分析可变压力扫描显微镜

GeminiSEM 系列产品高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜为对任意样品进行高水准的成像和分析而生蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在较低的加速电压下仍可呈现给您更强的信号和更丰富的细节信息，其创新设计的NanoVP可变压力模式，甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉；更强的信号，更丰富的细节GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息，尤其在低的加速电压下，在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号，助您快速地获取清晰的图像，并使样品损伤降至更低；在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度，二次电子图像分辨率1 kV达0.9nm，500 V达1.0 nm，无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像，为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息；应用样品台减速技术-（Tandem decel），可在1 kV下获得高达0.8nm二次电子图像分辨率；创新设计的可变压力模式-NanoVP技术，让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。洞察产品背后的科技Gemini电子光学系统Gemini 1类型镜筒 -延续创新和发展如今，扫描电子显微镜（SEM）在低电压下的高分辨成像能力，已成为其在各项应用领域中的标准配置。低电压下的高分辨率成像能力，在以下应用领域中扮演着尤为重要的角色：电子束敏感样品不导电样品获取样品极表面的真实形貌信息Gemini的革新电子光学设计，应用高分辨率电子枪模式、Nano-twin lens物镜(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel样品台减速技术（选配），有效提高了在低电压时的信号采集效率和图像衬度。高分辨率电子枪模式：缩小30%的出射电子束能量展宽，有效地降低像差；获得更小的束斑。Nano-twin lens物镜： 优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率； 提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。Tandem decel样品台减速技术，进一步提高对适用样品在低电压甚至极低电压下的分辨率：Tandem decel减速技术将镜筒内减速和样品台偏压减速技术相结合，有效地实现低着陆电压；使用1 kV及以下更低电压时，镜筒内背散射探测器的检测效率获得更好地增强，低电压下的分辨率得到进一步提高。对适用的样品可以加载高达-5 kV的样品台偏压，在低电压下获得更高质量的图片优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率；提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。技术参数：基本规格蔡司 GeminiSEM 500热场发射电子枪，稳定性优于0.2 %/h加速电压0.02 - 30 kV探针电流3 pA - 20 nA（100 nA配置可选）存储分辨率最高达32k × 24k 像素放大倍率50 – 2,000,000标配探测器镜筒内Inlens二次电子探测器样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器可选配的项目NanoVP可变压力模式高效VPSE探测器（包含在NanoVP可变压力选件中）局部电荷中和器镜筒内能量选择背散射探测器环形STEM探测器（aSTEM 4）EDS能谱仪EBSD探测器(背散射电子衍射)可订制特殊功能样品台环形背散射电子探测器阴极射线荧光探测器

产品简介日立高新高画质的钨灯丝扫描电镜SU3500, 图象质量更进一步。通过高画质提升扫描电镜的分析能力和操作性, 凝聚日立最先进科技“独具匠心”。日立高新钨灯丝扫描电镜SU3500具有实现了“3kV加速电压7nm分辨率”的全新电子光学系统, 可实现实时立体成像的“实时立体观察功能”＊1, 以及更高检测效率的 “UVD超高灵敏度可变压力检测器”＊1。它为观察和分析提出了崭新的标准。特点低加速电压观察时分辨率更高，可更好地观察样品最表面的细微形状和更有效地降低样品的损坏全新设计的电子光学系统和信号处理技术实现了高速扫描和低噪音的观察和以前的常规扫描电子显微镜相比＊2，自动功能缩短＊3了大约11秒具有在低真空时可以非常好地观察样品最表面的细微形状的“UVD（超高灵敏度可变压力探测器）”＊4具有实现了实时立体成像的“实时立体观察功能”＊4（*1）：自选（*2）：和日立SEM S-3400N相比（*3）：根据观察条件的不同，时间会有变动（*4）：自选规格 项目描述二次电子分辨率3.0nm（加速电压=30kV，WD=5mm高真空模式）7.0nm（加速电压=3kV，WD=5mm高真空模式）背散射电子分辨率4.0nm（加速电压=30kV，WD=5mm低真空模式）10.0nm（加速电压=5kV，WD=5mm高真空模式）放大倍率5 - 300,000倍（底片倍率＊5）7 - 800,000倍（显示器显示倍率＊6）加速电压0.3 - 30kV可变压力范围6 - 650Pa最大样品尺寸直径 200mm样品台X0 - 100mmY0 - 50mmZ5 - 65mmR360°T-20° - 90°可观察区域直径 130mm （旋转并用）最大样品高度80mm（WD=10mm）马达台5轴标配电子光学系统电子枪预对中的钨灯丝物镜光阑4孔可动光阑探检测器埃弗哈特 索恩利 二次电子探测器高灵敏度半导体背散射电子检测器EDX分析 WD10mm（取出角35°）图像显示操作系统Windows 7＊7（如有更改，恕不另行通知）图像显示模式全屏模式（1,280 × 960 像素）小屏模式（800 × 600 像素）双图像显示（800 × 600 像素）四屏幕显示（640 × 480像素）信号混合模式排气系统操作全自动排气涡轮分子泵210升/秒 × 1机械泵135L/min（162L/min，60Hz）× 1（*2）：以127mm×95mm（图像尺寸4"×5"）的显示尺寸规定倍率（*3）：以345mm×259mm（像素1,280×960）的显示尺寸规定倍率（*4）：Windows是微软公司在美国和其他国家的注册商标

产品描述灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。用于清晰成像的灵活探测利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。自动化加速工作流程4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。使用工作流程的一步，将结果可视化。高级分析型显微镜将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。基于成熟的 Gemini 技术Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。用于清晰成像的灵活探测利用新的探测技术表征所有的样品。在高真空模式下利用创新的 ETSE 和 in-lens 探测器获取形貌和高分辨率的信息。在可变压力模式下利用可变压力二次电子和 C2D 探测器获取锐利的图像。利用 aSTEM 探测器生成高分率透射图像。利用 BSD 或者 YAG 探测器进行成份分析。配件SmartEDX为您带来一体化能谱分析解决方案如果单采用SEM成像技术无法全面了解部件或样品，研究人员就需要在SEM中采用能谱仪（EDS）来进行显微分析。通过针对低电压应用而优化的能谱解决方案，您可以获得元素化学成分的空间分布信息。得益于：优化了常规的显微分析应用，并且由于氮化硅窗口优的透过率，可以探测轻元素的低能X射线。工作流程引导的图形用户界面极大地改善了易用性，以及多用户环境中的重复性。完整的服务和系统支持，由蔡司工程师为您的安装、预防性维护及保修提供一站式服务。 拉曼成像与扫描电镜联用系统完全集成化的拉曼成像在您的数据中加入拉曼光谱及成像结果，获得材料更丰富的表征信息。通过扩展蔡司Sigma 300，使其具备共聚焦拉曼成像功能，您能够获得样品的化学指纹信息，从而指认其成分。识别分子和晶体结构信息可进行3D分析，在需要时可关联SEM图像、拉曼面扫描成像和EDS数据。完全集成RISE让您体验由先进的SEM和拉曼系统带来的优势。

日立高新扫描电子显微镜S-3700N适合用于研究大件，较重，较高的样品。 ▲最大样品直径达300mm。▲可观察范围直径达203mm。▲可对高达110mm的样品进行观察和能谱分析。▲通用型接口布局满足各种分析用途。 特点特大型的样品室可装载最大直径达300 mm的样品，还可同时安装EDX/WDX/EBSD等配件。其可载样品高度可达110 mm。5轴马达驱动优中心倾斜、旋转、图像导航系统、样品台追踪、轨迹存储与中心复位等样品台的马达控制功能一应俱全。S-4800，SU-70及S-3400N均具有用户友好的GUI设计，这使得操作者经过简单培训即可操作。显示系统有全屏显示，无闪烁，高像素和实时图像显示等优异的性能，它还可以实时信号混合并同时显示两个不同的检测器观测到的互不相同的样品信息。可变压模式不需要金属喷涂，可以直接观察不导电样品。高灵敏度半导体背散射电子检测器可以在快速扫描模式下运行，这使得寻找大尺寸样品中感兴趣的区域更为简单和便利。标准配备涡轮分子泵(TMP)，其清洁和干燥的真空条件最大限度地减少了样品污染。区别于传统的扩散泵扫描电子显微镜，此款产品不需较大的加热功率或循环水箱，从而使得它成为一款节能，生态环保的扫描电子显微镜。规格项目描述分辨率二次电子分辨率30kV时，3.0nm(高真空模式)3kV时，10nm(高真空模式)背散射电子分辨率30kV时，340nm(低真空模式)放大倍率×5-×300，000加速电压0.3-30KV低真空范围6-270pa图形菜单图像移动±50μm（WD=10mm）最大样品尺寸Ф300mm样品台X150mmY110mmZ5-65mmR360°T-20°-90°观测区域Ф203mm（可旋转）最大高度110mm（WD=10mm）样品台控制计算机控制5轴马达驱动优中心电子光学电子枪预对中钨灯丝物镜光阑可移动式4孔物镜光阑枪偏压带可控4偏压检测器埃弗哈特 索恩利二次电子检测器高灵敏度半导体背散射电子探测器，五分割分析位置WD=10mm 取出角=35°显示器自动合轴自动设定束流，自动合轴自动图像调整自动聚焦，自动消像散/聚焦，自动调整亮度和对比度存储图像精度640×480像素，1280×960像素，2560×1920像素，5120×3840像素图像文件格式BMP，TIFF，JPEG图像显示模式全屏显示1280×960像素，小屏显示640×480像素，双屏显示640×480像素×2，信号混合模式真空系统操作全自动程序涡轮分子泵210L/sec.×1机械泵135L/min.(162L/min.60Hz)×1安全措施断电保护，漏电保护辅助功能光栅旋转，动态消像散动态聚焦/倾斜补偿功能自由排版打印功能，字母/数字功能三维动画维修指南导航，测量方便，倾斜画面

