室温霍尔效应扫描探针显微镜

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室温霍尔效应扫描探针显微镜相关的厂商

  • 中科艾科米(北京)科技有限公司坐落于北京怀柔科学城,是一家专注于超高真空扫描探针显微镜(SPM)系统及相关部件的研发、设计及生产的公司。团队在相关领域的科学研究及科研仪器设备的研制方面具有十多年的技术积累和扎实的基础,掌握目标仪器装备的多项核心技术和专利,具有自主知识产权。公司以科研客户需求为导向,结合国内外前沿科研技术及成果,致力于打造国内先进科研仪器的技术创新平台,为国内外相关科研人员提供科学实验的解决方案。目前已在SPM及相关领域研发出多种性能稳定、性价比高的产品,并获得了20余项实用技术专利。主要产品包括:闭循环无液氦扫描探针显微镜系统(UHV-Cryogen-free SPM SYSTEM)超高真空变温扫描隧道显微镜系统(UHV-VT STM SYSTEM)、原子层沉积系统(ALD)、光学兼容超高真空低温扫描探针显微镜-分子束外延联合系统(UHV-LT-SPM-MBE )等成套系统以及电阻式加热蒸发源(K-cell)及控制器、电子束加热蒸发源(E-beam)及控制器、碱金属蒸发源、温度控制器(TC)、针尖腐蚀仪、SPM扫描探头等部件及电控单元。
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  • SPECS是一家来自德国的先进表面分析仪器供应商;而Unisoku是一家先进扫描探针显微镜供应商,是由日本先进科学仪器的供应商东京仪器公司(TII)控股的子公司。SPECS公司和TII公司在瑞士成立了合资公司SPECS-TII,旨在销售和客户服务领域的全球合作。它们整合了各自在中国的子公司成为一家合资公司贝克斯帝尔科技(北京)有限公司。经过数年的产品合作使我们确信,这一步可以形成当地的销售和售后服务中心,从而更好的为中国客户提供以下相关服务:-更快更好的咨询服务-为客户提供更好的解决方案-针对客户需求,更短的响应时间-更加专业的本地服务-更短的售后服务响应时间进一步提高客户满意度是在中国当地开展业务的核心。
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  • 400-878-6829
    帕克(Park)公司的创始人是世界上第一台原子力显微镜发明组的一员,1986年研制了世界首台商用原子力显微镜,一直致力于原子力显微镜技术的开发与应用,帕克(Park)在原子力显微镜的发展过程中一直占有重要的一席之地。本公司作为纳米显微镜和计量技术领域的领导革新者,一直致力于新兴技术的开发。我们的总部遍及中国大陆,宝岛台湾,韩国,美国,日本,新加坡和德国等地,我们为研究领域和工业界提供世界上最精确,最高效的原子力显微镜。我们的团队正在坚持不懈的努力,力求满足全球科学家和工程师们的需求。随着全球显微镜市场的迅速增长,我们将持续创新,不断开发新的系统和功能,确保我们的产品始终得到最有效最快捷的使用!Park产品主要有以下特点: 1.非接触工作模式:全球唯一一家真实实现非接触式测量模式的原子力显微镜厂家,非接触模式使原子力针尖磨损大大降低,延长了探针寿命,提高了测量图像的重复性; 2.高端平板扫描器:所有产品型号均采用的高端平板扫描器,远远优于传统的管式扫描器 3.全球最高的测量精度:Z轴精度可达0.02nm; 4.智能扫描Smartscan:仪器操作极其简单,可实现自动扫描,对操作者无特殊要求,并且有中文操作界面; 5.简单的换针方式:换针非常方便,采用磁拖直接吸上即可,不需调整激光光斑; 6.Park拥有全球最广泛的工作模式:可用于光学,电学,热学,力学,磁学,电化学等方面的研究与测试。
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室温霍尔效应扫描探针显微镜相关的仪器

  • 仪器简介: MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜(SPM),已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能,无与伦比的多功能性,以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在,MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式,采用其先进的自动图像优化技术,使得用户无论具备什么技能水平,也能在材料科学,生命科学,聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。 