多能双能混合像素射线光子计

DECTRIS多能、双能混合像素光子计数X射线探测器SANTIS 08041、产品特点： SANTIS 0804是由DECTRIS设计和制造的混合光子计数（HPC）探测器。无暗电流、无噪声，单光子计数技术和解析X射线能量的能力触发了无与伦比的成像性能。相比传统的探测器，SANTS 0804在低能量和高帧速率的双重模式下提供更优秀的图像质量，同时，双能量和多能量成像可以在一次拍摄中完成。一次X射线获取，可记录两种-四种不同能量的X射线吸收剂量，利用不同材料、或组织及骨骼的吸收剂量的不同的特点，可以从图像中把它们区分出来。SANTIS 0804有两种配置：高分辨率（HR）和多能量（ME）模式，两种模式均能够提供高帧速率运行。 2、核心优势： －用CdTe传感器直接转换光子计数 －零噪音，无暗电流 －单次拍摄多能谱成像 －完全校准的能量阈值 －极端的动态范围 －抗辐射设计 －高帧率 3、应用领域 －光谱造影和计算机断层扫描 －高分辨率成像 －动态成像 －低剂量成像 －医学成像 －材料分解 －多种OEM影像设备4、技术参数：SANTIS 0804高分辨率(HR)多能量(ME)传感器碲化铬 0.75 mm碲化铬 1.0 mm有效面积8 x 4 cm28 x 4 cm2像素矩阵1030 x 514515 x 257像素大小75 μ㎡150 μ㎡MTF在1 IP /毫米 90% 90%能量范围最大至 120 kVp最大至160 kVp阈值能量的数量24能量分辨率1.9 at 22 keV (FWHM)1.9 at 22 keV (FWHM)填充因子100%100%动态范围32 bit32 bit帧频最大至 40 Hz最大至 40 Hz最大输入计数率1.5 * 109 光子/s/mm20.4 * 109 光子/s/ mm2所有规格如有变更，不做另行通知。

双能EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器 德科特思（DECTRIS）1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

EIGER2 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： EIGER2 R CdTe 1M X 射线探测器将混合像素光子计数探测器的最新发展和碲化镉感光像素的高量子效率集合在一起。对于使用高能量 X 射线源或需要双阈值设置时， EIGER2 R CdTe 1M 是最优的选择。 DECTRIS 公司的专利即时触发技术使他们具有前所未有的高计数率能力，可以更精确地测量实验室X射线源 所能达到的最高强度。DECTRIS 公司的即时触发专利技术使 EIGER2 R CdTe 1M 探测器具有前所未有的高计 数率能力，可以更精确地测量实验室 X 射线光源所能达到的最高强度。EIGER2 R CdTe 1M 探测器具有两个能 量阈值，所以与上一代探测器相比，它在环境背景下拥有更低的暗电流和背景噪音。这大大提高了弱信号和长 时间曝光的信噪比，使得它在更短的测量时间下就能获得更好的数据质量。单光子计数与计数器连续读/写技术 相结合，克服了传统积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。此外，感光像素直接将X射线转化为电信号 配合小到 75μm 的像素尺寸使得探测器具有更高的空间和角度分辨率。2、核心优势： – 最高的量子效率、更短的测试时间和更高质量的数据 – 即时触发技术使得计数率大幅度提高 – 双能阈值，可用于低背景和高背景的抑制 – 无读出噪音和暗电流，确保了最佳的信噪比 – 计数器具有同时读/写功能，确保了高动态范围和无饱和的图像3、应用领域： - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - μCT； - 其它； 4、技术参数：EIGER2 R CdTe500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.1 x 38.477.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2能量范围[KeV]8-24.2阈值范围[KeV]4-30最大计数率（cps/mm2）9.8×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 水冷尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 242235 x 237 x 372重量 [kg]3.73.915

双能面阵EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器 德科特思（DECTRIS）1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

EIGER2 X CdTe混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： 第四代同步加速器的尖端技术： EIGER2 X CdTe探测器是为在高能量段需要高分辨率和高帧速率的科学家设计的。单个像素尺寸仅为75μm，可检测的光子能量高达100 keV。由于死时间为零，所以每帧之间不会丢失光子。双能量阈值可以在两个能量段之间做剪影或减少高能量段的背景噪音。第二个能量鉴别阈值允许你在两个能量箱中成像你的样本，或削减更高的谐波以减少背景。最大计数速率高达107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探测器性能优异且易于集成和操作。2、核心优势： – 量子效率高、能量范围高达100KeV – 没有图像延迟或余辉 – 最大计数速率高达107光子/秒/像素 – 两个能量阈值 – 电子门控触发 – 有效面积大3、应用领域： – x射线衍射(单晶和粉末) – 现场和原位技术 – 衍射显微镜和层析成像 – 漫散射和对分布函数 4、技术参数：EIGER2 X CdTe500K1M4M9M16M探测器模块数量11 x 22 x 43 x 64 x 8有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2x 79.9155.2 X 162.5233.2 X 245.2311.2 X 327.8像素大小 [μm2]75 x 75能量阈值2最大计数率[光子/秒/像素]107点扩散函数1 pixelCdTe厚度[μm]450数据格式HDF5 / NeXus帧速率 [Hz]20002000500230130尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 242235 x 237 x 372340 × 370 × 500400 × 430 × 500重量 [kg]3.34.7154155

DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER R1、产品特点： EIGER R 系列是DECTRIS公司的最新一代实验室用混合光子计数探测器，将高分辨特点与广受好评的单光子计数模式相结合。EIGER R 1M探测器像素大小仅为75μm，并设计有百万个像素，是名副其实的多用途探测器，且价格适中，适用于多种实验室应用领域。EIGER R 4M 探测器在尺寸上与 CCD 系列探测器和成像板探测器不相上下，但在采集效率、背景噪音和分辨能力等方面却远远优于后两者。因此，EIGER R 探测器是当之无愧的尖端探测器，可满足最苛刻的实验需求。 充分利用单像素点扩散函数的技术优势，可分辨大晶胞蛋白质晶体样品的衍射点，也能从织构样品（textured sample）采集高分辨率粉末衍射模式图。连续的能量阈值和32bit的动态范围可进一步提高信噪比，以满足最苛刻的样品测试需求。高达5×108 phs/s/mm2 的计数率，可准确测量来自小分子晶体的高强度衍射点。使用最新研制的此款HPC探测器，可充分发挥您实验室仪器的潜力。 2、核心优势： – 混合光子计数：在单光子计数模式下直接探测X射线； – 无读出噪音或暗电流，实现最佳信噪比； – 像素小，点扩散函数窄，实现高空间分辨率； – 无快门连续读出；帧频高达 10 Hz，占空比 ﹥99.6%； – 计数率高达 5×108 phs/s/mm2； – 连续可调的能量阈值可用于荧光抑制； – 探测器的所有部件均可在室温下操作； – 可定制在真空环境下使用； – 免维护。 3、应用领域： -大分子晶体学（MX）； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。 4、技术参数：EIGER R 1M 4M探测器模块数量1 x 22 X 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030 x1065=1,096,9502070x2167=4,485,690间隙宽度，垂直（像素）- / 3710 / 37非灵敏区 [ % ]3.55.6缺陷像素 0.03%最大帧频 [Hz]105读出时间连续读数，4μs死区时间，工作循环99.6%点扩散函数1 pixel探测器厚度 [μm]450阈值能量 [keV]2.7-18最大计数率 [phts/s/mm2]5?108动态范围 [bit]32尺寸（WHD）[mm3]114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]3.915功耗 [w]75300

1、产品特点： 我们一直持续致力于不断地探索研究、突破技术壁垒，以获得更为高效的测试过程及测试装置，使测试性能趋于完美。目前我们在同步辐射仪器及科学研究领域所取得的巨大成就已充分证明了这一点。 新型的EIGER X 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步辐射应用提供极致的探测性能。具有连续读数能力以及千赫兹帧速率的成像能力为时间分辨类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得卓越的点扩散函数。在理想情况下每单位面积的最高计数速率可以与持续增加的波束线亮度相匹配。 2、核心优势： - 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力 - 千赫帧速率占空比 99% - 3μs时间下的连续采集模式 - 5μm像素尺寸的高空间分辨率 - 优秀的点扩散函数 - 计数速率高达每平方毫米每秒5亿次 - 无读出噪声和暗电流 - 极其紧凑的外壳 3、应用领域： -X射线光子相关光谱(XPCS) - Ptychography(叠层衍射)成像技术 - 时间分辨实验 - 大分子晶体学(MX) - 单晶衍射(SCD) - 粉末衍射(PD) - 表面衍射- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)- X射线成像 4、技术参数：EIGER X 500K 1M4M9M16M探测器模块数量11 x 22 x 43 x 64 x 8有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 X 79.9155.2 x 162.5233.2 x 245.2311.2 x 327.8像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030x514=529,4201030x1065=1,096,9502070 x 2167=4,485,6903110 x 3269=10,166,5904150X4371=18,139,650间隙宽度, 水平/垂直（像素）-/--/3710 / 3710 / 3710 / 37非灵敏区 [ % ]03.55.66.36.6缺陷像素0.03%最大帧频* [Hz]3000,4500**,9000**3000750238133计数器深度 [ bit ]12, 8, 412121212读出时间连续读数，3μs死区时间，工作循环99%***点扩散函数1 pixel探测器厚度 [μm]450阈值能量 [keV]2.7-18最大计数率 [phts/s/mm2]5• 108动态范围 [bit]16 或32数据格式HDF5 / NeXus尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 240235 x 237 x 372340 x 370 x 500400 x 430 x 500重量 [kg]3.33.9154155功耗 [w]70753007501200

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

PILATUS、EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器DECTRIS1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，EIGER2 R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

DECTRIS混合像素X射线探测器EIGER X1、产品特点： 我们一直持续致力于不断的探索研究去突破技术壁垒，以获得更为高效的测试过程及测试装置，使测试性能趋于完美。目前我们在同步仪器及科学研究领域所取得的巨大成就已充分证明了这一点。 新型的EIGER X 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步应用提供极致的探测性能。具有连续读数能力的千赫兹帧速率的成像能力为时分类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得卓越的点扩散函数。在理想情况下每单元面积的最高计数速率可以与持续增加的波速线亮度相匹配。 2、核心优势： - 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力 - 千赫帧速率工作周期 99% - 3μs时间下的连续采集模式 - 5μm像素尺寸的高空间分辨率 - 优秀的点扩散函数 - 计数器高达每平方毫米每秒5亿张 - 无读出噪声和暗电流 - 极其紧凑的外壳 3、应用领域： -X射线光子相关光谱(XPCS) - Ptychography(叠层衍射)成像技术 - 时间分辨实验 - 大分子晶体学(MX) - 单晶衍射(SCD) - 粉末衍射(PD) - 表面衍射- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)- X射线成像关闭全屏阅读 4、技术参数：EIGER X 500K 1M4M9M16M探测器模块数量1 1 x 22 x 43 x 64 x 8有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 X 79.9155.2 x 162.5233.2 x 245.2311.2 x 327.8像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030x514=529,4201030x1065=1,096,9502070 x 2167=4,485,6903110 x 3269=10,166,5904150X4371=18,139,650间隙宽度, 水平/垂直（像素）-/--/3710 / 3710 / 3710 / 37非灵敏区 [ % ]03.55.66.36.6缺陷像素 0.03%最大帧频* [Hz]3000,4500**,9000**3000750238133计数器深度 [ bit ]12, 8, 412121212读出时间连续读数，3μs死区时间，工作循环99%***点扩散函数1 pixel探测器厚度 [μm]450阈值能量 [keV]2.7-18最大计数率 [phts/s/mm2]5?108动态范围 [bit]16 或32数据格式HDF5 / NeXus尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 240235 x 237 x 372340 x 370 x 500400 x 430 x 500重量 [kg]3.33.9154155功耗 [w]70753007501200

