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显微大相位差双折射应力仪

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显微大相位差双折射应力仪相关的资讯

  • Photonic Lattice发布应力双折射测量仪新品
    在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数: 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸40x48mm到240x320mm(标准)7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制创新点:测量速度可以快到3秒。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布应力双折射仪 PA-300-MT新品
    主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒;视野范围内可一次测量,测量范围广;更直观的全面读取数据,无遗漏数据点;具有多种分析功能和测量结果的比较;维护简单,不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域:小尺寸样品专用光学镜头主要技术参数: 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸17.5x21mm到33x40mm(标准)7选配镜头视野6.3x7.5mm8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒;视野范围内可一次测量,测量范围广;更直观的全面读取数据,无遗漏数据点;具有多种分析功能和测量结果的比较;维护简单,不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射仪 PA-300-MT
  • Photonic Lattice发布PHL online应力双折射仪KAMAKIRI -X stage 新品
    KAMAKIRI -X stage 主要特点:STS的低配版,可升级STS 。 操作简单,可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 记录双折射的数值数据,以进行进一步详细分析。应用领域:相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)保护薄膜(PET/PEN/PS/PI)树脂成型玻璃 技术参数:项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】2测量波长543nm(支持客制化)3双折射测量范围0-260nm(支持客制化)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm(西格玛)6测量尺寸A4(标准)7定制选项可定制大载台创新点:欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备,其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合,研制在线双折射/残余应力测量仪,世界上仅有KAMAKIRI可以提供,广泛应用于光学薄膜,PVA,PC,COP和TAC等领域。PHL online应力双折射仪KAMAKIRI -X stage
  • Photonic Lattice发布online双折射测量仪WPA-KAMAKIRI新品
    主要简介:Photron集团公司是日本大型相机,视频,软件控制供应商,其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛,欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备,其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合,研制在线双折射/残余应力测量仪,世界上仅有KAMAKIRI可以提供,广泛应用于光学薄膜,PVA,PC,COP和TAC等领域。 主要特点:可用来评估高相位差产品,PET薄膜和树脂成品三波长测定双折射范围可达3000nm可选配高相位差配件,满足10000nm的超过相位差测定需求应用领域:相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)保护薄膜(PET/PEN/PS/PI)树脂成型玻璃主要参数:项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】2测量波长523nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3000nm4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm6测量尺寸97×77mm ~ 2900×2310mm7定制选项光学配件,可测量超过10000nm的高相位差创新点:可用来评估高相位差产品,PET薄膜和树脂成品三波长测定双折射范围可达3000nm可选配高相位差配件,满足10000nm的超过相位差测定需求online双折射测量仪WPA-KAMAKIRI
  • Photonic Lattice发布PA系列双折射测量仪新品
    PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 PA-300 主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域:光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅,蓝宝石等 技术参数:项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。PA系列双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布Photonic Lattice双折射测量仪超大幅新品
    主要简介: 汽车车窗玻璃幅面很大,一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量,扫描测量由非常慢,无法满足实际使用,因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪,会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统,实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。主要特点: 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快,可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长,相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器,一次得到测量结果。专用操作软件,功能强大,操作简单,便于做分析比较和品质判断。 主要参数:测量案例:创新点:解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快,可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。Photonic Lattice双折射测量仪超大幅
  • Photonic Lattice发布PHL残余应力测量仪新品
    主要简介: WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC等高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的机器,最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。 主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。可测样品尺寸更大。主要应用: 光学零件(镜片、薄膜、导光板) 透明成型品(车载透明零件、食用品容器) 透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC) 透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石) 有机材料(球晶、FishEve) 技术参数:项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3500nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸33x40mm-240×320mm(标准)7选配镜头视野3×4-12.9×17.2mm8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制测量案例: 创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒。采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。可测样品尺寸更大。PHL残余应力测量仪
  • 40年坚持,打通双折射双频激光器及干涉仪全技术链条
    双频激光干涉仪是先进制造业、半导体芯片制造等行业不可或缺的纳米精度的尺子,应用广泛。张书练教授团队(先清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,后镭测科技有限公司),以解决双频激光干涉仪关键技术为线,经近40年坚韧攀登,研究完成了“可伐-玻璃组装式单频氦氖激光器→双折射双频激光器→双折射双频激光干涉仪”的全链条技术,并批产。该技术开国内可伐-玻璃组装式氦氖激光器之先,吹制工艺或成历史。开国内外应力激光腔镜产生双频激光之先,解大频差和高功率不可得兼之难,频率差可以在1~40 MHZ范围选择而功率大于1 mW。双折射双频激光干涉仪测量70 m长度误差小于5 μm,非线性误差小于1 nm,测量速度高于3 m。1 研究背景激光干涉仪是当今纳米时代的长度基准,也是先进制造业(机床、光刻机,航空、航天等)制造的精度保证。制造精度和生产效率越来越高,对激光干涉仪的测量精度和测量速度提出了更高的要求。激光干涉仪的“激光”是(HeNe)氦氖激光器,至今无可替代。传统HeNe双频激光干涉仪存两个难点,成为瓶颈:1)国内外,我们之前,双频激光器靠塞曼效应产生两个频率,频率之差小(在3 ~ 5 MHz之间),频差越大激光功率越小,不能满足光刻机等应用的更大频率差要求(如10、20、40 MHz),频率差大,测量速度高,效率高;2)不论是单频还是双频激光干涉仪,国产还是外购,各型号都有几纳米甚至十几纳米的非线性误差,一直没有找到解决办法。通常,在单频激光器的光增益路径上加磁场后(塞曼效应)就变成双频激光器。可是,相当长的期间,购买到的大部分单频激光器因为常出现跳模,用于单频激光干涉仪时淘汰率很高,此外,加上磁场后单频并不呈现双频,双频激光干涉仪难有好的光源。经近40年坚持,研究打通了单频氦氖激光器→双折射双频激光器→双频激光干涉仪的全技术链条,批产,获得了广泛应用和认可。2 双折射双频激光器及干涉仪的关键和全链条技术2.1 双折射双频激光器置晶体石英片(图1a中的Q双面增透)或有内应力的玻璃元件(图1b中的M2右表面镀反射膜)于激光器谐振腔内,这些元件的双折射使激光频率分裂,一个频率分裂成两个频率,两个频率的偏振方向互相垂直(正交偏振)。反复实验证明,激光器可输出频率差大于但不能小于40 MHz两个频率。如果频率差稍大于40 MHz,在改变(调谐)激光频率谐振腔长(即用压电陶瓷1纳米一步“距”的推动M2改变激光谐振腔长)过程中看到的是一个频率振荡会陡然变成两个频率振荡,而前者功率陡然下降一半,刚升起的频率则获得同样的功率。继续调谐腔长,最早振荡的频率会陡然消失,而后起振的频率功率升高到最大。如果频率差小于40 MHz,两频率则有你无我。图2示出了频率差20 MHz时o光和e光的光强度此长彼消得过程。理论和实验一致。图1 激光频率分裂原理图。(a)晶体石英片Q于激光谐振腔内,(b)激光输出镜为M2右表面,对M2加力使激光反射镜内产生应力图2 频差20 MHz时的强烈模竞争。激光强度随腔长调谐(改变)的实验曲线。理论和实验一致图3给出了两个频率的频率差多大时,在频率轴上两个频率的共存区的宽度,也即两个频率差大小对应的共存频域宽度。曲线最左侧可见,在约40 MHz时,共存宽度迅速下降趋于0 Hz,也即小于40 MHz时,两频率之一熄灭,频率差消失。图3 实验测得的两个频率共存的频域宽度和激光频率差的关系2.2 双折射-塞曼双频激光器塞曼双频激光器的频率差一般在5 MHz以下,功率随频率差增大而减小,7 MHz时的激光功率仅0.2 mW以下。作者团队研发的双折射双频激光器频率差大于40 MHz,研制成的双折射-塞曼双频激光器可以输出百KHz到几十MHz的频率差,而功率不因频率差增大而改变,可以达到1.5 mW。双折射-塞曼双频激光器包括两项关键技术,先由双折射造成激光器频率分裂,决定了激光器输出为两个偏振正交频率以及它们的间隔(频率差)的大小。再因激光器上加了横向磁场,横向塞曼效应使增益原子分成两群——π群和σ群。π群和σ群光子的偏振对应双折射互相垂直的主方向,也即正交偏振的光“各吃各粮”,它们之间的相互竞争不存在了,无论频率差大小都能振荡。频率差可以是3、5、7、10、20、40 MHz或更大。2.3 内雕应力双折射-塞曼双频激光器提出了“内雕应力”的概念和产生双频的原理,即用窄脉冲激光器对激光腔镜表面或基片内部造孔(或穴),造成激光腔镜内的应力精确改变(图4所示),“雕刻”提高了频率差的控制精度。“内雕应力”双折射双频激光器不仅用于国产双频激光干涉仪,也用于运行中的光刻机的激光器替换。同时,提供了科研单位的科学研究。该激光器替换正在服役的光刻机的原有激光器,使光刻机机台误差由24 nm下降到6 nm。图4 内雕应力双折射-塞曼双频激光器。M2内部雕刻出的孔造成激光器的双频,磁条PMF1和PMF2消除激光器强模竞争2.4 可伐-玻璃组装式(无吹制)双频激光器国内,研制生产HeNe激光器历史很长,但我国一直靠吹制工艺制造氦氖激光器,而且不能制造可伐-玻璃组装式氦氖激光器。北京镭测科技有限公司研制成可伐-玻璃组装式单频氦氖激光器,功率大于1 mW,满足单频和双频激光器的需求。同时,这一技术将使整个国产氦氖激光器告别吹制,进入一个新的技术高度(如图5所示)。图5 可伐-玻璃组装内雕应力双频激光器(镭测科技提供)2.5 研制成的双频激光干涉仪技术指标作者强调的是,我们有了可伐-玻璃组装式激光器和双折射(内应力)-塞曼双频激光器,双频激光干涉仪有了强力的“心脏”,有了自主可控的基础。团队又全面设计干涉仪的光、机、电、算。时至今日,可伐-玻璃组装式双折射(-塞曼)双频激光器(非吹制)和干涉仪已批量生产,正在满足科学研究和产业的需求。中国计量科学院对双折射-塞曼双频激光干涉仪的测试结果:频率稳定度为10-8,分辨力为1 nm,非线性误差小于1 nm(图6所示),12小时漂移35 nm(图7所示),70 m长度测量误差小于5 μm。这些数据来自中国计量科学院测试证书:CDjx 2014-2352, CDjx 2018-4810, CDjx 2020-04463等。图6 双频激光干涉仪非线性误差图7 双折射-塞曼双频激光干涉仪12小时零点漂移3 展望在实现“可伐-玻璃组装式激光器”→“内雕应力双折射-塞曼双频激光器”→“双折射-塞曼双频激光干涉仪”全链条技术基础上,进一步发展各种规格的可伐-玻璃组装式激光器,以开拓双折射-塞曼双频激光干涉仪的应用深度和应用范围。
  • 科学家研制出稳定且双折射可调的深紫外液晶光调制器
    近日,中国科学院院士、中科院深圳先进技术研究院碳中和技术研究所(筹)所长成会明与副研究员丁宝福团队,联合清华大学深圳国际研究生院教授刘碧录团队、中科院半导体研究所研究员魏大海团队,首次发现了二维六方氮化硼(h-BN)液晶具有巨磁光效应,其磁光克顿-穆顿效应高出传统深紫外双折射介质近5个数量级,进而研制出稳定工作在深紫外日盲区的透射式液晶光调制器。   双折射是引起偏振光相位延迟的一个基本光学参数。有机液晶因双折射可受外场连续调制,而被广泛用作光调制器的核心材料。然而,传统有机液晶在深紫外光照射下吸收强且不稳定,液晶光调制器仅能工作在可见及部分红外光波段,无法工作在紫外及深紫外波段。同时,透射式深紫外光调制器在紫外医学成像、半导体光刻加工、日盲区光通讯等领域颇具应用前景。因此,发展一种在深紫外光谱区稳定、透明度高及具有场致双折射效应的新型液晶材料,有望推进透射式深紫外液晶光调制器的发展。   科研团队研制出一种基于二维六方氮化硼无机液晶的磁光调制器。研究采用的氮化硼二维材料具有极大的光学各向异性因子(6.5 × 10-12C2J-1m-1)、巨比磁光克顿-穆顿系数(8.0 × 106T-2m-1)、高循环工作稳定性(270次循环工作后性能保留率达99.7%)和超宽带隙等优点,同时二维六方氮化硼是通过“自上而下”的高粘度纯溶剂辅助研磨法剥离制备而成。由于超宽的带隙,二维六方氮化硼液晶在可见、紫外和部分深紫外光谱区具有颇高透明度。在磁场作用下,基于二维六方氮化硼液晶的磁光器件在正交偏振片下呈现出明显的磁控光开关效应。   科研人员通过观察入射光偏振态与磁场作用下液晶透射率关系的实验揭示了二维六方氮化硼在外场作用下顺磁场的排布方式。在入射光的偏振态被调整为平行和垂直于磁场的两种状态下,后者呈现较高的光透射率,间接印证了二维六方氮化硼纳米片平行于磁场方向排布。该研究针对层状二维六方氮化硼薄膜的磁化率各向异性测试揭示了面内易磁化方向,进一步证实了二维六方氮化硼纳米片顺磁场排布的物理机制。结合二维氮化硼纳米片的极大的光学各向异性,研究发现了二维六方氮化硼液晶的巨磁致双折射效应。   该研究选用波长处于深紫外UV-C日盲区的266 nm激光,测试二维氮化硼液晶在该光谱区的光学调制性能。通过开启和关闭0.8特斯拉的磁场,研究实现了该调制器在深紫外光波段的透明与不透明两种状态之间的切换。经过270个不间断开关循环测试后,性能的保持率达99.7%。   鉴于二维材料家族成员庞大、带隙覆盖宽,基于无机超宽带隙二维材料液晶的光调制器的光谱覆盖范围有望向更短深紫外波段延伸,促进液晶光调制器在深紫外光刻、高密度数据存储、深紫外光通讯和生物医疗成像重要领域的应用。   相关研究成果以Magnetically tunable and stable deep-ultraviolet birefringent optics using two-dimensional hexagonal boron nitride为题,发表在Nature Nanotechnology上。研究工作得到国家自然科学基金、科技部、广东省科学技术厅、深圳市科技创新委员会等的支持。六方氮化硼无机二维液晶及其磁控光开关效应 六方氮化硼无机二维液晶的磁致排列和磁致双折射效应表征基于六方氮化硼无机二维液晶的深紫外光调制器性能研究及对比
  • 我国双折射双频激光干涉仪实现批量生产
    3月2日,记者从清华大学精密仪器系获悉,该系张书练教授课题组进行原理研究并由北京镭测科技有限公司开发生产的双折射双频激光干涉仪实现批量生产。双频(两频率)激光干涉仪是科学研究、光刻机、数控机床、航空航天、舰船等行业都离不开的光学尺子,用于测量零部件的尺寸,角度,位置,直线性,也是检定各类数控机床、激光加工机床以及光刻机台的精度,进行误差补偿的基本仪器。张书练介绍,双频激光器是双频激光干涉仪的核心部件。国外干涉仪厂家都是自制专用激光器,称为塞曼双频激光器,不对外供应。此前我国的双频激光干涉仪只能进口普通激光器,从中选出可用的,淘汰率高,性能上不去,导致双频激光干涉仪国产化困难。据介绍,此次清华大学精密仪器系发明的双折射原理的双频激光器比传统的塞曼双频激光器的激光功率高一倍、频率间隔大一倍或两三倍、没有两个频率之间耦合串混。分辨率达到1纳米(十亿分之一米),线性测量长度范围0到70米,非线性误差小于1纳米,测量速度超过2米。张书练指出,双折射双频激光器的使用带动了干涉仪整机的光机电系统创新设计,使双折射双频激光干涉仪具有便携,方便,鲁棒等优良性能。
  • 我国双折射双频激光干涉仪实现批量生产!