SPM的控制电路也是影响性能的重要因素,第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构:具有高数据带宽,低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的最先进的技术已经开创工业上的新标准,例如:ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。 Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷,适合于生物学,聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35º C到250 º C范围内对样品进行温度控制;并可以在水,溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时,采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。技术参数:1. 显微镜:多种可选Multimode SPM扫描头AS-0.5系列:横向(X-Y)范围0.4µ m× 0.4µ m,竖直(Z)范围0.4µ mAS-12系列:横向(X-Y)范围10µ m× 10µ m,竖直(Z)范围2.5µ mAS-130系列:横向(X-Y)范围125µ m× 125µ m,竖直(Z)范围5.0µ mPF50:横向(X-Y)范围40µ m× 40µ m,竖直(Z)范围20µ m2. 噪声:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (带防震系统的测量值)3. 样品大小:直径&le 15mm, 厚度&le 5mm4. 针尖/悬臂支架: 空气中轻敲模式/接触模式(标准) 液体中轻敲模式/力调制(可选) 空气中力调制(可选);电场模式(可选) 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件) STM转换器(可选) 低电流STM转换器(可选);接触模式液体池(可选) 电化学AFM或STM液体池(可选) 扭转共振模式(可选)5. 防震和隔音: 硅胶共振模式(可选) 防震三脚架(可选) ;防震台(可选) 集成的防震台和隔音罩(可选)主要特点:1. 世界上最高的分辨率2. 出众的扫描能力3. 优异的可操作性4. 非凡的灵活性与功能性5. 无限的应用扩展性Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术,包括: 轻敲模式(Tapping Mode AFM) 接触模式(Contact Mode AFM) 自动成像模式(ScanAsyst) 相位成像模式(Phase Imaging) 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM) 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM) 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM) 力调制(Force Modulation) 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM) 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM) 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy) 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement) 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching) 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM) 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy) 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA) 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM) 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM) 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode) 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode) 其他更多模式.... 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel &mdash 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail: 产品咨询热线:
