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多角度粒度与高灵敏度电位分析仪

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多角度粒度与高灵敏度电位分析仪相关的仪器

  • 仪器简介: 作为领先将背向光散射技术(Back-Scattering)引入高浓度粒度分析的厂家,布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合,突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的Omni多角度粒度及高灵敏Zeta电位分析仪,实现在同一台粒度分析仪中,即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号,又可以有效地提高了测量浓度上限,可达40%w/v。此外,Omni采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位,与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高1000倍,可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数: 1.粒度范围:0.3nm~15μm(与折射率,浓度,散射角有关); 2.浓度范围:0.1ppm至40%w/v; 3.典型精度:1%; 4.样品类型:任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中);5.样品体积:0.01~3ml,50μL微量样品池,10μL微量样品池(最新); 6.分子量测定范围:342~2*107Dalton; 7.温控范围:-5℃~120℃,±0.1℃; 8.pH值测量范围:1-14; 9.激光源:40mW固体激光器(可选5mW He-Ne激光器); 10.检测器:APD;11.相关器:4*1011线性通道;4通道输入;支持两路互相关; 12.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数; 13.散射角:13°、90°与173°;14.电泳测量适用粒度范围:0.001-100μm;15.电导率范围:0-30S/m;16.电泳迁移率范围:10 -11-10 -7 m2 /V.s;17.pH测量范围:1-14; 选件: 1.微流变:检测弱结构溶液的粘弹性信息;2.表面膜电位:固体表面膜电位测量;3.实时在线测量:粒度及Zeta电位实时在线测量;4.自动滴定仪:可对PH值、电导率和添加剂浓度作图;5.介电常数仪:直接测最溶剂的介电常数值;6.粘度计:用于测量溶剂及溶液的粘度; 7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料; 主要特点: 1.高灵敏性,粒度测量范围:0.3nm~15μm; 2.突破性的三检测角度设计,测量角度:15°、90°和173°;3.硬件PALS技术,灵敏度高1000倍,适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系; 4.浓度范围:0.1ppm至40%w/v; 5.可作为在线检测器与GPC/SEC连接,并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程; 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件; 6.强大的数据分析功能,可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用:1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体;2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系;3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方;4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。
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  • 仪器简介: 作为专业将背向光散射技术(Back-Scattering)引入高浓度粒度分析的厂家,布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合,突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的173Plus多角度粒度分析仪。随着173Plus的出现,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,实现在同一台粒度分析仪中,即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号,又可以有效地提高了测量浓度上限,高可达40%w/v。技术参数:1.粒度范围:0.3nm~10μm(与折射率,浓度,散射角有关);2.浓度范围:0.1ppm至40%w/v;3.典型精度:1%;4.样品类型:任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中);5.样品体积:0.01~3ml,50μL微量样品池,10μL微量样品池;6.分子量测定范围:342~2*107Dalton;7.温控范围:-5℃~120℃,±0.1℃;8.pH值测量范围:1-14;9.激光源:40mW固体激光器(可选5mW He-Ne激光器);10.检测器:APD;11.相关器:4*1011线性通道,支持两路互相关;12.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数;13.散射角:13°、90°与173°(自动选择或设置测量点位置) 选件:1.微流变:检测弱结构溶液的粘弹性信息;2.Zeta电位升级:具有Zeta电位测量功能;3.实时在线测量:粒度及Zeta电位实时在线测量;4.自动滴定仪:可对PH值、电导率和添加剂浓度作图;5.介电常数仪:直接测最溶剂的介电常数值;6.粘度计:用于测量溶剂及溶液的粘度;7.21CFR软件:符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料;
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  • 仪器简介: 作为领先将背向光散射技术(Back-Scattering)引入高浓度粒度分析的厂家,布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合,突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的173Plus多角度粒度分析仪。随着173Plus的出现,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,实现在同一台粒度分析仪中,即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号,又可以有效地提高了测量浓度上限,最高可达40%w/v。 技术参数: 1.粒度范围:0.3nm~10μm(与折射率,浓度,散射角有关); 2.浓度范围:0.1ppm至40%w/v; 3.典型精度:1%; 4.样品类型:任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中);5.样品体积:0.01~3ml,50μL微量样品池,10μL微量样品池(最新); 6.分子量测定范围:342~2*107Dalton; 7.温控范围:-5℃~120℃,±0.1℃; 8.pH值测量范围:1-14; 9.激光源:40mW固体激光器(可选5mW He-Ne激光器); 10.检测器:APD;11.相关器:4*1011线性通道,支持两路互相关; 12.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数; 13.散射角:15°、90°与173°; 选件: 1.微流变:检测弱结构溶液的粘弹性信息;2.Zeta电位升级:具有Zeta电位测量功能;3.实时在线测量:粒度及Zeta电位实时在线测量;4.自动滴定仪:可对PH值、电导率和添加剂浓度作图;5.介电常数仪:直接测最溶剂的介电常数值;6.粘度计:用于测量溶剂及溶液的粘度; 7.21CFR软件:符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料; 主要特点: 1.高灵敏性,粒度测量范围:0.3nm~10μm; 2.突破性的三检测角度设计,测量角度:15°、90°和173°; 3.浓度范围:0.1ppm至40%w/v; 4.可作为在线检测器与GPC/SEC连接,并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程; 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件; 6.强大的数据分析功能,可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用:1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体;2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系;3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方;4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。
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  • 仪器简介: 90Plus PALS高灵敏Zeta电位及粒度分析仪粒度测量采用动态光散射原理,是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位,与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高约1000倍,可适用于诸如低介电常数、 高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数: 1.粒度范围:0.3nm~15μm(与折射率,浓度,散射角有关); 2.样品类型:任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中);3.样品体积:0.01~3ml,50μL微量样品池,10μL微量样品池(最新); 4.分子量测定范围:342~2*107Dalton; 5.温控范围:-5℃~110℃,±0.1℃; 6.pH值测量范围:1-14; 7.激光源:40mW固体激光器(He-Ne气体激光器可选); 8.检测器:APD或PMT;9.相关器:4*1011线性通道;4通道输入;支持两路互相关; 10.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数; 10.散射角:15°和90°;12.电泳测量适用粒度范围:0.001-100μm;13.电导率范围:0-30S/m;14.电泳迁移率范围:10 -11-10 -7 m2 /V.s; 选件: 1.微流变:检测弱结构溶液的粘弹性信息;2.表面膜电位:固体表面膜电位测量;3.实时在线测量:粒度及Zeta电位实时在线测量;4.自动滴定仪:可对PH值、电导率和添加剂浓度作图;5.介电常数仪:直接测最溶剂的介电常数值;6.粘度计:用于测量溶剂及溶液的粘度;7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料; 主要特点: 1.高灵敏性,粒度测量范围:0.3nm~15μm;2.硬件PALS技术,灵敏度高1000倍,适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系; 3.可作为在线检测器与GPC/SEC连接,并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程; 4.综合最新最全的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件; 5.强大的数据分析功能,可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用:1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体;2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系;3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方;4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。
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  • Zetasizer Ultra 纳米粒度仪是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统,在结合了 Zetasizer Pro 和 Lab 特性和优点的基础上,增加了多角度动态光散射技术(MADLS),是 马尔文帕纳科Zetasizer Advance 纳米粒度电位分析仪系列中最智能和灵活的仪器。 这一旗舰型纳米粒度分析仪充分利用了 ZS Xplorer 软件的易用性、高分析速度和数据可靠性等优势,运用多角度动态光散射技术 (MADLS) ,提供与角度无关的高分辨率粒度测量,并且能够测量颗粒浓度*,帮助您更深入地了解样品。*限 Zetasizer Ultra 红标版本 (Red Label)特点和优点Zetasizer Ultra 纳米粒度分析仪融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统,它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围,而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 扩展功能可直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量适合于各类材料,只需很少稀释,并且使用快捷,这一切使其成为一种理想的筛选技术。Zetasizer Ultra 甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和类病毒颗粒 (VLP) 等样品。 Zetasizer Ultra 的关键特性和优点包括:用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角动态光散射法 (MADLS) 可以更深入地展现您的样品粒度分布 动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 (使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ;取决于样品和样品制备)电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位,以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围,即使是处理非常浓缩的样品,也能实现高灵敏度简单的每峰值浓度/滴度测量(仅限红标Red Label版本)可抛弃型毛细管粒度测量样品池提供了无损、低容量(最低 3 μL)分析,并且粒度上限范围可达到 15 μm具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用,并可轻松构建复杂的模型“自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据,同时计算速度超过以往的两倍,可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量,实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题,并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射(90°)测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片,以实现分析灵活性可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃和可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量,其中包括新的低容量可抛弃粒度测量池套件,由于它可以抑制对流,所以既能进行样品量小到 3 μL 的粒度测量,也扩展了DLS 测量的粒度上限范围主要应用Zetasizer Ultra 纳米粒度仪应用广泛,包括:学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具,广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛,被科学文献引用的次数达上万次,成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中,温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性,造成变性和聚集、功能丧失, 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选,并可协助配方开发, 从而优化流程和产品,消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位,以改善食品、饮料和调味料的外观及味道,并优化分散和乳化稳定性,从而延长产品保存期限,提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度分析仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质,比如更高的催化活性和溶解度,或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定,以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性(例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期)方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量,从而减少配方时间,加快新产品上市。消费品改良多种消费品时,需要了解和控制胶体参数,引导颗粒间的相互作用,并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度, 并测量乳液的液滴大小和稳定性。
