医药硬片厚度偏差测试仪

偏振测试仪确定线偏振片和圆偏振片的偏振方向方便轻巧的手持式设计验证偏振片校准的理想选择在确定 LCD 的偏振方向方面表现出众TECHSPEC® 偏振测试仪适用于确定未知偏振片的不同特性，如线性偏振片的偏振方向和圆形偏振片的旋转方向。这款易于使用的手持式紧凑型工具兼容所有已安装和未安装的偏振片，其中包含设计用于测试线性偏振光，以及左旋和右旋的圆形偏振光的区域。对于圆形偏振片，本测试仪可识别偏振旋转方向，以及延迟器和线性偏振片的位置。TECHSPEC® 偏振测试仪适用于识别正确偏振片，或验证应用中是否精确对准。为获得优良效果，请确保在测试之前将所有保护膜从偏振片上取下。注意:安装偏振测试仪时，建议使用#54-997.产品信息类型波长范围(nm)厚度(mm)透射率(%)长度 (mm)宽度 (mm)产品编码Polarization Tester400 - 7000.7542200.0020.00#37-699

产品介绍： PMT-05 医药包装物理性能测试仪是针对医用材料物理性能测试开发的一款多功能集成仪器，可进行器身密合性检测（预灌封注射器密合性检测）、铝塑瓶盖开启力、安瓿瓶折断力、胶塞穿刺力、注射针刚性、针座结合牢度、铝箔板材拉伸以及定力值和定位移测试。扩展还可进行其他项目测试。本仪器应用于注射剂瓶和输液瓶铝盖、丁基胶塞、铝塑组合盖、聚丙烯组合盖、薄膜、复合膜、药用铝箔、PVC硬片、预灌封注射器、一次性注射器等药品包装材料，进行接桥链接力、穿刺力、滑动性、开启力、拉伸强度、热合强度、人体内导管导丝摩擦力等试验。 医药包装物理性能测试仪采用进口品牌高精度传感器，测试结果精确稳定，无极调速可满足不同实验对试验速度的要求。仪器支持多种试验模式，配合不同试验夹具可满足不同实验要求，夹具更换方便快捷。广泛应用于药检机构、药包材生产企业、制药企业、医疗器械生产企业等单位。 产品特点：● 进口微型计算机控制技术，开放式结构，友好人机界面操作，使用简单方便● 多种操作模式任意选择，增加定力值、定位移模式，操作更简单方便● 精密丝杆传动，优质不锈钢导轨及合理布局，确保仪器运行平稳● 采用进口高精度测力传感器，测量精度为 0.5 级● 采用精密微分电机驱动，传动更平稳，噪音更低，定位更准确，测试结果重复性更好● 液晶中文显示，全自动测量，具有测试数据统计处理功能● 高速微型打印机输出，打印快速，噪音低，不需更换色带，更换纸卷方便● 内置专用校准程序，便于计量、校准部门（第三方）对仪器进行校准● 高清彩色大屏幕显示曲线、文字，视觉更清晰● 可配备电脑软件，双向操作 技术参数：测量范围 5kg 25kg 50kg （任选一个或多个）测量单位 N kg ib测量精度 0.5 级试验行程 1000mm测试模式 开启力测试、折断力测试、穿刺力测试、拉压力测试、针管刚性测试、定力值测试、定位移测试、剥离力测试、活塞滑动性能测试、器身密合性测试、人体内导管导丝摩擦力测试试验速度 1-600mm/min 无级变速外形尺寸 470（L） X 450（B） X 970（H） mm重 量 约 90kg电 源 AC220V±22V，50Hz标准配置 主机 、拉伸夹具选购配置 开启力夹具、穿刺夹具、折断力夹具、滑动性能夹具、电脑软件、电脑设置标准：YBB00242004-2015、YBB00402003-2015、 YBB00042005-2015、YBB00052005-2015、 YBB00332004-2015 、YBB00332002-2015、YBB00112004-2015、GB-14232.1-2004、GB-15811-2016、GB-15810-2001、GB/T-1962.1-2001、GB-2637-1995、ASTM D882医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix 医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix

在扫描单色器中使用恒定偏差单色器凹面光栅(Constant Deviation Monochromator Gratings)来扫描来自入口狭缝穿过出口狭缝的信号。我们的恒定偏差单色凹面光栅消除了对准直和聚焦光学器件的需求。这减少了系统中光学元件的数量，增加了吞吐量并允许更紧凑的仪器设计。筱晓上海光子提供一系列标准光栅。如果我们没有符合您规格的光栅，请联系我们的销售团队讨论您的具体要求。技术参数下表显示了我们当前的主光栅列表。定期生产额外的主光栅，因此如果您找不到合适的主光栅，则值得检查是否有替代主光栅可用。如果我们的标准光栅或尺寸不符合您的要求，我们可以根据您的规格制造定制母版：沟槽密度 (g/mm)峰值波长 (nm)光谱范围 (nm)最大尺寸(mm)123260190-55090x90240240190-50050 x 50300250190-50090x90600240190-55070x 807001550(S-Pol)950-280090x 901200240190-65090x 901200700350-160090x9012001550(S-Pol)550-165090x 90130080o525-15009o x 901440250220-50090 x901440325220-44090x9017401053(S-Pol)550-114590 x 9o1800230190-40090x 902322250280-800110×1102400240190-80090x802880240200-50090x903600250190-55089 x904200240140-45585x60 沟槽密度(g/mm)峰值波长(nm)光谱范围(nm)Max Size(mm)240300300300300300200-550200-70090x9035068x68500300-80058x585401220325-100068x68800-280068x681200350200-70068×681200450300-1200 90x90通用参数

偏振应力测试仪（1）适合应力模式检测（2）适用于测试透镜硬度构成（3）随附携带箱这款便利的便携式偏振应力测试仪适合检查液晶、塑料和宝石内的应力模式。该偏振应力测试仪可显示裸眼或众多放大镜不可见的断裂痕迹和瑕疵。此外，该偏振应力测试仪可用于检查透镜的硬度构成，因为它可以显示只有正确硬化的透镜才具备的马耳他十字标记。该应力测试仪的尺寸为： 3" x 3"（折叠时），或 3" x 6" （打开时）。随附黑色携带箱。订购信息：Polarized Stress Tester库存#34-521技术参数与相关资料构造Polarizing Film类型Linear PolarizerRoHS不符合标准

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

溶出度测试仪配件是一款自动药物溶出度仪,用于测量药物或化学物质在设定温度下的溶解情况，溶出度测试仪配备了蠕动泵和分光光度计，是领先的进口自动溶出度测试仪。溶出度测试仪配件特点六杯六杆,桨杆等采用进口SUS316不锈钢。数字读取提供连续更新的精确轴速度。水浴温度可设定到所需温度。旋转度可无限变化，可设定到任意所需速度。水浴温度均匀。全自动智能化控制温度、转速及时间三个参数。可以随意预置参数；分时显示预置值和实时值。溶出度测试仪配件应用用于药片，胶囊，药丸，固体剂型以及各种药品的溶出度测试，药品质量控制，研发。适合科研院所和制药企业的实验室使用。溶出度测试仪配件参数转速：10-250rpm电力：220V/50Hz安全功能：低水位，过热，防漏电温度：数字温度控制系统加热器：900W重量：62kg孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括溶出度测试仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品.我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务,确保中国用户以极低的成本享受进口优质产品的良好体验。关于溶出度测试仪参数,溶出度测试仪应用,溶出度测试仪特点的更多消息，孚光精仪将在第一时间更新并呈现，想了解更多内容，关注孚光精仪等你来体验！

Thorlabs提供一系列精密盖玻片、显微镜载玻片和荧光载玻片(见右表)，适合高性能的成像应用，比如全内反射荧光(TIRF)显微、活细胞成像和生物化学应用。精密盖玻片盖玻片由Schott D 263 M玻璃制造，这种玻璃具有透明、无色、低自发荧光的特性。#1.5H盖玻片经过精密加工，具有170 ± 5 µ m的均匀厚度，能够最大程度地减少因球面像差引起的图像缺陷；我们提供方形、矩形和圆形的版本。#0盖玻片经过研磨，厚度变得非常薄，处于85 - 115 µ m之间，适用于弱荧光或厚样品；它有方形和矩形的版本。精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)，公差±5 µ m推荐与高数值孔径的物镜配合使用提供方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)版本Thorlabs的精密盖玻片经过研磨，达到170 ± 5 µ m的均匀厚度。它们由Schott D 263 M玻璃制成，这是一种透明、无色、具有低自发荧光特性的玻璃。均匀的厚度和一致的光学特性减少了由球面像差造成的图像缺陷(详情请看规格标签)。因此，这些盖玻片非常适于与高数值孔径的物镜配合使用。 这些盖玻片有方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)的版本。请注意，Ø 12 mm盖玻片无法与MS15C1和MS15C2样品腔载玻片一起使用。

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Mylar® 迈拉、ROHS测试膜--美国Chemplex-3015# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3015产品信息：Mylar® 迈拉，厚度6.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/卷3015 Mylar® 迈拉 6.0 μ 0.00024” 0.24 mil 0.00610 mm 2.5”(63.5mm) 100片

