便携式红外发射率反射率测试仪

方源仪器长期供应便携式红外测温机，便携式红外测温机适用于包括发动机熄火及排气、冷却、加热和空调等系统的故障诊断。 便携式红外测温机 的详细介绍 便携式红外测温机 温度变化可指示常见的机械和电子问题，通过AutoProST25就可进行快速安全而且方便的诊断。 此型号具有SmartSight---两个激光合并成一单激光指示所测的目标区域为13毫米，红外光斑尺寸特别适合汽车故障诊断中常见的小目标测量。内置照明灯照亮工作区，在暗光下也可精确测量。　AutoProST25还附有带插图的非常具体的操作手册，详细地说明了各种故障的诊断方法，包括发动机熄火及排气、冷却、加热和空调等系统的故障诊断。 测量范围 -32～535℃（-25～999℉） 精度（假定环温为23℃时） 　± 1%或± 1℃取大值 重复精度 　± 0.5%或± 1℃（± 2℉）取大值 响应时间 　&le 0.5s(95%响应) 光谱响应 　8～14&mu m 发射率 　预设0.95 环温工作范围 　0～50℃（32～120℉） 相应湿度 　10～90% 储存温度 　-20～60℃（-13～158℉） 重量尺寸 　360g(12oz)205× 160× 55mm(8× 6× 2in) 电源 　9V碱性或电池 电池寿命/碱性 　带激光，照明灯和背景灯开时，4hrs 　带激光，照明灯和背景光关闭时，20hrs 激光（II级） 　SmartSight双激光瞄准系统 工作区照明 　亮白光LED D：S 　好在8inches处使用，焦点处约为16：1 显示高温度值 　&radic 显示保持（7s） 　&radic LCD背景光 　&radic 温度显示 　℃或℉可选 显示分辨率 　0.2℃（0.5℉） 硬壳携带报 　&radic 三脚架安装 　&radic 可移基座 　&radic 图表操作手册 　&radic 保修 　１年 选件/附件 　尼龙软包，NIST认证（包括1年保修）

BR-M5-30低镜面漫反射吸收板BR-M5-30 低镜面漫反射吸收板（低镜面反射率白板，反射参考板，标准铝镜）是一个标准的中性滤光片。可用来测量感光底层、光涂层、机加金属、半导体材料等材料的反射率。BR-M5-30感光底层直径为30mm，安置在一个坚硬的40×12mm大小的蓝色阳极氧化铝盒内并拧上盖作为保护。参数规格BR-M5-30外部尺寸(mm)40×12（厚度）内部尺寸(mm)30×5（厚度）重量(g)30光谱范围(nm)250 ~ 2000外壳材质铝 反射率5% 使用须知? 使用光谱仪时，BR-M5-30波段范围限于200～1100 nm? 用BR-M5-30将低反射率基准设为～5%? 中性滤光片的材料虽耐用，实际使用时请用户备加小心，以确保标准面不被破坏。? 清理BR-M5-30表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，并用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。该法操作简单，溶剂能均匀挥发后，确保镜头表面不遗留拖尾或污点。

产品特点：反射率测定标准品珀金埃尔默提供一系列的反射率测定标准品，以便在乳品测定中能确保系统优化运行。多种校准或未校准的反射率标准品的不同组合可供选择，以提供最佳筛选结果。订货信息：反射率测定标准品产品描述部件编号99% 反射率聚合物 60 mm，8 mm x 58 mm，未校准L128192099% 反射率聚合物 100 mm，8 mm x 98 mm，未校准L128192199% 反射率标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准L128192299% 反射率标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准L128192350% 反射率标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准L128192450% 反射率标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准L1281925反射率标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准，每套 4 件L1281926反射率标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准，每套 4 件L1281927反射率横坐标标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准，L1281928反射率横坐标标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准，L1281929反射率标准品重新校准服务，标准品重新校准 12 个月之后推荐该服务L1281930

