数据和 足底压力分布特征，是欧洲大学、临床、体育和康 复中心多年调查和研究总结的成果。作为步态实验 室一个不可或缺的设备，SM 为医生、康复师、生 物力学专家提供完整的步态表现细节。功能&特点 提供静态、动态足底压力测试功能，软件集测量、保 存、分析和报告等多种功能于一体 软件内置中文语言包，界面友好 提供压力 2D/3D/冲量图像和动态影像回放 自动计算足印的用力时间、面积、CoP 轨迹长度、受 力大小等信息 提供足底多个区域的受力负荷、面积值 自动计算左右足各自的内/外、前后侧受力分配 提供负荷-时间曲线、力线-时间曲线、面积-时间曲 线 自动划分步态周期并提供每阶段信息 可将数据输出至 Microsoft 支持的数据文件 支持扩展同步接口，实现与三维动作捕捉、肌电、测 力台等设备的同步采集 可与定制鞋垫设计模块实现无缝连接，根据足底压力 数据自动生成鞋垫设计方案 有多种感应尺寸供选择，满足不同需要

高精度额温枪检测恒温槽（单工位）产品名称:高精度额温枪检测恒温槽（单工位）商品报价:16500商品型号:YMGDH-0510商品简述:-5~100℃商品品牌:豫明品牌 产品说明:豫明品牌高精度额温枪标定恒温槽是自带制冷和加热的高精度恒温源，供计量部门用于一、二等标准水银温度计，贝克曼温度计，工业铂热电阻等的检测校准。配黑体可以用来检测校准额温枪，耳温枪等红外温度计。主要特征:●隐藏推拉式排水管路，方便排液。●内置豫明新一代温度控制程序,确保设备运行稳定。●全封闭压缩机组制冷,制冷系统具有过热、过电流多重保护装置。●内置搅拌电机，确保稳定高度均匀。●采用XMT模拟数字PID自动控制系统，温度数字显示。●内胆、台面均为全不锈钢，清洁卫生，美观耐腐蚀。技术参数:◆标定方式：水浴式黑体辐射源◆温度显示：液晶面板◆加热比例显示：有◆温度范围:-5--100℃◆37℃稳定时间：≤15min◆温度波动度: ±0.005~0.02℃◆温度均匀度: ±0.005~0.02℃◆分辨率：0.001℃◆工作槽尺寸: 250×200×200mm◆工作槽开口: 180×160mm◆排水阀：底部隐藏式排水◆定时范围：1-999m或常开◆电源要求：220V 50HZ

液晶取向工艺确保液晶分子相对基板实现整齐排列，整齐排列的液晶分子层具备晶体的光学特点，液晶显示器的常用取向工艺有摩擦法和光配向。摩擦工艺通常在玻璃基板表面涂覆聚酰亚胺树脂，再用绒布类材料通过高速摩擦来实现取向。EHC MRM-100液晶配向摩擦机是用于通过摩擦形成在液晶面板中的玻璃基板上的取向膜来使液晶分子取向的装置。它体积紧凑，可以放在桌面，特别适合新型液晶材料开发实验，研究和试生产方面。 EHC MRM-100液晶配向摩擦机产品规格：○工作台尺寸：100×100 mm○工作台移动速度：600 mm / min（可变）○工作台旋转范围：±45°（微型头操作）选件○工作台垂直行程：10 mm（微型头操作）○工作台提升机构：样品在往复运动过程中在返回路径上下降和后退○辊宽度：240 mm○辊直径：φ48mm○辊旋转速度：1400 rpm MAX。○辊旋转范围：±45°○用途：电源100V 500W压力空气0.5MPa○外形尺寸：（W）570×（D）700×（H）730mm约80kg○安装尺寸：打开和关闭盖板时（D）1050mm，（H）1050mm　*以上项目可能会因购买规格而异。

