自动薄膜介电常数测试仪

薄膜介电常数测试仪 采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。薄膜介电常数测试仪 本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。薄膜介电常数测试仪 1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。薄膜介电常数测试仪 1. 测试注意事项a. 本仪器应水平安放；b. 如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c. 调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d. 被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线 的电阻和分布参数所带来的测量误差；e. 被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙 烯等做成的衬垫物衬垫；f. 手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端 的接线柱。2. 高频线圈的Q值测量（基本测量法） A．直接法a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．选择适当的工作频段和工作频率；c．先调调谐电容器到谐振点，即Q表读数达最大，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值（QT），则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正薄膜介电常数测试仪 1. 谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a. 把元件接以接线柱上；b. 主调电容调到约中间位上；c. 按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“SWEEP””，仪器就进入搜索状态。仪器从最低工作频率一直搜索到最高工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。 8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振 点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上； b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，仪器从最小电容一直搜索到最大电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。9．频率调谐开关的使用。A/C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／ 档)。在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快，当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。 因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度，当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。烧嬌金属电极烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，最好采 用金。5. 1.3.3喷镀金属电极锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它 们不穿透非常小的孔眼。5. 1.3.4阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本 方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明，石墨一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显 著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5. 1.4 电极的选择5. 1.4. 1板状试样考虑下面两点很重要：a） 不加电极，测量时快而方便,并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b） 若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△/ //!所引起的相对电容率的相对误 差您可由下式得到：5. 1.3.5汞电极和其他液体金属电极把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极 不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的.伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素.这些 合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于10。笆以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。5. 1.3.6 导电漆无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿 气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂 上银漆后不能马上进行试验，通常要求12 h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否 则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响.要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。 但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。

玻璃薄膜介电常数试验测试仪ef——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则4等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样 的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3〜 10之间的材料，能给出最高精度的电极是金 属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样 上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出， 则采用流体排出法是最好的玻璃薄膜介电常数试验测试仪介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对绝缘材料进行 高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～2MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。介电常数测试仪中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。 概述HRJD-DP 是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率最高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。性能特点◎ 全自动一键操作可自动扫描最平稳的量程阶段◎微电脑处理器反应迅速可在最短时间内计算出最佳频段◎ 夹具数字显示◎ 4.3寸TFT液晶显示◎ 中英文可选操作界面◎ 最高2MHz的测试频率，10mHz分辨率◎ 平衡测试功能◎ 变压器参数测试功能◎ 最高测试速度:13ms/次◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能◎ V、I 测试信号电平监视功能◎ 内部自带直流偏置源◎ 可外接大电流直流偏置源◎ 10点列表扫描测试功能◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻◎ 内建比较器，10档分选和计数功能◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存◎ 测量数据可直接保存到U盘◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。◎ 介电常数测量范围可达1～105主要技术指标： ε和D性能：固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。 ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω基本准确度 0.1%显示范围 :L 0.0001 uH ～ 9.9999kHC :0.0001 pF ～ 9.9999FR,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩY, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 SD :0.0001 ～ 9.9999Q :0.0001 ～ 99999θ :-179.99°～ 179.99°测量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准等效方式 :串联方式, 并联方式量程方式:自动, 保持显示方式 :直读, Δ, Δ%触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进比较器功能:10档分选及计数功能显示器 320×240点阵图形LCD显示存储器 :可保存20组仪器设定值USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，精度：±0.02%电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显电容测量基本误差：±0.05%损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度10mm的试样精确测量。它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。微分头分辨率：10μm最高耐压：±42Vp（AC+DC）电缆长度设置：1m最高使用频率：30MHz高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃， 氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。玻璃薄膜介电常数试验测试仪式中：G——电极常数；G——空气中电极装置的电容扌G——充有校正液体时电极装置的电容,孔——校正液体的相对电容率。从G和G的差值可求得校正电容Cg；玻璃薄膜介电常数试验测试仪来计算液体未知相对电容率Ex*式中：G——校正电容；Co——空气中电极装置的电容；cc——电极常数)Cx——电极装置充有被试液体时的电容；织——液体的相对电容率。假如G、Cn和役值是在鈴是已知的某一相同温度下测定的，则可求得最高精度的馭值， 采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由 于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差.玻璃薄膜介电常数试验测试仪测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。5. 1零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就 是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器 电桥(也就是互感耦合比例臂电桥)和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加 附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。 6.2谐振法适用于10 kHz〜 几百MHz的频率范围内的测量,该方法为替代法测量，常用的是变电抗 法。但该方法不适合采用保护电极。

薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-70MHz10KHZ-110MHz100KHZ-160MHz信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1信号源频率精度 6位有效数3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 采样精度11BIT11BIT12BIT高精度的AD采样，了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%5%5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH1nH-8.4H ,分辨率0.1nH1nH-8.4H 分辨率0.1nH1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%3%3%调谐电容主电容30-540pF主电容30-540pF主电容17-240pF电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～2.5uF1pF～25nF调谐电容误差分辨率±1pF或1%0.1pF±1pF或1%0.1pF±1pF或1%0.1pF谐振点搜索自动扫描自动扫描自动扫描Q合格预置范围 5-1000声光提示5-1000声光提示5-1000声光提示Q量程切换自动/手动自动/手动自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能()有有有大电容值直接测量显示功能()测量值可达2.5uF测量值可达2.5uF测量值可达25nF介质损耗系数精度 万分之三精度 万分之三精度 万分之一介损系数万分之一万分之一万分之一介电常数精度 千分之一精度 千分之一精度 千分之一材料测试厚度0.1mm-10mm0.1mm-10mm0.1mm-10mm薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪固体：材料测量直径Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调≥ 15mm （二选一） 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪特点：　　1、自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。　　2、能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。　　3、调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。　　4、LCD屏菜单式显示多参数：Q值、测试频率、调谐状态等。　　5、Q值量程自动/手动量程控制。　　6、DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。信号源输出口，所以本机又是一台合成信号源。　　7、测试装置符合国标GB/T 1409-2006，美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪介电常数测试仪按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。　　例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。　　高频介质样品(选购件)：　　在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。　　该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

薄膜塑料介电常数测试仪Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。薄膜塑料介电常数测试仪1．a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。1 测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.0001薄膜塑料介电常数测试仪　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。薄膜塑料介电常数测试仪在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。 薄膜塑料介电常数测试仪紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。整个显示屏共分为四行第一行：左边 信号源频率指示，共6位；右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容指示值，4位；右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值；右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示； 右边上部 Q值量程范围指示；右边下部 Q值调谐光带指示。

薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数'。采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A介电常数测试仪按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。　　例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。　　高频介质样品(选购件)：　　在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。　　该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。板状试样考虑下面两点很重要：a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：……………………………（12）式中：△εr——相对电容率的偏差；εr——相对电容率；h——试样厚度； Ah——试样厚度的偏差。若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时 ……………………………（13）式中：△εr、εr、h同式（12）。εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3〜 10之间的材料，能给出高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是的。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A可以用于科研机关，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试；同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等。　　薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A我们公司的原则是:“ 诚实守信，服务至上，互惠互利，共谋发展”我们将以与您携手发展、共创辉煌！竭诚欢迎新老用户光临！真诚希望与各界朋友精诚合作，共创美好未来！

薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD概述：是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切 tanδ 及介电常数（ε ），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD测试原理：采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q 值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，并保留了原Q 表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q 值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF 的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q 值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD技术指标：1、Q 值测量范围：2～10232、Q 值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3、电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能 4.5nH-100mH 分别有 0.1μ H、0.5μ H、2.5μ H、10μ H、50μ H、100μ H、1mH、5mH、10mH 九个电感组成。4、电容直接测量范围：1～460pF5、主电容调节范围： 30～500pF6、电容准确度 150pF 以下±1.5pF；150pF 以上±1%7、信号源频率覆盖范围 10KHz-70MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）另有 GDAT-C 频率范围 100KHZ-160M8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1，Q 值合格指示预置功能范围：5～1000 Q 值自动锁定，无需人工搜索9、Q 表正常工作条件a. 环 境 温 度 ：0℃～+40℃ b．相对湿度：80％；薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD安全操作规程本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。接通电源前应将灵敏度开关调到Z低位置。测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。操作方法薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD测试前的准备工作连接标准电容Ｃｎ（选用外接标准电容时），与被测电容Ｃｘ，并且将标准电容与被测电容尽可能远离，以防止互相之间干扰。如选用内部标准电容器，只需连接被测试品即可。检查周围是否有强电磁场干扰，应尽量避免。检查大地线是否牢靠，以保证操作人员的安全，应检查电桥上的（⊥）与大地是否接触良好。表征介质材料的介电性质或极化性质的物理参数。其值等于以欲测材料为介质与以真空为介质制成的同尺寸电容器电容量之比，该值也是材料贮电能力的表征。也称为相对电容率。不同材料不同温度下的相对介电常数不同，利用这一特性可以制成不同性能规格的电容器或有关元件。介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介电常数(permittivity),又称诱电率。如果有高介电常数的材料放在电场中，场的强度会在电介质内有可观的下降。信号源范围DDS数字合成信号：10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比： 7000:1信号源频率精度6位有效数： 3×10-5 ±1个字 采样精度： 12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围： 1-1000自动/手动量程Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差： 5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差 ： 3%调谐电容 ： 主电容17-240pF (一体镀银成型,精度高)电容自动搜索 ：是(带步进马达)电容直接测量范围： 1pF～25nF调谐电容误差： ±1 pF或1%分辨率： 0.1pF谐振点搜索： 自动扫描Q合格预置范围： 5-1000声光提示Q量程切换： 自动/手动LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感的： 有自动扣除功能大电容值直接测量显示功能： 测量值可达25nF介质损耗系数： 精度 万分之一 / LCD直接显示介电常数： 精度 千分之一 / LCD直接显示材料测试厚度： 0.1mm-10mm技术：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。介电常数测量仪/介电常数检测仪该方法降低了或消除了样本的电极需求。厚度必须进行测定，测量时，在电学测量所用的样本区域上进行系统性地分布测量，厚度测量值均匀性应在±1%的平均厚度之内。如果样本整个区域将被电极覆盖，同时如果已知材料密度，可通过称量法来测定平均厚度。样本直径选择应使得能提供一个具有要求精度的样本电容测量值。采用受到良好保护和遮蔽的装置，将没有困难测量电容为10pF，分辨率为1/1000的样本。相对电容率。不同材料不同温度下的相对介电常数不同，利用这一特性可以制成不同性能规格的电容器或有关元件。绝对介电常数ε0是一个电磁学物理常数。