SIR2000便携式冶金双色测温仪 产品说明： 针对辐射率无法确定的高温物体的温度测量； 冶金行业的炼焦炉，热风炉、铸造、焊接、锻造、感应加热、烧结、退火等温度检测控制。 需非接触和快速测温的场合，如测量小尺寸、移动的高温物体的温度。 特点或功能： 该系列双色红外测温仪具有目视光学瞄准系统,在红外测温技术上摆脱了对红外测量的依赖,使仪器的测量精度高、重复性好，与单色测温仪相比，在以下条件下可进行有效的、准确的测量； 到目标的测量视场被部分遮挡，比如仪器与目标之间有灰尘、烟雾、水汽等； 被测目标小于测温仪测量视场，比如在冶金行业测量线材或棒材的温度； 当目标发射率低，且在两个波长上的变化相同。 技术参数： 型号 SIR2000 名称 便携式双色红外测温仪 测温范围 800℃-2000℃（分段） 距离体系 150:1 工作波段 0.8&mu m～1.1&mu m 测量精度 1% 分辨率 1℃ 瞄准方式 同轴光学瞄准 数据显示 7段LED显示 模拟输出接口 4-20mA 测量模式 单色或双色

STAN- SSH高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率，在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH，STAN-SSH 型和NIST溯源的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一 个NIST校准（NIST号为NIST38060S, s/n 99G16）250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书，一个做为波长函数的反射率值数据表，和一张磁盘，磁盘中的数据可以转到海洋光学光谱 仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 STAN-SSH感光底层直径为1.25" ，安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时，STAN-SSH限于200-1100 nm 设置高反射率基准时可使用STAN-SSH 虽然STAN-SSH的铝膜由一层外涂层保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表 面，以避免污染和破坏。清理STAN-SSH表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜 头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确，溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STAN-SSH时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。 STAN-HOLDER 反射比标准固定器 STAN-HOLDER是一个用来在测量时将标准固定的附件，使用方便。 STAN-SSL镜面反射 技术指标 底层尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射物: 镜面的熔融石英，带有保护外套 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)

NIRS XDS 的反射率标准板支架订货号: 6.7410.000在将单色仪与样品模块进行校正时需要一个反射率标准板。固定校正标准板时需要一个支架，将标准板定位于其中。 反射率标准板和所属支架用于：NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：29211210）NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）

经认证的 NIRS 99% 反射率标准板，用于实验室探针订货号: 6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板，用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer

NIRS XDS 的反射率标准板支架NIRS XDS tray for reflection standard订货号： 6.7410.000在将单色仪与样品模块进行校正时需要一个反射率标准板。固定校正标准板时需要一个支架，将标准板定位于其中。 反射率标准板和所属支架用于：● NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：29211210）● NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）

NIRS 反射率标准板，2 件套订货号: 6.7450.000波长标准板和 80% 反射率标准板套装，用于校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

NIRS 反射率标准板，7 件套订货号: 6.7450.010由六个反射率标准板和一个波长标准板组成的套装，用于在稳定环境中校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

NIRS 99 % 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，直径 1 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard process, 1 inch diameter订货号： 6.7450.070NIRS 99％ 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，探针直径为 1 英寸

订货信息：漫反射率测定标准品产品描述部件编号99% 漫反射标准品，2 英寸，已校准PELA90582%，50%，75%，99%漫反射标准品组件，2英寸，已校准PELA90112%，5%，10%，20%，40%，60%，80%，99%，漫反射标准品组件，2 英寸，已校准PELA9013漫反射标准品组件，2 英寸，已校准，颜色：R,G,B 和 YPELA9018漫反射标准品组件，2 英寸，已校准，颜色：O,P,C 和 VPELA9019可调支架L6020329

NIRS 反射率标准板，7 件套NIRS reflection standard, set of 7订货号： 6.7450.010由六个反射率标准板和一个波长标准板组成的套装，用于在稳定环境中校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

经认证的 NIRS 99% 反射率标准板，用于实验室探针Certified NIRS 99% reflection standard for laboratory sensors订货号：6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板，用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer

