真实差分高分辨热膨胀仪

真实差分高分辨热膨胀仪型号：DIL 832 DIL 832 成为所有研发实验室执行机械和尺寸特性表征的理想工具：TA 仪器独家 True Differential™ 技术、获得专利的 1 nm 分辨率光学编码器、一系列新型动态加热炉以及新款线性样品加载电机。打造业界性能最佳的卧式推杆膨胀仪，不受被测应用或材料的影响。 在 5000μm 总测量范围内，线性电机可确保 0.01 至 1.00 N 样品加载力，力解析度为 0.01 N，线性度优于 0.01 N。 获得专利的新型增量式光学编码器将长度测量的真实分辨率降至 1 nm，达到同类产品的最佳水准。支持测量短小样品，同时保持优异 ?L 分辨率。 应用新型设计的测量头外壳及有源电气热稳定性确保检测核心具备前所未有的稳定性。DIL 832 将 TA 仪器的独家 True Differential™ 技术与 TA 仪器加热炉的独特设计相结合，提供业界领先的 0.01 x 10-6 K-1 CTE 精确度。 DIL 832 自动记录初始样品长度，支持的最大样品长度为 25 mm，最大直径为 6 mm。 水冷炉提供动态性极强的温度编程功能，最大加热速率为 50 K/分钟，由 1000 °C 冷却至室温仅需 13 分钟，仅为同类仪器的 1/15。 集成电子元器件提供网络连接，而集成触摸屏允许用户直接在仪器中执行多项功能，实时显示测量参数和测试完成时间。

高灵敏度光学编码器和 TA 独家真实差分技术，适用于要求最为严苛的研发实验室。凭借以下令人印象深刻的独特技术和功能，DIL 832 成为所有研发实验室执行机械和尺寸特性表征的理想工具：TA 仪器独家 True Differential™ 技术、获得专利的 1 nm 分辨率光学编码器、一系列新型动态加热炉以及新款线性样品加载电机。打造业界性能最佳的卧式推杆膨胀仪，不受被测应用或材料的影响。在 5000μm 总测量范围内，线性电机可确保 0.01 至 1.00 N 样品加载力，力解析度为 0.01 N，线性度优于 0.01 N。获得专利的新型增量式光学编码器将长度测量的真实分辨率降至 1 nm，达到同类产品的最佳水准。支持测量短小样品，同时保持优异 ?L 分辨率。应用新型设计的测量头外壳及有源电气热稳定性确保检测核心具备前所未有的稳定性。DIL 832 将 TA 仪器的独家 True Differential™ 技术与 TA 仪器加热炉的独特设计相结合，提供业界领先的 0.01 x 10-6 K-1 CTE 精确度。DIL 832 自动记录初始样品长度，支持的最大样品长度为 25 mm，最大直径为 6 mm。水冷炉提供动态性极强的温度编程功能，最大加热速率为 50 K/分钟，由 1000 °C 冷却至室温仅需 13 分钟，仅为同类仪器的 1/15。集成电子元器件提供网络连接，而集成触摸屏允许用户直接在仪器中执行多项功能，实时显示测量参数和测试完成时间。

性能最佳的单样品推杆热膨胀仪，现已配备高灵敏度光学编码器以及由电机驱动的加热炉。DIL 831 新增丰富自动化功能，采用获得专利的 1 nm 分辨率光学编码器、一系列新型动态加热炉以及新款线性样品加载电机。打造业界性能最佳的卧式单样品推杆膨胀仪。这款仪器是应用于研发实验室的强大工具，科学家可通过其测量线性热膨胀并计算陶瓷、玻璃、高性能材料、聚合物、金属和合金的热膨胀系数 (CTE)，精确度极高。特性包括： 在 5000μm 总测量范围内，线性电机可确保 0.01 至 1.00 N 样品加载力，力解析度为 0.01 N，线性度优于 0.01 N，保障在不受被测材料影响的情况下正确施加加载力。 获得专利的增量式光学编码器将长度测量分辨率降至 1 nm，达到同类产品的最佳水准。支持测量短小样品，同时保持优异 ?L 分辨率。应用新型设计的测量头外壳及有源电气热稳定性确保检测核心具备前所未有的稳定性。这款单样品推杆膨胀仪与 TA 仪器加热炉的独特设计完美融合，样本实现零度温度梯度，CTE 精确度高达 0.03 x 10-6 K-1，处于业界领先水平。 自动记录初始样品长度。 水冷炉提供动态性极强的温度编程功能，最大加热速率为 50 K/分钟，由 1000 °C 冷却至室温仅需 13 分钟。该值仅为同类竞争仪器产品的 1/15。 集成电子元器件提供网络连接，而集成触摸屏允许用户直接在仪器中执行多项功能，实时显示测量参数和测试完成时间。

仪器简介：为了实现最高准确度和精确度，DIL802/802L卧式热膨胀仪提供了真正的差分测量方法。只检测样品和惰性参照样品之间的差异，DIL802/802L的设计消除了系统膨胀对样品测量带来的影响。这种设计对动态风度测量程序中非常有用，例如在速率控制烧结系统（RCS）中应用，也适用于较低温度下的实验。DIL802/802L也可以被转换成单样品热膨胀仪。技术参数：传感器：所有TA仪器的卧式热膨胀仪都是采用了最先进的线性可变差动传感器（LVDT）和数字功放技术的高精度仪器。这些传感器都具有很好的热稳定性能，并具有防震动设计用来提高准确度、精确度和耐用性。每一个热膨胀仪都采用了由用户定义的宽的接触力范围（0.02N-1.00N），即使在测量过程中样品有收缩，也能保证有效的接触，可以提高测量的准确性和可重复性。 产品特性：&bull 简单、牢固的设计，易于使用&bull 最佳的温度均匀性&bull 最灵活真正的差分测量 DIL 802DIL802是真正的差分测量仪，以保证最高的精度和准度。许多双样品热膨胀仪也可以在差分模式下工作，对两个单独的传感器信号进行相互差分。与这些&ldquo 软件差分&rdquo 的仪器不同，DIL802是一台真正的用在高性能差分实验中的测量仪。DIL802是一个单一的位移传感器，具有创新性的设计，减少噪音，并最大限度的提高准确度。差分传感器的核心被耦合到基准样品中，传感器的线圈与样品耦合在一起，参考样品的传感器框架能够随着系统的膨胀实现相对运动，被测量的只有样品相对于参考样品的额外的热膨胀。因此该系统具有如下的优点：&bull 提高准确度&bull 减少对系统校准的依赖&bull 温度升高程序的灵活性

1、产品介绍热膨胀仪DIL1000，采用精度较高的位移传感器，独有的控温技术，独特的结构设计，具有较高的位移分辨率，可以准确测量室温-600℃内各种材料的热膨胀系数，特别是对于低膨胀系数的材料依然可以得到高准确的测量，可以满足实验室准确测量的需求。2、主要特点 高准确度的压力传感器：采用高准确度的压力传感器，全量程范围内都可以得到准确的测量；高分辨率：全量程范围内可以有高的分辨率；接触压力可调整：独特的结构设计，可以调整接触压力，使样品在测量过程中不受破坏；操作简单：操作简单安全，免维护，使用时间长；适用广泛：适用于各种聚合物，陶瓷，玻璃，建材，金属，合金，无机物等；符合ASTM E228 GB/T 4339 标准。3、主要技术参数样品尺寸：25-50 mm样品直径：3-10 mm温度范围：室温-600 ℃控温精度：±1℃ 以内温度精度：0.1K 以内测量精度：0.1%FS分 辨 率：＜0.1%

