全自动扫描型射线荧光仪

欢迎来到元素分析的新时代极光Revontium紧凑型X射线荧光光谱仪极光兼具落地式XRF和ICP仪器的性能与台式仪器的诸多优势。极光占用的空间和造成的环境影响更少，减少了对耗材、大量样品制备和维护的需求，使用成本可以降低25%以上。在结果方面，其可提供可靠的元素数据，助力行业的可持续发展。极光特色功能一览具有正压功能的盖子可防止样品污染灰尘静音风冷消除了可能存在的管路溢水风险X射线管的Chi-blue涂层可增强防污染保护可测量多达32个直径为52mm的样品 使用的便利性：全新的全谱解析算法，可实现多材料宽元素范围图谱的全自动解析而无需人工干预，有效提升无标定量和复杂应用的分析结果可靠性；维护的可靠性：无漂移设计，内置多元素自动监控程序，可实现常见应用方法的自动漂移补偿；更高的分析精度：得益于先进的高压发生器、探测器通量、阳极距离补偿和热管理设计，Revontium可实现媲美高功率落地式光谱仪的精密度。

在几秒钟内完成多元素化学成分分析由于时间关键型过程控制或运行样品高处理量，您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析？ 同时测量多达 28 种元素，浓度范围为从 ppm 至 100％，马尔文帕纳科Axios FAST 同步 WDXRF 光谱仪是理想的解决方案。 准确而强大的分析，即使经验不足的员工也可方便地操作，同时正常运行时间长，拥有成本低。快速获得时间关键型应用的结果Axios FAST 元素分析仪只需几秒钟即可获得分析结果，是时间关键型应用和高样品处理量分析环境的理想工具。 主要应用领域包括钢与金属合金生产以及每天需要分析数百样品的地质或商业实验室。 特点高样品处理量凭借高速样品处理和操作可靠性，Axios FAST 同步 XRF 光谱仪是高速分析控制的理想产品。通过转盘结构实现的连续进样168 位 VRC 进样器，带有灵活的托盘装载功能，可实现无人值守的批量分析直接进样可实现快速无错样品装载和数据自动录入的样品条形码读取器增强的性能可同时测量多达 28 种元素，每个样品的测量时间低至 2 秒用于轻元素分析的高灵敏度 HiPer 通道最多可选 4 台测角仪所带来的分析灵活性X 射线阳极材料的范围（Rh、Cr、Mo、Au）为特定应用实现了高性能增强的仪器正常运行时间Axios FAST 专为关键型过程分析而设计，按照高质量标准而制造，运用了大量技术来预防和很大程度减少停机。带有 ZETA 技术的 SST-mAX - 可消除 X 射线管强度漂移并减少校准维护CHI-BLUE X 射线管窗涂层提高了 X 射线管的耐用性和耐腐蚀性主动除尘装置可在测量前将灰尘从样品上去除，从而尽可能防止灰尘进入系统，提升正常运行时间外部装有通道的紧凑型测量室 - 无需影响系统真空环境即可接触关键组件 - 从而可在维护后让系统迅速稳定只需用户进行有限干预的专用软件Axios FAST 使用马尔文帕纳科可靠的 SuperQ XRF 软件的新版本， 即使是欠缺经验的员工，也可以在接受低程度指导的情况下开展例行分析，与此同时软件仍可发挥出足以令用户满意的分析性能和功能。自动化Axios FAST 专门的软硬件接口允许灵活地连接样品传送设备和主机以实现全自动的分析。 Axios FAST 还是结合了直读光谱和 X 射线荧光光谱的 TEAMworks（全元素分析系统）解决方案的基础。 应用用于时间关键型的分析Axios FAST 通过在服务实验室等高处理量环境中进行采矿样品（如铁矿石，镍矿石）的分析，以及在钢铁行业所涉及的各种生产和质量控制应用中进行需要即时开展的样品分析，展现了强大的分析能力。 典型应用包括：低合金钢、铁素体钢和奥氏体钢的宽范围校准，铝合金的宽范围校准，钛合金的宽范围校准，低合金钢分析，不锈钢分析，工具钢分析，铸铁分析和制备为熔片的铁矿石样品分析。

痕量分析 TXRF 光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

CRONO移动式微区X射线荧光光谱仪是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术，可对大型样品进行原位，非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中，元素检测范围从Na到Am，即使在低于2keV或高于25keV时（例如Sn，Sb和Ba k激发）。测量头安装在电动机上，探测器芯片面积50m㎡。电动框架和移动拉杆可以很容易地拆卸运输。若将测量头安装在轻型三脚架上，CRONO又可以变成一款便携式的用于单点测量的便携式XRF。该系统完全非接触式工作，距离样品1厘米，同时由于监测系统的设置，该分析区域将shi终处于控制之下。CRONO拥有两种前端的技术支持。其中CUBE是CMOS前置放大器，同时数字脉冲处理器DANTE可对样品进行快速的实时扫描。CRONO的软件可以控制和查看每一个界面，并实时显示光谱和元素分布图，同时每一个像素点的光谱都被自动存储，报告工具可自动为每个单独检测或整个项目检测生成pdf格式的测量报告。50厘米x 40厘米绘画的元素分布图（左1图）。测量时间：30分钟，线扫描速度：20mm/s，准直器孔径2 mm，X射线管设置50 kV和100μA。从左2图：BaLα，PbLα，CaKα 元素浓度范围从高到低依次是红色，黄色，绿色，蓝色。

X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件（包括 Virtual Analyst），可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块，例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版：水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本：Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案；从连接样品制备装置的简单接口，到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料（铑、铬、钼和金）可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围（线性高达 3.5 Mcps）的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析，对未知材料进行分析，或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩，适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core（能谱核）将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台（最多 209 位）可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染，并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别（固体和液体）条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中，或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案

