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手动位移台行程微分头右侧驱动

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手动位移台行程微分头右侧驱动相关的论坛

  • 【资料】微机控制电子万能试验机/伺服驱动机技术介绍

    微机控制电子万能试验机/伺服驱动机技术介绍A、机器用途:电脑拉力试验机可对金属、非金属以及构件进行拉伸、压缩、弯曲、剪切、剥离撕裂、蠕变等试验。B、软件系统:中文Windows’2000/XP平台下的软件包。C、动力系统:a、伺服驱动机:日本松下交流驱动器、日本松下伺服电机、德国行星减速机滚 珠丝杆、光杆直线轴承、同步带传动 b、变频驱动机:台湾交流电机、台湾变频器、台湾减速机、T型丝杆、光杆直线轴承、同步带传动。D、量程模式:全量程不分档,等效七档。E、高效辩率:分辨率为+250000码。F、自动存储:试验条件、测试结果、标距位置自动存储。G、自动返回:可自动返回到试验初始位置H、自动校准:负荷、伸长可按所加标准值自动标定。I、多元控制:具有位移、负荷、应力、伸长、应变等控制方式。G、手动装置:多方位的操作单元,使十字头位置调整更为便捷。K、连续试验:一批试验参数设定完成后,可连续进行测试。L、宽测范围:可同时标定多只传感器,扩展测试范围。M、数据编辑:试验完毕后,在试验曲线上可用鼠标编辑数据。N、多种曲线:可选择应力-应变、力-伸长、力-时间、强度-时间等多种曲线,同一图形上可显示三种不同的曲线。O、曲线对比:同组试样的曲线可叠加对比。P、图形分析:试验曲线上任意点可进行局部放大分析。Q、报告编辑:可按用户需求输出不同的报告格式。R、多重保护:系统具有过流、过压、过速、欠流、欠压等保护;十字头行程具有程控限位、极限限位、软件限位三重保护;负荷传感器具有超量程保护;出现紧急情况时可进行紧急制动。S、动态显示:测试过程中,负荷、伸长、位移以及选中的试验曲线随着测试的进行,实时动态显示在主控屏幕上。T、峰值保持:在测试整个过程中,测试项目的最大值始终跟随试验的进行在屏幕窗口上显示。U、便捷调零:负荷、伸长、位移只需按一个键即可手动调零,同时具有测试开始时系统自动进行调零功能。V、一机多用:可增配不同规格的传感器和夹具,拓宽测量范围,从而实现一机多用。W、执行标准:满足ISO、JIS、ASTM、DIN、GB等多种试验方法标准。

  • 峰的右侧有点拖尾

    想请教一下各位大佬,峰的右侧有点拖尾,该如何解决呢?图如下,我用的是等度洗脱[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/04/201904071642118914_6254_3459355_3.png[/img]

  • 【求助】基线从左侧漂移到右侧 是什么原因 ?

    [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url] 氢火焰 FID 检测器 昨天新换的载气氢气,条件不变,(流量与位置) 但是基线跑到最右侧是什么原因 啊? 极性不变,以为是流量大冲了过去,后来减小氢气流量稍微向左侧移了一小位置,效果不明显,打了标样保留时间延长。 是什么原因造成基线跑到最右侧?

  • 天美7890II仪器右侧面板零位调节问题?