    3月2日,记者从清华大学精密仪器系获悉,该系张书练教授课题组进行原理研究并由北京镭测科技有限公司开发生产的双折射双频激光干涉仪实现批量生产。双频(两频率)激光干涉仪是科学研究、光刻机、数控机床、航空航天、舰船等行业都离不开的光学尺子,用于测量零部件的尺寸,角度,位置,直线性,也是检定各类数控机床、激光加工机床以及光刻机台的精度,进行误差补偿的基本仪器。张书练介绍,双频激光器是双频激光干涉仪的核心部件。国外干涉仪厂家都是自制专用激光器,称为塞曼双频激光器,不对外供应。此前我国的双频激光干涉仪只能进口普通激光器,从中选出可用的,淘汰率高,性能上不去,导致双频激光干涉仪国产化困难。据介绍,此次清华大学精密仪器系发明的双折射原理的双频激光器比传统的塞曼双频激光器的激光功率高一倍、频率间隔大一倍或两三倍、没有两个频率之间耦合串混。分辨率达到1纳米(十亿分之一米),线性测量长度范围0到70米,非线性误差小于1纳米,测量速度超过2米。张书练指出,双折射双频激光器的使用带动了干涉仪整机的光机电系统创新设计,使双折射双频激光干涉仪具有便携,方便,鲁棒等优良性能。
  • 我国双折射双频激光干涉仪实现批量生产
    3月2日,从清华大学精密仪器系获悉,该系张书练教授课题组进行原理研究并由北京镭测科技有限公司开发生产的双折射双频激光干涉仪实现批量生产。  双频(两频率)激光干涉仪是科学研究、光刻机、数控机床、航空航天、舰船等行业都离不开的光学尺子,用于测量零部件的尺寸,角度,位置,直线性,也是检定各类数控机床、激光加工机床以及光刻机台的精度,进行误差补偿的基本仪器。  张书练介绍,双频激光器是双频激光干涉仪的核心部件。国外干涉仪厂家都是自制专用激光器,称为塞曼双频激光器,不对外供应。此前我国的双频激光干涉仪只能进口普通激光器,从中选出可用的,淘汰率高,性能上不去,导致双频激光干涉仪国产化困难。  据介绍,此次清华大学精密仪器系发明的双折射原理的双频激光器比传统的塞曼双频激光器的激光功率高一倍、频率间隔大一倍或两三倍、没有两个频率之间耦合串混。分辨率达到1纳米(十亿分之一米),线性测量长度范围0到70米,非线性误差小于1纳米,测量速度超过2米。  张书练指出,双折射双频激光器的使用带动了干涉仪整机的光机电系统创新设计,使双折射双频激光干涉仪具有便携,方便,鲁棒等优良性能。
  • 光学显微镜技术和应用简介
    自然界中一些最基本的过程发生在微观尺度上,远远超出了我们肉眼所能看到的极限,这推动了技术的发展,使我们能够超越这个极限。早在公元4世纪,人们发现了光学透镜的基本概念,并在13世纪,人们已经在使用玻璃镜片,以提高他们的视力和放大植物和昆虫等对象以便更好地了解他们。随着时间的推移,这些简单的放大镜发展成为先进的光学系统,被称为光学显微镜,使我们能够看到和理解超越我们感知极限的微观世界。今天,光学显微镜是许多科学和技术领域的核心技术,包括生命科学、生物学、材料科学、纳米技术、工业检测、法医学等等。在这篇文章中,我们将首先探讨光学显微镜的基本工作原理。在此基础上,我们将讨论当今常用的一些更高级的光学显微镜形式,并比较它们在不同应用中的优缺点。    什么是光学显微镜?  光学显微镜用于通过提供它们如何与可见光相互作用(例如,它们的吸收、反射和散射)的放大图像来使小结构样品可见。这有助于了解样品的外观和组成,但也使我们能够看到微观世界的过程,例如物质如何跨细胞膜扩散。  显微镜的部件以及光学显微镜的工作原理  从根本上说,显微镜包括两个子系统:一个用于照亮样品的照明系统和一个成像系统,该系统产生与样品相互作用的光的放大图像,然后可以通过眼睛或使用相机系统进行观察。  早期的显微镜使用包含阳光的照明系统,阳光通过镜子收集并反射到样品上。今天,大多数显微镜使用人造光源,如灯泡、发光二极管(LED)或激光器来制造更可靠和可控的照明系统,可以根据给定的应用进行定制。在这些系统中,通常使用聚光透镜收集来自光源的光,然后在聚焦到样品上之前对其进行整形和光学过滤。塑造光线对于实现高分辨率和对比度至关重要,通常包括控制被照亮的样品区域和光线照射到它的角度。照明光的光学过滤,使用修改其光谱和偏振的光学过滤器,可用于突出样品的某些特征。图1:复合显微镜的基本构造:来自光源的光使用镜子和聚光镜聚焦到样品(物体)上。来自样品的光被物镜收集,形成中间图像,该图像由目镜再次成像并传递到眼睛,眼睛看到样品的放大图像。  成像系统收集与样品相互作用的照明光,并产生可以查看的放大图像(如上图1)。这是使用两组主要的光学元件来实现的:首先,物镜从样品中收集尽可能多的光,其次,目镜将收集的光中传递到观察者的眼睛或相机系统。成像系统还可包括诸如选择来自样品的光的某些部分的孔和滤光器之类的元件,例如仅看到已从样品散射的光,或仅看到特定颜色或波长的光。与照明系统的情况一样,这种类型的过滤对于挑出某些感兴趣的特征非常有用,这些特征在对来自样本的所有光进行成像时会保持隐藏。  总的来说,照明和成像系统在光学显微镜的性能方面起着关键作用。为了在您的应用中充分利用光学显微镜,必须充分了解基本光学显微镜的工作原理以及当今存在的变化。  简单复合显微镜  单个镜头可以用作放大镜,当它靠近镜头时,它会增加物体的外观尺寸。透过放大镜看物体,我们看到物体的放大和虚像。这种效果用于简单的显微镜,它由单个镜头组成,该镜头对夹在框架中并从下方照明的样品进行成像,如下图2所示。这种类型的显微镜通常可以实现2-6倍的放大倍率,这足以研究相对较大的样本。然而,实现更高的放大倍率和更好的图像质量需要使用更多的光学元件,这导致了复合显微镜的发展(如下图3)。图2:通过创建靠近它的物体的放大虚拟图像,将单个镜头用作放大镜。图3:左:简单显微镜。右:复合显微镜。  在复合显微镜中,从底部照射样品以观察透射光,或从顶部照射样品以观察反射光。来自样品的光由一个由两个主要透镜组组成的光学系统收集:物镜和目镜,它们各自的功率倍增,以实现比简单显微镜更高的放大倍率。物镜收集来自样品的光,通常放大倍数为40-100倍。一些复合显微镜在称为“换镜转盘(nose piece)”的旋转转台上配备多个物镜,允许用户在不同的放大倍数之间进行选择。来自物镜的图像被目镜拾取,它再次放大图像并将其传递给用户的眼睛,典型的目镜放大率为10倍。  可以用标准光学显微镜观察到的最小特征尺寸由所使用的光学波长(λ)和显微镜物镜的分辨率决定,由其孔径数值(NA)定义,最大值为NA =1空中目标。定义可区分的最小特征尺寸(r)的分辨率极限由瑞利准则给出:  r=0.61×(λ/NA)  例如,使用波长为550nm的绿光和典型NA为0.7的物镜,标准光学显微镜可以分辨低至0.61×(550nm)/0.7≈480nm的特征,这足以观察细胞(通常为10µm大小),但不足以观察较小生物的细节,例如病毒(通常为250-400nm)。要对更小的特征成像,可以使用具有更高NA和更短波长的更先进和更昂贵的物镜,但这可能不适用于所有应用。  在标准复合显微镜(如下图4a)中,样品(通常在载玻片上)被固定在一个可以手动或电子移动以获得更高精度的载物台上,照明系统位于显微镜的下部,而成像系统高于样本。然而,显微镜主体通常也可以适应特定用途。例如,立体显微镜(如下图4b)的特点是两个目镜相互成一个小角度,让用户可以看到一个略有立体感的图像。在许多生物学应用中,使用倒置显微镜设计(如下图4c),其中照明系统和成像光学器件都在样品台下方,以便于将细胞培养容器等放置在样品台上。最后,比较显微镜(如下图4d)常用于法医。图4:复合显微镜。a)标准直立显微镜指示(1)目镜,(2)物镜转台、左轮手枪或旋转鼻镜(用于固定多个物镜),(3)物镜、调焦旋钮(用于移动载物台)(4)粗调,(5)微调,(6)载物台(固定样品),(7)光源(灯或镜子),(8)光阑和聚光镜,(9)机械载物台。b)立体显微镜。c)倒置显微镜。  光学显微镜的类型  下面,我们将介绍一些当今可用的不同类型的光学显微镜技术,讨论它们的主要操作原理以及每种技术的优缺点。  亮视野显微镜  亮视野显微镜(Brightfield microscopy,BFM)是最简单的光学显微镜形式,从上方或下方照射样品,收集透射或反射的光以形成可以查看的图像。图像中的对比度和颜色是因为吸收和反射在样品区域内变化而形成的。BFM是第一种开发的光学显微镜,它使用相对简单的光学装置,使早期科学家能够研究传输中的微生物和细胞。今天,它对于相同的目的仍然非常有用,并且还广泛用于研究其他部分透明的样品,例如透射模式下的薄材料(如下图5),或反射模式下的微电子和其他小结构。图5:亮视野显微镜。左图:透射模式-在显微镜下看到的石墨(深灰色)和石墨烯(最浅灰色)薄片。在这里,图像上看到的亮度差异与石墨层的厚度成正比。右图:反射模式-SiO2表面上的石墨烯和石墨薄片,小的表面污染物也是可见的。  暗视野显微镜  暗视野显微镜是一种仅收集被样品散射的光的技术。这是通过添加阻挡照明光直接成像的孔来实现的,这样只能看到被样品散射的照明光。通过这种方式,暗场显微镜突出显示散射光的小结构(如下图6),并且对于揭示BFM中不可见的特征非常有用,而无需以任何方式修改样品。然而,由于在最终图像中看到的唯一光是被散射的光,因此暗场图像可能非常暗并且需要高照明功率,这可能会损坏样品。  图6:亮视野和暗视野成像。a)亮视野照明下的聚合物微结构。b)与a)中结构相同的暗视野图像,突出显示边缘散射和表面污染。c)与a)和b)相似的结构,被直径为100-300nm的纳米晶体覆盖。仅观察到纳米晶体散射的光,而背景光被强烈抑制。  相差显微镜  相差显微技术(Brightfield microscopy,PCM)是一种可视化由样品光路长度变化引起的光学相位变化的技术.这可以对在BFM中产生很少或没有对比度的透明样品进行成像,例如细胞(如下图7)。由于肉眼不易观察到光学相移,因此相差显微镜需要额外的光学组件,将样品引起的相移转换为最终图像中可见的亮度变化。这需要使用孔径和滤光片来操纵照明系统和成像系统。这些形状和选择性地相移来自样品的光(携带感兴趣的相位信息)和照明光,以便它们建设性地干涉眼睛或检测器以创建可见图像。图7:人类胚胎干细胞群落的相差显微图像。  微分干涉显微镜  与PCM类似,微分干涉显微镜(differential interference contrast microscopy,DICM)通过将由于样品光路长度变化引起的光学相位转换为可见对比度,从而使透明样品(例如活的未染色细胞)可视化。然而,与PCM相比,DICM可以实现更高分辨率的图像,并且减少了由PCM所需的光学器件引入的清晰度和图像伪影。在DICM ,照明光束被线性偏振器偏振,其偏振旋转,使其分裂成两个偏振光束,它们具有垂直偏振和小(通常低于1µm)间隔。穿过样品后,两束光束重新组合,从而相互干扰。这将创建一个对比度与图像成正比的图像差在两个偏振光束之间的光相位,因此命名为“差”干涉显微镜。DICM产生的图像出现与采样光束之间的位移方向相关的三维图像,这导致样品边缘具有亮区或暗区,具体取决于两者之间的光学相位差的符号(如下图8)。图8:微分干涉对比显微镜。左:DICM的原理图。右图:通过DICM成像的活体成年秀丽隐杆线虫(C.elegans)。  偏光显微镜  在偏振光显微镜中,样品用偏振光照射,光的检测也对偏振敏感。为了实现这一点,偏振器用于控制照明光偏振并将成像系统检测到的偏振限制为仅一种特定的偏振。通常,照明和检测偏振设置为垂直,以便强烈抑制不与样品相互作用的不需要的背景照明光。这种配置需要一个双折射样品,它引入了照明光偏振角的旋转,以便它可以被成像系统检测到,例如,观察晶体的双折射以及它们的厚度和折射率的变化(如下图9)。图9:偏光显微镜。橄榄石堆积物的显微照片,由具有不同双折射的晶体堆积而成。整个样品的厚度和折射率的变化会导致不同的颜色。  荧光显微镜  荧光显微镜用于对发出荧光的样品进行成像,也就是说,当用较短波长的光照射时,它们会发出长波长的光。示例包括固有荧光或已用荧光标记物标记的生物样品,以及单分子和其他纳米级荧光团。该技术采用了滤光片的组合,可阻挡短波长照明光,但让较长波长的样品荧光通过,因此最终图像仅显示样品的荧光部分(如下图10)。这允许从由许多其他非荧光颗粒组成的样品中挑出和可视化荧光颗粒或已被染料染色的感兴趣细胞的分布。同时,荧光显微镜还可以通过标记小于此限制的粒子来克服传统光学显微镜的分辨率限制。例如,可以用荧光标记标记病毒以显示其位置在生物样品的情况下,可以表达荧光蛋白,例如绿色荧光蛋白。结合各种新颖形式的样品照明,荧光显微镜的这一优势实现了“超分辨率”显微镜技术,打破了传统光学显微镜的分辨率限制。荧光显微镜的主要限制之一是光漂白,其中标记物或颗粒停止发出荧光,因为吸收照明光的过程最终会改变它们的结构,使它们不再发光。图10:荧光显微镜。左:工作原理-照明光由短通激发滤光片过滤,并由二向色镜反射到样品。来自样品的荧光通过二向色镜,并被发射滤光片额外过滤以去除图像中残留的激发光。右图:有机晶体中分子的荧光图像(晶体轮廓显示为黄色虚线)。由于来自其他分子和晶体材料的荧光,背景并不完全黑暗。  免疫荧光显微镜  免疫荧光显微镜是主要用于在微生物的细胞内的生物分子可视化的位置荧光显微镜的具体变化。在这里,用荧光标记物标记或固有荧光的抗体与感兴趣的生物分子结合,揭示它们的位置。(如下图11)图11:免疫荧光显微镜。肌动蛋白丝(紫色)、微管(黄色)和细胞核(绿色)的免疫荧光标记的两个间期细胞。  共聚焦显微镜  共聚焦显微镜是一种显微镜技术,它可以逐点成像来自样品的散射或荧光。不是一次对整个样品进行照明和成像,而是在样品区域上扫描源自点状光源的照明点,敏感检测器仅检测来自该点的光,从而产生2D图像。这种方法允许以高分辨率对弱信号样本进行成像,因为来自采样点之外的不需要的背景信号被有效抑制。在这里,所使用的波长和物镜在所有三个维度上都限制了成像光斑的大小。这允许通过将物镜移动到距样品不同的距离,在样品内的不同深度处制作2D图像。然后可以组合这些2D图像“切片”以创建样本的3D图像,这是所讨论的其他宽视场显微镜技术无法实现的,并且还允许以3D方式测量样品尺寸。这些优势的代价是无法一次性拍摄图像,而是必须逐点构建图像,这可能非常耗时并阻碍样本的实时成像(如下图12)。图12:单分子荧光的共聚焦荧光图像。小点对应于单个分子的荧光,而较大的点对应于分子簇。此处的荧光背景比简单的荧光显微镜图像弱得多,如亮点之间的暗区所见。  双光子显微镜  双光子显微镜(Two-photonmicroscopy,TPM)是荧光显微镜的一种变体,它使用双光子吸收来激发荧光,而不是单光子激发。在这里,通过吸收两个光子的组合来激发荧光,其能量大约是单个光子激发所需能量的一半。例如,在该方案中,通常由单个蓝色光子激发的荧光团可以被两个近红外光子激发。在TPM中,图像是逐点建立的,就像在共聚焦显微镜中一样,也就是说,双光子激发点在样品上扫描,样品荧光由灵敏的检测器检测。与传统荧光显微镜相比,激发和荧光能量的巨大差异导致了多重优势:首先,它允许使用更长的激发波长,在样品内散射较少,因此穿透更深,以允许在其表面下方对样品进行成像并创建3D样品图像。同时,由于激发能量低得多,光漂白大大减少,这对易碎样品很有用。激发点周围的荧光背景也大大减少,因为有效的双光子吸收仅发生在激发光束的焦点处,因此可以观察到来自样品小部分的荧光(如下图13)。  TPM的一个缺点是双光子吸收的概率远低于单光子吸收,因此需要高强度照明,如脉冲激光,才能达到实用的荧光信号强度。图13:双光子显微镜。花粉的薄光学切片,显示荧光主要来自外层。  光片显微镜  光片显微技术是荧光显微术的一种形式,其中样品被垂直于观察方向的薄“片”光照射,从而仅对样品的薄切片(通常为几微米)进行成像。通过在样品在光片中旋转的同时拍摄一系列图像,可以形成3D图像。这要求样品大部分是透明的,这就是为什么这种技术通常用于形成小型透明生物结构的3D图像,例如细胞、胚胎和生物体。(如下图14)图14:光片显微镜。左:工作原理。右:通过荧光成像用光片显微镜拍摄的小鼠大脑的荧光图像。  全内反射荧光显微镜  全内反射荧光(Totalinternal reflection fluorescence microscopy ,TIRF)是一种荧光显微技术,可通过极薄(约100nm厚)的样品切片制作2D荧光图像。这是通过照明光的渐逝场激发样品的荧光来实现的,当它在两种不同折射率(n)的材料之间的边界处经历全内反射时就会发生这种情况。消逝场具有与照明光相同的波长,但与界面紧密结合。在TIRF显微镜中,激发光通常在载玻片(n=1.52)和样品分散的水介质(n=1.35)之间的界面处发生全内反射。渐逝场的强度随距离呈指数下降来自界面,这样在最终图像中只能观察到靠近界面的荧光团。这也导致来自切片外区域的荧光背景的强烈抑制,这允许拾取微弱的荧光信号,例如在定位单个分子时。这使得TIRF非常适用于观察参与细胞间相互作用的荧光蛋白(如下图15)的微弱信号,但也需要将样品分散在水性介质中,这可能会限制可以测量的样品类型。图15:TIRF图像显示培养的视网膜色素上皮细胞中的蛋白质荧光。每个像素对应67nm。  膨胀显微镜  膨胀显微镜背后的基本概念是增加通常需要高分辨率显微镜的样品尺寸,以便可以使用标准显微镜技术(尤其是荧光显微镜)对其进行成像。这适用于保存的标本,例如生物分子、细胞、细菌和组织切片,可以使用下图16中所示的化学过程在所有维度(各向同性)均匀扩展多达50倍。扩展样本可以隔离感兴趣的个别特征通常是隐藏的,可以使它们透明,从而可以对它们的内部进行成像。图16:膨胀显微镜的样品制备。细胞首先被染色,然后连接到聚合物凝胶基质上。然后细胞结构本身被溶解(消化),使染色的部分随着凝胶各向同性地膨胀,从而使染色的结构更详细地成像。  光学显微镜中的卷积  除了使光学系统适应特定用例之外,现代光学显微镜还利用了数字图像处理,例如图像去卷积。该技术通过补偿光学系统本身固有的模糊,可以提高空间分辨率以及光学显微镜拍摄图像的定位精度。这种模糊可以在校准步骤中测量,然后可以用于对图像进行去卷积,从而减少模糊。通过将高性能光学元件与先进的图像处理相结合,数字显微镜可以突破分辨率的极限,以更深入地观察微观世界。(如下图17)图17:图像解卷积。左:原始荧光图像。右:解卷积后的图像,显示细节增加。  光学显微镜与电子显微镜  光学显微术通常使用可见光谱中的光波长,由于瑞利准则,其空间分辨率固有地限制为所用波长的大约一半(最多约为200nm)。然而,即使使用具有高NA和高级图像处理的物镜,也无法克服这一基本限制。相反,观察较小的结构需要使用较短波长的电磁辐射。这是电子显微镜的基本原理,其中使用电子而不是可见光照亮样品。电子具有比可见光短得多的相关波长,因此可以实现高达10000000倍的放大倍数,甚至可以分辨单个原子。(如下图18)  图18:同心聚合物结构中纳米晶体放大15000倍的扫描电子显微镜图像,即使是细微的细节,例如基材的孔隙,也能分辨出来。  总结与结论  光学显微镜是一种强大的工具,可用于检查各种应用中的小样本。通过调整用于特定用例的照明和成像技术,可以获得高分辨率图像,从而深入了解样品中的微观结构和过程。文中,我们讨论了各种光学显微镜技术的特点、优势和劣势,这些技术在光线照射和收集方式上有所不同。显微镜种类优点技术限制典型应用亮视野显微镜结构相对简单,光学元件很少低对比度、完全透明的物体不能直接成像,可能需要染色对彩色或染色样品和部分透明材料进行成像暗视野显微镜显示小结构和表面粗糙度,允许对未染色样品进行成像所需的高照明功率会损坏样品,只能看到散射图像特征细胞内颗粒成像,表面检测相差显微镜实现透明样品的成像复杂的光学设置,需要的高照明功率会损坏样品,通常图像较暗跟踪细胞运动,成像幼虫微分干涉对比显微镜比PCM更高的分辨率复杂的光学设置,需要的高照明功率会损坏样品,通常图像较暗活的、未染色的细胞和纳米颗粒的高分辨率成像偏光显微镜来自样品非双折射区域的强背景抑制,允许测量样品厚度和双折射需要双折射样品成像胶原蛋白,揭示晶体中的晶界荧光显微镜允许挑出样品中的单个荧光团和特定的感兴趣区域,可以克服分辨率限制需要荧光样品和灵敏的检测器,光漂白会减弱信号成像细胞成分、单分子、蛋白质免疫荧光显微镜使用抗体靶向可视化特定的生物分子大量样品制备,需要荧光样品,光漂白识别和跟踪细胞和蛋白质共聚焦显微镜低背景信号,可以创建3D图像成像速度慢,需要复杂的光学系统3D细胞成像,荧光信号较弱的成像样品,表面分析双光子显微镜样品穿透深度、背景信号低、光漂白少成像速度慢,需要复杂的光学系统和大功率照明神经科学,深层组织成像光片显微镜图像仅样品的极薄切片,可通过旋转样品创建3D图像成像速度慢,需要复杂的光学系统细胞和生物体的3D成像全内反射荧光显微镜强大的背景抑制,极精细的垂直切片成像仅限于样品的薄区域,需要复杂的光学系统,样品需要在水介质中单分子成像,成像分子运输膨胀显微镜提高标准荧光显微镜的有效分辨率需要对样品进行化学处理,不适用于活体样品生物样品的高分辨率成像  参考:  1. Rochow TG, Tucker PA. A Brief History of Microscopy. In: Introduction to Microscopy by Means of Light, Electrons, X Rays, or Acoustics. Springer US 1994:1-21. doi:10.1007/978-1-4899-1513-9_1  2. Smith WJ. Modern Optical Engineering: The Design of Optical Systems. McGraw-Hill 1990. ISBN: 0070591741  3. Shribak M, Inoué S. Orientation-independent differential interference contrast microscopy. Collected Works of Shinya Inoue: Microscopes, Living Cells, and Dynamic Molecules. 2008 (Dic):953-962. doi:10.1142/9789812790866_0074  4. Gao G, Jiang YW, Sun W, Wu FG. Fluorescent quantum dots for microbial imaging. Chinese Chem Lett. 2018 29(10):1475-1485. doi:10.1016/j.cclet.2018.07.004  5. Chalfie M, Tu Y, Euskirchen G, Ward W, Prasher D. Green fluorescent protein as a marker for gene expression. Science. 1994 263(5148):802-805. doi:10.1126/science.8303295  6. Baranov M V., Olea RA, van den Bogaart G. Chasing Uptake: Super-Resolution Microscopy in Endocytosis and Phagocytosis. 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  • 亚纳米皮米激光干涉位移测量技术与仪器
