荧光射线金镍镀层无损测厚仪

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涂镀层的无损检测方法和测厚仪无损检测技术是一门理论上综合性较强，又非常重视实践环节的很有发展前途的学科。它涉及到材料的物理性质、产品设计、制造工艺、断裂力学以及有限元计算等诸多方面。在化工、电子、电力、金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法，这样，便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念，我们称之为“覆层”。覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的最重要的工序。是产品达到优质标准的必备手段。目前，国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。有关覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线反射法可以无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围小。因有放射源，故，使用者必须遵守射线防护规范，一般多用于各层金属镀层的厚度测量。电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。磁性测量法及涡流测量法，随着技术的日益进步，特别是近年来引入微处理机技术后，测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。测量的分辨率已达0.1μm，精度可达到1％。又有适用范围广，量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用最广泛的仪器。采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，故能使大量的检测工作经济地进行。以下分别介绍几种常规测厚的方法。磁性测量原理一、磁吸力原理测厚仪利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢，拉簧，标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后，有一个弹簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大，当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲，依不同的型号又不同的量程与适应场合。在一个约350º角度内可用刻度表示0～100µm；0～1000µm；0～5mm等的覆层厚度，精度可达5％以上，能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准，价格也较低，很适合车间作现场质量控制。二、磁感应原理测厚仪 磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。由于是电子仪器，校准容易，可以实多种功能，扩大量程，提高精度，由于测试条件可降低许多，故比磁吸力式应用领域更广。 当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示，精度和重复性都不好，后来发展了数字显示式，电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关，稳频等最新技术，多种获专利的产品相继问世，精度有了很大的提高，达到1%,分辨率达到0.1µm，磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯，线圈电流的频率不高，以降低涡流效应的影响，测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化，可以辨识不同的测头，配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。一台仪器能配合多种测头，也可以用同一台仪器。可以说，适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。利用电磁原理研制的测厚仪，原则上适用所有非导磁覆层测量， 一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的，则要求与基材的磁导率有足够大的差距（如钢上镀镍层）。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊（钢铁制造）也可用来实现大面积上任一点的测量。电涡流测量原理电涡流测厚法主要应用于金属基体上各种非金属涂镀层的测量。利用高频交流电在作为探头的线圈中产生一个电磁场，将探头靠近导电的金属体时，就在金属材料中形成涡流，且随与金属体的距离减小而增大，该涡流会影响探头线圈的磁通，故此反馈作用量是表示探头与基体金属之间间距大小的一个量值，因为该测头用在非铁磁金属基体上测量覆层厚度，所以通常我们称该测头为非磁性测头。非磁性测头一般采用高频高导磁材料做线圈铁芯，常用铂镍合金及其它新材料制作。与磁性测量原理比较，他们的电原理基本一样，主要区别是测头不同，测试电流的频率大小不同，信号大小、标度关系不同。在最新的测厚仪中，通过不断改进测头结构，在配合微电脑技术，由自动识别不同测头来调用不同的控制程序，分别输出不同的测试电流和改变标度变换软件，终于使两种不同类型的的测头接与同一台测厚仪上，降低了用户负担，基于同一思想，可配接达10种侧头的测厚仪极大地扩展了测厚范围（达10万倍以上），可测包括导磁材料表面上的非导磁覆层，导电材料上的非导电覆层及不导电材料上的导电层，基本上满足了工业生产多数行业的需要。 采用电涡流原理的测厚仪，原则上所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其他铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。有些特种用途如某种金属上的金刚石镀层及其它喷镀不导电层。覆层材料也可以有一定的导电性，通过校准同样也可以测量，但要求两者的导电率之比至少相差3～5倍以上（如铜上镀铬）。 校准的原则是没有覆层的校准试样与被测物的基材应有：成分相同，厚度相同（主要在于厚度小于仪器规定的最小值约0.5mm以下时），有相同的曲率半径，如被测面积小于仪器技术参数的要求（直径约20mm以下），还应有相同的被测面积。如覆层含有导电成份，校准试样的覆层也应与被测物的覆层有相同的导电性能。校准试样的覆层经过其它（包括有损测试方法）测试后标定厚度或用已标定的校准薄片做覆层，就可以在其上面按说明书的方法校准测厚仪。校准后就可以在被测产品上进行快速无损检测。校准薄片一般用三醋酸酯薄膜或经苯酚树脂浸渍过的硬纸。 微电脑测厚一般有多个校准值存贮。随着被测产品的不同位置、材料变化、更换测头等均可分别校准并存贮。实际使用时直接调用各校准值，就无须重新调校了。这即是所谓“速换基准”。大大提高了检测效率。 测试数据在智能化仪器里一般可以存贮、打印、计算统计数据供分析，还有可以打印直方图的功能使覆层厚度分布一目了然。如设置了上下极限还可以使统计数据更加准确，测量时所有超限的点都有声响提醒注意并不取入做统计计算用。影响测量值的因素与解决方法 使用测厚仪与使用其他仪器一样，既要掌握仪器性能，也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的，所以，被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的可靠性，下面就这方面的问题作一下介绍。1.边界间距如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度，只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准，才能测量。（注：最新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3～10％的精度）2.基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。3.基体金属最小厚度基体金属必须有一个给定的最小厚度，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，最小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪，如前所述。4.表面粗糙度和表面清洁度在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。为获得可靠的数据，基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5％。而对于表面杂质，则应予去除。有的仪表上下限，以剔除那些“飞点”。5.探头测量板的作用力探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小。才不致使软的覆层发生形变，以致测量值下降。活产生大的波动，必要时，可在两者之间垫一层硬的，不导电的，具有一定厚度的硬性薄膜。这样通过减去薄膜厚度就能适当地得到剩磁。6.外界恒磁场、电磁场和基体剩磁应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁，根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差，但是如结构钢，深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。7.覆层材料中的铁磁成份和导电成份覆层中存在某些铁磁成分，如某种颜料时，会对测量值产生影响，在这种情况下，对用作校准的对比试样覆层应具有与被测物覆层相同的电磁特性，经

