闪存温度测试专用高低温测试机

上海伯东 inTEST 高低温循环测试机闪存温度测试应用闪存(Flash Memory)，是非挥发性内存的一种，不需电力来维持数据的储存，可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash两种，前者用于储存程序代码，后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、GPS、工业电子…等等。闪存温度测试原因为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读／写操作功能，因此在出厂前需要进行温度测试，inTEST ThermoStream 超高速高低温循环测试机凭借可测试温度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升温或降温 18°C，温度精度 +-1.0℃等优势广泛应用于闪存制造行业。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务闪存温度测试方法:透过与爱德万 (Advantest ) 内存 IC 测试系统搭配之下，客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求，上海伯东推荐选用 inTEST ATS-545-M 高低温循环测试机，并提供两种温度操作模式: Air mode 及 DUT mode闪存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式来进行温度循环测式，将闪存与 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互连接，如此即可精确掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存温度测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。更详细的温度测试操作方法欢迎致电 021-5046-3511inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热能工程和测试系统开发领域专家。inTEST Thermal Solutions 提供超高速高低温循环气流冲击设备，系列产品包含 THERMOSTREAM® ，thermochuck，Chiller。其中 inTEST ThermoStream 系列已全面取代 Thermonics 和 Temptronic。inTEST 凭借提供精密的高低温循环测试环境，作为最优的高速热测试设备广泛应用于安捷伦(Agilent)、台积电(TSMC)、IBM 等半导体、PCB、光通讯行业。上海伯东作为 inTEST 大中华地区总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务 上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Brooks Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。上海伯东版权所有，翻拷必究！

闪存芯片智能测试系统FT-N200是一款可量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统可提供宽温测试环境，并行测试闪存颗粒种类最多可达25种，并行测试闪存颗粒数量最多可达200 颗。闪存芯片智能测试系统FT-N200 支持多种测试 pattern及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供最直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级。

Temptronic ThermoStream ATS-710-M 高低温冲击测试机上海伯东美国 inTEST ATS-710-M 高低温冲击测试机中国总代理！温度冲击范围：-80°C 至 +225°C；触摸屏式控制面板，防静电设计，具备自动除霜功能。inTEST ATS-710-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04300 和 Thermonics T-2500 全新升级款！~Temptronic ThermoStream ATS-710-M 技术参数：型号温度范围°C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-710-M-75至+225 50Hz-80至+225 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 10 s+125至 -55°C 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232Temptronic ThermoStream ATS-710-M 功能特点：自动升降温：冷冻机(Chiller)特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却预防结霜：干燥气流循环吹扫测试表面，防止水汽凝结(气体流量0.5至3scfm)自动待机：空闲或加热模式下，inTEST 高低温测试机自动减少能耗加热除霜：快速去除冷冻机内部积聚的水汽触摸屏幕控制面板：Windows® 系统温度显示精度：±1℃(通过美国国家标准与技术研究院NIST校准)过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。支持 Ethernet，IEEE-488，RS232；支持测试数据存储配置 USB、键盘、鼠标、打印机端口热流罩提供局限性的温度测试环境，特别适合温度冲击测试；专利设计防止水气在DUT上凝结Temptronic ThermoStream ATS-710-M 配置包含：1、主机 ATS-710-M2、4.5或5.5 英寸热流罩3、耐高低温专用密封垫* 客户可根据实际应用选择额外软管和测试腔与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。上海伯东美国inTEST 高低温测试机应用：1、光纤收发器高低温测试：适用于40G/100G Transceiver2、闪存高低温测试：适用于Flash、EMMC

LED 液晶显示屏环境温度测试上海伯东美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机可与德国 AUTRONIC DMS 803 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试。LED 液晶显示屏环境温度测试原因：一般液晶显示器的工作温度是 20-50度，液晶显示器内部有很多发热电子元件，为保障电子元件在低温和高温极端环境下正常运行，厂家在出厂前都需要进行 LED环境测试，主要测试项目包含冷热循环 Thermal cycle 与冷热冲击 Thermal stock。 LED 液晶显示屏客户案例：上海伯东客户是一家国际知名的显示屏生产企业，结合实际生产需要，采购 inTEST- ThermoStream ATS-545-M 用于显示屏高低温测试。ThermoStream ATS-545-M 移动式设计，测试温度范围：80°C 至 +225°C，操作直观。LED 液晶显示屏温度测试方法：客户采用美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机与德国 AUTRONIC DMS 803 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试。采用 ThermoStream ATS-545-M Air Mode 模式测试：1、通过管路将高低温测试机 ATS-545-M 与 DMS 803 直接相连2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-545-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温4、高低温测试机 ATS-545-M 显示屏可实时监测当前循环冲击气流温度，而且自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710E 实现高低温冲击测试上海伯东美国 inTEST 热流仪 ATS-710E-M 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -80°C 至 +225°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题！inTEST ATS-710E 是旧款高低温测试机 Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 全新升级款！~inTEST ThermoStream ATS-710E 技术参数型号温度范围 °C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-710E-75至+225 50Hz-80至+225 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s+125至 -55°C 约 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232inTEST ThermoStream ATS-710E 功能特点自动升降温: 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量0.5至3scfm)自动待机: 空闲或加热模式下, inTEST 高低温测试机自动减少能耗加热除霜: 快速去除冷冻机内部积聚的水汽触摸屏幕控制面板: Windows 系统温度显示精度: ±1℃(通过美国国家标准与技术研究院NIST校准)过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C, 操作员可根据实际需要设置高低温限制点。支持 Ethernet, IEEE-488, RS232, 支持数据存储配置 USB, 键盘, 鼠标, 打印机端口热流罩提供局限性的温度测试环境, 特别适合温度冲击测试 专利设计防止水气在DUT上凝结inTEST ThermoStream ATS-710-M 配置包含：1. 主机 ATS-710-M2. 4.5或5.5 英寸热流罩3. 耐高低温专用密封垫* 客户可根据实际应用选择额外软管和测试腔ATS-710-M 高低温测试机尺寸和重量:尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm净重 236 kg, 毛重 365 kg与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710 实现电源管理芯片高低温冲击测试若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

集成电路 IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一：上海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至+225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度+230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。集成电路 IC 卡温度测试客户案例二：上海伯东客户是一家 IC 卡生产企业，经过技术选型，采购 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低温测试机，ATS-535 内置空压机，温度测试范围：-60°C 至 +225°C，适用于实验室内无空压系统的客户，方便移动。集成电路 IC 卡温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测 IC卡和温度传感器放置在测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-535 ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-535 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