概述:EHC MRM-200液晶配向摩擦机是用于通过摩擦形成在液晶面板中的玻璃基板上的取向膜来使液晶分子取向的装置。它体积紧凑，可以放在桌面，特别适合新型液晶材料开发实验，研究和试生产方面。 　　　　　　　　　 ○工作台大小:zui大240x240mm○工作台移动速度:500mm/秒（可调）○工作台上下行程:20mm ○工作台升降机构:自动升降（可调节1微米节距）○滚轴宽度:350mm○滚轴直径:48mm○滚轴转数:MAX 1500rpm。○滚轴旋转范围:±45°（手动）○电源:100-240V 50/60Hz 500W 压力空气0.5MPa○外形尺寸：（W）600×（D）760×（H）580mm 约85kg○安装尺寸：盖板开闭时（H）730mm ※上述项目根据要求规格有变更的情况（设备照片为MRM-100）基本信息• 目标:小型实验室液晶配向摩擦机• 台式。• 基板装载:手动• 装载/卸载位置：在摩擦辊的前部和后部• zui大基板尺寸:200mmx 200mm（工作台尺寸240mmx 240mm）• 基板厚度:zui小0.5mm，zui大2mm• 基板材料:玻璃、PC、COP等基板工作台• 速度:0-500mm/秒，1mm/秒，精度±0.1mm/秒 区间可调• 移动行程:400mm• 移动方向:垂直于滚轴、前进方向、后退方向、上下方向（自动）• 工作台旋转:手动±45度，可按1度为单位设置• 工作台表面平整度:±10μm• 基板固定:真空发生器吸附固定• 基板定位:手动摩擦机滚轴• 宽度:350mm直径:48mm±0.01mm（定义为滚轴芯外径）RPM:0-1500 rpm。1rpm，精度±0.1 rpm步进可调（数字显示）• 平行度对基板工作台:整体±20μm• 平行度对工作台行程:完全摩擦时±20μm• 旋转方向:顺时针(CW)和逆时针(CCW)旋转• 上滚/下滚行程:20mm• 滚压（行程）精度:±0.01 mm• 角度调整:±45°，可以1°为单位设置（载物台手动旋转式）• 布是天鹅绒，绒毛长度2mm，密度32,000根/ｃｍ^2Utility • 电源:AC100-240V，zui大500W• 气压:0.5 MPa• 重量:约85千克

液晶取向工艺确保液晶分子相对基板实现整齐排列，整齐排列的液晶分子层具备晶体的光学特点，液晶显示器的常用取向工艺有摩擦法和光配向。摩擦工艺通常在玻璃基板表面涂覆聚酰亚胺树脂，再用绒布类材料通过高速摩擦来实现取向。日本EHC MRG-100液晶配向摩擦机的原理液晶配向“摩擦”工艺是指将涂有聚酰亚胺等配向膜的玻璃基板或薄膜基板按一个方向摩擦的处理。 液晶分子接触到进行了摩擦处理的配向膜后，可以简单地按照其方向排列，使透光能ON/OFF。EHC MRG-100液晶配向摩擦机是用于通过摩擦形成在液晶面板中的玻璃基板上的取向膜来使液晶分子取向的装置。它体积紧凑，可以放在桌面，特别适合液晶显示屏，液晶材料、功能膜的开发实验，研究和试生产方面。这台机器的作用是在玻璃基材上进行摩擦操作的简易型设备。驱动单元的所有可调节的设置都可以通过旋钮和切换开关sw进行简单操作控制。EHC MRG-100液晶配向摩擦机产品规格：工作台尺寸可达100x100mm 依据样品尺寸工作台移动速度可达25mm/sec（可用旋钮开关调节）通过扭力开关进行前后切换工作台移动行程大约150mm工作台垂直行程10mm（微型头手动操作）样品固定台真空泵吸附固定滚轴宽度100mm滚轴直径φ48mm（尾部用2mm布包裹着的状态）滚轴旋转数可达3000rpm.旋转方向和旋转数通过单独的开关进行切换电源电源AC100V外观尺寸重量W320×D440×H76mm 大约22公斤

OSI-S产品是一款超高精度分布式光纤传感设备。其原理基于光频域反射（OFDR）技术，实现50m传感范围内空间分辨率可达1mm，100m传感范围内空间分辨率可达1cm。传感精度为±0.1℃/1.0με。本产品可在一根光纤上同时测量成千上万个传感点，广泛应用于长距离、高分辨率、高精度传感领域。特点分布式温度、应变测量测量范围20m、50m、100m传感空间分辨率为1mm传感精度±0.1℃\1.0με分布式温度、应变测量测量范围20m、50m、100m传感空间分辨率为1mm传感精度±0.1℃\1.0με产品应用复合材料抗疲劳检测电力系统：变压器温度监测土木建筑：结构健康监测产品参数类别指标单位传感长度12050100m空间分辨率2110mm采样率34Hz应变传感精度4±1.0με测量范围±15000με温度温度传感精度4±0.1°C测量范围5-200~1200°C硬件输入电压AC 220/110V DC 12V-通讯接口USB-光纤接口FC/APC-尺寸390x340x158mm重量7.5KG备注： 如需更长的传感长度，请与我们联系。在所有的传感长度上都可以实现1mm的空间分辨率，如空间分辨率设置为1mm，则温度及应变测量范围会缩减。因此，厘米级是较为合适的空间分辨率。0.5m测量长度，1cm空间分辨率下实现。50m测量长度，1cm空间分辨率下实现。与传感光纤的性质有关。丙烯酸酯涂层光纤用于0~100℃，聚酰亚胺涂层光纤用于-50~300℃，镀金光纤用于-200~700℃。

