线路板高频特性阻抗测试仪

线路板高频TDR特性阻抗测试仪TDR特性阻抗测试仪产品用途： 该仪器适用于高频线路板特性阻抗测试，为PCB制造厂商提供了一套快速、准确、标准和经济的TDR特性阻抗测试解决方案；也可用于电线电缆的特性阻抗测试。 TDR特性阻抗测试仪产品特点： 1、精准：采用高精度探头、高频同轴开关，以及时域反射、同步高分辨率采样和多点校准等技术2、高效：测试步骤集成，多任务一键测试3、特色：可提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印，校准功能开放。 TDR特性阻抗测试仪产品技术参数：项目规格型号TDR-ZK2130品牌爱思达测试精度±1%（50Ω）检测速度≤1s/点对像①测量范围 ： 20Ω～150 Ω ②测量长度 ：0.05m～2m带宽3GHz

正业科技自主研发生产PCB精密检测仪器，继特性阻抗测试仪ZK2120之后又推出新的高频特性阻抗测试仪ZK2130，ZK2130比ZK2120测的阻抗值更加精确，且ZK2130带有数据统计分析功能。ZK2013的推出更能满足客户的需求，同时也得到了广大客户的认可。高频特性阻抗测试仪ZK2130是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 高频特性阻抗测试仪ZK2130特点： 1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。 高频特性阻抗测试仪ZK2130技术参数项目 规格型号 TDR-ZK2120控制阻抗测试范围 20～150&Omega 测量精度 50&Omega ± 1%测量长度 0.05～2m水平显示分辨率 0.2mm垂直显示分辨率 0.05&Omega 测试方法 时域反射法带宽 3GHZ数据统计分析功能 SPC功能模块

TDR阻抗测试仪-ZK2130（特性阻抗测试仪）用途TDR阻抗测试仪是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试被测件的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于刚性/挠性电路板、高频电缆、高频线材制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。和传统TDR取样示波器相比，增加了针对线路板、电缆行业的标准化、自动化测试和分析软件。为特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 特征1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合线缆工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合1394a/b、DiiVA、DP、HDMI1.4、SATA I/II、USB2.0/3.0等各种标准的特性阻抗测试要求技术参数 项目规格 型号：TDR-ZK2130测量功能：单端阻抗、差分阻抗、共模阻抗差分延迟、差分对内延迟差、差分对间延迟差控制阻抗测试范围： 单端10Ω-150Ω差分：20Ω-300Ω测量精度： 50Ω±1%重复测量精度 ： 50Ω±0.5%测量长度 ： 0.04m～2m水平显示分辨率 ： 0.2mm垂直显示分辨率 ： 0.03Ω测试方法 ： 时域反射法（TDR）TDR 带宽 ： 3 GHZ取样示波器带宽： 5GHz入射脉冲上升时间：80psTDR采样时间分辨率： 10ps数据统计分析功能 ：SPC功能模块（SPC）

特性阻抗|特性阻抗测试仪用途： 特性阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。特性阻抗|特性阻抗测试仪特征：1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道及8通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。 特性阻抗|特性阻抗测试仪技术参数：项目 规格控制阻抗测试范围 20-150&Omega 测量精度 50&Omega ± 1%测量长度 最大2m，最小0.09m水平显示分辨率 0.2mm垂直显示分辨率0.05&Omega 测试方法 时域反射法（TDR）

差分高频特性PCB、线材TDR阻抗测试仪TDR线路板特性阻抗测试仪产品用途： 该仪器适用于高频线路板特性阻抗测试，为PCB制造厂商提供了一套快速、准确、标准和经济的TDR特性阻抗测试解决方案；也可用于电线电缆的特性阻抗测试。 TDR线路板特性阻抗测试仪产品特点： 1、精准：采用高精度探头、高频同轴开关，以及时域反射、同步高分辨率采样和多点校准等技术2、高效：测试步骤集成，多任务一键测试3、特色：可提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印，校准功能开放。 TDR线路板特性阻抗测试仪产品技术参数：项目规格型号TDR-ZK3185品牌爱思达测试精度±1%（50Ω）检测速度≤1s/点对像①测量范围 ： 20Ω—200Ω②测量长度 ：0.02m～2m带宽0.1GHz-8.5GHz损耗测试S参数测量动态范围可测量被测件的真实性能100dB

TDR阻抗测试仪，差分阻抗测试仪，差分延迟阻抗测试仪，高频差分阻抗测试仪，差分阻抗测试仪生产厂就找正业科技。用途：特性差分阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 特性阻抗测试仪技术参数项目规格型号TDR-ZK2130控制阻抗测试范围20～150Ω测量精度50Ω±1%测量长度0.05～2m水平显示分辨率0.2mm垂直显示分辨率0.05Ω测试方法时域反射法带宽3GHZ特点： 1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。5、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。6、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。7、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。8、打印测试报表、波形及测试结果。9、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。常见问题解决方法1校准过程中出现数值误差偏高。 产生原因：误操作导致。 解决方法：关机1个小时，重新开启进行校准。2单项删除出现软件报错。 产生原因：操作过快导致。 解决方法：需要重新开启软件。3连续48小时开机，日志没有及时更新。 产生原因：机器在长时间（超过12个小时不操作）会有自保护功能。 解决方法：重新开启软件。4水平分辨率显示部分网格消失。 产生原因：水平分辨率调节过小导致。 解决方法：水平分辨率调节到用户需要的即可。

