荧光射线镀层膜厚测量仪

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我是搞电镀的,请问那位专家知道电镀镀层内应力在线测量仪器?

求助大神，我们这一台菲希尔的XDV-µ 镀层厚度测量仪，买了不到一年就开始经常打不开高压，代理商总是说脏灰尘要清洁。刚出保一个月又打不了高压，工作人员清洁和转动了下快门马达？？然后能上高压了。但光谱不正常，像条形图。供应商说探测器被搞坏了；他们说吹口气都会坏；[color=#cc0000]硅漂移探测器[/color]这么脆？

一、磁吸力原理测厚仪利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢，拉簧，标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后，有一个弹簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大，当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲，依不同的型号又不同的量程与适应场合。 在一个约350º角度内可用刻度表示0～100µm;0～1000µm;0～5mm等的覆层厚度，精度可达5%以上，能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准，价格也较低，很适合车间作现场质量控制。 二、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。由于是电子仪器，校准容易，可以实多种功能，扩大量程，提高精度，由于测试条件可降低许多，故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示，精度和重复性都不好，后来发展了数字显示式，电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关，稳频等最新技术，多种获专利的产品相继问世，精度有了很大的提高，达到1%,分辨率达到0.1µm，磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯，线圈电流的频率不高，以降低涡流效应的影响，测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化，可以辨识不同的测头，配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。 一台仪器能配合多种测头，也可以用同一台仪器。可以说，适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。利用电磁原理研制的测厚仪，原则上适用所有非导磁覆层测量，一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的，则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。

[color=#444444] 10月25日，全国新材料与纳米计量技术委员会发布了《锡膏厚度测量仪校准规范》征求意见稿，并面向全国有关单位征求意见。[/color][color=#444444][/color][align=left] 锡膏厚度测量仪是一种利用光学原理，快速测量印刷电路板上的锡膏块的厚度等几何元素的非接触式测量仪器，广泛应用于SMT(Surface Mount Technology)生产贴片领域，是评价和管控锡膏印刷质量的重要测量设备。[/align][align=left] 本规范由广东省计量科学研究院、山东省计量科学研究院、苏州市计量测试院、中国计量科学研究院、广州计量检测技术研究院和天津大学负责制定。[/align][align=left] 本规范主要依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》进行编制，JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量[url=http://www.jlck.net/forum-279-1.html]不确定度[/url]评定与表示》、JJF 1094-2002《测量仪器特性评定》共同构成支撑校准规范制定工作的基础性系列规范。[/align][align=left] 本规范为首次制定，主要技术内容和计量特性参考了JJF 1306-2011 《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》和JJG 818-2005 《磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程》的部分内容。[/align][align=left] 按照JJF 1071—2010《国家计量校准规范编写规则》的要求制定锡膏厚度测量仪校准规范，在内容和格式上与JJF 1071—2010保持一致。校准规范的具体内容有范围、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果的表达、复校时间间隔等。[/align][align=left] 本规范适用于分辨力为(0.1-1)m、测量范围不大于600m的锡膏厚度测量仪的校准。[/align][align=left] 目前使用中的锡膏厚度测量仪的测量范围大多在(20-400)μm左右，部分新的仪器最大厚度可达到1mm以上。根据查询资料及调研统计，大部分锡膏测厚仪的常用范围在(100-150)μm，极少有达到几百微米以上，实际上不可能将锡膏做到这么大的厚度。起草组经讨论后决定将规范适用范围定为(0-600)μm，最大校准点达到测量上限的2/3，故标准台阶块最大厚度达到400 μm即可。(更多详情请见附件)。[/align][align=left]附件：[u][url=http://www.zhaojiliang.cn/data/uploads/bdattachment/file/20181026/1540524700379110.docx]锡膏厚度测量仪校准规范 （征求意见稿）.docx[/url][/u][/align]