EIGER X射线光子计数探测器 1、产品特点： 我们一直持续致力于不断的探索研究去突破技术壁垒，以获得更为高效的测试过程及测试装置，使测试性能趋于完美。目前我们在同步仪器及科学研究领域所取得的巨大成就已充分证明了这一点。 新型的EIGER X 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步应用提供极致的探测性能。具有连续读数能力的千赫兹帧速率的成像能力为时分类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得卓越的点扩散函数。在理想情况下每单元面积的最高计数速率可以与持续增加的波速线亮度相匹配。 2、核心优势： - 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力 - 千赫帧速率工作周期 99% - 3μs时间下的连续采集模式 - 5μm像素尺寸的高空间分辨率 - 优秀的点扩散函数 - 计数器高达每平方毫米每秒5亿张 - 无读出噪声和暗电流 - 极其紧凑的外壳 3、应用领域： -X射线光子相关光谱(XPCS) - Ptychography(叠层衍射)成像技术 - 时间分辨实验 - 大分子晶体学(MX) - 单晶衍射(SCD) - 粉末衍射(PD) - 表面衍射- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)- X射线成像关闭全屏阅读 4、技术参数：EIGER X 500K 1M4M9M16M探测器模块数量1 1 x 22 x 43 x 64 x 8有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 X 79.9155.2 x 162.5233.2 x 245.2311.2 x 327.8像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030x514=529,4201030x1065=1,096,9502070 x 2167=4,485,6903110 x 3269=10,166,5904150X4371=18,139,650间隙宽度, 水平/垂直（像素）-/--/3710 / 3710 / 3710 / 37非灵敏区 [ % ]03.55.66.36.6缺陷像素 0.03%最大帧频* [Hz]3000,4500**,9000**3000750238133计数器深度 [ bit ]12, 8, 412121212读出时间连续读数，3μs死区时间，工作循环99%***点扩散函数1 pixel探测器厚度 [μm]450阈值能量 [keV]2.7-18最大计数率 [phts/s/mm2]5• 108动态范围 [bit]16 或32数据格式HDF5 / NeXus尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 240235 x 237 x 372340 x 370 x 500400 x 430 x 500重量 [kg]3.33.9154155功耗 [w]70753007501200

DECTRIS混合像素光子X射线探测器PILATUS3 R1、产品特点： PILATUS3 R 混合光子计数（HPC）探测器经过重新设计，旨在实现最佳的数据质量。该系列探测器基于同步辐射技术，并融合了两种关键技术：单光子计数和混合像素技术，实现了更好的实验室体验。 PILATUS3 R 系列进一步完善了我公司实验室用系列探测器的独特优势： DECTRIS 的即时触发技术配合 PILATUS3 独特的技术优势，充分提升了计数率和计数率的准确校正。 PILATUS3 R 探测器的高计数率，使得其在处理高强度信号时显示了独特的优势。 DECTRIS 即时触发技术可被用来准确测量具有高强度衍射的样品，如小分子或无机复合物样品的高强度衍射峰。 单光子计数可消除所有的探测器噪音，从而得到优质的数据相对于同步辐射，实验室中的X射线源要微弱得多，只能得到较为微弱的衍射信号，因此通常需要较长的曝光时间。由于没有暗电流和读出噪音， PILATUS3 R 系列探测器比其它实验室用探测器具有更优的性能。 HPC 技术使得该系列探测器可直接探测X射线，比闪烁器探测器所产生的信号更为清晰。读出时间短并能连续采集信号的 PILATUS3 R 系列探测器可高效输出优质数据；较低的功耗和冷却要求可确保您轻松使用并最大限度的减少维护工作量。 PILATUS3 R 系列探测器专为您的实验室需求而量身定制，可提供无与伦比的同步辐射成熟技术。具有独特性能的PILATUS3 R 系列探测器，可助您从最具挑战性的样品中采集到最优质的实验数据。 2、核心优势： – 可在单光子计数模式下直接探测X射线； – DECTRIS即时触发技术，可实现全程连续计数； – 最高的局部和整体计数率； – 准确的计数率校正，可在最高计数率条件下获得最佳数据质量； – 无读出噪音和暗电流； – 出色的点扩散函数； – 高动态范围； – 读出时间短，帧频高。 3、应用领域： – 生物大分子晶体学（MX）； – 单晶衍射（SCD）； – X射线衍射（XRD）； – 小角和广角X射线散射（SAXS/WAXS）； – 表面衍射； – 漫散射； – 时间分辨实验； – 成像； – 无损检测。 4、技术参数：PILATUS3 R100K-A200K-A300K300K-W1M探测器模块数量1 x 11 x 21 x 33 x 12 x 5有效面积:宽*高[mm?]83.8 x 33.583.8 x 70.083.8 x 106.5253.7 x 33.5168.7 x 179.4像素大小 [μm?]172 x 172总像素数量487x195=94,965487x407=198,209487x619=301,4531475x195=287,625981x1043=1,023.183间隙宽度, 水平/垂直（像素）0- / 17- / 177 / -7 / 17非灵敏区 [ % ]04.35.50.97.2缺陷像素 0.03%最大帧频 [Hz]202020205读出时间 [ms]7点扩散函数1 pixel（FWHM）计数器深度20 bits（1,048,576 counts）阈值能量 [keV]3.5 - 183.5 - 182.7 - 182.7 - 182.7 - 18功耗 [W]30303636165尺寸（WHD）[mm?]156x115x284156x155x284158x193x262280x62x296265x286x455重量 [kg]4.55.47.57.025模块冷却风冷风冷水冷水冷水冷电子冷却风冷风冷水冷水冷风冷外接触发电压5V TTL能量校准铬，锰，铁，铜，镓，钼，银的Ka线标准配置450微米的硅传感器探测器可选配置1000微米的硅传感器--可用于真空可用于真空-

