同时式波长色散型射线荧光仪

波长色散X射线荧光光谱仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上，深入进行产业化研发形成的高科技产品，各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，也应用于大专院校和科研单位。●AL-BP-9010A非常适合在大、中、小型水泥厂（单、双窑）做质量过程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、矾土、菱镁矿和其他矿物）中主量和次量氧化物的分析 生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常规元素的测定。●钢铁行业的应用：依据GB/T 223.79-2007测定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。●其它行业的应用：石油中的S、P测定，玻璃、陶瓷、有色金属、矿业、地质、化工、质量检验等。水泥行业应用：波谱仪系统主要由样品制备设备（包括振动磨、压片机）、波谱仪主要、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、数据通讯接口）等，与其他相关设备配合构成波谱仪生料质量控制系统。波谱仪主要用于生料化学成分的分析，以实现原料配比的在线自动化控制，保证入窑生料率值的标准偏差达到规定指标；同时，X荧光分析仪也可用于各种原料、燃料、熟料、水泥的离线分析。本仪器是同时式波长色散型光谱仪，可装载10个以上（含10个）分析通道用于多元素同时测定，元素分析范围为钠到铀，元素预设范围为水泥10大元素Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、K、Cl、P，分析速度小于2分钟。输入电源为单相220/240VAC，并由主机向PC机和打印机供电。

波长色散X射线荧光仪（WD-XRF）可以 检测元素周期表中多达83种元素，测量 各种形态和性质的样品：例如固体或液体，导电材料或绝缘材料。相对于其他分析技术而言，X 射线荧光光谱分析法的优 点是分析速度快、制样简单、分析状态 稳定、精确度高，并且成份分析范围 广（从ppm级到100%含量）。

稀土是化学元素周期表中镧系(镧、铈、镨、钕、钷、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥)15个元素和21号元素钪、39号元素钇(共17个元素)的总称。长期以来对于稀土的分析多采用经典化学分析，但是由于元素性质相近，给分离、富集、分析带来了很多困难。本文使用波长色散X射线荧光压片分析方法可以直接分析稀土中各元素，给稀土分析带来了新的方法。

硅石是脉石英、石英石英砂岩的总称，多用于冶金，化学等工业，是建材工业中生产玻璃的重要原材料。硅石品位的高低直接影响与各原料的配比，而其他元素，诸如Fe2O3的含量则直接关系到成品玻璃的透光率等。在生产工艺水平飞速发展的今天，对其常见组分的准确、快速分析，为生产控制提供参考依据就显得尤为重要。目前，硅石的主要分析方法可采用湿法化学，原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法等等，但这些方法共同的缺点是样品前处理较为繁琐，分析时间长，消耗成本高。X射线荧光光谱法可以测定硅石中的主次量元素的含量，分析范围广，适用于硅石的常规组分分析，从而达到快速控制生产的目的。

硅石是脉石英、石英石英砂岩的总称，多用于冶金，化学等工业，是建材工业中生产玻璃的重要原材料。硅石品位的高低直接影响与各原料的配比，而其他元素，诸如Fe2O3的含量则直接关系到成品玻璃的透光率等。在生产工艺水平飞速发展的今天，对其常见组分的准确、快速分析，为生产控制提供参考依据就显得尤为重要。目前，硅石的主要分析方法可采用湿法化学，原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法等等，但这些方法共同的缺点是样品前处理较为繁琐，分析时间长，消耗成本高。X射线荧光光谱法可以测定硅石中的微量元素的含量，分析范围广，可以实现快速控制生产的目的。

燃煤电厂烟气污染物中的氮氧化物（NOx）对我国大气污染物总量的贡献率达到60%以上，当前燃煤电厂控制NOx的主流方式为SCR（Selective Cataltic Reduction）烟气脱硝技术，而SCR脱硝催化剂则是整个脱硝技术中的关键。目前最常用的脱硝催化剂为钒钛系列，其中TiO2作为主要载体、V2O5为主要活性成分、WO3和MoO3为辅助成份。在生产效率飞速发展的今天，对催化剂常见组分（尤其是V2O5等活性成分）的准确、快速分析，为催化效率的监控提供参考就显得尤为重要。目前，脱硝催化剂的主要分析方法包括湿法化学分析、原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法等，但这些方法共同的缺点是样品前处理较为繁琐、分析时间长、消耗成本高。相比之下，X射线荧光光谱法可以快速测定脱硝催化剂中主次量元素的含量，分析范围广，预处理相对简单，适用于脱硝催化剂的常规组分分析。

