手持式模拟集成电路测试仪

集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。

随着国家对半导体行业愈加重视, 国内各高校通过积极筹备半导体联合实验室等举措来推动集成电路的产业研究和人才教育的发展, 上海伯东美国 inTEST ThermoStream热流仪提供清洁干燥的冷热循环冲击气流, 可达到快速精准的测试温度, 适合模拟各种温度测试和调节的应用, 获得高校普遍认可, 已广泛参与集成电路研发重点项目的研究.

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相关探针和电子显微镜（CPEM）是一种结合扫描电子显微镜（SEM）和扫描探针显微镜（SPM）的新技术。 集成电路中的目标层可以通过SEM和SPM在同一地点，同时和相同的协调下进行分析系统。CPEM图像包含表面形貌信息以及典型的SEM细节,SPM / FIB / SEM技术的集成显着简化了用于故障分析，质量控制和集成电路研发的去层过程.

在电子电路中，除了接触最多的电子元器件（ 例如电阻，电感，电容，二极管，三极管，集成电路等） 以外，还有其他常用电子元器件，如电声器件，开关及接插件等。电子元器件的检测是家电维修的一项基本功，安防行业很多工程维护维修技术也实际是来自于家电的维护维修技术，或是借鉴或同质。如何准确有效地检测元器件的相关参数，判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否。Delta德尔塔仪器专业为电子元器件的检测提供整套测试仪器，我们可以各类电子、电器制造厂商提供一下检验测试项目的专业仪器设备：集成电路测试：成品测试、老化筛选、失效分析等；破坏性物理分析：外部目检、X射线检查、粒子噪声（PIND）试验、密封性试验、内部气体成分分析、内部目检、内引线键合强度、扫描电镜、芯片剪切强度；可靠性寿命和老化筛选：老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性强化试验；环境试验：正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞（或连续冲击）、恒定加速度、跌落、出点动态监测、温度-振动-湿热三应力试验、高低温低气压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、淋雨、气体腐蚀、沙尘、热真空、强加速稳态湿热（HAST）；物理性试验：物理尺寸、耐溶剂性、引出端强度、可焊性、耐焊接热、封盖扭矩、镀层厚度、阻燃性试验。电子元器件测试仪器应用测试产品类型：半导体集成电路、混合集成电路、微波电路及组件、半导体分立器件、真空电子器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件、外壳、电子功能材料及专用设备等。诸如安规继电器、电动器热保护器、压缩机用电动机热保护器、压力敏感电自动控制器、定时器和定时开关、电动水阀、温度敏感控制器、热断路器、电动用起动继电器、湿度敏感控制器、安规电容器、陶瓷电容器、贴片电容、交流电动机电容器、微波炉电容器、电磁炉用高压电容器、小型熔断器、电磁发热线圈盘、高压变压器、高压熔断器等元器件进行各项指标合格性测试。

测试设备面临的挑战：在过去，XRF （x 射线荧光）和 OES （光发射光谱）都可用于物料验证。在早期的测试作业中，只有实验室配备了物料验证所需的各种仪器。然而，随着实验室技术的小型化，工艺过程中测试和现场测试已经成为现实。碳（C）是一种重要的合金元素，常常被添加到不锈钢中以增加其硬度和强度。迄今为止，碳的分析一直是一个具有挑战性的工作。最流行的物料验证方法是采用手持式 X 射线荧光（XRF），但其无法检测碳含量。光学发射光谱法（OES）可以检测碳，但需要依托于大型笨重的推车，这也限制了其在棘手的环境中（梯子、狭小通道、沟渠、狭窄的空间等）的应用。根据不锈钢的等级，碳当量要求在 0.005％ 至 1.2％ 之间。在某些不锈钢中，不允许碳含量过高，尤其是由于碳化物沉淀而可能威胁焊接性时。由于这些原因，碳含量的测定对于随时间推移全面验证等级和安全操作至关重要。Niton Apollo 手持式 LIBS 分析仪：现在，我们成功推出新的工具可供专业人员进行物料检验。Thermo Scientific™ Niton™ Apollo™ 手持式 LIBS 分析仪利用激光诱导击穿光谱技术（LIBS）在生产过程中对物料进行检验。Niton Apollo 分析仪重量仅为 6.4 磅（2.9 千克），专门用于提供方便、便携式碳含量检测方案– 在许多情况下，无需使用笨重的光学发射光谱（OES）推车。Niton Apollo 分析仪具有高效的激光和高纯度的氩气吹扫功能，可以确认或更新错误的MTR 报告，消除与焊接操作时不兼容合金相关的风险，甚至可以区分相似等级的合金。