正业科技为了满足市场发展需求现在公司现有的特性阻抗测试仪的基础上研发生产出一款应用于电线电缆行业的特性阻抗测试仪，适用于高频电线电缆的阻抗测试仪， 爱思达TDR特性阻抗测试仪是国内第一套自主研发的特性阻抗智能测试系统，具有完全的自主知识产权，用于线路板特性阻抗快速在线测试，和传统TDR取样示波器相比，增加了针对线路板、电缆行业的标准化、自动化测试和分析软件，是一种面向工业流水化生产线的智能测试仪器。 该仪器基于时域反射法及取样示波器原理设计，遵循IPC、Intel等国际规范要求，能够批量化、自动化、快速、准确测试被测件的特性阻抗，并提供测试图形分析、统计数据分析、SPC分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告及打印等功能。适用于刚性/挠性PCB、FFC、高速背板、高频电缆、高频线材、覆铜板的研发、设计、生产及品管单位，此外仪器扩展功能还能够测量损耗、衰减、介电常数、传输延时、差分延时等高频参数，为高频互连器件高频参数测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 TDR的工作原理类似于雷达，发射的高速脉冲信号遇到阻抗不连续就会发生变化，产生的反射信号被TDR检测到，以此精确判断故障的位置和类型，可用于飞机、舰艇、各种电子设备内部的PCB、电缆、电线厘米/毫米级分辨率故障诊断与定位。 由于TDR可精确测量出电缆的形变和故障位置，这种技术可用于山体滑坡、泥石流、地震等地质灾害监测预警，应用于水坝位移、建筑物塌陷、道路冻胀、煤矿坑道沉降、桥梁公路两侧端支撑点内部变化的长期监测和实时预警。使用方法是将几米到几十米的同轴电缆埋入地表以下被测物体中，用TDR长期监测同轴电缆变形状态，可以获取地表以下被测物的变形信息。相对于GPS技术无法监测地表以下形变信息，传统钻孔倾斜法、竖井法监测量程有限、安装复杂、成本很高的缺点，TDR方法具有精度高、测量速度快（几秒钟）、可在线监测预警、低成本、定位准确、连续观测等优点，被证明是一种有效的监测方式。TDR可以以皮秒分辨率测量电磁波在测试探头中的传播时间，以此方法可以精确测量出介电常数，再利用土壤介电常数计算模型来确定土壤含水量，能够在不破坏土壤的前提下对土壤的含水量进行长期连续的测量，此方法被认为是一种快速、安全的测定土壤含水量和电导率的方法，具有精度高，稳定性好，操作简便等优点，在欧美国家已经得到广泛应用并成为国际标准。 特性阻抗测试仪的特点：1、TDR测试技术：国内首家采用TDR时域反射测试技术，原创设计，具有自主知识产权2、测量准确精度高：测试结果准确性可与泰克、Polar、安捷伦产品比对3、高精度阻抗测试：可溯源到28、50、75、100欧姆美国NIST标准4、双参照标准技术：测试结果可分别以泰克或Polar为参照标准5、分析功能强大：波形分析、统计分析、SPC分析、输出至EXCEL、良率分析6、测量带宽高：3GHz带宽，可测量4~5cm传输线，适应板内阻抗、柔性电路板测试新需求7、批量混合测试：单端、差分、不同阻抗值混合批量测试（PCB、FPC、FFC），产能高8、测试速度快：简化TDR仪器设置、批量快速设定参数，测试速度小于1秒/次9、自动标准化测试：自动设置测量参数，自动记录数据、自动出具报告并打印，简单、快捷、省心10、自动静电保护：具有自动静电保护功能，仪器无操作自动进入保护状态，可延长仪器使用寿命 如您想更加详细的了解我司产品，欢迎您随时来电咨询

爱思达品牌隶属正业科技，正业科技爱国达PCB阻抗测试仪主要用于解决PCB板阻抗问题，主要用于检测PCB的差分阻抗，单端阻抗，共模阻抗，回路阻抗等。PCB阻抗测试仪的详细描述： 用途：特性阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 PCB阻抗测试仪技术参数项目规格型号TDR-ZK2130控制阻抗测试范围20～150Ω测量精度50Ω±1%测量长度0.05～2m水平显示分辨率0.2mm垂直显示分辨率0.05Ω测试方法时域反射法带宽3GHZPCB阻抗测试仪的特点： 1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道及8通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。PCB阻抗测试仪常见问题解决方法1校准过程中出现数值误差偏高。 产生原因：误操作导致。 解决方法：关机1个小时，重新开启进行校准。2单项删除出现软件报错。 产生原因：操作过快导致。 解决方法：需要重新开启软件。3连续48小时开机，日志没有及时更新。 产生原因：机器在长时间（超过12个小时不操作）会有自保护功能。 解决方法：重新开启软件。4水平分辨率显示部分网格消失。 产生原因：水平分辨率调节过小导致。 解决方法：水平分辨率调节到用户需要的即可。