Linseis Pico系列激光热膨胀仪的研发实现了超高分辨率和超高精度。分辨率可以达到皮米（0.3nm= 300pm）级别。Linseis L75 激光热膨胀仪的优越性体现在精度是传统顶杆热膨胀仪的33倍。干涉测量原理可以实现更高的精度，特别适用于计算机的特殊校正。 Linseis L75 Laser激光膨胀仪只需要对样品简单加工。您只需要准备一个与类似用在传统顶杆热膨胀仪上的样品。该系统不要求样品特定的几何形状。所有类型的材料，反射或无反射的都可以用该系统进行测量。与传统的双采样顶杆热膨胀仪不同，其测量原理是一种“绝对测量” ，可提供更高的精度，且无须进行校准。温度范围-180°C - 500°CRT - 1000°C分辨率0.3 nm加热/冷却速率*0.01 K/min - 50 K/min 样品支架熔融石英样品长度≤ 20 mm样品直径≤ φ 7 mm气氛惰性、氧化性、还原性、真空接口USB*取决于炉体*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

仪器简介：DIL806光学热膨胀仪是一种创新的[1]和通用的测量热膨胀和收缩的仪器。测量样品的长度时完全没有接触，因此非常适合于薄的，形状不规则的和软的样品。[1]美国专利＃7524105技术参数：技术：DIL806光学热膨胀仪采用了创新的测量原理，使非传统的热膨胀实验成为可能，并改善了许多传统的测试测量原理DIL 806采用了阴影光的方法。在该方法中，通过测量CCD探测器上样品的阴影来测量一个方向上样品的绝对尺寸的大小。 高强度的GaN LED发出平面光，通过一个扩散单元和准直透镜，产生高度均匀的、短波平面光。该光的一部分被样品阻挡。有阴影的光束通过远心光学系统进行精细处理，并由高分辨率的CCD探测器记录。数字边缘检测自动确定阴影的宽度，进而测定样品的尺寸。绝对测量的优势DIL806测量本质上是一个绝对的测量，不受随温度程序变化的系统热膨胀的影响。 只有样品经历温度的变化，光源和检测器与这些变化相隔离。因此，测量是绝对的，不需要进行顶杆式膨胀仪使用中常见的特定测试的校准。炉体技术DIL806采用了创新的板形炉，提供了卓越的温度均匀性和响应时间。样品放置于宽平面加热元件的中心，加热元件的尺寸远远大于样品，防止了在横向方向上的温度梯度。炉盖内有一个类似的加热元件，位于样品的正上方，可以最大限度地减少垂直温度梯度。炉体能够提供100℃/min的快速加热以及10分钟内从1400℃至50℃的冷却时间。快速的加热和冷却速度，保证了样品高通量以及温度快速变化下过程的表征。炉体的动态反应也使得DIL806特别适合仪器的控制软件所支持的速率控制烧结实验。自定义软件包允许用户定义一个目标的烧结（收缩）率。可根据样品特性，通过增加或减小加热速率实时调整温度，以达到目标速率。 非接触式测量的优越性非接触式的测量系统提供了以下几个优点。因为没有直接施加负载到样品上，因此即便是最柔软的材料也可以获得最高的测量精度。包括薄膜，或质地柔软测量或在实验过程中发生软化的材料。由于与测量系统无物理接触，进一步提高了温度均匀性。顶杆可以作为散热件，在与样品接触点处产生热点或冷点。而DIL806是没有这些接触点的，确保了整个样品在整个实验过程中温度的均匀，无需考虑实验中的温度分布。广泛的测量面积大大简化了样品位置。仪器的测量面积，宽30毫米，在这个范围内的任何位置放置样品，仪器均能表现出优异的工作性能。这样就简化了样品装载，去除样品位置的严格限制。样品类型DIL806提供了最大的灵活性的样品类型和制样。没有推杆接触，不再需要光滑或平行的样品表面。不规则形状的样品可以很轻松的测量。薄膜样品可以很容易的在其长度或宽度方向进行测量。对于不透明、半透明或透明的材料， DIL806均能获得优异的测量结果。也可以测量单个样品在几个方向上尺寸变化， 可以表征复合材料或者其他有取向性材料的各向异性的热膨胀。因为DIL806可以使用多种样品类型和形状，因此它是对其他的测量的完美补充。可使用DIL806对其他测量方法（比如动态力学分析仪（DMA）、激光法测导热、表面硬度密度或其他）的同一样品进行测试

淬火热膨胀仪型号：DIL 805DIL 805系列共包括四种型号：DIL 805，DIL 805A属于淬火热膨胀仪，DIL 805 A/D是具有压缩样品变形能力的淬火热膨胀仪，DIL 805 A/D/T还可扩展为拉伸模式。所有者四种仪器都是完全自动化的、独立的操作单元，用于测量在极端条件下控制加热和冷却的尺寸变化。在淬火模式下，空心或者实心的样品感应加热到一定的温度，然后以用户自定义的线性或直属的速率进行冷却。所测得的长度的变化表示在联系冷却过程或者等温条件下相变。一组冷却和等温曲线分别表示连续冷却转变CCT图和等温转变TTT图。DIL 805A淬火热膨胀仪是测定需要最严格的温度控制的钢合金尺寸变化和相变的新基准技术。可以在温度-160℃~1500℃、加热速率高达4000K/s、冷却速率超过2500K/s的条件下，进行用于生产或热处理的材料反应的模拟。DIL 805 A/D采用顶部淬火模式，按照0.01到 200 mm/s的控制变形率下样品变形的能力来区分。用于优化钢铁如热轧或冷轧过程，DIL 805 A/D可以形成变形后DTTT图，也可以用来检查蠕变和弛豫过程。DIL 805 A/D/T拉伸装置使仪器的功能进一步扩展到交变拉伸和压缩载荷。拉伸负载至断裂提供了材料最终性能的其他信息。这些数据被用来生成真实应力与真实应变或应力/应变循环曲线。

仪器简介：DIL0806A高温卧式热膨胀仪 该仪器是在一定的温度程序、负载力接近于零的情况下，测量样品的尺寸变化随温度或时间的函数关系。可测量固体、熔融金属、粉末、涂料等各类样品，广泛应用于无机陶瓷、金属材料、塑胶聚合物、建筑材料、涂层材料、耐火材料、复合材料等领域。我公司提供一系列的热膨胀仪，覆盖从超低温到超高温的极为宽广的温度范围，适应于研究开发、产品检验等各领域的各种需求。配套软件除提供标准的测量与分析功能外，还提供速率控制烧结（RCS）选项，按照用户的设置，能够根据样品烧结过程中的收缩速率对升温速率进行动态的自动优化调整。可用于控制样品在烧结过程中以一定的恒定速率收缩，以优化烧结工艺。产品 符合 ASTM E 831, ASTM D 696, ASTM D 3386, DIN 51045 等相关国际标准。主要技术参数：1、温度范围；RT- 1400℃2、升温速度：0-30度/分可调，微电脑程序控温，控温精度±1℃ 3、计算机自动计算膨胀系数、体膨胀系数、线膨胀量,急热膨胀。自动记录、存储、打印数据，温度-膨胀系数曲线，全部原始数据，及Tf点，并计算出线膨胀系数及Tg点。4、测试模式：单样品5、样品支架: 氧化铝6、位移测量范围：5000um7、试样范围：直径：5~8 mm，长度： 25~50 mm；方形/圆形均可8、样品状态：固体；9、加热元件：硅碳管10、膨胀值分辨率（全量程）：0.1μm，自动校正量程11、热膨胀系数分辨率：0.001×10-6/℃, 系统测量误差：±0.1%12、使用 USB 接口与 PC 机连接，操作环境：WINDOWS（10/7/xp）系统；13、电源电压：220V,50HZ主要配置：测试主机一台；测试软件一套；氧化铝标样一个；*计算机客户自备