电子学是工程学的一个重要分支, 它是一门关于为了有用的目的而对电子进行控制的学科。运用物理学的知识得知, 电子的流动可以在真空、气体、或液体中进行，也可以在固体中受限制地流动（半导体）、接近不受限制地流动（导体）、或完全不受限制地流动（超导体）。 当今, 电子产品正变得越来越复杂，工程技术人员总是力图将许多部件放在一个小小的“黑匣子”中。制造商总是想把大部分资金用在改善其生产设施，而只愿意留下很少一部分资金用于质量控制。最坏的情况是，大多数公司宁愿把他们的质量控制资金用于基本设备投资，例如购买新型扫描电子显微镜、透射电子显微镜，或是厄歇谱仪，只剩下很少一部分钱用来购买试样制备设备和消耗器材。一个众所周知的现象就是人们对试样制备的重要性一直不够重视。另一方面, 毫无疑问，最终产品的质量和可靠性取决于每个部件的性能。然而，这也总是电子工业的一个令人头痛的问题。对电子产品的截面进行金相检验是一种众所周知并通常广为接受的检验方法。然而，大多数电子产品的金相技术人员可能面临的一个问题就是他们需要进行磨光和抛光的材料比预期的复杂和困难。他们也许从来没有学习过如何去处理多层基体材料，而他们在大学学习时只学过如何恰当地制备均匀的材料，例如钢、铜合金或铝合金。此外，他们还须面对设备很差的金相实验室，消耗器材的品种也很有限，并且使用所谓的“传统或常规方法”来制备先进的电子产品试样。一般情况下，常规试样制备方法是从240#碳化硅砂纸开始，先进行磨成平面工序，接着使用600#、1200#砂纸，然后用0.3 ?m 氧化铝进行粗抛光，以及0.05 ?m 氧化铝在长绒毛织物上进行最终抛光，这样可获得光亮的表面。制备方法还可能因地而异，甚至还取决于实验室有哪些现成的消耗器材。当今，这种制备方法已经不适于用来制备先进材料。此外，他们也没有想到他们的试样是否好到足以和先进的显微镜或扫描电子显微镜相匹配。在本文中，我们试图给出各种集成电路（IC）封装、引线连接，以及其它部件的试样制备方法。

测试设备面临的挑战：在过去，XRF （x 射线荧光）和 OES （光发射光谱）都可用于物料验证。在早期的测试作业中，只有实验室配备了物料验证所需的各种仪器。然而，随着实验室技术的小型化，工艺过程中测试和现场测试已经成为现实。碳（C）是一种重要的合金元素，常常被添加到不锈钢中以增加其硬度和强度。迄今为止，碳的分析一直是一个具有挑战性的工作。最流行的物料验证方法是采用手持式 X 射线荧光（XRF），但其无法检测碳含量。光学发射光谱法（OES）可以检测碳，但需要依托于大型笨重的推车，这也限制了其在棘手的环境中（梯子、狭小通道、沟渠、狭窄的空间等）的应用。根据不锈钢的等级，碳当量要求在 0.005％ 至 1.2％ 之间。在某些不锈钢中，不允许碳含量过高，尤其是由于碳化物沉淀而可能威胁焊接性时。由于这些原因，碳含量的测定对于随时间推移全面验证等级和安全操作至关重要。Niton Apollo 手持式 LIBS 分析仪：现在，我们成功推出新的工具可供专业人员进行物料检验。Thermo Scientific™ Niton™ Apollo™ 手持式 LIBS 分析仪利用激光诱导击穿光谱技术（LIBS）在生产过程中对物料进行检验。Niton Apollo 分析仪重量仅为 6.4 磅（2.9 千克），专门用于提供方便、便携式碳含量检测方案– 在许多情况下，无需使用笨重的光学发射光谱（OES）推车。Niton Apollo 分析仪具有高效的激光和高纯度的氩气吹扫功能，可以确认或更新错误的MTR 报告，消除与焊接操作时不兼容合金相关的风险，甚至可以区分相似等级的合金。

理学推出的CQL 1064nm手持式拉曼分析仪，测试结果清晰明了，适合非科学家使用，可用于复杂样品类型的芬太尼分析。CQL手持式蓝粉分析仪具备分析大量和微量物质的能力，可穿透有色包装进行监测，即使是混合物，用户也能快速获得分析结果。