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  • Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪 产品简介: Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪完美结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技术,拥有15°、90°与173°三个散射角度,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,硬件PALS技术彻底解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量,是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。详细说明: 作为最先将背向光散射技术(Back-Scattering)引入高浓度粒度分析的厂家,Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合,突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS(相位分析光散射)技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,实现在同一台粒度分析仪中,既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号,又可以有效地提高了测量浓度上限,最高可达40%wt;硬件PALS技术(与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高1000倍)的应用,彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下(电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍,传统方法没有足够的分辨率进行测量)的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。NanoBrook产品系列 项目173173PlusOmniZetaPALS功 能粒度测量功能●●●○分子量测量功能●●●○Zeta电位测量功能○○●● 技 术 参 数散射角15°与173°15°、90°与173°○粒度范围0.3nm-10μm○分子量测定范围342~2×107Dalton○相关器4×522个物理通道,4×1011个线性通道○Zeta电位适用粒度范围○1nm~100μmZeta电位范围○-500mV~500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11~10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度-5~110℃,±0.1℃激光源35mW光泵半导体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg选 件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度 ●代表“有” ○代表“无”典型应用 1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体3.多糖、药物制备4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液5.油包水、水包油体系6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂7.食品、化妆品配方8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例,混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4~7之间明显的变化,不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响技术参数1.粒度测量范围:0.3nm~10μm2.Zeta电位测量适用粒度范围:1nm~100μm3.样品浓度范围:0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)4.典型精度:1%5.样品类型:蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品6.样品体积:1~3ml7.分子量测定范围:342~2×107Dalton8.Zeta电位范围:-500mV~500mV9.电导率范围:0~30S/m10.电泳迁移率范围:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s11.电场强度:0 ~ 60 kV/m12.电极:永久性开放式电极,电极材料纯钯;耐腐蚀电极(选件);微量电极(选件)13.温控范围与精度:-5℃~110℃,±0.1℃。14.pH测量范围:1-1415.激光源:35mW光泵半导体激光器(可选5mW He-Ne激光器)16.检测器:高灵敏雪崩型二极管(APD)17.相关器:4×522个物理通道,4×1011个线性通道,采用动态采样时间及动态延迟时间分配18.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数19.散射角:15°、90°与173°20.室温操作情况:10°C ~ 75°C,湿度 0% ~95%, 无冷凝21.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg22.电源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W23.计算机(选件):商用计算机,包括WindowTM软件24.自动滴定仪(选件):独立四泵驱动,可对pH值、电导率和添加剂浓度作图
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  • 作为最先将背向光散射技术(Back-Scattering)引入高浓度粒度分析的厂家,Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合,突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS(相位分析光散射)技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,实现在同一台粒度分析仪中,既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号,又可以有效地提高了测量浓度上限,最高可达40%wt;硬件PALS技术(与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高1000倍)的应用,彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下(电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍,传统方法没有足够的分辨率进行测量)的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。NanoBrook产品系列项目173173PlusOmniZetaPALS功能粒度测量功能●●●○分子量测量功能●●●○Zeta电位测量功能○○●●技术参数散射角15°与173°15°、90°与173°○粒度范围0.3nm-10μm○分子量测定范围342~2×107Dalton○相关器4×522个物理通道,4×1011个线性通道○Zeta电位适用粒度范围○1nm~100μmZeta电位范围○-500mV~500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11~10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度-5~110℃,±0.1℃激光源35mW光泵半导体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”典型应用 1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束 2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体3.多糖、药物制备4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液5.油包水、水包油体系6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂7.食品、化妆品配方8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑应用案例不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例,混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4~7之间明显的变化,不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。(数据摘自JACS)技术参数1.粒度测量范围:0.3nm~10μm2.Zeta电位测量适用粒度范围:1nm~100μm3.样品浓度范围:0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)4.典型精度:1%5.样品类型:蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品6.样品体积:1~3ml7.分子量测定范围:342~2×107Dalton8.Zeta电位范围:-500mV~500mV9.电导率范围:0~30S/m10.电泳迁移率范围:10-11~ 10-7m2/V.s11.电场强度:0 ~ 60 kV/m12.电极:永久性开放式电极,电极材料纯钯;耐腐蚀电极(选件);微量电极(选件)13.温控范围与精度:-5℃~110℃,±0.1℃。14.pH测量范围:1-1415.激光源:35mW光泵半导体激光器(可选5mW He-Ne激光器)16.检测器:高灵敏雪崩型二极管(APD)17.相关器:4×522个物理通道,4×1011个线性通道,采用动态采样时间及动态延迟时间分配18.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数19.散射角:15°、90°与173°20.室温操作情况:10°C ~ 75°C,湿度 0% ~95%, 无冷凝21.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg22.电源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W23.计算机(选件):商用计算机,包括WindowTM软件24.自动滴定仪(选件):独立四泵驱动,可对pH值、电导率和添加剂浓度作图
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  • 概述 PALS技术(PALS:Phase Analysis Light Scattering)是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术,与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析,这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍,传统方法没有足够的灵敏度进行测量,ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。 项目90Plus90Plus PALSZetaPALS功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342~2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道,4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm~100μmZeta电位范围○-500mV~500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11~10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度-5~110℃,±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度典型应用1.脂质体、生物胶体2.陶瓷3.颜料、油墨4.医药5.乳剂(食品、化妆品)6.废水处理7.胶乳8.炭黑 不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例,混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4~7之间明显的变化,不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。(数据摘自JACS)技术参数1.Zeta电位部分:1)Zeta电位测量适用粒度范围:0.001-100μm2)样品体积:0.18~1.5mL3)pH值测量范围:1-144)电导率范围:0-30S/m5)电泳迁移率范围:10-11~10-7m2/V.s6)温度控制:-5 ~110℃, ±0.1℃7)电场强度:0 ~ 60kV/m8)电极:永久性开放式电极,电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分:1)粒度范围:0.3nm~6μm(与折射率,浓度,散射角有关)2)典型精度:1%3)样品类型:任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)4)样品体积:1~3ml5)分子量测定范围:342~2×107Dalton6)激光源:35mW固体激光器(可选5mW He-Ne激光器)7)检测器:PMT或APD8)相关器:1011线性通道;动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术;4通道输入;支持两路互相关。
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  • 产品简介: 90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目前唯一能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术,比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍!详细说明:NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus PALSZetaPALS功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342~2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道,4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm~100μmZeta电位范围○-500mV~500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11~10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度-5~110℃,±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”概述 PALS技术(PALS:Phase Analysis Light Scattering)是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术,与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析,这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍,传统方法没有足够的灵敏度进行测量,ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。典型应用1.脂质体、生物胶体2.陶瓷3.颜料、油墨4.医药5.乳剂(食品、化妆品)6.废水处理7.胶乳8.炭黑应用案例 不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例,混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4~7之间明显的变化,不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。(数据摘自JACS)技术参数1.Zeta电位部分:1)Zeta电位测量适用粒度范围:0.001-100μm2)样品体积:0.18~1.5mL3)pH值测量范围:1-144)电导率范围:0-30S/m5)电泳迁移率范围:10-11~10-7m2/V.s6)温度控制:-5 ~110℃, ±0.1℃7)电场强度:0 ~ 60kV/m8)电极:永久性开放式电极,电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分:1)粒度范围:0.3nm~6μm(与折射率,浓度,散射角有关)2)典型精度:1%3)样品类型:任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)4)样品体积:1~3ml5)分子量测定范围:342~2×107Dalton6)激光源:35mW固体激光器(可选5mW He-Ne激光器)7)检测器:PMT或APD8)相关器:1011线性通道;动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术;4通道输入;支持两路互相关。
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  • 仪器简介: 作为专业将背向光散射技术(Back-Scattering)引入高浓度粒度分析的厂家,布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合,突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的173Plus多角度粒度分析仪。随着173Plus的出现,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,实现在同一台粒度分析仪中,即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号,又可以有效地提高了测量浓度上限,高可达40%w/v。技术参数:1.粒度范围:0.3nm~10μm(与折射率,浓度,散射角有关);2.浓度范围:0.1ppm至40%w/v;3.典型精度:1%;4.样品类型:任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中);5.样品体积:0.01~3ml,50μL微量样品池,10μL微量样品池;6.分子量测定范围:342~2*107Dalton;7.温控范围:-5℃~120℃,±0.1℃;8.pH值测量范围:1-14;9.激光源:40mW固体激光器(可选5mW He-Ne激光器);10.检测器:APD;11.相关器:4*1011线性通道,支持两路互相关;12.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数;13.散射角:13°、90°与173°(自动选择或设置测量点位置) 选件:1.微流变:检测弱结构溶液的粘弹性信息;2.Zeta电位升级:具有Zeta电位测量功能;3.实时在线测量:粒度及Zeta电位实时在线测量;4.自动滴定仪:可对PH值、电导率和添加剂浓度作图;5.介电常数仪:直接测最溶剂的介电常数值;6.粘度计:用于测量溶剂及溶液的粘度;7.21CFR软件:符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料;