高低温快速温变试验箱快速温度变化测试机产品用途：用于检测出产品在快速温度变化和极限温度情况下的性能。适用于电子、电工产品整机及零部件进行温度快速变化或渐变条件下的适应性试验，特别是针对于电子电工产品的环境应力筛选(ESS)试验。满足150~4600L标准容积和其它型号非标定制其他名称：快速温度循环箱，环境应力筛选试验箱，线性温度变化试验箱，非线性快速升降温试验箱，快速温变箱,快速温度变化箱，温度瞬变试验箱，温度快速变化箱。高低温快速温变试验箱快速温度变化测试机产品特点1.适用电子电工产品环境应力筛选(ESS)试验，和在温度快速变化或渐变条件下对测试件温度应力检测、温湿度筛选、可靠性测试、性能测试、耐候试验、高低温储存等。2.产品满足温度定值变化（线性升降温方式）和非线性升降温。3.满足5~30℃/min温变速率要求。4.可按需定制（湿度）测试要求，满足150L至4600L标准容积和其它型号非标定制新型伺服流量调控技术：1.节能30%左右；2.蒸发器不易结霜（长期高湿、低温）；3.线性机型更方便实现 4.温度均匀度更好控；5.压缩机不易结霜，寿命更长；6.非标设计更方便 高低温快速温变试验箱快速温度变化测试机主要参数内容积150 L225 L512 L1000 L2400 L3400 L4600 L线性温度范围℃及线性温度速率min/℃-40～125℃（AX线性2℃/5℃/10℃/15℃/20℃/25℃ AF非线性2℃/5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）AX2、AX5、AX10、AX15、AX20、AX25 , AF2、AF5、AF10、AF15、AF20、AF25 比如AX15：线性15℃，线性范围-40～125℃；；AF15：非线性（平均）15℃，非线性范围：-40～125℃。非线性（平均）温度范围℃及非线性（平均）温度速率min/℃-55～125℃（CX线性2℃/5℃/10℃/15℃ CF非线性2℃/5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）CX2、CX5、CX10、CX15，CF2、CF5、CF10、CF15、CF20、CF25；比如CX10：线性10℃，线性范围-55～125℃；CF10：非线性10℃（平均），非线性范围：-55～125℃。环境要求风冷环境温度要求+5～+30℃/水冷环境温度要求+5～ +40℃（水冷需要装水塔或冰水机）温度范围-70℃～+150℃温度均匀度≤2.0℃温度偏差≤±2.0℃温度波动度 ≤±0.5℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）电源AC380V±10%,50Hz±1三相四线+接地线（3/N/PE），接地电阻小于4Ω湿度范围10%RH～98%RH（5%～98%R.H；为特殊条件需定制）湿度均匀度≤3.0%RH湿度偏差+2.0%RH～-3.0%RH（±3.0％RH 按 GB/T 2423.3-2008 表示）湿度波动度≤±2.0%RH标准配置观察窗（双层中空钢化导电玻璃）1个，测试孔Φ50/Φ100mm（位于左边）1个，样品架2层，箱内照相灯（LED灯）1条，供水箱1个，湿球用气象带1个，小脚轮4个，电源线1条。满足试验标准：GB/T 2423.1 低温试验方法 GJB 150.3 高温试验GB/T 2423.2 高温试验方法 GJB 150.4 低温试验GB/T2423.34 湿热循环试验法 GJB 150.9 湿热试验IEC60068-2 温湿度试验法 MIL-STD-202G-103B湿度测试兼容的测试标准：IEC-60749-25：半导体器件——温度循环IEC-60068-2-14 Nb：环境测试——温度变化IEC-61747-5：液晶和固态显示设备——环境、耐久性和机械测试方法JESD22-A105-C：固态器件，测试质量和可靠性——功率和温度循环SAE-J1211：汽车部件 - 电子设备设计的推荐环境实践IPC-9701：表面贴装焊接附件的性能测试方法和资格要求

温度冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障助手。 温度冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区*静止，采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用； 2、可由测试孔外加负载配线测试部件； 3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然； 4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统； 5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷； 6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能； 7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能； 8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜； 9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 温度冲击试验箱执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法； 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法； 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验； 4、GJB150.5-86温度冲击试验； 5、GJB360.7-87温度冲击试验； 6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。 7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式 8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式 9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 11、GB/T 2423.22-2002温度变化 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估

仪器简介：高低温环境测试机技术参数：高低温环境测试机详细说明 ◇型号规格及主要技术参数 产名 名称 型号 规格 工作室尺寸 温度 范围 温度均 匀度 温度波 动度 温度 偏差 高低温试验箱 HC-80 400× 500× 400 -0℃ -20℃ -40℃ -70℃-150℃ 2℃ ± 0.5℃ ± 2℃ HC-120 500× 600× 400 HC-150 500× 600× 500 HC-225 500× 750× 600 HC-408 600× 850× 800 HC-800 1000× 1000× 800 HC-1000 1000× 1000× 1000 HC-306 600× 750× 800 产名名称 型号 规格 降温 速度 功率 (KW） 电源 电压 备注 高低温试验箱 HC-80 1.0-1.2℃/min 2 AC220V 50HZ 1、数显仪表及进口制冷压缩机 2、内胆为不锈钢，外壳为冷轧钢板喷涂。 3、配备超温、超压和断相的报警保护装置。 HC-120 3 HC-150 4 AC380V 50HZ HC-225 5 HC-408 8 HC-800 9 HC-1000 12 HC-306 6主要特点：高低温环境测试机