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。　　覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化我国出口商品和涉外项目中对覆层厚度有了明确的要求。　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测测量手段繁琐速度慢多适用于抽样检验。　　X射线和β射线法是无接触无损测量但装置复杂昂贵测量范围较小。因有放射源使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。　　随着技术的日益进步特别是近年来引入微机技术后采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米精度可达到1%有了大幅度的提高。它适用范围广量程宽、操作简便且价廉是工业和科研使用最广泛的测厚仪器[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]。　　采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材检测速度快能使大量的检测工作经济地进行。　　一、磁吸力测量原理及测厚仪　　永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪只要覆层与基材的导磁率之差足够大就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢接力簧标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后将测量簧在其后逐渐拉长拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。　　这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源测量前无须校准价格也较低很适合车间做现场质量控制。　　二、磁感应测量原理　　采用磁感应原理时利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小来表示其覆层厚度。覆层越厚则磁阻越大磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头测量感应电动势的大小仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪分辨率达磁感应测厚仪_电涡流测量原理_磁吸力测量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um允许误差达1%量程达10mm。　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层瓷、搪瓷防护层塑料、橡胶覆层包括镍铬在内的各种有色金属电镀层以及化工石油待业的各种防腐涂层。　　三、电涡流测量原理　　高频交流信号在测头线圈中产生电磁场测头靠近导体时就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近则涡流愈大反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较主要区别是测头不同信号的频率不同信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um允许误差1%，量程10mm的高水平。　　采用电涡流原理的测厚仪原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性通过校准同样也可测量但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

在有关国家和国际标准中，对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，统称为覆层（coating）。 在加工工业、表面工程质量检测中，对覆层的厚度检测是检验产品优等质量标准的重要环节和必备手段。　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随着科学技术的进步，对覆层厚度的测量的技术也随之进步。特别是近年来引入微机技术后，采用先进的磁性法和涡流法的[url=http://www.okyiqi.com/pages_products/prolist_17.html][color=black]测厚仪[/color][/url]进行覆层厚度的检测。此类测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率有了大幅度的提高，测量分辨率已达0.1微米，精度可达到1%。下面分别介绍磁性法和涡流法的测厚仪的原理。一． 磁吸力测厚仪的测量原理　　永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。　　这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。二． 磁感应测厚仪的测量原理　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。三． 电涡流测厚仪