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  • 仪器简介: 90Plus PALS高灵敏Zeta电位及粒度分析仪粒度测量采用动态光散射原理,是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位,与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高约1000倍,可适用于诸如低介电常数、 高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数: 1.粒度范围:0.3nm~15μm(与折射率,浓度,散射角有关); 2.样品类型:任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中);3.样品体积:0.01~3ml,50μL微量样品池,10μL微量样品池(最新); 4.分子量测定范围:342~2*107Dalton; 5.温控范围:-5℃~110℃,±0.1℃; 6.pH值测量范围:1-14; 7.激光源:40mW固体激光器(He-Ne气体激光器可选); 8.检测器:APD或PMT;9.相关器:4*1011线性通道;4通道输入;支持两路互相关; 10.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数; 10.散射角:15°和90°;12.电泳测量适用粒度范围:0.001-100μm;13.电导率范围:0-30S/m;14.电泳迁移率范围:10 -11-10 -7 m2 /V.s; 选件: 1.微流变:检测弱结构溶液的粘弹性信息;2.表面膜电位:固体表面膜电位测量;3.实时在线测量:粒度及Zeta电位实时在线测量;4.自动滴定仪:可对PH值、电导率和添加剂浓度作图;5.介电常数仪:直接测最溶剂的介电常数值;6.粘度计:用于测量溶剂及溶液的粘度;7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料; 主要特点: 1.高灵敏性,粒度测量范围:0.3nm~15μm;2.硬件PALS技术,灵敏度高1000倍,适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系; 3.可作为在线检测器与GPC/SEC连接,并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程; 4.综合最新最全的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件; 5.强大的数据分析功能,可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用:1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体;2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系;3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方;4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。
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  • Nanolink SZ902系列纳米粒度分析仪是继在SZ901系列纳米粒度分析仪后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品,加持了真理光学最新研发的全自动聚焦技术,实现了对纳米样品的多角度测量,无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量,十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。Nanolink SZ902纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括: ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm–15μm* ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析,可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性 ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用 ◆独创的余弦拟合相位分析法(CF-PALS)优于目前的频谱分析法(FFT)和传统的位相分析法(PALS) ◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术 ◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术 ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器 ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C ◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术
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  • Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号:N3000 工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号3000DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。技术优势1、APD(LDC)超高灵敏度检测器;2、多角度检测(multi angle)模块;3、可搭配不同功率光源;4、精确度高,最接近样品真实值;5、快速检测,可以追溯历史数据;6、结果数据以多种形式和格式呈现;7、符合USP,CP等个多药典要求;8、无需校准;9、复合型算法:(1)高斯(Gaussion)单峰算法与的Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级;(1)可自动稀释模块;(2)搭配多角度检测器;(3)自动进样系统(选配);Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点,Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一:Nicomp多分分布数据呈现 如图一:此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由图中可以看出,其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可见,Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果,更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计,Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。图二:高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二:此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布(Gaussian)结果,右图为Nicomp多峰分布算法结果,两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间,却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰,即如数据呈现,体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求,我司的Nicomp 3000 N3000会配备相应的配置,旨在为客户们在控制成本的基础上,得到需求的解决方案。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加,Nicomp 3000的功能体系越来越强大,可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 带有的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差,且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度,这大大缩短了测试者宝贵时间,且无需培训,测试结果重现性好,误差率<1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中,考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求,对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号,使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样,大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助,比如在检测右旋糖酐大分子时,折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性,会弥补散射光强的不足和衰减,测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离,Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD-LDC)超高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器(相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果)。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度,如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团,他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低,这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块,在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175,步长0.7°的多角度测角器,从而使得单一90°检测角测试不了的样品,通过调节角度进行检测,改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构: 1.前言 2.动态光散射原理 3.动态光散射理论:光的干涉 小知识:光电倍增管(PMT) 小知识:光电二极管(APD) 5.粒子的扩散效应 6.Stoke-Einstein方程式 7.自相关函数原理 前言 近十几年来,动态光散射技术(Dynamic Light scattering, DLS),也被称为准弹性光散射(quasi-elastic light scattering, QELS)或光子相关光谱法(photon correlation spectroscopy, PCS),已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布(PSD)的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am(0.005微米)到10几个微米。DLS技术的优势相当明显,尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时,在此区间,其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此,基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布,包括合成的高分子聚合物(如乳胶,PVCs等),水包油和油包水的乳剂,囊泡,胶团,微粒,生物大分子,颜料,燃料,硅土,金属晶体,陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定,每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积(在特定浓度下)成比例关系,再带入其他影响参数比如折射率,这就是经典光散射(Classic light scattering)的理论基础。 图1:DLS系统示意图动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,不再关注于光散射的光强值,而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说,我们在一定角度(一般使用90°角)检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散,光强值不断波动,理论上存在有非常理想化的波动时间周期,此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ,我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式,我们最终可以计算得出颗粒的半径(假定其是一个圆球形状)。动态光散射理论:光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动,我们必须先理解相干叠加(coherent addition)或线性叠加(superposition)的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光,这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系,这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起,或者叫干涉在一起,最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值,在DLS系统中,绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管(PMT) 光电倍增管(Photomultiplier,简称PMT),是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍,使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电二极管(APD) 光电倍增管是由玻璃封装的真空装置,其内包含光电阴极 (photocathode),几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极,产生光电效应,产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管,电子被加速到二次发射极产生多个二次电子,通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般,经过一连串的二次发射极使得电子倍增到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的,而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益,低干扰,对高频信号有高灵敏度的优点,因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作,与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管(Avalanche photodiodes,简称APDs)为光电倍增管的替代品。然而,后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论: 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的,相反,他们以布朗运动(Brownian motion)的方式无规则的运动,布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此,到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动,这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起,在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化,进而产生有实际意义的波动,最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念,我们现在假定粒子是均一大小的,具有相同的扩散系数(diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快,将会导致光强波动信号变化很快;而相反地,大粒子扩散地毕竟慢,导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小(小,中,大)的粒子产生的散射光强变化,请注意,横坐标是时间t。 我们需要再次强调,光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动(位移)而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据(raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动,比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径,这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式:D=kT/6πηR (2)这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1;T是绝对温度;η是分散溶剂的额剪切粘度,比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊; 从上述公式2中我们可以看到,通常情况下,粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如,纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊,和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问,溶剂的粘度越小,粒子的无规则扩散速度会越大,从而导致光强的波动也越快。因此,温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的,因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因,样本的温度必须保持恒定,而且必须非常精确,这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到,信号b比信号c波动地快,但是比信号a波动地慢,因为,信号b地粒径一定在a和c之间,这只是很直观地得到一个结论而已。然而,量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而,我们有数学方法来解决这个问题,这就是自相关函数(auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t),在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达:C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说,一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和,所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图,通过这张图,我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系,这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3 nm - 10 μm分析方法动态光散射,Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围1-14温度范围0℃-90 ℃(±0.1℃控温精度,无冷凝)浓度40%w/v激光光源至少35mW激光光源检测角度多角度(10°- 175°,包含90°,步进0.7°)检测器APD-LDC(雪崩二极光电倍增管,可7-10倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料)1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,微量进样10μL)分析软件必配科研级软件符合 21 CFR Part 11 规范分析软件(可选)验证文件有电压220 – 240 VAC,50Hz 或100 – 120 VAC,60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统,40Gb硬盘,1G内存,光驱,USB接口,串口(COM口)外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm辅助增益模块自动稀释模块自动进样器(选配)重量约26kg(与配置有关)配件大功率激光光源PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射,以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器(APD Detector)提供比普通光电倍增管(PMT)高7-10倍的灵敏度。