[ 产品简介 ]蔡司全自动数字玻片扫描系统Axioscan 7 Geo，以可靠、可重复的方式创建高质量的数字化玻片数据。平场复消色差物镜保证极高的图像质量，高度自动化和简易的操作系统，帮助您以快速、高通量地拍摄明场，偏光（多角度偏光，正交偏光和圆偏光），荧光图片。所有的数字玻片图像都可以存储在一个可连接网络的数据库中，您可以随时查看或共享您的数据。借助ZEN软件的机器学习模块可以实现岩石薄片的定量分析，与蔡司扫描电镜进行关联，实现样品的多尺度和多维度分析。[ 产品特点 ]&bull 丰富的观察方式，明场，多角度偏光，正交偏光，荧光等&bull 自动几何校准、色差校准，提供准确可靠的实验结果&bull 自动化操作流程&bull 机器学习分割助力样品的定量分析[ 应用领域 ]&bull 矿物分析，如石英，云母等的鉴别&bull 地质教学，&bull 油气岩石孔隙率分析橄榄岩，明场/圆偏光/线偏光超微化石，偏光

仪器简介：ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器：高频变频方式 额定电压,电流：4kW,60kV-150mA 稳定度：± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水：水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器：可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸：&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面：最大&phi 35mm 样品旋转：30rpm 1次X射线滤波片：4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑：6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝：SC用,F-PC用 测角仪：&theta -2&theta 独立驱动 测角范围：SC、5° -118° ， F-PC、13° -148° 最大扫描速度：1400° /min(2&theta ) 连续扫描：0.1-240° /min 晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构 分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件)：带隔板 恒温化机构：36.5度 记数.控制部分： 重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps 轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机：windows PC 软件： 定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑,扣背景 定量分析：检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点：1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式，可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利)，彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析，NEW SQX软件 12、 全中文界面

仪器简介：Simultix 14是理学公司最新奉献的多道同时分析式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 Simultix 14是多道同时分析式荧光光谱仪，分析速度快，分析精度高。 Simultix 14可以同时最多分析40种元素。 可以对4Be到92U进行分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%。 可以分析材料的领域包括：钢铁、有色金属合金、水泥、化学工业、能源、农业、商品、环境保护等。主要特点：1、 最多可以同时分析40种元素，可以包括1个重元素扫描道、一个轻元素扫描道 2、 高灵敏度、高精度分析 新开发的分光器，高灵敏度、低背景 高计数电路设计，计数率是传统型仪器的2倍，进一步提高高含量区域的分析精度。 接触式样品定位装置，可以消除样品面的定位误差，确保测量数据的重复性。 3、 小型化、超高速 高速样品传送系统(理学专利) 小型化设计，占地面积仅1m2 4、 更加适合超轻元素分析 采用新开发的人工晶体，不仅提高了C、B的分析精度，而且使Be分析成为可能。对数螺旋方式的弯曲晶体，可以大型化加工，灵敏度高于其它弯曲方式 可以选用适合轻元素的X光管 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 5、 确保分析精度 内置恒温化装置，可以保证内部温度不变 更迅速、更可靠的真空装置 X射线光闸，可以延长探测器的寿命 芯线清洗装置，仪器照常运转，根据计算机屏幕进行简单操作，即可准确有效地清洗芯线，保证计数器在最佳状态运行。 气体密度稳定器(GDS)，可使检测器的脉冲高度值保持稳定，对轻元素分析稳定性最为有效 6、 简单易懂、使用方便的软件系统 程序选择画面简单 运行状态显示 多任务、多窗口 自动组选择 定量分析 校正曲线的作成 背景校正 定性分析 7、 出色的保养维护功能 在荧光屏上显示仪器的状态 可以显示故障内容及排除方法 8、 标准8样品进样器ASC8，选件可以提供ASC20、ASC50、ASC100

仪器简介： Simultix 14是理学公司新奉献的多道同时分析式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 Simultix 14是多道同时分析式荧光光谱仪，分析速度快，分析精度高。 Simultix 14可以同时分析40种元素。 可以对4Be到92U进行分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%。 可以分析材料的领域包括：钢铁、有色金属合金、水泥、化学工业、能源、农业、商品、环境保护等。 主要特点： 1、 可以同时分析40种元素，可以包括1个重元素扫描道、一个轻元素扫描道 2、 高灵敏度、高精度分析 新开发的分光器，高灵敏度、低背景 高计数电路设计，计数率是传统型仪器的2倍，进一步提高高含量区域的分析精度。 接触式样品定位装置，可以消除样品面的定位误差，确保测量数据的重复性。 3、 小型化、超高速 高速样品传送系统(理学专利) 小型化设计，占地面积仅1m2 4、 更加适合超轻元素分析 采用新开发的人工晶体，不仅提高了C、B的分析精度，而且使Be分析成为可能。对数螺旋方式的弯曲晶体，可以大型化加工，灵敏度高于其它弯曲方式 可以选用适合轻元素的X光管 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 5、 确保分析精度 内置恒温化装置，可以保证内部温度不变 更迅速、更可靠的真空装置 X射线光闸，可以延长探测器的寿命 芯线清洗装置，仪器照常运转，根据计算机屏幕进行简单操作，即可准确有效地清洗芯线，保证计数器在很好的状态运行。 气体密度稳定器(GDS)，可使检测器的脉冲高度值保持稳定，对轻元素分析稳定性最为有效 6、 简单易懂、使用方便的软件系统 程序选择画面简单 运行状态显示 多任务、多窗口 自动组选择 定量分析 校正曲线的作成 背景校正 定性分析 7、 出色的保养维护功能 在荧光屏上显示仪器的状态 可以显示故障内容及排除方法 8、 标准8样品进样器ASC8，选件可以提供ASC20、ASC50、ASC100

