稳态瞬态瞬态变温测试系统

闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光（探测器灵敏波段）的材料，可分为有机和无机两大类，按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁，且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时，一个X射线光子，可以产生多个光子，与紫外可见光不同，因为X射线的能量足以使物体电离，使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子，通过产生俄歇电子，康普顿散射等产生更多的电离电子（二次电子），二次电子热能化退至激发能级，通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上，闪烁体是核医学影像设备的核心部件，通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料，它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息，是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门，在辐射光源最大功率下关闭快门时，样品位置辐射剂量小于10uSv/h，辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时，分辨率可以达到20pl/mm以上。

OmniFluo990稳态瞬态光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo990稳态瞬态光谱仪参数指标型号OmniFluo990主要功能稳态、瞬态寿命测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围≥500ps-ns- -10s稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪发射光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@500nm600g/mm BLZ@750nm300g/mm BLZ@1250nm通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）数据采集器DCS900PC主要性能指标计数率：100Mcps分辨率：16ps/128ps-1.024ns/2.048ns--33.55us；通道数：65535时间扫描：1.05us@64ps 2.2s@33.55输入信号：±触发沿，高阻/50Ω 阈值±2V可调控制软件新版ZolixScan控制、数据采集、分析软件稳态测试功能：激发扫描，发射扫描，同步扫描，三维扫描可选功能：偏置测试，温度控制扫描瞬态测试功能：动力学扫描，寿命扫描，时间分辨光谱扫描数据处理功能：量子产率计算，TRES Slicing，光谱校正标配计算机Intel i3 双核CPU、4G内存、显示器1920*1080分辨率标配操作系统Windows 10 Home Edition注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

OmniFluo900系列稳态瞬态荧光光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo900系列全功能稳态/瞬态荧光光谱仪参数指标型号OmniFluo960主要功能稳态测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围/稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪激发光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@300nm600g/mm BLZ@500nm 通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

产品简介： FLS1000是一款测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度35,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle® 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

本系统主要是针对光电器件的动力学分析，利用周期性的脉冲单色光源，产生光电流或者光电压的信号。 并对此信号进行时域或者频域的分析，得到光生电的响应时间，如上升 / 下降时间，瞬态光电流与 瞬态光电压曲线 , 从而可以分析器件内部的动力学过程，如载流子的迁移率、载流子的寿命、 载流子的扩散长度等。产品特点：■ 支持多路激光器■ 系统采用显微光路，多种物镜可以切换■ 样品台三维可移动，方便光斑与样品重合■ 支持探针台结构■ 支持高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μszolix瞬态光电性能测试系统DSR800适用范围：■ 钙钛矿太阳能电池，有机太阳能电池，有机无机杂化太阳能电池，薄膜太阳能电池，燃料敏化太阳能电池■ 金属半导体异质结器件■ 光电传感器件测量模式：■ 稳态IV测试(Steady State Current-Voltage Characterization)■ 瞬态光电压/光电流测试(Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 开路光电压衰减/电荷抽取(Open-Circuit Voltage Decay/Time-Resolved Charge Extraction)■ 电压调制瞬态光电压/光电流(Electrical Modulated Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 自定义测量模式(Customized Measurement)配置参数：更多配置说明咨询销售激光光源a纳秒激光器：可选波长：375nm-1310nm范围内多种波长可选，具体咨询销售半导体激光器：可选波长：266nm-2200nm范围内多种波长可选，具体咨询销售高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μs 显微镜模块4个显微镜安装孔，支持多个显微物镜切换内置LED照明模块 多个显微物镜：10x ,20X ,50X等 数据采集模块时间分辨率：4ns/2ns/1.14ns/800ps/400ps可选通道：2/4通道可选 采样率：2.5 GS/s 记录长度：10M 输入阻抗：1MΩ，50Ω 样品台探针台适正面电极或者异面电极的样品3M夹子样品台适用于：间距为2.54mm的背电极样品 支持定制样品台，适用多种器件结构IPCE测试（扩展功能）波长范围300-1100nm，可以扩展到1700nm功能：光谱响应度，量子效率，单色光IV特性a，根据不同寿命测试需要选择不同类型的，如测试上升或者下降沿需求为μs量级，选择纳秒激光器。zolix瞬态光电性能测试系统DSR800 应用测量结果■ 光电器件表征上图为使用ps 激光器测试的不同类型的探测器的瞬态光电流曲线，点线是实测曲线，实线为拟合曲线。样品1 硅基探测器，样品感光面积10mm×10mm，下降时间2.99μs ；样品2 氮化镓，样品感光面积1mm2，下降时间82ns ；样品3，氮化镓器件，样品感光面积0.04mm2，下降时间6ns。■ 光伏器件表征大功率LED 光源作为白光偏光光源，也可以选择不同波长LED 光源。对于瞬态测试，532nm 纳秒脉冲激光作为脉冲光源。硅基太阳能电池在无偏置光情况下瞬态光电压信号随脉冲光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电压信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电流信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池器件微分电容和偏置光电压的关系曲线硅基太阳能电池器件电荷量和偏置光电压的关系曲线

英国Edinburghinstruments，一个由科学家群体组成的研发团队，专注于生产和研发高性能研究级光谱仪的公司。产品线覆盖从紫外可见到近红外区域，从稳态光谱测量到瞬态光谱测量，以及激光闪光光解光谱仪等等。这是爱丁堡苏格兰工厂全新打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。拥有爱丁堡仪器在荧光光谱仪上超过35年的制造经验，FS5可以为您提供您所能想到的各种测试需求。FS5为中档价位的荧光光谱仪在全球分析和研究市场上设立了一个全新的标准，针对不同的应用方向，我们都有相应测量模式可以进行选择。? 单光子计数的超高灵敏度 ? 高动态范围和数据获取速度? 独特的软件——为荧光光谱仪量身定做? 升级的可选模式 PSP——纯光谱，极低的杂散光，无高级散射光干扰 NIR——可扩展光谱范围至1650nm POL——测量荧光各向异性和偏振度 MCS——完成微秒到秒级的寿命测试 TCSPC——完成皮秒到微秒的寿命测试? 极其丰富的样品支架选项 FS5 – TCSPC 荧光寿命升级除了拥有FS5标准荧光测试功能以外，这款升级还能实现皮秒、纳秒到微秒范围的寿命测量（10μs）。FS5-TCSPC型号需要皮秒脉冲二极管和LED作为激发光源，我们只需要简单地将光源连接到FS5-TCSPC特制的样品仓中，这个样品仓与所有样品支架相兼容。寿命测试的时候不需要单独的激光驱动和数据分析模块。软件完全兼容所有的测试功能，提供重卷积和曲线拟合。皮秒激光二极管（EPL）和皮秒脉冲发光二极管（EPLED）都是单一波长输出。我们至少需要一个或者一个以上的皮秒脉冲光源来激发样品，激发波长根据用户的具体应用方向进行选择。TCSPC寿命测试可以使用FS5标准的检测器，可以实现150ps-10us的测量。当我们使用快速响应检测器的时候可以优化仪器响应函数，可实现低至50ps的寿命测量。FS5 – NIR 近红外光谱区域扩展进行近红外波长测试的扩展，在目前的紧凑型荧光光谱仪中只有FS5能够实现。通过接入第二个近红外的检测器，FS5轻松地实现测试波长范围的扩展，而无需牺牲紫外可见区的灵敏度。有多种近红外检测器可以进行选择：FS5-NIR额外扩展一个制冷侧窗PMT和近红外光栅可以达到1100nm；FS5-NIR+可以升级电制冷的近红外PMT和近红外光栅实现远至1650nm的测试。这两种升级选项全部基于单光子计数技术以实现很高的灵敏度，并且能与任何寿命升级选项相兼容。FS5-POL 荧光偏振度和各向异性的测量偏振荧光升级选项包括位于激发和发射侧的由软件控制的自动偏振片。借助于偏振片可以完成偏振荧光和荧光各向异性的测量。测量可以自动计算得到各向异性曲线，包含原始数据和G因子校正的数据。如果和TCSPC联用，可以进行时间分辨的荧光各向异性分析。FS5-POL 标准配置紫外可见区，我们还可以选配近红外偏振片使发射侧的偏振测量范围扩展到1650nm。FS5-MCS 微秒级到秒级寿命测试 FS5-MCS除了拥有FS5所有的标配功能以外，还可以实现10μs的长寿命测量，特别适用于强发光的荧光粉和稀土样品。标准的连续氙灯光源和脉冲闪烁氙灯光源之间的切换由软件自动控制完成。测量模式也同时会在标准的光子计数和时间分辨光子计数之间进行切换。如果需要长时间进行寿命测试的时候连续氙灯会通过软件自动关闭，这会节省氙灯的能量，增加使用的寿命。几乎针对所有应用，FS5都有相应的样品支架可供用户进行选择。这些附件的安装使用十分简单方便。绝大多数的附件安装只需要十几秒的时间就可以完成。专用的Fluoracle软件可以自动识别每一个样品支架，用户使用界面十分友好，操作十分便捷。