极片电阻率分布测试系统 ERDT-10k 随着便携式产品的迅猛发展，电子智能设备日益增多，伴随着能源短缺和环保问题的严峻，对电池有了更高的要求。近来锂电池技术的高速发展使其更具有优势，它现在广泛应用于各个领域。例如：交通、医疗、军事、储能等。锂离子电池已在手机、电脑、汽车、储能等领域广泛应用，用户对电池的提出高要求的同时，相应的对电池的倍率性能要求也越来越高。锂离子电池倍率性能与电池电阻息息相关，电池电阻包含离子电阻和电子电阻。 凯尔测控试验系统（天津）有限公司上市的新产品-极片电阻率分布测试系统于2月上市！ 电极电阻(电导率)能显著影响电池的各项基本性能，不仅限于电池的功率性能(内阻)，而且影响电池的可靠性以及安全性能。通过测量电极电阻、可以较好地评价电极制作过程中电子导电网络的性能或电极微观结构的均匀性，从而帮助我们研究和改进复合电极的配方以及混合、涂布和辊压工艺的控制参数。 以下是极片电阻率分布测试系统的详细介绍： 主要特点和优势：测试对象:双面极片、单面极片、底涂集流体、集流体。高精度的压应力控制,更自由的压应力加载方式,经柔度修整的厚度精确测量。高精度、变量程的交流电阻测量,手动、自动送样,多点测量、环境温、湿度同步记录。软件一键输出各数据云图,清晰直观显示极片中各关键参量分布情况。初始厚度:初始轻微接触下的厚度接触厚度:极片受压后的厚度接触变形:计算压缩形变量=(初始厚度-接触厚度)/初始厚度极片电阻:两探针法得到总电阻值电阻率:使用接触厚度计算电阻率统计学分析数据

LUCEO应力仪LSM系列LUCEO歪検査器 LSM系列的应力仪，可以检测玻璃以及塑胶制品中各种各样的应力。检测对象玻璃制品大浮法玻璃板　汽车玻璃　新型玻璃　光学新材料玻璃　玻璃晶圆热敏电阻 　玻璃浆玻璃管 ＜各种灯具、电子管（真空管 、 充气管等）、电子元件密封玻璃管 、　　　　加热器隔板＞理化玻璃器皿 ＜烧瓶烧杯等、试管及连接管等、分析器件等、　　　　　　　　蒸发皿及手表玻璃等＞光学玻璃材料 　 ＜水晶、石英、镜片玻璃材料等＞玻璃光学元件 　 ＜光学滤镜、镭射二极管保护玻璃、球镜、透镜阵列、　　　　　　　　透镜、棱镜、V 槽基板等＞玻璃容器 　 ＜小瓶、饮料瓶、大口瓶，储存容器、玻璃杯、餐具等＞ 塑胶（合成树脂）制品大树脂板　树脂膜注射成型树脂制品＜液晶面板、遮阳板、树脂容等 ＞树脂光学元器件 ＜透镜阵列、透镜、棱镜等＞ ※除此以外其他的制品也可检测。如有需要，请随时与我们联系。 LUCEO应力仪LSM系列应力仪LSM系列的规格表 项目StrainEye手持式携带型中型LSM-1000LELSM-2100LELSM-2200LELSM-2300LELSM-4100LELSM-4101LELSM-4200LELSM-4201LELSM-4300LELSM-4301LELSM-4400LELSM-4401LELSM-4400BLSM-4401B 检验方法交叉尼科尔斯法●●●●圆偏光法●●●敏感色法●●●●塞纳蒙法●●旋转检偏镜法RGB线偏振光法应力测量范围Re: 0~270nm——————Re: 0~270nm反复测量精度—————————测量范围/观察范围(mm)φ78120×120200×200150×150有效像素(Pixel)—————————设定波长塞纳蒙法：540nm——————塞纳蒙法：540nm光源高亮度LED白色3000K高亮度LED 白色3000K高亮度LED 白色3000K起偏镜尺寸φ78120×120200×200150×150（高亮度）检偏镜尺寸φ54φ584Φ110Φ114检偏器的高度调整●（只适用于LSM-4xx1）测量空间高度70115300（上段）285（上段）65-290（下段）55-275（下段）外观尺寸（W×D×Hmm）96×135×150(ハンドル：L=85)180×245×264280×375×415280×375×430重量0.7kg3.4kg10kg11kg电源DC Input15-24V 0.8ADC Input 15-24V 0.8A100-240VAC 50/60Hz 0.14A100-240VAC50/60Hz 0.3A耗电量15W15W14W30W构成主机、（1/4波片、敏感色片）主机主机、电缆主机、1/4波片、敏感色片、电缆