QS37A薄膜工频高压电桥介电常数测试仪产品详细介绍一、简介：QS37a型薄膜工频高压电桥介电常数测试仪是本公司推出的新一代绝缘纸介电常数介质损耗测试仪,主要用于测量高压工业绝缘介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路,主要可以测量各种绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tgδ）和电容量（C）及介电常数(ε)。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法.GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量.三、仪器特点1、桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线极少。2、电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性。3、仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。4、仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。5、仪器内置100pF标准电容器及5000V数字式高压测试电源。四、技术指标：1、测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF、R4=3183.2（Ω）时：测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF、R4=318.3（Ω）时：测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.0001 RY2A型固体绝缘材料测试电极一、简介：本电极适用于固体电工绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和玻璃等的相对介电系数（ε）与介质损耗角正切值（tgδ）的测试。本电极主要用于频率在工频50Hz下测量试品的相对介电系数（ε）和介质损耗角正切值（tgδ）。本电极的设计主要是参照国标GB1409。本电极采用的是三电极式结构，能有效的消除表面漏电流的影响，使测量电极下的电场趋于均匀电场。二、主要技术指标：环境温度：20±5℃相对湿度：65±5%高低压电极之间距离：0~5mm可调百分表示值误差：0.01mm测量极直径：50mm（表面积19.6cm2）空极tgδ：≤3×10-5zui高测试电压：2000V体积：Ф210mm H180mm重量：6kgRY2型固体绝缘材料测试电极一、概述RY2型固体绝缘材料测试电极制造成平板型带保护电极的三端式电容器，可以在加压、加温及抽真空条件下，配以高压电容电桥在工频电压下对各类固体绝缘材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，电容纸等）的试品作介质损耗因数（tgδ），相对介电常数（ε）的测量。配上高阻计还可测试体积电阻率（Pv）.二、主要性能参数高压电极直径与表面积：￠98mm(75.43cm2)测量电极直径与表面积：￠50 mm(19.6 cm2)电极材料 ：不锈钢1Cr13Ni9Ti电极工作面：精面面磨电极间距：不大于6mm电极加热功率：约2*500瓦电极高温度：200°C(配上FY120B型温控仪，精度0.1°)加热时间： 30分钟电极压力：0~~1.0Mpa连续可调大测量电压：2000V，50Hz真空度：电极可抽真空至3*10-2 Mpa尺寸重量： 长*宽*高400 mm*300 mm*400 mm，重量：15Kg测量液体： FY120B型液体电极控温仪一、简介：FY120B型液体电极控温仪是新一代的绝缘油测量电极的控温智能化装置，可与通用的圆柱型绝缘油电极配套使用。保证绝缘油在规定时间内到达所需温度，并能恒定较长时间，以便通过高压电桥对绝缘油进行介质损耗因素(tg)、相对介电常数(r)进行精密测量。本产品温度显示采用内外温同时显示，加热控制采用两片单片机分别对内、外加热器进行加热控制。控制过程采用PID模糊逻辑控制，能彻底消除电网电压、环境温度变化等的影响，具有控温超调量小、控温速度快的优点。温度设置采用数字键盘输入方式，保证工作的安全、可靠。二、使用条件：1.环境温度：0～40℃2.相对湿度：30～85%3.工作电压：220V10%，50HZ 4.测温范围：0～199.9℃，误差1+0.1℃5.控温范围：室温～199.9℃，稳定度（1+0.1）℃6.由室温加热至控温值：不大于45min7.加热功率: 1000W（包括内、外加热器）RY1型绝缘油介损测量电极（油杯）一、简介：RY1型绝缘油介损测量电极（俗称：油杯）是用于对各种电缆油，变压器油，电容器油等液体绝缘材料的介质损耗因数（tgδ）,相对介电常数(εr)和直流电阻率(p)的精密测量。 RY1型绝缘油介损测量电极在原理和结构上参考了IEC标准，与在我国广泛应用的瑞士Tettex2930性能指标相似。本产品是一种带有屏蔽保护极，极间距离为2mm圆柱形空气电容器.它能有效地压抑和消除杂散电容影响,提高测量精度.当和本厂产品FY104型或FY120型测温控温以及加热器配合使用时还能十分方便地没量在规定温度(室温~150oC范围内)的介质损耗因数和介电常数。二、主要技术指标：(1)两极空间距离：2mm(2)空杯电容量：60±2pF(3)大测量电压：工频2000V(4)空杯tgδ：≤5×10-5(5)液体容量：约40mm3(6)电极材料：不锈钢(7)重量：约10kg配置清单：序号项目单位/数量备注1QS37a高压电容电桥台/1 标配 2RY2A型固体测试电极台/13连接线、电源线套/14说明书、保修卡、合格证套/15RY2型固体加压、加温、真空条件下测试电极套/1 选配 6FY120B型液体电极控温仪台/17RY1型绝缘液体介损测量电极（油杯）只/1

Ｃｎ标准电容器容量 皮法（pＦ） Ｉｇ通用指另仪的电流5X10-10 安培（Ａ） Ｒｇ平衡指另仪内阻约1500 欧姆（W） Ｒ４桥臂R4电阻值3183 欧姆（W） Ｃｘ被测试品电容值 皮法（ｐF）3 电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tgdx±1×10-44 辅桥的技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012　W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）5 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db 三次谐波 减不小于50db 特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。

电容器薄膜工频介电常数测试仪是本公司推出的新一代高压电桥，主要用于测量工业绝缘材料的介质损耗（tgδ）及介电常数（ε）。符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998（2004） 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法其采用了西林电桥的经典线路，内附0-2500的数显高压电源及100PF标准电容器，并可按用户要求扩装外接标准电容线路。电容器薄膜工频介电常数测试仪是本公司推出的新一代高压电桥，主要用于测量工业绝缘材料的介质损耗(tgδ)及介电常数（ε）。符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998(2004) 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法其采用了西林电桥的经典线路，内附0-2500的数显高压电源及100PF标准电容器，并可按用户要求扩装外接标准电容线路。 电桥的特点； l桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线及少。l电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性l仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。l仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。l内附高压电源精度3%l内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF一、 技术指标测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。 在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V) ω为角频率2πf=314(50Hz) Cn标准电容器容量 法拉(F) Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A) Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω) R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω) Cx被测试品电容值 法拉(pF)工作电压说明在使用中，本电桥顶A，B对V点的电压不超过11V，R3桥臂各盘的电流不超过下列规定：10×1kΩ 1max≤15mA10×100Ω 1max≤120mA10×10Ω l max≤150mA用户在使用前应注意以上的问题。如不清楚，可根据实验电压及标准电容量，按以下公式来计算出大概的工作电流。 I=ω V C 辅桥的技术特性：不失真跟踪电压0～11V（有效值）指零装置的技术特性：在50Hz时电压灵敏度不低于1×10-6V/格 电流灵敏度不低于2×10-9 A/格二次谐波 减不小于25dB三次谐波 减不小于50dB一、 电桥工作原理电容器薄膜工频介电常数测试仪采用典型的西林电桥线路。C4桥臂在基本量程时，与R4桥臂并联，测量数值为正损耗因数。结构采用了双层屏蔽。并通过辅桥的辅助平衡，消除寄生参数对电桥平衡的影响。辅桥由电位自动电位跟踪器与内层屏蔽（S）组成。自动跟踪器由电子元器件组成。它在桥顶B处取一输入电压，通过放大后，在内屏蔽（S）产生一个与B电位相等的电压。当电桥在平衡时，A,B,S三点电位必然相等，从而达到自动跟踪的目的。本电桥在平衡过程中，辅桥采用自动电位跟踪，在主桥平衡过程的同时，辅桥也自动跟踪始终处于平衡的状态，用户只要对主桥平衡进行操作就能得到可靠的所需数据。同时也有效的抑制了电压波动对平衡所带来的影响。在指零部分，采用了指针 桥各臂的组成***臂：由被测对象Cx组成Z1。第二臂：由高压标准电容器Cn组成Z2。第三臂：由十进电阻器10×（1000＋100＋10＋1＋0.1）欧姆和滑线电阻（0-0.13）欧姆组成Z3。第四臂：由十进电容臂10×（0.1＋0.01＋0.001＋0.0001）uf和可变电容器100pF组成C4再与电组R4并联组成Z4。 计算公式Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]tgδ=ωR4C4 R4[Ω] C4[F]当R4=10K/πtgδ=C4 当R4=1K/πtgδ=0.1C4 我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=50Hz）若干倍。公式说明.频率对介质损耗正公式：本电桥额定的工作频率f=50Hz，在实际工作频率偏离额定频率时可用修正式进行修正：tg=f’tgδ / f式中：f 为额定工作频率（f=50Hz）f’ 为实际工作频率tgδ 电桥测得损耗值tgδ 为被测试品介质损耗角正切的实际值 四、安全操作规程1. 本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。2. 每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。3. 接通电源前应将灵敏度开关调到***位置。4. 测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。5. 对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。6. 测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。7. 在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。 五．操作方法 5.1 测试前的准备工作①按图（3）所示，连接标准电容Ｃｎ（选用外接标准电容时），与被测电容Ｃｘ，并且将标准电容与被测电容尽可能远离，以防止互相之间干扰。如选用内部标准电容器，只需连接被测试品即可。②检查周围是否有强电磁场干扰，应尽量避免。③检查大地线是否牢靠，以保证操作人员的安全，应检查电桥上的（⊥）与大地是否接触良好。④检查电桥的灵敏度开关是否已回另位。⑤检查试品的绝缘强度，应符合大于2U+1的标准。⑥对试品施加试验电压（按部标或国际所规定的专业标准进行）。 5.2 试品的测试①在不知道被测试品的大概容量及损耗时，可先施加少许的电压，找到粗平衡点后，再把工作电压升到所需的值，然后再寻找细平衡点。②在测量时，灵敏度开关是按从小到大的规律来调节的。③在测量时，R3开关时按从左至右的规律来调节的。④在测量时，C4开关时按从右至左的规律来调节的。⑤整个测量步絮：首先检查接线无误后，方可通电试验。第二升起试验电压，并调节灵敏度开关，使UA表头有明显的指示。此时表明电桥没有平衡。第三调节R3开关，顺序从左至右。这时通过观察表头来观察电桥的平衡状况。如表头已回另，可再加大灵敏度。应总保持能明显地观察到调节R3时，电桥的平衡状况。第四在某一点上用户会发现，调节R3已无法使表头再回到另位。这时可调节C4开关，顺序时从右至左，把表头指针调节到***小位。第五用户在调节C4到某一点时又会发现无法将指针调回另位。这时又要去调节R3开关，调节的位数是上一次调节R3的***后位，然后又会出现第四点时的问题，又必须要调节C4开关．．．就这样来回往复地调节R3和C4两组开关，直至灵敏度开关时，并指针回另（或指另仪指示到***小）。表明电桥已达到平衡。 ⑥测量完毕后或在暂停测量时，应将另仪的灵敏度开关降至“0”，再将测量电压降至另并切断电源开关，根据计算公式，算出被测试品的容量及介损值。六、装置成套性1．BQS-37a型高压电桥 一台 2. 试验电极 一台3．使用说明书 一份4．电源线 二根5．测试线 三根北广精仪公司简介北广精仪公司是一家专业从事检测仪器，自动化设备生产的高新科技企业公司，“精细其表，精湛于内”是北广精仪一惯秉承的原则。其先进的设计风格，卓越的制造技术和完善的服务体系，为科研机构、大专院校，企业和质量检测机构提供的产品和优质的服务。北广公司保持以发展与中国测试产业相适应的应用技术为主线，通过与产业界协调发展的方式提高本公司的竞争实力和技术含量。与此同时，本公司自成立以来，坚持走"研发生产"相结合的道路，借助国家工业研究院的理论知识和强劲的科研实力，在消化、吸收国际先进生产技术的基础上，大胆创新、锐意改革、努力创造，开发出具有中国特色的新产品，为提高中国的科研及产品质量作出了应有的贡献。经营理念： 一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。 二、检测 保质保量 检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺 三、技术 创新理念 储备的开发人才，引进世界技术，采用先进的设计理念，打造最精良的检测仪器。 北广产品广泛应用于国防、大专院校以及检测所等行业，本公司以技术的创新为企业的发展方向，以新型实用的产品引导客户的需求北广公司所供产品严格按照国家标准生产制造，严谨的制造环节确保每一台出厂仪器质量和性能的卓越，服务优质，质优价廉 确保您的放心 ！