    1 引 言激光干涉位移测量技术具有大量程、高分辨力、非接触式及可溯源性等优势,广泛应用于精密计量、微电子集成装备和大科学装置等领域,成为超精密位移测量领域中的重要技术之一。近年来,随着这些领域的迅猛发展,对激光干涉测量技术提出了新的测量需求。如在基于长度等量子化参量的质量基准溯源方案中,要想实现1×10−8 量级的溯源要求,需要激光干涉仪长度测量精度达0. 1 nm 量级;在集成电路制造方面,激光干涉仪承担光刻机中掩模台、工件台空间位置的高速、超精密测量任务,按照“ 摩尔定律”发展规律,近些年要想实现1 nm 节点光刻技术,需要超精密测量动态精度达0. 1 nm,达到原子尺度。为此,国际上以顶级的计量机构为代表的单位均部署了诸如NNI、Nanotrace 等工程,开展了“纳米”尺度测量仪器的研制工程,并制定了测量确定度在10 pm 以下的激光干涉测量技术的研发战略。着眼于国际形势,我国同样根据先进光刻机等高端备、先进计量的测量需求,制定了诸多纳米计量技术的研发要。可见,超精密位移测量技术的发展对推进我国众多大高端装备具有重要战略意义,是目前纳米度下测量领域逐步发展的重大研究方向。2 激光干涉测量原理根据光波的传播和叠加原理,满足相干条件的光波能够在空间中出现干涉现象。在激光干涉测量中,由于测量目标运动,将产生多普勒- 菲佐(Doppler-Fizeau效应,干涉条纹将随时间呈周期性变化,称为拍频现象。移/相移信息与测量目标的运动速度/位移关系满足fd = 2nv/ λ , (1)φd = 2nL/ λ , (2)式中:fd为多普勒频移;φd为多普勒相移;n 为空气折射率;v 和L 为运动速度和位移;λ 为激光波长。通过对干涉信号的频率/相位进行解算即可间接获得测量目标运动过程中速度/位信息。典型的干涉测量系统可按照激光光源类型分为单频(零差式)激光干涉仪和双频(外差式)激光干涉仪两大类。零差式激光干涉测量基本原理如图1 所示,其结构与Michelson 干涉仪相仿,参考光与测量光合光干涉后,经过QPD 输出一对相互正交的信号,为Icos = A cos (2πfd t + φ0 + φd ) , (3)Isin = A sin (2πfd t + φ0 + φd ) , (4)式中:(Icos, Isin)为QPD 输出的正交信号;A 为信号幅值;φ0 为初始相位。结合后续的信号处理单元即可构成完整、可辨向的测量系统。图1 零差激光干涉测量原理外差式激光干涉仪的光源是偏振态相互垂直且具有一定频差Δf 的双频激光,其典型的干涉仪结构如图2 所示。双频激光经过NPBS 后,反射光通过偏振片发生干涉,形成参考信号Ir;透射光经过PBS,光束中两个垂直偏振态相互分开,f2 光经过固定的参考镜反射,f1 光经运动的测量镜反射并附加多普勒频移fd,与反射光合光干涉后形成测量信号Im。Ir = Ar cos (2πΔft + φr ) , (5)Im = Am cos (2πΔft + φm ), (6)式中:Δf、A 和φ 分别为双频激光频差、信号幅值和初始相位差。结合式(5)和式(6),可解算出测量目标的相位信息。图2 外差激光干涉测量原理零差式激光干涉仪常用于分辨力高、速度相对低并且轴数少的应用中。外差式激光干涉仪具有更强的抗电子噪声能力,易于实现对多个目标运动位移的多轴同步测量,适用于兼容高分辨力、高速及多轴同步测量场合,是目前主流的干涉结构之一。3 激光干涉测量关键技术在超精密激光干涉仪中,波长是测量基准,尤其在米量级的大测程中,要实现亚纳米测量,波长准确度对测量精度起到决定性作用。其中,稳频技术直接影响了激光波长的准确度,决定激光干涉仪的精度上限;环境因素的变化将影响激光的真实波长,间接降低了实际的测量精度。干涉镜组结构决定光束传播过程中的偏振态、方向性等参数,影响干涉信号质量。此外,干涉信号相位细分技术决定激光干涉仪的测量分辨力,并限制了激光干涉仪的最大测量速度。3. 1 高精度稳频技术在自由运转的状态下,激光器的频率准确度通常只有±1. 5×10−6,无法满足超精密测量中10−8~10−7的频率准确度要求。利用传统的热稳频技术(单纵模激光器的兰姆凹陷稳频方法等),可以提高频率准确度,但系统中稳频控制点常偏离光功率平衡点,输出光频率准确度仅能达2×10−7量级,无法完全满足超精密测量的精度需求。目前,超精密干涉测量中采用的高精度稳频技术主要有热稳频、饱和吸收及偏频锁定3 种。由于激光管谐振腔的热膨胀特性,腔长随温度变化呈近似线性变化。因此,热稳频方法通过对谐振腔进行温度控制实现对激光频率的闭环调节。具体过程为:选定稳定的参考频标(双纵模激光器的光功率平衡点、纵向塞曼激光器频差曲线的峰/谷值点),当激光频率偏离参考频标时,产生的频差信号用于驱动加热膜等执行机构进行激光管谐振腔腔长调节。热稳频方法能够使激光器的输出频率的准确度在10−9~10−8 量级,但原子跃迁的中心频率随时间推移受腔内气体气压、放电条件及激光管老化的影响会发生温度漂移。利用稳频控制点修正方法,通过对左右旋圆偏振光进行精确偏振分光和对称功率检测来抑制稳频控制点偏移的随机扰动,同时补偿其相对稳定偏置分量。该方法显著改善了激光频率的长期漂移现象,阿伦方差频率稳定度为1. 9×10−10,漂移量可减小至(1~2)×10−8。稳频点修正后的激光波长仍存在较大的短期抖动,主要源于激光器对环境温度的敏感性,温差对频率稳定性的影响大。自然散热型激光器和强耦合水冷散热型激光器均存在散热效果不均匀和散热程度不稳定的问题。多层弱耦合水冷散热结构为激光管提供一个相对稳定的稳频环境,既能抑制外界环境温度变化对激光管产生的扰动,冷却水自身的弱耦合特性又不影响激光管性能,进而减小了温度梯度和热应力,提高了激光器对环境温度的抗干扰能力,减少了输出激光频率的短期噪声,波长的相对频率稳定度约为1×10−9 h−1。碘分子饱和吸收稳频法将激光器的振荡频率锁定在外界的参考频率上,碘分子饱和吸收室内处于低压状态下(1~10 Pa)的碘分子气体在特定频率点附近存在频率稳定的吸收峰,将其作为稳频基准后准确度可达2. 5×10−11。但由于谐振腔损耗过大,稳频激光输出功率难以超过100 μW 且存在MHz 量级的调制频率,与运动目标测量过程中产生的多普勒频移相近。因此,饱和吸收法难以适用于多轴、动态的测量场合。偏频锁定技术是另一种高精度的热稳频方法,其原理如图3 所示,通过实时测量待稳频激光器出射光与高精度碘稳频激光频差,获得反馈控制量,从而对待稳频激光器谐振腔进行不同程度加热,实现高精度稳频。在水冷系统提供的稳频环境下,偏频锁定激光器的出射光相对频率准确度优于2. 3×10−11。图3 偏频锁定热稳频原理3. 2 高精度干涉镜组周期非线性误差是激光干涉仪中特有的内在原理性误差,随位移变化呈周期性变化,每经过半波长,将会出现一次最大值。误差大小取决光束质量,而干涉镜组是决定光束质量的主导因素。传统的周期非线性误差可以归结为零差干涉仪的三差问题和外差干涉仪的双频混叠问题,产生的非线性误差机理如图4 所示,其中Ix、Iy分别表示正交信号的归一化强度。其中,GR为虚反射,MMS 为主信号,PISn 为第n 个寄生干涉信号,DFSn 为第n 阶虚反射信号。二者表现形式不完全相同,但都会对测量结果产生数纳米至数十纳米的测量误差。可见,在面向亚纳米、皮米级的干涉测量技术中,周期非线性误差难以避免。图4 零差与外差干涉仪中的周期非线性误差机理。(a)传统三差问题与多阶虚反射李萨如图;(b)多阶虚反射与双频混叠频谱分布Heydemann 椭圆拟合法是抑制零差干涉仪中非线性误差的有效方法。该方法基于最小二乘拟合,获得关于干涉直流偏置、交流幅值以及相位偏移的线性方程组,从而对信号进行修正。在此基础上,Köning等提出一种基于测量信号和拟合信号最小几何距离的椭圆拟合方法,该方法能提供未知模型参数的局部最佳线性无偏估计量,通过Monte Carlo 随机模拟后,其非线性幅值的理论值约为22 pm。在外差干涉仪中,双频混叠本质上是源于共光路结构中双频激光光源和偏振器件分光的不理想性,称为第1 类周期非线性。对于此类周期非线性误差,补偿方法主要可以从光路系统和信号处理算法两个方面入手。前者通过优化光路可以将非线性误差补偿至数纳米水平;后者通过椭圆拟合法提取椭圆特征参数,可以将外差干涉仪中周期非线性误差补偿至亚纳米量级;两种均属补偿法,方法较为复杂,误差难以抑制到0. 1 nm 以下。另一种基于空间分离式外差干涉结构的光学非线性误差抑制技术采用独立的参考光路和测量光路,非共光路使两路光在干涉前保持独立传播,从根本上避免了外差干涉仪中频率混叠的问题,系统残余的非线性误差约为数十皮米。空间分离式干涉结构能够消除频率混叠引起的第1 类周期非线性误差,但在测量结果中仍残余亚纳米量级的非线性误差,这种有别于频率混叠的残余误差即为多阶多普勒虚反射现象,也称为第2 类周期非线性误差。虚反射现象源自光学镜面的不理想分光、反射等因素,如图5所示,其中MB 为主光束,GR 为反射光束,虚反射现象普遍存在于绝大多数干涉仪结构中。虚反射效应将会使零差干涉仪中李萨如图的椭圆产生畸变,而在外差干涉仪中则出现明显高于双频混叠的高阶误差分量。图5 多阶虚反射现象使用降低反射率的方法,如镀增透膜、设计多层增透膜等,能够弱化虚反射现象,将周期非线性降低至亚纳米水平;德国联邦物理技术研究院Weichert等通过调节虚反射光束与测量光束间的失配角,利用透镜加入空间滤波的方法将周期非线性误差降低至±10 pm。上述方法在抑制单次的虚反射现象时有着良好的效果,但在面对多阶虚反射效应时作用有限。哈尔滨工业大学王越提出一种适用于多阶虚反射的周期非线性误差抑制方法,该方法利用遗传算法优化关键虚反射面空间姿态,精准规划虚反射光束轨迹,可以将周期非线性误差抑制到数皮米量级,突破了该领域10 pm 的周期非线性误差极限。3. 3 高速高分辨力相位细分技术在激光干涉仪中,相位细分技术直接决定系统的测量精度。实现亚纳米、皮米测量的关键离不开高精度的相位细分技术。相位的解算可以从时域和频域两个角度进行。最为常用的时域解算方法是基于脉冲边缘触发的相位测量方法,该方法利用高频脉冲信号对测量信号与参考信号进行周期计数,进而获取两路信号的相位差。该方法的测量速度与测量分辨力模型可表达为vm/dLm= Bm , (7)式中:vm 为测量速度;dLm 为测量分辨力;Bm 为系统带宽。在系统带宽恒定的情况下,高测速与高分辨力之间存在相互制约关系。只有提高系统带宽才能实现测量速度和测量分辨力的同时提升,也因此极度依赖硬件运行能力。在测量速度方面,外差激光干涉仪的测量速度主要受限于双频激光频差Δf,测量目标运动产生的多普勒频移需满足fd≤Δf。目前,美国的Zygo 公司和哈尔滨工业大学利用双声光移频方案所研制的结构的频差可达20 MHz,理论的测量速度优于5 m/s。该方法通过增加双频激光频差来间接提升测量速度,频差连续可调,适用于不同测量速度的应用场合,最大频差通常可达几十MHz,满足目前多数测量速度需求。从干涉结构出发,刁晓飞提出一种双向多普勒频移干涉测量方法,采用全对称的光路结构,如图6所示,获得两路多普勒频移方向相反的干涉信号,并根据目标运动方向选择性地采用不同干涉信号,保证始终采用正向多普勒频移进行相位/位移解算。该方法从原理上克服了双频激光频差对测量速度的限制,其最大测量速度主要受限于光电探测器带宽与模/数转换器的采样频率。图6 全对称光路结构在提升测量分辨力方面,Yan 等提出一种基于电光调制的相位调制方法,对频率为500 Hz 的信号进行周期计数,该方法实现的相位测量标准差约为0. 005°,具有10 pm 内的超高位移测量分辨力,适用于低速测量场合。对于高速信号,基于脉冲边缘触发的相位测量方法受限于硬件带宽,高频脉冲频率极限在500 MHz 左右,其测量分辨力极限约为1~10 nm,难以突破亚纳米水平。利用高速芯片,可以将处理带宽提升至10 GHz,从而实现亚纳米的测量分辨力,但成本较大。闫磊提出一种数字延时细分超精细相位测量技术,在硬件性能相同、采样频率不变的情况下,该方法利用8 阶数字延迟线,实现了相位的1024 电子细分,具有0. 31 nm 的位移测量分辨力,实现了亚纳米测量水平。该方法的等效脉冲频率约为5 GHz,接近硬件处理极限,但其测量速度与测量分辨力之间依旧存在式(7)的制约关系。德国联邦物理技术研究院的Köchert 等提出了一种双正交锁相放大相位测量方法,如图7所示,FPGA 内部生成的理想正交信号分别与外部测量信号、参考信号混频,获取相位差。利用该方法,可以实现10 pm 以内的静态测量偏差。双正交锁相放大法能够处理正弦模拟信号,充分利用了信号的频率与幅值信息,其测量速度与测量分辨力计算公式为vm/0. 1λ0= Bm , (8)dLm/0. 5λ0=Bs/dLc, (9)式中:Bs为采样带宽;dLc为解算分辨力。图7 双正交锁相方法测量原理可见,测量速度与测量分辨力相互独立,从原理上解决了高测速与高分辨力相互制约的矛盾,为激光干涉仪提供了一种兼顾高速和高分辨力的相位处理方法。在此基础上,为了适应现代工业中系统化和集成化的测量需求,美国Keysight 公司、Zygo 公司及哈尔滨工业大学相继研发出了光电探测与信号处理一体化板卡,能够实现高于5 m/s 的测量速度以及0. 31 nm 甚至0. 077 nm 的测量分辨力。此外,从变换域方面同样可以实现高精度的相位解算。张紫杨等提出了一种基于小波变换的相位细分方法,通过小波变换提取信号的瞬时频率,计算频率变化的细分时间,实现高精度的位移测量,该方法的理论相位细分数可达1024,等效位移精度约为0. 63 nm。Strube 等利用频谱分析法,从信号离散傅里叶变换(DFT)后的相位谱中获取测量目标的位移,实现了0. 3 nm 的位移测量分辨力。由于采用图像传感器为光电转换器,信号处理是以干涉条纹为基础的,适用于静态、准静态的低速测量场合。3. 4环境补偿与控制技术环境中温度、气压及湿度等变化会引起空气折射率变化,使得激光在空气中传播时波长变动,导致测量结果产生纳米量级的误差。环境误差补偿与控制技术是抑制空气折射率误差的两种重要手段。补偿法是修正空气折射率误差最常用的方法,具有极高的环境容忍度。采用折光仪原理、双波长法等可以实现10−7~10−8 量级的空气折射率相对测量不确定度。根据Edlen 经验公式,通过精确测定环境参数(温度、湿度和大气压等),可以计算出空气折射率的精确值,用于补偿位移测量结果,其中温度是影响补偿精度的最主要因素。采用高精度铂电阻传感器,设备可以实现1 mK 的温度测量精度,其折射率的补偿精度可达10−8量级,接近Edlen 公式的补偿极限。环境控制技术是保证干涉仪亚纳米测量精度的另一种有效方法。在现行的DUV 光刻机中,采用气浴法,建立3 mK/5 min 以内恒温、10 Pa/5 min 以内恒压、恒湿气浴场,该环境中能够实现10−9~10−8 量级空气折射率的不确定度。对于深空引力波探测、下一代质量基准溯源等应用场合,对激光干涉仪工作的环境控制要求更为严苛,测量装置需置于真空环境中,此时,空气折射率引入的测量误差将被彻底消除。4 激光干涉测量技术发展趋势近年来,超精密位移测量的精度需求逐渐从纳米量级向亚纳米甚至皮米量级过渡。国内在激光干涉仪中的激光稳频、周期非线性误差消除和信号处理等关键技术上均取得了重大的突破。在LISA 团队规划的空间引力波探测方案中,要求在500 万千米的距离上,激光干涉仪对相对位移量需要具有10 pm 以内的分辨能力。面对更严苛的测量需求,超精密位移测量依然严峻面临挑战。激光干涉测量技术的未来发展趋势可以归结如下。1)激光波长存在的长期漂移和短期抖动是限制测量精度提升的根本原因。高精度稳频技术对激光波长不确定度的提升极限约为10−9量级。继续提升激光波长稳定度仍需要依托于下一阶段的工业基础,改善激光管本身的物理特性,优化光源质量。2)纳米级原理性光学周期非线性误差是限制激光干涉仪测量精度向亚纳米、皮米精度发展的重要瓶颈。消除和抑制第1 类和第2 类周期非线性误差后,仍残余数十皮米的非线性误差。由于周期非线性误差的表现形式与耦合关系复杂,想要进一步降低周期非线性误差幅值,需要继续探索可能存在的第3 类非线性误差机理。3)测量速度与测量分辨力的矛盾关系在动态锁相放大相位测量方法中得到初步解决。但面对深空引力波探测中高速、皮米的测量要求,仍然需要进一步探索弱光探测下的高分辨力相位细分技术;同时,需要研究高速测量过程中的动态误差校准技术。高速、高分辨力特征依旧是相位细分技术今后的研究方向。全文下载:亚纳米皮米激光干涉位移测量技术与仪器_激光与光电子学进展.pdf
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    使用Moku锁相放大器和相位表进行开环和闭环相位检测的选择指南高精确度及高灵敏度相位检测在众多测试测量场景都至关重要。例如,测量电流和电压之间的相移可以显示设备或元件的复阻抗。可以通过光学干涉仪的控制臂和测量臂之间的相移来测量极小的位移。Liquid Instruments的Moku设备可以提供两种检测射频信号相位的仪器:锁相放大器和数字相位测量仪。在本应用说明中,我们将介绍这两个仪器的工作原理,并为不同的应用场景提供仪器选择指南。介绍锁相放大器和相位表(数字相位测量仪)是两种常用于从振荡信号中获取相位信息的仪器。锁相放大器可以被视为开环相位检测器。相位是由本地振荡器、混频器和低通滤波器直接计算出来的。相比而言,相位表则采用数字锁相环(PLL)作为其相位检测器,使用一个反馈信号来实时调节本地振荡器的频率。这可以被视为一种闭环相位检测方法。在我们介绍这两种仪器之前,我们先来总结一下Moku:Pro锁相放大器和相位表(用于相位检测)的区别。请注意,本表中的参数规格是基于Moku:Pro的。工作原理锁相放大器原理如图1所示,锁相放大器有三个关键组成部分:一个本地振荡器、一个混频器和一个低通滤波器。图1: 锁相放大器的简化原理图输入信号Vin和本地振荡器VLO可以用正弦和余弦函数来描述。A1和A2代表振荡器的振幅。ωin和ωLO代表输入和本地振荡器的频率。∆ϕ 表示输入信号和本地振荡器之间的相位角差。混频器的输出Vmixer是输入和本地振荡器的产生的。应用三角函数示意假设 ωLO ≅ ωin= ω, Vmixer可写为低通滤波器过滤掉了高频率分量sin(2×2ωt+∆j)。假设输入信号和本地振荡器的振幅是固定的,输出信号Vout可以表示为在此有几个需要注意的地方:单相锁相放大器的输出与sin(∆ϕ)成正比,而不是与成正比。这大大限制了相位检测的线性动态范围,因为正弦函数是一个周期性的函数,它只在一个非常小的范围内提供(近乎)线性响应。另外,任何振幅的波动都可能引起一些系统误差。Liquid Instruments的Moku锁相放大器提供了双相解调的选项,可有效地区分了来自振幅和相位对输出的影响(可以通过此链接更深入了解双相位解调)但线性动态范围仍然限制在2π以内。另一方面,锁相放大器的数字信号处理(DSP)比相位表简单得多。这使锁相放大器能够以更高的速率处理数据,从而提供更宽的解调带宽。用户也可从外部设备输入一个本地振荡器作为参考,以直接测量两个振荡器之间的相对相位差。锁相放大器的开环特性确保仪器能够提供有效即时的响应,不容易受信号突变或损失造成的影响。因此,用户可使用锁相放大器测量接近或处于输入本底噪声的信号。相位表/PLL 原理相位表的核心相位检测单元是一个锁相环(PLL)。相位表的基本测量原理是将一个内部振荡器锁定在输入信号上,然后从内部振荡器的已知相位推断出输入信号的相位。图2显示了PLL的运作原理。锁相环的运作原理与锁相放大器非常相似,但有两个重要的区别:1)本地振荡器被一个压控振荡器(VCO)所取代;2)低通滤波器的输出反馈形成一个闭环。 图2: 锁相环的简化原理图VCO的输出 VVCO可以表述为 ωset是VCO的设定/中心频率。K是VCO的灵敏度 VCO, VVCOinput 是VCO的输入。AVCO是VCO的振幅。K和AVCO在正常工作时都保持不变。在不深入了解闭环控制理论的情况下,这种配置试图保持输入信号Vin和VCO之间的瞬时频率差为零。因此:由于ωset和K都是基于已知的仪器设置,输入的频率可以根据VVCOinput来计算。同时,ωset在时间t的累积相位可以表示为输入信号的累积相位可以用来近似表示。这里我们把K∙Vvcoinput项定义为ωdiff。因此,输入信号和参考信号(振荡器在设定的频率下)之间的累积相位差可以通过测算环路的频率差/误差信号积分获取。这种方法为相位检测提供了一个原生的相位解包支持,使输出与相位差呈线性关系。输入信号的瞬时频率也通过进行测量。此外,相位表有一个内置的二级振荡器来计算输入信号的振幅,类似于一个双相锁相放大器。除了来自环外积分器的相位,相位表的输出可以被设置为直接从数控振荡器(NCO;它可以被认为是数字的VCO)生成输入信号的正弦锁相副本,具有任意的振幅和可调相位。另一方面,输入和NCO之间的稳定锁定是PLL正常运行所必须的,不连续的输入可能会导致测量中断。由于这个原因,PLL在非常低的频率上保持稳定的锁定更具挑战性,相位表对比于锁相放大器在低载波频率边界更受限制,因此不建议用于测量接近输入本底噪声的信号。应用中考量因素和演示在本节中,我们将通过演示讨论在对Moku锁相放大器和相位表之间进行选择时的一些实际注意事项。相位检测的线性动态范围锁相放大器和相位表的关键区别之一是相位检测的线性动态范围。单相锁相放大器的相位线性动态范围小于π,双相锁相放大器则将这一极限推至2π。理论上,相位表可以跟踪无限的相位变化。在实践中,实际检测范围受用于表示相位的数字位长度的限制,在Moku:Pro上大约是16,000,000π。 在这个演示中,通过多仪器模式(MIM)(点此详细了解MIM)同时开启波形发生器、锁相放大器、相位表和示波器功能。一个10MHz的相位调制信号以单相和双相模式输入Moku:Pro的锁相放大器和相位表。相位检测的输出通过示波器进行记录。 图3:Moku:Pro上的MIM设置,用于测试不同相位检测器的线性动态范围。归一化的相位输出(作为模拟信号)绘制成图4中相移的函数。从图4(a)来看,双相解调模式下的相位表和锁相放大器都在360°范围内提供线性相位响应。单相模式下的锁相放大器只提供了90°内的近线性响应。双相解调器将相位包裹在±180°,而PLL在整个720°的相位移动范围内持续线性输出(图4(b))。图4:Moku相位表的输出,锁相放大器在单、双相位模式下的输出在(a)360°和(b)720°的相移的函数。使用相位表和锁相放大器测量两个外部信号之间的相位差对于测量两个振荡信号之间的相对相移的应用,锁相放大器提供了一个更直接的检测方式。用户可以通过Moku锁相放大器直接输入一个参考信号作为本地振荡器来解调两个信号间的相位差。相位表的操作则需要一个板载振荡器作为绝 对频率参考,因此检测的相位为信号与板载振荡器的相位差。在这个演示中,一个频率调制(FM)的不稳定信号被送入锁相放大器作为信号和参考,而相位表作为信号,如图5(a)所示。在图5(b)中,调频引起的相位波动只在相位表(红色)上观察到,锁相放大器的输出保持不变(蓝色)。锁相放大器的输出为调频信号与其本身的实时相位差,因此是固定没有波动的。相位表检测的结果为调频信号与板载振荡器间的实时相位差,因此检测到的是调制的载波。图5:(a)一个调频调制信号被接入到相位表的信号输入通道,以及锁相放大器的信号和参考输入。(b) 示波器上的相位表(红色)和锁相放大器(蓝色)的输出。在此有两种方法可以用相位表测量两个振荡器之间的相对相位差。1) 两个输入信号之间的相位差可以通过 ∆ϕ1-∆ϕ2,来计算,其中∆ϕ1,2 代表输入到一个共同参考的相位差。图6中显示了一对具有180°相移的锁相正弦波使用相位表内置的数据记录监测用来记录 ∆ϕ1 (红色)、∆ϕ2 (蓝色)和 ∆ϕ1-∆ϕ2(橙色)。在两个输入通道上可以观察到恒定的相位漂移,但数学通道提供了输入之间的正确相位差。图6:一对具有180°相移的正弦波被接入相位表。数学通道中绘制出∆ϕ。2) Moku:Lab和Moku:Pro的主时钟可以通过一个10 MHz的参考信号进行同步。如果参考振荡器可以与10 MHz同步,这就使得Moku:Pro上NCO的时基与参考相同。然而,时基同步并不能捕捉到参考NCO的任何参数调整(比如参考源是有目的地进行频率调制的)。另外,用于捕捉10MHz参考的PLL可能会给系统带来额外的噪声。除非需要通过模拟通道输出实时差异,否则不推荐使用这种方法。测量接近本地噪声的信号相位表要求输入信号和本地振荡器之间有稳定的锁定。Moku相位表有几个内置的安全机制来防止意外的变化对测试造成影响。例如,当锁定丢失时,"飞轮 "选项会自动将环路保持在最 后的已知状态。另一方面,锁相放大器的输出在任何时候都是确定的。为了演示这一效果,一个正弦相位调制的信号被同时输入到锁相放大器和相位表上。然后,输入信号被切断约两秒钟,再打开。两个相位检测器的输出通过示波器进行记录。从图7中可以看出,重新连接信号后,相位表的输出(红色)急剧漂移。锁相放大器的输出(蓝色)在信号断开时保持在0,之后立即恢复到预期值。 图7:示波器上记录了相位表(红色)和锁相放大器(蓝色)在信号突然丢失后的输出。总结Liquid Instruments的Moku:Lab和Moku:Pro的相位表和锁相放大器是为灵敏的相位检测应用提供的两种软件定义的仪器功能。相位表的闭环方法提供了特殊的线性动态范围,同时提供输入的频率、相位和振幅信息。锁相放大器算法相对简单,可以提供更快的响应速度,并且输出结果更容易预测。可以通过在Moku:Pro上部署多仪器并行,最多对四个输入在八个频率上进行相位检测,是多通道相位检测和锁相环应用的理想解决方案。参考[1] Shaddock, D., Ware, B., Halverson, P. G., Spero, R. E., & Klipstein, B. (2006, November). Overview of the LISA Phasemeter. In AIP conference proceedings (Vol. 873, No. 1, pp. 654-660). American Institute of Physics.[2] Roberts, L. E. (2016). Internally sensed optical phased arrays.关于昊量光电:昊量光电 您的光电超市!上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品!与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等,所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等优质服务,助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念!