LINSEIS L75V 垂直模式热膨胀仪系列的开发是为了满足学术界和实验室研究的需求。该系列热膨胀仪可以测定固体、液体、粉末和胶体的热膨胀系数。由于垂直系统的“零摩擦”的设计保证了测量结果的精确性，该系统的独特的垂直设计适合低或超低膨胀系数材料。该系列热膨胀仪能够在真空条件下，氧化性和还原性气氛中测量。 该系统可以用于单样品或差示条件下测量以获得更高的精度或样品通量。该系列热膨胀仪的可选机械和电子部件便于拆卸在手套箱中的测量。新低温炉配件：温度可降至10K LINSEIS L75垂直超低温操作系统（“零摩擦”）。该系统提供一个宽泛的温度范围（-260°C ——+220°C ），多种样品支架可选。在真空或程序控制的氧化环境或还原环境中进行测量时，仍能保证高精度和易操作性。可以测量以下的物理性质：热膨胀系数，线性热膨胀，物理热膨胀，烧结温度，相变，软化点，热分解温度，玻璃化转变温度。配置单杆或差示热膨胀仪温度范围-180°C —— 500/700/1000°CRT —— 1000/1400/1600/1650/2000/2400/2800°C-260°C —— +220°C (液氦)加热/冷却速率*0.01 K/min —— 100 K/min 样品支架熔融石英 1100°CAl2O3 1750°C石墨 2000°C样品长度≤50 mm样品直径7/12/20 mm可调样品压力 ≤ 1000 mN测量范围500/5000 μm分辨率0.125 nm气氛还原、惰性、氧化、静态/动态DTA计算可选电路板集成接口USB* 取决于炉体*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

L75 PT HS/HD水平模式热膨胀仪系列的开发是为了满足国际学术和实验室研究的需求。该系统可以测量固体、液体、粉末和胶体的热膨胀系数。该系统的独特设计保证了优异的精度、重复性和准确性。L75 PT HS/HD水平模式热膨胀仪系列适用于真空、氧化性和还原性气氛中测量。 该系统可以用于单样品，双样品或差示条件下测量，以获得更高的精度或样品通量。该膨胀仪可选机械和电子部件方便拆卸拆便于在手套箱中的测量使用。 利用自动压力控制设备，根据研究需要，接触压力可以连续地在10—1000mN调整。利用此特性可以连续地选择控制样品膨胀或收缩整个过程中的接触压力。可以测量以下的物理性质： 热膨胀系数，线性热膨胀，物理热膨胀，烧结温度，相变，软化点，热分解温度，玻璃化转变温度。配置单杆或双杆热膨胀仪温度范围-180—— 500/700/1000°CRT —— 1000/1400/1600/2000°C加热/冷却速率*0.01 K/min up to 100 K/min样品支架熔融石英 1100°CAl2O3 1750°C石墨 2000°C样品长度≤50 mm样品直径7/12/20 mm可调样品压力≤1000 mN测量范围500/5000 μm分辨率0.125 nm气氛还原性、惰性、氧化性, 静态/动态DTA计算可选电路板集成式接口USB* 取决于炉体*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询，我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

L74 Optical DIL 光学法热膨胀仪的开发是为了满足玻璃，陶瓷，金属和能源工业的特殊应用。高分辨率CCD相机能够以单帧或视频流的形式进行实时成像分析、记录样品膨胀。这种方法的一大优点是样品没有负载。对于测量过程中的软样品或熔体样品不产生接触压力变形。　　LINSEIS评估软件包含校正和分析功能。独特的水平式设计能够满足绝大多数严苛的应用。特别固液适配器可以实现固体、液体和固液相变转变的体膨胀测量。也有用于测量硬质箔片的样品支架，避免了传统膨胀仪由于推杆力引起的测量误差。产品特点非接触式膨胀测量高分辨率CCD相机加热显微镜光学弯曲应力测定仪固着液滴法接触角测量固-液膨胀测量（可选适配器）温度范围-100°C —500°CRT — 500/1000/1500/2000°C测量系统光学非接触精度 ≤1 μm 气氛氧化性 (可选: 还原性、惰性和真空)接口 USB*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

仪器简介：Orton膨胀仪，型号DIL 2010 系列是标准的水平膨胀仪，与ASTM E-228和C-372标准方法完全对应的数字化膨胀仪，测定从室温至1000℃的温度区间内玻璃样品的膨胀以及软化特性。Orton的软件可以快速而且准确地发现玻璃化转变温度(Tg)以及膨胀软化点(Ts)；指定温度或者温度范围，Orton软件可以快速准确地计算出热膨胀系数（CTE）或者α。热膨胀仪（DIL）用于精确测定材料在程序温度过程中的膨胀或收缩情况，广泛应用于陶瓷、玻璃、金属材料、塑胶聚合物、建筑材料、复合材料等领域。可用于测定材料的线膨胀与收缩、玻璃化转变、相转变，研究烧结过程，研究添加剂的影响，进行热处理工艺、反应动力学研究等。 技术参数：1. 最高温度分别为1000℃、1200℃以及1600℃，适合于聚合物材料、玻璃、陶瓷以及石英的膨胀系数的测定、玻璃化温度的测定；其中DIL 2010C可以从液氮温度开始测定材料的膨胀系数；2. 最大样品尺寸：长50mm，直径20mm；3. 测试的重复性：± 0.004 PLC；4. 升温速度：1～30℃/分钟，温度分辨率：0.1℃；5. 测试气氛，可选择；6. 有相应的校正样品。主要特点：1. Orton膨胀仪，操作简单，只需把样品放置在相应的样品槽中即可。只需对操作者进行简单的培训即可；2. 采用LVDT跟踪，数据的重复性好，重复性为±0.004 PLC；3. 样品尺寸大小可调；4. 软件界面直观，友好。软件功能包括：温度或时间区域内比较、线性增长百分数的比较、膨胀系数的差值或平均值、玻璃化转变温度的计算、玻璃膨胀软化点的计算、α-β石英转变温度的计算、任何温度范围内的膨胀系数的计算