TPL300-稳态/瞬态荧光光谱系统采用稳态、瞬态一体化设计，其结构紧凑、稳定性好。可实现稳态、瞬态荧光光谱测量、荧光寿命测量。配有专业数据采集软件、数据分析软件。可实现稳态/瞬态三维数据采集、数据拟合等系统主要技术指标● 稳态荧光模块1） 光谱探测器∶光谱仪+PMT或CCD 2） 光谱采集模式∶波长扫描或CCD一次成谱3）光谱探测范围∶250-900nm；900-1700nm ●瞬态TCSPC模块∶1） 时间窗口∶50ns-5μs，5μs-1ms（取决于激光重复频率）2） IRF（仪器响应函数）∶200ps 3） 时间分辨率：50ps 4） 可见光谱探测范围：350nm-900nm,35%@500mm 5） 近红外光谱探测范围：900nm-1700nm,25%@1550nm●可选配激光器1）波长∶405nm2）光纤耦合输出3）脉冲宽度：100ps4）重复频率可调：0.1MHz-40MHz 5）峰值功率：200mW 6）平均功率：0.4mW@40MHz●配备液态样品池，薄膜样品架和粉末样品夹具●磷光（长寿命）检测拓展模块∶1） 光源闪烁光源2）激发波长选择单色仪3）探测模式∶单点检测器配门控光子计数模式4）检测时间窗口范围∶可将时间窗口范围拓展至秒●数据采集软件∶可实现稳态/瞬态三维数据采集应用实例样品：样品CdSe

高精度和高性能的OLED（钙钛矿(Q)LED,QLED）瞬态响应测量。M6200OLED瞬态EL/PL测试系统是为测试OLED器件的瞬态电致发光、时间分辨光致发光等瞬态响应特性而设计的。瞬变电致发光测试系统采用电脉冲发生器作为激励源，时间分辨电致发光测试系统采用高速脉冲激光器。它是研究电荷迁移率、响应时间和载流子寿命等载流子动力学的有用工具。-TPD 瞬态电致发光测试 （TPD Tr-EL）-瞬态电致发光（Tr-EL)-时间分辨光致发光(TR-PL)-低温测量-光谱测量-长余辉测试

OmniFluo990稳态瞬态光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo990稳态瞬态光谱仪参数指标型号OmniFluo990主要功能稳态、瞬态寿命测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围≥500ps-ns- -10s稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪发射光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@500nm600g/mm BLZ@750nm300g/mm BLZ@1250nm通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）数据采集器DCS900PC主要性能指标计数率：100Mcps分辨率：16ps/128ps-1.024ns/2.048ns--33.55us；通道数：65535时间扫描：1.05us@64ps 2.2s@33.55输入信号：±触发沿，高阻/50Ω 阈值±2V可调控制软件新版ZolixScan控制、数据采集、分析软件稳态测试功能：激发扫描，发射扫描，同步扫描，三维扫描可选功能：偏置测试，温度控制扫描瞬态测试功能：动力学扫描，寿命扫描，时间分辨光谱扫描数据处理功能：量子产率计算，TRES Slicing，光谱校正标配计算机Intel i3 双核CPU、4G内存、显示器1920*1080分辨率标配操作系统Windows 10 Home Edition注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

PI时间分辨瞬态、稳态光谱系统一、时间分辨光谱成像系统的探测器-ICCD配置：2.1、 探测器芯片类型：Kodak KAI-1003科学级芯片2.2、 分辨率：1024 x 10242.3、 像元尺寸：12.8um x 12.8um2.4、 芯片尺寸：13.1mm x 13.1mm2.5、 光谱响应范围：200nm-900nm2.二、HRS500光谱仪配合ICCD进行时间分辨瞬态光谱测量，不同光栅下的光谱分辨率展示如下： 全系列支持三光栅塔轮 0.083nm@300刻线，500nm闪耀光栅 0.041nm@600刻线，500nm闪耀光栅 0.019nm@1200刻线，500nm闪耀光栅 光谱分辨率：0.083nm@300刻线，500nm闪耀光栅b)  光谱分辨率：0.041nm@600刻线，500nm闪耀光栅c)  光谱分辨率：0.019nm@1200刻线，500nm闪耀光栅 瞬态配置下的ICCD主要参数展示： 制冷温度：-25°C风冷 @环境20°C 暗电流：2 e-/p/sec @-25°C 动态范围：16bit 像增强器类型：P43，P46 最小门宽：3ns 32MHz/16bit动态范围，在1024x1024分辨率下提供高达26fps的帧速 独有高压门控技术，提供高达1MHz的重复频率 光电阴极制冷，把EBI降低到平均水平的1/20 内置PTG，通过软件线性精确控制门宽和延时 门延迟：0.01ns到21sec（from T0） GigE数据接口，支持大于50m的远距离传输下图为主要型号的ICCD量子效率曲线2.12、 专业技术：抗干涉eXcelon PIX-100BX相机（配合HRS光谱仪——稳态光谱）： 探测范围180nm 至 1100nm:可满足各类实验需求，高于95%的量子效率，可选紫外增强镀膜，结合eXcelon技术，提升相机的敏感度，普林斯顿仪器独特的真空技术，真空质保；长时间曝光下的超低暗噪声 ，单层透射窗口增加芯片的敏感度，无需额外的维护；顶级的eXcelon技术，减少背照式CCD的近红外干涉现象；三、稳态配置下的探测器推荐：3.1分辨率：1340 x 100, 20 x 20 um3.2深度制冷：-80°C；恒温精度：±0.05°C3.3峰值QE 95%，eXcelon专利技术UV-NIR波段量子效率增强。‘’软件可选增益：1, 2, 4 e- (high sensitivity) 4, 8, 16 e- (high capacity)；暗电流0.001 (typical) @ -80°C（e- / p / sec）满肼：High Sensitivity 300 ke- (typical), 250 ke- (min)High Capacity 1 Me- (typical), 750 ke- (min)操作系统：Windows 8/7/XP (32-bit), Windows 8/7 (64-bit) and Linux 稳态光谱：光谱仪HRS500+探测器PIX100BX，分辨率：光谱分辨率：0.129nm@300刻线。 稳态光谱：光谱仪HRS500+探测器PIX100BX，分辨率：光谱分辨率：0.063nm@600刻线。 稳态光谱：光谱仪HRS500+探测器PIX100BX，分辨率：光谱分辨率：0.028nm@1200刻线。 LightField数据采集软件（兼容PI光谱仪，科研相机） 完整的PI相机和光谱仪的控制软件 内置强大的数学引擎，可在采集数据的同时进行数据处理，从而能够大量分析数据并快速给出结果 集成Labview和Matlab，可在程序里控制软件 智能搜索功能 支持多种数据格式 实验状态的邮件通知 软件可以通过已有数据重现所有实验 支持不同用户独立保存自己的实验参数及布局设置，可以迅速区分出不同的实验和设置 提供直观的“示波器式”的同步界面五、系统配置功能应用如下：HRS300&系统DEMO模拟图 超快领域：可应用于成像与成谱的实验，例如时间分辨荧光光谱，等离子体测试，燃烧实验，光子计数，以及时域/频域 荧光寿命成像（FLIM）,飞秒激光微纳加工过程检测等。 高度集成化，低噪声设计的科学光谱相机，可应用于紫外到近红外各类实验。 光谱应用：拉曼光谱 | 荧光光谱 | 光致发光 | 等离子体光谱 | 吸收光谱 | 透射光谱 | 激光诱导击穿光谱(LIBS) | 显微光谱。

