想购买一台测试体积电阻率和表面电阻率的高阻仪,还有测试介电常数的电桥,主要用来测试塑料和橡胶,如有请提供详细资料和报价。
样品: ITO 氧化铟锡, 标记为 ITO1, ITO2, ITO3样品薄膜厚度: 60 - 100 nm样品尺寸: 10 * 10 mm实验内容: 载流子浓度, 类型, 霍尔迁移率, 方块电阻 实验仪器: 上海伯东英国 NanoMagnetics ezHEMS [url=http://www.hakuto-vacuum.cn/product-list.php?sid=131][color=#0000ff]霍尔效应测试仪[/color][/url]测试温度和磁场温度: 300K RT 1 Tesla[color=#ff0000]* 在测试开始前, 仪器均经过标准样品校验. 所有样品根据 ASTM 标准.[/color][b][color=#000000]样品 ITO1 测试结果:[/color][color=#000000]I-V 测量结果[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-nano.jpg[/img][/color][/b][color=#000000][b]VdP 测量结果[/b][/color][color=#000000] 测量头类型: RT Head 磁场: 9677G 厚度: 80nm[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-vdp.jpg[/img][/color][b]部分测试结论:[/b]1. 得到的电阻值彼此相容.2. 所有的IV 曲线都是线性的3. 所有样本都是欧姆的,统一的,均匀的.4. Van der Pauw 测试为了保证准确性, 测试了2次, 测试结果是相同的. ...[color=#ff0000]* 鉴于信息保密, 更详细的霍尔效应测试案例欢迎联络上海伯东[/color]
推荐个仪器吧测试条件:塑胶电参数(1GHz下)介电常数为2.92+/-0.1,损耗正切值0.007。下壳密封壳体部分的塑胶电参数(1G/2G/3G下)介电常数为3.05+/-0.1/3.17+/-0.1/3.25+/-0.1,损耗正切值0.0048/0.005/0.0057
可否用spm测薄膜的介电常数
我分析测试中心是国家认可实验室,通过国家计量认可,拥有国内先进的电性能测试仪器:测量范围很广的高阻计,可以测试各种材料的电阻率、防静电性能、绝缘电阻等;介质损耗和电容率测试仪,可以在高频和音频下测量介质损耗因数和相对电容率(介电常数);击穿电压试验机可以在100KV范围内测量样品的电气强度和耐压性能等等。
摘要: 借助于不同的色散公式, 运用改进的单纯形法拟合分光光度计测得的透过率光谱曲线, 来获得薄膜的光学常数和厚度。用科契公式分别对电子束蒸发的T i O 2和反应磁控溅射的S i3 N 4,以及用德鲁特公式对电子束蒸发制备的I T O薄膜进行了测试, 结果表明测得的光学常数和厚度, 与已知的光学常数以及台阶仪测得的结果具有很好的一致性。这种方法不仅简便, 而且不需要输人任何初始值, 具有全局优化的能力, 对厚度较薄的薄膜也可行。采用不同的色散公式可以获得各种不同薄膜的光学常数和厚度, 这在光学薄膜、 微电子和微光机电系统中具有实际的应用价值。
相对介电常数 εr (有时用κ或K表示)定义为如下比例: εr=εs/ε0 其中εs 是指介质的静电介电常数, 而ε0 是指真空介电常数。 这里的自由空间介电常数是由电场强度E和导电通量密度D通过麦克斯韦方程式导出. 真空下的(自由空间)介电常数ε 为ε0, 所以介电常数为1(ε0是基本量纲). 电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质,并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质,其相对介电常数约为80。 电介质有使空间比起实际尺寸变得更大或更小的属性。例如,当一个电介质材料放在两个电荷之间,它会减少作用在它们之间的力,就像它们被移远了一样。当电磁波穿过电介质,波的速度被减小,使得它的行为象它有更短的波长一样。 电学角度看,介电常数是物质集中静电通量线的程度的衡量。更精确一点讲,它是在静电场加在一个绝缘体上时存贮在其中的电能相对于真空(其介电常数为1)来说的比例。这样,介电常数也成为静介电系数(permittivity, 也称诱电率)。 相对介电常数εr可以用静电场用如下方式测量:首先在其两块极板之间为空气的时候测试电容器的电容C0。然后,用同样的电容极板间距离但在极板间加入电介质后侧得电容Cx。然后相对介电常数可以用下式计算: εr=Cx/C0 对于时变电磁场,物质的介电常数和频率相关,通常称为介电系数。 至于具体怎么从麦克斯韦方程导出介电常数,这里不好写,复杂物质的介电常数也很复杂,有各向异性的介电常数,以及左手媒质等等,这些在电磁学里面有研究,但是,这里一时半时和你解释不清,你需要有良好的数学基础,以及高等电磁场的基础,其中对于矢量场的知识也是必须的,介绍一本书给你看,哈灵顿的《Time-Harmonic Electromagnetic Fields》,电磁学的经典著作。
求助聚合物的介电常数如何测试?测试的仪器具体名称?样品需要做什么前处理以及样品的尺寸规格要求是什么?
