探针式植物茎流测量系统

请教：电子探针能否测定植物中汞的形态和分布

由科技部、国土资源部和中科院合资共建的国家大型科学仪器中心——北京离子探针中心，自2001年成立以来，经过几年的努力，已跻身世界著名地质年代学实验室行列。 为肯定该中心主任刘敦一的科学贡献，《美国科学杂志》（AmericanJournalofSciences）不久前出版专辑，祝贺刘敦一七十华诞。9月11日，国土资源部召开北京离子探针中心发展战略研讨会。国土资源部副部长汪民在会上讲话，科技部副部长刘燕华发来贺电，对该中心取得的成就给予高度肯定。北京离子探针中心成立7年来，奉行“开放、共享、高效”的方针，承担科技部、国土资源部、国家自然科学基金等20多个项目。 其进口的高分辨率二次离子探针质谱仪(SHRIMPⅡ)每天4小时、每周7天不间断运行，成为世界上运行效率最高的质谱仪，国内外科学家利用该仪器，获得了丰富的年代学数据和高水平的研究成果。特别是在国际上首创了通过互联网远程控制来进行高分辨率锆石铀—铅年龄测定工作的方法，得到国际地学专家的广泛赞誉。

1、标准编号：GB/T 15074-2008 标准名称：电子探针定量分析方法通则简介： 本标准规定了电子探针定量分析过程中仪器的安装要求、工作条件、标样选择、基本操作过程、各种校正处理方法及结果报告内容。 本标准适用于具有波谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。2、标准编号：GB/T 15244-2002 标准名称：玻璃的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。本标准适用于玻璃试样（包括含碱金属玻璃）的定量分析。3、标准编号：GB/T 15245-2002标准名称：稀土氧化物的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。4、标准编号：GB/T 15246-2002标准名称：硫化物矿物的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了用电子探针进行硫化物定量分析的标准方法。本标准适用于在电子束轰击下稳定的硫化物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物的电子探针定量分析。本标准适用于以X射线波长分光谱仪进行的定量分析；其主要内容和基本原则也适用于以X射线能谱仪进行的定量分析。5、标准编号：GB/T 15616-2008标准名称：金属及合金的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了用电子探针对金属及合金的化学成分进行定量分析的方法。本标准适用于金属和合金试样立方微米尺度的微区成分分析，分析素的范围是11Na~92U。本标准也适用于用配置了波谱仪的扫描电子显微镜对金属及合金做定量分析。6、标准编号：GB/T 15617-2002 标准名称：硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定量分析方法。本标准也适用于其他含氧盐、如磷酸盐、硫酸盐等矿物以及普通氧化物。其基本准则也适用于X射线能谱仪的定量分析。7、标准编号：GB/T 17360-2008 标准名称：钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Ｓｉ、Ｍｎ的电子探针定量分析方法，即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。8、标准编号：GB/T 17362-2008标准名称：黄金制品的电子探针定量测定方法简介： 本标准规定了用电子探针波谱仪进行黄金制品定量分析的技术方法和规范。本标准适用于各种Ｋ金制品含金量的测定，也适用于表面含金层厚度大于３μm的镀金制品的包金制品的表层含金量的测定。9、标准编号：GB/T 17365-1998标准名称：金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法10、标准编号：JJF 1029-1991标准名称：电子探针定量分析用标准物质研制规范11、标准编号：SY/T 6027-1994 标准名称：含氧矿物电子探针定量分析方法12、标准编号：GB/T 16594-2008标准名称：微米级长度的扫描电镜测量方法简介： 本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法，适用于测量0.5～10μm的长度，也适用于电子探针分析仪测量微米级长度。13、标准编号：GB/T 17359-1998标准名称：电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则简介： 本标准规定了与电子探针和扫描电镜联用的Ｘ射线能谱仪的定量分析方法的技术要求和规范。 本标准适用于电子探针和扫描电镜Ｘ射线能谱仪对块状试样的定量分析。14、标准编号：GB/T 17722-1999标准名称：金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法简介： 本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求，本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度，适用的厚度测量范围为0.2~10um。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。15、标准编号：JB/T 7503-1994标准名称：金属履盖层横截面厚度扫描电镜 测量方法简介： 本标准参照采用ISO 9220-1988(E)。 本标准规定了金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法的技术要求。 本标准适用于测量横截面中微米级到毫米级的金属覆盖层厚度。