[color=red]【由于该附件或图片违规，已被版主删除】[/color]CMI900 系列先进的材料分析仪器新型CMI900系列即时分析仪代表了牛津仪器（OXFORD INSTRUMENTS）镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软件和硬件领域的新进步提高了我们X线系列产品的性能。CMI900系列能够测量极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并测量氮化钛镀层。CMI900系列分析仪能够即时分析黄金和其它贵重金属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的先进技术中获益。像我们所有的仪器一样，这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们保证在售前和售后都提供卓越的服务。测量和材料分析系统软件所有Oxford X线荧光系统都配备有Oxford Smartlink FP系统操作软件包。这是一种基于windows的综合性基本参数软件程式。规格简介l无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题l包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体l5层/15种元素/普通元素效正l同时为多达15种元素进行成份分析l贵重金属分析和金纯度检查l材料与合金元素分析l材料鉴定与区别l吸收测量方式l液体分析：分析液体中的金属，如电镀液l系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化l光谱计数速率峰值位移效正l重叠荧光峰值数字峰值反卷l定性光谱分析元素ID。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱lOxford统计数字和报告产生器LE（轻型）Oxford SmartLink 补充软件系列lOxford统计数字和报告产生器l配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器lOxford即时分析lOxford材料区别lOxford Percent P有了Oxford SmartLink补充软件系列，您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的Oxford统计数字和报告产生器都让您根据自己的需要选择定制报告。统计数字软件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范围，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，组织图，X-bar/R。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或CAD文件，并把它们直接放在品质报告上。l配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器：与上面相同，但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域，其中八个为用户定义域。元件号和日期/时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。lOxford即时分析、材料区别和Percent P等选项，能够为您的具体应用优化CMI900系列仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件，以提高系统性能。激励l下视X线。X线射束90度采样l风冷微聚焦X导管，提供钨、钼和其它阳极。电力：最大瓦特，4-50kv可编程，0-1.5mAl准直管：多个（最多6个），可编程，圆形，矩形（我们将帮助您选择适合于您应用的准直管）l主要过滤器：提供各种厚度及材料X线探测器和信号处理lX线探测器：密封氙气正比计数器；提供其它填充气体l探测器过滤器：最多3个，5个位置，可编程-马达驱动；提供钒、铁、锡、和其他元素l高速探测器信号处理电子设备，具有峰值位移校正功能样品处理l样品室：密封（950系列）或开缝（900系列）l在X、Y、Z轴上可编程马达驱动控制l高清晰度、实时、彩色样品示图，15〞（38.10cm）（标准）或17〞（43.18cm）（选项）l彩色样品图像捕获和打印l激光样品聚焦l电脑产生十字线，准直管尺寸指示器，用于样品准定位l可变聚焦距离控制，以适应变化的样品外型l样品变大：选择30、50、或100放大。提供固点聚焦距离或可变聚焦距离选项测量l鼠标器启动“点击”测量l自动测量重复功能l安全：多用户多级密码保护电脑/处理器loxford是IBM的授权PC附加值销售商。请致电oxford了解最新的IBMPC规格。IBM电脑由IBM提供3年保证l打印机：Epson或惠普喷墨打印机。请致电oxford查询最新的型号和规格。可联网荣誉l由oxford拥有/管理的国际现场服务团队l符合ISOGuide25号的要求lCE标志

厚度的测量方法有多种，总体上分为非接触式与接触式，非接触式包括射线，涡流，超声波，红外等多种类型，接触式行业中也称为机械式测厚，分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。　　在选择厚度测厚仪这样的机械设备时，往往都通过比较做出选择，知名品牌也是参考的一点，但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家，在国内来说，他们做的是相当不错的，自主研发生产，质量高，进一步确保了高精度，高效率，高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align]　　厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。　　厚度测量仪哪个品牌比较好？不同类型的测厚仪，对应不一样的行业，适用范围也有所不同，那么大家在选购测厚仪时，就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们，欢迎来电大成精密公司来咨询。

牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪，[color=#333333]牛津仪器是一家世界领先的高科技[/color][color=#333333]系统设备供应商。设计制造的设备可以在原子和分子层面，制造、分析和操控物质，并广泛应用于研究和工业领域为客户提供完美的解决方案。牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪。X射线荧光镀层测厚仪快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率.牛冿 OXFORD X-strata 920特别适合：PCB行业，电镀行业等做精密无损测试。可测镀金，银，铜，锡，及稀有金属等。[/color][color=#333333][/color][color=#333333]牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪工作性能[/color][color=#333333]1.测量元素范围：钛Ti22---铀U92；2.测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；3.测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；4.快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；5.可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；6.进行贵金属检测，如Au karat评价；7.材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；8.强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；9.结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；10.测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；11.激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；12.拥有NIST认证的标准片；提供全球服务及技术支持。安全性：1.简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权2.主管人员可进行系统维护3.系统自动生成操作员的使用记录4.自动锁定功能防止未授权的操作5.Z轴保护传感器6.安全防射线光闸7.样品室门开闭传感器8.X射线锁9.X射线警示灯10.紧急停止按钮11.前面板安全钮和后面板安全锁八、仪器配置:1.X-Strata920测试主机2.联想ThinkCentre计算机（原IBM）------Windows7中文版、SmartLink FP分析软件包3.17吋戴尔Dell液晶显示器4.佳能Canon彩色喷墨打印机[/color][color=#333333][/color]

膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。　　膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。　　有很多人会以为测厚仪和膜厚仪是一样的，其实膜厚仪属于测厚仪的分类，也就是说测厚仪是膜厚仪的上司一样，属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170515/602539fd7791488ebd830ccd2659ea75_th.png[/img][/align]　　膜厚仪生产厂家哪家好？深圳市大成精密设备有限公司是一家集研发、制造、销售、服务于一体的国内领先的新能源设备生产企业。跟腾讯，华为等大型企业一样，诞生在特区深圳，公司拥有高素质的研发团队，通过与科研院所及高等院校的技术合作使我公司具有很强的持续自主研发能力和创新能力。　　目前所开发出的设备，均已达国际先进水平。主要以贝塔射线在线测重仪， X射线在线测重仪、激光测厚仪的生产销售为主。严格把关每个工件材料的选取与使用，一丝不苟地全程跟进设备的加工与装配，严格按照编制的工艺流程来执行，打造无需售后服务的一流产品。深度了解客户需求，把每一个细节都做到极致，自然就会诞生一个伟大的产品，这是我们全体员工的共识。

谁有ASTM 13568-1998 用X射线荧光法测量涂层厚度试验方法的国标啊？

市面上都有哪些涂层厚度测量仪器

《计量资讯速递》消息　日前，由广东省计量科学研究院牵头起草的《超声波测厚仪》和《磁性和电涡流覆层厚度测量仪》两项广东省地方标准获批准发布，从2014年3月6日开始实施。《超声波测厚仪》和《磁性和电涡流覆层厚度测量仪》两项广东省地方标准的制订规范了磁性、电涡流式覆层厚度测量仪生产、检验过程，统一了我省超声波测厚仪及磁性和电涡流覆层厚度测量仪的型式评价和质量监督管理。　　据了解，超声波测厚仪、磁性和电涡流覆层厚度测量仪是依法管理计量器具目录（型式批准部分）上的产品，此前尚没有关于磁性、电涡流式覆层厚度测量仪产品的检验规则以及产品的标志、包装、运输、贮存的国家及地方标准。来源：广东省计量协会

X荧光光谱仪（XRF）整套技术，含多道分析、电气控制、机械结构和分析软件。可用于成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析等。先进独特的光谱处理分析算法(导数法寻峰、卡尔曼滤波重叠峰分离等）和X荧光基体校正方法(FP法)、经验系数法等。详细资料请查看本网站链接[url]http://bbs.instrument.com.cn/topic/2709541[/url]已经和国内多家仪器商家建立合作关系，都已量产销售。联系：邮箱midstone[email=oych1128@126.com]@126.com[/email]，腾讯号码 2-6-0-6-6-4-5-6, 手机1-3-9-2656-3756本人不常在线，最好手机短信联系

