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飞纳台式场发射扫描电镜

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飞纳台式场发射扫描电镜相关的仪器

  • 日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面,向所有用户提供高画质图像-- 日立高新技术公司(以下简称:日立高新)8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000",搭载了全新的用户界面和"EM Wizard",无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。 扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升,以及用户群体的不断扩大,使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且,由于观察对象的样品的不断多样化,对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求,通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升,对于用户来说,再也不用去讨论该用什么条件进行观察,只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外,使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件,按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说,它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来;对使用经验丰富的客户来说,开放了丰富的可设置选项,会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。 另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独一无二的。不但可大幅提高做样速度,更使视野再现性得到大大提高。并且,为了能适应各种分析的需求,最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等,都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis",9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014",9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*:肖特基式场发射电子显微镜:高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。 肖特基式场发射电子显微镜"SU5000" "EM Wizard"画面样式【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV(*1)、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式(*2)放大倍率底片倍率:10~600000倍、显示倍率:18~1000000倍5轴马达台X:0~100mm、Y:0~50mm、Z:3~65mm、T:-20~90°、R:360° *1:减速模式是选配项 *2:低真空模式是选配项 2014年,日立高新技术公司(以下简称:日立高新) 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。
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  • Apero 2-超高分辨场发射扫描电镜【产品描述】Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系统,实现灰色区域解析,让您不再忧心显微镜性能,更加专注于研究本身。 Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高质量成像性能,即使是磁性样品或是传统意义上成像非常困难的样品也可以实现极佳成像性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基础之上,进一步优化了超高分辨成像能力,并且增设许多新功能提升其高级功能的易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平台上引入了SmartAlign(智能对中)技术,不再需要用户手动进行调整操作,而且,FLASH(闪调)自动执行精细调节工作,只需移动鼠标几次,就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦校正。此外,Apreo 2 SEM是唯一在10 mm分析工作距离下具有1 nm分辨率的SEM,长工作距离不再意味着低分辨成像,有了Apreo 2 SEM,任何用户都可以自信地得到很好的成像效果。 【特点与应用】 全面解析全面的纳米和亚纳米分辨率性能,适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料; 极佳的灵活性非常灵活的处理范围,样品类型广泛,包括绝缘体、敏感材料和磁性样品,收集最重要的数据; SmartAlign技术使用SmartAlign(智能对中)技术,实现光学系统自动调整,减少维护时间; 先进的自动化先进的自动化用于自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH(闪调)技术; 实时定量EDS元素信息触手可及,利用ColorSEM技术,提供实时元素面分布成像定量分析,结果获取更加快速、简便; 长工作距离唯一在长工作距离(10 mm)具有高分辨率的性能(1 nm)和优秀的图像质量的SEM产品参数发射源:高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率: 型号Apero 2 CApero 2 S末级透镜静电复合高真空15kV0.9nm 0.5nm1kV1.0nm0.8nm500V 1.2nm0.8nm加速电压范围:200 V ~ 30 kV 着陆电压范围:200 eV ~ 30 keV探针电流范围:1 pA ~ 50 nA,连续可调(可选配400 nA)最大水平视场宽度:10 mm WD时为3 mm(相当于最低放大倍率29倍)X-Ray工作距离:10 mm,EDS检出角35°样品室:从左至右为 340 mm 宽的大存储空间,样品室可拓展接口数量12个,含能谱仪接口3 个(其中2个处于180° 对角位置)样品台:五轴优中心全自动马达驱动X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o (连续旋转)多用途SEM样品安装载物台,可同时放置 18 个标准样品座(φ12 mm)最大样品尺寸,直径122 mm,可沿X、Y轴完全旋转时最大样品高度,到优中心点间隔为85 mm最大样品承重 5 kg探测器系统:样品室二次电子探测器ETD镜筒内背散射电子探测器T1镜筒内二次电子探测器T2镜筒内二次电子探测器T3(选配)样品室内IR-CCD红外相机(观察样品台高度)图像导航彩色光学相机Nav-Cam+&trade 样品室低真空二次电子探测器(选配)可伸缩透镜下背散射探测器(选配)控制系统: 操作系统:Windows 10图像显示:24寸LCD显示器,最高显示分辨率1920×1200支持用户自定义的GUI,可同时实时显示四幅图像软件支持Undo和Redo功能
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  • Quattro-环境扫描场发射电镜Quattro SEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜,可以将成像和分析全面性能与环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。Quattro的场发射电子枪(FEG)确保了优异的分辨率,通过不同的探测器选项,可以调节不同衬度信息,包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。来自多个多个探测器和探测器区分的图像可以同步采集和显示,使得单次扫描即可获得样品信息,从而降低电子束敏感样品的束曝光并实现真正额动态试验。Quattro的三种真空模式使得系统极具灵活性,可以容纳最广泛的样品类型,无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下,均可获得可靠的分析结果。Quattro独特的硬件有用户向导支持,不仅可以指导操作者,还可以直接进行交换,轻松缩短结果获取时间。