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反射仪

仪器信息网反射仪专题为您提供2024年最新反射仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括反射仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的反射仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合反射仪相关的耗材配件、试剂标物,还有反射仪相关的最新资讯、资料,以及反射仪相关的解决方案。

反射仪相关的仪器

  • 2.介质膜反射镜A.介质膜激光反射镜:1)OML系列介质膜激光反射镜 命名规则:OML直径-波长-厚度OML系列激光反射镜选型表:型号名称面精度直径(mm)厚度(mm)入射角( ° )OML25.4-355-6.35355nm反射镜&lambda /10&phi =25.4T=6.3545OML20-441-4441nm反射镜&lambda /4&phi =20T=445OML25-441-4441nm反射镜&lambda /4&phi =25T=445OML25.4-441-4441nm反射镜&lambda /4&phi =25.4T=445OML30-441-5441nm反射镜&lambda /4&phi =30T=545OML50-441-5441nm反射镜&lambda /4&phi =50T=545OML20-488-4488nm反射镜&lambda /4&phi =20T=445OML25-488-4488nm反射镜&lambda /4&phi =25T=445OML25.4-488-4488nm反射镜&lambda /4&phi =25.4T=445OML30-488-5488nm反射镜&lambda /4&phi =30T=545OML50-488-5488nm反射镜&lambda /4&phi =50T=545OML20-532-4532nm反射镜&lambda /4&phi =20T=445OML25-532-4532nm反射镜&lambda /4&phi =25T=445OML25.4-532-4532nm反射镜&lambda /4&phi =25.4T=445OML30-532-5532nm反射镜&lambda /4&phi =30T=545OML50-532-5532nm反射镜&lambda /4&phi =50T=545OML20-633-4632.8nm反射镜&lambda /4&phi =20T=4452)紫外(深紫外)介质膜激光反射镜(进口)说明: 1.激光介质膜反射镜是一种在面精度为&lambda /10 的BK7 基板上,顺序镀上不同折射率的多层电介质膜的全反射镜。 2.此种膜层比Al+ 氟化镁(MgF2)膜更耐强激光,面精度是镀膜前的反射面的面精度。 3.入射角度为45° ± 3° ,平行度&le 3&prime 。 曲线图:TFM系列紫外(含深紫外)激光波长介质膜反射镜(SIGMA)选型表:
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  • 反射率反射率仪SSR-ER 400-860-5168转2592
    SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量,材料样品最小厚度可至6.4mm,太阳反射比和吸收比精确到0.001,重复性达到0.003。采用钨丝提供漫反射光源,测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供,标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定,仪器经过标准体定标后即可开始测量。默认操作模式下,仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟,钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值,灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储,计算太阳反射比并显示在LCD上,然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。
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  • 来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗)Apollo(阿波罗)是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器,被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户:英国国家美术馆,荷兰国立博物馆,美国大都会博物馆,古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆,日耳曼国家博物馆,美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术:“一种非破坏性的无损检测技术,它利用红外线穿透研究对象表层(颜料或漆层),对表层下面的详细纹理细节进行成像,从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测,通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化,是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上,Apollo(阿波罗)使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量,高对比度,分辨率达到5100×5100的红外反射图像,其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画,唐卡作品,图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿,素描草图和笔迹变化(经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现),识别后期修复及补色的微观变化,并且当使用我们提供的滤光片套装时,可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像,Apollo(阿波罗)是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于:1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片,分辨率5100×5100,传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统,提供柱状图分析,可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器,可进行大画幅作品的扫描,提供成像预览,节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面,拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统,减少了成像噪音,提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式,方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能,解决研究人员后期图像处理的困扰,非常实用。8. 体积紧凑,方便携带,可装入航空旅行箱。
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  • 自动反射调节仪 400-860-5168转1886