AFM探针分类及各探针优缺点 　　AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。 　　利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力），静电力显微镜EFM（静电力）磁力显微镜MFM（静磁力）侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。 　　原子力显微镜的探针主要有以下几种： 　　（1）、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。 　　（2）、 导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。 　　（3）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。 　　（4）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度 9μm；长径比5:1；针尖半径 10 nm。 　　（5）、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 　　还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针

Hitachi S-4800冷场扫描电镜使用扫描电镜进行拍照的时候，参数设置为：加速电压10kv，发射电流10uA根据工程师给的图表，可以估计，探针电流大小在1~2 X 10-11 A那么，此时，束流大小大概多少？因为想计算电子束在样品表面的剂量（dose）非常感谢~！

大家好，我是新手，最近在准备实验的过程中遇到了一些问题，在网上一直找不到答案，特向各位请教。 最近在做一个测量弹性系数的实验，需要用到原子力显微镜的接触模式，同时对探针的弹性系数要求比较大，约为1~5N/m。接触式探针的弹性系数一般小于1N/m，不能满足实验要求，请问弹性系数较大的轻敲式探针可以用于AFM的接触模式吗？ 另外，厂家提供的探针弹性系数为一个范围值，需要怎样测定探针的准确弹性系数，可以用共振法测得共振频率，再结合探针的外形尺寸来测得弹性系数吗？

美国加州大学洛杉矶分校17日表示，该校纳米系统科学主任保罗·维斯领导的研究小组开发出了研究纳米级材料相互作用的工具——双扫描隧道显微和微波频率探针，可用于测量单个分子和接触基片表面的相互作用。 　　过去50年中，电子工业界努力遵循着摩尔定律：每两年集成电路上晶体管的尺寸将缩小大约50%。随着电子产品尺寸的不断缩小，目前已到了需要制作纳米级晶体管才能继续保持摩尔定律正确性的地步。　　由于纳米级材料和大尺寸材料所展现的特性存在差异，因此人们需要开发新的技术来探索和认识纳米级材料的新特征。然而，研究人员在研发纳米级电子元器件方面遇到的障碍是，人们没有相应的能力去观察如此小尺寸材料的特性。

四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4 探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3 探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度10 万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

[url=http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/fluorescent-probes.html][b]近红外荧光探针[/b][/url]采用fluoptics公司近红外荧光探针标记，AngioStamp™ 和sentidye™ .AngioStamp是一个近红外™ 肽，可以标记肿瘤和血管。sentidye™ 是脂质分子，用于淋巴结和血管成像。[b]近红外荧光探针应用[/b]肿瘤• 血管生成• 血管网• 淋巴结和淋巴管[b][b]近红外荧光探针[/b]AngioStamp™ AngioStamp是[/b]以αvβ3整合素为靶点的近红外荧光探针，可用于标记肿瘤或研究血管生成。AngioStamp™ 是肽绑定到近红外荧光分子。AngioStamp™ 是两波长（700 nm和800 nm）之间的靶向探针。AngioStamp™ 兼容Fluobeam以及活体成像系统等，还可以用于显微镜。只供实验室使用。这些产品仅用于动物研究，不用于人类。[b][b]近红外荧光探针[/b]sentidye™ 近红外荧光探针[/b]sentidye™ 是近红外荧光脂质分子，可以用来标记淋巴系统或血管网。皮下注射时，sentidye™ 是由淋巴系统和标签最近的淋巴结。静脉注射后，sentidye™ 作为血池剂显示血流，血管灌注模式。[b][b]近红外荧光探针[/b]AngioLone™ [/b]angiolone™ 是angiostamp™ 分子没有近红外荧光。angiolone™ 是靶向肽，建议将您选择的荧光基团进行接枝。AngioStamp™ ，AngioLone™ 目标βαV 3整合素和可用于标记蛋白过度表达的肿瘤或血管生成。[img=近红外荧光探针]http://www.f-lab.cn/Upload/fluorescent-probes.JPG[/img]近红外荧光探针：[url]http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/fluorescent-probes.html[/url]