金属及合金、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料陶瓷、复合材料、塑料薄膜/涂层地质样品断面、矿物软材料:聚合物、药物、滤膜、凝胶、生物组织、植物材料颗粒、多孔材料、纤维水合/脱水/湿润/接触角分析结晶/相变氧化/催化材料生成拉伸(伴随加热或冷却)产品参数发射源:高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率:型号Quattro CQuattro S高真空30 kV(STEM)0.8 nm30 kV(SE)1.0 nm1 kV(SE)3.0 nm高真空下减速模式1 kV(BD+BSED)3.0 nm1 kV(BD+ICD)2.1 nm200 V(BD+ICD)3.1 nm低真空30 kV(SE)1.3 nm3 kV(SE)3.0 nm30 kV(BSE)2.5 nm环境扫描模式30 kV(SE)1.3 nm 放大倍率:6 ~ 2,500,000×加速电压范围:200 V ~ 30 kV 着陆电压:20 eV~30 keV,电子束减速可选探针电流范围:1 pA ~ 200 nA,连续可调X-Ray工作距离:10 mm,EDS检出角35°样品室:从左至右为340 mm宽的大存储空间,样品室可拓展接口数量12个,含能谱仪接口3个(其中2个处于180°对角位置),通用9针电气接口样品台和样品:型号Quattro CQuattro S类型优中心测角台,5轴电动X Y轴55×55 mm110×110 mm重复精度3.0 μm(0°倾斜时)电动Z轴65 mm旋转N×360°,连续倾斜-15°/+90°最大样品高度与优中心点(10 mm)间隔85 mm最大样品重量0°倾斜时,最大为5 kg最大样品尺寸可沿X、Y轴完全旋转时的直径为122 mm探测器系统: 同步检测多达四种信号,包括 样品室高真空二次电子探测器ETD 低真空二次电子探测器LVD气体SED(GSED,用于环境扫描模式)样品室内IR-CCD红外相机(观察样品台高度) 样品导航彩色光学相机Nav-Cam™ 珀尔帖台集成式STEM,用于观察湿薄样品- WetSTEM™ 控制系统: 操作系统:64位GUI(Windows 7)、键盘、光学鼠标 图像显示:24寸LCD显示器,WUXGA 1920×1200定制化的图像用户界面,可同时激活多达四个视图导航蒙太奇 软件支持Undo和Redo功能可选Joystick操纵杆 可选多功能控制板
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  • 国仪量子超高分辨场发射扫描电镜SEM5000XSEM5000X是一款超高分辨率场发射扫描电子显微镜,其分辨率达到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV。高分辨物镜设计、高压隧道技术(SuperTunnel)以及镜筒工艺升级,实现了低电压分辨率的进一步提升。全新设计的样品仓,扩展接口增加至16个,快速换样仓最大支持8寸晶圆(最大直径208 mm),极大扩展应用范围。高级扫描模式和自动功能增强,带来了更强的性能和更好的体验。产品优势超高分辨率成像,达到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV样品台减速和高压隧道技术组合的双减速技术,挑战极限样品拍摄场景高精度机械优中心样品台、超稳定性的机架减震设计,可搭配整体罩壳设计,极大减弱环境对极限分辨率的影响最大支持8寸晶圆(最大直径208 mm)的快速换样仓,满足半导体和科研应用需求应用案例产品参数
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  • 国仪量子场发射扫描电镜SEM4000Pro场发射扫描电子显微镜SEM4000ProSEM4000Pro是一款分析型热场发射扫描电子显微镜,配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计,束流最大可达200 nA,在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。标配低真空模式,以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器,可观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式,以及直观的操作界面,让您的分析工作倍感轻松。产品特点 配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪分辨率高,30kV下优于0.9nm的极限分辨率三级磁透镜设计,束流可调范围大,最大支持 200 nA 的分析束流标配低真空模式,以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器无漏磁物镜设计,可直接观察磁性样品标配的光学导航模式,中文操作软件,让分析工作更轻松应用案例产品参数关键参数高真空分辨率0.9 nm @ 30 kV,SE低真空分辨率2.5 nm @ 30 kV,BSE,30 Pa1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa加速电压200 V ~ 30 kV放大倍率1 ~ 1,000,000 x电子枪类型肖特基热场发射电子枪样品室真空系统全自动控制低真空模式最大180 Pa摄像头双摄像头(光学导航+样品仓内监控)行程X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mmT: -10°~+70°,R: 360°探测器和扩展标配旁侧二次电子探测器(ETD)低真空二次电子探测器(LVD)插入式背散射电子探测器(BSED)选配能谱仪(EDS)背散射衍射(EBSD)插入式扫描透射探测器(STEM)样品交换仓轨迹球&旋钮控制板软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散
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  • 秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、完全防震、性能稳定的特点,荷兰飞纳公司推出采用肖特 基场发射电子源,集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体的台式场发射扫描电镜能谱一体机 Phenom Nano G2。 高亮度肖特基场发射电子源,使用户可以轻松获得高分辨率图像。最高放大倍数 100 万倍,分辨率优于 2.5nm肖特基场发射电子源彩色光学显微镜全景导航集成全自动马达样品台内置全自动真空锁,15 秒抽真空无需喷金,直接观察不导电样品无漏磁设计,直接观测磁性样品操作简单,培训 30 分钟即可上手耦合式电子光路设计内置 27 组独立减震单元,完全防震维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定,可以长时间工作,自动化程度高,大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定,寿命长,电子光路免维护,后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计,杜绝人为操作不当引起设备故障;同时,提供终身免费的远程联网检测,实时维护您的电镜。复纳科学仪器(上海)有限公司为您提供飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2的参数、价格、型号、原理等信息,飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2产地为荷兰、品牌为Phenom,型号为Phenom Pharos G2,价格为面议RMB,更多相关信息可来电咨询,公司客服电话7*24小时为您服务
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  • 飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2荷兰飞纳公司推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源,使用户可以轻松获得高分辨率图像,且低电压性能优异。Phenom Pharos G2 低电压成像优势明显,可减轻电子束对样品的损伤和穿透,更好地观测绝缘和电子束敏感的样品,可以最大程度还原样品真实形貌。Phenom Pharos G2 —— 电镜能谱一体化设计Phenom Pharos 飞纳台式场发射电镜采用热场发射电子源,信噪比高,使用寿命长,保证长期稳定的性能。飞纳台式场发射扫描电镜能谱一体机标配背散射电子成像、二次电子电子成像和能谱分析功能,可对各种样品进行高分辨成像及元素分析。飞纳台式场发射电镜的技术优势 分辨率优于 1.5 nm 低电压下可得到高分辨样品的图像,表面细节丰富 彩色光学显微镜全景导航 集成全自动马达样品台 操作简单,培训 30 分钟即可上手 内置真空锁,15 秒抽真空 无需喷金,直接观察不导电样品 电子束流大,稳定,能谱分析效率高 内置 27 组独立减震单元,完全防震 电子光路免维护维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定,可以长时间工作,自动化程度高,大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定,寿命长,电子光路免维护,后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计,杜绝人为操作不当引起设备故障;同时,提供终身免费的远程联网检测,实时维护您的电镜。