产品详情 FACTORY LAB 多道X射线荧光光谱仪 MXF-2400型：从主元素到杂质元素，可同时无损分析36种元素。（分析范围：4Be，5B，6C～92U）配置4kW（薄窗）的X射线管，提高X光源功率。岛津多道X射线荧光光谱仪MXF-2400是升级型的多道型X射线荧光光谱仪。MXF-2400采用根据X射线荧光分析原理新设计的硬件以及配备丰富软件数据处理装置，全自动进行分析数据的管理，非常适合工程管理、研究使用。可同时分析36种元素，再加上单道扫描型分光器可同时处理48种元素，实现了传统X射线荧光装置难以做到的数ppm级的高灵敏度、高精度分析。 高度自动化的分析，省力省时 适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析，可对多种样品进行从微量到高含量的分析 仅需约1分钟即可完成1个样品中36种元素的定量分析，由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动无人管理分析，可以节省人力与 运行费用。配制单道扫描型分光器，可以进行自动定性分析的元素判别，广泛应用于研究分析。 生产流程的管理分析 可快速获得分析结果，经数据处理后，可进行质量检验、规格判断等，应用于生产管理分析（特别是炉前分析）。 质量控制 迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果（配比计算）作为原料配制的控制数据进行反馈，用于提高质量及稳定质量。 应用领域 钢铁 生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、炉渣、矿石、铁合金、特种钢、表面处理钢板、电镀液 有色金属 铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、贵金属 建筑材料 水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、砖 电子/磁性材料 半导体、光磁盘、磁铁、电池、线路板、电容 化学工业 无机/有机产品、化学纤维、催化剂、涂料、颜料、药品、 化妆品、洗涤剂 石油/煤炭 石油、重油、润滑油、树脂、煤炭、焦炭 农业、食品原料 土壤、肥料、植物、食品 环境样品 工厂排水、海水、河水、大气悬浮粉尘、工业废弃物 纸/纸浆

MXF-2400型 多道X射线荧光光谱仪 FACTORY LAB 多道X射线荧光光谱仪 MXF-2400型：从主元素到杂质元素，可同时无损分析36种元素。（分析范围：4Be，5B，6C～92U） 配置4kW（薄窗）的X射线管，提高X光源功率。 岛津多道X射线荧光光谱仪MXF-2400是升级型的多道型X射线荧光光谱仪。 MXF-2400采用根据X射线荧光分析原理新设计的硬件以及配备丰富软件数据处理装置，全自动进行分析数据的管理，非常适合工程管理、研究使用。可同时分析36种元素，再加上单道扫描型分光器可同时处理48种元素，实现了传统X射线荧光装置难以做到的数ppm级的高灵敏度、高精度分析。 产品信息 高度自动化的分析，省力省时 适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析，可对多种样品进行从微量到高含量的分析 仅需约1分钟即可完成1个样品中36种元素的定量分析，由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动无人管理分析，可以节省人力与 运行费用。配制单道扫描型分光器，可以进行自动定性分析的元素判别，广泛应用于研究分析。 生产流程的管理分析 可快速获得分析结果，经数据处理后，可进行质量检验、规格判断等，应用于生产管理分析（特别是炉前分析）。 质量控制 迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果（配比计算）作为原料配制的控制数据进行反馈，用于提高质量及稳定质量。 应用领域 钢铁 生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、炉渣、矿石、铁合金、特种钢、表面处理钢板、电镀液 有色金属 铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、贵金属 建筑材料 水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、砖 电子/磁性材料 半导体、光磁盘、磁铁、电池、线路板、电容 化学工业 无机/有机产品、化学纤维、催化剂、涂料、颜料、药品、 化妆品、洗涤剂 石油/煤炭 石油、重油、润滑油、树脂、煤炭、焦炭 农业、食品原料 土壤、肥料、植物、食品 环境样品 工厂排水、海水、河水、大气悬浮粉尘、工业废弃物 纸/纸浆

仪器简介：&bull 化学分析用全自动扫描X-射线光电子能谱仪 &bull 180° 半球型电子高分辨率能量分析器以及适用于小面积分析的大角度电子接受系统 &bull 独一无二的32通道检测器和快捷的电子系统用于获得最大的灵敏度和数据采集 &bull 扫描单色聚焦9umX射线源用于快速化学状态图像 &bull 自动双束荷电(电子束和低能Ar离子束)补偿系统 送 &bull 全自动5轴(X, Y, Z, 旋转,倾斜),精密样品台 样品台可以准确地移动到100mm直径样品的任何一点 &bull 计算机控制的100 V到0. 5 kV氩离子枪用于样品表面清洗以及深度剖面分析（包括Zalar Rotation功能）. &bull 在做角分辨XPS分析时候可以自动选择大小接受角度 &bull 具有所有分析功能包括低分辨全范围定性分析, 高分辨定量/化学状态分析, 深度剖面分析,线扫描分析, 化学状态图像分析,自动分析和用户自己设定分析。 &bull PC 计算机RAM为1 Gb，硬盘为160 Gb, 软盘, 可读写CD 以及彩色显示器 &bull 数据处理功能强，如去除本地，平滑化处理, 峰识别, 最小二乘法拟合, 多因子分析法，峰分离，从图像，线扫描以及深度剖析分析中抽出多种化学状态峰 &bull UHV可兼容不锈钢分析室 &bull 360 l/s离子本泵（带有钛升华泵），自动烘烤系统 &bull 操作说明书和维修手册，工具箱. &bull 软件MS Office Professional (英语版). &bull 操作用椅 &bull 操作桌子 &bull 打印机 注: Ulvac-phi将不提供喷墨打印机但是在出厂前将通知所用喷墨打印机型号。技术参数：聚焦扫描式微区X射线光电子能谱仪 技术资料 设备规格以及供货范围 A. 技术指标 B. 安装设置要求 C. 供货范围 设备型号 PHI Quantera SXM 设备商标Scanning X-ray Microprobe&trade 生产地点 日本和美国 检测项目 指标值 系统到达真空 5x10-10 torr Ag样品XPS光电子能量分辨率 Ag 3d 5/2 峰半高宽 FWHM 0.50 eV PET 样品XPS光电子能量分辨率 C1s的O=C-O峰半高宽 FWHM 0.85 eV 最小X射线斑束 9.0&mu m 在x 方向 9.0&mu m 在y 方向 常用X射线斑束 10.0 &mu m @ 1.25 watts 15.0 &mu m @ 2.50 watts 20.0 &mu m @ 4.50 watts X-ray XPS灵敏度和能量分辨率 X-ray Beam Energy Sens. Size Res. 15kcps 10.0 &mu m 0.60 eV 30kcps 15.0 &mu m 0.60 eV 55kcps 20.0 &mu m 0.60 eV 35kcps 10.0 &mu m 1.00 eV 70kcps 15.0 &mu m 1.00 eV 125kcps 20.0 &mu m 1.00 eV 3Mcps High 1.30eV Power Mode 离子枪 最大电流 5.0 &mu A @ 5 kV 离子枪工作时候分析室内压力 5x10-8 torr主要特点： B: 供货范围 PHI Quantera SXM Scanning XPS Microprobe化学分析用全自动扫描X-射线光电子能谱仪&bull 扫描单色聚焦9umX射线源用于快速化学状态图像&bull 独一无二全自动快速进样系统 75mm方形样品台,自动数码照相定位系统，自动样品台进样和传