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  • 多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus/AFM100系统 AFM100 Plus/AFM100系统是以在研发、生产、教育等各种场合普及AFM应用为目的,并追求操作性、可靠性及高效率观察的通用型高分辨扫描探针显微镜系统。 预装探针系统实现可靠的探针更换 一键自动测量/处理/分析 利用AFM标记功能实现同视野的AFM-SEM-EDS观察分析
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  • AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能,还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析,实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率,自动探针安装,自动光轴调整,自动参数优化;&bull 排除人为操作失误导致的测量误差,一键自动测量/处理/分析(提高整体测试效率)2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 :硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N(开环控制)时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性SIS(Sampling Intelligent Scan)样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点,自动控制探针位置,完全消除对测量不利的水平力,可测量吸附力较大或粗糙的样品,同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤,有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌,还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM(可用于定量和灵敏度等不同场景)除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外,AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比,信号主要来自于探针的尖端,电位检测灵敏度更高,在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等,FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料,两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置,实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试,可以对目标视野进行多维度解析,实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察,实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动,或通过全新的AFM标记功能,可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野,进一步扩大了联动分析的应用范围。
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室温霍尔效应扫描探针显微镜相关的资讯

  • Science: 扫描探针显微镜控制器在二维磁性材料研究中的突破性应用进展
    导读:自2017年来,二维磁性在单层材料中的实现使得二维磁性材料受到了大的关注。范德瓦尔斯磁体让我们对二维限下的磁性有了更进一步的了解,不同磁结构的范德瓦尔斯磁体使得实验上探究二维下的磁学模型成为可能。例如,在单层CrI3中发现Ising铁磁,而XY模型的NiPS3在单层限下的磁性会被抑制。除了这些,有着变磁行为的范德瓦尔斯磁体更为有趣,比如在少层CrCl3中由于奇数层存在着未补偿磁矩,使得奇数层存在着spin-flop转变,而偶数层则没有。目前,现存的二维磁性材料非常稀少,这意味着新范德瓦尔斯磁体的发现,不仅仅有助于二维磁性的研究,更是为二维自旋电子学器件的应用提供了材料基础[1]。