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  • Agilent 桌面场发射扫描电镜 安捷伦8500FE-SEM为研究者提供场发射扫描电镜。这个紧凑、创新的系统优化了低电压成像,特别是表面高对比度,可以得到一般在更大,更昂贵的场发射显微镜才能得到的分辨率。8500安装使用很方便,不需特别的场地要求,只需一个接线板。设计紧凑,为实验室中的研究者提供了以前只有传统场发射电镜才能得到的性能。8500经过精心设计,可以提供持续,可重复的性能,成本是业界最低的。 特征和优势:分辨率和成像质量等同于传统的场发射扫描电镜结构优化,核心元件达到晶元尺度,在低压条件下,得到高分辨的成像结果可变低电压可以消除电荷,样品不需要镀膜(不用喷金喷碳直接看不导电样品)程序设计的XYZ样品台确保用户精细调整,扫描和储存信息,操作简单快速静电透镜的设计确保良好的重复性,消除了磁滞现象,不需反复调整机体紧凑确保便于安装,不需特别的场地,不需通冷却水,不需特别隔振维护非常简单,不需频繁更换发射源
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  • 电镜能谱一体化设计,简洁小巧 Phenom ProX 的能谱仪 EDS 是针对台式电镜设计的,本着台式电镜简单易用,售后无忧的宗旨,Phenom ProX 的能谱仪 EDS 系统完全嵌入在电镜主机中,利用半导体制冷,无需额外冷却系统。 飞纳台式扫描电镜 Phenom ProX 用户可根据样品类型和测试目的,灵活切换专利样品杯,30 秒快速成像 Phenom(飞纳)专利样品杯、低真空设计、专利的真空封锁技术,装入样品后 30 秒内即可得到高质量图像,耗时仅为传统电镜的 1/10 左右。 直接观看绝缘体,无需喷金 Phenom(飞纳)采用低真空技术,出射电子与空气分子碰撞产生正离子,正离子与样品表面累积的电子中和,有效抑制荷电效应的产生,直接观测各种不导电样品(如下图所示)。 利用降低荷电效应样品杯,更可将开始荷电的放大倍数提高 8 倍左右,而且不会影响灯丝寿命,长寿命/高亮度/低色差 CeB6 灯丝 Phenom(飞纳)采用逸出功为 2.5eV 的 CeB6 灯丝,其亮度为钨灯丝的 10 倍,出射电子色差小,为您提供更高质量的图像,其使用寿命长达 1500 小时,为钨灯丝的 10 倍,可正常使用 1-3 年无需更换灯丝,免去了您频繁更换灯丝的麻烦,保证工作进度。环境适应性高,完全防震 Phenom(飞纳)可以放置在几乎所有的室内环境当中,无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计,震动不会引起三者间的相对运动,使 Phenom 成像不受震动影响,可放置在较高楼层。互联网远程检测 Phenom(飞纳)拥有远程检测功能,通过网络,专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难,为您提供全方位的保护,让您的 Phenom 随时处于最佳工作状态。
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  • 产品性能:第六代 Phenom Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍,用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点,适用于传统大电镜待测样品的快速筛选,也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜:175,000 倍探测器:高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料:1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率:优于 10 nm放置环境:采用专业防震设计,可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压:5kV 和 10kV抽真空时间:小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific),负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有最专业的服务团队,提供最优化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有超过 1500 名用户。
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  • 产品性能飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 XL是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的大样品室台式扫描电镜。最大样品直径为 100mm,放大倍数 200,000 倍以下, Phenom XL 是您正确的选择。在继承飞纳电镜 15 秒抽真空成像、全自动化操作、直接观测绝缘体、防震设计等优点的基础上,分辨率可以和普通大型钨灯丝电镜媲美,后期被拓展性很强。产品参数光学显微镜:放大 3-19 倍电子显微镜:200,000 倍探测器:高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料:1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率:优于 8 nm放置环境:采用专业防震设计,可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压:4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间:小于 30 秒能谱仪:可选配能谱仪Phenom XL 大样品室卓越版可选配所有的拓展功能软件选件,如 3D 粗糙度重建,纤维统计分析测量系统,颗粒统计分析测量系统,孔径统计分析测量系统。全自动显微平台Phenom XL + 拉伸台 拉伸台是飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能,在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料,陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间,拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min,满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台 复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China),负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有最专业的服务团队,提供最优化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有超过 2000 名用户。
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  • 产品简介日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面,向所有用户提供高画质图像--日立高新技术公司(以下简称:日立高新)8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000",搭载了全新的用户界面和"EM Wizard",无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升,以及用户群体的不断扩大,使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且,由于观察对象的样品的不断多样化,对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求,通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升,对于用户来说,再也不用去讨论该用什么条件进行观察,只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外,使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件,按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说,它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来;对使用经验丰富的客户来说,开放了丰富的可设置选项,会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独有的。不但可大幅提高做样速度,更使视野再现性得到大大提高。并且,为了能适应各种分析的需求,最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等,都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis",9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014",9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*:肖特基式场发射电子显微镜:高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV(*1)、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式(*2)放大倍率底片倍率:10~600000倍、显示倍率:18~1000000倍5轴马达台X:0~100mm、Y:0~50mm、Z:3~65mm、T:-20~90°、R:360° *1:减速模式是选配项 *2:低真空模式是选配项 2014年,日立高新技术公司(以下简称:日立高新) 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。
