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荧光射线镀层膜厚测量仪
仪器信息网荧光射线镀层膜厚测量仪专题为您提供2024年最新荧光射线镀层膜厚测量仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括荧光射线镀层膜厚测量仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的荧光射线镀层膜厚测量仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合荧光射线镀层膜厚测量仪相关的耗材配件、试剂标物,还有荧光射线镀层膜厚测量仪相关的最新资讯、资料,以及荧光射线镀层膜厚测量仪相关的解决方案。
荧光射线镀层膜厚测量仪相关的方案
X射线荧光分析仪测量镀层厚度
奥林巴斯VANTA手持式光谱分析仪(HHXRF)的镀层模式能够分析多层镀层材料,基体可以是任何类型的材料,不局限于金属。
生物医疗设备涂层应用-Filmetrics 膜厚测量仪
Filmetrics 膜厚测量仪的卓越技术,Filmetrics膜厚测量仪提供了范围广泛的测量生物医疗涂层的方案。支架: 支架上很小的涂层区域通常需要显微镜类的仪器。 我们的 F40膜厚测量仪 在几十个实验室内得到使用,测量钝化和/或药物输送涂层。我们有独特的测量系统对整個支架表面的自動厚度测绘,只需在测量时旋轉支架。植入件: 在测量植入器件的涂层时,不规则的表面形状通常是唯一挑战。 Filmetrics 提供这一用途的全系列探头。导丝和导引针: 和支架一样,这些器械常常可以用象 F40 这样的显微镜仪器。 用 F42 可以进行显微区域内厚度的两维测绘。导液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可见光谱不透明性决定了 F20-NIR 是这一用途方面全世界众多实验室内最受欢迎的仪器。
【设备更新】纸张厚度测量仪检测印刷纸的单层厚度
三泉中石生产的纸张厚度测量仪CHY-U适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。本文借助纸张厚度测量仪CHY-U测试纸张的厚度。
【天研】涡流涂镀层测厚仪工作原理及使用方法介绍
涡流涂镀层测厚仪分体N1型探头,检测非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。
EDX在钢帘线镀层分析中的应用
本文建立了使用能量色散X射线荧光法对钢帘线镀层成分和镀层附着量进行分析的方法,通过与化学分析结果进行比对,具有较好的吻合度。该方法消除了钢帘线形貌不规则对镀层分析准确度的影响。 X射线荧光法具有分析速度快、准确率高、操作方便等特点,适合对钢帘线镀层成分和镀层附着量进行检测。
EDX分析柔性线路板的镀层厚度
电子电气产品正在往轻量化、小型化、可折叠、便携带等方向发展,例如OLED柔性显示屏技术、可折叠、可穿戴新型电子装备等等。柔性线路板体积小、重量轻、厚度薄,可弯曲的优点,可以满足OLED产品的特点要求,是关键支撑技术之一。柔性线路板上的金属镀层、连接线等的质量,会影响到使用性能。能量色散型X射线荧光分析仪可以检测柔性线路板的金属镀层厚度、镀层构成元素成分,具有分析速度快,分析灵敏度高的优点。
通过SFT9500、SEA1200VX对化学Ni镀层中的Pb进行测量
化学Ni镀层在塑料和陶瓷等绝缘体的材料中也能进行镀层处理。除Ni-P之外、也有Ni-B等的镀层,Ni-P镀层使用较为广泛。这个镀层虽然有良好的功能性,但是电镀液的稳定剂里使用了含有Pb等的重金属物质,由于近年来对应RoHS指令,要求了对镀层中的Pb等限制物质进行管理。另外,Ni-P合金的电镀层也要求对P的浓度进行测量。可使用X射线荧光分析仪进行产品管理,所以介绍一下这方面的测量例子。
西林瓶壁厚底厚测量仪
西林瓶是一种常见的药品包装形式,作为制药行业中不可或缺的一部分,药用玻璃瓶广泛应用于药品的生产和储存。作为常用的药品包装材料,对于确保药品质量和安全至关重要。而西林瓶壁厚底厚测量仪则是确保西林瓶制品质量符合标准的重要质检工具。
接触角测量仪---如何方便地测量墨水、油墨、涂料等的接触角和表面张力
接触角测量仪测量墨水、油墨、涂料和其它难清洗或需要经常更换的液体时,通用的方便办法是采用一次性注射器,测量完成后直接丢弃。而LAUDA Scientific接触角测量仪可以采用一种更方便的办法进行测量,即采用一次性锥形管进行测量。
科众精密-接触角测量仪在薄膜行业的应用,货发深东莞横沥
作为专注于薄膜产品的厂家,我们始终致力于为客户提供薄膜表面测试和解决方案。经过严格筛选和测试,终于联系到了科众精密仪器,对试用了他们的水接触角测量仪超过三个月,以确保能够获得准确、可靠的测试结果。KZS-20测量仪器具有完备的性能和合理的软件技术,旨在满足薄膜产品测试的各项需求。无论是表面润湿性能、涂层质量还是薄膜材料的各项性能测试,水接触角测量仪将成为得力助手。它提供简单易用的操作界面,精准的测量结果以及快速的响应速度,能够高效地进行各项测试工作。
QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
科众精密仪器-自动款接触角测量仪测试薄膜样品的解决方案
针对使用水和乙二醇测量薄膜材料的接触角测量仪,可以提供以下解决方案:仪器选择: 选择一台全自动接触角测量仪,确保其具备高精度、稳定性和可靠性。该仪器应具备液滴放置、图像采集和接触角计算等功能,以便进行测量和分析。
真空等离子处理后的接触角度,接触角测量仪测试数据-晟鼎精密
晟鼎现在的设备能做到较好的疏水效果,能满足大部分疏水要求的客户需求,但少数防水等级要求高的客户则需要改进设备。通过接触角测量仪和等离子镀膜的整体应用,用严谨的方法进行测试,向大家阐述表面性能处理方案的解决和实操办法。
CA200接触角测量仪在细胞培养皿TC处理后的效果检测
CA200接触角测量仪在细胞培养皿TC处理后的效果检测
如何测量薄膜类样品的水滴角,水滴角测量仪推荐
使用两种测量技术不进行接触角的测量,通常情况下,在水滴转移后(60 正负10)S内进行接触角的测量,若另有规定,则按食品说明中有关水滴角转移和测量的在最大有效时间来进行测量。1 调整量角器指针合其与度样表面的水滴相切,从而直接用量角器测量接触角。2 用接触角测量仪中的微分圆法或者微分椭圆法,通过水滴图像测量接触角。