扫描电子显微镜(SEM)现今已经延伸到广大企业单位，不仅在学术研究领域，各行各业均有广泛应用，与此趋势相对应，用户需要观测和分析的样品种类也有所扩大。S-3700N的开发正是完全考虑了上述广泛的多元化应用的需求，此款产品的标准配置包含一个二次电子检测器，一个五段分割背散射电子(BSE)探测器和可变压力(VP)模式。这就使得绝大部分的样品观测，可以去除过去传统的扫描电镜必须的金属喷涂，可在自然状态下直接观察含水样品。S-3700N有一个巨大的样品室，可容纳直径达300 mm和高度达110 mm的样品。样品室设置有多种配件端口，可以适应电镜在当今极其广泛的应用需求，这些配件包EDX，WDX，EBSD，样品室监视装置，冷台等。此款产品的多功能性以及灵活的系统配置，能够很好地满足您现今以及未来的各项需求。特色特大型的样品室可装载最大直径达300 mm的样品，还可同时安装EDX/WDX/EBSD等配件。其可载样品高度可达110 mm。5轴马达驱动优中心倾斜、旋转、图像导航系统、样品台追踪、轨迹存储与中心复位等样品台的马达控制功能一应俱全。S-4800，SU-70及S-3400N均具有用户友好的GUI设计，这使得操作者经过简单培训即可操作。显示系统有全屏显示，无闪烁，高像素和实时图像显示等优异的性能，它还可以实时信号混合并同时显示两个不同的检测器观测到的互不相同的样品信息。可变压模式不需要金属喷涂，可以直接观察不导电样品。高灵敏度半导体背散射电子检测器可以在快速扫描模式下运行，这使得寻找大尺寸样品中感兴趣的区域更为简单和便利。标准配备涡轮分子泵(TMP)，其清洁和干燥的真空条件最大限度地减少了样品污染。区别于传统的扩散泵扫描电子显微镜，此款产品不需较大的加热功率或循环水箱，从而使得它成为一款节能，生态环保的扫描电子显微镜。规格参数项目描述分辨率二次电子分辨率30 kV时，3.0 nm(高真空模式)3 kV时，10 nm(高真空模式)背散射电子分辨率30 kV时，4.0 nm(低真空模式)放大倍率×5 - ×300,000加速电压0.3 - 30 kV低真空范围6 – 270 Pa 图形菜单图像移动±50 μm (WD= 10 mm)最大样品尺寸Φ300 mm样品台X150 mmY110 mmZ5 - 65 mmR360°T-20° - 90°观测区域Φ203 mm(可旋转)最大高度110 mm (WD= 10 mm)样品台控制计算机控制5轴马达驱动优中心电子光学电子枪预对中钨灯丝物镜光阑可移动式4孔物镜光阑枪偏压带可控4偏压检测器埃弗哈特 索恩利二次电子检测器高灵敏度半导体背散射电子探测器，五分割分析位置WD = 10 mm, 取出角 = 35°显示器控制模式操纵杆，键盘和旋钮显示器19.1英寸液晶平面显示器(如有更改，恕不另行通知)自动合轴自动设定束流，自动合轴自动图像调整自动聚焦，自动消象散/聚焦，自动调整亮度和对比度存储图像精度640 × 480 像素, 1,280 × 960 像素2,560 × 1,920 像素, 5,120 × 3,840 像素图像文件格式BMP, TIFF, JPEG图像显示模式全屏显示：1,280 × 960 像素小屏显示：640 × 480 像素双屏显示：640 × 480 像素 × 2信号混合模式真空系统操作全自动程序涡轮分子泵210L/sec. × 1机械泵135 L/min.(162 L/min. 60Hz) × 1安全措施断电保护，漏电保护辅助功能光栅旋转，动态消像散动态聚焦/倾斜补偿功能自由排版打印功能，字母/数字功能三维动画维修指南导航，测量方便，倾斜画面

Sigma 360用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。Sigma 360 具有极高的性价比，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得可重复的分析结果。基于成熟的 Gemini 技术Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率。Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。灵活的检测器选项，获取清晰图像使用新颖的ETSE和Inlens探测器在高真空下获取高分辨率表面形貌信息。 使用VPSE或C2D检测器在可变压力模式下获得清晰图像。使用aSTEM检测器生成高分辨率透射图像。使用HDBSD或YAG检测器分析成分。高级分析型显微镜将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。蔡司Sigma 360 可提供 集成式 EDS 解决方案在低能量分析应用中同时实现高清晰度成像Sigma Element 是一种集成式 EDS 解决方案，拥有高可用性和低电压灵敏度。仅需使用一台计算机来控制 EDS 和 SEM，进而大大提升了该集成化解决方案的易用性。同时，借助专门为显微镜和 EDS 操作设计的用户界面可实现并行控制。? 集成化：通过集成化，结合高清晰成像与快速分析，从而获得不错结果? 定制化：根据不同的用户需求定制软件? 灵敏度：独特的氮化硅窗口增强低能X射线的探测灵敏度拉曼成像与扫描电镜联用系统完全集成化的拉曼成像获取样品中化学结构的指纹信息：聚焦拉曼光谱成像可扩展您的蔡司Sigma 300 扫描电镜性能。 分析获得样品分子结构和结晶信息。 通过拉曼成像与EDS数据可进行3D 分析并与SEM图像关联。完全集成化的拉曼成像扫描电镜联用系统使你充分发挥SEM和拉曼系统的功能。用户友好,操作简单 SmartSEM Touch是现已有操作系统的附加组件，用于多用户环境，是一种简洁的用户界面。它同时为操作经验丰富的专家用户和初级用户提供了简便的操作。基于实际的实验室环境，SEM的操作可能是电子显微镜专家的专属领域。但是，非专业用户（例如学生，接受培训不久的人员或质量工程师）也需要使用SEM获取数据，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP将非专业用户的需求考虑在内，其用户界面选项可满足操作经验丰富的显微镜专家和显微镜新手用户的操作需求。

SU-70电子显微镜是一种新概念扫描电子显微镜，它采用了日立经过实地验证的 "semi-in-lens"超高分辨率技术以及肖特基热场发射电子枪技术。除了具有超高分辨率（1.0 nm/15 kV，1.6 nm*/1 kV）的特点外，它还借助声名远播的SuperExB功能可观察减轻荷电图像，成分构成对比图像，超低加速电压图像*。肖特基场发射电子枪的探针电流为100 nA，可进行各种各样的分析操作（X 射线能谱仪*, X射线波谱仪*,电子背散射衍射系统*等）。

美国SONIX 超声波扫描显微镜SONIXTM公司是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先制造商。自1986年成立以来，SONIXTM在无损检测领域中不断改革创新，是第一家基于微机平台，提供全数字化成像方案的公司。SONIXTM一直致力于技术革新，提供给客户最领先的声学检测技术。SONIXTM设备被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。拥有独立开发的软件，硬件和专利技术，多年来我们通过和客户的不断合作，实现了SAM技术的持续改进。SONIXTM努力提供最准确的数据，完美的图像质量，非凡的操作性和设备的高可靠性，从而为客户提高效率，节约成本。SONIX软件优势● 可编程扫描，自动分，定制扫描程序，一键开始扫描，自动完成分析，生成数据● TAMI断层显微成象扫描: 无需精确选择波形，可任意设定扫描深度及等分厚度，一次扫描可获得200张图片，最快速完成分析。● FSF表面跟踪线: 样品置于不平的情况下，自动跟踪平面，获取同一层面图片● ICEBERG离线分析: 存储数据后，可在个人电脑上进行再次分析SONIX硬件优势● 紧凑、稳定的结构设计： 模块化设计使得结构简单、稳定、易于维护● 高速，稳定的马达设计： 扫描轴采用最先进的线性私服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描● 专利的超声波探头/透镜： 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.05微米厚度的分层。● PETT技术： 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率封装检测设备应用：封模底部填胶（MUF）检测 堆叠式晶片成像（SDITM） 铜柱凸块（Cu Pillars） 覆晶封装检测晶片尺寸封装（CSP）检测 球闸陈列封装（BGA） 塑料封装IC检测 混合式多晶片模组（MCM）检测ECHO-VSTMSONIX ECHO-VS 是专为更高精度要求，更复杂元器设计的新一代设备。广泛应用在Flip chips, Stacked die,Bumped die,Boned Wafers等。&bull 高分辨率下，扫描速度是传统超声波扫描显微镜的2.5倍&bull 独有的波形模拟器（Waveform Simulator)及波束仿真（Beam Emulator）&bull 扫描分辨率小于1微米&bull 水温控制系统及紫外细菌系统超高频状态工作下，信号更稳定

