自由膨胀率试验仪

求助如何解决DIL测量膨胀率偏差问题？

如何解决DIL测量膨胀率偏差问题？特别是和NIST标准值之间差异

根据国家标准化管理委员会于2009年8月31日批准，自2009年8月31日起实施关于GB/T15102-2006《浸渍胶膜饰面人造板》国家标准中吸水厚度膨胀率技术指标修改最后一段里面提到“将原文中为“吸水厚度膨胀率测定按GB/T 17657－1999中4.5规定的方法进行，浸泡时间为24小时。” 修改为“按GB17657－1999中4.5的规定进行，干燥状态下使用的普通饰面刨花板和在干燥状态下使用的家具及室内装修用饰面刨花板浸泡时间为2h，其余浸渍胶膜纸饰面人造板浸泡时间均为24h。” 各位大侠对其中的一句话“干燥状态下使用的普通饰面刨花板和在干燥状态下使用的家具及室内装修用饰面刨花板浸泡时间为2h，其余浸渍胶膜纸饰面人造板浸泡时间均为24h。”是怎么理解的呢？ 本人的理解是：干燥状态下使用的普通饰面刨花板；干燥状态下使用的家具上使用的刨花板；室内装修用饰面刨花板；这三类刨花板的浸泡时间为2h，其余的浸渍胶膜纸饰面人造板浸泡时间均为24h。 但是最近有个供应商跟我说他向北京国家人造板中心了解过，他们那边的理解是：干燥状态下使用的普通饰面刨花板；在干燥状态下使用的家具（不管此家具上的板材为什么板材,包括中纤板等等）；室内装修用饰面刨花板，这三类板材的浸泡时间均为2h。 现在的分歧就是这个修改的浸泡时间为2h所针对的对象到底是只是这几种刨花板呢？还是针对的是这几种使用条件下的人造板。这个让我很是纠结，毕竟说这个话的还是人造板检测中心的一个有点身份的人物（报告上都能看得到他的签名)所以就不知道大家是怎么去理解这句话的，具体是怎么做的。