自动稀释系统模块将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度,可稀释初始固含量为50%的原始样品,本模块收保护,其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差,此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整,可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品(≤40%)以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测自动滴定模块(选配)样品的浓度及PH值是Zeta电位的重要参数,搭配瑞士万通的滴定仪进行检测,真正实现了自动滴定,自动调节PH值,自动检测Zeta电位值。免除外界的干扰和数据上的误差,精确分析出样品Zeta电位的趋势。样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,最小进样量10μL)。自动进样器(选配)批量自动进样器能实现60个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具,能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛,纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以,控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。 磨料磨料既有天然的也有合成的,用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY)化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计,对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。 陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛,从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制产品的性能和质量。 粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似,但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。 涂料涂料种类繁多,用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用,产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范,必须严格遵守和执行,以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂,它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收,而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系,通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型,一种是水分散在油中,另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶(水包油型)和黄油(油包水型),加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系,通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型,一种是水分散在油中,另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶(水包油型)和黄油(油包水型),加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 食品食品的原料(粉末及液体)通常来源于不同的加工厂,不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制(QA/QC)的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质(如:油)越来越昂贵,延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中(如:油浴润滑介质或液力传递介质),因此需要一种方法来确定介质(油)的更换周期。通过监测工作介质(油)中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展,打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下,且分布均匀,大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的,可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程,以保证墨水的颗粒粒度分布均匀,避免产生聚集的大颗粒。 胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后,其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒,这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等
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  • Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号:PSS Nicomp N3000 Plus工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。技术优势1、APD(LDC)超高灵敏度检测器;2、多角度检测(multi angle)模块;3、可搭配不同功率光源;4、精确度高,接近样品真实值;5、快速检测,可以追溯历史数据;6、结果数据以多种形式和格式呈现;7、符合USP,CP等个多药典要求;8、无需校准;9、复合型算法:(1)高斯(Gaussion)单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级;(1)可自动稀释模块;(2)搭配多角度检测器;(3)自动进样系统(选配);Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点,Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一:Nicomp多分分布数据呈现 如图一:此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由图中可以看出,其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可见,Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果,更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计,Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。图二:高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二:此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布(Gaussian)结果,右图为Nicomp多峰分布算法结果,两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间,却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰,即如数据呈现,体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求,我司的Nicomp N3000会配备相应的配置,旨在为客户们在控制成本的基础上,得到需求的解决方案。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加,Nicomp 3000的功能体系越来越强大,可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差,且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度,这大大缩短了测试者宝贵时间,且无需培训,测试结果重现性好,误差率<1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中,考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求,对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号,使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样,大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助,比如在检测右旋糖酐大分子时,折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性,会弥补散射光强的不足和衰减,测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离,Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD-LDC)超高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器(相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果)。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度,如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团,他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低,这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块,在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175,步长0.7°的多角度测角器,从而使得单一90°检测角测试不了的样品,通过调节角度进行检测,改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构: 1.前言 2.动态光散射原理 3.动态光散射理论:光的干涉 小知识:光电倍增管(PMT) 小知识:光电二极管(APD) 5.粒子的扩散效应 6.Stoke-Einstein方程式 7.自相关函数原理 前言 近十几年来,动态光散射技术(Dynamic Light scattering, DLS),也被称为准弹性光散射(quasi-elastic light scattering, QELS)或光子相关光谱法(photon correlation spectroscopy, PCS),已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布(PSD)的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am(0.005微米)到10几个微米。DLS技术的优势相当明显,尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时,在此区间,其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此,基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布,包括合成的高分子聚合物(如乳胶,PVCs等),水包油和油包水的乳剂,囊泡,胶团,微粒,生物大分子,颜料,燃料,硅土,金属晶体,陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定,每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积(在特定浓度下)成比例关系,再带入其他影响参数比如折射率,这就是经典光散射(Classic light scattering)的理论基础。 图1:DLS系统示意图动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,不再关注于光散射的光强值,而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说,我们在一定角度(一般使用90°角)检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散,光强值不断波动,理论上存在有非常理想化的波动时间周期,此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ,我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式,我们最终可以计算得出颗粒的半径(假定其是一个圆球形状)。动态光散射理论:光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动,我们必须先理解相干叠加(coherent addition)或线性叠加(superposition)的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光,这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系,这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起,或者叫干涉在一起,最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值,在DLS系统中,绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管(PMT) 光电倍增管(Photomultiplier,简称PMT),是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍,使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电二极管(APD) 光电倍增管是由玻璃封装的真空装置,其内包含光电阴极 (photocathode),几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极,产生光电效应,产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管,电子被加速到二次发射极产生多个二次电子,通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般,经过一连串的二次发射极使得电子倍增,最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的,而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益,低干扰,对高频信号有高灵敏度的优点,因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作,与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管(Avalanche photodiodes,简称APDs)为光电倍增管的替代品。然而,后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论: 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的,相反,他们以布朗运动(Brownian motion)的方式无规则的运动,布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此,到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动,这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起,在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化,进而产生有实际意义的波动,最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念,我们现在假定粒子是均一大小的,具有相同的扩散系数(diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快,将会导致光强波动信号变化很快;而相反地,大粒子扩散地毕竟慢,导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小(小,中,大)的粒子产生的散射光强变化,请注意,横坐标是时间t。 我们需要再次强调,光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动(位移)而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据(raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动,比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径,这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式:D=kT/6πηR (2)这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1;T是绝对温度;η是分散溶剂的额剪切粘度,比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊; 从上述公式2中我们可以看到,通常情况下,粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如,纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊,和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问,溶剂的粘度越小,粒子的无规则扩散速度会越大,从而导致光强的波动也越快。因此,温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的,因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因,样本的温度必须保持恒定,而且必须非常精确,这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到,信号b比信号c波动地快,但是比信号a波动地慢,因为,信号b地粒径一定在a和c之间,这只是很直观地得到一个结论而已。