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请问各位大侠:硅片的厚度和总厚度变化用千分尺测量外,现在比较主流的测试仪器是什么啊??谢谢了!
基体是陶瓷,陶瓷上有层钼和锰的氧化物层,厚度10UM--50多UM,外层是镍层,厚度是1-10UM,请问用什么仪器可以测两层或多层厚度,暂时我了解了X荧光测厚仪,换有别的仪器可以测量吗
[font=&]请教各位老师,电线电缆的绝缘厚度为什么要求第一次测量要从最薄处进行?投影仪下确定好含最薄点的6个点位之后,跟第一次测哪个点的顺序有关吗?GB 2951.11-2008的标准中对绝缘和护套厚度的测量要求为什么特意进行了区分?8.2.4条款里面,护套的厚度测试要求就是“在任何情况下,应有一次测量在护套最薄处进行”,8.1.4条款里面,绝缘的厚度测量要求就是“在任何情况下,第一次测量应在绝缘最薄处进行”。谢谢!PS:在其它板块发了没有老师回复,所以在这里也求助一下,如果有熟悉线缆测试的老师麻烦指点指点,谢谢![/font]