需要电解式镀层测厚仪（又叫库仑式测厚仪）用来测铜，镍，铬等镀层厚度的药水配方。

涂层测厚仪涂镀层测试方法表涂层测厚仪涂镀层测试方法表……不同基材－涂镀层(表1）涂镀层基材 铝铅 铬 铝氧化磷化层铬酸盐 瓷釉油漆塑料金 镉 铜 焊锡焊接金属 铝及铝合金 * B,Q,X B,E,Q,X E B,E B,Q,X B,Q,X B,Q,X B,X 玻璃、陶瓷、塑料 B,E,Q B,X B,Q,X - * B,X B,Q,X B,E,Q,X B,Q,X 金 - - B,Q,X - B * - - - 硬金属：钨、钼 B,Q,X X B,X - B X (B),X B,X X 铜和铜合金 B, X B,Q,X E,Q,X E B,E B,X B,Q,X (Q,X) B,Q,X 镁和镁合金 * B,X B,E,X E B,E B,X B,X B,X B,X 镍 B,Q,X B,Q,X B,Q,X - B,E B,X B,Q,X Q,X B,Q,X 银 - - - - B,E B,X - - - 铁和钢 B,M,Q,X B,M,Q,X M,Q,X M B,M B,M,X B,M,Q,X M,Q,X B,M,Q,X 非磁性钢 B,Q,X B,Q,X Q,X - B,E B,X B,Q,X Q,X B,Q,X 钛和钛合金 X B,X X E B,E B,X B,X B,Q,X B,Q,X 锌和锌合金 B,X B,X E,X E B,E B,X B,X Q,X B,X测试方法表……不同基材－涂镀层(表2）涂镀层基材 黄铜磁性镍非磁性镍 钯PVDCVD铹 银锌锡 铝及铝合金 B,N,Q,X B,Q,XB,XB,Q,XXB,X B,Q,X B,Q,X B,Q,X 玻璃、陶瓷、塑料 B,X B,N,Q,X B,Q,XB,XB,XB,X B,Q,X B,Q,X B,Q,X 金 - - -B,X -B,X B,X - - 硬金属：钨、钼 B,X B,N,X X(B),X (B),X (B),X (B),X B,XB,X 铜和铜合金X N,Q,X B,XB,XB,X B,X B,Q,XB,XB,X 镁和镁合金B,X B,N,XB,XB,XX B,X B,X B,X B,X 镍 X *B,XB,XB,X B,X B,Q,XB,X B,Q,X 银 -

各位大神 我想问下 铝基材料表面镀层铜，再在铜上镀层银，现在想测银镀层的厚度，最好是铜层厚度也可以测，用什么仪器来实现：样品条件：1 ，产品很大--X荧光测厚仪可以实现但是 样品大放不到仪器里 2，必须是无损的，产品镀层不能破坏。 3，最好是便携式的， 有谁有这方面的解决办法可以推荐，谢谢。

根据测量原理,涂镀层测厚仪一般有以下五种类型： 　　１.磁性测厚法：适用层磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。 　　２.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。 　　３.超声波测厚法：目前辆还没有此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。 　　４.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。 　　５.放射测厚法：此处仪器价格非常昂贵（一般在１０万RMB以上），适用于一些特殊场合。 　　 国内目前使用最为普遍的是第1/2两种方法。

涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。下面小编为大家介绍涂层测厚仪测厚方法？涂层测厚仪如何选型？[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]测厚方法？磁性测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。涡流测厚法适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。超声波测厚法目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。电解测厚法此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高，测量起来较其他几种麻烦。放射测厚法此种仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。涂层测厚仪如何选型？用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪，磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米，这类仪器又分探头与主机一体型，探头与主机分离型，前者操作便捷，后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测，测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金，银等金属的厚度。迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料（如钢、铁、合金和硬磁性钢）等物体表面上的非磁性覆盖层厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡胶，铜，锌、铝、铬、铜等）。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）。具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