相比于传统的三维空间结构,二维层状磁性材料因其原子层间较弱的范德华尔斯作用力,能够人为操控其层间堆叠方式,进而有可能影响其磁耦合特性,为新型二维自旋器件的研制提供新思路。然而,堆叠方式与磁耦合间的关联机制仍不甚明晰,需要借助先进的扫描探针技术才能实现在原子层面的直接实验观测。美国RHK公司所提供的先进R9plus扫描探针显微镜控制器可以有效结合课题组自主研发的扫描探针设备,同时给予高效率的扫描控制,从而可以针对二维磁性材料应用领域展开更为深入的研究。本文重点介绍国内课题组灵活运用RHK公司扫描探针控制器,配合自主研发设计的扫描探针设备所开展的一系列国际前沿性二维材料领域的研究工作,其中各研究工作当前已在国际SCI核心学术期刊发表。科学成果的突破,离不开实验技术的不断攻坚克难。复旦大学物理学系教授高春雷、吴施伟团队通过团队自主研发搭建的扫描探针设备创造性地将原位化合物分子束外延生长技术和自旋化扫描隧道显微镜相结合,在原子层面彻底厘清了双层二维磁性半导体溴化铬(CrBr3)的层间堆叠和磁耦合间的关联,为二维磁性的调控指出了新的维度。相关研究成果以 《范德华尔斯堆叠依赖的层间磁耦合的直接观测》(“Direct observation of van der Waals stacking dependent interlayer magnetism”)为题发表于《科学》(Science)主刊,其中复旦大学物理学系博士后陈维炯为作者[2]。图中所示为陈博士与RHK技术总监进行深入的技术探讨,现场摸索优化测试信号,并详细沟通具体的测量细节,为后续高效率提取高质量大数据做准备。 课题组运用自主研制的自旋化扫描隧道显微镜测量技术,结合RHK公司先进的扫描探针显微镜控制器对自主研发实验设备实现测量调控,团队进一步在原子分辨下获取了样品磁化方向的相对变化,从而实现了实验突破,揭秘材料堆叠方式与磁耦合之间的直接关联性。团队以CrBr3双层膜作为主要研究对象和潜在突破口。双层CrBr3间较弱的范德瓦尔斯力赋予层间发生相对转动和平移的“自由”,从而使堆叠方式多样化成为可能。确实,在实验中获得的CrBr3双层膜具有两种不同的转动堆叠结构(H型和R型),分别对应迥异的结构对称性。其中,R型堆叠结构中,双层膜上下两层间同向平行排列,且沿晶体镜面方向作一定平移;H型堆叠结构中,双层膜上下两层之间旋转了180度,反向平行交错排列。这两种结构均是在相应的体材料中从未发现过的全新堆叠结构。至此,团队率先在原子尺度阐明了CrBr3堆叠结构与层间铁磁、反铁磁耦合的直接关联,为理解三卤化铬家族CrX3中不同成员的迥异磁耦合提供了指导。H型和R型堆叠的CrBr3双层膜自旋化扫描隧道显微镜测量 更多精彩案例: 《Nature》子刊:中国科大扭转双层石墨烯重要进展! 范德瓦尔斯堆叠的双层石墨烯具有一系列新奇的电学性质(例如,电场可调控的能隙、随扭转转角变化的范霍夫奇点以及一维拓扑边界态等)。当双层石墨烯的扭转转角减小到一系列特定的值(魔角)时,体系的费米面附近出现平带,电子在能量空间高度局域,电子-电子相互作用显著增强,出现莫特缘体和反常超导量子物态。另一方面,这些新奇的性质与双层石墨烯体系的扭转角度有着严格的依赖关系,体系层间相互作用随着转角减小会逐渐增强,因此探寻和研究这种层间耦合对理解扭转双层石墨烯的电子结构和物理性质至关重要。中国科学技术大学合肥微尺度物质科学研究中心国际功能材料量子设计中心(ICQD)物理系秦胜勇教授与武汉大学袁声军教授及其他国内外同行合作,利用扫描隧道显微镜和扫描隧道谱,次在双层转角石墨烯体系中发现了本征赝磁场存在的重要证据,结合大尺度理论计算指出该赝磁场来源于层间相互作用导致的非均匀晶格重构。相关研究成果以“Large-area, periodic, and tunable intrinsic pseudo-magnetic fields in low-angle twisted bilayer graphene”为题,于2020年发表于《自然通讯》(Nature Communications 2020,11,371)上[3]。图:小角度双层石墨烯中本征赝磁场的发现。对于转角为0.48度的双层石墨烯,在不加外磁场情况下,实验发现了贋朗道能(图b),理论计算进一步验证了这种贋磁场行为(图c),并估算出贋磁场值大约为6特斯拉(图e)。 该团队系统研究了小角度下(1°)双层石墨烯的电学性质,次证实了由晶格重构导致的本征赝磁场。先,研究人员发现体系中赝磁场导致了低能载流子的能量量子化,并计算出这种本征赝磁场在实空间的分布。研究发现赝磁场的分布并不是均匀的,而是以AA堆叠为中心呈涡旋状,且在AA堆叠边界区域达到大值;另外,该赝磁场的大小随着转角的减小而增大,其分布和大小受到外加应力的调控。该项研究证实,在小角度扭转双层石墨烯中晶格重构导致的赝磁场和强关联电子态存在着内在的关联,层间相互作用对体系的结构重构和性质变化有着非常重要的影响。这一现象可以推广到其他范德瓦尔斯堆叠的二维材料体系中。