    7530自动反射调节仪UGO公司最新型号的自动反射调节器可用于多种逃避实验,根据不同的反射条件设置可以进行穿梭实验、定时实验、冲突实验、十字穿梭实验等。包括可编程记录器、活动笼、电子刺激器。刺激方式可选择声音、光、电击等,刺激的延迟时间、持续时间、暂停时间和强度可调。通过选配的打印机打印结果或通过软件连接到计算机进行记录分析。 【订货信息】产品型号产品描述产地7530自动反射调节仪(大鼠)UGO/ITALY7530-M自动反射调节仪(小鼠)UGO/ITALY
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  • 品牌:久滨型号:JB-106名称:逆反射系数测量仪一、产品概述:  JB-106型逆反射系数测量仪(逆反射测量仪、反光标识检测仪),是依据国家相关标准研制开发的测量仪器,该仪器的特点是固定角度即观察角为0.2°,入射角-4°,在此几何条件下,测量各种逆反光材料值,这一测量值也是表征这类逆反射材料的关键数据。二、符合标准: 符合GB/T26377-2010,JJG059-2004,GB23254-2009。三、优势及特点: 仪器采用精密设计的光学传感系统,配以32位单片微机作为数据处理核心,采用彩色液晶屏作为显示器件,汉字提示,清晰直观,简单易用。测试数据可以存储、查询。 仪器内部自带可更换充电电池,使用方便。仪器还可选配打印机及WIFI功能。四、测量原理: 在一定几何条件下,在单位光照下,反光材料在单位面积上产生的亮度值。采用逆反射系数来表示,单位:cd/lx/m2。五、技术指标:1.测量范围:0~1999 cd/lx/m22.不确定度:5%3.观察角:0.2°4.入射角:-4°5.光源:暖白光LED光源6.接受器:V(λ)校正7.适用环境温度:-10°~ 40°8.相对湿度:80%9.外形尺寸:200x155x59 mm10.电源:9V/800mAh锂离子充电电池(可更换)
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  • 光谱反射仪 400-860-5168转3855
    光谱反射仪(SR)系列是一款相对较低成本和操作简单的工具。SR 系列特征:简单易操作 最佳系统性能基于先进的光学设计 基于阵列的探测器系统保证快速测量 测量薄膜厚度和折射率可达5层 允许在毫秒内获得反射、透射和吸收光谱 可用于实时或在线厚度,折射率的监测 系统具有全面的光学常数数据库 先进的TFprobe软件允许用户使用NK表、分散或有效介质近似(EMA)每个单独的膜。 可升级到MSP(显微分光光度计)系统,SRM映射系统,多通道系统,大点的直接测量图案或功能结构 适用于多种不同厚度的基材 各种附件可用于特殊配置,如运行曲线测量曲面 2D和3D输出图形和用户友好的数据管理接口光谱反射仪型号:SR100SR300SR500
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  • 我是沈阳亿贝特光电有限公司,我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括:衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001:2015质量管理体系,提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号,想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品,我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。我是沈阳亿贝特光电有限公司,我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括:衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001:2015质量管理体系,提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号,想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品,我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。
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  • RQ反射测试仪 400-860-5168转1310
    仪器简介:RQ反射仪     Order N.O. 订货号 PACK 包装/测定次数 品名 1.16970.0001 1set RQflex 反射仪 1.16955.0001 1set RQflex 加强型反射仪 RQ反射仪测试条     Order N.O. 订货号 PACK 包装/测定次数 品名 1.16894.0001 50 pH测试条 1.16895.0001 50 pH测试条 1.16996.0001 50 pH测试条 1.16892.0001 50 氨氮测试条 1.16899.0001 50 氨氮测试条 1.16977.0001 50 氨氮测试条 1.16722.0001 50 白葡萄酒中亚硫酸根测试条 1.16980.0001 50 定影池测试条 1.16993.0001 50 钙测试条 1.16988.0001 50 铬测试条 1.16990.0001 50 钴测试条 1.16731.0001 50 过氧化物测试条 1.16974.0001 50 过氧化物测试条 1.16975.0001 50 过乙酸测试条 1.16976.0001 50 过乙酸测试条 1.16989.0001 50 甲醛测试条 1.16992.0001 50 钾测试条 1.16123.0001 50 碱性磷酸酶测试条 1.16721.0001 50 酒石酸测试条 1.16981.0001 50 抗坏血酸测试条( 维生素C) 1.16730.0001 50 空白条 1.16978.0001 50 磷酸根测试条 1.16994.0001 50 铝测试条 1.16991.0001 50 锰测试条 1.16979.0001 50 钼测试条 1.16985.0001 50 镍测试条 1.16121.0001 50 牛奶中过氧化酶测试条 1.16120.0001 50 牛奶中尿素测试条 1.16720.0001 50 葡萄糖测试条 1.16998.0001 50 铅测试条 1.16898.0001 50 润滑油pH测试条 1.16126.0001 50 碳酸根硬度测试条 1.16982.0001 50 铁测试条 1.16983.0001 50 铁测试条 1.16984.0001 50 铜测试条 1.16971.0001 50 硝酸根测试条 1.16995.0001 50 硝酸根测试条 1.16987.0001 50 亚硫酸根测试条 1.16732.0001 50 亚硝酸根测试条 1.16973.0001 50 亚硝酸根测试条 1.16896.0001 50 余氯测试条 1.05851.0001 50 脂酶测试条 1.16136.0001 50 总糖测试条 1.16997.0001 50 总硬度测试条 RQ反射仪加强型配套试剂     1.17940.0001 100 余氯,总氯测试试剂 1.17941.0001 100 亚硝酸根测试试剂 1.17942.0001 100 磷酸根测试试剂 1.17943.0001 100 氰根测试试剂 1.17944.0001 100 氯根测试试剂 1.17945.0001 100 钾测试试剂技术参数:RQ反射仪采用独特的反射光测试原理进行测试,入射光被带颜色的测试条吸收;通过测量被吸收的光的强度,被分析物的浓度被计算出来。 RQ反射仪有两种类型可供客户来选择: 1,基本型反射仪和加强型反射仪主要特点:测试系统由RQ系列反射仪,条行码和RQ反射试纸条组成. 仪器 仪器采用独特的反射光测试原理,条行码自动识别技术,避免操作误差 无须对仪器进行校正 仪器的双光束检测,同时进行两次测量,增加了分析测试的准确性 携带方便,操作简单,结果快速可靠,尤其适合现场分析 在农业平衡施肥,食品安全检测,葡萄酒酿造,环保等领域得到了广泛运用,并获得全球众多奖项。 有了默克RQ反射仪,从此您就不必等待许多天,用复杂的大型机器来对土壤植株样品进行分析测试,在田间地头,通过简单的几个按键,插入试纸条,几分钟您可以完成对土壤植株样本的测试并得到准确的数据!即使您从来没有使用过分析仪器,您依然可以自如的操作并得到准确的结果!