工频薄膜介电常数测试仪计算公式Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]tgδ=ωR4C4 R4[Ω] C4[F]当R4=10K/πtgδ=C4 当R4=1K/πtgδ=0.1C4 我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=50Hz）若干倍。公式说明.频率对介质损耗正公式：本电桥额定的工作频率f=50Hz，在实际工作频率偏离额定频率时可用修正式进行修正：tg=f’tgδ / f式中：f 为额定工作频率（f=50Hz）f’ 为实际工作频率tgδ 电桥测得损耗值tgδ 为被测试品介质损耗角正切的实际值 安全操作规程本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。电桥的特点； l桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线及少。l电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性 l仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。l仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。l内附高压电源精度3%l内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF技术指标测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.00011-1电桥的特点； l桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线及少。l电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性l仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。l仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。l内附高压电源精度3%l内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF 电容电桥测试仪BQS-37技术指标 2-1测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001 在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.0001 2-2电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准 在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V) ω为角频率2πf=314(50Hz) Cn标准电容器容量 法拉(F) Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A) Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω) R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω) Cx被测试品电容值 法拉(pF) 2-3电容电桥测试仪工作电压说明在使用中，本电桥顶A，B对V点的电压zui高不超过11V，R3桥臂各盘的电流不超过下列规定：10×1kΩ 1max≤15mA10×100Ω 1max≤120mA10×10Ω l max≤150mA用户在使用前应注意以上的问题。如不清楚，可根据实验电压及标准电容量，按以下公式来计算出大概的工作电流。 I=ω V C 2-4辅桥的技术特性：不失真跟踪电压0～11V（有效值）

薄膜介电常数介质损耗测试仪是本公司推出的新一代高压电桥，主要用于测量工业绝缘材料的介质损耗(tgδ)及介电常数（ε）。符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998(2004) 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法其采用了西林电桥的经典线路，内附0-5000的数显高压电源及100PF标准电容器，并可按用户要求扩装外接标准电容线路。特点； l桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线及少。l电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性 l仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。l仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。l内附高压电源精度3%l内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF技术指标测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.0001电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。 在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V) ω为角频率2πf=314(50Hz) Cn标准电容器容量 法拉(F) Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A) Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω) R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω) Cx被测试品电容值 法拉(pF)工作电压说明在使用中，本电桥顶A，B对V点的电压高不超过11V，R3桥臂各盘的电流不超过下列规定：10×1kΩ 1max≤15mA10×100Ω 1max≤120mA10×10Ω l max≤150mA用户在使用前应注意以上的问题。如不清楚，可根据实验电压及标准电容量，按以下公式来计算出大概的工作电流。 I=ω V C 辅桥的技术特性：不失真跟踪电压0～11V（有效值）指零装置的技术特性：在50Hz时电压灵敏度不低于1×10-6V/格 电流灵敏度不低于2×10-9 A/格二次谐波 减不小于25dB三次谐波 减不小于50dB工作原理BQS-37a型高压电桥采用典型的西林电桥线路。C4桥臂在基本量程时，与R4桥臂并联，测量数值为正损耗因数。结构采用了双层屏蔽。并通过辅桥的辅助平衡，消除寄生参数对电桥平衡的影响。辅桥由电位自动电位跟踪器与内层屏蔽（S）组成。自动跟踪器由电子元器件组成。它在桥顶B处取一输入电压，通过放大后，在内屏蔽（S）产生一个与B电位相等的电压。当电桥在平衡时，A,B,S三点电位必然相等，从而达到自动跟踪的目的。本电桥在平衡过程中，辅桥采用自动电位跟踪，在主桥平衡过程的同时，辅桥也自动跟踪始终处于平衡的状态，用户只要对主桥平衡进行操作就能得到可靠的所需数据。同时也有效的抑制了电压波动对平衡所带来的影响。在指零部分，采用了指针式电表指示，视觉直观，分辨清楚，克服了以往振动式检流计的缺点。桥体的组成电桥各臂的组成一臂：由被测对象Cx组成Z1。第二臂：由高压标准电容器Cn组成Z2。第三臂：由十进电阻器10×（1000＋100＋10＋1＋0.1）欧姆和滑线电阻（0-0.13）欧姆组成Z3。第四臂：由十进电容臂10×（0.1＋0.01＋0.001＋0.0001）uf和可变电容器100pF组成C4再与电组R4并联组成Z4。计算公式Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]tgδ=ωR4C4 R4[Ω] C4[F]当R4=10K/πtgδ=C4 当R4=1K/πtgδ=0.1C4 我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=60Hz）若干倍。公式说明.频率对介质损耗正公式：本电桥额定的工作频率f=50Hz，在实际工作频率偏离额定频率时可用修正式进行修正：tg=f’tgδ / f式中：f 为额定工作频率（f=50Hz）f’ 为实际工作频率tgδ 电桥测得损耗值tgδ 为被测试品介质损耗角正切的实际值 安全操作规程本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。操作方法 测试前的准备工作①按图（3）所示，连接标准电容Ｃｎ（选用外接标准电容时），与被测电容Ｃｘ，并且将标准电容与被测电容尽可能远离，以防止互相之间干扰。如选用内部标准电容器，只需连接被测试品即可。②检查周围是否有强电磁场干扰，应尽量避免。③检查大地线是否牢靠，以保证操作人员的安全，应检查电桥上的（⊥）与大地是否接触良好。④检查电桥的灵敏度开关是否已回另位。⑤检查试品的绝缘强度，应符合大于2U+1的标准。⑥对试品施加试验电压（按部标或国际所规定的专业标准进行）。试品的测试①在不知道被测试品的大概容量及损耗时，可先施加少许的电压，找到粗平衡点后，再把工作电压升到所需的值，然后再寻找细平衡点。②在测量时，灵敏度开关是按从小到大的规律来调节的。③在测量时，R3开关时按从左至右的规律来调节的。④在测量时，C4开关时按从右至左的规律来调节的。⑤整个测量步絮：首先检查接线无误后，方可通电试验。第二升起试验电压，并调节灵敏度开关，使UA表头有明显的指示。此时表明电桥没有平衡。第三调节R3开关，顺序从左至右。这时通过观察表头来观察电桥的平衡状况。如表头已回另，可再加大灵敏度。应总保持能明显地观察到调节R3时，电桥的平衡状况。第四在某一点上用户会发现，调节R3已无法使表头再回到另位。这时可调节C4开关，顺序时从右至左，把表头指针调节到小位。第五用户在调节C4到某一点时又会发现无法将指针调回另位。这时又要去调节R3开关，调节的位数是上一次调节R3的后位，然后又会出现第四点时的问题，又必须要调节C4开关．．．就这样来回往复地调节R3和C4两组开关，直至灵敏度开关大时，并指针回另（或指另仪指示到小）。表明电桥已达到平衡。 ⑥测量完毕后或在暂停测量时，应将另仪的灵敏度开关降至“0”，再将测量电压降至另并切断电源开关，根据计算公式，算出被测试品的容量及介损值。装置成套性1．BQS-37a型高压电桥 一台 2. 试验电极 一台3．使用说明书 一份4．电源线 二根5．测试线 三根

薄膜塑料介电常数测试定仪Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。薄膜塑料介电常数测试定仪其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。薄膜塑料介电常数测试定仪1. 平板电容器极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极薄膜塑料介电常数测试定仪维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。薄膜塑料介电常数测试定仪性能特点◎ 4.3寸TFT液晶显示◎ 中英文可选操作界面◎ 最高1MHz的测试频率，10mHz分辨率◎ 平衡测试功能◎ 变压器参数测试功能◎ 最高测试速度:13ms/次◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能◎ V、I 测试信号电平监视功能◎ 内部自带直流偏置源◎ 可外接大电流直流偏置源◎ 10点列表扫描测试功能◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻◎ 内建比较器，10档分选和计数功能◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存◎ 测量数据可直接保存到U盘◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口显示范围|Z|, R, X 0.01mΩ —99.9999 MΩDCR 0.01 mΩ —99.9999 MΩ|Y|, G, B 0.00001µ S —99.9999 SC 0.00001 pF —9.9999 FL 0.00001 µ H —9999.99 HD 0.00001 —9.9999Q 0.00001 —9999.9θ(DEG) -179.999º —179.999 º θ(RAD) -3.14159 —3.14159

2 电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。在下面的计算公式中，用户可根据实际使用情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx) 式中：Ｕ为测量电压 伏特（Ｖ）ω为角频率 2pf=314(50Hz) Ｃｎ标准电容器容量 皮法（pＦ） Ｉｇ通用指另仪的电流5X10-10 安培（Ａ） Ｒｇ平衡指另仪内阻约1500 欧姆（W） Ｒ４桥臂R4电阻值3183 欧姆（W） Ｃｘ被测试品电容值 皮法（ｐF）3 电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tgdx±1×10-44 辅桥的技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012　W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）5 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db 三次谐波 减不小于50db特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。

仪器简介：日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。 AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔。技术参数：频率范围：1G~10GHz 同轴共振腔： 介电常数Epsilon：1~30，准确度：+/-1%， 介电损耗tangent delta：0.05~0.0001，准确度：+/-5%主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 日本AET 公司针对CCL/印刷电路板设计空洞共振腔测试装置 , 只需裁成小长条状即可量测精确的复介电常数(Dk), 尤其是低损耗(Df)的样品, 测量值非常精准。 用于介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。