    天美7890II仪器右侧面板零位调节旋钮有什么作用?我无意间旋转了N次,不知道有什么作用?有什么影响?反正现在ECD不出峰,只有下降的曲线永远,没终点似的

  • 【原创大赛】(综述)电子显微分析技术在高分子材料中的应用

    【原创大赛】(综述)电子显微分析技术在高分子材料中的应用

    ======================================================================= (综述)电子显微分析技术在高分子材料中的应用 Applications of Electron Microscopy for Polymers~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~摘要透射电子显微镜(TEM)已经逐渐成为材料研究领域最重要的成像和表征手段之一。这篇综述主要介绍了近年来出现的几种电子显微分析技术,并结合高分子聚合物材料的特点列举了这些技术在实际研究中的应用。这些技术包括:高分辨透镜(HRTEM)成像,扫描透镜(STEM)成像,能量过滤透镜(EFTEM)成像以及电子能量损失谱(EELS)分析。综合运用这些成像和分析工具,可以更全面了解高分子材料在各个微观尺度下的性质。AbstractThe transmission Electron Microscope (TEM) has been used extensively as one of the most versatile and powerful tools for materials characterization. This review highlights important development of several microscopy and analysis techniques in the field of polymers. These techniques include High Resolution TEM (HRTEM), Scanning TEM (STEM), Energy Filtered TEM (EFTEM), and Electron Energy-loss Spectroscopy (EELS). By combining multiple microscopy techniques, we are able to gain a better understanding of polymers properties in various scales.http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252216_567945_1982636_3.png~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~1. 前言 从Ernst Ruska在1931年发明了第一台透射电子显微镜(TEM)开始,电子显微分析已逐渐成为材料科学领域特别是材料微观表征的重要方法之一。经过80多年的发展,现代透射电镜在传统的TEM模式之外又相继衍生出了高分辨(HRTEM)和扫描透射(STEM)两种不同的电子成像模式。结合附加的X射线能谱仪(EDS)和电子损失能谱仪(EELS)等,TEM又可以拓展为功能强大的结合了成像和化学分析能力的分析级电子显微镜(AEM)。近20年来TEM和相应的成像分析技术都得到了长足的进步,在分辨率已经突破亚埃级(0.5埃=0.05纳米)的基础上又陆续发展出冷冻电镜 (Cryo-TEM) ,三维成像 (Tomography) ,低电压电镜(LVEM),能量过滤电镜 (EFTEM) 等新兴技术。伴随着这些新技术的发展,TEM的应用领域也不仅仅局限于传统的硬材料(金属,半导体,陶瓷等)而是一直延伸到各种软材料(高分子,生物和复合材料)(参见5)。这篇综述简要介绍了各种显微分析技术的特点和原理,针对高分子样品的制备手段并介绍了各种分析手段在实际研究中的应用。2. 样品制备 在电子显微分析中,样品制备往往是决定图像质量,保证分析准确的最重要一步。不同于常规硬材料,高分子材料普遍存在着硬度较低,物理化学性质不稳定的特点。这些特点决定了它们需要使用不同于常规硬材料的减薄方法来制样才能满足不同的表征要求。制样的第一原则就是在保证不破坏材料原有性质的情况下得到尽可能薄的样品。由于高分子材料大多由碳氢氧等轻元素组成,传统的制样过程一般会采用类似于生物样品的重金属染色方法。利用电子散射能力较强的金属制剂对样品进行染色。金属原子可以与样品里特定的分子键合来提高图像的衬度。然而使用这种方法需要人为的加入样品以外的成分,这样做往往会破环样品原始的特性。特别当需要对样品进行原子级别的分析时,来自金属染色剂的大量的背景信号会影响最终化学元素分析的准确性。现在,即使在不使用染色剂的情况下,利用多种新型成像技术(包括STEM,LVEM,EFTEM 和Cryo-TEM)我们也可以有效地提升图像衬度并减少样品在电子束辐射下的损伤。这就要求我们找到合适的制备方法来得到保持材料原有特性的超薄样品。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252223_567948_1982636_3.png图一. 制备固体或溶液形态的高分子样品的不同步骤 (参见6)。针对两种常见的高分子材料形态(固态和溶液态)有两种不同的处理样品方法(参见6),见图一:1)块状或薄膜状的材料可以首先用树脂包埋,预切后在冷冻超薄切片机中调节合适的温度切片。使用的冷却温度可以根据高分子材料的Tg温度来调节,一般设置在起始温度在-80度左右。得到的切片可以直接用铜网收集,厚度大致在20-80nm; 2)高分子的溶液(也可以为水溶液)可以用Solution Casting方法。在覆盖碳膜的铜网上滴上5-20微升的样品溶液。然后使用Cryo-plunger自动吸出多余的溶液后浸入液体乙烷中快速冷冻。第一种方法保证了固体高分子材料的原有特征不被破坏,同时保证了样品合适的厚度。第二种方法特别适用于观察高分子物质在液态中的特征,整个冷冻过程保证了材料在溶液中的形态。利用集成的湿度控制装置可以直接对亲水性高分子材料进行制备。3. 分析电镜技术简介及其在高分子材料中的应用 3.1 电子成像和分析原理在透射电镜中,平行电子束在透过样品时会与样品内部发生一系列相互作用。透过样品的散射电子和产生的其他信号在收集后可以被用来进行成像和不同类型的显微分析。图二中简单概括了电子束和样品之间的相互作用。根据是否有能量损失,散射电子又分为弹性散射电子(elastically scattered electrons)和非弹性散射电子(inelastically scattered electrons)。部分入射电子束在与原子核作用后发生弹性散射,并最终被CCD捕捉形成传统的明场(Bright Field简称BF)TEM图像。与此同时,入射电子可以与原子核外电子云作用。在损失一部分能量后,经过非弹性散射的电子束可以用来形成电子能量损失谱(Electron Energy Loss Spectroscopy简称EELS)。而另一部分被激发的外层电子会填入内层电子的空位,这之间的能量差所产生的特征X射线可以通过X射线能谱仪(Energy-dispersive X-ray spectroscopy 简称EDS)来探测。结合图像和能谱,还可以实现能谱成像(Spectrum Imaging 简称SI)和能量过滤成像(Energy Filtered TEM 简称EFTEM)(参见7)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252225_567949_1982636_3.png图二. 电子束与样品间相互作用以及产生的多种电子和能量信号(参见7)。3.2 高分辨成像(HRTEM)及其应用 除常规的TEM成像,高分辨成像(HRTEM)可以用来直接观察高分子材料内部的原子排列特别适用于对高分子晶体结构的研究。尽管HRTEM在硬材料方面的研究应用已经很普遍,但局限于样品制备和电子辐射损伤的影响,对于高分子结构的高分辨成像和解析还不多。图三是聚四氟乙烯(PTFE)晶体的高分辨HRTEM图像,右侧相对应的是PTFE高分子链的重复单元结构示意图。通过高分辨成像,可以清晰地辨别出分子链上紧密排布的原子和相对应的157螺旋结构。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252237_567950_1982636_3.png图三. 聚四氟乙烯(PTFE)晶体的高分辨图像和分子链重复单元结构(参见3)。3.3 扫描透射电镜 (STEM) 成像及其应用 如图四所示,STEM模式下聚焦的电子束在材料表面扫描,透过的电子信号根据散射角度的不同被不同位置的探测器收集后分别形成STEM-BF明场,STEM-ADF暗场以及STEM-HAADF高角度环形暗场图像。因为图像的明暗程度直接和所观察区域内的原子序数有关,高角度环形暗场(High-angle Annular Dar

  • 关于tg微分的问题?

    请教:在tg曲线不是函数的情况下,如何得到微分曲线?(就是我的数据中同一温度下对应着好几个数值)问同学,说是先把tg曲线拟合成函数曲线再做微分曲线,另一个就是在同一个温度下只选取一个数值而成为函数曲线再做微分曲线。不知哪种方法可行,或者有其他的方法?

  • 【求助】怎么用excel做一阶微分 二阶微分曲线呢?

    做NaOH滴定醋酸实验,得到了数据。。可以做出PH~V曲线。。但是怎么用excel做一阶微分 二阶微分曲线呢? 因为要求滴定终点的。高手指导啊。。。excel应该是能做出来的。。实验老师叫我们上网查方法。。无能没查到啊。。。坐等高手帮忙。。。。

  • 电动显微镜载物台特点及参数

    [url=http://www.f-lab.cn/microscopestages/scanplus100.html][b]电动显微镜载物台Scanplus100[/b][/url]集成了测量系统,实现显微镜和样品的精确定位,提供75x50mm的行程范围,最小步进高达0.05微米,定位进度高达1微米,是全球领先的[b]自动显微镜载物台品牌[/b]。[b]电动显微镜载物台Scanplus100产品特点[/b]集成高精度测量系统实现全球最高定位精度和测量精度具有定位测量功能德国圆角的平面人体工程学设计显微镜载物台插入配件可更换设计,具有多种stage inserts 选配,满足显微镜应用电机/编码器电缆前右部连接,符合操作人员习惯集成电子位移台识别系统,自动识别扫描台及其控制器配备高精度特定型号控制,可享受全球5年超长质保[b]电动显微镜载物台Scanplus100参数[/b]行程范围:100x100mm行进速度:最大240mm/s重复定位精度:1um精度:+/-1um分辨率:0.05um (最小步进)正交性:10arcsec驱动电机:2两相步进电机位移台开口:160x116mm材质:高级铝表面处理:氧化涂层,黑漆自重:~2.6kg电动显微镜载物台Scanplus系列集成融入了测量系统,专业为显微镜自动样品定位和精密样品定位应用设计,专业为全球主流显微镜品牌配套,独具的测量系统功能是全球领先的超精密定位测量系统,极大提高测量精度。电动显微镜载物台Scanplus采用全球领先的德国长期润滑系统,确保长期使用而不需维护.更多载物台官网:[url]http://www.f-lab.cn/microscope-stages.html[/url]

  • 上海通微分析技术有限公司正在寻找高级电子工程师职位,坐标上海,谈钱不伤感情!