正业科技自主研发生产PCB精密检测仪器，继特性阻抗测试仪ZK2120之后又推出新的高频特性阻抗测试仪ZK2130，ZK2130比ZK2120测的阻抗值更加精确，且ZK2130带有数据统计分析功能。ZK2013的推出更能满足客户的需求，同时也得到了广大客户的认可。ZK2130阻抗测试仪不仅在PCB行业有了更高的稳定和精确性，同时也可应用于高频电线电缆行业。可检测电线电缆的阻抗值是否满足需求以及电缆故障的检测。 高频特性阻抗测试仪ZK2130特点： 1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。 高频特性阻抗测试仪ZK2130技术参数项目 规格型号 TDR-ZK2120控制阻抗测试范围 20～150&Omega 测量精度 50&Omega ± 1%测量长度 0.05～2m水平显示分辨率 0.2mm垂直显示分辨率 0.05&Omega 测试方法 时域反射法带宽 3GHZ数据统计分析功能 SPC功能模块 如应用于电线电缆行业的客户可以直接与我司联系取得更加详细的资料以及更加专业的解决方案。

用途：该仪器适用于高频线路板特性和S参数阻抗测试，为PCB制造厂商提供了一套快速、准确、标准和经济的TDR特性阻抗测试解决方案；也可用于电线电缆的特性阻抗测试。 特征：1、精度：采用高精度探头、高频同轴开关，以及时域反射、同步高分辨率采样和多点校准等技术；2、高效：测试步骤集成，多任务一键测试；3、特色：可提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印，校准功能开放。 技术参数：项目TDR-ZK2130TDR-ZK3185测试精度±1%（50Ω）检测速度≤1s/点对象①测量范围 ： 20Ω～150 Ω①测量范围 ： 20Ω—200Ω②测量长度 ：0.05m～2m②测量长度 ：0.02m～2m带宽3GHz0.1GHz-8.5GHz损耗测试/S参数测量动态范围/可测量被测件的真实性能：＞100dB

班通科技产品简介产品基于时域反射原理，采用真差分宽带取样技术，设计实现的高带宽特性阻抗测试仪分析设备。能够自动、快速、批量、准确测试线路板及电线电缆的特性阻抗，具备波形显示与分析，适用于PCB硬板，FPC软板，电线电缆的阻抗测试。包括H045/H085/H150三种不同带宽系列产品可供选择，全面覆盖阻抗条测试，软板/硬板板内测试。带宽可达15GHz,最短测试线长1.5cm,最长可达到5米，远超国内TDR仪器水平。产品特点 1) 包括 H045/H085/H150 三种不同带宽系列产品可供选择，全面覆盖阻抗条测试，软板/硬板 板内测试。 2) 带宽可达 15GHz，最短测试线长 1.5cm，最长可达到 5m。远超越国内 TDR 仪器水平。 3) 仪器内置校准件，固化智能校准程序，开机自检校准，解决了此类仪器当前使用存在的不会 校准，校准繁琐，校准数据偏差，长时间使用时校准数据偏移等问题。 4) 可以进行阻抗条测试，搭配可调探头可进行板内阻抗测试，轻松应对 5G 类阻抗产品的测试。 5) 内置静电保护电路，可耐静电 6kV，不需要严苛的防静电试验室和穿防静电服操作，可在车 间环境中使用。 6) 采用真差分测量技术，测试精度更高。 7) 采用了高精度多点校准与自动校准相结合技术，出厂多点校准，精度更高，使用更放心。 8) 测量数据导出支持多种测量数据格式，可供 ERP 系统读取。 9) 智能化测试软件，自动抓取波形起始点和末端，设置到测试三步完成，操作简单，并且自动 抓取减少了人工错误和不同人员操作造成的偏差。 5、符合标准 1) IPC-TM-650 标准 PCB 传输线特性阻抗时域反射测试方法。 2) Intel 技术标准 PCB 测试方法（TDR 测试 PCB 特性阻抗）。3) 中国 CPCA 标准 印制板特性阻抗时域反射测试方法。 4) 各种高速串行总线国际通行标准（USB、SATA、PCI-E、HDMI、DP 等）。

TDR阻抗测试仪-ZK2120用途TDR阻抗测试仪是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试被测件的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于刚性/挠性电路板、高频电缆、高频线材制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。和传统TDR取样示波器相比，增加了针对线路板、电缆行业的标准化、自动化测试和分析软件。为特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。特征1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合线缆工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合1394a/b、DiiVA、DP、HDMI1.4、SATA I/II、USB2.0/3.0等各种标准的特性阻抗测试要求。技术参数 项目 规格 型号 ；TDR-ZK2120测量功能；单端阻抗、差分阻抗、共模阻抗差分延迟、差分对内延迟差、差分对间延迟差控制阻抗测试范围 ； 单端10Ω-150Ω差分：20Ω-300Ω测量精度 ； 50Ω±1%重复测量精度 ； 50Ω±0.5%测量长度 ； 0.04m～2m水平显示分辨率； 0.2mm垂直显示分辨率； 0.03Ω测试方法 ； 时域反射法（TDR）TDR 带宽 ； TD1.75 GHZ取样示波器带宽； Sa3GHz入射脉冲上升时间； 120psTDR采样时间分辨率； 10ps