薄膜介电常数介质损耗因数测试仪液体置换方法——当浸泡介质为一种液体，同时没有使用保护时，应平行板系统结构，以使得绝缘高电位板可以在两个平行低电位或接地板之间平行和等距离进行固定，其中接地板用试验池的相对内壁设计成容纳液体。该结构使得电极系统基本为自我屏蔽，但是通常要求双份试验样本。液体的精确温度测量必须作出规定（9,10）。试验池应为镀黄铜和金结构。高电位电极应可以移动来进行清洗。面必须接近为光学平面，同时尽可能平行。在≤1MHz频率下测量用合适液体池见试验方法D1531的图4所示。该试验池的尺寸变化是有必要的，以提供用于不同厚度或尺寸的薄板样本测试，但是这种变化应不能让充满标准液体的试验池电容降低到小于100pF.。在1~约50MHz频率下进行测量时，试验池尺寸必须大大地减小，同时导线必须尽可能短且直。当在50MHz频率下进行测量时，带液体的试验池电容应不超过30或40pF。受保护平行板电极优点是单个样本可以进行*准确地测量。另外液体电容率的先前知识不作要求，因此其可以直接测量得出（11）。如果试验池结构带一个测微计电极，厚度差异很大的样本可以进行*准确地测量，因为电极可以调节至某一只比样本厚度稍微大一点的间距。如果液体电容率接近样本电容率，样本厚度测定误差影响可以降至小。在测量极其薄的膜层时，使用一种接近匹配液体和一种微米试验池，则将允许获得很高的准确度 如果在两种已知电容率的液体上进行足够的测量，则排除了样本厚度和电极间距测定的必要性（12,13,18）。本方法对任何频率范围都不作限制；然而，限制液体浸泡方法用于液体耗散因子小于0.01（对于低损耗样本，小于0.0001）的频率场合。当使用两种液体方法时，在样本相同样本进行测量是非常重要的，因为厚度将不总是在所有点都是相同的。为确保相同区域被测试两次，同时帮助薄膜的搬运，样本固定架是非常方便的。固定架可为一个V形件，其将能滑入电极池中的沟槽中。同时也有必要控制温度小为0.1℃。这可以通过配备带冷却线圈的试验池来达到效果（13）。装置选择和电容和交流损耗测量方法 频率范围——电容和交流损耗测量方法可分成三种：零值法，共振法和偏转法。任何特殊场合的某一方法选择将主要取决于工作频率。当频率范围为从小于1Hz直到几兆赫兹时，可以使用许多形式的电阻或电感比值臂电容桥。当频率低于1Hz时，要求采用特殊的方法和仪器。在500kHz~30MHz的较高频率下，可使用平行T形网络，因为它们采用了共振电路的一些特征。而当频率从500kHz到几百兆赫兹时，可使用共振法。偏转法只能在从25到60Hz的电源线频率下使用，使用时采用商用指示仪表，此时可以很容易获得要求的较高电压。 直接和替代方法——在任何直接法中，电容和交流损耗值采用该方法所用所有电路元件形式来表示，因此受到所有误差的影响。通过替代方法可以获得更加大的精度，在此方法中可采用连接和断开的未知电容器进行读数。在这些不能改变的电路元件中的误差通常可以排除；然而，仍然保留了连接误差（注4）。两终端和三终端测量——两终端和三终端测量选择通常是在精度和便利性之间作出一个选择。在电介质样本上使用一个保护电极时，则几乎可排除边缘和接地电容的影响，如6.2的解释。规定采用一个保护终端，则可排除电路元件引入的一些误差。在另一方面，补充的电流元件和护罩通常要求提供相当多的保护终端到测量设备上，这可能增加好几倍的调节次数来获得要求的后结果。电阻比值臂电容桥用保护电路很少被用于1MHz以上的频率。电导比值臂桥提供了一个保护终端，而不要求额外的电路或调节。平行T形网络和共振电路不提供保护电路。在偏转方法中，可以仅仅通过额外护罩来提供一个保护。一个两终端测微计电极系统的使用提供了许多三终端测量的优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，但是可能增加观测或平衡调节的次数。其使用也可以排除在较高频率下连接导线的串联电感和电阻导致的误差，其可以在整个频率范围内使用，直至几百兆赫兹。当使用一个保护时，存在耗散因子测量值将小于真实值的可能性。这可能是由于在测量电路保护点和保护电极之间的任何点位置的保护电路的电阻导致的。这还可能来自高接触电阻，导线电阻，或者来自保护电极自身的高电阻。在场合，耗散因子将显示为负值。当没有保护的耗散因子高于由于表面泄漏导致的标准值时，该情况可能存在。电容耦合到测量电极以及电阻耦合连接到保护点的任何点可成为困难的来源。常见保护电阻产生一个与ChClRg成比例的等效负值耗散因子，其中Ch和Cl为电极保护电容，Rg为保护电阻（14）。液体置换方法——液体置换方法使用时可以采用三终端或自屏蔽两终端试验池。采用三终端试验池，可能直接测定所用液体的电容率。自屏蔽两终端试验池提供了三终端试验池的许多优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，同时还可以与没有规定一个保护的测量电路一起使用。如果其配有一个完整的测微计电极，在较高频率下连接导线的串联电导电容的影响将可以排除。 精度——8.1所列方法精密考虑了电容率测定精度为±1%，而耗散因子测定精度为±(5%+0.0005)。这些精度取决于至少三个因素：电容和耗散因子观测的精度，所用电极布置导致的这些参量的修正值的精度以及电极之间真空静电容计算的精度。在好的条件以及较低频率下，电容测量可具有±(0.1%+0.02pF)的精度，而耗散因子可具有±(2%+0.00005)的精度。在较高频率下，当电容达到±(0.5%+0.1pF)，耗散因子达到±(2%+0.0002)时，这些极限值可能增大。配有一个保护电极的电介质样本测量只具有电容误差和电极之间真空静电容计算的误差。受保护电极和保护电极之间间隙太宽导致的误差将通常为几十个百分比，同时修正值可以计算为几个百分比。当平均厚度为2mm时，样本厚度测量误差可为几十个百分比，此时假设可以测量至±0.005mm。圆形样本直径可以测量至具有±0.1%的精度，但是输入作为平方值。将这些误差合并，电极之间真空静电容可以测量至具有±0.5%的精度。与电极之间静电容不同的是，采用测微计电极进行测量的带接触式电极的样本不需要进行修正，假如样本直径足够小于测微计电极直径的话。当两终端样本以任何其它方式进行测量时，边缘电容计算和接地电容测定将涉及相当大的误差，因为每一种误差都可能为2~40%的样本电容。采用目前的这些电容知识，在计算边缘电容时，可能的误差为10%，而在评估接地电容时，其可能的误差为25%。因此涉及的总误差范围可为几十分之一的1%到10%或者更大。然而，当没有电极接地时，接地电容误差降至小（6.1）。采用测微计电极，0.03阶的耗散因子可以测量精确到±0.0003的真实值，而0.0002阶的耗散因子可以测量精确到±0.00005的真实值。耗散因子范围通常为0.0001到0.1，但是其也可以超过0.1。在10~20MHz的频率下，可以推测0.0002阶的耗散因子。从2到5的电容率值可以测定精确到±2%。该精度受到电极之间真空静电容计算要求测量精度以及测微计电极系统误差的限制。抽样抽样说明见材料规范。薄膜介电常数介质损耗因数测试仪程序样本制备概述——裁剪或模压试验样本至一个合适的形状和厚度，以能按照材料规范进行测试或者按照要求的测量精度，试验方法，和将执行的测量频率来进行测试。按照被测材料要求的标准方法来测量厚度。如果某一特殊材料没有标准，然后按照试验方法D374测量厚度。实际测量点应在材料电极覆盖区域上均匀分布。然后合适的测量电极应用到样本上（第7章）（除非将使用液体置换方法），尺寸和数量选择主要取决于是否将执行三终端或两终端测量，如果执行后者的两终端测量，是否将使用一个测微计电极系统（7.3）。样本电极材料选择将取决于应用的便利性和是否样本必须在高温和高相对湿度下进行调节（第7章）。通过一个移动显微镜来获得电极尺寸（如果电极不等效，则是指较小的电极），或者通过刻度为0.25mm的钢尺和一个允许放大至读数精确到0.05mm的放大镜来进行测量。在几个点上测量圆形电极的直径，或者矩形电极的尺寸，以获得一个平均值。测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量精确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量精确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过精确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。 清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前*干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染测量——将带附着电极的试验样本放入一个合适的测量试验池中，然后采用具有要求灵敏度和精度的方法来测量样本的电容和直流损耗。对于日常工作，当高精度不作要求时，或当样本终端都不用接地时，则没有必要将固体样本放入一个试验池中。 警告——本试验执行期间，致命电压是一种潜在的危险。所有试验装置及电连接到其上的所有相关设备需进行适当的设计和安装以便能安全运行，这是非常重要的。试验期间个人可能接触的所有导电连接进行牢固接地。在执行任何试验时，提供方式来对试验期间处于高电压的所有零件进行接地，或者对试验期间获得一个感应电荷而具有电位的所有零件进行接地，或者对甚至在电压源断开之后还保持带电荷而具有电位的所有零件进行接地。认真指导所有操作者，以使得其能采用正确的程序来安全执行试验。当执行高电压试验时，特别是在压缩气体或在油中测试时，在击穿时释放的能量可能足够导致试验箱发生火灾，爆炸，或者破裂。设计试验设备，试验箱和试验样本，以使得这类情况的发生可能性降至小，同时排除人身伤害的可能性。如果存在火灾风险，则需配置灭火设备。注2：将样本连接到测量电路所用的方法是非常重要的，特别是对于两终端测量。对于平行替代测量，试验方法D150先前*的临界间距连接方法可导致0.5pF的负误差。当两终端样本作为一个保护在一个试验池中进行测量时，可产生一个类似的误差。因为目前已知没有方法能用于评估该误差，当必须避免该数值的误差时，必须使用一种替代方法，也就是说，使用测微计电极，液体浸泡池，或者带受保护导线的三终端样本。注3：为获得电容和耗散因子而执行的测量细节说明以及由于测量电路而执行的任何必要的修正细节说明见商用设备提供的说明书所述。以下章节拟用于提供所需的补充说明。固定电极——精确地调节板间距至一个适合被测样本的值。特别对于低损耗材料，板间距和样本厚度应使得样本将占据不少于大约80%的电极间隙。对于在空气中的试验，不建议板间距小于大约0.1mm。当电极间距没有调节到一个合适值时，必须制备具有合适厚度的样本。测量试验池的电容和耗散因子，然后嵌入样本，同时使得样本位于测微计电极的电极或试验池之间的中心位置。重复测量。为获得大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。记录试验温度。测微计电极——测微计电极常与那些接触样本或其附着电极的电极一起使用。为执行一次测量，首先将样本夹紧在测微计电极之间，然后平衡或调整测量用网络。接着取出样本，重新设置电极，通过移动测微计电极使得更近地靠在一起，使得电路或桥臂中的总电容重新恢复至其原始值。 液体置换方法——当使用单种液体时，充满试验池中，然后测量电容和耗散因子。小心插入样本（或组合样本，如果使用了两个样本池），然后将其置于中心位置。重复测量。为获得大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。从液体中迅速地取出样本，以防止发生膨胀，然后在继续测试另一样本之前重新充满试验池至适当的液位。结果计算公式见表2给出。试验方法D1531详细描述了采用了本方法测量聚乙烯的应用。当受保护试验池为耐震结构时，按照精确温度控制条款，例如试验方法D1531中方法B的建议，则可通过在两种液体中测量样本来获得更大的精度。本方法也排除了已知样本尺寸的需要。该程序与以前的程序相同，除了使用两种不同电容率的流体之外（12,13,18）。使用空气作为*种流体是很方便的，因为这能避免测量期间清洗样本的必要性。受保护试验池的使用能允许测定所用液体或流体电容率测定。当采用一种或两种流体方法时，可能获得大的精度，此时一种液体的电容率较接近匹配样本的电容率。注4：当采用两种流体方法时，可由任一组读数获得耗散因子（其中采用具有较高Kf'的那组数据可获得较精确的耗散因子）。薄膜介电常数介质损耗因数测试仪电容率，耗散因子和损耗指数的计算——对于在某一给定频率下测量的样本，所用测量电路将给出电容值，交流损耗值（用Q表示），耗散因子，或串联或并联电阻。当由观测电容值计算得出电容率时，这些值必须转换为并联电容，如果不是如此来表示，则使用公式5。当使用测微计电极时，表3给出的公式可用于计算样本的电容。