方阻计

FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

一、结构特征 M3手持式四探针测试仪主机 配ST2253-F01钨针探头测试硅片 配ST2558B-F01薄膜探头测试ITO膜 二、概述2.1基本功能和依据标准： M3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2配套组成：标准配置由M-3型主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台当台式机使用。2.3优势特征：1美观适用：彩色流线型手持式面板、带防滑垫，符合人体工程学设计。适合手持式变动场合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包装，便于野外或旅行使用。2高精度：带完善厚度、形状修正功能，测试准确。同行中手持式多为简易程序，没有完整修正功能，无法修正误差。3宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程，同行中手持式多为两到三个档位，测试范围有限，适应性不广。4操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，简便而且免除模拟定位器的不稳定易受干扰。5手动/自动一体化：6显示方式美观清晰：由高亮绿色数码和ＬＥＤ数字表头显示，不怕环境背景暗或野外强光；7待机和工作时间长（不小于两天），有大容量可充电锂电池电池供电，环保耐用。2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）测试台。二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。2.6适用范围：手持式使用，仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 。三、基本技术参数1.测量范围、分辨率电 阻： 0.010Ω～ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω～ 10 Ω电 阻 率： 0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω～ 10 Ω-cm方块电阻： 0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω～ 10 Ω/□2.可测材料尺寸手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：直 径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.测量方位: 轴向、径向均可. 3.量程划分及误差等级（括号内为拓展量程）量程（Ω-cm/□）2.000（200.0ｍ）20.00（2.000ｍ）200.0（20.00）2.000k（200.0）20.00k（2.000k）电阻测试范围0.010～2.2002.000～22.0020.00～220.00.200～2.200k2.000～50.00k电阻率/方阻0.010/0.050～2.2002.000～22.0020.00～220.00.200～2.200k2.000～20.00k/100.0k基本误差±1%FSB±2LSB±2%FSB±2LSB4)充电器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电DC3.7V.5)外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm净 重：≤0.3kg

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪四探针电阻率/方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。四探针电阻率/方阻测试仪 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6～2×106Ω-cm10-5～2×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μA,μA,0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA,μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪

(5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流大小见表1测量范围电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径：A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm， 方测试台直接测试方式180mm×180mm， 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；

四探针方阻电阻率检测仪如果采用直接测量电阻(电压一电流比值仪器)。开始在任一极性上(正向)测量模拟电路的正向电阻r.。改变连接极性,测量反向电阻r.。继续改变极性进行测量,记录5次每一极性的正向电阻r和反向电阻r.测量值,然后按6.1.5进行。7.1.4如果不是采用直接测量电阻仪器,则让电流在正向,调节电流大小到近似表2推荐圆片的测量电流值,测量正向电流时标准电阻两端的电势差V,或直接测量流过模拟电路的正向电流1,再测量正向电流时模拟电路的电势差Va。将电流换向,测量反向电流时标准电阻两端的电势差V&bdquo 或模拟电路的反向电流I&bdquo 和反向电流时模拟电路的电势差V&bdquo 。继续改变极性重复进行测量,记录5次每一极性的测量值。7.1.5按8.2计算平均电阻r和标准偏差.7.1.6电学测量装置应满足下述条件:7.1.6.1 r值应在已知r值的0.3%以内。7.1.6.2样品标准偏差口应小于r的0.3%。7.1.6.3设备应能测量出0.05%电阻的变化。7.2确定探针间距与探针尖端状态7.2.1 将四探针以正常压力压在严格固定的抛光硅片表面上,形成一组压痕。提起探针,在垂直于探针尖连线方向上移动硅片表面或探针0.05 mm~0.10 mm,再将探针压到硅片表面上,重复上述步骤，直到获得10组压痕。建议在两组或三组压痕后,将硅片表面或探针移动上述距离的两倍,以帮助操作者识别压痕属于哪一组。7.2.2将硅片表面清洗,用空气干燥。7.2.3将此具有压痕的硅片表面置于工具显微镜的载物台上,使y轴的读数(图6中的yn和ys)相差不大于0.150mm,记录在工具显微镜中的10组压痕A到H的x轴读数,精确到1μm。四探针方阻电阻率检测仪1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算四探针方阻电阻率检测仪在放大倍数不小于400倍的显微镜下检查压痕。7.2.5按9.1计算探针间距S,,平均探针间距S,标准偏差a 和探针系数C.7.2.6对于合格的探针,必须满足下述条件。7.2.6.1对于S.来说,3组10次测量值的每一组样品标准偏差σ应小于S，的0.30%。7.2.6.2,和S的差应不大于2%。7.2.6.3每根探针的压痕应只出现一个接触面,最大直径线度小于100μm。如果有的压痕出现不连续的接触面,则更换探针并重新测量。7.2.6.4在放大倍数为400倍的显微镜下检验时,在与硅片表面的接触面上出现明显的横向移动的探针是不合格的。该探针系统必须重新调整,以防止上述移动。7.3测量7.3.1将试样清洗干净,用空气干燥。7.3.2将试样置于样品架/台上。如果是圆片试样,应将试样置于散热器的云母上,用欧姆表测量试样与散热器间电阻,以保证两者是电绝缘的(10’Ω)。7.3.3测量并记录环境温度T,如果是圆片试样应借助置于散热器中的温度计来确定温度。让试样在该温度下保持足够的时间,以便温度平衡,准确到0.1℃注:根据试样的质量决定温度平衡时间。对于小的试样需时30min~60 min,而大的试样则需1d~2d时间。在圆片仲裁测试前,应将散热器放置在室内48h(并且要求室温变化不超过±1℃).7.3.4将探针下降到试样表面的待测位置,每一探针尖离试样边缘的最近距离至少为平均探针间距的4倍。如果为圆片试样,应使探针尖端的阵列中心在试样中心的0.25mm以内。7.3.5让电流在正向,根据试样电阻率大小按表2调节电流大小。要求两内探针之间测得的电势差小于50mV。不同的测量方法要求记录不同的数据,如果用标准电路测量记录V、V1、VsR、VR、T要求至少3一有效数字 用直接测量电路记录I、VI,V,T,要求至少3一有效数字 用直接测量电阻记录四探针方阻电阻率检测仪卜全因斤的试件,如来远用视展电况在数但上等于2,则两内探什之间则得的电势力在数值上等于电阻率值,可免于计算。推荐的圆片测量电流是在试样厚度为0.5mm,两内探针间为10 mV电势差时得到。8测量结果计算8.1 利用7.2测量数据计算探针间距S、平均探针间距S、标准偏差a、探针系数C和探针间距修正因子F&bdquo .8.1.1对十组测量数据中的每一组,用式(2)计算探针间距S, ,S2,,SyS = [(C, + D,)/2]-[(A, +B,)/2]S,=[(E, + Fj)/2]-[(C, +D,)/2].....-(2)S,,=[(G, +H,)/2]-[(E +F )/2]式中:S,~S,,--探针间距,单位为厘米(cm) A~H一一探针压痕的点位,见图6所示,单位为厘米(cm) 脚标j一组数,取1到10。8.1.2用式(2)得到的S,计算每一间距平均值S，如式(3):-(0)s………--………(3)式中:i取 1,2,3.8.1.3将按式(3)计算得到的S,和按式(2)计算得到的S。,利用式(4)分别计算3个间距的试样标准偏差a・ /÷[∑....…...……(4)8.1.4计算平均探针间距S,如式(5):s=/(++)...……………(5)8.1.5计算探针系数C和适用于圆片测量时的探针间距修正因子F&bdquo ,分别如式(6)和式(7):C-2x…………----*(6)京+¯ +s¯ s+S1F,=1+1.082[1-(/).......-.-*****……(7)8.2利用7.1.3~7.1.4测量的数据计算模拟电路测量的平均电阻r和标准偏差o。8.2.1如果采用直接测量电阻,用单个正向和反向电阻(无论是计算结果或是测量结果)均按式(8)计算平均电阻,否则按8.2.2计算模拟电路的正向电阻r,及反向电阻r,:…………---…(8)式中:r-10个模拟电路的正向电阻r,及反向电阻r,中的任意一个值.8.2.2根据测量值计算模拟电路的正向电阻r,及反向电阻r,如式(9):四探针方阻电阻率检测仪r, = V&bdquo R,/V&bdquo 式中:模拟电路的正向电阻,单位为欧姆(Ω) r,一模拟电路的反向电阻,单位为欧姆(Ω) R,一标准电阻值,单位为欧姆(Ω) V。一正向电流下模拟电路两端的电势差,单位为毫伏(mV)1V---反向电流下模拟电路两端的电势差,单位为毫伏(mV) V一正向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV) V,一反向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV).当直接测量电流时,使用式(10)计算模拟电路的正向电阻r¡ 及反向电阻r,.r1=Va/I.………-----…(10)r,- V&bdquo /I_式中:I。一流过模拟电路的正向电流,单位为毫安(mA) I&bdquo 一流过模拟电路的反向电流,单位为毫安(mA)。8.2.3根据式(11)计算样品标准偏差:-÷∑cr,-F)]t10* ……………(11)8.3计算试样电阻率p。8.3.1计算正向和反向电流的电阻,如式(12)。R¡ - V(R,/Va*….………*…*(12)R, V,R./V&bdquo 式中:R一正向电流时的试样电阻,单位为欧姆(Ω) R,一-反向电流时的试样电阻,单位为欧姆(Ω) V一正向电流时测得的试样电势差,单位为毫伏(mV) V,一反向电流时测得的试样电势差,单位为毫伏(mV) V,一正向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV) v,一反向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV)。当直接测量电流,采用式(13)计算。如果使用电阻直读仪器,就不需此计算。要求R与R,之差与R:或R,(取两者中较大者)的比值小于10%。R,= V,/I,..……-……(13)R,= V,/I,式中:I一通过试样的正向电流,单位为毫安(mA) I,一通过试样的反向电流,单位为毫安(mA).