产品关键词：稳瞬态荧光光、稳态瞬态荧光光谱、TRPL、TRES、荧光寿命、电致瞬态、TREL、荧光光谱、瞬态荧光、荧光量子产率、PLQY、变温荧光、时间分辨光致荧光光谱、激发谱、发射谱、同步谱、瞬态磷光、磷光寿命、荧光磷光衰减寿命、超快光谱、动力学扫描、多发射谱扫描、多同步扫描▌ 产品简介光电一体化时间分辨光谱仪HiLight是东谱科技自主研发的业内首款光电一体化时间分辨光谱仪（又称光致/电致稳瞬态/时间分辨荧光光谱仪TRPL），该设备拥有光致和电致荧光光谱模块，可以对各类型的光致（荧光、磷光、延迟荧光等）和电致发光样品进行全面的稳、瞬态测试分析，可在200 nm 至5500 nm、宽波长、2.5 ns至1200 s宽时域范围上对微弱发光信号进行精准测量。基于其光电一体的独特优势，HiLight可同时用于材料与器件的研究，从而极大地拓展了传统荧光光谱仪的适用范围。基于模块化的设计理念，HiLight可以提供灵活的配置方案，以适应多样化的测试需求，可广泛应用于材料科学、分析科学、生物医药、食品科学、石油化工、地质学、考古、法医学等领域。▌ 产品特点□ 模块化设计，可选配置丰富灵活，易升级维护；□ 光电一体，同时适用于材料与器件； □ 宽时域时间分辨：2.5ns-1200s； □ 时间分辨率：最小305fs； □ 宽波长范围可选：200-5500nm； □ 多种光源、光栅、探测器可选； □ 全反射式光路设计，影像校准技术； □ 配置SpectraHub软件，功能丰富。▌ 产品功能荧光/磷光时间分辨发射谱吸收与透射电致荧光/磷光荧光磷光寿命量子产率上转换荧光时间分辨电致发光光谱变温荧光比较荧光电致发光响应时间低温荧光时间相关动力学多维光谱显微荧光▌ 规格参数光谱范围激发光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-2500nm发射光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-5500nm时间范围SPC动力学1 ms~10 hMCS10 ns~1200 sTCSPC50 ps~100 μs激发源稳态MCSTCSPC350W氙灯脉冲氙灯Mic-MLD微秒激光器Mic-MLED微秒LED光源Pina-PLD皮秒激光器Pina-PLED皮秒LED光源NanoQ-NLD纳秒激光器NanoQ-NLED纳秒LED光源皮秒白光光源纳秒OPO可调谐激光器电致发光部件SMU电压范围±15 V电流范围±40 mA电压设置分辨率10 mV电流设置分辨率10 μA电压测量分辨率1 mV电流测量分辨率1 μA瞬态电致发光驱动源输出电压范围-10V~+10V电压分辨率16 bits信号频率范围10 mHz~10 MHz驱动电压信号类型脉冲、正弦波、三角波、方波等水拉曼信噪比12,000:1；可选配优化信噪比▌ 产品应用□ 荧光粉□ 上转换材料□ TADF□ 光伏材料□ 荧光微球□ 有机发光材料□ 荧光探针□ 天然染料□ 镧族稀土元素□ 碳点□ 钙钛矿材料□ AIE□ 二维材料□ 室温磷光材料□ 稀土发光材料□ 量子点□ 纳米微球□ 量子棒□ 合成染料□ 各类电致发光器件▌ 产品型号型 号特 点光电一体化时间分辨光谱仪HiLight 990 模块化，可选配置功能；升级与拓展功能强稳瞬态荧光光谱仪HiLight HS15 一体机；稳态和瞬态荧光功能荧光寿命测量仪HiLight T30 寿命测量功能；可选滤光片分光瞬态电致发光光谱仪HiLight E60瞬态电致发光功能荧光光谱仪HiLight S20稳态和磷光功能

