飞纳金属金相领域扫描显微镜

主要功能及特点 Bsae-SECM 是一套致力于研究的扫描电化学显微镜，技术源于德国波鸿鲁尔大学Schuhmann 教授课题组。Base-SECM 标准配置的功能已然十分强大，能满足绝大多数研究的需要。在这基础上，用户还可以购置不同的功能模块，以满足特殊的研究需要。 主要技术参数定位系统：XYZ 步进控制系统动态范围：25x25x25 mm（其他范围可选）最大线扫速率：10mm/s分辨率：20nm扫描模式Feedback Mode 反馈模式GC Mode 产生收集模式Direct Mode 直接模式AC-SECM 微区阻抗模式4D 模式Shearforce剪切力模式探针扫描：2D 扫描3D 扫描等间距扫描快速等间距扫描预设扫描自编辑电化学程序扫描 应用领域电化学动力学研究吸附/脱附现象和溶解过程的研究液/液界面，液/气界面，液/固界面以及重要的生物过程局部腐蚀过程观测催化剂活性评价传感器表面活性成像局部阻抗分析生物膜酶活性研究微纳米尺度的金属颗粒沉积(恒电流或无电沉积)在水或有机溶液中材料表面上导电聚合物局部沉积电化学刻蚀

国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术，实现了高速图像采集和成像，同时保证了纳米级分辨率。面向应用场景的自动化操作流程设计，使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。 产品优势 高速自动化 全自动上下样流程和采图作业，综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的5倍大场低畸变跟随扫描场动态变化的光轴，实现了更低的场边缘畸变低压高分辨 样品台减速技术，实现低落点电压，同时保证高分辨率应用领域应用案例大规模成像规格书 关键参数 分辨率 1.3nm @ 3 kV，SE；2.2 nm @ 1 kV，SE； 1.9nm @ 3 kV，BSE；3.3 nm @ 1 kV，BSE；加速电压 100 V~6 kV(减速模式) 6 kV~30 kV(非减速模式) 放大倍率 66~1,000,000x 电子枪类型 高亮度肖特基场发射电子枪 物镜类型 浸没式电磁复合物镜 样品装载系统 真空系统 全自动控制，无油真空系统 样品监控 样品仓监控水平摄像头 ； 换样仓监控垂直摄像头样品最大尺寸 直径4英寸 样品台 类型 电机驱动3轴样品台（*可选配压电驱动样品台） 行程 X、Y轴：110mm；Z轴：28mm；重复定位精度 X轴：±0.6 um；Y轴：±0.3 um 换样方式 全自动控制 换样时间 ＜15 min 换样仓清洗 全自动控制等离子清洗系统 图像采集与处理 驻点时间 10 ns/pixel 图像采集速度 2*100 M pixel/s 图像大小 8K*8K 探测器和扩展 标配 镜筒内混合电子探测器 选配低角度背散射电子探测器 镜筒内高角度背散射电子探测器 压电驱动样品台 高分辨大场模式样品仓等离子清洗系统 6英寸样品装载系统主动减震台 AI降噪；大图拼接；三维重构 软件 语言 中文 操作系统 Windows 导航 光学导航、手势快捷导航 自动功能 自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散服务扫描电子显微镜实验室 我们在合肥、无锡、广州和上海设有扫描电子显微镜实验室，实验室配备多名电镜技术专家和高级电镜应用工程师，提供包含电 镜应用技术开发、样品拍摄在内的多种服务。主要应用领域有锂电池、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物医药等。 实验室依托国仪量子电镜产品，在电镜应用领域开展具有自主知识产权的科研项目，致力于实现科学研究和人才培养的目标。与此同时，实验室也为有电镜应用需求的科研院所、大专院校、企事业单位提供优质的服务。

Phenom ProX_1金属金相领域扫描电子显微镜属材料应用于各个领域，金属组织的观测和失效分析是进行金属材料研究的基础。金属及其合金性能是由化学成分、晶体结构及微观组织来决定的，扫描电镜在这些方面的研究上大有可为。飞纳电镜在对金属端口研究、合金及相成分研究、粉末冶金以及夹杂物分析等方面，不仅能观察金属材料表面和内部的微观形貌，并结合元素定性定量分析，使表面形貌与元素分析一一对应起来。复纳科技在金属材料的研究中，可以提供以下全面的解决方案：离子研磨仪对金属材料进行表面抛光或者截面切削处理飞纳电镜进行微观形貌及成分的分析飞纳 ParticleX 对金属夹杂物进行一键分析和归类原子层沉积包覆技术对金属粉末进行包覆改性铁镀层腐蚀后的高温合金

Phenom Pro_4飞纳地质领域扫描电子显微镜地质学是研究地球物质成分、内部构造、岩石圈层、古生物发展演化和矿产资源的学科，对了解地球，研究生物演化史、防治地质灾害都有重要意义。扫描电镜在矿物、化石的微观形貌研究、微观成分检测上有重要的应用，可以提供高清的矿物形貌、晶型照片以及定性半定量的微区成分。在矿物研究、古生物研究中，复纳科技可以在以下方面提供以下全面的行业解决方案：矿物粒度和富存状态分析页岩矿物形貌分析古生物化石微观分析矿产资源性能研究

Phenom ProX_2 飞纳电池领域扫描电子显微镜随着新能源汽车规模效益、单车带电量的提升，以及在政策的推动下，目前动力电池产能明显过剩，面临着高端产能不足，低端产能利用率过低的问题。因此，锂电材料的未来发展趋势将会再次变化，具有高能量密度优势的高镍三元系锂电池是主流，磷酸铁锂电池强势回归；人造石墨仍是主流技术，但是上升空间有限，硅碳材料将成为新的发展方向。电解质将减少有机溶剂的使用，并逐渐向全面固态方向发展。从原材料到生产过程，复纳科技可以提供以下全面的锂电行业解决方案：表面形貌观察成分分析内部结构观察安全把控原材料改性产品性能第六代 Phenom ProX 台式扫描电镜引入了全新一代操作系统，通过改进光路设计，将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升级，易于操作，元素分析更快速。在满足材料表面形貌和元素分析的基础上，还可以通过软件控制硬件，实现材料分析自动化。此外，用户可以通过特定的软件从 SEM 图像中快速提取样品特征信息，测量数据、统计图表可以根据选择的格式输出在报告里。产品参数放大倍数：350,000 X分辨率：优于 6 nm灯丝材料：优于 1500 小时 CeB6 灯丝抽真空时间：小于 15 秒探测器：背散射电子探测器、二次电子探测器、能谱探测器