环形激光陀螺仪组件或某些科学应用中的所谓超级镜需要具有极低损耗（即吸收和散射）的镀膜光学元件。这些反射镜还具有 R 99.998% 和总损耗 10 ppm 的最大反射率。筱晓使用德国改进的 IBS 机器，能够在超抛光基材上生产涂层。机器和环境的清洁度在专用的超净室中保持，并在此进行广泛的基材预处理和后处理。用于检查程序的测量设备，例如白光轮廓仪和高分辨率显微镜（高达 x 1000）已经到位。定制的腔衰荡设置允许以最多四位小数的精度确定反射并参考损耗。 中心波长1742nm技术参数 位于耶拿的弗劳恩霍夫应用光学和精密工程研究所测量了我们当前生产的 633 nm 超级镜的总背散射（TSB，如 ISO 13696 中所述），并达到了 TSB = 1.1 ppm 的值。 15 ppm 的典型吸收和剩余透射率合计相当于至少 99.998% 的反射率。对于更长的波长，甚至可以达到 99.999%，这非常接近 R = 100% 的完美激光镜。 结果已通过我们的内部腔衰荡设置和散射测量得到证实。对于上述值，使用表面粗糙度 1 ? rms 的超抛光基板是必不可少的。用白光轮廓仪检查它们的质量。下面是一些测量值：Scatter TSB AbsorptionReflection CRDHR 532 nm?/?0°4.9 ppm1) (int. ARS) 10.2 ppm 2) 99.997% 2) (T~5 ppm)HR 633 nm?/?0°1.1 ppm 1) 99.998% (T~5 ppm)HR 1064 nm?/?0°( 1 ppm) 3) 2 ppm 4) 99.999% (T~5 ppm)HR 2940 nm?/?0°24 ±12 ppm6)99.994% 5) (T=36 ppm) 1) Measured at IOF Jena 2) Measured at LZH 3) Calculated from surface roughness 4) Measured at ILT Aachen 5) measured by customer 6) 1-R-T 特点• 非常高的反射率(在可见光和近红外光谱范围内R 99.99%• R 99.999% 在1000 – 1600 nm 之间的几个波长处得到证实)• 中心波长可以定制（起订量：6片）• 所有用于 CRD 实验的反射镜都带有背面增透膜• 平面和球形弯曲熔融石英基材 • 优质抛光，RMS 粗糙度：≤ 1.5 ?产品应用● 激光陀螺●CRD 腔衰荡系统设计● 光通道诊断 参数材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(?) 12.7，25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5? Guaranteed RoughnessFlatnessAvailabilityPremiumRMS0.2 nm*(2?)入/20?12.7-25 mmalways 2,000 pcs.on stock(various radii and plane)superpolishedRMS0.1nm*(1?)入/10on request* Tested with Zygo NewView 9000 within sample length 3- 1000 um 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 ?e20 测试区 ?e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm] 曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004 清洁度5/2x0.04 L1x0.004

NIRS 反射率标准板，2 件套NIRS reflection standard, set of 2订货号：6.7450.000波长标准板和 80% 反射率标准板套装，用于校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

NIRS 99％ 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，探针直径为 0.5 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard for process instrument, 0.5 inch probe diameter订货号： 6.7450.080

STD-M 标准铝镜 标准反射镜是用于反射率测量的标准镜面反射参考物。复享科技的STD-M标准反射镜采用高反的Al材料热蒸发而成，能够提供紫外-可见-近红外（200-2500 nm）宽光谱谱段大于95%的高反射率。高反射率表面复享标准高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。 250nm-800nm 波长处反射率为~85%-90%。800-2500nm 反射率为~85%-98%。3、外壳铝材料，蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。典型图片STD-M 标准反射镜反射率图谱更多信息访问：http://www.ideaoptics.com产品性能产品参数 项目 值波段：200-2500 nm外壳：镜面的熔融石英镀膜；高稳定性外壳铝材料；蓝色阳极氧化铝壳并拧上盖过为保护； 镜面表面有保护膜铝镜表面为镜面反射，镜面的熔融石英镀膜防止铝镜表面氧化。使用注意事项*设置高反射率基准时可使用STD-M *STD-M铝膜由一层熔融石英镀膜保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表面，以避免污染和破坏。清理 STD-M表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头 的表面。然后单向在镜面拖动，之后自然晾干即可。一般不需擦拭。 溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 *裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STD-M时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。更多促销信息：http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=STD-M产品特点 1、镜面的熔融石英镀膜放置轻微刮擦，耐高温，性能稳定，避免铝和空气氧化；2、高反射率铝镜； 直径： 内径30 mm，外径40 mm；重量：33.5 g反射率：250-800 nm，80%-90%；800-2500 nm，85%-98%；