高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A主要技术特性：1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能6．电容直接测量范围：1pF～25nF 7．主电容调节范围： 17～240pF 8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10．合格指示预置功能范围：5～100011．环境温度：0℃～+40℃；12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mmD374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至较小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A边缘现象和杂散电容——这些试验方法是以电极之间的样本电容测量，以及相同电极系统的真空电容（或空气电容，适用于多数实际用途）测量或计算为基础。对于无保护的两电极测量，要求采用两个测定值来计算电容率，而当存在不期望的边缘现象和杂散电容时（它们将包含在测量读数中），变得相当复杂。对于测量用所放置样本之间的两个无保护平行板电极场合，边缘现象和杂散电容见图5和图6所述。Ce=边缘现象或边缘电容，Cg=每个电极外表面的接地电容，CL=连接导线之间的电容，CLg=接地导线的电容，CLc=导线和电极之间的电容。只有要求的电容Cv是与外部环境无关，所有其它电容都在一定程度上取决于其它目标的接近度。有必要在两个可能的测量条件之间进行区分，以确定不期望电容的影响。当一个测量电极接地时，情况经常是这样的，所述的所有电容与要求的Cv并联，除了接地电极的接地电容及其导线之外。如果Cv放入一个试验箱之内，同时试验箱墙壁具有保护定位，连接到试验箱的导线也受到保护，则接地电容可以不再出现，此时在a-a'处的电容看起来只包括Cv和Ce。对于某一给定电极布置，当电介质为空气时，可以计算得出边缘电容Ce，同时该计算值具有适当的精度。当某一样本放置在电极之间时，边缘电容值可能发生变化，此时要求使用一个边缘电容修正值，该修正值可见表1给出的信息。在许多条件下，已经获得了经验性修正值，这些修正值见表1所示（表1适用于薄电极场合，例如箔片）。在日常工作中，当较佳精度不作要求时，很方便使用无屏蔽的两电极系统，同时进行适当的修正。因为面积（同时因此Cv）以直径平方级增大时，然而周长（同时因此Ce）随着直径线性增大时，由于忽略边缘修正导致的电容率百分比误差随着样本直径增大而减小。然而，为进行准确得测量，有必要使用受保护的电极。6.2 受保护电极——在受保护电极边缘的边缘现象和杂散电容实际上可通过增加一个按图7和图8所示的保护电极来消除。如果试验样本和保护电极越过受保护电极的延伸距离至少为2倍的样本厚度，同时保护间隙非常小，受保护区域的电场分布将与当真空为电介质时存在的分布相同，同时这两个静电容的比值为电容率。而且，激活电极之间的电场可以进行定义，真空电容也可以计算得出，其精度只受到尺寸已知的精度的限制。由于这个原因，受保护电极（三终端）方法将用于作为仲裁方法，除非另有协定。图8显示了一种完整受保护和屏蔽电极系统的图解。尽管保护通常被接地，所示布置允许接地或测量电极，或者没有电极能容纳被使用的特殊三终端测量系统。如果保护接地，或者连接到测量电路中的一个保护终端上，测量的电容为两个测量电极之间的静电容，无保护电极和导线的接地电容与要求的静电容进行并联连接。为消除该误差源，采用一个屏障连接到保护上来包围无保护电极，如图8所示。除了那些总是不方便或不实际的，且限制频率小于几兆赫兹的保护方法之外，已经设计出使用特殊电池和程序的技术，采用两终端测量，精度相当于受保护测量所获得的精度。此处所述方法包括屏蔽测微计电极（7.3.2）和液体置换方法（7.3.3）。6.3 样本几何形状——为测定某一材料的电容率和耗散因子，优选薄板样本。圆柱形样本也可以使用，但是通常具有较低的精度。电容率较大不确定度来源是样本尺寸测定，特别是样本厚度测定。因此，厚度应足够大以允许其测量值具有要求的精度。选择的厚度将取决于样本生产的方法和可能的点到点变化。对于1%精度，厚度为1.5mm(0.06in)通常是足够的，尽管对于较大的精度，要求使用一个较厚的样本。当使用箔片或刚性电极时，另一误差源是电极和样本之间的不可以避免的间隙。对于薄样本，电容率误差可大至25%。类似误差在耗散因子中也会产生，尽管当箔片电极涂覆了一种油脂时，两种误差不可能具有相同的大小。为在薄样本上获得较准确的测量值，使用液体置换方法（6.3.3）。该方法降低了或*消除了样本的电极需求。厚度必须进行测定，测量时，在电学测量所用的样本区域上进行系统性地分布测量，厚度测量值均匀性应在±1%的平均厚度之内。如果样本整个区域将被电极覆盖，同时如果已知材料密度，可通过称量法来测定平均厚度。样本直径选择应使得能提供一个具有要求精度的样本电容测量值。采用受到良好保护和遮蔽的装置，将没有困难测量电容为10pF，分辨率为1/1000的样本。如果将要测试一个低电容率的厚样本，则可能将需要直径大于等于100mm，以获得要求的电容精度。在测量较小值的耗散因子时，关键点是电极的串联电阻应不会有助于产生相当大的扩散因子，同时测量网络没有大电容的电阻应与样本进行并联连接。这些观点的靠前点是偏好厚样本；第二点建议大区域的薄样本。测微计电极方法（6.3.2）可用于消除串联电阻的影响。使用一个受保护样本固定架（图8）来将外部电容降至较低。