    [b]职位名称:[/b]高级电子工程师[b]职位描述/要求:[/b]职位描述: 1.根据成品需求,制定硬件设计、改进和测试方案;2.参与技术攻关,解决产品研发过程中的技术难题。任职资格:1.电子、自动化、电气、计算机及电气工程相关专业,本科以上学历;2.三年及以上硬件开发经验,有仪器仪表(液相)行业经验者优先;3.通过1钟以上原理图及PCB图相关开发工具设计工具;4.动手能力强,熟练运用仿真工具、示波器等调试硬件;5.熟悉常见单片机系统,如如STM32、 51等,熟悉多种传感器底层驱动,熟悉CAN、12C、SPI、USB、RS232/485等总线接口硬件电路设计要求和特性;6.精通C语言,具有良好的沟通习惯和团队协作精神。[b]公司介绍:[/b] 上海通微分析技术有限公司(简称,通微公司)于2002年成立于张江高科技园区,注册资金1715万,是美国通微技术股份有限公司(Unimicro Technologies, Inc.)的子公司。通微公司集分析仪器研发、制造、销售与服务为一体,潜心经营加压毛细管电色谱系统,高效液相色谱、制备型液相色谱、液相色谱柱及色谱配件和耗材。通微公司也是世界首台加压毛细管电色谱、定量毛细管电泳仪和中国第一...[url=https://www.instrument.com.cn/job/user/job/position/63593]查看全部[/url]

  • Instron电动双轴位移台instron x-y stage P631-1001接线指导/说明书

    实验室有一台Instron的电动双轴位移台(Instron x-y stage),上标型号:P631-1001,照片如下。求助大家知不知道如何接线或者有无说明书?目前有一个雷赛的DM422C电机驱动,但是不知道位移台的五针接口怎么连[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008311005168452_2649_4050534_3.png[/img][img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008311005169731_4469_4050534_3.png[/img][img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008311005171132_1116_4050534_3.png[/img][img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008311005175259_1609_4050534_3.png[/img][img=,690,920]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008311005338892_1321_4050534_3.png[/img]