关于有关顶杆热膨胀仪的几个问题作者美国安特公司的王恒博士1.如果想达到更高的准确度，应该用非接触干涉膨胀仪。干涉膨胀仪的优点是，光学非接触、绝对测量、测量准确度高。但造价昂贵、仪器结构及操作都很复杂、温度不容易超过1000℃，对样品形状及表面要求苛刻，不适用于材料的烧结过程的研究。一般，为建立一级热膨胀标准的权威机构采用非接触干涉膨胀仪为主要手段。请注意一下，干涉计本身的测长很准，但组装在膨胀仪上后，因为与样品有关的热系统的关系，对于样品的随温度变化的真正伸长量的测量准确度会随温度升高而下降。比如在日本计量所作的双路差频干涉计和在美国西海岸的Precision Mesurement and Instrument Corp作的迈可耳逊干涉计，其本身的位移变化量可测到1nm到3nm左右，但用在热膨胀测量应用上，因热系统的各部份的热变形等原因，“零点漂移”在几百度时就达到了30至50nm，属于随机误差，不能修正的。请见国际热物理杂志Internation1 J. Thermophys. Vo1 23, No.2,2002年3月的文章“Development of a Laser Interferometric Dilatometer for Measurment of Thermal Expansion of Solid in Temperature range 300 to 1300K”d在的549页关于干涉仪的零漂的3.2节中的图4中，在300 to 1300K的温度范围内的零漂达到了50nm。这是不能修正的，必须考虑在误差分析内。因此，对于干涉法热膨胀仪来讲，伸长量的测量准确度受系统的热稳定性影响而不能达到干涉计本身的测长准确度的。商品化的干涉膨胀仪的最高温度是700℃。2.作为最传统的热膨胀仪的测量手段的顶杆法热膨胀仪的优点是，使用容易、结构简单适用各种形状的样品等。缺点是，属于接触、相对测量方法，需要用标准样品对系统定标，测长准确度低，但可达到很高温度，适用于材料的烧结过程的研究。顶杆法热膨胀仪结构特点是，用比样品长几倍的顶杆与试样接触，把试样的长度变化传递给加热炉外的与其接触的位移传感器。这样，在顶杆上存在从高温（试样）到室温（位移传感器）的温度变化，整体的热稳定性或者说“热环境”与干涉膨胀仪的情况比，就“差”了更多，温度超高越严重，这是自然引起而不可避免的。这是不能用标准样品的定标来完全消除的。这将导致位移传感器读数的波动，在有些情况下，甚至导致测量结果的突变。在文章“Examination of Thermal Expansion Uniformity of Glassy Carbon as a Candidate Standard Reference Material For Thermal Expansion Measurements”中的第94页第一段，指出对于玻璃碳材料的测量，第一次的测量结果不可靠而必须取消，在高温段和低温段的数据也要取消。即使顶杆法热膨胀仪的位移传感器本身测量准确度能达到了0.1微米以下，对试样的热膨胀量引起的真正伸长量测量准确度也很难说达到0.1微米。日本计量所曾把一个双路差频干涉计组装到一台顶杆法热膨胀仪的位移测量的头部作过实验，表明了这一点。当时的课题是考核顶杆法热膨胀仪的特性。就好比是用微伏电压表接一般的热电偶测温，尽管电压表可以读到微伏，但在毫伏读数以下对测温已没有任何意义了。3.LVDV本身的测量位移量的准确度达不到nm量级(1)目前最好螺旋测微仪的准确度是±1微米。Nech用于标定LVDT的是螺旋测微仪，所有的被定标的仪器的测量准确度不可能超过用于定标的仪器的测量准确度，所以即使用最好的螺旋测微仪定标，其热膨胀仪的LVDT也不可能得到优于1微米的准确度。离开准确度，来谈灵敏度是没有实际意义的。在日本计量所考核Netzsch的DIL402时，为了修正LVDT的读数，正是基于这个道理，用双路差频干涉计而不用螺旋测微仪。(2)LVDT的线性度用双路差频干涉计对Netzsch 的DIL402的LVDT的考察的结果表明，当位移量为105.23微米时，LVDV的读数与干涉计的读数的偏差达到0.69微米。因此，线性度实际上为0.66%之大，已排出了热效应的影响。而在NETZSCH的所有产品中，并没有对线性度进行修正的。这也说明了所谓nm量级读数的不正确性，是没有意义的。(3)在TN105中提到的其它因素，如对电压、温度、处理电路等极其敏感，易引起漂移，等等，其nm量级的读数在噪声之中。需要经常进行定标等。4.采用数字位移传感器在顶杆热膨胀仪上，比LVDV有很多的优点，请见TN105数字位移传感器的0.5微米的测长分辨率（也可以说准确度），对于顶杆热膨胀仪来讲，具有实际的意义，完全满足顶杆热膨胀仪的各种应用场合。5.对于低膨胀（如10－7/K）量级的材料在有限的温度范围内（如几十度）内的热膨胀的高精度的测量，顶杆热膨胀仪不适用，应采用非接触绝对的干涉热膨胀仪，并用阶梯等温的加热方式。我们接到过超低膨胀（如10－7/K）的材料在有限的温度范围内的高精度的测量的课题，比如说，一组10－7/K的量级的玻璃，要求分辨出不同成份、工艺下对热膨胀的影响。曾用Netzsch的DIL402和双路差频干涉膨胀仪进行了研究，同时也对DIL402的测量误差进行分析。结果表明，干涉膨胀仪能在10℃的温度间隔内，分辨到1.5X10－8/K，这里的分辨指的是在可能　的最大测量误差范围(或者说是极限误差，3σ程度)外。如果最大测量误差大于1.5X10-8/K，就不能说分辨到1.5X10-8/K。而DIL402的结果（加热范围为300℃，已得到足够的膨胀量），对于所有的材料都没有给出意义的分辨，因所测的各种材料的热膨胀率都在其测量误差范围内，即在12X10-8/K（最大误差，3σ）的误差带内。作为这一课题的附带结果再次表明，Netzsch关于达到1.25nm/digit的测长sensitivity的声称是没有实际意义的。如果有意义的话，已达到了干涉热膨胀仪的测长精度，而为什么实际的测量误差却是干涉热膨胀仪的测量误差的10倍？！有任何问题，欢迎随时交流。