这项工作同时表明,具有本征赝磁场的小角度扭转双层石墨烯是实现量子反常霍尔效应的一个可能平台,为研究二维材料的性质和应用提供了新的思路。RHK公司提供的R9plus扫描探针显微镜强有力的为国内自主研发技术提供有力保障,除了在科研领域内重点关注的二维材料发挥重要作用以外,也对国内其它相关扫描探针设备研发领域课题组提供技术支持。中国科学技术大学陆轻铀教授团队与中国科学院强磁场科学中心、新加坡国立大学等单位合作,利用扫描探针控制器实现了高精度的磁力显微镜观察表征,报告了在超薄BaTiO3/SrRuO3 (BTO/SRO)双层异质结构中发现铁电体(FE)驱动的、高度可调谐的磁性斯格明子。在BTO中,FE驱动的离子位移可以穿过异质界面,并继续为多个单元进入SRO。这种所谓的FE邻近效应已经在不同的FE/金属氧化物异质界面中得到了预测和证实。在BTO/SRO异质结构中,这种效应可以诱导相当大的DMI,从而稳定强大的磁性物质。此外,通过利用BTO覆盖层的FE化,可以实现对斯格明子性质的局部、可逆和非易失性控制。这种铁电可调的斯格明子系统为设计具有高集成性和可寻址性的基于斯格明子的功能设备提供了一个潜在的方向。相关成果以题为“Ferroelectrically tunable magnetic skyrmions in ultrathin oxide heterostructures”发表在了Nat. Mater.上[4]。B20S5样品中磁性斯格明子的磁力显微镜表征 除此之外该课题组也对二维过渡金属硫化物材料MoTe2温度依赖的表面STM图像、电子结构、晶格动力学和拓扑性质进行了研究。研究结果以Uniaxial negative thermal expansion and band renormalization in monolayer Td-MoTe2 at low temperature为题,发表在美国物理学会杂志《物理评论B》上。该工作为二维过渡金属硫化物材料MX2的低温研究、实验制备和器件开发提供了直接的理论支持,其揭示的MoTe2低温下反常物性的内在物理机制对其它具有内在MX2八面体结构畸变的二维材料同样具有参考价值[5]。学术工作之外,该课题组在仪器设备研发方面也取得了优异的成果,课题组在国际上次研制成功混合磁体端条件下原子分辨扫描隧道显微镜(STM),相关研究成果发表在显微镜领域著名期刊Ultramicroscopy和著名仪器刊物Review of Scientific Instruments上。此工作利用混合磁体搭配RHK公司扫描探针设备开展原子分辨成像研究,对于突破当前超强磁场下只能开展输运等宏观平均效果测量的瓶颈,进入到广阔的物性微观起源探索领域,具有标志性意义。同时,课题组又针对超强磁场下的生物分子高分辨成像,搭建了一套室温大气环境下的分体式STM。该系统将一段螺纹密封式胶囊腔体通过一根长弹簧悬吊于混合磁体中心,并将STM核心镜体悬吊于胶囊腔体内用以减弱声音振动干扰。经测试,该STM在27.5特斯拉超强磁场下依然保持原子分辨。由于没有真空、低温环境的保护,搭建混合磁体超强磁场、超强振动和声音环境下的室温大气STM难度更大。此前,国际上还未曾报道过水冷磁体或混合磁体中的室温大气STM[6]。混合磁体STM系统:(a)混合磁体照片;(b)混合磁体STM系统简图;(c)STM镜体;(i-iv)分别为0T、21.3T、28.3T、30.1T磁场强度下石墨的原子分辨STM图像。 参考文献:1. Peng, Y., et al., A Quaternary van der Waals Ferromagnetic Semiconductor AgVP2Se6. Advanced Functional Materials, 2020. 30(34): p. 1910036.2. Chen, W., et al., Direct observation of van der Waals stacking-dependent interlayer magnetism. Science, 2019. 366(6468): p. 983-987.3. Shi, H., et al., Large-area, periodic, and tunable intrinsic pseudo-magnetic fields in low-angle twisted bilayer graphene. Nat Commun, 2020. 11(1): p. 371.4. Wang, L., et al., Ferroelectrically tunable magnetic skyrmions in ultrathin oxide heterostructures. Nat Mater, 2018. 17(12): p. 1087-1094.5. Ge, Y., et al., Uniaxial negative thermal expansion and band renormalization in monolayer Td?MoTe2 at low temperature. Physical Review B, 2020. 101(10).6. Meng, W., et al., 30 T scanning tunnelling microscope in a hybrid magnet with essentially non-metallic design. Ultramicroscopy, 2020. 212: p. 112975.