  • 新疆理化所创制全波段相位匹配晶体
    短波紫外全固态相干光源具有光子能量强、可实用化与精密化、光谱分辨率高等特点,在激光精密加工、信息通讯、前沿科学和航空航天领域颇具应用价值。获得全固态短波紫外激光的核心部件是非线性光学晶体。在非线性光学过程中,若使基频光的能量源源不断地转换到倍频光,需要保持基频光激发的二次极化谐波和倍频光在晶体中位置时刻相同,但由于晶体的本征色散导致基频光和倍频光的折射率不同,进而导致两束光在晶体中群速度不同,无法实现倍频光的持续增长,此为相位失配。因此,在晶体中实现应用波段相位匹配被普遍认为是重要的技术挑战,决定最终激光输出的功率和效率。目前有多种技术方案可供选择,如晶体各向异性的双折射相位匹配技术、晶体内部自发畴结构的随机准相位匹配技术和人工微结构准相位匹配技术等。其中,利用晶体各向异性的双折射相位匹配技术是应用最广泛的弥补相位失配的有效途径。该技术利用各向异性晶体的双折射特性,使一定偏振的基频光沿晶体的特定方向入射,或者改变晶体的温度,实现角度或者温度相位匹配,即使基频光和倍频光在晶体中特定方向传播时的折射率相同。该方案转换效率高,但现有晶体均存在相位匹配波长损失,即可用晶体紫外截止边和最短相片匹配波长的差值表征(λcutoff-λPM)。中国科学院新疆理化技术研究所晶体材料研究中心致力于新型紫外、深紫外非线性光学晶体的设计与合成。该团队前期基于领域前沿进展的研究和对非线性光学晶体双折射相位匹配现状的剖析,在特邀综述中首次提出关于非线性光学晶体一种理想状态的假设,即在基于双折射相位匹配的非线性光学晶体中,是否可以实现“紫外截止边等于最短匹配波长”的理想状态?若该假设在晶体中得以实现,将为晶体在整个透过范围内均实现双折射相位匹配提供新途径和新思路。近期,该团队创制一类新非线性光学晶体即全波段相位匹配晶体。该类晶体基于应用广泛的双折射相位匹配技术,且可以实现对晶体材料透过范围内任意波长的相位匹配。该研究揭示了全波段相位匹配晶体的物理机制,从折射率的微观表达及双折射色散曲线、折射率色散曲线和相位匹配等光学条件等角度出发,给出两种独立的全波段相位匹配晶体的评价参数,并将此评价参数应用于一些经典的非线性光学晶体材料,讨论以此参数评估晶体相位匹配波长损失的可行性和普适性。基于此,研究获得一例非线性光学晶体(GFB)。实验通过多级变频的方案或光参量技术方案,研究晶体在整个透过范围内的直接倍频输出能力,并基于相位匹配器件已经实现193.2-266 nm紫外/深紫外可调谐激光输出,验证其该晶体全波段相位匹配能力,使该晶体成为目前首例且唯一一例实现了全波段双折射相位匹配的紫外/深紫外倍频晶体材料。该材料193.2 nm处晶体透过率0.02%,依然可以实现倍频激光输出,验证了其全波段相位匹配特性。该晶体具有优异的线性和非线性光学性能,如短紫外截止边(~193 nm),大有效倍频系数(deff = 1.42 pm/V)、短相位匹配波长(~194 nm)和高抗激光损伤阈值(BBO@ 266/532 nm, 8 ns, 10 Hz)等,是颇具应用前景的266 nm激光用非线性光学晶体材料。相关研究成果以全文形式发表在《自然光子学》(Nature Photonics)上。研究工作得到科技部,国家自然科学基金委员会和中国科学院等的支持。GFB晶体结构、微观性能分析及晶体照片
  • 浅谈激光干涉技术及应用现状
    激光干涉技术主要应用光波的空间相干特性。具体而言,对于两束光波或电磁波等横波,当波长相等、且相位差为2π整数倍时,合成波的振幅叠加增强至最大;当相位差为π奇数倍时,合成波的振幅抵消减小至最小。早在十九世纪下半叶,科学家们就已发明了多种原理干涉结构装置用于科学研究,其中最著名的是迈克尔逊-莫雷干涉试验,该实验采用钠光源平均谱线近似单色光进行干涉测量,从而否定了“以太”的假说。图1 迈克尔逊-莫雷干涉试验激光干涉仪的构成真正促进干涉技术巨大进步的契机是1960年激光器的发明。激光由于具有极窄的谱线,因而具有非常优秀的空间相干性。目前激光干涉仪主要的用途包括精准的尺寸和移动距离测量,测量准确度最高可以达到纳米甚至亚纳米量级。在构成上激光干涉仪最常使用的波长为632.8 nm,对于经典的迈克尔逊干涉测量原理,由激光器中出射的单色激光经过50:50半透半反的分束镜后分为2束光束,其中一束经过固定的光程后被反射镜反射,称为参考光束;另外一束光束由于存在被测对象,被反射镜反射后光程发生改变(距离或折射率变化引起),称为测量光束。当两束光被反射后在分束镜第二次合成并随后照射探测器上被接收后,将产生干涉条纹的移动。由之前的光波的叠加性可知,假设测量光路距离变化为316.4 nm,当只存在一去程一回程的情况下,此时干涉条纹相位变化2π。目前商用激光干涉仪普遍采用两去程两回程,同时采用1024倍电子细分卡,因此分辨率可达0.16 nm。图2 激光干涉仪原理构造激光干涉仪的应用现状1. 在工业领域应用随着理论研究的深入和技术的不断进步,激光干涉测量技术目前精彩纷呈,在多个领域中都得到了非常广泛的应用。 包括单频激光干涉仪、双频激光干涉仪、激光平面干涉仪、法布里-珀罗干涉仪、皮米激光干涉仪、多波长干涉测距等。 单频和双频激光干涉仪。测量具有非接触和无损检测的特点,能够在线测量长度、角度和转速等参数,因此已成为各国精密数控机床在线定位精度测量的最主要标准之一。在精密加工过程中,位置精度是机床的重要指标,激光干涉仪通过在线位置测量、实时数据处理实现机床误差修正。另外在集成电路制造中,激光干涉仪也是光刻机在线位移测量的核心部件。图3 激光干涉仪在精密机床中的应用激光平面干涉仪。激光干涉仪不仅可以用于测量长度、角度以及位移,也可以测量物体的表面形貌。测量基本原理为激光菲索(Fizeau)干涉,激光经过扩束后先后经过参考平面和待测平面,两个平面的反射光发生干涉后产生干涉条纹,通过成像系统接收。分析条纹形状即可判断是否存在缺陷。图4 激光平面干涉仪皮米激光干涉仪。现在随着微纳测量分辨率要求的进一步提高,出现了商品化的皮米激光干涉仪。皮米激光干涉仪采用包覆光纤作为激光传输介质,有效减小了空气折射率扰动对测量的影响;同时在干涉方式上干涉仪采用法布里-珀罗(F-P)干涉仪原理,是一种多倍程干涉,进一步提高了分辨率。 图5 皮米激光干涉仪多波长干涉绝对测距。采用单波长干涉测距虽然分辨率可达到纳米级,但是单波长干涉测距是相对测量,且测量时光路不能中断,而多波长干涉能很好解决这个问题。因为在干涉测距中波长就像一把量尺,但如果测量距离大于这把量尺,则需要多次拼接测量。多波长干涉能形成很长的等效波长,使量尺范围大于被测距离,实现绝对距离测量。图6 多波长干涉绝对测距光相控阵雷达。随着自动驾驶技术的高速发展,现在激光干涉技术也应用在光相控阵(OPA)激光雷达(LiDAR)中。激光雷达会产生一系列密集超短激光脉冲扫描周围物体,通过脉冲返回时长差判断距离和轮廓。光相控阵雷达利用光栅干涉原理,可以通过改变不同狭缝中入射光线的相位差来改变光栅后中央条纹(主瓣)位置,从而控制激光雷达光束的指向和转向。 图7 激光干涉技术在光相控阵雷达中的应用2. 在科学研究方面应用激光干涉引力波天文台(LIGO)。LIGO用于验证广义相对论预言的引力场扰动产生的时空扭曲。它本质上是一个超大型迈克尔逊干涉仪,由2条4千米长的互相垂直的臂构成,同时光线还会在臂内折返300次。当引力波会产生空间弯曲,干涉结果也会轻微变化。2017年美国科学家借助LIGO观测到双中子星合并引力波事件并获得了诺贝尔物理学奖。图8 激光干涉引力波天文台(LIGO)激光全息干涉测量技术。利用非共面多光束干涉可以在空间形成二维或三维周期性强度分布,从而被用来制作二维或三维光子晶体;利用全息干涉技术可用于位移及形变测量、应变与应力分析、缺陷或损伤探测、振动模式可视化及测量、晶体和蛋白质生长过程监测、流体中密度场和热对流场的观察与测量。图9 激光全息干涉测量技术作者:中国计量科学研究院副研究员 李琪
  • 中国科学家创制全波段相位匹配晶体
    激光是20世纪人类最重大的发明之一,60多年来,13项诺贝尔奖与激光技术密切相关。非线性光学晶体可用来对激光波长进行变频,从而扩展激光器的可调谐范围。近期,我国科学家成功创制了一种新型非线性光学晶体——全波段相位匹配晶体,为整个透光范围内实现双折射相位匹配提供了新思路。   该研究由中国科学院新疆理化技术研究所晶体材料研究中心潘世烈团队完成,相关成果于近期在国际学术期刊《自然-光子学》在线发表。   非线性光学晶体是获得不同波长激光的物质条件和源头。在晶体中实现应用波段相位匹配被普遍认为是重要的技术挑战之一,决定最终激光输出的功率和效率。目前有多种技术方案可供选择,其中利用晶体各向异性的双折射相位匹配技术是应用最广泛的弥补相位失配的有效途径。该方案转换效率高,但现有晶体均存在相位匹配波长损失,即可用晶体紫外截止边和最短相位匹配波长的差值表征。   团队前期在特邀综述(Angew. Chem. Int. Ed. 2020, 59, 20302-20317)中提出关于非线性光学晶体一种理想状态的假设,即在基于双折射相位匹配的非线性光学晶体中,是否可以实现“紫外截止边等于最短匹配波长”的理想状态?近期,该团队创制了一类新非线性光学晶体,即全波段相位匹配晶体。该类晶体基于应用广泛的双折射相位匹配技术,且可以实现对晶体材料透过范围内任意波长的相位匹配。该研究揭示了全波段相位匹配晶体的物理机制,并以此为指导获得一例非线性光学晶体(GFB)。基于晶体器件实现了193.2-266 nm紫外/深紫外激光输出,该材料193.2 nm处晶体透过率0.02%,依然可以实现倍频激光输出,验证了其全波段相位匹配特性,使该晶体成为目前首例实现了全波段双折射相位匹配的紫外/深紫外非线性光学晶体材料。研究结果表明,宽的相位匹配波长范围使GFB晶体透光范围得到充分应用,可实现1064 nm激光器二、三、四、五倍频高效、大能量输出,有望满足半导体晶圆检测等领域的重大需求。更重要的是,GFB可采用水溶液法生长出高质量、超大尺寸晶体,使其有望成为应用于大科学装置的新晶体材料。   今年是习近平总书记视察中国科学院并提出“四个率先”目标要求十周年。十年来,新疆理化所认真贯彻落实习近平总书记重要指示精神,面向国家重大需求,在新型光电功能晶体材料等重要技术领域取得了一系列科研成果。下一步,新疆理化所将持续开展相关晶体材料、器件及激光光源应用的攻关研究,力争产出更多原创性、引领性重大创新成果。GFB晶体器件利用GFB晶体进行激光实验
  • 美国MeadowlarkOptics公司推出全球响应速度最快的纯相位液晶空间光调制器
    摘 要:传统的液晶空间光调制器作为一种高单元密度的新型波前矫正器件, 一直受限于液晶的刷新速度,在许多的应用领域无法满足科研人员的需求。美国Meadowlark Optics公司20多年以来一直致力于研发高响应速度的空间光调制器,近期Meadowlark Optics宣布推出液晶刷新速度(0-2π)高达600Hz@532nm 500Hz@635nm的高速型SLM,其控制器的帧频为833Hz。 引 言:这款高速型液晶空间光调制器的分辨率为512x512,像素25um,开孔率:96%,通光口径:12.8x12.8mm 相信这款空间光调制器的出现,可以为天文自适应,生物显微自适应等对空间光调制器的刷新速度有较高要求的客户带来便利。此款产品由上海昊量光电独家代理。 液晶空间光调制器的工作原理Meadowlark Optics公司使用的液晶材料为超高速液晶,利用液晶的双折射效应及扭曲特性,当光进入双频液晶空间光调制器后,对应的O光和e光的折射率不同导致光束中的o光和e光分离。o光和e光在液晶空间光调制器中的传输速度不同,同时利用液晶的扭曲效应,在SLM两端施加不同的电压时液晶分子会发生不同角度的偏转,因此液晶空间光调制器可以对每一个像素点实现不同的相位调制(如下图所示)。 结论 高速型液晶空间光调制器以其液晶响应速度快,校正单元多(512*512)等特点受到越来越多的科研人员的青睐。目前在天文望远镜观测、大气湍流模拟、自适应光学算法模拟、眼底成像、双光子显微镜、超分辨显微成像等领域发挥着越来越重要的作用。此款产品由上海昊量光电独家代理。 关于我们:上海昊量光电设备有限公司专注于光电领域的技术服务与产品经销,致力于引进国外顶级光电器件制造商的技术与产品,为国内客户提供优质的产品与服务。我们力争在原产厂商与客户之间搭建起沟通的桥梁与合作的平台。
  • 科学家为环境条件下的多维测量定制原子力显微镜
    原子力显微镜(AFM)是一种表面表征方法。AFM中的关键元件是一个锋利的探针尖端,连接在力传感换能器上。在测量产生的相互作用力的同时,尖端相对于样品进行扫描。作为样品位置函数的映射原则上允许对表面结构进行成像。此外,还可以获得许多其他相互作用,如局部化学力和静电力。此外,将不同刺激整合到AFM测量中的能力(例如,温度依赖性、紫外线照射等)使得能够研究不同的实验效果。按时间顺序,AFM操作可分为两种:静态(也称为接触)和动态模式。接触操作模式依赖于探针的直接偏转测量。通过了解力传感换能器(即悬臂)的弹簧常数,可以直接恢复力。因此,接触模式易于操作,结果直观。然而,局部程度是由尖端和样品之间建立的接触面积定义的,该接触面积可以多达数百纳米正方形。此外,还有机械不稳定性,其中吸引的尖端-样品相互作用克服了悬臂的刚度,也称为跳跃接触。引入了动态操作模式来解决接触模式的局限性。动态操作模式的基本思想依赖于对悬臂的谐波振荡的解调,以控制尖端-样本分离。调幅(AM)是最广泛使用的动态操作模式之一。AM基于振荡的解调以恒定的激励信号驱动悬臂时,激励信号和振荡信号之间的相位差、振幅和/或相位差。仅涉及一个控制回路来控制AM-AFM中恒定激励信号的尖端-样本分离。因此,AM-AFM的使用相对简单。尽管AM-AFM易于实现,但它在机械上受到限制,特别是在真空条件下。更具体地说,振荡幅度的稳定时间与悬臂的质量因子成比例。因此,由于在真空条件下缺乏粘性阻尼,AM调制的使用是不可行的。此外,超出现有AFM硬件能力的机械不稳定性和振幅变化阻碍了传统AM-AFM在真空条件下的使用。AM-AFM的替代品是调频原子力显微镜(FM-AFM),它基于尖端-样品相互作用下悬臂共振频率的解调。FM-AFM消除了AM-AFM的限制;然而,它需要一个相对复杂的控制架构,因为激励信号由于尖端-样本相互作用而变化。FM-AFM通常在真空条件下使用,因为信噪比随着高质量因子的提高而提高;然而,它也可以在环境下甚至在液体环境中使用。FM-AFM能够以高分辨率测量尖端-样本相互作用力,即作用力为皮牛顿,距离为皮米。此外,随着原子工程尖端的最新进展,有可能评估不同原子侧的直接化学表征。除了FM-AFM的精确力和距离控制外,FM-AFM还利用其时间分辨测量的潜力覆盖了AM-AFM,其中尖端-样本相互作用力是作为时间的函数测量的。然而,已经从理论上证明并通过实验验证了基于FM的测量的时间分辨率不受机械限制。在这里,科研人员展示了具有新的硬件和软件集成的商业原子力显微镜系统的定制。尽管最初的设置,VEECO的EnviroScope扫描探针显微镜(SPM)带有NanoScope®IIIa控制器,具有用户友好的功能(例如,易于访问样品和尖端以及样品和/或尖端的温度控制),但它只能进行接触模式和基于AM AFM的形貌测量,并具有原始的力谱能力。我们实现了一个锁相环、一个高压放大器和一个新的显微镜控制器,用于FM-AFM的自动测量。我们用环境条件下的实验来说明我们的定制。更具体地说,我们进行了FM-AFM形貌实验、接触电势差测量、基于FM AFM的力谱测量、时间分辨原子力显微镜测量和跨台阶边缘的二维力谱测量。尽管每个商业系统都有自己的特点(例如,驱动步进电机进行粗略处理,访问所有数据信号以及高压信号的能力,以及用于样本定位的摄像头连接),但许多(商业)系统也可以进行类似的升级/定制。因此,我们相信我们的方法将对其他扫描探针显微镜有用。
  • 激光干涉测量:“聆听”宇宙的声音
    激光干涉测量助力空天探索 在空天探索领域,空间引力波探测是当前国际研究热点,作为人类观测宇宙的新窗口,引力波将为人类探索早期黑洞合并、超新星爆发等宇宙结构形成过程提供观测手段,对探索宇宙起源与演化具有重要的意义。为了探测中低频段的空间引力波,国内外研究人员计划在相距数十万乃至数百万千米的空间轨道上建立超高灵敏度星间激光干涉系统,该方法的本质是将现有的激光干涉超精密测量技术应用到外太空去,突破地面探测臂长的限制,摆脱地面各种干扰源对精密测量的影响。其关键技术是测量相距数百万公里的两个测试质量之间的间距变化,主要包括:测试质量与卫星平台之间的间距变化、两个卫星平台之间的间距变化,前者涉及到测试质量的多个自由度精密检测,探测灵敏度需要在1 mHz~1 Hz频段达到~1 pm/Hz1/2(平动)以及~1 nrad/Hz1/2(转动)水平。揭秘空间引力波探测的原理 空间引力波探测任务需要实现对测试质量皮米量级的平动测量以及纳弧度量级的转动测量,关键技术单元包括:激光外差干涉、差分波前传感以及高精度相位测量三部分,如图1所示,通过测量两测试质量之间的平动转动,获得其间距变化信息,从而探测引力波信号。图1面向空间引力波探测的激光外差干涉多自由度超精密测量技术示意图激光外差干涉 激光外差干涉测量原理如图2所示,频率相近的两束激光(测量光频率f1,参考光频率f2)合束后,合成波(频率为f1+f2)会存在一个包络,其频率为|f1-f2|,这一包络频率也被称为外差频率。 当测试质量在沿测量光传播方向上运动状态改变、或者引力波来临时,干涉仪的测量臂光程发生变化,表现为外差干涉信号的相位波动,即图2中紫色虚线部分。以经典迈克尔逊干涉结构为例,外差干涉信号相位的一个周期变化对应位移变化半波长(光程变化一个波长),有 其中,λ为激光输出波长,L为测试质量的等效位移,φ为外差干涉信号的相位变化。图2 激光外差干涉原理示意图差分波前传感 差分波前传感是一种基于激光波前相位比较的高精度角度测量方法,测量原理如图3所示。测量光与参考光合束后入射至四象限探测器表面,两束光满足干涉条件产生外差干涉信号,照射在探测器四个象限后会分别产生四路干涉信号。当测量目标平动时,四路外差干涉信号相位发生相应波动,与采用普通光电探测器的原理相一致;当测量目标转动时,测量光的波前相对参考光发生偏离,由于四象限探测器具有一定的空间间距,导致四路外差干涉信号的相位波动并不相同,通过对比不同象限的干涉信号相位差异,可以反演得到测量目标在水平方向和竖直方向上的转动角度,有 其中,θh为水平转动角,θv为垂直转动角 ФA/B/C/D为不同象限的外差干涉信号相位变化 kh/v为比例系数,由光束参数以及四象限探测器的几何参数共同决定,实验中常用偏摆镜配合自准直仪进行标定。图3 差分波前传感和四通道拍频信号波形示意图高精度相位测量 高精度相位测量可以通过锁相放大器或者相位计来实现,其基本原理如图4所示,外差干涉信号转化为电信号后与本地时钟(或外部参考)及其正交信号混频,低通滤波后分别得到Q信号(quadrature)和I信号(in-phase),计算I/Q反正切值并作相位解包裹运算得到相位差,Q信号作为相位误差信号反馈至本地可调时钟,更新本地时钟输出频率从而保持与输入外差干涉信号频率一致,形成锁相环路。图4 相位测量基本原理[1]国内外干涉仪研究进展LISA LISA (Laser Interferometer Space Antenna)是于1992年发起的一项探测1 mHz~1 Hz频段引力波信号的科学研究计划,这是最早开始、也是目前国际上发展最成熟的空间引力波探测计划,其中一项关键技术是实现测试质量的超高灵敏度多自由度测量。 2012年,德国汉诺威大学的Marina Dehne等人设计搭建了一套用于验证测试质量干涉仪噪声源及其消除技术的激光外差干涉测量系统,分析了多个噪声源(激光频率、激光强度、激光指向漂移、温度、偏振态、移频驱动边带、杂散光等)对相位读出的影响,并研究了多种噪声消减数据处理方法,在空间引力波探测目标频段成功实现了~1 pm/Hz1/2的超精密位移测量。 