关于有关顶杆热膨胀仪的几个问题作者美国安特公司的王恒博士1.如果想达到更高的准确度，应该用非接触干涉膨胀仪。干涉膨胀仪的优点是，光学非接触、绝对测量、测量准确度高。但造价昂贵、仪器结构及操作都很复杂、温度不容易超过1000℃，对样品形状及表面要求苛刻，不适用于材料的烧结过程的研究。一般，为建立一级热膨胀标准的权威机构采用非接触干涉膨胀仪为主要手段。请注意一下，干涉计本身的测长很准，但组装在膨胀仪上后，因为与样品有关的热系统的关系，对于样品的随温度变化的真正伸长量的测量准确度会随温度升高而下降。比如在日本计量所作的双路差频干涉计和在美国西海岸的Precision Mesurement and Instrument Corp作的迈可耳逊干涉计，其本身的位移变化量可测到1nm到3nm左右，但用在热膨胀测量应用上，因热系统的各部份的热变形等原因，“零点漂移”在几百度时就达到了30至50nm，属于随机误差，不能修正的。请见国际热物理杂志Internation1 J. Thermophys. Vo1 23, No.2,2002年3月的文章“Development of a Laser Interferometric Dilatometer for Measurment of Thermal Expansion of Solid in Temperature range 300 to 1300K”d在的549页关于干涉仪的零漂的3.2节中的图4中，在300 to 1300K的温度范围内的零漂达到了50nm。这是不能修正的，必须考虑在误差分析内。因此，对于干涉法热膨胀仪来讲，伸长量的测量准确度受系统的热稳定性影响而不能达到干涉计本身的测长准确度的。商品化的干涉膨胀仪的最高温度是700℃。2.作为最传统的热膨胀仪的测量手段的顶杆法热膨胀仪的优点是，使用容易、结构简单适用各种形状的样品等。缺点是，属于接触、相对测量方法，需要用标准样品对系统定标，测长准确度低，但可达到很高温度，适用于材料的烧结过程的研究。顶杆法热膨胀仪结构特点是，用比样品长几倍的顶杆与试样接触，把试样的长度变化传递给加热炉外的与其接触的位移传感器。这样，在顶杆上存在从高温（试样）到室温（位移传感器）的温度变化，整体的热稳定性或者说“热环境”与干涉膨胀仪的情况比，就“差”了更多，温度超高越严重，这是自然引起而不可避免的。这是不能用标准样品的定标来完全消除的。这将导致位移传感器读数的波动，在有些情况下，甚至导致测量结果的突变。在文章“Examination of Thermal Expansion Uniformity of Glassy Carbon as a Candidate Standard Reference Material For Thermal Expansion Measurements”中的第94页第一段，指出对于玻璃碳材料的测量，第一次的测量结果不可靠而必须取消，在高温段和低温段的数据也要取消。即使顶杆法热膨胀仪的位移传感器本身测量准确度能达到了0.1微米以下，对试样的热膨胀量引起的真正伸长量测量准确度也很难说达到0.1微米。日本计量所曾把一个双路差频干涉计组装到一台顶杆法热膨胀仪的位移测量的头部作过实验，表明了这一点。当时的课题是考核顶杆法热膨胀仪的特性。就好比是用微伏电压表接一般的热电偶测温，尽管电压表可以读到微伏，但在毫伏读数以下对测温已没有任何意义了。3.LVDV本身的测量位移量的准确度达不到nm量级(1)目前最好螺旋测微仪的准确度是±1微米。Netzsch用于标定LVDT的是螺旋测微仪，所有的被定标的仪器的测量准确度不可能超过用于定标的仪器的测量准确度，所以即使用最好的螺旋测微仪定标，其热膨胀仪的LVDT也不可能得到优于1微米的准确度。离开准确度，来谈灵敏度是没有实际意义的。在日本计量所考核Netzsch的DIL402时，为了修正LVDT的读数，正是基于这个道理，用双路差频干涉计而不用螺旋测微仪。(2)LVDT的线性度用双路差频干涉计对Netzsch 的DIL402的LVDT的考察的结果表明，当位移量为105.23微米时，LVDV的读数与干涉计的读数的偏差达到0.69微米。因此，线性度实际上为0.66%之大，已排出了热效应的影响。而在NETZSCH的所有产品中，并没有对线性度进行修正的。这也说明了所谓nm量级读数的不正确性，是没有意义的。(3)在TN105中提到的其它因素，如对电压、温度、处理电路等极其敏感，易引起漂移，等等，其nm量级的读数在噪声之中。需要经常进行定标等。4.采用数字位移传感器在顶杆热膨胀仪上，比LVDV有很多的优点，请见TN105数字位移传感器的0.5微米的测长分辨率（也可以说准确度），对于顶杆热膨胀仪来讲，具有实际的意义，完全满足顶杆热膨胀仪的各种应用场合。5.对于低膨胀（如10－7/K）量级的材料在有限的温度范围内（如几十度）内的热膨胀的高精度的测量，顶杆热膨胀仪不适用，应采用非接触绝对的干涉热膨胀仪，并用阶梯等温的加热方式。我们接到过超低膨胀（如10－7/K）的材料在有限的温度范围内的高精度的测量的课题，比如说，一组10－7/K的量级的玻璃，要求分辨出不同成份、工艺下对热膨胀的影响。曾用Netzsch的DIL402和双路差频干涉膨胀仪进行了研究，同时也对DIL402的测量误差进行分析。结果表明，干涉膨胀仪能在10℃的温度间隔内，分辨到1.5X10－8/K，这里的分辨指的是在可能　的最大测量误差范围(或者说是极限误差，3σ程度)外。如果最大测量误差大于1.5X10-8/K，就不能说分辨到1.5X10-8/K。而DIL402的结果（加热范围为300℃，已得到足够的膨胀量），对于所有的材料都没有给出意义的分辨，因所测的各种材料的热膨胀率都在其测量误差范围内，即在12X10-8/K（最大误差，3σ）的误差带内。作为这一课题的附带结果再次表明，Netzsch关于达到1.25nm/digit的测长sensitivity的声称是没有实际意义的。如果有意义的话，已达到了干涉热膨胀仪的测长精度，而为什么实际的测量误差却是干涉热膨胀仪的测量误差的10倍？！有任何问题，欢迎随时交流。

