通用多功能原子力显微镜

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通用多功能原子力显微镜相关的厂商

  • 400-878-6829
    帕克(Park)公司的创始人是世界上第一台原子力显微镜发明组的一员,1986年研制了世界首台商用原子力显微镜,一直致力于原子力显微镜技术的开发与应用,帕克(Park)在原子力显微镜的发展过程中一直占有重要的一席之地。本公司作为纳米显微镜和计量技术领域的领导革新者,一直致力于新兴技术的开发。我们的总部遍及中国大陆,宝岛台湾,韩国,美国,日本,新加坡和德国等地,我们为研究领域和工业界提供世界上最精确,最高效的原子力显微镜。我们的团队正在坚持不懈的努力,力求满足全球科学家和工程师们的需求。随着全球显微镜市场的迅速增长,我们将持续创新,不断开发新的系统和功能,确保我们的产品始终得到最有效最快捷的使用!Park产品主要有以下特点: 1.非接触工作模式:全球唯一一家真实实现非接触式测量模式的原子力显微镜厂家,非接触模式使原子力针尖磨损大大降低,延长了探针寿命,提高了测量图像的重复性; 2.高端平板扫描器:所有产品型号均采用的高端平板扫描器,远远优于传统的管式扫描器 3.全球最高的测量精度:Z轴精度可达0.02nm; 4.智能扫描Smartscan:仪器操作极其简单,可实现自动扫描,对操作者无特殊要求,并且有中文操作界面; 5.简单的换针方式:换针非常方便,采用磁拖直接吸上即可,不需调整激光光斑; 6.Park拥有全球最广泛的工作模式:可用于光学,电学,热学,力学,磁学,电化学等方面的研究与测试。
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  • 400-860-5168转3750
    企业概况 英国工业显微镜有限公司是一家专业从事开发和生产人机工学的体视显微镜和非接触式测量系统的制造厂商。自1958年创立以来,英国Vision已成为世界上最具有创新活力的显微镜制造厂商,其分支机构遍及欧亚及北美。 世界各地的工程人员和科学家广泛地使用着我们的产品系统来从事他们在工业领域以及生物工程的日常的放大、检测和测量应用。迄今为止,已在全球各地安装 超过30万套设备系统。 英国Vision主要的生产基地设立在英国伦顿南部的沃京。商业运行及生产装配部门也设立在附近的厂房。英国Vision的北美生产分部设立在美国康州丹堡丽市,并在美国东岸和西岸的独立机构进行直销和分销网络运作。 本公司分别在日本、中国、法国、德国、意大利、以及比利时-荷兰-卢森堡经济联盟等国家建立了多个分支机构,此外加上由120多个拥有库存并经过专业技术培训的分销代理商所组成的服务网络,在所有其它发达国家里为企业提供解决问题的应用方案。同时我们根据发展,不断地扩大新代理的加盟机会。 出口和分销渠道 英国Vision的产品出口占总产值的80%%以上,所以我们认识健全分销渠道的重要性。在1991 年,英国Vision荣获出口成就的英女皇奖。公司获得的其他荣誉还包括:1997年度科技创新的威尔士亲王奖和 1974 年度技术成就的英女皇奖。 **的光学技术 英国Vision所拥有的世界**光学技术改变了在传统双目显微镜上安装目镜的必要。这些技术来源于采用英国Vision的高能光学® (Dynascope® )装置、扩大光瞳和宽阔成像光学系统、以及先进的人-机工学所带来的舒适使用、光学的清晰度、和减轻眼部疲劳。这一系列的功能改善了客户的生产效益和产品质量。Vision 的 Mantis 体视观察器在各行业得以广泛采用的实例可说明无目镜光学技术的优势效益。 在1994 年推出的第一代Mantis体视观察器主要是填补台式放大镜与显微镜之间的空白。 从此Mantis 就成了所有体视观察器的首选,超过13 万套的Mantis设备已在全球安装使用。 英国Vision的新一代Mantis系列产品于2005年开始在各行业里使用,它秉承原型产品的实用价值,并融合人机工学以进一步优化Mantis的设计。 产品研发 近年来,大量的研发投入已成为取得 成功的关键,它确保了新产品和现有产品的持续的发展,以不断满足科学界和制造领域的需求。英国Vision不断地以研发新产品和新技术在光学革新和技术前沿引领全球。
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  • 原FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam?FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用最广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。更多信息可在公司官网上找到:http://thermofisher.com/EM 或扫描二维码,关注我们的微信公众号