inTEST ATS-515 高低温冲击测试机上海伯东代理美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机, 先进的温度源, 用于对零件, 混合动力, 模块,子装配和印刷电路板进行快速, 精确的热调节. 无需使用液氮（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）即可实现超低温. inTEST 高低温冲击测试机 (热流仪) ATS-515 可选配小推车方便移动操作. 温度冲击范围: -45°C 至 +225°C, 旋钮式控制面板, inTEST ATS-515 是旧款高低温冲击测试机 Temptronic TP04500 和 Thermonics T-2600BV 全新升级款！ThermoStream ATS-515 高低温冲击测试机技术规格温度冲击范围-45°C 至 +225°C变温速率-40至+ 125°C 12秒+125至-40°C 40秒温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C（根据NIST标准校准时）DUT 传感器端口热电偶: T＆K型电源200±10％VAC 50Hz, 16安培工作温度+ 20°至+ 28°C +23°C 标称值湿度0至60％ 额定值的45％尺寸 cm控制器 (宽高深) 26.7 x 20.7 x 9.8冷冻机 (宽高深) 51.3x41.4x74.9热流罩直径 13.97重量 kg整机: 112冷冻机 74.5冷冻机+移动推车 100.8ThermoStream 高低温冲击测试机特性► 无霜功能: 接口干燥空气吹扫, 防止水汽冷凝: 0.5 至 3scfm（0.25至1.5 l / s）► 环保功能: 不使用低温时减少功率消耗► 完全可调的热头► 本地和远程操作► LabView&trade 驱动程序► IEEE-488，RS232 端口► 可自定义和实用的测试设置► 程序和数据存储► 用户定义的温度极限► 2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (温度传感器：T型或K型热电偶)► CE相容 不含CFC: 高低温测试机选用的制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境► ThermoStream ATS-515 可自动错误诊断, 易维护Temptronic ThermoStream 高低温冲击测试机应用：集成电路 IC 卡高低温测试, 电子元件高低温测试, 半导体芯片高低温测试, PCB 电路板高低温测试, 光通讯器件(闪存,eMMC)高低温测试等等任何您需要测试的地方！与传统高低温测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机主要优势:1. 变温速率更快2. 温控精度: ±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件5. 对测试机平台 load board 上的 IC 进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.欢迎联络上海伯东 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

上海伯东代理美国 inTEST-Temptronic 高低温测试机用于集成电路IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试、冷热冲击测试、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例：上海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至+225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度+230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：021-5046-3511inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。上海伯东版权所有，翻拷必究！上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。

产品特点：高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简单、学习容易。温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时，最大时间可达999H，最大循环周期可达9999次。系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。试料槽完全静止，可由测试孔外加负载配线。蓄热方式可避免使用职业伤害。（注：液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少, 而产生工作倦怠,集中力降低）。可选择始动位置，高温或低温开始循环。具有预约起动功能。可设定循环次数及自动除霜。可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜。运转中状态显示及曲线，异常及故障点显示说明及排除方法。有异常或故障显示及排除方法说明。欧美原装高效率复叠压缩冷冻机组，运转噪音低，省能源之设备多重保护装置，有效的保障系统的安全可靠运行产品用途： 高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。该产品即适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用和军用产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子……等材料，可作为其产品改进的依据或参考。 蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（LN2　或 LCO2）辅助降温，待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供长期可靠的测试工具。高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家执行满足标准及试验方法GJB150.5 温度冲击试验GJB360.7温度冲击试验GB/2423.22 温度冲击试验温度范围：低温（F：-40；X：-55；S：-65）~高温+150℃高温区：+60℃~+200℃低温区：-10℃~-75℃ 升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内温度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃内外部材质：内箱为SUS 304#不锈钢板雾面处理，外箱为冷轧钢喷塑处理或不锈钢保温材质：耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料控制器：原装进口韩国“TEMI” 或日本“OYO”牌 通讯功能：RS-232接口　　　压缩机：法国"泰康"牌或德国"比泽尔"制冷剂：美国R23和R404环保制冷剂冷却系统：全密闭式双段压缩机(风冷式)或半密闭式双段压缩机(水冷式)系统：P.I.D+S.S.R+微电脑平衡调温控制系统冷凝器：不锈钢钎焊板式换热器加热器、冷却器：镍铬合金加热器、翅片式冷却器、蓄冷器气动气缸：高温、环境温度、低温暴露时的各个风门驱动用冷却循环水：水压：0.2～0.4Mpa 水温≤30℃压缩空气：0.6～0.8Mpa安全保护装置：无熔丝开关、压缩机高低压保护开关、压缩机过热、过载、过流保护，冷媒高压保护开关、故障警告系统、电子警报器、漏电保护器，风机过热保护，相序保护，超温保护，排气阀，压缩空气调节开关，保险丝。配件：上下可调隔层两片、电缆测线孔、脚轮、水平支架电源：AC380V 50HZ/60HZ重量(大约) 450Kg 500Kg 550Kg 600Kg 700Kg

inTEST Temptronic ATS-545-M 高低温冲击测试机上海伯东美国 inTEST 高低温冲击测试机中国总代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 热销款高低温冲击测试机。温度冲击范围：-80°C 至 +225°C；旋钮式控制面板，支持测试数据存储。inTEST ATS-545-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04310和Thermonics T-2820 全新升级款！~高低温冲击测试机 Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技术参数：型号温度范围°C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-545-M-80 至 +2254 至 18 scfm1.8至 8.5 l/s-55至 +125°C 10 s +125至 -55°C 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232inTEST 高低温冲击测试机功能特点：自动升降温：冷冻机(Chiller)特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却旋钮式控制面板温度显示精度：±1℃(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗大气流量输出，变温速率快，节省操作时间，热流罩提供局限性的温度测试环境，特别适合温度冲击测试；专利设计防止水气在DUT上凝结与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。温度冲击测试方法：inTEST-Temptronic 高低温冲击测试机提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。inTEST 高低温冲击测试机ATS-545-M 基本参数尺寸 cm款x深x高 61 X 72.4 X 108重量kg236最高 cm160最高操作高度 cm130.3（可选的扩展高度 188）最低操作高度 cm69.1（可选的扩展高度 81.3）噪音 65 dBA提供inTEST ATS-545-M 机械手臂版本和 ATS-545-T 测试腔版本供您选择!

型号※1TC/TH180TC/TH400TC/TH600TC/TH800TC/TH1000性能※2温度范围-70～+150℃湿度范围※320～98%RH温度波动度※40.5℃温度偏差±2℃湿度偏差±3.0%RH（＜75%RH）；±5.0%RH（≥75%RH）温度变化速率※55℃/分，10℃/分，15℃/分，20℃/分，25℃/分（线性或非线性变化）温度变化速率范围-55℃～+125℃内部尺寸（mm）W60081080010001000H60071095010001000D5006708008001000※1 无湿热功能的型号为TC。※2 室温为+25℃和循环水温+25℃、无试样条件下测得的数值。※3 有湿度才有此功能。※4 波动度按GB/T5170.2-2008规则表示，如按GB/T5170.2-1996表示为±0.25℃。※5 可选配液氮辅助制冷系统，降温速率可达30℃/min。详细参数以对应产品规格书为准 注：外尺寸不包括外突部分。 宏展TC-180高低温循环测试机实拍：