  • 【资料】微分干涉相衬法及其应用

    [size=3][font=宋体][/font][size=2][font=宋体][/font][/size][/size][size=2][font=宋体]微分干涉相衬法(DIC)作为一种极具前途的分析检验方法,具有对金相样品的制备要求较低,所观察到的样品各组成相间的相对层次关系突出,呈明显的浮雕状,对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等能作出正确的判断,能够容易判断许多明场下所看不到的或难于判别的一些结构细节或缺陷,可进行彩色金相摄影等优点。但在目前的金相检验工作中,DIC法还利用得很少。[/font][/size][size=2][font=宋体]在金相显微镜检验方法中,微分干涉相衬法(DIC)是金相检验的一种强有力的工具,其特点主要为:[/font][/size][size=2][font=宋体]对金相样品的制备要求降低,对于某些样品,甚至只需抛光而不必腐蚀处理即可进行观察。优点是可以观察到样品表面的真实状态,如将试样抛光后在真空下发生马氏体相变,不用腐蚀就可以观察到马氏体的相变浮凸。 [/font][/size][size=2][font=宋体]所观察到的表面具有明显的凹凸感,呈浮雕状,样品各组成相间的相对层次关系都能显示出来,对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等都能作出正确的判断,提高了金相检验准确性,同时也增加了各相间的反差。 [/font][/size][size=2][font=宋体]用微分干涉相衬法观察样品,会看到明场下所看不到的许多细节,明场下难于判别的一些结构细节或缺陷,可通过微分干涉进行反差增强而容易判断。 [/font][/size][size=2][font=宋体]微分干涉相衬法基于传统的正交偏光法,又巧妙地利用了在渥拉斯顿棱镜基础上改良的DIC 棱镜和补色器([/font][/size][size=2][font=Arial]λ-[/font][/size][size=2][font=宋体]片)等,使所观察的样品以光学干涉的方法染上丰富的色彩,从而可利用彩色胶卷或者数码产品(CCD 摄像头以及数码相机)进行彩色金相显微摄影。由于微分干涉相衬得效果与样品细节的浮雕像以及色彩都是可以调节的,因而比正交偏光更为优越。 [/font][/size][size=2][font=宋体]微分干涉相衬法在生物医学领域得到了广泛的重视,然而,到目前为止从发表的有关材料金相研究的论文中,国内外基于微分干涉相衬法进行材料金相研究的工作开展得很少。其原因主要有两个方面:一方面是由于配备微分干涉相衬部件的金相显微镜不是很多;另一方面,许多材料科学工作者还没有意识到微分干涉相衬法在材料研究中的优势。[/font][/size][size=2][font=宋体]一、微分干涉相衬法的基本原理:[/font][/size][size=2][font=宋体]微分干涉相衬法所需部件:起偏器、检偏器、微分干涉相衬组件插板(DIK组件插板),以及补色器([/font][/size][size=2][font=Arial]λ- [/font][/size][size=2][font=宋体]片)。起偏器和检偏器是在对金相样品进行正交偏振光观察中必不可少的基本配套部件,组装在明/暗场照明组件中,也是微分干涉相衬法必不可少的部件。起偏器是把光源变为按东- 西方向振动的线偏振光;检偏器可以使满足干涉条件的相干光进行干涉。DIK组件插板是微分干涉相衬法的核心部件,其上装配有以渥拉斯顿棱镜为基础改良后的DIC棱镜。DIK组件插板上有两个调节旋钮,其中较大的一个用来调节组成DIC棱镜的两个棱镜间的相对位置,使其厚度产生微小的改变从而引起光程或光程差的微小变化,产生明显的干涉相衬效果;较小的一个用来调节DIC棱镜的高低位置,以配合不同倍数物镜后焦平面位置上的差异,从而确保DIC观察视场中能获得均匀的照明。补色器([/font][/size][size=2][font=Arial]λ- [/font][/size][size=2][font=宋体]片)由石膏制成,插在线偏振光的照光路中用以增加一个光波波长约550nm的光程差,使干涉级序升高一级,保证视野中样品的不同组织细节获得丰富的色彩,从而利于金相组织的观察和分析。 [/font][/size][size=2][font=宋体]微分干涉相衬的基本原理:微分干涉相衬法的基本原理如图1所示。由光源出射的照明光经起偏器后变为东-西方向振动的线偏振光,第一次进入DIC棱镜内部时分为寻常光(o光)和非寻常光(e光),这两束光微微分开,而其振动方向相互垂直。当o光和e光穿出棱镜时,两者具有一定的光程差T1,这两束光通过物镜照射到样品上时,就有可能照射于不同的表面状态上。也就是说,这两束光的波前接触到了样品上的不平整表面、裂纹、微孔、凹陷、晶界等,都会产生不同情况的反射,再加上不同物相上光的折射率差异产生的光波相位变化,从而产生了新的附加光程差T0。当这两束光由样品表面反射后,穿过物镜第二次进入DIC棱镜,波前又产生了新的光程差T2 并进行合并。但这两束光仍然是相互垂直的线偏振光,并未产生干涉。在进入检偏器之前,总的光程差T总=T1±T0±T2只有符合光程差条件T总=(2k + 1)[/font][/size][size=2][font=Arial]λ/2[/font][/size][size=2][font=宋体],其中(k= 0,1,2等) 的光波波前,才可能通过检偏器。也就是说,线偏振光两次通过DIC棱镜后,只有那些经样品反射而其总光程差等于所用光源光波半波长奇数倍的波前,才能满足干涉条件而通过检偏器而进行干涉。当将DIC棱镜的两半部分进行适当的移动(即调节DIK 插板上较大的旋钮),则T1和T2 的比率就会发生变化:调节旋钮使DIC 棱镜在显微镜的光轴上为对称时(即棱镜上下两半部分没有相对位移),有T1=T2,视场中光强分布只与光程差T0有关,而T0是由样品上的不平整度以及物相造成的光波相位变化而引起的光程差。除了在样品表面上由于物相间折射率的差异导致的光波相位变化而引起的光程差之外,这种干涉方法所引起的样品光程差与o光和e光的分开距离x值(低于显微镜的分辨率极限,约012[/font][/size][size=2][font=Arial]μm[/font][/size][size=2][font=宋体])有关,还与样品表面上物相表面高度变化(凸起或凹下)梯度tg[/font][/size][size=2][font=Arial]α[/font][/size][size=2][font=宋体]([/font][/size][size=2][font=Arial]α[/font][/size][size=2][font=宋体]为o光或e光入射于样品表面的入射角)有关。即样品成像的反差取决于o光和e光波前在样品表面物相凸起或凹下的高度变化梯度所引起的光程差。当调节旋钮使DIC 棱镜上下两半部分产生相对位移时,物相表面凸起或凹下两个相反梯度所引起的光强差异就在显微镜的成像中产生了浮雕效果如图2所示,与单一方向斜射照明光所产生的近似立体效果相同。此时干涉效果是零级干涉级序下的微分干涉效果,灰度最大者为零级灰,在零级干涉级序下干涉相衬的效果最佳,同时也是最大的,但仅能以不同灰度层次显示。把补色器(或[/font][/size][size=2][font=Arial]λ-[/font][/size][size=2][font=宋体]片)加在线偏振光的照明或检偏器之前的成像光路中,可以将线偏振光在样品不同物相或表面上引起的光程差扩大约550nm ,也就是扩大一个光波波长的长度,使干涉级序提高一级,把原先干涉出来仅以不同灰度显示出来的层次转为色彩鲜艳且富有立体感的彩色,零级灰转为红色(一级红),而其它的灰度阶也依次变为橙、黄、绿、紫、粉紫以至于金黄色等对应的颜色如图3 (见彩图页) 所示。虽然加入补色器后干涉出来的色彩非常丰富,但干涉相衬的效果(即浮雕效果) 要相应减弱一些。 [/font][/size]

  • 关于显微镜的微分干涉功能

    微分干涉差显微镜 - 简介 1952年,Nomarski在相差显微镜原理的基础上发明了微分干涉差显微镜(differential interference contrast microscope)。DIC显微镜又称Nomarski相差显微镜(Nomarki contrast microscope),其优点是能显示结构的三维立体投影影像。与相差显微镜相比,其标本可略厚一点,折射率差别更大,故影像的立体感更强。 DIC显微镜的物理原理完全不同于相差显微镜,技术设计要复杂得多。DIC利用的是偏振光,有四个特殊的光学组件:偏振器(polarizer)、DIC棱镜、DIC滑行器和检偏器(analyzer)。偏振器直接装在聚光系统的前面,使光线发生线性偏振。在聚光器中则安装了石英Wollaston棱镜,即DIC棱镜,此棱镜可将一束光分解成偏振方向不同的两束光(x和y),二者成一小夹角。聚光器将两束光调整成与显微镜光轴平行的方向。最初两束光相位一致,在穿过标本相邻的区域后,由于标本的厚度和折射率不同,引起了两束光发生了光程差。在物镜的后焦面处安装了第二个Wollaston棱镜,即DIC滑行器,它把两束光波合并成一束。这时两束光的偏振面(x和y)仍然存在。最后光束穿过第二个偏振装置,即检偏器。在光束形成目镜DIC影像之前,检偏器与偏光器的方向成直角。检偏器将两束垂直的光波组合成具有相同偏振面的两束光,从而使二者发生干涉。x和y波的光程差决定着透光的多少。光程差值为0时,没有光穿过检偏器;光程差值等于波长一半时,穿过的光达到最大值。于是在灰色的背景上,标本结构呈现出亮暗差。为了使影像的反差达到最佳状态,可通过调节DIC滑行器的纵行微调来改变光程差,光程差可改变影像的亮度。调节DIC滑行器可使标本的细微结构呈现出正或负的投影形象,通常是一侧亮,而另一侧暗,这便造成了标本的人为三维立体感,类似大理石上的浮雕。

  • 【求助】请问用IM6测微分电容的问题

    有谁用IM6测过微分电容?你测的电容值要不要考虑试样的面积?怎么算?我测的微分电容值很大,感觉可能是面积没考虑的缘故,请高手指点一下~!多谢了!