PSI-4型测定仪使用说明书 一、仪器简介及应用范围PSI-4系列为第四代透过法粒度测定仪，是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板，不需要复杂计算，测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“张瑞福法”，该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准：GB11107-89和国际标准：ISO10070-91，荣获国家发明奖。PSI-4A型带快速计算板，无须复杂计算，可直接读出粒径值，使用操作非常方便。PSI-4B型带有游标卡尺，可精确测量粉末床的厚度及水柱高度，大大提高了测量范围和精度。 二、技术性能PSI-4APSI-4B仪器设计精度0.010.01粒度测量精度0.030.02粒度测量范围Dk0.1~100μm0.02~120μmDv0.02~1μm0.002~0.5μm比表面积测量Sk0.06~60(m2/g)0.05~300(m2/g)Sv6~300(m2/g)12~3000(m2/g)Sw2~150(m2/g)0.2~1.5×103(m2/g)注：Dk为包络比表面粒度，也称粘性流透过粒度；Dv为全比表面粒度；Sw为质量全比表面积 Sk为粉末包络比表面积； Sv为粉末全比表面积，也称粉末吸附全比表面积。工作环境： 干燥，无腐蚀，温度25±12℃，相对湿度＜80%电 源： 220ACV，50Hz，20W外型尺寸： 755×400×260 mm3净 重： 12 kg三、工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下，气体透过粉末压缩床，气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时，就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。仪器的气流及测压系统如(图一)。 空气由微型气泵(14)加压送入系统，泄气阀(1)和水柱稳压器(13)将过量的空气排入大气，垂直压力计(12)测量供气系统的压力。调节泄气阀开度和水柱稳压器的液面高度将供气压力稳定在500mm水柱。稳压后的少量的空气经干燥器后进入试样管，由U型压力计测得空气出试样管后、进精密阀前的压力。空气*后经精密阀排入大气。在上述系统中，对于一定量的粉末，按国标GB11107-89即可求得粒度值： Dk=aL … … … … … … … … … （1） 又：ΔP=50-2H … … … … … … … … … … … … … … … … … （2） … … … … … … … … … … … … … … … … （3） … … … … … … … … … … … … … … … … … … （4） 可得：Dk=5.34L… … … … … … （5）上列式中：m为粉末的质量（克）；ρe为粉末物质的物性密度或有效密度；εp定义为粉末床的孔隙度；α定义为试样的下料系数，是粉末质量与密度的比值；Δp是空气透过粉末床试样的压力降（厘米水柱）；H为U型压力计单根水柱上升高度值（厘米），U型压力计是精密等径管制成，真实的压力值应为2H厘米水柱；L为试样（粉末床）厚度，单位为（厘米）；a为仪器常数5.34，具有量纲（厘米）1.5，计算所得Dk值单位为（微米）。 A、B两种型号具有完全相同的气流系统。不同之处在于粉末床及水柱高度的测量方法。PSI-4A型如（图二）所示：中间的齿轮齿杆（8）的作用是压缩粉末床和测量压力计中水柱高度。四个腰圆型孔用来观察稳压系统的工作情况：左下孔观察水柱稳压器工作时的气泡冒出情况，以3-8（个/秒）的气泡冒出速率为宜。左上孔观察水柱稳压器的水位。右下孔观察垂直压力计的初始值，右上孔观察开泵后垂直压力计的水柱高度值，二者之差才是供气压力真实值。仪器正面的快速计算板上图形意义如下：横坐标表示的是试样的孔隙度值，纵坐标是公制的长度单位，可度量压力计的水柱高度和粉末床的厚度。中间互不相交的曲线簇是不同孔隙度和不同压力时的等粒度线，图形下部和等粒度线相交的粗黑线是试样（粉末床）厚度线L0，它的横坐标值是α=1时不同厚度粉末床对应的孔隙度值，计算板可左右移动。PSI-4B型外型见（图三）。与A型相比，少了快速计算板，多了游标卡尺。这样能更精确的测量试样（粉末床）的厚度值和压力计水柱高度。 四、仪器的调试与校准 仪器使用前必须进行调试和校准，两种型号基本相同，主要有三项： 1、U型压力计的校准 PSI-4A型：调节升降齿杆的旋钮，使齿杆上的指针与计算板的水平坐标基线平齐，此时U型压力计的基准水平面应与齿杆上的指针座平面平齐如（图四）所示。如不平齐，可先调节水位微调阀（图二-13）；如仍调节不到位，则须对U型压力计进行加水（当U型压力计的基准水平面低于指针座平面时）或放水的操作（当U型压力计的基准水平面高于指针座平面时）。加水操作：全部松开微调阀，将水加入加水小漏斗（图一-5），再松开流量计加水阀（图一-4，图二-11），慢慢放水入U型管，当U型管压力计的基准水平面接近指针座平面时，关闭加水阀。放水操作：松开加水阀（图二-11），用注射器吸出小漏斗内多余的水，直至U型压力计的基准水平面略低于齿杆上的指针座平面平面，关闭加水阀。最后调节微调阀，即可使U型压力计的基准水平面与齿杆上的指针座平面平齐。