  • 新一代无液氦亚3K低温扫描探针显微镜研制获进展
    低温在凝聚态物理研究中扮演越来越重要的角色,是对多体系统中强相互作用的复杂行为开展深入研究的必要条件。随着液氦资源的日趋紧张和无液氦制冷技术的不断发展,基于无液氦制冷的设备将逐步成为低温科研仪器的主流方向。迄今为止,磁共振成像、超导磁体、综合物性测量系统等诸多仪器设备已实现了无液氦化。然而,具有亚原子分辨能力的扫描探针显微系统(SPM)对震动水平的要求极为苛刻,因此实现无液氦闭循环制冷技术在低温SPM领域的应用面临挑战。近十年来,世界上多个团队和公司尝试将制冷机安装在扫描单元附近实现无液氦低温SPM,而单级制冷的基础温度仅能达约5K水平,且制冷机震动对成像的影响仍然显著。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心郇庆研究团队(N13组)致力于高端科研仪器的研发与应用,在真空、低温、材料制备等领域核心关键部件、成套系统、电路控制系统方面取得了系列成果。高鸿钧院士团队(N04组)多年来致力于扫描探针显微学及其在低维量子结构方面的应用,在前沿科学研究取得一系列重要突破。N13组和N04组长期合作,陆续在尖端科研仪器装备自主研发方向取得一系列重要进展:一套商业化四探针SPM系统的彻底改造、超高真空光学-低温扫描探针显微镜联合系统的研制和应用于多探针显微镜的分时复用电路系统等。合作团队再次“仪器”携手,攻关新一代无液氦低温SPM技术。该研究研制了一套无液氦亚3K低温SPM系统。这一系统颠覆了现有无液氦SPM近端安装制冷机的方式,将低频大幅震动的制冷机安装在远端的独立制冷腔体。通过数月的连续测试验证,该设备实现了~2.8K的基础温度、接近±0.1mK的温度稳定性、约1pm震动水平、小于10pm/h的温度漂移,能够从低温到室温宽温区内连续变温成像。在非接触原子力显微镜原子级分辨成像、扫描隧道谱以及非弹性电子隧道谱的性能方面,该系统达到了与传统液氦杜瓦的湿式SPM系统相媲美的水平。相较已有无液氦SPM方案存在制冷机近端安装带来的诸多问题(不耐烘烤、磁场敏感、安装角度受限、橡胶波纹管透气结冰和难以升级等),这种闭循环远端制冷方案展现了多方面的优势:高性能:少量氦气(~10 L)实现3K以下基础温度,并可长时间连续运行,震动水平与湿式系统相当;拓展性:利用此远端液化4He方案预冷3He方便实现亚开尔文范围拓展;兼容性:与强磁场、光学通路等其他物理环境的良好兼容性,显著降低来自制冷机的电磁干扰;灵活性:便捷地将现有湿式SPM系统改造为无液氦SPM,并可应用在其他需求低温且对振动敏感的领域。这一闭循环无液氦低温SPM实现了TRL8级的技术就绪度。近期,相关研究成果发表在《科学仪器评论》上(Review Scientific of Instruments,DOI:10.1063/5.0165089)。该工作将为凝聚态物理研究、材料科学、生物医学等领域提供高性能的低温超低振动解决方案,并有望推动相关领域的研究取得更大突破。一位审稿人评价道:“在我看来,采用氦连续流低温恒温器和低温制冷机技术相结合的理念来解决无液氦低温扫描探针显微镜及相关领域长期存在的隔振问题,不仅具有创新性,而且鉴于世界范围内的液氦短缺困境,该技术方案的提出十分重要且及时。”研究工作得到国家杰出青年科学基金项目、中国科学院关键技术研发团队项目、国家重大科研仪器研制项目、国家自然科学基金青年科学基金项目和北京市科技计划怀柔科学中心项目的支持。图1. 新一代无液氦亚3K低温扫描探针显微镜的三维模型和原理图。图2. (a)基于连续流液氦恒温器的降温效果;(b)闭循环无液氦远端制冷的降温效果;(c)载入样品后的温度变化;(d)样品在4K温度的稳定性。图3. Au(111)和Ag(110)表面的成像测试和谱学表征。图4. Ag(110)表面CO分子的拾取和二阶谱学表征与谱学成像。图5. qPlus AFM探针在NaCl(100)表面的测试结果。图6. 已有基于液氦杜瓦的湿式SPM系统升级成远端制冷闭循环无液氦SPM的方案示意图。
  • 一文解读扫描探针显微镜拓展模式(一)