  • 【讨论】你的手动进样器是如何安装的?

    【讨论】你的手动进样器是如何安装的?

    看了很多仪器上的手动进样器,有平行桌面安装的,有进样器斜朝上(进样口朝上)安装的,有装在仪器左侧的,也有右侧的。我手上使用的液相都是平行于桌面,安装在右侧的,一台岛津20A的二元高压梯度,进样器的后部(定量环部分)是伸入柱温箱安装的,本人习惯右手使力,这种安装正好适用我。大家分享一下,哪一种方式最适合,进样口进上安装有什么好处?装在左侧面的,一般是仪器的标准安装方式,还是用户的要求呢?[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006291433_227646_1638724_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006291433_227647_1638724_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006291433_227648_1638724_3.jpg[/img]

  • 微电脑拉力试验机位移系统

    微电脑拉力试验机位移系统故障维修  1.首先检查拉力试验机位移传感器。由于拉力试验机位移系统采用的是三闭环控制方式;所以应该先断开位移系统中的回路,使其成为开环系统。然后测量位移传感器的反馈值,重复几次以后,测量到的传感器反馈数据为一个线性变化的直线,判定传感器是否正常。  2.其次检查放大器单元。如果位移传感器没有问题,应该重点检查拉力试验机放大器单元,正常的放大器单元的输出信号应该成线性变化趋势。  3.如果不是上述原因引起的故障,则应检查电脑软件设定是否正确;或者重新标定和校正位移系统。

  • 虚拟仪器在位移测试系统中的应用

    [color=#3f3f3f]随着位移测试系统日益复杂的发展和虚拟仪器的应用扩大化,文中以[/color][color=#868686]虚拟仪器[/color][color=#3f3f3f]作为技术平台,利用LabVIEW软件编写程序,设计液压系统位移[/color][color=#868686]测试系统[/color][color=#3f3f3f]。介绍测试系统的硬件组成及设计过程,给出其编写的程序框图和直观的前面板图,系统具有很强的可扩展性,该测试系统可以实现位移信号的数据采集、传送、存储、调用、分析和显示。并且通过现场试验表明此系统具有较强的实用性、可靠性和操作方便。能够满足教学、工业的需要。[/color][color=#3f3f3f]位移测试技术在工业生产中有着广泛的应用。位移检测是机械量检测的基础,将机械量转化成位移量来检测是机电一体化技术的重要组成部分之一。对位移的检测不仅为提高产品质量和生产安全提供了重要数据,同时也为其他参数的检测提供了基础。在液压试验台中,传统的静态电液测量控制方式无法满足现在液压系统在性能、操作、在线监测和故障诊断方面的有求,所以在线监测以及分析系统的开发显得尤其重要。为了保证系统的稳定、准确以及低事故运行,本文开发了位移测试系统,能够实时显示其位移波形兵,还能够对其进行信号处理。[/color][b][color=#3f3f3f]1、虚拟仪器及LabVIEW介绍[/color][/b][color=#3f3f3f]虚拟[/color][color=#868686]仪器[/color][color=#3f3f3f](简称VI)由硬件设备与接口、设备驱动软件和虚拟仪器面板组成。通过底层设备驱动软件与真实的仪器系统进行通讯,并以虚拟仪器面板的形式在计算机屏幕上显示与真实仪器面板操作元素相对应的各种控件。用户用鼠标操作虚拟仪器的面板就如同操作真实仪器一样真实与方便。[/color][color=#3f3f3f]测试软件是虚拟仪器的核心。IabVIEW是NI公司推出的一款丰富而又简洁的虚拟仪器开发软件,为一种图形化编程语言。利用其强大的图形化编程环境,使用可视化的技术,从控制模块上选择所需要的对象,放在虚拟仪器的前面板上。利用计算机强大的计算能力和虚拟仪器开发软件功能强大的函数库可以极大提高虚拟仪器系统的数据分析处理能力,节省开发时间。[/color][b][color=#3f3f3f]2、位移测试系统的硬件构成[/color][/b][color=#3f3f3f]本文以液压试验台作为测试平台,由液压动力源和电气控制系统组成。其液压动力源由动力油泵和动力执行装置油马达组成。将虚拟仪器与液压实验台相连接,选择好工况、测点,安装好位移传感器,并调试处理好后便可开始采集数据。对液压试验台齿轮泵的轴向位移进行测试。硬件组成如图1所示。[/color][align=center][img=,398,127]file:///C:\Users\hyt\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps1123.tmp.png[/img][color=#3f3f3f] [/color][/align][color=#3f3f3f]2.1 传感器的选择[/color][color=#3f3f3f]实现位移测量的关键是信号的转换即传感器的选用。本文针对信息获取实验台液压回路在正常工况下齿轮泵进行轴向位移信号采集,并对信号进行波形显示和分析。做出随时间变化的波形曲线,通过波形显示和分析结果,从而验证本位移测试平台数据显示程序的正确性和有效性。[/color][color=#3f3f3f]本系统中,位移传感器选用电涡流位移传感器CWY-DO-504,量程4mm,探头φ14mm。这是一种将机械位移或振动幅度转换成电信号输出的非电量电测装置。给旋转轴等转动体的动态测量带来方便,探头可在水、油等介质中工作。在进行位移测量时,其位移信号的调理采用与之配套的位移信号调理器。本检测系统可以将位移量转换成电压信号供数据采集卡。在执行机构带动位移传感器运动时可以进行电压信号的采集,最后通过标定将电压信号转换成相应的位移信号,实现位移的测量。其形状如图2所示。[/color][align=center][img=,319,149]file:///C:\Users\hyt\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps1133.tmp.png[/img][color=#3f3f3f] [/color][/align][color=#3f3f3f]2.2 数据采集卡的选择[/color][color=#3f3f3f]本实验平台使用的机箱是NI公司推出的8槽PXI-1050机箱,其工作温度为0~50℃。集成式信号调理中带有4个用于SCXI模块的插槽。具有DC电源和集成式信号调理。4个SCXI插槽将信号调理模块集成到PXI系统中。本设计中所采用的是NI公司生产的PXI-6251多功能数据采集卡,其主要参数如下:16路模拟输入通道,16位精度,1.25MS/s采样率;2路模拟输出,16位精度,2.8MS/s输出速度;24路数字I/O,2路定时计数器,满足位移信号采集的需求,将位移信号转换为电压信号输出。[/color][b][color=#3f3f3f]3、位移测试系统的软件构成[/color][/b][color=#3f3f3f]模块化设计数据采集,数据采集模块的设计对后续的数据显示和分析结果以及整个系统功能的实现,具有直接影响,本文利用NI公司的DAQ(Data AcQuisition)卡及其驱动程序设计这一模块,充分利用集成的功能全面的DAQ函数库和子VI,设计可以实现对数据采集的控制,包括触发控制、通道控制等的数据采集模块。[/color][color=#3f3f3f]3.1 位移测试系统的程序流程[/color][color=#3f3f3f]位移测试系统的程序流程如图3所示。[/color][align=center][img=,233,343]file:///C:\Users\hyt\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps1134.tmp.png[/img][color=#3f3f3f] [/color][/align][color=#3f3f3f]3.2 位移测试系统的主控前面板[/color][color=#3f3f3f]位移测试系统的主控前面板如图4所示。[/color][color=#3f3f3f]在这个位移测试中,前面板可以显示位移信号的原始波形,还可对位移信号进行求导分析处理,一目了然的显示出原波形和自相关波形的关键信息——有效值、峰峰值和均值。[/color][color=#3f3f3f]3.3 位移测试系统的VI设计[/color][color=#3f3f3f]数据存储与调用。程序设计时,采用数据库对数据进行存储、读取。建立一个Access数据源,通过ADO数据库访问技术,充分利用ADO的灵活性,通过编程模型实现对数据库的操作,执行用户命令,实现对数据的管理。利用ADO技术的LabVIEW数据库访问包——LabSQL,用户可以直接在LabVIEW中以调用子VI的方式实现对数据库的访问。数据库编程如图5所示。[/color][align=center][img=,411,264]file:///C:\Users\hyt\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps1145.tmp.png[/img][color=#3f3f3f] [/color][/align][b][color=#3f3f3f]4、现场试验[/color][/b][color=#3f3f3f]在对数据进行采集前,要给系统进行调试,保证采集的数据在数据采集卡的规范范围内,确保数据采集卡的输出波形与实际波形相符合,只有达到这个要求才可进行数据采集,保护数据采集卡的安全性。调试好后直接退出,进行数据采集操作。否则要重新调试,直到符合要求方可进行后续操作。然后将传感器安装在齿轮泵的轴向外沿,将采集处理的信号在位移测试系统的前面板上显示出来。[/color][color=#3f3f3f]从位移的原波形中可以看到位移信号为一个周期信号,这也可以从自相关图中判断出,因为其自相关函数波形不衰减,为同频率的周期信号。[/color][b][color=#3f3f3f]5、结论[/color][/b][color=#3f3f3f]通过对位移信号的采集和分析,所设计的位移测试系统显示、分析出来的信号波形与液压系统的实际运行工况相符合。从而验证了此开发平台的有效性,也为进一步对机器及其零部件的运行情况、在线监测、故障诊断提供了一个直观便捷的分析平台。[/color]