图5给出了LISA激光干涉平动转动测量技术发展时间线,该计划从提出开始,经历地面模拟论证、噪声源探索、技术卫星验证、光路布局优化测试等,距今已经开展了三十余年,其中用于测试质量多自由度测量的激光外差干涉技术灵敏度已经突破1 pm/Hz1/2和1 nrad/Hz1/2。目前光学干涉平台布局处于优化设计阶段,激光外差干涉超精密测量技术是否能够实现百万公里距离的两测试质量之间的皮米级平动测量并成功探测到宇宙深处的引力波,这仍然需要时间来给出答案。图5 激光干涉平动转动测量技术发展时间线(LISA)太极&天琴 2008年,我国科学家开始探讨中国的空间引力波探测计划,并于2012年正式成立了空间引力波探测工作组,2014年提出基于“日心”轨道和“地心”轨道两个独立的探测方案,即太极计划和天琴计划[2-3]。目前两者均形成了较为完备的星间激光干涉测量方案。 同LISA一样,太极和天琴于2019年分别发射了太极一号和天琴一号技术验证卫星,所搭载的光学干涉平台如图6所示,前者采用殷钢材料制作光学干涉平台基座、后者则采用光粘的方式来提高干涉装置的热稳定性,两者都包含有前端光程参考干涉仪和测试质量测量干涉仪。测试实验最新结果表明,空间激光干涉仪可以实现毫赫兹频段皮米量级的超精密位移测量,标志着我国在空间引力波探测中用于测试质量的激光外差干涉测量技术研究正逐渐走向国际前列。图6 我国空间引力波探测技术验证卫星激光干涉平台(a)太极一号[2](b)天琴一号[4] 其他 2021年,美国德州农工大学提出了一种一体式外差干涉仪,将分光镜波片等关键镜组胶粘成一个整体,提升干涉仪稳定性,并通过抽真空、被动控温、噪声建模消减等措施最终实现了33 pm/Hz1/2@0.1 Hz的平动测量。 2022年,清华大学谈宜东团队提出了一种用于测试质量五自由度测量的偏振复用双光束干涉仪,光路设计如图7所示,包含参考干涉仪(RHI)、双光束干涉仪(DBHI)和偏振复用干涉仪(PMHI),初步实验在10 mHz~1 Hz频段实现了优于10 pm/Hz1/2 以及20 nrad/Hz1/2的平动转动灵敏度测量。图7 偏振复用双光束激光外差干涉五自由度测量系统星辰宇宙,未来可期 “此曲只应天上有,人间难得几回闻”,如果说引力波是携带着浩瀚宇宙信息的乐曲,那么激光干涉超精密测试技术就是用来“听曲”的最灵敏的传声筒。在空间引力波探测领域,我国的激光外差干涉多自由度超精密测量技术相比于欧美LISA团队仍处于跟跑阶段,但未来有希望实现并跑甚至领跑。而且,空间引力波探测中涉及的外差干涉技术,可以对长度量进行高精度、大量程的超精密测量,可扩展应用于下一代高速、超精密二维或三维运动台的精确定位与运动控制,进而支撑我国超精密加工制造、IC 装备及尖端航空航天科技的发展,对于国民经济和工业建设有着重要的实际意义[5]。全文下载:空间引力波探测中的激光干涉多自由度测量技术.pdf参考文献:[1]Schwarze T S.Phase extraction for laser interferometry in space: phase readout schemes and optical testing[D]. Hannover: Institutionelles Repositorium der Leibniz Universität Hannover, 2018.[2] Luo Z R, Wang Y, Wu Y L, et al. The Taiji program: A concise overview[J]. Progress of Theoretical and Experimental Physics, 2021(5), 05A108.[3] Luo J, Chen L S, Duan H Z, et al. TianQin: a space-borne gravitational wave detector[J]. Classical & Quantum Gravity, 2015, 33(3): 035010.[4]Luo J, Bai Y Z, Cai L, et al. The first round result from the TianQin-1 satellite[J]. Classical and Quantum Gravity, 2020, 37(18): 185013.[5] 谈宜东, 徐欣, 张书练. 激光干涉精密测量与应用.中国激光,2021,48(15) : 1504001.作者简介 谈宜东,清华大学精密仪器系,长聘副教授,博士生导师,副系主任;基金委优秀青年科学基金获得者,英国皇家学会牛顿高级学者,教育部创新团队负责人。中国电子信息行业联合会光电产业委员会副会长、中国仪器仪表学会机械量测试仪器分会常务理事。 主要从事激光技术和精密测量应用等方面的研究工作。作为负责人承担国家自然科学基金,装发和科工局测试仪器领域关键技术攻关项目,科技部重点研发计划课题,军科委基础加强,重大科学仪器专项等项目40余项。在Nature Communications, PhotoniX, Optica, Bioelectronics and Biosensors, IEEE Transactions on Industrial Electronics等期刊发表 SCI 论文 100余篇,授权发明专利36项,在国际会议Keynote/Plenary/Invited报告40余次。先后获日内瓦国际发明展金奖,中国激光杂志社主编推荐奖,中国光学工程学会技术发明一等奖,中国电子学会技术发明一、二等奖多项。课题组介绍 清华大学精密仪器系激光技术与精密测量应用课题组,在激光器件及其物理效应、精密测量应用等方面开展了大量的工作,构成了从基础器件的设计和发明,到物理现象和效应的发现,进而在发现基础上的仪器发明,直至仪器的推广和应用这一较为完整的体系。先后研制了双折射-塞曼双频激光器及其双频激光干涉仪,实现了成果转化,成规模应用于国家02专项以及中芯国际、吉顺芯等公司进口光刻机干涉仪的替换;基于激光回馈原理的无靶镜纳米测量干涉仪,用于国家多个重点型号工程,包括:高分四号、一号以及激光聚变点火等。课题组还开展了远距离激光侦听、激光回馈调频连续波绝对测距、生化检测、pm量级灵敏度的激光干涉超精密测量技术(引力波专项)等研究。
  • 赛成发布触摸屏偏光应力仪新品
    一、触摸屏偏光应力仪产品简介YLY-H偏光应力仪(玻璃制品应力检查仪)是应用偏振光干涉原理检查玻璃的内应力或晶体双折射效应的仪器。执行 YYB003320O2、 YBBO○ 162003标 准。由于仪器备有灵敏色片,并应用1/4波片补偿方法,因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序,定性或半定量的测量玻璃的内应力,还可以准确定量的测量出玻璃内应力的等级。本仪器适含光学仪器厂、玻璃制晶厂、 实验室作测量光学玻璃、 玻璃制晶及其它光学材料的应力值,二、触摸屏偏光应力仪产品特点l 定性、 定量两种试验模式, 试验空间可调,适用范围广l 仪器可存储200组数据,每组数据 50个测量值l 采用高精度jue对式角度编码器进行测量,测量精度优于2.0nml 触摸屏显示,可同时显示测量角度及光程差数值,用户可直观获得所需数据,使测量直观易读。l 暗视场无需校准,采用了jue对式编码器,偏振场的暗视场总是处于零角度点,因此无需用户校对零点,避免了人为校对暗视场造成的误差。l 绿色节能,采用了更加节能环保的LED光源,相对传统光源节能80%以上。l 配备微型打印机,方便打印输出试验数据l 配备USB接口,可接PC软件控制仪器运行l 自动保存历史试验记录,本地查询,并可导出至电脑端EXCEL格式保存l 触屏端操作用户三级权限设置,完全满足GMP权限认证l 测试记录审计、追踪功能l 试验结果同步上传至云端服务器保存,在世界各地,有网络就可浏览。l 本地数据与云端数据双重备份,确保数据不会丢失三、技术指标项目特点仪器示值0.1毫微米测量精度2毫微米偏振场直径150亳米捡偏振片旋转角度-180 ~+180度数据保存200组每组数据50个测量值光场边沿亮度120cd/m2可调测量距离范围280mm外形尺寸220mm(L)×350mm(B)×580mm(H)净重12Kg电源AC 220V 50Hz使用环境温度10—40 oC创新点:YLY-H偏光应力仪(玻璃制品应力检查仪)是应用偏振光干涉原理检查玻璃的内应力或晶体双折射效应的仪器。执行 YYB003320O2、 YBBO○ 162003标 准。由于仪器备有灵敏色片,并应用1/4波片补偿方法,因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序,定性或半定量的测量玻璃的内应力,还可以准确定量的测量出玻璃内应力的等级。本仪器适含光学仪器厂、玻璃制晶厂、 实验室作测量光学玻璃、 玻璃制晶及其它光学材料的应力值,
  • 中科院精密测量院研制出相位锁定的涡旋物质波干涉仪
    近日,精密测量院江开军研究团队研制出基于超冷原子气体的涡旋物质波干涉仪,并观察到两自旋分量上干涉条纹的相位锁定现象,相关研究成果 6月30日发表在学术期刊《npj Quantum Information》上。   干涉是经典波动力学和量子力学中的基本现象,以此为基础的干涉仪可以通过测量不同路径或通道间的相位移动对物理量进行精确测量。超冷原子气体具有组分纯净、相干性好且内外态精确可控的特点,基于该体系的物质波干涉仪近年来成为精密测量和基础物理研究的重要工具。目前在超冷原子气体中实现的物质波干涉主要是通过操控物质波的平动自由度实现分束,观测具有不同线动量的物质波干涉条纹进行相位测量。而另一方面,由角动量表征的转动是体系另一个重要自由度,并且超冷量子气体中的角动量与体系的涡旋、超流等量子现象具有密切的联系。在超冷原子气体中可以基于不同的角动量态实现一类新型的涡旋物质波干涉,有望用于测量体系的外部磁场、转动、粒子间相互作用和几何相位等物理量。实现涡旋物质波干涉的前提是在超冷原子气体中可控的制备和操控涡旋态。近年来携带角动量的拉盖尔-高斯光与冷原子相互作用研究的进展,为建立涡旋物质波干涉仪奠定了基础。   研究团队近年来对超冷原子气体的涡旋光场调控开展了研究,掌握了利用涡旋光场驱动双光子拉曼跃迁实现超冷原子涡旋态的制备、操控与测量方法,测量了自旋-角动量耦合超冷原子气体的量子相变[Physical Review Letters 122, 110402 (2019)]。 涡旋物质波干涉仪的实验构型   在前期工作的基础上,研究团队利用偏置磁场在铷87原子F=1超精细能级的三个磁子能级间产生较大的二阶塞曼频移。团队利用一对具有不同角动量的拉曼光束诱导双光子跃迁,获得干涉仪的第一个分束器,干涉仪的两臂具有不同的自旋和角动量(涡旋态);随后利用射频脉冲作为第二个分束器,在两个自旋态(对应分束器的两个输出端口)上都实现涡旋物质波的干涉。通过选择合适的拉曼光和射频脉冲的失谐量,确保原子只布居在两个磁子能级,产生无损耗的分束器。不同于线动量干涉产生的线向干涉条纹,实验上观察到角向干涉条纹。通过对干涉图样的分析,发现两自旋态上的干条纹具有反相位关系(π 相位差),该相位关系不受两涡旋态的角动量差、拉曼光的组成和超冷原子自由膨胀时间等实验参数的影响。提出了利用涡旋物质波干涉仪测量磁场的方案,并对磁场测量的灵敏度进行了评估,指出该方案可以测量有限大小的磁场,并且测量灵敏度不受原子数波动的影响。该工作为构建基于涡旋物质波干涉的新型量子传感器提供了实验基础。 两自旋态干涉条纹相位关系的实验测量   相关研究成果以“相位锁定的涡旋物质波干涉仪(Phase-locking matter-wave interferometer of vortex states)”为题,发表在学术期刊《npj Quantum Information》上。精密测量院博士生孔令冉为论文第一作者,特别研究助理高天佑和研究员江开军为通讯作者。   该工作获得科技部重点研发计划、国家自然科学基金、中科院国际团队以及湖北省创新群体项目等的资助。
  • 精密测量院研制出相位锁定的涡旋物质波干涉仪
    近日,精密测量院江开军研究团队研制出基于超冷原子气体的涡旋物质波干涉仪,并观察到两自旋分量上干涉条纹的相位锁定现象,相关研究成果 6月30日发表在学术期刊《npj Quantum Information》上。干涉是经典波动力学和量子力学中的基本现象,以此为基础的干涉仪可以通过测量不同路径或通道间的相位移动对物理量进行精确测量。超冷原子气体具有组分纯净、相干性好且内外态精确可控的特点,基于该体系的物质波干涉仪近年来成为精密测量和基础物理研究的重要工具。目前在超冷原子气体中实现的物质波干涉主要是通过操控物质波的平动自由度实现分束,观测具有不同线动量的物质波干涉条纹进行相位测量。而另一方面,由角动量表征的转动是体系另一个重要自由度,并且超冷量子气体中的角动量与体系的涡旋、超流等量子现象具有密切的联系。在超冷原子气体中可以基于不同的角动量态实现一类新型的涡旋物质波干涉,有望用于测量体系的外部磁场、转动、粒子间相互作用和几何相位等物理量。实现涡旋物质波干涉的前提是在超冷原子气体中可控的制备和操控涡旋态。近年来携带角动量的拉盖尔-高斯光与冷原子相互作用研究的进展,为建立涡旋物质波干涉仪奠定了基础。研究团队近年来对超冷原子气体的涡旋光场调控开展了研究,掌握了利用涡旋光场驱动双光子拉曼跃迁实现超冷原子涡旋态的制备、操控与测量方法,测量了自旋-角动量耦合超冷原子气体的量子相变[Physical Review Letters 122, 110402 (2019)]。涡旋物质波干涉仪的实验构型  在前期工作的基础上,研究团队利用偏置磁场在铷87原子F=1超精细能级的三个磁子能级间产生较大的二阶塞曼频移。团队利用一对具有不同角动量的拉曼光束诱导双光子跃迁,获得干涉仪的第一个分束器,干涉仪的两臂具有不同的自旋和角动量(涡旋态);随后利用射频脉冲作为第二个分束器,在两个自旋态(对应分束器的两个输出端口)上都实现涡旋物质波的干涉。通过选择合适的拉曼光和射频脉冲的失谐量,确保原子只布居在两个磁子能级,产生无损耗的分束器。不同于线动量干涉产生的线向干涉条纹,实验上观察到角向干涉条纹。通过对干涉图样的分析,发现两自旋态上的干条纹具有反相位关系(π 相位差),该相位关系不受两涡旋态的角动量差、拉曼光的组成和超冷原子自由膨胀时间等实验参数的影响。提出了利用涡旋物质波干涉仪测量磁场的方案,并对磁场测量的灵敏度进行了评估,指出该方案可以测量有限大小的磁场,并且测量灵敏度不受原子数波动的影响。该工作为构建基于涡旋物质波干涉的新型量子传感器提供了实验基础。两自旋态干涉条纹相位关系的实验测量  相关研究成果以“相位锁定的涡旋物质波干涉仪(Phase-locking matter-wave interferometer of vortex states)”为题,发表在学术期刊《npj Quantum Information》上。精密测量院博士生孔令冉为论文第一作者,特别研究助理高天佑和研究员江开军为通讯作者。  该工作获得科技部重点研发计划、国家自然科学基金、中科院国际团队以及湖北省创新群体项目等的资助。  论文链接:https://www.nature.com/articles/s41534-022-00585-5
  • X射线多层膜在静态和超快X射线衍射中的应用
    x射线多层膜在静态和超快x射线衍射中的应用x射线光学组件类型根据x射线和物质作用的不同原理和机制,目前主流的x射线光学组件可以大致分为四类:以滤片、窗片、针孔光阑为代表的吸收型组件;基于反射,全反射原理的各种镜片以及毛细管、波导等反射型器件,还有基于折射原理的各种复折射镜。而本文的主题多层膜镜片,其底层原理和晶体、光栅、波带片一样,都是基于衍射原理。吸收型反射型折射型衍射型滤片窗口针孔/光阑镜片:kb、wolter、超环面镜… … 毛细管:玻璃毛细管、金属镀层毛细管复折射镜:抛物面crl、菲涅尔crl、马赛克crl、… … 晶体光栅多层膜波带片多层膜的原理和工艺一般来说,反射型镜片存在“掠射角小、反射率低”的问题。而多层膜镜片则是通过构建多个反射界面和周期,并使反射界面等周期重复排列,相邻界面上的反射线有相同的相位差,就会发生干涉,如果相位差刚好为2pi的整数倍,则会干涉相长,得到强反射线。从布拉格公式可以看出:多层膜就是通过对d值的控制,来实现波长选择的人工晶体。而在工艺实现方面,目前制备x射线多层膜镜的主要工艺有:磁控溅射、电子束蒸镀、离子束蒸镀。一般使用较多的是磁控溅射或离子束镀膜工艺,即在基板上交替沉积金属和非金属层,通过选择材料,控制镀膜的厚度及周期的选定,实现对硬x射线到真空紫外波段的光的调制。上图为来自德国incoatec的四靶材磁控溅射镀膜系统。可实现多种膜系组合的高精度镀膜。[la/b4c]40 多层膜b-kα(183ev)用多层膜,d:10nm单层膜厚:1-10nm0.x nm的镀膜精度tem: 完美的镀层界面frank hertlein, a.e.m. 2008上图为40层la-b4c多层膜的剖面透射电镜图像和选区电子衍射,弥散的衍射环说明膜层是非晶结构。同时可以明显看到:周期为10nm的膜层界面非常清晰和规则。这套镀膜系统可获得0.x nm的镀膜精度。多层膜的特点示例—单色和塑形多层膜最显著的特点和优势在于可以通过基底的面型控制和镀层的膜厚控制,将x光的塑形和单色统一起来。当然,这是以精度极高的镀膜工艺为前提。下图的数据展示了进行梯度渐变镀膜时,从镜片一端到另一端镀膜的周期设计数值 vs. 实际工艺水平。可以看到:长度为150mm的基底上,单层镀膜膜厚需要控制在3.8-5.7nm,公差需要在1%以内。相当于在1500公里的长度上,厚度起伏要控制mm水平。这是非常惊人的原子层级的工艺水平。frank hertlein, a.e.m. 2008通过面型控制来实线x射线的塑形;通过极高精度的膜厚控制实现2d值渐变—继而实现单色;0.x nm尺度的镀膜误差——需要具备原子层级的工艺水平!多层膜的特点示例—带宽和反射率除了可以通过曲面基底和梯度镀膜实现对x光的塑形和单色,还可通过对膜层材料、膜厚、镀膜层数等参数的设计和控制,来实现带宽和反射率的灵活调整。如窄带宽的高分辨多层膜,以及宽带宽的高积分反射率多层膜。要实现高分辨:首先要选择对比度较低的镀膜材料,如be、c、b4c、或al2o3;其次减小膜的厚度,多层膜的厚度降为10~20å;最后增加镀膜层数,几百甚至上千。from c. morawe, esrf多层膜的特点示例—和现有器件的高度兼容左侧: [ru/c]100, d = 4 nm r 80% for 10 e 22 kev中间: si111 δorientation0.01°右侧: [w/si]100, d = 3 nm r 80% for 22 e 45 kevdcmm at sls, switzerland, m. stampanoni精密、灵活的膜层设计和镀膜控制镀膜材料的组合搭配;d/2d值的设计和控制;带宽和反射率的灵活调整。和现有器件的高度兼容多层膜主流应用方向目前,多层膜的主流应用方向和场景主要有:粉末、x射线荧光、单晶衍射以及同步辐射的单色、衍射、散射装置搭建。粉末衍射x射线荧光单晶衍射同步辐射基于dac的原位高压静态x射线衍射典型的静高压研究中,常利用金刚石对顶砧来获得一些极端条件。在极端的高压、高温下,利用x射线来诊断新的物相及其演化过程是重要的研究手段。x-ray probe利用金刚石对顶砧可以获得极端条件(数百gpa, 几千°c) 利用x射线探针来诊断和发现新物相;由于对x光源、探测器以及实验技术等方面的苛刻要求,尤其是需要将微束的x光,精准的穿过样品而不打到封垫上。长期以来,基于dac的x射线高压衍射实验只能在同步辐射实现。