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  • 可变曲率半径反射镜/变焦反射镜姓名:谷工(Givin)电话:(微信同号)邮箱:激光加工质量非常依赖于激光束聚焦在工件上大小,通常激光加工中使用扫描振镜沿着工件的每个平面引导光点。然而,在大的偏转角度和/或厚的工件时,激光的焦点在Z方向上失去其位置。而基于Zwobbel-技术的可变曲率半径反射镜/变焦反射镜可以实时改变反射镜曲率,将激光焦点保持在扫描平面。在Zwobbel的zui小偏转下,激光加工系统的焦距可以在聚焦透镜的名义焦距处保持恒定,在zui大偏转时,聚焦透镜的焦距发生zui大位移。Zwobbel-可变曲率半径反射镜/变焦反射镜有以下优势:替代90°偏转镜2毫秒内完成对焦调整具有高达kHz频率的正弦工作机制孔径可达24mm支持所有波长的激光包含数字或模拟接口紧凑轻巧可变曲率半径反射镜/变焦反射镜主要型号参数:
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  • 双轴MEMS微型反射镜 这种无万向节的两轴(Tip/Tilt)MEMS扫描反射镜(微型反射镜)是一种光束控制(2D光学扫描)技术,应用在很多工业领域。该反射镜基于ARI-MEMS制造技术,光束扫描速度超快且功耗超低,它在两轴方向上反射激光角度可达32度。相比于大尺寸的振镜光学扫描仪,MEMS反射镜所需的驱动功率要小几个数量级。驱动器即使在全速连续工作时的功率也只有几个微瓦。MEMS反射镜完全由单晶硅制造,可得到优越的可重复性和可靠性。光学平面反射镜镀有要求反射率的薄膜。较大尺寸的反射镜是粘贴在驱动器上的。库存反射镜的直径范围从0.8mm到4.2mm,对于特殊应用可做到9.0mm。主要优势倾斜角是模拟量,这是与数字微型反射镜的主要差异,数字型不能用于任意方向上的光束控制。换言之,如果倾斜角要求是6.15o,只需要施加相应的电压就可以了,而且可以维持该角度任意长时间,几乎零功率消耗。点对点扫描,一个电压值对应一个角度值。模块化设计 动态模式扫描典型应用 投影展示3D扫描和雷达成像3D追踪和位置测量激光打标和雕刻远程通信自由空间通信生物成像规格参数 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商,致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域,可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有:微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态(脉冲)激光波前畸变检测干涉仪(用于流场、波前等分析)、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器,量子级联激光器,微型光谱仪,光机械,Oceanoptics,Thorlabs 。。。热线电话: / 传真:网址: /邮箱:
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  • 反射率仪SSR-ER 400-860-5168转2592
    SSR-ER太阳光谱反射率仪 SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量,材料样品最小厚度可至6.4mm,太阳反射比和吸收比精确到0.001,重复性达到0.003。 采用钨丝提供漫反射光源,测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供,标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定,仪器经过标准体定标后即可开始测量。 默认操作模式下,仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟,钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值,灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储,计算太阳反射比并显示在LCD上,然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。应用领域: 航空领域:热控制涂层 控制领域:镀膜、涂层 太阳能领域:吸收涂层、反射涂层、镜面和反射镜 技术参数: 定制测量头:标配测量头用来测量平面样品材料,可定制测量头用来测量曲面材料样品,如13mm直径圆柱面。 手柄:便于测量使用 12V便携供电套装:可连续测量5个小时的12V电池、充电器、运输箱 分辨率:LCD显示反射比、吸收比和透射比精确至0.001 重复性:±0.003 准确性:±0.002 漂移:5分钟预热,漂移小于每小时±1%或者读数+0.003 温度:电子组件最高操作温度60℃,测量头最高50℃ 湿度:最大80% 标准体:提供漫反射和镜面反射标准体,经过NBS定标 测量端口:1英寸直径,最小样品直径1.1英寸, 光源:插拔式可换钨丝灯 供电:100-240VAC通用电源 线缆:标配长度1.5m,可选长度10m 重量:测量头0.9kg,电子模块1.8kg,透射率附件4.5kg 透射率测量附件:SSR-T透射率测量附件可以和SSR-R反射测量头兼容进行样品太阳辐射透射率测量,透射率测量角度从法线方向至60°可调,采用漫反射光源 照明并测量。 SSR-T和SSR-R安装示意图如下: 订货指南: SSR-ER 太阳光谱反射率仪:包括电子模块SSR-E ,反射率测量头SSR-R,2个白瓷体,1个镜面标准体,黑体,6’信号电缆,卤素光源,光谱性能标准,通用电源,电源线和运输箱 SSR-ER-12V 太阳光谱反射率仪:包括电子模块SSR-E ,具有手柄的反射率测量头SSR-ER,可实现5个小时连续测量的12v电池和充电器,2个白瓷体,1个镜面标准体,黑体,6’信号电缆,卤素光源,光谱性能标准,通用电源,电源线和运输箱 可选项: SSR-T 透射率测量附件 产地:美国
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  • RT-V 反射透射测量仪 400-860-5168转4689
    一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪,采用进口氘卤二合一光源,结合高性能分光光谱仪,可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱,并进一步计算获得样品色坐标,以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制,支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源,光谱范围覆盖可见光到近红外范围;■ 支持全光谱范围反射率高精度量测,基于薄膜层上下界面反射光干涉原理,轻松解析单层至多层薄膜特征;三、产品应用 RT系列反射透射测量仪,可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量,并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数