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通用多功能原子力显微镜相关的仪器

  • 美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能,具有强大的分析能力,使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具,还可以进行材料纳米级尺度的成分分析,热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点:简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上,确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成,即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式:接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM,实现纳米热学,力学,电学和磁学测量:l 纳米热分析模块(nanoTA, SThM)l 洛仑兹接触共振模块(LCR)l 导电原子力显微镜镜(CAFM)l 开尔文电势显微镜(KPFM)l 磁力显微镜(MFM)l 静电力显微镜(EFM)独有的可升级功能□ 热学性能:独有的热探针技术,提供纳米级红外分析□ 机械性能:洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能:可升级具有纳米红外光谱技术,实现局部化学组分分析□ 近场成像:可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能
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  • 多功能原子力显微镜 400-860-5168转1965
    用于研发的灵活与多功能的原子力显微镜仪器简介:FlexAFM原子力显微镜是Nanosurf公司新研发的在大气环境和液体环境下都可以进行测试,并且可与倒置光学显微镜和温度样品台联用。可以满足绝大多数研究的需要。瑞士Nanosurf公司,全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商,在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验,一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持,同时还提供纳米技术的OEM 客户定制,外包等业务。技术参数:1,FLEXAFM原子力显微镜测量模式:接触式原子力显微镜(大气和液态环境),真正非接触式原子力显微镜(大气和液态环境),横向力/摩擦力显微镜(LFM),导电原子力显微镜,磁力显微镜(MFM),开尔文探针(Kelvin Probe),扫描热原子力显微镜(SThM),电容和静电力显微镜(EFM),高级的纳米光刻和纳米操作能力,音叉原子力显微镜,三维扫描成像。2,扫描范围:100 um;10 um3,Z方向范围:10um;3 um4,XY方向驱动分辨率:0.152 nm5,Z方向驱动分辨率:0.046 nm6,最小Z方向测量噪音水平:0.15nm7,样品尺寸:直径100mm主要特点:1,FlexAFM无论是在大气环境下还是在液体环境下都可以进行测试,操作和测试的方便程度是完全一样,没有什么区别。2,灵活弯曲结构的扫描头设计,可以引用于平的或粗糙的样品表面。XY-扫描通过电磁驱动,XY平面的运动是完全线性的 。Z方向的运动是通过压电陶瓷来驱动,Z方向的运动速度很快。3,激光光束进入液体时会发生一定偏移,通常实验时需要耐心和复杂的调整。而FlexAFM 使用了专利SureAlign&trade 的激光光学系统,无论是在大气下还是在液体中根本不需要做任何调整。所以FlexAFM 的激光信号永远处于最佳状态。4,两个方向的视窗,非常方便观察和针尖逼近。并且由于特别的设计,使得无论在大气环境还是液体环境得到同样质量的视像。5,FlexAFM 使用"Liquid Ready" easyScan 2控制器, 可以扩展STM 等技术。为了材料研发上的成功,科学家们依赖专业的工具来快速地提供需要的信息,不管是否是手头的任务. 通过开发关键技术与设计, Nanosurf使得Flex-Axiom成为一款迄今为止强大多功能而且灵活的AFM, 非常方便地进行各种各样材料研发方面的应用. 配合功能强大的C3000控制器, Flex-Axiom还可以进行更多复杂的材料表征应用. 几百个研究用户,多方面应用实例Flex-Axiom是您可信赖的工具,不管是在表面形貌还是计量成像上,不管在大气中还是液体环境中. 