荧光射线金镍镀层无损测厚仪

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线总成，西安威思曼高压电源有限公司推出，欢迎垂询。“冷”端涂层重量测量仪（是安装在镀锌线的出口处）能够对钢带的金属涂层（涂层成分：锌，锌/镍，锌/铝，铝，锡，铅）重量进行精准、快速及无接触式地凸度测量。这类型的重量仪也可与“热”端涂层重量仪配合起来一起使用构成一个综合的自动控制系统。 有关威思曼及其更多高压产品的信息，请致电 086-029-33693480或访问其网站：www.wismanhv.com　　威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证，公司拥有出色的高压电源研发团队，完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术，完善的零电流谐振技术，使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小，损耗小，效率高，长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力，是OEM应用的理想选择。　　威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商，同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器，实验室以及海底光纤等设备。集设计，生产和服务为一体的工厂分布于美国，英国，及中国等地，并且我们销售中心遍布于欧洲，北美洲以及亚洲，我们将竭诚为您服务!

校正片又称标准箔、膜厚片，通用于所有x射线镀层测厚仪，本公司标准片规格齐全，可送检第三方出具CNAS证书，为仪器精准测试保驾护航

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Polypropylene聚丙烯膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3024#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3024产品信息：Polypropylene聚丙烯，厚度12.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。XRF样品薄膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，薄膜样本支撑窗，XRF样本薄膜，XRF样品膜，X-ray样品薄膜，ROHS检测专用薄膜，迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜，是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。有方形托架的圆片：3024 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50mil 0.0127 mm 3.0”(76.2mm) 100片

铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围：0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率：0.1/1 5、测量面积不小于：6mm 6、基底不小于：0.3mm 7、自动关机 8、使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH 9、准确度：±(1～3%n)或±2um 10、电源：4节5号电池 11、电池电压指示：低电压提示 12、外形尺寸：161×69×32mm 13、重量：210g（不含电池） 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器）可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3026产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 CAT. NO：3026：Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3029# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3029产品信息：Etnom® ，厚度2.5μm，直径63.5m，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 CAT. NO：3029：Etnom® 2.5μ 0.00001” 0.10mil 0.00254 mm 2.5”(63.5mm) 100片

这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪！这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