型号波长反射率相面尺寸像素像元填充因子灰度等级相位深度频率相应时间稳定性π功率/ cm2SLM-200-1450-550=0.5%15.42x9.661920x12007.8/8.00.9510242π60/120300ms0.00110W-2750-850-31000-1100-41500-1600-12400-800=1.5%-14450-550/1500-1600=0.6%200系列为通用型号，对于不同的波长段，有各种特殊的镀膜，效率均大于98%以上SLM-250365-5500.00715.42x9.661920x12007.8/8.00.9510242π60/12050ms0.00310mW250系列为针对紫外特殊波段应用。40 MW/cm2 Peak power @355nm, Pulse laser,pulse width 260psec,repetition rate 100HzSLM-300-1532=1%15.42x9.661920x12007.8/8.00.9510242π60/120200ms0.002200W-2800-31064300系列为针对高功率应用的型号，配备水冷系统产品特点：友好的用户界面高分辨率：10-bit超低相位噪声：～002π表面平整度优化：λ/40应用领域：激光加工以及高功率应用波前校准，波前调制全息光学涡旋光，轨道角动量激光整形，飞秒脉冲整形 Santec SLM空间光调制器，使用独有的技术，能达到10-bit，实现1024个灰度等级的调制，对比通用的8-bit技术，更高的灰度等级，可以实现更精细的控制。另外在控制电路上的优化，使相位抖动达到最小。厂家还针对表面玻璃的畸变进行优化，使液晶面板表面的对波前调制的影响达到最小，一般其他家的基本是控制在λ/10，而Santec的控制到了λ/40。高分辨率: 10-bit (1024 gray levels)超低相位噪声: ～0.002π rad超平整的液晶面板: λ/40 @633nmThe flatness of the LCOS can be λ/40 with the accompanying lookup table. UV空间光调制器SLM-250反射LCOS（仅限相位）SANTEC推出了基于硅上液晶（LCOS）技术的紫外（UV）硬化空间光调制器（SLM）。该产品支持第二代WUXGA（1920×1200）和全高清（1920×1080）视频分辨率。来自Santec的SLM仍将提供4倍的10位（1024灰度级）和10倍的相位稳定性（与市场上的传统产品相比）在第1代中发现。SLM的与可见红外（IR）波长SLM-200相比，UV模型SLM（SLM-250）具有高42倍的抗紫外线规格。使用新颖的液晶和介电镜设计，可实现高达10mW / cm2的功率密度。SLM-250遵循Santec的流行第一代SLM-100，已经部署在各种工业和科学应用中，包括光束整形，计算机生成的全息图，光学操作和波前补偿。高功率LCOS型号SLM-300Santec的空间光调制器（SLM）基于反射式硅基液晶（LCOS）微显示技术。Santec SLM-300基于高功率LCOS的空间光调制器具有高达CW 200瓦的高功率耐久性世界纪录。与Santec的传统SLM产品SLM-200相比，SLM-300的功率耐用性高出100倍。特征基于SLM的高功率耐用LCOS高相位分辨率10位（1024）灰度级超低相位噪声~0.002πrad应用激光加工3D打印IC修整