当然Flex-Axiom不仅仅可以用于表面形貌测量, 比如还可以进行高级纳米机械性能、电学或者磁学性能表征. 该系统更能有效地用于样品的微纳米操纵功能. Topography, KPFM, and MFM images of the same area of a stainless steel sample 精确而优越的性能方便您研发上的需求Flex-Axiom使用特殊的线性电磁平板扫描器用于XY移动. 该扫描器在全范围内的平均线性度误差小于0.1%, 属于AFM市场上的顶配. Z轴由压电驱动, 带有位置传感器可以实现闭环操作. 高敏感的悬臂梁探测系统可以测量到MHz测量范围. Flex-Axiom的测量头配置的是全功能的, 带有数字反馈与两个双通道锁放的最新24位C3000控制器.Imaging of single and multiple pyrene nanosheets and height analysis with sub-nanometer accuracy. Data courtesy: Mykhailo Vybornyi, University of Berne, Switzerland 模块化设计: 让您今天的预算物有所值,让您未来有更多机会增加配置或需求Flex-Axiom带有模块化的样品台设计与各种探针底座类型, 可以满足您当前与今后的需求. 基于C3000控制器, Flex-Axiom可配置14种AFM操作功能, 甚至更多可扩展功能, 可以进行更多材料开发上面的高级测量与实验研究. ECS 204电化学样品台, 举例来说, 可以进行样品的电化学与以及样品周围的环境控制, 这样就可以开发更多新的应用. 跟一些我们的高级研发用户一起, 用于大范围纳米刻蚀、手套箱内操作、磁阻感应功能都已经被开发出来. Large-area nano-lithography (Dr. Lu Shin Wong, Manchester, UK) Flex-Axiom in glove box (Dr. Philip Kim, Harvard University, US) Magneto-resistive sensing (Dr. Jo?o Gaspar, Braga, PT) Flex-Axiom的模块化概念可以轻松地让它升级到其他FlexAFM产品线 (如用于生命科学的Flex-Bio, 用于自动纳米机械性能分析的Flex-ANA以及用于细胞与纳米操纵的Flex-FPM), 给您的Flex-Axiom系统提供了更多的升级与扩展的可能性. Flex-Bio Flex-ANA Flex-FPM 开发所有的实践细节,有益于日常操作FlexAFM视频选件集成了两个摄像头用于顶视与侧视, 可以让您快速地找到感兴趣区域并逼近针尖到样品表面位置,然后进行全自动逼近. Camera optics Top view Side view带有定位槽结构的探针底座可使用带有定位沟槽的探针. 该探针底座提供了微米级别定位精度, 更换探针无需调节激光; 可以让您更换探针后依然方便地找到样品同样的位置. Flex-Axiom 配件与附件 Flex-Axiom系统的核心是FlexAFM测量头与C3000控制器,它们由I100电气转接盒连接. 基于标准配置, Flex-Axiom具有多个选件与附件可以供选择, 专门设计用来提高更稳定与可靠的结果, 或者提供了更多新型测量功能与实验的可信性: 各种探针底座类型 FlexAFM视频选件,顶视与侧视双光学ECS 204 电化学样品台ATS 204 自动移动台Isostage主动式防震台环境控制来进行干燥或者低氧环境操作 高级隔声罩用于保护外界噪声与其他干扰
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  • 多功能原子力显微镜-AFM利用微悬臂下方的探针和样品表面距离缩小到纳米级,探针和样品表面的分子间作用力使得悬臂受力形变。探针针尖和样品之间的作用力与距离有强烈的依赖关系,即可以通过检测悬臂受力的弯曲程度,从而获得样品表面形貌信息。不同于电子显微镜只能提供二维图像,多功能原子力显微镜-AFM能提供真实的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳,这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三,电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,电池材料,甚至活的生物组织。利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,纵向噪音水平低至0.03nm(开环),可实现样品表面单个原子层结构形貌图像绘制。AFM最大的特点是可以测量表面原子之间的力,AFM可测量的最小力的量级为10-14-10-16N。多功能原子力显微镜-AFM还可以测量表面的弹性,塑性、硬度、黏着力等性质,AFM还可以在真空,大气或溶液下工作,在材料研究中获得了广泛的研究。多功能原子力显微镜-AFM由本公司自主研发,稳定性强,可拓展性良好,提供定制服务 可拓展横向力显微镜 静电力显微镜 磁力显微镜 扫描开尔文探针显微镜 刻蚀和纳米操作等。该产品作为高速、高精度物质形貌表征工具,可以为高端科研与企业生产研发提供更多的选择与助力。 具体产品介绍详见下图:
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通用多功能原子力显微镜相关的资讯

  • 全流程高智能!Park原子力显微镜发布全新系列原子力显微镜Park FX40
    仪器信息网讯 2021年6月25日,Park帕克原子力显微镜公司(以下简称为“Park”)宣布推出一款重量级的全新系列原子力显微镜——Park FX40!该原子力显微镜集全自动技术、安全性能、智能学习等人工智能软件一体化,并描述之为“世界首台能够自动化所有前期设置和扫描过程的智能型原子力显微镜(AFM)”,Park FX40或将为研究界带来全新体验。全新型原子力显微镜Park FX40“与Park推出的前几代AFM系列不同,Park FX40自行负责了扫描前和扫描期间的所有设置,包括自动换针、探针识别、激光校准、样品定位以及近针和成像优化等操作。”Park全球产品研发部门副总裁Ryan Yoo评论道,“Park FX40兼有最新的人工智能技术和Park领先于半导体行业且价值百万美金的自动化技术,所以可以轻松自主执行上述任务。”Park FX40中文版预告视频于近日全球首播:新的 Park FX40 原子力显微镜不仅是几十个新功能的组合和原件的再升级,它还在原有的设计基础上,进行了全面而彻底的改革,使得AFM 具备高级的自动化能力。福音来了!即便是未经专业培训的研究型科学家们也能通过该显微镜轻松快捷地完成扫图过程,而专业的研究人员更可以将选择和正确装载探针的时间节省下来,以专注于他们更擅长的领域。除此之外,Park FX40还彻底升级了AFM的许多关键方面,其中包括采用尖端的机电技术极大降噪,减少束斑大小,调整光学视野,以及多功能嵌入样品台等。“作为研发的新品,Park FX40的强大功能来源于其他AFM迄今为止从未使用过的全新技术。”Yoo补充道。“我们很高兴能成为北美第一个体验Park FX40原子力显微镜的研究所。”哥伦比亚大学机械工程系的James Home教授发言道,“这款FX40增加了许多新功能并且升级了很多特性。作为Park的长期用户,我们对此感到非常兴奋和激动。这款FX40在人工智能和自动化技术上都实现了崭新的突破。我相信它可以极大地提高我们实验室的研究水平,并且推动整个纳米计量领域的创新。”Park FX 尖端的智能系统可以让用户在初始操作时同时放置多个样品(相同或不同类型),并将根据用户的需求进行自动成像。除此之外,该显微镜还能轻松及时地获取可发布的数据,并缩短研究周期来获得科学和工程上的最终成功。这些都有助用户实现更快更准的研究。 同时,Park FX40 独特的环境传感、自我诊断系统和避免头部碰撞的智能系统确保自身能够以更佳性能持续运行。据悉,在与全球原子力显微镜应用科学家们的密切合作下,Park产品市场部过去一整年都在不懈努力,潜心研发Park FX。“我们的科学家认识到AFM可以帮助研究人员获得前所未有的科学数据,并对纳米科学创新产生不可估量的影响。” Park公司的创立者,全球CEO朴尚一博士(Dr. Sang-il Park)评论道,“一直以来,我们都秉承着一颗赤诚之心来研发超级智能自动化的 Park FX 。因为我们的终极目标是为研究人员的工作保驾护航,帮助他们发现并打开科学更深处奥秘的大门!”在半导体市场,Park一直以其先进的自动化AFM 系统而闻名。它率先将AFM 技术作为纳米级计量的主要工具,使其成为行业的主流。而Park最新推出的Park FX也将为AFM创新领域开启新的篇章。关于Park帕克原子力显微镜公司Park公司成立于1988年,是全球第一个推出商业原子力显微镜产品的上市公司。Park公司成立30多年以来,始终致力于纳米领域的形貌、力学测量和半导体先进制程工艺的计量的新技术新产品的开发。Park独创的技术包括将XY和Z扫描器分离,实现了探针与样品间的真正非接触,避免形貌扫描过程中因探针磨损带来的图像失真,能够快速成像的同时还可以大大提高测试效率,降低实验测试成本等。Park公司成立至今,致力于开发新产品和新技术,旨在为客户解决各类技术难题,以提供最完善的解决方案。其原子力显微镜以高端的产品质量和快捷优质的售后服务受到广大客户的认可。为给中国客户提供更加高效便捷的售后服务, Park公司在中国区建立了售后服务中心并配有备件仓库。
  • 多功能显微镜助力一篇AFM!3D纳米几何结构新突破