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  • 仪器简介:ZRM1013+RL能仿真夜间行车时,车头灯照射路面标线所产生的反光度,ZRM1013QD可仿真路灯或白昼的散射光源,对于路面标线反光度的影响,提供客观而的参考依据技术参数:1.用于测量路标之日间及夜间的发射度2.适用于各种型式路标和各种干/湿路面情况3.存储多可达800组测量值或平均值4.可连接计算机或打印机进行标准格式的数据输出主要特点:技术规范:模拟距离:30m观测角度:2.29°照明角度:1.24°(RL),漫反射(Q d )测量面积:50×100mm测量探头:适配于V(λ)测量范围:0…20,000mcd.m-2.lx-1 (RL) 0…318mcd.m-2.lx-1(Q d )存 储 器:800个数据或平均值显 示 器:背光液晶显示器蓄 电 池:锂电 14.4V/5.4Ah尺 寸:560×190×280mm(L×B×H)重 量:7.1kg/8.4kg(包括ZRC1013+)符合标准:EN 1436,ASTM E 1710
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  • 我是沈阳亿贝特光电有限公司,我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括:衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001:2015质量管理体系,提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号,想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品,我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。我是沈阳亿贝特光电有限公司,我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括:衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001:2015质量管理体系,提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号,想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品,我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。
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  • 漫反射涂料-Spectraflect Spectraflect涂料采用硫酸钡及专有配方配制而成,采用这种涂料制成的表面具有近乎完美的漫反射特性。Spectraflect在紫外-可见-近红外光谱区内通常被用作反射涂料,且在300至2400 nm的波长范围内最为有效, 其在可见区域内的反射率通常可达96%-98%。Spectraflect在100° C左右的温度下具有热稳定性。其损伤阈值为1.7 J/cm2。它可通过喷涂的方式被轻松涂覆在任何基板上,Labsphere向客户提供喷涂服务,并在大型或复杂的项目中进行现场喷涂。 应用光学元器件积分球反射灯罩涂层光谱漫反射板等产品特点: 高反射比高朗伯特性光学性能稳定无毒
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  • 中空回射镜傅里叶角反射器傅里叶回射器阵列朗伯光学中空回反射器的结构是三个平面反射镜(镀金或银)组成,采用空心结构,它能够使入射光沿着入射的方向以高精度回归反射回去,因此又被称为中空回归反射镜,中空回反镜,中空回射镜片,高精度中空回射器。中空回反镜好处在于整个回射光路在空气中,不会导致色差或材料吸收。型号选型:规则:LB(品牌:朗伯)-光束偏移(10/5/3秒)-涂层(金/银)-口径(单位英寸)例如:LB3Au-1,表示口径1英寸,光束偏移3角秒,镀金膜。宽波长范围,镀金膜700-2000nm,镀银膜400-1000nm型号通光口径/in/mm光束偏移/弧秒涂层LB3Au-0.50.5/12.73金膜LB5Au-0.50.5/12.75金膜LB10Au-0.50.5/12.710金膜LB3Ag-0.50.5/12.73银膜LB5Ag-0.50.5/12.75银膜LB10Ag-0.50.5/12.710银膜LB3Au-11/25.43金膜LB5Au-11/25.45金膜LB10Au-11/25.410金膜LB3Ag-11/25.43银膜LB5Ag-11/25.45银膜LB10Ag-11/25.410银膜LB3Au-22/50.83金膜LB5Au-22/50.85金膜LB10Au-22/50.810金膜LB3Ag-22/50.83银膜LB5Ag-22/50.85银膜LB10Ag-22/50.810银膜LB3Au-2.52.5/63.53金膜LB5Au-2.52.5/63.55金膜LB10Au-2.52.5/63.510金膜LB3Ag-2.52.5/63.53银膜LB5Ag-2.52.5/63.55银膜LB10Ag-2.52.5/63.510银膜LB3Au-55/1273金膜LB5Au-55/1275金膜LB10Au-55/12710金膜LB3Ag-55/1273银膜LB5Ag-55/1275银膜LB10Ag-55/12710银膜更多型号及其他相关产品,请关注朗伯光学微信公众号支持更多其他规格型号的定制!
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  • 逆反射系数测试仪 400-860-5168转3842
    逆反射系数测试仪RoadVista 932逆反射系数测试仪是一种用于现场测量逆反射材料光能的仪器,全新代的道路标志管理工具,具备强大便捷的逆反射系数测试与自动保存关键数据的功能。可用于对货车类机动车车身反光标识反光性能的测量,用于对生产逆反射材料反光质量的监测,以确保逆反射材料反光质量的监测,以确保逆反射标志材料达到有关标准规定的要求。 产品特点● 简易操作,可测试各种类型的反光材料● 符合 ASTM, CIE, ANSI, BS, EN & DIN 技术规范观测角0.2°to 2.0°连续可调● 入射角-45° to +45°连续可调● 世界通用的标准 “A”光源● 仅需块校正板,无需任何校正参数● 立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体● 原装发泡箱技术参数入射角-45°到+45°连续可调观测角0.2°到2°光源孔径张角0.1°光感应器孔径张角0.1°测试区域直径1英寸(25mm)区域光感应器响应速率光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章量程0-20000 cd/lx/m2数据存储超过32000组测试数据颜色测试CIE1931 xy retroreflected环境温度0°-50°环境湿度0-95%(非凝结)外形尺寸380*115*325mm重量2.9kg(含电池)