但同步辐射有限的机时根本无法满足庞大的用户需求。不能在实验室进行基于dac的x射线高压衍射实验和样品筛选,一直是广大高压科研群高压衍射实验室体的一大痛点。以多层膜镀膜工艺为技术核心,将多层膜镜片与微焦点x光源耦合,我们可以为科研用户提供单能微焦斑x射线源,使得在实验室实现高压衍射成为可能。下图是利用mo靶(左)和ag靶(右)单能微焦斑x射线源获得的dac加载下的lab6样品的衍射图。曝光时间300s,探测器为ip板,样品和ip板距离为200mm。可以看到:300s曝光获得的衍射数据质量是可接受的。特别地,对于银靶,由于其能量更高,可以压缩倒易空间,在固定的2thelta角范围内,可以获得更多的衍射信息,这对于很多基于dac的静高压应用来说非常有吸引力。dac加载下的lab6样品的衍射数据:多层膜耦合mo靶(左)和ag靶(右)曝光时间300s,探测器为ip板,样品和ip板距离为200mmbernd hasse, proc. of spie vol. 7448, 2009 (doi: 10.1117/12.824855)基于激光驱动超快x射线衍射在利用激光驱动的x射线脉冲进行超快时间分辨研究中,泵浦探针是常用的技术手段。脉宽为几十飞秒的入射激光经分束后,一路用于激发超快x射线脉冲,也就是探针光;另一路经倍频晶体倍频作为泵浦光。通过延时台的调节,控制泵浦激光和x射线探针到达样品的时间间隔,可实现亚皮秒量级时间分辨的测量。而在基于激光驱动的超快x射线衍射实验中,如何提升样品端的光通量?如何获得低发散角的单色光束?如何抑制飞秒脉冲的时间展宽?如何同时兼顾以上的实验要求?都是需要考虑的问题。很多时候还需要兼顾多个技术指标,所以我们非常有必要对各类光学组件和x射线飞秒脉冲源的耦合效果和特点有一个比较清晰的认知。四种光学组件和激光驱动x射线源的耦合效果对比首先我们先对弯晶、多层膜镜、多毛细管和单毛细管四种组件的聚焦效果有个直观的了解。以下是将四种光学组件和激光驱动飞秒x射线源耦合,然后进行了对比。四种光学组件在聚焦和离焦位置的光斑:激光参数:800nm/1khz/5mj/45fs源尺寸:10um 打靶产额:4*109 photons/s/sr这是四种组件的理论放大倍率和实测聚焦光斑的对比。可以看到:弯晶和多层膜的工艺控制精度很高,实测光斑和理论值比较接近。而毛细管的大光斑并不是工艺精度的误差,而是反射型器件的色差导致的,不同能量的光都会对聚焦光斑有贡献,导致光斑较大。而各种组件的工艺误差,导致的强度不均匀分布,则是在离焦位置处的光斑中得到较为明显的体现。ge(444)双曲弯晶多层膜镜片单毛细管多毛细管放大倍率1270.7收集立体角 (sr)+---++反射率--+++-有效立体角 (sr)---+++1维会聚角 (deg)+---++耦合输出通量(ph/s)---+++聚焦尺寸 (μm)2332155105光谱纯度好好差差时间展宽 (fs)++++--激光参数:800nm/1khz/5mj/45fs打靶产额:4*109 photons/s/sr等级: ++ + - --利用针孔+sdd,在单光子条件下,测量有无光学组件时的强度和能谱,可以推演出相应的技术参数。这里我们直接给出了核心参数的总结对比。其中,大多数用户最为关注,同时也是对于实验最为重要的,主要是有效立体角、输出光通量、光谱纯度和时间展宽。可以看到:典型的有效收集立体角在-4、-5sr的水平,而在样品上的输出光通量在5-6次方每秒这样的水平。但是需要指出的是:毛细管并不具备单色的能力,虽然有效立体角大,但输出的是复色光。对于时间展宽的比较,很难通过实验手段获得测量精度在几十到百飞秒水平的结果,所以主要通过理论分析和计算来获得。对于同为衍射型组件的ge(444)双曲弯晶和多层膜镜片,光程差引入项主要是x光在组件内的贯穿深度。对于ge(444),8kev对应的布拉格角约为70度,x光的衰减长度约为28um,对应的时间展宽约90fs。对于多层膜镜片,因为它属于掠入射型的衍射组件,x光的衰减长度在um量级,对应的时间展宽甚至可以到10fs水平,因此这里的数据相对比较保守的。而对于毛细管这种反射型器件,光程差引入项主要是毛细管的长度差。对于单毛细管,光程差在10fs水平,对于多毛细管,位于中心区域和边缘的子毛细管长度是有较大的差异的,光程差可达ps水平。小结1. 弯晶:单色性好、时间展宽较小、有效立体角小、输出通量低;2. 多层膜:单色性好、时间展宽较小、有效立体角大、kα输出通量高;3. 单毛细管:复色、时间展宽很小、有效立体角大、复色光通量高;4. 多毛细管:复色、时间展宽较大、有效立体角最大、复色光通量最高。每一种光学组件都有其适用的场景,对于非单色的超快应用,如超快荧光、吸收谱,毛细管可能更为合适,而对于追求单色的超快应用,如超快衍射,多层膜是比较好的选择,兼顾了单色性、时间展宽和有效立体角(输出通量)三个核心指标!如果您有任何问题,欢迎联系我们进行交流和探讨。北京众星联恒科技有限公司致力于为广大科研用户提供专业的x射线产品及解决方案服务!
  • 检验粉煤灰用偏光显微镜MHPL1500 透射光观察
    偏光显微镜是一种使用透射光原理进行观察的显微镜。它的工作原理是利用透镜将物体的光线聚焦,通过眼睛或摄像机进行观察。偏光显微镜可以用于观察物品的形态、颜色和透明度等特征。在检测粉煤灰微观结构特征方面,偏光显微镜可以用于观察粉煤灰的颗粒形态、大小和颜色的变化等。使用偏光显微镜观察粉煤灰样品时,需要对样品进行制备和处理。首先,需要将粉煤灰样品制成薄片。然后,用显微镜观察样品的形态、颜色和透明度等特征。通过观察,可以发现粉煤灰的颗粒形态不规则,大小和颜色存在差异。这些特征可以提供有关粉煤灰微观结构的信息。检验粉煤灰用偏光显微镜MHPL1500 透射光观察透射偏光显微镜MHPL1500是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。产品配置无应力平场消色差物镜与大视野目镜,高精度偏光载物台,优良的偏振观察附件等。可在透射偏光、反射偏光与透/反射偏光状态下获得良好的显微图像,仪器机械性能优良,观察舒适,操作方便。数码型偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像,并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。透射偏光显微镜MHPL1500产品参数:1. 标准配置型号MHPL1500 (透射照明)目镜大视野 WF10X (Φ18mm)分划目镜 10X (Φ18mm) 0.10mm/div物镜 (中心可调)无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm) PL 4X/0.10无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm)PL 10X/0.25无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm)PL 40X/0.65 (弹簧)无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm)PL 60X/0.85 (弹簧)透射照明起偏器可360°旋转,有0、90、180、270四个读数集光器卤素灯照明适用光源6V 20W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜N.A. 1.25 可上下升降目镜筒三目镜,倾斜30&ring ,可进行透光摄影中间接筒内置检偏器, 可自由切换正常观察与偏光观察,90°旋转,带刻度,游标格值12'推入式勃氏镜,中心可调λ补偿器λ/4 补偿器石英锲补偿器转换器四孔(外向式滚珠内定位)调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置载物台旋转式载物台,直径:Φ150mm,360°等分刻度,游标格值6',中心可调,带锁紧装置2.选配件:名称类别/技术参数目镜大视野 WF16X(Φ11mm)物镜 (中心可调)无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm) PL 20X/0.40 无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm) PL 100X/1.25 (油,弹簧)无应力平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 20X/0.40无应力平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 50X/0.70无应力平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 80X/0.80无应力平场消色差物镜(干式) (无盖玻片) PL L 100X/0.85 (弹簧)转换器四孔(外向式滚珠内定位),可调节物镜中心移动尺移动范围:30mmX25mmCCD接头0.4X0.5X1X0.5X带分划尺,格值0.1mm/格显微镜摄像头USB2.0MHD500USB3.0MHC600、MHD600、MHD800、MHD1600、MHD2000、MHS500、MHS900摄影装置2.5X/4X变倍摄影装置带10X取景目镜4X对焦摄影装置MD卡环PK卡环数码相机接头CANON (A610,A620,A630,A640)
  • “十四五”基金委数理科学部重大项目指南(全文)
    2021年数理科学部共发布10个重大项目指南,拟资助5个重大项目,项目申请的直接费用预算不得超过1500万元/项。“超大型航天结构空间组装动力学与控制”重大项目指南  尺寸达千米量级的超大型航天器是未来空间资源利用、宇宙奥秘探索、长期在轨居住的重大战略性航天装备。超大型航天器结构重量和尺寸巨大,无法通过单次火箭发射和入轨展开方式构建,需通过结构模块化设计、多次发射和空间组装的方式进行建造 其次,超大型航天结构组装过程中,结构的超大尺度效应和构型变化效应与空间环境效应作用相耦合,将带来极其复杂的耦合动力学现象。这对超大型航天器的动力学设计提出了两方面的要求:一是结构的轻量化设计,以最大程度减少发射次数,降低建设成本 二是结构的可控性设计,以有效抑制组装过程中组合体轨道与姿态漂移、控制结构变形与振动。  瞄准超大型航天结构在轨组装建造的迫切需求,将航天动力学的三大研究对象“轨道”、“姿态”和“结构”进一步融合,并与“控制”学科深度交叉,推动航天器耦合动力学与控制研究方向的发展,为超大型空间基础设施的建造奠定理论和技术基础。  一、科学目标  瞄准超大型航天结构的减重设计和空间组装需求,提出满足在轨动力学要求的组装结构轻量化设计新理论 建立空间组装过程的“轨道-姿态-结构”耦合动力学新模型,揭示空间组装过程的耦合动力学演化新规律 提出空间组装过程的“轨道-姿态-结构”一体化稳定控制新理论 探索解决超大型航天结构动力学试验“天地一致性”问题的新方案。  二、研究内容  (一)超大型航天结构的轻量化和可控性设计。  提出新的超大型航天结构轻量化设计方案、发展满足超大型航天结构在轨动力学特性要求的新型组装模块、建立组装模块结构的可控性设计方法,实现超大型航天结构的大幅减重和结构-控制一体化。  (二)超大型航天结构空间组装过程的动力学演化。  发展超大型航天结构空间组装的“轨道-姿态-结构”耦合动力学建模方法 针对组装过程中的接触碰撞、变形振动、非保守力等问题,提出既能保持系统物理特性,又高效稳定的数值方法 揭示空间环境中超大型航天结构组装过程的动力学行为及演化规律。  (三)空间组装过程轨道-姿态-结构一体化稳定控制。  提出多约束条件下超大型航天结构“轨道-姿态-结构”控制执行机构的配置方法 结合轨道和姿态控制要求,以及组装过程结构拓扑变化、变形和振动特性,发展空间组装过程的“轨道-姿态-结构”一体化稳定控制方法。  (四)空间组装过程动力学与控制的地面模拟试验。  开展新型组装模块的动力学试验、组装过程的动力学响应与验证试验以及稳定控制试验 以地面试验中航天器动力学响应与其在轨响应一致为目标,提出面向超大型航天结构的高可信、高精度地面动力学模拟试验方法。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“超大型航天结构空间组装动力学与控制”。“材料长效使役性能高通量表征的力学理论与实验方法”重大项目指南  材料与结构的长效使役性能分析预测是固体力学的关键基础问题,也是保障重大工程装备服役安全的技术核心。但是,固体力学的传统理论与方法难以揭示材料与结构长效行为的演化机制,无法准确预测其使役寿命。材料与结构的长效行为横跨多个时空尺度,蕴含海量数据,对其采集、分析与处理并凝练挖掘内在的力学机理也提出了全新的要求和巨大的挑战。同时,大数据和机器学习的蓬勃发展为解决材料与结构的长效使役性能预测提供了新的契机和思路。  发展基于机理牵引的材料与结构长效使役性能高通量表征的力学理论与实验方法,推动固体力学研究新范式的建立。一方面,基于全场分析设计和指导制备梯度样品,创建和发展相应高通量实验技术,获得高效率、高物理相关度和内蕴力学机理的海量数据 另一方面,基于大数据和机器学习,挖掘材料与结构的长效使役行为与规律,构建短时数据与长效使役性能之间的映射关系,实现对其使役寿命的精准预测。  一、科学目标  建立基于全场分析的梯度材料表征力学理论,发展多重物性宏微观高通量测试技术,通过结构与性能关系的多尺度机理研究和机器学习,构建材料短时数据与长效使役性能之间的映射关系,实现对其使役寿命的精准预测,应用于具有重要战略意义的高速列车车轴材料和全固态电池材料。  二、研究内容  (一)基于梯度样品全场分析的高通量表征力学理论。  针对宏观与微观层次的力、热、电、化多场耦合响应,开展基于三维连续介质理论的模型选择、改进或简化研究。发展解析、半解析和数值方法高精度、高效率求解对应物理模型的初边值问题,揭示梯度样品在多重多频载荷下力、热、电、化多场耦合响应的全场分布规律。结合海量实验与模拟数据,采用机器学习研究基于全场解的参数或函数时空反演方法。  (二)梯度样品宏观层次高通量表征实验方法。  研发基于第三代同步辐射光源和超声波的多场(力、热、电、化等)原位高通量测试方法与装备,实现梯度样品在多场环境加载下多重物性(力学性能、热学性能和电化学输运性能等)和材料微结构的高通量表征,揭示其短时演化规律,为长效使役性能精准预测提供海量数据支撑。  (三)梯度样品微观层次高通量表征实验方法。  发展时序激励多功能扫描探针方法与装备,高通量表征梯度样品局域多重物性定量信息,包括力学性能、热学性能和电化学输运性能等,并将其与材料微观显微结构关联,构建梯度样品多重物性空间分布及时间演化。运用所发展的方法研究机械疲劳样品局域结构性能演化和循环载荷固态电池力-电-化多场耦合性能演化。  (四)机理驱动的使役行为跨时空尺度映射。  发展不同时空尺度和多场耦合作用下材料使役行为及其微结构演化的多尺度模拟新方法,揭示材料在力、热、电、化等多物理场耦合作用下的微结构演化规律及其对材料长效使役性能的调控机理。基于多时空尺度海量实验和模拟数据,通过机理牵引的机器学习,在微观与宏观、短时与长效多个维度建立材料使役行为的跨时空尺度映射关联,实现对高速列车车轴材料和全固态电池材料使役寿命的精准预测。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“材料长效使役性能高通量表征的力学理论与实验方法”。“活动星系核反馈在星系演化中的作用”重大项目指南  星系的形成与演化是天体物理研究的主要方向之一。近年来观测上陆续发现的一些重要结果,对传统理论提出了严峻挑战。目前的观点普遍认为,最有希望解决上述问题的方案是活动星系核反馈。活动星系核反馈是目前天体物理最热门的研究课题之一,近20年来的研究取得不少重要成果。但是,不管是在观测上还是理论上,不少关键科学问题并没有得到解决。  造成上述现状的主要原因是活动星系核反馈涉及的空间和时间尺度跨度非常大,比如从黑洞吸积盘到星系再到星系际介质空间尺度上跨越了10个量级,涉及黑洞吸积与活动星系核、星系形成与演化、以及大尺度结构与宇宙学等三个传统研究领域。拟通过这三个领域的深度交叉合作,充分发挥在这些领域积累的优势研究力量,依托国内外多波段观测,结合大规模数值模拟,系统研究活动星系核反馈在星系演化中起的作用,从理论和观测上对这一问题进行联合攻关,争取在若干核心问题上取得重要突破。  一、科学目标  获得不同光度活动星系核风的观测证据、以及风的速度、质量流与活动星系核光度的定量关系 将低红移星系气体的探测深度和中高红移星系的光谱数量提高一个数量级,并结合数值模拟,得到在不同红移处星系以及星系际介质的各种性质,特别是星系的恒星形成率、气体含量、星系际介质的X射线、发射和吸收线,及其与活动星系核反馈的内在关系 发展并完成星系尺度上的高分辨率数值模拟程序,获得不同的反馈模式分别对星系中气体和恒星形成率的影响以及风与辐射各自在反馈中起到的作用 将基于最真实和准确的活动星系核物理,完成一组包含新模型的宇宙学数值模拟,大幅改进目前的宇宙学尺度星系形成与演化研究。  二、研究内容  (一)活动星系核风的观测研究:反馈的内边界条件。  利用从射电到X射线等不同波段的观测设备和数据,针对不同光度的活动星系核开展不同元素的蓝移吸收线、连续谱以及发射线等方面的研究,获得风的速度、空间分布、质量流等物理性质与活动星系核参数的关系 利用时域巡天获取一个间隙性活动的超大质量黑洞样本,开展多波段研究,给出黑洞间隙性活动的整体能量输出。  (二)星系尺度上的活动星系核反馈:观测研究。  利用测光数据、光谱数据和空间解析的观测数据,结合星系尺度上的活动星系核反馈数值模拟,研究不同红移的星系性质(如恒星质量、恒星形成率及其面密度分布、气体含量)和活动星系核性质(如瞬时亮度、黑洞的吸积率和质量)之间的相关性 观测中高红移的活动星系核和星系样本,并和低红移做比较,研究活动星系核反馈对星系的影响随红移的变化。  (三)星系尺度上的活动星系核反馈:数值模拟研究。  结合小尺度上活动星系核风的观测研究结果,以及星系外大尺度上观测以及数值模拟给出的星系的引力势、星系吸积内流的物理性质(包括运动学以及热力学性质),并从空间维度的扩展、星系引力势、考虑尘埃的效应这几个方面,发展星系尺度上的高分辨率活动星系核反馈数值模拟程序,研究反馈的具体物理过程,得到各种可供观测检验的理论预言并与观测结果比较。  (四)星系外大尺度上的研究:观测约束以及宇宙学数值模拟。  将正确的活动星系核反馈物理加入到数值模拟中,促进宇宙学框架下的星系形成模型 通过大尺度宇宙学模拟得到星系以及星系群、星系团吸积气体的质量流、热力学状态及其演化历史、星系中的引力势及其演化历史,并作为“外边界条件”应用于星系尺度的数值模拟 分析比较大尺度结构中的观测和模拟数据,如星系际介质中的发射和吸收线、X射线辐射和星系成团性等,以限制反馈模型。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“活动星系核反馈在星系演化中的作用”。“致密天体活动与爆发的宽能段时变与能谱研究”重大项目指南  我国第一颗X射线天文卫星慧眼(HXMT)以及国内外其他空间天文高能卫星的成功发射与运行,开拓了X射线宽能段光变和能谱研究的新窗口。  未来几年,慧眼(HXMT)等高能天文卫星将为黑洞和中子星等致密天体活动与爆发现象的研究进一步提供丰富的观测数据,存在很好的科学发现机遇。拟充分发挥慧眼(HXMT)等高能天文卫星的特色和优势,在对黑洞和中子星等致密天体活动与爆发开展新的定点、全天监视和银道面巡天观测研究的同时,也要重视发掘积累的大批存档科学数据,结合各种多波段和多信使天文观测,重点关注极端爆发现象、X射线双星系统吸积演化、黑洞和中子星等致密天体基本性质,全面深化和拓展对黑洞和中子星以及爆发现象的宽能段时变和能谱研究。  