价格货期电议inTEST ATS-535 热流仪全球唯一集成空压机的高低温冲击机 上海伯东代理美国 inTEST ThermoStream ATS-535 是目前全球唯一内部集成空压机的高低温冲击机 ( 热流仪 ),整机噪音 70 dBA, 不需要额外安装空压机即可完成各类芯片的高低温冲击试验. 特别适用于对环境噪音有严格要求的写字楼园区或研发环境, 除了机动性方便移动外, 更可省去您重新评估空压系统及配管的时间及人力成本, 完美解决了因为环境受限无法提供压缩气体的芯片高低温测试难题.inTEST Temptronic ATS-535 高低温测试机特性： 自动升降温，不需要液态氮气(N2)或液态二氧化碳(CO2)冷却。 旋钮式控制面板 过热温度保护：出厂设置温度 +225°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。 加热模式下,冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode(温度传感器：T型或K型热电偶)远程接口: IEEE.488, RS232 LabViewTM 驱动数据存储 热流罩提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结CE相容 不含CFC：inTEST-Temptronic ATS-535 高低温测试机选用的制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境inTEST ATS-535 高低温冲击机参数高低温冲击范围-60至+ 225°C变温速率-40至+ 125°C 12秒+125至-40°C 40秒系统气流输出*5scfm（2.4l / s）固定流量温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C（根据 NIST 标准校准时）DUT 温度控制专有的控制算法可直接控制 DUT 温度DUT 传感器端口热电偶：T＆K型电源制冷机功率：220±10％VAC 50 / 60Hz 16amp压缩机功率：220±10％VAC 50 / 60Hz 30amp工作温度+ 20°至+ 28°C +23°C 标称值湿度0至60％ 额定值的45％尺寸194.7cm（76.7inch）X 61.7cm（24.3inch）X 108.6cm（42.8inch）重量249.5kg（550lbs）inTEST ATS-535 尺寸inTEST ATS-535 高低温冲击机典型应用:上海伯东某主要研发生产电源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 公司, 因场地噪音限制, 严禁使用空压机, 通过伯东推荐采购 ATS-535 成功实现电源管理芯片的高低温冲击试验. 经过测试的芯片广泛应用于卫星通讯, 定位系统, 安防等领域.inTEST ATS-535 高低温冲击机测试过程1. 将待测芯片放置于已做好的工装中.2. 将 sensor 一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触3. 将 ATS-535 热流罩转到工装平台并下压固定4. 启动 ATS-535 高低温冲击机加热至需要测试的温度点5. 启动芯片测试设备对芯片在 -55度及 +125度下进行性能测试并记录数据inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics Temptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。 上海伯东版权所有，翻拷必究！ 若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

上海伯东代理美国 inTEST Temptronic 高低温冲击测试机成功应用于光模块温度测试光模块 Optical Module 由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分。其中的光收发一体模块 Transceiver，是光纤通信系统中重要的器件。光收发模块在电工作时本身就会产生高热，加上其安装的环境通常在户外，故温度过高或过低时，光模块是否可正常运作，是生产企业必须解决的问题！光模块高低温测试客户案例：上海伯东客户浙江某光收发模块制造商，生产 40G Transceiver 光模组，此次采购高低温测试机用于服务器内部光模组的高温冲击测试。因为光收发模块在电工作时本身就会产生高热，所以对高温的冲击测试要求很高，经过我司技术推荐采购 inTEST ThermoStream ATS-545-M 高低温测试机，可提供测试温度 -80°C 至 +225°C。inTEST 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个光模块，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光模块高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将待测光模块放置在测试腔中，根据操作员设定喷出和设定温度相差±1℃的冷热交替循环气流，从而进行光模块高低温测试。鉴于信息保密，更详细的光模块高低温测试方法欢迎拨打电话：上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Brooks Polycold 冷冻机 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。 若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

易爆电子产品专用高低温防爆测试箱 皓天试验箱箱体：不锈钢内胆；高密度防火发泡绝缘保温材料，厚度100mm；Φ50mm孔一个，外接电信号线；三层真空钢化玻璃，内设照明灯；不锈钢格栅置物架2片；铂金温湿度传感器；带泄压防爆窗。控制系统：触摸屏系统，可程式微电脑温湿度控制器，大屏幕彩色画面；实时表示温湿度曲线；24位高精度，两位小数显示；可保存3个月数据；提供USB通讯接口备份历史数据；可记录错误履历；内置自动调谐功能。易爆电子产品专用高低温防爆测试箱 皓天试验箱主要配置简介电气系统：镍铬合金电加热器；抽屉水箱供水装置；强制循环通风；高效制冷机和能量调节；交流接触器、温度信号固态模块器、热过载继电器选用原装进口产品。制冷系统：风冷式；原装进口的全封闭式复叠式制冷压缩机两台；配油分离器、干燥过滤器、压力控制器、凝结水接水盘，采用特种消音海绵吸音。其他配件：配数显温湿度计1台；配置物架2套，电缆孔1个，孔塞孔盖各1只，出水管1支。主要元器件均原装国外进口。易爆电子产品专用高低温防爆测试箱 皓天试验箱1、用于试验各种材料进行高低温环境模拟的可靠性能。可对温度和湿度同时进行控制。2、内腔空间容积：80L 内箱尺寸：400*500*400MM ,外箱尺寸：550*1550*950MM3、温度范围：-70℃～150（任意调节）4、湿度范围：20%～98%（任意设定）5、升降温速率：室温至150℃，约60分钟（约3.5℃/分钟）；室温至-70℃，约75分钟（约1.2℃/分钟）6、温度解析精度：0.01℃；温度波动度：≤±0.5℃；温度均匀度：≤2.0℃；温度偏差：≤±2.0℃7、湿度解析精度：0.1%RH；湿度波动度：≤±2.5%RH；湿度均匀度：≤±3.0%RH；湿度偏差：湿度大于75%R.H时，≤+2.0/-3.0%RH；湿度小于75%R.H时，≤±5.0%RH8、具有漏电/突波防止保护、温/湿度感应器断路或短路、三层超温保护、压缩机保护、故障异常保护、动态高低温保护等保护措施。 易爆电子产品专用高低温防爆测试箱 皓天试验箱基本资料：产品名称：防爆可程式高低温湿热试验箱产品型号：SME-80MF内箱尺寸（工作室尺寸）：400*500*400MM内箱尺寸：650*1550*950MM控制器：TEMI990压缩机：法国泰康温度范围：-70~150℃湿度范围：20~98%RH升温速率：3.5℃/MIN降温速率：1.0℃/MIN