【天研】磁性涂镀层测厚仪主要功能及作用
磁性涂镀层测厚仪采用磁性测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室,也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。
应用于CMM三坐标测量仪上的粗糙度测试仪——测试CMM三坐标测量仪上样品的粗糙度和轮廓
用于CMM的小型的粗糙度测量仪,可大幅度地降低测量成本。miniprofiler是现行最小的粗糙度测量设备。体积小、重量轻、测量速度快,使用各种形状的工件,特别适合在线测量。
晟鼎接触角测量仪-广西大学薄膜接触角测量案例
测试材料较为疏水,使用晟鼎的SDC100接触角测量仪能顺利准确测量,晟鼎具备疏水材料测量的专用配件,而且具备微分椭圆法进行疏水材料的接触角分析算法用户使用晟鼎产品解决的问题:测量了太阳能电池薄膜材料的润湿性能,量化判断薄膜材料间的润湿效果。
X射线荧光光谱仪测定浮法玻璃渗锡量
将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中,理想的情况是玻璃经平面成型抛光,从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡,成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大,且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化,形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数,通过波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃,X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息,进而算出较为通俗的厚度计量单位(ug/cm2),适用于玻璃表面的锡层厚度分析,从而达到快速控制生产的目的。
ST400D光学溶氧测量仪对啤酒溶解氧含量的测量方法
奥豪斯ST400D光学溶氧测量仪采用目前最先进的荧光技术,相比传统极谱法、原电池法,不需要电解液,不需像电化学电极一样更换膜,或者预热操作;样品不需要搅拌即可测量,操作和维护简单;产品经久耐用,寿命更长。测量范围可达0.00~20.0 ppm,分辨率高达0.01 ppm。针对溶解氧随温度、气压变化大的特点,ST400D内置温度和气压补偿,可及时修正温度、气压变化导致的溶解氧误差。
利用金相显微镜测量微米级膜层厚度
金相显微镜主要用于金属的相结构分析。也可以利用各种平面分析系统进行膜层的厚度测量,并且精度很高,最小误差约为±0.8μm,可作为金属镀层和氧化膜层的仲裁测量。
达因特表面处理方案:经过等离子清洗样品后,用接触角测量仪量化处理效果
达因特表面处理方案:经过等离子清洗样品后,用接触角测量仪量化处理效果:通过前面的实验,我们可以看出清洗前后的角度变化很大,由原来的 90° 降到 9° ,效果非常的明显,此时如果进行下一道工艺,那么他的效果会最佳,如果实验环境更好,那么实验的效果会更加,时效将会更长。
铈对化学沉积Co-Ni-B合金镀层结构的影响
研究了稀土Ce对化学镀C0-Ni-B合金层组织结构的影响。采用x-射线衍射仪、电感耦合等离子发射光谱仪、透射电镜和原子力显微镜考察了合金镀层的成分、结构和表面形貌。 只做学术交流,不做其他任何商业用途!版权归原作者所有!
如何使用涂层测厚仪检测机械上涂镀层厚度的实验操作步骤
如何使用涂层测厚仪检测机械上涂镀层厚度的实验操作步骤
粉末压片-X射线荧光光谱法测定高炉渣中主次组分
将自制的高炉渣控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对高炉渣中主次组分的X射线荧光光谱分析。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定烧结矿中主次组分
将自制的烧结矿控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对烧结矿中主次组分的X射线荧光光谱分析。
涂镀层厚度及其成分检测解决方案
XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪,该产品采用进口定制Fast-SDD探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法,无需标样,可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器,电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
科众精密仪器-接触角测量仪,量化电解液到电池薄膜的接触角,解决方案
科众精密仪器-接触角测量仪,量化电解液到电池薄膜的接触角,解决方案
粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁元素
本文将自制的铁矿石控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立TFe元素校准曲线,实现对铁矿石中铁元素的X射线荧光光谱分析。此法分析铁矿石样品,荧光分析值与化学值对比能够达到± 0.30以内,满足矿山开采过程中快速分析的需求。
天津兰力科:稀土La 对电沉积Ni2P 电磁屏蔽镀层组织结构的影响
借助等离子发射光谱仪、电子能谱仪、X2射线衍射仪、透射电子显微镜和扫描电子显微镜等分析了稀土La对电沉积Ni2P 合金镀层的化学成分、晶体结构和表面形貌的影响。结果表明:在电沉积镀液中添加少量稀土La ,改变了电极界面双电层结构,使镀层表面更为平整 稀土元素La 进入镀层后,微晶态结构的Ni2P 合金转变成了非晶态结构的Ni2P2La 合金。
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