ElProScan扫描电化学显微镜 HEKA ElProscan是一台扫描电化学显微镜，用于研究样品的电化学活性表面。它属于扫描探针显微镜（AFM, STM, SECM）家族的一员。2005年HEKA公司创立了ElProscan品牌，它包括传统的SECM实验方法及扩展功能。整个系统包括三个主要部分，定位系统，双恒电位仪，数据采集系统。 定位系统控制微电极在溶液中电化学活性样品表面上进行三维扫描，因此ElProscan可用作传统的SECM仪器并且具有更多的功能。ElProscan与传统的SECM不同之处在于它不仅仅记录针尖的电流信号，而且在针尖上可实现任何电化学实验方法的应用（用可编程脉冲发生协议Programmable Pulse Protocol来完成）。在脉冲发生协议运行过程中，在样品上应用独立的电化学实验方法并同时在针尖上应用不同的方法。因此ElProscan还具有电化学活性表面修饰的功能。 ElProscan系统设计具有多种应用领域的、多用处的特点，如：表面分析功能、金属沉积、导电聚合物沉积、酶活性成像、催化材料表面活性等仅仅是其中的少数应用。ElProscan是一套集成系统，可用一个软件程序实现所有功能的控制运行，而且还包括科学研究等级的硬件使仪器功能最佳化。ElProscan系统是唯一、可测量从超微电流到2A电流范围的电化学仪器，它还可以用作双恒电位仪/电流仪，使其具有多种电化学应用。微电流前置放大器可以在pA级的范围内实现高精度、低噪声的测量。 HEKA ElProscan系统具有多种独特的性能：1. 闭环控制用于所有的坐标轴(X,Y,Z)和Z轴压电驱动。2. 超微电流测量的低噪声小于1pA。3. 集成计算机实时系统以实现真实的等速扫描和实时斜率补偿。4. 实时控制的等间距扫描具有全部集成在一起的剪切力装置5. 3D阵列扫描具有电化学技术自由可编程功能。6. 模板扫描在自定义的平面结构上进行。

美国SONIX 超声波扫描显微镜SONIXTM公司是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先制造商。自1986年成立以来，SONIXTM在无损检测领域中不断改革创新，是第一家基于微机平台，提供全数字化成像方案的公司。SONIXTM一直致力于技术革新，提供给客户最领先的声学检测技术。SONIXTM设备被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。拥有独立开发的软件，硬件和专利技术，多年来我们通过和客户的不断合作，实现了SAM技术的持续改进。SONIXTM努力提供最准确的数据，完美的图像质量，非凡的操作性和设备的高可靠性，从而为客户提高效率，节约成本。SONIX软件优势● 可编程扫描，自动分，定制扫描程序，一键开始扫描，自动完成分析，生成数据● TAMI断层显微成象扫描: 无需精确选择波形，可任意设定扫描深度及等分厚度，一次扫描可获得200张图片，最快速完成分析。● FSF表面跟踪线: 样品置于不平的情况下，自动跟踪平面，获取同一层面图片● ICEBERG离线分析: 存储数据后，可在个人电脑上进行再次分析SONIX硬件优势● 紧凑、稳定的结构设计： 模块化设计使得结构简单、稳定、易于维护● 高速，稳定的马达设计： 扫描轴采用最先进的线性私服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描● 专利的超声波探头/透镜： 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.05微米厚度的分层。● PETT技术： 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率封装检测设备应用：封模底部填胶（MUF）检测 堆叠式晶片成像（SDITM） 铜柱凸块（Cu Pillars） 覆晶封装检测晶片尺寸封装（CSP）检测 球闸陈列封装（BGA） 塑料封装IC检测 混合式多晶片模组（MCM）检测ECHO-LSTM超声波扫描模式：A-Scan(点扫描)、B-Scan(截面扫描)、C-Scan(层扫描)、Multi-Scan(多层扫描)、T-Scan (穿透式扫描)、Tray-Scan(盘扫描)、Jump-Scan(跳跃扫描)、HTS(高速扫描),TAMI-Scan(断层显微成象扫描)最大分辨率：10000X10000像素最大扫描区域：350mmX350mm最高扫描速度、加速度：1000mm/s，10000mm/s2超声波探头频率 ：10-300MHz设备尺寸 ：W 31" x D 31" x H 48"

蔡司钨灯丝扫描电镜EVO MA 15的问世，将钨灯丝扫描电镜的发展带入了全新的时代，超大样品室为各类繁杂的样品以及繁重的工作提供了轻松的解决方案，自动化的5轴样品台和大的X、Y、Z轴跟踪扫描以及可变压力的检测模式使得EVO MA 15能够广泛适用于各类样品的检测工作，EVO MA 15作为一款研究级扫描电镜能够为您提供最完美的视觉图像和最广泛的应用领域。【技术参数】分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W) 4.0nm@ 30KV(VP with BSD) 加速电压：0.2—30KV 放大倍数：5—1000000x 探针电流：0.5PA-5μA X-射线分析工作距离：8.5mm 35度接收角 压力范围：10—400Pa (LS15:环扫模式10-3000Pa)工作室：365mm(φ)×275mm(h) 5轴优中心自动样品台：X=125mm Y=125mm Z=50mm T=-10°- 90°°R=360° 最大试样高度：145mm，最大试样直径：250mm 系统控制：基于Windows 7 的SmartSEM操作系统【主要特点】能在可变压力下操作 先进X射线和EBSD分析 可移动大平台 快抽真空 未来的保证，可升级在高压和水蒸气下成像和分析 高亮度LaB6资源选择 光线套选择扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。

NANOS是一款全面且高性价比的台式扫描电子显微镜（SEM）。它采用最新技术进行设计，提供快速高质量的SEM成像和元素分析。它的设计先进且现代，非常适合科学研究、产品研发和工业用户使用。主要技术特色：标配高性能二次电子及4分割背散射探头一体集成式EDS探头，成像同时采集EDS结果标配低真空模式成像功能全自动马达控制及优中心倾转设计样品台配备性能优化灯丝直观友好用户界面设计低维护成本

SU3500钨灯丝扫描电镜具有实现了“3 kV加速电压7 nm分辨率”的全新电子光学系统, 可实现实时立体成像的“实时立体观察功能”＊1、以及更高检测效率的 “UVD超高灵敏度可变压力检测器”＊1它为观察和分析提出了崭新的标准。*1：自选特点低加速电压观察时分辨率更高，可更好地观察样品最表面的细微形状和更有效地降低样品的损坏全新设计的电子光学系统和信号处理技术实现了高速扫描和低噪音的观察和以前的常规扫描电子显微镜相比＊2自动功能缩短＊3了大约11秒具有在低真空时可以非常好地观察样品最表面的细微形状的“UVD(超高灵敏度可变压力探测器)”＊4具有实现了实时立体成像的“实时立体观察功能”＊4*2：和日立SEM S-3400N相比*3：根据观察条件的不同，时间会有变动*4：自选 规格项目描述二次电子分辨率3.0 nm(加速电压=30 kV，WD=5 mm高真空模式)7.0 nm(加速电压=3 kV，WD=5 mm高真空模式)背散射电子分辨率4.0 nm(加速电压=30 kV，WD=5 mm低真空模式)10.0 nm(加速电压=5 kV，WD=5 mm高真空模式)放大倍率5 - 300,000倍(底片倍率＊5）7 - 800,000倍(显示器显示倍率＊6）加速电压0.3～30kV可变压力范围6～650Pa最大样品尺寸直径 200 mm样品台X0～100mmY0～50mmZ5～65mmR360°T-20～90°可观察区域直径 130 mm(旋转并用)最大样品高度80mm（WD＝10mm）马达台5轴标配电子光学系统电子枪预对中的钨灯丝物镜光阑4孔可动光阑探检测器埃弗哈特 索恩利 二次电子探测器高灵敏度半导体背散射电子检测器EDX分析 WD10 mm(取出角35°)图像显示操作系统Windows® 7(有更改，恕不另行通知)图像显示模式全屏模式(1,280 × 960 像素)小屏模式(800 × 600 像素)双图像显示(800 × 600 像素)四屏幕显示(640 × 480像素)信号混合模式排气系统操作全自动排气涡轮分子泵261升/秒 × 1机械泵135 L/min.(162 L/min.，60Hz) × 1 *5：以127 mm × 95 mm(图像尺寸4" × 5")的显示尺寸规定倍率*6：以345 mm × 259 mm(像素1,280 × 960)的显示尺寸规定倍率 观察例試料：树脂填料(玻璃纤维)加速电压：1 kV放大率：×1,000 試料：二氧化钛颗粒加速电压：3 kV放大倍率：×15,000 样品未作导电性处理样品提供：由东北大学 垣花 眞人 様