新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜（EC-SPM） 材料2106 李昊哲新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜（EC-SPM）是一种具有创新性的技术，它在电化学领域的研究和应用中起到了重要的作用。EC-SPM采用了先进的技术和方法，可以对电化学反应进行精确的测量和分析，为科学家们提供了更为准确和可靠的数据。EC-SPM的创新之处在于其结合了扫描探针显微镜（SPM）和电化学技术，实现了对电化学反应的原位观察和测量。传统的电化学测量仪器往往只能提供宏观的电化学数据，而EC-SPM通过在电极表面放置微小的探针，可以实现对电化学反应的纳米级别的测量。这种纳米级别的测量能够更加准确地了解电化学反应的动态变化，提供了更为详细和全面的信息。EC-SPM在前处理合计数方面也进行了改进和优化。传统的电化学测量仪器在前处理过程中往往需要复杂的操作和多个步骤，容易出现误差和不确定性。而EC-SPM通过引入自动化和智能化的前处理系统，可以实现对样品的快速处理和准确计数。这不仅提高了测量的效率，还减少了人为因素对结果的影响，提高了测量的精确度和可靠性。我有幸在实验室使用了电化学扫描探针显微镜（EC-SPM），并且对其性能和使用体验有了一些真实的心得体会。我认为EC-SPM的性能非常出色。它采用了先进的扫描探针显微镜技术，可以实现纳米级的高分辨率测量。在我的实验中，我使用EC-SPM对一种新型材料进行了表面形貌和电化学性质的同时测量，结果非常令人满意。EC-SPM能够清晰地显示出样品的表面形貌，并且能够通过电流-电压曲线来研究材料的电化学行为。这对于我研究材料的结构与性能之间的关系非常有帮助，其次，EC-SPM的操作非常简便。它采用了直观的用户界面，使得操作人员能够快速上手。在我使用的过程中，我只需要按照仪器的操作指南进行操作，就能够轻松地完成测量。而且，EC-SPM还具有自动化的功能，能够实现自动扫描和测量，省去了繁琐的手动调整步骤，提高了实验效率。最后，EC-SPM的数据处理和分析功能也非常强大。它可以对测量得到的数据进行实时处理和分析，并且能够生成高质量的图像和曲线。在我的实验中，我使用EC-SPM获得了一系列的电流-电压曲线，并且通过对这些曲线进行分析，我能够得到材料的电化学性质，比如电荷转移速率和电化学反应动力学参数。这对于我研究材料的电化学性能非常有帮助。EC-SPM在电化学领域的研究和应用中取得了重要的成果。例如，在电池研究中，EC-SPM可以帮助科学家们更好地了解电池中的界面反应和电化学性能，从而提高电池的效率和稳定性。在催化剂研究中，EC-SPM可以实时观察催化剂表面的电化学反应，揭示催化剂的活性和稳定性等关键性质。此外，EC-SPM还可以应用于材料科学、生物医学等领域，实现对材料表面性质和生物分子相互作用的研究。EC-SPM作为一种新型电化学测量仪器，具有创新性的技术和方法。它通过纳米级别的测量，实现了对电化学反应的精确观察和分析。在前处理合计数方面的改进，使得测量结果更加准确和可靠。研究成果在电化学领域的应用广泛，为科学家们的研究和实践提供了重要的支持。它的高分辨率测量能力、简便的操作和强大的数据处理功能使得我能够更好地研究材料的电化学性质。我相信，随着电化学扫描探针显微镜技术的不断发展，EC-SPM将会在材料科学、电化学等领域发挥更加重要的作用。

我是电镜操作的一名菜鸟，用的是日本电子的电镜。最近老是被 束流、探针电流和束斑尺寸 三个概念搞混淆。我有看到文献说：束流是电子束的电子流；探针电流是聚焦电子束中的电流。那在日本电子的电镜里，束流指的是L.C.值吗？拍电镜照片时，调节 束流和束斑 分别对图像会产生什么影响？ 但在做能谱时，有人告诉我：日本电子的调 束流就是调束斑（即SS），那是说束流和束斑是一个概念了吗？恳请帮助！谢谢！