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实验分析中膨胀计的选择需考虑三个标准:(1) 样品类型: 如果你的样品是粉末，颗粒状，或具有良好颗粒松散度的大块状，使用粉末膨胀计。如果你的样品是固体形态或大块，使用固体膨胀计。(2) 样品体积：使用能够接近填满膨胀计的样品量。膨胀计样品室有三种型号：3，5和15cm³。因此，如果你的样品体积是4cm³那么适合放入5 cm³的样品室，从而5cm³的膨胀计是最适合的。(3）样品浸入体积：填充满样品孔的理想汞体积应该介于膨胀计“最大浸入体积”的25%至90%。一个理想范围内的有效浸入体积将会提供好的清晰度。换句话说，确保膨胀计包含足够的汞以便填充满样品孔。同时考虑粉末样品粒内孔隙的额外浸入体积也作为浸入体积测量 。

哪位做这个项目的试验，测量冲击试样侧膨胀值非得用那个测量仪啊？我用卡尺不行啊？

看一些标准和文章，似乎都说用熔融石英标样和熔融石英支架校正后的仪器可以测量如玻璃或者陶瓷之类比熔融石英膨胀系数大得多的样品，但是我用这个校正后的仪器去测氧化铝标样结果差了4%左右。不知是仪器原因还是应该用与被测样品膨胀系数相近的标样去校正仪器

实验室要按照《GB/T 1036-2008 塑料 -30℃～30℃线膨胀系数的测定 石英膨胀计法》检测玻璃钢产品-30~50℃的膨胀系数，本人菜鸟，请高手指导哪家的仪器比较可靠？仪器选型和测试中有没有特别注意的问题。

热膨胀仪用于测量样品随温度变化而产生的膨胀；测量样品随温度或时间变化的函数关系，测得样品长度变化（Delta L）或CTE值（热膨胀系数）的膨胀信息。激光热膨胀--未来热膨胀测量技术的趋势—高精度和高分辨率。L75 激光热膨胀仪的优越性体现在精度是传统顶杆热膨胀仪的33倍。测量原理是麦克尔逊（Michelson）干涉计，因而消除了系统误差，专利保护的测量技术可以研究最新的高科技超低膨胀材料（ULE），Linseis成功地将最新的技术应用于此系列热膨胀仪和优化设计系统，使之易用性和传统的热膨胀仪一样。相变热膨胀仪--L78 RITA 是特别适合于研究和测量TTT，CHT和CCT图表。特殊的加热炉可以加热和制冷速度高于400°C/s。系统符合标准 ASTM A1033。所有的关键参数，如加热制冷速度，气体控制和安全保护都通过软件控制。专业的32-Bit 软件 Linseis TA- WIN 兼容Windows 系统，所有的常规（如TTT，CHT和CCT图表的建立）和应用要求可以通过仪器的软件包来实现。图解和ASCII格式可以输出，方便用户测量数据和图表导出。