  • 【原创大赛】波长位移与波长电机的纠葛

    【原创大赛】波长位移与波长电机的纠葛

    近日,维修了一台紫外分光光度计波长位移的故障,感到很有趣,故记下于君共赏。仪器型号:U-2800仪器故障:波长左右位移,没有规律。检修过程:(1)开机初始化后检查氘灯特征谱线基本正常,见图-1所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212031424_408995_1602290_3.jpg图-1 初始化后的氘灯特征谱线(2)其后当仪器工作一段时间后发现所测的结果的重现性不良,表现形式为样品的峰高发生了位移。为了排除样品的原因,则用钬玻璃来确认;图-2是钬玻璃图谱:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212031425_408996_1602290_3.jpg图-2 钬玻璃图谱通过上图可以看出,361nm处的波长变为357nm了,整体波长位移了-4nm;这就可以明确地判断出波长位移的原因不是样品而是在仪器方面。(3)再次检查氘灯的656.1nm的波长精度,发现竟然波长位移了115nm,简直不可思议,见图-3所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212031427_408997_1602290_3.jpg图-3 氘灯656.1nm的波长位移到771nm处啦!(4)于是重新开机,仪器在初始化时却出现了“波长初始化错误”的提示,见图-4所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212031429_408999_1602290_3.jpg图-4 提示波长初始化错误产生这种错误提示的原因是:仪器的波长偏移得太多了,因此仪器通电开机后实施的波长初始化时在656.1nm波长附近寻找不到氘灯的特征波长之故。(5)根据上述检查情况判断,问题可能出在波长电机那里,即波长电机的转速没有与驱动信号同步,也就是所谓的波长电机产生了“失步”的故障。根据仪器设计原理,波长电机转动的圈数的多少即代表了波长移动了多少,而电机转动的圈数多少又是受电脑程序控制的。常见产生电机“失步”的故障一般有两个方面的原因:第一是电机传动丝杠光洁度变差增加了传动阻力。于是就在电机传动丝杠上加注了一些机油,但是故障如前。丝杠照片见图-5所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212031431_409001_1602290_3.jpg图-5 波长传动机构其次是电机驱动电路故障,于是更换了电路板;更换后仪器通电开机,初始化后检查波长精度正常,见图-6所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212031433_409002_1602290_3.jpg图-6 更换电路板后的波长精度但是仪器工作半小时后,其波长再次发生了位移,见图-7所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212031433_409003_1602290_3.jpg图-7 波长偏移了41.6nm(6)通过上述记录我发现一个有趣的规律,那就是该仪器一般都是在开