Phenom Pro_3 高分子膜领域扫描电子显微镜高分子材料比较常见的有塑料、树脂和橡胶等，可广泛应用到生物医用、航天航空、电子电器等领域。我国高分子材料行业发展迅速，随着材料科学研究的不断深入，材料表征方法的不断进步，高分子材料正朝着高性能化，多功能化、绿色化以及智能化方向发展。制样设备离子研磨仪，结合飞纳电镜在研究高分子材料表面和内部形貌结构，成分等成为不可缺少的环节，从而在研究其强度，耐磨性，化学稳定性，耐腐蚀性，可降解、生物相容性等方面都有重要的指导作用。Phenom Pro 台式扫描电镜快速高效操作简单，可减轻落地式扫描电镜设备对普通样品进行常规分析的负担。无论是操作过电镜的人员还是未操作过电镜的人员，无需过多培训即可快速上手，得到高质量的成像结果。Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有拓展功能软件选件。并且，第六代 Phenom Pro 可以提供实时的背散射和二次电子混合图像，与之前的产品相比，第六代 Phenom Pro 台式扫描电镜将分辨率提高 20%，同时带来了更好的用户体验。在检测时可以进行更广泛的应用，包括对电子束敏感的样品。放大倍数：350,000 X分辨率：优于 6 nm灯丝材料：优于 1500 小时 CeB6 灯丝抽真空时间：小于 15 秒探测器：背散射电子探测器、二次电子探测器（可选）水凝胶（可动态观察）

飞纳台式扫描电子显微镜标准版 Pure 智能、高效、经济 放大倍数：175,000 分辨率：优于10nm电子枪：1500小时CeB6灯丝抽真空时间：10秒样品移动方式：自动马达样品台样品定位方式：光学和低倍电子双重导航样品导电性要求：无需喷金，直接观测绝缘体环境扫描选件（ESEM）：温控样品台，可直接观测液体可升级为Phenom Pro 专业版Phenom(飞纳) Pure（飞纳台式扫描电镜 标准版） 一款性能和价格介于光学显微镜和传统大电镜之间的经济型台式扫描电镜，可用于测量亚微米尺寸的样品。Phenom Pure 适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。表面细节丰富的高分辨率照片Phenom(飞纳) Pure 为您提供高信噪比、表面细节丰富的优质图像：分辨率优于 10 nm，大景深；传统电镜往往通过提高加速电压来产生更高的信号，同时由于穿透深度较深，导致表面细节缺失。低加速电压 电子穿透深度浅，避免样品被破坏，展现更多表面细节；探测背散射电子，展现清晰形貌结构的同时，提供丰富的成份信息；5kV 低加速电压下，电子反应区位于样品表面，配合高亮 CeB6 灯丝，既保证了分辨率，又得到样品表面的信息 CeB6 灯丝在样品表面单位面积内激发的信号约是钨灯丝的 10 倍，适合于低加速电压观测 表面形貌和成分信息同时展现背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom（飞纳）采用 4 分割半导体背散射电子探测器，为您提供两种成像模式，模式之间可迅速切换；成份模式：同时给出样品表面形貌与成份信息，不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨 形貌模式：去除成份信息，样品表面凹凸起伏等微观结构更加明晰，适用于表面粗糙度和缺陷分析成份模式 4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相叠加形貌模式 4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相抵消成份模式图像包含样品成份与形貌信息形貌模式图像仅突出样品表面形貌特征专利样品杯，30秒快速成像 Phenom（飞纳）专利样品杯、低真空设计、专利的真空封锁技术，装入样品后30秒内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的1/10左右。 直接观看绝缘体，无需喷金Phenom（飞纳）采用低真空技术，出射电子与空气分子碰撞产生正离子，正离子与样品表面累积的电子中和，有效抑制荷电效应的产生，直接观测各种不导电样品（如下图所示）。利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高8倍左右，而且不会影响灯丝寿命，下图头发示例： 操作简便，全程导航 &bull 自动/手动聚焦Phenom（飞纳）操作界面。通过点击右侧图标可以轻松完成图像缩放、聚焦、亮度对比度调节、旋转等操作。界面右侧显示光学导航和低倍SEM导航窗口，方便用户在不同样品、不同区域间进行切换。&bull 自动/手动亮度&bull 自动/手动对比度&bull 自动灯丝居中调节&bull 自动马达样品台&bull 光学/电子样品导航 光学导航，所有带观测样品尽在视野之中，高倍下准确切换样品，只需点击感兴趣样品，即可自动移动到屏幕中央低倍SEM照片导航，导航窗口中的彩色矩形框指示了住观测窗口的观测区域，点击感兴趣的区域，自动移动到样品中央 环境适应性高，完全防震Phenom（飞纳）可以放置在几乎所有的室内环境当中，无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计，震动不会引起三者间的相对运动，使Phenom成像不受震动影响，可放置在较高楼层。 互联网远程检测Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供全方位的保护，让您的Phenom随时处于最佳工作状态。 适用于不同领域的样品杯选件