无损检测技术是一门理论上综合性较强，又非常重视实践环节的很有发展前途的学科。它涉及到材料的物理性质、产品设计、制造工艺、断裂力学以及有限元计算等诸多方面。 在化工、电子、电力、金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法，这样，便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念，我们称之为“覆层”。 覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的最重要的工序。是产品达到优质标准的必备手段。目前，国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。 有关覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线反射法可以无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围小。因有放射源，故，使用者必须遵守射线防护规范，一般多用于各层金属镀层的厚度测量。电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。 磁性测量法及涡流测量法，随着技术的日益进步，特别是近年来引入微处理机技术后，测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。测量的分辨率已达0.1μm，精度可达到1％。又有适用范围广，量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用最广泛的仪器。 采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，故能使大量的检测工作经济地进行。以下分别介绍几种常规测厚的方法。磁性测量原理一、磁吸力原理测厚仪 利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢，拉簧，标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后，有一个弹簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大，当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲，依不同的型号又不同的量程与适应场合。在一个约350º角度内可用刻度表示0～100µm；0～1000µm；0～5mm等的覆层厚度，精度可达5％以上，能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准，价格也较低，很适合车间作现场质量控制。二、磁感应原理测厚仪 磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。由于是电子仪器，校准容易，可以实多种功能，扩大量程，提高精度，由于测试条件可降低许多，故比磁吸力式应用领域更广。 当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示，精度和重复性都不好，后来发展了数字显示式，电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关，稳频等最新技术，多种获专利的产品相继问世，精度有了很大的提高，达到1%,分辨率达到0.1µm，磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯，线圈电流的频率不高，以降低涡流效应的影响，测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化，可以辨识不同的测头，配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。一台仪器能配合多种测头，也可以用同一台仪器。可以说，适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。 利用电磁原理研制的测厚仪，原则上适用所有非导磁覆层测量，一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的，则要求与基材的磁导率有足够大的差距（如钢上镀镍层）。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊（钢铁制造）也可用来实现大面积上任一点的测量。三、电涡流原理测厚仪 电涡流测厚法主要应用于金属基体上各种非金属涂镀层的测量。利用高频交流电在作为探头的线圈中产生一个电磁场，将探头靠近导电的金属体时，就在金属材料中形成涡流，且随与金属体的距离减小而增大，该涡流会影响探头线圈的磁通，故此反馈作用量是表示探头与基体金属之间间距大小的一个量值，因为该测头用在非铁磁金属基体上测量覆层厚度，所以通常我们称该测头为非磁性测头。非磁性测头一般采用高频高导磁材料做线圈铁芯，常用铂镍合金及其它新材料制作。与磁性测量原理比较，他们的电原理基本一样，主要区别是测头不同，测试电流的频率大小不同，信号大小、标度关系不同。在最新的测厚仪中，通过不断改进测头结构，在配合微电脑技术，由自动识别不同测头来调用不同的控制程序，分别输出不同的测试电流和改变标度变换软件，终于使两种不同类型的的测头接与同一台测厚仪上，降低了用户负担，基于同一思想，可配接达10种侧头的测厚仪极大地扩展了测厚范围（达10万倍以上），可测包括导磁材料表面上的非导磁覆层，导电材料上的非导电覆层及不导电材料上的导电层，基本上满足了工业生产多数行业的需要。 采用电涡流原理的测厚仪，原则上所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其他铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。有些特种用途如某种金属上的金刚石镀层及其它喷镀不导电层。覆层材料也可以有一定的导电性，通过校准同样也可以测量，但要求两者的导电率之比至少相差3～5倍以上（如铜上镀铬）。 校准的原则是没有覆层的校准试样与被测物的基材应有：成分相同，厚度相同（主要在于厚度小于仪器规定的最小值约0.5mm以下时），有相同的曲率半径，如被测面积小于仪器技术参数的要求（直径约20mm以下），还应有相同的被测面积。如覆层含有导电成份，校准试样的覆层也应与被测物的覆层有相同的导电性能。校准试样的覆层经过其它（包括有损测试方法）测试后标定厚度或用已标定的校准薄片做覆层，就可以在其上面按说明书的方法校准测厚仪。校准后就可以在被测产品上进行快速无损检测。校准薄片一般用三醋酸酯薄膜或经苯酚树脂浸渍过的硬纸。 微电脑测厚一般有多个校准值存贮。随着被测产品的不同位置、材料变化、更换测头等均可分别校准并存贮。实际使用时直接调用各校准值，就无须重新调校了。这即是所谓“速换基准”。大大提高了检测效率。 测试数据在智能化仪器里一般可以存贮、打印、计算统计数据供分析，还有可以打印直方图的功能使覆层厚度分布一目了然。如设置了上下极限还可以使统计数据更加准确，测量时所有超限的点都有声响提醒注意并不取入做统计计算用。影响测量值的因素与解决方法 使用测厚仪与使用其他仪器一样，既要掌握仪器性能，也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的，所以，被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的可靠性，下面就这方面的问题作一下介绍。1. 边界间距如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度，只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准，才能测量。（注：最新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3～10%的精度）2. 基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。3. 基体金属最小厚度基体金属必须有一个给定的最小厚度，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，最小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪，如前所述。4. 表面粗糙度和表面清洁度在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。为获得可靠的数据，基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质，则应予去除。有的仪表上下限，以剔除那些“飞点”。5. 探头测量板的作用力探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小。才不