1.双电测四探针法测试薄层样品方阻计算和测试原理如下：直线四探针测试布局如图8，相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理：当电流通过1、4探针，2、3探针测试电压时计算如下：四探针测试结构当电流通过1、2探针，4、3探针测试电压时计算如下：从以上计算公式可以看出：方阻RS只取决于R1和R2，与探针间距无关．针距相等与否对RS的结果无任何影响，本公司所生产之探针头全部采用等距，偏差微小，对测试结果更加精准。操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。1.2.准备好被测物，链接好测试探头，把测试探头接口与主机接口相连接，并锁定，防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.1.3.接通电源，开启电源开关，待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后，如图3，按“显示”键进入，1.4.进入测试功能界面如图4、图5；如测试方阻时，请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”，则进入方阻测试界面；如测试其他材料时，请选择“材料”则进入材料电阻，电阻率，电导率测试仪界面。1.5.设置好被测物所需之参数，把被测物放于测试治具平台上操作，测试完毕直接显示测试数据。如配置软件，软件操作说明书同安装软件在一起，请注意查看操作步骤.以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针双电方阻测试步骤上述步骤中1项，使用前期准备把被测物测试所需要之参数数据设定：依据不同之测试样品，选择被测试电流，电流设置：按方向键移动光标至“电流”功能，按“设置”键进入；再按“左右”方向键选择电流数据，选择完毕后按“确定”键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.探针间距数据的输入，探针间距出厂时已经标定，无需再次测量，探针头上有详细的探针数据资料，探针间距的设置：将光标移动至“探针间距”按“设置”键进入，通过面板上面的“数字”按键输入数据按“确定”键进行确认；按照以上方法和步骤设定”厚度“，注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中，自动修正，无需再次输入和查询表格。2.3.测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上，调节探头探针与样品良好接触，探头有二种，一种是探针是弹簧针型，一种是硬针而探头内腔有弹簧；探头有方型和直线型两种结构；调节测试平台上的水平定位角，保证水平仪水准在中心位置；放置好被测物品，后压下探头至被测物，带数据稳定后读取方阻测试时，在测试时电流的选择也不同根据国标GB/T1552-1995和根据ASTM F374-84标准方法测量方块电阻所需要的电流值

LST-331四探针方阻电阻率测试仪 一、LST-331四探针方阻电阻率测试仪描述：采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本. 二.LST-331四探针方阻电阻率测试仪参照标准：硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.三.适用范围：适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品四、.型号及参数 规格型modelLST-3311.方块电阻范围10^-5～2×10^5Ω/□ 2.电阻率范围 10^-6～2×10^6Ω-cm测试电流范围0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1%5.电阻精度≤0.3%6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量 8.工作电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤4%（标准样片结果） 10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.11.测试探头 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针12.标准电阻（选购）规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ 五、标准配置外订购明细：序号型号品名 单位数量备注1340-CSX测试线 套1209A标准电阻个 1-5选购规格和数量306A四探针测试平台套 1含探头1个406B四探针探头个 1方型或直线型选购5340-TTZ镀金弹簧铜针4根组14根为一组6340-WTZ弹簧钨针4根组14根为一组7340-RJ分析软件套1 8PC电脑+打印机套1依据客户要求配置9300-JL检测技术服务份1计量证书1份 10WDCGQ温度传感器套1常温-125度 331-YB延保服务 年1-3

二、1. 便于查看的显示/直观的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示；操作易学，直观使用；2. 基本设置操作简单，方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果；多种参数同时显示。3. 精度高：电阻基本准确度： 0.05％；方阻基本准确度：3%；电阻率基本准确度：3%4. 整机测量最大相对误差：≤±3%；整机测量标准不确定度：≤±3%5. 四位半显示读数；八量程自动或手动测试；6. 测量范围宽： 电阻：10-4Ω～105Ω ；方阻：10-4Ω/□～105Ω/□；7. 正反向电流源修正测量电阻误差13. 双电测测试模式，测量精度高、稳定性好.14. 具备温度补偿功能，修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。15. 比较器判断灯直接显示，勿需查看屏幕，作业效率得以提高。3档分选功能：超上限，合格，超下限，可对被测件进行HI/LOW判断，可直接在LCD使用标志显示；也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。16. 测试模式：可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。17. 丰富的接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据18. 软件功能（选配）：软件可记录、保存、各点的测试数据；可供用户对数据进行各种数据分析。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BCD-310 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求

Traceable 铂电阻高精度防水温度计 先进的技术提供高铂金性能 ● 实时响应 RTD 铂金探头、防水 IP67、HACCP、倒数计时器、保持、MIN/MAX 读数和高位警报● 绿色/红色双色背光指示 HACCP 温度危害 ● 计算机输出允许将温度计连接到计算机或数据记录器 ● 提供：电池、探头、硬质手提箱、不锈钢探头支架、Traceable 证书

四探针方阻测试仪,四探针电导率测试仪,双电测四探针测试仪FT-334普通四探针电阻率方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。1.2.准备好被测物，链接好测试探头，把测试探头接口与主机接口相连接，并锁定，防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.1.3.接通电源，开启电源开关，待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后，如图3，按“显示”键进入，1.4.进入测试功能界面如图4、图5；如测试方阻时，请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”，则进入方阻测试界面；如测试其他材料时，请选择“材料”则进入材料电阻，电阻率，电导率测试仪界面。1.5.设置好被测物所需之参数，把被测物放于测试治具平台上操作，测试完毕直接显示测试数据。如配置软件，软件操作说明书同安装软件在一起，请注意查看操作步骤.材料电阻测试步骤：操作步骤及流程本机可以依据不同测试产品选择配置不同的测试治具，以下举例操作说明在开机界面按下按键板上的“显示”键，进入测量界面。如图1如图2，在液晶显示屏右侧有4个蓝色功能按键，当测材料电阻率时，请选择 “材料”按键 ，进入材料测试主界面. 在该界面下通过按下按键板上的上下左右键，可以移动蓝色光标选择相应的参数。如图2，将移动到某一参数的位置，按下“设置”键，光标将变为深蓝色。此时通过上下左右键和数字键可以对相应的参数进行设置，设置完毕后按“确定”键返回。接线方式，把主机与夹具连接线，连接好并固定住，取试样，试样试验前的处理依据标准进行，把样品放于固定治具夹口内，把HD和LD接口分别与治具接口连接（不分顺序）如图3；另外两个接口与探头接线位置连接，后，放入被测样品，输入高度数据（为探针之间的间距），其他数据为样品本身尺寸。试样固定住后，加压探头探针至被测样品表面，带数据稳定后读数. 按下“放大”键对应的按键可以对当前界面的测量数据进行放大待参数设置完毕，开始测量，把测试获得的数据写入试验报告中以下设置和功能属于配置操作软件机型使用，如您购买的无电脑操作软件的话，请勿设置.接口：可选择“USB”和“232”两种模式。根据用户使用的接口类型进行选择。测试功能：可选择：“RρK”（显示电阻，电阻率，电导率），“R”（只显示电阻），“ρ”（只显示电阻率，“K”（只显示电导率）3种显示模式。