DECTRIS混合像素光子X射线探测器PILATUS3 X1、产品特点： PILATUS3 R 混合光子计数（HPC）探测器经过重新设计，旨在实现最佳的数据质量。该系列探测器基于同步辐射技术，并融合了两种关键技术：单光子计数和混合像素技术，实现了更好的实验室体验。 PILATUS3 R 系列进一步完善了我公司实验室用系列探测器的独特优势： DECTRIS 的即时触发技术配合 PILATUS3 独特的技术优势，充分提升了计数率和计数率的准确校正。 PILATUS3 R 探测器的高计数率，使得其在处理高强度信号时显示了独特的优势。 DECTRIS 即时触发技术可被用来准确测量具有高强度衍射的样品，如小分子或无机复合物样品的高强度衍射峰。 单光子计数可消除所有的探测器噪音，从而得到优质的数据相对于同步辐射，实验室中的X射线源要微弱得多，只能得到较为微弱的衍射信号，因此通常需要较长的曝光时间。由于没有暗电流和读出噪音， PILATUS3 R 系列探测器比其它实验室用探测器具有更优的性能。 HPC 技术使得该系列探测器可直接探测X射线，比闪烁器探测器所产生的信号更为清晰。读出时间短并能连续采集信号的 PILATUS3 R 系列探测器可高效输出优质数据；较低的功耗和冷却要求可确保您轻松使用并最大限度的减少维护工作量。 PILATUS3 R 系列探测器专为您的实验室需求而量身定制，可提供无与伦比的同步辐射成熟技术。具有独特性能的PILATUS3 R 系列探测器，可助您从最具挑战性的样品中采集到最优质的实验数据。 2、核心优势： – 可在单光子计数模式下直接探测X射线； – DECTRIS即时触发技术，可实现全程连续计数； – 最高的局部和整体计数率； – 准确的计数率校正，可在最高计数率条件下获得最佳数据质量； – 无读出噪音和暗电流； – 出色的点扩散函数； – 高动态范围； – 读出时间短，帧频高。 3、应用领域： – 生物大分子晶体学（MX）； – 单晶衍射（SCD）； – X射线衍射（XRD）； – 小角和广角X射线散射（SAXS/WAXS）； – 表面衍射； – 漫散射； – 时间分辨实验； – 成像； – 无损检测。 4、技术参数：PILATUS3 R100K-A200K-A300K300K-W1M探测器模块数量1 x 11 x 21 x 33 x 12 x 5有效面积:宽*高[mm?]83.8 x 33.583.8 x 70.083.8 x 106.5253.7 x 33.5168.7 x 179.4像素大小 [μm?]172 x 172总像素数量487x195=94,965487x407=198,209487x619=301,4531475x195=287,625981x1043=1,023.183间隙宽度, 水平/垂直（像素）0- / 17- / 177 / -7 / 17非灵敏区 [ % ]04.35.50.97.2缺陷像素 0.03%最大帧频 [Hz]202020205读出时间 [ms]7点扩散函数1 pixel（FWHM）计数器深度20 bits（1,048,576 counts）阈值能量 [keV]3.5 - 183.5 - 182.7 - 182.7 - 182.7 - 18功耗 [W]30303636165尺寸（WHD）[mm?]156x115x284156x155x284158x193x262280x62x296265x286x455重量 [kg]4.55.47.57.025模块冷却风冷风冷水冷水冷水冷电子冷却风冷风冷水冷水冷风冷外接触发电压5V TTL能量校准铬，锰，铁，铜，镓，钼，银的Ka线标准配置450微米的硅传感器探测器可选配置1000微米的硅传感器--可用于真空可用于真空-