    论文题目:Spectral Tuning of Plasmonic Activity in 3D Nanostructures via High-Precision Nano-Printing发表期刊:Advanced Functional Materials IF: 19.924DOI: 10.1002/adfm.202310110【引言】 等离子体纳米颗粒由于具有特殊的光学特性被广泛应用于光电器件、化学和生物传感器等领域。若想调节纳米结构的等离子效应,则需要准确地制备出具有特定几何形状的3D纳米结构。目前,等离子纳米结构主要采用纳米颗粒或纳米颗粒阵列,通过纳米狭缝自组装法等手段,制备相应的等离子体纳米结构。可是,在制备等离子体纳米结构的过程中,由于受到了光刻等技术手段的限制,所制备的纳米结构多为2D平面结构。对于制备具有准确几何形状的3D等离子体纳米结构的相关研究尚属空白。【成果简介】 近日,格拉茨技术大学相关团队提出了基于聚焦电子束诱导沉积(Focused Electron Beam Induced Deposition,FEBID)方法制备具有准确纳米尺度3D几何结构的等离子体纳米结构。同时,作者通过FusionScope多功能显微镜和透射电镜(TEM)对相应的3D纳米结构进行了原位几何尺寸的表征。然后,使用扫描透射电子显微镜的电子能量损失谱仪(STEM-EELS)对所制备的3D纳米结构的等离子性能进行表征。所测量的结果与相关模拟计算结果相比,两者结果相互吻合,证明了通过FEBID的方法制备3D等离子体纳米结构的可行性。相关工作以《Spectral Tuning of Plasmonic Activity in 3D Nanostructures via High-Precision Nano-Printing》为题在SCI期刊《Advanced Functional Materials 》上发表。 本文使用的FusionScope多功能显微镜创新性地将SEM和AFM技术深度融合,利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖,实现同一时间、同一样品区域和相同条件下的SEM&AFM原位精准定位与测量;测量时也可以实时观察AFM悬臂的尖端,在不需要转移样品的情况下,原位进行80° AFM与样品台同时旋转,对几乎所有样品(包括复杂样品)均可以实现无视野盲区观测;其丰富的功能选件如力曲线、导电原子力显微镜(C-AFM)和磁力显微镜(MFM)以及EDS能谱仪,可有效实现多维度同区域的高级测量。本文将简要阐述FusionScope多功能显微镜对不同平面结构的等离子体样品观测结果。 图1. FusionScope多功能显微镜【图文导读】图2. 制备、清除和3D加工能力展示。(a)气体注入系统(GIS)将金属气体前驱物分子(Me2(acac)Au(III))注入到基底附近,利用聚焦电子束形成在基底上形成沉积。(b-g)展示了FEBID制备复杂构型的3D纳米结构的能力。(h)运用聚焦电子束去除碳的过程。图3. 不同平面结构的等离子体测量结果。(a)利用FusionScope多功能显微镜的原位AFM功能测量的在制备后和清除后的微纳结构变化区别。(b)通过原位AFM测量的在去除前后所制备纳米结构的体积变化。(c)部分去除样品的STEM-EELS能谱。(d-l)不同设计下的等离子体测量结果。图4. 利用FusionScope多功能显微镜获取用于模拟的数据。(a-b)利用FusionScope多功能显微镜中的SEM对AFM进行引导,在放置在TEM网格上的Au纳米线进行测量。(c)对FusionScope所获得的数据和TEM所获得的数据进行相互验证。(d)FusionScope测量Au纳米线的高度为24 nm,半峰宽为51 nm。图5. Au纳米线的等离子性能的实验和模拟结果。(a) Au纳米线在不同能量损失下的EELS模拟结果。(b)Au纳米在不同能量损失下的EELS实验结果。(c)在纳米线的边缘部分(d)中蓝色区域的EELS实验和模拟对比结果。(e)为Au纳米线的中间部分(d)中绿色区域的EELS的模拟和实验结果。图6. 可进行光谱调谐的等离子体3D纳米结构的实验和模拟结果。(a)在3D纳米结构尖端部分的EELS结果,实线为实验结果,虚线为模拟结果。(b-c)不同形貌的3D纳米结构的实验和模拟结果。(d)不同形貌的纳米结构的三个显著共振峰位置的实验和模拟结果。【结论】 论文中,格拉茨技术大学相关团队通过FEBID的方法制备了具有纳米级精度的3D等离子体纳米结构。在制备相关纳米结构过程中,通过FusionScope系统对所制备的纳米结构进行了原位的几何结构表征,为模拟过程提供了数据支持。Quantum Design公司研发的FusionScope多功能显微镜,通过特有的共坐标系统,解决了原位联合显微分析中不同表征方式无法共享微区的问题,又通过优化AFM和SEM工作流给用户提供了一个清晰简单的操作流程,为原位微区信息的获取提供了极大的便利。此外,FusionScope还可以通过更换不同AFM探针,实现对样品三维形貌,力学性能,电学性能和磁学性能的综合物性表征。 样机体验: 为了更好的为国内科研工作者提供专业技术支持和服务,Quantum Design中国北京样机实验室开放Fusionscope多功能显微镜样机体验活动,我们将为您提供样品测试、样机参观等机会,欢迎各位老师垂询!