防静电表面体积电阻测试仪性能：　 在测量导电材料电阻率若采用三电极或二电极测量时会因为电极与被测量材料表面电阻而影响测量准确性，本装置采用四电极法测量导电和防静电材料体积电阻率，可以克服表面接触电阻造成的误差影响，本导电和防静电材料电阻率测量装置完全符合并优于以下标准：国家标准GB11210《硫化橡胶抗静电和导电制品电阻的测定》国际标准ISO1853 《导电和防静电橡胶-电阻率测量》 国际标准ISO 3915 《导电塑料体积电阻率测试方法》国家标准GB2439 《导电和抗静电橡胶电阻率（系数）的测定方法》国家标准GB/T15662《导电、防静电塑料体积电阻率测试方法》交通行业标准JT230－95　汽车导静电橡胶拖地带美国ASTM D991标准《橡胶特性---导电材料及防静电产品的体积电阻的标准测试方法》技术参数：BEST-19主要技术指标1　测量范围：10-9Ω.m～1011Ω.m (世界上超宽测量范围，达20个数量级）,几乎可以测量从金属导体到所有静电导体材料及静电消电等全部材料。2　准确度：1%～5%3　静电计(静电电压表)：100mV～±200V，输入电阻≥1014Ω(100TΩ)，0.5～2%4　皮安电流表：1×10-15A (1fA), 0.5～3%5 数字可调电压源：1%6　测试屏蔽箱（送标准四电极）(注：不同的标准有不同的电极，可以免费送符合国家标准的一套四电极。7 绝缘板　≥100TΩ.m (1014Ω.m)8 电流电极距离：100mm9 电压电极距离：20mm 重量：331g, 压力约为 3.25 NBEST-13型静电计技术指标 1、测量范围：DC±200mV—±200V,采用电阻分压或电容分压可扩大测量范围。 2、准确度：±（0.5％读数＋2字） 3、输入阻抗：1×1014Ω（100TΩ） 4、漂 移：时间漂移：24小时小于0.5% 温漂小于0.05%/℃ 5、电源：220VAC、50HZ 10W 6、质量：2KG 7、尺寸：220mm×230mm×80mm 8、测量原理：本仪表采用极高输入阻抗的高性能集成电路做输入级，输入阻抗大于 1×1014ΩBEST-12 皮安电流表技术指标1. 电流测量范围为20×10-3A～1×10-15A (10fA～20mA)2. 显示: 4.1/2位LED显示3.准确度: （温度：18℃～28℃，相对湿度70%）　　　　　 优于0.5～1% 读数 +5字　(10-5～10-10量程)　　　　　 优于1～2% 读数 +5字　(10-11～10-14量程) 优于1～2% 读数 +5字　(10-4量程)4 使用环境: 温度：10℃～40℃，相对湿度90%5. 供电形式: AC 220V，50HZ，功耗约10W6. 体积与重量：27*23*8cm 约2kg7.特点：体积小、重量轻、数字显示、准确度高、性好稳定、读数方便外加直流电流可用于测量高电阻。NORMAL和FAST两种测试模式直接转换（普通模式和超低输入阻抗模式）适应各种需要接线方法：测试接线图 测试导电材料、防静电材料接线图：a. 将电源地（黑）与BEST-12地相接b．电源正 (红) 与电流电极相接c. BEST-12皮安表的输入与电流电极的另一端相接d. BEST-13静电计的输入与电压电极两端相接，测试时靠近电流正极性端的电压电极接静电计输入芯线，另一电压电极接BEST-13的地线。静电基本知识：在空气干燥的季节，当你开门时偶尔会有电击的感觉，这就是静电放电（ＥＳＤ）。当你感觉电击时，你身上的静电电压已超过２０００伏！当你看到放电火花时你身上的静电已高达５０００伏！当你听到放电声音时，你身上的静电已高达８０００伏！但是现代许多高速超大规模集成电路碰到仅几十伏或更低的静电就会遭到损坏。也就是说当你接触这些电路时，你既没有感觉到又没有看到更没有听到静电放电时，这块电路就已部分损伤或完全损坏，而你可能还在找其硬件或软件的原因。由于人体及周围物体极易带电几千甚至几万伏静电，如果静电放电或使用不当，将损坏仪器或使仪器性能下降。使用方法1.开机或测量前或测量完毕将开关拨到“ZERO”位置为防止意外的静电对静电计损坏，以保护静电计免受静电放电或其它过电压而损坏或影响其测量性能，接输入线或开机前一定要将开关拨到“ZERO”位置，此时机内通过一个10M的电阻接地，此时的静电计成了一台普通的±200VDC直流数字电压表。2.开启电源，显示器应发红光，在无信号输入或将输入线两端短路时调零如果显示不为000，调整“ZERO ADJ.”使显示为000,注意：应该在拨出输入线无信号输入时调零，否则调不到0 且会产生大的误差。3.将输入测量电缆线与仪表输入端连接好输入线与要测量静电电压的物体相接，并确保在测量过程中电压不超过±200VDC，以免损坏静电计4.如果显示 1，就将量程开关拨到更高的量程5.测量完毕将开关拨到“ZERO”以保护静电计在输入短路时机内是通过一个10M电阻接好而不是真正的短接。这是为防止受静电放电而损坏或影响其测量性能。六、注意事项1、开机测量前或测量完毕将开关拨到“ZERO”位置以保护仪器不受意外静电放电面损坏2.不允许测量超出该量程的电压，在测量过程中确保输入电压不超过±200VDC超出该量程时应换较大的量程有可能损坏静电计。（虽然仪器有保护措施，但过电压会使静电计的性能下降）。超出范围时显示“1”。3.应避免带高电压的物体及人体对输入端接触或放电静电放电损坏仪表内高输入阻抗的静电放大器，极容易因静电放电造成损坏，在测量过程中手或其它物体不能接触输入端以防静电防电造成损失。4.机内有危险的高压，不要随便打开仪器，以免电击。5.输入电缆线应使用高绝缘聚乙烯屏蔽电缆线，否则会影响输入阻抗。6.在测量输入阻抗极高的电压源或测量微小电流时要屏蔽由于其输入电阻极高且灵敏度很高，开机时若有机内或机外静电的影响，可能会超量程而使显示为＂1＂，遇此种情况，将输入短路后，关电源30秒左右重新开机即可恢复到＂0＂，也可重复这一过程。静电基本知识：在空气干燥的季节，当你开门时偶尔会有电击的感觉，这就是静电放电（ＥＳＤ）。当你感觉电击时，你身上的静电电压已超过２０００伏！当你看到放电火花时你身上的静电已高达５０００伏！当你听到放电声音时，你身上的静电已高达８０００伏！但是现代许多高速超大规模集成电路碰到仅几十伏或更低的静电就会遭到损坏。也就是说当你接触这些电路时，你既没有感觉到又没有看到更没有听到静电放电时，这块电路就已部分损伤或完全损坏，而你可能还在找其硬件或软件的原因。由于人体及周围物体极易带电几千甚至几万伏静电，如果静电放电或使用不当，将损坏仪器或使仪器性能下降。

SURAGUS 2525方阻测试仪 薄膜电阻和厚度测试仪TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻（方块电阻）及薄膜厚度测量的仪器。特点非接触成像高解析度成像（25 至1,000,000 点）缺陷成像封装层的地图参数薄膜电阻（欧姆/平方）金属层厚度（nm、μm）金属基板厚度（nm、μm）各向异性缺陷完整性评定应用建筑玻璃（LowE）触摸屏和平板显示器OLED和LED应用智能玻璃的应用透明防静电铝箔光伏半导体除冰和加热应用电池和燃料电池包装材料材料金属薄膜和栅格导电氧化物纳米线膜石墨烯、CNT（碳纳米管）、石墨打印薄膜导电聚合物（PEDOT:PSS）其他导电薄膜及材料规格参数测量技术：非接触式涡流传感器基板：例如：薄膜、玻璃、晶圆，等等最大扫描面积：10 inch / 254 x 254 mm（根据要求可以更大）边缘效应修正/排除：对于标准尺寸，排除2 mm的边缘最大样品厚度/传感器间隙：2 / 5 / 10 / 25 mm（由最厚的样本确定）薄膜电阻的范围：低 0.0001 - 10 Ohm / sq 2 至 8 % 精度标准 1 - 1,000 Ohm / sq 2 至 8 % 精度高 10 - 10,000 Ohm / sq 4 至 8 % 精度金属膜的厚度测量（例如：铝、铜）：2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)扫描间距：1 / 2 / 5 / 10 mm （根据要求的其它尺寸）每单位时间内测量点（二次形）：5分钟内10,000个测量点30分钟内1,000,000 个测量点扫描时间：4 inch / 100 x 100 mm，在0.5至5分钟内（1-10mm 间距）8 inch / 200 x 200 mm，在1.5至15分钟内（1-10mm 间距）装置尺寸（宽/厚/深）：549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch重量： 27 kg可用特色：薄膜电阻成像各向异性电阻传感器

四探针 方阻 电阻率测试仪双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。FT-340系列双电测四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。 四探针 方阻 电阻率测试仪规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6～2×106Ω-cm10-5～2×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μA,μA,0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA,μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针 方阻 电阻率测试仪FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester一.应用说明Widely used：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，二．描述Description：采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.规格型号/ modelFT-341 FT-342 FT-343FT-345 FT-346FT-3471.方块电阻sheet resistance 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω /□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率Resistivity 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm6.显示读数display屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivityFT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪.型号及参数Models and technical parameters规格型modelFT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围Sheet resistance 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率范围Resistivity 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×105Ω-cm6.显示读数display液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity7.测试方式test mode普通单电测量general single electrical measurement温馨提示：半导体材料测量，我们提供四探针法，低阻，高阻，双电组合法，普通单电法，以及高温电阻率测试仪系列，欢迎和我们保持联系---瑞柯仪器温馨提示：半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试，四探针测试仪根据量程可以划分为，低阻四探针测试仪测到-6次方；高阻四探针测试仪测到7次方至9次方；，双电测四探针测试仪测到-5次方到5次方，单电测四探针测试仪-5次方到5次方，我们解决半导体材料电性能测量问题，上述都是我们产品，欢迎和我们交流—瑞柯仪器双电测四探针测试仪

双电测电四探针方阻电阻率测试仪环境要求环境温度为23℃±1℃,相对湿度不大于65%。干扰因素光照可能严重影响观察电阻率,特别是近似本征材料。因此,所有测试应在暗室进行,除非是待测样品对周围的光不敏感。3.2当仪器放置在高频于扰源附近时,测试回路中会引入虚假电流，因此仪器要有电磁屏蔽。3.3试样中电场强度不能过大,以避免少数载流子注入。如果使用的电流适当,则用该电流的两倍或一半时,引起电阻率的变化应小于0.5%。3.4由于电阻率受温度影响,一般测试适用温度为23℃±1 ℃.3.5对于厚度对测试的影响,仲裁测量要求厚度按本方法的6.3规定测量,一般测量用户可以根据实际需要确定厚度的要求偏差。3.6由于探针压力对测量结果有影响,测量时应选择合适的探针压力。3.7仲裁测量时选择探针间距为1.59mm,非仲裁测量可选择其他探针间距。4方法提要直排四探针测量示意图5测量仪器5.1探针装置由以下几部分组成。5.1.1探针用钨,碳化钨或高速钢等金属制成,针尖呈尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净，不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。4.3.4人员资格本仪器为精密仪器，必须由训练合格的人员使用和操作。4.3.5安全守则操作人员必须随时给予教育和训练，使其了解各种操作规则的重要性，并依安全规则操作。圆锥型,夹角为45°~150*,尖端初始标称半径为25 μm~50 μm。5.1.2探针压力,每根探针压力为1.75 N士0.25 N或4.0N±0.5N,分别用于硅单晶棒的电阻率测量,也可选择其他合适的探针压力。5.1.3绝缘性,一探针(包括连接弹簧和外部引线)与任何其他探针或装置任一部分之间绝缘电阻大于10’Ω.5.1.4探针排列和间距,四根探针的尖端应成等间距直线排列。仲裁测量时,探针间距(相邻探针之间的距离)标称值应为1.59mm。其他标称间距如1.00mm和0.6mm用于非仲裁测量,探针间距按7.2测定。5.1.5探针架,能在针尖几乎无横向移动的情况下使探针下降到试样表面.双电测电四探针方阻电阻率测试仪技术参数：1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算9.传感器压力：200kg (其他规格可以定制)10.粉末测量装置 模具：内径10mm；高：25mm；加压方式：手动液压加压/自动加压方式11.电源：220±10% 50HZ/60HZ12.主机外形尺寸：330mm*350mm*120mm双电测电四探针方阻电阻率测试仪安全要点● 非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。● 万一发生问题，请立即关闭电源并及时处理故障原因。双电测电四探针方阻电阻率测试仪衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等，这些金属饰物很容易造成意外的感电。4.3.7医学规定绝对不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。4.4测试安全程序规定 一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。双电测电四探针方阻电阻率测试仪操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④_x0001_ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。