PILATUS3 R 混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： PILATUS3 R 混合光子计数（HPC）探测器经过重新设计，旨在实现最佳的数据质量。该系列探测器基于同步辐射技术，并融合了两种关键技术：单光子计数和混合像素技术，实现了更好的实验室体验。 PILATUS3 R 系列进一步完善了我公司实验室用系列探测器的独特优势： DECTRIS 的即时触发技术配合 PILATUS3 独特的技术优势，充分提升了计数率和计数率的准确校正。 PILATUS3 R 探测器的高计数率，使得其在处理高强度信号时显示了独特的优势。 DECTRIS 即时触发技术可被用来准确测量具有高强度衍射的样品，如小分子或无机复合物样品的高强度衍射峰。 单光子计数可消除所有的探测器噪音，从而得到优质的数据相对于同步辐射，实验室中的X射线源要微弱得多，只能得到较为微弱的衍射信号，因此通常需要较长的曝光时间。由于没有暗电流和读出噪音， PILATUS3 R 系列探测器比其它实验室用探测器具有更优的性能。 HPC 技术使得该系列探测器可直接探测X射线，比闪烁器探测器所产生的信号更为清晰。读出时间短并能连续采集信号的 PILATUS3 R 系列探测器可高效输出优质数据；较低的功耗和冷却要求可确保您轻松使用并最大限度的减少维护工作量。 PILATUS3 R 系列探测器专为您的实验室需求而量身定制，可提供无与伦比的同步辐射成熟技术。具有独特性能的PILATUS3 R 系列探测器，可助您从最具挑战性的样品中采集到最优质的实验数据。 2、核心优势： – 可在单光子计数模式下直接探测X射线； – DECTRIS即时触发技术，可实现全程连续计数； – 最高的局部和整体计数率； – 准确的计数率校正，可在最高计数率条件下获得最佳数据质量； – 无读出噪音和暗电流； – 出色的点扩散函数； – 高动态范围； – 读出时间短，帧频高。 3、应用领域： – 生物大分子晶体学（MX）； – 单晶衍射（SCD）； – X射线衍射（XRD）； – 小角和广角X射线散射（SAXS/WAXS）； – 表面衍射； – 漫散射； – 时间分辨实验； – 成像； – 无损检测。 4、技术参数：PILATUS3 R100K-A200K-A300K300K-W1M探测器模块数量1 x 11 x 21 x 33 x 12 x 5有效面积:宽*高[mm?]83.8 x 33.583.8 x 70.083.8 x 106.5253.7 x 33.5168.7 x 179.4像素大小 [μm?]172 x 172总像素数量487x195=94,965487x407=198,209487x619=301,4531475x195=287,625981x1043=1,023.183间隙宽度, 水平/垂直（像素）0- / 17- / 177 / -7 / 17非灵敏区 [ % ]04.35.50.97.2缺陷像素 0.03%最大帧频 [Hz]202020205读出时间 [ms]7点扩散函数1 pixel（FWHM）计数器深度20 bits（1,048,576 counts）阈值能量 [keV]3.5 - 183.5 - 182.7 - 182.7 - 182.7 - 18功耗 [W]30303636165尺寸（WHD）[mm?]156x115x284156x155x284158x193x262280x62x296265x286x455重量 [kg]4.55.47.57.025模块冷却风冷风冷水冷水冷水冷电子冷却风冷风冷水冷水冷风冷外接触发电压5V TTL能量校准铬，锰，铁，铜，镓，钼，银的Ka线标准配置450微米的硅传感器探测器可选配置1000微米的硅传感器--可用于真空可用于真空-

EIGER2 XE CdTe混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： 第四代同步加速器的尖端技术： EIGER2 X CdTe探测器是为在高能量段需要高分辨率和高帧速率的科学家设计的。单个像素尺寸仅为75μm，可检测的光子能量高达100 keV。由于死时间为零，所以每帧之间不会丢失光子。双能量阈值可以在两个能量段之间做剪影或减少高能量段的背景噪音。第二个能量鉴别阈值允许你在两个能量箱中成像你的样本，或削减更高的谐波以减少背景。最大计数速率高达107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探测器性能优异且易于集成和操作。2、核心优势： – 量子效率高、能量范围高达100KeV – 没有图像延迟或余辉 – 最大计数速率高达107光子/秒/像素 – 两个能量阈值 – 电子门控触发 – 有效面积大3、应用领域： – x射线衍射(单晶和粉末) – 现场和原位技术 – 衍射显微镜和层析成像 – 漫散射和对分布函数 4、技术参数：EIGER2 X CdTe9M16M探测器模块数量3 x 64 x 8有效面积：宽x高 [mm2]233.1 X 244.7311.1 X 327.2像素大小 [μm2]75 x 75总像素3108 × 3262 =10,138,2964148 × 4362 =18,093,576间隙宽度 垂直/水平[pixels]*每个模块中间有一2个像素的垂直间隙12 / 3812 / 38能量阈值2最大计数率[光子/秒/像素]107最大帧速率 [Hz]550550(20s burst),400（连续）点扩散函数1 pixel(FWHM)CdTe厚度[μm]750真空兼容性是否可选否数据格式HDF5 / NeXus尺寸（WHD）[mm3]340 × 370 × 500400 × 430 × 500重量 [kg]4155光子能量[keV]100keV

