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荧光射线金镍镀层无损测厚仪
仪器信息网荧光射线金镍镀层无损测厚仪专题为您提供2024年最新荧光射线金镍镀层无损测厚仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括荧光射线金镍镀层无损测厚仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的荧光射线金镍镀层无损测厚仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合荧光射线金镍镀层无损测厚仪相关的耗材配件、试剂标物,还有荧光射线金镍镀层无损测厚仪相关的最新资讯、资料,以及荧光射线金镍镀层无损测厚仪相关的解决方案。
荧光射线金镍镀层无损测厚仪相关的方案
如何使用涂层测厚仪检测机械上涂镀层厚度的实验操作步骤
如何使用涂层测厚仪检测机械上涂镀层厚度的实验操作步骤
【天研】磁性涂镀层测厚仪主要功能及作用
磁性涂镀层测厚仪采用磁性测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室,也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。
X射线荧光分析仪测量镀层厚度
奥林巴斯VANTA手持式光谱分析仪(HHXRF)的镀层模式能够分析多层镀层材料,基体可以是任何类型的材料,不局限于金属。
【天研】涡流涂镀层测厚仪工作原理及使用方法介绍
涡流涂镀层测厚仪分体N1型探头,检测非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。
EDX在钢帘线镀层分析中的应用
本文建立了使用能量色散X射线荧光法对钢帘线镀层成分和镀层附着量进行分析的方法,通过与化学分析结果进行比对,具有较好的吻合度。该方法消除了钢帘线形貌不规则对镀层分析准确度的影响。 X射线荧光法具有分析速度快、准确率高、操作方便等特点,适合对钢帘线镀层成分和镀层附着量进行检测。
EDX分析柔性线路板的镀层厚度
电子电气产品正在往轻量化、小型化、可折叠、便携带等方向发展,例如OLED柔性显示屏技术、可折叠、可穿戴新型电子装备等等。柔性线路板体积小、重量轻、厚度薄,可弯曲的优点,可以满足OLED产品的特点要求,是关键支撑技术之一。柔性线路板上的金属镀层、连接线等的质量,会影响到使用性能。能量色散型X射线荧光分析仪可以检测柔性线路板的金属镀层厚度、镀层构成元素成分,具有分析速度快,分析灵敏度高的优点。
手持式X射线荧光光谱仪测定富钴结壳样品中锰铁钴镍铜锌
便携式X射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研究了手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳碎块和浅钻岩心野外现场原位分析中的应用能力。
涂镀层厚度及其成分检测解决方案
XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪,该产品采用进口定制Fast-SDD探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法,无需标样,可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器,电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
便携式涂层测厚仪技术参数详解版
天研涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:0~5000um,是高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操 作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻 且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
非接触式无损测量粘胶剂涂层厚度
如今粘胶剂在实际生产中应用越发广泛,特别是在汽车、手机、通讯基站等国家重点行业。例如,在汽车及其零配件中共有100多种橡胶金属化合物需要通过硫化粘胶剂进行粘接,若粘胶剂涂层过厚会增加干燥时间或出现涂层开裂 若涂层过薄会导致零部件容易脱胶,不能正常工作等情况。显然,无损测量粘胶剂的涂层厚度在生产过程中是关键环节之一。
手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳资源勘查中的应用
便携式 x 射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研 究了手持式 x 射线荧光光谱仪在富钴 结壳碎块和 浅钻岩心野外现场原位分析 中的应用 能力。
布鲁克三维X射线显微镜在药物与医疗器械领域的应用
三维X射线显微镜是当前获取样品内部三维结构最有力的工具之一,而且作为无损的非破坏成像技术,它适用于各种形态的样品,无需包埋,镀层或切片等复杂的样品前处理。布鲁克skyscan系列三维X射线纤维成像系统,包含稳定易用的高分辨率成像设备,功能强大的软件套装,可为不同领域的应用提供完善的解决方案。我们为大家带来桌面型三维X射线显微镜在药物与医疗器械领域的应用介绍。
手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳资源勘查中的应用
便携式X射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研究了手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳碎块和浅钻岩心野外现场原位分析中的应用能力。
爆炸物的X射线荧光定性-定量分析
通过X射线荧光快速无损地对爆炸物进行最早期的定性-定量分析,可以帮助公安司法机关初步快速查明爆炸物的来源提高了效率。而具有高灵敏度、高分辨率且采用了新型硅漂移检测器(SDD) 的岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪,非常适用于对爆炸物的早期定性-定量分析,操作简单,方便快捷,无需复杂的化学前处理。
通过SFT9500、SEA1200VX对化学Ni镀层中的Pb进行测量