FT-346双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-2～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪应用说明：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，二．描述：采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω /□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA.μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA、1μA、10μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1% ±0.2% ±0.2% ±0.3% ±0.3% ±0.3% 5.电阻精度 ≤0.3% ≤0.3% ≤0.3% ≤0.5% ≤0.5% ≤0.5% 6.显示读数屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.111.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

1.2.准备好被测物，链接好测试探头，把测试探头接口与主机接口相连接，并锁定，防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.1.3.接通电源，开启电源开关，待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后，如图3，按“显示”键进入，1.4.进入测试功能界面如图4、图5；如测试方阻时，请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”，则进入方阻测试界面；如测试其他材料时，请选择“材料”则进入材料电阻，电阻率，电导率测试仪界面。1.5.设置好被测物所需之参数，把被测物放于测试治具平台上操作，测试完毕直接显示测试数据。如配置软件，软件操作说明书同安装软件在一起，请注意查看操作步骤.以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针双电方阻测试步骤上述步骤中1项，使用前期准备把被测物测试所需要之参数数据设定：依据不同之测试样品，选择被测试电流，电流设置：按方向键移动光标至“电流”功能，按“设置”键进入；再按“左右”方向键选择电流数据，选择完毕后按“确定”键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.探针间距数据的输入，探针间距出厂时已经标定，无需再次测量，探针头上有详细的探针数据资料，探针间距的设置：将光标移动至“探针间距”按“设置”键进入，通过面板上面的“数字”按键输入数据按“确定”键进行确认；按照以上方法和步骤设定”厚度“，注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中，自动修正，无需再次输入和查询表格。2.3.测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上，调节探头探针与样品良好接触，探头有二种，一种是探针是弹簧针型，一种是硬针而探头内腔有弹簧；探头有方型和直线型两种结构；调节测试平台上的水平定位角，保证水平仪水准在中心位置；放置好被测物品，后压下探头至被测物，带数据稳定后读取方阻测试时，在测试时电流的选择也不同根据国标GB/T1552-1995和根据ASTM F374-84标准方法测量方块电阻所需要的电流值

EddyCus® TF 系列 (thin-film) 是非接触式的实时测量薄膜电阻的检测设备，它利用非接触式涡旋电流检测技术。该系统也可用于表征薄膜，玻璃内部的导电层，晶圆以及金属箔片。此产品应用如下:薄膜电阻测量: 0,1 mOhm/sq to 3.000 Ohm/sq金属膜厚度测量: 5 nm to 500 microns电导率扫描绘图: 1% IACS (0,6 MS/m)URAGUS 2525 方阻测试仪 薄膜电阻和厚度测试仪TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻（方块电阻）及薄膜厚度测量的仪器。特点非接触成像 高解析度成像（25 至1,000,000 点）缺陷成像封装层的地图参数 薄膜电阻（欧姆/平方）金属层厚度（nm、μm）金属基板厚度（nm、μm）各向异性 缺陷完整性评定应用建筑玻璃（LowE）触摸屏和平板显示器OLED和LED应用智能玻璃的应用透明防静电铝箔 光伏半导体除冰和加热应用电池和燃料电池包装材料 材料金属薄膜和栅格导电氧化物 纳米线膜石墨烯、CNT（碳纳米管）、石墨打印薄膜导电聚合物（PEDOT:PSS）其他导电薄膜及材料规格参数测量技术：非接触式涡流传感器基板：例如：薄膜、玻璃、晶圆，等等 最大扫描面积：10 inch / 254 x 254 mm（根据要求可以更大）边缘效应修正/排除：对于标准尺寸，排除2 mm的边缘最大样品厚度/传感器间隙：2 / 5 / 10 / 25 mm（由最厚的样本确定）薄膜电阻的范围：低 0.0001 - 10 Ohm / sq 2 至 8 % 精度标准 1 - 1,000 Ohm / sq 2 至 8 % 精度高 10 - 10,000 Ohm / sq 4 至 8 % 精度金属膜的厚度测量（例如：铝、铜）：2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)扫描间距：1 / 2 / 5 / 10 mm （根据要求的其它尺寸）每单位时间内测量点（二次形）：5分钟内10,000个测量点30分钟内1,000,000 个测量点扫描时间：4 inch / 100 x 100 mm，在0.5至5分钟内（1-10mm 间距）8 inch / 200 x 200 mm，在1.5至15分钟内（1-10mm 间距） 装置尺寸（宽/厚/深）：549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch重量： 27 kg可用特色：薄膜电阻成像各向异性电阻传感器

FIML RS TEST MODULE扩散薄膜方阻分析模组（JPV结光电压法）产品描述 主要利用结光电压技术非接触测试具有P/N或N/P结构的样品的方阻(发射极薄层方阻）。特点 非接触，非损伤测试，测试速度快，重复性佳，可直接测试产品片。

防静电电阻测试仪符合标准：GB/T 1410-2006《 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》GB/T 10581-2006 《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》GB/T 1692-2008 《硫化橡胶 绝缘电阻率的测定》GB/T 2439-2001《硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定》GB/T 12703.4-2010 《纺织品 静电性能的评定 第４部分：电阻率》GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》ASTM D257-99《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》静电电阻符合性检测（ESD TR53 规范手册）防静电工作台面检测（ESD S4.1 标准）防静电地板检测（ANSI/ESD S7.1 标准）防静电鞋具检测（ESD S9.2 标准）防静电工作服检测（ESD STM 2.1 标准）防静电工作椅检测（ESD STM 12.1 标准）防静电鞋+防静电地板+人体系统电阻检测（ESD STM 97.1 标准）技术指标 1、电阻测量范围：1 ×104Ω ～1×1018Ω。2、电流测量范围：2×10-4A～1×10-16A。3、显 示 方 式： 32位LED液晶屏显示（直接显示电阻值和电流）。4、内置测试电压： 10V 、50V、100V、250、500、1000V。5、基本准确度：1% 。6、使用环境、温度：0℃～40℃，相对湿度80%。7、机内测试电压： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切换。8、供电形式： AC 220V，50HZ，功耗约5W。9、仪器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm。10、质 量：约2.5KG。11、电 极：粉体电极、液电极、固体电极（标配）、点对点电极。操作方式：1、电流先手动调零。2、调整测试电压。3、旋转电阻波荡观察数值。4、读取电阻值。5、根据电阻值按以下公式求出体积电阻率和表面电阻率。1）体积电阻率 式中：PV——体积电阻率，单位为欧姆厘米（Ω.cm）；RX——按测得的体积电阻，单位为欧姆（Ω）；A——是被保护电极的有效面积，单位为平方米（m2）或（平方厘米（cm2））h——试样的平均厚度，单位为米(m)或厘米（cm） （2）表面电阻率计算：表面电阻率计算公式如下：式中：Ps——体积电阻率，单位为欧姆米（Ω.cm）；RX——按测得的表电阻，单位为欧姆（Ω）；P——是被保护电极的有效周长，单位为米（m）或（厘米（cm））g——两电极之间的距离，单位为米(m)或厘米（cm）备注：P=15.708(cm) g=0.2(cm)配套的电极尺寸：圆柱: 直径50 mm圆环: 外径 75 mm ,内径 55± 0.2 mm 厚度10 高度30 圆盘: 直径100mm屏蔽箱尺寸：20cm*20cm*9 cm 内部高度50mm固体式样尺寸要求测体积电阻率直径大于55mm（大于电极内径） 测表面积电阻直接大于100mm， 低于此直径大小需改电极基本注意事项确保被测材料本身不带电重锤电极放置点距离材料边缘 2 英寸以上重锤电极放置点距离材料上的接地端子 3 英寸以上测试台面点到点电阻时，2 个重锤电极相距 10 英寸以上（可采用配套的 10 英寸距离标线）测试地面点到点电阻时，2 个重锤电极相距 36 英寸以上（可采用配套的 36 英寸距离标线）重锤电极的放置点通常取以下位置可以更好地评估材料是否合格 n 最常用位置 n 磨损严重的位置 n 中心位置 n 距离接地点较远的位置如果被测材料是有接缝的，例如块状地板，衣服等，2 个重锤应分别放置在不同的拼接区块在实验室测试材料时，可以预清洁处理。对于现场铺设完毕并投入运行的材料，测试前不要清洁，只 有测试不合格时，才清洁后再次测试。测试表面点到点电阻测试台面或小面积材料：连接测试仪和 2 个 50003 重锤电极把重锤电极放置在合适的位置，相距 10 英寸左右按仪器中间的红色键测试如果测试不合格，清洁表面后再测试可把测试结果写在配套的标签纸上，并 贴 在相应地点10 英寸标线36 英寸标线测试地面或大面积材料：连接测试仪和 2 个 50003 重锤电极把重锤电极放置在合适的位置，相距 36 英寸左右按仪器中间的红色键测试如果测试不合格，清洁表面后再测试可把测试结果写在配套的标签纸上，并 贴 在相应地点测试接地电阻材料合格性/符合性测试 对新购入或新安装的材料进行合格性测试，并保存每个测试数据（仪器可保存 100 组数据）， 把 每 个 测试数 据的记录编号写在标签纸上，然后贴到合适位置。以后定期对这些材料进行符合性检测，可和最初保存在 仪器内的合格性测试的数据对比，以了解材料的耗损及性能衰减状况。 维护及校准一旦电池符号显示空，及时更换电池。长期不使用仪器，取出电池存放油污或湿气可能会导致仪器顶侧插孔短路，定期用异丙醇清洁定期用异丙醇清洁重锤电极，测量前确保电极的橡胶垫已经晾干仪器保修期 1 年，不包括连接线、重锤电极和其他配件不得拆开仪器外壳，一旦拆开外壳，失去保修权力妥善保护仪器上的产品序列号标签，遗失标签或序列号磨损不清，失去保修权力人为或错误操作所造成的损坏不在保修范围仪器校准校准环境要求：温度 23.9+/-1.7℃，相对湿度 40%~60%仪器需要裸露在校准环境 1 小时以上确保仪器电池有充足的电量用异丙醇清洁仪器连接线插孔，清洁后手指不要触碰插孔把原配的连接线插入仪器连接线另一端连接单个标准电阻或电阻盒用于校准的标准电阻在 1010欧姆及以内精度达到+/-2%，1010欧姆以上精度达到+/-5%仪器读数在标准电阻的+/-10%范围内合格。