PSI-4B型：U型压力计的基准水平面应与游标卡尺游标左卡脚上水平面平齐如（图五）。具体方法与PSI-4A型相同。 2、气源压力的校准与调节：供气压力应始终保持在500±0.5mm水柱。将水柱稳压器加水至规定高度，记下垂直压力计的初始刻度值（图三-15）。将空试样管接入气流系统如（图二-14）、（图三-14）并夹紧。开气泵，垂直压力计水位上升，调节泄气阀（图二-2），使压力计水柱上升500毫米，即达到（500毫米+初始值），并维持此高度至测试结束。测试过程中，如有变动，随时调节泄气阀，保持气源压力的稳定。 3、精密阀的校准：将标准管代替试样管进行测试，气流稳定后，U型压力计的读数应与标准管上标定的数值一致：若不一致，旋转调节精密阀（图二-10），使U型压力计的读数与标准管上标定的数值一致，稳定三分钟不变即可关泵停止。五、使用与操作步骤PSI-4B型 1、仪器的准备：对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项，即U型压力计水平基准校准和供气压力校准两项。第3项只作定期的检查（一个星期左右一次，或视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。2、试样的制备：在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。称取粉末的数量时，应考虑下料系数α，以求得较高的测试精度。α取值的原则是：使测量时U型压力计的水柱高度落在满量程的1/3~2/3内，粉末越粗，α值应越大；粉末越细，α值应越小。当Dk=1~20微米范围，α可取值为1~2；当Dk=20~120微米范围，α可取值为2~5，此时滤纸应用针钻孔5~6个消除滤纸阻力；当Dk=0.5~1微米范围，α可取值为0.5~1；当Dk小于0.5微米时，α可取值为0.5~0.03。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，用游标卡尺测出粉末床的厚度L，由此算出试样的孔隙度。… … … … … … … … （6） 3、测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧（图三-14），开气泵，通气3分钟，稳定后，利用游标测量出U型压力计的水柱上升量H。4、计算：将已知的α、εp、H和L值代入公式（5），即可求得Dk；粉末粘性流比表面积为（微米）-1，或（米2/厘米3）。 停泵开泵重新读一次，测量数据，两数相对误差小于3%，就是本次测试的最终结果。若大于3%，再重新测样，在此孔隙度下或接近此孔隙度值，测出试样的Dk值，最后，三数据平均值为试样结果。 若试样Dk小于0.4微米，通常应计算β值，和δ值。 … … … … … … … … … … … … … … （7） … … … … … … … … … … （8） 也可从β值查δ-β曲线（图六）得到δ，则Dv，Sv为 Dv=Dk/δ… … … … … … … … … … … … … … … （9） Sv==… … … … … … … … … … … （10）注意：三次测量应给粉末床加不同压力，以得到三种不同孔隙度下测得的粒度值。三值比较起伏应不超过3%。报告结果时，应指明测量时的孔隙度。Dv是纳米级粉末所须粒度。PSI-4A型 1、仪器的准备：同B型。对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项。第3项只作定期的检查（视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。 2、试样的制备：下料系数α取1，即m=ρe。在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，移动计算板，找到试样高度线L0上与齿杆上的指针针尖等高的点并对准，该点的横坐标值即为粉末床的孔隙度εp。计算板保持不动。3、 测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧如（图二-14），开气泵，通气三分钟，待U型压力计读数稳定，调节齿杆，使指针座平面与U型压力计水面平齐，此时齿杆指针所指的粒度值即为Dk。4、 α≠1时的测量：当粉末粒度Dk≥20或≤1微米，改变粉末的下料系数（取α≠1）可提高测量的精度。此时，可采用与PSI-4B型相同的计算法测量。α取值的原则亦同。利用升降齿杆测出粉末床的厚度和水柱高度，代入公式（3）、（4）、（5）即可得出Dk。 粉末粘性流比表面积为：（微米）-1，或（米2/厘米3）。六、仪器的维护与保养1、仪器内使用的水必须是蒸馏水。2、经常保持仪器清洁，注意不要让粉末进入系统中。 3、经常检查橡皮管是否有老化、开裂导致的漏气。如有应及时更换。4、精密阀校准后，一般不准再动。如果不小心碰动，应重新校准。5、橡皮和玻璃管道内的水柱中不能夹带气泡。 6、仪器干燥剂的检查与更换：仪器出厂时以装好变色硅胶干燥剂在气路中，正常状态硅胶为兰色，受潮时变为粉红色。硅胶变红后，将其从管道中取出，换上干燥硅胶，管道不得泄漏溢气。原硅胶可在120℃~130℃干燥2~3小时脱去已吸附的水分后，可反复多次使用。 附注：仪器附件箱装有：试样管一只，多孔塞两只，毛刷一把，多孔塞提推杆一条，漏斗一个，橡皮坐一个，快速滤纸一盒，标准管一支，金属勺子一把，注射器一只，软管一根。