氧化铝是一种用途非常广泛的工业原材料， 由于硬度较大可用作磨料，抛光粉。高温烧结的氧化铝，称人造刚玉或人造宝石，可制机械轴承或钟表中的钻石。氧化铝也用作高温耐火材料，制耐火砖、坩埚、瓷器、人造宝石等，氧化铝也是炼铝的原料。而在实际的生产过程中，需要测定其中的主次元素含量，但在高纯的氧化铝粉中，杂质组分一般都在几十个ppm的浓度水平。近些年中国的氧化铝工业快速发展，产量远远高于世界平均水平，X射线荧光光谱法作为标准分析方法《GB/T6609.30-2009》，可以准确、快速进行化学组分的测定，为生产控制提供参考也就显得尤为重要。

炉渣来自于钢铁冶炼过程的各个阶段，例如高炉、转炉、氧气顶吹转炉、电弧炉和钢包炉。高炉生产中，炉渣由铁矿石中的渣质（也称作脉石），熔剂和焦煤灰形成。炉渣是一种复杂的硅酸盐混合物，如硅酸铝、硅酸钙和硅酸镁等并混有少量的氧化锰、氧化铁和硫化钙。

土壤所具有的复杂而明显的地域性特征，使其成为法医学追踪证据的主要形式之一。X射线荧光光谱法无需前处理，可直接进行全元素分析，操作灵活方便，被公安刑侦行业列为标准方法。本文使用岛津波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800对各种土壤样品进行了分析，该方法结果全面、操作简便且无破坏，非常适用于公安领域对泥土类样品的鉴别分析。

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

依据《SH/T 0934-2016 石油焦中痕量金属元素的测定波长色散X射线荧光光谱法》规定的对生石油焦、煅烧石油焦中元素的分析要求；以及《YS/T 63.16-2019 铝用炭素材料检测方法第16部分 微量元素的测定X射线荧光光谱分析方法》规定的石油焦、煅后石油焦、预焙烧阳极中相关元素的分析要求，使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立工作条件，分析石油焦中Fe、Ca、Si、Na、Ni、V、S元素含量。实验结果表明，分析结果完全优于标准要求。该方法操作简单，分析速度快，无需化学前处理，对环境友好。

将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中，理想的情况是玻璃经平面成型抛光，从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡，成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大，且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化，形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数，通过波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃，X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息，进而算出较为通俗的厚度计量单位（ug/cm2），适用于玻璃表面的锡层厚度分析，从而达到快速控制生产的目的。

定性半定量分析是XRF的基本要求，结合分析者对样品的了解和分析方法的掌握，可以很好的对玻璃样品进行定性定量分析。在法庭科学玻璃物证中的分析可以很好的利用XRF相关仪器。 本文以分析实例对“中华人民共和国公共安全行业标准GA/T 1417-2017”标准进行应对解析，说明岛津XRF仪器完全可以满足该标准的要求。

将高岭土粉碎后熔融制成玻璃熔片，使用岛津多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立工作条件分析高岭土中的Al2O3、SiO2、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO、TiO2含量。该方法操作简单，能够很好地消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应，提高了高岭土成分分析方法的准确度。

美国国家环境保护局 (U.S. EPA) 承诺改善美国的空气质量，这使得愈加迫切需要监测住宅、工业和娱乐场所过滤器采集的大气颗粒物中的特定元素。X射线荧光光谱法由于其无损检测特性、超高的灵敏度而成为了分析与空气监测样品的方法。Thermo Scientific™ ARL™ QUANT’X 型能量色散X射线荧光能谱仪 (EDXRF) 是测定空气过滤器采集的多种元素浓度的理想选择。台式仪器能够分析元素周期表中从钠到镅的元素，并且需要制备的样品最少。ARL QUANT’X 型能谱仪配备了先进的硅漂移探测器 (SDD)，具有出色的分辨率，可减少光谱干扰，同时具备出色的响应能力。确保达到较大的立体角，可有效收集X射线。高通量铑阳极管的设计保证了可从X射线管直接激发，或通过选择九种不同的滤波器定制激发，提高了对各种元素的灵敏度。

