薄膜复合膜热合强度试验仪

薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍：LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示，加上电脑可实现微机操作，参数随意设定，可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy： 30KN（任意选） 2、荷重元精度Load Accuracy： 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy： 4、操作方式Control： 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width： 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke： 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy：: ± 0.5%以内； 9、位移测量精度Stroke Accuracy： ± 0.5%以内； 10、变形测量精度Displacement Accuracy： ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device： 电子限位保护，紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight ： 约140kg

一、应用领域适用于工业气体，化工气体，环境气体等的采集保存二、产品特点 1、由聚合物膜和铝箔多层复合 2、耐化学性，可短期存储一般工业气体 3、容积规格：50mL~500L（其他尺寸可定制） 4、接口方式：聚四氟阀门、PP阀门、取样阀门、PE压条密封多种可选 5、本公司同样提供各种尺寸铝箔复合袋，用于包装VOC样件，如汽车内饰件总成/零部件等三、产品参数型号铝箔复合膜采样袋薄膜材质铝箔复合膜规格50mL~500L（或其他定制规格）阀门聚四氟阀门、PP阀门、进样阀门

剥离强度试验机配件适用于胶粘剂、胶粘带、电子包装袋, 不干胶、医用贴剂、保护膜、离型纸、复合膜、人造革、编织袋、薄膜、纸张等相关产品的180度剥离、拉断等性能测试。剥离强度试验机配件特点：微电脑控制、LED数码显示、PVC操作面板四档量程可选剥离、拉伸两大试验程序、七档试验速度最大值、最小值、平均值三种测试数据成组统计分析自动清零、故障提示、过载保护、行程保护伸长量读数标尺微型打印机RS232接口网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输剥离强度试验机配件规格 负荷范围：100N冲程：300mm定位控制分辨率：0.005mm速度：5~500mm/min速度精度：0.75%电　　源：AC 220V 50Hz外形尺寸：92cm (L)×30 cm (B)×38 cm(H)超净重：36kg孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括拉力试验机,万能材料试验机在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。关于剥离强度试验机特点,剥离强度试验机技术指标的更多消息，孚光精仪将在第一时间更新并呈现，想了解更多内容，关注孚光精仪等你来体验！

铝箔复合膜采样袋1L【单阀门】铝箔复合膜采样袋3L【单阀门】铝箔复合膜采样袋5L【单阀门】可定制双阀门气袋

试验机薄膜夹具特点： 适用范围：纸张、薄膜等拉力试验

EDX迈拉膜、XRF测试薄膜、样品薄膜、XRF迈拉膜、XRF专用圆形薄膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 106#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：106产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度2.5 μm，直径63.5mm，500片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：SpectroCertified?Thin-Film Sampel SupportsMYLAR? POLYESTERPRE-CUT CIRCLES(2.5” Diameter x 63.5mm)CAT. NO：106Gauge：0.00010”，2.5 μm；0.10mil，25,400ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex? INDUSTRIES，INC.Contents：500Circles； Lot No：092375。现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

多联不锈钢溶液过滤器/六联不锈钢全自动溶液过滤器/悬浮物抽滤装置/不锈钢过滤器/实验室薄膜过滤器 型号：BGZGLC-6BGZGLC系列多联不锈钢溶液过滤器是一种应用于化学实验室中的溶液过滤装置。目前，国内实验室在对溶液进行过滤时，一般采用玻璃材质砂芯过滤装置，这种方法每次只能过滤一个样品。过滤速度慢，效率低．人工劳动强度大。同时玻璃材质易碎不易高温消毒。本发明的目的是为了一次同时对多个样品进行过滤。提高实验工作效率。同时316L卫生级不锈钢材质耐酸碱，耐腐蚀．易于高温消毒，使分析结果更加稳定可靠。并授予国家专利本产品由316L卫生级不锈钢滤杯、卫生级不锈钢滤头、卫生级不锈钢过滤支架，卫生级不锈钢气嘴．卫生级不锈钢碟阀，不锈钢卡箍，集液室和真空动力组成。当需要溶液过滤时，在滤头上放上水系滤膜把不锈钢滤杯与滤头通过卡箍固定在一起，气嘴与真空动力相连，打开各个碟阀，把溶液注入滤杯，打开真空动力．溶液通过滤头上的滤膜在动力作用下溶液迅速通过过滤支架流入集液室．待滤杯中溶液全部流入集液室．只须取下待分析滤膜即可。本产品可根据操作者需要．选用不同材质的滤膜．对不同样品进行过滤．如样品中悬浮物．细菌类，叶绿素等．适合于所有溶液过滤工作。仪器特点：316L卫生级不锈钢。替代玻璃材质，经久耐用。大大减少人为损坏。降低经费开支。 易于高温消毒，耐酸碱，耐腐蚀。 一次可同时对2、4、6个样品进行过滤大大提高了工作效率。 适台于所有样品过滤工作。 说明书过滤器说明书.doc

美国QMAXIS金刚石薄膜美国QMAXIS金刚石薄膜——DiaFilm，将微米级、纳米级金刚石微粉，用超精密涂布技术，粘结在高强度薄膜表面，金刚石颗粒均匀、致密。DiaFilm既具有金刚石研磨盘、碳化硅砂纸等固定磨料的高磨削力，又能达到以抛光液等游离磨料实施的抛光精度。较好的强度和柔韧性，可实现曲面抛光的理想效果。干法、湿法均适合。DiaFilm金刚石薄膜特别适用于难以研磨、抛光的材料，如，光通信零部件、芯片、人体植入物、玻璃纤维、玻璃、陶瓷、珠宝、硬化金属、复合材料，以及用于SEM和TEM分析的微电子元器件等多种材料。订货信息如下：DiaFilm 金刚石薄膜 包装规格：5片/包

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

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