请教聚合物的介电常数用什么仪器来测试啊?对测试样品的具体要求是什么呀?比如说尺寸、厚度等等,以及哪里能进行相关的测试?收费如何?多谢了
对于低介电常数(2~5)、低损耗的介电陶瓷是用谐振腔法测试准确还是用波导法测试准确?谢谢!!
微波介质陶瓷是指应用于微波(主要是300MHz~30GHz频段)电路中作为介质材料并完成一种或多种功能的陶瓷、在现代通信中被用作谐振器、滤波器、介质基片、介质天线、介质波导回路等,应用于微波电路的介质陶瓷除了必备的机械强度、化学稳定性之外,还应满足如下介电特性,微波频率下大的相对介电常数C^2高Qf值以及接近零的频率温度系数微波介质陶瓷可以按照其组成系统,介质特性及应用领域加以分类,较为常见的是按其介电常数的大小来分类,可分为低介电常数类(20~40);中介电常数类(40~80);高介电常数(>80)。低介电微波陶瓷主要应用于微波基板、卫星通讯以及军事应用等通讯系统中。目前研究的较多的低介微波陶瓷主要是以AL2O3和AIN的应用,低介微波陶瓷基覆铜板用绝缘散热材料的理想性能是既要导热性能好,散热好,还要在高频微波作用下产生损耗尽量小。BeO陶瓷是目前陶瓷基覆铜板中绝缘散热的绝佳材料,但由于BeO粉料具有毒性,在制造过程中需要采取严格的防护措施,且在美日等发达国家已禁止生产BeO陶瓷。因此研制替代BeO陶瓷的覆铜板用新型绝缘散热材料已迫在眉睫。AIN陶瓷是一种散热性能较好、无毒的陶瓷材料,其热导率理论值为320W/(mK),与BeO陶瓷热导率的理论值370 W/(mK)相近,并且已研制出热导率在200 W/(mK)以上的AIN陶瓷材料。所以AIN陶瓷材料被认为是最有希望替代BeO陶瓷的绝缘散热材料。 由于BN的介电常数较小,但AIN陶瓷中加入了h-BN,根据复相材料的介电常数公式计算,将h-BN加入到AIN中,还可以降低AIN陶瓷介电常数。本文旨在研制出满足陶瓷基覆铜板使用要求的高热导率、低介电损耗AIN及BN-AIN基陶瓷材料,以替代BeO陶瓷材料。 因为BN,AIN均为共价化合物,难以烧结,为了获得高致密度陶瓷,需添加烧结助剂。烧结助剂的选择应从两个方面考虑,其一,能形成低熔物相,实现液相烧结,促进致密;其二,能与AIN中的氧杂质反应,使AIN晶格净化。基于此两点,选用Y2O3为烧结助剂。因为Y2O3与AIN表面的氧化铝形成Y3AI5O12,Y3AI5O12的液相温度为1760℃,这样既促进了烧结又净化了晶格。但是,若烧结助剂分散不均匀,也很难烧制出结构致密的陶瓷材料。通过化学工艺,将BN包裹到AlN粉体表面,从而实现将BN均匀分散到AIN基体中的目的,并且利用包裹型复合粉体,制备出显微结构均匀的复相陶瓷,其热导率为78.1 W/(mK),在Ka波段介电常数为7.2、介电常数最小值为13×10-4。通过对AIN及BN-AIN基复相陶瓷在Ka波段的微波特性研究,发现AIN基陶瓷材料的介电常数随频率变化的幅度很小,但材料的介电损耗随频率的变化较大,并且在该区间内存在最大值和最小值。
测试频率为:1GHZ---30GHZ测试项目为介电常数和介电损耗测试数据要求:准确,重复性强请大家推荐个测试设备,如是厂家,请将仪器型号和报价列出,我好对比选择,谢谢!
