GIV-20A系列太阳电池组件测试仪为直射光结构,模拟真实太阳光照射条件,可根据现场环境实现侧打光/上打光安装模式,A+A+A+级光源配置;满足300-1200nm全光谱,脉冲宽度10ms至100ms可调。测试对象:适用于普通太阳晶硅组件(PERC、N型、IBC以及HIT等)电性能参数的测试,同时兼容MBB、半片、叠片等组件的测试。主要技术参数型号XJCM-20A系列最大可测组件尺寸2600mm X 1600mm幅照度范围700-1200W/㎡光谱范围300nm-1200nm光谱匹配度0.875-1. 125(A+级)幅照度不稳定性1% A+级 幅照度不均匀性1% A+级 测量范围电压:1V/10V/50V/100V/200V电流:0.25A/1A/5A/12.5A/20A工作电源200-240V ,10A, 50/60HZ,single phase(单相)
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