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发射仪

仪器信息网发射仪专题为您提供2024年最新发射仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括发射仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的发射仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合发射仪相关的耗材配件、试剂标物,还有发射仪相关的最新资讯、资料,以及发射仪相关的解决方案。

发射仪相关的仪器

  • ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体,如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试,对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布,而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED通常分辨率要求不高,可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高,可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统;宽波长范围(UV~IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统
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  • E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点,分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪,E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术,同时,E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术,采用固体样品直接进样的方法,全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题,是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计  电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合,新一代固体粉末分析技术;  Paschen-Runge(帕型-龙格)全谱光学系统,能测定需要分析的所有常规元素;  紧凑的小型台式设计,确保稳定可靠、易用便捷;  防溢出CCD高速数采系统,信噪比高、动态范围大;  高功率数控可编程光源,电流、电压、频率可控,提供更优的分析方法;  多重连锁和监控,确保操作安全可靠;  全自动电极激光对准系统;  粉末样品直接进样,方便迅速;  一键激发,立刻获得分析结果;  内置工作曲线,客户无需手动建线,切实提高工作效率;  软件开放所有高级功能,为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术  全谱平台拥有丰富的谱线信息,更易于元素扩展与方法开发;  基于全谱测量的数据,能够正确区分背景和谱线,有效提高测量精度;  - 方便查看谱线及干扰情况  - 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式  强大的自动谱线去干扰算法;  - 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线  - 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开,有效消除谱线的干扰  根据元素的含量范围选择不同的分析谱线,大含量范围的测量更准确;  - 多谱线结合,扩展分析范围的同时,有效保证分析精度;  - 避免灵敏线饱和,不需要消释样品,取得更大的分析范围;CCD高速数采系统  防溢出线阵CCD;  采用动态积分,有效扩展CCD的动态范围;Paschen-Runge(帕型-龙格)全谱光学系统  恒温型全固定光学系统;  全反射式光路;  光室结构紧凑;  一体式固定;  光学器件少,性能稳定;  基于CCD的全谱采集和分析;全新一代电弧数控光源  数控光源体积小、效率高;  基于数控可编程技术,光源的电流、电压、频率可调节;  分析不同含量的元素,选择最佳的激发参数,降低元素分析的检出线,改善元素分析的准确度;  可设置及读取不同检测阶段的数据;一键激发及全自动对准电极  样品装载激发一气呵成,方便快捷;  多元素同时分析,直接得到最终结果;  设计精良的电极挟持旋钮;  红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术;  水冷电极夹提高检测稳定性;多重连锁和安全保护  可靠的水冷系统,分别对电弧光源和激发电极散热;  实时监控仪器的运行状态,所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒;  界面上有关键温度的显示,第一时间查看仪器的运行情况;  排风监控,消除废气影响;  特殊的风道设计提高稳定性;水冷系统 强大的分析软件  便捷易用的分析软件;  - 操作直观、便捷、层次化的软件界面,非专业人员也能方便操作  - 简单的方法开发过程,各种检测条件都可调节  强大的多元素分析平台;  - 便捷的全谱查看  - 多元素分析及多谱线选择  - 一键激发,直接在软件上得到分析结果  - 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择  全面智能的软件算法;  - 内置工作曲线,完善的时序分析,能够实现定性、定量分析  - 丰富的处理技术,支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法  - 功能强大的高级处理功能,为客户带来更全面、更精确的分析体验  独创的智能漂移校正技术。
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  • 场发射透射电子显微镜TH-F120 TH-F120取名源自中华名山“太行”(TH),寓意TH-F120将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。产品特点肖特基场发射电子枪平行束/会聚束自适应切换照明系统对称式极靴、恒功率物镜 (高衬度/高分辨模式可选)高像素CMOS相机四轴高精度样品台全中文软件交互界面产品优势人机分离电镜空间与工作空间分离,减少人为干扰,提升安全性,带来舒适的使用体验高效操作各模块控制高度集成至PC端,全中文软件交互界面一目了然,提升操作效率越级体验将场发射电子枪、高自动化系统等配置120 kV平台,入门即高配丰富拓展预设充足的附件加装接口以及整机升级空间,满足用户使用新需求,有效应对多样的应用场景产品参数 高衬度版高分辨版加速电压10~120 kV10~120 kV信息分辨率0.20 nm0.14 nm点分辨率0.36 nm0.30 nm放大倍率10~1,200,000 x10~1,500,000x主相机像素4096×40964096×4096样品台倾转角-90 °~+90 °-70 °~+70 °支持拓展EDS、STEM、侧插式相机、EELS、插入式冷冻盒