显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展，LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用，同时，业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏，LED光源的光品质就显得尤为重要！LED光源的主要功能是把电能转化成光能，而当前，芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中，仅仅是针对光源进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上，由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响，光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的，传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点，这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题，甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计，同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况，金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统，主要用于测试光源的发光均匀性，帮助提高光品质。现已演化到第五代，而且价格从150万降到几十万！金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比，金鉴显微光分布测试系统优点显著： 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比：金鉴显微光分布探头对光敏感度较高，能分辨细小的光强差异，因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK：金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点：1. 探测器感应波长为190nm-1100nm，覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配，可观察微米级发光器件，图像具备2D和3D显示功能，表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率，即如果显微镜能1000倍放大，金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似，像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计，杜绝背景光影响，测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号，包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能，但是在测试过程中，环境的变化会导致环境反射光强度的变化，造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统，具备独特的遮光罩设计，隔绝了环境光的影响，大大增加了测试的准确性。如下图所示，在不使用遮光罩的情况下，受环境光变化的影响，芯片光分布图部分区域异常偏暗；在使用遮光罩后，彻底屏蔽了环境光的影响，光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统，可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大，脱离实际环境所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，实现光源在不同温度下光分布的测试，对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比，同一芯片，工作状态温度越高，亮度越低！温度越高，光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃，LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer，具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能，方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理，为科研及分析提供更专业的数据支持。（1）提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 （2）通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。 （3）OSI彩虹及不同灰阶调色板，满足客户个性化的显示需求。 （4）扣除背景光干扰，增加测试精准度。 （5）可导出光分布图全部像素点的光强数据值，为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 （6）自定义报告模式，测试报告一键展现；测试结果即时分享，高效协同。 测试案例:案例一：芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估，如下图所示，芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率。对此，金鉴建议，可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二：芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极，右边为两个正电极，其中，区域1、2亮度较低，电流扩展性不够，需提高其电流密度，建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度，可减少金手指厚度来改善电流密度，或者改善金手指的MESA边缘聚积现象，另外，也可以增加区域3外的金手指厚度，使区域3外金手指附近的电流密度增加，提升区域3外各金手指的电流密度，以上建议可作为发光均匀度方面的改善，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下，可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积，以提升亮度。甚至，可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三：光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度，填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺，芯片侧面非常粗糙，粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光，提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到，该芯片边缘出光较多，说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四：显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统，可帮助客户避免过度超电流，准确定位最高效率下的电流电压！如下案例中，芯片额定电流为60mA，超额定电流90mA下点亮时，芯片温度大大提高，亮度反而出现衰减。过度的超电流，LED芯片产热严重，光产出并不会增加，甚至出现光衰。 案例五：显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹！某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后，老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此，定位芯片正极做氩离子截面抛光，发现正极底部SiO2层边缘倾角过大，ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象，ITO层电阻过大，电流扩散受阻，出现电压升高异常现象。案例六：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，使用热分布测试系统对芯片进行测试，由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度，对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透，故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时，使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案，从光分布图可以看出，芯片负电极位置发光较强，因此推断负电极位置电流密度较大，导致此处发热量也较大，从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七：多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统，能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度，是品质把控的好帮手！例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，该灯珠点亮时，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八：COB光源发光均匀度测试对于LED光源，特别是白光光源，由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响，其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示，COB右半边灯珠亮度明显比左半边低，由标尺计算出，右半边亮度为左半边的三分之二，导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致，导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致，造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九：OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试，可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况，对于缺陷点也能及时发现，有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中，OLED电流输入端亮度较大，远离输入端亮度逐渐减小，在此情况下，损失的亮度转换为热能，因此温度的分布会变得不均匀，进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十：激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统，配备专用光衰片及水冷散热系统，可测试大功率超亮激光灯的光热分布！

SPM-KEYP-A17N是长沙硕博电子科技股份有限公司开发的一款操作面板。该产品具备1路CAN总线，1路高边输出，17个硅胶按键。此外，该产品还具有高防护等级、小体积、高响应速度、寿命长等优点，使其成为分布式应用场合操作面板的理想选择。该操作面板具有以下特性：32位高性能MCU1路CAN，支持自定义1路高边输出，可直接驱动负载按键寿命长达50万次17个高亮RGB三色指示灯高亮白色背光灯所有输入端口支持误接电源、地所有输出端口带短路、过热保护防护等级: IP65/IP67(装线缆)除了17键，还有8键、12键、16键、20键等可供选择，如果您对我们的产品感兴趣，欢迎来电咨询。