化学Ni镀层在塑料和陶瓷等绝缘体的材料中也能进行镀层处理。除Ni-P之外、也有Ni-B等的镀层,Ni-P镀层使用较为广泛。这个镀层虽然有良好的功能性,但是电镀液的稳定剂里使用了含有Pb等的重金属物质,由于近年来对应RoHS指令,要求了对镀层中的Pb等限制物质进行管理。另外,Ni-P合金的电镀层也要求对P的浓度进行测量。可使用X射线荧光分析仪进行产品管理,所以介绍一下这方面的测量例子。
使用iEDX150WT应对IPC4552A化镍浸金镀层测试应用方案
IPC发布的《IPC-4552A印制板化学镍/浸金(ENIG)规范》(以下简称ENIG),旨在帮助印制板制造商在PCB生产过程中改进工艺环节,提升产品可靠性。在规范中,IPC详细的描述每种类型的金属镀层表面适合的厚度,包括如何使用XRF分析仪准确测量厚度,且包含应满足XRF分析仪准确测量所需的条件。
稀土镁合金的能量色散X射线荧光(岛津EDX)分析
能量色散型X射线荧光光谱仪(EDX)是一种无损、快读、方便的光谱分析方法,尤其适合对各种金属元素的定性以及定量分析。本文使用EDX对各种类镁合金进行了定性半定量分析,可以快速鉴别出稀土镁合金及其所含稀土元素种类
涂层测厚仪测量涂层厚度步骤
涂层测厚仪是一种用于测量涂层厚度的仪器,广泛应用于金属、塑料、玻璃等表面涂层的测量。
应用S8 TIGER型X射线荧光光谱仪分析镍矿石中主次成分的含量
应用S8 TIGER型X射线荧光光谱仪分析镍矿石中主次成分的含量
X射线荧光分析洗漱水中的锌(Zn)含量
洗漱水作为一种口腔卫生用品,主要作用就是抑菌、固齿、清新口气。现使用岛津EDX-7000 能量色散型X射线荧光光谱仪直接对某种抗过敏的杀菌消炎洗漱水中Zn含量进行快速无损定量分析,可以有效达到生产工艺对Zn的控制要求,无需化学前处理,可以随时取样分析,操作简单而又快捷。
能量色散 X 射线荧光能谱仪 (EDXRF) 分析空气过滤器
美国国家环境保护局 (U.S. EPA) 承诺改善美国的空气质量,这使得愈加迫切需要监测住宅、工业和娱乐场所过滤器采集的大气颗粒物中的特定元素。X射线荧光光谱法由于其无损检测特性、超高的灵敏度而成为了分析与空气监测样品的方法。Thermo Scientific™ ARL™ QUANT’X 型能量色散X射线荧光能谱仪 (EDXRF) 是测定空气过滤器采集的多种元素浓度的理想选择。台式仪器能够分析元素周期表中从钠到镅的元素,并且需要制备的样品最少。ARL QUANT’X 型能谱仪配备了先进的硅漂移探测器 (SDD),具有出色的分辨率,可减少光谱干扰,同时具备出色的响应能力。确保达到较大的立体角,可有效收集X射线。高通量铑阳极管的设计保证了可从X射线管直接激发,或通过选择九种不同的滤波器定制激发,提高了对各种元素的灵敏度。
天津兰力科:稀土La 对电沉积Ni2P 电磁屏蔽镀层组织结构的影响
借助等离子发射光谱仪、电子能谱仪、X2射线衍射仪、透射电子显微镜和扫描电子显微镜等分析了稀土La对电沉积Ni2P 合金镀层的化学成分、晶体结构和表面形貌的影响。结果表明:在电沉积镀液中添加少量稀土La ,改变了电极界面双电层结构,使镀层表面更为平整 稀土元素La 进入镀层后,微晶态结构的Ni2P 合金转变成了非晶态结构的Ni2P2La 合金。
岛津分析仪无损检测塑料中有害元素
EDX能量色散型X射线荧光光谱仪,快速无损,可对塑料中Cr、Hg、Br、Pb、Cd等有害元素成分进行定性和定量分析。岛津EDX系列已将PE标样、ABS标样等有机地结合在一个工作条件中,能够快速精确、方便快捷、无损地对PVC、PE,ABS等材质样品中Cr、Hg、Br、Pb、Cd等有害元素进行定性和定量分析。
岛津EDX快速无损检测工业固体废物
EDX能量色散型X射线荧光光谱仪具有快速无损、操作简捷的特点,可用于工业固废的成分及有害元素的含量进行检测,结果准确可靠。
X射线荧光分析牙膏中的锌(Zn)含量
功效牙膏是在牙膏中加入各种不同的活性成分,以达到不同的功效,且加入的活性成分含量一定要求在合理范围以内。现使用岛津EDX-7000 能量色散型X射线荧光光谱仪直接对某抗过敏杀菌消炎牙膏的Zn含量进行快速无损定量分析,可以有效达到生产工艺对Zn 含量的添加控制要求。无需样品前处理,可以随时取样分析,操作简单而又快捷。
X射线荧光光谱仪测定浮法玻璃渗锡量
将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中,理想的情况是玻璃经平面成型抛光,从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡,成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大,且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化,形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数,通过波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃,X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息,进而算出较为通俗的厚度计量单位(ug/cm2),适用于玻璃表面的锡层厚度分析,从而达到快速控制生产的目的。
铈对化学沉积Co-Ni-B合金镀层结构的影响
研究了稀土Ce对化学镀C0-Ni-B合金层组织结构的影响。采用x-射线衍射仪、电感耦合等离子发射光谱仪、透射电镜和原子力显微镜考察了合金镀层的成分、结构和表面形貌。 只做学术交流,不做其他任何商业用途!版权归原作者所有!
使用iEDX150WT应对IPC4556化镍钯金镀层测试应用方案
IPC发布的《IPC-4556印制板化学镍/钯/浸?(ENEPIG)规范》(以下简称ENEPIG),旨在帮助印制板制造商在PCB生产过程中改进工艺环节,提升产品可靠性。在规范中,IPC详细的描述每种类型的金属镀层表面适合的厚度,包括如何使用XRF分析仪准确测量厚度,且包含应满足XRF分析仪准确测量所需的条件。
钢帘线黄铜镀层物相分析
使用岛津XRD-7000测试了某钢帘线样品,对钢帘线镀层进行了物相解析,并对得到的谱图进行了Rietveld精修,拟合结果良好,Rwp为5.4%,通过精修给出了镀层中各物相的含量。这些结果对于指导钢帘线电镀工艺优化或镀层质量评价有着重要意义。
X射线荧光光谱法测定工业硅中杂质元素
本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。
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