上海伯东美国 inTEST ThermoStream 高低温测试机用于光通信收发器(transciever)温度测试光通信收发器(transciever)温度测试原因：光通信器件在出厂前需要做元件级测试，主要包括对光纤收发器内部关键器件在电工作的电性能测试，失效分析、可靠性评估等。inTEST ThermoStream 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个收发器，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光通信收发器(transciever)客户案例：上海伯东客户是一家国际知名的光通信生产企业，经过技术选型，采购 inTEST- ThermoStream ATS-545-M 用于光通信收发器的高低温测试。ThermoStream ATS-545-M 移动式设计，配套自动机械手臂，测试温度范围：80°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。收发器温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测收发器和温度传感器放置在客户定制的测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-545-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-545-M 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。鉴于信息保密，更详细的光通信收发器(transciever)温度测试方法 欢迎拨打电话：021-5046-3511上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。

闪存芯片智能测试系统FT-N200是一款可量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统可提供高温测试环境，并行测试闪存颗粒种类最多可达30种，并行测试闪存颗粒数量最多可达240 颗。闪存芯片智能测试系统FT-N200 支持多种测试 pattern及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供最直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级。

闪存芯片智能测试系统 FT-N008B 是一种可以量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统并行测试闪存颗粒数量最多可达 8 颗。闪存芯片智能测试系统 FT-N008B 支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余 寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠 性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供最直观的图形化测 试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测 结果实现智能分级。

节能型高低温试验箱 高低温测试机DR-H201C技术参数型 号DR-H201-80DR-H201-100DR-H201-150DR-H201-225DR-H201-408DR-H201-800DR-H201-1000内部尺寸W×D×H(cm)40×40×5050×40×5050×50×6050×60×7560×80×85100×80×100100×100×100外部尺寸W×D×H(cm)68×135×16578×135×16578×149×17278×161×18588×185×195128×187×210128×202×210温度范围高温：150℃（180℃/200℃特殊定制）低温：RT+15℃~-70℃（更低温可特殊定制）湿度范围20%— 98% R.H.（10%～98%R.H）；（5%～98%R.H为特殊选用条件）湿度解析精度/温度0.1%R.H/0.1℃湿度波动度±0.5℃升温/降温速率升温：2.0~4.0℃/min非线性空载 降温:0.7~1.0℃/min非线性空载内外部材质内箱：SUS304#不锈钢板制 外箱：电解板表面烤漆处理或SUS304不锈钢保温材质耐高温高密度聚氨酯PU材料冷却系统风冷式/法国泰康压缩机/自主开发控制系统安全保护装置无熔丝开关、压缩机过载保护、冷媒高低压保护、超湿度超温度保护、保险丝、故障警告系统、缺水报警保护配 件操作孔内置玻璃门（选购），记录器（选购），观视窗，50mm测试孔，PL箱内灯，隔板，干湿球纱布，脚轮，水平脚架电 源AC220V ±5%V/50±0.5Hz/单相三线+保护地线；AC380V±5%V/50±0.5Hz、三相五线+保护地线使用环境德瑞检测 高低温老化试验箱DR-H201-408A温度：25℃+5℃ 相对湿度：≤85%节能型高低温试验箱 高低温测试机DR-H201C主要特征满足多项国际安全规格要求。温度范围：-70～180℃/10%～98RH；内容积：220L～1000L。新型压缩机的使用，实现了大范围、高精度的温湿度控制。基于ESPEC专利的平衡调温调湿控制系统（BTHC），双PID及水蒸气分压控制，技术成熟、精度极高。产品绿色环保、省耗节能。通过相关接口均可进行网络控制及数据采集。标配左右电缆孔、便于试样实施通电连线、进行多项测量。40模式可编程温度控制器、具有多种语言选择（简/繁体中文、英语）、试验数据U盘存储。加宽型产品可以对应大尺寸试料的试验要求。通过提供内槽尺寸特殊对应改造方案，满足客户对更多不同尺寸的试料的试验需求。节能型高低温试验箱 高低温测试机DR-H201C设备使用环境1.环境温度：5℃～＋35℃（24小时内平均温度≤28℃）；2.环境湿度：≤85%；3.电源要求：AC380（ ±10%）V/50HZ 三相五线制；4.操作环境需要在室温28度以下而且通风良好；5.机器放置前后左右各留空80公分，保持空气流通不可放置东西；

价格货期电议inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件自动化高低温测试上海伯东美国 inTEST 热测产品搭配 Keysight 机台, 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 自动化热测试解决方案. Keysight 机台完美兼容 inTEST 软件, 操作简单.功率器件高低温测试案例一:上海伯东美国 inTEST Thermal Plate HP289-PM 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室温至 250℃ 温度测试. 通用软件, 操作简单, 只需将待测器件放置在 Thermal Plate 上即可. 通过使用 inTEST 可能的减少长线缆导致的测试问题, 兼容接头将 Keysight 分析仪与 inTEST 热板连接在一起.上海伯东美国 inTEST HP289-PM 是一个温控平台, 可以与 Keysight B1505A 和 B1506A 功率器件分析仪联用. 该平台允许自动控制板温度, 从外壳环境温度到 250°C, 用于表征功率器件, 例如 IGBT 和 MOSFET.主要特点1. 自动温度循环2. 实时数据记录3. 动态 DUT 温度控制4. 本地和远程操作功率器件高低温测试案例二:inTEST ThermalStream 高低温冲击测试机搭配 B150XA 系统, 提供 -50℃~250℃ 的温度测试环境.测试时, 只需将待测功率器件放置在高低温测试机测试罩内即可. 如果未连接测试腔, 则测试器件可能会因热空气或冷凝水而损坏. 连接到测试设备和 Thermostream 的热防护罩解决了这个问题, 可进行准确. 可靠和可重复的温度特性测试.上海伯东美国 inTEST ThermalStream 热流仪搭配 Keysight B150XA 系统评估 -50°C 至+ 250°C 温度范围内的功率器件特性, 是半导体器件制造商中比较通用的测试手段, ThermoStream 具有快速的热循环和精确的温度控制,是高功率器件可靠性测试和表征的理想选择.主要特点1. 自动温度循环2. 实时数据记录3. 动态 (DUT) 温度控制4. 本地和远程操作5. 无霜测试环境6. 节能模式功率器件高低温测试案例三:某企业通过上海伯东推荐, 购入美国 ThermoStream ATS-710 高低温冲击测试机, 为 MOSFET \ MOS 管, 场效应管, TO 封装等器件提供 -50 至 +150 °C 快速的外部温度环境, 满足测试器件性能的要求.inTEST Thermal Plate 热台 (环境温度至 +250°C) 和 ThermoStream (-50 至 +250°C) 可满足高温和极低温测试的需求. 两种温度测试都具有温度自动循环, 数据记录和远程通信功能.若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士,分机107现部分品牌诚招合作代理商, 有意向者欢迎联络上海伯东 叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