公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。全自动薄片扫描显微镜、地质薄片显微镜、矿物分析显微镜、荧光显微镜、包裹体显微镜、生物显微镜、电动显微镜、超景深显微镜、体视显微镜、视频显微镜Mineral flakeScanning systemSD3000A矿物光薄片扫描系统公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。基于创立品牌和可持续发展的战略，麦特微愿与业内同行和广大用户一起成长，依托我们在产品资源和技术服务方面的突出优势，服务众多的客户在新技术、新方法、新仪器的应用中受益。品质优先：“质量产生效益，质量赢得市场”。产品质量在我们每一名麦特微人的心中。以质量诚信为荣，树立质量法制观念。“品质第一，客户至上”是我们的理念，让我们携手并进，共创繁荣。服务至上：真诚赢得信任，耐心获取理解；细节决定成败，服务创造价值。不只诚信服务，更是优良服务，不只优良服务，更要惊喜服务，不只惊喜服务，更要完美服务。科学技术：让科技行业带来我们的新生，让我们在科技中提升技术。依托科技与技术让技术更好的服务科技。让科技给技术提供原动力。主要优点1.扫描速度快，每秒3到4张照片的速度进行扫描。2.有全景预览相机，可以快速定位扫描区域，并可以多区域分割扫描。3.高精度Z轴，具备自动对焦功能，快速对焦，光栅闭环回馈，确保全片扫描无虚焦。4.进口核心偏光附件，确保偏光效果，效果不输于进口4大品牌。5.复消色差高分率物镜，确保颜色无偏差，显示更多细节。6.LED冷光源，使用寿命长，可在高亮度下持续工作。7.绿版扫描软件，可随意拷贝，不受限制。产品特点高质量的照明系统：极度明亮的大功率 LED 照明为明场、暗场、偏振光4500°K的恒定色温。它为所有亮度级提供了真正的彩色图像。由于 LED 寿命长、耗能低，因此节省能源的潜能极大。薄片（光片）数字化：将传统地质类薄片（光片）数字化，进行储存管理与分析，最终数据便于宏观与微观观察，脱离时间、空间限制。全自动高速成像：一键操作，自动扫描，搭载高速扫描台，高精度、高重复的Z轴对焦，内置光栅编码器，确保每个视场的对焦精度，图像质量优异。部件介绍本产品由扫描仪主机、控制箱、计算机、扫描及浏览软件组成。其中扫描仪主机的配置包括：显微镜 （含机架、物镜、目镜、光源等） 、电动 XY 平台、电动 Z 轴、相机、 物镜转换器、全局预览模块。 技术参数此段文字只用作占位符，您可以根据您的实际情况，添加、修改、替换此段文字的文本内容，语言描述尽量简洁精炼。文档由稻壳儿耗崽原创设计。主机 高钢性的T形镜体结构，极高的稳定性及系统灵活性。光学系统 光学系统无限远色差校正光学系统。三目镜筒 三档分光（100:0/50%-50%/0:100）,高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，视度可调。机架 低手位粗微同轴调焦机构。最大行程30mm 微调精度1微米。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-220V 宽电压系统, 双路电源输出，采用数字调光，具有光强强度显示、透射光切换开关, 内置透射光滤色镜。载物台 步进电机XY平台，行程：80 mm （X轴）x 60 mm （Y轴），最小细分：0,05 μm，单向重复定位精度：≤ 1um（测试标准ISO230-2）电动Z轴 分辨率： 0.02 um，内置光栅编码器，光电限位开关，单向重复精度≤ 0.1 μm聚光镜 阿贝聚光镜NA0.9 上下可升降 可调孔径光阑物镜 复消色差高分辨率APO物镜：10X/0.42 20X/0.75灯室 科勒式高亮度LED照明，透、反射通用，预定中心相机 快门模式：全局快门；Sony芯片，35.7fps@2448 × 2048；动态范围75dB； USB3.0（USB3.1 GEN1）数据传输图像处理器处理器：i7；内存：32G 硬盘：256SDD+2T；显卡：独立 4G；显示器： 27寸产品衍生业务本产品可以衍生的显微镜应用，显微清洁度，显微阴极发光，显微热台 该系统能自动识别、并判定杂质的三种类型：金属颗粒、非金属颗粒、纤维。 能自动计算金属颗粒、非金属颗粒的数量并按长度等级依据ISO16232进行归类和判定等级，和计算滤膜上纤维的总长度。 该系统还能自动测量并计算出单个颗粒的长度、宽度等尺寸。 具备能够通过自动调整偏振光的硬件支持功能准确区分金属和非金属颗粒，能够将金属和非金属颗粒区分正确以便有标准的数据依据进行判定阴极发光是由电子束轰击样品时产生的可见光，不同矿物由于含有不同的激活剂元素而产生不同的阴极发光，用来激发并产生阴极发光的装置叫做阴极发光装置，把这种阴极发光装置装在显微镜上则成为阴极发光显微镜。阴极发光显微镜可以广泛地应用于岩石、矿物的鉴定以及成岩作用的研究。 业务三 简称热台。根据不同用途，热台有多种型号。有可安装在偏光显微镜 ，金相显微镜的载物台 上的，有直接取代载物台的，一般用电阻丝作为加热元件，用热电偶 测量样品加热温度。温度范围由室温至750℃，高者达2000℃左右，低者达-55℃，可用于测定矿物中各种包裹体 的均匀化温度，以确定矿物 或矿床 形成时的温度和压力。用于双变油浸法 中测定矿物的折射率；也可测定矿物脱水时的温度；测定矿物多形结构的转变温度；观察加热时矿物光性的变化等产品拍摄样片

对于失效分析、质量控制和材料表征而言、Q25是最经济、最高效的高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、Q25可以让用户迅速得到他们所需的数据。 为应对不导电样品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了对专用的样品制备步骤或者附加的样品镀膜仪的需求。Q25样品室的设计和真空系统能够快速更换样品、允许日常高效、快速检测样品。 为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另外、Q45加上了环境扫描（ESEM）模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。为应对研究宽范围的材料及结构及成分表征的需求，FEI Q45 SEM为应对当今的宽范围研究需求的挑战提供了灵活性和多功能。观察任何样品和获得所有数据：表面和成分像可以和附件结合起来确定材料的性能和元素组成 优点在所有的操作模式下可以用SE或BSE图像表征导电或不导电样品。样品制备工作最少化；低真空和环境扫描模式实现了无荷电成像及不导电样品和/或含水样品的分析增加了除导电样品之外的非导电样品的分析能力，利用多级穿过透镜的抽气系统在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。 利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。 快速轻松表征导电和非导电样品 在所有的操作模式下可以用SE或BSE图像表征导电或不导电样品。样品制备工作最少化；低真空和环境扫描模式实现了无荷电成像及不导电样品和/或含水样品的分析支持可选的分析功能。利用独有的多级穿过透镜的真空系统在高真空和低真空下使导电样品和不导电样品的精确EDS分析成为可能。 Q45 SEM: 采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。分辨率加速电压探针电流 样品台放大率试件室尺寸Q25 SEMHigh vacuum 3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30 kV (BSE)*8.0 nm at 3 kV (SE)Low vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30k V (BSE)*10 nm at 3 kV (SE)*optional200 V - 30 kVup to 2 μA, continuously adjusted13 to 1000000x284 mm size left to rightQ45 SEMHigh vacuum 3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30 kV (BSE)*8.0 nm at 3 kV (SE)High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*) Low vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30k V (BSE)*10 nm at 3 kV (SE)Extended vacuum mode (ESEM)3.0 nm at 30 kV (SE) *optional200 V - 30 kV 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