变温高频阻抗设备LN-Z2-HF简介 [系统简介] 材料的基础物性研究是产品产业化的根基，当一种材料需要产业化的时候，我们必须尽可能大范围地，高精度地掌握它的大部分特性，以免因为错误的数据而影响了后期产业化的方向，造成不必要的损失。 4990EDMS-120K是东阳特克尼卡株式会社独自开发的（中国专利号：201780096021X），面向全固态电池的高频阻抗测试系统。在高达到100MHz的高频阻抗测试下，该系统可以将固态电解质的粒子和粒界阻抗进行分离。配合 -180℃ ~ +200℃的自动变温控制功能，该系统能够提供至今为止固态电解质活化能计算用最合理的内阻测量环境。 目前该测试系统自上市以来在日本国内累计销售近百套，并且获得了日本众多顶尖固态电解质材料研究机构的认可。 [系统图片] [测试项目，关键词] 固态电池交流阻抗，固态电解质交流阻抗，SOFC交流阻抗，晶粒阻抗，晶界阻抗，高频阻抗，阻抗分析 [系统特征] • 测试温度范围：-180℃ ~ +200℃，RT ~ +800℃• 最高测试频率：100MHz• 密封/加压式专用样品夹具• 专用全自动化变温控制测量软件• Z-VIEW交流阻抗分析软件• Z-ASSIST DRT频谱分析软件 [系统规格] 测量频率范围20Hz ～ 100MHzAC电压5 ｍVrms ～　1VrmsDC电压± 40 V补偿功能OPEN/ SHORT/ LOAD测量范围25 mΩ ～ 40 MΩ变温范围80K ～ 473K℃样品氛围氦气、大气或者相应气体对应选配标准样品夹具密封式样品夹具加压式样品夹具防过热套件 [选配件] 型号名称4990EDMS-120K阻抗分析仪（120MHz ~ 20Hz)构成：E4990A阻抗分析仪主机、EDMS软件、GPIB-USB转接线、42941ALN-Z2-HF高频制冷筒（80K ~ 473K, DC ~120MHz)组成：高频测试杆、温度控制器、真空泵LN-Z2-HF-SHLN-Z2-HF用　标准样品夹LN-Z2-HF-GTLN-Z2-HF用　密封式样品夹LN-Z2-HF-PHLN-Z2-HF用　加压式样品夹LN-Z2-HF-OHPLN-Z2-HF用　防过热套件 [系统优势]• 适用于固态电解质高频交流阻抗测试，有效测试频率可达100MHz，用于研究高电导率材料，纳米材料的粒子（晶粒）阻抗与粒界（晶界）阻抗，以及各种界面阻抗。• 可实现远程全自动控温管理（广域控温：-180℃~200℃，室温~800℃）。• 配备多种夹具，可应对不同条件样品，并且采用OPEN/SHORT/LOAD精测补正技术，对线路中的R/L/C阻抗进行修正，消除环境引起的噪声。• 配备交流阻抗拟合软件，DRT分析软件。 [配套高频夹具] [测试图例]*发表于Chem. Mater. 32 (2020) 8860. [常见的Q&A]Q: 这个设备对样品有什么样的要求？A: 越简单的样品越好，最好是饼状样品，扣式电池也可以。 Q: 这个与电化学工作站有什么区别？A: 能够高精度进行频率1MHz~100MHz的交流阻抗测试是该设备的优势，对于全固态电池的研究者的一大烦恼就是无法在高频段对粒子和粒界的阻抗进行分离。而这台设备就能够分离粒子与粒界，极大地加快全固态电池的开发进度。 Q: 这个设备能够测固态电池的阻抗吗？A: 可以，但会对样品有一些要求。 Q: 这个设备能够测SOFC阻抗吗？A: 不可以，但是这台设备可以配置SOFC工作所需要的高温环境用来测其固态电解质的阻抗。