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的*球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性*佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国*利商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3026产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 CAT. NO：3026：Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Prolene膜、ROHS测试膜、XRF有方形托架的圆片薄膜--美国Chemplex--3018#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3018产品信息：Prolene膜，厚度4.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪 HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度以及光照度.无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度. LIGHT键是光照度,测量范围0-2000流明,数值越大,说明光照越强,请根据植物的品种来决定是否需要遮阴. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净.如何分析植物光照强度1. 将功能键拨至左起第二个档位上。2. 手持装置，使装置顶端的细长蜂巢状紫色小窗置于植物顶端叶面位置，将小窗朝向最亮的光源方向。在测试过程中，请避免身体和叶子的阴影遮挡小窗。3. 请记录测试结果（× 1000）及测试时间。4. 请选择上午、中午、下午的中间时刻测试，所得出的数据就是这一时间段的平均光照强度。例如：上午9:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（上午7:00到11:00间的平均光照强度）下午1:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（11:00到下午3:00间的平均光照强度）下午5:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（下午5:00到7:00间的平均光照强度）一天的总日照强度= 以上数据之和。单位：Foot-candle hours (烛光距) 1 Foot-candle = 10.7639 Lux (勒克斯)请查阅说明书后的光照要求表。如何分析湿度1. 将功能键拨至左起第三个档位上。2. 将探棒完全插入被测土壤。在测试盆栽土壤时，将探棒插于植物干茎与花盆的中间位置，请不要离植物过近，以免伤及植物根系。3. 读取数据。4. 将探棒从土壤中取出，在进行下一次测试或存贮之前，请用棉布将探棒完全擦净。5. 请不要将探棒长时间插于土壤中，也不要用此装置测试液体，以免对其造成损害。如何分析土壤的pH值1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等。2. 将土壤用水浸透，成泥状。（最好使用雨水或蒸馏水）3. 将功能键拨至最右边的档位上。4. 湿润探棒。用购买时随附的特殊清洁棉片将三个探棒中的最右边一根擦净。5. 将探棒完全插入被测土壤中。6. 等待1分钟即可读取数据。7. 测试结束后，将探棒擦净并晾干。如何使用你的土壤pH值分析计1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水）为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好；5．等待60秒后读取数据。6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。仪器注意事项- 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面；- 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净；- 应使探棒远离其他金属物质；此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。问题及解决方法指针摇摆不定* 石子或有机质影响仪器电极* 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤）* 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒* 土壤在探棒周围分布不均匀* 探棒距盆壁或盆底过近* 测试时间离重新装土入盆的时间太近* 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒指针迟钝或没有反映* 需要清洁探棒* 样土过干* 探棒受损极端pH值状态（仅限于盆栽土壤）* 因过量施肥而带来的养分增加* 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系；2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果；3．读取结果；4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障；5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。如何读取结果1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。2．浇灌次数（参考说明书）：&mdash * 1周需检查一次&mdash ** 每4到5天需检查一次&mdash *** 3天需检查一次仪器读数表3．特殊水分要求以下数字代表：i 每天向叶面洒水；ii 不要让土壤变干；iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿；iv 土壤应始终保持湿润；v 在浇灌间隙可令土壤变干；vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干；vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量；viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。