仪器介绍 理学标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC继承了理学D/max系列X射线衍射仪的特点。 D/max系列X射线衍射仪一直是业界标准，许多X晶体学家伴随着D/max一起成长，D/max也陪伴着晶体学家而发展，D/max系列衍射仪一直是晶体学家的好帮手。 技术参数1. X射线发生器功率为9KW（新型旋转阳极靶） 2. 广角测角仪可配垂直式或卧式 3. 广角测角仪最小步进为1/10000度 4. 广角测角仪配程序式可变狭缝 5. 广角测角仪包括聚焦光路及平行光路，转换方便 6. 高反射效率的石墨单色器 7. 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下） 8. 全自动调整（使用专用调试工具及软件），保证数据标准化 9. 分析软件齐全 10. 附件齐全 主要特点 标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC配上相应的附件，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品的物相分析 6. 织构分析 7. 应力分析 8. 小角散射与纳米材料粒径分布 9. 高温、超高温、低温、超低温、中低温、原位反应、温湿度、充放电、强磁场等在现分析

一、全自动根系扫描分析仪用途：IN-GX02根系分析系统是一套用于洗根后专业根系分析系统，还可以用于根盒培养植物的根系表型分析，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能强大，操作简单，软件可分析植物根系的形态分析及根系的整体结构分布等，广泛运用于根系形态和构造研究。二、全自动根系扫描分析仪原理：IN-GX02根系分析系统利用高质量图形扫描仪获取高分辨率植物根系彩色图像或黑白图像，该扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统，并且在扫面板上预留了双光源校准区域。此外，还配备有不同尺寸的专用、高透明度根系放置盘。扫描时，扫面板下的光源和上盖板中的光源同时扫过高透明度根盘中的根系样品，这样可以避免根系扫描时容易产生的阴影和不均匀等现象的影响，有效地保证了获取的图像质量。本软根系分析软件可以读取TIFF，JPEG标准格式的图像。针对获取的图像，利用插入加密狗解密的软件，对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。三、全自动根系扫描分析仪技术指标：1、配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪。根系反射稿幅面为355.6mm×215.9mm，透扫幅面为320.0mm×203.2mm，最小像素尺寸0.005mm×0.0026 mm。2、可分析测量：（1）根总长；（2）分支频率；（3）根平均直径；（4）根直径中值；（5）最大直径；（6）根总面积；（7）总投影面积；（8）根总体积；（9）根尖计数；（10）分叉计数；（11）交叠计数；（12）根直径等级分布参数；（13）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数。（14）能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。（15）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度、面积、体积等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（可不等间距地自定义）。（16）能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。（17）能用盒维数法自动测根系分形维数。可分析根瘤菌体积在根系中的占比，以客观确定根瘤菌体贡献量。（18）大批量的全自动根系分析，批量保存，对各分析结果图可编辑修正。（19）能做根系生物量分布的大批量自动化估算。（20）向地角分析、水平角分析、主根提取分析特性。（21）各分析图像、分布图、结果数据可保存，并输出至Excel表，可输出分析标记图。（22）仪器有云平台支持，可将分析数据保存到云端随时随地查看。四、全自动根系扫描分析仪图像扑捉系统参数扫描元件: 6线交替微透镜CCD最大幅面: A4接口类型: USB2.0光学分辨率(dpi): 6400x9600dpi最大分辨率12800×12800dpi最小像素尺寸≥0.005mm×0.0026 mm扫描光源白色冷阴极荧光灯CCFL、色彩位数48位扫描范围216×297mm扫描速度反射稿、A4、300dpi：单色11秒，彩色14秒胶片扫描、35mm，2400dpi：正片：47秒，负片：44秒五、全自动根系扫描分析仪标准配置1、植物根系分析系统软件U盘及软件锁1套2、光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪1台3、根系成像盘3个六、全自动根系扫描分析仪其他1、本产品需使用电脑，推荐选配：品牌电脑（酷睿i5九代以上CPU / 16G内存/ 21.5”彩显/无线网卡，4个以上USB2.0口，运行环境Windows 10完整专业版或旗舰版）。2、可选配A3幅面双光源彩色扫描仪。反射稿扫描幅面305mm × 431.8mm，根系透扫幅面304.8mm × 406.4 mm。