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  • EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪,可在3-35微米范围内测试半球反射率测试(总半球反射率),提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能,光谱范围250~2500纳米,主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um(并不限定于过滤器,窗等)测量精度(镜面反射和漫样品)-灰色样本满量程的± 1%- ± 3%满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5%或更好样品类型任何样品,包括金属箔,绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面:&ge 0.4英寸(1厘米)直径- 凹面: &ge 6.5英寸(16.5厘米)直径-凸面:&ge 1英寸(2.5厘米)直径 样品温度房间温度,环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率(300K)-半球发射率(300K)读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围(反射率)0.00~1.00尺寸光学头:直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位:4.5× 7.75× 7英寸便携包:12.5× 17× 11英寸重量光学头:5磅,控制和显示单元:4磅,携带箱:11磅保1年部件和人工
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  • 反射高能电子衍射仪(Reflection High-Energy Electron Diffraction)是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10~30KeV的单能电子掠射到晶体表面,通过衍射斑点获得薄膜厚度,组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。  R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪,以便于操作者使用的人性化设计,稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。特长 ◆可远程控制调节电压,束流强度,聚焦位置以及光束偏转◆带有安全闭锁装置◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩◆拥有高亮度衍射斑点◆电子枪内表面经特殊处理,能实现极低放气率◆经久耐用,稳定可靠◆符合欧盟RoHS指令   低电流反射高能电子衍射仪(Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction)是利用微通道板技术,大幅减少对样品损伤的同时,并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。特长◆大幅度减少电子束对样品的损伤(相当于普通RHEED的1/500-1/2800)◆带有安全闭锁装置◆搭载高亮度微通道板荧光屏◆可搭载差动抽气系统◆kSA400 RHEED分析系统兼容◆符合欧盟RoHS指令
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  • 标线逆反射测试仪 400-860-5168转3842
    标线逆反射测试仪符合标准标线逆反射测试仪符合所有ASTM E1709 ASTM E2540, EN12899要求并遵循ASTM D4956, EN471, ANSI 107, GB/T 28468, GB 20653测试规范。适用范围标线逆反射测试仪为现场作业及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪,设计用于测试反光材料的逆反射系数值(RA),包括夜间道路安全标识颜色标准(CIE 1931xy)、高亮度反光安全服、标线及其他反光材料。 技术参数量程(cd/lx/㎡)为0-20000; 世界通用的标准 “A”光源;观测角0.2°to 2.0°连续可调,步径0.1°;入射角-45° to +45°连续可调,步径1°;仅需一块白色校正板,且无需任何校正参数;具备遵循CIE 1931 xy retroreflected夜间色坐标的颜色测试功能;独立的电源供应器和电池2块;可通过屏幕或更直观的方式显示测试所需的各种参数如逆反射系数值或夜间色坐标数值等;通过内置蓝牙发射器或任何方式具备可以将设备连接手机、平板电脑等终端设备的功能;USB接口;内置均值计算器;具备可存储至少不小于32000组测试数据的记忆体。 标准配置932逆反射系数测试仪主机1台发泡箱1只测试点区域调整圆孔2个充电器1只电池2块校准板1块校验报告1份Windows软件系统1套
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  • spectralon目标板特点:耐用,可水洗不同反射率不受恶劣环境影响应用:背光照明环境测试目标板激光目标板光学反射器遥感目标板模拟靶标 Spectralon目标板的漫反射特性使其在较广范围的光照条件下能保持恒定对比度,故Spectralon目标板完全适合要求长期暴露在严苛环境条件下的实验室及野外应用。 标准的Spectralon目标板尺寸为是24平方英寸,它有白色或灰色两种材质,并被装在表面粗糙的阳极处理铝框中。它有白色或灰色两种材质,并被装在表面粗糙的阳极处理铝框中。每一份Spectralon目标板,我们附带提供在250~2500nm的波长范围内每隔50 nm的校准数据。所有校准数据可溯源至美国国家标准与技术研究院(NIST)。所有目标板都具有良好的热稳定性和化学稳定性且易于清洁。我们还能定制具有各种不同反射比值、面积最大达3*3m的目标板。 Spectralon对比目标板完全适合下列应用:摄像机、光密度计的校准,传输介质的对比度传递,以及在野外条件下的成像系统测试。这类具有化学惰性的目标板耐用、耐洗,它们由并排装在同一个阳极处理铝框上的白色漫反射面板(反射比为99%)和深灰色漫反射面板(反射比为10%)组成。 Spectralon多级目标板由并排安装的四块板组成,这四块板的反射比值分别为99%、50%、25%和12%,且每块面板与相邻面板之间的光密度差值和对比度相同。