对于不同的电极系统，表2给出的公式可用于计算电容率和耗散因子。当使用平行替代方法时，耗散因子读数必须乘以总电路电容与样本或试验池电容的比值。Q和串联或并联电阻也要求由观测值计算得出。电容率为：Kx'=Cp/Cv （11） 平坦平行板和共轴圆柱的真空电容表达（6.4）见表1给出。当交流损耗采用串联电阻或并联电阻或电导来表示时，使用公式3和4给出的关系式来计算耗散因子（见3.1.2.1）。损耗指数等于耗散因子和电容率的乘积（见3.4）。10.4 修正——将样本连接到测量电路所用的导线具有电导和电阻，在高频率下，它们能大测量的电容和耗散因子。当测量中已包括额外电容时，例如边缘电容和接地电容，这些电容在两终端测量时可产生电位，此时观测并联电容将增大，同时观测耗散因子将减小。这些影响的修正值在附录X1和表1中给出。薄膜介电常数介质损耗因数测试仪报告11.1 报告以下信息：11.1.1 描述被测试的材料，也就是指名称，等级，颜色，制造商和其它相关数据，11.1.2 试验样本形状和尺寸，11.1.3 电极和测量池的类型和尺寸，11.1.4 样本调节，和试验条件，11.1.5 测量方法和测量电路，11.1.6 施加电压，有效电压梯度和频率，11.1.7 并联电容值，耗散因子值或功率因子值，电容率值，损耗指数值以及评估的精度值。精度和偏差精度——本规范提出的任一种试验方法的精度相关说明都不可能制定，因为精度受到被测材料和测量所用装置选择的影响。对于特定材料，鼓励这些试验方法用户探寻适用于特定材料的标准精度说明（也可见第8章）。 偏差——任一种或所有这些试验方法未能制定偏差相关的说明。关键字 直流损耗；电容；并联，串联，边缘现象，杂散；电导；接触式电极；电介质；介电常数；耗散因子；电绝缘材料；电极；液体置换；频率；边缘现象电容；受保护电极；Hz；损耗角；损耗因子；损耗正切值；非接触式电极；电容率；相位角；缺相角；功率因子；Q；品质因子；电抗；并联，串联；相对电容率；电阻；平行，串联；tan(Δ)；厚度表3 电容计算—测微计电极并联电容符号定义Cp=C'-Cr+CvrC'=在电极重置间距处的测微计电极的校准电容，Cv=由表2计算得出的，在测微计电极之间被样本占据区域的真空电容，Cr=在间距r处的测微计电极的校准电容，r=样本和附着电极的厚度。样本真实厚度和面积必须用于计算电容率。当样本具有与电极相同的直径，通过使用以下程序和公式，可以避免边缘真空电容的双重计算，计算只具有小误差（由于在电极边缘的边缘现象导致的误差，值为0.2~0.5%）。Cp=C'-Cv+CvtCv=在间距t处的测微计电极的校准电容，Cvt=在样本区域的真空电容，t=样本厚度。 附录（非强制性信息）X1.串联电感和电阻和杂散电容的计算X1.1 由于导线电感导致的电容增加和由于导线电阻导致的耗散因子增加按下式计算：式中：Cp=被测量电容器的真实电容，Ls=导线的串联电感，Rs=导线的串联电阻，ω=2π×频率，Hz。注X1.1：对于所用导线，可以由物理尺寸非常小的电容器测量值来计算得出L和R，电容器在测量设备终端和导线很远的末端上进行测量。C是指终端处测量的电容，△C是指两个电容读数的差值，而R为由测量值C和D计算得出的数值。X1.2 当要求这些导线尽可能短时，则难于在1MHz下将其电感和电阻降低到0.1μH和0.05Ω以下。高频率电阻随着频率的平方根而增大。因此当频率大于1MHz时，这些修正变得越来越重要。当测量中已包括额外电容时，例如边缘电容Ce和接地电容Cg，这可能在两终端测量中产生，观测的并联电容将增大，同时观测的耗散因子也将减小。这些观测参量的下标为m，则按下式可计算得出修正值：X1.3 耗散因子表达式假设额外电容没有损耗。这对于接地电容来说是基本真实的，除非在低频率下，同时当电极延伸到样本边缘时，边缘电容也基本无损耗，因为几乎所有的通量线都是在空气中。电容率和损耗指数按下式进行计算：4 当有一个或两个电极小于电极时，边缘电容具有两部分。穿过环境电介质的通量线相关的的电容具有一个耗散因子，对于各项同性材料，该耗散因子与电介质主体的耗散因子相同。穿过空气的、通量线相关的电容没有损耗，因此不可能分隔电容，通常惯例是将测量的耗散因子视为真实的耗散因子。保护电极的有效面积受保护电极在测量电极和保护电极之间具有一个间隙。该间隙具有明确的尺寸来定义间隙面积。受保护电极有效面积大于其实际面积。在多数受保护电极系统中，增加值大约为50%的保护间隙面积。为获得某一采用受保护电极的电极系统的有效面积，通过空气间隙宽度来增大以下每一个尺寸，同时在公式中使用这些增大后的尺寸来计算面积：（a）圆形测量电极的直径，（b）矩形测量电极的每个尺寸，（c）圆柱形测量电极的长度。 在那些间隙宽度g与电极间隔距离t（大约为该样本的厚度）的比值适当的场合，受保护电极尺寸的增大值小于间隙宽度，该数量值识别为保护间隙修正值。保护间隙修正值符号为：2δ。 保护间隙修正值符号受到保护间隙宽度g；电极间隔距离t（该值大约为该样本的厚度）；受保护测量电极厚度a；高电压和低电压电极之间介质电容率1/K'；和间隙中介质电容率Kg'的影响。有效因子为：X2.1.4.1 比值g/tX2.1.4.2 比值a/gX2.1.4.3 比值K'/Kg'X2.2 对于某些K'/Kg'和a/g比值，2δ/g计算的完整公式见公式X2.1-X2.3所示。X2.3 在计算有效电极面积之前，保护间隙分数加上整体电极尺寸则得B=1-2δ/g。考虑X2.1.2（16）中的（b）和（c），B可以依据公式X2.4的经验公式计算得出。A为比值a/g的函数。当a/g=0（薄电极）时，A=1。当a/g为1或大于1（厚电极）时，A接近极限值0.8106（准确为8/π2）。从图X2.1可得出的A的中间值。X2.4 当g/t≤10时，从公式X2.2得出的lnB与从公式X2.1得出的lnB的比值非常接近1.23。因此，通过写入公式X2.4，可以排除评估公式X2.2的必要性，如公式X2.5所示。X2.5 由公式X2.5计算的B值将不同于准确值，两者差值大为0.01。对于0.25mm保护间隙，该大误差将产生一个0.0025mm的电极直径或电极尺寸误差。而对于25mm电极，这将产生一个0.02%的面积误差。式中.电容率和损耗特征的影响因素频率绝缘材料能在整个电磁波频谱上使用，这些频谱包括从直流电到至少3×1010Hz的无线电频率。仅存在非常少数的材料，如聚苯乙烯，聚乙烯，熔融二氧化硅，它们的电容率和损耗指数在该频率范围内是近似恒定的。有必要在材料将采用的频率下测量电容率和损耗指数，同时有必要在放置时的几个合适频率下测量电容率和损耗指数，如果该材料将在某个频率范围使用的话 当材料存在电介质极化时，则可导致电容率和损耗指数随着频率的变化。两种重要的极化是由于极性分子导致的偶极极化，以及材料不均匀性导致的界面极化。图X3.1显示了电容率和损耗指数随着频率的变化（17）。在高频率下开始，此时电容率通过一种原子或电子的极化来进行测定，每次成功的极化，不管是偶极极化还是界面极化，都促进电容率结果在零频率时具有大值。每一次极化都提供了一个大的损耗指数和耗散因子。在损耗指数为大值时的频率成为该极化的松弛频率。它也是电容率以大速率大的频率以及发生一半的该极化变化的频率。这些极化影响相关的知识将常常有助于确定应在哪个频率下执行测量。X3.1.3 自由离子或电子导致的电介质的任何直流电导不会对电容率产生直接影响，但将产生一个耗散因子，该耗散因子随着频率发生相反得变化，同时在零频率时变得无限大（图X3.1的虚线）。X3.2 温度X3.2.1 温度对某*缘材料的主要电学影响是将增大其极化时的松弛频率。它们随着温度以一定速率成倍大，该速率使得当温度在6~50℃范围内增大时，可导致松弛频率出现十倍的增大。在较低频率下的电容率的温度系数将总是为正值，除了许多原子和电子极化导致电容率温度系数为负值的事实之外。然而在高频率下，温度系数将为负值，在某些中间频率时可变为零，而在偶极或截面极化的松弛频率下该温度系数为负值。X3.2.2 损耗指数和耗散因子的温度系数可为正值或负值，这取决于松弛频率的测量关系式。当频率高于松弛频率时，该值为正值，而对于较低频率，该值为负值。因为界面极化的松弛频率通常低于1Hz，损耗指数和耗散因子的相应温度系数将在所有通用测量频率下为正值。因为某一电介质的直流电导通常随着温度的倒数减小而成倍增大，由此导致损耗指数和耗散因子值将以一种类似的方式增大，同时将产生一个较大的正值温度系数。X3.3 电压X3.3.1 所有电介质极化，除了界面极化几乎与存在的电位梯度无关，直到该梯度值达到在材料空隙或材料表面上发生电离，或者发生击穿的数值。在界面极化中，自由离子数量可能随着电压而增大，同时可能改变极化和其松弛频率的大小。直流电导也会受到类似的影响。X3.4 湿度X3.4.1 湿度对某*缘材料的主要电学影响是将*得增加其界面极化的大小，因此增大其电容率，损耗指数和其直流电导。这些湿度影响是由水吸入材料体积，以及在材料表面形成离子化水膜而导致的。后者在几分钟之内形成，然而前者可能需要几天，有时甚至是几个月来达到平衡，特别是对于较厚和相对不透水材料（15）。X3.5 水浸泡X3.5.1 水浸泡对某*缘材料的影响近似为*相对湿度暴露的影响。水被吸入材料体积中，通常其吸水速率大于*相对湿度下的吸水速率。然而，当终达到平衡时，在两种条件下的吸水的总量基本是相同的。如果材料存在水溶性物质，水浸泡下的滤出将显著快于在*相对湿度且不冷凝前提下的滤出。如果浸泡所用水不纯，其杂质可能进入材料中。当材料去除水进行测量时，与在*相对湿度且不冷凝前提下产生的效果相比，其表面形成的水膜将变得更厚，同时导电性更好，同时这将要求一些时间来达到平衡。X3.6 气候X3.6.1 气候作为一种自然现象，其包括温度和湿度改变，降雨，飓风，大气杂质和太阳紫外线和热量的影响。在这些条件下，某*缘材料表面可能发生*性变化，如物理上的粗糙化和裂解，化学上的更多易溶成分的损失以及表面沉积的盐，酸和其它杂质的反应。表面上形成的任何水膜将变得更厚和更容易导电，同时水将更容易渗入材料体积中。X3.7 损失X3.7.1 在电压和温度的工作条件下，由于吸收湿分，材料表面物理变化，材料成分化学变化，以及材料表面和内部空隙表面的电离影响，某*缘材料可能损失电学强度。通常来说，材料电容率和耗散因子将增大，同时它们的增大值将随着测量频率降低而变得更大。在充分理解X3.1-X3.6列出的影响之后，任何电学性能的观测变化，特别是耗散因子，可作为损失的一种度量方式，也就是指电介质强度减小的一种度量方式。X3.8 调节X3.8.1 许多绝缘材料的电学特征取决于温度，湿度和水浸泡性，正如以上章节所述，因此通常有必要规定某一样本的过去历史以及其与这些因素相关的试验条件。除非将在室温（20-30℃）下执行测量，同时未规定相对湿度，样本应按规程D618进行调节。所选程序应能接近匹配工作条件。当数据要求包含宽范围的温度和相对湿度时，将有必要使用中间值，同时可调节至平衡。X3.8.2 保持规定相对湿度的方法见规程D5032和E104所述。X3.8.3 部件调节规范见规范E197所述。备注：Polarizations：极化；Interfacial：界面；Dipole：偶极Permittivity：电容率；Loss index：损耗指数；Log Frequency：对数频率图X3.1 典型极化（17）典型测量电路的电路图显示的简化电路和方程式仅作为一般参考信息。完整的图形，方程式和所用测量方法应参阅某一特定设备附带的说明书。 备注：GUARD：保护方程式Cx=(R1/R2)CsDx=ωR1C1平衡方法在位置M采用S1来改变C1和R2，以使得探测器D获得小的偏转。通过改变CF和RF在位置G采用S1来重复操作。重复以上程序直到当S1转换到M或G时探测器显示没有变化达到平衡。注1：该电桥类型对在电源频率下的高电压测量特别有用，因为几乎所有的施加电压显示穿过标准电容器Cs和样本Cx。平衡电路和探测器的接地电位都非常接近。图X4.1 高电压西林电桥方程式Cx=(R1/R2)CsDx=ωR1C1平衡方法设置R1和R2的比值（范围），然后改变Cs和C1，以获得平衡。图X4.2 低电压西林电桥，直接法方程式Cx=△Cs△Cs=Cs'-CsDx=(Cs'/△Cs)△C1ωR1△C1=C1-C1'平衡方法改变C1和Cs，可以连接或不连接样本，以获得平衡。不接地导线的未知断开的初始平衡所用符号都是基本符号。图X4.3 低电压西林电桥，平行替代法方程式Cx=(L1/L2)CsGx=(L1/L2)GsDx=(Gs/ω Cs)平衡方法设置L1和L2的比值（范围），然后改变Cs和Gs，以获得平衡。图X4.4 电感比值臂（变压器）电路方程式Cx=Cs'-Cs=△CsGx=(R5ω2C1C2/Cs)(C4-C4')=△GxDx=Gx/ωCx=△Gx/ωCs平衡方法没有连接的平衡，以及带未知连接的重新平衡，采用Cs和C4。初始平衡所用符号都是基本符号。图X4.5 平行T形网络，平行替代法