PosiTector 6000型 测厚仪,适用于金属基材大型易读液晶显示,菜单式使用者界面即时自动设定3键式操作自动关机，连体探头式，还可自动开机平均置零，利于在粗糙面上置零重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态仪器背面有简要说明耐 用耐磨的蓝宝石探头耐酸、耐油、耐溶剂、 防尘、防水读数不受振动影响一年保修期精 确每台仪器都有校准证书，符合NIST标准可达到极高的精度（请参阅背页的订货指面）可提供校准程序和标准板符合美国和国际标准性能卓越密耳/微米/毫米(Mils/Microns/mm)单位转换易于调整到任意已知厚度多种探头多国显示语文: 英文、西班牙文、法文、德文、葡萄牙文、意大利文、日文、中文背景发亮的显示屏,在黑暗的环境使用更觉方便灯光提示：便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果。反转显示：独有的反转显示，无论手持测厚仪还是放置在工作台上，阅读都很方便。连体探头：便于单手操作标准型（1）具有左边所列的所有特点。统计型（2）具有标准型所有功能，且读数超出设定范围时有声光提示。测量时不断更新和显示平均值、标准偏差、最大/最小厚度值及测量次数HI-RES模式：高精度测量时可增加读数分辨率可设定内部自动关机时间储存多至250个读数内置红外线界面，可打印至廉价的无线红外打印机分离探头各款探头可互，提供更多样化的测试。标准版可在多种不同厚度上验证仪器出自NIST的标准包含有校准证书配备安全、方便的贮存袋记 忆远红外打印机和PosiSoft软件只在记忆型中可用。建立／注释／编辑分组、零件、操作者、应用名称等可存入仪器记忆中。存贮达16000个数据，可分为最多1000组配备RS-232连线可将数据输入Windows平台的电脑，串行打印机或数据收集仪等。奉送PosiSoft分析软件，在Windows平台的电脑上运行。内置式远红外打印接口接打印机。PosiSoft 软件－在 Windows 上运行，功能强大，易学易用。当选择记忆型时，软件无需额外费用，随机奉送。从PosiTector 100型读取数据容易。用该仪器及可修改电脑用户、零件分组及建立说明、解释等。显示、资料、图形数据等可达5层膜厚。图表可表示单个涂层也可显示总厚度。可打印基本图表及柱形图。提供数据和时间资料。使用一般格式如ASCⅡ可将数据存入电脑。理想的涂层厚度监控及分析应用软件。记忆型 (3) 具有 (1) 和 (2) 型功能，且储存10000个读数，可分成200组SSPC PA-2功能，计算一组平均读数的平均值读数可即时输出,也可先行储存待日后处理提供用于Windows环境的PosiSoft统计分析软件提供RS-232串行线，用于向个人电脑、串行打印机或数据采集器输送数据可储存多种不同较准数据以配合测量各款不同基材储存在记忆里的各组读数，可再分细组、查阅、更新或删除 ]内置时钟，每个储存的读数均加上日期和时间标签PosiSoft for Windows功能强大 使用简单订购记忆型（3）随机附送易于从仪器收集数据可输入提示说明显示和打印图表使用通用格式储存数据如ASCII码方便监视和分析膜层厚度支援多种语文分离探头各款分离探头可互换每个分离探头均附可追溯至NIST的证书镀金的耐用带锁接头适用于工业环境优质柔性防破损连线加长线(可达75米)便于远程测量所有标准探头均可在水下使用所有恒压探头均采用V型槽和倒角定位便于测量管子里外微型探头（铁性基材或有色金属）用于细小及难到达的表面，有0o 、45° o、90° o三种配置各种不同的探头可适用极广的应用范围° 可拆卸的辅助器微型探头转换为恒压° 可将0探头，测量细小的平面或曲面无线打印机(2) 型或 (3) 型机无须接头或连线便可将数据传递给红外线打印机 ( 电池驱动 / 谦价的选购件 )独特的复合型（FN）探头不须更换探头可测量所有金属表面自动识别铁/有色金属表面减少误操作影响可测量钢上的镀锌层，铝上的氧化膜，金属上的涂层、钢上的铬层等等。特有的&ldquo N-LOCK&rdquo 功能可测量略带磁性基材，如镀镍的铜基材镀金层上的透明涂层提供连体探头和分离探头配置测量粉末涂层的理想之选记忆型（3）仪器,在分组模式下的显示样本测量读数可分 ( 至 200) 组Batch1 Cal n5021.00x3.61 &sigma 42.0x20.1 &darr F 20.1显示 铁/有色金属基材多用途:从微小元件的薄镀层、、、、到大尺寸的厚涂膜探头/ 部件固定基座、、、确保测试零部件时，可准确的重覆定位 双重用途探头盖连体探头型号的探头保护盖带有 V 型槽 , 在敞开时使仪器测量时更为稳定。&larr 多个基材较准资料&larr 即时统计资料&larr 字体大,醒目的测量读数 订货指南探头（每个仪器仅带一个探头，需要额外探头需另行购买）大量程 NHS 大量程 FHS所有仪器包括 :有皮带扣的、标准塑料片、3节AAA电池、使用说明书、手带（只限连体探头型号）、证书（NIST）、一年期保修。 记忆型( 3)还包括 :用于Windows平台的统计及分析软件PosiSoft，RS-232接线及携带箱。加长线（可达 75m/250ft ）适于水下或远程测量，请在订货时注明。 尺寸 :147x61x5mm（5.8x2.4x1寸）重量 (不带电池):170g(6盎士) 符合以下标准 :ISO 2178 /2360 / 2808 prEN ISO 19840, ASTM B499 /D1186 /D1400 BS3900 Part C5 SSPC-PA2及其他.