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  • 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们
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  • 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们
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  • 半球发射率测定仪 400-860-5168转4338
    半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体(黑体)的辐射出射度的比值,体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率,适合太阳能电池组件,建筑隔热涂料,热控涂层等材料开发,工厂热能有效利用和节能设计。PM-E2半球发射率测定仪测量原理PM-E2半球发射率测量举例PM-E2半球发射率测定仪技术规格系统组成仪器包含积分球测量单元,光源,数据显示的操作单元。校正低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).测定方法 半球发射率εH半球发射率测定范围 0.05~0.95检测器波长范围 0.6~42μm(300K理论黑体总放射能量的95%)测定的不确定性 半球发射率值±0.03测定时间 1~3分基准样品 低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)高半球发射率εH=0.85@293K(Sheldahl制)电源 DC12V1A尺寸规格 操作部分:W145×D82×H32 (mm)测定部分:W125×D60×高74 (mm)重量 操作部分:约200g测定部分:约700g储存环境 温度:10~45℃湿度:50%RH附件 使用手册CD(驱动程序)USB数据线 (Type A-Type B)电源线
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  • EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪,可在3-35微米范围内测试半球反射率测试(总半球反射率),提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能,光谱范围250~2500纳米,主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um(并不限定于过滤器,窗等)测量精度(镜面反射和漫样品)-灰色样本满量程的± 1%- ± 3%满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5%或更好样品类型任何样品,包括金属箔,绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面:&ge 0.4英寸(1厘米)直径- 凹面: &ge 6.5英寸(16.5厘米)直径-凸面:&ge 1英寸(2.5厘米)直径 样品温度房间温度,环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率(300K)-半球发射率(300K)读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围(反射率)0.00~1.00尺寸光学头:直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位:4.5× 7.75× 7英寸便携包:12.5× 17× 11英寸重量光学头:5磅,控制和显示单元:4磅,携带箱:11磅保1年部件和人工
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  • 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们 新生儿听力筛查仪耳声发射仪,新生儿听力筛查仪耳声发射仪欢迎联系我们
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  • 阴极发射体 400-860-5168转2831
    阴极发射体 Kimball Physics设计和制造各种高性能电子发射器,以满足客户的各种需求。这些发射器专为高亮度、长寿命或坚固的可靠性而设计,用于Kimball Physics电子枪以及我们客户的高性能仪器和工具。阴极/发射器既有标准产品,也有定制设计,应用包括电子显微镜、光刻、X射线生成、自由电子激光器、电子加速器等。阴极发射体阴极类型: 阴极发射体基座类型:● 六硼化镧(LaB6)高亮度单晶 ● 带有Kovar或钼引脚的高公差陶瓷 LaB6高亮度单晶——标准和保护环 ● 标准陶瓷AEI底座 LaB6用于电子显微镜-适用于大多数系统 ● Compact Kimball Physics CB-104基座● 圆盘阴极 ● 各种显微镜底座 钽(Ta)标准耐火圆盘 ● 阴极也可以安装在客户提供的底座上 用于低温操作的氧化钡(BaO)涂层圆盘 钇(Y2O3)涂层铱盘,可承受较差的真空度阴极发射体选型参考表* electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI, Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6★★★ 更多电镜方面产品信息,比如,磁透镜、真空腔等,可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • 发射率测量仪 400-860-5168转6159
    1. 测量原理:定向半球反射(DHR) , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段,3-5卩m & 8-12pm3. 重复性:< 0.014. 便携式设计:良好的人体工程学外形设计,操作手感好5.彩色触摸屏:汉字界面、触摸操作、一目了然,一键测量,操作简便6.