从PCB板材的选择及制程就开始管控吸水的条件虽然烘烤是改善爆板的方法，但是烘烤不但浪费时间，也浪费设备与人力，而且PCB烘烤之后Tg值会下降也是问题，比较好的方法是从PCB板材的选择及制程就开始管控吸水的条件。1. 板材本身如果有极性，就容易吸水。尽量选用不会吸水的树脂来防止板材吸水。2. 可以选用开(扁)纤布。减少树脂与玻璃纤维介面的空隙，以降低容易藏水的可能性。（下面的图片只是示意图，并不是真正的玻纤布，基本上由经纬两股材料交错编织而成，经纬的交错间如果有空隙，就容易藏水分，所以一般会以透气性来检查其密合度，密合度越好，透气度越小，越不容易藏水，对高频的电路板也比较没有耗损及讯号不等一的问题。PCB电路板会发生爆板(popcorn)或分层(Delamination)的主要原因不外乎一、板材吸水；二、α2/z-CTE太大这两大类，而「板材吸水」所造成的爆板更占了70%的不良，其他原因如PCB结构之涨缩不均，冷热不均、制程受伤与黑化不良…等虽然也不能排除其可能性，但其比率都不太高就是了。深圳冠亚SFY系列印刷线路板含水率检测仪,电路板水分测试仪可以快速检测线路板水分！ 深圳冠亚SFY系列印刷线路板含水率检测仪,电路板水分测试仪产品专利资质：●SFY系列快速水分测定仪器(专利号：2005301013706)●是目前行业中通过ISO 9001:2008质量管理体系认证的公司。 ●“GY"商标证书，商标证书编号7927649号。●“SFY"商标证书，商标证书编号8931081号。深圳冠亚SFY系列印刷线路板含水率检测仪,电路板水分测试仪技术指标:1、称重范围：0-150g可调试测试空间为3cm、5cm、10cm 2、水分测定范围：0.01-**JK称重系统传感器 3、样品质量：0.5-150g 4、加热温度范围：起始-250℃加热方式：应变式混合气体加热器微调自动补偿温度15℃5、水分含量可读性：0.01% 6、显示7种参数： 水分值，样品初值，样品终值，测定时间，温度初值，终值，恒重值红色数码管独立显示模式 7、双重通讯接口：RS 232（打印机） RS 232（计算机） 8、外型尺寸：380×205×325(mm) 9、电源：220V±10%/110V±10%(可选) 10、频率：50Hz±1Hz/60Hz±1Hz(可选) 11、净重：3.7Kg 深圳冠亚SFY系列印刷线路板含水率检测仪,电路板水分测试仪是由深圳市冠亚公司研发并生产，该仪器具有温度设定、微调温度补偿及自动控制等功能, 采用目前国际通用的热解原理研制而成的新一代卤素快速水分测定仪器。引进进口自动称重显示系统，人性化系统操作, 无需特殊培训，自动校准功能、自动测试模式，取样、干燥、测定一机化操作。

ICT测试仪 解决软板测试的福音超低阻线材测试高频线材测试附着零件的软板量测附着零件的线材量测软板(FPC柔性线路板)测试线材及附着电子零件测试线材线电感、线间电容量量测10m ~ 100MΩ超低阻、超高阻量测基本开短路测试拼连线材测试弹性选择扩充，可依需要从标准点数128点，最多可配置4096点，满足您生产线不同产品的测试需求人性化WINDOWS介面，操作简单、上手容易统计分析报表功能，并可汇出Excel相容格式资料10m ~ 100MΩ超低阻、超高阻量测1.线材及电子零件测试2.PIC稳压IC测试功能3.CDS感应法LED亮度测试功能4.线材电感，线间电容量测5.超低阻50M欧，超高阻100M欧量测6.开短路测试，连接线材测试7.Windows XP介面，操作简单8.的统计报表功能9可汇入汇出它厂程式，解决绑机困扰

冠测高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD--A/B主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

液体高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bd主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

固体绝缘高频介电常数测试仪GCSTD-A/Ba主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

中科微纳高频介电常数测试仪GCSTD-AB主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

新款高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bc主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

电瓷高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bf主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

复合材料高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bh主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

高频/音频介电常数测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关测量方法的选择： 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A原始包装：请保留所有的原始包装材料，如果机器必须回厂维修，请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时，请务必将全部的附件一起送回，请注明故障现象和原因。另外，请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。电性能检测仪器：介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪；塑料橡胶性能检测仪器：无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器：氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机：试验机北广其他检测海绵仪器：海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司有：环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪* 我要求购：* 我的姓名：* 我的单位：* 我的电话：* 我的邮箱：我的地址：所属省份北京市天津市河北省山西省内蒙古自治区辽宁省吉林省黑龙江省上海市江苏省浙江省安徽省福建省江西省山东省河南省湖北省湖南省广东省广西壮族自治区海南省重庆市四川省贵州省云南省西藏自治区陕西省甘肃省青海省宁夏回族自治区新疆维吾尔自治区香港特别行政区澳门特别行政区台湾省其它所属城市所属地区* 信息有效期：10天20天一个月三个月半年 信息展示过期后将自动下线，如还需采购可重新发布信息具体要求：* 验证码： 看不清？

