膜厚计

我公司现在打算对LED中的管芯背胶厚度进行管控，可是找了几家卖仪器的都只能测涂层厚度（固化后的）和镀层厚度都属于固体测试厚度类别的。而我现在需要测试的是管芯后面涂敷的液体导电胶，此导电胶没有进行固化之前的厚度数据。管芯背胶的厚度大约2μm-4μm之间，测试的时候被测物体为液体。现在我想使用湿膜厚度计测试，请推荐一下符合该测试范围的仪器谢谢！

紫外分光光度计测薄膜的厚度nm级的,仪器是岛津UV3101,配有积分球,软件是老的,现在不能适WIN95以上的,求助有没有更新的软件

由于柱子的膜厚和文献上的不一样，确切地说是长和内径都一样就是膜厚由0.2变成了1，各位高手，我的保留时间会发生怎样的变化呢，谢谢啦！

想訊問關于測定陽極氧化膜厚度測定的儀器，國家標准法里有用分光速顯微鏡測定，不知道那家儀器好，請各位提供意見，謝謝!

YST604-2006金基厚膜导体浆料.pdf[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=39147]YST604-2006金基厚膜导体浆料.pdf[/url]

有对n&k1712膜厚仪熟悉的么？想请教几个问题？

流动相中加离子对试剂时，是流动相过膜后直接加入使用还是先加入试剂再过膜呢？

传质阻力项Cu两个人同时向前走，其中一个人因为陷入泥坑而耽误了时间，必然造成他落后于另一个人。组分分子在色谱柱内的情形也与此相似。按照塔板理论，默认这个人陷入泥坑再出来的时间为0，即两相迅速达到平衡。但这是需要一定时间的。两个人因此而产生的距离与两方面因素有关，即两个人走路的速度和在泥坑中花费的时间。花费的时间由色谱柱和载气决定，因此是一个常数，所以因此拉开的距离与载气运动速度u成正比。陷入泥坑的时间，即传质阻力，包括三方面：气相传质阻力，液相传质阻力，接界阻力。由于游泳的速度明显小于跑步速度，即液相传质阻力在三者中占据了主要地位，因此液相传质阻力的影响是最明显的。因此厚液膜的色谱柱，理论踏板高度H更大。薄液膜有利于提高柱效率。上边说到 “厚液膜的色谱柱，理论踏板高度H更大。薄液膜有利于提高柱效率。”但我们知道 厚的液膜柱子效率更高，只是保留时间增加，具体是怎么回事 谁能解释一下 ，谢谢

24日上午，在振业大厦上班的林小姐剥开在家煮好的鸡蛋，发觉不对劲，没有完全敲坏的蛋壳质地像是乒乓球，轻轻放在桌面上还能弹跳起来。　　林小姐切开鸡蛋，发现蛋清和蛋黄都很硬，而且颜色分布不如正常鸡蛋那样有层次感，质感如同橡皮糖。　　林小姐说，这些蛋是“珍珠蛋”，一斤要9块多钱，很贵，是在滨北菜市场买的。林小姐说:“我早上找了很多部门，但没有一个地方能够检验。”　　记者联系了市农产品质量安全检测中心，一位不愿透露姓名的工作人员称，现在国家只有卫生标准，没有质量标准，因此无法判定到底消费者所买的问题鸡蛋是否为人造蛋。　　壳粗膜厚没腥味 蛋黄坚固抓不破　　近日，方先生致电本报说，他买到假鸡蛋了。　　方先生说，炒菜时打了一个鸡蛋，发现膜很厚很有韧性，要用较大力气才能扯断，“就像橡皮筋那样。”方先生回忆起不久前，在报纸上看到人造蛋的特点，一比对，方先生说自己所买的鸡蛋极可能就是人造鸡蛋。　　他当场打开一个鸡蛋，蛋清像水一样稀，而蛋黄部分很坚固，用手抓了好几下都不破，蛋壳上的膜跟纸一样厚，不易扯断。　　方先生告诉记者，他最近两天老是恶心想吐，几个邻居都嘲笑他这几天像孕妇一样。　　市工商局工作人员介绍，存储、运输过程不当都会引起鸡蛋出现异样。广大市民购买鸡蛋时注意咨询、甄别，并索票索证，一旦出现问题，可以凭据维护自己的权益。　　据行内人士介绍，人造鸡蛋的蛋壳是用碳酸钙做的，蛋黄和蛋清则是用海藻酸钠、明矾、明胶、食用氯化钙加水、色素等制成。　　人造鸡蛋所用的都是化学成分，主要是利用海藻酸钠的钙化，顶多就是一个凝胶体，其中的明矾、明胶等平时只是作为食品的添加剂、辅助剂，而国家标准对添加剂用法、用量都有明确规定，在人造鸡蛋中却成了主要成分，对人体没什么好处，营养角度上与真鸡蛋相比更是不可同日而语。　　同时，有关专家指出，氯化钙也分食用级和工业级，色素也是一样，而这些人造蛋厂家都是地下工厂，很难说这些工厂用些什么原料。　　人造鸡蛋毫无蛋味，研究发现，长期食用会造成记忆力衰退、痴呆等。　　如何识别人造鸡蛋:　　1.“人造蛋”蛋壳两端有穿孔痕迹；　　2.在晃动时“人造蛋”会有响声，这是因为水分从凝固剂中溢出的缘故；　　3.“人造蛋”打开后不久蛋黄、蛋清就会融到一起，这是因为蛋黄与蛋清是同质原料制成所致；　　4.打荷包蛋时，蛋黄、蛋清在锅里会散黄；　　5.假鸡蛋的蛋壳比真鸡蛋的外壳亮一些，但不太明显；　　6.真鸡蛋会有隐隐的腥味，而假鸡蛋则可能会有一股化学药剂味。