订货信息和规格Spectralon漫反射目标板型号 料号 漫反射率 尺寸inch 安装尺寸 (L x W x H inches)SRT-02-020 AA-00823-900 2% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-02-050 AA-00821-900 2% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-02-100 AA-00822-900 2% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-05-020 AA-00823-800 5% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-05-050 AA-00821-800 5% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-05-100 AA-00822-800 5% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-10-020 AA-00823-700 10% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-10-050 AA-00821-700 10% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-10-100 AA-00822-700 10% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-20-020 AA-00823-600 20% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-20-050 AA-00821-600 20% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-20-100 AA-00822-600 20% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-40-020 AA-00823-500 40% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-40-050 AA-00821-500 40% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-40-100 AA-00822-500 40% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-50-020 AA-00823-400 50% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-50-050 AA-00821-400 50% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-50-100 AA-00822-400 50% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-50-120 AA-00827-400 50% 12 x 12 12.25 x 12.25 x 0.65SRT-50-180 AA-00826-400 50% 18 x 18 18.25 x 18.25 x 0.65SRT-50-240 AA-00837-400 50% 24 x 24 24.25 x 24.25 x 0.65SRT-60-020 AA-00823-300 60% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-60-050 AA-00821-300 60% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-60-100 AA-00822-300 60% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-75-020 AA-00823-200 75% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-75-050 AA-00821-200 75% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-75-100 AA-00822-200 75% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-75-120 AA-00827-200 75% 12 x 12 12.25 x 12.25 x 0.65SRT-75-180 AA-00826-200 75% 18 x 18 18.25 x 18.25 x 0.65SRT-75-240 AA-00837-200 75% 24 x 24 24.25 x 24.25 x 0.65SRT-80-020 AA-00823-100 80% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-80-050 AA-00821-100 80% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-80-100 AA-00822-100 80% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-99-020 AA-00823-000 99% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-99-050 AA-00821-000 99% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-99-100 AA-00822-000 99% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-99-120 AA-00827-000 99% 12 x 12 12.25 x 12.25 x 0.65SRT-99-180 AA-00826-000 99% 18 x 18 18.25 x 18.25 x 0.65SRT-99-240 AA-00837-000 99% 24 x 24 24.25 x 24.25 x 0.65
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  • 反射式膜厚仪 400-860-5168转5895
    QUASAR-R100 是一款体积小巧的光谱反射式膜厚、折射率测量仪器,操作简单,极易上手,应用广泛,快速准确的提供各种薄膜厚度的测量,如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亚胺、透明导电层、光刻胶等介质薄膜、半导体薄膜以及各种涂层。产品特点 多参数测量可测量材料厚度、折射率(Refractive Index)、 消光系数(Extinction Coefficient)和反射率。 各种形状样品测量可测量例如4~8英寸的晶圆、方形样品或其他各种不规则形状样品。 软件功能丰富友善的用户界面以及灵活丰富的软件功能,各种丰富的数据分析及查看功能。 简单、易用测量流程简单,用户极易上手建立测量程式。 产品参数 ★Si基底上对厚度约500nm的SiO2薄膜样品连续测量30次数据的标准偏差 定制功能可根据客户需求搭配自动运动平台可根据客户需求配置小光斑