  • 引领AFM技术革新——牛津仪器全新一代原子力显微镜Vero技术研讨会成功举办!
    牛津仪器Asylum Research于近日重磅推出干涉式原子力显微镜Vero,其利用正交相位差分干涉技术(QPDI)可以精确测量探针的真实位移。2024年1月9日,牛津仪器在上海演示中心举办“全新一代原子力显微镜Vero技术研讨会”,采用现场演示及线上直播的形式,为国内用户介绍AFM前沿技术进展和相关应用成果。△ 研讨会现场△ 牛津仪器MAG中国区应用经理孟丽君博士主持会议△ 牛津仪器AR中国区销售经理刘长隆先生致辞△ Asylum Research联合创始人、牛津仪器PLC首席技术官Roger Proksch博士介绍Vero AFM中的QPDI技术据Roger Proksch博士介绍,Vero基于Cypher平台打造,不仅继承了Cypher系列的高稳定性和高分辨率,并且凭着QPDI技术,能够获得准确和可重复的数据。△ 牛津仪器干涉式原子力显微镜Vero一直以来,AFM主要依赖于光杠杆检测(OBD)技术,它实际测量的是悬臂梁偏转的角度,而不是探针的位移。Vero的推出,打破了这种局面。Vero采用的QPDI技术,直接测量真实的探针位移而不是悬臂梁角度,提高了数据的可靠性;QPDI可将悬臂梁检测噪声降低10倍或更多,大大提高了测量灵敏度;QPDI测量纯粹的垂直探针位移,避免了垂直和平面力之间的串扰;通过光的波长精确校准,避免了与OBD校准相关的假设和不确定性。可以说,Vero在一定程度上修正了迄今为止压电力显微镜(PFM)领域所缺乏的结果准确性和一致性。△牛津仪器AFM高级应用科学家竺仁博士分享Vero使用体验竺博士讲到,Vero可适配不同反射镀层、不同悬臂形状、不同基片厚度的探针,其光斑尺寸小于4um,支持小探针;可基于气相和液相环境、S扫描器和ES扫描器、blueDrive等配置升级;可选择力曲线、接触模式、轻敲模式,以及衍生出来的力学、电学、磁学等模式;保留了光杠杆检测,具有摩擦力模式、测向PFM模式,可以同时采集光杠杆和QPDI信号。此外,竺博士还详细讲述了Vero扫描周期性极化铌酸锂、氧化铪、硫酸钙晶体等实际案例。△ 牛津仪器高级应用科学家刘志文博士介绍AFM技术发展趋势及应用进展刘博士表示,当前AFM朝着低噪音、高分辨、数据准确性和可重复性、扫描速度更快、操作简单、扩展性好等方向发展,而牛津仪器的产品正引领着这些方向。随后,刘博士讲述了牛津仪器低噪音AFM、高分辨AFM、粗糙度数据的准确性和可重复性、高通量(原位)AFM、微波扫描电容显微镜新技术等方面的应用案例。△ 讨论环节本次研讨会设置了讨论环节,来自上海科技大学、复旦大学、上海交通大学、苏州大学、华东师范大学等科研单位的专家学者与牛津仪器团队进行了深入的技术交流。△ Vero原子力显微镜现场演示研讨会内容结束后,牛津仪器还安排了Vero原子力显微镜的现场操作及演示,以帮助用户更好地了解Vero系统的特点及优势。牛津仪器Asylum Research专注AFM研究近25年,始终致力于推动AFM技术的极限。从解决无法精准测量力曲线弊病的MFP-1D,到快速扫描产品Cypher、全功能视频级扫描产品Cypher VRS,再到能够利用单一扫描器同时提供全自动、多功能、高扫描速度和高精度的大样品AFM Jupiter XR,牛津仪器Asylum Research一直引领着AFM市场的技术革新。Vero的问世,再次印证了牛津仪器Asylum Research在AFM领域的卓越实力。

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  • 【分享】基本原则的原子力显微镜

    基本原则的原子力显微镜 在原子力显微镜基本上是一个微型悬臂式(一小束停泊在一端,而另一项目进入太空像跳水板) ,以纤巧,指出探针(同一个极为精细陶瓷或半导体尖端这是衡量规模的纳米)底下的一端,就像笔就测谎,甚至是地震。 不同的笔在纸上打印或其他媒介,一个原子力显微镜有几项改进,使原子级测量的吸引力或令人厌恶的部队之间的“笔”尖和样品的表面。 作为小费是吸引或排斥的样品的表面,是悬臂偏转。 的严重性挠度测量激光反映在斜角月底的调查。 绘图激光挠度对冰山上的立场样品表面创造了“地图”的丘陵和山谷的表面。 这提供了一个高分辨率图像的样品的表面。 在原子力显微镜有两种扫描模式。 在接触模式下,原子力显微镜的探针接触样品的表面。 作为文书拖累冰山的表面,检测设备的措施悬臂的垂直挠度和说明了当地的样品高度-实际上,衡量'排斥'势力之间的尖端和样品。 