美国 SONIX 超声波扫描显微镜:ECHO-VS, ECHO Pro™ 全自动超声波扫瞄显微镜, 晶圆检测设备 AutoWafe Pro, 封装检测设备ECHO-LS: SONIX™ 公司是世界500强丹纳赫集团(NYSE: DHR)下的全资子公司，是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先制造商。 自1986年成立以来，SONIX™ 在无损检测领域中不断改革创新，是第一家基于微机平台，提供全数字化成像方案的公司。 SONIX™ 一直致力于技术革新，提供给客户最领先的声学检测技术。SONIX™ 设备被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。 拥有独立开发的软件，硬件和专利技术，这么多年来通过和客户的不断合作，实现了SAM技术的持续改进。 SONIX™ 努力提供最准确的数据，完美的图像质量，非凡的操作性和设备的高可靠性，从而为客户提高效率，节约成本。 SONIX 软件优势● 可编程扫描，自动分析 定制扫描程序，一键开始扫描，自动完成分析，生成数据 ● FSF表面跟踪线 样品置于不平的情况下，自动跟踪平面，获取同一层面图片 ● ICEBERG离线分析 存储数据后，可在个人电脑上进行再次分析 ● TAMI断层显微成象扫描 无需精确选择波形，可任意设定扫描深度及等分厚度，一次扫描可获得200张图片，最快速完成分析。 SONIX 软件 - 应用于塑封FlipChip和Stacked Die产品的成像功能 SONIXTM 的Flexible TAMITM设计 专为需要检测由不同层厚和材料组成的多层封装产品,例如:● 3-D架构● Stacked Die● Bonded wafers● Wafer 级封装 (WLP)● 塑封Flip Chips SONIX 硬件优势 ● 紧凑、稳定的结构设计 模块化设计使得结构简单、稳定，易于维护 ● 高速、稳定的马达设计 扫描轴采用最先进的线性伺服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描 ● 专利的超声波探头/透镜 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.1微米厚度的分层。 ● PETT技术 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率 封装检测设备晶圆夹具 (与可调的托盘夹具搭配使用) (NEW !!)

SPM Aarhus 150极其稳定且用途广泛的SPM Aarhus 150 SPECS，适用于最终的扫描探针显微镜应用SPM Aarhus 150是一款非常稳定且省时的仪器。专门设计的3千克质量的可变温度扫描仪平台，带有集成的低噪声液氮（LN 2）冷却装置确保了卓越的SPM性能。要特别注意将流动冷却器与样品台分离，但要确保它们之间的永久冷却连接。为此，使用专用的柔性铜丝编织物将超重的扫描仪平台连接至流动低温恒温器，而不会影响SPM Aarhus的出色稳定性。样品架和SPM台之间紧密的机械和热接触可实现极其精确的样品温度控制和稳定性。在低于130K的温度下，典型的冷却时间少于60分钟。从室温下插入样品到低于130 K的“准备SPM”，典型的时间跨度为20分钟。对于温度上升，甚至在高达400 K的高温下也可以对样品进行反加热。从室温到低温恒温器的快速冷却过程中以及在运行中均可实现2消耗。初始冷却期间消耗约20 l LN 2，而典型的LN 2在130 K下运行期间的耗油量约为每小时10升。通过将SPM机制整合为一个STM / AFM单元，可以使用KolibriSensor™ 轻松将SPM Aarhus 150升级为AFM。SPM Aarhus 150通过在90至400K之间的可变温度下显示出最高的热稳定性而又不损害其原始机械稳定性，从而树立了新的标准。直接原位光学通道允许样品照明和光诱导过程的研究。另外，蒸发口允许在样品表面上原位沉积并在扫描过程中研究生长过程。规格书SPM奥尔胡斯150安装安装法兰150CF控制电子纳诺尼斯SPC 260性能温度稳定性优于±2 K（150 K ... 400 K）灵敏度z范围±175纳米漂移率0.05 nm / min（垂直），0.15 nm / min（纬度）稳定性10 pm运作方式现场访问镜面反射和蒸发扫描范围1.500纳米x 1.500纳米温度控制2个用于样品和扫描仪的受控子系统操作模式STM原子力显微镜感测器STM提示Kolibri传感器可选配件STM技巧Kolibri传感器样品架所需配件STM技巧Kolibri传感器样品架工作压力10 -11至10 -7 mbar

SAM系列旗下各型号均统一由一个符合行业标准的组件平台衍生而来，在此基础上，再融入了先进的生产和制造技术。凭借我司精密制造的高频和换能器技术，我们的超声波扫描显微镜能够在高达400MHz的超声频率范围内进行详细的声学分析。这些设备可以广泛应用于材料科学、生物医学、电子工业等领域，帮助用户实现快速且准确的无损检测。无论是对材料中的缺陷进行定位和分析，还是对样品结构和表面形貌进行观察和评估，我们的超声波扫描显微镜都能提供可靠且高分辨率的成像结果。同时，我们还提供灵活多样的配置选项，以满足不同用户需求和实验要求。我们致力于为客户提供高性能和可靠性的超声波无损检测解决方案，以满足不断发展的科学研究和工业生产的需求。SAM系列系统是专门用于质量和过程控制的无损检测工具，借助高达400兆赫的新射频和换能器技术实现详细的声学调查。简单而强大的图形界面确保了最终用户可以充分使用该系统性能和功能。X和Y方向的扫描范围可单独自定义，可选择以下扫描范围配置：250µ m x 250µ m到320mm x 320mm250µ m x 250µ m到420mm x 420mm模块化设计的功能，如穿透式扫描、动态穿透式扫描、或"双探头 “和 “四探头 “扫描仪配置等，大大优化了扫描成像结果。

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

LSI XL系列光片扫描显微镜旨在以高分辨率高速对大型样品进行三维成像。该系统利用线性贝塞尔光片技术，配合LSI独有的四面照明技术，可提供市场上最均匀的样品照明。LSI XL系列光片扫描显微镜配备了折射率（RI）校正光学器件，可在1.33至1.56之间调节，以确保在各种浸没介质中的最佳成像质量。可更换的样品室可容纳2cmx2cm的样品。LSI XL系列光片扫描显微镜的应用包括对通过日前广泛应用的以水基或溶剂基方法处理的大型透明组织或器官样品进行成像，以及通过内置的一键化多位点成像功能对大量活体透明样品（如斑马鱼或果蝇胚胎）的拍摄。 主要特点*线性贝塞尔光片和RI矫正光学模组提供了最佳的成像效果，分辨率可达500nm。*独特的四侧照明技术可显着增加照明深度和均匀度，尤其适合对在大型透明化样品成像。*适用于活体胚胎的长时间成像，专为大型透明化样品设计的光片成像平台，同时也可完美得适用于活体斑马鱼或果蝇胚胎的成像，其通量比传统的光片显微镜高得多。*智能化易用的软件系统配有快速数据处理功能，同时内置了3D渲染，多位置采集及自动拼接和反卷积等图像分析功能。*一体化台面紧凑设计配有内置隔振系统，无需外置隔振台。 线性贝塞尔光片（LSI）技术LSI技术通过物理和光学调制获取的光片，远比传统的高斯光片薄，有效长度也更长。因此LSI显微镜不仅具有极低的光毒率和超快的成像速度的特点，而且其出色的三维分辨率和高信噪比令其具有机器出色的层切能力 应用领域神经示踪三维成像 全脑神经胞体三维成像 全脑血管三维成像 动物胚胎成像同时可进行亚细胞分辨率的完整哺乳动物大脑中枢和外周神经系统的发育及微循环三维介观形态学图谱等研究。 微循环血管三维成像 三维肿瘤病理成像 三维肿瘤病理应用实例

SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。 扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。