NIRS 99% 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，1 英寸直径，45° 度倾斜NIRS 99% reflection and wavelength standard for process instrument, 1 inch diameter, 45° bevel订货号： 6.7450.090

镜头焦距测试图（36扇形星）反射率TE120_ATE120测试图被设计用于：相机镜头调整检测后焦距 使用低透射滤光片和低水平照明以确保相机在光圈打开的位置没有过度调节。a）光学聚焦：调整变焦镜头的焦距到最大焦距。 b）后焦距（镜头）：通过调节机械地调节镜头螺丝调整焦距到最短焦距，然后交替优化a）。c）后焦距（拾取管）：如果焦点在不同信道的最大和最短焦距变化，个别的拾取管必须机械的调整光轴。 1、选择白色通信道。设置光学聚焦在最大焦距。调节W-通道拾取管的最短焦距和发射焦点达到最佳聚焦。必要时交替优化调节光学聚焦。2、调整红色和蓝色拾取管的不变焦距和最短焦距，直到最佳聚焦的实现。图像对焦（对焦调整）通过后焦距的调整得以在全焦段（放大）和恒定的距离对象。 扇形星的外直径是一个分辨率测试图，这个扇形星的分辨率是50.5线，即0.65MHz（625线）或0.64MHz（525线）。这个扇形星有一个不确定的部分直接是为直径的1%。 The TE120 test chart is designed foradjustment of camera lenseschecking back focal distancechecking resolution establishing cushion and barrel distortion With the aid of a low transmission filter and by means of low level lighting make sure that the camera is not over modulated with the aperture in the open position.a) Optical focus: Adjust focus of zoom lens at greatest focal length. b) Back focal distance (lens): Adjust focus at shortest focal length by regulating lens mechanically with adjustment screw and optimize alternatively with a). c) Back focal distance (pick-up tubes): If focus varies from channel to channelbetween greatest and shortest focal length, the individual pick-up tubes must be adjusted mechanically in the optical axis.1. Select white channel. Set optical focus at greatest focal length. With shortest focal length and divergent focus adjust the pick-up tube in W-channel until optimum focus is achieved. If necessary optimize by alternating with optical focus adjustment.2. With unchanged optical focus adjustment and shortest focal length adjust the red and blue pick- up tube until optimum focus is achieved. Image focus (focus adjustment) is maintained at all focal lengths (zoom-in) and constant distance from object by means of back focal distance adjustment. At the outer diameter of the sector star there is a resolution of the sector star there is a resolution of 50.5 lines, i.e. 0.65 MHz (625 lines) or 0.64 MHz (525 lines). The unresolved center of the star has a diameter of 1% of the outer diameter.1、厂家货源正品官方直售，公司生产周期短，出厂严格检测，货品品质保障，可通过国家计量院计量。2、关于尺码 机身和包装尺寸为手动测量，由于测量工具和测量方法不同的因素，会存在1cm误差，但是不用影响运输和使用。 3、关于颜色 本店产品都是实拍图片，但是由于不同显示器分辨不同以及色温和对比度差异有所不同。 4、关于客服 可以通过阿里旺旺随时联系我们，如果旺旺回复不及时也可以拨打我们的热线电话 沈工：13761561390 （技术与销售一体，直达客户需求）5、关于售后 我们将提供完整的售后服务，包括15天退货，正品保证，交期保障等等。 6、关于发货本店根据货物及客户需求，尽可能选择快捷方便的物流运输服务，一般情况发顺丰快递！