各位大侠，谁有ASTM B568-1998 用X射线荧光法测量涂层厚度试验方法的原文啊？

大家来讨论下现在市场上大部分仪器测镀层时的厚度大概多少，我今天刚碰到个问题，我们家用的仪器今天测试ABS为基材的镀层时，单独测ABS材料时X射线竟能把ABS材料击穿，射线打到下面的铜底板，铜峰很高。。。。。那个ABS材料怎么说也有几个毫米。。。。有知道的发表下看法下，谢谢。

基本概念： 物位是指物料相对于某一基准的位量，是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量，其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计，测量液位的仪表称为液位计，测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况，液位测量占有相当大的比例，故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表，其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类：物位测量方法很多，测量范围较广，可从儿毫米到几十米，甚至更高，且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此，工业上所采用的物位测量仪友种类繁多，技其工作原理可分为：(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理，通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度，是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力，测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理，利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位，且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化，进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同，可分为电容式、电阻式和电感式3种，其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种，其中气介式可测液位和料位；液介式可测液位和液—液相界面；固介式只能测液位，比如：防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计，可测液位和料位，： (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时．被吸收而减弱，其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外，还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表，以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型，且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种．前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等，后者比较简单价廉，主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

我们想买测量金属混合镀层的厚度，到底应该选择 [color=#333333]赛默飞（fisher）的还是菲希尔(fischer )的，[/color][color=#333333]感觉差一个字母，都是测量这块的厂家，[/color][color=#333333]哪个更专业？[/color][color=#333333]Fe基材，测量锌镍混合镀层厚度；[/color][color=#333333]Cu基材，测量锌或银镀层厚度；[/color][color=#333333]等等。[/color][color=#333333][/color]

