显微大相位差双折射应力仪

PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述： 日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

PHL应力双折射仪器PHL PA-micro显微型应力双折射仪PHL应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro：型号PA-Micro测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸250x487x690mm观测到的最大面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口千兆以太网（摄像机信号）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View（for Micro）

双折射应力测量仪PA-110-T大面积应力双折射应力测量仪概述：日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的最大面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

WPA-100镜头双折射应力测试仪快速定量测量透明材料的应力双折射分布相位差、双折射和内部应力分布操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 小型镜头双折射分布測量系統WPA-100最适合用來检测手机镜头的双折射/相位差以雙折射/相位差結果為基準自動判定合格與否鏡片的雙折射現象，會造成鏡片的成像性能(MTF)下降。這是因為決定光線折射角度的折射率因入射偏光而呈現不穩定的狀態。智慧型手機所使用的鏡片需要高度解析度，因此減少雙折射現象，及掌控雙折射的數值，是製造智慧型手機鏡片時，不可缺少的動作。WPA-100-S正符合這樣的需求，並能以高速完成各項測量。 WPA-100小镜片双折射应力测试仪产品特点： 大的测试范围图表功能CSV格式输出快轴/慢轴可选择自动的合格与否判定 l 可升级至满足小于φ10mm的透镜的检测。l 自动选择图形区域和自动判定合格与否的功能。 WPA-100 小镜片双折射应力测试仪主要参数表：型号WPA-100-S测量范围0-4000nm重复性1.0nm像素数384x288（≒11万）pixels测量波长523nm,543nm,575nm产品尺寸200x275x309.5mm观测到的面积11.6x15.8mm自身重量和电源重量9kg和4kg电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件WPA-View (for WPA-100-S)

应力双折射仪WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器。PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO匹配显微镜测量双折射测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体薄膜、金属晶体、不透明基板等材料在显微镜视场下评估和管理双折射分布PHL应力双折射仪器参数：型号WPA-Micro测量范围0-4000nm重复性1.0nm像素数384x288测量波长523nm,543nm,575nm尺寸250x487x690.0mm观测到的面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件WPA-View（for Micro）

在PA系类设备的基础上，加装晶圆专用的装置，可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

该型号适用于 0 到 130nm 的低双折射产品检测，可高速测量 500 万像素的高分辨率双折射/相位差分布，它是一种能够在显微镜视场中测量双折射的系统，随附的显微镜可选择奥林巴斯或尼康。应用：通信光纤晶体纤维微小透明样品技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm6视野尺寸142x170um到3.5x4.2mm(×2，×5，×10，×20，×50)7选配镜头视野无8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

PHL应力仪PHL应力双折射仪PHL WPA-100应力双折射测试仪器PHL应力双折射测试仪简介：PHL应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice 公司成立于1996 年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。Photonic Lattice主要产品分四部分：Photonic Lattice光子晶体光学元件；Photonic Lattice双折射和相位差评价系统；Photonic Lattice膜厚测试仪；Photonic Lattice偏振成像相机。Photonic Lattice双折射测量系统 WPA-100，WPA-100-LPhotonic Lattice WPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品。Photonic Lattice WPA-100-L 可观察更大视野范围PHL WPA-100应力双折射测试仪主要参数表：型号 WPA-100 WPA-100-L测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm观测到的最大区域 100x136mm 250x340mm重量 20kg 26kg数据接口 GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S专为小镜头（10mm）双折射测量而设计配备自动选择圆形区域，相位差值传递失败判断功能，特别适合树脂镜片成型的质量控制。主要参数表型号 WPA-100-S测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 200x275x309.5mm观测到的最大面积 11.6x15.8mm自身重量和电源重量 4kg 和9kg电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片、手机镜头智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

主要简介： PHL双折射分析仪WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。 主要特点:操作简单，测量速度可以快到3秒。采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。市场占有率高的残余应力测量设备。 主要应用： 光学零件（镜片、薄膜、导光板） 透明成型品（车载透明零件、食用品容器） 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC） 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石） 有机材料（球晶、FishEve） 技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3500nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸218x290mm-360×480mm（标准）7选配镜头视野无选配8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式