喜传捷报，Real 900手持式矿石分析仪凭借产品的先进技术和卓越性能，再度吸引地质行业订单，为浪声仪器公司带来又一重要客户。 Real 900手持式矿石分析仪利用先进的浪声SmartReal专利技术实现了全元素分析应用，拥有快速、精准、无损等特点，有效解决了钢铁及有色金属、矿料分析、冶金、建材等行业全元素分析检测的需求。浪声仪器各系列产品不断的跨行业，跨领域的应用使浪声公司在分析测试领域不断突破并保持技术领先地位。作为国内便携式分析测试仪器行业的领航者，浪声仪器以一个个知名客户的应用实例再次向业界展示了企业的技术力量与雄厚实力。

捷克科学院、捷克南波西米亚大学与英国帝国理工学院利用多种蓝藻Synechocystis sp PCC 6803突变体进行研究，发现在光系统II装配初期，D1和D2蛋白的有效组合需要一种光合作用特殊红素氧还蛋白RubA。这一研究成果发表于2019年《The Plant Cell》。研究者使用荧光灯对样品进行培养，并模拟光暗周期变化以激活光合功能。荧光灯光谱使用SpectraPen SP110手持式光谱仪进行测量，以确保其符合实验要求。之后对样品吸收光谱进行的测量，展现了不同突变株对各个波段光的吸收率变化。

XRF是在采矿业进行元素分析的标准技术。过去，矿工们只能收集样品送实验室分析，费用高昂，而且相当耗时，而现在美国尼通手持式矿石分析仪已经成为采矿现场工具箱中不可或缺的设备。美国尼通XRF分析仪不仅缩短了测试耗时，而且削减了分析费用。它可以现场完成从磷到铀的元素分析，适用于测试固体、液体、粉尘、实心体、碎片、过滤物质、薄膜层与泥浆等。

本研究通过对制药及相关行业常用的 198 种原料的方法性能进行广泛表征证明手持式拉曼光谱仪对制药原料鉴别的广泛适用性。每种材料的方法开发仅需一个样品。在近 40,000次方法挑战中，正确阳性鉴别率高达 100%；正确剔除率高达 99.9%。手持式拉曼光谱仪为鉴定原料特性的其他分析技术提供一种颇具吸引力的备选方法。该技术针对各种材料，方法开发和确认简单，可在仪器间直接进行方法转移，使手持式拉曼光谱仪既可提高测试原料的质量，又可削减成本。

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西班牙巴斯克大学、莱里达大学和阿尔梅里亚大学合作研究了芝麻菜在超市贮存过程中的生理变化。他们将从超市购买的密封包装芝麻菜在模拟超市贮存环境（包括温度、湿度、光照、光暗节律）中处理了3天。之后进行了一系列生理与营养成分分析。首先他们使用FluorPen手持式叶绿素荧光仪结合视觉品质分级来对芝麻菜处理的品质进行快速检测。最大光化学效率Fv/Fm是用来衡量植物受胁迫程度最灵敏也是应用最广泛的参数之一。结果证明，Fv/Fm与视觉品质分级有很好相关性，是非常好的检测贮存蔬菜品质的参数。

浪声手持式矿石分析仪原装配置的50KV微型X射线管，可以用来激发包括Ni等元素的荧光，通过这些元素的浓度(尤其是Y)，就可以推断包含Y的主矿物的重稀土元素的含量，并对稀土矿进行智能分组。同时矿石分析仪本身可以分析自SI到U的所有元素含量，从而满足大部分矿业的的需求。

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芬太尼（Fentanyl）是一种强效的类阿片止痛剂，截至2012年，芬太尼是医学中使用最广泛的合成阿片类药物。其特点是起效迅速且作用时间极短，静脉注射后1分钟起效，4分钟达高峰，维持作用30分钟；肌内注射后约7分钟起效，维持约1~2小时。它是脑中μ -阿片受体的强力激动剂，芬太尼比吗啡效力高50~100倍，是海洛因的50倍；而其衍生物卡芬太尼（carfentanil）的药效是芬太尼的100倍，海洛因的5000倍，吗啡的10000倍，只要0.02克，就足以使一个成年人毙命。本应用主要介绍如何使用Serstech手持式拉曼光谱仪检测芬太尼。

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食品的稳定性测试通常需要进行一系列气候条件模拟试验，以评估食品在不同环境条件下的性能和稳定性。这些试验包括温度、湿度、光照、氧化还原等模拟试验。以下是食品稳定性测试中常用的环境试验设备：1. 恒温恒湿试验箱：用于模拟不同温度和湿度条件下的食品稳定性测试。2. 冷热冲击试验箱：用于模拟食品在温度波动条件下的稳定性测试。3. 光照试验箱：用于模拟不同光照条件下的食品稳定性测试。