膨胀罐的主要分类有哪几种，对于这一个问题，南京捷登流体设备有限公司的小编通过文章介绍膨胀罐的类型，让客户更好的了解产品。结构膨胀罐有哪几种分类膨胀罐—由罐体、气囊、进/出水口及补气口四部份组成。罐体一般为碳钢材质，外面是防锈烤漆层；气囊为EPDM环保橡胶；气囊与罐体之间的预充气体出厂时已充好，无需自己加气。原理膨胀罐的工作原理：当外界有压力的水进入膨胀罐气囊内时，密封在罐内的氮气被压缩，根据波义耳气体定律，气体受到压缩后体积变小压力升高，直到膨胀罐内气体压力与水的压力达到一致时停止进水。当水流失压力减低时膨胀罐内气体压力大于水的压力，此时气体膨胀将气囊内的水挤出补到系统。分类膨胀罐分为气囊式和隔膜式两种，前者在使用的过程中水与罐体内壁完全不接触，所以杜绝了生锈和水质的二次污染，是2010年至今市场上的主流产品，无论国内还是国外大部分都是采用气囊式；隔膜式膨胀罐是早期第一代的产品，工作时有一半的罐体内壁直接与水接触，容易锈蚀，严重影响其使用寿命，隔膜式膨胀罐已经淡出市场。

本人单位要找一个通过了国家实验室认可委认可的实验室做一个热膨胀分析，有能做的请速联系QQ：271802167

某纤维的线膨胀系数为-6×10-6℃-1在300℃热空气中无张力处理30min收缩率只有0.1%左右请问这两个概念有什么区别啊？望指教！谢谢！

当高低温试验箱制冷系统中出现膨胀阀供液时多时少或膨胀阀关不小，过热度，过冷度不正确等现象时。原因可能就是感温包出了故障。 1）感温包毛细管断裂，使感温包内的充注物漏掉，导致不能把正确的信号传给热力膨胀阀的执机构。 2）感温包包扎位置不正确。 二、感温包故障处理办法 一般情况感温包尽量装在蒸发器出口水平段的回气管上，应远离高低温试验箱压缩机吸气口而近蒸发器，而且不宜垂直安装。当水平回气管直径小于7/8（22mm）时，感温包宜安装在回气管的顶上端，即吸气管的“一点钟”。当水平回气管直径大于7/8时，感温包要安装在回气管轴线以下与水平轴线成45度左右，即吸气管的“3点钟”位置。因为把感温包安装在吸气管的上部会降低反应的灵敏度，可能使蒸发器的制冷剂过多，把感温包安装在吸气管的底部会引起供液的紊乱，因为总有少量的液态制冷剂流到感温包安装的位置，而导致感温包温度的迅速变化。 安装时，感温包需用铜片包扎好，回气管表面要除锈，如果是钢管，表面除锈后涂银漆，以保证感温包与回气管的良好接触。感温包必须低于阀顶膜片上腔，而且感温包的头部要水平放置或朝下，当相对位置高于膜片上腔时，高低温试验箱毛细管应向上弯成U形，以免液体进入膜片上腔。

请教各位大侠，热膨胀仪周围的振动源，对热膨胀系数测试的结果有何影响？

有搞热膨胀材料的大虾吗，我可以帮你测试热膨胀性能。德国---热膨胀仪 DIL402C 样品支架：石英支架（ 1100°C），氧化铝支架（ 1700℃），石墨支架（2000℃） 测量范围：500／5000 μm 样品长度：最大 50 mm 样品直径：最大 12 mm（另有 19 mm 可选） ΔL 分辨率：0.125 nm / 1.25 nm 气氛：惰性、氧化、还原、静态、动态 气体流量计和气体阀（可选） c-DTA®（计算型 DTA）：可在热膨胀测试的同时得到 DTA 曲线，并可用于温度校正。（选件） 高真空密闭，最高真空度 10-4mbar（10-2 Pa） 可与 QMS 403 C Aёolos® 联用，只需在炉子出口处使用可加热的适配器连接即可。主要特点1.DIL提供多种类型的样品支架与炉体配置。 2.提供各种配件使测试更灵活方便。 3.提供速率控制烧结软件（RCS）。 4.提供 c-DTA 功能，可通过图谱分析计算得到差热DTA曲线。