Phenom Pro_2生物领域扫描电子显微镜生命科学是研究生命现象、生命活动的本质、特征和发生、发展规律，以及各种生物之间和生物与环境之间相互关系的科学。由于该领域的多样化，其研究所用到的设备也是相当广泛。扫描电镜（SEM）作为这些类型的设备之一，通过观察组织或器官结构，可以了解到可能的改变和疾病。Phenom Pro 台式扫描电镜快速高效操作简单，可减轻落地式扫描电镜设备对普通样品进行常规分析的负担。无论是操作过电镜的人员还是未操作过电镜的人员，无需过多培训即可快速上手，得到高质量的成像结果。Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有拓展功能软件选件。并且，第六代 Phenom Pro 可以提供实时的背散射和二次电子混合图像，与之前的产品相比，第六代 Phenom Pro 台式扫描电镜将分辨率提高 20%，同时带来了更好的用户体验。在检测时可以进行更广泛的应用，包括对电子束敏感的样品。珊瑚内孔表面杆菌

【实验箱配件列表】 1. 教学型扫描隧道显微镜，包括：(1)STM扫描头；(2)具有10倍放大镜的屏蔽罩；(3)大理石隔震台；(4)电子控制器；(5)USB线和电源线。 2. 工具盒：扁嘴钳子、剪刀、尖口镊子、样品支架、铂铱丝（Pt-Ir）金属探针等。 3. 软件安装盘。【特点】 ● 一体化精致设计，安装简单，携带方便 ● 操作步骤简单，适于中学或大学教学 ● 在普通实验环境下便可快速获得原子图像 ● 低电压操作，确保实验安全 ● 功能强大的图像处理、数据 分析软件，可观测三维原子图像【应用】 ● 多学科教学：物理、化学、纳米科技等 ● 观测原子、分子等微观粒子，认识纳米尺度下的微观图像 ● 可分区导体和非导体 ● 可拓展：实现纳米操纵和刻蚀，操纵微观粒子【主要技术指标】

飞纳台式扫描电镜1997年FEI和飞利浦电子光学宣布合并其全球业务2008年台式扫描电子显微镜飞纳(Phenom)进入中国市场2012年飞纳(Phenom）台式扫描电镜全球销最突破2000台2013年飞纳（Phenom)发布第三代台式扫描电镜，放大倍数10万倍，分辨率优于8nm 飞纳(Phenom)主要特点一长寿命/高亮度/低色差CeB6灯丝一表面细节丰富的高质量图片一内置彩色光学显微镜一自动马达样品台一30秒快速成像，操作简单一光学与低倍电子双重导航一防震设计，对放置环境无牛条殊要求一样品仓低真空技术，直接观测绝缘体，}c需喷金一四分割高灵敏度背散射电子探头，兼得样品表面 形貌与成份信息

仪器简介：在以下方面，easyScan 2扫描隧道显微镜是最理想的工具 在石墨上用易完成的原子分辨率进行非常高分辨率测量 轻松进入纳米世界 大气环境中日常的实验室工作 瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1. 扫描隧道显微镜扫描头 最大扫描范围： X和Y方向0.5um x 0.5um（可以选择1um x 1um） xy轴分辨率： 0.015nm 最大扫描范围： Z方向200nm z轴分辨率： 0.003nm 扫描速度： 每128个数据点，60ms/line 槽压： 5 mV 阶段时，± 10 V 设定点电流： 25 pA阶段时，± 100 nA 反馈回路宽带： 3kHz 自动接近样品 没有使用危险的高电压 包括高效减幅阶段 用0.25 mm的 Pt/Ir 金属丝作为扫描尖端 2. 扫描隧道显微镜电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 附加的独立的12位的ADC输入选件 外部电源 可以升级运行AFM扫描仪3. 扫描隧道显微镜软件 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，3维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 多用光谱功能 I-V和I-z曲线测量4. 扫描隧道显微镜可利用的附件和消耗品 覆盖10倍放大高质量光学镜的透明层 全部的STM工具（刀具，钳子，镊子） 提供STM原理信息手册 样品：HOPG，Gold 薄膜，MoS2 云母片上的取向薄膜Gold (111) 接触样品的银粉漆 Pt/Ir STM金属丝(直径为0.25mm)主要特点：可以在大气下进行任何STM实验设计小巧、紧凑；使用简便、舒适扫描仪配置了易接近和可视扫描端自动接近样品所有的功能可以在一台计算机上进行与标准计算机串行端口连接（不需要接界面卡）特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度

飞纳台式扫描电子显微镜专业版Pro快速高效操作简单，可减轻落地式扫描电镜设备对普通样品进行常规分析的负担。无论是操作过电镜的人员还是未操作过电镜的人员，无需过多培训即可快速上手，得到高质量的成像结果。Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有拓展功能软件选件。并且，第六代 Phenom Pro 可以提供实时的背散射和二次电子混合图像，与之前的产品相比，第六代 Phenom Pro 台式扫描电镜将分辨率提高 20%，同时带来了更好的用户体验。在检测时可以进行更广泛的应用，包括对电子束敏感的样品。放大倍数：350,000 X分辨率：优于 6 nm灯丝材料：优于 1500 小时 CeB6 灯丝抽真空时间：小于 15 秒探测器：背散射电子探测器、二次电子探测器（可选）

一、产品概述：扫描隧道显微镜（STM）是一种高分辨率的表面分析工具，能够以原子级别观察和操纵材料表面的结构和电子特性。该仪器利用量子隧穿效应，通过探针与样品表面之间的电流变化实现高精度成像，广泛应用于纳米技术、材料科学和表面物理等领域。二、设备用途/原理：设备用途扫描隧道显微镜主要用于研究材料表面形貌、电子性质和原子结构。工程师和科学家可以利用该仪器进行纳米级别的表面分析、缺陷检测和材料特性评估，以推动新材料的开发和应用。工作原理扫描隧道显微镜通过将一个极细的探针靠近样品表面，利用量子隧穿效应来测量探针与样品之间的电流。探针在样品表面上进行扫描时，仪器实时记录电流的变化，从而生成表面的三维图像。通过调节探针与样品之间的距离，STM能够获得高分辨率的表面结构信息，甚至可以操控单个原子，实现精细的纳米操作和研究。三、主要技术指标：1. 自 1996 年推出以来，我们的低温 STM 已经为 LHE4 浴室冷冻器 STM 的稳定性、性能和生产率设定了标准。 在推出 LT STM 超过 20 年之后，低温 SPM 技术在广泛的活跃科学域的重要性仍然没有突破。2. 分子光谱学、原子操纵、碳、超导体、半导体、金属上的气体和磁性学，只是研究充分利用低温 SPM 的几个例子。 在所有这些域，我们的 LT STM 出版物比所有其他商业低温 SPM 的合并要多。3. 近年来，这些出版物突出了 LT STM 提供的行业先 QPlus® AFM 性能。 随着我们继续推出新的 STM 平台表格，Scienta Omicron 也很高兴地宣布推出新的第三代仪器，进一步提高了 LT STM 的性能和生产力。4. 第三代的一个关键特征是液态氦保持时间增加 30%。 这对于所有低温实验都有很大的优势，降低了运行成本，并为用户提供了更多的灵活性。 新型低温器设计可实现长期光谱实验，而不会影响 LT STM 始终提供的稳定性。