瞬态平面热源法导热系数测试系统——变温变真空多试样一、简介瞬态平面热源法作为一种绝对导热系数测量方法，在理论上可以达到很高测量精度。在被测试样尺寸和其它要素满足测试方法规定的边界条件时，导热系数的测量范围理论上可以没有限制。因此，对于均质材料，采用瞬态平面热源法不失为一种操作简便和测量精度高的有效方法，在温度不高范围内（-196℃～200℃），这种方法可以作为一种标准方法来使用，并与其它导热系数测试方法一起形成有效的补充和相互比对，甚至可以用于校准其它测试方法。瞬态平面热源法已具有国际标准测试方法，即ISO 22007-2:2008 Plastics-Determination of thermal conductivity and thermal diffusivity-Part 2: Transient plane heat source (Hot Disk) method。依阳公司生产的瞬态平面热源法导热系数测试系统是一种多功能测试设备，具有测试块状和分体材料以及薄膜材料的功能，同时还配备了真空腔装置、循环油浴温度控制系统、气体压强控制系统和多通道扫描开关装置，从而实现了在不同温度和气氛压力下对多个试样同时进行测量。二. 特点（1）变温测试采用冷热循环油浴增压泵流出的硅油作为加热介质流经装载有试样的真空腔体壁，真空腔体放置在厚实的隔热材料套中，使得被测试样可以精确的按照循环油浴温度进行恒温控制，充分利用了循环油浴±0.05℃的高精度温度控制功能，保证了试样温度的均匀性和稳定性。并且，可以通过计算机控制循环油浴的设定温度来自动实现不同温度下的试样热导率测量。试样温度变化范围取决于恒温油浴的温度变化范围，一般温度变化范围为-40℃至250℃。同时还可以配备低温制冷机系统，从而实现温度达到液氦温度区间的材料导热系数测试。 （2）变气压测试工程材料，特别是孔隙率较大的低密度材料，它们所处的气氛压强会严重影响材料的导热系数。同时，空气中的水份也会使得材料的导热系数发生改变。所以，为了准确测量材料的导热系数，所有导热系数测试方法都对被测试样的气氛环境有严格规定，通常要求是一个标准大气压下的高燥空气环境。另外，在宇航空间用工程材料中，距离地球表面不同高度时气氛压强的不同也会导致材料不同的导热系数。为了规范测试气氛环境和模拟出准确的所需气氛压强，导热系数测试系统配备了依阳公司独自研发的具有人工智能的高精度气氛压强控制系统，使得放置试样的真空腔内的气压精确恒定在所需的气压设定点上，实现了不同气体成分在不同气压下的实验环境模拟。试样环境气氛可以是空气和其他任何气体，气压控制范围为3Pa至1个标准大气压，气压的波动率全量程范围内都小于±1%。 （3）多试样同时测量瞬态平面热源法作为一种非稳态法，在理论上有很快的测试时间，但这里所谓的测试时间是指纯粹的通电测试时间，并不包括达到测试模型边界条件要求（被测试样温度均匀）所需要的时间。被测试样热导率越小，试样达到温度均匀所需要的时间越长。一般规定，两次测试的间隔时间至少是测量时间的36倍。如果测量低导热材料（热导率约为0.03 的隔热材料），通常的测试时间为180秒以上，那么重复性测试的时间间隔至少要108分钟。这就意味一个完整的测试过程至少需要近2个小时，而大部分时间是在等待试样温度达到稳定，这还不包括变温过程中温度控制时的恒温时间。由此可见，在测量较低热导率材料过程中，整个测试过程和测试效率并不是很高，与其它稳态法旗鼓相当。为了进一步提高瞬态平面热源法的测试效率，我们增加了一个程序控制的多通道扫描开关，即采用多探头多试样同时测量技术，充分利用试样温度稳定这段等待时间，既保证了每个独立试样的有效测试时间间隔，又能最大限度提高样品测试数量，提高测试效率。 （4）试样多样化安装为了满足固体、粉体和膏状等不同形式材料的导热系数测量，瞬态平面热源法导热系数测试系统配备了专门设计的试样容器。 （5）各向异性导热系数测量为了适用于多层材料、纤维增强塑料等各向异性样品的热传导性能的测试，瞬态平面热源法导热系数测试系统配备了专门设计的测试软件，可进行厚度和面内方向的导热系数测量。（6）薄膜材料导热系数测量瞬态平面热源法导热系数测试系统还可用于单层薄膜样品如织物、高聚物薄膜、陶瓷薄膜、纤维材料、纸和陶瓷上的溅射金属涂层等材料的导热系数测试。样品厚度范围为0.01～2 mm，导热系数测试范围0.005～10 W/mK 三. 技术指标（1）温度变化范围：-269℃～250℃（依据所用温度环境装置）。（2）气压控制范围：3Pa～个标准大气压，气体可以是空气、氮气等，波动率小于±1%。（3）通道数：4线制连接，共8个通道。手动切换和计算机程控切换，最多可同时测量8组试样。（4）试样形式和尺寸：最大试样尺寸为50mm×50mm×40mm。（5）试样形式：固体、粉体、膏状物、薄板和薄膜等。（6）导热系数测量范围：0.005～500W/mK。（7）导热系数测量精度：优于±5%。（8）导热系数测量重复性：优于±7%。（9）薄板试样测试：薄板厚度范围0.1～10mm，导热系数测量范围为10～500 W/mK。（10）薄膜试样测试：薄膜厚度范围为0.01～2 mm，导热系数测试范围0.005～10 W/mK。 四. 应用（1） 瞬态平面热源法薄板试样测试方法对于薄板或薄片状材料，瞬态平面热源法中有专门的测试模型用于导热系数测量，所测试的导热系数是试样整体的导热系数，而不是面内方向的导热系数。如下图所示，测量时先选择两块厚度一致的样品，精确测量样品厚度后，将两块薄板样品分别放置于探头的两边，然后用两块相同材质的绝热隔热材料压紧，使探头与样品之间没有空隙，以保证探头产生的所有热量均为样品所吸收。薄板样品的直径或边长一般应大于50mm。每片样品的厚度可以从0.2mm至8mm不等，这取决于探头半径。薄板试样测试方法与块状试样测试方法有些类似，主要的区别有两点：被测薄板试样的外侧要用绝缘低导热材料压紧，使得试样四周的热损失与探测器加热量相比非常小。在试样中的热流传递主要在薄板试样面内方向上进行，所以瞬态平面热源法薄板测试模型假设试样是无限大平板热传递模型。 （2） 瞬态平面热源法薄膜试样测试方法对于薄膜材料（电绝缘），瞬态平面热源法中采用了薄膜测试模型用于导热系数测量，所测试的导热系数是试样整体的导热系数，而不是面内方向的导热系数。测试时，探头被放置于两片样品和导热性能良好的背景材料之间。测量时，根据薄膜材料的接触热阻的数据计算得到样品的导热系数。如下图所示，测量时先选择两片厚度一致的薄膜样品，精确测量薄膜样品厚度后，将两块薄膜样品分别放置于探头的两边，然后用两块相同的不锈钢块压紧，使探头与样品之间没有空隙，以保证探头产生的所有热量均为样品所吸收。 需要注意的是，在瞬态平面热源法薄膜导热系数测量过程中，被测试样一般没有加载力或加载力很小，对于试样的加载也是为了让被测试样贴紧探头减少探头与被测试样之间的热阻。 （3）不同气压下的导热系数测量硬质聚氨酯泡沫塑料试样，环境温度25℃，每个气压点上至少进行十次重复性测量，采用HOTDISK 4921探头，加热功率0.01～0.006W，加热时间160秒和320秒。（4）不同温度导热硅脂导热系数测量导热硅脂试样，测试温度25～150℃，每个温度点上至少进行10次重复性测量，采用4921探头。

产品介绍：DZDR-S瞬态法导热系数测试仪是南京大展仪器生产的一款热分析仪器，采用瞬态热源法，具有测量速度快，测试广泛广，采用双向的控制系统，操作便捷，并且配有软件分析，可以直接出数据报告，采用全新的外形设计，简约小巧。测试方法：DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用的是瞬态平面热源技术（TPS），可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个新的水平。测试范围：DZDR-S瞬态法导热系数测试仪可测量块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等不同材料。性能优势：1、测量方法。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用非稳态法中的瞬态热源法，与其他测试方法相比，测量速度更快，准确性高。2、测量速度快。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪能够在5~160s内测量出导热系数，提升实验的效率。3、多功能性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪适用于不同类型材料的导热系数测试，其中包括：液体、固体、金属、膏体、胶体、薄膜、粉末和复合材料等等，适用性广泛。4、易用性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用双向操作控制系统，仪器和计算机同时操作，彩色触摸屏操作，使得使用和操作设备变得简单和便捷。5、数据准确性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪拥有配套的分析软件，能够提供准确可靠的导热系数测试数据，可直接提供数据报告。6、重复性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪对样品实行无损检测，样品可以重复使用。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃（可拓展到-40~300℃）探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