岛津能量色散型X射线荧光光谱仪筛选分析墙面腻子涂料中的重金属元素含量，无需复杂前处理，具有分析过程简单、分析速度快、分析数据稳定性好、分析误差小、分析灵敏度高、无环境负担的优点，分析性能满足墙面涂料国标对重金属限量的筛选要求，为涂料质量控制提供科学的数据。

将钠钙硅玻璃粉碎后熔融制成玻璃熔片，使用岛津波长色散X射线荧光光谱仪建立工作条件分析玻璃中的SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量。实验结果表明，测定结果完全能够满足国标《X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量》（征求意见稿）要求。该方法操作简单，能够很好地消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应，提高了钠钙硅玻璃成分分析方法的准确度。

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片制样方法，测定了硅石中主要杂质元素。结果表明，Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好，相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下，满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。

本文使用岛津MXF-2400多道X射线荧光光谱仪分析氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O等主要杂质成分，采用粉末压片法制样，以氧化铝行业标准样品建立校准曲线，曲线线性良好，正确度在可接受范围之内，相关系数r均在0.999以上。通过研磨方式及研磨时间实验，确认了合适的研磨方法。对精度进行了考察，同一样品重复测定多次，极差在允许范围之内，方法精度良好，满足GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》对分析结果的要求。

岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪对废线路板中铜含量的快速分析，方便快捷，既省时省力省成本，又无需化学前处理而减少了对环境造成的二次污染，完全可以替代传统的化学滴定分析法

在海洋地质调查科考船上，使用能量色散型X射线荧光法（EDX）对样品进行简单、快速、多元素成分分析，可现场迅速获知海底多金属结核资源分布现状，极大地提高了调查工作的效率。

能量色散型X射线荧光光谱仪（EDX）是一种无损、快读、方便的光谱分析方法，尤其适合对各种金属元素的定性以及定量分析。本文使用EDX对各种类镁合金进行了定性半定量分析，可以快速鉴别出稀土镁合金及其所含稀土元素种类

精矿类样品具有矿物组成与元素组成复杂、元素含量范围宽、杂质与有害元素含量低等特点，对传统分析方法带来挑战。单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪结合快速基本参数法大幅提升精矿类样品元素分析精度，同时具备元素分析范围宽、分析速度快等特点，为快速筛查鉴定精矿成分提供了新的有利工具。

需要监测耐火材料产品的主要元素，以确保满足应用的合适成分。很多次量和痕量元素也需要监测，以确保稳定性，并且减少可能给他们的用户带来的潜在污染。耐火材料是极其稳定的氧化物合成物，从而很难将其溶解并用于标准的湿法化学或火焰原子吸收/ICP进行分析。正是基于考虑这些因素，波长色散X射线荧光(WDXRF)则是用于日常的常规过程质量保证和控制以及研发的理想仪器。WDXRF分析是一种稳定的快速分析技术，且只需要很少量的样品制备。WDXRF分析的样品可以是松散的粉末，压片，锂的硼酸盐熔片或者甚至是液体溶液。

烟气脱硫（脱硫）处理装置，通常称为洗涤器，其功能是去除发电厂燃烧煤排气烟道冒出的二氧化硫（SO2）气体和空气中可形成酸雨的二氧化硫。世界范围内关于二氧化硫的环保排放法规更趋严格，清除二氧化硫的技术和相关分析技术在不断向前发展。

岛津红外光谱仪（FTIR）和能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）对树脂中Br等元素进行了全面分析，通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。

岛津红外光谱仪（FTIR）和能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）对树脂中Zn等元素进行了全面分析，通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

岛津红外光谱仪（FTIR）和能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）对树脂中Ca等元素进行了全面分析，通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。