2439防静电体积电阻率测量仪中华人民共和国国家标准硫化橡胶或热塑性橡胶导电性能和GB/T 2439-2001耗散性能电阻率的测定idt 1SO 1853:1998代替GB/T 2439-1981(1989)Conducting and dissipative rubbers , vulcanized orthermoplastic-Measurement of resistivity警告:使用本标准的人员应熟悉正规实验室操作规程。本标准无意涉及因使用本标准可能出现的所有安全问题。制定相应的安全和健康制度并确保符合国家法规是使用者的责任。1范围本标准规定了对于含有炭黑或电离物质的导电性能或耗散性能的硫化橡胶和热塑性橡胶经特殊制备的试样在实验室对其体积电阻率的测定。在橡胶配料中掺入电离物质也可以使混炼胶具有抗静电性能。本标准适用于电阻率低于10°Ω.m的物质。2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T 2941-1991橡胶试样环境调节和试验的标准温度、湿度及时间(eqv[SO 471:1983)3试验装置试验电路图见图1.3.1电源电源采用最小对地电阻为10"Ω,并且在试样内消耗的功率不大于1W的直流电源。3.2测量电流仪表测量电流仪表的示值误差不大于±5%。注，使用静电计(3.5)可以由通过已知电阻的电压降的测量计算出非常小的电流。2439防静电体积电阻率测量仪1-试片 2一电流电极13-绝缘垫:电阻至少10Ω,4一电位计(静电计):5-电压电极:6一可调式直流电压图1试验电路图3.3试样夹具和电流电极试样夹具包含一个约10mm厚,用以安装测量电极的聚苯乙烯板(见图1),电流电极应为长约5 mm的洁净金属,并用合适的接线夹子或夹紧装置,连接在试样的整个宽度范围上。电流电极之间的距离应为50 mm±1 mm或100 mm±1mm,它们之间的电阻应大于10Ω.3.4 电压电极的构成在10mm宽的试样上能施加接触压力约0.65N或在20mm宽的试样上能施加接触压力约1.3N的接触压力(见图2)。电压电极间的电阻应大于10Ω.。R0.51-聚苯乙烯:2-不锈钢 3一试样宽至少10mm:4-(10 mm~20 mm)±2%图2电压电极3.5静电计具有大于10"Ω的输人电阻。附录A(提示的附录)中给出了这种仪表的参考资料。3.6绝缘板绝缘板的电阻率大于10Ω.m。3.7恒温箱恒温箱能够使温度控制在70℃±1C,1632439防静电体积电阻率测量仪GB/T 2439--20014试样4.1试样为条状的硫化橡胶或热塑性橡胶,宽10mm±0.5 mm 或20 mm±0.5mm,长最小为70mm,厚度为2mm.4mm或示3mm,厚度均勾度的公差为±5%，42试样可用刀片或冲模裁切,但必须注意尽量使变形减少到最低程度,因为变形会影响电阻值。4.3试样表面必须请洁、平滑,无腿纹、气泡和杂质等缺陷,表面不允许抛光和打磨。4.4对比试验症使用相同尺寸的试样。5试样的数量为三个相同规格的试样。6程序6.1 根GB/T2941规定,硫化或模压后的试释停放时间不少于16h,然后将试样放在夹具上,在试样的两晚夹上电流电极,在70℃±1℃的恒温箱中放置2h,62 将带试样的夹具从恒温箱中取出,根据GB/T2941规定,在标准试验室温度和型度下调节不少于16b,试样不要移动。6-3将电压电极放在试样上,保持两个电压电视之间的距离为10mm~20mm,确保刀刃与电流方向成直角,电压电极任一刃口与电流电极距离都不小于20mm，测量电压电毁两刃口之间的距离,测量润差不大于±2%，通电1min后,用静电计测定电压电极两刃口之间的稳定电压，6.4在同一试样上重复尽3步骤两次,每测量一次,移动一次电压电极,以测定整个试样长度上电压分布的情况。6-5 用同样的方法测试另外两个试样。7试验结果取每个试样的三个电阻测试值的算术平均值,并按式(1)计算电阻率户.单位:n.m.式中 V一-测量电压,V，W一-试样宽度,m1p--试样厚度.m:p一-电压电极之间的距离.mI----测量电流.A.取三个试样的电阻率的中位数表示试验结果。B试验报告试验报告必须包括以下内容:a)试验依据的标准 b)试样的详细说明。1)试样及其来源的详细描述 2)如果已知的话,应该包括藏合组分及加工条件，3)试样的尺寸:e)试验的详细说明，1)试验过程中的温度和湿度条件 1642439防静电体积电阻率测量仪1　测量范围：10-9Ω.m～1011Ω.m (世界上超宽测量范围，达20个数量级）,几乎可以测量从金属导体到所有静电导体材料及静电消电等全部材料。2　准确度：1%～5%3　静电计(静电电压表)：100mV～±200V，输入电阻≥1014Ω(100TΩ)，0.5～2%4　皮安电流表：1×10-15A (1fA), 0.5～3%5 数字可调电压源：1%6　测试屏蔽箱（送标准四电极）(注：不同的标准有不同的电极，可以免费送符合国家标准的一套四电极。7 绝缘板　≥100TΩ.m (1014Ω.m)8 电流电极距离：100mm2439防静电体积电阻率测量仪 1、测量范围：DC±200mV—±200V,采用电阻分压或电容分压可扩大测量范围。 2、准确度：±（0.5％读数＋2字） 3、输入阻抗：1×1014Ω（100TΩ） 4、漂 移：时间漂移：24小时小于0.5% 温漂小于0.05%/℃ 5、电源：220VAC、50HZ 10W 6、质量：2KG 7、尺寸：220mm×230mm×80mm 8、测量原理：本仪表采用极高输入阻抗的高性能集成电路做输入级，输入阻抗大于 1×1014Ω