然而,量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而,我们有数学方法来解决这个问题,这就是自相关函数(auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t),在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达:C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说,一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和,所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图,通过这张图,我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系,这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3 nm - 10 μm分析方法动态光散射,Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围1-14温度范围0℃-90 ℃(±0.1℃控温精度,无冷凝)浓度40%w/v激光光源至少35mW激光光源检测角度多角度(10°- 175°,包含90°,步进0.7°)检测器APD-LDC(雪崩二极光电倍增管,可7-10倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料)1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,微量进样10μL)分析软件必配科研级软件符合 21 CFR Part 11 规范分析软件(可选)验证文件有电压220 – 240 VAC,50Hz 或100 – 120 VAC,60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统,40Gb硬盘,1G内存,光驱,USB接口,串口(COM口)外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm辅助增益模块自动稀释模块自动进样器(选配)重量约26kg(与配置有关)配件大功率激光光源PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射,以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器(APD Detector)提供比普通光电倍增管(PMT)高7-10倍的灵敏度。自动稀释系统模块将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度,可稀释初始固含量为50%的原始样品,本模块可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差,此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整,可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品(≤40%)以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测自动滴定模块(选配)样品的浓度及PH值是Zeta电位的重要参数,搭配瑞士万通的滴定仪进行检测,真正实现了自动滴定,自动调节PH值,自动检测Zeta电位值。免除外界的干扰和数据上的误差,精确分析出样品Zeta电位的趋势。样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,最小进样量10μL)。自动进样器(选配)批量自动进样器能实现60个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具,能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛,纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以,控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。 磨料磨料既有天然的也有合成的,用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY)化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计,对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。 陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛,从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制产品的性能和质量。 粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似,但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。 涂料涂料种类繁多,用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用,产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范,必须严格遵守和执行,以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂,它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收,而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系,通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型,一种是水分散在油中,另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶(水包油型)和黄油(油包水型),加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系,通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型,一种是水分散在油中,另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶(水包油型)和黄油(油包水型),加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 食品食品的原料(粉末及液体)通常来源于不同的加工厂,不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制(QA/QC)的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质(如:油)越来越昂贵,延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中(如:油浴润滑介质或液力传递介质),因此需要一种方法来确定介质(油)的更换周期。通过监测工作介质(油)中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展,打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下,且分布均匀,大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的,可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程,以保证墨水的颗粒粒度分布均匀,避免产生聚集的大颗粒。 胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后,其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒,这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等
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  • 动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时,由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移,导致散射光信号随时间发生动态变化,该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关,而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小,颗粒大布朗运动速度低,反之颗粒小布朗运动速度高,因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律,使用光子探测器在固定的角度采集散射光,通过相关器进行自相关运算得到相关函数,再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统:采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路,充分满足空间相干性的要求,极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器:采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管,对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比; 采用边沿触发模式对光子进行计数,瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器:采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,实现了大的动态范围,并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统:基于半导体制冷技术,采用自适应PID控制算法,使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能:引入分位数检测异常值的方法,鉴别受灰尘干扰的散射光数据,并剔除异常值,提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法:采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数,基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布,测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高,颗粒间的相互排斥力越大,胶体体系愈稳定, 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动,单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时,会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动,与液体之间形成滑动面,滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程,通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路,替代传统电泳光散射的分立光路,使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰,有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析,获取需要细化分析的频谱范围,然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析,从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型,求解颗粒的双电层厚度,获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值,再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式,进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值:当双电层厚度远远小于颗粒的半径,即ka1,Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时,即ka1,Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合, 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能,一键式测量,自动调整散射光强, 无需用户干涉,自动优化光子相关器参数,以适应不同样品,让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能,让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行,测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表,以可视化的方式展示测量结果,让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标
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  • SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍: SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪是在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统,采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。 SZ901的性能和主要特点包括:◆经典90°动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm – 15μm◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析,可预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性◆加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术◆ 信号光与参考光的光纤合束及干涉技术◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器◆ 常规温度控制范围可达0°C - 90°C, 可选120°C, 精度±0.1°C◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术技术指标:测量原理动态光散射(DLS)、静态光散射(SLS)、电泳光散射(ELS)粒径测量角度90°粒径测量范围0.3nm -15μm*粒径度优于±1% (平均粒径,NIST可溯源标准样品)粒径重复性优于±1% (平均粒径,NIST可溯源标准样品)粒径测量小样品浓度0.1mg/ml粒径测量小样品量3ul*Zeta电位测量范围-600mV - +600mV电导率270mS/cm适用Zeta电位测量的粒径3nm – 100μm*电导率度±10%分子量范围340Da-2 x 107Da温度控制范围0°C - 90°C (120°C可选)温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器,自适应通道配置检测器高灵敏度APD系统重量17kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm(LxWxH)
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  • 动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时,由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移,导致散射光信号随时间发生动态变化,该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关,而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小,颗粒大布朗运动速度低,反之颗粒小布朗运动速度高,因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律,使用光子探测器在固定的角度采集散射光,通过相关器进行自相关运算得到相关函数,再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统:采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路,充分满足空间相干性的要求,极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器:采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管,对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比; 采用边沿触发模式对光子进行计数,瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器:采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,实现了大的动态范围,并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统:基于半导体制冷技术,采用自适应PID控制算法,使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能:引入分位数检测异常值的方法,鉴别受灰尘干扰的散射光数据,并剔除异常值,提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法:采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数,基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布,测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高,颗粒间的相互排斥力越大,胶体体系愈稳定, 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动,单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时,会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动,与液体之间形成滑动面,滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程,通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路,替代传统电泳光散射的分立光路,使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰,有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析,获取需要细化分析的频谱范围,然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析,从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型,求解颗粒的双电层厚度,获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值,再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式,进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值:当双电层厚度远远小于颗粒的半径,即ka1,Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时,即ka1,Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合, 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能,一键式测量,自动调整散射光强, 无需用户干涉,自动优化光子相关器参数,以适应不同样品,让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能,让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行,测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表,以可视化的方式展示测量结果,让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标