产品关键词：稳瞬态荧光光谱、稳态瞬态荧光光谱、TRPL、TRES、荧光寿命、荧光光谱、瞬态荧光、荧光量子产率、PLQY、时间分辨光致荧光光谱、分光光度计、激发谱、发射谱、同步谱、瞬态磷光、磷光寿命、荧光磷光衰减寿命、动力学扫描▌ 产品简介稳瞬态荧光光谱仪 HiLight HS15，该设备采用一体式设计，包括稳态、瞬态等模块，工作波长200 nm 至5500 nm,时间范围2.5 ns至1200 s（时间分辨精度305fs）。适用于各类型的光致（荧光、磷光、延迟荧光等）进行全面的稳、瞬态测试分析，可广泛应用于材料科学、分析科学、生物医药、食品科学、石油化工、地质学、考古、法医学等领域。▌ 产品特点□ 一体式设计，具有高稳定性、高灵敏性优点；□ 宽时域时间分辨：2.5ns-1200s； □ 时间分辨率：最小305fs； □ 宽波长范围可选：200-5500nm； □ 多种光源、光栅、探测器可选； □ 全反射式光路设计，影像校准技术； □ 配置SpectraHub软件，功能丰富。▌ 产品功能荧光/磷光时间分辨发射谱吸收与透射变温荧光荧光磷光寿命量子产率上转换荧光多维光谱变温荧光▌ 规格参数光谱范围激发光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-2500nm发射光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-5500nm时间范围SPC动力学1 ms~10 hMCS10 ns~1200 sTCSPC50 ps~100 μs激发源稳态MCSTCSPC350W氙灯脉冲氙灯Mic-MLD微秒激光器Mic-MLED微秒LED光源Pina-PLD皮秒激光器Pina-PLED皮秒LED光源NanoQ-NLD纳秒激光器NanoQ-NLED纳秒LED光源皮秒白光光源纳秒OPO可调谐激光器水拉曼信噪比12,000:1；可选配优化信噪比▌ 产品应用□ 有机发光材料□ 荧光探针□ 天然染料□ 镧族稀土元素□ 碳点□ 钙钛矿材料□ AIE□ 二维材料□ 室温磷光材料□ 稀土发光材料□ 量子点□ 纳米微球□ 量子棒□ 合成染料□ 各类电致发光器件

本系统主要是针对光电器件的动力学分析，利用周期性的脉冲单色光源，产生光电流或者光电压的信号。 并对此信号进行时域或者频域的分析，得到光生电的响应时间，如上升 / 下降时间，瞬态光电流与 瞬态光电压曲线 , 从而可以分析器件内部的动力学过程，如载流子的迁移率、载流子的寿命、 载流子的扩散长度等。产品特点：■ 支持多路激光器■ 系统采用显微光路，多种物镜可以切换■ 样品台三维可移动，方便光斑与样品重合■ 支持探针台结构■ 支持高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μszolix瞬态光电性能测试系统DSR800适用范围：■ 钙钛矿太阳能电池，有机太阳能电池，有机无机杂化太阳能电池，薄膜太阳能电池，燃料敏化太阳能电池■ 金属半导体异质结器件■ 光电传感器件测量模式：■ 稳态IV测试(Steady State Current-Voltage Characterization)■ 瞬态光电压/光电流测试(Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 开路光电压衰减/电荷抽取(Open-Circuit Voltage Decay/Time-Resolved Charge Extraction)■ 电压调制瞬态光电压/光电流(Electrical Modulated Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 自定义测量模式(Customized Measurement)配置参数：更多配置说明咨询销售激光光源a纳秒激光器：可选波长：375nm-1310nm范围内多种波长可选，具体咨询销售半导体激光器：可选波长：266nm-2200nm范围内多种波长可选，具体咨询销售高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μs 显微镜模块4个显微镜安装孔，支持多个显微物镜切换内置LED照明模块 多个显微物镜：10x ,20X ,50X等 数据采集模块时间分辨率：4ns/2ns/1.14ns/800ps/400ps可选通道：2/4通道可选 采样率：2.5 GS/s 记录长度：10M 输入阻抗：1MΩ，50Ω 样品台探针台适正面电极或者异面电极的样品3M夹子样品台适用于：间距为2.54mm的背电极样品 支持定制样品台，适用多种器件结构IPCE测试（扩展功能）波长范围300-1100nm，可以扩展到1700nm功能：光谱响应度，量子效率，单色光IV特性a，根据不同寿命测试需要选择不同类型的，如测试上升或者下降沿需求为μs量级，选择纳秒激光器。zolix瞬态光电性能测试系统DSR800 应用测量结果■ 光电器件表征上图为使用ps 激光器测试的不同类型的探测器的瞬态光电流曲线，点线是实测曲线，实线为拟合曲线。样品1 硅基探测器，样品感光面积10mm×10mm，下降时间2.99μs ；样品2 氮化镓，样品感光面积1mm2，下降时间82ns ；样品3，氮化镓器件，样品感光面积0.04mm2，下降时间6ns。■ 光伏器件表征大功率LED 光源作为白光偏光光源，也可以选择不同波长LED 光源。对于瞬态测试，532nm 纳秒脉冲激光作为脉冲光源。硅基太阳能电池在无偏置光情况下瞬态光电压信号随脉冲光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电压信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电流信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池器件微分电容和偏置光电压的关系曲线硅基太阳能电池器件电荷量和偏置光电压的关系曲线

瞬态光电流/瞬态光电压测量系统（TPC/TPV），用于太阳能电池瞬态光电性能测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能： * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；

瞬态光电流/光电压测试系统用于太阳能电池瞬态光电性能测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、调制光电流谱IMPS、瞬态光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能 * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量；另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；

产品介绍： 太阳能光催化使用的一般都是半导体光催化剂,其光催化的基本过程一般分为以下几个过程：电子空穴的产生、捕获、复合、迁移及反应。光催化剂中光生载流子的动力学过程往往进行得非常快，稳态的测试和表l正方法常常难以满足实验的要求。例如对于TiO2催化剂，其光生载流子的某些动力学过程的特征时间尺度在ns、μs量级，还有些超快动力学过程在ps、fs时间量级内就完成了。因此，对于半导体光催化剂中光生载流子动力学过程的研究，常常需要采用快速或超快的时间分辨分析测试技术 。瞬态光电压技术, 可以用来研究光生电荷分高的动力学信息，包括：光生电荷分寓过程中的漂移和扩散过程、漂移过程一般指发生在颗粒内的快速分高过程；而主扩散过程一般为长时间范围内颗粒间的电荷传输。另外，通过分析瞬态光电压谱的形状、时间尺度、符号、强度等方面可以得到光生电荷分离和复合的快慢、分离方向、分离模式、分离程度等一系列信息。瞬态表面光电压技术是研究纳秒时间尺度上光生电荷行为的一种有效手段,具有非接触,无损等优点,它能够直接反映出光生电荷的分高方向，分高效率，电荷寿命等动力学信息。对于光催化反应，通过表面光伏方法分析光生电子一空穴对的分离与传输过程，能够探索引起电荷复合的机制，为提高电荷分高效率提供指导。

产品简介： FLS1000是一款最先进，测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度30,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器 全新Fluoracle® 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学 环境科学法医科学与安全地质学