用途：i5小型红外热像仪堪称目前市场上最为轻盈、性价比最高的红外热像仪。该款产品红外图像分辨率达80×80像素，集便捷灵活、操作简便等优势于一身，无需任何使用经验即可轻松掌握操作要领。“瞄-拍-测”操作一气呵成，高质量红外图像即刻呈现，高效获取所需红外信息。技术规格：图像和光学数据视场角（FOV）17°×17°最小调焦距离0.6 m空间分辨率（IFOV）3.71 mrad热灵敏度/NETD0.1℃帧频9 Hz调焦免调焦探测器探测器类型非制冷微热量焦平面阵列（FPA）波长范围7.5 ~ 13 μm红外图像分辨率80 ×80像素图像显示显示2.8英寸彩色液晶显示屏图像调整自动调整/图像锁定测量测温范围0~+250℃精度±2℃或读数±2%测量分析点测温中心点温度发射率校正变化范围：0.1~1.0发射率表预先设定材质的发射率表反射温度校正基于输入的反射温度自动校正设置调色板黑白、铁红和彩虹设置命令可设置为本国单位、语言、日期和时间格式图像存储图像存储类型迷你SD卡文件格式标准JPEG，包含14位测量数据数据通讯接口接口迷你USB，与电脑互相进行数据通讯电源系统电池类型可充电锂离子电池电池电压3.6 V电池工作时间大约5小时充电系统电池壳随机充电充电时间充至90%电量需要3小时电源管理自动关机交流电源交流适配器，90~260 VAC输入，5V输出至热像仪环境参数操作温度0~+50 ℃存储温度-40~+70 ℃湿度（工作和存储）IEC 60068-2-30/24h 95%相对湿度EMCEN61000-6-2:2005(抗干扰)；EN61000-6-3:2007(抗辐射)；FCC 47 CFR Part 15 class B(抗辐射)封装热像仪外壳和镜头：IP43(IEC 60529)冲击25 g (IEC 60068-2-29)震动2 g (IEC 60068-2-6)物理特性热像仪重量（含电池）0.34 kg尺寸（长×宽×高）223×79×83mm产地：美国

用途：i5小型红外热像仪堪称目前市场上最为轻盈、性价比最高的红外热像仪。该款产品红外图像分辨率达80×80像素，集便捷灵活、操作简便等优势于一身，无需任何使用经验即可轻松掌握操作要领。“瞄-拍-测”操作一气呵成，高质量红外图像即刻呈现，高效获取所需红外信息。技术规格：图像和光学数据视场角（FOV）17°×17°最小调焦距离0.6 m空间分辨率（IFOV）3.71 mrad热灵敏度/NETD0.1℃帧频9 Hz调焦免调焦探测器探测器类型非制冷微热量焦平面阵列（FPA）波长范围7.5 ~ 13 μm红外图像分辨率80 ×80像素图像显示显示2.8英寸彩色液晶显示屏图像调整自动调整/图像锁定测量测温范围0~+250℃精度±2℃或读数±2%测量分析点测温中心点温度发射率校正变化范围：0.1~1.0发射率表预先设定材质的发射率表反射温度校正基于输入的反射温度自动校正设置调色板黑白、铁红和彩虹设置命令可设置为本国单位、语言、日期和时间格式图像存储图像存储类型迷你SD卡文件格式标准JPEG，包含14位测量数据数据通讯接口接口迷你USB，与电脑互相进行数据通讯电源系统电池类型可充电锂离子电池电池电压3.6 V电池工作时间大约5小时充电系统电池壳随机充电充电时间充至90%电量需要3小时电源管理自动关机交流电源交流适配器，90~260 VAC输入，5V输出至热像仪环境参数操作温度0~+50 ℃存储温度-40~+70 ℃湿度（工作和存储）IEC 60068-2-30/24h 95%相对湿度EMCEN61000-6-2:2005(抗干扰)；EN61000-6-3:2007(抗辐射)；FCC 47 CFR Part 15 class B(抗辐射)封装热像仪外壳和镜头：IP43(IEC 60529)冲击25 g (IEC 60068-2-29)震动2 g (IEC 60068-2-6)物理特性热像仪重量（含电池）0.34 kg尺寸（长×宽×高）223×79×83mm产地：美国