防静电材料体积电阻率测试仪厂家在测量导电材料电阻率若采用三电极或二电极测量时会因为电极与被测量材料表面电阻而影响测量准确性，本装置采用四电极法测量导电和防静电材料体积电阻率，可以克服表面接触电阻造成的误差影响。防静电材料体积电阻率测试仪厂家概述 本导电和防静电材料电阻率测量装置完全符合并优于以下标准：国家标准GB11210《硫化橡胶抗静电和导电制品电阻的测定》国际标准ISO1853 《导电和防静电橡胶-电阻率测量》 国际标准ISO 3915 《导电塑料体积电阻率测试方法》国家标准GB2439 《导电和抗静电橡胶电阻率（系数）的测定方法》国家标准GB/T15662《导电、防静电塑料体积电阻率测试方法》交通行业标准JT230－95　汽车导静电橡胶拖地带美国ASTM D991标准《橡胶特性---导电材料及防静电产品的体积电阻的标准测试方法》防静电材料体积电阻率测试仪厂家技术参数BEST-19主要技术指标　2.1　测量范围：10-9Ω ～1011Ω （*另配测试三电极和电源，高可以测量体积电阻率达 1019Ω金属导体、静电导体材料及静电消电等材料。　2.2　准确度：1%～5%　2.3　静电计(静电电压表)：100mV～±200V，输入电阻≥1014Ω(100TΩ)，0.5～2%　2.4　皮安电流表：1×10-15A (1fA), 0.5～3%2.5 数字可调电压源：1%　2.6　测试屏蔽箱（送标准四电极）(注：不同的标准有不同的电极，可以免费送符合国家标准的一套四电极。 2.7 绝缘板　≥100TΩ.m (1014Ω.m)电流电极距离：100mm电压电极距离：20mm 重量：331g, 压力约为 3.25 BEST-13型静电计技术指标 1、测量范围：DC±200mV—±200V,采用电阻分压或电容分压可扩大测量范围。 2、准确度：±（0.5％读数＋2字） 3、输入阻抗：1×1014Ω（100TΩ） 4、漂 移：时间漂移：24小时小于0.5% 温漂小于0.05%/℃ 5、电源：220VAC、50HZ 10W 6、质量：2KG 7、尺寸：220mm×230mm×80mm8、测量原理：本仪表采用极高输入阻抗的高性能集成电路做输入级，输入阻抗大于 1×1014ΩBEST-12 皮安电流表技术指标1. 电流测量范围为20×10-3A～1×10-15A (10fA～20mA)2. 显示: 4.1/2位LED显示3.准确度: （温度：18℃～28℃，相对湿度70%）　　　　　 优于0.5～1% 读数 +5字　(10-5～10-10量程)　　　　　 优于1～2% 读数 +5字　(10-11～10-14量程) 优于1～2% 读数 +5字　(10-4量程)4 使用环境: 温度：10℃～40℃，相对湿度90%5. 供电形式: AC 220V，50HZ，功耗约10W6. 体积与重量：27*23*8cm 约2kg7.特点：体积小、重量轻、数字显示、准确度高、性好稳定、读数方便外加直流电流可用于测量高电阻。NORMAL和FAST两种测试模式直接转换（普通模式和超低输入阻抗模式）适应各种需要3. BEST-19 接线方法测试接线图测试导电材料、防静电材料接线图： a. 将电源地（黑）与BEST-12地相接b．电源正 (红) 与电流电极相接c. BEST-12皮安表的输入与电流电极的另一端相接d. BEST-13静电计的输入与电压电极两端相接，测试时靠近电流正极性端的电压电极接静电计输入芯线，另一电压电极接BEST-13的地线。实物图： 北广公司自主研发电性能专业检测仪器 序号设备名称设备型号测试指标备注1电压击穿试验仪BDJC10KV-150KV介电强度、泄漏电流介电强度、泄漏电流2体积表面电阻测定仪BEST-121体积电阻率、表面电阻率液晶显示3体积表面电阻率测定仪BEST-212体积电阻率、表面电阻率液晶触摸、电阻率直接测试4导体电阻率测定仪BEST -19导体电阻率触摸屏6半导体电阻率测定仪BEST-300C半导体电阻率触摸屏7高频介电常数测试仪GDAT--A介电常数、介质损耗测试频率50HZ-160MHZ8工频介电常数测试仪BQS-37A介电常数、介质损耗测试频率50HZ9耐电弧试验仪BDH-20KV耐电弧微机控制、触摸屏控制10高压漏电起痕试验仪BLD-6000V高压等级测试高电压6KV11耐电痕化指数测定仪BLD-600V漏电痕迹、电痕化CTI\PTI高电压600V 近三年部分电性能产品客户案例 1.深圳市华晟达仪器设备有限公司 62.河南金博电缆有限公司 2.深圳市兴绿科技有限公司 63.河南金水电缆集团有限公司3.深圳华晟达仪器设备有限公司 64.四川天威电子有限责任公司4.深圳质检院 65.四川川环科技股份有限公司5.深圳市欧普特工业材料有限公司 66.四川大学6.深圳市秦塑塑化材料科技有限公司 67.德阳盛宇科技有限公司7.广州奥翼电子科技有限公司 68.成都监帮密封件股份有限公司8.广东电网公司电力科学研究院 69.成都科技大学9.广州市日立电梯有限公司 70.成都电子科技大学10.广州威凯检测技术有限公司 71.核工业西南物理研究院11.广东银禧科技股份有限公司 72.北京化工大学12.广东产品质量监督研究所 73.北京理工大学13.广东新翼新材料有限公司 74.北京清华大学材料系14.惠州光阳科技有限公司 75.北京福瑞泰科技有限公司15.华南理工大学 76.北京航天凯恩化工科技有限公司（特种化工事业部）16.茂名质量检验监督所 77.北京世纪航凯电力科技股份有限公司 17.东莞市南炬高分子材料有限公司 78.北京空军二十三厂18.东莞市华科东尼仪器有限公司 79.北京理工大学西山实验区19.东莞零度导热材料有限公司 80.北京四方变压器厂20.佛山市质量计量监督检测中心 81.北京磁谷新能源材料有限公司21.佛罗县复合材料有限公司 82.北京博闻时讯科技有限公司22.佛山金戈消防材料有限公司 83.北京中西远大科技有限公司23.佛山质量检验监督所 84. 北京市科学器材公司24.上海西邦电气有限公司 85.北京航天试验技术研究所25.上海申锐测试设备制造有限公司 86.北京欧陆伟业科技发展有限公司26.上海兆邦电力器材有限公司 87.山东德威克仪器有限公司27.上海祈峰实验仪器有限公司 88.山东阳谷电缆集团有限公司28.上海科技大学 89. 山东守护者电子科技有限公司29.浙江正泰电气股份有限公司 90.山东德威克仪器有限公司30.浙江德创环保科技股份有限公司 91.青岛安世科学仪器有限公司31.绍兴任飞碳黑有限公司 92.合肥博艺仪器设备有限公司32.乐清市正泰电器科技股份有限公司 93.济宁强科管材材料有限公司33.乐清市柳市正和量具仪器商行 94. 烟台华鹏仪器有限公司34.苏州市铭宇精密测量仪器有限公司 95.黑龙江天林科技有限公司35.佳施加德士（苏州）塑料有限公司 96.长春一汽轿车股份有限公司36.江苏矽时代材料科技有限公司 97. 辽阳易通科技有限公司37.江苏溧阳康达威实业有限公司 98.大庆五金总汇有限公司38.欧宝聚合物江苏有限公司 99.沈阳润棉科技有限公司 39.苏州工业园区斯博自动化控制设备有限公司 100.中科院兰州理化所40.江苏苏美达成套设备工程有限公司 101.兰州汇天成工贸有限公司41.中广核三角洲（江苏）塑化有限公司 102.肯博（厦门）绝缘科技有限公司42.南通日芝电力材料有限公司 103.海南大学43.日本长濑精细化工（无锡）有限公司 104.西安交通大学44.万聚国际（杭州）供应链有限公司 105.阜新矿业集团有限公司 45.顺德特种变压器厂 106.陕西科技大学46.诸城质量检验监督所 107.江西科盛环保股份有限公司47.无锡金邦科技有限公司 108.咸阳兴华高精表面技术有限公司48.无锡思耐德科技有限公司 109.平顶山神马鹰材包装有限公司

表面体积电阻率测试仪产品型号：Huace--300厂家：北京华测试验仪器有限公司品牌：华测 一、表面体积电阻率测试仪概述 Huace-300型表面体积电阻率测定仪对精确度的规定为低于10e10Ω为±10%, 高电阻时为±20%。本仪器既可测量高电阻，又可测微电流。 同时仪器体积小、重量轻、本仪器具有精度高、显示迅速、信号稳定、读数方便等优点。数字液晶直接显示电阻值和电流。量程从0.01×10e4Ω ～1×10e18 Ω，是目前测量范围宽，准确度高的数显式绝缘材料电阻率测量仪器。电流测量范围为2×10-4 ～1×10-16A。 测试电压为10/50/100/250/500/1000V 任意可调。适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。 三、表面体积电阻率测试仪技术指标：电阻测量范围0.01×10e4Ω ～1×10e18Ω电流测量范围2×10-e4A～1×10e-16A直接读取电阻率值是显示方式数字液晶显示内置测试电压10V、50V、100V、250、500、1000V基本准确度3%用环境: 温度0℃～40℃，相对湿度80%供电形式AC 220V，50HZ，功耗约5W仪器尺寸285mm× 245mm× 120 mm质量约2.8KG四、表面体积电阻率测试仪屏蔽箱 内部采用三层屏蔽，测试结果jing准五、表面体积电阻率测试仪典型应用：　　1.测量防静电鞋、导电鞋的电阻值　　2、测量防静电材料的电阻及电阻率　　3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值　　4、测量绝缘材料电阻(率)　　5、光电二极管暗电流测量　　6、物理,光学和材料研究　　7、高分子材料表面体积电阻率测定

四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。（使用环境5—40℃，相对湿度80%，供电220V 50Hz，为实验室环境使用）四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求电阻测量范围： 1、电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、电 阻：1×10-5～2×105Ω电导率：5×10-6～1×108ms/cm分辨率： 最小1μΩ 测量误差±5%2、测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV3、⑴电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。 ⑵量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, ⑶误差：±0.2%读数±2字4. 主机外形尺寸：330mm*350mm*110mm5、显示方式：液晶显示6、电源：220±10% 50HZ/60HZ7、标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