数据存储:Micro SD卡,最大2048条记录,分8组,TXT文件格式,方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪,是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术,以及人体工程学设计技术,新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比(DHR)测量原理,完成双波段 (3-5um和8-12um)发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计,集公司多项技术积累,吸收国际先进产品的技术与特点,具有携带方便、 操作简单、等优点,测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等,是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商:西安立鼎光电科技有限公司 生产商:西安中川光电科技有限公司联系方式:029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射(DHR), 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡(8Gbyte),最大2048条记录,分8组数据下载Data Download下载操作后,2048条记录,分8个TXT文件格式,保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池,18V3AH,持续工作时间>3小时,可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm(测量头)重量Weight2.3Kg(测量头)整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm(包装箱含电池、充电器、标准片等)整体重量Total Weight6.4Kg(包装箱含电池、充电器、标准片等)销售商:西安立鼎光电科技有限公司 生产商:西安中川光电科技有限公司 联系方式:029-818700902\
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  • D and S AERD半球发射率测定仪Emissometer可快速测量各种固体表面的发射率。 半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。 原理: 加热探测器内的热电堆,使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系,通过比较高、低发射率标准板与试板表面温差的大小,得出试板的发射率。ASTM C1371-15(2022) Standard Test Method for Determination of Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers.(便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定)。GB/T 25261-2018 建筑用反射隔热涂料(半球发射率)。GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。GJB 2502.3-2015 航天器热控涂层试验方法 第3部分: 发射率测试(辐射计法(方法2031))。HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。JG/T 235-2014 建筑反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。JG/T 375-2012 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料(半球发射率的测定)。JC/T 1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 主要特点:1. 发射率数字显示,从0.01~1.00,重复性±0.01。2. 测量时间短(约15秒)。3. 低价格,且操作容易。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 技术参数: 检测器部份:测定波长: 3~30μm。 重复性: ±0.01发射度単位。 输出: 约2.5mV。 响应时间: 约10秒。 电源: AC100~240V。 主机部份:精度: 显示値±0.3%。 环境温度: -10?40℃。 尺寸: 80(W)x152(D)X51(H)mm。 电源: DC9V。 重量: 约370克。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557
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  • 地下水修复发射器 400-860-5168转1377
    703型Waterloo地下水修复发射器1.8英寸, 3.8英寸和5.8英寸Waterloo地下水修复发射器 Waterloo地下水修复发射器是一种简单低成本的设备, 它设计用来受控并且统一的释放氧气或者其他生物提高调整剂, 从而促进和维持原位污染地下水生物降解所需的微生物的生长。 使用专利的技术*使得可以通过加压的硅有机树脂或者LDPE(低密度聚乙烯)管来稳定而又直接的将氧气扩散到一个地下蓄水层中. 氧气持续而稳定的释放到管中, 这就创建了一个非常理想的浓度梯度, 驱动着这个被动系统, 不会因为形成气泡而溢出过剩氧量。 发射器非常适合于需氧的BTEX和MTBE生物降解. 扩散过程为增强需氧生物降解提供了即时的分子氧生物利用率, 因此不会发生损失调整气体的情况. Waterloo地下水修复发射器还能促进需要的无机反应(pH调整, 水解等)。 简单的多功能系统 Waterloo地下水修复发射器可以适配2英寸, 4英寸和6英寸(50毫米, 100毫米和150毫米)的井. 它们可以安装在开放井中, 或者使用沙袋永久性的安装在钻井或者沟渠中. 51英寸(130厘米)长的Waterloo地下水修复发射器可以单独的或者以叠加到另一个发射器顶端的方式来安装, 以便确保完全覆盖污染羽状物. 它们还可以在水平应用中使用. 因为无需最小液压压头, 发射器在水下任何深度都有效. 当连接在封隔器和/或循环泵时, 作用半径也会增加. Waterloo地下水修复发射器独特的扩散技术允许使用任何化学物当作调整剂来治理受到污染的地下水. PVC框架容纳了监测或者采样设备以便在补救过程中观察地下水状况. 工作原理 Waterloo地下水修复发射器由盘绕在一个PVC骨架上的硅有机树脂或者聚乙烯管组成. 当液体被引入管中时, 一个浓度梯度便在管和地下水之间建立. 发射器工作原理是菲克扩散定律, 扩散会一直发生, 直至管内外的化学物浓度有了平衡. 使用发射器技术, 氧气(或其他调整剂)被持续地补充, 因为地下水持续地流经发射器, 所以平衡永远不会发生. 这便导致从发射器到地下水有持续的扩散. 当气体被应用于发射器时, 施加压力的增量和扩散到地下水的气体增量之间有一个正相关, 然而扩散是调整剂被添加到地下水的唯一的机制. 安装如果一种增强气体被用于补救, 可以使用小型或中型尺寸的高压气筒. 根据需要的增强气体的量来选择发射器管并设置气压. 单个高压气筒可以为多个串联的发射器提供气源.发射器管内的气体补充可以通过定期的清洗来实现(1-2周一次) 或者在系统的末端使用针形放泄阀来缓慢而恒定的补给. 1、确定目标 用驱动点剖面器来为使用发射器绘制/描绘的污染羽状物的加强生物降解, 确定最有效的区域, 2、确定数量 - 使用多级系统来精确的描绘污染物的面积和运动 - 使用离散监测系统更精确的聚焦补救策略 - 监测修复效果3、解决问题 使用Waterloo地下水修复发射器为受污染的地下水受控的释放氧气(或其他调整剂) – 不起泡。示意图显示了使用Waterloo地下水修复发射器的分段羽状物补救, 使用放在斜坡下面的CMT地下水连续监测系统或Waterloo多水位地下水监测系统的横切来监测. 应用 为BTEX和MTBE的需氧生物降解释放氧气 为溶剂的厌氧还原去氯释放氢气 为当作示踪物而引入溶解的SF6, 氩等 为调整pH值而释放二氧化碳 释放轻质烷烃以促进MTBE的新陈代谢生物降解 羽状物迁移屏障, 首要补救设备或者抛光优点 低成本 为恒定的微生物活性稳定的释放补救剂 易于安装和卸载 最少的维护和操作 没有因为起泡而造成调整剂损耗 没有引入或造成有害物质 无泥浆混入, 处理或注入 无需电子设备