请问大家知道有没有关于测膨胀度的仪器？中国药典附录里面有测膨胀度的一项，但不知那个仪器是怎样的。哪里有得卖？[em0715]

GBT 3810.8陶瓷砖线性热膨胀，5的第一行，原始供校准用的标准试样。。。这个怎么具体做校准，这规范上没写。是用仪器测定标准试样的膨胀系数是否为标定的值么。提供的标准试样是圆柱的石英玻璃，说明上给的石英平均膨胀系数是0.55x10（^-6），我用仪器测了室温到100℃和500℃，得到的值都大于这个值。。。厂家说仪器自动减去了补偿值Kt，也加过石英托架的膨胀系数了。。[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/02/202202162136086286_6916_5536684_3.png[/img]

Aquafill膨胀罐是意大利原装进口膨胀罐，其在使用过程中应该注意哪些事项呢？捷登小编为您整理如下哦。1.Aquafill膨胀罐出厂是预充压力已设定，根据罐子的大小一般体积小于150L以下的膨胀罐预充压力为1.5bar，200L或以上的预充压力为2bar用户若认为此压力不合适，可在供应商的指导下进行充/放气；2.测试Aquafill膨胀罐气囊时建议直接用水压测试，严禁使用锐利的器件碰触气囊；3.若该Aquafill膨胀罐是放在特殊场合，应告知供应商，以便有相关的膜体对应使用；4.Aquafill膨胀罐的工作介质一般为水或者防冻液的混合物，其他介质需打电话咨询；5.Aquafill膨胀罐应定期检查其预充压力，如果发现压力下降应及时补气，以免影响其正常使用；6.Aquafill膨胀罐罐体标签上有注明工作温度和最大工作压力，严禁超出此范围使用。7.应严格按公式来计算所需膨胀罐的大小，膨胀罐过小会引起安全阀的频繁起跳和自动补水阀的频繁补水；8.Aquafill膨胀罐的最大工作压力跟其罐体上标注的预充压力一一对应，如果因使用需要改变了其预充压力，最大工作压力随之改变，基本遵循以下规律，预充压力减小，其最大工作压力随之减小，具体减小到多少要计算，预充压力增大其最大工作压力不变。9.应每6个月检查一次Aquafill膨胀罐预充压力大小，如果发现气压不足应及时补气。以上注意事项都学会了吗？实际使用时切记要遵守哦

各位高手请问大家.怎么用热膨胀测纤维的膨胀系数.好像很难做.请各位指点.

热机械分析仪（Thermal Mechanical Analysis）的一个重要功能是可以进行热膨胀系数测量，而专门进行热膨胀系数测量的仪器是热膨胀测试仪，这两者有什么区别呢？欢迎大家讨论，甚至可以做一些这两种仪器的对比测试，看看到底差别在什么地方，以便在实际测试中选择合适的测试方法和测试仪器。

想买导热仪和热膨胀仪，测纤维增强树脂基复合材料的导热系数和热膨胀系数，该买什么型号的呀？哪位高人给点意见，em09509]

热膨胀实验中保温时体积为什么会下降

正常的活性污泥中都含有一定量的丝状菌，它是形成活性污泥絮体的骨架材料。如果活性污泥中丝状菌数量太少，则形不成大的絮状体，沉降性能不好 如果丝状菌过度繁殖，则形成丝状菌污泥膨胀。在正常的环境中，菌胶团的生长率远大于丝状菌，不会出现丝状菌过度繁殖的现象。但如果活性污泥环境条件发生不利变化，丝状菌因其表面积较大，抵抗环境变化能力比菌胶团的细菌强，丝状菌的数量就有可能超过菌胶团细菌，从而导致丝状菌污泥膨胀。引起活性污泥中丝状菌膨胀的环境条件有：1、进水中有机物质太少，曝气池内F/M低，导致微生物食料不足。2、进水中氮、磷等营养物质不足。3、PH太低，不利于微生物生长。4、曝气池混合液内溶解氧太低，不能满足微生物需要。5、进水水质或水量波动太大，对微生物造成冲击。6、进入曝气池的污水因“腐化”产生出较多的H2S(超过1-2mg/l)时，还会导致丝状硫磺菌的过量繁殖，使丝硫磺菌污泥膨胀。7、丝状菌大量繁殖的适宜温度在25℃～30℃，因而夏季易发生丝状菌污泥膨胀。

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