    01MFM(Magnetic Force Microscopy,磁力显微镜)磁力显微镜(Magnetic Force Microscopy,MFM)是一种专门用于成像样品表面的磁性分布的扫描探针显微镜,通过探针和样品之间的磁力相互作用来获得信息。MFM应用MFM主要用于研究材料的磁性特征,广泛应用于物理学、材料科学、电子学等领域。常见的应用包括:磁记录介质:研究硬盘、磁带等磁记录设备的磁性结构和缺陷;磁性材料:分析磁性薄膜、纳米颗粒、磁性多层膜等材料的磁畴结构;生物磁性:研究生物组织中天然存在的磁性物质,如磁性细菌。应用实例在自旋存储研究中,以斯格明子的研究为例,传统的磁存储单元受限于材料性质,显著影响自旋存储的高密度需求。斯格明子是一种具有拓扑性质的准粒子,其最小尺寸仅为3nm,远小于磁性隧道结,是理想的信息载体,有望突破信息存储密度的瓶颈。下图为通过MFM表征获取的斯格明子图像。[1]标准斯格明子M-H曲线 斯格明子图像在磁盘研究中,通过MFM可以获取磁盘表面的高分辨率磁性图像,详细了解其磁畴结构和分布情况。MFM具有高空间分辨率和灵敏度,为磁盘材料的研究和优化提供了重要的数据支持。下图展示了通过MFM测试获取的磁盘表面磁畴结构图像。电脑软盘磁畴图像02PFM(Piezoresponse Force Microscopy,压电力显微镜)压电力显微镜(Piezoresponse Force Microscopy,PFM)是一种用于研究材料压电性质的扫描探针显微镜,利用探针与样品表面之间的逆压电效应来成像和测量材料的压电响应。材料由于逆压电效应产生形变示意图 [2]PFM应用PFM广泛应用于材料科学和电子学领域,尤其是在研究和开发新型压电材料和器件方面。具体应用包括:铁电材料:研究铁电材料的畴结构、开关行为和退极化现象。压电器件:分析压电传感器、致动器和存储器件的性能。生物材料:研究生物组织中的压电效应,例如骨骼和牙齿。应用实例具有显著的压电效应,即在外加机械应力作用下产生电荷。这使其在超声波发生器、压电传感器和致动器中具有重要应用。在研究PbTiO3样品时,通过PFM,可以获取PbTiO3表面的高分辨率压电响应图像,详细了解其畴结构和分布情况,为PbTiO3材料的研究和优化提供了重要的数据支持。下图展示了通过PFM测试获取的PbTiO3样品表面压电力图像。PbTiO3垂直幅度图PbTiO3垂直相位图03EFM(Electrical Force Microscopy,静电力显微镜)静电力显微镜是一种用于测量成像样品表面的电静力特性的扫描探针显微镜。EFM通过探针与样品表面之间的静电力相互作用,获取表面电荷分布和电势信息。静电力显微镜(抬起模式)[3]EFM应用EFM广泛应用于材料科学、电子学和纳米技术等领域,常见的应用包括:电荷分布:测量和成像材料表面的电荷分布。表面电势:研究材料表面的电势分布和电特性。半导体器件:分析半导体器件中的电特性和缺陷。纳米电子学:研究纳米级电子器件的电性能。应用实例Au-Ti条带状电极片静电力04KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy,开尔文探针力显微镜)KPFM是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。KPFM 获取 Bi-Fe薄膜样品表面电势 [4]KPFM应用KPFM在材料科学、电子学和纳米技术等领域具有广泛的应用,常见的应用包括:表面电势分布:测量和成像材料表面的局部电势分布。功函数测量:研究材料的功函数变化,特别是对于不同材料的界面和缺陷。半导体器件:分析半导体器件中的电势分布和电学特性。有机电子学:研究有机半导体和有机电子器件的表面电势。应用实例Au-Ti条带状电极片表面电势05SCM(Scanning Capacitance Microscopy,扫描电容显微镜)扫描电容显微镜(Canning Capacitance Microscopy,SCM)是一种用于测量和成像样品表面的电容变化的扫描探针显微镜。SCM能够通过探针与样品表面之间的电容变化,提供高分辨率的局部电学特性图像。这种显微镜适用于研究半导体材料和器件的电学特性,如掺杂浓度分布、电荷分布和界面特性等。SCM在半导体工艺和材料研究、故障分析以及器件优化中发挥着重要作用。通过SCM,研究人员能够获得纳米尺度的电学特性信息,从而推动半导体技术的发展和创新。SCM原理示意图 [5]SCM应用SCM主要应用于半导体材料和器件的研究,广泛应用于电子学和材料科学领域。具体应用包括:掺杂分布:测量和成像半导体材料中的掺杂浓度分布。电荷分布:研究半导体器件中的电荷分布和电场。材料特性:分析不同材料的电容特性和介电常数。06致真精密仪器自主研发的原子力显微镜科研级原子力显微镜AtomEdge产品介绍利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,纵向噪音水平低至0.03 nm(开环),可实现样品表面单个原子层结构形貌图像绘制。可以测量表面的弹性、塑性、硬度、黏着力、磁性、电极化等性质,还可以在真空,大气或溶液下工作,在材料研究中获得了广泛的使用。