热膨胀仪主要分为光干涉法膨胀仪和机械热膨胀仪，光干涉法为光学非接触、绝对测量、测量准确度高。但造价昂贵、仪器结构及操作都很复杂。机械式法热膨胀仪的优点是，使用容易、结构简单适用各种形状的样品等。缺点是，机械式式热膨胀仪受样品架、检测杆等夹杂物的影响，因此无法避免这些夹杂物对校准用标准样品的绝对精度和误差的影响。Super LIX-R非接触法激光热膨胀系统概述Super LIX-R非接触法激光热膨胀仪系统是采用线性偏转氦氖激光器的双光路型迈克尔逊干涉仪的高灵敏度非接触式热膨胀仪。这种高精度膨胀仪是基于激光波长对与样品两端接触的反射面之间的位移进行绝对热膨胀测量。该测定方法符合JIS(JIS R3251-1995)的低膨胀玻璃的热膨胀系数测定方法，适合于用于热膨胀系数低至5ppb/℃（即 5 x 10-9/K）级别零膨胀材料的测量，通过对实际样品测试结果分析：在30℃时三次测得的 热膨胀系数分别为:5 x 10-9/K,4 x 10-9/K,4 x 10-9/K，在10℃，20℃，30℃，40℃，50℃的重复性均优于5 x 10-9/K。（详见P36-41）特点：1）通过在系统内部加入抗振机构，可以防止振动干扰的影响，可以在稳定使用的环境下进行一般分析电子天平（分辨率0.01mg）的测量。（专利申请2016-058190、058191、058192）2）根据激光波长（632.8nm）测量样品的位移。光学元件的优化消除了杂散光，提高了边缘信号的信噪比。特殊位移校准无需测量或操作。3）图像传感器检测干涉条纹，对图像进行处理，计算膨胀率。4) 通过用绝缘结构的低温恒温器控制样品和样品周围区域的温度，可以将温度控制在每分钟 0.01°C。5) 自动样品设置夹具可实现稳定的样品设置，无需操作员经过特殊培训。夹具的样品设置是手动的。Super LIX-R 参数：温度测量范围：0~50℃ （采用高精度恒温循环系统）热膨胀检测系统：迈克尔逊型激光干涉仪光路：双光路样品尺寸：Φ5mm 或Φ5±0.5mm x 长度12-20mm 标准样品尺寸：φ5mm x 长度20mm 两端应进行 SR（球形）处理，以免顶端变得不均匀。 表面平均粗糙度：平均粗糙度优于0.8a测量精度：CTE值 5x10-9/K 或更低（基于标准尺寸的低膨胀材料）重复性：CTE值 5x10-9/K 或更低（基于标准尺寸的低膨胀材料）分辨率：＜0.2nm显示：图形强度激光器：激光类型：He-Ne 气体激光器（连续振荡） 功率：5mW (IEC 60825-1 class 3B) 光源波长：632.8nm热电偶：PT-100 铂热电偶 JIS C 1604-1997测试气氛：低压He（100Pa）升降温速率：0.01℃/min ~ 1.5℃/min 高精度测试推荐使用0.1℃/min温度显示分辨率：0.001℃测温精度：精度符合 JIS-Class A (±0.15°C at 0 °C)

仪器简介：当代新型陶瓷、金属粉末与复合材料领域的不断发展，要求精确地掌握材料的热膨胀和烧结特性。对于各类反应与相转变的研究。塞塔拉姆公司提供的最新研发的热膨胀仪，操作十分简便，具备优异的性能，更可同时得到导热系数仪，以满足对于测量系统的各类要求。配备了高灵敏度位移传感器、完善的温度控制体系，使得这款仪器的测试精确度高、重现性好，同时该仪器的还配置有专用导热系数仪探头，还可以对材料的热物性进行表征，测试导热系数值，热扩散系数，比热容等。仪器采用卧式设计，这种设计的优点在于炉子容易操作，装载样品简便。即使非理想尺寸的样品都可以很轻松的放进管状样品支架的凹槽中。热电偶直接接近样品测温，保证温度测量的重复性。同时该仪器还能测得样品导热系数值。仪器为真空密闭结构，可使测量在真空或设定的纯净惰性气氛下进行。仪器备有两种炉体：RT～1200℃，RT～1600℃。两者可自由更换，提供多种材料与规格的样品支架与样品容器，其应用领域覆盖了几乎所有的新材料研发和基础研究、产品质量控制等需要高精度测量热膨胀的领域，测量的样品形态包括固体、液体、粉末、膏体、陶瓷纤维等等。DIL TCi- 技术参数 温度范围：RT ... 1200℃（中温炉）, RT ... 1600℃（高温炉） 升降温速率：0 -50 K/min（取决于使用的炉体） 样品支架：石英支架，氧化铝支架 最大位移距离：4000 μm 样品长度：最大 50 mm 样品直径：最大 12 mm ΔL 分辨率：8 nm 气氛：惰性、氧化、静态、动态 导热系数仪模块（可选） 导热系数范围：0-500W/mK 测试时间：0.8-2.5s 测量精度：1%

光学热膨胀仪型号：DIL 806DIL 806 中使用的光学热膨胀测量方法是一个绝对的测量过程，完全不受仪器的膨胀或收缩影响。因此，测量结果不需要根据不同的温度程序来进行校正或校准。通过与 DIL 806 炉的快速响应特性相结合，该系统非常适合涉及多个温度步骤和动态加热速率的动态分析过程。高性能 LED 向样品发射宽幅平面光，并由高分辨率 CCD 传感器检测样品阴影。然后检测到的信号由数字化边缘检测处理器进行评估，从而灵敏并准确地测量尺寸的变化。该原理被称为阴影光方法，能够准确、绝对地测量样品尺寸随温度的变化。样品被置于盘形炉的中心平台上，不受外力作用。因此，DIL 806 膨胀仪尤其适合测量金属，并且在配备可选的零度以下炉子时可测量塑料样品。薄样品也可采用专为此类应用设计的样品支架来轻松进行分析。宽幅入射光线意味着该仪器不像其他传统膨胀测量技术那样要求严格的样品制备，并且样品在平台上的位置不需要精确定位，这样不熟练的操作人员也可轻松使用。仪器自动测定和保存初始长度，以用于后续的线性热膨胀系数计算。炉体能够采用最高达 100 ℃/min 的速度快速加热，并在 10 分钟内从 1400 ℃ 冷却至 50 ℃。

L75 PT Quattro四样品热膨胀仪的独特设计，专为需要处理大量样品的客户研发。L75 PT Quattro四样品热膨胀仪配备四个独立的膨胀测量传感器，可以在同时测量四个单独的样品，或者一个参考标准样和三个独立的样品。 这意味着， 四样品热膨胀仪的测试效率是常用双杆热膨胀仪的3倍。采用双杆膨胀仪每次只有一个样品可以与参比样同时测量。 L75 PT Quattro四样品热膨胀仪的另一个特点是带有炉体自动升降系统。此功能会在测量结束时自动升起炉体。这允许用户在炉体降温过程中放入新的样品。安装第二或第三个炉体后，系统的样品处理量可进一步显著增加。 L75 PT quattro四样品膨胀仪为四个样品测量特制的信号放大器，能够进行自动归零。同时Linseis的手动飞杆的灵巧设计使得每个样品能够在精密的测量中被容易的更换和复位。 L75 PT quattro是一款四样品膨胀仪。Linseis作为高端热分析仪器的制造商，显示我们强大的热分析仪器研发生产能力。样品数4温度范围 -180°C— 500/700/1000°CRT—1000/1400/1600/1750/2000/2400/2800°C 加热/冷却速率0.01 K/min ... 50 K/min (取决于炉体)样品支架熔融石英1100°CAl2O3 1750°C样品长度≤50 mm样品直径≤7 mm测量范围500/5000 μm分辨率1.25 nm气氛惰性、氧化性、还原性、真空, 静态/动态电路设计集成接口USB*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询，我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