美国材料研究学会(MRS)官方网站日前在“材料研究当前新闻”栏目中，以《光栅刷子能清洁原子力显微镜的探针针尖》为题，报道了哈尔滨工业大学化工学院催化科学与工程系教授甘阳与墨尔本大学教授弗兰克斯合作发表在国际学术期刊《超显微术》(Ultramicroscopy)上的原创性研究成果。　　该报道称：“清洁原子力显微镜(atomic force microscope，AFM)针尖是AFM可靠成像和力测量的关键。研究者现在发现，具有超尖刺突的标定光栅作为‘刷子’，可用来机械清除AFM探针上的污染物，这是通过把探针在加大力的恒力模式下扫描刺突来实现。这一方法不但能用来无损、高效地去除有机和无机污染物，而且可实现污染物去除和探针研究的一步完成。此外，该方法既可用来清洁胶体/颗粒探针，也可以用来清洁标准AFM针尖。”　　甘阳认为，作为一种新型的表面污染物“定点”清除方法，该方法的应用远不限于清洁原子力显微镜探针，更有望在广泛的表界面研究、微电子等领域中得到广泛应用。　　这篇论文在爱思唯尔(Elsevier)出版社2009年第三季度的“25篇最热门论文”中列《超显微术》的第一位。《超显微术》是Elsevier出版的显微研究领域的国际著名期刊。

有了解ATR光纤探针系统的吗？或者使用过，给讲解一下吧

提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作常见的探针类型：（1）、导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定（2）、压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的）（3）、氮化硅探针：接触式 （分为普通的和锐化的）（4）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

山东大学从美国维柯公司DI分部购进扫描探针显微镜一套,该设备是属于多功能配套设备。它包含如下功能:①原子力显微镜;②隧道力显微镜;③电力显微镜;④磁力显微镜;⑤摩擦力显微镜。工作模式可分为:接触式,非接触式,敲打式,力调制等。功能之全是国际上一流的。为此,山东大学于2001年9月9日派遣任可、刘宜华、孙大亮三人赴美国圣巴巴拉市维柯公司DI分部接受培训(扫描探针显微镜生产厂家为美国、、、、、、、

电子探针室配套设备有哪些？如：等离子体质谱仪室：配备等离子体质谱仪、真空泵、水循环系统、稳压电源、不间断电源、温湿度计，除湿机、空气净化机、气瓶柜（如需要）、氩气净化机（如需要）；

[color=red]Vip用户 blockhouse 在 探针显微镜STM/SPM/AFM版 被 shxie 禁止发帖 1 天，被封原因：灌水。系统将会在 2005-11-3 自动解封，如有什么意见，请在投诉建议版投诉，特此通告！！ --------仪器论坛管理员[/color]

各位大侠，我用的是日立3400的，有几个问题探讨下啊，众知，3400热发射，电子枪的发射电流（运动的电子）经过静电场，磁场聚焦减小束斑尺寸，并通过改变光阑大小过滤远轴电子以降低球差，但这个过程带来的结果可能是电子束流降低，但问题来了：我在使用过程中发现，当加速电压和偏压不变时，即发射电流不变，此时改变光阑大小，束流却没有变化，按道理束流应该会改变，不知者内部机制是什么？希望高手们来讨论和解答啊，拜谢。。另外，现在电镜比较关注低压模式的分析效果，但我在使用过程中发现，使用低压模式时（3KV以下），发射电流探针电流，按照原理发射电流经电磁透镜层层聚焦以及光阑的过滤，发射电流应该始终大于探针电流，为什么出现这一相反现象呢，望高人解答啊、。

ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试，探针是电测试的接触媒介，是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定，PCB板上所要测试的点与点之间越近，选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格，针主要是由三个部份组成：一是针管，主要是以铜合金为材料外面镀金；二是弹簧，主要琴钢线和弹簧钢外面镀金；三是针头，主要是工具钢（SK）镀镍或者镀金，以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素： 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的，也就是说若是探针的质量是存在问题的，那么不仅会造成测试结果存在问题，还会造成其他的问题出现，因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作，要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况，不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同，我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍，希望可以帮到大家，本文出自：http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪（TR-518FE、TR-518FR、TR518FV）、ICT测试治具，功能（FCT）测试治具、DIP/SMT过炉治具（载具）、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具，提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