BK7超宽带高反射镜：材质：BK7。规格：波长范围350-1100nm，可用于0-50度入射角，发射率可达到99%，常用尺寸有直径25.4mm，厚度6.35mm。BK7超宽带高反射镜用途：高功率激光光路调整。

反射镜有超过350种镜片可供选择；设计入射角为0°或45°，覆盖波段从190nm 到 2000nm 提供金、银、铝等金属镀膜，用于提高反射率、起保护作用等；使用BK7或UVFS材料，能够实现λ/10表面质量的镜片；提供具有高反射率的镀膜镜片,如MaxMirror 和MaxBRlte 能在宽波段内实现大于98%的反射率。若是单面镀膜,会在未镀膜面用箭头指向镀膜面,方便使用。飞秒激光反射镜:具有宽带、高反射率、高损伤阈值和低群延迟色散的特点，应用于飞秒激光器。飞秒激光反射镜有以下两个型号，分别对应740-860nm,720-900nm两个波段，不同尺寸可选。美国CVI laser optics 设计和生产紫外到近红外波段的高性能光学器件，主要应用在激光的光束调节和传输方面，在业内有很高的知名度。 主要生产包括球面镜，平面镜，偏振片，棱镜和波片。 还提供一系列用于超快激光应用的低色散和色散补偿光学元件。

美国CVI laser optics 设计和生产紫外到近红外波段的高性能光学器件，主要应用在激光的光束调节和传输方面，在业内有很高的知名度。金属镀膜反射镜:通过复合镀膜能实现在紫外波段到中红外波段的反射率和起保护作用的金属膜层。美国CVI laser optics生产的反射镜有超过350种镜片可供选择；设计入射角为0°或45°，覆盖波段从190nm 到 2000nm 提供金、银、铝等金属镀膜，用于提高反射率、起保护作用等；使用BK7或UVFS材料，能够实现λ/10表面质量的镜片；提供具有高反射率的镀膜镜片,如MaxMirror 和MaxBRlte 能在宽波段内实现大于98%的反射率。若是单面镀膜,会在未镀膜面用箭头指向镀膜面,方便使用。

线性激光窄带反射镜高反射率、高损伤阈值，覆盖紫外到红外的所有主流激光器的波段。有十几款不同产品对应不同的波长和不同激光美国CVI laser optics 反射镜有超过350种镜片可供选择；设计入射角为0°或45°，覆盖波段从190nm 到 2000nm 提供金、银、铝等金属镀膜，用于提高反射率、起保护作用等；使用BK7或UVFS材料，能够实现λ/10表面质量的镜片；提供具有高反射率的镀膜镜片,如MaxMirror 和MaxBRlte 能在宽波段内实现大于98%的反射率。若是单面镀膜,会在未镀膜面用箭头指向镀膜面,方便使用。