超高真空低温四探针扫描探针显微镜美国RHK Technology 成立于1981 年。作为SPM 工业中的领军仪器制造商，RHK-Technology 始终保持着鲜明的特色：创新性、可靠性、产品设计的开放性与的客户支持。凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与著名科学家的紧密合作，二十多年来RHK Technology 源源不断地向全科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。变温QuadraProbe UHV 4-探针SPM系统是RHK公司生产的多探针UHV SPM系统中的一种，该系统提供了多种分析功能、配备了多个超高真空室和相应的电子控制单元与软件，可以大地满足客户全面的研究应用需要。基本系统中提供了低温4探针扫描隧道显微镜（SPM），扫描电子显微镜（SEM），样品准备室和用于传输样品和针的快速进样室。其他的设备如扫描俄歇显微镜（SAM）也可选配以满足客户特别的研究需要。技术参数：- 样品温度：10K（LHe）； 80K（LN2）- 扫描范围：1.5μm（300K）；500nm （10K）- X，Y，Z粗进针：±1.5mm/step motion- 样品定位精度：±1.5mm- STM分辨率：四个探针均可实现HOPG的原子分辨- SEM分辨率：小于20nm- 针材料：钨或者铂、金等金属修饰的钨针。 主要特点：- 四个探针都能实现原子分辨；- 真正的样品和针低温操作（10K），得到佳的高分辨谱图；- 探针与样品立地传输与准备；- 所有探针具有先进的控制操作；- 用户可编程控制的开放性控制环境；- 制冷采用Bath Cryostat构造，大地减少了液氦的消耗；- 可升到非接触式AFM；- 样品台处配有可选择的超导磁体；- 通过光纤实现样品的光学激发。

超声波扫描显微镜VUE400-POKOS公司是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先研发商和制造商。OKOS设备和核心部件被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。公司拥有独立开发的软件，核心硬件和专利技术，这么多年来通过和客户的不断合作，实现了SAT技术的不断创新和突破。超声波扫描显微镜VUE400-P技术优势软件 硬件1）独立开发，基于windown系统 1）双探头扫描模式2）可编程自动扫描 2）独立开发设计的全球最高性能离3）线分析能力 的A/D board，频率可达4GHz4）SALI断层成像扫描 3） 独立开发的定制探头/传感器5）先进的数据分析模式 4）模块化的测试6）FFT扫描模式超声波扫描显微镜VUE400-P设备模式 单探头扫描,双探头扫描超声波扫描模式 A-Scan、B-Scan、C-Scan、Multi-ScanT-Scan、Tray-Scan、 Jump-Scan、HTS、SALI-Scan最大分辨率 10000x10000像素最大扫描区域 380*350*50mm(xyz)最高扫描速度 1500mm/s超声波探头频率 10-220MHz设备尺寸 900*900*1300mm(dwh)超声波扫描显微镜VUE400-P(桌面型）超声波扫描模式 A-Scan、B-Scan、C-Scan、 T-Scan、Tray-Scan、 Jump-Scan、 HTS、SALI-Scan最大分辨率 10000X10000像素最大扫描区域 250*150*30mm(xyz)最高扫描速度 500mm/s超声波探头频率 10-300MHz设备尺寸 610*610*500mm(dwh)非标定制产品:工业超声波扫描显微镜独有的多轴扫描系统，轮廓跟踪扫描等创新功能，突破了传统超声波 扫描显微镜只能进行平面扫描的局限，从而为大型，曲面结构，不规 则结构产品进行无损检测成为可能，在航空航天、铁路交通、管道、 石化、桥梁等诸多领域有着广泛的应用。

公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。全自动薄片扫描显微镜、地质薄片显微镜、矿物分析显微镜、荧光显微镜、包裹体显微镜、生物显微镜、电动显微镜、超景深显微镜、体视显微镜、视频显微镜Mineral flakeScanning systemSD3000A矿物光薄片扫描系统公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。基于创立品牌和可持续发展的战略，麦特微愿与业内同行和广大用户一起成长，依托我们在产品资源和技术服务方面的突出优势，服务众多的客户在新技术、新方法、新仪器的应用中受益。品质优先：“质量产生效益，质量赢得市场”。产品质量在我们每一名麦特微人的心中。以质量诚信为荣，树立质量法制观念。“品质第一，客户至上”是我们的理念，让我们携手并进，共创繁荣。服务至上：真诚赢得信任，耐心获取理解；细节决定成败，服务创造价值。不只诚信服务，更是优良服务，不只优良服务，更要惊喜服务，不只惊喜服务，更要完美服务。科学技术：让科技行业带来我们的新生，让我们在科技中提升技术。依托科技与技术让技术更好的服务科技。让科技给技术提供原动力。主要优点1.扫描速度快，每秒3到4张照片的速度进行扫描。2.有全景预览相机，可以快速定位扫描区域，并可以多区域分割扫描。3.高精度Z轴，具备自动对焦功能，快速对焦，光栅闭环回馈，确保全片扫描无虚焦。4.进口核心偏光附件，确保偏光效果，效果不输于进口4大品牌。5.复消色差高分率物镜，确保颜色无偏差，显示更多细节。6.LED冷光源，使用寿命长，可在高亮度下持续工作。7.绿版扫描软件，可随意拷贝，不受限制。产品特点高质量的照明系统：极度明亮的大功率 LED 照明为明场、暗场、偏振光4500°K的恒定色温。它为所有亮度级提供了真正的彩色图像。由于 LED 寿命长、耗能低，因此节省能源的潜能极大。薄片（光片）数字化：将传统地质类薄片（光片）数字化，进行储存管理与分析，最终数据便于宏观与微观观察，脱离时间、空间限制。全自动高速成像：一键操作，自动扫描，搭载高速扫描台，高精度、高重复的Z轴对焦，内置光栅编码器，确保每个视场的对焦精度，图像质量优异。部件介绍本产品由扫描仪主机、控制箱、计算机、扫描及浏览软件组成。其中扫描仪主机的配置包括：显微镜 （含机架、物镜、目镜、光源等） 、电动 XY 平台、电动 Z 轴、相机、 物镜转换器、全局预览模块。 技术参数此段文字只用作占位符，您可以根据您的实际情况，添加、修改、替换此段文字的文本内容，语言描述尽量简洁精炼。文档由稻壳儿耗崽原创设计。主机 高钢性的T形镜体结构，极高的稳定性及系统灵活性。光学系统 光学系统无限远色差校正光学系统。三目镜筒 三档分光（100:0/50%-50%/0:100）,高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，视度可调。机架 低手位粗微同轴调焦机构。最大行程30mm 微调精度1微米。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-220V 宽电压系统, 双路电源输出，采用数字调光，具有光强强度显示、透射光切换开关, 内置透射光滤色镜。载物台 步进电机XY平台，行程：80 mm （X轴）x 60 mm （Y轴），最小细分：0,05 μm，单向重复定位精度：≤ 1um（测试标准ISO230-2）电动Z轴 分辨率： 0.02 um，内置光栅编码器，光电限位开关，单向重复精度≤ 0.1 μm聚光镜 阿贝聚光镜NA0.9 上下可升降 可调孔径光阑物镜 复消色差高分辨率APO物镜：10X/0.42 20X/0.75灯室 科勒式高亮度LED照明，透、反射通用，预定中心相机 快门模式：全局快门；Sony芯片，35.7fps@2448 × 2048；动态范围75dB； USB3.0（USB3.1 GEN1）数据传输图像处理器处理器：i7；内存：32G 硬盘：256SDD+2T；显卡：独立 4G；显示器： 27寸产品衍生业务本产品可以衍生的显微镜应用，显微清洁度，显微阴极发光，显微热台 该系统能自动识别、并判定杂质的三种类型：金属颗粒、非金属颗粒、纤维。 能自动计算金属颗粒、非金属颗粒的数量并按长度等级依据ISO16232进行归类和判定等级，和计算滤膜上纤维的总长度。 该系统还能自动测量并计算出单个颗粒的长度、宽度等尺寸。 具备能够通过自动调整偏振光的硬件支持功能准确区分金属和非金属颗粒，能够将金属和非金属颗粒区分正确以便有标准的数据依据进行判定阴极发光是由电子束轰击样品时产生的可见光，不同矿物由于含有不同的激活剂元素而产生不同的阴极发光，用来激发并产生阴极发光的装置叫做阴极发光装置，把这种阴极发光装置装在显微镜上则成为阴极发光显微镜。阴极发光显微镜可以广泛地应用于岩石、矿物的鉴定以及成岩作用的研究。 业务三 简称热台。根据不同用途，热台有多种型号。有可安装在偏光显微镜 ，金相显微镜的载物台 上的，有直接取代载物台的，一般用电阻丝作为加热元件，用热电偶 测量样品加热温度。温度范围由室温至750℃，高者达2000℃左右，低者达-55℃，可用于测定矿物中各种包裹体 的均匀化温度，以确定矿物 或矿床 形成时的温度和压力。用于双变油浸法 中测定矿物的折射率；也可测定矿物脱水时的温度；测定矿物多形结构的转变温度；观察加热时矿物光性的变化等产品拍摄样片