XRF样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、Polypropylene聚丙烯-477#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film型号： CAT. NO：477#产品信息：Polypropylene聚丙烯，厚度12.0 μm，直径63.5mm，1000片/盒 品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 Pre-Cut Circles预裁好的圆片,直径63.5mm：477 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50 mil 0.0127mm 直径63.5mm 1000片

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Prolene膜、ROHS测试膜、XRF有方形托架的圆片薄膜--美国Chemplex--3019# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性好，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3019产品信息：polypropylene膜，厚度6.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/卷 CAT. NO：3019polypropylene 6.0 μ 0.00024” 0.24mil 0.00610 mm 63.5mm 100片/盒

HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪 HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度以及光照度.无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度. LIGHT键是光照度,测量范围0-2000流明,数值越大,说明光照越强,请根据植物的品种来决定是否需要遮阴. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净.如何分析植物光照强度1. 将功能键拨至左起第二个档位上。2. 手持装置，使装置顶端的细长蜂巢状紫色小窗置于植物顶端叶面位置，将小窗朝向最亮的光源方向。在测试过程中，请避免身体和叶子的阴影遮挡小窗。3. 请记录测试结果（× 1000）及测试时间。4. 请选择上午、中午、下午的中间时刻测试，所得出的数据就是这一时间段的平均光照强度。例如：上午9:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（上午7:00到11:00间的平均光照强度）下午1:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（11:00到下午3:00间的平均光照强度）下午5:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（下午5:00到7:00间的平均光照强度）一天的总日照强度= 以上数据之和。单位：Foot-candle hours (烛光距) 1 Foot-candle = 10.7639 Lux (勒克斯)请查阅说明书后的光照要求表。如何分析湿度1. 将功能键拨至左起第三个档位上。2. 将探棒完全插入被测土壤。在测试盆栽土壤时，将探棒插于植物干茎与花盆的中间位置，请不要离植物过近，以免伤及植物根系。3. 读取数据。4. 将探棒从土壤中取出，在进行下一次测试或存贮之前，请用棉布将探棒完全擦净。5. 请不要将探棒长时间插于土壤中，也不要用此装置测试液体，以免对其造成损害。如何分析土壤的pH值1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等。2. 将土壤用水浸透，成泥状。（最好使用雨水或蒸馏水）3. 将功能键拨至最右边的档位上。4. 湿润探棒。用购买时随附的特殊清洁棉片将三个探棒中的最右边一根擦净。5. 将探棒完全插入被测土壤中。6. 等待1分钟即可读取数据。7. 测试结束后，将探棒擦净并晾干。如何使用你的土壤pH值分析计1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水）为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好；5．等待60秒后读取数据。6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。仪器注意事项- 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面；- 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净；- 应使探棒远离其他金属物质；此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。问题及解决方法指针摇摆不定* 石子或有机质影响仪器电极* 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤）* 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒* 土壤在探棒周围分布不均匀* 探棒距盆壁或盆底过近* 测试时间离重新装土入盆的时间太近* 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒指针迟钝或没有反映* 需要清洁探棒* 样土过干* 探棒受损极端pH值状态（仅限于盆栽土壤）* 因过量施肥而带来的养分增加* 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系；2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果；3．读取结果；4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障；5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。如何读取结果1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。2．浇灌次数（参考说明书）：&mdash * 1周需检查一次&mdash ** 每4到5天需检查一次&mdash *** 3天需检查一次仪器读数表3．特殊水分要求以下数字代表：i 每天向叶面洒水；ii 不要让土壤变干；iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿；iv 土壤应始终保持湿润；v 在浇灌间隙可令土壤变干；vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干；vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量；viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3026产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 CAT. NO：3026：Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的*球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性*佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国*利商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3026产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 CAT. NO：3026：Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片