瞬态光电压（TPV）、瞬态光电流（TPC）测试是揭示光伏、光催化等光电器件微观工作机理的关键手段。利用TPV 和TPC 检测的数据进行分析，可以得到器件内部载流子的传输、积累、复合等动力学过程的相关信息。TPV 和TPC 的测试是直接基于最终的工况器件进的，因而得到的参数可以直接反映工况条件下的光物理过程，这是一个相对于其它检测手段的很大的优势。TranPVC基于东谱科技的MagicBox主机研制而成，是专为有机太阳能电池（OSCs）、燃料敏化太阳能电池（DSCs）、钙钛矿太阳能电池（PSCs）、碲化镉纳米晶太阳能电池等研究领域开发的高性能瞬态光电流/光电压测量平台，集成了数种文献中常见的、前沿的瞬态测量模式，为TPV/TPC的研究提供了强有力的、便捷的测试工具。瞬态光电压（TPV）测试主要应用：有机太阳能电池 钙钛矿太阳能电池；染料敏化太阳能电池 碲化镉纳米晶太阳能电池；硅基太阳能电池 其它光伏、光催化、光电导器件等。

纳秒/微秒瞬态吸收光谱系统系统设计和飞秒-纳秒激光相结合，与超快瞬态吸收系统不同，纳秒 瞬态吸收系统采用电控延迟系统和独立超连续白光光源，用于检测样品在亚纳秒 到毫秒尺度的光诱导动力学演化过程。Micro-TA100系统配备独立的pump-probe 闪光光源，用于检测样品在微秒到秒尺度的光诱导动力学演化过程。检测模式：透射、反射模式可切换光谱检测系统：光谱仪配高速CMOS线阵传感器采用法国LEUKOS-DISCO（ＵＶ）超连续白光激光器白光光谱范围380 - 1800 nm 、重频2KHz、平均功率5mW采用双通道（采集和参比）光谱检测, 即两套数据采集和光谱探测系统，可有效去除探测白光的抖动噪音，实现较高的信造比和采集效率时间检测窗口范围： 450μs时间分辨率：1ns检测灵敏度：≤0.1mOD（可见和近红外）可在超快瞬态吸收光谱系统上拓展纳秒系统，共用检测器微秒瞬态吸收光谱拓展模块(选配):激发光源：滨松脉冲氙灯光源（脉宽2.9μs）氙灯平均功率60W ；波长范围：240-2000nm；重频范围：100到1Ｈｚ探测光源：滨松CW探测氙灯光源，平均功率35W，光谱范围： 240-2000nm光谱检测：光谱仪配高速CMOS线阵传感器，光谱范围一次采集（无需扫描单色仪） （与ns或飞秒系统共用光谱检测部件）光谱探测范围：可见光300-950nm；近红外850-1700nm检测时间窗口：～35μs－s时间分辨率（CMOS相机最小门宽决定）：～35μs（可见光）；～14μs（近红外）采用双通道采集和参比光谱检测, 即两套数据采集和光谱探测系统，可有效去除探测白光的抖动噪音，实现较高的信造比和采集效率数据采集软件系统：2D/3D数据采集模式，实现采集数据实时观测分析。专业数据分析软件：动力学曲线拟合、时间零点矫正、均一化处理等多种强大功能（可根据用户需求添加自定义功能）

一、产品概述：深能瞬态谱仪是一种高精度的测量设备，专门用于研究材料的瞬态光谱特性，尤其在化学和物理领域中应用广泛。该仪器能够快速获取材料在不同激发条件下的光谱响应，帮助科学家分析材料的电子结构和能态分布。二、设备用途/原理：设备用途深能瞬态谱仪主要用于材料科学、光电子学和生物医学等领域。它可用于研究半导体、纳米材料和光敏材料的光电特性，评估材料在光照下的行为，以及探索新型光电器件的性能。工作原理深能瞬态谱仪的工作原理基于激发光源对材料的瞬态激发过程。通过激发特定波长的光，仪器捕捉材料在激发后短时间内的光谱变化，分析材料的瞬态响应。利用时间分辨技术，设备能够提供材料的瞬态光谱信息，从而揭示其内部能量转移和电子跃迁等动态过程。三、主要技术指标： 1. 脉冲发生器电压范围 ±100v,解析度0.3mV2. 脉冲宽度 1us-1000s3. 电容测量的高频信号 1M Hz4. 电容补偿范围 1pF- 3300pF5. HF–频率: 1M Hz6. HF-信号: 100mV7. 电容测试范围 2pF,20pF,200pF,2000pF,自动或手动8. 电容测试灵敏度 0.01fF 9. 电流放大器大测试电流: 15mA10. 电流放大器电流分辨率 10pA11. 数字瞬态记录器大采样 64000点12. 数字瞬态记录器采样间隔 2us-4s13. 耦合方式 提供28种耦合方式,包括Boxcar和Lock-in方式.一次变温即可得到28组曲线和数据点14. 单个温度点测试参数序列 单温度点设置18种测试参数序列,无需重复变温即可得到不同测试参数

超快瞬态吸收光谱系统一体机TA-ONE系列一体式超快瞬态吸收光谱是基于我司的超快时间分辨光谱技术, 模块化结构和飞秒激光光源实现的一体化设计系统。该系列系统稳定性高，一体 化设计，无需复杂光路调节，并配备飞秒激光光源，性价比极高。能够适用于半 导体材料、太阳能电池材料、二维材料、光催化材料、光电检测材料等广泛的材 料研究领域。主要技术指标检测模式：透射、反射模式可切换 光谱检测系统：光谱仪配高速CMOS线阵传感器 光谱检测范围：可见光：480-940nm 时间窗口：8ns 仪器响应函数（IRF）时间：典型值500fs（1.5倍激光脉宽） 检测灵敏度: 0.3 mOD 激发光源：1030nm、515nm、343nm可软件控制切换 紫外拓展模块： 采用BBO晶体和蓝宝石拓展白光光谱探测范围至紫外区域 光谱探测范围：380-750nm 近红外拓展模块： 加配近红外光谱检测系统，包括近红外光谱仪、高速近红外 CMOS 传感器 光谱探测范围：1100-1650nm系统配有高稳定飞秒激光器:平均功率：20W中心波长:1030±5nm脉冲宽度：＜ 500fs重频：100K单脉冲能量：40μJ

仪器简介： 美国高分辨深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS。 测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C~t）技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具有很高检测灵敏度的实验方法，能检测半导体中微量杂质、缺陷的深能级及界面态。通过对样品的温度扫描，给出表征半导体禁带范围内的杂质、缺陷深能级及界面态随温度（即能量）分布的DLTS谱，集成多种全自动的测量模式及全面的数据分析，可以确定杂质的类型、含量以及随深度的分布。 也可用于光伏太阳能电池领域中，分析少子寿命和转化效率衰减的关键性杂质元素和杂质元素的晶格占位，确定是何种掺杂元素和何种元素占位影响少子寿命。 感谢中国科学院宁波材料研究所,国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 南昌大学 西安电子科技大学成为此设备的专业用户！！ 此设备在全球用户众多，比欧洲设备性能价格比高，是研究材料深能级领域的理想工具！！使用闭循环液氦制冷机，从低温到高温只需要升温一次，就能完全得到所有频率的曲线，不同频率不再需要再做一次升降温, 这是其它设备所不具有的功能！Semetrol 的DLTS系统温度范围：25K - 700K，液氦制冷，性能价格比高系统配置:DLTS数据采集及分析软件 (DLTS, ODLTS, DDLTS)Semetrol型快速电容测试器自动电容零点界面数据采集卡及中断箱 ODLTS穿导件机柜安装硬件及电缆设备机柜GPIB 接口卡电脑是双核, 2GB 内存, 19”显示器. USB 接口, CD书写用于数据传输.可调节探针(2)闭环液氦制冷机 (25-700K)温度控制器 电容测试器指标:型号: Semetrol电容零点界面: Yes全自动电容补偿: Yes全自动范围设置: Yes响应时间: ~25μsec补偿范围: 256pF测试频率: 1MHz测试信号级别: 15, 30, 50, 100 mV电容范围: 2000pF灵敏度: 1fF电压范围: +100V to –100V (Boonton) +10V to –10V (数据采集卡)灵敏度: 1mV (电压小于 20V时), 10mV (电压大于 20V时) 0.3mV (数据采集卡)脉冲宽度: 15ms to 0.1sec (Boonton内置偏压) 5μs to 0.1sec (数据采集卡)脉冲幅度: 到 200V, slew rate 20V/ms (Boonton) 到 20V, slew rate of 20V/μs (数据采集卡)电流: 5mA 数据采集卡瞬时记录:采样速率: 可至 1μs. 一般使用 50μs 采样次数: 10,000.记录分辨率: 50ns暂时分辨率, 优于 50aF 电容分辨率过滤: 全自动检测及正弦噪音消除