全自动高速X射线显微成像系统 SKYSCAN1275简介X射线显微CT是用于材料三维透视的最先进的技术之一，适用于任意材料，任意形状，任意尺寸的样品，无需复杂的样品制备过程。布鲁克作为显微CT行业的开创者，致力于这项技术的研发与推广，前所未有的推出桌面型高分辨率显微CT Plug’n Analyze™ SKYSCAN 1275，使这项技术更加平易近人。仅需按下启动按钮即可启动 μCT 快速桌面解决方案！超高速度、优质图像SKYSCAN 1275 专为快速扫描多种样品而设计。该系统采用一个功能强大的广角X 射线源（100 kV）和高效的大型平板探测器，可以轻松实现大尺寸样品扫描。由于X射线源到探测器的距离较短以及快速的探测器读出能力，SKYSCAN 1275 可以显著提高工作效率——从几小时缩短至几分钟，并保证不降低图像质量。SKYSCAN 1275 如此迅速，甚至可以实现四维动态成像。Push-Button-CT™ 让操作变得极为简单您只需选择手动或自动插入一个样品，就可以自动获得完整的三维容积，无需其他操作。Push-Button-CT 包含了所有工作流程：自动样品尺寸检测、样品扫描、三维重建以及三维可视化。选配自动进样器，SKYSCAN 1275可以全天候工作。灵活易用、功能全面除了 Push-Button-CT 模式，SKYSCAN 1275 还可以提供有经验用户所期待的 μCT 系统功能。所有测量都支持手动设置，从而确保为难度较大的样本设置参数。即使在分辨率低于 5 μm 的情况下，典型扫描时间也在15 分钟以内。无隐性成本：一款免维护的桌面 μCT 封闭式 X 射线管支持全天候工作，不存在因更换破损的灯丝而停机的情况，为您节约大量时间和成本。特点：◇X射线源：涵盖各领域应用，从有机物到金属样品◇标称分辨率（可放大倍数下的像素尺寸）：检测样品极小的细节◇X射线探测器：3 MP （1,944 x 1,536）有效像素的CMOS平板探测器，高读取速度，高信噪比◇样品尺寸：适用于小-中等尺寸样品◇辐射安全：满足国际安全要求◇供电要求：标准插座，即插即用应用实例地质石油和天然气◆测量孔隙网络的性质、晶粒大小和形状◆计算矿物相的3D分布◆对珍贵样品进行 3D数字化，如考古发现◆分析动态过程药品和包装◆测量涂层厚度和活性成分分布◆测量内外尺寸和检测瑕疵◆实现医疗器械的高通量扫描◆检查尺寸最大为◆10 cm x 10 cm x 10 cm的医药包装◆监测和控制金属和塑料组件的质量汽车和电子◆检测金属部件瑕疵◆对连接进行无损评估◆自动分析制造组件◆在线运行系统高通量和四维断层扫描◆将时间、力或温度作为三维研究的第四个维度◆在压缩和拉伸阶段进行原位力学测试◆多孔介质中的流体流动、结晶化、溶解及其他过程的动态可视化◆在非大气条件下检测样品

应用领域全自动叠片电池TDI线扫X光检查机通过X-RAY发生器发出X射线，往厚度方向扫描电池，射线穿透电池由TDI线扫探测器接收射线，依次获取畸变小的中心区域图像。通过电脑相关软件对图像进行处理并自动分析和判断，确定良品和不良品，并将不良品挑选出来。TDI线扫一次检测范围广，成像畸变小，对电池层数没有限制。设备功能和原理介绍 全自动叠片电池TDI线扫X光检查机通过X-RAY发生器发出x射线，穿透电池内部，由线扫平板接收 射线并成像和拍照。通过电脑相关软件对图像进行处理并自动分析和判断，确定良品和不良品，并将不良品挑选出来。 设备参数：项目技术参数XG5200D光管光管电压Max 130 kV光管电流Max 300-309uA聚焦尺寸5-7um成像系统类型TDI线扫检测精度重复测试精度60μm效率检测效率≥14ppm误判率≤2%漏判率0.0%产品优率≥100%安全标准国际辐射安全标准≤1usv/hr电源AC380V/50HZ温度和湿度温度23 ℃±5 ℃相对湿度：≤60％RH

日本理学Rigaku Simultix 同时型波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪产品描述40 多年来，Rigaku Simultix 同步波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量和精度的行业（例如钢铁和水泥）过程控制的元素分析工具。近 1,000 台 Simultix 波长色散X射线荧光光谱仪已交付给全球客户。随着这些年的技术进步，客户的要求也变得先进和多样化。Simultix 15 波长色散X射线荧光光谱仪专为满足这些不断变化的需求而开发。它提供了显着改进的性能、功能和可用性。紧凑而智能的 Simultix 15 是一款功能强大的元素分析工具，在许多工业领域都表现出卓越的性能。XRF 用于快速、精确的元素分析分析几乎任何样品基质中的铍 (Be) 到铀 (U)。自动化过程控制最重要的指标是精密度、准确度和样品吞吐量。Simultix 15 波长色散X射线荧光光谱仪具有多达 30 个（和可选的 40 个）离散和优化的元素通道和 4 kW（或可选的 3 kW）X 射线管功率，可提供无与伦比的分析速度和灵敏度。结合功能强大但易于使用的软件，具有广泛的数据简化功能和维护功能，该仪器是完美的元素分析计量工具。完全自动化的 XRF 元素分析对于高吞吐量应用程序，自动化是一项基本要求。Rigaku Simultix 15 波长色散X射线荧光光谱仪可配备 48 位自动进样器 (ASC)。对于全自动化，可选的样品加载单元提供来自第三方样品制备自动化系统的右侧或左侧传送带进料。通过同步 WDXRF 进行元素分析特征合成多层，RX-SERIES新型合成多层晶体“RX85”产生的强度比现有的 Be-Ka 和 B-Ka 多层晶体高约 30%。 XRD通道Simultix 15 配备 XRD 通道，可以通过 XRF 和 XRD 进行定量分析。双曲面水晶可选的双曲面晶体可以配备到固定通道。与单曲面晶体相比，双曲面晶体的强度增加。改进的软件易于使用Simultix 15软件采用与ZSX软件相同的定量分析流程条，增强了定量条件设置的可操作性。重型和轻型扫描测角仪可选的宽元素范围测角仪支持无标样半定量（FP），可用于非常规元素的定性或定量测定。微量元素的 BG 测量固定通道的可选背景测量 (BG)，从而改进校准拟合和卓越的精度。自动压力控制 (APC)可选的 APC 系统在光学室中保持恒定的真空度，以显着提高轻元素分析精度。定量散射比法当使用康普顿散射比法进行矿石和精矿分析时，可选的定量散射比法生成用于散射比校准的理论 alpha。多达 40 个固定频道 标准的 30 个固定通道配置，可以选择升级到 40 个通道。自动化可选的样品加载装置提供来自第三方样品制备自动化系统的传送带进料。