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  • 微量氮分析仪高灵敏度THA100N仪器功能基于等离子体发射光谱方法,微量氮分析仪高灵敏度THA100N采用智能化数字处理技术实现N2气体浓度的分析过程,用于工业流程和科学实验室中在线分析惰性气体(氩气或氦气)中的杂质N2气体浓度,具有自动化程度高、功能强、操作简便和数字通信等特点。技术指标 典型量程: 0~10×10-6; 0~100×10-6; 工作环境温度 : (5~40)℃ 稳定性: ±2%FS/24h 重复性: 1% 线性偏差: ±2%FS 响应时间(T90): ≤30s本仪器采用483mm(19″)嵌入式机箱,可安装于483mm(19″)标准机柜内。本仪器属于非防爆型电气设备,禁止在有爆炸危险的场所使用。微量氮分析仪高灵敏度THA100N样气条件样气温度: 5~40℃样气流量: 50mL/min~150mL/min含水量: 露点≤4℃含尘量: ≤0.1um不含杂质气体(O2, CH4, H2, CO) 微量氮分析仪高灵敏度THA100N工作原理 微量氮分析仪高灵敏度THA100N用高频高压电源电离气体,产生正电荷离子和自由电子,形成等离子体环境,其中的N2分子被电离成原子。正电荷离子、自由点在电场的作用下分别加速移向负极、正极。由于碰撞,离子和电子将自身能量传递给原子,使得气态原子被激发。原子被激发后,其外层电子发生能级跃迁,在返回基态时发射特征光谱。通过对特征光谱的检测,分析出微量氮气的浓度。技术优势原子发射光谱,准确度高。高频高压电离源,稳定性好,且无放射性问题。无消耗性部件,仪器使用寿命长。高精度MFC控制样气流量。彩色液晶屏显示,显示信息清晰。触摸屏操作,操作简便。4-20mA电流环输出。8路开关量(继电器)输出。RS232通信,易于扩展成RS485。典型工程应用领域l 空分系统l 氩气净化系统l 冶金行业l 科学实验室l 低温废物填充站
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  • Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号:PSS Nicomp N3000 Plus工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。技术优势1、APD(LDC)超高灵敏度检测器;2、多角度检测(multi angle)模块;3、可搭配不同功率光源;4、精确度高,接近样品真实值;5、快速检测,可以追溯历史数据;6、结果数据以多种形式和格式呈现;7、符合USP,CP等个多药典要求;8、无需校准;9、复合型算法:(1)高斯(Gaussion)单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级;(1)可自动稀释模块;(2)搭配多角度检测器;(3)自动进样系统(选配);Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点,Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一:Nicomp多分分布数据呈现 如图一:此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由图中可以看出,其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可见,Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果,更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计,Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。图二:高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二:此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布(Gaussian)结果,右图为Nicomp多峰分布算法结果,两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间,却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰,即如数据呈现,体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求,我司的Nicomp N3000会配备相应的配置,旨在为客户们在控制成本的基础上,得到需求的解决方案。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加,Nicomp 3000的功能体系越来越强大,可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差,且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度,这大大缩短了测试者宝贵时间,且无需培训,测试结果重现性好,误差率<1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中,考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求,对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号,使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样,大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助,比如在检测右旋糖酐大分子时,折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性,会弥补散射光强的不足和衰减,测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离,Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD-LDC)超高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器(相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果)。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度,如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团,他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低,这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块,在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175,步长0.7°的多角度测角器,从而使得单一90°检测角测试不了的样品,通过调节角度进行检测,改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构: 1.前言 2.动态光散射原理 3.动态光散射理论:光的干涉 小知识:光电倍增管(PMT) 小知识:光电二极管(APD) 5.粒子的扩散效应 6.Stoke-Einstein方程式 7.自相关函数原理 前言 近十几年来,动态光散射技术(Dynamic Light scattering, DLS),也被称为准弹性光散射(quasi-elastic light scattering, QELS)或光子相关光谱法(photon correlation spectroscopy, PCS),已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布(PSD)的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am(0.005微米)到10几个微米。DLS技术的优势相当明显,尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时,在此区间,其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此,基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布,包括合成的高分子聚合物(如乳胶,PVCs等),水包油和油包水的乳剂,囊泡,胶团,微粒,生物大分子,颜料,燃料,硅土,金属晶体,陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定,每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积(在特定浓度下)成比例关系,再带入其他影响参数比如折射率,这就是经典光散射(Classic light scattering)的理论基础。 图1:DLS系统示意图动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,不再关注于光散射的光强值,而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说,我们在一定角度(一般使用90°角)检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散,光强值不断波动,理论上存在有非常理想化的波动时间周期,此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ,我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式,我们最终可以计算得出颗粒的半径(假定其是一个圆球形状)。动态光散射理论:光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动,我们必须先理解相干叠加(coherent addition)或线性叠加(superposition)的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光,这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系,这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起,或者叫干涉在一起,最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值,在DLS系统中,绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管(PMT) 光电倍增管(Photomultiplier,简称PMT),是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍,使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电二极管(APD) 光电倍增管是由玻璃封装的真空装置,其内包含光电阴极 (photocathode),几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极,产生光电效应,产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管,电子被加速到二次发射极产生多个二次电子,通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般,经过一连串的二次发射极使得电子倍增,最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的,而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益,低干扰,对高频信号有高灵敏度的优点,因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作,与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管(Avalanche photodiodes,简称APDs)为光电倍增管的替代品。然而,后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论: 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的,相反,他们以布朗运动(Brownian motion)的方式无规则的运动,布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此,到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动,这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起,在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化,进而产生有实际意义的波动,最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念,我们现在假定粒子是均一大小的,具有相同的扩散系数(diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快,将会导致光强波动信号变化很快;而相反地,大粒子扩散地毕竟慢,导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小(小,中,大)的粒子产生的散射光强变化,请注意,横坐标是时间t。 我们需要再次强调,光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动(位移)而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据(raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动,比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径,这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式:D=kT/6πηR (2)这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1;T是绝对温度;η是分散溶剂的额剪切粘度,比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊; 从上述公式2中我们可以看到,通常情况下,粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如,纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊,和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问,溶剂的粘度越小,粒子的无规则扩散速度会越大,从而导致光强的波动也越快。因此,温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的,因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因,样本的温度必须保持恒定,而且必须非常精确,这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到,信号b比信号c波动地快,但是比信号a波动地慢,因为,信号b地粒径一定在a和c之间,这只是很直观地得到一个结论而已。然而,量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而,我们有数学方法来解决这个问题,这就是自相关函数(auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t),在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达:C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说,一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和,所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图,通过这张图,我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系,这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3 nm - 10 μm分析方法动态光散射,Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围1-14温度范围0℃-90 ℃(±0.1℃控温精度,无冷凝)浓度40%w/v激光光源至少35mW激光光源检测角度多角度(10°- 175°,包含90°,步进0.7°)检测器APD-LDC(雪崩二极光电倍增管,可7-10倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料)1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,微量进样10μL)分析软件必配科研级软件符合 21 CFR Part 11 规范分析软件(可选)验证文件有电压220 – 240 VAC,50Hz 或100 – 120 VAC,60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统,40Gb硬盘,1G内存,光驱,USB接口,串口(COM口)外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm辅助增益模块自动稀释模块自动进样器(选配)重量约26kg(与配置有关)配件大功率激光光源PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射,以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器(APD Detector)提供比普通光电倍增管(PMT)高7-10倍的灵敏度。自动稀释系统模块将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度,可稀释初始固含量为50%的原始样品,本模块可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差,此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整,可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品(≤40%)以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测自动滴定模块(选配)样品的浓度及PH值是Zeta电位的重要参数,搭配瑞士万通的滴定仪进行检测,真正实现了自动滴定,自动调节PH值,自动检测Zeta电位值。免除外界的干扰和数据上的误差,精确分析出样品Zeta电位的趋势。样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,最小进样量10μL)。自动进样器(选配)批量自动进样器能实现60个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具,能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛,纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以,控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。 