Phenom Pro_6石油煤炭领域扫描电子显微镜石油化工产业是国家的重要支柱产业，从石化原料的开采、炼制到石化产品的生成加工，每一步都与国防、国民经济和人民生活息息相关。随着石油资源的消耗，油气开采重点也转移到了页岩油方向，高质量的压裂支撑剂可以提供更好的油气渗透率，实现油气增产。绿色低碳的发展理念也促使相关企业展开高效环保的石化催化剂、高附加值、高性能石化产品的研制。在石化产品的开采、炼制、生成过程中，复纳科技可以提供以下全面的石油石化行业解决方案：石化产品形貌分析石化产品成分分析压裂支撑剂显微分析岩芯微孔分析石化催化剂分析页岩

飞纳台式扫描电镜 Phenom 标准金相样品杯的主体设计与标准样品杯相同，但金相样品杯是专门用来装载镶嵌样品的。是冶金类样品和样品杯插件的首选方案。金相杯可以选配两种插件，从而更快速制备样品。独特的样品杯理念 包埋、切割和抛光是显微成像中制备平整样品的一种常用技术。 通常这种样品要包埋在树脂中，并且有几种标准的尺寸。 使用 Phenom XL 电镜上的标准样品杯，通常支持拓展三种金 相样品插件。这意味着该样品杯可以容纳大多数尺寸的镶嵌样 品。 金相样品插件具备众多独特优点。样品固定方法简单直接，所有 样品具有相同工作距离，批量能谱分析非常方便。 在做能谱定量分析时，镶嵌样品的表面要尽可能水平。然而，样 品底面却往往是十分粗糙。若没有这些插件，装载这种样品时， 上表面不在同一水平面上，这势必会影响能谱定量结果。 利用这些插件，样品底面不会接触到样品杯表面。在插件内部， 镶嵌样品的上表面可以精确的固定在同一高度的平面上，可以同 时获得高分辨图像和能谱结果。 金相样品插件有三种型号，能装载 25 mm (1英寸)，32 mm (1.25英寸) 和 40 mm (1.5英寸) 标准尺寸样品。含有内六角扳 手用于样品固定。最大样品尺寸：直径 32 mm；高 30 mm 金相样品杯金相试样 放样

InspectTM系列满足传统高分辨率样品研究所需的一切，简单易用的 InspectTM 专为满足研究各类材料以及表征材料结构和成分的主流需求而设计，配备高稳定分辨率平台，可满足大多数研究的需要。简单易用的界面可实现准确、快速的数据收集：将表面形貌和成分图像与快速元素分析结合，确定材料特性及其化学元素组成。在众多领域，高分辨率和高电流 FEG 扫描电镜的价值在于有助应对生成高品质图像和实施快速分析的挑战。Inspect系列是这些基础研究应用领域主流而灵活的解决方案。用户界面简单、易学且灵活，足以应对复杂环境内不同项目个别研究需求不同的挑战。例如，标准导航功能包括样品台移动双击控制和拖放变焦。SmartSCANTM技术采用针对困难样品的智能扫描策略，可减少噪声，提供zui优质的数据。该仪器系列的设计源于显微镜工作者，并用于显微镜工作者，是一款真正超越仅有“易用性”的产品。许多可用的新功能有助定制 InspectTM系列使其可实现特定的表征。诸如射束减速等新功能可将传统 FEG 扫描电镜的低加速电压性能提升至全新的高度。Nav-Cam&trade 彩色图像导航和新探测器令 InspectTM系列 具备更大的灵活性。更优质的数据、更大的灵活性、更高的效率，InspectTM 可实现快速简单的操作，迅速获知答案，实现投资价值。

显微镜物镜扫描仪高精度亚纳米物镜扫描台/定位台！上海昊量推出的物镜扫描台采用压电陶瓷直推，以柔性铰链为导向使物镜扫描台具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点，采用硅位移传感器，物镜扫描台相比于传统的电容式位移传感器，物镜扫描台硅传感器使平移台拥有更高的精度和线性度以及较低的底噪。物镜扫描台的精度可以达到亚纳米，底噪低至10pm。上海昊量光电设备有限公司推出的压电平移台旨在满足超精密定位应用的需求。该平移台采用压电陶瓷驱动，以柔性铰链为导向使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。采用硅高精度位移传感器，与电容位移传感器相比拥有更高的精度、线性度和低底噪。由于其具有较高的精度、线性度和较低的底噪等优点，被广泛的应用于超分辨率显微镜，光学捕获和原子力显微镜等领域。AU-FOCHS采用管状设计，专门用于显微镜物镜快速高精度定位。该物镜扫描台可提供行程可达到100μm，精度可达到0.1 nm，谐振频率可达到1175Hz。它由铝、钢和黄铜构成，配备硅传感器，可提供皮米级的稳定性。以上优点使其拥有广泛的应用，例如，激光加工、显微成像、体容积成像，等还可以与相机系统结合使用实现自动对焦。AU-FOC是一款专门用于显微镜物镜准确定位的设备。该物镜扫描台可提供100/200/300/500μm不同行程。该物镜扫描台由铝和黄铜构成，结合硅传感器可提供皮米量级的稳定性。以上两款物镜扫描台的黄铜安装环可以轻松更换，因此几乎所有的物镜都可以与这两款物镜扫描台结合使用。可用的物镜大小有RMS, M25, M26, M27 和 M32.显微镜物镜扫描台产品特点：l 高分辨率（0.01nm）l 高速度，谐振频率可达1175Hzl 采用硅传感技术l 超低底噪l 柔性铰链导向显微镜物镜扫描台主要应用：l 自动聚焦系统l 共焦显微镜l 3D成像l 超分辨显微镜l 半导体计量学 显微镜物镜扫描台产品参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