FH 40G系列便携式多功能辐射巡测仪 FH 40G 系列便携式辐射测量仪有多种不同用途的&alpha ,&beta ,&gamma ,X与中子的综合测量功能，结合种类齐全的外部智能化探头和功能强大的操作软件，满足各领域的最高要求，得到了广泛应用。 特色技术： － 天然本底扣除NBR专利技术 － 先进的数字化滤波ADF技术 － 低功耗技术 广泛的应用 － 探测隐蔽的辐射源 － 探测隐蔽的违禁品 － 个人辐射防护，救援服务防护 － 保健物理及核医学等防护测量 － 环境测量；工作场所监测；公共设施监测 － 运输货物监测 － 固定式长期监测或移动式测量 － 运用NBR技术，实线在变化的天然本底下对人工&gamma 的高灵敏度测量 － 在混合辐射区域同时测量中子和&gamma － 车载&gamma 监测系统 － 实验测量网络 服务热线: 8008105118（免费）/4006505118（支持手机用户） 主要特点： 仪器特点： － 可连接多种外部探头 － 自动识别和配置所连接的探测器，并自动显示该探头探测的辐射类型 － 剂量和剂量率警报连续可调 － 测量结果以数字方式显示，自动绘制30年后的变化条形图 － 剂量率报警时，显示屏亮并伴有脉冲提示，脉冲声信号频率对应于剂量率变化 － 外部探测器独立报警，电池低电量报警 － 显示上次操作的剂量率最大值和平均值 － 存储累积剂量，每次关机后的数值仍保存在仪器内，直到手动复位 － 计数模式可选时间模式，适合测量低水平辐射 － 内置存储器可存储256个数据 － 可通过手动按键或设置时间间隔来选择存储方式 － 与计算机通过红外串口连接 － 在线图形数据显示和存储，可以通过程序读出内部缓存数据 技术参数： FH 40G ： 10nSv/h-1Sv/h FH 40G-L： 适用于中低剂量率范围（达到100mSv/h） FH 40G-X： 显示装置，无内置计数器 FH 40TG：长杆辐射测量仪 FH 40LAB-1：用于&alpha ，&beta 污染的快速测量 FH 40D： 可在0－90度调节测量方向，是海关和警方缉私工作有力的工具 外接探测器： － &gamma 剂量率探测器 FHZ 632L 该探测器在环境辐射水平和最大100mSv/h范围之间的剂量率的测量，它有一个附加的伸缩杆（1700mm&mdash 3000mm）和伸缩杆（1000mm&mdash 4000mm）FH40GT用于很难探测到的地方。 FHZ 612 该&gamma 剂量率探头具有极宽的量程，即10nSv/h到10Sv/h，它有两个GM管，当剂量率大于8mSv/h时将自动转到高剂量探测器进行测量。 该探测器也适用于伸缩杆。 FHT 672E-10 &gamma 剂量率探测器FHT 672E-10具有极高灵敏度，尤其适用于探测隐藏的辐射源，并且是测量环境剂量当量率H*（10）。FHT 402 该探测器为电离室探头，它可测量低能量&gamma 和X线降至少于10KeV以及&beta 辐射。 FHZ 312，FHZ 302 水下探测器FHZ 312和FHZ 302用于测量最大水深20米的&gamma 辐射，FHZ 312剂量率达100Sv/h，FHZ 302剂量率达1Sv/h。 该探头可配置20m防水电缆 － 中子探测器FHT 752 和FHT 752H － 追踪探测器 NBR探测器FHT 672E 该探测器为高灵敏度的闪烁体探头，ADF算法以及NBR技术，使得它能在天然与人工辐射之间进行迅速的识别。 天然辐射用绿色灯表示，人工辐射由红色灯指示灯表示。 当测量值超过设置的限值（例如找到人工辐射源），那么&ldquo &gamma &rdquo 符号和&ldquo 喇叭&rdquo 符号都会显示在FH40G显示屏上，另外，还有警告信号声。 FHZ 512、FHZ 502、 FHZ 503追踪探测器 这些探测器用于寻找&gamma 辐射源的位置。 FHZ 502为2"× 2"大的碘化钠探测器，具有极高的灵敏度，更灵敏的探测器为FHZ 503、FHZ 512探测器，它是3"× 3"的碘化钠探头。 FHZ512可配置伸缩装置用于测量很难探测到的位置。 中子追踪探测器FHT 752E、FHT 752EH、FHT 752S、FHT 752SH 这些探测器用于探测中子辐射源的位置，-H型是用3He管，它以极好的灵敏度用于中子测量，但它对&gamma 辐射又有较高的干扰。 -S型非常轻巧，它只有一个很小的7mm的慢化剂，它也适用于伸缩装置42540/55和51。 -E型有一个很大的慢化剂，同时较之-S型它更灵敏。 － 污染探测器 &alpha 、&beta 、&gamma 探测器FHZ 732 FHZ 732用于综合测量。探测器用于由&alpha 、&beta 、&gamma 辐射造成表面污染的测量。 利用其正比计数管和脉冲幅度识别，它可分离出&alpha 、&beta 、&gamma 污染。 &alpha 、&beta 、&gamma 探测器FHZ 732GM 这一个性价比合理的探测器，它具有与FHZ 732同样的用途。 它使用GM管进行测量，但不能在&alpha 、&beta 和/或&gamma 之间区别。 &alpha 、&beta 探测器FHZ 742 由于FHZ 742具有大表面以及&alpha 和&beta 辐射之间的识别能力，所以它尤其适用于检查表面污染。