磨料磨料既有天然的也有合成的,用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY)化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计,对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。 陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛,从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制产品的性能和质量。 粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似,但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。 涂料涂料种类繁多,用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用,产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范,必须严格遵守和执行,以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂,它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收,而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系,通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型,一种是水分散在油中,另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶(水包油型)和黄油(油包水型),加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系,通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型,一种是水分散在油中,另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶(水包油型)和黄油(油包水型),加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 食品食品的原料(粉末及液体)通常来源于不同的加工厂,不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制(QA/QC)的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质(如:油)越来越昂贵,延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中(如:油浴润滑介质或液力传递介质),因此需要一种方法来确定介质(油)的更换周期。通过监测工作介质(油)中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展,打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下,且分布均匀,大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的,可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程,以保证墨水的颗粒粒度分布均匀,避免产生聚集的大颗粒。 胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后,其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒,这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等
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  • 产品描述工作原理:粒度分布:动态光散射仪(Dynamic Light Scattering, DLS)ZETA电位:多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)检测范围:粒径范围:0.3nm-10.0μmZETA电位: +/- 500mV Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而 来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,同机采用 多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)检测ZETA电位。粒 径检测范围 0.3nm – 10μm,ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了 高斯( Gaussian)单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀 分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极,一个电极可以 使用成千上万次。另外,采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度,亦帮用户大大 节省检测成本。技术优势1、PMT高灵敏度检测器;2、可搭配不同功率光源;3、双列直插式电极和样品池,可反复使用成千上万次;4、钯电极;5、精确度高,最接近样品真实值;6、复合型算法: 高斯(Gaussion)单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换 相位分析法(PALS)和频谱分析法(FALS)自由切换7、快速检测,可以追溯历史数据;8、结果数据以多种形式和格式呈现;9、符合USP,CP等个多药典要求;10、无需校准;11、复合型算法:(1)高斯(Gaussion)单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换12、模块化设计便于维护和升级;(1)可自动稀释模块专利(选配);(2)搭配多角度检测器(选配);(3)自动进样系统(选配);
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  • 工作原理: 粒度分布:动态光散射仪(Dynamic Light Scattering,DLS) ZETA电位:多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS) 检测范围: 粒径范围:0.3nm-10.0μm ZETA电位:+/-500mV Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering,DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,同机采用多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS)检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm,ZETA电位检测范围为+/-500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯(Gaussian)单峰算法和拥有专利技术的Nicomp多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极,一个电极可以使用成千上万次。另外,采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度,亦帮用户大大节省检测成本。 技术优势 1、PMT高灵敏度检测器; 2、可搭配不同功率光源; 3、双列直插式电极和样品池,可反复使用成千上万次; 4、钯电极; 5、精确度高,最接近样品真实值; 6、复合型算法:高斯(Gaussion)单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换相位分析法(PALS)和频谱分析法(FALS)自由切换 7、快速检测,可以追溯历史数据; 8、结果数据以多种形式和格式呈现; 9、符合USP,CP等个多药典要求; 10、无需校准; 11、复合型算法: (1)高斯(Gaussion)单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换 12、模块化设计便于维护和升级; (1)可自动稀释模块专利(选配); (2)搭配多角度检测器(选配); (3)自动进样系统(选配);
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  • GL Spectis 8.0高灵敏度光谱分析仪介绍: 专为高精度光测试而设的先进光谱辐射计,能减少光学杂散光 全新GL SPECTIS 8.0是一款独特和综合的光谱辐射计,具有高灵敏度薄型背照式CCD图像传感器和减少光学杂散光的革新方法,这把光谱测量带到了一个前所未有的新高度。GL SPECTIS 8.0是市场上唯一一款使用创新OSR方法/减少光学杂散光/保证测试结果高精准度的产品。结合了高灵敏度光学系统,融合了薄型背照式CCD图像传感器,与传统的实验室测验设备相比,GL SPECTIS 8.0具备了许多传统设备不具有的优点。 主要特点: 薄型背照式CCD图像传感器GL SPECTIS 8.0l 减少光学杂散光 l 高灵敏度l 精准的校准l 低噪音l 高稳定和重复性的测量l 操作简单 不同的光源例如LED,荧光灯或者LCD显示屏 是需要不同的光学探测器。GL SPECTIS 8.0可实现和多种设备结合使用的功能,提供不同光源、显示屏以及LED光的测量方案。多种设备可以满足多种测量需求。为使仪器达到这种优异的性能,GL Optic 与世界级别的供应商合作为专业市场的要求提供解决方案。 应用领域:l 多种光源的测量:卤素灯,荧光灯l LED测量以及测试,根据CIE 127:2007的标准l 显示屏的测量l 工业应用上的快速生产过程控制 最新的光电子解决方案GL SPECTIS 8.0的光学系统采用了光谱学最新的技术解决方案。镜面/光栅/镜子光谱仪平台使用了硅透射光栅以及薄型背照式CCD图像传感器。该传感器以及电子在热方面稳定以及软件可以持续监测基础线层面。透射光栅提供了最高的透射性能以及高扩散效率。这些特征使积分时间大大缩短了很多,这对于光源测量的高精准度是非常重要的,以及在超快生产过程控制的领域起到非常关键的作用。薄型背照式的CCD传感器在宽光谱学范围提供了非常高的量子效率。这帮助了我们实现在UV,VIS 和NIR范围的高精准以及低噪音的光测量解决方案。这个平台的高光学分辨率在窄带光源测量以及在工业领域里的快速光源测量提供了理想的测试方案。 参考数据:
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  • 产品介绍:NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司(Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后,在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能,能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位,动态光散射技术测量粒子和分子粒度,以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术,并广泛采用全球化供应链的优质光电部件,例如进口雪崩式光电二极管(APD)检测器和He-Ne气体激光器等,加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法,保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度,使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作,以及测量数据智能评估,方便用户使用。工作原理:NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型装置仪器中集成了三种技术:动态光散射技术: NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪主要使用90度角动态光散射技术 (Dynamic Light Scattering/DLS) 来测量粒子颗粒和分子粒度。动态光散射技术也称为光子相关光谱 (Photon Correlation Spectroscopy/PCS) 技术。该技术利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号,再通过数字相关器得到相关函数 (Correlation Function),最后使用斯托克斯-爱因斯坦 (Stokes-Einstein) 方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径是和被测量粒子以相同速度扩散的等效硬球的流体动力学直径。 静态光散射技术: NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射技术 (Static Light Scattering/SLS) 测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术,用于表征溶液中的分子。因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度,使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射工作方式类似,当激光照射样品中的粒子时,粒子在各个方向上发生散射。与动态光散射技术不同的是,静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化,故称为 “静态光散射”。分子量单位为 Da(Dalton) 或g/mol。 电泳光散射技术: NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用激光多普勒微量电泳法(Electrophoretic Light Scattering/ELS)测量zeta电位。分子和粒子在施加的电场作用下做电泳运动,其运动速度和zeta电位直接相关。NS-90Z使用相位分析光散射法 (Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS),成功解决了毛细管电渗对测试的影响,并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。用途: NS-90Z纳米粒度及电位分析仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征仪器,适合需要较高粒度测量灵敏度,或者需要与使用90?散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用:&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体和乳液&bull 脂质体和囊泡&bull 粒子和表面的 Zeta 电位&bull 墨水、碳粉和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本&bull 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间&bull 了解产品稳定或不稳定的原因,提高产品保质期&bull 防止形成蛋白质聚集体&bull 增加蛋白质浓度时保持稳定性 技术参数:【粒径】1.测量范围:0.3nm – 5000nm(以样品为准)2.测量原理:动态光散射法3.重复性误差:<1%(NIST可追溯胶乳标样)4.最小样品容积:20μL5.最小样品浓度0.1mg/mL (以样品为准)【分子量】6.分子量测量范围:342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算(动态光散射)7.分子量测量范围:9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 (静态光散射)8.测量原理:动态光散射,静态光散射9.最小样品容积:20μL(需要3-5种样品浓度)【Zeta电位】10. 测量原理:电泳光散射11. 灵敏度:10mg/mL 66kDa 蛋白质12. Zeta 电位范围:不限于-500mV~+500mV13. 最高样品浓度:40% w/v (以样品为准)14. 最小样品容积:20μL15. 最高电导率:200mS/cm16. 检测技术:M3-PALS【系统硬件】17.检测角度:90°+13°18.激光光源:高稳定He-Ne 激光器,波长633nm,功率 4mW。19.激光安全:1类,符合CDRH 和 CE 标准20.检测器:雪崩式光电二极管(APD)检测器,QE50%21.相关器:采样时间25ns – 8000s,4000通道,1011动态线性范围22.冷凝控制方式:干燥空气吹扫*23.温度控制范围:0 °– 90°C 24.温度控制精度:± 0.1°C25.电源: AC 90 – 240V, 50 – 60Hz26.功率:50W【重量与尺寸】27.尺寸:320mm×600mm×260mm(W×D×H)28.重量:19 kg【运行环境】29.计算机配置:Intel Core 2 Duo,4GB内存,160G硬盘,显示分辨率1440×900 32bit及以上 30.计算机接口: USB 2.031.操作系统:Windows 7, Windows 10 32.温度范围:15°C – 40°C33.环境湿度:20% – 70%, 无冷凝34.需外接气源性能特点:【先进的光学系统设计】 NS-90Z纳米粒度及电位分析仪在一台仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三两种技术。使用电泳光散射技术测量zeta电位,使用动态光散射技术测量粒度及分子大小,使用静态光散射技术确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高,要求每个设计元素都必须实现优化,以确保高准确性和重现性。 NS-90Z采用光路密闭设计,防止污染。算法上使用全范围米氏理论(Mie Theory)。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序(SOP)简化常规测量;自动调节各种样品的设置;操作简单,无须准直、校正或保养;智能化,可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管(APD)检测器,灵敏度远高于光电倍增管(PMT)。成本高但保障优化的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器,4000通道,采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性,波长633nm,功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定,其控制精度达0.1℃,保障高重现性。软件功能:1.使用先进软件技术和界面,操作简单。2.全自动设置和测量:只需简单的培训即可设置仪器,包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序,确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估:仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单;含报表设计器,只需在指定的位置选择图形和输入参数,就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中,方便进行数据的比较。 7.数据分析:数据以图形或表格的形式给出,分布算法适合各种样品包括单分散样品,宽分布样品以及多种模式样品。8.具有完善的介质粒度数据库