冠测仪器高频损耗介电常数测试仪GCSTD-AB.2主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

是否有现货：是认证：ISO9001型号：Q998E商标：千百顺测试速度：0.5秒/1024点测试频率：AC100~100KHz操作系统：Windows XP使用电源：AC100~240V厂量：8990包装：木箱“千百顺Q998E-ICT柔性线路板测试仪 ”详细简介1.线材及电子零件测试2.PIC稳压IC测试功能3.CDS感应法LED亮度测试功能4.线材电感，线间电容量测5.超低阻50M欧，超高阻100M欧量测6.开短路测试，连接线材测试7.Windows XP介面，操作简单8.的统计报表功能9可汇入汇出它厂程式，解决绑机困扰

仪器简介：日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。 AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔。技术参数：频率范围：1G~10GHz 同轴共振腔： 介电常数Epsilon：1~30，准确度：+/-1%， 介电损耗tangent delta：0.05~0.0001，准确度：+/-5%主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 日本AET 公司针对CCL/印刷电路板设计空洞共振腔测试装置 , 只需裁成小长条状即可量测精确的复介电常数(Dk), 尤其是低损耗(Df)的样品, 测量值非常精准。 用于介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。

介电常数测试仪/介质损耗因数和电容率测试仪的详细描述：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、概述A型高频Q表和C型高频Q表主要区别 AC测试频率范围25kHz～60MHz100kHz～160MHz主调电容控制传感器步进马达电容搜索无有 A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司最新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差 A频率范围25kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围A14.5nH～8.14H3．电容测量 A直接测量范围1～460p主电容调节范围40～500pF准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 4．信号源频率覆盖范围 A频率范围10kHz～60MHzCH110～99.9999kHzCH2100～999.999kHzCH31～9.99999MHzCH410～60MHz频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。三、使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）四、维修1．新购仪器的检查新购的仪器最好能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是专供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 附表二 各Q值均值回路指示值 和测试回路平均残量修正系数表线圈号测试频率C修正系数1100kHz114 2400kHz135136131MHz134128.50.9642MHz154 4.5MHz1831931.0554.5MHz170 12MHz237236.21612MHz234 25MHz3052810.92725MHz2181700.7850MHz2572520.98Qe：标准有效Q值A型Q表在测试Q值时，已对测试回路的残量作了修正，故不再需要对Q值进行均值修正。◇主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 ◇主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。五、仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：5～999。 b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。c．标称误差频率范围：25kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；频率范围：10MHz～50MHz； 固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：0.1μH～1H。b．分 档：分七个量程。0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；b．电容量调节范围主调电容器：40～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；微调电容量：－3pF～0～＋3pF； 准 确 度：±0.2pF。☆振荡频率：a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；b．频率分档25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。c．频率误差：2×10-4±1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 ☆试样尺寸圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε30时）☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。六、仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。介电常数介质损耗测试仪电感器：按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。高频介质样品（选购件）：在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。 介电常数介质损耗测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。

GDAT-C介电常数测试仪简介满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT）、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的最佳解决方案。 1、《BH916介质损耗装置》（测试夹具）是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε），把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT），实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。4、一个高品质因数（Q）的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表BH916测试装置 介电常数测试仪GDAT高频Q表 平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz）Q测试范围2～1023 介电常数测试仪附表二,LKI-1电感组典型测试数据 线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH介电常数介质损耗（介质损耗角）测试仪 型号：GDAT-C一.介电常数测试仪主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品（ 小于 10 mil） 量测值偏低,。 二.介电常数测试仪主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。三.介电常数测试仪仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围：20kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％； 频率范围：10MHz～60MHz； 固有误差：≤6％±满度值的2％；工作误差：≤8％±满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：14.5nH~8.14H。b．分 档：分七个量程。 0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）；b．电容量调节范围 主调电容器：30～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则☆振荡频率：a．振荡频率范围：10kHz～50MHz；b．频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHzc．频率误差：3×10-5±1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～1000。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 ☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。四、介电常数测试仪主要配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套附表 电感组典型测试数据五.介电常数测试仪仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。 介电常数测试仪介绍：一、 概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。二、介电常数测试仪技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目GDAT-A频率范围20kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2％工作误差≤7％±满度值的2％频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2％工作误差≤8％±满度值的2％ 2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量：1~ 460项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围准确度30～500pF150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％ 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．信号源频率覆盖范围项 目GDAT-A频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。8．产品配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套 附表 电感组典型测试数据线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH 产品名称：工频介电常数介质损耗测试仪型号：BDAT-B一、主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。二、主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（ tg）和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。由于电桥内附有一个2500KV的高压电源及一台高压标准电容器，并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在一起，所以本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tg）及介电常数（ε）。 桥体本身带有5Kv/100pF标准电容,测量材料介损更为方便。桥体内附电位跟踪器及指另仪，外围接线及少。 桥体采用了多样化的介损测量线路。三、技术指标测量范围及误差 在Cn＝100pF R4＝3183.2（?）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tg? 0～1 ±1.5％tg?x±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（?）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tg? 0～0.1 ±1.5％tg?x±0.0001Ｃｘ＝Ｒ４×Ｃｎ／Ｒ３tg?＝ω?Ｒ４?Ｃ４电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tg?x±1×10-4高压电源技术特性电压输出：0～5000V/50Hz高压电流输出：0～10mA内置标准电容器 电容量为100pFtg小于5X10-5 QS37 型高压电桥1.概述：QS37 型西林电桥,主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tg） 和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。电桥由桥体、指另仪、电位跟踪器组成，本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（）及介电常数（ε）。2.技术指标：2.1 测量范围及误差本电桥的环境温度为 20±5℃，相对湿度为 30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在 Cn＝100pFR4＝3183.2（）（即 10K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tg0～1±1.5％tg x士0.0001 在 Cn＝100pF R4＝318.3（）（即 1K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx4pF--2000pF±0.5% Cx±3pF介质损耗tg0～0.1±1.5％tg x士0.0001