请问有没有人测量脂质体的膜厚啊？ 我想测量脂质体的膜厚，不知道有没有人测量过这个？我想测几个样品，有没有人知道哪里有这方面的经验？

我们可以提供激光光源，日本人说这种光源可以测膜层厚度、也可以用在台阶仪以及原子力显微镜，我到哪里能找到专业的知识和国内的生产厂家呢？

请问红外压膜机加压后为什么拿不掉上压头？如何使用模具？

刚接触气质没多久，很多不懂的地方。很多标准和方法上写的色谱柱都有会介绍一种 然后说其它的等效色谱柱也可以。这个等效色谱柱是怎么判断的？ 是只要膜内壁的涂层物质一样就是等效的么？还有柱子的膜厚有什么影响么？ 我做挥发性有机物 用的是30M*0.25mm*0.25 的6%腈丙苯基/94%二甲基聚硅氧烷固定液书上推荐的是30M*0.25mm*1.4um的6%腈丙苯基/94%二甲基聚硅氧烷固定液这两根柱是等效的吧？ 膜厚不同对物质分离的影响大不大的？ 有不有必要再买一根1.4um的？

请教：如何从摇摆曲线或theta-2theta曲线计算薄膜厚度（几nm至几百nm）

[em09504] 前几天我买了铜网，根据书上所说做几个碳支持膜，可是做出来之后一看，太厚了，怎么回事，数据可都是跟书上的一样哦

因为项目结项，处理一台薄膜测厚仪，价钱便宜，欢迎有需要的朋友来电咨询。还有膜评价装置、涂膜机等。这款薄膜测厚仪2万元处理，济南兰光机电技术有限公司生产的。

[em09] 各位高手，大家好！我很想只到用用X射线荧光分析如何测涂膜的厚度？镀锌板底材，涂膜厚度理论值1um，怎样来测这个膜实际的厚度？谢谢大家！

我是用恒电位的方法来电沉积ZnS，如何才能把膜镀厚？谢谢！

铝表面自然生长的氧化膜通常小于10nm，如果经过退火处理，氧化膜会随温度升高而增厚，曾经有人用SEM-EDS 测量铝样品表面区的氧的相对含量（面积比），并利用ESCA 化学分析电子光谱测量氧化膜的厚度，最后得出氧化膜厚度和氧相对含量的关系式，这样就可以通过电镜能谱得到氧化膜的厚度。但以上方法对于电镜的试验条件变化比较敏感。又听说利用辉光光谱GDS或GDOES可以测量类似的氧化膜厚度，即通过测量氧的浓度分布来反映膜的厚度，我相信这是可行的，各位谁知道上海哪里有这样的仪器？又听说可以用XPS来测量膜厚，谁知道这方面的信息？