仪器简介：我们的创新NANONICS IMAGING LTD.一直是扫描探针显微镜（SPM）领域中将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)技术完美结合的领头羊之一。公司成立于1997年，在过去的十年里我们将新的概念应用到SPM系统中从而开拓了SPM市场领域一个新的视角。 Nanonics使用悬臂近场光学探针为业内提供了近场光学成像；同时也引入了双探针技术、样品扫描AFM系统；提供近场光学（NSOM）/原子力显微镜（AFM）低温系统，Raman-AFM系统，多探针AFM系统和扫描电镜（SEM）/AFM系统。NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一，其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统推动下，今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借实力和品质，其产品涉足的领域从科研到工业，从生物学到半导体，从化学制品到无线电通讯，应用范围极其广泛。 我们的理念 提供SPM，近场光学和显微镜整合方案 Nanonics 致力于制造世界级领先的SPM仪器，我们将SPM技术和其它显微镜表征技术整合在一起。在纳米科技表征技术领域中，为用户提供一个开放并极具潜力的SPM表征技术平台。 我们的技术作为一家商业公司，我们有着自己独特的技术优势。我们能提供大量种类齐全的纳米探针。包括专利的悬臂近场光学（NSOM）探针到热学，电学探针。这些外露光学探针的运用结合具有专利保护的3D平面扫描技术为我们的系统提供了一个广阔开放的光学平台 这是我们能够将AFM技术和其它显微镜表征技术完美结合的重要原因。 我们的团队 我们拥有一支世界级的专家团队为我们提供创新技术和高性能的产品。在过去的十年里我们拥有40多名员工并且组建了SPM专家和科学家团队。 团队直接由近场光学奠基人之一的Aaron Lewis 教授带领十五名科学家为全球客户提供以SPM为平台的产品和技术支持。 我的技术服务我们致力于提供客户高性能的业内领先级产品和高附加值的技术支持。从系统安装开始，我们就区别于其它竞争对手，为你提供高素质的技术专家安装设备，提供SPM技术领域的专家指导。通过一对一的与客户沟通帮助客户使用仪器。Nanonics在业内已经有一大批客户并且客户通过使用我们的仪器发表了不少好的文章。这些客户和客户的成绩也同样见证了我们为客户提供了的完整的SPM和其他表征整合方案和技术支持。**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： * 透射模式成像 样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；* 反射模式成像 样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；* 收集模式成像 样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；* 照明收集模式成像 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数：原子力扫描表征-接触模式（可选）-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射，反射，收集，激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体，使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射，例如应变硅纳米刻蚀-纳米笔 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等，并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强，通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 （3D 扫描台&trade ）-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台（3D 扫描台&trade ）模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位： XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位：-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈（标准）-激光反射反馈（可选）常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品：例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针，针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率；50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米（RMS）-XY 横向分辨率：根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高，要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 C-测量阻值改变速率为0.38 C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学，共聚焦光学，近场，微区拉曼，扫描电子显微镜（SEM）或者聚焦离子束（FIB）整合优势 -样品扫描台上下光路开阔，可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将所有形式的光学显微镜整合在一起，包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了所有标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有所有常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置，下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描，无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT， APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点： 独有的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试，光纤探针各自独立控制，可以同时分别、独立进行如滴液、加压，电学，热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔，可以将上，下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上，在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描，光学测量，力学测量，热学电学测量等测试手段，节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换，不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是目前市场上的优势技术，并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作，即可以探针不动，样品移动；或者样品不动，探针移动，其它厂家无法提供这种独特的扫描方式。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高，Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台，XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式，在所有AFM 电镜中是独一无二的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈，具有噪音大，调试困难，受干涉情况；尤其在液体中或者做光学测试的时候，例如近场光学，AFM-Raman测试中，容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病，安装简单，结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道，光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型，用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针，也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针，提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um，非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌，而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道，可同时和正置与倒置显微镜配合使用，实现透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics独有的）等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能，这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性，可与任何拉曼光谱仪整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描，拉曼Mapping，自动共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman，并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台，AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品，这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术，与其他涂层探针相比，不会因在长时间使用后，受到激光影响而脱落，更为稳定，效率更高。配合独特的扫描台设计，可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其它厂家不具备的特点。

仪器简介：Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台，马达驱动 ● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统， XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发

**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： * 透射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；* 反射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；* 收集模式成像&mdash &mdash 样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；* 照明收集模式成像&mdash &mdash 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数：原子力扫描表征-接触模式（可选）-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射，反射，收集，激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体，使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射，例如应变硅纳米刻蚀-纳米&ldquo 笔&rdquo 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等，并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强，通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 （3D 扫描台&trade ）-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台（3D 扫描台&trade ）模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位： XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位：-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈（标准）-激光反射反馈（可选）常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品：例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针，针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率；50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米（RMS）-XY 横向分辨率：根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高，要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 º C-测量阻值改变速率为0.38 &Omega /º C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学，共聚焦光学，近场，微区拉曼，扫描电子显微镜（SEM）或者聚焦离子束（FIB）整合优势 -样品扫描台上下光路开阔，可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将多形式的光学显微镜整合在一起，包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了多种标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有多种常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置，下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描，无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT， APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点： 独特的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试，光纤探针各自独立控制，可以同时分别、独立进行如滴液、加压，电学，热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔，可以将上，下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上，在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描，光学测量，力学测量，热学电学测量等测试手段，节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换，不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是优势技术，并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作，即可以探针不动，样品移动；或者样品不动，探针移动。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高，Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台，XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式，在所有AFM 电镜中是独特的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈，具有噪音大，调试困难，受干涉情况；尤其在液体中或者做光学测试的时候，例如近场光学，AFM-Raman测试中，容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病，安装简单，结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道，光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型，用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针，也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针，提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um，非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌，而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道，可同时和正置与倒置显微镜配合使用，实现透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics独有的）等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能，这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性，可与拉曼光谱仪整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描，拉曼Mapping，自动共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman，并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台，AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品，这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术，与其他涂层探针相比，不会因在长时间使用后，受到激光影响而脱落，更为稳定，效率更高。配合独特的扫描台设计，可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其独特功能。

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um 扫描范围：90× 90× 9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：&le 0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