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  • 飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版----Phenom XL G2Phenom XL (电镜腔室 100mm x 100mm)具有飞纳电镜系列以下优点:超高分辨 —— 8 nm,独家采用长寿命 1500 小时、高亮度的 CeB6 灯丝快速成像 —— 抽真空时间小于 20 秒简易操作 —— 光学 + 低倍电子导航定位,结合全自动马达样品台移动观测位置直接观测绝缘体 —— 低真空设计,实现不喷金看绝缘体,且不影响灯丝寿命高度自动化 —— 自动聚焦,自动调节对比度亮度,拍照简单快速放置环境无特殊要求—— 无需独立实验室,无需超净间防震设计 —— 紧凑的一体化设计,可不用防震台摆放在高层远程联网检测 —— 第一时间通过远程联网诊断,售后无忧同时,Phenom XL G2 做出了如下改进,使其在拥有台式扫描电镜操作简单等特点的前提下,具备大型落地式电镜的高分辨率、多功能和拓展性强等优势:1、Phenom XL G2 成为台式扫描电镜中腔室最大的,电镜腔室由原来的 32mm 扩容为 100mm x 100mm,一次可容纳至多 36 个 1/2 英寸样品台,测样效率进一步提高。自动马达样品台的移动范围为 X = 50mm,Y = 50mm(可选配X=100 mm,Y=100 mm)Phenom XL 的样品台2、Phenom XL 提供高、中、低三级真空,可以选配二次电子探测器3、背散射电子探头性能依然优异,背散射电子信号强度跟样品成分衬度有关,可以和能谱良好结合起来背散射 1000X(背散射电子数量与元素的原子序数成正比,元素的原子序数越高,背散射电子数量越多,该元素在图像中的表现越亮)样品未喷金,采用背散射电子成像,更高倍数下清晰看到多种成分衬度,沿着箭头方向从内到外可以看到 4 种不同的成分衬度,且分界线非常明显。代表这 4 个位置元素含量各不相同,并且沿着箭头方向,重元素占比越来越低。4、低电压下成像优势明显,低电压模式下,可以减少对样品的损伤,穿透,能观察到样品表面更真实的形貌 二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 10000X二次电子 5kV, 15000X5、可拓展拉伸台,压力台,大角度倾斜台,高低温样品台等功能性选件● 全自动显微平台Phenom XL G2 + 拉伸台   拉伸台是飞纳台式扫描电镜Phenom XL G2一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能,在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料,陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间,拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min,满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台6、Phenom XL 可选配所有的拓展功能软件选件,如 3D 粗糙度重建系统,纤维统计分析测量系统,孔径统计分析测量系统等
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  • 追求ji致性能!完成具挑战性的纳米分析工作。TESCAN推出了全新yi代S8000系列扫描电镜,目前包括:S8000型超高分辨场发射扫描电镜和S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜。S8000 FE-SEM全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,能够满足现今工业研发和科研的所有需求,不仅适用于高端的纳米分析应用,也给操作者带来舒适、高效的使用体验。 S8000 FE-SEM的优点: 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及S8000G FIB-SEMS8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员,是yi款超高分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以ji佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的优点: 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-3 S8000 系列(NEW ! )S8000 FE-SEM全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,能够满足现今工业研发和科研的所有需求,不仅适用于高端的纳米分析应用,也给操作者带来舒适、高效的使用体验。S8000 FE-SEM的优点: 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析 配置4个新yi代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面 配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,如EDS、EBSD、CL、EBL,并du家实现与Raman联用S8000 系列(NEW ! )S8000G FIB-SEM S8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员,是yi款超高分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以ji佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。S8000G FIB-SEM的优点: 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析 配置4个新yi代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面 配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并du家实现与TOF-SIMS、Raman联用 新yi代操作软件和自动功能,FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中,极大简化了操作北京亚科电子(山东)设备咨询电话:
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  • 主要参数:用途:场发射环境扫描电镜,配备能谱仪和冷台。扫描电镜和能谱仪,可用于测试各种材料,如金属材料、高分子材料、无机材料(矿物、岩土、甚至含水分材料)等的样品表面二次电子形貌信息,背散射电子组分区分,能谱元素成分分析。结合冷台,可通过控制样品室内温度和湿度,模拟环境测试样品在动态环境中的形貌和组分变化,并记录这些变化的过程。 三 工作环境:1电压:100-240V(-6%,+10%)2工作温度:20±3 ℃3 相对湿度: 80%4 震动和磁场需由厂家装机前测试并给出报告 四 主要技术性能指标:1 电子光学:1.1 发射源:高分辨肖特基场发射电子枪。1.2 加速电压:200V – 30kV。1.3 放大倍数:6× - 2,500,000×。1.4 电镜内设计有压差真空系统,保护低真空/环境真空下电子枪,延长寿命。1.5 大的电子束束流:1pA -200nA 连续可调,保证能谱高效工作。 2 真空系统2.1 1个250 l/s分子涡轮泵+1个机械泵+2个离子泵2.2 集成的离子泵备用电池(用于意外断电保护)2.2 高真空模式:<6×10-4 Pa (测试导电样品或喷金处理样品)2.3 低真空模式:10 – 200 Pa (直接测试不导电样品)2.4 环境真空模式:10 – 4000 Pa (测试含水分样品)2.5 高真空模式下的换样时间:≤3.5min2.6 环境真空模式下的换样时间:≤4.5min 3 分辨率独立的高真空专用探测器,分辨率指标3.1 高真空分辨率30 kV下1.0 nm (二次电子)3.2 高真空分辨率30 kV下2.5 nm (背散射电子)3.3 高真空分辨率1 kV下3.0 nm (二次电子)独立的低真空专用探测器3.4 低真空分辨率30 kV下1.3 nm (二次电子)3.5 低真空分辨率30 kV下2.5 nm (背散射电子)3.6 低真空分辨率3 kV下3.0 nm (背散射电子)独立环境真空专用探测器3.7环境真空分辨率30 kV下1.3 nm (二次电子) 4 样品室4.1 样品室内宽:340mm4.2 分析工作距离:10 mm4.3 样品室红外CCD相机:1个4.4 最多可升级12个探测器或附件接口 5 样品台5.1 样品台类型:五轴全自动U中心对中样品台,同时保留五轴手动功能5.2 行程:X:110 mm,Y:110 mm ,Z:65 mm,5.4 旋转R=n×360o,倾斜T=-15o/+90o5.3 多功能样品台,存放标准样品台 (?12 mm)平面18个,斜面3个,同时提供2个断面夹具5.4 样品最大安全高度≥85mm6 图象处理及系统控制……7 循环冷却系统……更多详细的技术参数,请与深圳市天禧仪器有限公司销售人员联系。