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  • 多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备,可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控,并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成,无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备,并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪,实现部分、乃至完全的自动化运行,自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪,以便发展新测量方法,研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分,可实现完全自动化,也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求,将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行,允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析,并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装,以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计,高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置,且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间,可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要,自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪,以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合,以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造,具有全球客户经验。
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  • 1 产品简介HRS-300是一款可以直接采集光信号的小型化光谱仪,采样范围涵盖350-1050nm的光谱信号。设备软件使用安卓系统架构,操作简单,反馈迅速,能够对光谱信号进行原始光谱、透射率、反射率等光谱特性测量。同时小型化、集成化的设计赋予仪器便捷性与可操作性,尺寸控制在类似手机大小,不论是实验室、工业现场还是携带至野外使用,HRS-300都可以轻松胜任。大容量的电池设计保证仪器4-6小时的长时间续航。仪器前端是一个SMA905的标准接口,通过接口可直接进行外部光信号采样,或者外接配套的准直镜或小视场角镜头来控制采样的视场角,这样可以对太阳光谱、LED光源等进行采样。也可以外接光源与采样附件来实现反射率、透射率的测量。例如配合我们的 RPB-D0-IS30反射探头,连接光纤即可进行便捷的反射率测量,且适用于布料颜色、叶片光合、水果品质、文物颜料等进行研究。 2 规格参数产品型号HRS-300尺寸180×95×38mm重量800g输入接口Micro USB光谱范围350-1050nm波长分辨率2.0nm激发光源需配置外部光源积分时间1ms-65S采样范围SMA905接口摄像头800万像素触摸屏720×1280分辨率电容屏网络WIFI/蓝牙/GPS工作温度0-40℃工作湿度5-80%#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 可实时采集光谱,得到光信号信号反馈;? 仪器小巧,续航持久,可应用于各种场景;? 附件丰富,可满足不同的检测需求。 4 软件示例 图一 初始界面 图二 参数设置界面 图三 反射率测量 5 应用案例图四 搭建式纺织品布料反射率测量 图五 不同颜色的布料的反射率测试图
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  • SR-C 反射膜厚仪 400-860-5168转4689
    一、概述 SR-C 紧凑型高精度反射膜厚仪,利用光学干涉原理,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱,快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。■ 光学薄膜测量解决方案;■ 非接触、非破坏测量;■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析;■ 是膜厚重复性测量精度:0.02nm■ 配置灵活、支持定制化二、产品特点■ 采用高强度卤素灯光源,光谱覆盖深紫外到近红外范围;■ 采用光机电高度整合一体化设计,体积小,操作简便;■ 基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理,轻松解析单层薄膜到多层;■ 配置强大核心分析算法:FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息;三、产品应用 反射膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量。技术参数
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  • 逆反射测量仪 400-860-5168转3842
    Roadvista逆反射系数测试仪美国Roadvista932逆反射系数测试仪|反光膜测试仪是为现场操作及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值(RA),包括夜间道路安全标识颜色标准(CIE 1931xy)高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下测试按键后,准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值,除此以外,一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试,包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932逆反射系数测试仪|反光膜测试仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控,此外,内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器,符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求,符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。Roadvista932逆反射系数测试仪使用国际标准的光度滤光器,精确测量时使用1个白板校准板,而不需要设定任何修正系数,这安全超越了竞争对手。