在非接触模式下,原子力显微镜的探针没有触及表面的样本,它的措施有吸引力的部队之间的冰山,表面画地形图的表面。 利弊原子力显微镜 一个原子力显微镜具有优势了扫描电子显微镜( SEM ) 。 其中之一是,一个原子力显微镜可以功能的空气或液体的环境不同,电子显微镜,要求所有探头进行在真空中进行。 鉴于此,研究人员已经开始测试原子力显微镜的适宜用于研究活生物体在纳米尺度(例如,扫描和研究生物大分子如DNA等) 。 另一方面,一个原子力显微镜可以绘制三维图像 的扫描电镜只能提供二维图像或投影的抽样调查。 另一方面,一个主要的缺点是原子力显微镜是该地区它可以扫描和图像分辨率,它可以产生。 电子显微镜可以扫描面积测量毫米 一个原子力显微镜的扫描涵盖微米(纳米,事实上) 。 从这个角度看,可以很容易地看到,电子显微镜可以扫描的区域面积更广,速度超过了原子力显微镜。 原子力显微镜是相当新的,仍然有一些错误,但它是目前使用广泛的研究在电子,化学和生物领域包括深奥的学科磨损和粘附,清洗和腐蚀,以及作为东道主的其他应用软件。

  • 【原创】原子力显微镜的原理

    【原创】原子力显微镜的原理

    一、原理 原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 公司的Binnig与史丹佛大学的Quate 于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用扫描探针显微镜(SPM)进行观测。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191623_119371_1601358_3.jpg[/img] 图1、原子与原子之间的交互作用力因为彼此之间的距离的不同而不同,其之间的能量表示也会不同。 原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子隧道效应,而是利用原子之间的范德华力(Van Der Waals Force)作用来呈现样品的表面特性。假设两个原子中,一个是在悬臂(cantilever)的探针尖端,另一个是在样本的表面,它们之间的作用力会随距离的改变而变化,其作用力与距离的关系如“图1” 所示,当原子与原子很接近时,彼此电子云斥力的作用大于原子核与电子云之间的吸引力作用,所以整个合力表现为斥力的作用,反之若两原子分开有一定距离时,其电子云斥力的作用小于彼此原子核与电子云之间的吸引力作用,故整个合力表现为引力的作用。若以能量的角度来看,这种原子与原子之间的距离与彼此之间能量的大小也可从Lennard –Jones 的公式中到另一种印证。 img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191628_119373_1601358_3.gif[/img] 为原子的直径 为原子之间的距离 从公式中知道,当r降低到某一程度时其能量为+E,也代表了在空间中两个原子是相当接近且能量为正值,若假设r增加到某一程度时,其能量就会为-E 同时也说明了空间中两个原子之距离相当远的且能量为负值。不管从空间上去看两个原子之间的距离与其所导致的吸引力和斥力或是从当中能量的关系来看,原子力式显微镜就是利用原子之间那奇妙的关系来把原子样子给呈现出来,让微观的世界不再神秘。 在原子力显微镜的系统中,是利用微小探针与待测物之间交互作用力,来呈现待测物的表面之物理特性。所以在原子力显微镜中也利用斥力与吸引力的方式发展出两种操作模式: (1)利用原子斥力的变化而产生表面轮廓为接触式原子力显微镜(contact AFM ),探针与试片的距离约数个?。 (2)利用原子吸引力的变化而产生表面轮廓为非接触式原子力显微镜(non-contact AFM ),探针与试片的距离约数十个? 到数百个?。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191628_119373_1601358_3.gif[/img]

通用多功能原子力显微镜相关的耗材

  • AFM原子力显微镜计量校准片
    问题:当原子力显微镜做样品成像时,很难知道表面是否准确的表征?也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异,如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示,必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测,这两种方法都非常的浪费探针或耗时。 解决方案:BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上,也使之间的差异变得明显。