PILATUS3 X 混合像素光子计数X射线探测器1、产品特点： PILATUS3 混合像素探测器可以为要求最苛刻的同步辐射应用提供极致的探测表现。在最新一代产品中，PILATUS系列X射线探测器已经达到了最高水平的成熟度和稳定性。改进的PILATUS3系列探测器采用互补金属氧化物半导体（CMOS）读出集成电路（ASIC）即时再触发技术，其可以避免瘫痪性误计数，同时其可以增强高计数率情况下的表现，减少读出时间，并获得更准确的计数率。PILATUS3即时再触发技术客服了以前的光子计数探测器固有的计数率低的限制。PILATUS3系列光子计数探测器是我们一直以来不断完善单光子计数探测器的努力结晶。卓越的数据质量和快速的数据采集是PILATUS探测器系统的主要优点。卓越的数据质量是通过各种独特的特征来实现的：不存在读出噪声和暗电流，尖锐的点扩散函数，并且高达20比特（~100万个计数）的高动态范围和计数器深度。目前最先进的互补金属氧化物半导体（CMOS）集成电路（ASIC）和读出电子学设计能够保证快速的数据获取。PILATUS3现在的标准配置为450微米的硅传感器，以此提高量子效率。所有PILATUS3 M系统出了包括探测服务器之外，还包含一台高性能计算机，以此确保高速率稳定的数据采集而不需要用户额外增加计算机系统。 2、核心优势： –计数率高达每像素每秒1千万计数 –帧速率高达50Hz，即每秒钟可以采集500张图像 –读出时间仅为0.95毫秒 –单光子计数模式中的直接探测X射线 –无读出噪声 –无暗电流 –优秀的点扩散函数 –20位无溢出计数器 3、应用领域： –生物大分子晶体学（MX） –单晶衍射（SCD） –表面衍射 –连贯的X射线成像 –时间分辨实验 –小角散射与广角散射（SAXS/WAXS） –X射线衍射（XRPD） 4、技术参数：PILATUS3 X100K-A200K-A300K300K-W1M2M6M探测器模块数量1 × 11 × 21 x 33 x 12 x 53 x 85 x 12有效面积：宽×高 [mm2]83.8 × 33.583.8 × 70.083.8 x 106.5253.7 × 33.5168.7 × 179.4253.7 × 288.8423.6 x 434.6像素大小 [μm2]172×172总像素数量，水平x垂直487 × 195487 × 407487 × 6191475 × 195981 × 10431475 × 16792463 x 2527间隙宽度, 水平/垂直（像素）0- / 17- / 177 / -7/177/177/17非灵敏区 [ % ]04.35.50.97.28.08.5缺陷像素 0.03%最大帧频，满帧 [Hz]500500500500500250100最大帧频，ROI [Hz]----500500500读出时间 [ms]0.95点扩散函数1 pixel（FWHM）阈值能量 [keV]3.5 - 183.5 - 182.7 - 182.7 - 182.7 - 182.7 - 182.7 - 18计数器深度20 bits（1,048,576 counts）功耗[W]30303636165250580尺寸（WHD）[mm3]156x115x284156x155x284158x193x262280x62x296265x286x455384x424x456590x603x455重量 [kg]4.55.47.57.0254692模块冷却风冷风冷水冷水冷水冷水冷水冷电子冷却风冷风冷水冷水冷风冷风冷风冷标准配置450微米 硅传感器探测器，探测器服务器探测器，探测器服务器探测器，探测器服务器，水冷装置探测器，探测器服务器，水冷装置，迷你PPU探测器选项1000微米 硅传感器迷你PPU, L or XL迷你PPU, L or XL迷你PPU, L or XL迷你PPU, L or XLPPU L or XLPPU L or XLPPU L or XL——真空兼容320微米硅传感器———

1、产品特点： PILATUS3 混合像素探测器可以为要求苛刻的同步辐射应用提供的探测表现。在新一代产品中，PILATUS系列X射线探测器已经达到了高水平的成熟度和稳定性。改进的PILATUS3系列探测器采用互补金属氧化物半导体（CMOS）读出集成电路（ASIC）即时再触发技术，其可以避免瘫痪性误计数，同时其可以增强高计数率情况下的表现，减少读出时间，并获得更准确的计数率。PILATUS3即时再触发技术克服了以前的光子计数探测器固有的计数率低的限制。PILATUS3系列光子计数探测器是我们一直以来不断完善单光子计数探测器的努力结晶。卓越的数据质量和快速的数据采集是PILATUS探测器系统的主要优点。卓越的数据质量是通过各种特性来实现的：不存在读出噪声和暗电流，尖锐的点扩散函数，并且高达20比特（~100万个计数）的高动态范围和计数器深度。目前先进的互补金属氧化物半导体（CMOS）集成电路（ASIC）和读出电子学设计能够保证快速的数据获取。PILATUS3现在的标准配置为450微米的硅传感器，以此提高量子效率。所有PILATUS3 M系统出了包括探测服务器之外，还包含一台高性能计算机，以此确保高速率稳定的数据采集而不需要用户额外增加计算机系统。 2、核心优势： –计数率高达每像素每秒1千万计数 –帧速率高达500Hz，即每秒钟可以采集500张图像 –读出时间仅为0.95毫秒 –单光子计数模式中的直接探测X射线 –无读出噪声 –无暗电流 –点扩散函数 –20位无溢出计数器 3、应用领域： –生物大分子晶体学（MX） –单晶衍射（SCD） –表面衍射 –连贯的X射线成像 –时间分辨实验 –小角散射与广角散射（SAXS/WAXS） –X射线衍射（XRPD）

DECTRIS混合像素X射线探测器EIGER R1、产品特点： EIGER R 系列是DECTRIS公司的最新一代实验室用混合光子计数探测器，将高分辨特点与广受好评的单光子计数模式相结合。EIGER R 1M探测器像素大小仅为75μm，并设计有百万个像素，是名副其实的多用途探测器，且价格适中，适用于多种实验室应用领域。EIGER R 4M 探测器在尺寸上与 CCD 系列探测器和成像板探测器不相上下，但在采集效率、背景噪音和分辨能力等方面却远远优于后两者。因此，EIGER R 探测器是当之无愧的尖端探测器，可满足最苛刻的实验需求。 充分利用单像素点扩散函数的技术优势，可分辨大晶胞蛋白质晶体样品的衍射点，也能从织构样品（textured sample）采集高分辨率粉末衍射模式图。连续的能量阈值和32bit的动态范围可进一步提高信噪比，以满足最苛刻的样品测试需求。高达5×108 phs/s/mm2 的计数率，可准确测量来自小分子晶体的高强度衍射点。使用最新研制的此款HPC探测器，可充分发挥您实验室仪器的潜力。 2、核心优势： – 混合光子计数：在单光子计数模式下直接探测X射线； – 无读出噪音或暗电流，实现最佳信噪比； – 像素小，点扩散函数窄，实现高空间分辨率； – 无快门连续读出；帧频高达 10 Hz，占空比 ﹥99.6%； – 计数率高达 5×108 phs/s/mm2； – 连续可调的能量阈值可用于荧光抑制； – 探测器的所有部件均可在室温下操作； – 可定制在真空环境下使用； – 免维护。 3、应用领域： -大分子晶体学（MX）； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。 4、技术参数：EIGER R 1M 4M探测器模块数量1 x 22 X 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030 x1065=1,096,9502070x2167=4,485,690间隙宽度，垂直（像素）- / 3710 / 37非灵敏区 [ % ]3.55.6缺陷像素 0.03%最大帧频 [Hz]105读出时间连续读数，4μs死区时间，工作循环99.6%点扩散函数1 pixel探测器厚度 [μm]450阈值能量 [keV]2.7-18最大计数率 [phts/s/mm2]5?108动态范围 [bit]32尺寸（WHD）[mm3]114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]3.915功耗 [w]75300