西班牙ITACA研究所研发出微波介电常数测试仪，主要测试频率在2.45GHz。 技术参数：频率范围：1.5GHz - 2.6GHz（名义的、受MUT性能的限制）损耗因数：0.001＜ε′′＜10，介电常数：ε′＜100损耗角正切tgδ＜ 0.1精度：在介电常数约1-2%和介电损耗因子在2-5%（取决于范围）微波功率：0 dBm与电脑连接：USB连接所需操作系统： Windows 7/8/10 主要特点：该仪器适用于不同形状样品：固定，液体或者粉末。 应用领域： 高速数字/微波电路用基底材料 ；滤波器和介电天线用低损耗电介质 ；化学制品； 薄膜与新材料；半导体材料；电子材料（包括CCL和PCB）

介电常数测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。 工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差频率范围 25kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2% 频率范围 10MHz～60MHz 固有误差 ≤6％±满度值的2% 工作误差≤8％±满度值的2%电感测量范围 14.5nH～8.14H直接测量范围 1-460P 主电容调节范围 40～500pF 准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 信号源频率覆盖范围频率范围 10kHz～70MHzCH1 10～99.9999kHz CH2 100～999.999kHz CH3 1～9.99999MHz CH4 10～70MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。 介电常数的定义 介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε'r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε'r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε'r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。 如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε'r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。 使用平行板法测量介电常数 当使用阻抗测量仪器测量介电常数时，通常采用平行板法。平行板法在ASTM D150标准中又称为三端子法，其原理是通过在两个电极之间插入一个材料或液体薄片组成一个电容器，然后测量其电容，根据测量结果计算介电常数。在实际测试装置中，两个电极配备在夹持介电材料的测试夹具上。阻抗测量仪器将测量电容(C)和耗散(D)的矢量分量，然后由软件程序计算出介电常数和损耗角正切。 当简单地测量两个电极之间的介电材料时，在电极边缘会产生杂散电容或边缘电容，从而使得测得的介电材料电容值比实际值大。边缘电容会导致电流流经介电材料和边缘电容器，从而产生测量误差。 使用保护电极，可以消除边缘电容所导致的测量误差。保护电极会吸收边缘的电场，所以在电极之间测得的电容只是由流经介电材料的电流形成，这样便可以获得准确的测量结果。当结合使用主电极和保护电极时，主电极称为被保护电极。接触电极法 这种方法通过测量与被测材料（MUT）直接接触的电极的电容来推导出介电常数。 介电常数和损耗角正切通过以下公式 计算: 其中Cp: MUT的等效平行电容 [F] D: 耗散系数 (测量值) tm: MUT 的平均厚度 [m] A: 被保护电极的表面积 [m2] d: 被保护电极的直径 [m] ε0: 自由空间的介电常数 =8.854 x 10-12 [F/m] 接触电极法不需要制备任何材料，而且测量操作非常简单，因此得到zui广泛的使用。不过在用这种方法进行测量时，如果没有考虑到空气间隙及其影响，那么可能会产生严重的测量误差。 当电极直接接触 MUT 时，MUT 与电极之间会形成一个空气间隙。无论 MUT 两面组成得多么平坦和平行，都不可避免会产生空气间隙。这个空气间隙会导致测量结果出现误差，因为测量的电容实际上是介电材料与空气间隙串联结构的电容。 通过用薄膜电极接触介电材料的表面，可以减小空气间隙的影响。虽然需要进行额外的材料制备 (制作薄膜电极)，但可以实现zui准确的测量。 ※非接触电极法 非接触电极法从概念上来说融合了接触电极法的优势，并避免了其缺点。它不需要薄膜电极，但仍可解决空气间隙效应。根据在有 MUT 和没有 MUT 时获得的两个电容测量结果推导出介电常数。 理论上，电极间隙 (tg)应比 MUT的厚度 (tm) 略微小一点。换句话说，空气间隙(tg-tm) 应远远小于 MUT 的厚度(tm)。要想正确执行测量，必须满足这些要求。zui少要进行两次电容测量，以便使用测量结果计算介电常数。 平行板测量法的比较 方法： 接触电极 (不使用薄膜电极) 非接触电极 接触电极 (使用薄膜电极) 精度 低 中 高 适用的MUT 具有平滑表面的固体材料 具有平滑表面的固体材料 薄膜电极必须应用到表面 操作 1次测量 2次测量 1次测量 使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 标签：介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 绝缘介电常数测试仪

一、 概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 二、 测试原理采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。 三、仪器的技术指标1．Q值测量范围：2～10232．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。4．电容直接测量范围：1～460pF 5．主电容调节范围： 30～500pF 6．电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 7．信号源频率覆盖范围10KHz-70MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）

仪器简介：日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔，空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。开放式同轴共振腔适用于不同形状样品，包括薄膜样品的非破坏性测量，使用简易的逐步操作，内置的反馈振荡器电路可实现精确的量测。技术参数：频率范围：800M~9.4GHz 同轴共振腔：Epsilon：1~15，准确度：+/-1%， tangent delta：0.1~0.001，准确度：+/-5%共有三种同轴共振腔，每个腔可测五个频点:TyPe A： 0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz ；TyPe B: 1/3.1/5.2/7.3/9.4GHz ；主要特点：应用领域： 薄膜材料，半导体材料，电子材料（包括CCL和PCB），化学品，陶瓷材料，纳米材料，光电材料等。不仅可测试固体，而且可测试液体，粉末等。日本AET微波(高频)介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。