低温超高真空扫描隧道显微镜STM（Ultrascan LT-100）扫描探针显微镜（STM）为代表的超高真空设备广泛应用于科学研究中，主要进行对表面有关或者在表面发生的所有物理化学现象进行原子尺度的研究。卓聚创新研发的超高真空低温（4K）STM系统包含关键技术如压电陶瓷步进马达、低温STM探头、超真空液氦双层杜瓦等。 应用案例检测样品表面形貌,成功获取原子级分辨率选取B级高定向热解石墨为样品，常温常压下，本底噪音低于500pA。可以清晰地得到石墨表面的台阶和有序排列的碳原子。低温超高真空扫描隧道显微镜STM参数探头类型潘式6足压电陶瓷结构，以惯性滑移的方式进行粗逼近压电陶瓷团队自研的低温技术，在4K下仍可达成快速逼近，典型粗逼近耗时10min真空度快速进样室 1.5×10 -4mbar制备室 3.0×10 -10mbar分析室 3.0×10 -10mabr扫描范围室温5×5μm77K1×1μm4K0.6×0.6μm分辨率横向0.1?纵向0.01?热漂移率常规0.2pm/h优化后0.1pm/h系统噪音水平电子学噪音 500fA机械噪音 2pm针尖 – 样本样本针尖可随时更换，间距可调范围达10mm，方便进行原位的蒸发或者增加其他的特殊功能机构 研发推出的超高真空低温扫描探针显微镜系列产品，除了高性能STM、调频AFM、TERS等设备外，还可将核心部件模块化，集成化，针对科研用户，定制开发所需功能和设备。目前国内此领域尚无成型商业产品，研发团队形成品牌的形象，在行业内具有很强的竞争力，是应用于科研前沿材料的表征。 以上就是东莞市卓聚科技有限公司提供的低温超高真空扫描隧道显微镜STM的介绍，了解更多直接咨询：原文： 随着微电子、纳米科技和人工智能等领域的进一步发展，精密定位不仅在实验室用途广泛，工业界的应用也越来越多。该团队在以往研究基础上，发展出一系列具有自主知识产权的超精密定位产品，填补了国产空白。一个火柴盒大小、外壳包覆金属的小方块，通过电压控制能够实现纳米级别的精密位移，可以用于对精密度要求超.高的科学实验、精密制造和半导体工业等领域。日前，在松山湖材料实验室高.端科研设备产业化团队的实验室内，团队负责人许智展示了该团队拥有核心技术的压电驱动纳米位移台。

Park NX12 SECCM可提供多功能原子力显微镜平台满足纳米级测量的需求- 原子力显微镜（AFM)有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。- 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描电化学池显微镜和扫描离子电导电显微镜。- 倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台，Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明，不透明，或软或硬的样品。电化学测试的绝佳平台电池，燃料电池，传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域，然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计，为快速操作提供便利，从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括：多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用NX12平台实现各种电化学应用：扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜（EC-AFM）和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)多用户设备Park NX12完全重新构建，以适应多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性，难以满足该设备中用户的多重需求，很难合理控制设备成本。然而，Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像，液体扫描探针显微镜，光学和纳米光学成像，使其成为最灵活的原子力显微镜之一。多功能应用Park NX12功能广泛，包括液体中的PinPoint &trade 和纳米力学，倒置光学显微镜定位透明样品，离子电导显微镜超软样品成像，以及改善透明样品光学性能的可视性。综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整解决方案，使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计不仅安装简单且兼容性强，可以满足研究人员的各种实验需求。Park NX12可用于任何一个项目NX系列的众多扫描模式和模块化设计使它可轻松地适应任何一个扫描探针显微镜的需求。- 标准成像非接触模式成像接触模式成像侧向力显微镜（LFM)相位成像轻敲模式成像-化学性能扫描电化学池显微镜（SECCM)扫描电化学显微镜 （SECM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)功能化探针的化学力显微镜扫描离子电导显微镜（SICM）-热性能扫描热感显微镜(SThM)

教学型金相荧光共聚焦显微系统是杭州柏纳推出的高性价比荧光共聚焦显微镜，可实现宽场荧光成像， 荧光共聚焦成像，金相共聚焦成像等功能，不仅可以观察固定的细胞、组织切片，还可以对活细胞的结构、分子、离子进行实时动态观察和检测。高性价比更可用于显微系统的实验教学。主要特点：l 宽场模式和共焦模式可切换；l 高性价比：单通道荧光成像，可自行更换光源l 光路可视化l 单层实时扫描成像、单层连续扫描成像、三维层析扫描成像；l 高分辨率：XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nml 可选配细胞样本和荧光颗粒主要应用：1. 物理光学专业实验教学：激光共聚焦显微镜原理、光路结构；显微镜宽场模式与共聚焦模式的区别；荧光特性研究；2. 生物医学专业实验教学：细胞形态学分析，三维图像重组；细胞、亚细胞结构观察定位；活细胞实时动态监测；荧光漂白实验等。主要参数：教学型金相荧光共聚焦显微系统激光光源标配：488纳米（10mW）；选配：405 纳米（10mW）；638 纳米（10mW）； 模拟/TTL电平调制； 强度可调（0-100%）； 单模光纤，FC/PC 连接器。分辨率XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nm扫描参数双轴XY高速光学扫描振镜 扫描像素：4096 x 4096；扫描速度： 4fps（512 x 512）扫描模式XY，XYT、XYZ（FPP （固定像素和 扫描层）模式，FSP （固定扫描范围）模式）针孔选择电动针孔，无极变速，调节范围0-1mm，可控精度1umXY平移台手动XY平移台：25 × 25 mm，最小步进：1μm电控Z轴：最小步进：20nm物镜10X，40X，100x 软件功能单层实时扫描成像、单层连续扫描成像、三维层析扫描成像相机实时监测Z轴调焦图像轮廓曲线标定，图像画面调整，图像打开保存等功能