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  • 产品性能:第六代飞纳台式扫描电镜高性价比标准版 Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍,用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点,适用于传统大电镜待测样品的快速筛选,也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜:175,000 倍探测器:高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料:1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率:优于 10 nm放置环境:采用专业防震设计,可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压:5kV 和 15kV抽真空时间:小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific),负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有最专业的服务团队,提供最优化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。
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  • 产品性能:第六代 飞纳台式扫描电镜 Phenom Pure 经济型是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍,用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 CeB6 灯丝和全新的聚焦系统,Phenom pure 的分辨率轻松达到 10 nm,同时具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。Phenom Pure产品参数光学显微镜:放大 27 倍电子显微镜:175,000 倍探测器:高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料:1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率:优于 10 nm放置环境:采用专业防震设计,可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压:5kV 和 10kV抽真空时间:小于 15 秒Phenom Pure 可升级为高分辨率专业版 Phenom Pro,Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pure 可选配所有的样品杯选件和所有的拓展功能软件选件。复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China),负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有最专业的服务团队,提供最优化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。
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  • 产品性能第六代 Phenom Pro 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 350,000 倍,用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 CeB6 灯丝和全新的聚焦系统,Phenom Pro 的分辨率轻松达到 6 nm,同时具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。飞纳台式扫描电镜 Phenom Pro产品参数电子显微镜:350,000 倍探测器:高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料:1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率:优于 6 nm放置环境:采用专业防震设计,可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压:4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间:小于 15 秒Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有的拓展功能软件选件。复纳科学仪器 (上海) 有限公司,负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有最专业的服务团队,提供最优化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。
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  • 产品介绍:  日立全新一代热场发射扫描电镜SU5000继承了日立半导体行业扫描电镜CD-SEM高稳定性和易操作的特点,不仅具有强大的观察分析能力,同时具有全新的操作体验。SU5000既满足了专业电镜操作者对高分辨观察和分析的需求,也满足了电镜初学者对高质量图片的需求,是一台操作简便且功能强大的扫描电镜。主要特点:1. 高稳定性热场发射电子枪2. 全新的EM Wizard软件,无需设置参数即可获得高质量图片3. 高分辨率和强大的分析能力4. 样品适用性强:不导电样品直接观察(低真空功能,10-300Pa)5. 全新的multi-finder功能,方便快捷的寻找样品6. 附件功能强大:拉伸台,冷热台,电子束曝光,红外CCD,离子束清洁系统等。
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  • TESCAN--场发射扫描电镜 MIRA zui新一代的MIRA场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点(如改进的高性能电子设备使成像过程更快,快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿,有内置的编程软件等),同时保持着zui高的性价比。MIRA3的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用,例如:EBSD、WDX等分析。MIRA3场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室(LM、XM或GM)提供you xiu的5轴马达驱动全计算机化优中心样品台,完善的几何设计更适合安装能谱仪(EDS),波谱仪(WDX),电子背散射衍射(EBSD)。XM和GM样品室适用于大样品的分析。现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察(Wide Field Optics&trade )设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”,它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪(In-Flight Beam Tracing&trade ),可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术,实时得到立体图像,三维导航维修简单现在保持电镜处在you xiu的状态很简单,只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细,使得仪器的效率zui大化,操作zui简化。自动操作设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外,电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序,能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言(Python)可进入软件的大多数功能,包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 多语言操作界面 多用户界面(包括了EasySEMTM模式)不同账户的权利使常规分析过程更快 图片管理,报告生成 内置的系统检查与系统诊断 网络操作与远程进入/诊断 模块化软件体系结构 标准软件包括了测量、图像处理、对象区域,等模块 可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建,等模块MIRA3 GMMIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 XMMIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 LMMIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 北京亚科电子(山东)欢迎来电咨询 !