显微镜物镜扫描仪高精度亚纳米物镜扫描台/定位台！上海昊量推出的物镜扫描台采用压电陶瓷直推，以柔性铰链为导向使物镜扫描台具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点，采用硅位移传感器，物镜扫描台相比于传统的电容式位移传感器，物镜扫描台硅传感器使平移台拥有更高的精度和线性度以及较低的底噪。物镜扫描台的精度可以达到亚纳米，底噪低至10pm。上海昊量光电设备有限公司推出的压电平移台旨在满足超精密定位应用的需求。该平移台采用压电陶瓷驱动，以柔性铰链为导向使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。采用硅高精度位移传感器，与电容位移传感器相比拥有更高的精度、线性度和低底噪。由于其具有较高的精度、线性度和较低的底噪等优点，被广泛的应用于超分辨率显微镜，光学捕获和原子力显微镜等领域。AU-FOCHS采用管状设计，专门用于显微镜物镜快速高精度定位。该物镜扫描台可提供行程可达到100μm，精度可达到0.1 nm，谐振频率可达到1175Hz。它由铝、钢和黄铜构成，配备硅传感器，可提供皮米级的稳定性。以上优点使其拥有广泛的应用，例如，激光加工、显微成像、体容积成像，等还可以与相机系统结合使用实现自动对焦。AU-FOC是一款专门用于显微镜物镜准确定位的设备。该物镜扫描台可提供100/200/300/500μm不同行程。该物镜扫描台由铝和黄铜构成，结合硅传感器可提供皮米量级的稳定性。以上两款物镜扫描台的黄铜安装环可以轻松更换，因此几乎所有的物镜都可以与这两款物镜扫描台结合使用。可用的物镜大小有RMS, M25, M26, M27 和 M32.显微镜物镜扫描台产品特点：l 高分辨率（0.01nm）l 高速度，谐振频率可达1175Hzl 采用硅传感技术l 超低底噪l 柔性铰链导向显微镜物镜扫描台主要应用：l 自动聚焦系统l 共焦显微镜l 3D成像l 超分辨显微镜l 半导体计量学 显微镜物镜扫描台产品参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10,具备自动化工作流程的高清晰扫描电镜 提高样品的成像分辨率，提供更多表面细节信息EVO 电镜广泛应用于材料和生命科学领域。在低电压下，借助电子束减速和高分辨背散射电子成像技术获取出色的样品形貌细节。您还可以在可变环境条件下实时观察材料的相互作用，控制样品室环境并实现含水生物样品的详细分析。借助自动化工作流程实现高效应用。EVO 独一无二的 X 射线几何学设计能确保在分析工作条件下达到最佳分辨率。 技术规格 设备主要部件及技术要求： 该项目的设备必须是全新设备且整体进口（包括所有零部件，元器件和附件等），满足各自的技术指标和性能，其性能应达到国际先进水平，可靠性好，性能稳定，控制精度高，使用、操作和维修方便，售后服务优良，必须在河南地区常驻有售后工程师以方便后期维护。 1、基本要求 1.1 电子光学系统 1.1.1 发射源：钨灯丝；1.1.2 分辨率：高真空二次电子像 ≤3.0nm @30kV≤8.0nm @3kV低真空背散射电子像 ≤4.0nm（30kV）；1.1.3 加速电压范围：200V－30kV，10V 步进连续可调；1.1.4 放大倍数范围不小于：7X－1,000,000X，连续可调；*1.1.5 探针电流范围：0.5 pA~5μA，连续可调；*1.1.6 电子束控制模式不少于以下几种控制模式：分辨率模式、分析模式、大视野模式、大景深模式和鱼眼模式；*1.1.7 最佳分析工作距离不大于 8.5mm 且最佳分析工作距离下的最大视野范围不小于 6mm，普通模式下最大视野范围不小于 20mm； 1.2 真空系统 1.2.1 抽真空系统：涡轮分子泵 + 机械泵，不需要冷却水1.2.2 样品室最高真空度：优于优于 3 x 10-4 Pa1.2.3 抽真空时间：≤3 分钟 1.3 样品室及样品台1.3.1 样品室内部尺寸不小于 310mm（直径）×220mm（高）；3*1.3.2 可放置的最大样品尺寸和承重：最大样品直径不小于 230mm，最大高度不小于 100mm，样品台最大承重不小于5kg；1.3.3 配备探测器：高真空二次电子探测器，背散射电子探测器，样品室红外 CCD 摄像装置*1.3.4 配置五轴马达驱动样品台：样品台马达移动范围：不小于 80mm（X 方向），100mm（Y 方向），35mm（Z 方向），-10°~ 90°（倾斜），360°（旋转）1.3.5 样品台类型：全电动 5 轴马达驱动样品台，双轴摇杆操作系统；1.3.6 样品台具有接触报警与自停功能 *1.3.7 马达台重复精度不低于 2um； 1.4 图像处理系统 1.4.1 配套计算机系统：不低于 CPU P4 3.0GHz，RAM 512Mb，硬盘 120Gb，软盘驱动器 1.44Mb，光盘刻录机，24″液晶显示屏，键盘，鼠标，USB 接口1.4.2 显示图像分辨率：不小于 1024×768 像素*1.4.3 单幅图像最大存储图像分辨率：不小于 32k×24k 像素1.4.4 存储图像格式：TIFF、BMP 与 JPEG 1.5 控制系统 1.5.1 配置 Windows 操作系统1.5.2 配置专业的电子显微镜控制软件1.5.3 自动功能：自动电子枪启动，电子枪自动对中，自动偏压调整，自动和手动聚焦，聚焦补偿，动态聚焦，旋转补偿，自动消像散，图像降噪处理。1.5.4 图像采集：像素平均、帧平均、帧积分、行平均、行积分；1.5.5 显示器：24″高对比度彩色平板显示器；1.5.6 显示方式：全屏显示、分屏显示、灰度直方图、轮廓方式、伪彩色；1.5.7 图像注释与数据区：提供标准数据区和定制数据区，可在图片上显示各种电镜参数和字符。1.5.8 状态菜单：显示各种工作参数。1.5.9 测量功能：可对图像中的形貌进行点间距、角度、直径等测量。 1.6 能谱仪系统 1.6.1 功能：用于材料的微区成分定性、定量分析。1.6.2 配置电制冷能谱仪，能谱仪窗口面积不小于 30mm2，能量分辨率(600000CPS) Mn-Ka 优于129eV；1.6.3 元素分析范围：Be4～CF98；1.6.4 能谱仪处理单元与计算机采用分立式设计，单探测器输出最大计数率优于 600,000CPS，可处理最大计数率1,500,000CPS；41.6.5 可将电镜图像传输到能谱仪的显示器上，并以该图为中心做微区分析，实现点、区域定性定量分析，以及线扫描和面分布功能；1.6.6 系统配置专业能谱仪数据处理工作站； 1.7 离子溅射仪 1.7.1 玻璃处理室：直径不小于 100 毫米，高度不小于 130 毫米；1.7.2 试样台尺寸：直径不小于 40 毫米可同时放 6 个样品杯；1.7.3 靶尺寸：直径不小于 58 毫米；1.7.4 真空系统：直联旋片真空泵 1 升/秒；1.7.5 真空检测：皮氏计；1.7.6 真空保护：20Pa 配有微量充气阀调节工作真空；1.7.7 工作室工作媒介气体：空气或氩气，配有氩气专用进气口和微量充气调节；1.7.8 配置：内置一块金鈀。 2 产品配置要求 为达到上述技术指标，投标产品应配置必要的硬、软件。投标产品不低于以下配置：2.1 扫描电子显微镜 1 套；2.2 RS232 能谱仪智能通讯接口 1 套；2.3 原装进口电制冷能谱仪 1 套；2.4 原装进口空气压缩机 1 套；2.5 样品室内全自动控制红外 CCD 相机 1 套；2.6 二次电子探测器 1 套，背散射电子探测器 1 套；2.7 样品束流检测器或者束流检测皮安表 1 套；2.8 不间断稳压电源 1 套；2.9 碳导电双面胶带 2 卷和灯丝 1 盒（10 支）； 更简单、更智能、整合性更高 无与伦比的表面成像能力您可以在低电压下利用高分辨背散射电子探测器（HD BSD）实现具有清晰衬度的表面细节成像。针对电子束敏感样品或表面形貌分析，电子束减速技术能够提高分辨率及增强表面细节信息。成像过程中的漂移校正有助于进一步提高边缘分辨率。EVO 系列可提供包含高性能 HD 束源在内的三类电子束源技术，通过组合应用开创图像质量全新标准。 智能化成像 – 性能高效EVO 能够提高制造和质量控制领域的工作效率。试想一下，将典型的工作流程从 400 多步操作简化为 15 步，以三种不同的放大倍率在 9 个样本上对感兴趣的 4 个点进行成像。智能化系统能够自动完成光路对中、调节放大倍率、聚焦和移动载物台 – 一切都为最终的图像采集，系统会根据所选的样品设置最佳成像条件。通过易于操作的click-stop 按钮控制镜筒中间的光阑孔，从而获得可靠且重复性高的检测结果。 环境电子显微镜技术 EVO LS 可在不同温度、压力和湿度条件下观察生命科学样品及材料样品的纳米级信息。使用EVO LS 能获得细胞、植物和生物在自然水合状态下的细节信息。分析材料性能，如耐蚀性、耐热性及涂镀性能。EVO LS 全能型环境扫描电镜能在高达 3000 Pa 的压力下获取高品质图像，轻松完成含水样品的成像，同时利用计算机控制环境条件，以避免出现脱水假象。

ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10,具备自动化工作流程的高清晰扫描电镜 提高样品的成像分辨率，提供更多表面细节信息EVO 电镜广泛应用于材料和生命科学领域。在低电压下，借助电子束减速和高分辨背散射电子成像技术获取出色的样品形貌细节。您还可以在可变环境条件下实时观察材料的相互作用，控制样品 室环境并实现含水生物样品的详细分析。借助自动化工作流程实现高效应用。EVO 独一无二的 X 射线几何学设计能确保在分析工作条件下达到最佳分辨率。 技术规格 设备主要部件及技术要求： 该项目的设备必须是全新设备且整体进口（包括所有零部件，元器件和附件等），满足各自的技术指标和性能，其性能应达到国际先进水平，可靠性好，性能稳定，控制精度高，使用、操作和维修方便，售后服务优良，必须在河南地区常驻有售后工程师以方便后期维护。 1、基本要求 1.1 电子光学系统 1.1.1 发射源：钨灯丝；1.1.2 分辨率：高真空二次电子像 ≤3.0nm @30kV≤8.0nm @3kV低真空背散射电子像 ≤4.0nm（30kV）；1.1.3 加速电压范围：200V－30kV，10V 步进连续可调；1.1.4 放大倍数范围不小于：7X－1,000,000X，连续可调；*1.1.5 探针电流范围：0.5 pA~5μA，连续可调；*1.1.6 电子束控制模式不少于以下几种控制模式：分辨率模式、分析模式、大视野模式、大景深模式和鱼眼模式；*1.1.7 最佳分析工作距离不大于 8.5mm 且最佳分析工作距离下的最大视野范围不小于 6mm，普通模式下最大视野范围不小于 20mm； 1.2 真空系统 1.2.1 抽真空系统：涡轮分子泵 + 机械泵，不需要冷却水1.2.2 样品室最高真空度：优于优于 3 x 10-4 Pa1.2.3 抽真空时间：≤3 分钟 1.3 样品室及样品台1.3.1 样品室内部尺寸不小于 310mm（直径）×220mm（高）；3*1.3.2 可放置的最大样品尺寸和承重：最大样品直径不小于 230mm，最大高度不小于 100mm，样品台最大承重不小于5kg；1.3.3 配备探测器：高真空二次电子探测器，背散射电子探测器，样品室红外 CCD 摄像装置*1.3.4 配置五轴马达驱动样品台：样品台马达移动范围：不小于 80mm（X 方向），100mm（Y 方向），35mm（Z 方向），-10°~ 90°（倾斜），360°（旋转）1.3.5 样品台类型：全电动 5 轴马达驱动样品台，双轴摇杆操作系统；1.3.6 样品台具有接触报警与自停功能 *1.3.7 马达台重复精度不低于 2um； 1.4 图像处理系统 1.4.1 配套计算机系统：不低于 CPU P4 3.0GHz，RAM 512Mb，硬盘 120Gb，软盘驱动器 1.44Mb，光盘刻录机，24″液晶显示屏，键盘，鼠标，USB 接口1.4.2 显示图像分辨率：不小于 1024×768 像素*1.4.3 单幅图像最大存储图像分辨率：不小于 32k×24k 像素1.4.4 存储图像格式：TIFF、BMP 与 JPEG 1.5 控制系统 1.5.1 配置 Windows 操作系统1.5.2 配置专业的电子显微镜控制软件1.5.3 自动功能：自动电子枪启动，电子枪自动对中，自动偏压调整，自动和手动聚焦，聚焦补偿，动态聚焦，旋转补偿，自动消像散，图像降噪处理。1.5.4 图像采集：像素平均、帧平均、帧积分、行平均、行积分；1.5.5 显示器：24″高对比度彩色平板显示器；1.5.6 显示方式：全屏显示、分屏显示、灰度直方图、轮廓方式、伪彩色；1.5.7 图像注释与数据区：提供标准数据区和定制数据区，可在图片上显示各种电镜参数和字符。1.5.8 状态菜单：显示各种工作参数。1.5.9 测量功能：可对图像中的形貌进行点间距、角度、直径等测量。 1.6 能谱仪系统 1.6.1 功能：用于材料的微区成分定性、定量分析。1.6.2 配置电制冷能谱仪，能谱仪窗口面积不小于 30mm2，能量分辨率(600000CPS) Mn-Ka 优于129eV；1.6.3 元素分析范围：Be4～CF98；1.6.4 能谱仪处理单元与计算机采用分立式设计，单探测器输出最大计数率优于 600,000CPS，可处理最大计数率1,500,000CPS；41.6.5 可将电镜图像传输到能谱仪的显示器上，并以该图为中心做微区分析，实现点、区域定性定量分析，以及线扫描和面分布功能；1.6.6 系统配置专业能谱仪数据处理工作站； 1.7 离子溅射仪 1.7.1 玻璃处理室：直径不小于 100 毫米，高度不小于 130 毫米；1.7.2 试样台尺寸：直径不小于 40 毫米可同时放 6 个样品杯；1.7.3 靶尺寸：直径不小于 58 毫米；1.7.4 真空系统：直联旋片真空泵 1 升/秒；1.7.5 真空检测：皮氏计；1.7.6 真空保护：20Pa 配有微量充气阀调节工作真空；1.7.7 工作室工作媒介气体：空气或氩气，配有氩气专用进气口和微量充气调节；1.7.8 配置：内置一块金鈀。 2 产品配置要求 为达到上述技术指标，投标产品应配置必要的硬、软件。投标产品不低于以下配置：2.1 扫描电子显微镜 1 套；2.2 RS232 能谱仪智能通讯接口 1 套；2.3 原装进口电制冷能谱仪 1 套；2.4 原装进口空气压缩机 1 套；2.5 样品室内全自动控制红外 CCD 相机 1 套；2.6 二次电子探测器 1 套，背散射电子探测器 1 套；2.7 样品束流检测器或者束流检测皮安表 1 套；2.8 不间断稳压电源 1 套；2.9 碳导电双面胶带 2 卷和灯丝 1 盒（10 支）； 更简单、更智能、整合性更高 无与伦比的表面成像能力您可以在低电压下利用高分辨背散射电子探测器（HD BSD）实现具有清晰衬度的表面细节成像。针对电子束敏感样品或表面形貌分析，电子束减速技术能够提高分辨率及增强表面细节信息。成像过程中的漂移校正有助于进一步提高边缘分辨率。EVO 系列可提供包含高性能 HD 束源在内的三类电子束源技术，通过组合应用开创图像质量全新标准。 智能化成像 – 性能高效EVO 能够提高制造和质量控制领域的工作效率。试想一下，将典型的工作流程从 400 多步操作简化为 15 步，以三种不同的放大倍率在 9 个样本上对感兴趣的 4 个点进行成像。智能化系统能够自动完成光路对中、调节放大倍率、聚焦和移动载物台 – 一切都为最终的图像采集，系统会根据所选的样品设置最佳成像条件。通过易于操作的click-stop 按钮控制镜筒中间的光阑孔，从而获得可靠且重复性高的检测结果。 环境电子显微镜技术 EVO LS 可在不同温度、压力和湿度条件下观察生命科学样品及材料样品的纳米级信息。使用EVO LS 能获得细胞、植物和生物在自然水合状态下的细节信息。分析材料性能，如耐蚀性、耐热性及涂镀性能。EVO LS 全能型环境扫描电镜能在高达 3000 Pa 的压力下获取高品质图像，轻松完成含水样品的成像，同时利用计算机控制环境条件，以避免出现脱水假象。

2016年，日立高新公司推出第一台大气压下扫描电子显微镜AeroSurf1500，其独特的设计可在大气压下得到清晰的扫描电子图像。特点：1、可在大气压（105Pa）下得到SEM图像；2、台式扫描电镜设计；3、低真空下成分分析；4、优质的图像处理控制；应用领域：1、食品检测；2、生物科技；3、刑侦医学；4、医药检测；5、环境监测。