变反射率镜脉冲Nd: YAG激光器（Pulsed Nd: YAG Laser with Variable Reflectivity Mirror）LS-2132U, LS-2134ULS-2132U, LS-2134U是我们可靠的LS-2132, LS-2134激光器的增强版，其特点为增加了变反射率镜(VRM)提供的改进性能并且坚固耐用，稳定性高，操作界面友好。规格：LS-2132ULS-2134U能量, mJ 1064 nm170260532 nm110160355 nm4055266 nm3050213 nm46脉冲时间(FWHM), ns 1064 nm5-67-8532 nm4-56-7355 nm4-55-7266 nm4-55-6213 nm4-55-6脉冲重复率, Hz15光束发散度, mrad≤0.7≤0.8光束直径, mm≤5.0≤6.0Jitter, ns±1.0指向稳定性, mrad0.1能量稳定性(RMS), %1064 nm2.0尺寸长x宽x高, mm激光头646x150x113电源 391x364x192致冷系统391x364x192远程控制105x175电源单相 220 ±20V, 50-60 Hz, 750 W

宽带电解质反射镜：高宽带、高反射率，应用于低功率到高功率激光和固定或可变的 入射角。宽带电解质反射镜有两款不同类型的产品：MPQ 和TLM2。其中，MPQ覆盖主流的紫外和可见光波段的激光器波长，具有极高的反射率。TLM2：可调谐。能分别在450~2100nm波段实现连续激光和在780~1030nm实现短脉冲激光的高反射率。美国CVI laser optics 设计和生产紫外到近红外波段的高性能光学器件，主要应用在激光的光束调节和传输方面，在业内有很高的知名度。 美国CVI laser optics主要生产包括反射镜、球面镜，平面镜，偏振片，棱镜和波片。 还提供一系列用于超快激光应用的低色散和色散补偿光学元件。

高斯反射镜是一种可变反射率反射镜,也是一种梯度反射率镜,Gaussian mirror, 这种高斯反射镜可以有效改善激光光束质量。高斯反射镜和变反射率镜的反射率是位置的函数，镜片反射率随着镜片上位置不同而不同。高斯反射镜能够在不稳腔中提供更加的激光模式，控制实现基模振荡而消除高阶模。高斯反射镜和梯度反射率镜能够改善输出激光的光束质量，特别是在低放大倍率情况下这种光束质量的改变更为明显。高斯反射镜提供的锥形反射率分布可以减少光场分布中的振荡，从而减少高功率激光应用中的光学损伤。高斯反射镜和变反射率镜典型的反射率分布是镜片中心的反射率最大，反射率从镜片中心到边缘依次按函数关系减低。 高斯反射镜和梯度反射率镜参数变反射率镜材料：熔炉石英，UVFS或BK7梯度反射率镜类型：平/平镜片, PCV, PCX高斯反射镜直径：19.05mm +0.0, -0.15 mm变反射率镜厚度：6 mm +/-0.1 mm梯度反射率镜平整度：&lambda /10高斯反射镜光洁度：20-10 scratch & dig变反射率镜平行度：10 arc sec梯度反射率镜净孔径：90%变反射率镜镀膜损伤阈值：10 J/cm2 @ 1064 nm for 10 ns pulses高斯反射镜,变反射率镜,梯度反射率镜询问服务：请直接在如下的询问栏里填写您的要求，然后复制后Email给我们，您会收到及时的报价回复。 Material 材料 Dimensions, mm尺寸 Thickness, mm厚度 Type类型PCXPCVFlat/FlatMeniscus Radius of Curvature, mm 曲率半径 Center wavelength, nm 中心波长 Wedge 倒角 Ro, % 中心反射率 Wm, mm Gaussian order, k 高斯级数 Quantity