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我公司有一台CMI900测厚仪,最近搞个新项目,铜基材上镀镍磷,钯,金,测厚时发现当钯镀得比较薄,或者没有镀钯时,测出的结果钯都有7微英寸以上,但用标准片(钯的标准片厚度为14.4微英寸)校准时,测出的结果又是准确的,而且镀得比较厚时又比较准确,有哪位高手知道是什么原因吗,请多指教,我的电话是13530847698,075533800080.

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X荧光光谱仪（XRF）整套技术，含多道分析、电气控制、机械结构和分析软件。可用于成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析等。先进独特的光谱处理分析算法(导数法寻峰、卡尔曼滤波重叠峰分离等）和X荧光基体校正方法(FP法)、经验系数法等。详细资料请查看本网站链接[url]http://bbs.instrument.com.cn/topic/2709541[/url]已经和国内多家仪器商家建立合作关系，都已量产销售。联系：邮箱midstone[email=oych1128@126.com]@126.com[/email]，腾讯号码 2-6-0-6-6-4-5-6, 手机1-3-9-2656-3756本人不常在线，最好手机短信联系

锌镍（ZnNi）是一种高性能的镀层，它通常用于汽车、航空航天和国防工业的部件，如燃料线，紧固件，同轴电缆，连接器，和用于与铝连接钢组件。锌镍镀层具有高电导率和优异的耐蚀性能，即使在恶劣的环境中也表现很好。它作为一个屏障，防止基材被腐蚀。锌镍镀层的性能取决于其厚度和组成（通常为10-15%镍和90-85%锌）。控制镀层的厚度和成分能确保镀件满足其功能要求，而且运行成本最小化。[align=center][img=手持式X射线荧光光谱仪,650,506]http://www.yidekeyi.com/UploadFiles/FCK/2016-02/6359138516297462114281240.jpg[/img][/align][b]德国斯派克手持式X射线荧光光谱仪[/b]可以为铁上锌镍镀层检测提供精确和可重复的结果。[b][url=http://www.yidekeyi.com/]手持式光谱仪[/url][/b]的易用性和耐用性使其成为理想的工具，用于在车间对零部件的进货检验，以及对工艺和质量控制。校准软件的通用性也可实现镀液分析（单一和多元素），保证了镀液成分的快速监测。分析结果几秒钟内在[b]手持式X射线荧光[url=http://www.yidekeyi.com/fxyq.html]光谱仪[/url][/b]的屏幕上显示，现场即可判定一个部件是否合格或是否需要修改电镀工艺，大大提高生产力，并节约了成本。

[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]是一种常用的检测仪器，具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，被广泛用于制造业、金属加工业、化工业等领域中。特曾测厚仪的原理是什么呢?下面小编就来具体介绍一下，希望可以帮助到大家。　　磁感应测量原理　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。　　电涡流测量原理　　高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。　　采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。　　迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料（如钢、铁、合金和硬磁性钢）等物体表面上的非磁性覆盖层厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡胶，铜，锌、铝、铬、铜等）。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）。

那 个有MICRO Pioneer XRF-2000系业荧光金属镀层测厚仪的构造图及说明啊！我的email是jiyuliuna84@163.com

镀层测厚仪 的分析能力 哪家比较好点

[font=&][size=18px]出售一台日本进口二手荧光元素分析仪 光谱仪，型号为：SEA6000VX，还有一台日本日立品牌 X射线镀层测厚仪 FT110A,有意者请站短获取联系信息，成色如图实物拍摄[/size][/font]