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。

仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm. 液氨紧急切断阀,氨气紧急切断阀,机械剪板机,

[b]抑菌圈测量仪的历史背景 [/b]在没有抑菌圈测量仪出现之前，首先是手工测量也就是用左手拿着带有抑菌圈的培养皿右手拿着游标卡尺进行测量，大概在上世纪七十年代江苏南京一家电影器材厂生产的一种幻灯机，在用户中逐渐兴起，到八十年代随着世界上第一台扫描仪在中国台湾的诞生中国的科学家们密切关注这项技术的发展及应用领域，1988年左右时任中国药品生物制品检定所简称中检所抗生素室主任的金少鸿和胡昌勤老师带领全科室的药检工作人员战略性地提出用扫描仪拍摄培养皿中抑菌圈图像，再用电脑进行图像积分面积导出直径代入生物统计公式计算的科研方向，在全国药检系统掀起了技术创新高潮。上世纪90年代的北京中关村电子一条街上四通、康华、惠普、联想等等都在快速的崛起，大街上涌动着一大批从高校、科研院所、国企大厂的工科男、技术女们，当时也没有规范的市场，大家都在寻找适合自己的项目。就那么巧合有一些人聚合在一起开始研究制造抑菌圈测量仪了，失败，一点点的进步，喜悦，分离、坚持、再坚持、融合、利益、再分离、又一次的分离、转折、流血流汗的一批人、机遇、壮大、缩小、被超越、迷茫、抉择、一颗永恒的种子、疯魔的几年、强大的内心、技术的再次提高、标准化的方向、优良服务、诚信公正。总之抑菌圈测量仪这项技术是中国人的原创。[b]抑菌圈测量仪属性 [/b]抑菌圈测量仪是一种成像设备，特性是放大倍数低，成像面积大，光线均匀的亚显微成像设备，抑菌圈测量只是微生物测量中的一种功能。目前这种亚显微成像的市场很大，只是还没有开发出来。比如：微生物科目中的抑菌圈直径测量、菌落计数、细菌浊度测量、光密度检测；机械行业中洁净度检测，精密配件的形态差异；环保领域：藻类检测、各种水生动植物的物理尺寸测量和记数；农林业：种子的测量和分类、叶面积比例计算、根颈测量等等；医药行业中用到成像的地方就更多了，我们已成功的开发出Elispot酶联免疫斑点统计计算、液体颜色对比（R/G/B法）。[b]抑菌圈测量仪的组成 [/b]抑菌圈测量仪是由硬件部分和软件部分组成硬件部分：现市场中有逐行扫描式和面阵工业相机式，作用是把微生物培养出可计算的物质后，扫描出高质量电子图片，有透射光、反射光、紫外荧光成像，（抑菌圈测量用的是透射光扫描拍摄；菌落计数用的是反射光扫描；凝胶光密度用的是紫外光激发荧光反射扫描）逐行扫描的成像质量要大大优于面阵工业相机，一个直径90mm培养皿图像很轻松地就可以扫描出2-3G的高分辨率的大图，而面阵工业相机是很难达到如此大的图片。（电脑的内存要大）逐行扫描因是移动扫描，所以光线是一条直线光源，扫描出图像光很均匀；成像面积200*300mm可同时盛放6个90mm的培养皿。软件部分： 1.药品检验所和药厂用的是中国药典抗生素效价测量分析版，此版软件是经典之作也是我们大家20多年销售了上千台仪器积累了大量用户的使用经验和药检所的老师们心血之作。2.美国Image Pro-Plus是享誉世界全功能综合版分析软件，可完成面积百分比、颗粒计数、各种形态参数测量、位置参数测量、灰度光密度测量、数学形态学分析、图象的校准与校正、彩色图象的分割与分析。测量功能：随意对图象切割、测量、计数、分类；HE等染色方法的阳性灰度、阳性比例计算；电泳条带分析；荧光强度分析等，可以选择面积、周长、直径、半径、角度等50多种测量方式。[b]抑菌圈测量仪的前景 [/b]中国药典和兽药典中规定中应用抑菌圈方法的药品品种逐渐在减少，抑菌圈测量仪在制药行业中只是一种保留项目，以后重点是在食品和环保领域中找到销售市场。从技术分析来说，抑菌圈测量仪是计算机的外部设备，是随着计算机的技术进步而进步，十几年前计算机的内存最高才128M、硬盘也小的可怜、CPU慢的要命，现在计算机是什么速度、内存和硬盘多么的强大，所以现在的高端抑菌圈测量仪，这种亚显微成像的仪器设备有一部分已进入到显微成像技术中。（显微镜最大缺点是成像面积小）目前这个技术方向研究的人很少，国外的设备也不多，国内就北京和杭州有几个老师在研究，各有长短。所以说高端抑菌圈测量仪是有很大发展空间的。[b]抑菌圈应用方法：[/b]抑菌圈法的分类：1.KB法（纸片法）；2.管碟法；3.打孔法首先要了解用户是用什么方法，药品检验所、药厂原、料药厂用的都是管碟法用中国药典抗生素效价测量版软件分析；疾控中心、医院用的是KB法用IPP综合版软件分析；各大学工业、农业、食品微生物检测菌种筛选和抗生素残留检测用的是打孔法用IPP综合版软件分析。菌落计数主要用在食品和疾控中心有手动记数和自动记数用IPP综合版软件分析微生物菌悬液的浊度测量用积分光密度法用IPP综合版软件分析。

大家好，对于薄膜样品，X射线荧光光谱仪的X射线能进入薄膜多厚呢，测试结果反映的是表面的信息呢，还是薄膜体层的信息呢。谢谢

求购一台二手X射线荧光光谱仪（XRF）(台式)主要测金属螺丝重金属元素,最好带测镀层厚度(两层),最好广东省的,站短联系

【作者】： 【题名】： 基于光散射的水浊度测量仪研制【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：https://cdmd.cnki.com.cn/Article/CDMD-10611-1021783383.htm

X射线荧光光谱仪主要用途： 仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。 测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm. 仪器类别： 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计 指标信息： 1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作，真空度13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100%4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03% 附件信息： 循环水致冷单元，计算机 P10气体瓶空气压缩机 分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。