飞秒瞬态吸收光谱仪 瞬态吸收光谱仪通过用“泵浦”脉冲激发分子系统,延迟后用探测脉冲获取系统信息的方式来研究分子特性。 我司瞬态吸收光谱仪能适应瞬态吸收测量广泛的范围。它具有多样的模块设计来允许选择“泵浦”和“探测”脉冲和在透射与反射二种操作模式上轻松地互换。Standalone and Lab ViewTM设计紧凑,占用珍贵的桌面空间小，具有良好的稳定性、自动化操作。泵浦源紧凑、无缝覆盖、宽广调谐。 特点&优势 1. 探测液体、固体以及薄膜中的瞬态吸收和模拟发射，分辨率可达100fs。 2. 全电脑控制 3. 宽波长范围瞬态谱的获得（200-1000nm） 4. 4ns时间窗口（-DP 选项），8ns（-DDP选项） 5. 瞬态吸收各向异性测量 6. 双光束规格（-U选项）提供超高信噪比表现 技术规格 激发 SHG THG Rainbow 20F 泵浦光谱范围 230-12,00nm 探测光源 连续白光 探测光谱范围 300-750nm；240-620nm and 380-1100nm optional 扫描范围 2ns，1fs resolution； （4ns，2fs optional） 时间分辨 ＜1.7 X pump pulsewidth 噪音级别 1.3 x 104OD typical 软件 Standalone and Lab ViewTM 尺寸 89L*64W*25H cm 重量 34Kg 输入参数 能量 ＞0.3mJ 脉冲宽度 30—150fs 光束直径 5---10mm （near TEM） 偏振 Linear，horizontal 重复率 0.3---3kHz 波长 750---850nm 光束高度 110nm 应用领域 1.三线态吸收2.分子动力学3.材料科学4.光催化5.激光晶体6.太阳能晶体

稳定可靠，简单易用的飞秒泵浦探测系统解决飞秒-皮秒-纳秒时间范围的测试分析问题测试灵敏度0.1mOD集成化设计，结构稳定，预留显微光路接口，可升级致飞秒显微泵浦探测系统高速光谱采集，速率可达2.5KHz时间扫描精度高，最小时间步长2fs，延迟线时间精度1fs完善的实时售后服务和技术支持内置倍频光路，可在无OPA情况下使用。固体、液体、薄膜样品等样品架，可配置低温模 CEL-TAS3000飞秒瞬态吸收光谱测试系统，飞秒泵浦探测光谱仪是一款稳定可靠、简单易用的商业化测试设备。CEL-TAS3000具有0.1mOD的检测灵敏度，可满足绝大多数固体、液体以及薄膜样品的测试需求。CEL-TAS3000采用整体化设计及优化以保证长期稳定性，尽可能降低日常维护需求。通过标准的模块可随时升级至显微泵浦探测系统，应用于微观尺度材料特性研究。该系统是光物理、光化学、光生物等领域必要的测试工具。 飞秒TAS应用1. 光催化、催化剂2. 纳米材料3. 光电功能材料4. 动力学研究5. 单线态吸收6. 太阳能电池 技术参数项目参数灵敏度优于0.1mOD时间分辨率1.4*激光脉冲宽度延迟线时间精度1fs(时间窗口2ns)探测光谱范围350-1100nm时间窗口2ns, 4ns（可选）探测器2048像素高速光谱CMOS阵列光谱分辨率2.5nm（50μm）采集速度2.5kHz激光器（选配）飞秒泵浦激光器，OPA TAS3000应用1-钙钛矿薄膜材料测试条件：材 料：钙钛矿薄膜材料；泵浦波长：350nm实验结果： 1.样品在光谱学瞬态吸收(OD) 2.样品在动力学瞬态吸收(mOD) 3.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 4.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 3DTAS3000应用2-PBDB-T:IEICO blend 薄膜测试条件：材 料：PBDB-T:IEICO blend 薄膜 泵浦波长：400nm实验结果： 1.样品在光谱学瞬态吸收(OD) 2.样品在动力学瞬态吸收(mOD) 3.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 4.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 3DTAS3000应用3-客户样品LAC测试条件：材 料：lac 泵浦波长：400nm实验结果： 1.样品在光谱学瞬态吸收(OD) 2.样品在动力学瞬态吸收(mOD) 3.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 4.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 3DTAS3000应用4-客户样品CIS溶液测试条件：材 料：CIS；泵浦波长：400nm实验结果： 1.样品在光谱学瞬态吸收(OD) 2.样品在动力学瞬态吸收(mOD) 3.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 4.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 3D