哪位有在用CMI900/950系列X射线荧光测厚仪的，请发表一下这个仪器使用性能、产品质量怎么样，如果买下，含税的价位是多少。。。。？

波长色散X射线荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 波长色散X射线荧光光谱仪采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 美国Cianflone公司扫描型X射线荧光光谱仪（波长色散型）2501XBT型号是ASTM金属基层处理涂层测厚检验标准（D5723-95）、ASTM1306-07和D6906-03中唯一推荐检测仪器。X射线荧光光谱仪是表面金属元素成分分析的理想工具。 Portaspec2501XRF可以试验如下金属和矿物的全定量分析： 铬、钴、铜、金、铁、铅、锂、锰、汞、钼、镍、、铂、银、钍、钛、钨、铀、钒、锌、锆? Portaspec以安全的辐射标准（CRF标准）耐用的光学系统，简便的元素选择操作，强大灵活的测量功能、成为金属元素定量定性的最好分析工具。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪用于质量控制和研究，高效、功能强大，包括触摸屏笔记本电脑。X射线管冷却水浴、真空泵，高压电源于一体，完全实现低成本运行。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪主要特点： XSEBT单一元素； XBT分析从钛到银、从钡到铀的单一或多金属顺序测量； XLT分析AI、Si 、P、S、Cl、K、Ca、Zr 系统设置与样品分析耗时短 移动式测量探头，可实现无损在线检测 符合CRF辐射安全 包括触摸屏笔记本电脑 快速调角开关电源 密封、高效耐用的光学系统实验高精度高可靠性的测量请不要注明出处。否则广告论处。

β射线在线测厚仪是非接触式仪器，在使用过程中不用担心它会损坏产品，对人体也是无辐射的，应用范围也很广泛，近年来在市场上很受各大厂家的欢迎。大成精密公司以高起点、高标准、高水平为追求目标，以打造世界一流装备制造企业为使命，视研发为生命，。　　测量原理：单位面积上极片的质量，称为极片的面密度。极片的面密度是决定电池的一致性的最重要的因素。由Kr85（氪85）衰变产生的β射线，穿透电池极片时，一部分射线被极片吸收。导致穿透极片后的射线强度相对于入射射线强度有一定的衰减。衰减比例与被穿透极片的面密度呈负指数关系。通过填充有特殊气体电离室检测射线穿透极片前后的射线强度，即可推算出极片的面密度。如下图所示： file:///E:/360downloads/360se6/User%20Data/temp/56a1a12849ca8.jpghttp://www.dcprecision.cn/Uploads/201601/56a1a12849ca8.jpg 　　在线测厚仪机器在正常扫描测量中，会打开β射线进行测量，为避免操作员暴露在β射线辐射中，机器硬件自带辐射屏蔽功能出色屏蔽效果用于防电离辐射保护员工安全。距离机壳外表5cm处任何测量，辐射剂量≤1uSv/h（国标是2.5uSv/h）。　　当机器需要标定或者维护保养时，需要打开侧门此时需要先在操作面板上关闭β射线，在进行维护保养，避免出现辐射危害。对于辐射防护大成精密特有的多重屏蔽措施，设备正常运行中侧门门控传感器感应到侧门打开，设备会立即停止运行。侧门门控传感器设置更大的程度保护员工进行设备操作的安全性。