PILATUS3 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器德科特思（DECTRIS） 1、产品特点： PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉（CdTe）传感器中直接检测硬X射线的优点。 与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo，Ag和In辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。 实验室中的X射线源，尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供动力的最快计数电子设备？结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。 具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的独特组合，并且是实验室中这些要求的最佳匹配。 2、核心优势 - Mo，Ag和In量子效率 90％ - 直接检测最清晰的空间分辨率 - 没有读出噪音，也没有黑暗信号达到最高精度 - 高动态范围 - 荧光背景抑制 - 最高的计数率 - 同步辐射证明的辐射硬度 - 免维护运行 - 高可靠性：没有容易发生故障的密封或复杂，冷却至室温以下 3、应用领域 - 电荷密度分析 - 配对功能（PDF）分析 - 高分辨率化学结晶学 - 高压/高温XRD - 关键尺寸SAXS - 计算机断层扫描（CT） - 无损检测（NDT）4、技术参数： PILATUS3 R CdTe1M300K300K-W100K探测器模块数量2 × 51 × 33 × 11 × 1有效面积：宽×高 [mm2]168.7 x 179.483.8 × 106.5253.7 x 33.583.8 x 33.5像素大小 [μm2]172 x 172总像素数量981 x 1043 487 × 6191475 × 195487 x 195间隙宽度, 水平/垂直（像素）*每个模块之间水平间隙增加1个像素7* / 17- */ 177* / --* / -非灵敏区 [ % ]7.85.71.10.2缺陷像素 0.1%最大帧频 [Hz]5202020读出时间 [ms]7点扩散函数1 pixel（FWHM）计数器深度20 bits（1,048,576 counts）功耗 [W]165303030尺寸（WHD）[mm3]265 x 286 x 455158 x 193 x 262280 x 62 x 296114 x 69 x 118 (探头)重量 [kg]257.57.00.9（探头）模块冷却水冷水冷水冷水冷外接触发电压5V TTL5V TTL\\

DECTRIS混合像素光子X射线探测器PILATUS3 S1、产品特点： PILATUS3 混合像素探测器可以为要求最苛刻的同步辐射应用提供极致的探测表现。在最新一代产品中，PILATUS系列X射线探测器已经达到了最高水平的成熟度和稳定性。改进的PILATUS3系列探测器采用互补金属氧化物半导体（CMOS）读出集成电路（ASIC）即时再触发技术，其可以避免瘫痪性误计数，同时其可以增强高计数率情况下的表现，减少读出时间，并获得更准确的计数率。PILATUS3即时再触发技术客服了以前的光子计数探测器固有的计数率低的限制。PILATUS3系列光子计数探测器是我们一直以来不断完善单光子计数探测器的努力结晶。卓越的数据质量和快速的数据采集是PILATUS探测器系统的主要优点。卓越的数据质量是通过各种独特的特征来实现的：不存在读出噪声和暗电流，尖锐的点扩散函数，并且高达20比特（~100万个计数）的高动态范围和计数器深度。目前最先进的互补金属氧化物半导体（CMOS）集成电路（ASIC）和读出电子学设计能够保证快速的数据获取。PILATUS3现在的标准配置为450微米的硅传感器，以此提高量子效率。所有PILATUS3 M系统出了包括探测服务器之外，还包含一台高性能计算机，以此确保高速率稳定的数据采集而不需要用户额外增加计算机系统。 2、核心优势： –计数率高达每像素每秒1千万计数 –帧速率高达50Hz，即每秒钟可以采集500张图像 –读出时间仅为0.95毫秒 –单光子计数模式中的直接探测X射线 –无读出噪声 –无暗电流 –优秀的点扩散函数 –20位无溢出计数器 3、应用领域： –生物大分子晶体学（MX） –单晶衍射（SCD） –表面衍射 –连贯的X射线成像 –时间分辨实验 –小角散射与广角散射（SAXS/WAXS） –X射线衍射（XRPD） 4、技术参数：PILATUS3 S1M2M6M探测器模块数量2 x 53 x 85 x 12有效面积：宽x高 [mm2]168.7 x 179.4253.7 x 288.8423.6 x 434.6像素大小 [μm2]172x172总像素数量：水平x垂直981 x 10431475 x 16792463 x 2527间隙宽度, 水平/垂直（像素）7/17非灵敏区 [ % ]7.28.08.5缺陷像素0.03%最大帧频 [Hz]25读出时间 [ms]2.03点扩散函数1 pixel（FWHM）阈值能量 [kev]2.7 - 18计数器深度20 bits（ 1,048,576 counts）功耗 [W]165250580尺寸（WHD）[mm3]265 x 286 x 455384 x 424 x 456590 x 603 x 455重量 [kg]254692模块冷却水冷电子冷却风冷标准配置450微米的硅传感器、探测器、探测器的服务器、水冷却装置探测器选择1000微米的硅传感器、PPUmini，L or XL PILATUS3 S探测器可用最少的停机时间现场升级为X系列探测器。 这使得相应的PILATUS3 X探测器的全部性能和特点得以实现。