摩擦系数测试仪是指测量塑料薄膜和薄片、纸张等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数的测试仪器。摩擦系数测试仪通过对材料滑爽性的测量,可以控制调节包装袋的开口性、包装机的包装速度等生产质量工艺指标,能够满足产品的使用要求。 摩擦系数测试仪利用将试验样品夹住,放在传感器上,在一定的接触压力下,使两试验表面相对移动,这时传感器将所测得的力信号,送入记录器,同时分别记录动摩擦系数和静摩擦系数这一原理工作。摩擦系数测试仪采用微电脑控制,液晶显示数据、结果、曲线,可自动测定和显示动、静摩擦系数并可以多组数据计算统计、分析并储存,具有性能稳定、测试精确、操作方便等特征。摩擦系数测试仪可选择动摩擦、静摩擦、动静摩擦试三种验模式,具有对单件、成组试验的结果统计分析处理多种报告模式功能。 摩擦系数测试仪主要用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和摩擦系数测试仪动摩擦系数。
在介电常数测量仪器(Precision Impedance Analyzer 6500B)中有串联和并联两种模式,请问这两种测量模式有什么区别和联系,什么情况下会用到并联(串联)模式?对于同一材料,这两种模式测量的结果一样吗?
[color=#444444]在钛酸锶(SrTiO3)基片上沉积陶瓷薄膜CTNA,如图,由XRD可以看出是外延生长薄膜,现如今想计算该薄膜的晶格常数,怎么算??[/color][color=#444444]用Jade拟合,然后晶胞参数精修行不通(拟合之后的误差因子非常大);[/color][color=#444444]如果手动计算,条件好像不够(薄膜样为正交结构,a不等于b不等于c。由同一晶面族的三个晶面算不出来,一个方程两个未知数。)[/color][color=#444444]如果采用GSAS结构精修,是否可行? XRD图谱里面既有薄膜样的衍射峰又有基底的衍射峰,并且又是外延薄膜,和pdf卡片上面的标准衍射峰不可能完全对应,怎么处理?或者有没有其他的计算方法。。[/color][color=#444444] 请大侠赐教,不胜感激![img=,690,478]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707041523_01_3226112_3.jpg[/img][/color]
1、 气体渗透仪――用于各种膜,片材气体透过试验之溶解度、扩散、渗透系数的测定,自控温,全自动,压差法。2、 透气性测试仪(透气仪)-适用于薄膜、复合膜等材料的O2、N2、CO2等气体透过率的测试。3、 透氧仪(容器/薄膜透氧仪)――适用于容器和包装膜的氧气透过量的测定。执行标准ASTM F 1307、ASTM D3985,等压法。4、 透湿性测试仪(透湿仪)- 适用于薄膜、复合膜等各种包装材料、聚合物产品的水蒸气透过率的测试。 5、 T3型透湿性测试仪- 适用于薄膜、复合膜等各种包装材料、聚合物产品的水蒸气透过率的测试,十二腔测试。
本人在高校测试中心任职,接受校外样品测试,项目如题,可以测试材料的IR,TGA,DSC,DMA,TMA,热红,气质联用,介电常数介电损耗,有需要可以联系我。
我想测定粉末材料的热导率和介电常数 不知道北京哪里能测 请前辈指点
1*10-3mol/L的盐溶液介电常数和水溶液介电常数有差别吗?有差别的话怎么查盐溶液的介电常数?有人说在无机化学的附录里可以查到,但是我怎么找不到啊!!请求高手解答!
硫酸铜粉末的介电常数是10.3,那硫酸铜溶液呢?硫酸铜溶液的介电常数和溶液的浓度有关系吗?