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近年来，随着原油开采深度加大，及生产工艺愈加完善，世界原油资源逐渐向着重质化的方向发展，重质原油产品中的金属含量通常是常规原油的数倍，如镍（Ni）、铁（Fe）和钒（V）。在石油炼制过程中，这些金属元素需要持续监测，主要是因为它们对精炼过程中的影响。比如，石油馏分中的镍和铁容易导致加氢装置和催化裂化装置中使用的催化剂中毒，促使产品质量下降，并导致焦炭超标，增加炼油厂的额外成本。而加工原油中镍和钒等重金属对外部环境的污染问题也一直受到环境保护部门的重视和关注。因此准确测定其含量具有重要意义。目前，有两种常用的元素分析技术可实现对石油产品中铁、镍、钒元素的含量进行测量：电感耦合等离子体发射光谱法（ICP）（ASTM D5708B）和 X射线荧光光谱法（XRF）（ASTM D8252）。对于测量灵敏度可达ppb级别的ICP方法来说，样品必须首先经过一个耗时且过程复杂易存在污染的样品制备过程，通常需要4-10小时才能完成，且需要经过专门培训的操作人员才可完成。而X射线荧光光谱法直接测试，减少污染环节，通常可以在不到五分钟的时间内得到结果，操作简单方便，可作为一种经济高效的替代方法，节省数小时的样品制备时间。但在实际应用中，基质影响、元素干扰、以及样品中颗粒物的存在造成的沉降效应等一直是XRF方法目前存在的问题，导致相应元素检测下限和重复性无法满足检测需求。美国XOS公司推出的Petra MAX高精度X射线荧光多元素分析仪，采用单通道激发能量色散X荧光技术（HDXRF），通过单色X荧光照射待测样品，大大突破传统能量色散X荧光检测下限, 适用于亚 ppm 级别的铁、镍和钒等主要元素分析检测，可分析检测原油、柴油、汽油、喷气燃料和润滑剂等碳氢化合物，以及煤炭等固体样品，实现无损分析。创新的“侧照式”进样系统可降低颗粒物沉降带来的数据干扰，并可将意外溢出的液体引至滴液盘，远离重要部件，降低因样品意外泄漏对检测窗及内部重要部件的损坏，避免频繁维护。图 1 美国XOS公司Petra MAX高精度X射线荧光多元素分析仪案列和数据分享：欧洲一家大型炼油厂对Petra MAX的性能进行了相应测试，因为他们认为在5分钟内获得镍、钒和铁元素的含量极具价值，可作为其内部测试流程的潜在补充。该炼油厂进行了一系列元素分析研究，对比了Petra MAX（ASTM D8252）和ICP（ASTM D5708B）在不同油品样品下的精准度。以下仅为VGO样品的数据对比结果：表1：Petra MAX和 ICP标准方法在VGO样品中铁（Fe）含量的数据对比待测元素：铁（Fe）样品类型：VGOPetra MAX测试结果（mg/kg）ICP方法测试结果（mg/kg）结果差异（mg/kg）样品10.530.300.23样品20.650.470.18样品30.990.800.19样品40.220.500.28样品50.710.300.41样品60.830.400.43样品70.200.200.00样品80.280.100.18样品90.160.100.06样品100.170.200.03表2：Petra MAX和 ICP标准方法在VGO样品中镍（Ni）含量的数据对比待测元素：镍（Ni）样品类型：VGOPetra MAX测试结果（mg/kg）ICP方法测试结果（mg/kg）结果差异（mg/kg）样品10.190.160.03样品20.390.370.02样品30.520.500.02样品40.120.100.02样品50.240.200.04样品60.120.100.02样品70.140.100.04样品80.300.200.10样品90.310.230.08样品100.190.320.13表3：Petra MAX和ICP标准方法在VGO样品中钒（V）含量的数据对比待测元素：钒（V）样品类型：VGOPetra MAX测试结果（mg/kg）ICP方法测试结果（mg/kg）结果差异（mg/kg）样品10.500.330.17样品20.860.800.06样品31.071.100.03样品40.430.300.13样品50.210.100.11样品60.370.200.17样品70.250.200.05样品80.310.300.01样品90.130.100.03样品100.570.560.01总结：如表1、表2和表3所示，Petra MAX的结果与ICP方法的结果相比，在三种元素浓度的测量中，两种方法测试结果之间的差异均在这些方法的再现性范围之内。作为X射线荧光光谱法分析设备，Petra MAX操作简单，5分钟内即可得到测试结果，采用单波长激发能量色散X射线荧光技术（HDXRF），大大突破传统能量色散X荧光检测下限，满足日常控制分析需求。Petra MAX是一款可以精准测定VGO及其他类似石油产品中镍、钒和铁元素浓度的宝贵工具，可使实验室更快的做出相应关键决策。

大家来讨论下现在市场上大部分仪器测镀层时的厚度大概多少，我今天刚碰到个问题，我们家用的仪器今天测试ABS为基材的镀层时，单独测ABS材料时X射线竟能把ABS材料击穿，射线打到下面的铜底板，铜峰很高。。。。。那个ABS材料怎么说也有几个毫米。。。。有知道的发表下看法下，谢谢。

[size=3]GB/T 23901-2009 《无损检测 射线照相底片像质》共分为五部分：GB/T 23901.1-2009 无损检测 射线照相底片像质 第1部分：线型像质计像质指数的测定GB/T 23901.2-2009 无损检测 射线照相底片像质 第2部分：阶梯孔型像质计像质指数的测定GB/T 23901.3-2009 无损检测 射线照相底片像质 第3部分：黑色金属像质分类GB/T 23901.4-2009 无损检测 射线照相底片像质 第4部分：像质指数和像质表的试验评价GB/T 23901.5-2009 无损检测 射线照相底片像质 第5部分：双线型像质计图像不清晰度的测定[/size][b][b][size=3][/size][/b][/b]