高低温湿热交变测试机DR-H201-150技术参数1.1. 测试环境条件1.2. 测试方法环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下GB/T 5170.2-2008 温度试验设备；GB/T 5170.5-2008 湿热试验设备。1.3. 温度范围A:-20℃→+150℃、B:-40℃→+150℃、C:-70℃→+150℃1.4. 温度波动度≤±0.5℃1.5. 湿度范围20%～98%R.H。1.6. 湿度波动度≤±2%R.H.1.7. 升温速率3℃/min 非线性 空载1.8. 降温速率1~1.2℃/min 非线性 空载规格参数DR--H201-80DR--H201-100DR--H201-150DR--H201-225DR--H201-408DR--H201-800DR--H201-1000内箱尺寸W4050506080100100H5050607585100100D404050506080100温度范围+50～150℃(A) 0～150℃(B) -20～150℃(R) -40～150℃(L) -60～150℃(U) -70～150℃ ( J ) -100～150℃(H)高低温交变湿热试验机具备标准型之优越的设计外观，视野宽广的观物窗：长方形观物窗，采用节能灯保持试验箱内明亮，且利用发热体内嵌式玻璃，无须雨刷除雾，随时保持清晰的试验箱内的状况出现在顾客的眼前。还采用高稳定之白金测温抵抗体，配合合乎温、湿度测试之风速循环系统，可模拟高温、高湿、低湿、低温、恒温低湿等不同环境的测试条件，搭配容易折操作方法及学习高准确之编程系统，提供最佳试验性能。 　　加湿系统管路与控制器的电路板分离：加湿系统管路与电源、控制器、电路板分离，可避免因管路漏水而影响电路，提高安全性及寿命。 　　简便供水装置：供水箱置于试验箱体前侧的右下部，便于人工补充供水，还可以定制自动加水装置，下单前注明，谢谢。 　　高低温湿热交变测试机 可程式恒湿箱技术参数： 　　内箱容积有：80升、100升、、150升、 225升、416升、800升、1000升(还可以定制非标尺寸及升降温速度) 　　可根据顾客要求生产不同升降温速度快慢的温变率：有5℃/min、3℃/min、8℃/min、9℃/min、10℃/min、15℃/min (有线性或非线性可选择) 　　可执行快速温变(应力筛选)、高温高湿、结露试验、温湿度循环等多种试验。还可筛选待测品负载数量大。完整实时试验曲线分析显示，无时间限制。满足电子设备产品应力筛选、无铅制程、MIL-STD-2164、MIL-344A-4-16、GJB-1032-90、MIL-2164A-19、 NABMAT-9492、GJB/Z34-5.1.6、IPC-9701...等试验要求。 　　高低温湿热交变测试机 可程式恒湿箱规格表： 　　温度稳定度：±0.5℃；湿度控制精度：±2%R.H 　　温度分布均匀度：±2.0℃(空载下)；湿度均匀度：≤±3%R.H(+2、-3%RH) 　　控制系统 大型LCD触摸屏温湿度控制器(韩国三元、日本OYO或中国台湾台通任意选择)，数据可直观显示。 　　内箱材质：SUS304#优质不锈钢板材；外箱材质：冷扎钢板粉体烤漆或SUS304#优质拉丝不锈钢板材可选择。 　　降温方式：1、 压缩机冷冻系统降温(无耗材、适合长期高频率使用试验)2、 液氮辅助降温(液氮为耗材、适合短期低频率使用试验) 　　各式各样的保护装置：漏电，短路，超温，缺水保护，空焚保护开关，警报装置。 　　电源 AC 1Φ3 220V 50/60HZ或 AC 3Φ5 380V 50/60HZ不同的大小不同的温度范围配的电源不同请留意报价方案上的标注。

PW-UCS128-40 高低温拉力试验机用途:专门为在不同环境测试材料力量所改良之机型，拉力机加装高低温试验箱，可在不同的温度环境测试材料之拉力，压力，撕裂，剪力，剥离力，解卷力，环型初粘力等物理特性。一：拉力机配置参数：容量选择:10N、20N、50N、100N、200N、500N、1KN、2KN（选配一组)显示方式:电脑显示方式力量分辨率:1/500,000力量精度:0.3%行程分辨率:1/500,000控制方式:全电脑操作方式实验行程:650mm实验宽度：￠140mm实验速度:0.001～500mm/min 电脑设定, 附夹具上下快速调节按钮单位转换:kgf，N，Ibf，g，ton，Mpa停机模式:过载停机、、紧急停止键、试件破坏自动停机、上下限设定自动停机、自动复位功能通讯接口：USB机台动力:伺服马达驱动，同步轮及精密滚珠丝杆传动机台功率:400W使用电力:220V 50/60HZ 标准配置:180度夹具1组、环形初粘力夹具1组、电脑软件、USB电脑连线二：高低温试验箱参数：有积容积128L内箱尺寸W(宽)400 mm*H(高)400 mm*D(深)800 mm测试箱外箱尺寸W(宽)1000mm*H(高)2800mm*D(深)1200mm温馨提示：外部尺寸请依最终设计确认三视图为准！温度范围-40~+150℃ 温度波动度±0.5℃ / 温度偏差≤±2℃ / 75%RH:≤±3%RH温度均匀度≤2℃ 准备时间由常温到达恒定温度条件约30分钟，空载时升降温过冲≤±3℃ 噪音≤68dB（A声级,恒定时,测试方法依JB/T9512-1999）内箱ＳＵＳ＃３０４不锈钢板