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  • ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计,内置积分球、红外光源、微型控制处理器等,采用电池供电、触摸屏显示,具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时,只需将仪器对准物体表面,扣动扳机后,自动进行反射率测量,测量完成后,会在显示屏上显示测量结果,同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内,可供用户后续处理和分析数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角,6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段:1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面测量时间10秒/次;90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计,测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg,含电池
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  • 410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的,可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm,红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数,通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射,通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用,可现场测量,操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接,该仪器可作为一个手持单元操作,一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样,并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内,测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围:从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作,内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比,漫反射比,和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段:335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段:1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面测量时间10秒/次;90秒预热光源VIS:钨灯,IR:铬铝钴合金测量探头模块化设计,测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg,含电池
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  • ET10 高精度便携式发射率测量仪,可测量任何不透明材料的发射率;获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时,不同温度下的反射率与波长是不变的,所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来,ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时,将仪器对准测量样品表面,按下扳机即可记录数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体:Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用,具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段:3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面:任何表面,6” 半径凸面,12” 半径凹面测量时间10秒/次;90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计,测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境: -25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg,含电池
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  • RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪,采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术,以及人体工程学设计技术,实现对材料红外波段(2-22um)发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计,具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪,可广泛应用于各种工业材料发射率的测量,是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理:定向半球反射(DHR),20°±1°入射;&bull 测量波段:2-22um;&bull 重复性:±0.02;&bull 便携式设计:良好的人体工程学外形设计,操作手感好;&bull OELD单色屏:一目了然,一键测量,操作简便;&bull 数据记录:最近32条测量记录,方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”,OLED点阵屏,单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录,EEPROM存储,关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃,非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃,非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm(包装箱含电源适配器,标定片等)整体重量 2.5Kg产品外形 注:技术指标作产品介绍使用,仅供参考,以产品随机说明书为准,如有变更,恕不另行通知。