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  • TESCAN--场发射扫描电镜 MIRA zui新一代的MIRA场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点(如改进的高性能电子设备使成像过程更快,快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿,有内置的编程软件等),同时保持着zui高的性价比。MIRA3的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用,例如:EBSD、WDX等分析。MIRA3场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室(LM、XM或GM)提供you xiu的5轴马达驱动全计算机化优中心样品台,完善的几何设计更适合安装能谱仪(EDS),波谱仪(WDX),电子背散射衍射(EBSD)。XM和GM样品室适用于大样品的分析。现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察(Wide Field Optics™ )设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”,它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪(In-Flight Beam Tracing™ ),可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术,实时得到立体图像,三维导航维修简单现在保持电镜处在you xiu的状态很简单,只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细,使得仪器的效率zui大化,操作zui简化。自动操作设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外,电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序,能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言(Python)可进入软件的大多数功能,包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 多语言操作界面 多用户界面(包括了EasySEMTM模式)不同账户的权利使常规分析过程更快 图片管理,报告生成 内置的系统检查与系统诊断 网络操作与远程进入/诊断 模块化软件体系结构 标准软件包括了测量、图像处理、对象区域,等模块 可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建,等模块MIRA3 GMMIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 XMMIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 LMMIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。
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  • 场发射扫描电镜 MIRA zui新一代的MIRA场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点(如改进的高性能电子设备使成像过程更快,快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿,有内置的编程软件等),同时保持着zui高的性价比。MIRA3的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用,例如:EBSD、WDX等分析。MIRA3场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室(LM、XM或GM)提供优xiu的5轴马达驱动全计算机化优中心样品台,完善的几何设计更适合安装能谱仪(EDS),波谱仪(WDX),电子背散射衍射(EBSD)。XM和GM样品室适用于大样品的分析。现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察(Wide Field Optics™ )设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”,它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪(In-Flight Beam Tracing™ ),可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术,实时得到立体图像,三维导航维修简单现在保持电镜处在优xiu的状态很简单,只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细,使得仪器的效率zui大化,操作zui简化。自动操作设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外,电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序,能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言(Python)可进入软件的大多数功能,包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 多语言操作界面 多用户界面(包括了EasySEMTM模式)不同账户的权利使常规分析过程更快 图片管理,报告生成 内置的系统检查与系统诊断 网络操作与远程进入/诊断 模块化软件体系结构 标准软件包括了测量、图像处理、对象区域,等模块 可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建,等模块MIRA3 GMMIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 XMMIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 LMMIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。设备咨询电话:(微信同号);QQ:;邮箱:欢迎您的来电咨询!
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  • 飞纳台式扫描电镜 Phenom 超大样品台是飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的标准样品杯,设计紧凑,可以分析的最大样品尺寸为 100 mm x 100 mm。尽管是大得多的样品尺寸,专利的样品加载技术可以使抽真空的时间降到最短,实际上使得飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的吞吐量比同类型的扫描电镜高出几个级别。镶嵌,切割和抛光是制备表面平整,用于扫描电镜观察样品的常用技术。通常,这些样品会被嵌入到树脂中,并且有几种标准直径的尺寸。飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 可以拓展使用 3 种树脂镶嵌金相样品插件,这意味着 Phenom XL G2 的标准样品杯可以装载常见尺寸的金相样品。100 mm x 100 mm(一次可容纳多达 36 个 1/2 英寸样品台)样品高度 Max. 65mm超大样品台
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  • 飞纳台式扫描电镜 Phenom 标准样品杯高分辨率样品杯,每台飞纳电镜的标准配置。可以获得最好的成像结果,适用于固定在钉型样品台上的常规样品。最大样品尺寸:直径 25 mm;高 30 mm 标准样品杯样品台 放样复纳科学仪器(上海)有限公司为您提供9台电镜附件及外设,包括飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件,飞纳台式电镜 Phenom 自动倾斜/旋转样品杯,飞纳台式扫描电镜 Phenom 超大样品台, 不管是电镜附件及外设原理、参数,还是电镜附件及外设价格、型号都可咨询,售前、售后均可联系我们。
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  • 台式扫描电镜一台 400-860-5168转5011