主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒；视野范围内可一次测量，测量范围广；更直观的全面读取数据，无遗漏数据点；具有多种分析功能和测量结果的比较；维护简单，不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：小尺寸样品专用光学镜头主要技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸17.5x21mm到33x40mm（标准）7选配镜头视野6.3x7.5mm8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制测量案例：

主要简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。 主要特点：STS的低配版，可升级STS 。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长543nm（支持客制化）3双折射测量范围0-260nm（支持客制化）4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量尺寸A4(标准)7定制选项可定制大载台

美国Hinds成立于1971年，凭借其专利的PEM（光弹变调制）技术研发了高稳定的应力双折射测量系统，具有目前世界上最高的精度，可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度). ? 光学器件? 液晶玻璃基板, 液晶滤光片? 激光晶体? DVDs? 光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等? 相机镜头? 太阳能硅片,半导体晶圆

主要简介： 镜片的双折射现象会造成镜片成像性能（MTF）下降，智能手机所使用的镜片需要高解析度，因此需要减少双折射的影响，了解镜片的双折射的大小，是镜片生产过程中不可缺少的，WPA-200-MT正符合这样的需求，并能高速完成各项测量。主要特点:搭载自动判定软件，按下测量键，系统会根据之前设定好的双折射大小进行产品是否合格判定，并输出结果。 客制化以满足各种判定条件。 能自动选择需判定的区域。 运用实例:利用与产品的前期研发，精确分析大量数据 产线应用，简单、高效的良品判定产品质检 活用Data Log功能 主要参数:项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3500nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸34×40mm（标准）7选配镜头视野6.3×7.5-17.5×21mm8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

应力双折射测试仪器WPA-200,WPA-200-L 产品简介 WPA-200系列是Photonic lattic公司以其特有的光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。主要参数表 :型号WPA-100WPA-100-L测量范围0-4000nm重复性1.0nm像素数384x288测量波长523nm,543nm,575nm产品尺寸310x466x605.5mm450x593x915.5mm观测到的区域100x136mm250x340mm重量20kg26kg数据接口GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件WPA-View应力双折射仪应用领域：玻璃，显示组件，注塑塑料件，拉伸纤维，光纤器件，微影手提袋，镜片毛坯，镜片，硅片，矿产，激光晶体，液态晶体，双折射晶体等。

Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪 WPA-200-NIR 主要特点： 红外波长的双折射/相位差/内应力面分布测量硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估小型、簡単操作、高速測量 WPA-200-NIR能高速的测量/分析波长为850nm的双折射分布安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场 WPA-200-NIR的功能1. 高速测量面的双折射/相位差分布 NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息2. 测量数据的保存/读取 全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等3. 丰富的图形创建功能 从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图。 复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出主要技术参数型号WPA-200-NIR测量范围0~3500nm重复精度1.0nm测量尺寸范围3×4mm~100×133mm像素数384*288 pixels测量波长810nm，850nm 870nm尺寸270x337x631mm自身重量13kg

PA-300-L主要简介 PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板A4纸尺寸的样品技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

主要简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

主要简介：Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。 主要特点：可用来评估高相位差产品，PET薄膜和树脂成品三波长测定双折射范围可达3000nm可选配高相位差配件，满足10000nm的超过相位差测定需求应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃主要参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长523nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3000nm4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm6测量尺寸97×77mm ～ 2900×2310mm7定制选项光学配件，可测量超过10000nm的高相位差

PA-300-XL SIC主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域: SIC 蓝宝石技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

主要简介： 汽车车窗玻璃幅面很大，一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量，扫描测量由非常慢，无法满足实际使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪，会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统，实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。主要特点： 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快，可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长，相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器，一次得到测量结果。专用操作软件，功能强大，操作简单，便于做分析比较和品质判断。 主要参数：测量案例：

KAMAKIRI-WM Photonic Lattice online双折射测量仪产品简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域 Photonic Lattice online双折射测量仪主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 Photonic Lattice online双折射测量仪应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 Photonic Lattice online双折射测量仪技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域: SIC 蓝宝石 激光晶体技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度0.1nm6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野可选8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现全长全款的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG 可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。 可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃技术参数： 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长543nm（支持客制化）3双折射测量范围0-260nm4对应传送速度约30m/min(支持客制化)5测量重复精度1nm6视野尺寸全宽全长7选配镜头视野可扩展8选配功能可定制膜宽超过5m的系统