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  • SEC-MALS多角度激光光散射系统,适用于HPLC&UHPLC,表征分子量、 尺寸、 构象多角度光散射技术,基于光散射首要定律,MALS可以直接测定溶液中大分子和纳米粒子的分子量和尺寸。可表征的物质:• 多肽和蛋白• 蛋白偶联物/复合物• 高分子和共聚物• 纳米颗粒• 类病毒颗粒• 脂质体和外泌体DAWN多角度光散射检测器的重要成员• 18角度激光光散射仪(DAWN): 灵敏度高、检测范围广• 3角度激光光散射仪(miniDAWN ): 适合一定分子量范围的蛋白和高分子• microDAWN: 为UHPLC设计怀雅特的多角度光散射检测器可兼容任何的:• GPC/HPLC/UHPLC/APC:安捷伦(Agilent)、沃特世(Waters)、岛津(Shimadzu)、热电(Thermo)等。• 蛋白纯化系统:GE (AKTA )、Bio-rad等。示差折光检测器 示差折光检测技术是一种通用的浓度测定技术,不受样品中发色基团或荧光吸收基团的影响。Optilab示差折光检测器主要用于:• MALS分析中的分子量测定• 特性粘度测定表征高分子构象和支化度• 三检测器表征共聚物和蛋白偶联物• 色谱峰的基本定量• 测定样品的dn/dc• 测定溶剂的折射率一款可与MALS检测器在相同波长下独立测定dn/dc的仪器,Optilab系列适用于不同的应用领域,并且可以测定溶剂折射率。SEC-MALS 应用聚集体和碎片UHPLC能够分离聚集体和片段,与MALS结合,可准确识别IgG样品中的少量碎片,放大100倍的插图中显示尽管每个聚集峰占单体总质量的百分之一, 但它们仍可被μSEC-MALS准确分析和识别。低分子量高分子和多肽亚甲基二苯基4,4' -二异氰酸酯 (MDI) 分子量只有250 Da,在THF中极易形成低聚物, 对于表征极小分子量的MDI分子,超高灵敏度的HELEOS和TREOS是必不可少的重要工具。聚集体和碎片蛋白偶联物和共聚高分子分析ASTRA的蛋白偶联物分析方法使用MALS、UV和RI检测器的数据来表征蛋白偶联物和共聚物。该方法可以测定蛋白、修饰物和偶联物的分子量,以及偶联物的平均消光系数和dn/dc。蛋白复合物和构象尽管IL4 trap分子量较低, 但是它却早于复合物IL4 trap:IL4 被洗脱出来。MALS中的MW分析(红色符号)表明MW值符合预期、在线DLS 的rh数据(蓝色空心符号)解释了复合物IL4-trap:IL4 较晚洗脱的原因:IL4与IL4-tarp复合后构象发生了变化,复合物的结构更紧凑。
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  • 产品详情日Tohuko超高灵敏度材料氧化分析仪CLA---化学发光分析系统 日本Tohuko Electronic Industrial生产的超高灵敏度材料氧化分析仪(CLA) 是一种利用化学发光原理,探测光子级化学发光的高性能仪器。超高的灵敏度使其能够用于分析探测氧化反应、热降解与光辐射所产生的极其微弱的化学发光。而这些微弱的化学发光通过常规测试手段如紫外可见光谱、荧光光谱等是无法检测的。 该仪器具有超高灵敏度、在线原位分析、在线监测整个氧化过程、分析速度快的特点,是研究材料氧化与降解行为,评价抗氧化助剂性能, 痕量样品检测的一种强有力工具。同时超高灵敏度材料氧化分析仪具有极其强大的功能,不仅可以用于研究聚合物,涂料,橡胶,树脂,粘合剂等材料,也可以用于检测食品,生化用品。 技术优势一 。 高灵敏度,快速测样:在氧化开始之初检测到微弱氧化二. 原位在线监测:在线监测整个氧化过程的发生三、操作与维护简单:模块化设计,极简设计 四、功能强大:不同温度选择,不同实验需求样品腔供选择
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  • Zetasizer Ultra 纳米粒度仪是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统,在结合了 Zetasizer Pro 和 Lab 特性和优点的基础上,增加了多角度动态光散射技术(MADLS),是 马尔文帕纳科Zetasizer Advance 纳米粒度电位分析仪系列中最智能和灵活的仪器。 这一旗舰型纳米粒度分析仪充分利用了 ZS Xplorer 软件的易用性、高分析速度和数据可靠性等优势,运用多角度动态光散射技术 (MADLS) ,提供与角度无关的高分辨率粒度测量,并且能够测量颗粒浓度*,帮助您更深入地了解样品。*限 Zetasizer Ultra 红标版本 (Red Label)特点和优点Zetasizer Ultra 纳米粒度分析仪融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统,它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围,而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 扩展功能可直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量适合于各类材料,只需很少稀释,并且使用快捷,这一切使其成为一种理想的筛选技术。Zetasizer Ultra 甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和类病毒颗粒 (VLP) 等样品。 Zetasizer Ultra 的关键特性和优点包括:用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角动态光散射法 (MADLS) 可以更深入地展现您的样品粒度分布 动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 (使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ;取决于样品和样品制备)电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位,以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围,即使是处理非常浓缩的样品,也能实现高灵敏度简单的每峰值浓度/滴度测量(仅限红标Red Label版本)可抛弃型毛细管粒度测量样品池提供了无损、低容量(最低 3 μL)分析,并且粒度上限范围可达到 15 μm具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用,并可轻松构建复杂的模型“自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据,同时计算速度超过以往的两倍,可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量,实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题,并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射(90°)测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片,以实现分析灵活性可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃和可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量,其中包括新的低容量可抛弃粒度测量池套件,由于它可以抑制对流,所以既能进行样品量小到 3 μL 的粒度测量,也扩展了DLS 测量的粒度上限范围主要应用Zetasizer Ultra 纳米粒度仪应用广泛,包括:学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具,广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛,被科学文献引用的次数达上万次,成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中,温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性,造成变性和聚集、功能丧失, 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选,并可协助配方开发, 从而优化流程和产品,消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位,以改善食品、饮料和调味料的外观及味道,并优化分散和乳化稳定性,从而延长产品保存期限,提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度分析仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质,比如更高的催化活性和溶解度,或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定,以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性(例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期)方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量,从而减少配方时间,加快新产品上市。消费品改良多种消费品时,需要了解和控制胶体参数,引导颗粒间的相互作用,并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度, 并测量乳液的液滴大小和稳定性。
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  • 日本NDK光泽度仪光泽度计 PG-IIM(多角度)特征符合JIS、ISO等各种工业标准。配备自动灵敏度切换功能,即使是镜面和高光泽样品也可以立即测量。规格型号:PG-02M(多角度)测量角度:20、60、85°(同时3点)测量范围:20°/0.1~2038G%、45°/0.1~1675G%、60°/0.1~1000G%、75°/0.1~378G%、85°/0.1~162G%光源:钨丝灯/5V 125mA功能:参考值设置/平均值内存:400条数据接口:RS232C电源:006P(9V)干电池×1(另售)尺寸:150×49.2×80mm重量:420g(不含电池)符合 JIS Z 8741、ISO 2813、ASTM 0523手持式 包装尺寸:150 x 50 x 80 mm  1 kg
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  • 优点:动态光散射粒度测试范围: 0.3 nm - 15 μm兼容可抛弃微量毛细管样品池,样品量最小达到3 μL扩展粒度范围分析方法,提高了大于1 μm粒度测量的精度,最大粒度大于10 μm(使用可抛弃毛细管微量样品池),临近微米和亚微米领域,降低了对其他技术的需求具有恒流模式的M3-PALS相位分析技术,可以在高导电介质中测量电泳迁移率和Zeta电位,减少了高离子浓度电极极化的误差采用创新的自适应相关算法,提供瞬态、稳态和未过滤的数据,识别与瞬态伪影相关的数据,极大的提高了数据的重复性,测试速度是以往的两倍以上通过深度学习实现的数据质量系统,帮助用户了解哪些粒度数据质量较差以及较差的原因。此外,该智能神经网络系统还会提供有关改进结果的建议,即使是经验不足的用户,也能得到可靠的数据能够在现场升级为更高端的Zetasizer Ultra型号参数Zetasizer LabZetasizer ProZetasizer Ultra粒度测量技术经典动态光散射(90°)动态光散射(非侵入式背散射-NIBS)动态光散射(173°、13°)动态光散射(非侵入式背散射-NIBS)动态光散射(90°、13°)多角度动态光散射(MADLS)测量角度90°, 13°173°,13°173°,13°,90°粒度范围(直径)0.3 nm - 15 μm0.3 nm - 10 μm0.3 nm - 15 μm最小样品体积3 μL12 μL3 μL最小样品浓度蓝标: 1 mg/mL红标: 0.3 mg/mL蓝标: 0.2 mg/mL红标: 0.1 mg/mL蓝标: 0.2 mg/mL红标: 0.1 mg/mLMADLS: 0.1 mg/mL最大样品浓度40% w/v40% w/v40% w/vZeta电位测量技术混合模式测量,相位分析光散射(M3-PALS),恒流模式适合测量的粒度范围(直径)3.8 nm – 100 μmZeta电位范围无有效限制迁移率范围 +/- 20 μmcm/VS最小样品体积20μL样品浓度范围蓝标: 10 mg/mL - 40% w/v 红标: 1 mg/mL - 40% w/v最大样品电导率260 mS/cm电导率精度± 10%颗粒浓度测量原理不适用不适用蓝标: 不适用红标: MADLS-颗粒浓颗粒浓度范围不适用不适用1 x 108 - 1 x 1012个颗粒/mL系统产品合规一类产品激光,EN 60825-1:2014 和 CDRH、LVD、EMC、RoHS激光衰减自动,透射率100%至0.0003%激光信息高性能He-Ne气体激光器, 633 nm最大功率输出: 4 mW(蓝标) / 10 mW(红标)检测器雪崩光电二极管(APD)温度控制范围0-120℃尺寸(宽 x 长 x 高)322 mm x 565 mm x 245 mm重量19kg电源要求AC 100-240 V,50-60 Hz, 4.0 A能耗最大值100 W,典型值45 W工作环境条件+10°C至+35°C,35% - 80%相对湿度(无冷凝)计算机接口USB 2.0 或更高版本
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  • 纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量:Microtrac以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解,经过多年的市场调研和潜心研究,开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术,融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体,无需传统的比色皿,一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比,NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计,配置膜电极产生微电场,操作简单,测量迅速,无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层,无需外加大功率电场,无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池,完全消除由于空间位阻(不同光学元器件间的传输损失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差异,分散介质的影响,颗粒间多重散射等)带来的光学信号的损失,结果准确可靠,重现性好。测量原理:粒度测量:动态光背散射技术和全量程米氏理论处理Zeta电位测量:膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率分子量测量:水力直径或德拜曲线光学系统:3mW780nm半导体固定位置激光器,通过梯度步进光纤直接照射样品,在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号,无需校正光路软件系统:先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力,包括图形,数据输出/输入,个性化输出报告,及各种文字处理功能,如PDF格式输出, Internet共享数据,Microsoft Access格式(OLE)等。体积,数量,面积及光强分布,包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保护,电子签名和指定授权等。外部环境:电源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz环境要求:温度,10-35°C国际标准:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008主要特点:&bull 采用先进的动态光散射技术,引入能普概念代替传统光子相关光谱法&bull “Y”型光纤光路系统,通过蓝宝石测量窗口,直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布,在加载电流的情况下,与膜电极对应产生微电场,测量同一体系的Zeta电位, 避免样品交叉污染与浓度变化。&bull 异相多谱勒频移技术,较之传统的方法,获得光信号强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性。&bull 可控参比方法(CRM),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度。&bull 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。&bull 快速傅利叶变换算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时间。&bull 膜电极设计,避免产生热效应,能准确测量颗粒电泳速度。&bull 无需比色皿,毛细管电泳池或外加电极池,仅需点击Zeta电位操作键,一分钟内即可得到分析结果&bull 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰,诸如光路中不同光学元器件间传输的损失,样品池位置不同带来的误差,比色皿器壁的折射与污染,分散介质的影响,多重散射的衰减等,提高灵敏度。产品参数粒度分析范围0.3nm-10μm重现性误差≤1%浓度范围100ppb-40%w/v检测角度180°分析时间30-120秒准确性全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子测量精度无需预选,依据实际测量结果,自动生成单峰/多峰分布结果理论设计温度0-90℃,可以进行程序升温或降温兼容性水相和有机相
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  • 产品简介: 美国布鲁克海文仪器公司一直被全球公认为光散射领域的先驱,它的每一项技术都代表着世界最高水平。基于多年光散射技术和经验开发研制的BI-MwA多角度激光光散射(绝对分子量测定)仪对光散射仪器进行了开创性的革新,解决了绝对分子量测定中存在的诸多问题,使得分子量表征更加客观与可靠。详细说明: 产品优势1.采用静态光散射的原理来表征聚合物的绝对分子量,是目前全世界公认的一种最行之有效的、最接近真实的方法。它的特点是更直接、更简单、更准确。2.采用35mW、635nm 的固体激光器作为光源,在7个角度同时测定散射光强随角度和浓度的变化,从而确定绝对分子量。BI-MwAZP软件可提供三种拟和方式,即Zimm、Berry和Debye,根据聚合物的不同情况选择其适合的拟和方式。3.从Zimm图中可以得到重均分子量Mw, 均方根回旋半径Rg和第二维里系数A2。4.BI-MwA:(1)用于单机测定Mw、Rg和A2,提供分子形状信息;(2)也可用于联机,即作为凝胶色谱的一个在线检测器,可以测定聚合物各个分布的Mw和Rg,并提供支化信息;(3)还可结合TDSLS配置,进行聚合过程动力学的研究、即实时监控聚合反应过程。5.BI-MwA可以附加NANODLS配置,从而兼具在流动状态下实时测量粒度及其分布的功能。典型应用1.石油化工:包括PS、PMMA、PAM、PVP、PEO、RUBBER等多种聚合物的研究和表征。2.生命科学:如各种人造组织(合成高聚物)的研究与改性。3.生物医学:蛋白质、多肽、及各种多糖的研究与表征。4.聚合反应的研究和控制:通过在线监测聚合反应得到分子量、转化率、粘度、浓度等的变化规律,更好地控制引发剂的用量及反应过。技术参数1.分子量测量范围:500~109Dalton2.分子尺寸测量范围:10~1000nm3.散射体积:20nL4.体积:样品池100μL5.背压:最大3.5MPa(500psi)6.角度:8个,通常为35,50,75,90,105,130,145以及参比角(标配)7.检测器:CCD,超高灵敏度
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