    泽攸科技 台式扫描电镜多少钱一台?学校或是公司想买台式扫描电镜,但是给的预算又有限,那么如何选购台式扫描电镜,性价比高的呢?下面泽攸科技小编给大家介绍一下台式扫描电镜价格。扫描电镜价格有几十万到几十万,几百万甚至更高。台式扫描电镜价格不同主要是以下三个方面的质量差异。1、电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成。2、镜筒主要有电子源、电子透镜、样品架、荧光屏、检测器等部件。 这些部件通常从上到下组装成一个圆柱体。3、电子透镜用于聚焦电子,是电子显微镜镜筒中很重要的部分。 一般使用磁透镜,有时也使用静电透镜。它利用与镜筒轴对称的空间电场或磁场,使电子轨迹向轴弯曲,形成焦点。其作用与光学显微镜中的光学透镜(凸透镜)一样,使光束聚焦,故称为电子透镜。光学镜头的焦点是固定的,而电子镜头的焦点是可以调节的,因此电子显微镜没有光学显微镜那样的可移动镜头系统。大多数现代电子显微镜都使用电磁透镜,电子被非常稳定的直流激励电流通过带极靴的线圈产生的强磁场聚焦。电子源由释放自由电子的阴极、栅极和以环形加速电子的阳极组成。阴极和阳极之间的电压差需要很高,一般在几千伏到三百万伏之间。它能以均匀的速度发射并形成电子束,因此加速电压的稳定性不低于万分之一。样品可以稳定地放置在样品架上,常有可以改变样品的装置(如移动、旋转、加热、冷却、拉长等)。电子显微镜按其结构和用途可分为透射电子显微镜、扫描电子显微镜、反射电子显微镜和发射电子显微镜。ZEM台式扫描电镜 透射电子显微镜常用于观察普通显微镜无法分辨的精细材料结构,扫描电子显微镜主要用于观察固体表面形貌,也可与X射线衍射仪或电子能谱仪结合形成电子。微探针用于材料成分分析,发射电子显微镜用于研究自发射电子表面。扫描电镜价格只是购买产品或服务过程中的一项指标,如果单纯只比较价格,其实考虑并不是那么周到。价格、质量、服务、口碑、是否合适自己的情况等都需要一起考虑。了解泽攸科技扫描电镜价格请致电(微信同号)原文: 安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。   公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息,PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技,型号为高温拉伸台,价格为面议,更多相关信息可来电咨询,公司客服电话7*24小时为您服务
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  • 场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述分析潜力 XM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台,完美的几何设计更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD) 优化几何设计的许多接口,更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD)和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下,几分钟就可以达到仪器工作需要的真空,电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品,观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 XMH大样品室高真空式电镜,配备有可选的马达驱动样品台,适合观测导电的样品。MIRA3 XMU可变真空式SEM,体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品,不需要喷金。软件:标配: 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM 选配:根据实际配置和需求 配件 二次电子探头(SE),ET型二次电子探头(YAG 闪烁体) 可移动式背散射电子探头(RBSE)*,可移动环行闪烁体类(YAG)具有高灵敏度和原子序数分辨率(0.1Z) 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等,各种配件可供选择
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  • Apero 2-超高分辨场发射扫描电镜【产品描述】Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系统,实现灰色区域解析,让您不再忧心显微镜性能,更加专注于研究本身。 Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高质量成像性能,即使是磁性样品或是传统意义上成像非常困难的样品也可以实现极佳成像性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基础之上,进一步优化了超高分辨成像能力,并且增设许多新功能提升其高级功能的易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平台上引入了SmartAlign(智能对中)技术,不再需要用户手动进行调整操作,而且,FLASH(闪调)自动执行精细调节工作,只需移动鼠标几次,就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦校正。此外,Apreo 2 SEM是唯一在10 mm分析工作距离下具有1 nm分辨率的SEM,长工作距离不再意味着低分辨成像,有了Apreo 2 SEM,任何用户都可以自信地得到很好的成像效果。 【特点与应用】 全面解析全面的纳米和亚纳米分辨率性能,适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料; 极佳的灵活性非常灵活的处理范围,样品类型广泛,包括绝缘体、敏感材料和磁性样品,收集最重要的数据; SmartAlign技术使用SmartAlign(智能对中)技术,实现光学系统自动调整,减少维护时间; 先进的自动化先进的自动化用于自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH(闪调)技术; 实时定量EDS元素信息触手可及,利用ColorSEM技术,提供实时元素面分布成像定量分析,结果获取更加快速、简便; 长工作距离唯一在长工作距离(10 mm)具有高分辨率的性能(1 nm)和优秀的图像质量的SEM产品参数发射源:高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率: 型号Apero 2 CApero 2 S末级透镜静电复合高真空15kV0.9nm 0.5nm1kV1.0nm0.8nm500V 1.2nm0.8nm加速电压范围:200 V ~ 30 kV 着陆电压范围:200 eV ~ 30 keV探针电流范围:1 pA ~ 50 nA,连续可调(可选配400 nA)最大水平视场宽度:10 mm WD时为3 mm(相当于最低放大倍率29倍)X-Ray工作距离:10 mm,EDS检出角35°样品室:从左至右为 340 mm 宽的大存储空间,样品室可拓展接口数量12个,含能谱仪接口3 个(其中2个处于180° 对角位置)样品台:五轴优中心全自动马达驱动X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o (连续旋转)多用途SEM样品安装载物台,可同时放置 18 个标准样品座(φ12 mm)最大样品尺寸,直径122 mm,可沿X、Y轴完全旋转时最大样品高度,到优中心点间隔为85 mm最大样品承重 5 kg探测器系统:样品室二次电子探测器ETD镜筒内背散射电子探测器T1镜筒内二次电子探测器T2镜筒内二次电子探测器T3(选配)样品室内IR-CCD红外相机(观察样品台高度)图像导航彩色光学相机Nav-Cam+&trade 样品室低真空二次电子探测器(选配)可伸缩透镜下背散射探测器(选配)控制系统: 操作系统:Windows 10图像显示:24寸LCD显示器,最高显示分辨率1920×1200支持用户自定义的GUI,可同时实时显示四幅图像软件支持Undo和Redo功能