织物、防静电服点对点电阻测试仪专用于防静电工程表面电阻的测量，可测量防静电面料的点对点电阻、防静电服的表面电阻率（电极需定制）等，可供防静电产品生产厂、标准计量部门以及军工、科研等单位使用。定义：1.防静电服是指为了防止服装上的静电积聚，用防静电织物为面料，按规定的款式和结构而缝制的工作服.2.点对点电阻是指在给点时间内，施加材料表面两个电极间的直流电压与流过这两点间的直流电流之比. 3.防静电织物，是在纺织时，采用混入导电纤维纺成的纱或嵌入导电长丝织造成形的织物，也可是经处理具有防静电性能的织物.技术指标 1、电阻测量范围：1 ×104Ω ～1×1018Ω。2、电流测量范围：2×10-4A～1×10-16A。3、显 示 方 式： 32位LED液晶屏显示（直接显示电阻值和电流）。4、内置测试电压： 10V 、50V、100V、250、500、1000V。5、基本准确度：1% 。6、使用环境、温度：0℃～40℃，相对湿度80%。7、机内测试电压： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切换。8、供电形式： AC 220V，50HZ，功耗约5W。9、仪器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm。10、质 量：约2.5KG。11、电 极：粉体电极、液电极、固体电极（标配）。符合标准：GB/T 1410-2006《 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》GB/T 10581-2006 《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》GB/T 1692-2008 《硫化橡胶 绝缘电阻率的测定》GB/T 2439-2001《硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定》GB/T 12703.4-2010 《纺织品 静电性能的评定 第４部分：电阻率》GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》ASTM D257-99《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》典型应用1、测量绝缘材料电阻率（需计算）、电阻。2、测量防静电材料的电阻及电阻率（需计算）。3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值。4、测量防静电鞋、导电鞋的电阻值。5、光电二极管暗电流测量。6、物理,光学和材料研究。标准配置： 1、测试仪器：1台。2、固体电极：1套。2、电源线：1条。3、测量线：3根（屏蔽线、测试接线、接地线）。4、使用说明书：1份。备注：配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率，完全符合国家标准GB1410－2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法，ASTM D257 绝缘材料的直流电阻或电导试验方法　等标准要求。 操作方式：1、电流先手动调零。2、调整测试电压。3、旋转电阻波荡观察数值。4、读取电阻值。5、根据电阻值按以下公式求出体积电阻率和表面电阻率。1）体积电阻率 式中：PV——体积电阻率，单位为欧姆厘米（Ω.cm）；RX——按测得的体积电阻，单位为欧姆（Ω）；A——是被保护电极的有效面积，单位为平方米（m2）或（平方厘米（cm2））h——试样的平均厚度，单位为米(m)或厘米（cm） （2）表面电阻率计算：表面电阻率计算公式如下：式中：Ps——体积电阻率，单位为欧姆米（Ω.cm）；RX——按测得的表电阻，单位为欧姆（Ω）；P——是被保护电极的有效周长，单位为米（m）或（厘米（cm））g——两电极之间的距离，单位为米(m)或厘米（cm）备注：P=15.708(cm) g=0.2(cm)配套的电极尺寸：圆柱: 直径50 mm圆环: 外径 75 mm ,内径 55± 0.2 mm 厚度10 高度30 圆盘: 直径100mm屏蔽箱尺寸：20cm*20cm*9 cm 内部高度50mm固体式样尺寸要求测体积电阻率直径大于55mm（大于电极内径） 测表面积电阻直接大于100mm， 低于此直径大小需改电极 下列定义适用于本标准1、体积电阻　volume resistance在试样两相对表面上放置的两电极间所加直流电压与流过这两个电极之间的稳态电流之商，不包　括沿试样表面的电流，在两电极上可能形成的极化忽略不计。注：除非另有规定，体积电阻是在电化一分钟后测定。2、体积电阻率　volume resistivity在绝缘材料里面的直流电场强度和稳态电流密度之商，即单位体积内的体积电阻。注：体积电阻率的SI单位是。 ' m。 实际上也使用。? cm 这一单位。3、表面电阻　surface resistance在试样的其表面上的两电极间所加电压与在规定的电化时间里流过两电极间的电流之商，在两电　极上可能形成的极化忽略不计。注1：除非另有规定，表面电阻是在电化一分钟后测定。注2：通常电流主要流过试样的一个表面层，但也包括流过试样体积内的成分。4、表面电阻率　surface resistivity在绝缘材料的表面层里的直流电场强度与线电流密度之商，即单位面积内的表面电阻。　面积的大　小是不重要的。注：表面电阻率的SI单位是0。实际上有时也用 “欧每平方单位”来表示。5、电极electrodes电极是具有一定形状、尺寸和结构的与被测试样相接触的导体。注：绝缘电阻是加在与试样相接触的两电极之间的直流电压与通过两电极的总电流之商。绝缘电阻取决于试样的 注意事项仪器使用前请仔细阅读以下内容，否则将造成仪器损坏击情况。1.检查仪器后面板电压量程是否置于10V档，电流电阻量程是否置于104档。2.接通电源调零，在“Rx”两端开路的情况下，调零使电流表的显示为0000。然后关机。3.将待测试样平铺在不保护电极正中央，然后用保护电极压住样品，再插入被保护电极。4.测体积电阻时测试按钮拨到Rv边，测表面电阻时测试按钮拨到Rs边，5.接好测试线，将测试线将主机与屏蔽箱连接好。量程置于104档，打开主机后面板电源开关按钮。从仪器后面板调电压按钮到所要求的测量电压6.电流电阻量程按钮从低档位逐渐拨，每拨一次停留1-2秒观察显示数字，当被测电阻大于仪器测量量程时，电阻表显示“1”，此时应继续将仪器拨到量程更高的位置。测量仪器有显示值时应停下，在1min的电化时间后测量电阻，当前的数字乘以档次即是被测电阻。7.测试完毕先将量程拨至（104）档，然后将测量电压拨至10V档，后将测试按钮拨到中央位置后关闭电源。然后进行下一次测试。8.应在“Rx”两端开路时调零，一般一次调零后在测试过程中不需再调零。9.禁止将“RX”两端短路，以免微电流放大器受大电流冲击。10.不得在测试过程中不要随意改动测量电压。11.测量时从低次档逐渐拨往高次档。12.接通电源后，手指不能触及高压线的金属部分。13.不得测试过程中不能触摸微电流测试端。14.在测量高阻时，应采用屏蔽盒将被测物体屏蔽。15.严禁在试测过程随意改变电压量程及在通电过程中打开主机。16.严禁电流电阻量程未在104档及电压在10V档，更换试样。试样的预处理与测试环境（1）测试织物或服装试样的表面点对点电阻【按照国标GB12014、美标ANSI/ESD STM2.1】：试样应按标准洗涤后，在（60土10）℃温度下干燥1?h，在温度（20±5）?℃、相对湿度（35±5）%RH的测试环境条件下放置6?h。（2）测试织物或服装试样的表面电阻率【按照国标GB/T22042、欧标EN1149-1】或垂直（体积）电阻【按照国标GB/T22043、欧标EN1149-2】：试样应在温度（23±1）℃、相对湿度（25±5）%RH的测试环境条件下放置至少24h。（3）测试纤维体积比电阻【按照国标GB／T14342】：纤维应在温度不超过50℃，相对湿度（10～25）%RH的标准大气环境下预调湿；然后在温度（20±2）℃，相对湿度（62～68）%RH的标准大气环境下调湿和试验。电极清洁必要时可用纸巾沾乙醇清洁电极测试表面和放置试样的台面，待自然晾干后进行测试。注意事项1、精度复校将1×108Ω 标准电阻和仪器相连，仪器的测量电压选择在100V时，测量误差不得大于±5%。保养及存放（1）仪器放置不得紧贴地面、墙壁。应存放在温度0 ℃ ~ 40 ℃，相对湿度不大于85％的环境里。（2）仪器的使用、搬动和存放的周围应无酸碱及腐蚀性气体，并无强烈机械振动、冲击和强烈的电磁场。（3）仪器运输时，应包装好并有良好的防震措施。产品展示：

防尘口罩呼吸阻力测试仪简介：HP-KHZ-E呼吸阻力测试仪用于测定呼吸器和口罩类防护用品在规定条件下的吸气阻力和呼气阻力。适用于出口产品检测，满足欧标标准，同样也满足国内劳动防护用品检验机构、口罩生产厂家对普通口罩、防尘口罩、口罩、防雾霾口罩产品进行的相关检测和检验。HP-KHZ-E呼吸阻力测试仪产品特点：1、触摸屏控制，菜单操作，操作便捷。2、同时可以满足欧标和国标，中、英文操作菜单可切换。3、单位可选择，pa和mbar自由切换。4、标准头模，五个方向可旋转测试，模拟人体真实吸气呼气，满足欧标5、微压计传感器，精度高，稳定性好；采用防爆设计使用可靠。6、采用特殊的气路转换元件，保证呼气和吸气两套管路系统转换方便快捷。7、配有微型打印机，方便现场快速打印测试结果。8、仪器由可以调节流量的气源、标准规定的人体头模、吸气和呼气两套管路系统、呼吸阻力测定系统等组成。9、可设置呼气检测和吸气检测两种模式。防尘口罩呼吸阻力测试仪执行标准：BS EN149欧标、GB/T 32610-2016、GB 2626。防尘口罩呼吸阻力测试仪技术参数：流量计量程：呼气0～220L/min 可调节（欧标使用160L/min） 吸气 0-120 L/min可调节（欧标使用,30L/min，95 L/min）微压计量程：-1000PA～1000PA，精度为 1PA打 印 机： 微型热敏打印电源：AC220V，50HZ呼气试验：空气压缩机，排气量不低于200L/min，（用户自备）吸气试验：抽气泵（真空泵），抽气量不低于200L/min（用户自备）口罩呼吸阻力测试仪配置标配：主机一台，电源线，合格证 ，保修卡， 说明书。选配：空气压缩机，真空泵。彩色触摸屏