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  • SAMOS声发射系统 400-860-5168转3568
    产品简介:名称:SAMOS声发射系统品牌/产地:美国型号:应用:SAMOS系统是第三代全数字化系统,其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板,在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。 详细介绍:SAMOS系统是PAC公司第三代全数字化系统,其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板,在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。是PAC公司目前集成化更高、价格更低的系统,更适用压力容器检测等工程应用。 SAMOS(PCI-8)系统的主要特性:l 每一PCI-8卡具有8个声发射通道;l PCI总线提供声发射数据与PC机的传输速度可达132MB/S;l 每通道4个高通,4个低通模拟滤波器,可通过软件进行控制来组成13个率波段;l 输入电压范围:±10伏;l 每通道自动带有平方器以获取真实能量及RMS信号;l 16位A/D精度,3MHz采样率;l 每个PCI-8卡的2个外参数的输入更新速度可达10000个数据/S;l 并行的FPGA处理器和ASIC IC新片可提供非常高的性能和更低的成本;l 硬件实现的AE特征采集提供高速传输下的高速特征采集及实时分析;l 实时/同步声发射特征抽取及波形采集/分析;l 方便使用的SMB连接头;l 1KHz-400KHz的带宽;l 内置的波形处理功能、DMA技术及PCI总线结构可较大限度的实时采集/处理及传输所有通道的AE参数及波形数据以满足高水平声发射应用的要求;l 数字信号处理器可达到高精度和可信度的要求;l 可提供Labview/C++驱动开发程序。 咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(安赛斯)工作人员。
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  • ET10 高精度便携式发射率测量仪,可测量任何不透明材料的发射率;获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时,不同温度下的反射率与波长是不变的,所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来,ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时,将仪器对准测量样品表面,按下扳机即可记录数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。
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  • 声发射系统主机 400-860-5168转3568
    产品简介:名称:声发射系统主机品牌/产地:美国型号:应用:通用性的PCI插槽式系统,提供较大的整机性能,方便的一机多系统,增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡,用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统;用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 详细介绍: 通用性的PCI插槽式系统,提供较大的整机性能,方便的一机多系统,增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡,用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统;用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 天候在线监测系统SH-II(SHM) 4通道无线系统1284 USB总线专用声发射仪 单机较大通道(112通道)机箱SAMOS-112 核电专用机柜LPMS 两通道掌上系统 咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(安赛斯)工作人员。
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  • 远红外发射率测试仪 纺织品发射率红外性能测试仪用途:用于各类纺织产品,包括纤维、纱线、织物、非织造布及其制品等采用远红外发射率的方法测定其远红外性能。测试原理:将标准黑体板与试样先后置于热板上,依次调节热板表面温度使之达到规定温度,用光谱响应范覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到稳定后的幅射强度,通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比,从而求出试样的远红外发射率符合标准:GB/T3012741远红外发射率的测定仪器特性:1、采用触摸屏控制和显示,菜单式操作模式,方便程度堪比智能手机2、核心控制部件采用自主研发组成多功能主板3、仪器表面喷涂采用优质静电喷塑工艺,整洁美观。4、采用光学调制技术,测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响5、为了确保仪器的测量精度,在仪器设计中,考虑到样品漫反射引起的测量误差,系统自带修补功能和自定义窗口设置6、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术,较好地实现了对微弱信号的探测进一步提高了仪器性能7、在测量过程不会损伤被测样品,操作简便,灵活性高;8、配USB接口和联机接口及操作Windows软件9、配套温自主研发测控系统
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  • 技术介绍:系统采用双传感器设计,可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量;原理用途:物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以,通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节,同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量,以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点:1. 扫描尺寸:700mm;2. 适配石墨盘:大部分商用石墨盘;3. 扫描分辨率:径向分辨率0.05mm,角度分辨率0.1°,用户可自定义;4. 扫描时间:10 分钟(465mm 尺寸的石墨盘,以径向1mm,角度0.1°测量);5. 测量光点尺寸:2mm6. 光源波长:940nm 或660nm(可选);7. 镜漫反射率分辨率:±0.005;镜漫反射率准确度:±0.01;发射率分辨率:±0.01;发射率准确度:±0.02;8. 系统为离线测量设备,便于石墨盘的装卸。软件操作简单,专为操作员及工程师设计;