特点：★温度自动循环的高低温箱｜高低温测试深圳｜军工高低温箱主要由控制面板、配电盘、保温隔层、送风机、加热器、冷冻机组合而成，主要规格可分为6种标准尺寸及10种不同条件之规范。★控制器可经由LAN界面与计算机连线，使用者可以在计算机荧幕上设计程序、收集测试资料与记录、呼叫程序执行、遥控机器开关机、USB等功能。★利用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，使室内温度分布均匀。★完备的安全保护装置，假如异常状况发生时，控制器荧幕上即自动显示故障状态，切断电源开关，并提供故障排除方法。产品用途：温度自动循环的高低温箱｜高低温测试深圳｜军工高低温箱主要为电子零件、工业材料、成品研发、生产、检验各环节的试验提供复杂高低温交变等试验环境和试验条件，适用于电子电器、通讯、化工、五金、橡胶、玩具、科研等各行业。温度自动循环的高低温箱｜高低温测试深圳｜军工高低温箱主要技术参数：型号ModelAP-GD-100 AP-GD-150 AP-GD- 225 AP-GD- 408 AP-GD-800 AP-GD-1000内箱尺寸Interior dimaensions(W×H×D)cm50×50×40 50×60×50 50×75×60 60×85×80 100×100×80 100×100×100外箱尺寸Exterior dimaensions(W×H×D)cm100×160×87 105×170×90 105×185×110 115×195×127 155×205×130 155×205×150内箱容积Internal volume(L)80 150 225 480 800 1000温度范围A:0℃ B:-20℃ C:-40℃ D:-60℃ F:-70℃~+150℃性能/Performne温度控制精度±0.2℃温度均匀度±2℃升温时间Heating up time平均每分钟升温约3℃；RT~+150℃约40min降温时间Pull up time平均每分钟降温约1℃；RT~+0℃约30min；RT~+－20℃约45min；RT~+－40℃约65min；RT~+－70℃约100min；重量Weight(kg)200 250 300 400 600 700材料Material内箱材质Interior materialSUS304优质不锈钢 Stainless steel plate (SUS304)外箱材质Exterior materialSUS304优质不锈钢 Stainless steel plate (SUS304)保温材质Insualation material硬质发泡及玻璃棉Rigid polyauethane foam and glass wool系统/System风路循环方式离心风机+宽带式强迫气流循环（上出下进）制冷方式Refrigerating mode气冷式，单级或复叠式制冷，压缩机（采用法国泰康全密闭式压缩机或德国比泽尔半密闭式压缩机）制冷剂RefrigeratorR404A R23 U.S.A HONEYWELL加热器Heater镍铬合金电热丝加热器Iron-chrome wire heater配件 Accessories电缆孔盖(φ50)1个，搁板2套，照明灯1只，产品说明书1套保护装置 Safety device无熔丝开关，保险丝，超温保护，防干燥保护，液位保护，压缩机超压、过热、过电流保护紧急停车等保护装置。电源Power1φ3w AC220V ±10% 50/60Hz 3φ5w AC380/415V ±10% 50/60Hz注：1、另可供客户尺寸大小非标订制 2、温度范围及升降温时间可安客户要求非标订制 3、温度分布均匀测试方法，依照内箱离各边1/10距离有效空间量测。执行与满足标准：GB/T10589-1989低温试验箱技术条件GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件GB2423.1-89低温试验Aa , AbMIL-STD810D方法502.2GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3为达到用户对产品做极低的温度测试，爱佩公司为设备配备了法国泰康全密式压缩机。并采用低温级为R23或R508B，高温级为R404或R507的“绿色环保"制冷剂，根据美国环保部门标准，该类制冷剂可用到2030年之后，禁用日期还未确定；为使该制冷系统获取更佳的制冷效果。售后服务用户的满意是我们服务的宗旨，完善的售后服务使您解除一切后顾之忧，我们坚信一个好的企业卖出去的不仅仅是一台好的产品，更重要的是良好的服务。东莞市爱佩试验设备有限公司负责对本公司产品提供以下售后服务： 1.技术培训：操作使用、日常维护保养、常见故障检测和排除 2.定期回访：设备巡检，排除故障隐患，传递最新消息 3.备品、备件专项储备支持 4.售后服务部提供维修服务的快速响应

美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机上海伯东中国总代理上海伯东代理美国 Temptronic ThermoStream ATS 系列高低温测试机，测试温度范围 -100 ℃ 至 +300 ℃ 。Temptronic ThermoStream 提供快速、准确的高低温测试。适用于半导体芯片温度测试、PCB 电路板温度测试、电子元件温度测试、通讯元件温度测试、集成电路 IC 卡等高低温试验、冲击试验、半导体失效分析、可靠性测试等。与传统高低温试验箱对比，Temptronic ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快，每秒可快速升温/降温 18度2、温控精度：±1℃；3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台 load board上 的 IC 进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。美国 Temptronic ThermoStream 高低温循环测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程机联用进行高低温循环冲击测试。上海伯东 Temptronic ThermoStream 高低温测试机客户应用案例：1、Temptronic ATS-505 半导体芯片高低温失效测试2、Temptronic ATS-535 集成电路 IC 卡高低温失效测试3、Temptronic ATS-545-M 收发器高低温测试上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 冷冻机 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST 高低温循环测试机 日本 NS离子蚀刻机等。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗女士

冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机产品用途：高低温冲击试验箱用于测试材料瞬间极高温至极低温的连续环境下所能忍受的程度得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的物理变化。适用于金属、塑料、橡胶、电子机电产品、航空航天、能源材料、医疗化工等材料行业模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机特点：1、采用气动控制，提篮在高低温室内切换转移，2、转换时间短，温度恢复时间短，温变速度快，3、采用两箱法，新一代外观设计，整体结构紧凑，体积小，提高了工作室的温度均匀性。4、既可作冷热冲击试验，也可以做单独高温或单独低温使用。5、备有高档万向滚轮，方便在实验室内移动。6、真空双层加热观察窗，自带照明。7、多数据接口，SD卡储存，USB输出，电脑APP远程操作。冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机技术参数1、提篮有效容积 27L2、规格尺寸：外宽深高：750×2100×1900mm，内520×600×600mm3、提篮尺寸：300×300×300mm4、高温预温度范围：60℃～+180℃5、低温预温度范围：-10℃～-60℃6、温度冲击范围：-40℃～+120℃7、提篮转换时间：≤10S8、温度恢复时间：≤5min9、温度波动度：≤±0.5℃10、温度均匀度：≤2℃11、温度偏差：≤±2℃12、高温预热时间：20℃～180℃≈30min、13、低温预冷时间：20℃～-60℃≈75min14、总功率：≈12kw15、运行功率：≈8KW16使用电压：AC220 50Hz规格提篮尺寸外形尺寸27L300×300×300750×2100×190080L400×400×5001200×2500×1800150L500×500×6001500×2600×1850210L600×500×7001700×2650×1900510L800×800×8002500×3200×21001000L1000×1000×10003000×3500×2100温度参数高温预温度范围60℃～+200℃低温预温度范围-10℃～-80℃冲击范围-40、-50、-65℃～120、150℃ 按要求选定温度恢复时间≤5min温度波动度≤±0.5℃温度均匀度≤2℃温度偏差：≤±2℃提篮运行运动方式气动提篮转换时间≤10S安全保护 漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护/控制器停电记忆 满足标准及试验方法GB11158-2008高温试验箱技术条件GB10589-2008低温试验箱技术条件GB10592-2008高低温试验箱技术条件（温度交变）GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14)GJB150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：低温试验GJB150.5-1986温度冲击试验