一、科学目标  发现几百个伽马射线暴,建立MeV能区高统计性的伽马暴样本,理解伽马暴相对论喷流的伽马射线辐射机制 监测上百例引力波、高能中微子、快速射电暴等爆发现象,揭示它们的爆发机制以及黑洞、中子星等致密天体的并合物理过程和机制 系统地获得十余个吸积中子星双星和黑洞双星的高能X射线时变和能谱演化特征和分类,理解黑洞周围的吸积过程、相对论喷流的产生以及硬X射线辐射机制 测量约十个致密星(中子星或者黑洞)的基本参数(质量、磁场、自转),理解致密天体的基本性质 开展银道面巡天,监视约200个X射线天体的活动,发现致密天体硬X射线新的活动并且开展后随观测证认研究。  二、研究内容  (一)极端天体爆发的物理机制。  利用慧眼(HXMT)等空间天文卫星的长期和系统观测,获得一批高品质、覆盖几个keV 到GeV 能区的伽马暴光变和能谱,研究伽马暴时变特征和瞬时辐射物理 利用慧眼(HXMT)更多地观测磁星爆发活动,尤其是联合FAST进行多波段联测,从而对磁星和快速射电暴的性质和起源进行更深入的研究 利用慧眼(HXMT)卫星监测引力波、高能中微子和快速射电暴等特殊和重要爆发现象,揭示它们的爆发机制以及黑洞、中子星等致密天体的并合物理过程与机制。  (二)黑洞X射线双星系统吸积与喷流过程。  系统地观测研究在吸积率发生大动态范围变化时黑洞X射线双星的能谱和时变特征,研究最靠近黑洞的吸积盘的结构及其随吸积率的变化,确定吸积盘内半径和黑洞最内稳定轨道的关系 通过研究其高能非热辐射,确定黑洞附近的高温冕的几何以及理解其加热、冷却、辐射和运动学性质 系统寻找吸积黑洞的X射线喷流的观测证据,检验黑洞附近是否普遍存在小尺度X射线喷流并且理解其产生和演化机制 测量X双星中黑洞的自旋,并且寻找这些系统中的最大和最小质量的黑洞的观测证据。  (三)中子星X射线双星系统吸积盘与中子星相互作用。  系统地观测研究在吸积率发生大动态范围变化时中子星X射线双星的能谱和时变特征,理解恒星星风、吸积盘与中子星磁场的相互作用,测量中子星的磁场强度 系统研究宽能段X射线脉冲的性质,理解中子星极冠区吸积柱的辐射机制 系统理解吸积脉冲星从低光度、到爱定顿光度、到超爱定顿光度的现象的多样性和统一性 通过对X射线暴的宽能段研究,理解中子星高温冕的加热和冷却机制以及吸积盘的可能磁重联过程 通过研究靠近中子星的吸积盘与边界层性质,限制中子星的半径。  (四)河内宽能段的巡天监测和后随观测研究。  利用慧眼(HXMT)等高能天文卫星对银道面进行系统的扫描巡天,给出河内硬X射线辐射源表及其短时标活动性的统计结果,并且构建银道面的X射线弥散辐射天图,建立更加精确的探测器本底模型,争取发现新的硬X射线活动天体或者硬X射线辐射新现象 对于所发现的暂现源,追溯已有国内外的广角光学巡天数据,寻找可能存在的相应光学对应体,同时利用国际联测网开展后随测光和测谱,进行光学证认并监测其各种时标活动的行为,理解其过程和性质。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“致密天体活动与爆发的宽能段时变与能谱研究”。“基于强太赫兹源的声子调控诱导电子新结构与物性研究”重大项目指南  强场太赫兹光源作为一种新型光源,在电子行为探测、操控、加速等领域具有独特的优势,为人类探索物质世界提供了新的手段。利用强场太赫兹光源,可以实现以往对电子的多场调控跨入通过声子对电子的强调控范畴,将人们对电子调控的认知从电子的准平衡态行为跨越到可控远离平衡态行为,从光与电子和晶格的微扰式相互作用向强非线性相互作用范畴跨越,这对丰富电子物态调控的物理内涵具有重要科学意义。  针对强场太赫兹源操控量子材料这一重大前沿科学问题,围绕高温超导体系、拓扑量子材料体系、催化合成反应等关键功能材料体系,研究满足调控要求的下一代强场太赫兹光源以及相应的超快研究手段,系统研究其声子激发调控机理和声子可控的非平衡态电子特征,揭示非平衡物理和化学过程伴随的电、光、磁、热相互作用机制和物理规律,指明具有突破现有准平衡态电子结构性能限制的调控及合成路径。项目的实施将推动非平衡态物性的探索和操控方法发展,将为信息和能源领域相关方向取得突破提供物理基础。  一、科学目标  围绕声子调控诱导电子新结构与新奇物性的研究目标,在研究手段上发展必要的突破现有太赫兹光源性能极限的强场产生新方法,实现具有宽频(整体频谱范围覆盖0.1-50 THz)、强场(场强突破GV/m)、高重复频率、频谱连续可调等优异特征的强场太赫兹光源,并通过人工微结构实现太赫兹近场强光场微区再增强条件 重点开展强场下非平衡态电子的多自由度(电、热、磁、光、谷、轨道)动力学物理过程研究,揭示光子与各量子激发在超强太赫兹光场范畴内的相互作用新机理(如电子、声子及光子复合激发机理) 探索实现声子态调控的远离平衡态的新型量子态(如高温超导相、拓扑量子相、Floquet量子态等)及化学反应(如合成氨反应)的远离平衡态相干操控新效应。  二、研究内容  (一)强场太赫兹源调控电子行为的理论研究。  建立太赫兹强场作用下声子和电子量子行为描述有效理论框架,建立具有热电子效应的非平衡载流子新量子态物理模型,包括含时多体微扰理论和非微扰理论 从第一性原理计算出发,发展计算量子材料体系Floquet准能带和哈密尔顿量演化动力学的普适方法,预言具有重要非平衡态物性的创新性电子材料体系。  (二)超强太赫兹光场构筑及实验方法研究。  在强场激光驱动下,基于电子加速、光学整流、激光差频等技术路线,构筑超强太赫兹光场,将现有太赫兹场强提高1-2个数量级,频谱覆盖0.1-50THz 构筑能够与高重频硬X射线自由电子激光结合的高重频强场太赫兹光源,重复频率达到100kHz,发展多种泵浦-探测实验手段(包括太赫兹泵浦- X 射线衍射探测手段、太赫兹泵浦-红外/可见光谱探测手段、太赫兹泵浦-超快光电子能谱探测手段、太赫兹泵浦-扫描隧道显微探测手段等) 通过微结构探索耦合自由电子新模式,以获得3-5个数量级太赫兹波近场增强、重频控制及光参量(偏振、方向、带宽及波前形式)可调谐。  (三)强场太赫兹源对量子材料相干调控研究。  通过超强太赫兹光场与量子材料相互作用,实现通过声子调控诱导的对多种典型量子材料物态的相干操控研究,如高温超导相、拓扑相、电荷密度波相、金属相、铁磁铁电相 实现对Floquet量子态的观测与调控 利用选择性的偏振太赫兹强场激发,构筑电子-光子-声子的强耦合三体极化子并探索其量子新效应,揭示声子调控下的电子新物态形成光电功能结构的新功能 针对重要能源催化反应的快速步骤研究太赫兹脉冲对表面键和催化过程的调控机制,探测并揭示对该表面催化过程起关键作用的特定晶格振动模式,进而发现太赫兹诱导的选择反应新途径。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“基于强太赫兹源的声子调控诱导电子新结构与物性研究”。“基于铌酸锂薄膜的超高速多维光场调控及其应用基础研究”重大项目指南  利用高速高效率人工微结构实现光场多维度精确调控及其相互作用研究是物理科学研究的前沿,在复杂环境信息处理、超高分辨率光学测量、光通信、光学传感等领域具有广阔的应用前景。目前,人工微结构光场维度调控多聚焦于相干光场、线性效应、单一参数或多参数同时调控等,尚缺乏有效的时域上的高速动态调控。基于高品质铌酸锂薄膜人工微结构的电光调制器件,具有极高的调控速率与效率,可实现时域上的有效高速动态调控,是未来发展片上人工微结构光场高速调控的重要方向。  融合铌酸锂高速光调控新原理与人工微结构光场多维联合调控新机制,在新型铌酸锂薄膜上开展超高速多维光场调控技术研究,揭示铌酸锂薄膜复合少层微纳体系时空光场多维联合调控新机理,实现光场相干性快速实时动态调控及其精确测量,发展基于新型微纳复合晶格结构中光场局域和非线性增强的高效光场调控和相位匹配新手段,实现新型高效非线性光频率转换,发现新现象并揭示其物理机理。研究将推动人工微结构多维光场调控芯片在高速光信息、成像、传输等领域中的应用。  一、科学目标  针对片上全域光场快速调控的需求,通过超限制备技术突破铌酸锂薄膜新微纳结构、少层结构加工工艺,利用铌酸锂材料自身的多重特性,实现对光场以及部分相干光场的多维度超高速调控,实现对光场的强局域与非线性调控 发展基于电光效应的人工微结构光场多维调控新方法,并阐明其物理机理。从基础铌酸锂薄膜材料微纳加工技术开始,到片上集成光子器件,最后到片上光场快速调控,建立不同于现有光场调控的新体系。  二、研究内容  围绕基于铌酸锂薄膜的超高速多维光场调控技术,发展基于电光效应的人工微结构光场多维调控新机理与方法 突破现有微纳加工技术的能力限制,开展铌酸锂薄膜刻蚀机理及微纳芯片制造工艺研究,利用高品质铌酸锂薄膜光场调控芯片实现超高速多维光场调控及其应用。  (一)铌酸锂刻蚀机理及铌酸锂薄膜微纳芯片制造技术。  通过多种微纳加工技术研究铌酸锂薄膜材料的精密刻蚀机理 探讨铌酸锂光子结构表面粗糙度和晶格损伤的影响机制 发展纳米尺度与精度的高效率、大尺寸铌酸锂薄膜材料精密加工工艺。  (二)铌酸锂薄膜莫尔晶格结构中光场局域及片上非线性增强。  研究基于铌酸锂薄膜材料莫尔晶格结构的光局域及其非线性增强机理,建立复合超晶格光子晶体能带结构的新调控方法及手段 产生全布里渊区内的平带并实现自动相位匹配非线性光学过程 利用非线性以及新型局域效应,实现片上光场频率维度的高效转化和高速电光动态非线性调控。  (三)铌酸锂薄膜少层微纳体系时空光场多维联合调控。  研究铌酸锂薄膜复合少层微纳体系与光场相互作用的内在机制,以及铌酸锂薄膜微纳结构对光场多维联合调控新方案 利用铌酸锂薄膜的高效电光调控特性实现快速光场调控,解决现有光学人工微结构器件动态响应速度慢的核心难题 发展快速三维光谱层析等成像技术。  (四)基于铌酸锂薄膜的光场相干性快速调控及应用。  研究基于铌酸锂薄膜的光场相干性片上调控原理,探索基于片上电光效应的高效率部分相干光场空间相干结构动态实时调控及精确测量的技术方案 揭示新型相干结构部分相干光场在复杂环境中的传输特性 演示片上调控的新型相干结构部分相干光场在复杂环境光通讯与光信息加密、传递与解密中的应用。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“基于铌酸锂薄膜的超高速多维光场调控及其应用基础研究”。“粲夸克衰变中标准模型的精确检验”重大项目指南  高精度地检验粒子物理标准模型理论--描述电弱相互作用的电弱统一理论(EW) 和描述强相互作用的量子色动力学理论(QCD)、寻找超出标准模型的新物理是当前粒子物理研究最重要的前沿课题。粲夸克的质量处于微扰与非微扰QCD的过渡区域,对含粲夸克的粲强子衰变开展高精度的实验测量和系统的理论研究为深入探讨强相互作用色禁闭本质、探索新的电荷共轭-宇称(CP)破坏机制、寻找对味结构敏感的超出标准模型的新粒子或新相互作用等提供了重要途径。  我国大科学实验装置北京正负电子对撞机/北京谱仪(BESIII)实验在阈值附近采集的海量粲强子数据,其成对产生和低本底等独特性质为高精度研究粲强子的衰变性质提供了理想的窗口和契机。拟在BESIII实验上系统、精密地研究粲强子衰变,结合系统的理论研究,深入探讨粲强子弱衰变性质,检验EW理论和QCD理论,寻找超出标准模型的新物理,同时为重味物理领域B介子实验精密测定如CP破坏相角等重大研究课题提供关键输入。  一、科学目标  利用BESIII采集的海量粲强子样本,特别是在3.773 GeV采集的20 fb-1的数据,充分发挥近阈粲强子成对产生、背景低和量子关联等独特优势,开展中性粲介子量子关联特性的研究,精确测量相关不同末态的平均强相位差和CP本征态成分比例,为CKM矩阵的 相角的精确测量提供关键参数 精确测量CKM矩阵元 和 ,检验CKM矩阵的幺正性,探索新的CP破坏来源 精确测量粲强子衰变常数和半轻衰变形状因子,与格点QCD理论计算值比较,刻度格点QCD计算,探寻超出标准模型新现象 系统地研究粲强子的强子末态衰变,研究强子谱学和末态相互作用,检验夸克味对称性 研究粲强子衰变,高精度检验轻子普适性,寻找稀有或禁戒的衰变过程,精确检验标准模型理论、寻找超出标准模型的新物理 在理论上发展和完善非微扰能区的格点QCD计算和有效理论模型,理解粲强子弱衰变的动力学,检验相关的唯象模型,提高对粲强子衰变中CP破坏、衰变常数和形状因子等理论预言的精度。  二、研究内容  (一)阈值处中性粲介子量子关联性研究。  利用BESIII获取的 阈值数据,开展量子关联研究,精确测量 、 和 强相位差参数 和 、 、 和 关联因子和平均强相位差参数 和 的CP本征态成分的比例 和 的CP本征态成分的比例并测定强相位差参数 和 。通过系统性研究,大幅度提升强相位差参数的实验测量精度,满足未来精确测量 的精度需求。  (二)粲强子的强子末态衰变机制研究。  高精度测量粲强子衰变到强子末态的绝对分支比,解决实验上粲强子遍举衰变分支比总和不足80%的问题 精确测量粲强子参考模式 、 、 、 和 的绝对分支比,为实验测量其他衰变过程提供标定值 振幅分析粲强子的多体强子衰变,测量粲介子衰变到VP、VV、SP和AP末态的分支比(其中V、P、S和A分别代表矢量、赝标量、标量和轴矢量介子) 精确测量粲介子衰变到多 介子末态单举衰变模式的分支比以及相关不变质量谱 精确测量 中 和 遍举道分支比间的差异 精确测量 衰变到 和 末态的分支比(其中 和 分别代表八重态重子和十重态重子) 检验理论计算非微扰效应的参数化方法和理论唯象模型,检验夸克SU(2)同位旋对称性和SU(3)味对称性,研究轻强子谱和重子谱,发展和完善基于夸克模型的理论。  (三)精确测量CKM矩阵元和粲介子衰变常数。  系统研究 、 ,寻找 ,测量衰变常数 和 ,抽取矩阵元 和 ,提高衰变常数和矩阵元的测量精度,验证CKM矩阵幺正性和轻子普适性,精确检验标准模型,为B物理计算提供重要输入参数。提升格点QCD对粲介子衰变常数的计算精度,并与高精度实验结果比较,探索可能的新物理迹象。  (四)精确测量粲介子半轻衰变形状因子和检验轻子普适性。  在实验上,系统性研究粲介子的末态含赝标、标量、矢量和轴矢量介子等各类型电子半轻衰变,精确测量其衰变分支比,研究其微分跃迁率随 的依赖关系,抽取半轻衰变形状因子。测量CKM矩阵元 和 ,为高精度约束CKM矩阵的幺正性提供重要补充约束,精确检验和深入探讨当前实验纯轻和半轻方法测得的 值之间2倍以上标准偏差的偏离现象。系统测量粲介子遍举缪子半轻衰变,高精度检验轻子味道普适性,检验当前实验测量和标准模型预期之间存在的1.5-2.0倍标准偏差。在理论上,开展格点QCD计算若干半轻衰变形状因子工作,与实验结果比较,检验是否存在显著偏差。  (五)粲强子衰变中探索新粒子和新相互作用。  系统地寻找 的如 、 和 等包含味改变中性流过程的稀有衰变,研究这些过程中的长程和短程效应,对可能的新物理模型进行有效的限制 寻找如 、 、 、 等轻子数、轻子味、重子数破坏等标准模型禁戒过程 系统地寻找 反应粲介子到矢量或轴矢量介子的辐射衰变过程,测量其分支比及CP对称性,检验标准模型 寻找如 等稀有辐射衰变、 和 等多轻子末态纯轻衰变、以及如 、 等稀有衰变过程,扩展新物理探索的范围。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“粲夸克衰变中标准模型的精确检验”。“基于LHAASO实验的粒子天体物理前沿问题研究”重大项目指南  宇宙线是来自宇宙空间的高能粒子,最高能量是人类最大粒子加速器所能加速粒子能量的千万倍,是联系无穷小粒子和无穷大宇宙的桥梁,与宇宙天体中的极端物理过程相联系。宇宙线的起源问题是粒子天体物理领域长期以来的核心科学问题,能量在1015eV附近及以下的宇宙线起源于银河系内天体源,寻找和认证明确的宇宙线加速源是解决银河系内宇宙线起源的关键。1015eV以上宇宙线在加速源区会与周围介质作用产生能量大于1014eV的超高能伽马射线,超高能伽马射线是目前寻找宇宙线源的最佳手段。  基于LHAASO实验对超高能伽马射线测量的高灵敏度优势,将超高能伽马射线天文学带入一个新的时代,迎接观测中不断出现的新发现,基于LHAASO数据对宇宙线起源、加速和传播等前沿问题开展研究,寻找1015eV及以上宇宙线的起源证据,冲击宇宙线起源这一重大科学问题,并对天体源内部的粒子加速和辐射过程开展深入的理论研究。  一、科学目标  瞄准银河系内1015eV宇宙线起源这一重大问题,基于LHAASO实验数据精确测量每个超高能伽马射线源的辐射能谱、空间分布和时变,联合国内外射电、光学、X射线等设备数据完成相应天体源的多波段观测和分析,建立和优化多波段辐射模型,研究带电粒子在天体中的加速过程与辐射特征,寻找宇宙线起源和加速证据,同时基于LHAASO数据完成银盘弥散伽马射线、膝区宇宙线分成分能谱和宇宙线大尺度各向异性测量,建立宇宙线在银河系内的起源、加速和传播的整体图像。  二、研究内容  (一)超高能伽马射线源的搜寻与测量。  能量大于1014eV的超高能伽马射线天体源是寻找和认证1015eV以上宇宙线加速源的重要候选体,需要基于LHAASO数据开展超高能伽马射线源巡天扫描,发现一批超高能伽马射线源,然后对其辐射进行深入测量。基于伽马射线寻找宇宙线源的关键是寻找辐射起源于强子辐射证据。因为辐射机制和冷却时标的不同,轻子源和强子源的辐射能谱和形态随能量变化行为不同,通过测量宽能量范围的辐射能谱和不同能量的伽马射线扩展度可以为寻找强子起源提供关键证据。  (二)伽马射线源多波段多信使研究。  起源于轻子辐射的伽马射线源,会同时通过同步辐射在低能波段产生射电至硬X射线的辐射 对于强子源,预期的同步辐射流量则会比较低。强子辐射的效率依赖于源内或周边气体的密度,后者则可以通过测量氢α线(光学波段)、CO分子发射线(毫米波)、氢原子的21 cm谱线等来确定。强子起源的伽马射线会伴随同等能量的中微子产生。因此多波段、多信使的观测对于理解超高能伽马源的物理性质、源区物理过程以及寻找宇宙线起源具有至关重要的作用。  (三)伽马射线源内的粒子加速、辐射与输运过程的研究。  银河系内重要的超高能伽马射线辐射源,是探寻超高能粒子加速器的有效观测手段,包括脉冲星及其风云、年轻大质量星团和超新星遗迹等天体。针对LHAASO及多波观测结果,利用PIC和MHD的数值方法,仔细研究不同天体环境下粒子的加速和辐射的过程,分析和总结其物理规律和可能的新物理 构建多波段非热辐射含时演化模型,合理解释观测结果。  (四)星际介质中弥散伽马射线相关物理研究。  基于LHAASO数据对银河系弥散伽马射线的分布、能谱进行测量,结合分子原子谱线观测得到的星际介质各成分的分布信息,研究宇宙线在银河系内的大尺度分布 对宇宙线在源附近的扩散与辐射进行数值模拟,研究天体源附近星际湍动磁场的性质,进而研究银河系内不同位置宇宙线的传播和起源的信息。  (五)基于宇宙线的能谱和各向异性测量研究其起源和传播。  宇宙线不同成分的能谱和大尺度各向异性中蕴含着其起源和传播的关键信息,虽然在传播过程中失去其方向信息。基于LHAASO对“膝”区宇宙线主要成分的能谱和大尺度各向异性进行精确测量,对宇宙线的成分、起源、传播问题、“膝”的成因问题以及太阳系附近湍动磁场的性质等问题开展深入研究。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“基于LHAASO实验的粒子天体物理前沿问题研究”。“先进核能系统中材料的若干协同损伤作用机理研究”重大项目指南  在聚变堆等先进核能系统中,材料既遭受高能强流中子辐照,产生大量的离位损伤,又经受着高热负荷、强粒子流轰击及嬗变气体等的共同作用。中子辐照与多种因素的协同作用对材料造成的损伤及材料性能的退化比单因素独立作用下更为严重,这将对服役于先进核能系统中的材料提出更为严峻的挑战。