BBMS-2000双向反射/透射空间分布测量系统可全方位分析测量材料表面的反射、透射特性，可测参数包括材料的双向透射分布（BTDF）、双向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、总反射（TIR）、总散射（TIS）等，可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析，其BRDF/BTDF数据可以导出至光学设计软件中，用于光学系统模拟设计。? 主要特点l 系统通过四轴精密旋转配合，可以实现空间内任意光照方向下的半球反射/透射分布测试；l 绝对法测试，不受样品的形态、光学性质的约束；l 测试光路及计算方法，完全符合ASTM E2387等标准要求。l 测试的BRDF/BTDF数据可以导出至Tracepro等光学设计软件中，用于辅助光学材料或系统的模拟、设计；l 高精度，高稳定度 ；2 接收光路长，接收立体角小，测量不确定度小2 激光光源，能量高、单色性好、准直度高；2 配备监视探测器，消除光源波动对测量的影响；2 探测器动态范围大，测试准确度高；2 机械转轴转动精度高，角度分辨率、重复性好。l 综合分析表面散射性能 2 双向反射分布函数BRDF2 双向透射分布函数BTDF2 反射比分布2 透射比分布2 总反射率TIR2 总散射率TISl 光源自由切换，波长覆盖紫外-可见-近红外范围，实现不同颜色光照下材料表面散射特性的测试，适用于有光谱选择性的样品； l 上位机多功能分析软件，提供多种BRDF/BTDF二维及三维分析图，并配有专用于BSDF分布数据查看软件，提供专业的BSDF数据分析；? 典型测量界面? ? 技术指标 测试类型In-plane/Out-of-plane BSDF测量参数BRDF、BTDF、反射比、透射比、TIR、TIS光源激光，覆盖可见-近红外范围（特殊可定制）光源天顶角t0°~80°光源方位角0°~360°探测器天顶角-85°~85°探测器方位角0°~180°角度分辨率0.01°角度重复精度0.1°动态测量范围? 典型应用：

WD4000系列半导体晶圆厚度高精度测量系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。测量功能1 、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化) 、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2 、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3 、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像 等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能； 提取包括提取区域和提取剖面等功能。4 、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287 的线粗糙度、ISO25178 面粗糙度、ISO12781 平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000系列半导体晶圆厚度高精度测量系统集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。 （2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000系列半导体晶圆厚度高精度测量系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C 电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS 器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

产品用途LHS型系列恒温恒湿培养箱有精确的温度和湿度控制系统，它为产业研究生物技术测试提供所需要的各种环境模拟条件，可广泛用于药物、纺织、食品加工等无菌试验，稳定性检查以及工业产品的原料性能，产品包装寿命等测试。产品特点微电脑液晶温度湿度控制器，控温、控湿精确可靠，具有超温、漏电、停电、传感器故障报警功能。采用品牌无氟制冷压缩机和循环风机，强制对流空气循环，效率高，能耗低，噪声低，温度分布均匀，使用寿命长。采用镜面不锈钢内胆，四角半圆弧，易清洁，箱内搁板间距可调。高精度、大容量湿度发生器，确保湿度控制发生快，精度高，波动小。设有独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断，保证实验安全运行，不发生意外（选配）。配置RS-485接口，能记录温、湿度参数的变化（选配）。箱门设有观察窗，箱内装有照明灯，便于观察箱内培养物，也可选配双重门结构，内门采用全钢化玻璃门。在箱体左侧配测试孔，便于实验操作与测量温度（选配）。升级型:除以上功能外，还具有大屏幕液晶屏恒温恒湿，外观新颖，操作简单，可编程控制，内置加湿器，可配RS-485接口和选配嵌入式打印机。产品参数型号 LHS-160CH容积160L制冷系统任选Selecting at will环境温度5～35°温度范围0～60℃温度分辨率0.1℃温度均匀性±1℃温度波动度高温±0.5℃ 低温±1℃控湿范围40～95%RH 湿度波动±5%～±8%RH （CH）为±3% RH 电 源～220V 50Hz功率500W内胆尺寸498×450×794 外形尺寸642×665×1440定时范围1-9999min载物托架（块）（标配）3备 注 :“CH”为液晶屏控制器还具有智能触摸屏控制器，可编程控制。湿度波动±5%RH，内置超声波加湿器，可选配RS-485接口和嵌入式打印机。

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

中图仪器NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。台阶仪工作原理当触针沿被测表面轻轻滑过时，由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时还沿峰谷作上下运动。触针的运动情况就反映了表面轮廓的情况。结构主要组成部分1、测量系统（1）单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。（2）线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。（3）传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台（1）精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台，可以对样品的位置以及角度进行调节，三维位置均可以调节，利于样品调整。（2）超高直线度导轨，有效避免运动中的细微抖动，提高扫描精度，真是反映工件微小形貌。3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机，即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上，使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响，使实验数据更加准确。NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。 磁吸针实物外观图（330μm量程）应用场景介绍