PosiTector 200型 测厚仪,适用于木材、混凝土、塑料等基材用于测量木材、混凝土、塑料等基材上涂层厚度。高级型：最多测量3层并带有图形显示应用成熟的超声波技术在许多行业无损测量涂层厚度，如混凝土、木材、复合材料等价格低廉使用简单非破坏性PosiTector 200 超声波测厚仪使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。 简 单 直接测量，测量大多数涂层时无需调校菜单操作双色指示灯，适于嘈杂环境重置功能可以即时恢复出厂设置 耐 用 耐溶剂、酸、油、水和灰尘，防护等级满足或超出IP5X显示屏耐划伤/溶剂，适用于恶劣环境防震保护橡胶皮套，带皮带夹主机与探头两年保修 精 确 灵敏传感器，使测量迅速且准确（最多40个读数/分钟)成熟的无损超声波技术，符合ASTM D6132与ISO 2808标准校准证书可追溯NIST 多种功能 连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数内部存储最多10000个数据，最多可分1000组内置时钟可对存储的结果标注时间、日期输出提供USB、红外和串行接口，可与打印机和电脑进行简单通讯背光显示，可用于阴暗环境英制/公制两种单位，可相互转换多种显示语文选择 可选配件 - 标准片&mdash &mdash 符合 ISO 和其它质量标准- PosiSoft 分析软件:可以输入注释可以打印和显示基本的数据分布图和直方图可以输出到一个文件或试算表中提供连接打印机和计算机的数据线红外打印机 - 使用电池和红外线接收数据 整套包括 耐用的携带，3节AAA电池、说明书、具有NIST可追朔性的校准证书，保修一年。尺寸:146 x 64 x 31mm重量:105g（不含电池）1. 阅读容易，防划花，液晶显示2. 指示灯在噪音环境中，方便确认读数3. 红外线接口用于无线打印4. RS232 接口用于下载5. 坚固外壳，耐溶剂、酸、油、水和灰尘6. 压力恒定，探头测量面为塑料，不会划伤测量面7. 舒适把手，减少操作人员的疲劳8. 柔软连接线 技术参数 B/标准B/高级C/标准C/高级量 程13-1000um0.5-40mils 25-1000um分辨率 0.1mils2um精度 ± 0.1mils + 3% 读数± 2um +3% 读数测量速度 45 读数 / 分钟

XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：CAT. NO：1850 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 ： 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100

质量保证正品、XRF样品薄膜、Chemplex、X射线荧光光谱仪、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3025#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。XRF样品薄膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，薄膜样本支撑窗，XRF样本薄膜，XRF样品膜，X-ray样品薄膜，ROHS检测专用薄膜，迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜，是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3025产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 有方形托架的圆片：3025 Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 2.5”(63.5mm) 100片

富兰德 X射线硫含量测定仪 X射线荧光 GB/T11140符合GB/T11140、GB/T17040、 ASTM D4294所规定的要求技术参数1、分析范围：50PPM-5%。2、分析范围宽度： S % max—S % min≤5%； 例如石油：S：0.001~5%。3、固有误差、分析精度:石油,符合国家标准GB/T 17040 , 同时符合美国国家标准ASTM D4294的相关要求。4、系统分析时间： 1～999秒，推荐值为60秒。5、检测限：10ppm6、使用条件：环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%，7、供电电源：220V±20V，50Hz，整机功耗：

美国Chemplex样品杯XRF样品杯，又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯，是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯，广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。产品类型：XRF样品杯Sample Cups品牌：美国Chemplex型 号：所有型号（欢迎来电索取产品目录）产 地：美国一、产品介绍： Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪（XRF）样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯！ Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念，在内部生产，Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！主要有：高纯度聚脂样品杯，铝制样品杯，样品薄膜等。我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜，还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性： 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用，有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z、Xlt794、Xlt898；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。）三、Chemplex产品系列： 注册商标有：Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。四、产品系列：1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。1、1000系列：TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯，TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix，Panalytical Venus与Rigaku（日本理学株式会社）仪器。产品编号：10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列：可重复密封的可通风式XRF样本杯，集成外部溢流储液槽，并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列：单开端可通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。4、1500系列：双开口端XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号：1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列：狭缝通风样本杯盖，适用于1500系列XRF样本杯。样品编号：1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列：集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列：单开口端XRF样本杯，集成的外部溢流储液槽，通风装置；与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列：单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯，Thermoplastic Seal?通风，集成外部溢流储液槽和排泄装置，适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列：双开口端XRF样本杯，顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器；适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号：19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列：双开口端XRF样本杯与通风盖，适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子，适用于牛津CK-100，耗材元件，零件编号54-CK-100。11、2100系列：双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽，通风的直接固定盖，TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号：2132、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列：SPECTROMICRO?样本杯，采用“FUNNELSHAPE?”（漏斗形）样本杯技术。产品编号：3106、3110、3115、3120。