  • 【原创大赛】国家地表水自动监测和手动监测差异之我见

    近些年来,国家地表水环境质量监测改革工作如火如荼,自动监测和手动监测齐头并进,如鸟之两翼,车之两轮,在地表水环境治理方面都发挥了重要的不可替代的作用,但是随着时代的发展,时间的推移以及治理规范性和实效性的变化以及人民群众对美好生活的迫切愿望的驱动,手动监测与自动监测之间的不可调和的矛盾也日益凸显,因循守旧的思想亟待破除,沿着既定的改革总体方案的步伐前进的方向,丝毫不能动摇,必须久久为功,破除制度藩篱和利益牵绊,把改革进程持续深入的推进下去。 众所周知,《国家生态环境质量监测事权上收实施方案》颁布以来,举国而为的采测分离地表水手工监测方案应运而生,举国体制来监测主要河流断面的水质环境质量,以一种由上而下的行为来倒逼地方政府进行彻底的无死角的水质治理,可以讲无论从直观还是客观角度来讲,都收效颇丰,昔日污迹横流的大江大河,正在逐步焕发往日的活力,但是,根据既定任务目标和参照国外的成功治理案例,手工监测为辅,自动监测为主的格局依旧没有真正形成,形同虚设,流于表面,无法发挥其真正的应有作用。 究其原因,自动监测与手动监测无法进行有效的比对,数据无法进行有效的溯源,也就是说考核方、裁判员无法对运动员的比赛成绩进行有效的评定,长期以往,运动员必然会互相攻讦、疑云重重,产生消极惰怠情绪,如大面积滋长,定不利于整体工作的有序推进,如此原因,因而而来,如何让其而灭?值得每一位生态环境管理者和生态环境技术工作者深思,难道真的是,步子迈得太大了,灵魂没有跟上前行的步伐? 当下地表水手动监测,以月为计监测水质变化情况,按理来讲不合逻辑,岂可以“刻舟求剑”之举来缘木求鱼?可见,从管理要求和社会需求来讲,肯定不是长久之计,回想之前多年的种种年度监测方案,不免滑稽?但是那时候也是只有此下策可选,毕竟社会以及经济发展不如当下,但时至今日,如再以手工监测为主的手段一以贯之的执行下去,未必就会产生好的效果,只能是自欺欺人罢了。真所谓“道高一尺魔高一丈”,用小米加步枪去消灭太空战略武器基本很难以实现了,尤其与制造污染的“唯利是图”的一小撮人作斗争过程。 可喜的是,从上到下也在开展一次自动监测和手工监测的大规模的比对工作,让仪器设备中得一些“小鬼”们,在这次钟馗捉鬼的过程中,都露出原形,让真正扛得起水质生态环境治理大任的良心厂商脱颖而出,让那些夸夸其谈的嘴皮仪器厂商工作者们销声匿迹,,只有这样形成严苛的准入制度和严密的规章制度,才可以回归水质监测适时的常态化,护佑我们赖以生存的每一条大江大河。 真心希望,海晏河清,心清神澈,而不是相反。

  • 上海通微分析技术有限公司的蒸发光散射检测器其性能如何?

    1、上海通微分析技术有限公司的蒸发光散射检测器其性能如何,国外有在使用的版友吗,能不能分享一下使用心得?2、你觉得蒸发光散射检测器的关键性参数有哪些?工作原理◆雾化: 液体流动相在载气压力的作用下在雾化室内转变成细小的液滴,从而使溶剂更易于蒸发。液滴的大小和均匀性是保证检测器的灵敏度和重复性的重要因素。优良的蒸发光散射检测器,通过对气压和温度的精确控制,确保在雾化室内形成一个较窄的液滴尺寸分布,使液滴蒸发所需要的温度大大降低。◆蒸发: 载气把液滴从雾化室运送到漂移管进行蒸发。在漂移管中,溶剂被除去,留下微粒或纯溶质的小滴。某些蒸发光散射检测器采用低温蒸发模式,维持了颗粒的均匀性,对半挥发性物质和热敏性化合物同样具有较好的灵敏度。◆检测: 光源采用650nm激光,溶质颗粒从漂移管出来后进入光检测池,并穿过激光光束。被溶质颗粒散射的光通过光电倍增管进行收集。溶质颗粒在进入光检测池时被辅助载气所包封,避免溶质在检测池内的分散和沉淀在壁上,极大增强了检测灵敏度并极大地降低了检测池表面的污染。

  • 上海通微分析技术有限公司诚聘博士后,坐标,你准备好了吗?

    [b]职位名称:[/b]博士后[b]职位描述/要求:[/b]上海通微分析技术有限公司博士后工作站因课题组因工作需要,拟招聘博士后3-5名。流动站为上海交通大学。应聘要求:1. 博士学位2. 英语流利 热爱科研3. 招收方向为化学、药学、药分、生物、光学、机械、电子、计算机等相关专业。[b]公司介绍:[/b] 上海通微分析技术有限公司(简称,通微公司)于2002年成立于张江高科技园区,注册资金1715万,是美国通微技术股份有限公司(Unimicro Technologies, Inc.)的子公司。通微公司集分析仪器研发、制造、销售与服务为一体,潜心经营加压毛细管电色谱系统,高效液相色谱、制备型液相色谱、液相色谱柱及色谱配件和耗材。通微公司也是世界首台加压毛细管电色谱、定量毛细管电泳仪和中国第一...[url=https://www.instrument.com.cn/job/user/job/position/70083]查看全部[/url]

  • 【分享】全自动曲线仪的特征及功能简介

    全自动曲线仪又可称为全自动荷重行程曲线测试仪,适用于各种按键及开关之荷重、行程的曲线测试。全自动曲线仪利用WINDOWS中文视窗画面设定,操作简单方便,可储存试验条件、荷重曲线图、测试结果、检查报表等资料,曲线仪可加装全自动移动台、可同时测定动态阻抗。 全自动曲线仪采用伺机服马达传动,可提供高精度之荷重、位移测定,可得到完全准确之按键及开关曲线试验。采用高精度的力量传感器感应力大小的变化,并经过电脑处理得到完全准确的荷重曲线实验的仪器。全自动曲线仪可精确测量待测物之荷重及行程的相对应变化曲线,并可准确控制测试荷重及行程、测试速度、试验次数及暂停时间等。测试项目可输入上、下限规格值,可输入最大测定行程及储存荷重、行程曲线图、检查报表。 全自动曲线仪的主要技术参数:测试荷重种类:2000gf最小显示荷重:0.1gf最小测试行程:100mm最小显示行程:0.01mm、0.001mm(Option)测试速度范围:0-100mm/min传动机构:滚珠螺焊驱动马达:伺服马达使用电源:AC110或220V