价格货期电议inTEST 热流仪车载芯片 / 车规级芯片高低温冲击测试不同于传统消费电子产品, 车规芯片前期的开发及验证期可能长达3年, 相关研发费用和时间成本高昂, 从而需要更快地响应不断变化的车辆架构和严苛的产品上市时间. 上海伯东美国 inTEST ThermoStream 热流仪满足汽车半导体行业更严格及更高效的测试要求, 可以对微控制单元 MCU, 传感器和存储器 DRAM 等车载芯片进行快速高低温冲击测试, 极大节约了客户研发成本！在车规级芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机有着不同于传统高低温冲击试验箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温18°C, 实时监测待测元件真实温度, 亦可随时调整冲击气流温度, 可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC, 单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件.车规级芯片高低温测试案例: 上海伯东客户某半导体芯片设计公司自主研发车载芯片, 要求在温度范围 - 50 ℃~ 150 ℃ 时搭配模拟和混合信号测试仪, 在电工作下检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常. 经过伯东推荐使用 inTEST 高低温测试机 ATS-545, 测试温度范围 -75 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题, 使产品符合汽车安全的电子产品标准!车规级芯片高低温测试方法1. 将被测芯片或模块放置在测试治具上, 将 ATS-545 的玻璃罩压在相应治具上 ( 产品放在治具中 ).2. 设置需要测试的温度范围.3. 启动 ThermoStream ATS-545, 利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温, 气流通过玻璃罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度.4. 在汽车电子芯片测试平台下, 高低温测试机 ATS-545 快速升降温至要求的设定温度, 实时检测芯片在设定温度下的在电工作状态等相关参数, 对于产品分析, 工艺改进以及批次的定向品质追溯提供确实的数据依据.在芯片测试中, 可为测试计划确定相应的要求, 如温度循环实验, 不同等级的温变范围及温差循环数等. inTEST 热流仪可根据预先设定的温度范围, 实现快速的温度冲击, 如温度范围 -40℃～125℃, 可分别设置低温 -40℃, 常温 25℃ 及高温 125℃, 热流仪将按照先后顺序自动进行相应测试. 针对不同的测试应用, inTEST 可通过每秒快速升温或降温 18°C, 为车载模块或电路板中的某一单个器件提供精确且快速的环境温度.鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解车规级芯片高低温测试, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究

上海伯东 inTEST ThermoStream 高低温测试机用于光通信收发器(transciever)温度测试光通信收发器(transciever)温度测试原因：光通信器件在出厂前需要做元件级测试，主要包括对光纤收发器内部关键器件在电工作的电性能测试，失效分析、可靠性评估等，例如温度循环测试 Thermal cycle 与温度冲击测试 Thermal stock。inTEST ThermoStream 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个收发器，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光通信收发器(transciever)客户案例：上海伯东客户是一家国际知名的光通信生产企业，经过技术选型，采购 inTEST- ThermoStream ATS-545-M 用于光通信收发器的高低温测试。ThermoStream ATS-545-M 移动式设计，配套自动机械手臂，测试温度范围：80°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。收发器温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测收发器和温度传感器放置在客户定制的测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-545-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-545-M 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。鉴于信息保密，更详细的光通信收发器(transciever)温度测试方法 欢迎拨打电话：021-5046-3511

一、液槽冷热冲击试验箱高低温交变测试机DTS2.0产品简介：液槽冷热冲击试验箱是用于在短时间内再现试验结果的有效试验装署。采用ESPEC共通的触掉式彩色液晶操作屏。对应美军标MIl-STD-883F(Method No.1011.9)等试验标准,液槽冲击试验箱采用搅拌对流液体介质代替循环流动空气介质就行热传递，可以满足严酷的试验要求。系统结构可分为高温液槽(预热区)。低温液槽(预冷区)二部分，通过控制机械传动部件将测试样品交替置入高，低温液槽的方式来模拟高温和低温之间的瞬间变化环境。液槽冲击试验箱适用于模拟评估航空工业，国防工业，自动化零部件，汽车零部件，电子电器仪表零组件，半导体等相关产品及材料在周围温度急剧变化条件下的适应能力，从而判断产品的可靠性及稳定性能等参数是否合格，通过试验提供预测和改进产品的质量和可靠性依据。二、液槽冷热冲击试验箱高低温交变测试机DTS2.0技术参数：1、标称容积：2.1L/5L2、高温液槽温度范围:+60℃～+200℃3、低温液槽温度范围:-65℃～0℃4、温度恢复时间:1min5、温度波动度:≤±0.5℃6、温度均匀度:≤2.0℃三、液槽冷热冲击试验箱高低温交变测试机DTS2.0工作原理：试样的平滑移动，采用空气气缸方式及新的入槽方式，减少对试样造成的振动影响，避免不必要的应力影响。传导媒液消费量的大幅度减少，通过提高试验区的气密性，防止浆发，采用水分离滤网分离水份,消费量比旧型号下降65% (与旧型号一样通过阀门的切换选择使用一液或二液)。备有专用的传导媒液再生装置(选购件〉。同旧型号相比,设置面积减少15%以上，重量减少18%以上。四、液槽冷热冲击试验箱高低温交变测试机DTS2.0主要特点：■高低温液体槽内采用强迫搅拌对流方式。■采用全自动上下左右位移机构移动试料篮至预热、预冷槽，往返冲击方式。■氟油采用单一相同液体于高低温槽内，降低经常换液体之成本。■采用原装LCD中英文集成彩色液晶触控屏主脑控制器■本设备配合现场需要，可选择水冷或气冷之冷却方式■本冷热冲击机构移动时间为10秒内■浸液式温度冲击，试件直接浸入高低温液体介质，相比空气冲击试验箱，可向试件施加更大温度应力；■外形紧凑，与其它品牌同规格产品相比，可节约占地空间多；■自主制冷，技术优良，采用自主研发的单压缩机制冷技术，突破常规制冷技术瓶颈，可实现-100℃至+150℃大温区温度冲击；系统精简，可靠性及维护性高。■节能静音，制冷系统可有效降低系统能耗，静音环保；一机多用，可进行温度冲击试验、高温暴露试验、低温暴露试验及常温暴露试验等多种试验模式；稳定的驱动装置，实现平稳传动，双向电动驱动，实现平稳冲击。