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  • 场发射扫描电镜 MIRA zui新一代的MIRA场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点(如改进的高性能电子设备使成像过程更快,快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿,有内置的编程软件等),同时保持着zui高的性价比。MIRA3的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用,例如:EBSD、WDX等分析。MIRA3场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室(LM、XM或GM)提供优xiu的5轴马达驱动全计算机化优中心样品台,完善的几何设计更适合安装能谱仪(EDS),波谱仪(WDX),电子背散射衍射(EBSD)。XM和GM样品室适用于大样品的分析。现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察(Wide Field Optics™ )设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”,它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪(In-Flight Beam Tracing™ ),可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术,实时得到立体图像,三维导航维修简单现在保持电镜处在优xiu的状态很简单,只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细,使得仪器的效率zui大化,操作zui简化。自动操作设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外,电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序,能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言(Python)可进入软件的大多数功能,包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 多语言操作界面 多用户界面(包括了EasySEMTM模式)不同账户的权利使常规分析过程更快 图片管理,报告生成 内置的系统检查与系统诊断 网络操作与远程进入/诊断 模块化软件体系结构 标准软件包括了测量、图像处理、对象区域,等模块 可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建,等模块MIRA3 GMMIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 XMMIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 LMMIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。
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  • TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜 TESCAN MAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器,适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。TESCAN MAGNA 配置 Triglav&trade 型 SEM 镜筒,具有超高的分辨率,在低电压下尤为明显;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,可以获得更好的图像衬度和表面灵敏度,非常适用于不导电样品的成像,如陶瓷、无涂层生物样品,以及在半导体光敏样品。此外,TESCAN MAGNA 配备肖特基场发射电子枪,能够提供高达 400 nA 的束流,结合 Triglav&trade 型 SEM 镜筒所具备的出色纳米尺度分析性能和高稳定性,为微分析和长耗时样品的分析应用提供了最佳条件。TESCAN MAGNA 使用了全新的 TESCAN Essence&trade 软件,用户界面友好,可以满足各类应用需求,可定制的布局以及自动化的样品制备功能,最大限度地提升了操作便捷性和工作效率。TESCAN MAGNA FE-SEM 主要优势:* 强大的微观形貌观测和微分析能力TESCAN 专利的 Triglav&trade 型 SEM 镜筒具有 TriLens&trade 三物镜系统 ,适用领域更加多样化。UH-resolution 物镜提供的超高分辨率非常适合于形貌细节观察,使研究人员能够更好的分析纳米级样品。全新的高分辨 Analytical 物镜可实现无漏磁成像,是磁性样品观察和分析(EDS, EBSD)的理想选择。第三个物镜可以实现多种观测模式切换,新一代 Triglav&trade 镜筒还具有自适应束斑优化功能,可以提高了大束流下的分辨率,这一特点有利于更好的进行 EDS、WDS 和 EBSD 等分析。* 提供最佳的分析条件肖特基场发射电子枪能够产生高达 400 nA 的电子束流,电压也可以快速改变并保证在所有的分析应用下都能够获得良好的信号。* 让复杂的应用变的前所未有的简单新一代 TESCAN Essence&trade 是一款简化的、支持多用户的软件,它的布局管理器可以帮助用户快速、方便地访问所有主要功能。软件界面可自定义,更好地适应特定的应用方向,符合不同用户的使用偏好。软件的各种功能模块、向导和应用方案使得无论是入门级用户或是专家级用户都能够轻松顺畅的掌握扫描电镜的操作,从而提升样品的处理速度,提高工作效率。* 可以获得不同衬度图像,最大程度洞察样品 TESCAN MAGNA 配备 TriBE&trade 探测器系统:包含三个背散射电子探测器,可以根据角度和能量的差异选择性地收集信号。Mid-Angle BSE 和 In-Beam f-BSE 探测器位于镜筒内,可以接收中角度和轴向的背散射电子,而样品室内背散射电子探测器则用于接收广角背散射电子。同时,TESCAN MAGNA 还配备 TriSE&trade 探测器系统:共有三个二次电子探测器,可在所有工作模式下以最佳方式获取二次电子:In-Beam SE 探测器可以在非常短的工作距离下接收二次电子;SE(BDM)为电子束减速模式下的二次电子探测器,可以提供最佳的分辨率;样品室内的二次电子探测器则能提供最佳形貌衬度的图像。 TESCAN MAGNA FE-SEM 突出特点:ü 专利的电子信号选择检测功能,帮助用户获得更好的表面灵敏度和衬度。ü 进一步提升了低电压下超高分辨 SEM 成像,以及在 30keV 下使用 STEM 表征纳米材料的性能。ü 自适应束斑优化功能,有利于更好的进行 EDS、WDS 和 EBSD 等分析。* TESCAN MAGNA 基于 S9000 平台的升级。
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  • 场发射扫描电镜SEM5000Pro是一款先进的显微镜设备,它结合了场发射电子源和扫描电子显微技术,为用户提供高分辨率的表面成像。该设备适用于各种科学研究和工业应用,能够清晰地观察到纳米级别的细节。SEM5000Pro具备高亮度和高稳定性,保证了长时间运行的可靠性。此外,它还拥有先进的图像处理软件,可以进行精确的图像分析和三维重建。用户可以通过这款设备进行材料分析、生物样本观察以及微电子器件的检查等多种任务。SEM5000Pro的卓越性能源于其强大的硬件支持。它配备了高性能的X射线能谱仪(EDS),能够同时进行形貌观察和成分分析,为用户提供更全面的样品信息。此外,该设备还具备自动化样品台,能够精确控制样品位置,提高检测效率和准确性。在操作便捷性方面,SEM5000Pro采用了直观的图形用户界面,使得用户能够轻松设置参数、调整图像并导出数据。同时,它还支持远程控制和网络共享功能,方便用户在不同地点进行实验操作和数据交流。在应用领域上,SEM5000Pro广泛应用于材料科学、生物医学、地质学、考古学以及微电子工业等多个领域。在材料科学中,它可以用于研究材料的微观结构、相组成和界面特性;在生物医学领域,它可以帮助研究人员观察细胞、组织以及生物大分子的精细结构;在微电子工业中,它则可用于检查半导体器件的缺陷和失效模式。总之,场发射扫描电镜SEM5000Pro以其卓越的性能、便捷的操作和广泛的应用领域成为了科研和工业领域不可或缺的重要工具。此外,SEM5000Pro还具备一些高级功能,进一步提升了其应用价值。例如,它支持低温扫描电镜(Cryo-SEM)技术,能够在接近绝对零度的低温条件下观察样品的形貌,这对于研究生物样品、高分子材料等在常温下易变形的样品尤为重要。通过Cryo-SEM,用户可以捕捉到样品在接近自然状态下的真实形貌,为科学研究提供更为准确的数据支持。同时,SEM5000Pro还具备环境扫描电镜(ESEM)功能,允许在样品室内引入气体或蒸汽,模拟样品在自然环境中的状态。这一功能对于研究材料在特定环境下的行为、腐蚀机理以及生物样品在湿润条件下的形态变化等具有重要意义。在数据分析方面,SEM5000Pro配备了先进的自动化分析软件,能够自动识别和测量样品中的特征元素、颗粒大小、形貌参数等,并生成详细的报告。这不仅大大提高了数据分析的效率和准确性,还为用户节省了大量时间和精力。最后,SEM5000Pro还注重用户的安全和健康。设备采用了低辐射设计,减少了操作人员受到的辐射剂量。同时,它还配备了完善的防护措施和紧急停机装置,确保在发生异常情况时能够迅速切断电源并保护样品和设备的安全。综上所述,场发射扫描电镜SEM5000Pro凭借其卓越的性能、广泛的应用领域、高级的功能以及注重用户安全的设计理念,成为了科研和工业领域中的佼佼者。无论是对于材料科学家、生物医学研究者还是微电子工程师来说,它都是一款不可或缺的重要工具。
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