英国Edinburghinstruments，一个由科学家群体组成的研发团队，专注于生产和研发高性能研究级光谱仪的公司。产品线覆盖从紫外可见到近红外区域，从稳态光谱测量到瞬态光谱测量，以及激光闪光光解光谱仪等等。这是爱丁堡苏格兰工厂全新打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。拥有爱丁堡仪器在荧光光谱仪上超过35年的制造经验，FS5可以为您提供您所能想到的各种测试需求。FS5为中档价位的荧光光谱仪在全球分析和研究市场上设立了一个全新的标准，针对不同的应用方向，我们都有相应测量模式可以进行选择。? 单光子计数的超高灵敏度 ? 高动态范围和数据获取速度? 独特的软件——为荧光光谱仪量身定做? 升级的可选模式 PSP——纯光谱，极低的杂散光，无高级散射光干扰 NIR——可扩展光谱范围至1650nm POL——测量荧光各向异性和偏振度 MCS——完成微秒到秒级的寿命测试 TCSPC——完成皮秒到微秒的寿命测试? 极其丰富的样品支架选项 FS5 – TCSPC 荧光寿命升级除了拥有FS5标准荧光测试功能以外，这款升级还能实现皮秒、纳秒到微秒范围的寿命测量（10μs）。FS5-TCSPC型号需要皮秒脉冲二极管和LED作为激发光源，我们只需要简单地将光源连接到FS5-TCSPC特制的样品仓中，这个样品仓与所有样品支架相兼容。寿命测试的时候不需要单独的激光驱动和数据分析模块。软件完全兼容所有的测试功能，提供重卷积和曲线拟合。皮秒激光二极管（EPL）和皮秒脉冲发光二极管（EPLED）都是单一波长输出。我们至少需要一个或者一个以上的皮秒脉冲光源来激发样品，激发波长根据用户的具体应用方向进行选择。TCSPC寿命测试可以使用FS5标准的检测器，可以实现150ps-10us的测量。当我们使用快速响应检测器的时候可以优化仪器响应函数，可实现低至50ps的寿命测量。FS5 – NIR 近红外光谱区域扩展进行近红外波长测试的扩展，在目前的紧凑型荧光光谱仪中只有FS5能够实现。通过接入第二个近红外的检测器，FS5轻松地实现测试波长范围的扩展，而无需牺牲紫外可见区的灵敏度。有多种近红外检测器可以进行选择：FS5-NIR额外扩展一个制冷侧窗PMT和近红外光栅可以达到1100nm；FS5-NIR+可以升级电制冷的近红外PMT和近红外光栅实现远至1650nm的测试。这两种升级选项全部基于单光子计数技术以实现很高的灵敏度，并且能与任何寿命升级选项相兼容。FS5-POL 荧光偏振度和各向异性的测量偏振荧光升级选项包括位于激发和发射侧的由软件控制的自动偏振片。借助于偏振片可以完成偏振荧光和荧光各向异性的测量。测量可以自动计算得到各向异性曲线，包含原始数据和G因子校正的数据。如果和TCSPC联用，可以进行时间分辨的荧光各向异性分析。FS5-POL 标准配置紫外可见区，我们还可以选配近红外偏振片使发射侧的偏振测量范围扩展到1650nm。FS5-MCS 微秒级到秒级寿命测试 FS5-MCS除了拥有FS5所有的标配功能以外，还可以实现10μs的长寿命测量，特别适用于强发光的荧光粉和稀土样品。标准的连续氙灯光源和脉冲闪烁氙灯光源之间的切换由软件自动控制完成。测量模式也同时会在标准的光子计数和时间分辨光子计数之间进行切换。如果需要长时间进行寿命测试的时候连续氙灯会通过软件自动关闭，这会节省氙灯的能量，增加使用的寿命。几乎针对所有应用，FS5都有相应的样品支架可供用户进行选择。这些附件的安装使用十分简单方便。绝大多数的附件安装只需要十几秒的时间就可以完成。专用的Fluoracle软件可以自动识别每一个样品支架，用户使用界面十分友好，操作十分便捷。

载流子瞬态特性分析系统用于太阳能电池瞬态光电性能测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能 * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量；另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；

产品介绍：DZDR-S是南京大展检测仪器生产一款瞬态热源法导热仪，采用全新的外形设计，简约小巧，配备天平，具有测量速度快，操作简单。测试方法：瞬态平面热源技术（TPS）开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个全新的水平。性能优势：1.测试范围广泛，测试性能稳定；2.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；3.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；4.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；5.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；6.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；7.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；8.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；9.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；10.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；11.智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁；12.强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

瞬态吸收技术主要用于测量光化学反应的过渡态；由于光化学的反应速度很快通常是纳秒（10-9 -10-6），短时间脉冲激光是理想的泵浦光，因此早起的瞬态吸收技术也被称为“激光闪光光解”。CEL-TAS2000瞬态吸收光谱(Transient absorption spectrum) 测试系统。在激光泵浦作用下，物质产生中间态的物种，通过对瞬态吸收光谱的探测可以得到中间态物种及浓度信息。瞬态吸收作为化学、新材料、生物领域必要的测试工具，探测灵敏度往往是科学探索中最重要的制约因素之一。瞬态吸收光谱测试系统采用新型的激光等离子体光源作为探测光，采用优化设计的低噪声探测器以及12-16bit的高动态范围示波器，将瞬态吸收的灵敏度（检测限）提升至0.1mOD以上，即便是在1000-1700nm近红外波段，也可轻松达到0.1mOD。激光闪光光解(Laser flash photolysis)是用来观测分子受光激发后，由基态S0跃迁到激发态Sn过程中发生的一系列变化和反应。它主要由激发光源、检测光源、信号检测和数据处理系统组成，通过利用一定强度的激发光源入射到所研究的体系中，结合时间分辨吸收和发射瞬态光谱及相应的动力学衰减曲线等方法来研究反应过程中激发单重态、激发三重态、自由基和正、负离子等瞬态反应中间体的一种有效手段。主要用来测量液体、固体、半导体、催化剂的瞬态吸收光谱的动力学分析及时间分辨的吸收光谱，包括以下几个方面：①光敏化反应研究，探讨激发态物种的能量转移、电子转移和质子转移等；②光解离机制研究，探讨解离中间体的反应动力学过程，吸收光谱参数的表征等；③光物理过程研究，解析物质分子被激发后衰变过程中发射光谱的特征和相关动力学参数表征；④光致氧化反应研究，通过光诱导产生氧化性自由基与目标物反应。产品优势u 等离子体超连续光源LDLSu 全反射光路u 四光栅，高杂散光抑制比，高光谱分辨率u 自主研发的高灵敏度探测器，超低噪声供电电源u 透射式，反射式，原位测试，低温样品测试环境u 高测试灵敏度，OD可达到5*10-5u 纳秒到秒级的时间尺度的优化测量u 全自动一键式测试瞬态吸收光谱测试系统的特点：1. 200-1700nm全波段范围内测试灵敏度均可达到0.1mOD以上；2. 针对损伤阈值低的样品，易光学漂白的样品、光电功能薄膜等材料优化设计；3. 内置电动滤光片轮，根据测试波段进行自动滤光，有效保护样品且降低系统杂散光干扰；4. 探测光采用激光等离子体白光光源；百微米尺寸点光源，更高收集和聚焦效率，更高的能量密度；极高的空间稳定性以及长达1万小时的寿命；5. 不仅局限于常规样品室。优质的探测光性能，允许进行更多实验环境的光路定制。如：显微镜微区光谱、低温样品环境、强磁场样品环境等；6. 四光栅光谱仪，更易拓展且保证系统效率；7. 针对瞬态吸收自主研发的低噪声探测器；无需对数据平均降燥亦无需牺牲时间分辨率即可得到0.1mOD的测试灵敏度；8. 最高16bit数据位可调示波器，超高的电压分辨率精度位系统灵敏度提供有力保障。 技术参数项目参数测试波长范围350nm-1700nm（瞬态吸收专用高动态范围Si探测器；波长探测范围：350-1000nm；[选配：InGaAs探测器；波长探测范围：900-1700nm]）时间分辨率优于5ns探测灵敏度优于0.1mOD光谱仪焦距长度：350mm焦距 ；光栅：3光栅自动切换光谱分辨率：0.04nm ；电动入口/出口狭缝及CCD出口；原装整机进口光谱探测器带有低噪声放大器的Si以及InGaAs探测器（单点模式）数据采集12bit/16bit高分辨率数字示波器探测光激光诱导白光光源190-2100nm；输出光斑尺寸100*100μm；使用寿命1万小时 ；光斑空间稳定性：1μm（光斑中心）；能量波动：0.1% ；能量衰减（1000小时）：1%样品室样品类型：澄清低散射稳定液体或固体薄膜／晶体（可测量带有荧光的样品） 样品架：液体/固体 标配常规样品室，根据要求定制的样品，支持低温设备泵浦光OPO激光器（原装整机进口）输出波长范围：210-2400nm；波长调节：计算机控制 ； 峰值输出能量：大于20mj重复频率：20Hz选配（1）近红外探测器NIR 探测器：瞬态吸收专用高动态范围InGaAs探测器；波长探测范围：900-1700nm（2）低温恒温器： DN2 77k-300k牛津液氮低温恒温器及支架