塑料薄膜介电常数介质损耗测试仪一、概述LJD-B/LJD-C介电常数测试仪主要区别LJD-BLJD-C测试频率范围10kHz～70MHz100kHz～160MHz主调电容控制传感器步进马达电容搜索无有 LJD-B/LJD-C介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介电常数和介质损耗因数，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。LJD-B/LJD-C介电常数测试仪是北京中航鼎力仪器设备有限公司zui新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达70MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。LJD-B主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。LJD-C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。LJD-B/LJD-C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感和电容的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。LJD-B/LJD-C特有的谐振点频率自动搜索或LJD-C独有的电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差LJD-BLJD-C频率范围10kHz～10MHz100kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～70MHz10MHz～160MHz固有误差≤6％±满度值的2%≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2%≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围LJD-B LJD-C1nH～8.4H1nH～140mH3．电容测量LJD-BLJD-C直接测量范围1～520p1～223p主电容调节范围30～550pF17～240pF准确度100pF以下±1pF；100pF以上±1%100pF以下±1pF100pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 4．信号源频率覆盖范围LJD-BLJD-C频率范围10kHz～70MHz/110MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～70MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．主机正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。三、工作原理 1．“Q”的定义 是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件(电感或电容)来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。 或 … … … … … … … … … … … (1) 图（一）所示的串联谐振电路中，所加的信号电压为Ui，频率为f，在发生谐振时 或 … … … … … … … … … … … … (2) 回路中电流 … … … … … … … … … … … … … … … … (3)故电容两端的电压 … … … … … … … … … … … … … (4) 即谐振时电容上的电压与输入电压之比为Q。 主机就是按上述原理设计的。 2．主机整机工作原理（见图二）图二LJD-B/LJD-C型的工作原理框图如图二所示。它以ATM128单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS数字直接合成信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心CPU去进行数据处理。 LJD-B调谐电容带动传感器，不断地将电容变化的信息送往中心控制CPU，经处理后计算出电容值，再根据频率值计算出谐振时的频率值。 LJD-C调谐电容有步进马达带动，根据不同电容值由CPU计算脉冲数去控制马达。电容值可预置并可电容搜索。 LJD-B/LJD-C型主机工作频率值、频段、主调电容器值、谐振电感值、Q值、Q值比较设置状态、Q值量程、手/自动状态、频率或电容搜索指示、Q值调谐指示带都显示在液晶屏上，如图三所示。图三整个显示屏上的信息共分为四行di一行：左边 信号源频率指示，共6位； 右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容的电容指示值，4位； 右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值； 右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示；右边上部 Q值量程范围指示；右边下部 Q值调谐光带指示。四、结构特性 LJD-B/LJD-C型主机采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。 各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路，放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上，详见图四面板示意图。 A．LJD-B/LJC-C型前面板各功能键说明 图 四 LJD-B/LJC-C型主机前面板和外形示意图1．工作频段选择/数字1按键，每按一次，切换至低一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。2. 工作频段选择/2按键，每按一次，切换至高一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键2。3．Q值量程递减（手动方式时有效）/数字3按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键3。4．Q值量程递增（手动方式时有效）/数字4按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键4。5．谐振点频率搜索/数字5按键，按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时，表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键5。6．LJD-B：数字6按键，先按12键后有效；LJD-C：谐振点电容搜索/数字6按键，按此键后，电容指示不断在变化，步进马达发出轻微的声响时仪器正工作在电容自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键。先按12键后,再按此键，功能为数字键6。7．Q值合格范围比较值设定/数字7按键，按此键后，显示屏第三行右部出现COMP字符，当Q合格时，显示OK，並同时鸣响蜂鸣器，Q不合格时，显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键，功能为数字键7。8．Q值量程自动/手动控制方式选择/数字8按键，按此键后，显示屏第四行左部出现对应的指示：AUTO（自动），MAN（手动）；先按12键后,再按此键，功能为数字键8。9．Ct大电容直接测量/数字9（先按12键后有效）按键。10．Lt残余电感扣除/数字0(先按12键后有效) 按键。11．介质损耗系数测量/小数点(先按12键后有效) 按键。12．频率/电容设置按键，di一次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键完成设置。第二次按下（电容指示数在闪烁）为电容数输入，数输入要满4位。例：要输入79.5P，按二次此键，电容指示数在闪烁，然后输入0795，有效数后为0的，可以不输入0，直接再按一下此键完成设置。13．频率调谐数码开关。14．LJD-B： 主调电容调谐（长寿命调谐慢转结构）； LJD-C：主调电容调谐数码开关。15．电源开关。16．液晶显示屏。17．测试回路接线柱：LJD-B左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端；LJD-C后边两个为电感接入端，前边两个为外接电容接入端。18．电感测试范围所对应频率范围表。B．后面板各功能键说明图五 主机后面板示意图1．～220V电源输入三芯插座，内含保险丝0.5A／220V；2．信号源工作频率监测输出端（阻抗1kΩ）。五、使用方法高频主机是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使主机测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在机盖顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） A．直接法 a．将被测线圈接在“LX”接线柱上； b．按照测试要求，选择适当的工作频率； c．先调调谐电容器到谐振点，即主机读数达zui大，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值（QT），则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正 C1是调谐电容器谐振时读数，如谐振时C1的读数很大，C0只占很小比例，则有效Q值(Qe)和真实Q值(QT)差别可以忽略。当Q值量程选择自动切换时，在调谐时，如遇量程自动转换，应停顿一下，待Q值稳定后，根据读数值变大或变小，确定继续调节电容的方向。B．变容法 a. 照直读法“a-d”进行，记下谐振时电容读数C1和Q1；b．调节主调电容数码开关，使Q值二次指示均为Q1的0.707时记下此时两次电容读数的差数ΔC， 倘要得到精确结果，则线圈的分布电容应加在C1之内，并应使主调电容作多次偏调，然后取其平均读数。测Q值较高的线圈时，Q值下降到0.707 Q1时，电容偏调很小，读数误差较大，这时可将主电容作较大偏调(10％以内)，记下偏调数ΔC和偏调后的Q值读数Q2，这时Q值表达式为： C. 变频法a．按直读法“a-d”进行，记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0；b．改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐，一次感性失谐)，记下此时二次频率读数差值Δf，这时回路的真实QT为： 考虑到线圈的分布电容时，线圈的有效Q值为： 变频法测量Q值一般表达式为(未考虑分布电容)： 注：Δf是频率偏调数，Q1为谐振时主机读数，Q2是偏调后主机读数。3．高频线圈电感值的测量a．将被测线圈接在“LX”接线柱上，接触要良好。b．将调谐电容的电容值，调至zui大容量的50％处。c．然后，按频率搜索键，找到谐振点；再微调频率或调谐电容，使Q指示值zui大。此时液晶屏上显示的电感值即是有效电感值Le，如要得到真实电感值（LT），必须先测得电感分布电容量C0，如分布电容较小且已知的话，在调到谐振点后，记下主调电容C1，然后再将主调电容量调在“C1+C0”值上，这时指示的电感读数，就是所求真实电感值，也可按以下公式计算求得： d．被测电感小于1μH时，按上法测得电感值还应减去仪器中测试回路本身残余电感“L0”（LJD-B：L0约25nH，LJD-C：L0约7nH）。 e．使用仪器自身残余电感和测试引线电感的扣除功能提高测量精度 （1）在电感测试时，如果你使用夹子线来连接被测试的电感时，可先将夹子线对接短路，如图六；如使用贴片测试夹具时，可先将测试夹具两连接片之间对接短路，如图七。 （2）将可变电容器电容值调节到中间位置（200-300pF），按下仪器面板的频率搜索键，仪器自动找到一个谐振点，再微调频率使Q指示值zui大。此时显示的电感值即是仪器自身残余电感和测试引线电感值，如图八中的Ｌ指示值。　　　　　　　　　　　　　图　　六 　　　　　　　　　　　　　图　　七 ３,去掉夹子线或贴片测试夹具的短路，将被测电感接入测试夹子线或夹具。然后，按下Lt（数字0）键。在显示屏的第三行右面，将显示Lt，初始值为0。再按下仪器面板的频率搜索键，找到一个新的谐振点。此时Lt后显示的电感值即是被测电感的精确值。（扣除了仪器自身残余电感和测试引线电感值）。 　　　　　　　　　　图　　八4．高频线圈分布电容C0的测量A．倍频率法如线圈的分布电容较大，可用此法作近似测试。将被测线圈按在“LX”接线柱上，调调谐电容器到zui大电容数值，调讯号源频率到谐振，令谐振时频率和指示调谐电容分别是f1和C1。然后将讯号源频率调到f2 (f2=n f1)，再调电容器度盘到谐振点，此时电容读数为C2，根据下式即可求出分布电容量（测量时微调电容到零） 如取n=2，则为：C0=（C1－4C2）/ 3。若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为准B．自然频率法（此法可获得较准确的结果） a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上,以上面A中的倍频率法测量出电感值L和分布电容值C0,再初步估算出电感的自谐振频率值f=1/2π√LC0 ； b．调节可变电容器至略小于zui大值的位置(LJD-B为540Pf,LJD-C为240Pf),留有上下调节的余量，电容值为C1； c．按频率搜索键,使回路谐振，该谐振频率值为f1； d．设置主机的工作频率为估算出的电感的自谐振频率值，取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内谐振的电感； e．调节可变电容器到谐振点； f．将被测线圈接在“Cx”两端，调谐主机的工作频率找到新的频率谐振点（Q值zui大）； g．再取下被测线圈，调节可变电容器重新使Q值达到zui大； h．重复步骤“f”、“g”直到某一频率，被测线圈接上“Cx”两端和不接上均不改变谐振点，这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2，它的C0数值为：C0=C1 (f1／f2)2 ÷[1-(f1／f2)2]≈C1 (f1／f2)2 注：测量中所需辅助线圈可由LKI-l电感组提供便利。 5．电容器容量的测量(1). 被测电容值小于主调电容量的电容器的测量(并联替代法)a．选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；b．将调谐电容器调到zui大值附近，令这个电容是C1，如被测电容是小数值的，C1应调到较小电容值附近，以便达到尽可能高的测量精度；c．按下仪器面板的频率搜索键，使测试回路谐振，谐振时Q的读数为Q1；d．将被测电容接在“Cx”两端，调节可变电容器，使测试电路重新谐振，此时可变电容器值为C2，Q值读数为Q2。被测电容的有效电容为：Cx= C1－C2电容器损耗角正切为：电容器的有效并联电阻为：C0为回路谐振电感的自身电容。 B．大于可变电容器容量的电容器测量a. 选配一个100uH-900uH之间的电感器，接入仪器顶部有Lx指示的两个接线柱上。将可变电容器电容值调节到较大位置，电容值为C1，按下仪器面板的频率搜索键，仪器将自动找到一个谐振点。b．根据电感器提供的分布电容值，将可变电容器电容值调节到C1+ C0值，目的是扣除分布电容对测试的影响。c．然后，按下Ct（数字9）键。在显示屏的第三行右面，将显示被测电容Ct，初始值为0。将被测电容接入仪器顶部有Cx指示的两个接线柱上。再按下仪器面板的频率搜索键，找到一个新的谐振点。此时Ct后面显示的电容值即是被测电容的值（已扣除了可变电容器电容值），zui大可测试电容为2.5uF（LJD-B）/25nF(LJD-C)（配置100uH电感时），见下图九。d. 小电容值也可按此方法测量，zui高分辨率为0.1pF。对于小于可变电容器指示值的被测电容器（例可变电容器指示值为500pF，则被测电容器应小于500pF），在按下Ct（数字９）键。在显示屏的第三行右面，将显示被测电容Ct后，可直接调节可变电容器（指示值减小），直至找到一个新的谐振点。此时Ct后面显示的电容值即是被测电容的值。注意此方式不需要上面b步骤中扣除分布电容值。 CT LT 1612MHz23425MHz

产品名称及型号：ZJD系类介电常数测试仪一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差＜5%电感测量范围1nH～8.4H,；分辨率0.11nH～140mH；分辨率0.1电感测量误差＜3%电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25uF调谐电容误差分辨率±1pF或＜1%主电容调节范围30～540pF17～240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗系数精度万分之一介电常数精度千分之一LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%Q合格预置范围5～1000声光提示环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm三、配置：序号标准配置单位/数量1主机一台2S916夹具一套3电感组九只4电源线一根选配：USB模块、液体杯（测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm）我司经营产品包括：ZJC系类电压击穿试验仪ATI系类体积表面电阻率测试仪ZJD系类介电常数测试仪LDQ-2漏电起痕试验仪JF系类氧指数测定仪CZF系类水平垂直燃烧测定仪WDW系类电子万能试验机XRW系列热变形维卡温度测定仪XNR系类熔体流动速率测定仪ZJJ系类冲击试验机MDJ系类固体/液体等材料的密度测试仪WZY系类万能材料制样机我司产品在全国各省市、地区均有用户、其中包括：质检单位、科研院所、大中院校、国家电网、电科院、材料学院、安监局、应急管理厅、航空航天、纳米研究、能源、电子半导体、涂料、造纸、石油化工、汽车研究、大型工厂、生产企业实验室等。产品范围包括：电学、力学、燃烧、制样、建材、橡胶塑料薄膜等。介电常数测试仪产品及配套展示：

介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。

介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。2）极化损耗在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。

玻璃的损耗复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。陶瓷材料的损耗陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。

ZJD-87高压自动抗干扰精密型介电常数介质损耗测试仪一、符合标准：GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 二、产品概述： ZJD-87高压自动抗干扰精密型介电常数介损测试仪是一款专为实验室研制的高精度高压电桥，突破了传统的电桥测量方式，采用变频电源技术，利用单片机和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算；达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；电源采用大功率开关电源，输出45Hz和55Hz纯正弦波，自动加压，可提供最高10千伏的电压。所有接插件均为屏蔽接插口，有效的提高了仪器的测量精度，是专为实验室测试研制的新型介电常数介损测试仪测试仪，广泛的应用到绝缘材料的介质损耗和介电常数的测试。可以在加压，加温，真空条件下，在工频电压下对各类固体绝缘材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，电容纸等）的试品作介质损耗因数，相对介电常数测量。在外接电流互感器（量程扩展器）1000/1=1000倍的情况下，可以测试大电流高压电器的介损值。三、技术指标准确度：Cx:±（读数×0.5%+0.5pF）；tgδ:±（读数×0.5%+0.00005）；电容量范围：内施高压：3pF～60000pF/10kV；60pF～1μF/0.5kV；外施高压：3pF～1.5μF/10kV；60pF～30μF/0.5kV；*分辨率：最高0.001pF，4位有效数字；*介电常数ε测试范围：0-200；*介电常数ε准确度：0.5%*介质损耗tgδ测试范围：不限，*介质损耗tgδ分辨率：0.000001，电容、电感、电阻三种试品自动识别。试验电流范围：5μA～5A；*内施高压：设定电压范围：0.5～10kV ；最大输出电流：200mA；*升降压方式：电压随意设置。比如5123V。试验频率： 40-70Hz单频随意设置。比如48.7Hz.频率精度：±0.01Hz外施高压：接线时最大试验电流5A，工频或变频40-70Hz测量时间：约30s，与测量方式有关；高压电极直径与表面积：￠98mm(75.43cm2)测量电极直径与表面积： ￠50 mm(19.63cm2)电极材料：不锈钢1Cr13Ni9Ti电极工作面：精面面磨电极间距：不大于5 mm电极加热功率： 2*500W电极最高温度：180°加热时间：30分钟电极压力：0~1.0Mpa连续可调最大测量电压：2000V，50Hz真空度 ：电极可抽真空至3*10-2 Mpa输入电源：180V～270VAC，50Hz±1%，市电或发电机供电*计算机接口：标准RS232接口，U盘插口(自动U盘存储数据)。打印机：微型热敏打印机 环境温度：-10℃～50℃ 相对湿度：90%主机外形尺寸：490*520*360（长宽高mm） 电极尺寸：400*300*400（长宽高mm）仪器重量：35kg四、产品优势：*抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；*在测试绝缘材料时可以直接显示相对介电常数ε和介质损耗tgδ；*50±0.1Hz到50±10Hz自动双变频随意设置；*60±0.1Hz到60±10Hz自动双变频随意设置；*外接线路时可以连接量程扩展器，电流可达几千安培；*可以在加压，加温，真空条件下测试；*计算机接口：标准RS232接口，U盘插口(自动U盘存储数据)。五、产品特点：1、仪器采用傅立叶变换数字滤波技术，测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高，便于实现自动化测量。2、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。3、使用全触摸超大液晶显示器，操作简单。全触摸液晶显示屏，超大全图形操作界面，每过程都非常清晰明了，操作人员不需要额外的专业培训就能使用。轻轻触摸就能完成整个过程的测量。4、存储数据：内部配备有日历芯片和大容量存储器，能将检测结果随时保存，随时可以查看历史记录，并可以打印输出。当前时间和存储时间都能随时显示和打印。5、科学先进的数据管理：仪器数据可以通过U盘导出，可在任意一台PC机上通过专用软件，查看和管理数据。6、仪器操作简便，测量过程由微处理器控制，只要选择好合适的测量方式，数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。7、一体化机型，内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。8、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。也可配备专用电极来测试固体绝缘材料的介损值和介电常数。9、能够识别外接高压电源频率40Hz~70Hz，允许用工频电源或串连谐振电源做大容量高电压介损试验。10、自带热敏打印机可打印输出，带日历时钟,方便用户出测试报告, 带有U盘输出。11、接地保护功能，当仪器不接地线或接地不良时，仪器不进入正常程序，不输出高压。过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。 六、设备成套性配置：序号项目数量/单位1主机1/台2控温仪1/台3高温电极1/台4测试线1/套5电源线1/套