DIL 803/803L为卧式热膨胀仪，可提供双样品同时测试，极大的提高了测试效率。对于动态温度程序，DIL 803/803Lhaikeyi通过使用参比物进行差分式测量，减小测量系统自身热膨胀的影响，提高测试精度。DIL 803专为在真空或惰性气体环境中测试而设计，DIL 803L是研究陶瓷样品的理想工具。

光学投影法高温热膨胀仪一、简介依阳公司的CTE 101 光学高温热膨胀仪是一种非接触式材料膨胀和收缩性能测试仪器，采用了非接触位移光学投影测量技术，可以实现高温甚至超高温（2500℃以上）条件下的线性位移和变形测量。依阳公司的CTE 101 光学高温热膨胀仪采用得是试样直立束缚式结构，规避了目前国内外水平试样无约束结构存在的试样位置移动问题，使得测试结果更可靠更准确。光学高温热膨胀仪是依阳公司采用非接触光学投影测量技术的自主研发产品，使得光学热膨胀测量仪器更具有扩展性，可以根据不同要求和技术指标建立起相应的光学非接触热膨胀测试设备。光学投影系统中的光源配备的是高强度氮化镓绿色 LED，绿色光束均匀且安全并只含有极少杂波，即使在高温物体发光的背景中也能产生极高的解析度。绿色 LED 点光源经过光学系统形成平行光束，有效的防止了目标物位置改变而造成镜头放大倍率地波动，并可确保测量精度。光学探测器采用了高速CCD可以获得极高的采样速度，目标物观测器采用了CMOS 影像传感器，可提供逼真的样品影像和小巧的外形。为了保证高温和超高温的实现以及光学探测系统工作稳定性，依阳公司的CTE 101光学高温热膨胀仪配备了恒温冷却循环系统，使得试样的起始温度和光学探测系统的工作温度总是保持恒定，有效提高了测量精度和测试数据的规范性。 光学高温热膨胀测试原理图二、技术指标（1）试样高度： 1～30mm。（2）试样截面尺寸： （矩形）3×3～10×10mm 或（圆形）φ3～φ10mm。（3）长度变化范围： 最大 29mm。（4）长度测量精度：±2 μm。（5）长度测量重复性：±0.5μm（6）采样速度：2000次/秒。（7）温度范围：RT～1400℃（其它温度范围需要定制，最低温度可到-180℃，最高温度可到3000℃）。（8）气氛环境：真空、空气和惰性气体。 三、特点 1. 依阳公司的CTE 101光学高温热膨胀仪，由于采用了光学投影法这种非接触测量方法，并配套了相应的真空系统，基本上可以实现任何温度范围和任何气氛环境下的材料热膨胀性能测量，可以测量大多数材料的熔点，而且可以测量试样在化学反应和变化过程中的热膨胀性能，这个特点对于烧蚀类复合材料的热膨胀性能评价尤为重要。为了提高300℃以下的热膨胀测量精度，加热方式可以采用流体加热方式，如水浴、油浴。2. 依阳公司的CTE 101光学高温热膨胀仪，采用的是束缚式竖直试样安装方式，避免了热应力对试样位置偏移的影响，保证了试验的可靠性和测量精度。试样的起始长度自动测量和保存，便于线性热膨胀系数的计算。3. 束缚式竖直式试样安装方式，结合相应的透明容器，可以实现液体、粉体、膏状物和固液相变转换过程中测量。4. 光学投影法具有很强的扩展性，除了可以满足线性位移变形的测量需要外，还可以对面内变形和位移进行测量，这个特点可以实现材料的软化点，球状、半球状及融化温度及粘度的测量，具备了高温显微镜的功能。同时，可以通过扩展光束的方法实现超大尺寸试样的测量。5. 采用了人机界面操作系统，使得整个仪器的集成化程度更高操作更简便，试验数据自动存储在U盘内，也可以通过计算机进行分析处理。6. 在不同的使用温度范围内，采用不同的温度传感器进行温度测量。1400℃以下采用热电偶温度传感器，更高温度将采用红外测试仪。四、应用1. 依阳公司CTE 101光学高温热膨胀仪常温下稳定性性考核试验真空腔体和探测器水冷温度控制设定为20℃，稳定性考核试验4天。 2. 目前国内外光学投影法位移测量应用中存在的误区（1）测试过程中“被测试样处于无接触力状态”的误区目前国际市场上的光学投影法热膨胀仪，被测试样都是水平放置形式，试样安装和固定所采用的方法是简单的将试样直接放置在均匀加热区域内，并不进行任何约束，由此测量的是试样与平行光正交的最大截面内的试样长度。水平放置试样的优点是试样整体的温度相对比较均匀，减少了重力对温度场的影响。但这种均匀并不是绝对的并有前提条件，由于不同试样材料的热导率不同，在温度变化过程中试样上还是照样会存在温度梯度，温度的均匀性只是体现在恒温状态下会更好。在测试过程中，只要试样上存在温度梯度就会产生热应力，而这个热应力往往会使得试样发生无法预料的扭曲和不规则变形，而这些扭曲和不规则变形则会改变被测试样的原始放置位置，体现在测试曲线上就是会产生跳变。如果发生微小的跳变，就说明测试是失败的。根据我们大量的试验发现，这种现象更多的是发生在复合材料和非均质材料的热膨胀性能测量中。依据我们多年的测试经验，任何热膨胀测试过程中，无论试样是水平还是竖直放置，无论是采用顶杆法还是非接触测量方法，被测试样必须进行适当约束，使得试样只在所关心的方向上发生变形，而在其它方向上受到一定的约束。（2）光学投影法测量位移是一种绝对法的误区 光学投影法是基于激光扫描法发展起来的一种测量方法，激光扫描法是通过测量激光扫描速度和激光扫描通过试样两个端面所需要的时间来计算获得试样两个端面的长度。速度和时间的测量可以进行计量校准和标定，可以进行计量溯源，因此，激光扫描法是一种绝对测量方法。光学投影法则是通过平行光投射到试样后所形成的阴影，阴影经过光学系统聚焦后成像到光电探测器上，由光电探测器检测阴影边缘并进行软硬件细分处理后，最终得到两个阴影边缘之间的距离。由此可见，光学投影法测量出的阴影长度是由光学聚焦缩小倍数、探测器物理单元分辨率和软件细分系数等众多物理量相乘的结果，而这些物理量并没有经过任何形式的计量校准，探测器的测量不确定也仅仅是对一个标准量块进行标定获得，而不是用覆盖量程范围的标准量块进行标定。非接触光学方法测试位移和变形的绝对测试方法只有激光扫描法和激光干涉法。