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3120# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO:3120 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3120 ： 1.20”(30.5mm) / 0.91”(23.1mm ) / 5.5mL 100

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3115# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO:3115 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3115 ： 1.20”(30.5mm) / 0.99”(25.1mm) / 1.0mL 100

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--1330# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO:1330 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列：带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1330 ： 1.21”(30.7mm) / 0.90”(22.9mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 100

90kV微焦点X射线源-UltraBright 96000系列我们的UltraBright微焦点系统是90kV、80W的X射线源，设计用于高功率、通量密度和焦点尺寸非常重要的应用。高精尖的应用领域需要先进的X射线解决方案来满足对稳定性、图像清晰度、放大倍数、焦点尺寸的苛刻要求。牛津仪器微焦点系统广泛应用于上述领域，例如集成电路、印刷电路板组件检测、机械零部件检测以及医学研究等。我们的UltraBright微焦点系统是90kV、80W的X射线源，设计用于高功率、通量密度和焦点尺寸非常重要的应用。UltraBright微焦点系统形成的焦点尺寸≤10微米，采用端窗设计，形成的投射距离（FOD）为4mm，可保证放大倍数和图像质量。UltraBright系统通过外部高压智能控制器进行操作，该控制器能够在完全控制“亮度”的情况下对10kV~90kV的高压和0.33-2毫安的电子加速束电流进行随意调节。智能控制器可计算在给定功率设置值下、最大通量输出时的焦点尺寸，并可安装支持远程控制的UltraBright个人电脑软件，因而，该系统是大多数研究应用的理想解决方案。UltraBright非常适用于X射线微断层成像、X射线微荧光分析、X射线衍射分析和X射线成像等。多篇科学论文论及了UltraBright的使用性能，在2000年11月发表于《科学仪器评论》的《用于大分子晶体学的紧凑系统》一文中，论证了UltraBright与多毛细血管光学器件的组合使用，其射线通量率比5kW旋转阳极系统还要大。投射距离小（FOD）——放大倍率高、图像质量好高功率——高通量应用领域和实验的理想选择焦点小——X射线光学器件的理想接口数字接口——简化通信编程控制——研究领域的理想选择紧凑轻型设计——便携式应用的理想选择UltraBright 96000系列关键技术参数工作电压： 90kV功率： 80W焦点尺寸： 15μm投射距离： 4mm靶材料： W, Mo, Cu典型应用医学研究工业成像无损检测

chemplex样品杯耗材删除美国ChemplexX射线光谱仪配件耗材删除XRF样品膜Chemplex 106耗材删除美国Chemplex XRF薄膜样本支撑窗CAT. No.3014（美国XOS适用）耗材删除美国Chemplex XRF样品杯（适用布鲁克s8）耗材删除详细说明【产品描述】　　1、产品名称：X射线荧光分析专用薄膜(麦拉膜)　　2、品牌：牛津　　3、产品规格：100mx75mm/卷　　4、适用于台式荧光分析仪，试用型号：LabX3000、LabX3500、X-Supreme8000、MDX1000　　5、其他说明：适用于测量液体里元素含量应用【产品描述】　　1、产品名称：手持式荧光分析仪专用XMET样品膜，麦拉膜　　2、品牌：牛津仪器　　3、产品规格：100mx75mm/卷　　4、适用于手持式荧光分析仪，试用型号：XMET5000、XMET5100、XMET7000、XMET7500、XMET7000e　　5、其他说明：Rohs有毒有害物质测试、土壤分析

XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO SC-7332 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 规格：双开端口特点：进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签CatalogNoOD(mm)ID(mm)H(mm)V(ml)SC-7332323038.518

水冷式微焦点X射线源-Nova 96000系列Nova微焦点系统是一体式、水冷型的90kV、80W X射线源，设计用于对功率、通量密度和焦点尺寸同时要求较高的领域。Nova微焦点系统是一体式、水冷型的90kV、80W X射线源，设计用于对功率、通量密度和焦点尺寸同时要求较高的领域。与UltraBright相似，Nova形成的焦点尺寸≤10微米，采用端窗设计，投射距离（FOD）为4mm，形成的放大倍数和图像质量均优异。Nova系统通过外部高压智能控制器进行操作，该控制器能够在完全控制“亮度”的情况下对10kV~90kV的高压和0.33-2毫安的电子加速束电流进行随意调节。智能控制器可计算在给定功率设置值下、最大通量输出时的焦点尺寸，并可安装支持远程控制的Nova个人电脑软件，因而，该系统是大多数研究领域的理想解决方案。与UltraBright相似，Nova非常适合用于X射线微断层成像、X射线微荧光分析和X射线成像等应用。投射距离小（FOD）——放大倍率高，图像质量好先进的数字接口——简化通信和系统整合水冷型——不再需要外部冷却，尽可能与X射线焦点紧密耦合小巧、紧凑设计——便携式应用的理想选择Nova 96000系列关键技术参数工作电压： 90kV功率： 80W焦点尺寸： 15μm投射距离： 4mm靶材料： W, Mo, Cu典型应用医学成像工业成像无损检测

X射线荧光膜、mylar膜、聚丙烯膜、日本理学/岛津/斯派克、EDX迈拉膜、XRF测试薄膜、美国Premier样品膜-TF-160-345 品名：XRF样品膜Sample Film 型号：TF-160-345 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。 一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉 。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其ji低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，ji好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； Ji佳的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； Ji佳的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160-345 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 76mm 500片/盒 Mylar® Pre-Cut Sheets方片

一 、技术参数探 测 器：GM计数管　 量 程：0.1&mu Sv～1MSv 剂量率 ：0.01&mu Sv/h～1MSv/h 相对误差：± 20%（137Cs） 欠压指示：当电池电力不足时仪器停止工作，缺电指标灯亮 体 积：121mm × 71mm × 21mm 重 量：110克。二、 主要特点： BH3084个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准，广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。BH3084个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器，主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时个人射线剂量仪声光报警频率与剂量率成正比，所以也可定性监测剂量率大小

XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO1850 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1800系列：带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 ： 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100

伽马射线计数器配件是一种专业的闪烁探测器， 专业为X射线和低能伽马射线计数而设计，是理想的科研级高灵敏度X射线探测器。伽马射线计数器配件采用高质量闪烁晶体YAP:Ce 作为探测物质，能够以高达10^6脉冲/秒的速度快速扑捉探测X射线和低能伽马射线，并且在5keV—150Kev的能量范围具有较高的线性度，在核心的闪烁晶体外围具有高反射铝层保护装置，不仅可以降低噪音，而且可以防止外部冲击对核心晶体参数损毁。伽马射线计数器配件特色用于X射线和伽马射线计数计数能力：10^6脉冲/秒能量范围：5kev --150Kev

SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪日本堀场SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪备件样品杯样品膜油中硫分析仪SLFA imageHORIBA的SLFA系列油中硫分析仪多年来一直是石油工业中的多数选择。我们不断的改进仪器性能，拓展仪器的适用性，来满足用户的要求。我们的X射线荧光硫分析仪符合美国ASTM D4294和ISO 8754 ，同时提供最符合成本效益的石油中的硫测量。SLFA - UV21系列操作简便，具有无与伦比的精度和准确性，符合ASTM标准D5453紫外荧光技术和ISO 20846 ，具有极佳的灵敏度，提供了更低水平级别的硫元素的测定。荧光X射线油中硫分析仪SLFA-60SLFA-60 X-ray Fluorescence Sulfur-in-Oil AnalyzerHORIBA introduces the new standard of transportable sulfur-in-oil analyzers, the SLFA-60. This instrument introduces new software and hardware features to meet the growing changes in the petroleum industry. The instrument has expanded storage of calibration curves and data can be exported using USB output.SLFA-2100/2800SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪是专为满足近期低硫燃料，柴油和RFG中硫元素新的检测要求。