半导体测试手动探针台是专门为教学及科研机构量身定制的，具有良好的性能价格比，可测量pA级微小电流，配合测量仪器可完成标准MOS准静态C-V和高频（1MHz）C-V等测量要求。操作简便，性能稳定可靠，屏蔽效果好。客户名录：复旦大学、北京大学、清华大学、北京师范大学、北京化工大学、中科院化学所、大连理工大学、 济南大学、哈尔滨工业大学、南京大学、浙江大学、中科院长春光机所、天津理工大学、北京宇极芯片、四川大学、中科院苏州纳米所等。电话：62146659 13801327034刘熠

探针压过细胞等生物样品以后，针尖总是会沾上一些脏东西，导致用于别处时会影响成像。在测定力曲线的时候也明显发现被污染的针尖带有粘性。在网上看到一篇讨论How can we wash functionalized AFM tip after coated it with chemical substance?，里面也给出了一些方法。比如Piranha solution。有几个问题想请教：请问关于Piranha solution，有使用过这种方法的朋友吗？效果如何？如何判断探针已经被洗干净了呢？如果是表面被修饰了某些化学物质的探针，该如何清洗使得能把污染物洗干净并且不破坏那些化学物质呢？各位通常都是用什么方法清洗探针的呢？非常感谢！

是不是有些电子探针就有扫描电镜的功能呢？做矿物（比如锆石）的阴极发光图像是用的什么仪器阿？有人知道吗？谢谢！

请教：用扫描探针显微镜作植物样品分析，如何做样品的前处理？

[color=black][size=3][font=宋体]原子力显微镜的探针主要有以下几种：[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]1[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]非接触[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]/[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用于表面形貌观察。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]2[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]导电探针：通过对普通探针镀[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]10-50[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]纳米厚的[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Pt[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（以及别的提高镀层结合力的金属，如[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Cr[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Ti[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Pt[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Ir[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等）得到。导电探针应用于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]EFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]KFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]SCM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等。导电探针分辨率比[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]tapping[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]contact[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]3[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、磁性探针：应用于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]MFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，通过在普通[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]tapping[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]contact[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]模式的探针上镀[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Co[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Fe[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]4[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]9μm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]；长径比[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]5:1[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]；针尖半径[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]10nm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]5[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、类金刚石[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]AFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]探针[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]/[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color]

我现在用AFM测量一种薄膜的力学性质，由于目前所用的探针都比较尖，所以薄膜特别容易破，请教各位高手，有没有知道那里有卖不太尖的探针，比如说曲率半径是200~400nm的探针。多谢了！

[size=4][b]摘要：[/b]本文综述了各种荧光探针的结构特征荧光性质和与的作用方式, 主要涉及了6类化合物吖啶和菲啶类、菁类染料、荧光素和罗丹明类、噻嗪和恶嗪类染料、BOLIPY类染料以及其它类别的探针, 概述了DNA探针在生物分子分析方面的应用, 并展望了DNA荧光探针的发展趋势和应用前。[/size]

看刚刚从扫描探针显微镜版转过来的六个帖子，觉得很惭愧，原来使用电子探针的朋友都不得不在其他版面讨论。我还发现了一个在其他仪器讨论的帖子。现在电子探针终于有了安家之所，大家有相关问题请多多交流啊，我对此不熟悉，还想学得几手去show off一下呢，呵呵。欢迎回家[em23] [em23] [em24] [em38] [em44]

我想选择芘做荧光探针测量聚合物的临界胶束浓度，需要买一些，也不知道有没有国产的，希望大家能告之一二。

领导要求调查一下扫描探针（原子力）显微镜，打算购买一个，我看了一下，国内外的很多家单位都有产品，这下不知道怎么搞了，也不知道性能上怎么区分啊。我们的要求是首先满足最低要求，能观测三维形貌，测量厚度，其次再考虑其他的功能模块。也就是说满足首先条件，预留其他功能窗口，大家帮忙推荐一下。也可以直接发我的信箱guigxms@163.com，宋。谢谢