设备亮点● 多种工作模式● 适配环境:空气、液相● 多功能配置● 稳定性强● 可拓展性良好典型案例晶圆级原子力显微镜Wafer Mapper-M产品介绍利用微悬臂探针结构可对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征。样品台兼容12寸晶圆,电动样品定位台与光学图像相结合,可在300X300mm区域实现1μm的定位精度,激光对准,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作。可用于产线,对晶圆粗糙度进行精密测试。设备亮点● 多种工作模式● 适配环境:空气、液相● 可旋转式扫描头● 多功能配置● 稳定性强、可拓展性良好典型案例参考文献:[1]Li S, Du A, Wang Y, et al. Experimental demonstration of skyrmionic magnetic tunnel junction at room temperature[J]. Science Bulletin, 2022, 67(7): 691-699.[2]Kalinin SV, Gruverman A, eds. Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale. Springer 2007.[3] https://www.afmworkshop.com/products/modes/electric-force-microscopy[4] https://www.ornl.gov/content/electrostatic-and-kelvin-probe-force-microscopy[5] Abdollahi A, Domingo N, Arias I, et al. Converse flexoelectricity yields large piezoresponse force microscopy signals in non-piezoelectric materials[J]. Nature communications, 2019, 10(1): 1266.本文由致真精密仪器原创,转载请标明出处致真精密仪器拥有强大的自主研发和创新能力,产品稳定精良,多次助力中国科研工作者取得高水平科研成果。我们希望与更多优秀科研工作者合作,持续提供更加专业的技术服务和完善的行业解决方案!欢迎联系我们!致真精密仪器一直以来致力于实现高端科技仪器和集成电路测试设备的自主可控和国产替代。通过工程化和产业化攻关,已经研发了一系列磁学与自旋电子学领域的前沿科研设备,包括“原子力显微镜、高精度VSM、MOKE等磁学测量设备、各类磁场探针台、磁性芯片测试机等产线级设备、物理气相沉积设备、芯片制造与应用教学训练成套系统等”等,如有需要,我们的产品专家可以提供免费的项目申报辅助、产品调研与报价、采购论证工作。另外,我们可以为各位老师提供免费测试服务,有“磁畴测试”、“SOT磁畴翻转”、“斯格明子观测”、“转角/变场二次谐波”、“ST-FMR测量”、“磁控溅射镀膜”等相关需求的老师,可以随时与我们联系。

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  • 【原创】比较下国内扫描探针显微镜

    我想问下大伙,有没有知道上海卓伦的扫描探针显微镜好用还是中科奥纳的扫描探针显微镜好用呢?另大家还有没有人知道国内有没有做得比较成熟的显微镜厂商呢?希望大家踊跃发言。

  • 扫描探针显微镜一套

    山东大学从美国维柯公司DI分部购进扫描探针显微镜一套,该设备是属于多功能配套设备。它包含如下功能:①原子力显微镜;②隧道力显微镜;③电力显微镜;④磁力显微镜;⑤摩擦力显微镜。工作模式可分为:接触式,非接触式,敲打式,力调制等。功能之全是国际上一流的。为此,山东大学于2001年9月9日派遣任可、刘宜华、孙大亮三人赴美国圣巴巴拉市维柯公司DI分部接受培训(扫描探针显微镜生产厂家为美国、、、、、、、

室温霍尔效应扫描探针显微镜相关的耗材

  • 扫描探针显微镜(SPM)
    SPM的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性,通过原子线度的极细探针在被研究物质的表面上方扫描时检测探针—样品两者之间的相互作用,以得到被研究物质的表面特性,不同类型的SPM之间的主要区别在于它们的针尖特性及其相应的针尖----样品相互作用方式的不同。
  • AFM探针/原子力显微镜探针(DNISP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm)DNISPUnmountedDiamondTip,100-300N/m,35-65kHz140
  • 原子力显微镜探针/afm探针/磁力显微镜/MESP-V2
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