Optima 97008是应用于医学成像的80kV、33μm一体式X射线源，但也适用于大多数工业检测和无损检测，例如印刷电路板（PCB）组件、蓄电池和机械零件等。80kV一体式X射线源- Optima 97008常被称作“monoblock”的牛津仪器单体式X射线源采用完全一体化、可编程、整机的紧凑型设计，由高品质的X射线管、稳定的高压电源和先进的数字接口组成。牛津仪器单体式X射线源简化了通信和系统的整合，无需高压线缆连接，产品的可靠性和性价比极高。Optima 97008是应用于医学成像的80kV、33μm一体式X射线源，但也适用于大多数工业检测和无损检测，例如印刷电路板（PCB）组件、蓄电池和机械零件等。我们的Optima是完全一体化、可编程、紧凑设计的系统，由高品质的X射线管、稳定的高压电源和数字控制器构成。97008简化了通信和系统整合，无需高压线缆连接，产品可靠性和性价比极高。紧凑设计——简化系统整合，实现了与检测器的紧密耦合。X射线输出稳定——测量精确度高焦点尺寸小、稳定——图像分辨率高数字接口——简化通信Optima 97008关键技术参数工作电压： 80kV功率： 40W(model 97008)功率： 20W(model 97007)焦点尺寸： ≤ 35μm靶材料： W (可提供其他靶材，请联系我们的销售团队。)典型应用医学成像工业成像无损检测

蓝色LED光源， 广泛用于核酸或蛋白质凝胶染色的观察。与传统的紫外透射仪相比:-蓝光光源，使实验人员的易暴露部位，如：眼睛、脸、手等部位免受紫外线伤害-对核酸片段无损伤，不会因照射导致片段断裂、交联、替换等损害-环保节能长效冷光源，无需经常更换灯管，省钱免维护产品优势:紧凑– 节省实验室空间小巧 - 方便移动安全 - 对人和样品无损伤精确 - 灵敏度高均一 - 可以观察胶的任何位置人性化 - 方便观察和切胶通用技术参数1. 蓝色LED激发光源：470nm，无需蓝色滤光片2. 光强比普通的透射光强3倍3. 光强从100%到50%可以调节4. 黄色滤光屏：可以屏蔽蓝光，让发射光透过，滤光屏可以自由翻转，在任意位置固定，方便切胶5. 检 测的灵敏度0.1ng6. 变异系数：7. 观察面积：16×20cm8. LED光源的寿命：5万个小时9. 体积：28×34×8cm（D×W×H），占用空间少10. 重量：3kg11.用途：用于EB替代荧光染料的激发，如SYBR? Safe, SYBR Gold, SYBR? Green I & II, SYPRO? Ruby, SYPRO? Orange, Coomassie Fluor? Orange stains, GelGreen, GelRed 和 Lumitein? Protein Gel Stain等，凝胶观察和切胶操作

Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线高压电源XRM30P50X3059，XRW30P50X3059，配套的X射线总成RM535E,由西安威思曼高压电源有限公司推出，现有多家钢厂使用中，欢迎来电咨询。 有关威思曼及其更多高压产品的信息，请致电 086-029-33693480或访问其网站：www.wismanhv.com　　威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证，公司拥有出色的高压电源研发团队，完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术，完善的零电流谐振技术，使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小，损耗小，效率高，长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力，是OEM应用的理想选择。　　威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商，同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器，实验室以及海底光纤等设备。集设计，生产和服务为一体的工厂分布于美国，英国，及中国等地，并且我们销售中心遍布于欧洲，北美洲以及亚洲，我们将竭诚为您服务!