因此,必须同时考虑中子辐照及相伴发生的多种因素对材料的协同损伤作用。  鉴于聚变能等先进核能对最终解决人类社会能源问题的重要性,我国及欧美等国家先后提出了在本世纪中叶实现聚变能发电的宏伟目标。然而,到目前为止,世界上还没有可用于材料辐照测评考验的高通量聚变中子源或聚变堆。国际学术界对高能中子等多因素共同作用下的材料协同损伤效应仅形成了初步的认识,亟需在其损伤机理及计算与实验模拟方法等基础研究方面开展深入研究。以多因素协同损伤作用的物理过程为基础,依托数理学部和工材学部,发挥学科交叉优势,从协同作用的原初过程、协同损伤效应机理、大尺度计算模拟方法、多离子束实验模拟方法等多个方面,重点攻克聚变堆等先进核能系统中高能中子-氢-氦及中子辐照-粒子流-热负荷两类协同损伤作用机理的难题,从而为聚变堆等先进核能系统的材料筛选及测评奠定坚实的基础。  一、科学目标  瞄准服役于聚变能等先进核能的典型材料,充分利用国内大型托克马克、高热负荷测试和多束离子辐照等装置,厘清高能中子-嬗变氢氦、中子辐照-粒子流-热负荷两类协同损伤作用的耦合机制 阐明多种因素作用下材料遭受的协同损伤效应的机理 建立能够模拟上述协同损伤作用的实验与计算模拟方法 基于计算和实验模拟,实现在聚变堆等综合服役环境下国产低活化钢、氧化物弥散强化(ODS)钢、钨基合金等关键材料的筛选及性能评估。  二、研究内容  (一)高能中子辐照的离位损伤与氢、氦对材料的协同损伤作用机制研究。  针对聚变堆等先进核能系统不同空间位置氢、氦来源及方式等的差异,明确材料中离位缺陷和氢、氦的时空关联,阐明氢、氦在与离位缺陷协同损伤中的作用 实验测量并模拟计算在高能中子辐照下,氢-氦-空位等各类缺陷之间的耦合强度及对材料的协同损伤程度,揭示离位缺陷-氢-氦协同损伤作用的演化规律。  (二)高能中子辐照离位损伤与热负荷、粒子流对聚变堆第一壁协同损伤的作用机制研究。  针对聚变堆面向等离子体材料的服役环境,通过偏滤器靶板同量级高束流密度等离子体辐照与高热负荷实验,并结合多尺度计算模拟,揭示在强粒子流和高热负荷条件下,聚变堆中子辐照损伤对钨基第一壁表面侵蚀及气泡形成的增强作用和不同温度下钨基合金中辐照缺陷对氢同位素的捕获机制,以及中子辐照-热负荷-粒子流协同损伤下钨基第一壁的力学和热学性能演化规律。  (三)多因素协同损伤效应的长时大尺度计算模拟方法建立。  发展多种损伤因素在时间和空间上耦合的计算模拟、不同损伤产生率下离位缺陷-氢-氦协同作用的大尺度计算模拟、协同损伤下典型材料宏观力学与热学性能演化的多尺度模拟等技术,建立模拟聚变堆等先进核能系统材料的高能中子-氢-氦与中子辐照-粒子流-热负荷等的协同损伤效应的计算模拟方法,并与实验模拟结果相验证。  (四)聚变中子-氢-氦协同效应的多离子束模拟实验方法建立。  发展重离子、氢、氦两束和三束离子同时精确辐照及在线观测技术,实现两个数量级以上调整优化辐照离位损伤率及氢、氦产生率的实验方法,并结合计算模拟结果,建立在微观尺度上模拟材料在聚变堆等服役环境下离位缺陷与氢/氦协同作用的多离子束辐照实验方法 实现在协同损伤作用下国产低活化钢、ODS钢等关键候选材料的性能评估。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“先进核能系统中材料的若干协同损伤作用机理研究”。“高精度X射线反射镜的关键科学与技术问题”重大项目指南  同步辐射光源具备高亮度、高相干、高准直和光谱覆盖广的优势,能够在原子分子层次探索物质内部结构及演化规律,催生了一系列推动科学和技术发展重大研究成果。随着新一代同步辐射和X射线自由电子激光大科学装置的快速发展,基于超高亮度相干X射线光源开展纳米分辨的结构和谱学观测已经变得越来越迫切,这对于X射线光子的传输和调控提出了更严格的要求:一是解决反射镜表面形貌对相干X射线波前传输的影响问题,二是如何实现对相干X射线的超高精度操控和波前自适应补偿。  拟通过系统研究大尺寸单晶硅材料表面原子级形貌构建规律,突破X射线反射镜加工、形貌检测和光机集成等关键技术,形成具有自主知识产权的X射线高精度反射镜的全链条创新技术体系,在严峻的国际大环境下,保障我国光源大科学装置的建设实施,支撑前沿科学研究取得原始创新突破。  一、科学目标  基于超高精度反射镜表面形貌对相干X射线波前传输的影响,研究单晶硅纳米形貌的原子级构建规律,揭示超强X射线辐照下单晶硅材料和薄膜的损伤机理及力热变形机制 建立跨尺度全频谱纳米表面形貌的在线和离线高精度表征方法,发展大尺寸超高精度反射镜的复合加工技术和集成技术,实现相干X射线波前的在线实时操控和自适应主动补偿 形成具有自主知识产权的X射线高精度反射镜的全链条创新技术体系。  二、研究内容  (一)大尺寸复杂轮廓单晶硅纳米精度表面形貌构造规律研究。  建立相干X射线波前反射传输及受形貌结构影响的理论分析方法,从原子尺度认识单晶硅宏微形貌各自的构建规律 基于不同加工方法,揭示包括低频轮廓、中频面形、高频粗糙度的全频谱形貌在纳米胶体颗粒、离子溅射和原子沉积等作用下的演化规律,阐明影响单晶硅表面纳米形貌形成的弛豫平滑或粗糙化等物理机制 发展基于化学机械抛光、离子束精修和轮廓镀膜等方法的超高精度大尺寸单晶硅的复合加工技术。  (二)全频谱纳米形貌的综合检测评估方法研究。  基于激光干涉和探针扫描等技术,结合功率谱密度理论,发展表面形貌精密拼接测量方法,获取全频谱跨尺度的纳米精度形貌信息 基于同步辐射光源,建立X射线波前在线检测的相关计算理论和方法,实现X射线波前的快速精准测量,溯源重建工作状态下反射表面的真实形貌。  (三)高亮度相干X射线与材料表面相互作用机制。  针对超高亮度相干X射线辐照,建立从飞秒到微秒不同时间尺度下X射线光子与薄膜材料内部电子、晶格等的吸收、激发、传导多物理场模型,揭示极端光场下材料与X射线的相互作用机制 探索薄膜材料新结构,在保证X射线高效反射的同时提高抗损伤性能,并发展大尺寸高均匀性镀制技术,将薄膜的结构一致性提升至亚纳米水平。  (四)光机集成系统中跨尺度表面形貌的多物理场影响规律研究。  建立超高亮度X射线辐照下单晶硅反射表面热负载产生和分布的理论模型,阐明冷却导热和夹持接触方式对反射表面纳米尺度形貌和X射线波前的影响机制。面向元件工作时热负载、装配加持和重力变形等问题,发展高精度集成加工技术,研制具有超低形变特性的光机一体化结构 面向X射线衍射极限聚焦需求,发展相干X射线完美 波前的在线实时操控和自适应主动补偿技术。  三、申请要求  申请书的附注说明选择“高精度X射线反射镜的关键科学与技术问题”。国家自然科学基金委员会办公室 2021年8月4日印发
  • 中科院研发太赫兹扫描隧道显微镜
    ▲图 | 太赫兹扫描隧道显微镜系统(来源:资料图)太赫兹,是介于远红外和微波之间的电磁波,具有光子能量低、穿透性好等特点,在高速无线通信、光谱学、无损伤成像检测和学科交叉等领域具备广泛应用前景,被誉为“改变未来世界的十大技术”之一。简单来看,太赫兹扫描隧道显微镜系统就是一个超快摄影机,只不过它要观察和拍摄的对象是分子和原子世界,并且拍摄的帧率在亚皮秒量级。对于非线性太赫兹科学来说,控制太赫兹脉冲的“载波包络相位”,即激光脉冲的载波与包络之间的关系至关重要,特别是用于超快太赫兹扫描隧道显微镜时。太赫兹载波包络相位移相器的设计和实现,在利用太赫兹脉冲控制分子定向、高次谐波生成、阈上电离、太赫兹波前整形等领域,均具备潜在应用价值。(来源:Advanced Optical Materials)1. 为调控太赫兹的载波包络相位提供新方案据介绍,王天武在中科院空天信息研究院(广州园区)-广东大湾区空天信息研究院担任主任和研究员等职务,研究方向为太赫兹技术。目前,其主要负责大湾区研究院的太赫兹科研队伍建设。该研究要解决的问题在于,常规探测手段只能得到静态的原子形貌图像,无法观察物质受到激发,例如经过激光辐照后的动态弛豫过程图像,即无法观察到激子的形成、俄歇复合、载流子谷间散射等过程,而这些机理的研究,对于凝聚态物理学包括产业化应用都非常重要。原因在于,这些动力学过程发生的时间尺度,往往都在皮秒量级,即万亿分之一秒的时间,任何普通调控手段均无法达到这一时间量级。利用飞秒脉冲激光技术,能显著提高扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,STM)这一扫描探针显微术工具的时间分辨率。但是,目前仍受到多种因素的限制,比如样品和针尖制备困难、针尖的电容耦合效应、脉冲光引起的热膨胀效应等。太赫兹的脉冲宽度位于亚皮秒尺度,其电场分量可被看作一个在很宽范围内、连续可调的交流电流源。因此,将太赫兹电场脉冲与 STM 结合,利用其瞬态电场,即可作用于扫描针尖和样品之间的空隙,从而产生隧穿电流进行扫描成像,能同时实现原子级空间分辨率和亚皮秒时间分辨率。如前所述,太赫兹扫描隧道显微镜系统好比一个超快摄影机。但是,太赫兹电场脉冲和 STM 的实际结合过程,却并非那么简单,中间要攻克诸多难题。其中一个最基础的重要难题,在于太赫兹源的相位调控技术。太赫兹扫描隧道显微镜系统是利用太赫兹激发针尖尖端和样品之间的空隙,来产生隧穿电流并进行采样。不同相位太赫兹源的电场方向不一样,这样一来所激发的隧穿电流的方向亦不相同。根据不同样品施加不同相位的太赫兹源,可以更好地匹配样品,进而发挥系统性能优势,借此得到高质量光谱。因此,通过简单高效的途径,就能控制太赫兹脉冲的载波包络相位,借此实现对于隧道结中近场太赫兹时间波形的主动控制,同时这也是发展超快原子级分辨技术的必备阶段。通常,超短脉冲的载波包络相位,必须通过反馈技术来稳定。除少数例子外,比如用双色场激光等离子体产生的太赫兹辐射源,大多数商业化设备产生的太赫兹脉冲的载波包络相位都是锁定的,例如人们常用的光整流技术生成的太赫兹脉冲。多个太赫兹偏振元件组成的复杂装置,可用于控制太赫兹脉冲的载波包络相位。然而,鉴于菲涅耳反射带来的损耗,致使其插入损耗很大,故无法被广泛应用。另外,在太赫兹波段,大部分天然材料的色散响应较弱、双折射系数较小,很难被设计成相应的载波包络相位控制器件,因此无法用于具有宽频率成分的太赫兹脉冲。与天然材料相比,超材料是一种由亚波长结构衍生而来的、具有特殊光学特性的人工材料,其对电磁波的色散响应和双折射系数,均可进行人为定制。虽然超材料技术发展迅猛。但是,由于近单周期太赫兹脉冲的宽带特性,利用超材料对太赫兹脉冲的载波包络相位进行控制,仍是一件难事。为解决这一难题,王天武用超材料制备出一款芯片——即柔性太赫兹载波包络移相器,专门用于控制太赫兹脉冲的载波包络相位。该芯片由不同结构的超材料阵列组成,可在亚波长厚度和不改变太赫兹电场极化的情况下,实现对太赫兹载波包络相位的消色差可控相移,其对太赫兹脉冲的载波包络相位的相移调制深度高达 2π。相比传统的太赫兹载波包络相位移相器,该移相器具有超薄、柔性、低插损、易于安装和操作等优点,有望成为太赫兹扫描隧道显微镜系统的核心部件。近日,相关论文以《基于超材料的柔性太赫兹载波环移相器》(Flexible THz Carrier-Envelope Phase Shifter Based on Metamaterials)为题发表在 Advanced Optical Materials 上,李彤和全保刚分别担任第一和第二作者,王天武和空天信息创新研究院方广有研究员担任共同通讯作者。▲图 | 相关论文(来源:Advanced Optical Materials)审稿人认为:“此研究非常有趣、简明扼要,研究团队完成了一套完备的工作体系。该芯片的设计和实现,为调控太赫兹的载波包络相位提供了新的解决方案。”2. 建立国际领先的太赫兹科学实验平台据介绍,王天武所在的研究院,围绕制约人类利用太赫兹频谱资源的主要科学问题和技术瓶颈,致力于形成一批引领国际的原创性理论方法和太赫兹核心器件技术,以建立国际领先的太赫兹科学实验平台。他说:“太赫兹扫描隧道显微镜是我们院的一大特色,该设备摒弃了此前施加电压的方式,以太赫兹为激发源,去激发探针尖端和样品之间的间隙,从而产生隧穿电流并进行成像。相关技术在国内属于首创,在国际上也处于领先水平。”在诸多要克服的困难中,太赫兹载波包络相位的调制便是其中之一。入射太赫兹的相位大小对激发的隧穿电流的幅值、相位等信息影响甚大,是提高设备时间和空间分辨率必须要解决的重要问题之一。由于设备腔体比较长,并且腔体内部为高真空环境,与外界空气是隔绝的。传统的太赫兹相位改变方式比较难以实现,因此需要研发新型的相位调制器件。而该课题立项的初衷,正是希望找到一种结构简单、但是对太赫兹载波包络相位调制效率高的方法和装置,以便更好地服务于太赫兹扫描隧道显微镜系统。在文献调研的初始阶段,该团队商定使用超材料来制作太赫兹相位调制器。具体来说,其利用特定的金属分裂环谐振器的几何相位、以及共振相位,来控制太赫兹脉冲的载波包络相位值。之所以选择金属分裂环谐振器作为基本相控单元,是因为在一定条件下,它对太赫兹具有宽谱响应。当任意方向的线偏振波与谐振器耦合时,入射电场分量可映射到平行于谐振器对称轴和垂直于谐振器对称轴,借此可以激发谐振器的对称本征模和反对称本征模。此时,通过改变金属分裂环谐振器的几何相位和共振相位,散射场的某一偏振分量的电场相位会相应延迟,大小可以轻松覆盖 0-2π。但是,由于存在电偶极子的双向辐射,导致金属分裂环谐振器存在明显的反射和偏振损耗。为此,课题组引入了一对正交的定向光栅,利用多光束干涉的方式解决了谐振器插入损耗大的问题。随之而来的另一难题是,由于正交光栅的存在,导致入射波和透射波之间的电场偏振始终是垂直的,在太赫兹扫描隧道显微镜系统的工作中,这是不被允许的。好在样品均是由互易材料制成的,于是这一问题很快迎刃而解。随后,该团队采用常规紫外光刻、电子束沉积以及聚酰亚胺薄膜上的剥离技术,制备出相关样品,并利用太赫兹时域光谱系统,对所制备的样品性能进行表征。当入射的太赫兹脉冲,依次被样品中不同的微结构阵列调制时,研究人员通过太赫兹时域光谱测量,清晰观察到了太赫兹脉冲的时间波形的变化,且与仿真结果十分吻合。此外,课题组还在广角入射和大样品形变时,验证了该样品的鲁棒性。总而言之,该成果为宽带太赫兹载波包络相位的控制,提供了一种新型解决方案,并在不改变太赫兹电场极化的情况下,利用“超材料”在亚波长厚度的尺度上,实现了针对宽带太赫兹载波包络相位的消色差可控相移。关于这一部分成果的相关论文,也已发表在《先进光学材料》期刊。(来源:Advanced Optical Materials)据介绍,此次芯片能把太赫兹的相位最高移动至 2π 大小,并且具有大的光入射角度和良好的柔韧性等优点,在太赫兹扫描隧道显微镜系统,以及其他相关领域有较高的应用价值。但是,该芯片目前仍存在一个缺点,即无法做到太赫兹载波包络相位的连续调制。这是由于,采用的金属分裂环谐振器是单次加工制成的,所能调制的几何相位和共振相位已经确定,无法再被人为改变。因此,使用过程中只能通过加工特定结构的芯片,来实现所需相位的调制。未来,该团队打算将当下比较热门的二维材料、相变材料、液晶材料等材料集成到芯片中,这些材料的优势在于光学性能可被人为改变。同时,其还将综合电、光、热等手段,实现金属分裂环谐振器几何和共振相位的主动控制,从而实现对太赫兹脉冲的连续载波包络相位调制。此外,课题组也会继续优化微加工工艺和原料制备流程,进一步提升芯片的综合性能指标,比如器件的低插入损耗、高工作带宽等,同时也将降低制造成本,以便后续的产业化推广。
  • 用户动态|高速精确实现在体诊断——新型双色受激拉曼散射成像技术
    供稿 | 李一鸣校对 | 贺若愚在外科手术中,对肿瘤边界进行快速病理成像被认为是精准切除的关键。受激拉曼散射(SRS)成像作为一种无须标记的新型显微术,避免了传统染色处理对组织的破坏,从而有望实现在体诊断。与单色SRS相比,双色SRS由于利用组织中两种成分的化学衬度叠加成像,从而可获得与H&E标准染色类似的诊断结果。然而,当前双色SRS较低的成像速度严重制约了其在实时组织学成像中的应用。基于以上背景,复旦大学应用表面物理国家重点实验室的季敏标教授等人对双色SRS显微镜光路进行了重新设计,开发出了一种速度显著提高的光路装置,并成功实现了多种组织的实时成像。图1. (a) 双色SRS显微镜的光路设计图;(b) 光谱聚焦装置中泵浦光(蓝色)和两束斯托克斯光(橙色)的时间分布示意图;(c) 调制后两束斯托克斯光脉冲(S1和S2)的相位差异。在课题组设计的光路图中,基于飞秒光谱聚焦的受激拉曼成像方法,通过延时线DL1改变泵浦与斯托克斯脉冲的时间间隔以实现两种拉曼频率(Ω1和Ω2)的选择,通过延时线DL2调节S1与S2的时间间隔以调节二者的调制相位差为π/2,由此使泵浦光的两通道受激拉曼损失(SRL)信号分别被锁相放大器的同相(X)和正交(Y)通道同时探测,从而实现双色同步成像。实验中自发拉曼光谱的采集采用了HORIBA iHR320光谱仪与液氮制冷Symphony CCD,拉曼数据分析采用了LabSpec软件。图2. 串行和并行双色SRS成像的运动伪影研究。(a)和(b)分别为仅采用S1,通过顺序调节DL1的延时进行两种拉曼频率(2848 cm-1和2926 cm-1)的串行成像策略(灰线)及对应成像图;(c)和(d)分别为本研究对两种拉曼频率(2848 cm-1和2926 cm-1)的并行成像策略(灰线)及对应成像图。对该成像装置,作者通过实验验证了两束斯托克斯光束间对于拉曼频移相差约35cm-1以上的双色成像时,不存在干涉问题,锁相放大器的X和Y通道信号的串扰也可以忽略,显示出成像的高分辨率。另外与之前的双色成像通常采用串行成像,即对两种组分进行顺序成像必定造成组织活动的伪像相比,该研究光路的并行特性赋予的同步特征杜绝了该类伪像,则显示出动态成像的高精确性。更进一步地,该研究光路中的双通道同步探测还大大节约了顺序成像时波长调谐所耗费的时间,即成像速度大幅提升。作者通过对小鼠脑冠状切片的双色成像实验表明该装置的成像时间较之前的串行成像装置减少了50%以上。图3. 活体生物的在体双色SRS显微图像。(a)和(b)分别为斑马鱼胚胎的心脏和大鼠耳朵的透过模式图像,其中红色和青色区域分别代表血红素和蛋白质;(c)为大鼠耳下60 μm深度处皮下脂肪细胞的反射模式图像,其中绿色和蓝色区域分别代表脂类和蛋白质;(d)为反射模式图像的信号串扰随成像深度增加的强度变化。在本研究中,作者成功采用透过和背向散射两种模式进行了不同活体生物的在体成像实验。包括对斑马鱼跳动的心脏和小鼠毛细血管中流动的血细胞的实时双色成像。特别对背向散射模式,通过添加背向散射光电探测器,使该光学装置可实现对组织的不同深度成像,且信号串扰在深度增加过程中始终小于4%,从而显示出其在外科手术过程中进行实时成像与诊断的大潜力。此项研究工作得到了国家重点研发计划“数字诊疗装备”专项、上海市青年科技启明星计划、上海市科技创新行动计划以及国家自然科学基金面上项目等的基金支持;相关成果近期以封面文章发表在美国光学学会的旗舰杂志《Optica》上:Ruoyu He, Yongkui Xu, Lili Zhang, Shenghong Ma, Xu Wang, Dan Ye, Minbiao Ji, “Dual-phase stimulated Raman scattering microscopy for real-time two-color imaging”. Optica 2017, 4 (1), 44-47.HORIBA科学仪器事业部结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术,HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如:光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
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