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  • 光电子发射光谱 400-860-5168转3281
    专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统,用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点:1, 大气环境下使用2, 功能:光电子发射光谱+开尔文探针3, 测试能级:费米能级,导带底能量,价带顶能量,HOMO-LUMO,禁带宽度,功函数等4, 局域态密度 (Local Density of States, LDOS)5, 3分钟得到:费米能级,功函数,局域态密度6, 非接触无损测试,测试安装简单,操作容易7, 低能量的光子激发8, 提供校准用的标样9, 手动和全自动操作,稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪:样品由氮气保护,相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源,能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据:绝对功函数 HOMO : highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长,用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护,相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到: 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线
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  • 可见光谱仪是一种应用十分广泛的分析表征设备,广泛布局在科研院所、企业研发实验室等场景,在化学、生物、医药等领域发挥着不可替代的作用。市面上大多数可见光谱仪分为吸收谱仪和发射谱仪,且不具备空间分辨能力,这使得用户需要同时依赖多款设备对样品进行表征分析,不仅降低而分析效率,而且增加了不可靠性。本公司的吸收-发射谱仪实现同一样品位置的吸收-发射谱联采,极大提高了分析效率,而且通过将光斑减小到微米量级,为用户提供空间分辨性能。吸收谱波长范围200 – 1100 nm发射谱波长范围350 – 1100 nm激光波长350 – 800 nm光斑大小10μm – 1 mm
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  • 2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为: 1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受; 2) 四级聚光镜设计:为了最大程度发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制; 3)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS; 4)皮米样品台控制:标配的压电陶瓷控制样品台,可以在原子尺度上获得精准的移动; 5)全自动装样测角台(SPECPORTER):样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现,彰显其便利性及安全性; 6)成熟的冷场发射技术:将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上,可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析; 7)双超级能谱设计:可安装双超级能谱,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度; 8)节能减排:启用省电模式耗电量降低80%。
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  • 产品概述:DPR500是世界上第一台单双通道可选的计算机控制超声脉冲发射接收器,具有两个独立的通道,用户可以选择单通道也可以选择双通道,可以选择两个通道不同的带宽进行组合。DPR500采用远程脉冲前置放大结构,可大大减少探头和发射器之间因电缆长度而产生的损耗。广泛应用于超声显微镜、超声探伤、超声测厚、探头特性测量、材料特性测量等诸多领域。技术特点:◇ 两个独立的通道,可任意可选购单通道或双通道;◇ 50MHz、300MHz、500MHz带宽可选,各通道任意组合;◇ 远程脉冲发射器,前置结构,降低噪声;◇ 72/80dB增益低噪音接收器;◇ 脉冲回波模式(Pulse-Echo)、穿透模式(Through Transmission);◇ 可通过计算机自行开发相关应用。
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  • 产品名称:双通道高频脉冲发射接收仪产品型号:CTS-8072PR、CTS-8072PR+产品介绍:双通道高频脉冲发射接收仪是本公司最新研制的高频检测应用研究的专用仪器,具备低噪声和宽频带的接收放大电路,以及由高性能尖脉冲发生器和高压电源组成的尖波发射电路。CTS-8072PR+提供双通道数据采集功能,并可实现计算机同步控制。该仪器可应用于高频超声波探头的声学特性的评价以及性能指标的测试,也可应用于高频超声波自动化探伤系统探伤、厚度测量、材料特性测定等。功能特点:l 特殊设计匹配高频探头的尖脉冲发生器,上升时间<3ns,-160V~-200V可调;l 脉冲重复频率可调,最高50kHz;l 信号带宽:20KHz~110MHz(-3dB);l -6dB~+54dB,1dB步进的RF可调增益范围;l 20kHz或20MHz可选高通滤波器;l 500MHz采样率/12bit数据采集模块;l 标准网络接口,实现计算机同步控制及数据采集;l 提供本公司自主研发的30MHz、50MHz等系列高频探头。