因此,tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好,是否已经磨损或破损,从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外,该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层,沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状,尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较,扫描尺寸为1*1um,高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块?原子力显微镜已经成为一个有价值的工具,不仅用于可视化,而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量,原子力显微镜需要正确的校准。 HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应,能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。 校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm(HS-20MG)100nm(HS-100MG)和500nm(HS-500MG)每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。 在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准,这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围(40~100um以内),而且,校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何结构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG:~20nmHS-100MG:~100nmHS-500MG:~500nm注:每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准?为了使原子力显微镜更精准的测量,必须进行正确校准。因此,更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面,校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。 我们的解决方案:CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准,使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之,又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内,每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何机构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度:20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值
  • AFM原子力显微镜操作台
    AFM原子力显微镜操作台 铝制;可转动;磁力大小可调,能够稳定固定原子力显微镜载物片;周边凹槽可以用于收集碎屑,也可用于放置载物片。也可用于云母分层时固定云母之用。订购信息货号产品描述规格P15010AFM原子力显微镜操作台个P16220AFM 载物片夹取工具个
  • AFM原子力显微镜纳米标尺
    产品特点:GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构,可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要,不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性,还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺,现在,有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后,就有了足够的测试样品,这些样本用DNA做成,呈现70nm*90nm*2nm(高)的长方体形状。纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺技术参数:
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