高速扫描电子显微镜HEM6000是一款先进的分析仪器，它结合了高速扫描技术和高分辨率成像能力，为用户提供了一个强大的工具来观察和分析各种样品的微观结构。该产品采用了最新的电子光学系统，能够实现纳米级别的表面分析，适用于材料科学、生物学、半导体工业等多个领域的研究和质量控制。HEM6000具备以下特点：1. 高速扫描：采用最新的扫描技术，能够快速完成大面积样品的扫描，大幅提高工作效率。2. 高分辨率：提供卓越的图像分辨率，即使在高倍放大下也能清晰地观察样品的细节。3. 易于操作：配备直观的用户界面和自动化功能，使得操作简便，即使是初学者也能快速上手。4. 多功能应用：适用于多种样品类型，包括但不限于金属、陶瓷、聚合物、生物组织等。5. 高性能数据处理：内置先进的数据处理软件，能够对扫描结果进行快速分析和处理。6. 稳定可靠：采用高稳定性的设计，确保长时间运行的可靠性。HEM6000电子显微镜是科研人员和工程师在材料分析、质量检测等领域不可或缺的高端设备。当然，以下是对HEM6000产品介绍的进一步扩展：7. **卓越的能谱分析能力**：HEM6000不仅提供出色的形貌成像，还集成了能谱分析（EDS）功能，能够在观察样品形貌的同时，进行元素成分及分布的分析。这为用户提供了更全面的样品信息，助力深入研究和理解材料的微观结构与性能之间的关系。8. **高级样品台设计**：为了满足不同样品的观察需求，HEM6000配备了高级样品台，支持五轴精密移动和倾斜，以及多种样品夹持方式。这种设计使得用户可以灵活调整样品位置，轻松捕捉到感兴趣区域的最佳图像。9. **环境扫描功能**（如适用）：部分HEM6000型号可能还具备环境扫描功能，允许在接近大气压或特定气体环境下对样品进行观察。这对于需要保持样品原始状态或进行原位反应观察的研究尤为重要。10. **远程控制与协作**：HEM6000支持远程控制和数据共享功能，用户可以通过网络连接，远程操作显微镜并实时查看图像数据。这不仅提高了设备的利用率，还促进了科研团队之间的协作与交流。11. **定制化解决方案**：金山办公与合作伙伴致力于为用户提供定制化的解决方案。根据用户的具体需求，我们可以对HEM6000进行个性化配置，包括但不限于软件升级、附件添加、特殊样品台设计等，以确保设备能够最大限度地满足用户的科研需求。12. **完善的售后服务**：我们提供全面的售后服务支持，包括设备安装调试、操作培训、定期维护以及快速响应的技术支持等。我们致力于确保用户在使用HEM6000过程中得到最佳的支持和体验。综上所述，高速扫描电子显微镜HEM6000是一款集高性能、多功能性、易用性和可靠性于一身的先进分析仪器。它将在科研和工业领域发挥重要作用，助力用户探索微观世界的奥秘并推动科技进步。

n主要用途：测试被测半导体或者材料领域产品的内部缺陷，如空洞、分层、裂缝、异物等；n优势简介：超声扫描显微镜在失效分析中的优势简介- 液体浸入式扫描超声显微镜，带转动，旋转，倾斜工作台- 主要用于金属零部件检测- 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构- 可分层扫描、多层扫描- 噪声低，成像质量高- 可用于测量HIC内部缺陷的位置与尺寸大小 (Hydro Induced Crack)- 可显示材料内部的三维图像- 定制系统：可根据需要定制液体池，扫描范围等- 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）n产品特色SAM-SPICA是一款主要用于金属材料缺陷检测高性能声学显微镜，可以对金属材料，塑封集成电路IC、IGBT大功率模组，各型电容、以及铜基板器件进行无损检测，分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机，扫描速度快，同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式，如点扫描(A-)、纵剖扫描（B-）、横剖扫描（C-）、多层横剖扫描(X-）等。n主要参数 - 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz - A/D 换能器：500MHz 取样频率, 1GHz带宽 - XY方向扫描速度：1000mm/s - XY方向重复定位精度：±0.5μm - 其余参数都可以定制n产品应用金属方向：Steel, Nonferrous Metal Materials, Founding Materials, Forging, Weld Zone半导体材料方向 : ITO Target, Wafer, Pipe, Plate, Bar, complex Material, Piston test, Flaw detection in Planting, Car Engine, Weld zone

同类AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova扫描探针显微镜（SPM）具有很高的分辨率，实用性强，从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套简易的装置，仪器成本合理，适用于科学研究。Innova具有的闭环扫描线性化系统，测量准确性，而且维持噪音水平接近开环的低噪音水平。 使用Innova检测样品时，从亚微米级的小尺寸样品到90微米的大尺寸样品，都可进行实验操作，且获得原子级分辨率，测量不同尺寸样品无需更换扫描器等硬件；替换探针或样品等操作简便易行；集成化高分辨率彩色光学系统和可编程自动化Z轴调节系统，可快速简易地定位到待测区域聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，数据存储，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，食品、化学品、护肤品的加工/包装，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，陶瓷工艺，薄膜性能表征，地质、能源、环境等领域高分辨率 Innova的机电设计，包括带有短机械路径和低热漂移的坚固显微镜平台，超低噪音电子器件，都做了优化，具有高分辨率和闭环扫描的组合。利用的超低噪音数字闭环线性化扫描，不管扫描尺寸，偏移量，扫描速度或扫描角度的旋转如何设置，对样品均可准确测量，高分辨成像。性能 Innova 机电设计的方面，包括从带有短机械路径和低温度漂移的坚固显微镜平台到超低噪音电子器件，都做了优化，得到高分辨率性能和闭环扫描的组合。 Innova利用的超低噪音数字闭环线性化扫描，达到对尺寸均可准确测量，而不管扫描尺寸，偏移量，扫描速度或扫描角度的旋转如何设置。在90微米到亚微米级成像范围内均可获得高质量图像，并且闭环噪音水平接近开环噪音水平。另外，闭环线性化扫描可以在线启动或关闭。这个惊人的灵活性允许其对全尺寸扫描的任意一部分进行放大至原子分辨率扫描，而不用更换扫描器，且无需从测量表面抬起探针。图像的旋转，图像在成像窗口的位置以及扫描速度都不会影响成像结果。行业应用：您的应用是什么—Innova都已准备好：• 材料科学• 纳米刻蚀• 生命科学• 聚合物• 器件表征

超声波扫描显微镜品牌：JIONSUN型号：UTScan400产品简介：扫描显微镜是一种利用传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查元器件、材料、晶圆等样品内部的分层、空洞、裂缝等缺陷。超声波扫描显微镜是一种实用性极强的无损检测工具。该产品主要利用高频的超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能。因此，被广泛应用于半导体器件及封装检测、材料检测、IGBT功率模组产品检测等场合。应用领域：■ 半导体器件及封装检测：分立器件（IGBT/SiC）、陶瓷基板、塑封IC、光电器件、微波功率器件、MEMS器件、倒装芯片、堆叠Stacked Die、MCM多芯片模块等。■ 材料检测：陶瓷、玻璃、金属、塑料、焊接件、水冷散热器等。■ IGBT功率模组产品检测：实现 IGBT 模块内部界面和结构缺陷的无损检测，在进行功率循环后，通过SAM测试，准确找到 IGBT 模块材料、焊料层，打线等工艺中出现的问题，筛选不合格产品，并促进 IGBT 模块的封装质量提升。