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  • 简单介绍:Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪新一代ICP可称得上是小身材,高性能。凭借在ICP市场多年累计得经验,赛默飞世尔科技(原热电公司)研发出这款集小型化、集成化、人性化和智能化于一身得新一代ICP, 从而实现了 优异得仪器性能 高的工作效率 简便的操作 低的运行成本。详细介绍:Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪新一代ICP可称得上是小身材,高性能。凭借在ICP市场多年累计得经验,赛默飞世尔科技(原热电公司)研发出这款集小型化、集成化、人性化和智能化于一身得新一代ICP, 从而实现了更优异得仪器性能 高的工作效率 简便的操作 低的运行成本。Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪技术参数当今世界体积zui小的新型iCAP 6000系列等离子体发射光谱仪 优异的仪器性能 高的工作效率 方便的操作 低的运行成本 广泛应用于环境、石化、冶金、食品饮料、地球化学和水泥行业的普通和元素分析实验室Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪主要特点降低了气体消耗 改善了对于诸如砷(As)、锑(Sb)、硒(Se)和碲(Te)的元素分析性能全自动波长校正和补偿校正保证了长时间的优异稳定性第四代电荷注入式(CID)检测器RACID86 快速、可靠和便捷性能的常规分析,既可采用单一的等离子体炬垂直观测,也可采用双向观测 【谱质分析检测技术(上海)有限公司】谱质分析检测技术(上海)有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮,二手分析仪器租赁,公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器,包括:液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器,以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent(安捷伦)、Waters(沃特世)、Thermo(赛默飞)、AB sciex、Perkin Elmer(珀金埃尔默)、Dionex(戴安)、SHIMADZU(岛津)等品牌仪器,力求达到您的不同需求。关于谱质的服务: 1.仪器经过工程师维修测试,具备可以与新机相的性能状态,使您的科学实验流畅运行! 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼,节省出的经费则可以投入重要的实验项目! 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧,团队为您的仪器提供长期维修支持! 4. 仪器库存,无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件,均能现货供应!【谱质分析检测技术(上海)有限公司】联系人:李先生联系地址:上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F
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  • ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪产品介绍: ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪是公司经多年技术积累而开发的电感耦合等离子体发射光谱仪,用于测定各种物质(可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等)中的微量、痕量金属元素或非金属元素的含量,自动化程度高、操作简便、稳定可靠。 ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪广泛应用于稀土、地质、冶金、化工、环保、临床医药、石油制品、半导体、食品、生物样品、刑事科学、农业研究等各个领域。工作环境:内容 适应范围贮存运输温度 15℃-25℃贮存运输相对湿度 ≤70%大气压 86-106 kPa电源适应能力 220±10v 50-60MHz工作湿度 ≤70%工作温度 15℃-30℃ 技术指标:固态电源技术指标电路类型:电感反馈式自激振荡电路,同轴电缆输出,匹配调谐,功率反馈闭环自动控制工作频率:27.12MHz±0.05%频率稳定性:<0.1%输出功率:800W—1200W输出功率稳定性:<0.3%电磁场泄漏辐射强度:距机箱30cm处电场强度E:<2V/m 进样系统技术指标输出工作线圈内径25mm矩管,三同心型,外径20mm的石英矩管同轴型喷雾器外径6mm双筒形雾室外径34mm 氩气流量计规格和载气压力表规格1.等离子气流量计(100-1000)L/h (1.6-16L/min)2.辅助气流量计(10-100)L/h (0.16-1.66L/min)3.载气流量计(10-100)L/h (0.16-1.66L/min)4.载气稳压阀(0-0.4MPa)5.冷却循环水:水温20-25℃ 流量5L/min 水压0.1MPa 单色器技术指标光路:Czerny-Turner焦距:1000mm光栅规格:离子刻蚀全息光栅,刻线密度3600线/mm(可选用刻线密度2400线/mm)线色散率倒数:0.26nm/mm分辨率:≤0.007nm(3600刻线). ≤0.015nm(2400刻线)扫描波长范围:3600线/mm扫描波长范围:190—500nm 2400线/mm扫描波长范围:190—800nm步进电机驱动最小步距:0.0006 nm出射狭缝:12μm入射狭缝:10μm 光电转换器技术指标光电倍增管规格:R293或R298光电倍增管负高压:0-1000V稳定性<0.05% 整机技术指标:扫描波长范围:195nm~500nm(3600L/mm光栅)195nm~800nm(2400L/mm 光栅)重复性:(即短期稳定度)相对标准偏差RSD≤1.5%稳定性:相对标准偏差RSD≤2%
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  • 紫外阴极发射光源是一种深紫外光源,其通过利用电子束来进行发光,以此实现产品的“零汞”。该产品亮度的峰值波长是紫外LED的8倍左右,另外,其尺寸小巧紧凑,内涵一个内置电源,因此它可被安装到任何一种仪器中进行使用。特征:尺寸小巧,结构紧凑高亮度:约在紫外LED的8倍(310nm)不含汞使用寿命长:可保证5000小时的工作时间不需要额外进行电源和外壳的设计应用:荧光分析紫外固化环境分析材料的抗性评估详细参数 光谱波长分布发射分布外形尺寸(单位:mm)
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  • 产品概述:DPR300是一款计算机控制的超声脉冲发射接收器,具有极低的噪声接收响应和高性能的脉冲发射控制功能。连接超声探头和示波器使用,广泛应用于超声探伤、超声测厚、探头特性测量、材料特性测量等诸多领域。技术特点:◇ 35MHz带宽(60MHz可选);◇ 极低的噪声(49 µ Vp-p input referred @ 35 MHz BW);◇ 可调脉冲幅度高达475V(900V可选);◇ 16档阻尼值设定;◇ 可选的高低通滤波器(高低各6个);◇ 可选的脉冲阻抗和脉冲能量;◇ 80dB接收增益范围;◇ 操作模式:计算机控制、手动控制、计算机+手动◇ 可通过计算机自行开发相关应用。
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