PHI简介ULVAC-PHI为全球超高真空表面分析仪器供应商的ling导者，ULVAC-PHI创新的X射线光电子能谱技术（xps）、俄歇电子能谱技术（AES）、二次离子质谱技术等为客户在材料分析方面提供全面且du一无二的解决方案。所提供的仪器：X射线光电子能谱仪、俄歇电子能谱仪、动态二次离子质谱仪和飞行时间二次离子质谱仪，可解决客户端广泛的表面分析问题。主要应用在纳米技术、微机电、存储介质、生化材料、药物化学、家属、高分子、有机电子等领域。X射线光电子能谱分析（XPS）是用X射线照射固体表面，测定表面深约10nm激发的光电子能谱图，来获取表面组成及化学结合状态的分析方法。PHI X-tool产品特点：卓越的操作性并支持多国语言的分析软件： PHI X-tool软件支持简单直观的触摸屏操作，及全部的XPS测定操作； 用户可从手动操作到自动操作（自动定性、定量、分析及完成报告）； 操作性强，无论是否有经验，均可完成测定 另，采用平板电脑，实现了智能的操作环境自动测试及自动报告： 具备分析点的Auto-Z自动对中功能（高速自动的高度调整），绝缘样品的全自动中和功能 实现测定位置的设定，未知样品的测定及分析PHI独有的zui先进的硬件配置 独有的扫描微聚焦X射线源（专利），分析面积在20μm~1.4mm 采用低能电子和Ar离子同时作用绝缘体表面，实现自动电荷中和（专利） 高性能的浮动Ar离子枪实现了高速度低损伤的深度分析

工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。 咨询或索取详细产品资料，请联系越联仪器工作人员。 广东越联仪器有限公司---德国蔡司一级代理商。产品：工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪

产品介绍 仅需按下启动按钮即可启动 μCT 快速桌面解决方案！超高速度、优质图像SKYSCAN 1275 专为快速扫描多种样品而设计。该系统采用一个功能强大的广角X 射线源（100 kV）和高效的大型平板探测器，可以轻松实现大尺寸样品扫描。由于X射线源到探测器的距离较短以及快速的探测器读出能力，SKYSCAN 1275 可以显著提高工作效率——从几小时缩短至几分钟，并保证不降低图像质量。SKYSCAN 1275 如此迅速，甚至可以实现四维动态成像。Push-Button-CT™ 让操作变得极为简单您只需选择手动或自动插入一个样品，就可以自动获得完整的三维容积，无需其他操作。Push-Button-CT 包含了所有工作流程：自动样品尺寸检测、样品扫描、三维重建以及三维可视化。选配自动进样器，SKYSCAN 1275可以全天候工作。灵活易用、功能全面除了 Push-Button-CT 模式，SKYSCAN 1275 还可以提供有经验用户所期待的 μCT 系统功能。所有测量都支持手动设置，从而确保为难度较大的样本设置最佳参数。即使在分辨率低于 5 μm 的情况下，典型扫描时间也在15 分钟以内。无隐性成本：一款免维护的桌面 μCT 封闭式 X 射线管支持全天候工作，不存在因更换破损的灯丝而停机的情况，为您节约大量时间和成本。特点：X射线源：涵盖各领域应用，从有机物到金属样品标称分辨率（最大放大倍数下的像素尺寸）：检测样品极小的细节X射线探测器：3 MP （1,944 x 1,536）有效像素的CMOS平板探测器，高读取速度，高信噪比样品尺寸：适用于小-中等尺寸样品辐射安全：满足国际安全要求供电要求：标准插座，即插即用

欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息、下载文件！C9750 的相关产品搜索X射线线阵扫描相机 C9750-20TCN产品型号：C9750-20TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10TCN产品型号：C9750-10TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10FCN产品型号：C9750-10FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-05FCN产品型号：C9750-05FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCD产品型号：C9750-27FCD，产品名称：C型X射线线阵相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCC产品型号：C9750-27FCC，产品名称：C型X射线线阵相机

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

德国ZEISS公司生产的METROTOM系列工业CT,高精度工业CT断层测量机,先进的技术,工业CT价格咨询,工业CT技术服务都可以联系越联公司基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）工业CT，X射线工业CT断层扫描测量仪利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。