X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

MYTHEN2 波长色散光子计数混合像素X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器进口二维双能阵列光子计数衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER2 R 500K1、产品特点： EIGER2 R 500为实验室衍射提供了最佳的解决方案。 到目前为止，所有的探测器都要求在像素大小、有效面积、最大计数率、低能量和高能量识别能力之间进行权衡。 混合光子计数EIGER2 R 500K探测器结合了高分辨率的小像素，高效的数据采集有效区域以及无与伦比的计数率，可以把测量的精确度提高到极致。 双能量识别与同时读出功能相结合，可同时实现广泛的背景抑制和高动态范围。 高帧率使仪器制造商能够提供复杂的0D，1D和2D数据采集模式。 所有这些优点都瑞士DECTRIS公司经过长期验证和创新所获得的独有的性能，这款探测器的可靠性、免维护的表现也处于行业领导地位。2、核心优势： - 具有高空间分辨率的大活动区域 - 高级计数率 - 高的动态范围 - 高效抑制荧光，宇宙和白色辐射 - 免维护3、应用领域 - 单晶衍射 - X射线粉末衍射 - X 射线小角散射SAXS / 广角度X射线散射（WAXS) 4、技术参数：EIGER2 R 500K像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030 x 514=529,420有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.7探测器厚度 [μm]450点扩散函数 [pixel]1（FWHM）能量辨别阈值2阈值能量 [keV] 4-11计数器深度 [bit/threshold]2x16最大计数率 [cps/mm2]3.6 x 108采集模式同时读写/零死区时间动态范围 [bit] 32最大帧频 [Hz]40尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93重量 [kg]1.8

DECTRIS混合像素X射线探测器EIGER2 R 500K1、产品特点： EIGER2 R 500为实验室衍射提供了最佳的解决方案。 到目前为止，所有的探测器都要求在像素大小、有效面积、最大计数率、低能量和高能量识别能力之间进行权衡。 混合光子计数EIGER2 R 500K探测器结合了高分辨率的小像素，高效的数据采集有效区域以及无与伦比的计数率，可以把测量的精确度提高到极致。 双能量识别与同时读出功能相结合，可同时实现广泛的背景抑制和高动态范围。 高帧率使仪器制造商能够提供复杂的0D，1D和2D数据采集模式。 所有这些优点都瑞士DECTRIS公司经过长期验证和创新所获得的独有的性能，这款探测器的可靠性、免维护的表现也处于行业领导地位。2、核心优势： - 具有高空间分辨率的大活动区域 - 高级计数率 - 高的动态范围 - 高效抑制荧光，宇宙和白色辐射 - 免维护3、应用领域 - 单晶衍射 - X射线粉末衍射 - X 射线小角散射SAXS / 广角度X射线散射（WAXS) 4、技术参数：EIGER2 R 500K像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030 x 514=529,420有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.7探测器厚度 [μm]450点扩散函数 [pixel]1（FWHM）能量辨别阈值2阈值能量 [keV] 4-11计数器深度 [bit/threshold]2x16最大计数率 [cps/mm2]3.6 x 108采集模式同时读写/零死区时间动态范围 [bit] 32最大帧频 [Hz]40尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93重量 [kg]1.8

DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER X1、产品特点： 我们一直持续致力于不断的探索研究去突破技术壁垒，以获得更为高效的测试过程及测试装置，使测试性能趋于完美。目前我们在同步仪器及科学研究领域所取得的巨大成就已充分证明了这一点。 新型的EIGER X 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步应用提供极致的探测性能。具有连续读数能力的千赫兹帧速率的成像能力为时分类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得卓越的点扩散函数。在理想情况下每单元面积的最高计数速率可以与持续增加的波速线亮度相匹配。 2、核心优势： - 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力 - 千赫帧速率工作周期 99% - 3μs时间下的连续采集模式 - 5μm像素尺寸的高空间分辨率 - 优秀的点扩散函数 - 计数器高达每平方毫米每秒5亿张 - 无读出噪声和暗电流 - 极其紧凑的外壳 3、应用领域： -X射线光子相关光谱(XPCS) - Ptychography(叠层衍射)成像技术 - 时间分辨实验 - 大分子晶体学(MX) - 单晶衍射(SCD) - 粉末衍射(PD) - 表面衍射- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)- X射线成像关闭全屏阅读 4、技术参数：EIGER X 500K 1M4M9M16M探测器模块数量1 1 x 22 x 43 x 64 x 8有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 X 79.9155.2 x 162.5233.2 x 245.2311.2 x 327.8像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030x514=529,4201030x1065=1,096,9502070 x 2167=4,485,6903110 x 3269=10,166,5904150X4371=18,139,650间隙宽度, 水平/垂直（像素）-/--/3710 / 3710 / 3710 / 37非灵敏区 [ % ]03.55.66.36.6缺陷像素 0.03%最大帧频* [Hz]3000,4500**,9000**3000750238133计数器深度 [ bit ]12, 8, 412121212读出时间连续读数，3μs死区时间，工作循环99%***点扩散函数1 pixel探测器厚度 [μm]450阈值能量 [keV]2.7-18最大计数率 [phts/s/mm2]5?108动态范围 [bit]16 或32数据格式HDF5 / NeXus尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 240235 x 237 x 372340 x 370 x 500400 x 430 x 500重量 [kg]3.33.9154155功耗 [w]70753007501200