LINSEIS L76系列热膨胀仪的主要应用于陶瓷，瓷器和建材等领域的热膨胀系数测量。此外，它被广泛地用于陶瓷和金属工业的质量控制。 Linseis从1955年开始着手于热膨胀仪的研究和开发。LINSEIS L76系列热膨胀仪通过更换炉体，测量温度可从室温覆盖至1000 ℃， 1400 ℃和1600 ℃。它有石英（高达1100℃）和Al2O3（高达1600 ℃）两种可选的测量系统。采用的是高精度的线性可变差动变压器（LVDT）作为传感器，具有优异的分辨率，加上LINSEIS的32位软件包WIN- TA / WIN- DIL，该膨胀仪为标准质量控制的热膨胀系数测量提供了解决方案。可以测量以下的物理性质：热膨胀系数，线性热膨胀，物理热膨胀，烧结温度，相变，软化点，热分解温度，玻璃化转变温度。型号DIL L76 水平温度范围RT 至 1600°CLVDT:Delta L 分辨率0.05 nm测量范围+/- 2500 μm接触压力50 mN 至 1 NOptical Encoder:Delta L 分辨率:1 nm测量范围+/- 25000 μm样品长度自动检测是压力调节否接触压力50 mN 至 3N多炉体配置可选电加热炉可选气体计量装置手动气体计量或质量流量控制，1/3或更多气路接触压力调整——单杆/双杆热膨胀——软化点检测包含密度测定可选L-DTA:可选速率控制烧结（RCS）：可选热分析数据库可选电恒温探头包含低温附件LN2真空密闭设计——真空装置——OGS吸氧系统：——*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询（021-50550642；010-62237791）。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

耐驰 DIL 402 Expedis Supreme HT 热膨胀仪 应用领域：- 线膨胀与收缩- 玻璃化温度- 致密化和烧结过程- 热处理工艺优化- 软化点检测- 相转变过程- 添加剂和原材料影响- 反应动力学研究 耐驰 DIL 402 Expedis Supreme HT 热膨胀仪 产品特点：- 可提供超高温炉体，使用范围更广泛- NanoEye位移测量系统，实现全量程范围内高分辨率与完美线性度- 全量程范围内接触力可调，可施加极小的接触力，保证样品不受破坏- 可自动测量样品长度- MultiTouch触控设计，确保样品位置稳固- 独特的真空密封炉体，确保样品测量气氛- 丰富的高级DIL测试分析功能扩展 耐驰 DIL 402 Expedis Supreme HT 热膨胀仪 技术参数：DIL 402 Expedis Supreme HT温度范围-180 … 2800°C（不同炉体）灵敏度0.1nm量程±25000μm真空度10-5mbar测试气氛真空、氧化、还原、惰性支架类型石墨、氧化铝、熔融石英样品形态固体、液体、粉末专利功能c-DTA（选配）、谱图检索（Identify）（选配）、速率控制烧结（RCS）（选配）独创的Nanoeye位移传感及载荷控制技术独创的Multitouch技术详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

仪器简介：为了最大限度的提高样品通量，DIL803/803L在卧式热膨胀仪上提供双样品同步操作。DIL803/803L同样可以作为一个差分系统来操作，用惰性参照样品来减少系统膨胀带来的影响，提高动态温度环境下的测量准确度。与TA的可互换的炉子搭配，可以减少实验之间冷却时间，DIL803/803L可以最大限度为任何实验室提高效率。技术参数：传感器：所有TA仪器的卧式热膨胀仪都是采用了最先进的线性可变差动传感器（LVDT）和数字功放技术的高精度仪器。这些传感器都具有很好的热稳定性能，并具有防震动设计用来提高准确度、精确度和耐用性。每一个热膨胀仪都采用了由用户定义的宽的接触力范围（0.02N-1.00N），即使在测量过程中样品有收缩，也能保证有效的接触，可以提高测量的准确性和可重复性。 产品特性：&bull 简单、牢固的设计，易于使用&bull 最佳的温度均匀性&bull 最灵活

耐驰 DIL 402 Expedis Select 热膨胀仪 应用领域：- 线膨胀与收缩- 玻璃化温度- 致密化和烧结过程- 热处理工艺优化- 软化点检测- 相转变过程- 添加剂和原材料影响- 反应动力学研究 耐驰 DIL 402 Expedis Select 热膨胀仪 产品特点：- 多种不同温度的炉体，适用广泛- 可同时安装双炉体- NanoEye位移测量系统，实现全量程范围内高分辨率与完美线性度- 全量程范围内接触力可调，可施加极小的接触力，保证样品不受破坏- 可自动测量样品长度- MultiTouch触控设计，确保样品位置稳固- 独特的真空密封炉体，确保样品测量气氛- 丰富的高级DIL测试分析功能扩展 耐驰 DIL 402 Expedis Select 热膨胀仪 技术参数：DIL 402 Expedis Select温度范围-180 … 2000°C（不同炉体）灵敏度1nm量程±10000μm样品载荷10mN … 3N，可变，可调制（选配）测试模式单样品/双样品，样品长度自动检测支架类型氧化铝、熔融石英、石墨测试气氛真空、氧化、还原、惰性样品形态固体、液体、粉末专利功能c-DTA（选配）、谱图检索（Identify）（选配）、速率控制烧结（RCS）（选配）独创的Nanoeye位移传感及载荷控制技术独创的Multitouch技术详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

耐驰 DIL 402 Expedis Supreme 热膨胀仪 应用领域：- 线膨胀与收缩- 玻璃化温度- 致密化和烧结过程- 热处理工艺优化- 软化点检测- 相转变过程- 添加剂和原材料影响- 反应动力学研究 耐驰 DIL 402 Expedis Supreme 热膨胀仪 产品特点：- 多种不同温度的炉体，适用广泛- 可同时安装双炉体- NanoEye位移测量系统，实现全量程范围内高分辨率与完美线性度- 全量程范围内接触力可调，可施加极小的接触力，保证样品不受破坏- 可自动测量样品长度- MultiTouch触控设计，确保样品位置稳固- 独特的真空密封炉体，确保样品测量气氛- 丰富的高级DIL测试分析功能扩展 耐驰 DIL 402 Expedis Supreme 热膨胀仪 技术参数：DIL 402 Expedis Supreme温度范围-180 … 2000°C（不同炉体）灵敏度0.1nm量程±25000μm样品载荷10mN … 3N，可变，可调制（选配）测试模式单样品/双样品，样品长度自动检测支架类型氧化铝、熔融石英、石墨测试气氛真空、氧化、还原、惰性样品形态固体、液体、粉末专利功能c-DTA（选配）、谱图检索（Identify）（选配）、速率控制烧结（RCS）（选配）独创的Nanoeye位移传感及载荷控制技术独创的Multitouch技术详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

XPY 陶瓷砖线性热膨胀仪仪器简介：本仪器是用于测定陶瓷，石材，耐火材料以及其它固态材料的线性热膨胀系数，适用于陶瓷砖GB/T4100-2015,GB/T3810.9-2016线性热膨胀的测定标准。为工厂技术检验部门中间检测陶瓷及耐火材料制品的质量和科研教学单位提供测试手段。主要技术参数：1．炉温范围：室温—1000℃。2．加热速率：0.1～20K/min，常规速率控制在5K/min以下，特殊要求定制说明。3.升温速度，实验过程控制参数，含PID参数以及通迅方式。由智能仪表实现全过程任意需要调节、设置、锁定。由上位机（计算机）实现参数修改。4．膨胀值测量范围与误差：±5㎜±0.1%，±2.5㎜±0.1%，5．控温精度：±1℃ 温度记录值误差≤±0.5﹪；不同温度其发热元件不同，控温方式不同； 6．测量膨胀值分辨率：1um/digit；7.样品大小：长50mm(max)或25mm，直径： 6～8mm(max)8.样品状态：固体；9.样品支架：石英。10.操作环境：WINDOWS（10/7/xp）操作系统；配置：测试主机一台 测试软件一套 石英标样一根 台式计算机一台