用于薄膜评估的波长色散X射线荧光光谱仪同时对各种薄膜的薄膜厚度和成分进行无损、非接触式分析这是一种波长色散X射线荧光光谱仪（WD-XRF），可以以非破坏性和非接触方式同时分析尺寸达~200mm的晶圆上各种薄膜的厚度和组成。 XYθZ驱动样品台（专利方法）可以精确分析各种金属膜，避免衍射射线的影响。 4kW大功率X射线管可实现超轻元素的高精度分析，例如BPSG薄膜的痕量元素测量和硼分析。 还支持C-to-C运输机器人（可选）。 它配备了自动校准（全自动每日检查和强度校正功能）。支持微量元素的浓度和成分分析适用于从轻元素到重元素的各种元素： 4是~92U高灵敏度硼检测仪AD-硼我们不断开发新的光学系统，例如提高硼分析能力，以提高分析的准确性和稳定性。 此外，降温机构和真空度稳定机构是稳定的标准设备。X-Y-θ 驱动级 X-Y-θ驱动样品台和测量方向设置程序可以在整个晶圆上精确测量薄膜厚度和成分分布。 铁电薄膜也不受衍射光束的影响。应用半导体器件BPSG，SiO2四3N4、・ ・ 掺杂多晶硅（B，P，N，AS）， Wsix、・ ・ Al-Cu， TiW， TiN、TaN， PZT， BST， SBT， ・ ・ MRAM、・ ・ 金属膜 W， Mo， Ti， Co， Ni， Al， Cu， Ir， Pt， Ru， ・ 磁盘 CoCrTa， CoCrPt， DLC， ・ NiP， ・ 磁光盘 Tb-FeCo， ・ 磁头 GMR， TMR， ・ 广泛的固定测角仪产品阵容我们根据膜厚和膜结构提供最合适的固定测角仪。 我们还在准备一个专用的光学系统，可以分析硅晶圆上的Wsix薄膜。全自动日常管理功能自动校准为了获得准确的分析值，必须对仪器进行正确校准。 为此，必须定期测量检查晶圆和PHA调整晶圆作为管理晶圆，以保持设备的健康状况。 这种常规校准工作是完全自动化的，减少了操作员的工作量。 这就是AutoCal功能。与 C-to-C 自动输送兼容除了开放式暗盒外，还支持 SMIF POD。 兼容200mm以下的晶圆。 此外，还可以与主机进行SECS通信，并支持各种CIM/FA格式。紧凑节能设计主机占地面积1m2下面的紧凑型设计。 无油变压器的使用也使辅助设备更加紧凑和节能设计。同时评估薄膜厚度和成分 适用于所有薄膜类型支持小于 200 mm 的晶圆和介质盘高分析性能、准确性和稳定性获得专利的XYθZ驱动样品台，可获得准确的XRF结果高灵敏度硼分析（带AD硼通道）使用可选的 C 到 C 自动加载器进行自动校准无油变压器X射线发生器功耗比以前的型号低 23%规格/规格产品名称WDA-3650技术同步波长色散X射线荧光光谱仪（WD-XRF）用最大 200 mm 晶圆的多层堆叠的厚度和成分科技4 kW X 射线发生器，带 XYθ 样品台，Rh 阳极 WDXRF主要成分多达 20 个通道，固定类型（₄ Be 至 ₉ ₂ U），扫描类型（₂ ₂ Ti 至 ₉ ₂ U）选择灵敏的AD-硼通道，使用C-c-C自动加载器进行自动校准控制（电脑）内置电脑，微软视窗® 操作系统车身尺寸1120（宽）x 1450（高）x 890（深）毫米质量600公斤（主机）权力三相 200 VAC 50/60 Hz、30 A 或单相 220-230 VAC 50/60 Hz 40 A

技术参数 主要特点1、用于蓝宝石加工，全自动X射线单晶定向2、直接将GOX单晶定向仪放在滚磨机上，加工后，直接自动决定OF参考面3、通过机械手，可以自动加蓝宝石棒料 仪器介绍日本理学集团公司是世界上最著名的X射线分析仪器制造厂家

应用领域：全自动TDI线扫X光检查机主要应用于锂电行业圆柱型电池的在线或离线全自动检测。 设备功能和原理介绍：全自动TDI线扫X光检查机通过X－RAY发生器发出X射线，穿透电池内部，由线扫探测器接收X射线并成像和拍照。通过电脑相关软件对图像进行处理并自动分析和判断，确定良品和不良品，并将不良品挑选出来。 检测流程：入料拉带与前工序对接，（前工序拉带速度匹配入料拉带）。待测（圆柱电池+托杯）放入投入装置中，电池在检测拉带匀速运动至检测工位，经X射线照射电池，由成像系统和判断系统来测定正负极片的对齐度，将测定值与预设值进行比较，判断电池是否合格。测试完成后，电池进入中转拉带，然后进入分料盘快速分料， OK电池由OK拉带流出对接下一工序拉带，NG电池由NG拉带流出，并缓存（缓存数量最多100PCS）。 设备参数：项目技术参数XG5600光管光管电压Max 130 kV光管电流Max 300-309uA聚焦尺寸5-7um成像系统类型TDI线扫检测精度重复测试精度60μm效率检测效率≥120ppm误判率≤3%漏判率0.0%产品优率≥99.5%安全标准国际辐射安全标准≤1usv/hr电源AC220V/50HZ温度和湿度温度23 ℃±5 ℃相对湿度：≤10％RH