一、对于基体为铁的镀（如镀锌、镍、铬）、涂（如塑粉、油漆）层，其膜厚检测目前有几种方法？原理各是什么？哪种测量精度最高？二、我们目前用电磁式测厚仪测锌层，为何总感觉测试数据波动很大？总感觉测试数据不可靠，请问这种设备的测试精底到底有多少？

最近有几个化合物，峰形有些拖尾，不太好。化合物主要是一个四元环，然后一边带氨基另外一边带羟基，这种模式。用的1701的，不是很好，于是准备试用-1的，问岛津申请试用，结果他们推荐一款胺类柱。没扭过，无奈下接受了他们的氨基柱试用，结果寄过来是5um的膜厚。一时之间就很犹豫了，为什么犹豫呢，因为当时[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]也是岛津的，推荐的是快速接口，使用金属压环！换两个压环600块！，如果能行还好，不能行，这600块就是一瞬间白浪费。虽然只是员工，但是作为个人，这浪费也是实在是有些难以接受。膜厚5um和0.25um是否会有很大差距？原来用的1701 30*0.32*0.25，分离度都是很好的，且15min内大约200度内都能很好分离，只是拖尾，峰形差。现在换成了专用的胺类化合物色谱柱，30*0.32*5um，不知道是否会有非常大的差异，甚至不能出峰的情况？

请问谁知道正常氧化条件下铝的氧化膜厚度的测量方法，估计在10nm以下。听说用辉光光谱可以测，上海哪里有这个仪器呢？另外ESCA 化学分析电子光谱也能测，谁知道具体信息。还有人说XPS也能测，谁知道？

医疗器械的漆膜耐冲击能力用漆膜冲击器怎么测？请问1.医疗器械的漆膜耐冲击能力用漆膜冲击器怎么测(我们是测方管和圆管上面的烤漆)？我们的零件根本放　不进去，难道要求供应商随零件提供一块漆膜冲击器能放进去的样品吗？2.医疗器械的烤漆膜厚度有什么标准有规定吗?请那位高手解答下,谢谢.

相同型号不同膜厚的色谱柱（比如DB-5的0.25微米和0.1微米膜厚的柱子），在分离效果上有何差别？0.1膜厚的柱子的优点好像是高温下流失低吧？那缺点是什么呢，分离效果稍差？如果0.1膜厚的柱子也能达到分离效果，并且最后的柱温超过300度，是不是应优先选择0.1膜厚的柱子？在使用寿命上不同膜厚的柱子有差异吗？欢迎有经验的大牛发表意见～～～～～

我想测定聚氨酯膜中溶剂的残余量，溶剂是DMAC，沸点160左右，我该怎么做？膜厚几微米。气－质色谱连用可不可以定量？

摘要: 借助于不同的色散公式， 运用改进的单纯形法拟合分光光度计测得的透过率光谱曲线， 来获得薄膜的光学常数和厚度。用科契公式分别对电子束蒸发的T i O 2和反应磁控溅射的S i3 N 4，以及用德鲁特公式对电子束蒸发制备的I T O薄膜进行了测试， 结果表明测得的光学常数和厚度， 与已知的光学常数以及台阶仪测得的结果具有很好的一致性。这种方法不仅简便， 而且不需要输人任何初始值， 具有全局优化的能力， 对厚度较薄的薄膜也可行。采用不同的色散公式可以获得各种不同薄膜的光学常数和厚度， 这在光学薄膜、 微电子和微光机电系统中具有实际的应用价值。

请问薄膜厚度的测试方法都有哪些啊？怎么测试啊？厚度约为几十至几百纳米。非常感谢！

前阵子接别人的仪器和柱子做了批样品，用的是安捷伦6890，0.53口径，膜厚1um的hp-5柱，分离效果非常好；回来用自己的7890，0.32，膜,0.25um的hp-5走，分离度就不行了，估计是膜厚不足，分离效果不好，正在改变参数由此想到，小口径的柱子有什么其他的优势吗？