  • 上海通微分析技术有限公司的色谱用户请在此后跟贴

    如果您是上海通微的国产色谱产品用户,您在使用其色谱产品方面有哪些问题或有哪些建议,如总体评价、外观、操作的方便性、软件的功能和易用性、配件种类及供应、常见故障、厂家的维修服务、厂家的技术支持和培训、对员工的意见等,请在此贴后跟贴说明,我们将收集您提出的问题在对话会上向厂商的老总或总工直接提出,促进他们改进自己的产品和服务。同时请您请写一下您的仪器的购买时间,型号,使用年限,使用情况等信息[b]上海通微分析技术有限公司介绍[/b]上海通微分析技术有限公司位于上海张江高科技园区,是由美国通微技术股份有限公司和中方伙伴共同投资成立的高科技企业。公司主要经营加压毛细管电色谱仪、液相色谱仪、制备液相色谱仪、色谱配套产品以及其他化学,生物,医药,环保等分析、分离产品。公司内设有企业博士后工作站,是全国分析仪器行业内唯一一家企业博士后工作站。公司以科技开发为企业的原动力,凭借国际微分析领域领先者——美国通微技术股份有限公司的雄厚技术、开发能力以及多年来在全球市场的丰富经验,率先在中国市场推出TriSepTM系列加压毛细管电色谱仪,为蛋白质组学、基因组学、中药现代化、环保及食品安全等研究领域提供了创新的技术手段。上海通微分析技术有限公司还生产为中国用户量身定做的EasySepTM-1000系列高效液相色谱。高品质的软硬件组合,全面兼容GLP规范,能够充分完全满足常规分析和半制备的需要。优质服务,是通微的发展之道。公司除提供产品安装、调试和售后维护等常规服务外,还不定期为客户举办色谱技术培训班,帮助客户开发分离、分析方法,提供样品检测等技术服务。高素质应用研发队伍和快捷的本土化售后服务,为客户解除分析分离工作的后顾之忧。[b]CEO兼首席科学家阎超博士介绍[/b]1956年10月生,东北人。1978年3月进入内蒙古民族师范学院化学系就读,1981年底毕业后留校任教。1985年在美国华盛顿Georgetown(乔治城)大学化学系攻读博士学位。1990年获博士学位后,留校作博士后研究。1991年在Sandoz Pharma Ltd. 公司的瑞士总部作博士后。1993年在Stanford(斯坦福)大学及Sandia国家实验室做研究。1993年创建美国通微技术股份有限公司。1999年创建天润通微(天津)分析技术有限公司。1993年组建海外华人创业联合会,曾五次组团回国考察访问。1991年为中国“最惠国待遇”去美国国会斡旋,并在白宫受到布什总统接见。1999年去华盛顿受到朱鎔基总理接见。2003年5月至今任上海通微分析技术有限公司的首席执行官兼首席科学家。目前担任南开大学、上海交通大学、华东师范大学、福州大学的客座教授,中国色谱协会常务理事兼副秘书长,《色谱》杂志副主编,中国分析仪器学会微分离仪器专业副主任委员。

  • 大行程传感器信号误差抑制与细分功能电路--成果推广

    大行程传感器信号误差抑制与细分功能电路--成果推广

    成果简介 以光栅、磁栅等大行程传感器输出信号为对象,针对信号噪声对测量精度影响,提供传感器信号多项误差集中补偿实现方案,量化抑制信号的等幅、直流漂移、正交等误差,提供倍率可调的高速细分功能电路,实现大行程、大角度范围内的长度、角度的高分辨率测量。 电路系统在数字化硬件平台上实现,系统结构简洁,具有高集成度、高灵活性特点,支持多种信号输出形式。目前市场上没有类似的集成化信号处理产品,成果电路在灵活性、可靠性、适用性方面具有显著市场优势。系统组成 以传感器输出的正余弦信号(或方波信号)为输入,进行信号多路高速采样,通过集成化数字功能电路完成多种误差补偿和高分辨率细分,电路输出既可以通讯到上位机,也可以以脉冲形式输出。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607121448_600114_3112929_3.png技术指标(1)误差抑制效果:直流漂移<20mv;正交误差<0.8°;等幅性<1%;(2)细分倍率:256、512、1024可调;(3)最大输入信号频率;40KHz(1024细分);(4)输出信号:细分计数、脉冲。 技术特点 目前市场上对于光栅、磁栅等传感器输出信号的补偿、细分、数据采集和信号转换等产品功能单一,在使用便利性、费用、效率等方面均呈现市场需求与产品不匹配特征。本成果电路提供了多功能、一体化、可定制的信号处理功能解决方案,即可以作为集成化功能模块嵌入到大型系统中,也可以承担小型系统定制化功能实现任务。应用领域(1)对长度、角度有大行程、高分辨率测量需求的应用场合;(2)对传感器信号等幅、直流漂移、正交等噪声有定量抑制需求的场合;(3)对长度、角度测量的集成度和灵活性有需求的场合。前期应用 已成功应用于国家计量科学研究院长度所,服务于自校准角度编码器系统,完成360°圆周内2.0"分辨率的角度细分功能任务。合作方式(1)技术服务;(2)个性定制。 联系人:朱维斌联系方式:0571-86875665,0571-87676266;Email:zhuweibin@cjlu.edu.cn;工贸所网址:http://itmt.cjlu.edu.cn;工贸所微信公众号:中国计量大学工贸所。中国计量大学工业与商贸计量技术研究所简介 中国计量大学是以“计量、测试、标准”为特色的院校,主要培养测试技术、仪器开发方向的专属人才。 中国计量大学工业与商贸计量技术研究所是学校为进一步推动高水平研究团队的建设而在2014年设立的两个学科特区之一,主要针对工业生产与贸易往来中关乎国计民生的计量测试问题,以新方法、技术、设备及评价为研究对象,主要研究方向为化工产品及工艺安全测试技术与仪器、零部件无损检测技术与设备、光栅信号处理与齿轮精密测量,涉及的单元技术有高精度温度检测技术、快速热电传感技术、高稳态温度场发生技术、低热惰性高压容器制备工艺、激光和电磁加热、非稳态传热反演、基于幅值分割原理的光栅信号数字细分、光栅信号短周期误差补偿、机器视觉高精度尺寸测量。研究所同时是化工产品安全测试技术及仪器浙江省工程实验室,先后承担国家重大科学仪器设备开发专项、国家公益性行业科研专项、国家自然基金、973等国家级项目,科研经费超千万。现有专职科研人员9人、工程技术人员2人、在读研究生30余人、行政与科研管理人员3人。 “应用驱动、产研融合”是研究所的标签,以应用驱动为前提,通过方法技术化、技术产品化、产品市场化,将科研成果落脚于实际应用,为经济与社会发展提供推动力,同时为研究所提供持续发展所需资金、影响力、信息等各类资源的支撑,目前研究所已拥有2家产业化公司。更多研究所介绍请登录研究所网站itmt.cjlu.edu.cn或微信公众号。

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