特性--在线检测，检测宽度达221 mm--高分辨率、高灵敏度： 4608 (H)×128 (V)--读出速度快，2×2拼接下约为36.8 m/min--12位数字输出，高信噪比--Camera Link 接口（基本配置）--+15V单电源工作--实时暗电流/阴影校正功能--针对简易安装校准的帧读出模式 原理时间延迟积分(Time Delay Integration)扫描技术用于通过帧转移设备对移动物体获得持续的视频图像。通过控制一群线性阵列组合对物体的运动进行同步。这样，当图像从一行移动至下一行时，积累起来的电荷也随之移动，相比于线扫描相机能够在更弱的光强下提供更高的分辨率。应用--PCB检测--电池检测--表面贴装器件检测--高分辨率非脱机无损检测测量示例BGA的空洞检测传统方式的BGA空洞检查需要拍摄详细的切片图像，并需要使用大型的三维CT设备。使用三维CT的检测方式，由于零部件会受到大量辐射，因此会出现一些IC零部件被损坏的可能性。使用TDI相机的检测方式，X射线的照射范围将局限在扇形的狭窄区域，只要被测物体在此区域高速移动即可完成检测，从而大幅降低对于电路板的辐射量。由于具有卓越的信噪比性能，即使在低能量的照射下也能分辨出有无空洞。通过缩小X射线的照射区域，减少从检测设备中泄漏的辐射量，这将有利于设备本身的小型化。焊锡背面的焊缝检测如果在印刷电路板零部件的背面焊接中出现焊接不良，如稍有震动焊接处将会脱落从而引起接触不良。由于传统的检测方式为X射线透射的方式，因此只能在离线的状态下进行检测。通过TDI检测方式就能取得高速高灵敏度的一维分析数据，并且只要在所获取的一维数据中设定阈值就能实现在线状态的不良检测。一维数据可通过软件编辑把不同亮度信息显示为三维图像。锂离子电池检测使用2D传感器时，由于在X射线辐射的边缘处图像的畸变，无法准确进行尺寸的测量。长度长的样品需要放置在X射线源的中央，因此每次采集都需要重新放置样品。X射线TDI相机通过采用线扫描方式实现了无畸变的图像采集，因此无需重置样品，可以对长度长的物体进行连续不间断地检测。规格表型号C12200-321闪烁体FOS（闪烁体型光学纤维面板）推荐使用范围约25 kV~ 90 kVX射线容限130 kV，80 μA (max.)像素数4608 (H)×128 (V)有效像素数4608 (H)×110 (V)像素尺寸48 μm×48 μmX射线敏感区域221 mm (H)×6 mm (V)CCD像素时钟5.0 MHzTDI线速率Max.8.0 kHz (23.04 m/min)TDI线速率控制外部模式或内部模式A/D转换器12位外部控制接口Camera Link基本配置像素时钟40.0 MHz(Camera Link)A/D增益0 dB~ 14 dB (64 阶)*2电源DC+15 V(±1 V)功耗最大40W外形尺寸图（单位：mm）像素之间的死区C12200-321在芯片之间有死区。死区对X射线图像的影响取决于测量条件诸如X射线放大倍率和X射线源焦点尺寸。

德国弗莱贝格仪器Quatrz XRD——石英晶体X射线衍射仪主要应用于对石英棒、硅片和坯料进行生产质量控制。而根据样品对象的不同，Quatrz XRD可以分为Quatrz Bar XRD、Quatrz Wafer XRD和Quatrz Blank XRD，即全自动石英棒定向仪、全自动石英晶圆盘分析仪和全自动石英晶片分选仪三种型号。全自动石英棒定向仪▼ 样品：石英棒特点：完全自动化的吸收和校准石英棒自动上胶转接器板校准精度：±0.5°(AT & TF)全自动石英晶圆片分析仪▼样品：圆形，长方形和正方形4 x 4毫米至80 x 80毫米(人工处理样本)20 x 20毫米至80 x 80毫米(自动样本处理)特点：空间质量检查的映射图选项模块化设计，支持未来的自动化升级用于输入/输出的标准样品盒：盒式或叠式可用排序函数产量：在标准分选精度下，可高达350片/小时全自动石英晶片分选仪▼样品：圆形，长方形和正方形4 x 4毫米至12 x 12毫米(手工处理样本)1.5 x 1.5毫米至3.0 x 6.0毫米(自动化选项一)4.0 x 4.0 mm至9.0 x 9.0 mm(自动化选项二)特点：质量分组：±7.5 arcsec吞吐量：在标准分拣精度下，每小时可处理高达1000个晶片

技术参数：分析对象:4Be-92U 分光系统:波长色散式 X射线发生部 X射线管:端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器:高频变频器方式 额定电压,电流:4kW,60kV-150mA 稳定度: 正负0.005%(对于正负10%输入变动) 冷却水:水冷冷却水(内置) 分光部 样品交换机:从12,24,36,48样品4种中选择一种 样品尺寸:51mmx30mm(H) 分析样品面:最大35mm 样品旋转:30rpm 1次X射线滤波片:4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑:6种自动交换机构(35,30,20,10,1,0.5) 发散狭缝:3种自动交换机构(标准分辨率,高分辨率,超轻元素用(选件) 接受狭缝:SC用,F-PC用 测角仪:独立驱动 测角范围:SC5-118度 F-PC:13-148度 最大扫描速度:1400度/min 连续扫描:0.1-240度/min 晶体交换:10晶体交换 分光晶体:标准:liF(200),Ge,PET,RX25 选件:LiF(220),RX4,RX9,RX40,RX45,RX61,RX75,RX80,RX61F,TAP 真空:双真空室(双真空泵),粉末样品附件(选件) 氦气置换机构:带隔板 恒温化机构:36.5度 记数.控制部:重元素用:SC,记数线性:1000kcps,轻元素用,芯线加热自动清洗 衰减器:IN-OUT自动切换 硬件:计算机:windouws PC 软件:定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景) 定量分析:检量线法JIS法,各种基体校正,无标样分析法)EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择,谱峰分离,定精度测试,E-mail传送功能,多功能标准样品 其它为选件 维护功能:自动PH调整(PAS),全自动芯线清洗,自动老化,自动诊断,远程诊断主要特点：硬件: 采用新光学系统 1新型分光晶体,大幅度提高轻元素的灵敏度. 超轻元素对应的X射线光管(4kW,30薄窗) 48样品交换器 1次滤波片 双真空,双泵 粉末附件,防止污染真空泵 定点分析:最小直径500,MAPPING分辨率100 节省空间,节能 软件 新的SQX软件 委托分析EZ扫描 定角度测试模式 应用摸板 散射线FP法 流程条 其他软件 应用软件包