一、概述短路阻抗是变压器的重要参数，短路阻抗法是判断绕组变形的传统方法，根据GB1094.5-2008和IEC60076-5:2006规定，短路电抗的变化量是判断变压器绕组有无变形的唯一判据。 测量变压器绕组参数也是检验变压器的制造工艺水平和判断运输过程对变压器绕组有无不良影响的有效手段。低电压短路阻抗试验是鉴定运行中变压器受到短路电流的冲击，或变压器在运输和安装时受到机械力撞击后，检查其绕组是否变形的最直接方法，它对于判断变压器能否投入运行具有重要的意义，也是判断变压器是否要求进行解体检查的依据之一。YCDZ-1变压器短路阻抗测试仪，适用于电力变压器（单相或三相）出厂、大修、预试以及交接试验中低电压负载阻抗测试。常规试验项目中的基本项目，其原理是在现场对电力变压器进行短路阻抗（%）测试，并与铭牌值或出厂值进行比较，能发现出厂试验后经运输、安装和运行中严重故障电流等所造成的绕组位移、变形等缺陷。本公司自主研发的YCDZ-1变压器短路阻抗测试仪用于现场和试验室条件下对35KV级及以上主变压器进行低电压短路阻抗测量的仪器。该仪器设计精巧，性能优越，内部采用最新型的单片机测试技术及数字信号处理技术，测量数据准确；外部采用7寸触摸彩色液晶显屏，显示中文操作菜单，触摸操作更便捷，同时配备热敏打印机和存储功能，方便数据的打印和存，将所需导出的数据可通过USB转存到计算机；仪器体积小，便于现场使用携带；本仪器输入参数，便可进行单、三相测试并自动计算变压器阻抗误差百分比，测试结果非常直观，是现场测试变压器有无绕组变形的快速测试仪器。二、安全措施1、使用本仪器前一定要认真阅读本手册，尤其要遵守注意事项的提示；2、本仪器户内外均可使用，但应避开雨淋、腐蚀气体等场所使用。仪表应避免剧烈振动，以免影响测试数据；3、对仪器的维修、护理和调整应由专业人员进行，禁止私自拆卸；4、测试菜单项选择和实际测试项目及接线要一致；5、测试过程中，禁止拆除移动测试夹和关断供电线路；三、性能特点1、仪器采用交流220V低压电源，通过手动、自动两种模式对单相、三相变压器的AB、BC、CA绕组施加电流，测量变压器的短路阻抗与铭牌阻抗比较的误差百分比外，还可测量变压器的阻抗、电抗、电阻、电感等值方便用户数据对比，测试结果非常直观；2、仪器可单相测试，也可三相测试；可手动测试，也可自动测试；3、一次性接线，不用倒接测试线便可自动完成三相测试；4、不用外接调压器，便可对被测试品进行测量；5、仪器不仅显示阻抗误差百分比，还显示施加电压、施加电流、测量功率，短路阻抗、短路感抗、绕组电感、短路阻抗电压等值；6、零序阻抗适用于高压侧星形接线带中性点的变压器，仪器可同时测量零序阻抗、零序感抗、零序电阻、零序电感；7、仪器可采用内部电源及外部电源两种供电模式；8、仪器内置7寸彩色触摸液晶屏，中文操作菜单，触摸操作更便捷，同时配置微型打印机可实时打印数据；9、具有RS232接口，可以将测试数据传输到后台；10、本机可存储100条测试记录，数据存储以测试保存时间为索引；11、具有USB接口，可以将测试数据转存到U盘；12、仪器自带时钟功能，时间可自行校准；四、技术指标1、电压测量范围：15V～500V2、电流测量范围：0.5A～50A3、准确度：电压误差值：＜0.2%；电流误差值：＜0.2%；功率误差值：＜±0.5%( CosΦ0.1)； ＜±1.0%(0.05＜CosΦ＜0.1)；短路阻抗误差值：＜±0.5%；4、阻抗测量范围：1Ω～200Ω；5、工作电源：AC220V±10%；6、电源频率：50Hz±5Hz；7、工作温度：-10～40℃；8、环境湿度：≤80%RH 无结露；9、外形尺寸：400*340*195mm；10、整机重量：13.5kg。