产品特点:● 简易操作,可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2°~2.0°连续可调● 入射角-45°到+45°连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板,无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体技术参数:● 入射角:-45°到+45°连续可调;● 观测角:0.2°到2°● 光源孔径张角:0.1°;● 光感应器孔径张角:0.1°;● 测试区域:直径1英寸(25mm)区域;● 技术规范:符合所有ASTM E1709 ASTM E2540,EN12899要求并遵循ASTMD4956,EN471,ANSI107测试规范;● 光感应器响应速率:光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章;● 量程:0-20000 cd/lx/m2 ● 数据存储:超过32000组测试数据;● 颜色测试:遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标;● 电脑相连装置:usb接口和蓝牙发射器;● 电源供应器:removeable12 VDC,2.4Ah;● 充电器:110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器(932)● 220VAC,50Hz(932)● 环境温度:0°-50°● 环境湿度:0-95%(非凝结)● 外形尺寸:380*115*325mm● 重量:2.9kg(含电池)符合标准:符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。随着中小学生的交通安全问题越来越严重,近期中国标委会发布了GB/T28468-2012 中小学生交通安全反光校服 测试技术规范和标准。里面特意提到用反光材料老保护道路学生行走安全,里面一项特别重要的测试指标是逆反射系数的测定。目前中国很多地区的纤维检验局,纤维检验所购买罗中科技代理的美国Roadvista品牌的逆反射系数测试仪进行该标准的测试。
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  • 反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架,可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头,并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆,可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统,用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式,配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备,包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器;一个反射和传送的样品盒;一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5 kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求,我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合,我们开发了增强型的STAGE-RM平台,透反射样品支架是常用的光谱测量附件,与反射探头共用可实现反射光谱测量,与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜,型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件,例如光源,光谱仪,光纤,积分球等,可以联系韵翔光电。
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  • 美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统是专业为逆反射材料光度测试和反射材料光度测试而设计的材料光度测试系统,为反光材料提供完整的逆反射测试方案,广泛用于汽车照明和光源,反光测试和逆反射材料研发检测.反光材料光度测试系统940D可以与Gamma Scientific公司的flexoptometer联合使用,测量红色和白色频闪式防撞灯的有效强度(流明/米2每秒)和发光强度(新烛光二),也可以用于路障指示灯或其他警示灯的光度测量。反光材料光度测试系统940D还可以配置伽玛科学该光谱仪系统进行夜间的颜色测量反射镜和空间的颜色测量汽车照明和光源。反光材料光度测试系统940D软件是Windows 7兼容的软件,工作人员能够在几分钟内完成高精度的测量。简化的后向反射测量通过默认的测量序列符合ASTM e809程序A和B,反光材料。或利用SAE配置测量光源如大灯、尾灯、消息和警告灯和LED。单、向量和矩阵的测量容易编程数据采集宏序列文件是可能的。美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统特征提供完整、准确的反射测量三轴仪6.5弧秒(0.0018度)的决议符合标准观察Angle Positioner(OAP)3弧秒(0.0008度)符合ASTM和建议用光校正硅探测器感光,F1′<2%稳定和均匀
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  • 一、逆反射标准板 逆反射标准板一套共5片高强级白色、黄色、红色、绿色、蓝色;随标准板证书附带-4o,0.2o条件下的逆反射系数校准值证书。规格50mm×50mm。 逆反射标准板可以用于对逆反射系数绝对测量装置的测量结果进行校准。 也可用于对逆反射系数相对测量装置进行定标,逆反射系数测量装置只有在经过定标后才能对逆反射样品进行测量。二、逆反射梯度板 逆反射梯度板按逆反射值的高低分为高、中、低3套,每套共5片白色、黄色、红色、绿色、蓝色;附带标准梯度板-4o,0.2o条件下的逆反射系数校准值证书。规格50mm×50mm 逆反射梯度板用于对逆反射系数测量装置的测量线性进行校准。
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  • 漫反射附件 400-860-5168转1683
    DiffusIR&trade 漫反射附件型号规格:DiffusIR&trade 品牌:PIKE DiffusIR&trade 漫反射附件是一款研究级的漫反射附件产品。有适用于中红外、近红外的两种配置。采用基座安装,适用于Varian、Shimadzu、Bruker、Thermo、PE 、Jasco等公司的红外光谱仪。反射镜采用整体材料加工而成。优化调整的红外光路,使DiffusIR TM漫反射附件具有很好的光通量和信噪比。 我们还提供镀金高级漫反射附件、近红外漫反射附件、仓外大样品漫反射附件、可加热漫反射附件和自动测量多样品漫反射附件。
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