耐驰公司新款热膨胀仪 DIL 402 Expedis Classic 集成了热膨胀测量领域的尖端技术，为宽广应用领域内的专业级的应用而设计。DIL Expedis 系列的所有型号均基于的 NanoEye 测量系统，在测量范围与精度两方面达到了新的高度。NanoEye每一纳米均纳入计算量程与分辨率的新的标杆对于传统的热膨胀仪，测试量程与分辨率这两个参数很难两全：高分辨率只能在很小的量程中实现；如果要得到较大量程，只能牺牲一定的分辨率。新型自反馈光电位移测量系统 NanoEye 克服了这一技术上的矛盾，能够同时提供最高的分辨率、完美的线性度与无以匹敌的宽广量程。 工作原理在测试过程中，当样品发生膨胀时，图中所有的绿色部分将在线性导轨（图中蓝色部分）的引导下向后移动，并由光学解码器测出相应的长度变化。仪器特点一体化设计，使用寿命长DIL 402 Expedis Classic 既可配备为单样品系统，也可配备为双样品/差示系统。仪器为一体化设计，两个版本的主机均已集成了精确测量热膨胀所需的所有硬件。既没有多余的外部电缆，也不需要额外的冷却水浴。Expedis Classic 操作简单而安全，免维护，使用寿命长，工作负担低，保证了使用者生产的顺畅性。该系统的独特的设计使得样品支架的更换十分简单，避免了损坏支架的风险。优越的气密性和隔热设计是保证在预设气氛下得到精确结果的先决条件。气密性设计和集成的气体流量装置能够确保纯净的测量气氛。气体直接穿过测量单元和样品室。样品室的良好的隔热性则避免了由环境造成的温度波动。 操作简单对于新款 DIL 402 的样品测试，使用预设定的测试程序能够简化操作者的测试准备过程。仪器的 MultiTouch 功能能够利用独特的尾式顶样操作获得最正的装样效果。在预设定的接触力下，可对样品的初始长度进行自动测量。炉体的闭合具有缓冲效果，从而保证了样品位置的稳定。DIL 402 Expedis 的热电偶位置可以灵活调整，以适应不同的样品长度。通过导向杆，可将热电偶调整至与样品长短相匹配的合适的位置，无需弯曲热电偶。炉体的更换也十分的简单，无需专门的经验。只需几次点击操作，便能开始测试。接触力控制精确的接触力控制使得操作者能够测试小样品、精细、脆性样品或是泡沫样品，而保证样品不受破坏，或发生不可重复的形变，以及在整个测试过程中保持接触压力的一致性。这一特性使得即使是不同的操作者也能够保证所测样品长度的良好重复性。滑动、滚动摩擦，以及粘滞效应在这个测量系统中都能够被避免。技术参数• 温度范围：RT ... 1150°C/1600°C（不同炉体） • 灵敏度：2nm• 量程：±5000μm• 测试模式：单样品 / 双样品，样品长度自动检测 • 支架类型：氧化铝、熔融石英• 测试气氛：氧化、惰性 • 样品形态：固体、液体、粉末• 专利 c-DTA 功能（选配）• 独创的 Nanoeye 位移传感及载荷控制技术• 独创的 Multitouch 技术 DIL 402 Expedis Classic 软件功能独特的 Proteus7 膨胀仪软件提供了用户所需的一切：运行流畅，提供可靠的结果，快捷高效。它在提供丰富功能的同时，也具有清晰的用户界面。此外，由于它的直观性，所以也十分易学。但是，这还远不是全部。即使是最有经验的操作者，也会为这一软件可提供的众多选件功能而留下深刻印象 -- 特别是密度测量， c-DTA 专利技术，和创新性的识别软件功能。Proteus 软件特殊功能一览• 软化点检测• 软件控制的力的调整（包括：线性力，恒定力，斜变力，步阶力）• 密度测量*• 用于温度校正和检测热效应的c-DTA* 功能• 速率控制烧结 RCS*• 曲线识别*，通过数据库对比识别未知的ΔL/L0曲线*选配密度测量这一插件能够测量样品密度的连续变化，可应用于固体、液体、熔体、粘稠样品（如涂料），以及用于计算各向异性材料的体膨胀。c-DTA 专利*技术c-DTA 信号能够在分析长度变化的同时分析吸放热效应。同时也能够用于温度校正。*专利号 DE102013100686高级软件（对测量数据的扩展分析） • 动力学软件* • 峰分离软件*（用于DIL微分信号的处理）*选配曲线识别 IdentifyIdentify 是业界独创的 DIL 曲线识别技术，包括检索软件、以及内置的多个数据库中成百上千的参考数据，涉及陶瓷、无机、金属、合金、高分子及有机物领域。除了耐驰公司提供的数据库，客户也可自行创建数据库，通过内部网络与其他用户共享。利用曲线识别技术，基于测试曲线的绝对膨胀量、形状及斜率在数据库中进行匹配检索，可以对未知样品进行鉴定分析。也可将某个已知样品作为标准，一批未知样品与其进行比较并评估，以进行质量控制。最后，所有的测试数据都可存储在一个庞大的数据库中，用于后续的样品鉴别或质量控制。曲线识别（Identify）的优势只需轻击一下鼠标，Indentify 便能提供所需信息：• 识别未知的测量曲线• 通过测试曲线与数据库中的标准曲线之间的对比进行质量控制• 对目前的测试和数据库中现有条目的归档功能• 能够轻松地将现存测试添加至数据库DIL 402 Expedis Classic 应用实例 具有高抗冲击性能的低膨胀材料硅酸硼材料具有低膨胀、高度抗冲击等众所周知的特性。此外，这种玻璃制品还具有优异的光学、化学和机械性能，能够应用在植入式医疗器械和太空探索等对产品具有较高要求的领域。下图显示了硅酸硼玻璃在室温至 700°C 之间的热膨胀过程。在 528°C（起始点）时，检测到了样品的玻璃化转变，软化则发生在 631°C。空气气氛，5K/min 升温速率下的热膨胀曲线和一阶微分曲线。预防釉料开裂釉料与基体之间的匹配性差是造成开裂（蛛网式的裂缝布满釉面）的主要原因。导致这种现象产生的重要原因之一是釉料与基体的热膨胀不匹配。为了防止开裂，釉料的热膨胀系数必须小于基体。下图显示的是基体（蓝色曲线）与釉料（红色曲线）热膨胀行为的对比图，在 700°C（略低于釉料的玻璃化转变温度 718°C）时两者膨胀系数之间的差异为 0.02%。釉料的软化发生在 822°C。由于釉的膨胀系数较高，将导致在冷却过程中产生与膨胀成比例的不必要的张应力。釉料和基体的对比图。在一阶微分曲线（蓝色虚线）上，于575°C检测到了石英α晶型→β晶型的转变。测试条件：升温速率 5K/min，空气气氛。瓷器生坯的烧结行为瓷器是一种主要由高岭土、长石和石英等成分组成的陶瓷材料。在高温下（1200°C）烧结坯体中形成的玻璃和莫来石结构会对瓷器的韧性、强度和半透明性造成影响。在瓷器生坯的加热过程中，高岭土的脱羟基过程发生在 450°C 至 570°C 之间，在这个过程中形成了莫来石结构（热膨胀的峰值温度为 467°C（蓝色曲线），对应一阶微分曲线上的峰值温度为 517°C（红色曲线））。在这个温度范围内，由于粘土晶体结构中结晶水的释放从而导致了样品大约 0.4% 的收缩。一阶微分曲线上峰值温度为 572°C 的峰体现了石英α晶型→β晶型的转变。通过进一步观察，在 961°C 发生的效应（蓝色曲线），对应一阶微分上峰值温度为 985°C（红色）的峰是由于高岭土结构的破坏和 γ-Al2O3 的形成[1]。随着长石的完全熔化和莫来石的形成，1159°C 开始的两个烧结步骤的总收缩率为 10.8%。瓷器生坯在空气气氛下（20ml/min），以 5K/min 的升温速率升温至 1250°C，推杆的接触力为 0.01N。