OneScan-B图像分析软件是依视科技推出的、适用于国内外通用显微镜相机的软件，可以适配市面上支持directshow接口的相机，除了包含一般显微镜相机应有的参数设置、截图、ROI以及白平衡等功能，依视科技还根据客户需求，为其配备了高端相机才有实时扫描和景深拓展等功能。OneScan-B能够实现传统手动数码显微镜的大区域扫描功能，具有极高的性价比。 OneScan-B图像分析软件避免了以往传统显微镜电动改造的风险以及高昂的费用。具有使用方便，价格低廉等特点。该系统可以应用于需要显微镜下全区域整体观察等领域。 另外，该软件还提供扫描后超大图片的预览和标准等功能，提供在线预览等一系列解决方案。OneScan-B图像分析软件1. 与国内外CCD/CMOS相机（支持directshow接口）适配 2. 可实现显微镜下实时扫描拼接以及Z轴景深拓展功能3. 显微镜本身不需要任何改造，适应性强，性价比高4. 针对市场、客户不断改进的需求，每季度提供一次软件更新5. 提供本地、在线预览两种方式，方便多人共享操作6. 多个不同倍率的物镜相互切换，提供位置导航和记忆功 OneScan-B参数列表型号OneScan-B适配显微镜国内外正置或倒置显微镜（具有相机接口）适配相机国内外CCD/CMOS显微镜相机浏览方式本地/在线支持物镜倍数2X、4X、10X、20X、40X最大扫描速度/mm/s2导航与记忆功能有电脑最低内存/GB8电脑最低CPUi5 4核常规图像测量功能软件图像扫描界面超大图像测量功能

仪器简介：Quanta x50系列扫描电子显微镜是FEI公司zui新一代的、真正的多用途扫描电镜，是zhu名的Quanta产品家族的第三代产品。 主要特点：1.FEI ESEM(环境扫描电镜)技术, 可在高真空、低真空和环境真空条件下对各种样品进行观察和分析。2.所有真空条件下的二次电子、背散射电子观察和微观分析。3.先进的系统结构平台，全数字化系统。4.可同时安装能谱仪、波谱仪和EBSP系统。5.可安装低温冷台、加热台、拉伸台等进行样品的原位、动态观察和分析。技术参数：1.分辨率:　二次电子:　　高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV　　高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项)　　低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV　　环境真空模式 3.0nm @ 30kV　 背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力zui高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连续调节4.样品台移动范围　Quanta 250: X=Y=50mm　Quanta 450: X=Y=100mm　Quanta 650: X=Y=150mm

Park NX10-SICM 扫描离子电导显微镜简介：NX10-SICM 扫描离子电导显微镜是目前PARK原子力显微镜中重要的一员，该仪器真正意义上实现了液下活细胞的三维非接触式测量，除活细胞成像外，可与电化学工作站与膜片钳联用，广泛用于活细胞成像，原位扫描电化学，神经科学，是生物科研工作者的分析检测工具。Park扫描离子电导显微显微镜原理介绍：Park公司研发的扫描电子显微镜技术(Park SICM)将装有电解质的纳米玻璃移液管作为离子传感器，向系统反馈其与*浸没在液体中的样品之间的相对位置。移液管通过保持离子电流恒定来与样品保持距离。相比之下，原子力显微术十分依赖探针与样品之间的作用力。纳米移液管内径约50-100纳米，材质为玻璃。与常温常压下的扫描隧道显微镜技术(STM)类似，Park SICM在成像时无需与液体中的样品接触。样品和移液管两端的电极会在周围的溶液中产生离子电流。电流会随着移液管与样品之间距离的缩小而降低，传感器被用来测量电流并可监测移液管与样品之间的距离，以获得表面形貌像。纳米尺度下稳定的移液管探针与样品距离控制通过自动刷新接近每个像素前的参考值，移液管接近样品表面的停止高度不受设定点移动影响。电流-距离(I-D)分光镜检查通过移液管接近（垂直方向移动）样品表面获取扫描离子电导显微镜电流-距离曲线，有助于阐释水性环境中不同的生物与化学现象。这项有利应用可运用到某种有趣的样品物体中，借助扫描离子电导显微镜非侵入性形貌进行识别。此外，利用“电流-距离曲线映射”功能可以让研究人员在多个位置检验并获得电流-距离曲线，从而对生物与化学反应研究的理解更上一层。 用于扫描离子电导显微镜稳定操作的法拉第笼专为Park NX10扫描离子电导显微镜平台设计，法拉第笼有效保护移液管、头部与XY轴扫描仪不受干扰，提供更稳定的扫描环境。透明导电网阻挡了电场，并屏蔽外部静电或非静电50/60 Hz的电磁场，同时仍然提供给研究人员移液管与样品清晰的视野。NX10-SICM型扫描离子电导显微镜功能：1）细胞生物学：生物活细胞非接触式成像2）分析化学： 原位微区扫描电化学3） 电生理学与神经科学：与膜片钳联用，定量测量离子通道电流，用于神经学和新药物研发。

仪器简介：活体样本 ASOM中的快速扫描镜代替了许多显微镜应用中用到的传统扫描环节。由于不需要移动样品，在利用ASOM技术进行活体样本成像时，可以在检测的环境中植入传感器或控制器。ASOM同时还消除了机械平台的移动，而这种移动会限制扫描速度，并会引发许多活体样品使用的液体和粘滞介质产生破裂性振动[2]。由于图像到图像之间的移动时间小于5ms，使ASOM的移动速度可以达到机械移动显微镜的100倍，并且使用高速CCD相机 可以使合成图像的帧传输速率达到100帧/秒。高扫描速率的潜在应用包括毒品检测和大规模筛选等。 最初为望远镜开发的技术大大提高了显微镜的性能，使之具有微米级的分辨率和更广的有效视场。 光学系统设计者们越来越多地使用主动元件，推动着光机电一体化领域的持续快速发展。主动元件包括转换器和传感器、主动和自适应光学元件，以及实时微处理控制器等。这种高动态光学仪器的性能和应用潜力，甚至远远超出了仅由静态光学元件构成的仪器的理论极限。 就自适应光学而言，天文学是其发展的最初推动力，1953年Horace Babcock建议采用主动光学补偿来解决穿过大气成像的内在挑战[1]。不同密度的大气层之间的湍流会产生动态的折射率梯度和随时间变化的入射光光程。如果不采取任何校正措施，在电磁波的波前上产生的振幅和相位畸变就会导致在形成的图像上产生闪烁的亮区或暗区，这严重地限制了地基望远镜的角分辨率。尽管Babcock建议的在一个带静电电荷的镜面上涂上一层油来改变局部油层厚度的方法从来没有实现过，但他的基本设计思想在现今的许多自适应光学应用中仍在使用。目前，可由计算机控制表面面形的变形镜被普遍用于校正由大气湍流引起的波前畸变。 由Ben Potsaid 和Scott Barry领导的Thorlabs/RPI研究小组设计并构建的ASOM系统包含Nova Phase公司生产的定制扫描透镜组、一个定制的高速转向镜（该转向镜是Boston Micromachines公司生产的有140个静电控制器的MEMS变形镜）和一个Thorlabs公司的CCD相机。 20世纪60年代，自适应光学的早期发展是由国防工业资助的，然而直到80年代，自适应光学才因为改善了地基望远镜的性能而在天文学领域找到了用武之地。自适应光学中最基本的设计包括利用波前传感器（Shack-Hartmann干涉仪或可变剪切干涉仪）进行波前的实时测量和波前校正（变形镜和液晶空间光调制器）。结合以前发展的技术，目前自适应光学的应用已经扩展到其他领域。主要特点：2005年，伦瑟勒理工学院自动控制技术和系统中心（CATS）的Ben Potsaid、John Wen和Yves Bellouard开发了一种自适应扫描光学显微镜（ASOM），它基于MEMS变形镜来校正物镜的离轴波前像差。 成像镜扫描透镜的输入通光孔就可获得扩大的视场，其潜在的应用包括跟踪移动的样品，以及对突发事件成像。 这种新型的显微镜设计，配合高速物镜后振镜式扫描镜、空间光调制器和扫描透镜，就会产生具有微米级分辨率和较大有效视场的图像，因而提供了一种相对经济的办法来获得高质量图像，而传统上这只能通过很高分辨率的显微镜才能实现。在后来由Thorlabs/RPI小组设计的ASOM中，总的合成视场超过1250 mm2，分辨率为1.5祄 在ASOM系统中设计一个远心扫描透镜用于获得具有40mm视场的有限共轭像。透镜组由七个光学元件组成，后向焦距为19mm，数值孔径为0.20。一个定制的75mm快速MEMS转向镜在3.3mm2的通光孔上分布着140个静电控制器。科学级CCD相机具有1024 768个像素，栅距为4.7祄。 传统的显微镜由于物镜的限制，其视场相对较小。为了得到大尺寸样品的高分辨率图像，物镜就必须对样品进行扫描（或者移动显微镜，或者移动样品）。在ASOM中，其扫描机制是一个质量较轻的高速转向镜，它可以通过物镜扫描整个视场。 在这种结构中，离轴光线经过物镜后会发生显著的波前畸变，一般情况下会导致图像模糊，但是通过利用一个可实时控制的变形镜，系统会补偿波前畸变，因而能得到具有均匀分辨率的衍射图像。对样品扫描后再进行图像重构就会得到放大的视场。这在生物领域是非常有用的，因为在生物应用中常常需要获得细胞级的分辨率（约为1祄），同时还需要保持一个大的视场在厘米尺度上监测总的解剖信息，或者观测那些可能&ldquo 游到&rdquo 视场外的活生物体