显微镜盖玻片, 纯白色平板玻璃材质, 22×22 mm, 厚度0.13-0.16 mm, 200片/盒

显微镜盖玻片, 纯白色平板玻璃材质, 24×60 mm, 厚度0.13-0.16 mm, 100片/盒

显微镜盖玻片, 纯白色平板玻璃材质, 24×24 mm, 厚度0.13-0.16 mm, 200片/盒

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

OD 4 25nm镀加硬膜的带通滤光片（1）适用于生命科学仪器（2）高透射率，深截止（3）用于防止显微镜应用中光致褪色（4）另备有OD 4 10nm和50nm镀加硬膜的带通滤光片TECHSPEC OD 4 25nm镀加硬膜的带通滤光片的设计是宽带滤光片和窄带滤光片的中等范围替代品。TECHSPEC OD 4 25nm镀加硬膜的带通滤光片适用于单光子显微镜，或用于防止生命科学应用中的活样本或荧光团出现光致褪色。此类滤光片可用于在成像应用或机器视觉应用中消除多余的背景噪声，同时增强信噪比。产品信息：中心波长 CWL (nm)半峰全宽 FWHM (nm)直径 (mm)产品号4002512.5#86-6404002525#86-6524002550#86-6644252512.5#87-7754252525#87-7874252550#87-7994502512.5#86-6414502525#86-6534502550#86-6654752512.5#87-7764752525#87-7884752550#87-8005002512.5#86-6425002525#86-6545002550#86-6665252512.5#87-7775252525#87-7895252550#87-8015502512.5#86-6435502525#86-6555502550#86-6675752512.5#87-7785752525#87-7905752550#87-8026002512.5#86-6446002525#86-6566002550#86-6686252512.5#87-7796252525#87-7916252550#87-8036502512.5#86-6456502525#86-6576502550#86-6696752512.5#87-7806752525#87-7926752550#87-8047002512.5#86-6467002525#86-6587002550#86-6707252512.5#87-7817252525#87-7937252550#87-8057502512.5#86-6477502525#86-6597502550#86-6717752512.5#87-7827752525#87-7947752550#87-8068002512.5#86-6488002525#86-6608002550#86-6728252512.5#87-7838252525#87-7958252550#87-8078502512.5#86-6498502525#86-6618502550#86-6738752512.5#87-7848752525#87-7968752550#87-8089002512.5#86-6509002525#86-6629002550#86-6749252512.5#87-7859252525#87-7979252550#87-8099502512.5#86-6519502525#86-6639502550#86-6759752512.5#87-7869752525#87-7989752550#87-81010002512.5#87-81110002525#87-82310002550#87-83510502512.5#87-81210502525#87-82410502550#87-83611002512.5#87-81311002525#87-82511002550#87-83711502512.5#87-81411502525#87-82611502550#87-83812002512.5#87-81512002525#87-82712002550#87-83912502512.5#87-81612502525#87-82812502550#87-84013002512.5#87-81713002525#87-82913002550#87-84113502512.5#87-81813502525#87-83013502550#87-84214002512.5#87-81914002525#87-83114002550#87-84314502512.5#87-82014502525#87-83214502550#87-84415002512.5#87-82115002525#87-83315002550#87-84515502512.5#87-82215502525#87-83415502550#87-846订购信息：400nm CWL, 12.5mm Dia. Hard Coated OD 4 25nm Bandpass Filter库存#86-640技术参数与相关资料直径 (mm)12.5直径容差 (mm)+0.0/-0.1Mount Thickness (mm)5涂层Hard Coated中心波长 CWL (nm)400中心波长 CWL 容差 (nm)±3半峰全宽 FWHM (nm)25半峰全宽 FWHM 容差 (nm)±3表面质量80-50最小传输 (%)≥90阻断波长范围 (nm)200 - 1200光密度 OD≥4.0耐用性MIL-C-48497AEnvironmental: MIL-STD-810F类型Bandpass Filter基底Fused Silica基片厚度（mm）3.5 ±0.5RoHS符合标准450nm CWL, 25mm Dia. Hard Coated OD 4 25nm Bandpass Filter库存#86-653技术参数与相关资料直径 (mm)25.0直径容差 (mm)+0.0/-0.1Mount Thickness (mm)5涂层Hard Coated中心波长 CWL (nm)450中心波长 CWL 容差 (nm)±3半峰全宽 FWHM (nm)25半峰全宽 FWHM 容差 (nm)±3表面质量80-50最小传输 (%)≥90阻断波长范围 (nm)200 - 1200光密度 OD≥4.0耐用性MIL-C-48497AEnvironmental: MIL-STD-810F类型Bandpass Filter基底Fused Silica基片厚度（mm）3.5 ±0.5RoHS符合标准550nm CWL, 25mm Dia. Hard Coated OD 4 25nm Bandpass Filter库存#86-655技术参数与相关资料直径 (mm)25.0直径容差 (mm)+0.0/-0.1Mount Thickness (mm)5涂层Hard Coated中心波长 CWL (nm)550中心波长 CWL 容差 (nm)±3半峰全宽 FWHM (nm)25半峰全宽 FWHM 容差 (nm)±3表面质量80-50最小传输 (%)≥90阻断波长范围 (nm)200 - 1200光密度 OD≥4.0耐用性MIL-C-48497AEnvironmental: MIL-STD-810F类型Bandpass Filter基底Fused Silica基片厚度（mm）3.5 ±0.5RoHS符合标准600nm CWL, 12.5mm Dia. Hard Coated OD 4 25nm Bandpass Filter库存#86-644技术参数与相关资料直径 (mm)12.5直径容差 (mm)+0.0/-0.1Mount Thickness (mm)5涂层Hard Coated中心波长 CWL (nm)600中心波长 CWL 容差 (nm)±3半峰全宽 FWHM (nm)25半峰全宽 FWHM 容差 (nm)±3表面质量80-50最小传输 (%)≥90阻断波长范围 (nm)200 - 1200光密度 OD≥4.0耐用性MIL-C-48497AEnvironmental: MIL-STD-810F类型Bandpass Filter基底Fused Silica基片厚度（mm）3.5 ±0.5RoHS符合标准700nm CWL, 12.5mm Dia. Hard Coated OD 4 25nm Bandpass Filter库存#86-646技术参数与相关资料直径 (mm)12.5直径容差 (mm)+0.0/-0.1Mount Thickness (mm)5涂层Hard Coated中心波长 CWL (nm)700中心波长 CWL 容差 (nm)±3半峰全宽 FWHM (nm)25半峰全宽 FWHM 容差 (nm)±3表面质量80-50最小传输 (%)≥90阻断波长范围 (nm)200 - 1200光密度 OD≥4.0耐用性MIL-C-48497AEnvironmental: MIL-STD-810F类型Bandpass Filter基底Fused Silica基片厚度（mm）3.5 ±0.5RoHS符合标准750nm CWL, 50mm Dia. Hard Coated OD 4 25nm Bandpass Filter库存#86-671技术参数与相关资料直径 (mm)50.0直径容差 (mm)+0.0/-0.1Mount Thickness (mm)5涂层Hard Coated中心波长 CWL (nm)750中心波长 CWL 容差 (nm)±3半峰全宽 FWHM (nm)25半峰全宽 FWHM 容差 (nm)±3表面质量80-50最小传输 (%)≥90阻断波长范围 (nm)200 - 1200光密度 OD≥4.0耐用性MIL-C-48497AEnvironmental: MIL-STD-810F类型Bandpass Filter基底Fused Silica基片厚度（mm）3.5 ±0.5RoHS符合标准800nm CWL, 50mm Dia. Hard Coated OD 4 25nm Bandpass Filter库存#86-672技术参数与相关资料直径 (mm)50.0直径容差 (mm)+0.0/-0.1Mount Thickness (mm)5涂层Hard Coated中心波长 CWL (nm)800中心波长 CWL 容差 (nm)±3半峰全宽 FWHM (nm)25半峰全宽 FWHM 容差 (nm)±3表面质量80-50最小传输 (%)≥90阻断波长范围 (nm)200 - 1200光密度 OD≥4.0耐用性MIL-C-48497AEnvironmental: MIL-STD-810F类型Bandpass Filter基底Fused Silica基片厚度（mm）3.5 ±0.5RoHS符合标准1450nm CWL, 12.5mm Dia. Hard Coated OD 4 25nm Bandpass Filter库存#87-820技术参数与相关资料直径 (mm)12.5直径容差 (mm)+0.0/-0.1Mount Thickness (mm)5涂层Hard Coated中心波长 CWL (nm)1450中心波长 CWL 容差 (nm)±3半峰全宽 FWHM (nm)25半峰全宽 FWHM 容差 (nm)±3表面质量80-50最小传输 (%)90阻断波长范围 (nm)200 - 1800光密度 OD≥4.0耐用性MIL-C-48497AEnvironmental: MIL-STD-810F类型Bandpass Filter基底Fused Silica基片厚度（mm）3.5 ±0.5RoHS符合标准

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3026产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 CAT. NO：3026：Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片

HL-6301 土壤湿度测试仪HL-6301 土壤湿度测试仪本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的湿度,无需电池.工作原理: 通过土壤中有机营养物质的电解值测出植物土壤水份情况, 把探针插入根部就可读出,无需电池.精确有效的测出植物土壤里的湿度；准确掌握各种植物生长的适宜条件；把探针插入根部土壤中就可读出准确的土壤湿度,MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净.如何测量湿度1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系；2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果；3．读取结果；4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障；5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。如何读取结果1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。2．浇灌次数（参考说明书）：&mdash * 1周需检查一次&mdash ** 每4到5天需检查一次&mdash *** 3天需检查一次仪器读数表3．特殊水分要求以下数字代表：i 每天向叶面洒水；ii 不要让土壤变干；iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿；iv 土壤应始终保持湿润；v 在浇灌间隙可令土壤变干；vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干；vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量；viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。

北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

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X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜、XRF样品膜、迈拉膜、麦拉膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 156#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：156产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度3.6μm，直径63.5mm，500片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTER FILMCAT. NO：156Gauge：0.00014”，3.6 μm；0.14mil，35,560ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES，INC.Contents：500Circles； Lot No：110777。现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

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