该Linseis L75/HP 高压热膨胀仪大大拓展了热分析的应用范围。该系统可以在温度从室温到1100/1400/1800 ℃，并在该压力达到100/150 bar的环境中测量的材料的膨胀（长度的改变）。此设备是高压膨胀仪。可选用水蒸气发生装置和多气体控制系统。 为了测量数据和拓宽测量范围，可以使用QMS和FTIR对逸出的气体进行分析。耦合后的功能超过单独部件的总和。用户通过LINSEIS耦合技术和综合硬件和软件，采用不同数据库对数据进行分析以得到结果。型号DIL L75 HP / 1 DIL L75 HP/2 温度范围*RT -- 1100°CRT -- 1400/1800°C压力≤150 bar ≤100 bar真空10E-4 mbar10E-4 mbar样品支架熔融石英 1100°C熔融石英 1100°CAl2O3 1750°CAl2O3 1750°C样品长度≤50 mm ≤50 mm 样品直径7/12/20 mm7/12/20 mm可调样品压力≤ 1000 mN≤ 1000 mN测量范围500 / 5000 μm500 / 5000 μm分辨率0.125 nm 0.125 nm可选装置 压力可控混气系统 (MFC′s) 压力可控混气系统 (MFC′s) 气氛 惰性, 氧化性**, 还原性, 真空 惰性, 氧化性**, 还原性, 真空* 取决于不同炉体 ** 不适用于石墨加热炉 *价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

技术参数：DIL0806 A/B材料热膨胀仪系数测试仪 （A为卧式结构，B为立式结构） 主要技术要求： 1 、测量部分： （ 1 ）热膨胀仪的基本系统，外型为立式,卧式结构两种供选择，带有集成一体化的测量放大器和电感位移传感器合金测量头，真空密封结构，恒温水浴保护传感基座，测量头位置可调节；高精度调整接触压力；测量范围：5000 &mu m ；分辨率： 0.1&mu m；测量头的接触压力： 15 &hellip 45cN ；样品长度的可调范围： 25mm-50mm ；样品尺寸和温度范围依赖于选择的样品支架，炉子和保护管；直径5-10mm. 样品支架有石英，刚玉（AL2O3）,石墨等 （ 2 ）高温管状炉子，带有加热器，S 型控制热电偶和风扇，使用的温度范围 ： -196 ℃---200℃，-40-600 ℃，室温---1000℃，室温---1600℃，室温---1700℃， 室温---2000℃等多种规格选择。 （ 3 ）高温管状电炉有气体流动用保护管，带支承法兰； 低温有冷却液氮罐，样品和支架在液氮罐中，由活塞顶杆带动电感位移计的中心抽移动，产生电势差，由放大器放大为电压信号送数据采集装置，再由计算机处理分析。 （ 4 ） 炉子电力供应 2.0kVA ，带机壳； （ 5 ）支架装置样品长度 0 &hellip 50mm ，样品直径5- 10mm ，包含套管，推杆和样品热电偶；（根据温度不同分K,E,R,S,B,钨铼等） （ 6 ）气体出口反向管，带耐腐蚀优质钢的阀门和气体塞头，包括支承物； （ 7 ）恒温循环水浴器，带制冷功能，制冷功率 260W （ 20 ℃ 时）（加热功率 2000W ），温度稳定性 ± 0.01K ，多功能显示，带 10 米 管和联结部件，供电 230V/50/50Hz 。 2 、控制、测量和数据采集： 热分析系统控制仪，用于数据采集和温度控制，包括以下功能块： 双模拟输入，分辨率 +/- 2.000.000 位；输入量经光电隔离；带量程开关前置放大器；；可对不同温度传感器类型进行温度程序编制；线性加热 / 冷却速率可从 0.01 到999.99K/min 间可调，恒温时间段可从 0 到 99 小时 59 分钟之间变化；模拟 PID 温度控制器，带 STC 功能，室温补偿，和热电偶；断开保护；通过外部计算机上的软件能显示温度值和所有功能；连接计算机PCI 或 USB2.0 。 3 、软件系统： （ 1 ）在 MS WINDOWS 10/7/XP， 32 位环境下热分析软件包，用于数据采集，存储和分析。特点：图形用户界面，集成的详细的帮助系统； （ 2 ）可连接至 USB 端口的 PCI板，带 2 米 连接线。

仪器简介：DIL 801和DIL 801L是卧式单样品热膨胀仪，适于最宽温度范围内的测量。DIL801的设计基于对空气、真空或者惰性气体环境下全部温度范围内的线性尺寸变化的测定。DIL 801L用于空气下最高精确度的测试，因此适用于陶瓷材料的表征。技术参数：传感器：所有TA仪器的卧式热膨胀仪都是采用了最先进的线性可变差动传感器（LVDT）和数字功放技术的高精度仪器。这些传感器都具有很好的热稳定性能，并具有防震动设计用来提高准确度、精确度和耐用性。每一个热膨胀仪都采用了由用户定义的宽的接触力范围（0.02N-1.00N），即使在测量过程中样品有收缩，也能保证有效的接触，可以提高测量的准确性和可重复性。 产品特性：&bull 简单、牢固的设计，易于使用&bull 最佳的温度均匀性&bull 最灵活

产品详情德国Netzsch热膨胀仪DIL 402 耐驰热膨胀仪可以精确测量各种材料（如陶瓷、玻璃与建筑材料）在热处理过程中的膨胀、收缩信息。特别是陶瓷材料，在生产过程中粘合剂的烧失、烧结行为及烧结过程中添加剂的影响都可以通过热膨胀仪测得。热膨胀仪还可以用于釉料的研发，例如瓷器在烧制过程中就需要精确掌握釉料的热膨胀匹配。 通过测试热膨胀系数与玻璃化转变温度，可以快速便捷地了解玻璃的变化。在很多情况下，确保相互接触的不同玻璃的热膨胀行为相近非常重要，可以避免应力集中与开裂。 水分含量和相变都会影响建筑材料的膨胀与收缩行为，例如混凝土的膨胀特性会显著影响建筑的静态稳定性与使用年限。 热膨胀仪能够得到样品尺寸的变化信息，如膨胀、收缩和体积变化。几十年来，这种方法广泛应用于工业领域及研究机构。耐驰所有的热膨胀仪都满足各种相关的国际标准，例如DIN EN 821, DINASTM E831, ASTM E228等。 主要技术参数