150AT应力双折射测量系统所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 应力双折射测量仪所属品牌：美国Hinds Instruments公司 产品简介150AT全自动应力双折射测量系统 全自动应力双折射测量系统 150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量，也可用作诸如玻璃面板，透镜，晶体，单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况，便于操作和日常监测。 150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择设置，使得测量更有针对性（高精度/大范围相位延迟量），系统有着很高的测量速度的同时也具有极高的测量分辨能力（1 mm grid spacing ），150AT应力双折射系统也提供倾斜位移平台等设计来帮助客户完成一些非常规扫描/测量需求。 产品特点自动X/Y位移平台扫描二维/三维图形/参数表格显示样品应力分布测量结果台式整机设计组装灵活位移平台设计，满足个性化定制需求强大数据拟合分析功能和友好用户界面 参数高精度测量系统选项大范围相位延迟量测量选项相位延迟量范围:0.005 to 120+ nm0.005 to 300+ nm相位延迟量测量分辨率/ 重复精度1, 2, 3:0.001 nm / ± 0.008 nm0.01 nm / ± 0.015 nm角度测量分辨率 / 重复精度1:0.01o / ± 0.05°0.01o / ± 0.07°测量速率 / 时间4:up to 100 pps / sample size dependent尺寸:910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D)光源波长5:Various (632.8 nm standard)测量光斑6:Between 1 mm and 3 mm native (can be as low as 50 μm)内置测量调制频率:PEMLabsTM Photoelastic Modulator 50 kHz or 50/60 kHz解调分析技术:Hinds Instruments SignalocTM Lock-in Amplifier or Wave Form Capture Card测量单位:nm (retardation), ° (angle)1 Typical performance at 5 nm retardation2 Up to 0.8 nm, 1% thereafter3 Up to 1.5 nm, 1% thereafter4 Maximum data collection speed. Sample XY scan time dependent on stage movement parameters.5 Custom wavelengths available6Spot sizes of less that 1 mm native require optional high resolution detector module 选项: * Additional Polarization Parameters * 超高速扫描选项 * 光谱扫描测量和RGB测量 * 客户定制内置波长选项（紫外/红外） * 手动/自动倾斜位移平台装置 * 定制样品平台加持谁记 * 定制化显示界面 (UI or DLL) * 应力计算评估软件 相关产品 光弹调制器

双折射显微成像系统所属类别： ? 光学检测设备 ? Hinds偏振成像设备所属品牌：美国Hinds Instruments公司 产品简介双折射显微成像系统 生物组织/材料 双折射分布显微成像系统 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统 可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布，并配合CCD多个像素元形成详细细致分布。结合不同组织的双折射偏振特性，可以用来分析检测生物样品/材料特定。 偏振显微成像系统、显微偏振成像系统、偏振显微镜、偏振成像、双折射显微成像 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统，Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布，Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统也可以并配合CCD多个像素元，从而Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以详细细致的显示这个分布。结合不同组织的双折射偏振特性，Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以用来分析检测生物样品/材料特定。 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以配合多个波长实现多波长扫描的实现和应用（三波长或者四波长）。Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统在配合高速偏振调制成像和CCD多像素计算方案有着独到的解决技术。 产品特点? 不需要荧光/染料标记? 支持客户需求定制光谱扫描? 支持客户需范围求点/面/线成像? 同一幅面内双折射分布/强度分布/偏振角分布成像可选? 三色（可到2400nm谱段）四色（可到3500nm谱段成像）可选 相关产品 磁光克尔效应测量系统 成像型穆勒矩阵测量系统

应力仪 双折射测量系统 应力测量 应力双折射 应力测试 应力检测 玻璃应力 birefringence Hinds Instrument Hinds仪器 双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA 最早的双折射测量系统是透镜、平行面、 曲面光学的倾斜角度评估。Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 获奖光弹调制器（ PEM）基于Exicor双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力进行评估。在国际领先的平板透镜和己完成透镜的研究和生产中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射。我们的系统是无与伦比的！了解更多产品信息以及价格请联系北京昊然伟业光电科技有限公司！