1.新品便携式电阻率/方阻测试仪KDY-1A （1）测量范围： 可测方块电阻： 0.1～1999Ω/口 当被测材料电阻率≥200Ωcm数字表显示0.00。 （2）恒流源： 输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档 1mA量程：0.1～1mA 连续可调 10mA量程：1mA ～10mA连续可调 恒流度：各档均优于±0.1% （1） 直流数字电压表 测量范围：0～199.9mv 灵敏度：100μv 准确度：0.2%（±2个字） （2） 供电电源： AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W （3） 使用环境： 相对湿度≤80% （4） 重量、体积 重量：2.2 公斤 体积：宽210×100×深240（mm） 2. 经济型自动吹扫捕集仪 型号：HAD-T70/T80 作条件 l电源：220VAC±22VAC 50Hz±0.5Hz l反吹载气压力：≤20psi l环境温度：5~35℃ l相对湿度：≤85% l样品位：70位/80位，40mlVOA样品瓶 l捕集管解吸温度：室温-450℃，升温速率1800℃/分； 管路加热温度：室温-295℃ l水处理器加热温度：室温-270℃ l样阀加热温度：室温-350℃ l针头固定座加热温度：室温-200℃ l清洗蒸馏水温度：常温和热水清洗可选 l玻璃吹扫管：5mL、25L吹扫管可选 l捕集阱规格：Tenax、三段复合C+B+1000等多种可选 l吹扫流量：10-200ml/分钟 l大率：800VA l时间范围：大999分钟 l定时误差：0.1% l气路耐压：0.4MPa l冷阱（电子半导体制冷）温度：制冷温度可达零下30度 l捕集管解吸温度：150-380℃，升温速率2400℃/分；90秒内由250℃降至35℃ l除水器加热温度：室温-350℃ l清洗蒸馏水温度：室温-90℃，控制度±1℃ l固体样品瓶加热：室温-100℃，控制度±1℃ l固体样品混合：5ml蒸馏水，振荡混合 l捕集阱尺寸：不锈钢材质Φ3mm×150mm×0.1mm l吹扫流量：10-150ml/分钟 l同步信号输出：两路1-2秒开关量 l重量：约50Kg 3.货供应六合气体检测仪 甲醛氧化碳 二氧化碳氧气 型号：HAD-6S 检测原理：电化学和红外原理 检测气体：空气中的意4种有毒气体、温度、湿度。等6参数。 检测方式：泵吸式 测量范围：（同时显示ppm、mg/m3） 甲醛：0.00-9.99ppm, 或0-19.99ppm 氧化碳：0.0-500ppm, 二氧化碳：0-5000ppm 氧气:0-30% 温度：-20∽60℃。 湿度：10-95%RH 基本误差：＜±1.5%（F.S 读数：0.1或者0.01ppm、响应时间：≤50秒显示气体的浓度：ppm、mg/m3,温度、湿度*。 彩色触摸显示屏，时间日期记忆能*。 有数据查询能，数据存储256组，有USB接口*。 传感器寿命：24个月 报警：声、光报警 外形尺寸：310x249 x120 mm 4经济型甲苯不溶物计数仪 甲苯不溶物计数器 智能计数仪 JSY-2 JSY-2 型智能计数仪该仪器主要用于 家标准《焦化产品甲苯不溶物（TI）含量的测定方法》中，与甲苯不溶物测定仪配套使用，能准确地自动记录甲苯萃取的次数，到达 萃取终点时，仪器能自动报警，提示操作人员停止萃取，使萃取终点 得到定量控制，保证了测定值真实可靠。 1. 计数范围： 0～999 次，三位数字显示。 2. 信号采集方式： 光电探头插入式。 3. 报警方式： 蜂鸣器报警，可以连响 100 次，在 100 次内，人 可以干预停响。 4. 使用环境温度： -10℃～40℃,光电探头使用温度为 80℃。 5. 电源电压： AC220V ±10％。 6. 率： 8W 7. 体积： 120 ㎜×165 ㎜×62 ㎜（长×宽×） 8. 总重： 0.87 ㎏ 5.新货供应H165430型盖格计数器 探测器GM管探测器，有能量补偿测量范围剂量当量率Hp（10）0.01 μSv/h-100 mSv/h累积剂量当量Hp（10）0.0 μSv-99.99 mSv累积剂量当量响应误差量程范围内＜±10%（137Cs）统计涨落（重复性）≤5%能量响应30 keV-3MeV满足GB/T 13161-2015标要求报警能有剂量率、累计剂量、作时间等报警能，声光震动，报警阈值连续可调相对固有误差相对固有误差-15%~25% 报警阈值偏差-15%~25%，td＜10s； 能量/入射角响应0.71~1.67。作时间充满电次可连续作时间：500小时左右温湿度特性温度：-30℃ - +50℃，湿度0-95%RH（+35℃无凝结）外形尺寸75mm*50mm*17.5mm（不含背夹）重量＜100g 6.薄层色谱成像仪 色谱成像仪 薄层成像仪 型号：HAD-FS61 感谢您使用HAD型薄层色谱成像仪。HAD型薄层成像仪是薄层色谱仪系列产品中主要仪器之，专业用于拍摄薄层样品荧光斑点和荧光淬灭样板。术规格： 紫外线灯： 254nm 2支 6W 220V 50HZ 365nm 2支 6W 220V 50HZ 日光灯 ： GB 2支 6W 220V 50HZ 透紫外滤光片： 50×200mm 2片 254nm 透光率≮68% 365nm 透光率≮86% 7.经济型实验室加热辊压机 型号：HAD-20T 本设备由减速电机驱动硬度压辊，机械调整压辊间隙，使片受压成型,增加片质密度。 三、术： 1、率：220V、5KW 2、轧辊温度：约200°C 3、两辊的温度可以立控制，意调节。 4、 压辊尺寸：Φ150mm×200mm； 5、 压辊面硬度：HRC62； 6、 轧辊圆柱度：≤±２μm； 7、 有效间隙：0-3mm可调； 8、 作速度：无变速，线速度0-4.0米/分可调； 9、辊面光洁度: ； 10、作宽度：200mm； 11、辊面淬火深度：5mm； 13、压力：20T； 8.彩屏泵吸二合气体检测仪氧化碳二氧化碳温度三合 型号：HAD-CO22 ? 支持中英文操作界面，切换简单方便 ? 气体浓度单位PPM、mg/m3可快速切换显示 参数 ? 电池：7.4V锂离子充电电池 ? 测量度：＜±3%(F.S) ? 显 示：彩色液晶显示 ? 操作语言：中文、英文 ? 作温度：-40℃～70℃ ? 作湿度： 0～95%RH ? 报警方式：声、光、振动 ? 作时间：100小时（关泵） ? 尺 寸：205*75*32mm ? 重 量：300g 传感器术参数：如需检测其它气体或对检测气体量程有要求的请与我们联系 检测气体 量 程 度 读数 响应时间 氧化碳(CO) 0-1000PPM ＜±3%(F.S) 1PPM ≤25秒 二氧化碳（CO2) 0-5000PPM ＜±3%(F.S) 1PPM ≤50秒 温度-20～80℃ 9.涡流导电仪/便携式涡流导电仪/导电率测试仪 型号：ST-FD-101 检测术 涡流 作频率 60KHz（标配） 尺寸： 180×90×40mm 测试范围 导电率：6.9%IACS~110%IACS 电导率：4.0MS/m~64MS/m 检测度 ±0.1%IACS~±0.5%IACS 分辨率 导电率：0.01%IACS 电导率：0.01MS/m 温度补偿 测量值自动补偿到20℃时的值 提离补偿 0.5mm 语言 中文；英文 标配探头 直径φ12.7mm 可选定制探头 直径φ8mm 10新货供应x、γ 个人剂量报警仪 型号：HAD-G16A ?探测器：能量补偿的 GM 管探测器 ?能量响应：30keV-3MeV ?测量范围：剂量当量率：Hp(10) 0.1 μSv/h-100mSv/h累积剂量当量：Hp(10) 0.0 μSv-9999 mSv。 可检测射线类型：X、γ射线；相对固有误差-17%~25% 报警阈值偏差-17%~25%，td＜10s； 能量/入射角响应0.71~1.67。 ?累积剂量当量响应误差：量程范围内＜±15% ?能量响应：满足 GB/T13161-2015 标要求 ?报警能：有剂量率、累计剂量、作时间、声光震动等报警能，报警阈值连续可调。 ?数据传输：可通过数据线将测量数据传输至计算机 ?耗：整机耗小于 4mW，充电次可连续使用时间大于 500 小时 ?温湿度特性：在-30℃--+50℃下，误差≤±10%； 在35℃下，湿度 0-95%RH（+35℃）误差≤±10% ?尺寸： 77mm*51mm*22mm 本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 注：页面价格只是配件价格或产品库存数量，并非产品价格 具体价格面议以上资料参数与图片相对应

主要设备组成：可调电源、AZ-991静电计、AZ-991电流测试、测试屏蔽箱 1. 测试导电材料、防静电材料接线图：　　将可调电源的电源正和电流测量仪的正极接好；电流测量仪的负极和测试屏蔽箱的电源正接好；可调电源的电源负和测试屏蔽箱的电源负接好；将测试屏蔽箱的测量正和测量负分别与静电计的正负极连接。2. AZ-991导电和防静电材料体积电阻率测量装置重要使用注意事项： 2.1 开机前按图接好线，为仪器安全，开机前可调电源调到较低的电压，Z好是0V。2.2 将静电计和电流测试仪输入线拔出后调好。 3、AZ-991导电和防静电材料体积电阻率测量装置使用方法3.1、概述　　在测量导电材料电阻率若采用三电极或二电极测量时会因为电极与被测量材料表面电阻而影响测量准确性，本装置采用四电极法测量导电和防静电材料体积电阻率，可以克服表面接触电阻造成的误差影响。 3.2、测量操作：a. 将电流测试仪和静电计上电。b. 调整可调电源输入，待电流测试仪和静电计出现数值并且稳定后读取数值。如果只有电流值，则通过调整电压的倍数来保证电压读数稳定，记录电压值，单位是V；同时记录电流值，电流值单位为选择对应档位的量程单位。c. 通过公式计算。4. 试样准备（根据不同标准用不同的试样大小）将要测量的试样切成长度和宽度能在电流电极夹住，建议110mm, 宽为50mm。电压电极应平行放置在材料表面上，有些材料在用水清洗后要进行烘干后进行测量，可以根据不同标准或规范进行。 5.注意事项a. 接线不能接错。红线接红接线柱或插红插座，黑线接黑接线柱接黑插座b. 测量导电材料时，如果材料的导电性能很好，则加电压不能大高，否则电流会很大，有可能发热，在材料上消耗的Z大功率不要超过0.1W。c. 电压电极应平行放置在材料表面的。6.导电材料电阻率计算导电材料电阻率测量计算公式材料宽度W=0.05m,试样厚度t=0.001m, 本测试箱中电压电极之间的距离为d=0.02m测试结果:AZ-991静电计测量的电压V=1.701V, AZ-991皮安表的电流为106.0×10-6A，计算电阻率：＝≈40.00（Ω.m） 上例子中，如果试样的单位改用cm时的计算过程如下：＝≈4000（Ω.cm）上述两个结果是相同的，因为1m=100cm