[font=Calibri][font=Calibri]【第[/font]5季仪器心得】[/font][font=宋体][font=宋体]普瑞克[/font][font=宋体]TM2101-T5平整摩擦系数测试仪 薄膜纸张光滑度检测[/font][/font][font=宋体] [font=宋体]使用心得体会[/font][/font][font=宋体] [/font][img=,444,333]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/04/202404230818484218_3161_2227357_3.png!w444x333.jpg[/img][font=宋体] [/font][font=宋体] [/font][font=宋体]关于[/font][font=宋体][font=宋体]普瑞克[/font][font=宋体]TM2101-T5平整摩擦系数测试仪 薄膜纸张光滑度检测[/font][/font][font=宋体]的使用经验[/font][font=宋体]这个设备在购买的时候我们当时内部的争议很大,大家先看一下关键参数,可用于[/font][font=宋体][font=宋体]平整度测试仪适用于薄膜[/font] [font=宋体]纸张[/font] [font=宋体]薄片光滑度检测[/font] [font=宋体]砝码重量[/font][font=宋体](g) :200+2 g 滑块移动速度(mm/min) : 100+10 试验力精度(N) :+0.02 试件至大尺寸(mm) :上试样63*63下试样80*200外形尺寸(宽x长x高) (mm) : 300x400x180 重量(kg) [/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体]当时我们在购买时大家不是很推荐这款产品,但是长期使用发现这个设备买的很划算。我们日常主要用于包材的平整度的检测,对于日常样品量大的实验室,这个设备功不可没。[/font][font=宋体]自己的使用感悟;[/font][font=宋体]我把日常使用的[/font][font=宋体]技术特点[/font][font=宋体]和大家分享一下,这个设备的软件很人性化,[/font][font=宋体][font=宋体]主界面主要包括以下几大部分:标题栏、菜单栏、工具栏、当前量显示栏、各显示界面[/font][font=宋体](测试前设置项、力-变形,力-时间、变形时间等曲线界面、档案数据库、测试结果)、控制界面,取点界面。[/font][/font][font=宋体][font=宋体]需要批量对比测试结果时,请增加多组试样资料。如果每次只需要输出一条测试结果,试样资料请只输入[/font][font=宋体]1组[/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体]如果是[/font][font=宋体][font=宋体]增加:按选中的材料增减一个新的试样信息;如果是删除:删除选中的试样信息;还可以往下复制:将选中的参数数据依次复制到其下所有列。要是录入错误了还可以修改,[/font][font=宋体]“测试种类”和“形状”通过点击右键来修改[/font][/font][font=宋体] [/font][font=宋体]仪器的优点和不足[/font][font=宋体]这个设备在买的时候质保期限是一年,但是当时谈的是终生免费维修。这个在设备中太可以了。我们实验室买了大量的国产设备,部分是大客户的采购需求,所以在售后这方面国产设备有待提高。[/font][font=宋体]总结[/font][font=宋体]设备性价比很高,建议大家在购买前一定要看好参数。全面考虑一下设备的性能和参数。另外这个设备的备件在购买时要谈好,尽量一次性购买。后期单独购买的价格会略高一些。[/font]
哪里能测量透明薄膜的光学常数(折射率n和消光系数k)?样品做在超白玻璃上,单面溅射镀膜。
哪里能测量透明薄膜的光学常数(折射率n和消光系数k)?样品做在超白玻璃上,单面溅射镀膜。
你好,请问那里可以测试低介(2~10)、低损耗介电陶瓷的介电常数?要求试样的尺寸多大?谢谢!!
哪里能测量透明薄膜的光学常数(折射率n和消光系数k)?样品做在超白玻璃上,单面溅射镀膜。
有哪位牛人知道石英,碱性长石,斜长石,方解石,-黄铁矿,伊蒙混层,伊利石,高岭石 ,水, 油母这几种物质的在2450MH下的微波复介电常数 在此多谢了!!
请教高手,能帮忙解释一下,极性与介电常数的关系是什么?网上查的是反比关系,极性越大介电常数越小,极性越小,介电常数越大.而书上面说的是介电常数越大的,介电常数就越大.我弄不清楚到底是怎么回事?请这方面的高手帮忙解释一下这个问题!谢谢了.
有哪位大虾知道测量水的介电常数设备,多谢!
[b]织物胀破测试[/b]仪指织物在一垂直平面的负荷作用下,鼓起、扩张进而破裂的时的强度和高度。胀破仪适用在梭织、针织、无纺布、纸张、板材、薄膜等产品行业。 胀破仪在检测行业也是重要的检测指标之一,目前胀破仪主要分为两种:1.种是液压胀破测试仪;2.气压胀破测试仪 他们最主要的区别就是用的介质不用,同时结果也没有可对比性。A.液压胀破测试仪主要使用的介质是甘油(85%),通过甘油的以一定的上升速率,将测试样品瞬间爆裂时的力值和高度。目前主要有类有机械式:;全自动式: 主要测试标准:ASTM D3786-06、BS 3424-6-B、ISO 13938-1、ISO 3303-B、 ERT 80-4.02、GB/T 7742.1 B.气压胀破测试仪主要是通过空气压缩机恒定速率通过测试样品的瞬间爆破力值和高度。 目前主要作为液压胀破测试仪补充型设备使用,采用该检测方法的相对还比较少。主要测试一些胀帐篷,降落伞等方面的胀破强力。 主要使用标准:ASTMD 3786 ,ISO 13938.2,ISO 2758,GB/T7742.2
铁电性能和介电常数的关系是什么?在资料中看到, 铁电体一般都具有较高的介电常数, 但是具有很高介电常数的不一定是铁电材料.本人一直不能具体理解何为铁电性能(总觉得很抽象), 怎样判断某物质是否铁电材料呢?欢迎高手指点. 先谢!