玻璃介电常数测试仪Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。10．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。玻璃介电常数测试仪性能特点：1. 平板电容器 极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm 极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器 电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极玻璃介电常数测试仪维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。玻璃介电常数测试仪介电常数又称介电常数、介电系数或介电常数，是代表绝缘容量特性的系数，用字母ε表示，单位为F/m。它是电位移和电场强度之间的比例常数。这个常数在自由空间(真空)中是8.85×10法拉第/米(F/m)的-12次方。在其他材料中，介电系数可能相差很大，往往比真空中的值大得多，其符号为eo。在工程应用中，介电常数往往以相对介电常数的形式表示，而不是绝对值。如果eo表示自由空间的介电系数(8.85×10的-12次方F/m)，E是材料中的介电系数，那么这种材料的相对介电系数(也叫介电常数)由下式给出:ε 1 = ε/ε o = ε× 1.13× 10的11次方。玻璃介电常数测试仪许多不同物质的介电常数都大于1。这些物质通常被称为绝缘材料或绝缘体。常用的绝缘体包括玻璃、纸、云母、各种陶瓷、聚乙烯和特定的金属氧化物。绝缘体用于交流。泡沫由聚苯乙烯2.2.6与聚苯乙烯、聚氯乙烯、聚氨酯等树脂制成。介电常数可分为相对介电常数和有效介电常数。通常我们说的介电常数是相对介电常数，硅的相对介电常数是11.9。(AC)，声波(AF)和无线电波(RF)的电容器和传输线。

产品名称：高压电桥介电常数测试仪产品型号：ZJD-B、ZJD-C、ZJD-87符合标准：GB/T1409、GB/T5594、GB/T产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等检测证书：可出据304所、514所、中国科学研究院付款方式：全款发货产品品牌：中航时代产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器包 装：纸箱介电常数和介质损耗角正切 在电场作用下，能产生极化的一切物质又被称之为电介质。电 介质在电子工业中用来做集成电路的基板、电容器等。如果将一 块电介质放入一平行电场中，则可发现在介质表面感应出了电荷， 即正极板附近的电介质感应出了负电荷，负极板附近的介质表面 感应出正电荷。这种电介质在电场作用下产生感生电荷的现象， 称之为电介质的极化。 感应电荷产生的原因在于介质内部质点 (原子、分子、离子)在电场作用下正负电荷重心的分离，变成了 偶极子。不同的偶极子有不同的电偶极矩，电偶极矩的方向与外 电场方向一致。基本概念： &bull 介电常数：以绝缘材料为介质与以真空为介质制成同尺寸电 容器的电容量之比值。 表示在单位电场中，单位体积内积蓄的静电能量的大小。 是表征电介质极化并储存电荷的能力，是个宏观物理量。 &bull 介质损耗 置于交流电场中的介质，以内部发热(温度升高) 形式表现出来的能量损耗。&bull 介质损耗角:对电介质施加交流电压，介质内部流过的电流 相量与电压相量之间的夹角的余角。 &bull 介质损耗角正切 对电介质施以正弦波电压,外施电压与相 同频率的电流之间相角的余角δ的正切值--tgδ. 其物理意义是：一些材料的ε数值： 石英 — 3.8；绝缘陶瓷 — 6.0； 耐热玻璃 3.8 — 3.9 纸 — 70 PE — 2.3； PVC — 3.8 有机玻璃 — 2.63 高分子材料的ε由主链结构中的键的性能和排列所决定。 &bull 分子结构极性越强, ε和tg?越大. 非极性材料的极化程度小,ε和tg?都较小. &bull 极性取代基团影响更大,其数目越多, ε和tg?越大介电性的应用tg? 大，损耗大，材料发热。 &bull 电容介质 ? 大，tg? 小 作绝缘材料或电容器材料的高聚物,介电损耗越小越好 &bull 航空航天材料 ? 小，tg? 大，静电小 &bull 高频焊接：薄膜封口，tg? 大 需要通过高频加热进行干燥,模塑或对塑料进行高频焊接时,要 求高聚物的介电损耗越大越好. &bull 高频电缆—用PE(非极性)而不用PVC (极性)影响因素:(1)湿度 材料的极性越强受湿度的影响越明显。主 要原因是高湿的作用，使水分子扩散到高分子的分子 间，使其极性增加；同时,潮湿的空气作用于塑料表面, 几乎是在几分钟内就使介质表面形成一个水膜层,它具 有离子性质,增加表面电导. 因此,材料的介电常数?和 介质损耗角正切tgδ都随之增加. 试样的状态调节和测试都应在标准环境(2) 温度(3)测试电压 板状试样:电压2KV影响不大,过高则增加附加损耗. 薄膜:电压低于500V.过大使tgδ明显增加. (4) 测试用接触电极 高频下,电极的附加损耗变大,因而电极材料本身的电阻一定要小.高聚物的介电性能

高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。 使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）六、维修1．新购仪器的检查新购的仪器能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 维修1．新购仪器的检查新购的仪器能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 介电常数介质损耗测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。 1、液体介电常数测定仪2、低频介电常数测试仪3、高频介电常数测试仪4、塑料介电常数测试仪5、聚乙烯介电常数测定仪6、硅橡胶介电常数测定仪7、橡胶介电常数测定仪8、材料介电常数测定仪9、薄膜介电常数测定仪10、聚酯薄膜介电常数测试仪11、聚合物介电常数测量仪12、介电常数及介质损耗测试仪

GDAT-C介电常数测试仪简介满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT）、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的最佳解决方案。 1、《BH916介质损耗装置》（测试夹具）是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε），把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT），实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。4、一个高品质因数（Q）的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表BH916测试装置 介电常数测试仪GDAT高频Q表 平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz）Q测试范围2～1023 介电常数测试仪附表二,LKI-1电感组典型测试数据 线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH介电常数介质损耗（介质损耗角）测试仪 型号：GDAT-C一.介电常数测试仪主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品（ 小于 10 mil） 量测值偏低,。 二.介电常数测试仪主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。三.介电常数测试仪仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围：20kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％； 频率范围：10MHz～60MHz； 固有误差：≤6％±满度值的2％；工作误差：≤8％±满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：14.5nH~8.14H。b．分 档：分七个量程。 0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）；b．电容量调节范围 主调电容器：30～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则☆振荡频率：a．振荡频率范围：10kHz～50MHz；b．频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHzc．频率误差：3×10-5±1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～1000。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 ☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。四、介电常数测试仪主要配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套附表 电感组典型测试数据五.介电常数测试仪仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。 介电常数测试仪介绍：一、 概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。二、介电常数测试仪技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目GDAT-A频率范围20kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2％工作误差≤7％±满度值的2％频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2％工作误差≤8％±满度值的2％ 2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量：1~ 460项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围准确度30～500pF150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％ 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．信号源频率覆盖范围项 目GDAT-A频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。8．产品配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套 附表 电感组典型测试数据线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH 产品名称：工频介电常数介质损耗测试仪型号：BDAT-B一、主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。二、主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（ tg）和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。由于电桥内附有一个2500KV的高压电源及一台高压标准电容器，并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在一起，所以本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tg）及介电常数（ε）。 桥体本身带有5Kv/100pF标准电容,测量材料介损更为方便。桥体内附电位跟踪器及指另仪，外围接线及少。 桥体采用了多样化的介损测量线路。三、技术指标测量范围及误差 在Cn＝100pF R4＝3183.2（?）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tg? 0～1 ±1.5％tg?x±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（?）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tg? 0～0.1 ±1.5％tg?x±0.0001Ｃｘ＝Ｒ４×Ｃｎ／Ｒ３tg?＝ω?Ｒ４?Ｃ４电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tg?x±1×10-4高压电源技术特性电压输出：0～5000V/50Hz高压电流输出：0～10mA内置标准电容器 电容量为100pFtg小于5X10-5 QS37 型高压电桥1.概述：QS37 型西林电桥,主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tg） 和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。电桥由桥体、指另仪、电位跟踪器组成，本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（）及介电常数（ε）。2.技术指标：2.1 测量范围及误差本电桥的环境温度为 20±5℃，相对湿度为 30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在 Cn＝100pFR4＝3183.2（）（即 10K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tg0～1±1.5％tg x士0.0001 在 Cn＝100pF R4＝318.3（）（即 1K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx4pF--2000pF±0.5% Cx±3pF介质损耗tg0～0.1±1.5％tg x士0.0001

玻璃介电常数试验测试仪电桥的特点；l桥体内附电位及指零仪，接线及少。l电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性l仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。l仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。l内附高压电源精度3%l内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF绝缘纸工频介电常数测试仪 技术指标2-1测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1玻璃介电常数试验测试仪测量完毕后或在暂停测量时，应将另仪的灵敏度开关降至“0”，再将测量电压降至另并切断电源开关，根据计算公式，算出被测试品的容量及介损值1. 本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。2. 每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。3. 接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。4. 测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。5. 对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。6. 测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。7. 在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。操作方法测试前的准备工作①按图（3）所示，连接标准电容Ｃｎ（选用外接标准电容时），与被测电容Ｃｘ，并且将标准电容与被测电容尽可能远离，以防止互相之间干扰。如选用内部标准电容器，只需连接被测试品即可。②检查周围是否有强电磁场干扰，应尽量避免。③检查大地线是否牢靠，以保证操作人员的安全，应检查电桥上的（⊥）与大地是否接触良好。④检查电桥的灵敏度开关是否已回另位。⑤检查试品的绝缘强度，应符合大于2U+1的标准。⑥对试品施加试验电压（按部标或国际所规定的专业标准进行）。玻璃介电常数试验测试仪在每个高压实验室和试验中，压缩气体标准电容器是一种必要的仪器。在这些场合中，它有许多重要的作用。在电桥电路中压缩气体电容器被用来测量电容器、电缆、套管、绝缘子、变压器绕组及绝缘材料的电容和介质损耗角正切值（tgδ）。而且，还可以用作高压测量电容分压装置的高压电容。在某些条件下，还可以在局部放电测量中作高压耦合电容器。玻璃介电常数试验测试仪2．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。4．电容直接测量范围：1～460pF 5．主电容调节范围： 30～500pF 6．电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 7．信号源频率覆盖范围20KHz-100MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1 Q值合格指示预置功能范围：5～1000Q值自动锁定，无需人工搜索9．Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。玻璃介电常数试验测试仪1. 平板电容器极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极